KR20220067462A - Electronic device including flexible display and operation method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 문서에서 개시되는 실시 예들은, 플렉서블 디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 그의 동작 방법과 관련될 수 있다.Embodiments disclosed in this document may relate to an electronic device including a flexible display and an operating method thereof.
전자 장치는 플렉서블(flexible) 디스플레이를 구비할 수 있다. 예를 들어, 플렉서블 디스플레이는 적어도 일 영역이 휘어지거나(curved), 접힐 수 있거나(foldable), 감길 수 있는(rollable) 형태로 전자 장치에 배치될 수 있다. 전자 장치의 외면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이 영역은 확장되거나 축소될 수 있다. The electronic device may include a flexible display. For example, the flexible display may be disposed in the electronic device in a form in which at least one area is curved, foldable, or rollable. The display area visually exposed to the outer surface of the electronic device may be expanded or reduced.
한편, 디스플레이는 복수의 화소를 통해 화면을 표시할 수 있다. 화소는 이미지를 구성하는 최소 단위일 수 있다. 복수의 화소들 각각은 여러 가지 요인에 의해 열화(burn-in) 속도가 다를 수 있다. 화소들 간의 열화 편차에 의해, 디스플레이의 휘도 균일성이 저하될 수 있고, 휘도 차이에 의한 잔상이 사용자에게 시인될 수 있다. Meanwhile, the display may display a screen through a plurality of pixels. A pixel may be a minimum unit constituting an image. Each of the plurality of pixels may have a different burn-in rate due to various factors. The luminance uniformity of the display may be deteriorated due to the deterioration deviation between the pixels, and an afterimage due to the luminance difference may be recognized by the user.
실시예들은, 다양한 요인에 따른 화소 열화를 예측할 수 있고, 화소 열화에 따른 잔상이 발생하는 것이 감소된 전자 장치를 제공할 수 있다.Embodiments may provide an electronic device capable of predicting pixel deterioration according to various factors and reducing generation of an afterimage due to pixel deterioration.
실시예들은, 열화 보상에 소요되는 메모리 사용량을 줄일 수 있고, 리소스 효율이 증대된 전자 장치를 제공할 수 있다.According to the embodiments, it is possible to reduce the amount of memory used for deterioration compensation and provide an electronic device with increased resource efficiency.
실시예들은, 열화 보상에 소요되는 소비 전력이 감소된 전자 장치를 제공할 수 있다.Embodiments may provide an electronic device in which power consumption required for deterioration compensation is reduced.
일 실시예에 따른 전자 장치는 복수의 화소가 위치하는 제1 영역 및 제2 영역을 포함하고, 전면으로 시각적으로 노출되는 표시 영역의 크기가 변경되는 디스플레이; 및 상기 디스플레이와 작동적으로 연결된 프로세서;를 포함하고, 상기 디스플레이는 제1 상태에서 상기 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제2 상태에서 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고, 상기 프로세서는, 제1 주기에 따라 상기 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고, 상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정하도록 설정될 수 있다.According to an exemplary embodiment, an electronic device includes: a display including a first area and a second area in which a plurality of pixels are located, and in which a size of a display area visually exposed to the front is changed; and a processor operatively coupled to the display, wherein the display displays an image through the first region in a first state and displays an image through the first region and the second region in a second state and, the processor updates sampling information regarding the degree of deterioration of the plurality of pixels according to a first period, obtains usage pattern information related to the first state and the second state, and the use pattern information is designated If the condition is satisfied, the sampling information may be updated according to a second period different from the first period, and output compensation values for the plurality of pixels may be determined based on the updated sampling information.
일 실시예에 따른 전자 장치의 화소 열화를 보상하는 방법에서, 제1 상태에서 디스플레이의 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제2 상태에서 디스플레이의 제1 영역 및 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제1 주기에 따라 상기 디스플레이의 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고, 상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정할 수 있다.In a method for compensating for pixel degradation of an electronic device according to an embodiment, an image is displayed through a first area of a display in a first state, and an image is displayed through the first area and a second area of the display in a second state and updating sampling information regarding the degree of deterioration of a plurality of pixels of the display according to a first period, acquiring usage pattern information related to the first state and the second state, and determining a condition in which the use pattern information is specified. If satisfied, the sampling information may be updated according to a second period different from the first period, and output compensation values for the plurality of pixels may be determined based on the updated sampling information.
실시 예들에 따르면, 전자 장치는 다양한 요인에 따른 화소 열화를 예측할 수 있고, 화소 열화에 따른 잔상이 발생하는 것이 감소될 수 있다. According to embodiments, the electronic device may predict pixel deterioration according to various factors, and generation of an afterimage due to pixel deterioration may be reduced.
또한, 실시 예들에 따르면, 전자 장치는 열화 보상에 소요되는 메모리 사용량을 줄일 수 있고, 리소스 효율이 증대될 수 있다. Also, according to embodiments, the electronic device may reduce the amount of memory used for deterioration compensation and increase resource efficiency.
또한, 실시 예들에 따르면, 전자 장치는 열화 보상에 소요되는 소비 전력이 감소될 수 있다. Also, according to embodiments, the power consumption of the electronic device for compensating for deterioration may be reduced.
이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.In addition, various effects directly or indirectly identified through this document may be provided.
도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 제1 상태를 나타내는 평면도이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 전자 장치의 제2 상태를 나타내는 평면도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 제1 상태 및 제2 상태에서 전자 장치의 일부 구성들을 나타내는 단면도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 6은 제1 주기 정보와 제2 주기 정보를 나타내는 도면이다.
도 7은 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 8은 제3 주기 정보를 나타내는 도면이다.
도 9는 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태 및 제2 상태를 나타내는 단면도이다.
도 10은 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다.
도 11은 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다.
도 12는 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다.
도 13은 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 14는 일 실시예에 따른 전자 장치에서 출력되는 메시지를 예시적으로 나타내는 도면이다.
도 15는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 16은 제1 상태의 전자 장치에서 변경된 디스플레이의 표시 영역을 나타내는 도면이다.
도 17은 제1 상태의 전자 장치에서 변경된 디스플레이의 표시 영역을 나타내는 도면이다.
도 18은, 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.
도 19는 다양한 실시예들에 따른, 디스플레이 모듈의 블록도이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.1 is a plan view illustrating a first state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
2 is a plan view illustrating a second state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
3 is a cross-sectional view illustrating some configurations of an electronic device in a first state and a second state according to an exemplary embodiment;
4 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
5 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
6 is a diagram illustrating first period information and second period information.
7 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
8 is a diagram illustrating third period information.
9 is a cross-sectional view illustrating a first state and a second state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
10 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
11 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
12 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
13 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
14 is a diagram exemplarily illustrating a message output from an electronic device according to an embodiment.
15 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
16 is a diagram illustrating a display area of a display changed in an electronic device in a first state.
17 is a diagram illustrating a changed display area of an electronic device in a first state.
18 is a block diagram of an electronic device in a network environment, according to various embodiments of the present disclosure;
19 is a block diagram of a display module according to various embodiments of the present disclosure;
In connection with the description of the drawings, the same or similar reference numerals may be used for the same or similar components.
이하, 본 발명의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood that various modifications, equivalents, and/or alternatives of the embodiments of the present invention are included.
도 1 및 도 2를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 제1 상태를 나타내는 평면도이다. 도 2는 일 실시 예에 따른 전자 장치의 제2 상태를 나타내는 평면도이다. An electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2 . 1 is a plan view illustrating a first state of an electronic device according to an exemplary embodiment. 2 is a plan view illustrating a second state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 1 및 도 2를 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)는, 제1 하우징(110), 제2 하우징(140) 및 디스플레이(150)를 포함할 수 있다.1 and 2 , the
일 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 슬라이더블 타입(slidable type) 또는 롤러블 타입(rollable type)의 전자 장치일 수 있으며, 제1 상태(예: 닫힘 상태 또는 축소 모드) 및 제2 상태(예: 열림 상태 또는 확장 모드)를 포함할 수 있다. 제1 상태 및 제2 상태는 제1 하우징(110)에 대한 제2 하우징(140)의 상대적인 위치에 따라서 결정될 수 있다. 전자 장치(100)는 사용자의 조작 또는 기계적 작동에 의해서 제1 상태 및 제2 상태 사이에서 변형이 가능할 수 있다.The
일 실시 예에서, 제1 상태는 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이(150)의 면적(또는 크기)이 상대적으로 축소된 상태를 의미할 수 있다. 제2 상태는 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이(150)의 면적(또는 크기)이 상대적으로 확장된 상태를 의미할 수 있다. 예를 들어, 제2 상태는 제1 상태에 비해 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이(150)의 면적이 큰 상태일 수 있다. 또한, 제1 상태는 제2 하우징(140)의 일부(예: y축 방향을 향하는 측면 부분(143, 144))가 제1 하우징(110) 내측에 위치함으로써, 제2 하우징(140)이 제1 하우징(110)에 대해 닫힌 상태(closed state)일 수 있다. 제2 상태는 제2 하우징(140)의 일부(143, 144)가 제1 하우징(110)로부터 빠져나옴으로써 제2 하우징(140) 이 제1 하우징(110)에 대해 열린 상태(opened state)일 수 있다.In an embodiment, the first state may refer to a state in which the area (or size) of the
일 실시 예에서, 제1 하우징(110) 및 제2 하우징(140)은 서로에 대해 상대적으로 슬라이딩 동작이 가능하게 결합될 수 있다. 제2 하우징(140)은 제1 하우징(110)의 일 측에 슬라이딩이 가능하게 결합될 수 있다. 예를 들어, 제1 하우징(110)은 고정된 구조물이고, 제2 하우징(140)은 제2 하우징(140)에 대해 상대적으로 이동이 가능한 구조물일 수 있다. 제2 하우징(140)은 제1 하우징(110)에 대해 양 방향(예: +x/-x축 방향)으로 슬라이딩이 가능하도록 제1 하우징(110)의 일 측(예: -x축 방향)에 결합될 수 있다. In an embodiment, the
일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 제2 하우징(140)이 제1 하우징(110)에 대해 슬라이딩 동작함에 따라 제1 상태 및 제2 상태로 변형될 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 제1 상태(예: 도 1의 상태)에서 제2 하우징(140)이 제1 하우징(110)에 대해 제1 방향(D1)으로 이동함으로써 제2 상태(예: 도 2의 상태)로 변형될 수 있다. 반대로, 전자 장치(100)는 제2 상태에서 제2 하우징(140)이 제1 하우징(110)에 대해 제2 방향(D2)으로 이동함으로써, 제1 상태로 변형될 수 있다.In an embodiment, the
일 실시 예에서, 제2 하우징(140)의 슬라이딩 동작에 대응하여 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이(150)의 영역의 크기(또는, 면적)는 변경될 수 있다. 디스플레이(150)는 제1 하우징(110) 및 제2 하우징(140) 중 적어도 하나에 의해 지지된 상태에서, 제2 하우징(140)의 슬라이딩 동작에 따라서 노출 영역이 확장되거나, 축소될 수 있다. 디스플레이(150)는 적어도 일 부분이 플렉서블할 수 있다.In an embodiment, the size (or area) of the area of the
일 실시 예에서, 디스플레이(150)는 제1 영역(또는, 기본 영역)(A1) 및 제1 영역(A1)으로부터 연장되는 제2 영역(또는, 확장 영역)(A2)을 포함할 수 있다. 제1 영역(A1)은 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출된 상태가 유지될 수 있다. 제2 영역(A2)은 전자 장치(100)의 상태에 따라서 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 면적이 가변적일 수 있다. 제2 영역(A2)은 제1 영역(A1)의 일 측(예: +x축 방향)과 인접할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역(A1)은 제1 상태에서 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 디스플레이(150)의 일부 영역을 의미할 수 있다. 제2 영역(A2)은 제1 상태에서 전자 장치(100)의 내부에 위치하고, 제2 상태에서 적어도 일부가 전자 장치(100)의 내부로부터 빠져나와서 전자 장치(100)의 전면으로 시각적으로 노출되는 영역을 의미할 수 있다.In an embodiment, the
일 실시 예에서, 제1 상태는 제1 영역(A1)이 전자 장치(100)의 전면을 향해 위치하고, 제2 영역(A2)은 제1 하우징(110)의 내측에 위치한 상태일 수 있다. 제2 상태는 제2 영역(A2)의 적어도 일부가 제1 영역(A1)과 함께 전자 장치(100)의 전면을 향해 위치하는 상태일 수 있다. 전자 장치(100)는 제2 상태에서 제2 영역(A2)이 전자 장치(100)의 전면으로 추가적으로 시각적으로 노출됨으로써, 디스플레이(150)의 노출 면적이 확장될 수 있다.In an embodiment, the first state may be a state in which the first area A1 is positioned toward the front of the
도 3은 일 실시예에 따른 제1 상태 및 제2 상태에서 전자 장치의 일부 구성들을 나타내는 단면도이다. 전자 장치(300)(예: 도 1의 전자 장치(100))의 일부 구성들은 디스플레이(150) 및 제1 하우징(110)을 포함할 수 있다. 3 is a cross-sectional view illustrating some configurations of an electronic device in a first state and a second state according to an exemplary embodiment; Some components of the electronic device 300 (eg, the
디스플레이(150)는 복수의 화소를 포함할 수 있고, 복수의 화소를 통해 소정의 시각 정보(또는, 이미지)를 표시할 수 있다. 디스플레이(150)는 표시 영역(DA)을 통해 이미지를 표시할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(300)는 상태에 따라 표시 영역(DA)의 면적이 변할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(300)는 제1 상태(S1)에서 디스플레이(150)의 제1 영역(A1)을 통해 이미지를 표시할 수 있다. 전자 장치(300)의 제1 상태(S1)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(300)는 제2 상태(S2)에서 디스플레이(150)의 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 통해 이미지를 표시할 수 있다. 전자 장치(300)의 제2 상태(S2)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 전자 장치는 제2 상태(S2)에서 제1 영역(A1)과 함께 제2 영역(A2)을 통해서도 화면의 표시가 가능함에 따라 제1 상태(S1)보다 확장된 표시 영역(DA)을 제공할 수 있다.The
이하, 도 4를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))의 동작 구성에 대해 설명한다. 도 4는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다. 이하에서, 전자 장치의 동작은 프로세서(예: 도 18의 프로세서(1820))의 동작으로서 참조될 수 있다. Hereinafter, an operation configuration of an electronic device (eg, the
동작 410에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 디스플레이(예: 도 1의 디스플레이(150))의 복수의 화소가 발광하도록 할 수 있다. 전자 장치는 디스플레이를 통해 표시하고자 하는 이미지에 대응하는 이미지 데이터에 기반하여, 디스플레이의 복수의 화소가 발광하도록 할 수 있다. In
동작 420에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 샘플링 정보를 업데이트할 수 있다. 샘플링 정보는 복수의 화소들 각각의 열화도를 판단(또는, 예측)하기 위한 정보일 수 있다. 예를 들어, 샘플링 정보는 디스플레이에 대한 히스토리 정보일 수 있고, 디스플레이를 통해 출력된 이미지 데이터를 포함할 수 있다. 이미지 데이터는 각각의 화소에 대응하는 휘도 데이터 및/또는 색상 데이터를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치는 지정된 주기에 따라 주기적으로 샘플링 정보를 업데이트할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 지정된 주기에 따라 이미지 데이터를 누적하여 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 저장할 수 있다. In
동작 430에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 업데이트한 샘플링 정보에 기반하여, 디스플레이의 복수의 화소 각각에 대한 열화도를 판단(또는 예측)할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이의 화소들은 유기 발광 소자(OLED)들을 포함할 수 있고, 유기 발광 소자는 사용 시간이 늘어날수록 점차 색 재현력이 저하(예: 화소 열화)될 수 있다. 화소의 열화도는 일 화소의 사용 시간 또는 밝기에 기반하여 판단(또는 예측)될 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 이미지 데이터에 기반하여, 화소의 누적 발광 시간이 길수록 화소의 열화도가 높은 것으로 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 일 실시예에 따른 전자 장치는 업데이트한 샘플링 정보에 기반하여, 디스플레이의 특정 영역의 화소들에 대한 열화도를 판단할 수 있다. 예를 들어, 제1 상태(예: 도 3의 제1 상태(S1))의 동작 시간과 제2 상태(예: 도 3의 제2 상태(S2))의 동작 시간의 차이가 클수록 디스플레이의 제1 영역(예: 도 3의 제1 영역(A1))에 위치하는 화소들의 열화도가 큰 것으로 판단할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 열화도는 각각의 샘플링 정보(예: 도 5의 510 동작의 샘플링 정보 및/또는 도 5의 570 동작의 샘플링 정보)와 각각의 샘플링 정보를 획득한 주기(예: 도 5의 제1 주기, 및/또는 제2 주기)에 기반한 누적 값을 포함할 수 있다. 예를 들어, 열화도는 각각의 샘플링 정보에 각각의 샘플링 주기를 가중한 값들을 누적하여 판단(예측, 또는 계산)할 수 있다.In
동작 440에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 열화도에 기반하여, 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정할 수 있다. 전자 장치는 디스플레이의 표시 영역의 전 영역이 균일한 밝기로 이미지를 표시할 수 있도록, 화소 각각의 열화도에 따라서 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정할 수 있다. In
동작 450에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 결정된 출력 보상 값에 기반하여, 디스플레이의 복수의 화소가 발광하도록 할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 디스플레이를 통해 표시하고자 하는 이미지 데이터에 출력 보상 값을 적용하여 보정된 이미지 데이터를 생성할 수 있고, 보정된 이미지 데이터에 기반하여 화소가 발광하도록 할 수 있다. In
이하, 도 5를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치가 샘플링 정보를 업데이트(도 4의 동작 420) 하는 동작에 대해 구체적으로 설명한다. 도 5는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다. Hereinafter, an operation in which the electronic device updates sampling information (
동작 510에서, 일 실시예에 따른 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))는 제1 주기에 따라 반복하여 샘플링 정보를 업데이트 할 수 있다. 예를 들어, 제1 주기는 기 설정된 초기 값일 수 있다. 다른 예를 들어, 제1 주기는 제1 파라미터 정보 또는 제2 파라미터 정보에 기반하여 결정된 주기일 수 있다. 전자 장치는 제1 주기에 따라 획득한 정보들을 누적하여 샘플링 정보를 업데이트할 수 있고, 제1 주기에 따라 업데이트된 샘플링 정보를 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 저장할 수 있다. In
동작 520에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보를 획득할 수 있다. 사용 패턴 정보는 전자 장치의 제1 상태(예: 도 3의 제1 상태(S1)) 및 제2 상태(예: 도 3의 제2 상태(S2))와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이의 제1 영역(예: 도 3의 제1 영역(A1))의 누적 출력 시간, 디스플레이의 제2 영역(예: 도 3의 제2 영역(A2))의 누적 출력 시간 또는 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간과 제2 영역의 누적 출력 시간의 차 중 적어도 어느 하나를 포함할 수도 있다. 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간은 제1 상태의 누적 동작 시간 및 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있고, 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간은 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있다. In
동작 530에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간이 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이가 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수가 지정된 수 이상인지 판단할 수 있다. In
사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하지 않는 것으로 판단되면, 전자 장치는 동작 510을 수행할 수 있다. If it is determined that the usage pattern information does not satisfy the specified condition, the electronic device may perform
사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단되면, 동작 540에서, 전자 장치는 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교하여, 제1 파라미터 정보에 기반한 주기가 제2 파라미터 정보에 기반한 주기보다 작은지 판단할 수 있다. If it is determined that the usage pattern information satisfies the specified condition, in
제1 파라미터 정보는 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 파라미터 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 전자 장치는 사용 패턴 정보(또는, 제1 파라미터 정보)에 기반한 주기 값을 결정할 수 있다. 예를 들어, 제1 파라미터 정보에 따른 주기는 동작 540이 수행되는 시점까지 누적된 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값에 따라 결정될 수 있다. 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값이 커질수록 제1 파라미터 정보에 기반한 주기는 길게 설정될 수 있다. The first parameter information may include at least a part of usage pattern information. For example, the first parameter information may include the accumulated operation time of the first state, the accumulated operation time of the second state, the difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state, the number of operations of the first state, or It may include at least one of the number of operations in the second state. The electronic device may determine a period value based on usage pattern information (or first parameter information). For example, the period according to the first parameter information may be determined according to a difference value between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state until the time point at which
사용자의 제1 상태 및 제2 상태 중 어느 하나의 상태에 대한 사용 비율이 지정된 값 이상인 경우, 제1 상태 또는 제2 상태에 대한 사용자의 사용 패턴이 쉽게 예측될 수 있고, 샘플링 정보의 업데이트 주기를 길게 하더라도 화소의 열화도 판단이 가능할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값이 커질수록 제1 파라미터 정보에 기반한 주기를 길게 설정하여, 샘플링 정보의 업데이트를 최소화 할 수 있고, 샘플링 정보의 업데이트에 소모되는 리소스 및 소모 전류가 감소될 수 있다. When the user's usage ratio for any one of the first and second states is greater than or equal to a specified value, the user's usage pattern for the first or second state can be easily predicted, and the update cycle of the sampling information can be shortened. Even if it is long, it may be possible to determine the deterioration of the pixel. According to an embodiment, as the difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state increases, the period based on the first parameter information may be set longer to minimize the update of the sampling information, and the sampling information may be minimized. Resources consumed for information update and current consumption can be reduced.
제1 파라미터 정보에 기반한 주기를 판단하기 위해, 전자 장치는 제1 파라미터 정보의 값들에 대응하는 샘플링 정보의 업데이트 주기 값들을 포함하는 제1 주기 정보를 사용할 수 있다. 예를 들어, 제1 주기 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값들에 대응하는 샘플링 정보의 업데이트 주기 값들을 포함할 수 있다. 제1 주기 정보는 전자 장치의 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 룩-업 테이블(LUT, Lookup Table) 형태로 저장될 수 있다. To determine the period based on the first parameter information, the electronic device may use first period information including update period values of sampling information corresponding to values of the first parameter information. For example, the first period information may include update period values of sampling information corresponding to difference values between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state. The first period information may be stored in a memory of the electronic device (eg, the memory 1830 of FIG. 18 ) in the form of a lookup table (LUT).
제2 파라미터 정보는 동일하거나 유사한 이미지의 반복 출력 여부를 판단하기 위해 사용될 수 있는 정보일 수 있다. 예를 들어, 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간을 포함할 수 있다. 전자 장치는 제2 파라미터 정보(또는, 어플리케이션 사용 시간)에 기반한 주기 값을 결정할 수 있다. 예를 들어, 제2 파라미터 정보에 따른 주기는 동작 540이 수행되는 시점까지 누적된 특정 어플리케이션의 사용 시간이 길어질수록 제2 파라미터 정보에 기반한 주기는 길어질 수 있다. 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 판단하기 위해, 전자 장치는 제2 파라미터 정보의 값들에 대응하는 샘플링 정보의 업데이트 주기 값들을 포함하는 제2 주기 정보를 사용할 수 있다. 예를 들어, 제2 주기 정보는 어플리케이션 사용 시간 값들에 대응하는 샘플링 정보의 업데이트 주기 값들을 포함할 수 있다. 제2 주기 정보는 전자 장치의 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 룩-업 테이블 형태로 저장될 수 있다. 사용자의 동일 어플리케이션의 사용 시간이 지정된 값 이상인 경우, 디스플레이에 출력되는 이미지 데이터가 쉽게 예측될 수 있고, 샘플링 정보의 업데이트 주기를 길게 하더라도 화소 열화도 판단이 가능할 수 있다.The second parameter information may be information that can be used to determine whether the same or similar images are repeatedly output. For example, the second parameter information may include application usage time. The electronic device may determine a period value based on the second parameter information (or application usage time). For example, the period based on the second parameter information may be longer as the accumulated use time of a specific application increases until the time point at which
제1 파라미터 정보에 기반한 주기가 제2 파라미터 정보에 기반한 주기보다 작으면, 동작 550에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보에 따른 주기를 제2 주기로 설정할 수 있다. If the period based on the first parameter information is smaller than the period based on the second parameter information, in
제1 파라미터 정보에 따른 주기가 제2 파라미터 정보에 따른 주기 이상이면, 동작 560에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 제2 파라미터 정보에 따른 주기를 제2 주기로 설정할 수 있다. If the period according to the first parameter information is equal to or greater than the period according to the second parameter information, in
동작 570에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 설정된 제2 주기에 따라 샘플링 정보를 업데이트할 수 있다. 제2 주기는 제1 주기와 다른 값을 가질 수 있고, 제1 주기보다 길 수 있다. 전자 장치는 제2 주기에 따라 획득한 정보들을 누적하여 샘플링 정보를 업데이트할 수 있고, 제2 주기에 따라 업데이트된 샘플링 정보를 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 저장할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 중 주기가 더 작은 값을 제2 주기로 설정하여, 샘플링 정보의 업데이트 주기가 과도하게 길어지는 것을 감소시킬 수 있고, 열화도 및 출력 보상 값을 판단할 수 있다.In
이하, 도 6을 참조하여, 제1 주기 정보(620)와 제2 주기 정보(630)에 대해 설명한다. 도 6은 제1 주기 정보와 제2 주기 정보를 나타내는 도면이다. Hereinafter, the
제1 주기 정보(620) 및 제2 주기 정보(630)는 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))의 메모리(610)(예: 도 18의 메모리(1830))에 룩-업 테이블 형태로 저장될 수 있다. 제1 주기 정보(620)는 제1 파라미터 정보에 기반하여 분류되는 범주들(B1, B2, B3 내지 Bn)에 대응하는 샘플링 업데이트 주기 값들(P11, P12, P13 내지 P1n)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 주기 정보(620)의 범주들(B1, B2, B3 내지 Bn)은 전자 장치의 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값의 범위로 구분될 수 있다. The
제1 주기 정보(620)에서, 제1 상태의 동작 시간과 제2 상태의 동작 시간의 차이 값이 커질수록 제1 주기 정보(620)에 기반한 주기는 길어질 수 있다. 제1 주기 정보(620)에서, 제1 상태의 동작 시간과 제2 상태의 동작 시간의 차이 값이 커질수록 지정된 시간(T) 동안 수행되는 업데이트 횟수(N, N-1, N-2 내지 N-n+1)는 작아질 수 있다. 제1 주기 정보(620)의 범주들(B1, B2, B3 내지 Bn)은 제1 범위(B1), 제2 범위(B2), 제3 범위(B3) 내지 제n 범위(Bn)를 포함할 수 있다. 제1 주기 정보(620)의 업데이트 주기 값들(P11, P12, P13 내지 P1n)은 제1 범위(B1), 제2 범위(B2), 제3 범위(B3) 내지 제n 범위(Bn) 각각에 대응하는 주기 값들(P11, P12, P13 내지 P1n)을 포함할 수 있다. 제1 주기 정보(620)의 제1 범위(B1)로부터 제n 범위(Bn)까지 동작 시간의 차이 값은 커질 수 있고, P11으로부터 P1n까지 주기 값은 점차 커질 수 있다. 일 실시예에 따르면, 주기 값들 중 최소 값인 P11은 초기 값으로 설정될 수 있다. In the
제2 주기 정보(630)는 제2 파라미터 정보에 기반하여 분류되는 범주들(C1, C2, C3 내지 Cn)에 대응하는 샘플링 업데이트 주기 값들(P21, P22, P23 내지 P2n)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 주기 정보(630)의 범주들(C1, C2, C3 내지 Cn)은 어플리케이션 사용 시간 범위로 구분될 수 있다. The
제2 주기 정보(630)에서, 동일 어플리케이션에 대한 사용 시간이 길어질수록 제2 주기 정보(630)에 기반한 주기는 길어질 수 있다. 제2 주기 정보(630)에서, 동일 어플리케이션에 대한 사용 시간이 길어질수록 지정된 시간(T) 동안 수행되는 업데이트 횟수(M, M-1, M-2 내지 M-n+1)는 작아질 수 있다. 제2 주기 정보(630)의 범주들(C1, C2, C3 내지 Cn)은 제1 범위(C1), 제2 범위(C2), 제3 범위(C3) 내지 제n 범위(Cn)를 포함할 수 있다. 제2 주기 정보(630)의 업데이트 주기 값들(P21, P22, P23 내지 P2n)은 제1 범위(C1), 제2 범위(C2), 제3 범위(C3) 내지 제n 범위(Cn) 각각에 대응하는 주기 값들(P21, P22, P23 내지 P2n)을 포함할 수 있다. 제2 주기 정보(630)의 제1 범위(C1)로부터 제n 범위(Cn)까지 동작 시간의 차이 값은 커질 수 있고, P21으로부터 P2n까지 주기 값은 점차 커질 수 있다. 일 실시예에 따르면, 주기 값들 중 최소 값인 P21은 초기 값으로 설정될 수 있다. In the
일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보에 기반한 주기 및 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 산출하고, 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교(예: 도 5의 동작 540)할 수 있다. 전자 장치는 획득한 사용 패턴 정보를 사용하여, 제1 파라미터 정보가 제1 범위(B1)에 속하는 경우 제1 파라미터 정보에 기반한 주기를 P11로 판단할 수 있다. 전자 장치는 획득한 어플리케이션 사용 시간에 대한 정보가 제3 범위(C3)에 속하는 경우, 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 P23로 판단할 수 있다. 전자 장치는 제1 파라미터 정보에 기반한 주기 값인 P11 및 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 값인 P23를 비교할 수 있다. P11이 P23 보다 작으면, 일 실시예에 따른 전자 장치는 P11을 제2 주기로 설정(예: 도 5의 동작 550)할 수 있다. P11이 P23 보다 크거나 같으면, 일 실시예에 따른 전자 장치는 P23을 제2 주기로 설정(예: 도 5의 동작 560)할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치는 설정된 제2 주기에 따라 샘플링 정보를 업데이트(예: 도 5의 동작 570)할 수 있다.The electronic device according to an embodiment calculates a cycle based on the first parameter information and a cycle based on the second parameter information, and compares the cycle based on the first parameter information and the cycle based on the second parameter information (eg, in FIG. 5 ) operation 540). The electronic device may determine the period based on the first parameter information as P11 by using the obtained usage pattern information, when the first parameter information belongs to the first range B1. When the acquired application usage time information belongs to the third range C3, the electronic device may determine the period based on the second parameter information as P23. The electronic device may compare P11 which is a period value based on the first parameter information and P23 which is a period value based on the second parameter information. If P11 is smaller than P23, the electronic device according to an embodiment may set P11 as the second period (eg,
이하, 도 7을 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성에 대해 설명한다. 도 7은 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.Hereinafter, an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 7 . 7 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
동작 710에서, 일 실시예에 따른 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))는 제1 주기에 따라 반복하여 샘플링 정보를 업데이트 할 수 있다. 전자 장치는 제1 주기에 따라 획득한 정보들을 누적하여 샘플링 정보를 업데이트할 수 있고, 제1 주기에 따라 업데이트된 샘플링 정보를 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 저장할 수 있다.In
동작 720에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보를 획득할 수 있다. 사용 패턴 정보는 전자 장치의 제1 상태(예: 도 3의 제1 상태(S1)) 및 제2 상태(예: 도 3의 제2 상태(S2))와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이의 제1 영역(예: 도 3의 제1 영역(A1))의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역(예: 도 3의 제2 영역(A2))의 출력 시간을 포함할 수도 있다. 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간은 제1 상태의 누적 동작 시간 및 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있고, 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간은 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있다.In
동작 730에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단할 수 있다. 제1 파라미터 정보는 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 파라미터 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간에 대한 정보를 포함할 수 있다. In
일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보의 값 또는 제2 파라미터 정보의 값 중 적어도 어느 하나가 지정된 범위 외의 값으로 변경되었는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값들 또는 어플리케이션 사용 시간 값들 중 어느 하나가 지정된 범위 외의 값을 가지는 것으로 변경되었는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 제1 파라미터 정보의 범주들(예: 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값의 범위) 및 제2 파라미터 정보의 범주들(어플리케이션 사용 시간 값의 범위)에 대응하는 샘플링 정보의 업데이트 주기 값들을 포함하는 제3 주기 정보를 사용하여, 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단할 수 있다. 제3 주기 정보(820)는 전자 장치의 메모리(810)(예: 도 18의 메모리(1830))에 룩-업 테이블 형태로 저장될 수 있다. The electronic device according to an embodiment may determine whether at least one of the value of the first parameter information and the value of the second parameter information is changed to a value outside a specified range. For example, the electronic device may determine whether any one of difference values or application use time values of the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state is changed to have a value outside a specified range. For example, in the electronic device, categories of the first parameter information (eg, a range of a difference value between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state) and categories of the second parameter information (application use time) It may be determined whether the update period needs to be changed by using the third period information including update period values of the sampling information corresponding to the value range). The
제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 업데이트 주기의 변경이 필요하지 않은 것으로 판단되면, 전자 장치는 동작 710을 수행할 수 있다.Based on the first parameter information and the second parameter information, if it is determined that the update period does not need to be changed, the electronic device may perform
제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 업데이트 주기의 변경이 필요한 것으로 판단되면, 동작 740에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 제2 주기를 설정할 수 있다. 전자 장치는 제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보를 통합적으로 고려하여 제2 주기를 설정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는, 제3 주기 정보를 사용하여, 획득한 제1 파라미터 정보와 제2 파라미터 정보에 대응하는 주기 값으로 제2 주기를 설정할 수 있다. Based on the first parameter information and the second parameter information, if it is determined that the update period needs to be changed, in
동작 750에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 설정된 제2 주기에 따라 샘플링 정보를 업데이트할 수 있다. 전자 장치는 제2 주기에 따라 획득한 정보들을 누적하여 샘플링 정보를 업데이트할 수 있고, 제2 주기에 따라 업데이트된 샘플링 정보를 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))에 저장할 수 있다.In
이하, 도 8을 참조하여, 제3 주기 정보(820)에 대해 설명한다. 도 8은 제3 주기 정보를 나타내는 도면이다. 제3 주기 정보(820)는 전자 장치의 메모리(810)(예: 도 18의 메모리(1830))에 룩-업 테이블 형태로 저장될 수 있다. 제3 주기 정보(820)는 제1 파라미터 정보에 기반하여 분류되는 제1 범주들(B1, B2), 제2 파라미터 정보에 기반하여 분류되는 제2 범주들(C1, C2) 및 제1 범주들(B1, B2)과 제2 범주들(C1, C2)에 대응하는 샘플링 업데이트 주기 값들(P31, P32, P33, P34)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 주기 정보(820)의 제1 범주들(B1, B2)은 전자 장치의 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값의 범위에 따라 구분될 수 있다. 예를 들어, 제3 주기 정보(820)의 제2 범주들(C1, C2)은 어플리케이션 사용 시간 범위에 따라 구분될 수 있다. Hereinafter, the
제3 주기 정보(820)에서, 제1 상태의 동작 시간과 제2 상태의 동작 시간의 차이 값이 커질수록 제3 주기 정보(820)에 기반한 주기는 길어질 수 있고, 동일 어플리케이션에 대한 사용 시간이 길어질수록 제3 주기 정보(820)에 기반한 주기는 길어질 수 있다. 일 실시예에 따르면, 주기 값들 중 최소 값인 P31은 초기 값으로 설정될 수 있다. In the
일 실시예에 따른 전자 장치는 제3 주기 정보(820)를 이용하여, 샘플링 정보의 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단(예: 도 7의 동작730)하고, 제3 주기 정보(820)에 기반하여 제2 주기를 설정(예: 도 7의 동작 740)할 수 있다. 전자 장치는 제3 주기 정보(820)에서 제1 파라미터 정보의 값이 속하는 범주가 변경되거나, 제2 파라미터 정보의 값이 속하는 범주가 변경되면, 샘플링 정보의 업데이트 주기 변경이 필요한 것으로 판단할 수 있다. 전자 장치는 제1 파라미터 정보의 값이 속하는 범주 및 제2 파라미터 정보의 값이 속하는 범주에 기반하여, 제2 주기를 설정할 수 있다. 예를 들어, P31의 주기로 샘플링 정보의 업데이트 정보가 업데이트 되는 경우, 제1 파라미터 정보의 값이 제1 범주의 제1 범위(B1) 내의 값에서 제2 범위(B2) 내의 값으로 변경되면, 전자 장치는 업데이트 주기 변경이 필요한 것으로 판단할 수 있고, P33를 제2 주기로 설정할 수 있다. 제2 파라미터 정보의 값이 제2 범주의 제1 범위(C1) 내의 값에서 제2 범위(C2) 내의 값으로 변경되면, 전자 장치는 업데이트 주기 변경이 필요한 것으로 판단할 수 있고, P32를 제2 주기로 설정할 수 있다. The electronic device according to an embodiment determines whether a change in the update period of the sampling information is necessary using the third period information 820 (eg,
이하, 도 9를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 도 9는 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태 및 제2 상태를 나타내는 단면도이다. 도 9의 전자 장치(900)의 동작 구성은 도 4 내지 도 8로서 참조될 수 있다. Hereinafter, an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 9 . 9 is a cross-sectional view illustrating a first state and a second state of an electronic device according to an exemplary embodiment. An operation configuration of the
도 9를 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(900)는, 하우징(910), 디스플레이(950) 및 롤러 부재(930)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 9 , an
일 실시 예에서, 전자 장치(900)는 디스플레이(950)가 롤러 부재(930)에 말린 상태로 하우징(910) 내부에 배치되고, 사용자의 조작 또는 기계적 작동에 의해 디스플레이(950)가 하우징(910) 내부로부터 빠져나와 펼쳐짐으로써, 화면이 표시되는 표시 영역을 제공하는 구조로 구성될 수 있다. 전자 장치(900)는 디스플레이(950)의 노출 여부에 따라서 제1 상태(예: 닫힘 상태 또는 축소 모드) 및 제2 상태(예: 열림 상태 또는 확장 모드)를 포함할 수 있다. In an embodiment, in the
일 실시 예에서, 디스플레이(950)는 제1 영역(또는, 기본 영역)(A1) 및 제1 영역(A1)으로부터 연장되는 제2 영역(또는, 확장 영역)(A2)을 포함할 수 있다. 제1 상태는 제1 영역(A1)이 전자 장치(900)의 전면을 향해 위치하고, 제2 영역(A2)은 하우징(910)의 내측에 위치한 상태일 수 있다. 제2 상태는 제2 영역(A2)의 적어도 일부가 제1 영역(A1)과 함께 전자 장치(900)의 전면을 향해 위치하는 상태일 수 있다.In an embodiment, the
일 실시 예에서, 하우징(910)의 일 측에는 디스플레이(950)가 이동할 수 있도록 개구(미도시)가 형성될 수 있다. 디스플레이(950)는 개구를 통해 하우징(910)의 외부로 이동하여 노출되거나, 또는 하우징(910)의 내부에 수용될 수 있다. 하우징(910)의 내부에는 롤러 부재(930)가 회전 가능하게 결합될 수 있다. 롤러 부재(930)는 디스플레이(950)에 의해 둘러싸일 수 있다. 롤러 부재(930)가 하우징(910) 내부에서 하우징(910)에 대해 상대적으로 회전 동작함에 따라 하우징(910)의 외부 또는 내부로 이동할 수 있다.In an embodiment, an opening (not shown) may be formed at one side of the
일 실시 예에서, 디스플레이(950)는 롤러 부재(930)에 감길 수 있다. 디스플레이(950)의 일 단은 롤러 부재(930)에 연결될 수 있다. 디스플레이(950)는 롤러 부재(930)에 직접 연결되거나, 또는 디스플레이(950)와 전자 장치(900) 간의 신호 전달을 수행하는 매개체(미도시)를 통해 간접적으로 연결될 수도 있다. 디스플레이(950)는 롤러 부재(930)의 회전 동작에 의해, 롤러 부재(930)에 감기거나, 풀릴 수 있다. 디스플레이(950)는 롤러 부재(930)로부터 풀리면서 개구(미도시)를 통해 하우징(910) 외부로 노출(또는, 확장)될 수 있다. 디스플레이(950)는 롤러 부재(930)에 감기면서 개구(미도시)를 통해 하우징(910) 내부로 수용(또는, 수납)될 수 있다.In an embodiment, the
이하, 도 10을 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 도 10은 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다. Hereinafter, an electronic device according to an embodiment will be described with reference to FIG. 10 . 10 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 10을 참조하면, 일 실시예에 따른 전자 장치(1000)는 하우징(1010) 및 디스플레이(1050)를 포함할 수 있다. 디스플레이(1050)는 제1 영역(A1), 제1 영역(A1)의 일 측과 인접한 제2 영역(A2) 및 제1 영역(A1)의 타 측과 인접한 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다. 제1 상태(S1)에서 디스플레이(1050)의 제1 영역(A1)은 전자 장치(1000)의 전면을 향해 노출되고, 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)은 하우징(1010) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1000)의 제1 상태(S1)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)을 포함할 수 있다. 제2 상태(S2)에서 디스플레이(1050)의 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)은 전자 장치(1000)의 전면을 향해 노출되고, 제3 영역(A3)은 하우징(1010) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1000)의 제2 상태(S2)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 제3 상태(S3)에서 디스플레이(1050)의 제1 영역(A1) 및 제3 영역(A3)은 전자 장치(1000)의 전면을 향해 노출되고, 제2 영역(A2)은 하우징(1010) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1000)의 제3 상태(S3)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1) 및 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10 , the
도 10의 전자 장치(1000)의 동작 구성은 도 4 내지 도 8로서 참조될 수 있다. 제3 상태(S3)를 더 포함하는 도 10의 전자 장치(1000)는 제1 상태(S1) 및 제2 상태(S2)에 관한 정보뿐만 아니라 제3 상태(S3)에 관한 정보에 기반하여, 샘플링 정보의 업데이트 주기를 변경하고, 설정할 수 있다.An operation configuration of the
일 실시 예에서, 전자 장치(1000)는 복수의 하우징(미도시)(예: 3개의 하우징) 및 디스플레이(1050)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 하우징은 제1 하우징(미도시), 제1 하우징의 일 측면에서 일 방향(예: 제1 방향(D1))으로 슬라이딩 가능하도록 결합되는 제2 하우징(미도시), 및 제1 하우징의 반대측 측면에서 상기 일 방향의 반대 방향(예: 제2 방향(D2))으로 슬라이딩 가능하도록 결합되는 제3 하우징(미도시)을 포함할 수 있다. 플렉서블 디스플레이(1050)는 제1 하우징, 제2 하우징 및 제3 하우징의 적어도 일부에 배치될 수 있다. 제2 하우징이 제1 하우징에 대하여 제1 방향(D1)으로 슬라이딩되면, 디스플레이(1050)의 제3 영역(A3)은 전자 장치(1000)의 전면을 향해 노출되도록 배치될 수 있다. 제3 하우징이 제1 하우징에 대하여 제2 방향(D2)으로 슬라이딩되면, 디스플레이(1050)의 제2 영역(A2)은 전자 장치(1000)의 전면을 향해 노출되도록 배치될 수 있다. In an embodiment, the
사용 패턴 정보는 전자 장치(1000))의 제1 상태(S1), 제2 상태(S2) 및 제3 상태(S3)와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간, 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간, 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간, 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간과 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간과 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태(S1)의 동작 횟수, 제2 상태(S2)의 동작 횟수 또는 제3 상태(S3)의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이(1050)의 제1 영역(A1)의 누적 출력 시간, 제2 영역(A2)의 누적 출력 시간 및 제3 영역(A3)의 누적 출력 시간을 포함할 수도 있다. 디스플레이(1050)의 제1 영역(A1)의 누적 출력 시간은 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간, 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간 및 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있고, 제2 영역(A2)의 누적 출력 시간은 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있고, 제3 영역(A3)의 누적 출력 시간은 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있다. 제1 파라미터 정보는 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함할 수 있다.The usage pattern information may include information related to the first state S1 , the second state S2 , and the third state S3 of the
이하, 도 11을 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 도 11은 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다. Hereinafter, an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 11 . 11 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 전자 장치(1100)는 하우징(1110) 및 디스플레이(1150)를 포함할 수 있다. 디스플레이(1150)는 제1 영역(A1), 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2) 및 제2 영역(A2)과 인접한 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다. 제2 상태(S2)는 제1 상태(S1)와 제3 상태(S3) 사이의 중간 상태를 의미할 수 있다. 예를 들어, 제2 상태(S2)는 제1 상태(S1)에서 제3 상태(S3)로, 또는 제3 상태(S3)에서 제1 상태(S1)로 변형되는 동작에서 변형이 완료되기 전의 임의의 상태로 이해될 수 있다.Referring to FIG. 11 , an
제1 상태(S1)에서 디스플레이(1150)의 제1 영역(A1)은 전자 장치(1100)의 전면을 향해 노출되고, 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)은 하우징(1110) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1100)의 제1 상태(S1)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)을 포함할 수 있다. 제2 상태(S2)에서 디스플레이(1150)의 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)은 전자 장치(1100)의 전면을 향해 노출되고, 제3 영역(A3)은 하우징(1110) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1100)의 제2 상태(S2)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 제3 상태(S3)에서 디스플레이(1150)의 제1 영역(A1), 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)은 전자 장치(1100)의 전면을 향해 노출될 수 있다. 전자 장치(1100)의 제3 상태(S3)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1), 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다.In the first state S1 , the first area A1 of the
도 11의 전자 장치(1100)의 동작 구성은 도 4 내지 도 8로서 참조될 수 있다. 제3 상태(S3)를 더 포함하는 도 11의 전자 장치(1100)는 제1 상태(S1) 및 제2 상태(S2)에 관한 정보뿐만 아니라 제3 상태(S3)에 관한 정보에 기반하여, 샘플링 정보의 업데이트 주기를 변경하고, 설정할 수 있다. An operation configuration of the
사용 패턴 정보는 전자 장치(1100))의 제1 상태(S1), 제2 상태(S2) 및 제3 상태(S3)와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간, 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간, 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간, 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간과 제2 상태(S2)의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태(S1)의 누적 동작 시간과 제3 상태(S3)의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태(S1)의 동작 횟수, 제2 상태(S2)의 동작 횟수 또는 제3 상태(S3)의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이(1150)의 제1 영역(A1)의 누적 출력 시간, 제2 영역(A2)의 누적 출력 시간 및 제3 영역(A3)의 누적 출력 시간을 포함할 수도 있다. 제1 파라미터 정보는 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함할 수 있다.The usage pattern information may include information related to the first state S1 , the second state S2 , and the third state S3 of the
이하, 도 12를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 도 12는 일 실시예에 따른 전자 장치의 제1 상태, 제2 상태 및 제3 상태를 나타내는 도면이다. Hereinafter, an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 12 . 12 is a diagram illustrating a first state, a second state, and a third state of an electronic device according to an exemplary embodiment.
도 12을 참조하면, 일 실시예에 따른 전자 장치(1200)는 하우징(1210) 및 디스플레이(1250)를 포함할 수 있다. 디스플레이(1250)는 제1 영역(A1), 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2) 및 제2 영역(A2)과 인접한 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다. 제2 상태(S2)는 제1 상태(S1)와 제3 상태(S3) 사이의 중간 상태를 의미할 수 있다. 예를 들어, 제2 상태(S2)는 제1 상태(S1)에서 제3 상태(S3)로, 또는 제3 상태(S3)에서 제1 상태(S1)로 변형되는 동작에서 변형이 완료되기 전의 임의의 상태로 이해될 수 있다.Referring to FIG. 12 , an
제1 상태(S1)에서 디스플레이(1250)의 제1 영역(A1)은 전자 장치(1200)의 전면을 향해 노출되고, 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)은 롤러 부재(예: 도 9의 롤러 부재(930))에 감긴 채로 하우징(1210) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1200)의 제1 상태(S1)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)을 포함할 수 있다. 제2 상태(S2)에서 디스플레이(1250)의 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)은 전자 장치(1200)의 전면을 향해 노출되고, 제3 영역(A3)은 롤러 부재(예: 도 9의 롤러 부재(930))에 감긴 채로 하우징(1210) 내에 수용될 수 있다. 전자 장치(1200)의 제2 상태(S2)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 제3 상태(S3)에서 디스플레이(1250)의 제1 영역(A1), 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)은 전자 장치(1200)의 전면을 향해 노출될 수 있다. 전자 장치(1200)의 제3 상태(S3)에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1), 제2 영역(A2) 및 제3 영역(A3)을 포함할 수 있다.In the first state S1 , the first area A1 of the
도 12의 전자 장치(1200)의 동작 구성은 도 4 내지 도 8로서 참조될 수 있다. 제3 상태(S3)를 더 포함하는 도 12의 전자 장치(1200)는 제1 상태(S1) 및 제2 상태(S2)에 관한 정보뿐만 아니라 제3 상태(S3)에 관한 정보에 기반하여, 샘플링 정보의 업데이트 주기를 변경하고, 설정할 수 있다. An operation configuration of the
이하, 도 13을 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성에 대해 설명한다. 도 13은 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다. Hereinafter, an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 13 . 13 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
동작 1310에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보를 획득할 수 있다. 사용 패턴 정보는 전자 장치의 제1 상태(예: 도 3의 제1 상태(S1)) 및 제2 상태(예: 도 3의 제2 상태(S2))와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이의 제1 영역(예: 도 3의 제1 영역(A1))의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역(예: 도 3의 제2 영역(A2))의 누적 출력 시간을 포함할 수도 있다. 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간은 제1 상태의 누적 동작 시간 및 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있고, 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간은 제2 상태의 누적 동작 시간에 기반하여 산출될 수 있다. In
동작 1320에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간이 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이가 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수가 지정된 수 이상인지 판단할 수 있다. 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하지 않는 것으로 판단되면, 전자 장치는 동작1310을 수행할 수 있다. In
사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단되면, 동작 1330에서, 전자 장치는 제1 영역과 제2 영역 사이의 경계에 잔상이 시인될 수 있다는 내용의 메시지를 디스플레이를 통해 출력할 수 있다. 일 실시예에서, 잔상은 번인(burn-in)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이(예: 도 1의 디스플레이(150))의 일부 소자(예: 화소 또는 유기 발광 소자)가 열화(burn-in)되어 잔상이 발생할 수 있다. 잔상은 디스플레이의 화소 열화에 의해 디스플레이의 적어도 일부 영역에서 특정 이미지가 사라지지 않고 화면에 남아 사용자에 시인되는 현상을 의미할 수 있다.If it is determined that the usage pattern information satisfies the specified condition, in
도 14는 일 실시예에 따른 전자 장치에서 출력되는 메시지를 예시적으로 나타내는 도면이다. 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단(예: 도 13의 동작 1320)되면, 일 실시예에 따른 전자 장치(1400)는 확장 화면(또는 축소 화면)의 사용 비율을 늘리지 않으면 경계부에 줄이 시인될 수 있다는 알림을 메시지 형태로 사용자에 제공할 수 있다. 사용자 알림은 도 14에 도시한 바에 한정되지 않을 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 경계부에 줄이 시인될 수 있다는 알림을 아이콘 형태로 사용자에 제공할 수도 있다. 14 is a diagram exemplarily illustrating a message output from an electronic device according to an embodiment. When it is determined that the usage pattern information satisfies the specified condition (eg,
이하, 도 15를 참조하여, 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성에 대해 설명한다. 도 15는 일 실시예에 따른 전자 장치의 동작 구성을 나타내는 흐름도이다.Hereinafter, an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 15 . 15 is a flowchart illustrating an operation configuration of an electronic device according to an exemplary embodiment.
동작 1510에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보를 획득할 수 있다. 사용 패턴 정보는 전자 장치의 제1 상태(예: 도 3의 제1 상태(S1)) 및 제2 상태(예: 도 3의 제2 상태(S2))와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 사용 패턴 정보는 제1 상태의 누적 동작 시간, 제2 상태의 누적 동작 시간, 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 사용 패턴 정보는 디스플레이의 제1 영역(예: 도 3의 제1 영역(A1))의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역(예: 도 3의 제2 영역(A2))의 누적 출력 시간을 포함할 수도 있다. In
동작 1520에서, 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 디스플레이의 제1 영역의 누적 출력 시간 및 디스플레이의 제2 영역의 누적 출력 시간이 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이가 지정된 값 이상인지 판단할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태의 동작 횟수 또는 제2 상태의 동작 횟수가 지정된 수 이상인지 판단할 수 있다. 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하지 않는 것으로 판단되면, 전자 장치는 동작1510을 수행할 수 있다. In
사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단되면, 동작 1530에서, 전자 장치는 제1 상태에서의 디스플레이의 표시 영역을 변경할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 상태에서 디스플레이 상의 표시 영역의 위치 또는 면적을 변경할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 제1 상태에서의 표시 영역이 제1 영역 및 시각적으로 노출되지 않는 제2 영역의 적어도 일부를 포함하도록 설정할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 상태의 누적 동작 시간과 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이가 지정된 값 이상인 경우, 제1 상태에서의 표시 영역의 위치 또는 면적을 변경하여 제1 영역과 제2 영역 사이의 경계에 잔상이 시인되는 것을 감소시킬 수 있다. If it is determined that the usage pattern information satisfies the specified condition, in
도 16은 제1 상태의 전자 장치에서 변경된 디스플레이의 표시 영역을 나타내는 도면이다. 제1 상태의 전자 장치에서, 디스플레이(1650)의 제1 영역(A1)은 전자 장치의 전면에 위치하여 시각적으로 노출될 수 있고, 제2 영역(A2)은 전자 장치 내에 수용될 수 있다. 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단(예: 도 15의 동작 1520)되면, 전자 장치는 제1 상태에서 제1 영역(A1)의 전 영역 및 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)의 적어도 일부 영역을 통해 이미지를 표시(예: 도 15의 동작 1530)할 수 있다. 제1 상태의 전자 장치의 변경된 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)의 전 영역 및 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)의 적어도 일부 영역을 포함할 수 있다. 16 is a diagram illustrating a display area of a display changed in an electronic device in a first state. In the electronic device in the first state, the first area A1 of the
도 17은 제1 상태의 전자 장치에서 변경된 디스플레이의 표시 영역을 나타내는 도면이다. 제1 상태의 전자 장치에서, 디스플레이(1750)의 제1 영역(A1)은 전자 장치의 전면에 위치하여 시각적으로 노출될 수 있고, 제2 영역(A2)은 전자 장치 내에 수용될 수 있다. 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하는 것으로 판단(예: 도 15의 동작 1520)되면, 전자 장치는 제1 상태에서 제1 영역(A1)의 일 가장자리 영역(NA)을 제외한 영역 및 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)의 적어도 일부 영역을 통해 이미지를 표시(예: 도 15의 동작 1530)할 수 있다. 제1 상태의 전자 장치에서 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)의 비율을 유지하며 일 방향(x축 방향)으로 이동할 수 있다. 제1 상태의 전자 장치에서 변경된 표시 영역(DA)은 제1 영역(A1)의 일 가장자리 영역(NA)을 제외한 영역 및 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)의 적어도 일부 영역을 포함할 수 있다. 제1 영역(A1)의 일 가장자리 영역(NA)은 제1 상태에서 발광하지 않거나, 블랙(black)을 표시할 수 있다. 17 is a diagram illustrating a display area of a display changed in an electronic device in a first state. In the electronic device in the first state, the first area A1 of the
도 18은, 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경(1800) 내의 전자 장치(1801)의 블록도이다. 도 18을 참조하면, 네트워크 환경(1800)에서 전자 장치(1801)는 제 1 네트워크(1898)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1802)와 통신하거나, 또는 제 2 네트워크(1899)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1804) 또는 서버(1808)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(1801)는 서버(1808)를 통하여 전자 장치(1804)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(1801)는 프로세서(1820), 메모리(1830), 입력 모듈(1850), 음향 출력 모듈(1855), 디스플레이 모듈(1860), 오디오 모듈(1870), 센서 모듈(1876), 인터페이스(1877), 연결 단자(1878), 햅틱 모듈(1879), 카메라 모듈(1880), 전력 관리 모듈(1888), 배터리(1889), 통신 모듈(1890), 가입자 식별 모듈(1896), 또는 안테나 모듈(1897)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(1801)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 연결 단자(1878))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들(예: 센서 모듈(1876), 카메라 모듈(1880), 또는 안테나 모듈(1897))은 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(1860))로 통합될 수 있다.18 is a block diagram of an electronic device 1801 in a
프로세서(1820)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(1840))를 실행하여 프로세서(1820)에 연결된 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)를 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(1820)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(1876) 또는 통신 모듈(1890))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(1832)에 저장하고, 휘발성 메모리(1832)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(1834)에 저장할 수 있다. 일실시예에 따르면, 프로세서(1820)는 메인 프로세서(1821)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서) 또는 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(1823)(예: 그래픽 처리 장치, 신경망 처리 장치(NPU: neural processing unit), 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1801)가 메인 프로세서(1821) 및 보조 프로세서(1823)를 포함하는 경우, 보조 프로세서(1823)는 메인 프로세서(1821)보다 저전력을 사용하거나, 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(1823)는 메인 프로세서(1821)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The processor 1820, for example, executes software (eg, a program 1840) to execute at least one other component (eg, a hardware or software component) of the electronic device 1801 connected to the processor 1820. It can control and perform various data processing or operations. According to one embodiment, as at least part of data processing or computation, the processor 1820 converts commands or data received from other components (eg, the
보조 프로세서(1823)는, 예를 들면, 메인 프로세서(1821)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1821)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(1821)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1821)와 함께, 전자 장치(1801)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(1860), 센서 모듈(1876), 또는 통신 모듈(1890))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일실시예에 따르면, 보조 프로세서(1823)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성요소(예: 카메라 모듈(1880) 또는 통신 모듈(1890))의 일부로서 구현될 수 있다. 일실시예에 따르면, 보조 프로세서(1823)(예: 신경망 처리 장치)는 인공지능 모델의 처리에 특화된 하드웨어 구조를 포함할 수 있다. 인공지능 모델은 기계 학습을 통해 생성될 수 있다. 이러한 학습은, 예를 들어, 인공지능이 수행되는 전자 장치(1801) 자체에서 수행될 수 있고, 별도의 서버(예: 서버(1808))를 통해 수행될 수도 있다. 학습 알고리즘은, 예를 들어, 지도형 학습(supervised learning), 비지도형 학습(unsupervised learning), 준지도형 학습(semi-supervised learning) 또는 강화 학습(reinforcement learning)을 포함할 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은, 복수의 인공 신경망 레이어들을 포함할 수 있다. 인공 신경망은 심층 신경망(DNN: deep neural network), CNN(convolutional neural network), RNN(recurrent neural network), RBM(restricted boltzmann machine), DBN(deep belief network), BRDNN(bidirectional recurrent deep neural network), 심층 Q-네트워크(deep Q-networks) 또는 상기 중 둘 이상의 조합 중 하나일 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은 하드웨어 구조 이외에, 추가적으로 또는 대체적으로, 소프트웨어 구조를 포함할 수 있다.The coprocessor 1823 may, for example, act on behalf of the main processor 1821 while the main processor 1821 is in an inactive (eg, sleep) state, or the main processor 1821 may be active (eg, executing an application). ), together with the main processor 1821, at least one of the components of the electronic device 1801 (eg, the
메모리(1830)는, 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(1820) 또는 센서 모듈(1876))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(1840)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(1830)는, 휘발성 메모리(1832) 또는 비휘발성 메모리(1834)를 포함할 수 있다. The memory 1830 may store various data used by at least one component of the electronic device 1801 (eg, the processor 1820 or the sensor module 1876 ). The data may include, for example, input data or output data for software (eg, a program 1840) and commands related thereto. The memory 1830 may include a volatile memory 1832 or a non-volatile memory 1834 .
프로그램(1840)은 메모리(1830)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(1842), 미들 웨어(1844) 또는 어플리케이션(1846)을 포함할 수 있다. The program 1840 may be stored as software in the memory 1830 , and may include, for example, an operating system 1842 , middleware 1844 , or an application 1846 .
입력 모듈(1850)은, 전자 장치(1801)의 구성요소(예: 프로세서(1820))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(1801)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 모듈(1850)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 키(예: 버튼), 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다. The input module 1850 may receive a command or data to be used in a component (eg, the processor 1820 ) of the electronic device 1801 from the outside (eg, a user) of the electronic device 1801 . The input module 1850 may include, for example, a microphone, a mouse, a keyboard, a key (eg, a button), or a digital pen (eg, a stylus pen).
음향 출력 모듈(1855)은 음향 신호를 전자 장치(1801)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 모듈(1855)은, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있다. 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The
디스플레이 모듈(1860)은 전자 장치(1801)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 디스플레이 모듈(1860)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 디스플레이 모듈(1860)은 터치를 감지하도록 설정된 터치 센서, 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 압력 센서를 포함할 수 있다. The
오디오 모듈(1870)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일실시예에 따르면, 오디오 모듈(1870)은, 입력 모듈(1850)을 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 모듈(1855), 또는 전자 장치(1801)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802))(예: 스피커 또는 헤드폰)를 통해 소리를 출력할 수 있다.The
센서 모듈(1876)은 전자 장치(1801)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 센서 모듈(1876)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다. The
인터페이스(1877)는 전자 장치(1801)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일실시예에 따르면, 인터페이스(1877)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.The
연결 단자(1878)는, 그를 통해서 전자 장치(1801)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 연결 단자(1878)는, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.The
햅틱 모듈(1879)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일실시예에 따르면, 햅틱 모듈(1879)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.The haptic module 1879 may convert an electrical signal into a mechanical stimulus (eg, vibration or movement) or an electrical stimulus that the user can perceive through tactile or kinesthetic sense. According to an embodiment, the haptic module 1879 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.
카메라 모듈(1880)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일실시예에 따르면, 카메라 모듈(1880)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.The
전력 관리 모듈(1888)은 전자 장치(1801)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(1888)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.The power management module 1888 may manage power supplied to the electronic device 1801 . According to an embodiment, the power management module 1888 may be implemented as, for example, at least a part of a power management integrated circuit (PMIC).
배터리(1889)는 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 구성요소에 전력을 공급할 수 있다. 일실시예에 따르면, 배터리(1889)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.The battery 1889 may supply power to at least one component of the electronic device 1801 . According to one embodiment, battery 1889 may include, for example, a non-rechargeable primary cell, a rechargeable secondary cell, or a fuel cell.
통신 모듈(1890)은 전자 장치(1801)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802), 전자 장치(1804), 또는 서버(1808)) 간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(1890)은 프로세서(1820)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 통신 모듈(1890)은 무선 통신 모듈(1892)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(1894)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(1898)(예: 블루투스, WiFi(wireless fidelity) direct 또는 IrDA(infrared data association)와 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(1899)(예: 레거시 셀룰러 네트워크, 5G 네트워크, 차세대 통신 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부의 전자 장치(1804)와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(1892)은 가입자 식별 모듈(1896)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크(1898) 또는 제 2 네트워크(1899)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(1801)를 확인 또는 인증할 수 있다. The communication module 1890 is a direct (eg, wired) communication channel or a wireless communication channel between the electronic device 1801 and an external electronic device (eg, the
무선 통신 모듈(1892)은 4G 네트워크 이후의 5G 네트워크 및 차세대 통신 기술, 예를 들어, NR 접속 기술(new radio access technology)을 지원할 수 있다. NR 접속 기술은 고용량 데이터의 고속 전송(eMBB(enhanced mobile broadband)), 단말 전력 최소화와 다수 단말의 접속(mMTC(massive machine type communications)), 또는 고신뢰도와 저지연(URLLC(ultra-reliable and low-latency communications))을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1892)은, 예를 들어, 높은 데이터 전송률 달성을 위해, 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1892)은 고주파 대역에서의 성능 확보를 위한 다양한 기술들, 예를 들어, 빔포밍(beamforming), 거대 배열 다중 입출력(massive MIMO(multiple-input and multiple-output)), 전차원 다중입출력(FD-MIMO: full dimensional MIMO), 어레이 안테나(array antenna), 아날로그 빔형성(analog beam-forming), 또는 대규모 안테나(large scale antenna)와 같은 기술들을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1892)은 전자 장치(1801), 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1804)) 또는 네트워크 시스템(예: 제 2 네트워크(1899))에 규정되는 다양한 요구사항을 지원할 수 있다. 일실시예에 따르면, 무선 통신 모듈(1892)은 eMBB 실현을 위한 Peak data rate(예: 20Gbps 이상), mMTC 실현을 위한 손실 Coverage(예: 164dB 이하), 또는 URLLC 실현을 위한 U-plane latency(예: 다운링크(DL) 및 업링크(UL) 각각 0.5ms 이하, 또는 라운드 트립 1ms 이하)를 지원할 수 있다.The wireless communication module 1892 may support a 5G network after a 4G network and a next-generation communication technology, for example, a new radio access technology (NR). NR access technology includes high-speed transmission of high-capacity data (eMBB (enhanced mobile broadband)), minimization of terminal power and access to multiple terminals (mMTC (massive machine type communications)), or high reliability and low latency (URLLC (ultra-reliable and low-latency) -latency communications)). The wireless communication module 1892 may support a high frequency band (eg, mmWave band) to achieve a high data rate, for example. The wireless communication module 1892 uses various techniques for securing performance in a high-frequency band, for example, beamforming, massive multiple-input and multiple-output (MIMO), all-dimensional multiplexing. It may support technologies such as full dimensional MIMO (FD-MIMO), an array antenna, analog beam-forming, or a large scale antenna. The wireless communication module 1892 may support various requirements specified in the electronic device 1801 , an external electronic device (eg, the electronic device 1804 ), or a network system (eg, the second network 1899 ). According to an embodiment, the wireless communication module 1892 provides a peak data rate (eg, 20 Gbps or more) for realization of eMBB, loss coverage for realization of mMTC (eg, 164 dB or less), or U-plane latency (for URLLC realization) ( Example: downlink (DL) and uplink (UL) each 0.5 ms or less, or
안테나 모듈(1897)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부의 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈(1897)은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 안테나를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈(1897)은 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크(1898) 또는 제 2 네트워크(1899)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(1890)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(1890)과 외부의 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC(radio frequency integrated circuit))이 추가로 안테나 모듈(1897)의 일부로 형성될 수 있다. The
다양한 실시예에 따르면, 안테나 모듈(1897)은 mmWave 안테나 모듈을 형성할 수 있다. 일실시예에 따르면, mmWave 안테나 모듈은 인쇄 회로 기판, 상기 인쇄 회로 기판의 제 1 면(예: 아래 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 지정된 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있는 RFIC, 및 상기 인쇄 회로 기판의 제 2 면(예: 윗 면 또는 측 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 상기 지정된 고주파 대역의 신호를 송신 또는 수신할 수 있는 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다.According to various embodiments, the
상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))을 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.At least some of the components are connected to each other through a communication method between peripheral devices (eg, a bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)) and a signal ( eg commands or data) can be exchanged with each other.
일실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(1899)에 연결된 서버(1808)를 통해서 전자 장치(1801)와 외부의 전자 장치(1804)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 외부의 전자 장치(1802, 또는 1804) 각각은 전자 장치(1801)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(1801)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부의 전자 장치들(1802, 1804, 또는 1808) 중 하나 이상의 외부의 전자 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(1801)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(1801)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부의 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부의 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(1801)로 전달할 수 있다. 전자 장치(1801)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 모바일 에지 컴퓨팅(MEC: mobile edge computing), 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다. 전자 장치(1801)는, 예를 들어, 분산 컴퓨팅 또는 모바일 에지 컴퓨팅을 이용하여 초저지연 서비스를 제공할 수 있다. 다른 실시예에 있어서, 외부의 전자 장치(1804)는 IoT(internet of things) 기기를 포함할 수 있다. 서버(1808)는 기계 학습 및/또는 신경망을 이용한 지능형 서버일 수 있다. 일실시예에 따르면, 외부의 전자 장치(1804) 또는 서버(1808)는 제 2 네트워크(1899) 내에 포함될 수 있다. 전자 장치(1801)는 5G 통신 기술 및 IoT 관련 기술을 기반으로 지능형 서비스(예: 스마트 홈, 스마트 시티, 스마트 카, 또는 헬스 케어)에 적용될 수 있다. According to an embodiment, the command or data may be transmitted or received between the electronic device 1801 and the external
도 19는 다양한 실시예들에 따른, 디스플레이 모듈(1860)의 블록도(1900)이다. 도 19를 참조하면, 디스플레이 모듈(1860)은 디스플레이(1910), 및 이를 제어하기 위한 디스플레이 드라이버 IC(DDI)(1930)를 포함할 수 있다. DDI(1930)는 인터페이스 모듈(1931), 메모리(1933)(예: 버퍼 메모리), 이미지 처리 모듈(1935), 또는 맵핑 모듈(1937)을 포함할 수 있다. DDI(1930)은, 예를 들면, 영상 데이터, 또는 상기 영상 데이터를 제어하기 위한 명령에 대응하는 영상 제어 신호를 포함하는 영상 정보를 인터페이스 모듈(1931)을 통해 전자 장치의 다른 구성요소로부터 수신할 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 영상 정보는 프로세서(1820)(예: 메인 프로세서(1821)(예: 어플리케이션 프로세서) 또는 메인 프로세서(1821)의 기능과 독립적으로 운영되는 보조 프로세서(1823)(예: 그래픽 처리 장치)로부터 수신될 수 있다. DDI(1930)는 터치 회로(1950) 또는 센서 모듈(1876) 등과 상기 인터페이스 모듈(1931)을 통하여 커뮤니케이션할 수 있다. 또한, DDI(1930)는 상기 수신된 영상 정보 중 적어도 일부를 메모리(1933)에, 예를 들면, 프레임 단위로 저장할 수 있다. 이미지 처리 모듈(1935)은, 예를 들면, 상기 영상 데이터의 적어도 일부를 상기 영상 데이터의 특성 또는 디스플레이(1910)의 특성에 적어도 기반하여 전처리 또는 후처리(예: 해상도, 밝기, 또는 크기 조정)를 수행할 수 있다. 맵핑 모듈(1937)은 이미지 처리 모듈(1835)을 통해 전처리 또는 후처리된 상기 영상 데이터에 대응하는 전압 값 또는 전류 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전압 값 또는 전류 값의 생성은 예를 들면, 디스플레이(1910)의 픽셀들의 속성(예: 픽셀들의 배열(RGB stripe 또는 pentile 구조), 또는 서브 픽셀들 각각의 크기)에 적어도 일부 기반하여 수행될 수 있다. 디스플레이(1910)의 적어도 일부 픽셀들은, 예를 들면, 상기 전압 값 또는 전류 값에 적어도 일부 기반하여 구동됨으로써 상기 영상 데이터에 대응하는 시각적 정보(예: 텍스트, 이미지, 또는 아이콘)가 디스플레이(1910)를 통해 표시될 수 있다.19 is a block diagram 1900 of a
일실시예에 따르면, 디스플레이 모듈(1860)은 터치 회로(1950)를 더 포함할 수 있다. 터치 회로(1950)는 터치 센서(1951) 및 이를 제어하기 위한 터치 센서 IC(1953)를 포함할 수 있다. 터치 센서 IC(1953)는, 예를 들면, 디스플레이(1910)의 특정 위치에 대한 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지하기 위해 터치 센서(1951)를 제어할 수 있다. 예를 들면, 터치 센서 IC(1953)는 디스플레이(1910)의 특정 위치에 대한 신호(예: 전압, 광량, 저항, 또는 전하량)의 변화를 측정함으로써 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지할 수 있다. 터치 센서 IC(1953)는 감지된 터치 입력 또는 호버링 입력에 관한 정보(예: 위치, 면적, 압력, 또는 시간)를 프로세서(1820) 에 제공할 수 있다. 일실시예에 따르면, 터치 회로(1950)의 적어도 일부(예: 터치 센서 IC(1953))는 디스플레이 드라이버 IC(1930), 또는 디스플레이(1910)의 일부로, 또는 디스플레이 모듈(1860)의 외부에 배치된 다른 구성요소(예: 보조 프로세서(1823))의 일부로 포함될 수 있다.According to an embodiment, the
일실시예에 따르면, 디스플레이 모듈(1860)은 센서 모듈(1876)의 적어도 하나의 센서(예: 지문 센서, 홍채 센서, 압력 센서 또는 조도 센서), 또는 이에 대한 제어 회로를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 적어도 하나의 센서 또는 이에 대한 제어 회로는 디스플레이 모듈(1860)의 일부(예: 디스플레이(1910) 또는 DDI(1930)) 또는 터치 회로(1950)의 일부에 임베디드될 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 모듈(1860)에 임베디드된 센서 모듈(1876)이 생체 센서(예: 지문 센서)를 포함할 경우, 상기 생체 센서는 디스플레이(1910)의 일부 영역을 통해 터치 입력과 연관된 생체 정보(예: 지문 이미지)를 획득할 수 있다. 다른 예를 들면, 디스플레이 모듈(1860)에 임베디드된 센서 모듈(1876)이 압력 센서를 포함할 경우, 상기 압력 센서는 디스플레이(1910)의 일부 또는 전체 영역을 통해 터치 입력과 연관된 압력 정보를 획득할 수 있다. 일실시예에 따르면, 터치 센서(1951) 또는 센서 모듈(1876)은 디스플레이(1910)의 픽셀 레이어의 픽셀들 사이에, 또는 상기 픽셀 레이어의 위에 또는 아래에 배치될 수 있다. According to an embodiment, the
일 실시예에 따른 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))는 복수의 화소가 위치하는 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함하고, 전면으로 시각적으로 노출되는 표시 영역의 크기가 변경되는 디스플레이(예: 도 1의 디스플레이(150)); 및 상기 디스플레이와 작동적으로 연결된 프로세서(예: 도 18의 프로세서(1820));를 포함하고, 상기 디스플레이는 제1 상태에서 상기 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제2 상태에서 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고, 상기 프로세서는, 제1 주기에 따라 상기 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고, 상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정하도록 설정될 수 있다.An electronic device (eg, the
상기 사용 패턴 정보는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간, 상기 제2 상태의 누적 동작 시간, 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 상기 제1 상태의 동작 횟수, 상기 제2 상태의 동작 횟수, 상기 디스플레이의 상기 제1 영역의 누적 출력 시간 또는 상기 디스플레이의 상기 제2 영역의 누적 출력 시간 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The usage pattern information may include an accumulated operation time of the first state, an accumulated operation time of the second state, a difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state, and the number of operations of the first state. , the number of operations in the second state, the accumulated output time of the first area of the display, or the accumulated output time of the second area of the display.
상기 프로세서는, 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교하고, 상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 중 더 작은 값을 상기 제2 주기로 설정할 수 있다. The processor compares the period based on the first parameter information and the period based on the second parameter information, and sets a smaller value of the period based on the first parameter information and the period based on the second parameter information as the second period can
상기 제1 파라미터 정보는 상기 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함하고, 상기 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간 정보를 포함할 수 있디.The first parameter information may include at least a portion of the usage pattern information, and the second parameter information may include application usage time information.
상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값이 커질수록 길어질 수 있다.The period based on the first parameter information may become longer as a difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state increases.
일 실시예에 따른 전자 장치는 메모리(예: 도 18의 메모리(1830))를 더 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 메모리에 저장된 제1 주기 정보에 기반하여, 상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기를 산출하고, 상기 메모리에 저장된 제2 주기 정보에 기반하여, 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 산출하도록 설정될 수 있다. The electronic device according to an embodiment further includes a memory (eg, the memory 1830 of FIG. 18 ), and the processor determines a cycle based on the first parameter information based on first cycle information stored in the memory. and calculating the period based on the second parameter information based on the second period information stored in the memory.
상기 프로세서는, 제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 샘플링 정보의 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단하고, 상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 산출하도록 설정될 수 있다.The processor determines, based on the first parameter information and the second parameter information, whether it is necessary to change the update period of the sampling information, and selects the second period based on the first parameter information and the second parameter information. It can be set to be calculated.
상기 프로세서는, 상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보가 통합된 제3 주기 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 산출하도록 설정될 수 있다.The processor may be configured to calculate the second period based on third period information in which the first parameter information and the second parameter information are integrated.
상기 디스플레이는, 제3 영역을 더 포함하고, 제3 상태에서 상기 제3 영역을 포함하는 상기 표시 영역을 통해 이미지를 표시하고, 상기 사용 패턴 정보는 상기 제3 상태에 대한 정보를 더 포함할 수 있다. The display may further include a third area, and display an image through the display area including the third area in a third state, and the usage pattern information may further include information about the third state. have.
상기 프로세서는, 상기 사용 패턴 정보가 상기 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 영역과 상기 제2 영역 사이의 경계에 발생할 수 있는 잔상에 대한 메시지를 상기 디스플레이를 통해 출력하도록 설정될 수 있다.The processor may be configured to output a message regarding an afterimage that may occur on a boundary between the first area and the second area through the display when the usage pattern information satisfies the specified condition.
상기 프로세서는, 상기 사용 패턴 정보가 상기 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 상태에서 이미지를 표시하는 상기 표시 영역을 변경하도록 설정될 수 있다. The processor may be configured to change the display area displaying an image in the first state when the use pattern information satisfies the specified condition.
상기 프로세서는, 상기 제1 상태에서 상기 표시 영역이 상기 제2 영역의 적어도 일부를 포함하도록 상기 표시 영역을 변경하도록 설정될 수 있다.The processor may be configured to change the display area so that the display area includes at least a portion of the second area in the first state.
상기 프로세서는, 상기 제1 상태에서 상기 표시 영역이 상기 제1 영역의 일부 영역 및 상기 제2 영역의 일부 영역을 포함하도록, 상기 표시 영역을 변경하도록 설정될 수 있다.The processor may be configured to change the display area so that the display area includes a partial area of the first area and a partial area of the second area in the first state.
일 실시예에 따른 전자 장치는 서로에 대해 상대적으로 슬라이딩 동작이 가능하게 결합된 제1 하우징(예: 도 1의 제1 하우징(110)) 및 제2 하우징(예: 도 1의 제2 하우징(140))을 더 포함할 수 있다.An electronic device according to an embodiment includes a first housing (eg, the
일 실시예에 따른 전자 장치는 상기 디스플레이의 적어도 일부가 감기도록 배치된 롤러 부재(예: 도 9의 롤러 부재(930))를 더 포함할 수 있다. The electronic device according to an embodiment may further include a roller member (eg, the
일 실시예에 따른 전자 장치의 화소 열화를 보상하는 방법에서, 제1 상태에서 디스플레이의 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제2 상태에서 디스플레이의 제1 영역 및 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제1 주기에 따라 상기 디스플레이의 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고, 상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고, 상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정할 수 있다.In a method for compensating for pixel degradation of an electronic device according to an embodiment, an image is displayed through a first area of a display in a first state, and an image is displayed through the first area and a second area of the display in a second state and updating sampling information on the degree of deterioration of a plurality of pixels of the display according to a first period, acquiring usage pattern information related to the first state and the second state, and determining a condition in which the use pattern information is specified. If satisfied, the sampling information may be updated according to a second period different from the first period, and output compensation values for the plurality of pixels may be determined based on the updated sampling information.
상기 사용 패턴 정보는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간, 상기 제2 상태의 누적 동작 시간, 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 상기 제1 상태의 동작 횟수, 상기 제2 상태의 동작 횟수, 상기 디스플레이의 상기 제1 영역의 누적 출력 시간 또는 상기 디스플레이의 상기 제2 영역의 누적 출력 시간 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The usage pattern information may include an accumulated operation time of the first state, an accumulated operation time of the second state, a difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state, and the number of operations of the first state. , the number of operations in the second state, the accumulated output time of the first area of the display, or the accumulated output time of the second area of the display.
제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교하고, 상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 중 더 작은 값을 상기 제2 주기로 설정할 수 있다.The period based on the first parameter information may be compared with the period based on the second parameter information, and a smaller value of the period based on the first parameter information and the period based on the second parameter information may be set as the second period.
상기 제1 파라미터 정보는 상기 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함하고, 상기 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간 정보를 포함할 수 있다. The first parameter information may include at least a portion of the usage pattern information, and the second parameter information may include application usage time information.
제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 샘플링 정보의 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단하고, 상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보가 통합된 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 설정할 수 있다. Based on the first parameter information and the second parameter information, it is determined whether the update period of the sampling information needs to be changed, and the second period is determined based on the information in which the first parameter information and the second parameter information are integrated. can be set.
본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.The electronic device according to various embodiments disclosed in this document may have various types of devices. The electronic device may include, for example, a portable communication device (eg, a smart phone), a computer device, a portable multimedia device, a portable medical device, a camera, a wearable device, or a home appliance device. The electronic device according to the embodiment of the present document is not limited to the above-described devices.
본 문서의 다양한 실시예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나", 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.The various embodiments of this document and the terms used therein are not intended to limit the technical features described in this document to specific embodiments, but it should be understood to include various modifications, equivalents, or substitutions of the embodiments. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for similar or related components. The singular form of the noun corresponding to the item may include one or more of the item, unless the relevant context clearly dictates otherwise. As used herein, "A or B", "at least one of A and B", "at least one of A or B", "A, B or C", "at least one of A, B and C", and "A , B, or C" each may include any one of, or all possible combinations of, items listed together in the corresponding one of the phrases. Terms such as "first", "second", or "first" or "second" may be used simply to distinguish the element from other elements in question, and may refer to elements in other aspects (e.g., importance or order) is not limited. It is said that one (eg, first) component is "coupled" or "connected" to another (eg, second) component, with or without the terms "functionally" or "communicatively". When referenced, it means that one component can be connected to the other component directly (eg by wire), wirelessly, or through a third component.
본 문서의 다양한 실시예들에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로와 같은 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다. The term “module” used in various embodiments of this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and is interchangeable with terms such as, for example, logic, logic block, component, or circuit. can be used as A module may be an integrally formed part or a minimum unit or a part of the part that performs one or more functions. For example, according to an embodiment, the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
본 문서의 다양한 실시예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(1801)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(1836) 또는 외장 메모리(1838))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(1840))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(1801))의 프로세서(예: 프로세서(1820))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장 매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장 매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장 매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.Various embodiments of the present document include one or more instructions stored in a storage medium (eg, internal memory 1836 or external memory 1838) readable by a machine (eg, electronic device 1801). may be implemented as software (eg, a program 1840) including For example, a processor (eg, processor 1820 ) of a device (eg, electronic device 1801 ) may call at least one command among one or more commands stored from a storage medium and execute it. This makes it possible for the device to be operated to perform at least one function according to the called at least one command. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter. The device-readable storage medium may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here, 'non-transitory' only means that the storage medium is a tangible device and does not include a signal (eg, electromagnetic wave), and this term is used in cases where data is semi-permanently stored in the storage medium and It does not distinguish between temporary storage cases.
일실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory(CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어™)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트 폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.According to one embodiment, the method according to various embodiments disclosed in this document may be provided as included in a computer program product. Computer program products may be traded between sellers and buyers as commodities. The computer program product is distributed in the form of a machine-readable storage medium (eg compact disc read only memory (CD-ROM)), or via an application store (eg Play Store™) or on two user devices ( It can be distributed online (eg download or upload), directly between smartphones (eg smartphones). In the case of online distribution, at least a part of the computer program product may be temporarily stored or temporarily generated in a machine-readable storage medium such as a memory of a server of a manufacturer, a server of an application store, or a relay server.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있으며, 복수의 개체 중 일부는 다른 구성요소에 분리 배치될 수도 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.According to various embodiments, each component (eg, module or program) of the above-described components may include a singular or a plurality of entities, and some of the plurality of entities may be separately disposed in other components. have. According to various embodiments, one or more components or operations among the above-described corresponding components may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Alternatively or additionally, a plurality of components (eg, a module or a program) may be integrated into one component. In this case, the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components identically or similarly to those performed by the corresponding component among the plurality of components prior to the integration. . According to various embodiments, operations performed by a module, program, or other component are executed sequentially, in parallel, repeatedly, or heuristically, or one or more of the operations are executed in a different order, or omitted. or one or more other operations may be added.
Claims (20)
복수의 화소가 위치하는 제1 영역 및 제2 영역을 포함하고, 전면으로 시각적으로 노출되는 표시 영역의 크기가 변경되는 디스플레이; 및
상기 디스플레이와 작동적으로 연결된 프로세서;를 포함하고,
상기 디스플레이는 제1 상태에서 상기 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고, 제2 상태에서 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고,
상기 프로세서는,
제1 주기에 따라 상기 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고,
상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고,
상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고,
상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정하도록 설정된, 전자 장치.In an electronic device,
a display including a first area and a second area in which a plurality of pixels are located, the size of a display area visually exposed to the front surface of which is changed; and
and a processor operatively coupled to the display;
the display displays an image through the first region in a first state, and displays an image through the first region and the second region in a second state;
The processor is
updating sampling information regarding the degree of deterioration of the plurality of pixels according to a first period;
obtain usage pattern information related to the first state and the second state;
If the usage pattern information satisfies a specified condition, updating the sampling information according to a second cycle different from the first cycle,
and determine output compensation values for the plurality of pixels based on the updated sampling information.
상기 사용 패턴 정보는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간, 상기 제2 상태의 누적 동작 시간, 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 상기 제1 상태의 동작 횟수, 상기 제2 상태의 동작 횟수, 상기 디스플레이의 상기 제1 영역의 누적 출력 시간 또는 상기 디스플레이의 상기 제2 영역의 누적 출력 시간 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 전자 장치.In claim 1,
The usage pattern information may include an accumulated operation time of the first state, an accumulated operation time of the second state, a difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state, and the number of operations of the first state. , the number of operations in the second state, the electronic device including at least one of an accumulated output time of the first area of the display and an accumulated output time of the second area of the display.
상기 프로세서는,
제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교하고,
상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 중 더 작은 값을 상기 제2 주기로 설정하는, 전자 장치. In claim 2,
The processor is
comparing the period based on the first parameter information and the period based on the second parameter information;
and setting a smaller value of a period based on the first parameter information and a period based on the second parameter information as the second period.
상기 제1 파라미터 정보는 상기 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함하고,
상기 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간 정보를 포함하는, 전자 장치.In claim 3,
The first parameter information includes at least a part of the usage pattern information,
The second parameter information includes application usage time information.
상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차이 값이 커질수록 길어지는, 전자 장치. In claim 4,
and a period based on the first parameter information becomes longer as a difference value between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state increases.
메모리를 더 포함하고,
상기 프로세서는,
상기 메모리에 저장된 제1 주기 정보에 기반하여, 상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기를 산출하고,
상기 메모리에 저장된 제2 주기 정보에 기반하여, 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 산출하도록 설정된, 전자 장치. In claim 5,
more memory,
The processor is
Based on the first period information stored in the memory, calculating a period based on the first parameter information,
The electronic device is configured to calculate a period based on the second parameter information based on the second period information stored in the memory.
상기 프로세서는,
제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 샘플링 정보의 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단하고,
상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 산출하도록 설정된, 전자 장치.In claim 2,
The processor is
Based on the first parameter information and the second parameter information, it is determined whether it is necessary to change the update period of the sampling information,
The electronic device is configured to calculate the second period based on the first parameter information and the second parameter information.
상기 프로세서는,
상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보가 통합된 제3 주기 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 산출하도록 설정된, 전자 장치. In claim 7,
The processor is
The electronic device is configured to calculate the second period based on third period information in which the first parameter information and the second parameter information are integrated.
상기 디스플레이는,
제3 영역을 더 포함하고,
제3 상태에서 상기 제3 영역을 포함하는 상기 표시 영역을 통해 이미지를 표시하고,
상기 사용 패턴 정보는 상기 제3 상태에 대한 정보를 더 포함하는, 전자 장치. In claim 8,
The display is
further comprising a third region;
displaying an image through the display area including the third area in a third state;
The use pattern information further includes information on the third state.
상기 프로세서는, 상기 사용 패턴 정보가 상기 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 영역과 상기 제2 영역 사이의 경계에 발생할 수 있는 잔상에 대한 메시지를 상기 디스플레이를 통해 출력하도록 설정된, 전자 장치. In claim 1,
The processor is configured to output a message regarding an afterimage that may occur on a boundary between the first area and the second area through the display when the usage pattern information satisfies the specified condition.
상기 프로세서는, 상기 사용 패턴 정보가 상기 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 상태에서 이미지를 표시하는 상기 표시 영역을 변경하도록 설정된, 전자 장치. In claim 1,
The processor is configured to change the display area for displaying an image in the first state when the usage pattern information satisfies the specified condition.
상기 프로세서는, 상기 제1 상태에서 상기 표시 영역이 상기 제2 영역의 적어도 일부를 포함하도록 상기 표시 영역을 변경하도록 설정된, 전자 장치. In claim 11,
The processor is configured to change the display area so that the display area includes at least a part of the second area in the first state.
상기 프로세서는, 상기 제1 상태에서 상기 표시 영역이 상기 제1 영역의 일부 영역 및 상기 제2 영역의 일부 영역을 포함하도록, 상기 표시 영역을 변경하도록 설정된, 전자 장치. In claim 11,
and the processor is configured to change the display area such that the display area includes a partial area of the first area and a partial area of the second area in the first state.
서로에 대해 상대적으로 슬라이딩 동작이 가능하게 결합된 제1 하우징 및 제2 하우징을 더 포함하는, 전자 장치.In claim 1,
The electronic device further comprising a first housing and a second housing slidably coupled to each other.
상기 디스플레이의 적어도 일부가 감기도록 배치된 롤러 부재를 더 포함하는, 전자 장치. In claim 1,
The electronic device of claim 1, further comprising a roller member disposed to wind at least a portion of the display.
제1 상태에서 디스플레이의 제1 영역을 통해 이미지를 표시하고,
제2 상태에서 디스플레이의 제1 영역 및 제2 영역을 통해 이미지를 표시하고,
제1 주기에 따라 상기 디스플레이의 복수의 화소의 열화도에 관한 샘플링 정보를 업데이트하고,
상기 제1 상태 및 상기 제2 상태와 관련된 사용 패턴 정보를 획득하고,
상기 사용 패턴 정보가 지정된 조건을 만족하면, 상기 제1 주기와 다른 제2 주기에 따라 상기 샘플링 정보를 업데이트하고,
상기 업데이트된 샘플링 정보에 기반하여, 상기 복수의 화소에 대한 출력 보상 값을 결정하는, 방법. A method of compensating for pixel deterioration of an electronic device, the method comprising:
display an image through a first area of the display in a first state;
display an image through the first area and the second area of the display in the second state;
updating sampling information regarding the degree of deterioration of a plurality of pixels of the display according to a first period;
obtain usage pattern information related to the first state and the second state;
If the usage pattern information satisfies a specified condition, updating the sampling information according to a second cycle different from the first cycle,
determining an output compensation value for the plurality of pixels based on the updated sampling information.
상기 사용 패턴 정보는 상기 제1 상태의 누적 동작 시간, 상기 제2 상태의 누적 동작 시간, 상기 제1 상태의 누적 동작 시간과 상기 제2 상태의 누적 동작 시간의 차, 상기 제1 상태의 동작 횟수, 상기 제2 상태의 동작 횟수, 상기 디스플레이의 상기 제1 영역의 누적 출력 시간 또는 상기 디스플레이의 상기 제2 영역의 누적 출력 시간 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 방법. 17. In claim 16,
The usage pattern information may include an accumulated operation time of the first state, an accumulated operation time of the second state, a difference between the accumulated operation time of the first state and the accumulated operation time of the second state, and the number of operations of the first state. , including at least one of the number of operations in the second state, an accumulated output time of the first area of the display, or an accumulated output time of the second area of the display.
제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 제2 파라미터 정보에 기반한 주기를 비교하고,
상기 제1 파라미터 정보에 기반한 주기와 상기 제2 파라미터 정보에 기반한 주기 중 더 작은 값을 상기 제2 주기로 설정하는, 방법. In claim 17,
comparing the period based on the first parameter information and the period based on the second parameter information;
and setting a smaller value of a period based on the first parameter information and a period based on the second parameter information as the second period.
상기 제1 파라미터 정보는 상기 사용 패턴 정보 중 적어도 일부를 포함하고,
상기 제2 파라미터 정보는 어플리케이션 사용 시간 정보를 포함하는, 방법. In claim 18,
The first parameter information includes at least a part of the usage pattern information,
The second parameter information includes application usage time information.
제1 파라미터 정보 및 제2 파라미터 정보에 기반하여, 상기 샘플링 정보의 업데이트 주기의 변경이 필요한지 판단하고,
상기 제1 파라미터 정보 및 상기 제2 파라미터 정보가 통합된 정보에 기반하여, 상기 제2 주기를 설정하는, 방법.In claim 17,
Based on the first parameter information and the second parameter information, it is determined whether it is necessary to change the update period of the sampling information,
The method of setting the second period based on the information in which the first parameter information and the second parameter information are integrated.
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