KR20220062157A - 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치에 관한 것이다.
본 발명은 이를 위해 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있고 Ÿ‡지 표면의 온도를 낮게 유지시킬 수 잇도록 한 쿨링하우징(110); 및 쿨링하우징(110)의 구멍(111)에 조립되며, 고온에서 프로브가 손상되는 것을 방지하는 Ÿ‡지(150);가 포함됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 제공한다.
상기와 같이 구성된 본 발명은 고온웨지 개발, 쿨링시스템 개발 및 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 것이고, 이로 인해 초음파 탐상 검사장치의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시키므로 사용자인 작업자들의 다양한 욕구(니즈)를 충족시켜 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 것이다.

Description

고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치{High temperature Phased Array Ultrasonic Testing Device}

본 발명의 실시예는 정유/석유화학 공장의 설비(예: 배관/장치물) 중 고온(약 350℃까지)으로 운전중인 설비에 적용하여 사용하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(PAUT; Phased Array Ultrasonic Testing)에 관한 것으로, 보다 상세하게는 고온웨지 개발, 쿨링시스템 개발 및 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 것이고, 이로 인해 초음파 탐상 검사장치의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시키므로 사용자인 작업자들의 다양한 욕구(니즈)를 충족시켜 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 것이다.

사람들은 정기적으로 병원을 방문하여 각종 검사(예: MRA, MRI, 초음파검사, 내시경검사 등)를 받는다.

마찬가지로 산업현장의 각종 설비도 병들고 노후화된 부분을 치료하기 위해서는 사람이 건강검진을 받는것 처럼 검사를 받아야 한다.

상기와 같이 각종 산업현장의 설비를 육안으로 진단이 가능한 부분을 제외한 내부의 미세한 균열이나 틈새를 검사하는 장비가 각종 초음파 검사장비이다.

한편, PAUT(Phased Array Ultrasonic Testing)라 함은 위상배열 초음파 탐상시험으로 한 개의 PAUT탐촉자에 여러 개의 진동자가 탑재되어 각각 개별 독립적으로 신호를 송신 및 수신하며, 그 독립적 신호의 증폭과 지연은 장비의 제어장치에 의해 제어되고, 다중 진동자로부터 발생되는 각각의 초음파 위상과 증폭이 동일한 파면을 이루도록 개별 시간지연을 입력하여 집속된 초음파 빔 그룹을 형성한다. 이 집속된 초음파 빔 파형은 장비의 제어장치 설정에 따라 다양한 굴절각을 발생시킬 수 있고, 또한 동시에 연속적인 굴절각 그룹을 형성하여 표현하게 된다.

또한 고온 부품 및 부품에 대한 상기 PAUT를 수행하는 데는 몇 가지 어려움이 있다. 일반적인 PAUT 프로브의 압전 요소와 내부 연결 부품들은 열에 민감하며 고온으로 인해 손상 될 수 있다.

그리고 상기 PAUT 프로브의 온도 한계점은 60℃ 알려져 있다. 프로브와 Ÿ‡지가 결속하는 부위의 온도가 60℃를 도달하는 시점이 PAUT 검사시간 이라는 걸 알 수 있다.

때문에 고가의 프로브 손상을 방지하기 위해 온도 한계점을 좀더 낮게 잡아야 하는 어려움이 있었다.

또 한편, 상기와 같이 유용한 종래 기술도 다음과 같은 문제점이 발생 되었다.

즉, 종래 기술은 구조적으로 운전중인 설비를 검사할 수 없음은 물론 분석하여 신뢰도를 검토할 수 없다는 문제점이 발생 되었다.

또한 종래 기술은 고온 PAUT 시스템의 가능성을 확인할 수 없고, 고온에서의 초음파 변화량을 확일 할 수 없다는 문제점도 발생 되었다.

그리고 종래 기술은 고온Ÿ‡지가 개발되지 않아 고온에서의 프로브가 손상되는 문제점이 발생 되었다.

또한 종래 기술은 쿨링 시스템이 개발되지 않아 고온에서 많은 시간을 견딜 수 없다는 문제점이 발생 되었다.

특히 종래 기술은 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 할 수 없다는 커다란 문제점이 발생 되었다.

상기한 문제점을 해결하기 위해 종래에는 아래와 같은 선행기술문헌들이 개발되었으나, 여전히 상기한 종래 기술의 문제점을 일거에 해결하지 못하는 커다란 문제점이 발생 되었다.

대한민국 공개특허공보 제2007-0065934호(2007. 06. 27)가 공개된바 있다. 대한민국 공개특허공보 제2012-0032993호(2012. 04. 06)가 공개된바 있다. 대한민국 등록특허공보 제1478465호(2014. 12. 24)가 등록된바 있다. 대한민국 등록특허공보 제1698746호(2017. 01. 17)가 등록된바 있다.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 문제점을 해소하기 위하여 안출한 것으로, 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치에 쿨링하우징, 구멍, 관로, 냉각홀, 노즐, 프로브, Ÿ‡지 및 스케너지그가 구비됨을 제1목적으로 한 것이고, 상기한 기술적 구성에 의한 본 발명의 제2목적은 정유/석유화학 공장의 설비(예: 배관/장치물) 중 고온(약 350℃까지)으로 운전중인 설비에 적용하여 사용하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(PAUT; Phased Array Ultrasonic Testing)를 제공하는 것이며, 제3목적은 운전중인 설비를 검사 가능한 시스템을 제작하고. 분석하여 신뢰도를 검토하고, 실제 검사한 결과를 얻었고, 제4목적은 고온 PAUT 시스템의 가능성을 확인하고, 고온에서의 초음파 변화량을 확일 할 수 있었고, 제5목적은 고온Ÿ‡지를 개발한 것으로, 엔지니어링 플라스틱(engineering plastics)을 이용하여 제작한 Ÿ‡지는 고온에서의 프로브 손상될 수 있는 문제점을 개선하였으며, 제6목적은 쿨링 시스템을 개발한 것으로, 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있게 쿨링 시스템을 개발한 것이며, 제7목적은 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 것으로, Ÿ‡지 및 강 내부의 음속은 온도에 따라 달라지며 초점 법칙 및 음속의 영향을 받아 결함에 대한 위치 및 깊이 값에 오류를 가져오고 이 문제점을 실험을 통하여 검증 하였고, 제8목적은 적절한 개인 보호 장비를 사용하여 고온에서 열 및 잠재적 화상으로부터 안전하게 보호할 수 있도록 하였고, 제9목적은 운전 중인 설비를 모니터링하여 가동 중단의 필요성을 줄이고, 갑작스러운 파괴를 예방할 수 있도록 한 것이며, 제10목적은 이로 인해 초음파 탐상 검사장치의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시키므로 사용자인 작업자들의 다양한 욕구(니즈)를 충족시켜 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 제공한다.

이러한 목적 달성을 위하여 본 발명은 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있고 Ÿ‡지 표면의 온도를 낮게 유지시킬 수 잇도록 한 쿨링하우징; 및 쿨링하우징의 구멍에 조립되며, 고온에서 프로브가 손상되는 것을 방지하는 Ÿ‡지;가 포함됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 제공한다.

상기에서 상세히 살펴본 바와 같이 본 발명은 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치에 쿨링하우징, 구멍, 관로, 냉각홀, 노즐, 프로브, Ÿ‡지 및 스케너지그가 구비되도록 한 것이다.

상기한 기술적 구성에 의한 본 발명은 정유/석유화학 공장의 설비(예: 배관/장치물) 중 고온(약 350℃까지)으로 운전중인 설비에 적용하여 사용하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(PAUT; Phased Array Ultrasonic Testing)를 제공하는 것이다.

또한 본 발명은 운전중인 설비를 검사 가능한 시스템을 제작하고. 분석하여 신뢰도를 검토하고, 실제 검사한 결과를 얻었다.

그리고 본 발명은 고온 PAUT 시스템의 가능성을 확인하고, 고온에서의 초음파 변화량을 확일 할 수 있었다.

또한 본 발명은 고온Ÿ‡지를 개발한 것으로, 엔지니어링 플라스틱(engineering plastics)을 이용하여 제작한 Ÿ‡지는 고온에서의 프로브 손상될 수 있는 문제점을 개선 하였다.

그리고 본 발명은 쿨링 시스템을 개발한 것으로, 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있게 쿨링 시스템을 개발한 것이다.

특히 본 발명은 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 것으로, Ÿ‡지 및 강 내부의 음속은 온도에 따라 달라지며 초점 법칙 및 음속의 영향을 받아 결함에 대한 위치 및 깊이 값에 오류를 가져오고 이 문제점을 실험을 통하여 검증 하였다.

아울러 본 발명은 적절한 개인 보호 장비를 사용하여 고온에서 열 및 잠재적 화상으로부터 안전하게 보호할 수 있도록 하였다.

더하여 본 발명은 운전 중인 설비를 모니터링하여 가동 중단의 필요성을 줄이고, 갑작스러운 파괴를 예방할 수 있도록 한 것이다.

본 발명은 상기한 효과로 인해 초음파 탐상 검사장치의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시키므로 사용자인 작업자들의 다양한 욕구(니즈)를 충족시켜 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 매우 유용한 발명인 것이다.

이하에서는 이러한 효과 달성을 위한 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1 은 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치와 스케너지
그를 보인 분해 사시도.
도 2 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 보인 평면
도.
도 3 은 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 보인 정면
도.
도 4 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 보인 정단
면도.
도 5 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 보인 측단
면도.
도 6 의 (a)(b)는 본 발명에 적용된 관로의 다른 실시예 구성도.
도 7 은 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치의 실제 제품
사진으로 프로브와 엔코더 및 스케너지그가 연결된 상태를 보인 사진
이다.

본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 구성되는 것이다.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.

그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 설정된 용어들로서 이는 생산자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있으므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

또한 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도면에 도시된 바에 한정되지 않는다.

먼저, 본 발명은 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있고 Ÿ‡지 표면의 온도를 낮게 유지시킬 수 잇도록 한 쿨링하우징(110)이 구비된다.

또한 본 발명은 상기 쿨링하우징(110)의 구멍(111)에 조립되며, 고온에서 프로브가 손상되는 것을 방지하는 Ÿ‡지(150)가 포함된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치를 제공한다.

이하에서 상기한 기술적 구성을 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.

즉, 본 발명에 적용된 상기 쿨링하우징(110)은 Ÿ‡지(150)가 끼워지도록 중앙에 상하로 관통되게 형성된 구멍(111)이 형성된다.

이때 상기 Ÿ‡지(150) 및 구멍(111)의 형상은 사각형 외에 다각형 또는 원형으로 이루어질 수 있음은 물론이다.

또한 본 발명은 상기 쿨링하우징(110)의 내부에 형성되며, 냉각수가 순환될 수 있도록 사방으로 둘러싸여져 상호 연통되게 연결되는 적어도 하나 이상의 관로(112)가 구비된다.

즉, 본 발명은 상기 관로(112)에 냉각수를 순환시켜 Ÿ‡지(150)를 식혀주게 된다.

그리고 본 발명은 상기 관로(112)와 상호 연결되며, 냉각수를 공급 및 배출시키는 한 쌍의 노즐(120)이 구비됨과 아울러 이 노즐(120)에는 냉각수통과 펌프(도면상 미 도시함)가 연결된다.

이때 상기 관로(112)는 냉각수가 오래 머물면서 Ÿ‡지(150)의 냉각 효과를 높일 수 있도록 구불구불한 모양으로 이루어짐이 바람직하다.

또한 상기 관로(112)는 냉각 효과를 극대화시키기 위해 외주면에 복수개의 냉각홀(113)이 더 포함됨이 바람직하다.

그리고 상기 쿨링하우징(110)의 외주면에는 엔코더를 연결하는 엔코더연결구멍(115)이 더 형성됨이 바람직하다.

또한 상기 쿨링하우징(110)에는 전자력으로 진동하는 진동자(140)가 구비되어 관로(112)를 순환하는 냉각수의 냉각효과를 극대화시킬 수 있도록 함은 물론이다.

아울러 본 발명에 적용된 상기 쿨링하우징(110)에는 스케너지그(200)의 체결구(210)가 끼워지게 지그장착구멍(113)이 형성되고, 지그장착구멍(113)의 안쪽으로는 Ÿ‡지(150)를 고정시키는 Ÿ‡지고정구멍(114)이 형성된다.

이때 상기 Ÿ‡지고정구멍(114)은 Ÿ‡지(150)에 형성된 체결공(153)과 같은 선상에 형성됨이 바람직하다.

더하여 본 발명에 적용된 상기 Ÿ‡지(150)는 다음과 같이 구성된다.

즉, 본 발명은 Ÿ‡지(150)의 상단에 프로브(130)를 연결하는 프로브연결구멍(152)이 형성된다.

또한 본 발명 Ÿ‡지(150)의 측면에는 Ÿ‡지(150)를 고정시키는 체결공(153)이 형성된다.

그리고 본 발명 Ÿ‡지(150)의 하단에는 구멍(111)에 용이하게 삽입되도록 경사면(151)이 형성된다.

특히 본 발명에 적용된 상기 쿨링하우징(110)은 알루미늄 재질로 이루어지고, 상기 Ÿ‡지(150)는 고온에서의 프로브가 손상될 수 있는 문제점을 개선하기 위해 엔지니어링 플라스틱(engineering plastics)으로 이루어짐이 바람직하다.

이때 상기 엔지니어링 플라스틱(engineering plastics)은 내열성, 고강도, 고치수 안정이 있는 폴리아세텔(POM), 폴리카보넷(PC), 폴리아미드(PA, 상품명;나일론), 변성 폴리페닐렌옥사이드(PPO), 폴리술폰(PSF), 폴리에테르술폰(PES), 폴리에테르이미드(PEI), 폴리페닐렌술포이드(PPS), 폴리에테르에테르케튼(PEEK), 폴리아릴레이트(액정 폴리머), 폴리이미드(PI) 중에서 선택된 어느 하나로 이루어짐이 바람직하다.

한편 본 발명은 상기의 구성부를 적용함에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다.

그리고 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

상기와 같이 구성된 본 발명 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.

우선, 본 발명은 고온웨지 개발, 쿨링시스템 개발 및 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 것이다.

이를 위해 본 발명에 적용된 도 1 은 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)와 스케너지그(200)를 보인 분해 사시도로, Ÿ‡지(150)가 쿨링하우징(110)의 구멍(111)에 조립되는 과정을 보인 것이고, 아울러 스케너지그(200)가 쿨링하우징(110)의 측면에 조립되는 과정을 도시한 것이다.

또한 도 2 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)를 보인 평면도로, 한 쌍의 노즐(120)과 연결된 쿨링하우징(110)의 내부에 관로(112)가 둘러싸여있는 모습을 보인 것이다.

그리고 도 3 은 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)를 보인 정면도로, 상하로 관통된 구멍(111)을 중심으로 외측에 관로(112)가 둘러싸이도록 구성된 것을 보인 것이다.

또한 도 4 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)를 보인 정단면도로, 쿨링하우징(110)의 구멍(111) 내부에 Ÿ‡지(150)가 삽입된 상태를 보인 것이다.

그리고 도 5 는 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)를 보인 측단면도로, 쿨링하우징(110)의 구멍(111) 내부에 Ÿ‡지(150)가 삽입된 상태에서 Ÿ‡지고정구멍(114)과 체결공(153)이 같은 선상에 위치한 상태를 보인 것이고, 추후 체결구(210)의 돌출핀이 Ÿ‡지고정구멍(114)과 체결공(153)에 끼워지게 된다.

이하에서는 상기한 본원발명의 보다 구체적인 작용효과를 설명하면 다음과 같다.

본 발명은 한 쌍의 노즐(120)에는 펌프를 연결하고, 구멍(111)에는 Ÿ‡지(150)를 삽입하고, 프로브연결구멍(152)에는 프로브(130)를 연결하고, 지그장착구멍(113)에는 스케너가 연결된 스케너지그(200)를 조립하고, 엔코더연결구멍(115)에는 엔코더를 연결하게 된다.

상기와 같이 조립된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)를 이용하여 정유/석유화학 공장의 설비(예: 배관/장치물) 중 고온(약 350℃까지)으로 운전중인 설비에 적용하여 고온웨지 개발, 쿨링시스템 개발 및 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 효과를 제공하게 된다.

이를 보다 상세히 설명하면, 먼저, 냉각수 펌프 속도를 120ml/min의 유량으로 설정한다.

이후 스캔을 시작하기 전 검사부재에 3~5분동안 시스템이 안정화되도록 예열한다.

이어서 Ÿ‡지와 프로브 접촉면에 매질 도포 후 연결하고, 각종 검사표면 준비와 검사수행 그리고 검사범위 및 감도를 설정한 후 분석하게 된다.

상기 과정에서 고온에 따른 초음파가 변화되는데, 특히 검사에 사용되는 탐촉자 및 wedge는 고온에서 일련의 변화가 발생한다. 이러한 변화에는 각 재료의 열팽창 계수에 의한 물리적 치수 변화, 밀도 및 음향 속도를 포함한 물리적 특성 변화, 재료 내 굴절 각도의 후속적 변화 등이 포함된다.

그리고 고온 시스템을 적용할 수 있는 광범위한 온도 범위에서 수집된 데이터를 정확하게 분석하기 위해 변수를 식별해야 한다. 상승된 온도로 워밍업된 부품을 검사할 때, Ÿ‡지와 금속 모두에서 음향 속도가 느려진다.

그 결과 Ÿ‡지를 통과하는 데 걸리는 시간이 증가한다. 금속의 속도와 비교한 Ÿ‡지 속도 비율이 각도 발생 시 굴절 각도를 결정하므로 온도 상승은 굴절 각도를 변화시키기도 한다. 두 개의 분리된 현상이 신호의 진폭에 영향을 미치며, 온도 상승은 Ÿ‡지와 금속 내의 감쇠를 증가시키는 경향이 있다.

상기 분석은 M2M의 Capture PC 235 프로그램을 사용하고 Indication 또는 Geometric Shape으로부터 반사된 초음파의 강도를 Signal의 높이로 나타내는 A-SCAN과 평면도 처럼 그려져 위치정보를 알 수 있는 C-SCAN, 측면도처럼 깊이와 높이를 측정할 수 있는 S-SCAN 의 Layout을 설정하여 분석하였다.

용접부에서는 HAZ를 포함하여 개선 형상에 따라 발생할 수 있는 결함을 판단하기 위해 3개의 ZONE으로 나누어 판독 하였으며, 결함 IMAGE에 결함으로 판단되는 INDICATION이 검출되었을 때 기준점으로부터 위치, 결함 깊이, 결함 높이, ZONE, 결함의 종류 등으로 기록하였다.

제작 결함이 존재 시 결함과 결함 사이가 연결되면서 발생되는 CRACK과 용접부 내부와 하부 표면에 CRACK으로 의심되는 신호 등이 존재하는지 FOCUS를 맞추어 분석하였다.

결함으로 판단되는 INDICATION들은 대부분 LOF로 판단되며 E113A RETURN W1은 SIGNAL형태가 저면에서 TOP으로 향하면서 다수의 MAX AMPLITUE가 보여 CRACK LIKE INDICATION으로 표현 하였다.

본 발명은 상기 과정에서 관로(112)에 냉각수를 순환시켜 Ÿ‡지(150)를 식혀주게 되는 것으로, 한 쌍으로 이루어진 관로(112)에 냉각수가 공급 및 배출된다.

특히 도 6의 (a)(b)는 본 발명에 적용된 관로의 다른 실시예 구성도로, 상기 관로(112)는 냉각수가 오래 머물면서 Ÿ‡지(150)의 냉각 효과를 높일 수 있도록 구불구불한 모양으로 이루어지고, 또한 상기 관로(112)는 냉각 효과를 극대화시키기 위해 외주면에 복수개의 냉각홀(113)이 구비되어 냉각 효과를 높일 수 있게 되었다.

한편, 도 7 은 본 발명에 적용된 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(100)의 실제 제품 사진으로 프로브와 엔코더 및 스케너지그가 연결된 상태를 보인 사진이다.

상기와 같이 갖추어진 구성을 가지고 작업자가 고온 PAUT를 검사하게 되면 결과적으로 본 발명은 정유/석유화학 공장의 설비(예: 배관/장치물) 중 고온(약 350℃까지)으로 운전중인 설비에 적용하여 사용하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치(PAUT; Phased Array Ultrasonic Testing)를 사용함에 있어 고온웨지 개발, 쿨링시스템 개발 및 온도에 따른 초음파 변화량 검증을 제공하는 효과를 제공하게 된다.

본 발명 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치의 기술적 사상은 실제로 동일결과를 반복 실시 가능한 것으로, 특히 이와 같은 본원발명을 실시함으로써 기술발전을 촉진하여 산업발전에 이바지할 수 있어 보호할 가치가 충분히 있다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치
110: 쿨링하우징
111: 구멍
112: 관로
113; 냉각홀
120: 노즐
130: 프로브
140: 진동자
150; Ÿ‡지
200: 스케너지그

Claims (5)

1. 고온Ÿ‡지 만으로 프로브를 보호할 수 있는 시간은 한정되어 있기 때문에 고온에서 더 많은 시간을 견딜수 있고 Ÿ‡지 표면의 온도를 낮게 유지시킬 수 잇도록 한 쿨링하우징(110); 및
   쿨링하우징(110)의 구멍(111)에 조립되며, 고온에서 프로브가 손상되는 것을 방지하는 Ÿ‡지(150);가 포함됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치.
   
2. 청구항 1 에 있어서,
   상기 쿨링하우징(110)은,
   Ÿ‡지(150)가 끼워지도록 중앙에 상하로 관통되게 형성된 구멍(111);
   쿨링하우징(110)의 내부에 형성되며, 냉각수가 순환될 수 있도록 사방으로 둘러싸여져 상호 연통되게 연결되는 적어도 하나 이상의 관로(112); 및
   관로(112)와 상호 연결되며, 냉각수를 공급 및 배출시키는 한 쌍의 노즐(120);이 포함됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치.
   
3. 청구항 1 또는 2 에 있어서,
   상기 쿨링하우징(110)에는,
   스케너지그(200)의 체결구(210)가 끼워지게 지그장착구멍(113)이 형성되고, 지그장착구멍(113)의 안쪽으로는 Ÿ‡지(150)를 고정시키는 Ÿ‡지고정구멍(114)이 형성됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치.
   
4. 청구항 1 또는 2 에 있어서,
   상기 Ÿ‡지(150)는,
   상단에 프로브(130)를 연결하는 프로브연결구멍(152)이 형성되고,
   측면에는 Ÿ‡지(150)를 고정시키는 체결공(153)이 형성되고,
   하단에는 구멍(111)에 용이하게 삽입되도록 경사면(151)이 형성됨을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치.
   
5. 청구항 1 또는 2 에 있어서,
   상기 쿨링하우징(110)은 알루미늄 재질로 이루어지고, 상기 Ÿ‡지(150)는 고온에서의 프로브가 손상될 수 있는 문제점을 개선하기 위해 엔지니어링 플라스틱(engineering plastics)으로 이루어짐을 특징으로 하는 고온 위상배열 초음파 탐상 검사장치.

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