KR20220056403A - Apparatus for detecting output of hall sensors and apparatus for control lens module - Google Patents

Apparatus for detecting output of hall sensors and apparatus for control lens module Download PDF

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Abstract

According to an embodiment of the present invention, an apparatus for detecting an output value of a hall sensor comprises: an integrated circuit (IC) in a form having a first corner, a second corner, a third corner, and a fourth corner; a plurality of hall sensors embedded in the IC; and a detection circuit for generating a comprehensive output value of values output from the plurality of hall sensors. Among the plurality of hall sensors, a first hall sensor is disposed closest to the first corner among the first corner, the second corner, the third corner, and the fourth corner. Among the plurality of hall sensors, a second hall sensor is disposed closest to the second corner among the first corner, the second corner, the third corner, and the fourth corner. Among the plurality of hall sensors, a third hall sensor is disposed closest to the third corner among the first corner, the second corner, the third corner, and the fourth corner. Among the plurality of hall sensors, a fourth hall sensor is disposed closest to the fourth corner among the first corner, the second corner, the third corner, and the fourth corner. According to an embodiment of the present invention, the apparatus for detecting an output value of a hall sensor and an apparatus for controlling a lens module are capable of detecting an output value with reduced offset without a separate circuit for reducing offset, thereby reducing at least one among noise caused by a separate circuit for reducing offset, power consumption, and space consumption.

Description

홀 센서 출력값 검출 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치{Apparatus for detecting output of hall sensors and apparatus for control lens module}Apparatus for detecting output of hall sensors and apparatus for control lens module

본 발명은 홀 센서 출력값 검출 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a hall sensor output value detection device and a lens module control device.

일반적으로 외부로부터 받는 힘에 따라 렌즈 모듈이 움직일 때, 상기 렌즈 모듈의 외부에 대한 상대적인 위치를 고정시키기 위한 기술이 널리 활용되고 있다.In general, when the lens module moves according to a force received from the outside, a technique for fixing the relative position of the lens module with respect to the outside is widely used.

예를 들어, 카메라 모듈은 외부로부터 힘을 받더라도 내부의 렌즈 모듈의 위치를 고정시키는 광학식 손떨림 보정(Optical Image Stabilizer) 장치를 포함할 수 있다.For example, the camera module may include an optical image stabilizer that fixes the position of the lens module inside even if it receives a force from the outside.

홀 센서는 렌즈 모듈의 위치 정보를 측정하기 위해 사용될 수 있으며, 홀 센서는 렌즈 모듈의 위치에 따라 달라지는 전압을 출력할 수 있다. 광학식 손떨림 보정 정확도는 홀 센서의 출력전압과 렌즈 모듈의 위치 정보 간의 대응관계 정확도가 높을수록 높아질 수 있다.The hall sensor may be used to measure position information of the lens module, and the hall sensor may output a voltage that varies according to the position of the lens module. The optical image stabilization accuracy may increase as the accuracy of the correspondence between the output voltage of the Hall sensor and the position information of the lens module increases.

홀 센서의 오프셋(offset)은 홀 센서의 출력전압과 렌즈 모듈의 위치 정보 간의 대응관계 정확도를 저하시킬 수 있다.The offset of the Hall sensor may deteriorate the accuracy of the correspondence between the output voltage of the Hall sensor and the position information of the lens module.

등록특허공보 제10-1588951호Registered Patent Publication No. 10-1588951

본 발명은 홀 센서 출력값 검출 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치를 제공한다.The present invention provides a hall sensor output value detection device and a lens module control device.

본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치는, 제1, 제2, 제3 및 제4 코너를 가지는 형태의 IC(Integrated Circuit); 상기 IC에 내장된 복수의 홀 센서(hall sensor); 및 상기 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 종합적 출력값을 생성하는 검출회로; 를 포함하고, 상기 복수의 홀 센서 중 제1 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제1 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제2 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제2 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제3 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제3 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제4 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제4 코너에 가장 가까이 배치될 수 있다.An apparatus for detecting an output value of a hall sensor according to an embodiment of the present invention includes: an integrated circuit (IC) having first, second, third and fourth corners; a plurality of hall sensors built into the IC; and a detection circuit for generating a comprehensive output value of values output from the plurality of Hall sensors. a first Hall sensor among the plurality of Hall sensors is disposed closest to a first corner among the first, second, third and fourth corners, and a second Hall sensor among the plurality of Hall sensors is the is disposed closest to a second corner among the first, second, third and fourth corners, and a third Hall sensor among the plurality of Hall sensors is a third corner among the first, second, third and fourth corners. and a fourth Hall sensor among the plurality of Hall sensors may be disposed closest to a fourth corner among the first, second, third, and fourth corners.

본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치는, 상기 홀 센서 출력값 검출 장치; 상기 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 종합적 출력값에 기반하여 구동 전류를 출력하는 구동기; 상기 구동 전류를 전달받는 구동 코일; 및 상기 구동 코일에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치된 렌즈 모듈; 을 포함할 수 있다.A lens module control apparatus according to an embodiment of the present invention, the hall sensor output value detection device; a driver outputting a driving current based on a comprehensive output value of values output from the plurality of Hall sensors; a driving coil receiving the driving current; and a lens module arranged to move based on a driving current flowing through the driving coil. may include

본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치는, 별도의 오프셋 저감을 위한 회로 없이도 오프셋이 줄어든 출력값을 검출할 수 있으므로, 별도의 오프셋 저감을 위한 회로에 따른 잡음, 전력소모, 공간소모 중 적어도 하나를 줄일 수 있다.Since the hall sensor output value detecting apparatus and the lens module controlling apparatus according to an embodiment of the present invention can detect an output value with a reduced offset without a separate offset reducing circuit, noise and power according to a separate offset reducing circuit At least one of consumption and space consumption can be reduced.

본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치는, 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 직선방향 오프셋뿐만 아니라 회전 오프셋도 줄일 수 있다.The hall sensor output value detection apparatus and the lens module control apparatus according to an embodiment of the present invention may reduce a rotational offset as well as a linear offset of a magnetic structure (eg, a magnet disposed in a lens module) forming a magnetic flux.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 복수의 홀 센서의 배치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치에 포함될 수 있는 구성요소들을 예시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 복수의 홀 센서와 검출회로 간의 위치관계를 예시한 도면이다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 직선방향 오프셋을 나타낸 도면이다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 회전방향 오프셋을 나타낸 도면이다.
도 6a는 직선방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서의 종합적인 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 6b는 직선방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서 중 하나의 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 7a는 회전방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서의 종합적인 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 7b는 회전방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서 중 하나의 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치를 나타낸 도면이다.1 is a diagram illustrating an arrangement of a plurality of Hall sensors of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram illustrating components that may be included in an apparatus for detecting an output value of a hall sensor according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating a positional relationship between a plurality of Hall sensors and a detection circuit of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.
4A to 4C are diagrams illustrating a linear offset of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.
5A and 5B are diagrams illustrating a rotational direction offset of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.
6A is a graph showing a change in a comprehensive output value curve of a plurality of Hall sensors according to a linear offset.
6B is a graph illustrating a change in an output value curve of one of a plurality of Hall sensors according to a linear offset.
7A is a graph showing the change of the overall output value curve of the plurality of Hall sensors according to the rotational direction offset.
7B is a graph illustrating a change in an output value curve of one of a plurality of Hall sensors according to a rotational direction offset.
8 is a view showing a lens module control apparatus according to an embodiment of the present invention.

후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [0012] DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [0010] DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [0010] Reference is made to the accompanying drawings, which show by way of illustration specific embodiments in which the present invention may be practiced. It should be understood that the various embodiments of the present invention are different but need not be mutually exclusive. For example, certain shapes, structures, and characteristics described herein with respect to one embodiment may be implemented in other embodiments without departing from the spirit and scope of the invention. In addition, it should be understood that the location or arrangement of individual components within each disclosed embodiment may be changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, the detailed description set forth below is not intended to be taken in a limiting sense, and the scope of the present invention, if properly described, is limited only by the appended claims, along with all scope equivalents as those claimed. Like reference numerals in the drawings refer to the same or similar functions throughout the various aspects.

이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings in order to enable those of ordinary skill in the art to easily practice the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 복수의 홀 센서의 배치를 나타낸 도면이다.1 is a diagram illustrating an arrangement of a plurality of Hall sensors of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100a)는, IC(300a) 및 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , an apparatus 100a for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention may include an IC 300a and a plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406. there is.

IC(300a)는 인쇄회로기판과 같은 기판(340) 상에 실장될 수 있으며, 제1, 제2, 제3 및 제4 코너를 가지는 다각형 형태일 수 있다.The IC 300a may be mounted on a substrate 340 such as a printed circuit board, and may have a polygonal shape having first, second, third, and fourth corners.

복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각은 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 저항이 휘트스톤 브리지(wheatstone bridge)의 구조로 결합된 등가회로를 이루도록 구성될 수 있으며, 바이어스(bias) 전류를 입력 받을 수 있다.Each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406 forms an equivalent circuit in which the first, second, third, and fourth Hall sensor resistors are combined in a structure of a wheatstone bridge. It can be configured and can receive a bias current.

복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406)는 IC(300a)에 내장될 수 있다. 예를 들어, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406)는 IC(300a)의 최상층에 배치될 수 있으며, 상기 최상층은 복수의 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 저항이 배열된 구조를 가질 수 있다.The plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , and 406 may be embedded in the IC 300a. For example, the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , 406 may be disposed on an uppermost layer of the IC 300a, wherein the uppermost layer includes a plurality of first, second, third and fourth It may have a structure in which Hall sensor resistors are arranged.

복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각은 홀 효과(hall effect)를 이용하여 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속(magnetic flux)을 감지할 수 있다. 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각에 자속이 통과할 경우, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각은 바이어스 전류와 상기 자속에 수직인 방향으로 홀 전압을 생성할 수 있으며, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각의 복수의 출력단자의 전압 차이는 상기 홀 전압에 대응될 수 있다. 따라서, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각의 복수의 출력단자의 전압 차이는 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속에 대한 측정값으로 사용될 수 있다. 상기 전압 차이는 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각의 출력값으로 정의될 수 있다.Each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , and 406 uses a Hall effect to generate magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , 406 . (magnetic flux) can be detected. When a magnetic flux passes through each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406, each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, 406 may have a bias current and a magnetic flux. A Hall voltage may be generated in a vertical direction, and a voltage difference between a plurality of output terminals of each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 and 406 may correspond to the Hall voltage. Accordingly, the voltage difference between the plurality of output terminals of each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406 passes through each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, 406. It can be used as a measure for magnetic flux. The voltage difference may be defined as an output value of each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , and 406 .

예를 들어, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 위치가 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각에 가까울수록 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속은 커질 수 있다. 따라서, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속의 변화값은 상기 자성 구조의 움직인 거리에 비례할 수 있다.For example, a position of a magnetic structure (eg, a magnet disposed on a lens module) that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , 406 is determined by the plurality of Hall sensors 401 . , 402 , 403 , 404 , 405 , and 406 , the magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , 406 may increase as it approaches each. Accordingly, the change value of the magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406 may be proportional to the moving distance of the magnetic structure.

기준 자속이 정의되고 기준 자속에 대응되는 상기 자성 구조의 위치가 정의될 경우, 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406)를 통과하는 자속과 기준 자속 간의 차이값은 상기 자성 구조의 절대적 위치에 대응될 수 있다.When the reference magnetic flux is defined and the position of the magnetic structure corresponding to the reference magnetic flux is defined, the difference value between the magnetic flux passing through the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406 and the reference magnetic flux is It may correspond to the absolute position of the structure.

예를 들어, 기준 자속에 대응되는 복수의 출력단자의 전압 차이의 기준은 0으로 정해질 수 있으며, 상기 자성 구조의 위치는 중심 위치로 정의될 수 있다.For example, the reference of the voltage difference between the plurality of output terminals corresponding to the reference magnetic flux may be set to 0, and the position of the magnetic structure may be defined as a central position.

그러나, 상기 자성 구조의 배치/조립 과정에서의 오차나 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각의 저항값 오차나 홀 센서 출력값 검출 장치(100a)가 배치된 전자기기의 타 구조(예: 무선전력전송기) 등으로 인해, 상기 자성 구조의 실제 위치는 정의된 자성 구조의 위치로부터 벗어날 수 있다. 상기 자성 구조의 실제 위치와 정의된 자성 구조의 위치 간의 차이는 오프셋(offset)으로 정의될 수 있다.However, an error in the arrangement/assembly process of the magnetic structure, an error in resistance of each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, 406, or an electronic device in which the Hall sensor output value detecting device 100a is disposed Due to other structures (eg, wireless power transmitter), the actual position of the magnetic structure may deviate from the defined position of the magnetic structure. A difference between the actual position of the magnetic structure and the defined position of the magnetic structure may be defined as an offset.

또한, 오프셋은 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 복수의 출력단자의 전압 차이와 기준 전압(예: 0) 간의 차이로 정의될 수도 있다. 예를 들어, 복수의 출력단자의 전압 차이의 기준이 0으로 정의될 경우, 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 복수의 출력단자의 전압 차이는 0보다 크거나 작을 수 있다.Also, the offset may be defined as a difference between a voltage difference between a plurality of output terminals and a reference voltage (eg, 0) when the actual position of the magnetic structure is the position of the defined magnetic structure. For example, when the reference of the voltage difference between the plurality of output terminals is defined as 0, the voltage difference between the plurality of output terminals when the actual position of the magnetic structure is the defined position of the magnetic structure may be greater than or less than zero. .

복수의 홀 센서 중 제1 홀 센서(401)는 IC(300a)의 제1 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제2 홀 센서(402)는 IC(300a)의 제2 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제3 홀 센서(403)는 IC(300a)의 제3 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제4 홀 센서(404)는 IC(300a)의 제4 코너에 가장 가까이 배치될 수 있다.The first Hall sensor 401 among the plurality of Hall sensors is disposed closest to the first corner of the IC 300a, and the second Hall sensor 402 among the plurality of Hall sensors is closest to the second corner of the IC 300a. The third Hall sensor 403 of the plurality of Hall sensors is disposed closest to the third corner of the IC 300a, and the fourth Hall sensor 404 of the plurality of Hall sensors is the third Hall sensor of the IC 300a. 4 Can be placed closest to the corner.

복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 위치는 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406)가 배치된 면에 수직인 방향으로 움직일 수 있다. 복수의 홀 센서(401, 402, 403, 404, 405, 406) 각각의 오프셋은 상기 자성 구조의 실제 중심 위치가 정의된 중심 위치로부터 수평방향으로 이동됨(부정합)에 따라 발생될 수 있다.A position of a magnetic structure (eg, a magnet disposed on a lens module) that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 , 405 , 406 is determined by the plurality of Hall sensors 401 , 402 , 403 . , 404 , 405 , 406 may move in a direction perpendicular to the surface on which they are disposed. The offset of each of the plurality of Hall sensors 401, 402, 403, 404, 405, and 406 may be generated as the actual central position of the magnetic structure is horizontally moved (mismatched) from the defined central position.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치에 포함될 수 있는 구성요소들을 예시한 도면이다.2 is a diagram illustrating components that may be included in an apparatus for detecting an output value of a hall sensor according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100b)는, 검출회로(120a)를 포함할 수 있다. 검출회로(120a)는 IC(300b)에 내장될 수 있다.Referring to FIG. 2 , the Hall sensor output value detection apparatus 100b according to an embodiment of the present invention may include a detection circuit 120a. The detection circuit 120a may be built in the IC 300b.

검출회로(120a)는 복수의 홀 센서(400)에서 출력되는 값의 종합적(overall) 출력값을 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 종합적 출력값은 복수의 홀 센서(400)에서 출력되는 값의 평균값일 수 있다.The detection circuit 120a may generate an overall output value of values output from the plurality of Hall sensors 400 . For example, the overall output value may be an average value of values output from the plurality of Hall sensors 400 .

복수의 홀 센서(400) 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)가 수직방향으로 움직일 수 있으므로, 복수의 홀 센서(400) 각각을 통과하는 자속의 변화에 따른 복수의 홀 센서(400) 각각의 출력값 변화는 거의 동일할 수 있다.Since a magnetic structure (eg, a magnet disposed on a lens module) that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 400 can move in the vertical direction, the change in magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors 400 is Accordingly, the change in the output value of each of the plurality of Hall sensors 400 may be substantially the same.

상기 자성 구조의 실제 중심 위치가 정의된 중심 위치로부터 수평방향으로 이동됨(부정합)에 따른 복수의 홀 센서(400) 각각의 출력값 변화는 서로 방향(또는 부호)으로 적용될 수 있다.The change in the output value of each of the plurality of Hall sensors 400 as the actual center position of the magnetic structure is moved (mismatched) in the horizontal direction from the defined central position may be applied to each other in directions (or signs).

검출회로(120a)가 출력하는 종합적 출력값은 상기 자성 구조의 수직방향 이동에 따른 자속의 변화를 보강적으로 중첩하고, 상기 자성 구조의 수평방향 이동됨(부정합)에 따른 오프셋을 상쇄적으로 중첩한 출력값일 수 있다.The comprehensive output value output by the detection circuit 120a reinforces the change in magnetic flux caused by the vertical movement of the magnetic structure and offsets the offset caused by the horizontal movement (mismatch) of the magnetic structure. It can be an output value.

따라서, 검출회로(120a)가 출력하는 종합적 출력값은 상기 자성 구조의 수평방향 이동됨(부정합)에 따른 오프셋에 따른 영향이 줄고 상기 자성 구조의 수직방향 이동이 더욱 정확하게 반영된 출력값일 수 있다.Accordingly, the overall output value output by the detection circuit 120a may be an output value in which the effect of the offset caused by the horizontal movement (mismatch) of the magnetic structure is reduced and the vertical movement of the magnetic structure is more accurately reflected.

또한, 검출회로(120a)는 별도의 오프셋 저감을 위한 회로 없이도 오프셋이 저감된 종합적 출력값을 생성할 수 있으므로, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100b)는 별도의 오프셋 저감을 위한 회로에 따른 잡음 발생을 방지할 수 있으며, 별도의 오프셋 저감을 위한 회로의 전력소모나 공간소모도 방지할 수 있다.In addition, since the detection circuit 120a can generate a comprehensive output value with a reduced offset without a separate offset reduction circuit, the Hall sensor output value detection apparatus 100b according to an embodiment of the present invention performs a separate offset reduction. It is possible to prevent the generation of noise according to the circuit for this purpose, and it is also possible to prevent power consumption or space consumption of a separate circuit for reducing offset.

예를 들어, 검출회로(120a)는 복수의 홀 센서(400)에 대해 순차적으로 spinning(121)하고 chopping(122)하고 복수의 홀 센서(400)의 출력값을 합침으로써 오프셋 보상(123)을 할 수 있다.For example, the detection circuit 120a performs offset compensation 123 by sequentially spinning (121) and chopping (122) and summing the output values of the plurality of Hall sensors 400 for the plurality of Hall sensors 400. can

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 복수의 홀 센서와 검출회로 간의 위치관계를 예시한 도면이다.3 is a diagram illustrating a positional relationship between a plurality of Hall sensors and a detection circuit of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100c)는, 복수의 홀 센서 중 제1 홀 센서(401)는 IC(300c)의 제1 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제2 홀 센서(402)는 IC(300c)의 제2 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제3 홀 센서(403)는 IC(300c)의 제3 코너에 가장 가까이 배치되고, 복수의 홀 센서 중 제4 홀 센서(404)는 IC(300c)의 제4 코너에 가장 가까이 배치된 구조를 가질 수 있다.Referring to FIG. 3 , in the Hall sensor output value detecting apparatus 100c according to an embodiment of the present invention, the first Hall sensor 401 among the plurality of Hall sensors is disposed closest to the first corner of the IC 300c, , the second Hall sensor 402 of the plurality of Hall sensors is disposed closest to the second corner of the IC 300c, and the third Hall sensor 403 of the plurality of Hall sensors is disposed at the third corner of the IC 300c. The fourth Hall sensor 404 among the plurality of Hall sensors may have a structure disposed closest to the fourth corner of the IC 300c.

제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404) 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)는 수평방향으로 이동됨에 따른 오프셋뿐만 아니라 회전됨에 따른 오프셋도 유발할 수 있다.The first, second, third, and fourth Hall sensors 401 , 402 , 403 , and 404 are offset as the magnetic structure (eg, a magnet disposed in the lens module) that forms a magnetic flux passing through each of them is moved in the horizontal direction. Not only that, but it can also cause an offset as it is rotated.

제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)가 IC(300c)의 제1, 제2, 제3 및 제4 코너에 가까이 배치되므로, 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)의 중심으로부터의 거리는 길어질 수 있다.Since the first, second, third and fourth Hall sensors 401, 402, 403, 404 are disposed close to the first, second, third and fourth corners of the IC 300c, the first, second , the distance from the center of the third and fourth Hall sensors 401 , 402 , 403 and 404 may be increased.

상기 자성 구조의 회전됨에 따른 오프셋은 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)가 중심으로부터 멀어질수록 작아질 수 있으므로, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100c)는 상기 자성 구조의 회전됨에 따른 오프셋 영향이 감소된 종합적 출력값을 생성할 수 있다.The offset according to the rotation of the magnetic structure may decrease as the first, second, third, and fourth Hall sensors 401, 402, 403, and 404 move away from the center. The Hall sensor output value detection apparatus 100c may generate a comprehensive output value in which an offset effect due to rotation of the magnetic structure is reduced.

예를 들어, 제1 홀 센서(401)와 IC(300c)의 제1 코너 사이의 거리와, 제2 홀 센서(402)와 IC(300c)의 제2 코너 사이의 거리와, 제3 홀 센서(403)와 IC(300c)의 제3 코너 사이의 거리와, 제4 홀 센서(404)와 IC(300c)의 제4 코너 사이의 거리는, 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404) 각각으로부터의 거리가 동일한 일 지점(예: IC의 중심)에서부터 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)까지의 거리 각각보다 짧을 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100c)는 상기 자성 구조의 회전됨에 따른 오프셋 영향이 더욱 감소된 종합적 출력값을 생성할 수 있다.For example, a distance between the first Hall sensor 401 and a first corner of the IC 300c, a distance between the second Hall sensor 402 and a second corner of the IC 300c, and a third Hall sensor The distance between 403 and the third corner of the IC 300c and the distance between the fourth Hall sensor 404 and the fourth corner of the IC 300c are the first, second, third and fourth Hall sensors Distances from a point (eg, the center of the IC) having the same distance from each of (401, 402, 403, 404) to the first, second, third and fourth Hall sensors 401, 402, 403, 404 may be shorter than each. Accordingly, the Hall sensor output value detecting apparatus 100c according to an embodiment of the present invention may generate a comprehensive output value in which the effect of the offset caused by the rotation of the magnetic structure is further reduced.

다시 도 1을 참조하면, 복수의 홀 센서는 제1 홀 센서(401)와 제2 홀 센서(402)의 사이에 배치된 제5 홀 센서(405)와, 제3 홀 센서(403)와 제4 홀 센서(404)의 사이에 배치된 제6 홀 센서(406)를 더 포함할 수 있다. 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404) 각각으로부터의 거리가 동일한 일 지점(예: IC의 중심)에서부터 제5 및 제6 홀 센서(405, 406)까지의 거리 각각은 상기 일 지점에서 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)까지의 거리 각각보다 짧을 수 있다.Referring back to FIG. 1 , the plurality of Hall sensors include a fifth Hall sensor 405 disposed between the first Hall sensor 401 and the second Hall sensor 402 , the third Hall sensor 403 and the second Hall sensor 402 . A sixth Hall sensor 406 disposed between the 4 Hall sensors 404 may be further included. The fifth and sixth Hall sensors 405 and 406 from a point (eg, the center of the IC) having the same distance from each of the first, second, third and fourth Hall sensors 401, 402, 403, 404 Each of the distances may be shorter than the distances from the one point to the first, second, third, and fourth Hall sensors 401 , 402 , 403 , and 404 , respectively.

이에 따라, 상기 자성 구조의 회전됨에 따른 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)의 오프셋과 제5 및 제6 홀 센서(405, 406)의 오프셋은 서로 다를 수 있으므로, 검출회로(120a)의 종합적 출력값은 상기 자성 구조의 회전됨에 따른 오프셋을 더욱 효율적으로 상쇄시킬 수 있다.Accordingly, the offsets of the first, second, third, and fourth Hall sensors 401, 402, 403, and 404 and the offsets of the fifth and sixth Hall sensors 405 and 406 as the magnetic structure is rotated are Since they may be different from each other, the overall output value of the detection circuit 120a can more effectively cancel the offset caused by the rotation of the magnetic structure.

검출회로(120a)는 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)가 이루는 면에 수직한 방향으로 볼 때 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)에 둘러싸이도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)는 더욱 IC(300c)의 제1, 제2, 제3 및 제4 코너에 가까이 배치될 수 있으며, 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서(401, 402, 403, 404)와 검출회로(120a) 간의 전기적 연결 특성은 더욱 대칭적일 수 있으므로, 검출회로(120a)가 출력하는 종합적 출력값은 상기 자성 구조의 수직방향 이동이 더욱 정확하게 반영된 출력값일 수 있다.The detection circuit 120a includes the first, second, third and fourth halls when viewed in a direction perpendicular to the plane formed by the first, second, third and fourth Hall sensors 401, 402, 403, and 404. The sensors 401 , 402 , 403 , and 404 may be disposed to be surrounded. Accordingly, the first, second, third, and fourth Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 may be further disposed closer to the first, second, third and fourth corners of the IC 300c. , first, second, third and fourth Hall sensors 401 , 402 , 403 , 404 and the electrical connection characteristics between the detection circuit 120a may be more symmetrical, so the overall output value output by the detection circuit 120a may be an output value in which vertical movement of the magnetic structure is more accurately reflected.

한편, 다시 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치(100c)는, 증폭기(110a), 로우패스필터(115a), AD변환기(130a), 밴드갭 레퍼런스(150a) 및 바이어스 제공기(160a) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있으며, 증폭기(110a), 로우패스필터(115a), AD변환기(130a), 밴드갭 레퍼런스(150a) 및 바이어스 제공기(160a)는 IC(300c)에 내장될 수 있다.Meanwhile, referring back to FIG. 3 , the Hall sensor output value detecting apparatus 100c according to an embodiment of the present invention includes an amplifier 110a, a low-pass filter 115a, an AD converter 130a, and a bandgap reference 150a. ) and at least one of the bias provider 160a, the amplifier 110a, the low-pass filter 115a, the AD converter 130a, the bandgap reference 150a, and the bias provider 160a are It may be embedded in the IC 300c.

바이어스 제공기(160a)는 복수의 홀 센서(400)의 입력단자로 바이어스 전류를 제공할 수 있다. 밴드갭 레퍼런스(150a)는 외부 환경이나 공정편차에 대해 강건한 기준 전류 또는 기준 전압을 생성할 수 있다. 예를 들어, 밴드갭 레퍼런스(150a)는 기준 전류를 전류 미러(mirror) 회로를 통해 바이어스 제공기(160a)로 제공하거나 기준 전압을 바이어스 제공기(160a)의 트랜지스터의 게이트 단자에 인가할 수 있다.The bias provider 160a may provide a bias current to input terminals of the plurality of Hall sensors 400 . The bandgap reference 150a may generate a reference current or reference voltage that is robust against external environment or process deviation. For example, the bandgap reference 150a may provide a reference current to the bias provider 160a through a current mirror circuit or may apply a reference voltage to the gate terminal of a transistor of the bias provider 160a. .

증폭기(110a)는 복수의 홀 센서(400)의 종합적 출력값을 증폭할 수 있다. 낮은 이득(gain)을 가지는 증폭기(110a)는 복수의 홀 센서(400)의 자속 감지 범위가 넓게 요구될 경우에 유리할 수 있으며, 높은 이득을 가지는 증폭기(110a)는 복수의 홀 센서(400)의 자속 감지 해상도(resolution)가 높게 요구될 경우에 유리할 수 있다.The amplifier 110a may amplify the overall output values of the plurality of Hall sensors 400 . The amplifier 110a having a low gain may be advantageous when the magnetic flux sensing range of the plurality of Hall sensors 400 is required to be wide, and the amplifier 110a having a high gain is the plurality of Hall sensors 400 . It may be advantageous when a high magnetic flux sensing resolution is required.

만약 복수의 홀 센서(400)에 오프셋이 있을 경우, 자성 구조의 실제 위치가 정의된 자성 구조의 위치일 때의 복수의 출력단자의 전압 차이는 오프셋에 대응될 수 있으며, 증폭기(110a)에 의해 증폭될 수 있다. 즉, 증폭기(110a)는 홀 센서(400)를 통과하는 자속에 대응되는 전압과 홀 센서(400)의 오프셋에 대응되는 전압을 함께 증폭할 수 있다. 복수의 홀 센서(400)의 종합적 출력값은 오프셋이 저감된 값이므로, 증폭기(110a)에 의해 증폭되는 값도 오프셋이 저감된 값일 수 있다.If there is an offset in the plurality of Hall sensors 400, the voltage difference between the plurality of output terminals when the actual position of the magnetic structure is the defined position of the magnetic structure may correspond to the offset, and is generated by the amplifier 110a. can be amplified. That is, the amplifier 110a may amplify both the voltage corresponding to the magnetic flux passing through the Hall sensor 400 and the voltage corresponding to the offset of the Hall sensor 400 . Since the overall output value of the plurality of Hall sensors 400 is a value with a reduced offset, the value amplified by the amplifier 110a may also be a value with a reduced offset.

AD변환기(130a)는 증폭기(110a)의 출력단에 전기적으로 연결되고 아날로그 값을 디지털 값으로 변환하도록 구성될 수 있다. AD변환기(130a)에서 출력된 디지털 값은 복수의 홀 센서(400)를 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(예: 렌즈 모듈에 배치된 자석)의 위치를 제어하는데 사용될 수 있다.The AD converter 130a may be electrically connected to an output terminal of the amplifier 110a and configured to convert an analog value into a digital value. The digital value output from the AD converter 130a may be used to control the position of a magnetic structure (eg, a magnet disposed in a lens module) that forms a magnetic flux passing through the plurality of Hall sensors 400 .

로우패스필터(115a)는 아날로그 값에 포함될 수 있는 잡음을 필터링(filtering)할 수 있다.The low-pass filter 115a may filter noise that may be included in an analog value.

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 직선방향 오프셋을 나타낸 도면이다.4A to 4C are diagrams illustrating a linear offset of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.

도 4a를 참조하면, IC(300a-1)에 내장된 복수의 홀 센서 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(REF1)의 중심(center)은 복수의 홀 센서의 중심에 정합될 수 있다. 이때, 복수의 홀 센서에서 출력되는 값들은 오프셋을 포함하지 않을 수 있다.Referring to FIG. 4A , the center of the magnetic structure REF1 that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors embedded in the IC 300a - 1 may be matched with the centers of the plurality of Hall sensors. In this case, values output from the plurality of Hall sensors may not include an offset.

도 4b를 참조하면, IC(300a-2)에 내장된 복수의 홀 센서 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(REF2)의 중심(center)은 복수의 홀 센서의 중심으로부터 세로방향으로 이동될 수 있다. 이때, 복수의 홀 센서에서 출력되는 값들에 오프셋이 발생할 수 있다.Referring to FIG. 4B , the center of the magnetic structure REF2 that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors embedded in the IC 300a - 2 is to be vertically moved from the center of the plurality of Hall sensors. can In this case, an offset may occur in values output from the plurality of Hall sensors.

도 4a를 참조하면, IC(300a-3)에 내장된 복수의 홀 센서 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(REF3)의 중심(center)은 복수의 홀 센서의 중심으로부터 가로방향으로 이동될 수 있다. 이때, 복수의 홀 센서에서 출력되는 값들에 오프셋이 발생할 수 있다.Referring to FIG. 4A , the center of the magnetic structure REF3 that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors embedded in the IC 300a-3 is to be moved from the center of the plurality of Hall sensors in the horizontal direction. can In this case, an offset may occur in values output from the plurality of Hall sensors.

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치의 회전방향 오프셋을 나타낸 도면이다.5A and 5B are diagrams illustrating a rotational direction offset of an apparatus for detecting an output value of a Hall sensor according to an embodiment of the present invention.

도 5a를 참조하면, IC(300a-1)에 내장된 복수의 홀 센서 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(REF1)의 N극과 S극이 서로를 향하는 방향은 세로방향일 수 있다. 이때, 복수의 홀 센서에서 출력되는 값들은 오프셋을 포함하지 않을 수 있다.Referring to FIG. 5A , the direction in which the N pole and the S pole of the magnetic structure REF1 that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors embedded in the IC 300a - 1 face each other may be in a vertical direction. In this case, values output from the plurality of Hall sensors may not include an offset.

도 5b를 참조하면, IC(300a-4)에 내장된 복수의 홀 센서 각각을 통과하는 자속을 형성하는 자성 구조(REF4)의 N극과 S극이 서로를 향하는 방향은 시계방향으로 틸트(tilt)될 수 있다. 이때, 복수의 홀 센서에서 출력되는 값들에 오프셋이 발생할 수 있다.Referring to FIG. 5B , the direction in which the N pole and the S pole of the magnetic structure REF4 that forms a magnetic flux passing through each of the plurality of Hall sensors embedded in the IC 300a - 4 faces each other is tilted clockwise. ) can be In this case, an offset may occur in values output from the plurality of Hall sensors.

도 6a는 직선방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서의 종합적인 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이고, 도 6b는 직선방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서 중 하나의 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.6A is a graph showing changes in the overall output value curve of the plurality of Hall sensors according to the linear offset, and FIG. 6B is a graph showing the change in the output value curve of one of the plurality of Hall sensors according to the linear offset.

도 6a를 참조하면, 3개의 곡선은 각각 도 4a 내지 도 4c에 도시된 자성 구조가 IC에 수직인 방향(IC의 상면에서 상측을 향하는 방향)으로 움직인 위치(displacement)에 따른 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 평균값을 나타낸다.Referring to FIG. 6A , the three curves are a plurality of Hall sensors according to a displacement in which the magnetic structure shown in FIGS. 4A to 4C is moved in a direction perpendicular to the IC (a direction from the top surface of the IC to the top side), respectively. It represents the average value of the values output from .

도 6b를 참조하면, 3개의 곡선은 각각 도 4a 내지 도 4c에 도시된 자성 구조가 IC에 수직인 방향으로 움직인 위치(displacement)에 따른 복수의 홀 센서 중 하나에서 출력되는 값을 나타낸다.Referring to FIG. 6B , the three curves represent values output from one of the plurality of Hall sensors according to the displacement of the magnetic structure shown in FIGS. 4A to 4C in a direction perpendicular to the IC, respectively.

도 6a의 3개의 곡선 간의 차이는 도 6b에 도시된 3개의 곡선 간의 차이에 비해 작을 수 있다. 즉, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치는 자성 구조와 IC 간의 직선방향 부정합에 따른 오프셋을 줄일 수 있다.The difference between the three curves in FIG. 6A may be small compared to the difference between the three curves in FIG. 6B . That is, the Hall sensor output value detecting apparatus according to an embodiment of the present invention can reduce an offset caused by a linear mismatch between the magnetic structure and the IC.

도 7a는 회전방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서의 종합적인 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이고, 도 7b는 회전방향 오프셋에 따른 복수의 홀 센서 중 하나의 출력값 곡선의 변화를 나타낸 그래프이다.7A is a graph showing changes in the overall output value curve of the plurality of Hall sensors according to the rotational direction offset, and FIG. 7B is a graph showing the change in the output value curve of one of the plurality of Hall sensors according to the rotational direction offset.

도 7a를 참조하면, 2개의 곡선은 각각 도 5a 및 도 5b에 도시된 자성 구조가 IC에 수직인 방향(IC의 상면에서 하측을 향하는 방향)으로 움직인 위치(displacement)에 따른 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 평균값을 나타낸다. 가로축과 세로축 중 하나는 로그스케일이므로, 2개의 곡선은 도 6a의 곡선보다 더 직선에 가까울 수 있다.Referring to FIG. 7A , the two curves are a plurality of Hall sensors according to a displacement in which the magnetic structure shown in FIGS. 5A and 5B respectively moves in a direction perpendicular to the IC (a direction from the top to the bottom of the IC). It represents the average value of the values output from . Since one of the horizontal axis and the vertical axis is a log scale, the two curves may be closer to a straight line than the curve of FIG. 6A .

도 7b를 참조하면, 2개의 곡선은 각각 도 5a 및 도 5b에 도시된 자성 구조가 IC에 수직인 방향으로 움직인 위치(displacement)에 따른 복수의 홀 센서 중 하나에서 출력되는 값을 나타낸다. 가로축과 세로축 중 하나는 로그스케일이므로, 2개의 곡선은 도 7a의 곡선보다 더 직선에 가까울 수 있다.Referring to FIG. 7B , two curves represent values output from one of a plurality of Hall sensors according to a displacement of the magnetic structure shown in FIGS. 5A and 5B in a direction perpendicular to the IC, respectively. Since one of the horizontal axis and the vertical axis is a logarithmic scale, the two curves may be closer to a straight line than the curve of FIG. 7A .

도 7a의 2개의 곡선 간의 차이는 도 7b에 도시된 2개의 곡선 간의 차이에 비해 작을 수 있다. 즉, 본 발명의 일 실시 예에 따른 홀 센서 출력값 검출 장치는 자성 구조와 IC 간의 회전방향 부정합에 따른 오프셋을 줄일 수 있다.The difference between the two curves in FIG. 7A may be small compared to the difference between the two curves in FIG. 7B . That is, the Hall sensor output value detecting apparatus according to an embodiment of the present invention can reduce an offset caused by a rotational mismatch between the magnetic structure and the IC.

도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치를 나타낸 도면이다.8 is a view showing a lens module control apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 제어 장치는, 홀 센서 출력값 검출 장치(100), 구동기(220), 구동 코일(230) 및 렌즈 모듈(210)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 8 , an apparatus for controlling a lens module according to an embodiment of the present invention may include a hall sensor output value detection apparatus 100 , a driver 220 , a driving coil 230 , and a lens module 210 . .

구동기(220)는 홀 센서 출력값 검출 장치(100)의 AD변환기의 출력값을 전달받을 수 있으며, 홀 센서의 제1 및 제2 홀 센서 출력단자의 전압 차이(상기 출력값에 대응됨)에 기반하여 구동 전류를 출력할 수 있다.The driver 220 may receive the output value of the AD converter of the Hall sensor output value detection device 100, and is driven based on the voltage difference (corresponding to the output value) between the first and second Hall sensor output terminals of the Hall sensor. current can be output.

예를 들어, 구동기(220)는 OIS(Optical Image Stabilization) 제어 구조나 AF(Auto Focus) 제어 구조를 가질 수 있으며, 제어 구조의 출력값에 기반하여 구동 전류를 생성하는 구동 회로를 포함할 수 있다. 설계에 따라, 상기 제어 구조는 홀 센서 출력값 검출 장치(100)에 포함될 수 있으며, 홀 센서 출력값 검출 장치(100)와 구동기(220)는 단일 IC로 구현될 수 있다.For example, the driver 220 may have an optical image stabilization (OIS) control structure or an auto focus (AF) control structure, and may include a driving circuit that generates a driving current based on an output value of the control structure. Depending on the design, the control structure may be included in the Hall sensor output value detection apparatus 100 , and the Hall sensor output value detection apparatus 100 and the driver 220 may be implemented as a single IC.

구동 코일(230)은 구동 전류를 전달받을 수 있다. 예를 들어, 구동 코일(230)은 렌즈 모듈(210)의 자성 구조(211)의 근처에 배치될 수 있다. 즉, 렌즈 모듈(210)은 구동 코일(230)에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치될 수 있다.The driving coil 230 may receive a driving current. For example, the driving coil 230 may be disposed near the magnetic structure 211 of the lens module 210 . That is, the lens module 210 may be arranged to move based on the driving current flowing through the driving coil 230 .

렌즈 모듈(210)은 구동 코일(230)의 자속에 반응하여 자성 구조(211)가 받는 힘에 따라 움직일 수 있다. 이때, 렌즈 모듈(210)은 홀 센서를 통과하는 자속의 변화와 반대방향으로 상기 자속이 변하도록 움직일 수 있다. 이에 따라, 렌즈 모듈(210)의 절대적 위치는 실질적으로 고정될 수 있으며, 렌즈 모듈(210)에 의해 획득되는 이미지는 안정적일 수 있다.The lens module 210 may move according to a force received by the magnetic structure 211 in response to the magnetic flux of the driving coil 230 . In this case, the lens module 210 may move to change the magnetic flux in the opposite direction to the change in the magnetic flux passing through the Hall sensor. Accordingly, the absolute position of the lens module 210 may be substantially fixed, and the image acquired by the lens module 210 may be stable.

예를 들어, 구동기(220), 홀 센서 출력값 검출 장치(100) 및 구동 코일(230) 중 적어도 하나는 제1 기판(240)에 배치될 수 있다.For example, at least one of the driver 220 , the Hall sensor output value detecting apparatus 100 , and the driving coil 230 may be disposed on the first substrate 240 .

프로세서(270)는 ISP(Image Signal Processor)로 구현될 수 있으며, 제1 지지 부재(261) 상의 이미지 센서(262)로부터 이미지 정보를 전달받을 수 있으며, 처리한 정보를 구동기(220)로 제공할 수 있다. 설계에 따라, 프로세서(270)는 홀 센서 출력값 검출 장치(100)로부터 분리되거나 통합될 수 있다.The processor 270 may be implemented as an image signal processor (ISP), may receive image information from the image sensor 262 on the first support member 261 , and provide the processed information to the driver 220 . can Depending on the design, the processor 270 may be separated from or integrated with the hall sensor output value detecting apparatus 100 .

렌즈 모듈(210)은 제2 지지 부재(213) 상의 복수의 가이드 볼(212)의 회전에 따라 1차원 또는 2차원적으로 움직일 수 있으며, 하우징(250)에 의해 둘러싸일 수 있다.The lens module 210 may move one-dimensionally or two-dimensionally according to the rotation of the plurality of guide balls 212 on the second support member 213 , and may be surrounded by the housing 250 .

이상에서는 본 발명을 실시 예로써 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형이 가능할 것이다.In the above, the present invention has been described as an embodiment, but the present invention is not limited to the above embodiment, and without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims, those of ordinary skill in the art to which the invention pertains Anyone can make various modifications.

100a, 100: 홀 센서 출력값 검출 장치
110a: 증폭기
120a: 검출회로
130a: AD(Analog-Digital)변환기
210: 렌즈 모듈(lens module)
220: 구동기
270: 프로세서
300a: IC(Integrated Circuit)
340: 기판
400: 복수의 홀 센서(hall sensor)
401: 제1 홀 센서
402: 제2 홀 센서
403: 제3 홀 센서
404: 제4 홀 센서
405: 제5 홀 센서
406: 제6 홀 센서
REF1: 자성 구조100a, 100: Hall sensor output value detection device
110a: amplifier
120a: detection circuit
130a: AD (Analog-Digital) converter
210: lens module (lens module)
220: actuator
270: processor
300a: IC (Integrated Circuit)
340: substrate
400: a plurality of hall sensors (hall sensor)
401: first hall sensor
402: second hall sensor
403: third hall sensor
404: fourth hall sensor
405: fifth hall sensor
406: sixth hall sensor
REF1: Magnetic structure

Claims (7)

제1, 제2, 제3 및 제4 코너를 가지는 형태의 IC(Integrated Circuit);
상기 IC에 내장된 복수의 홀 센서(hall sensor); 및
상기 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 종합적 출력값을 생성하는 검출회로; 를 포함하고,
상기 복수의 홀 센서 중 제1 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제1 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제2 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제2 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제3 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제3 코너에 가장 가까이 배치되고, 상기 복수의 홀 센서 중 제4 홀 센서는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 코너 중 제4 코너에 가장 가까이 배치되는 홀 센서 출력값 검출 장치.
IC (Integrated Circuit) of the type having first, second, third and fourth corners;
a plurality of hall sensors built into the IC; and
a detection circuit for generating a comprehensive output value of values output from the plurality of Hall sensors; including,
A first Hall sensor among the plurality of Hall sensors is disposed closest to a first corner among the first, second, third, and fourth corners, and a second Hall sensor among the plurality of Hall sensors includes the first, second, and fourth corners. is disposed closest to a second corner among the second, third, and fourth corners, and a third Hall sensor among the plurality of Hall sensors is disposed closest to a third corner among the first, second, third and fourth corners and a fourth Hall sensor among the plurality of Hall sensors is disposed closest to a fourth corner among the first, second, third, and fourth corners.
 제1항에 있어서,
상기 검출회로는 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서가 이루는 면에 수직한 방향으로 볼 때 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서에 둘러싸이도록 배치된 홀 센서 출력값 검출 장치.
The method of claim 1,
The detection circuit is a Hall sensor output value disposed to be surrounded by the first, second, third and fourth Hall sensors when viewed in a direction perpendicular to a surface formed by the first, second, third and fourth Hall sensors. detection device.
 제2항에 있어서,
아날로그 값을 디지털 값으로 변환하도록 구성된 AD변환기; 및
상기 검출회로와 상기 AD변환기의 사이에 전기적으로 연결되고 입력 전압을 증폭하여 출력하도록 구성된 증폭기; 를 더 포함하는 홀 센서 출력값 검출 장치.
3. The method of claim 2,
an AD converter configured to convert analog values into digital values; and
an amplifier electrically connected between the detection circuit and the AD converter and configured to amplify and output an input voltage; Hall sensor output value detection device further comprising a.
 제1항에 있어서,
상기 복수의 홀 센서는 상기 제1 홀 센서와 상기 제2 홀 센서의 사이에 배치된 제5 홀 센서와, 상기 제3 홀 센서와 상기 제4 홀 센서의 사이에 배치된 제6 홀 센서를 더 포함하고,
상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 각각으로부터의 거리가 동일한 일 지점에서부터 상기 제5 및 제6 홀 센서까지의 거리 각각은 상기 일 지점에서 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서까지의 거리 각각보다 짧은 홀 센서 출력값 검출 장치.
The method of claim 1,
The plurality of Hall sensors may further include a fifth Hall sensor disposed between the first Hall sensor and the second Hall sensor, and a sixth Hall sensor disposed between the third Hall sensor and the fourth Hall sensor. including,
Each of the distances from a point having the same distance from each of the first, second, third and fourth Hall sensors to the fifth and sixth Hall sensors is the first, second, third and Hall sensor output value detection device shorter than each distance to the fourth Hall sensor.
 제1항에 있어서,
상기 제1 홀 센서와 상기 제1 코너 사이의 거리와, 상기 제2 홀 센서와 상기 제2 코너 사이의 거리와, 상기 제3 홀 센서와 상기 제3 코너 사이의 거리와, 상기 제4 홀 센서와 상기 제4 코너 사이의 거리는, 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서 각각으로부터의 거리가 동일한 일 지점에서부터 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 홀 센서까지의 거리 각각보다 짧은 홀 센서 출력값 검출 장치.
The method of claim 1,
a distance between the first Hall sensor and the first corner, a distance between the second Hall sensor and the second corner, a distance between the third Hall sensor and the third corner, and the fourth Hall sensor and the distance between the fourth corner and the first, second, third, and fourth Hall sensors are distances from a point having the same distance to the first, second, third and fourth Hall sensors, respectively. Shorter Hall sensor output value detection device.
 제1항에 있어서,
상기 종합적 출력값은 상기 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 평균값에 대응되는 홀 센서 출력값 검출 장치.
The method of claim 1,
The overall output value is a Hall sensor output value detecting device corresponding to an average value of values output from the plurality of Hall sensors.
 제1항 내지 제6항 중 하나의 홀 센서 출력값 검출 장치;
상기 복수의 홀 센서에서 출력되는 값의 종합적 출력값에 기반하여 구동 전류를 출력하는 구동기;
상기 구동 전류를 전달받는 구동 코일; 및
상기 구동 코일에 흐르는 구동 전류에 기반하여 움직이도록 배치된 렌즈 모듈; 을 포함하는 렌즈 모듈 제어 장치.The Hall sensor output value detection device of any one of claims 1 to 6;
a driver outputting a driving current based on a comprehensive output value of values output from the plurality of Hall sensors;
a driving coil receiving the driving current; and
a lens module arranged to move based on a driving current flowing through the driving coil; A lens module control device comprising a.
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