KR20220016893A - Optical film manufacturing method and optical film manufacturing apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 실시형태에 따른 광학 필름(4)의 제조 방법은, 장척(長尺)의 필름(2)에 N개의 처리(N은 1 이상의 정수)를 실시함으로써 광학 필름을 제조하는 방법이며, N개의 처리는, 필름을 반송하면서 행해지고, 반송 중에, 복수 개소(20) 각각에서, 필름의 폭을 연속적으로 측정하며, 복수 개소에서 선택되는 2개소 중 상류 개소에 있어서의 측정 결과 및 하류 개소에 있어서의 측정 결과 중 동일한 타이밍에서 얻어진 측정 결과에 기초하여, 상기 필름의 폭의 변화율을 산출한다.The manufacturing method of the optical film 4 according to an embodiment of the present invention is a method of manufacturing an optical film by subjecting a long film 2 to N treatments (N is an integer greater than or equal to 1), N processing is performed while conveying the film, and during conveyance, the width of the film is continuously measured at each of the plurality of locations 20, and the measurement result at the upstream location among the two locations selected from the plurality of locations and the downstream location The rate of change of the width of the film is calculated based on the measurement result obtained at the same timing among the measurement results in the film.
Description
본 발명은 광학 필름의 제조 방법 및 광학 필름의 제조 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a method for manufacturing an optical film and an apparatus for manufacturing an optical film.
광학 필름은, 통상 필름을 반송하면서, 원하는 광학 특성을 부여하기 위한 적어도 하나의 처리를 실시하여 제조된다. 예컨대, 광학 필름이 편광 필름인 경우, 필름에 광학 특성으로서 직선 편광 특성을 부여하는 적어도 하나의 처리가 실시된다. 전술한 바와 같이 광학 필름을 제조하는 경우, 필름으로부터 광학 필름을 제조하는 과정에 있어서 필름의 폭이 변화한다. 필름이 반송되고 있는 경우에 있어서, 상류측의 필름 폭과 하류측의 필름의 폭의 변화율은 네크인율(neck-in rate)로서 알려져 있다(특허문헌 1 참조). 광학 필름의 제조 과정에 있어서, 필름의 네크인율이 미리 설정되어 있는 허용 범위(관리 폭)로부터 어긋나면, 필름이 파단되거나, 필름의 두께가 원하는 두께로부터 어긋나거나 하는 경우가 있다. 그 때문에, 광학 필름을 적절히 제조하기 위해서는, 네크인율의 관리가 중요하다.An optical film is manufactured by performing at least 1 process for providing a desired optical characteristic, conveying a film normally. For example, when the optical film is a polarizing film, at least one treatment for imparting a linearly polarizing property to the film as an optical property is performed. In the case of manufacturing the optical film as described above, the width of the film is changed in the process of manufacturing the optical film from the film. When a film is conveyed, the change rate of the width of an upstream film width and a downstream film width is known as a neck-in rate (refer patent document 1). The manufacturing process of an optical film WHEREIN: When the neck-in rate of a film deviates from the preset allowable range (management width), a film may fracture|rupture or the thickness of a film may shift|deviate from desired thickness. Therefore, in order to manufacture an optical film suitably, management of a neck-in rate is important.
특허문헌 1에 기재된 기술에서는, 네크인율을 산출하기 위해서, 상류측 측정점 및 하류측 측정점에서 필름의 폭을 측정하고 있다. 그러나, 특허문헌 1에서는, 상류측 측정점 및 하류측 측정점에 있어서, 필름(특허문헌 1에 있어서의 웹)의 동일한 개소, 즉, 상류측 측정점에서 측정된 필름의 개소가, 하류측 측정점을 통과할 때에 하류측 측정점에서 필름의 폭이 측정된다. 그 때문에, 상류측 측정점으로부터 하류측 측정점으로 필름이 이동하는 동안에는, 네크인율이 허용 범위로부터 어긋나고 있는지의 여부를 확인할 수 없다.In the technique of patent document 1, in order to compute a neck-in rate, the width|variety of a film is measured at an upstream measuring point and a downstream measuring point. However, in Patent Document 1, in the upstream measurement point and the downstream measurement point, the same location of the film (web in Patent Literature 1), that is, the location of the film measured at the upstream measurement point, passes the downstream measurement point. The width of the film is measured at the downstream measurement point. Therefore, while the film moves from the upstream measurement point to the downstream measurement point, it cannot be confirmed whether the neck-in rate is out of the allowable range.
그래서, 본 발명은, 네크인율을 효율적으로 측정할 수 있고, 품질이 안정되어 있으며, 또한 재료 비용을 저감 가능한 광학 필름의 제조 방법 및 광학 필름의 제조 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Then, an object of this invention is to provide the manufacturing method of the optical film which can measure a neck-in rate efficiently, quality is stable, and can reduce material cost, and the manufacturing apparatus of an optical film.
본 발명의 일 측면에 따른 광학 필름의 제조 방법은, 장척의 필름에 N개의 처리(N은 1 이상의 정수)를 실시함으로써 광학 필름을 제조하는 방법으로서, 상기 N개의 처리는, 상기 필름을 반송하면서 행해지고, 상기 반송 중에, 복수 개소 각각에서, 상기 필름의 폭을 연속적으로 측정하며, 상기 복수 개소에서 선택되는 2개소 중 상류 개소에 있어서의 측정 결과 및 하류 개소에 있어서의 측정 결과 중 동일한 타이밍에서 얻어진 측정 결과에 기초하여, 상기 필름의 폭의 변화율을 산출한다.The method for manufacturing an optical film according to an aspect of the present invention is a method of manufacturing an optical film by performing N treatments (N is an integer greater than or equal to 1) on a long film, wherein the N treatments are performed while conveying the film is carried out, during the conveyance, the width of the film is continuously measured at each of a plurality of locations, and obtained at the same timing among the measurement results at the upstream location and the measurement results at the downstream location among the two locations selected from the plurality of locations Based on the measurement result, the change rate of the width|variety of the said film is computed.
본 발명의 다른 측면에 따른 광학 필름의 제조 장치는, 필름에, 적어도 광학 특성을 부여하는 처리를 실시하기 위한 N개의 처리부(N은 1 이상의 정수)와, 상기 필름을 반송하는 반송 기구와, 상기 반송 기구 상의 복수 개소에 배치되어 있고, 상기 복수 개소 각각에서, 상기 반송 기구로 반송 중인 상기 필름의 폭을 연속적으로 측정하는 복수의 폭 측정기와, 상기 복수의 폭 측정기에서 선택되는 2개의 폭 측정기 중 상류측 폭 측정기의 측정 결과와, 하류측 폭 측정기의 측정 결과 중 동일한 타이밍에서 얻어진 측정 결과에 기초하여, 상기 필름의 폭의 변화율을 산출하는 산출부를 구비한다.An apparatus for manufacturing an optical film according to another aspect of the present invention includes: N processing units (N is an integer of 1 or more) for performing a process for imparting at least optical properties to a film; a conveying mechanism for conveying the film; a plurality of width measuring devices disposed at a plurality of locations on the conveying mechanism and continuously measuring the width of the film being conveyed by the conveying mechanism at each of the plurality of locations, and two width measuring devices selected from the plurality of width measuring devices A calculation unit configured to calculate a rate of change of the width of the film is provided based on the measurement result of the upstream width measurement device and the measurement result obtained at the same timing among the measurement results of the downstream width measurement device.
상기 제조 방법 및 상기 제조 장치에서는, 필름의 폭을, 복수 개소에서 측정한다. 이에 의해, 필름을 반송하면서, 필름의 폭을 연속적으로 측정할 수 있다. 또한, 복수 개소에서 연속적으로 측정된 필름의 폭 중, 상류 개소 및 하류 개소에 있어서 동일한 타이밍에서 측정된 필름의 폭의 측정 결과에 기초하여, 필름의 폭의 변화율을 산출한다. 그 때문에, 네크인율을 효율적으로 측정할 수 있고, 품질이 안정되어 있으며, 또한 광학 필름의 재료 비용을 저감할 수 있다.In the said manufacturing method and the said manufacturing apparatus, the width|variety of a film is measured at several places. Thereby, conveying a film, the width|variety of a film can be measured continuously. Moreover, the change rate of the width of a film is computed based on the measurement result of the width of the film measured at the same timing in an upstream location and a downstream location among the width|variety of the film continuously measured at several places. Therefore, a neck-in rate can be measured efficiently, quality is stable, and the material cost of an optical film can be reduced.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 상류 개소는, 상기 N개의 처리 중 하나의 처리가 실시되기 전의 위치이고, 상기 하류 개소는, 상기 하나의 처리가 실시된 후의 위치여도 좋다.In the manufacturing method, the upstream location may be a position before one of the N treatments is performed, and the downstream location may be a location after the one treatment is performed.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 상류측 폭 측정기는, 상기 N개의 처리부 중 하나의 처리부 앞에 배치되어 있고, 상기 하류측 폭 측정기는, 상기 하나의 처리부 뒤에 배치되어 있어도 좋다.The said manufacturing apparatus WHEREIN: The said upstream width measuring device may be arrange|positioned before one of the said N processing parts, The said downstream width measuring device may be arrange|positioned behind the said one processing part.
필름의 폭은, N개의 처리 각각이 실시되는 경우에 변화하기 쉽다. 그 때문에, 상기 구성에서는, 필름의 폭이 변화하기 쉬운 개소에서, 필름의 폭의 변화율을 산출할 수 있다.The width of the film tends to change when each of the N treatments is performed. Therefore, in the said structure, in the location where the width|variety of a film changes easily, the change rate of the width|variety of a film is computable.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 N개의 처리는, 제i-1 처리, 제i 처리 및 제i+1 처리(i는 2 이상의 정수)를 포함하고, 상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있고, 또한, 상기 하류 개소가 상기 제i 처리의 위치와 상기 제i+1 처리의 위치 사이에 있어도 좋다.In the manufacturing method, the N processes include an i-1 th process, an i th process, and an i+1 th process (i is an integer of 2 or more), wherein the upstream location is the position of the i-1 process and the position of the i-th process, and the downstream location may be between the position of the i-th process and the position of the i+1-th process.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 N개의 처리부는, 제i-1 처리부, 제i 처리부 및 제i+1 처리부(i는 2 이상의 정수)를 포함하고, 상기 상류측 폭 측정기는, 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있고, 상기 하류측 폭 측정기는, 상기 제i 처리부와 상기 제i+1 처리부 사이에 배치되어 있어도 좋다.In the above manufacturing apparatus, the N processing units include an i-1th processing unit, an i-th processing unit, and an i+1th processing unit (i is an integer of 2 or more), and the upstream-side width measuring unit includes the i-1th processing unit. It may be arrange|positioned between a processing part and the said ith processing part, and the said downstream width measuring device may be arrange|positioned between the said ith processing part and the said i+1th processing part.
필름의 폭은, 필름에 처리가 실시되는 경우에 변화하기 쉽다. 그 때문에, 상기 구성에서는, 필름의 폭이 변화하기 쉬운 개소에서, 필름의 폭의 변화율을 산출할 수 있다. 또한, 상기 구성에 있어서, 필름의 폭의 변화율이 허용 범위를 초과하고 있는 경우, 그 폭의 변화율은 제i 처리에 기인하거나, 제i 처리 전의 필름의 상태가 변화하고 있다고 생각되기 때문에, 필름의 폭의 변화율을 허용 범위 내로 조정함으로써, 문제점을 미연에 회피할 수 있다.The width of a film is easy to change when a process is given to a film. Therefore, in the said structure, in the location where the width|variety of a film changes easily, the change rate of the width|variety of a film is computable. In addition, in the above configuration, when the rate of change of the width of the film exceeds the allowable range, the rate of change of the width is due to the i-th treatment or because it is considered that the state of the film before the i-th treatment is changing, By adjusting the rate of change of the width within the allowable range, the problem can be avoided in advance.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 N개의 처리는, 제i-1 처리 및 제i 처리(i는 2 이상의 정수)를 포함하고, 상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리 중의 위치에 있고 또한 상기 하류 개소가 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있어도 좋으며, 상기 상류 개소 및 상기 하류 개소가, 각각 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있어도 좋고, 또는 상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리 전의 위치에 있고 또한 상기 하류 개소가 상기 제i-1 처리 중의 위치에 있어도 좋다.In the above production method, the N processes include an i-1 process and an i-th process (i is an integer of 2 or more), wherein the upstream location is at a position during the i-1 process, and the downstream location may be between the position of the i-1th processing and the position of the i-th processing, and the upstream location and the downstream location may be between the position of the i-1th processing and the position of the i-th processing, respectively Alternatively, the upstream location may be at a position before the i-1 process, and the downstream location may be at a location during the i-1 process.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 N개의 처리부는, 제i-1 처리부 및 제i 처리부(i는 2 이상의 정수)를 포함하고, 상기 상류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부의 위치에 배치되어 있고 또한 상기 하류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있어도 좋으며, 상기 상류측 폭 측정기 및 상기 하류측 폭 측정기가, 각각 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있어도 좋고, 또는 상기 상류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부 앞에 배치되어 있고 또한 상기 하류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부의 위치에 배치되어 있어도 좋다.In the above manufacturing apparatus, the N processing units include an i-1th processing unit and an i-th processing unit (i is an integer greater than or equal to 2), the upstream width measuring device is disposed at the position of the i-1th processing unit, and Further, the downstream width measuring device may be disposed between the i-1th processing unit and the i-th processing unit, wherein the upstream side width measuring device and the downstream side width measuring unit are the i-1th processing unit and the i-th processing unit, respectively. Alternatively, the upstream width measuring device may be disposed in front of the i-1th processing unit, and the downstream side width measuring device may be disposed at the position of the i-1th processing unit.
상기 구성에서는, 필름에 처리가 실시되고 있을 때의 폭의 변화율, 또는 필름에 대한 하나의 처리가 종료되고 다음 처리까지의 사이의 필름의 폭의 변화율을 산출 가능하다.In the above configuration, it is possible to calculate the rate of change of the width when the film is being treated, or the rate of change of the width of the film between the completion of one treatment for the film and the next treatment.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 반송 중에, 촬상부에서, 필름의 적어도 단부의 상(像)을 취득함으로써, 상기 필름에 있어서의 상기 폭을 측정해도 좋다.The said manufacturing method WHEREIN: You may measure the said width|variety in the said film by acquiring the image of the at least edge part of a film with an imaging part during the said conveyance.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 복수의 폭 측정기 중 적어도 하나는, 상기 필름의 적어도 단부를 촬상하는 촬상부를 가져도 좋다.The said manufacturing apparatus WHEREIN: At least one of the said some width measuring device may have the imaging part which images at least the edge part of the said film.
이 경우, 촬상부에서 취득된 상을 이용하여, 필름의 폭을 산출 가능하다.In this case, the width of the film can be calculated using the image acquired by the imaging unit.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 반송 중에, 상기 필름에 입사한 광에 의한 상기 필름으로부터의 반사광 및 투과광 중 적어도 한쪽의 휘도에 기초하여, 상기 필름에 있어서의 상기 폭을 측정해도 좋다.The said manufacturing method WHEREIN: You may measure the said width|variety in the said film based on the brightness|luminance of at least one of the reflected light from the said film by the light which injects into the said film, and transmitted light during the said conveyance.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 복수의 폭 측정기 중 적어도 하나는, 상기 필름에 입사한 광에 의한 상기 필름으로부터의 반사광 및 투과광 중 적어도 한쪽을 검출하기 위한 광 검출부를 가져도 좋다.In the manufacturing apparatus, at least one of the plurality of width measuring devices may have a light detection unit for detecting at least one of reflected light and transmitted light from the film by light incident on the film.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 복수의 폭 측정기 중 적어도 하나의 폭 측정기는, 상기 필름에 광을 조사하는 광 조사부를 가져도 좋다. 예컨대, 필름으로부터의 투과광을 검출할 때에 주변 환경과의 광의 휘도의 차가 작은 경우, 광 조사부로부터의 광으로 주변 환경의 휘도를 증대할 수 있다. 그 결과, 필름의 폭을 측정하기 쉽다.The said manufacturing apparatus WHEREIN: At least 1 width measuring device among the said some width measuring device may have a light irradiation part which irradiates light to the said film. For example, when the difference in the luminance of the light from the surrounding environment is small when the transmitted light from the film is detected, the luminance of the surrounding environment can be increased with the light from the light irradiation unit. As a result, it is easy to measure the width of the film.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 필름은, 반송 롤에 의해 반송되고, 상기 반송 롤 상의 상기 필름에 상기 광을 조사하며, 상기 광의 조사에 의해 발생하는 상기 필름 및 상기 반송 롤의 반사광의 휘도의 차에 기초하여, 상기 필름의 단부를 검출함으로써, 상기 필름에 있어서의 상기 폭을 측정해도 좋다.In the manufacturing method, the film is conveyed by a conveyance roll, the film on the conveyance roll is irradiated with the light, and the difference in luminance of the reflected light of the film and the conveyance roll generated by the irradiation of the light Based on it, you may measure the said width|variety in the said film by detecting the edge part of the said film.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 반송 기구는, 반송 롤을 갖고, 상기 광 조사부는, 상기 반송 롤 상의 상기 필름에 광을 조사하며, 상기 복수의 폭 측정기 중 적어도 하나의 폭 측정기는, 상기 반송 롤 상의 상기 필름에의 상기 광 조사부로부터의 광에 의해 발생하는 상기 필름 및 상기 반송 롤의 반사광의 휘도의 차에 기초하여, 상기 필름의 폭을 측정해도 좋다.The said manufacturing apparatus WHEREIN: The said conveyance mechanism has a conveyance roll, the said light irradiation part irradiates light to the said film on the said conveyance roll, At least one width measuring device among the said plurality of width measuring instruments is on the said conveyance roll. You may measure the width|variety of the said film based on the difference of the brightness|luminance of the reflected light of the said film and the said conveyance roll which generate|occur|produce by the light from the said light irradiation part to the said film.
이 경우, 필름으로부터의 반사광과 반송 롤로부터의 반사광의 휘도의 차로, 필름의 단부를 특정하기 쉽다. 그 결과, 단부의 위치에 기초하여 필름의 폭을 보다 정확히 산출할 수 있다. 필름으로부터의 반사광이 정반사로 충분한 휘도를 갖는 경우, 측정은 반송 롤 상에 한정되지 않는다.In this case, it is easy to specify the edge part of a film with the difference of the brightness|luminance of the reflected light from a film, and the reflected light from a conveyance roll. As a result, the width of the film can be more accurately calculated based on the position of the end portion. When the reflected light from the film has sufficient luminance for specular reflection, the measurement is not limited to the conveyance roll.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 투과광은, 편광 필터를 통해 상기 필름에 입사한 광에 의한 상기 필름으로부터의 투과광이어도 좋다. 혹은, 상기 제조 방법에 있어서, 상기 투과광을 편광 필름에 통과시켜 얻어지는 광의 휘도에 기초하여, 상기 필름에 있어서의 폭을 측정해도 좋다.In the manufacturing method, the transmitted light may be transmitted light from the film by light incident on the film through a polarizing filter. Or the said manufacturing method WHEREIN: You may measure the width|variety in the said film based on the brightness|luminance of the light obtained by making the said transmitted light pass through a polarizing film.
상기 제조 장치의 일 실시형태는, 상기 광 조사부와 상기 필름 사이에 편광 필터를 가져도 좋다. 혹은, 상기 제조 장치의 일 실시형태는, 상기 광 검출부와 상기 필름 사이에 편광 필터를 가져도 좋다.One Embodiment of the said manufacturing apparatus may have a polarizing filter between the said light irradiation part and the said film. Or one Embodiment of the said manufacturing apparatus may have a polarizing filter between the said photodetector and the said film.
예컨대, 필름이 직선 편광 특성을 갖는 경우, 편광 필터를 필름과 크로스니콜 상태로 배치함으로써, 필름의 폭을 측정하기 쉽다.For example, when the film has a linearly polarized light characteristic, it is easy to measure the width of the film by disposing the polarizing filter in a cross nicol state with the film.
상기 제조 방법에 있어서, 상기 N개의 처리는, 팽윤 처리, 염색 처리, 가교 처리, 연신 처리 및 건조 처리 중 적어도 하나의 처리를 포함해도 좋다.In the manufacturing method, the N treatments may include at least one of swelling treatment, dyeing treatment, crosslinking treatment, stretching treatment, and drying treatment.
상기 제조 장치에 있어서, 상기 N개의 처리부는, 팽윤 처리부, 염색 처리부, 가교 처리부, 연신 처리부 및 건조 처리부 중 어느 하나를 적어도 하나를 포함해도 좋다.The said manufacturing apparatus WHEREIN: The said N processing part may contain at least any one of a swelling processing part, a dyeing|staining processing part, a crosslinking processing part, an extending|stretching process part, and a drying processing part.
상기 광학 필름의 예는, 편광 필름이다.An example of the said optical film is a polarizing film.
본 발명에 의하면, 네크인율을 효율적으로 측정할 수 있고, 품질이 안정되어 있으며, 또한 재료 비용을 저감 가능한 광학 필름의 제조 방법 및 광학 필름의 제조 장치를 제공할 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the neck-in rate can be measured efficiently, quality is stable, and the manufacturing method of the optical film which can reduce material cost, and the manufacturing apparatus of an optical film can be provided.
도 1은 일 실시형태에 따른 광학 필름의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도이다.
도 2는 광학 필름의 제조 방법에 있어서의 필름의 폭의 변화를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 폭 측정기 및 산출부를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 폭 측정기가 갖는 폭 검출기의 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 폭 측정기가 갖는 폭 검출기의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram for demonstrating the manufacturing method of the optical film which concerns on one Embodiment.
It is a figure for demonstrating the change of the width|variety of the film in the manufacturing method of an optical film.
3 is a view for explaining a width measuring device and a calculation unit.
4 is a view for explaining an example of a width detector included in the width measuring device.
5 is a view for explaining another example of the width detector of the width measuring device.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 도면에 있어서 동일 또는 상당하는 부분에 대해서는 동일한 부호를 붙이고, 중복되는 설명을 생략한다. 도면의 치수 비율은, 설명의 것과 반드시 일치하는 것은 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described with reference to drawings. In the drawings, the same reference numerals are attached to the same or corresponding parts, and overlapping explanations are omitted. Dimensional ratios in the drawings do not necessarily coincide with those in the description.
도 1은 본 발명의 일 실시형태를 설명하기 위한 모식도이다. 이하, 광학 필름으로서 편광 필름을 제조하는 경우를 예로 들어 설명한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram for demonstrating one Embodiment of this invention. Hereinafter, the case where a polarizing film is manufactured as an optical film is mentioned as an example and demonstrated.
본 실시형태에서는, 장척의 필름(2)을 반송하면서, 반송 중인 필름(2)에, N 개(N은 1 이상의 정수)의 처리를 순서대로 실시함으로써, 편광 필름(광학 필름)(4)을 제조한다. N개의 처리는, 필름(2)에, 적어도 광학 특성으로서 직선 편광 특성을 부여하는 처리이다. N의 상한은 특별히 한정되지 않으나, N은 통상 30 이하의 정수이고, 25 이하의 정수여도 좋으며, 20 이하의 정수여도 좋고, 10 이하의 정수여도 좋다.In this embodiment, the polarizing film (optical film) 4 is carried out to the
필름(2)에 직선 편광 특성이 부여되면, 필름(2)은 편광 필름(4)으로서 기능한다. 직선 편광 특성은, N개의 처리가 모두 완료되기 전에 실질적으로 부여되기 때문에, 필름(2)을 이용한 편광 필름(4)의 제조 방법에서는, 제조 과정 중에서 필름(2)이 편광 필름(4)으로서의 기능을 갖는다. 그러나, 설명의 편의를 위해서, 언급하지 않는 한, N개의 처리 모두가 종료된 후의 필름(2)을 편광 필름(4)이라고 칭하고, N개의 처리가 완료되기 전의 필름을 모두 필름(2)이라고 칭한다. 편광 필름(4)을 제조하는 경우, 통상 필름(2)에, 팽윤 처리, 염색 처리, 가교 처리, 연신 처리 및 건조 처리를 실시한다. 연신 처리는, 어느 하나의 처리(예컨대, 가교 처리) 중, 또는 복수의 처리를 실시하면서 병행하여 필름(2)에 실시되어도 좋다.When the
필름(2)은, 폴리비닐알코올계 수지 필름이다. 필름(2)의 길이 방향의 길이의 예는, 1000 m 이상 30000 m 이하, 바람직하게는 1000 m 이상 20000 m 이하의 범위이다. 필름(2)의 폭 방향(길이 방향에 직교하는 방향)의 길이의 예는, 1300 ㎜∼5000 ㎜이다. N개의 처리가 실시되기 전의 필름(2)의 두께의 예는, 10 ㎛∼100 ㎛이다. 필름(2)은, 용융 압출법, 용제 캐스트법 등의 공지된 방법으로 제조될 수 있다. 필름(2)은 구입된 필름이나 사전에 연신이나 적층 등의 처리를 행한 필름이어도 좋다. 도 1에서는, 필름(2)을 원반 롤(6)로서 준비하고, 원반 롤(6)로부터 풀어내어진 필름(2)에 N개의 처리를 실시하여 편광 필름(4)을 얻는 경우를 도시하고 있다. 필름(2)이 상기 방법(용융 압출법, 용제 캐스트법 등)으로 제조되는 경우, 예컨대 상기 방법(용융 압출법, 용제 캐스트법 등)에 의해 제조된 필름(2)을 연속적으로 반송하고, 그 반송 중에 상기 N개의 처리를 행해도 좋다.The
편광 필름(4)의 제조 장치(10)는, 복수의 닙 롤(11)과, 복수의 가이드 롤(12)과, 팽윤 처리부(131)와, 염색 처리부(132)와, 가교 처리부(133)와, 세정 처리부(134)와, 건조 처리부(135)를 구비한다.The
복수의 닙 롤(11) 및 복수의 가이드 롤(12)은, 필름(2)의 반송 기구에 포함되고, 필름(2)을 반송하기 위한 반송 롤이다. 복수의 닙 롤(11) 및 복수의 가이드 롤(12)이 적절히 배치됨으로써, 필름(2)의 반송 경로가 구성된다.The some
닙 롤(11)은, 필름(2)을 사이에 끼우고 또한 압박함으로써, 닙 롤(11)의 회전력을 필름(2)에 부여하는 기능을 갖는다. 닙 롤(11)은, 필름(2)의 반송 방향을 변경하는 기능도 갖는다. 필름(2)의 반송 방향에 있어서, 예컨대 인접하는 2개의 닙 롤(11)에 주속차(周速差)를 부여함으로써, 상기 인접하는 2개의 닙 롤(11) 사이에서 반송되는 필름(2)에 연신 처리(예컨대, 일축 연신 처리)가 실시된다. 도 1은 제조 장치(10)가 8개의 닙 롤(11)을 갖는 경우를 예시하고 있다. 6개의 닙 롤(11)을 구별하여 설명하는 경우, 도 1에 도시된 바와 같이, 6개의 닙 롤(11)을, 닙 롤(111∼116)이라고 칭한다.The
가이드 롤(12)은, 필름(2)을 지지하고, 필름(2)의 반송 방향을 변경하는 기능을 갖는다. 도 1은 제조 장치(10)가 12개의 가이드 롤(12)을 갖는 경우를 예시하고 있다. 12개의 가이드 롤(12)을 구별하여 설명하는 경우, 도 1에 도시된 바와 같이, 12개의 가이드 롤(12)을, 가이드 롤(121∼1212)이라고 칭한다.The
팽윤 처리부(131)는, 필름(2)에 팽윤 처리를 행하는 부분이다. 팽윤 처리부(131)는, 팽윤 처리를 위한 처리액이 저류된 처리조를 갖는다. 팽윤 처리부(131)가 갖는 처리액에 필름(2)을 침지함으로써, 필름(2)에 팽윤 처리가 행해진다. 본 실시형태에서는, 닙 롤(111) 및 가이드 롤(121∼123)에 의해, 처리액에 필름(2)을 침지하는 필름의 반송 경로가 형성되어 있다. 이 구성에서는, 닙 롤(111) 및 가이드 롤(123)은, 팽윤 처리부(131)에 의한 팽윤 처리가 필름(2)에 실시되기 전 및 후(환언하면, 팽윤 처리부(131)의 전 및 후)에 배치되어 있다.The swelling processing part 13 1 is a part which performs a swelling process on the
상기 팽윤 처리는, 필름(2)의 표면의 이물 제거, 필름(2) 중의 가소제 제거, 후공정에서의 염색 용이성의 부여, 필름(2)의 가소화 등의 목적으로 행해진다. 팽윤 처리의 조건은, 이들 목적을 달성할 수 있는 범위에서, 또한 필름(2)의 극단적인 용해, 실투(失透) 등의 문제점이 발생하지 않는 범위에서 결정될 수 있다. 팽윤 처리부(131)에서는, 필름(2)을, 예컨대 온도 10∼50℃, 바람직하게는 20∼50℃의 처리액에 침지함으로써, 팽윤 처리가 행해진다. 팽윤 처리의 시간은, 5∼300초 정도이고, 바람직하게는 20∼240초 정도이다. 팽윤 처리부(131)에 있어서의 처리액의 예는 물이다. 그 때문에, 팽윤 처리는, 필름(2)의 수세(水洗) 처리도 겸할 수 있다.The said swelling treatment is performed for the objective of the foreign material removal on the surface of the
염색 처리부(132)는, 필름(2)에 염색 처리를 행하는 부분이다. 염색 처리부(132)는, 염색 처리를 위한 처리액이 저류된 처리조를 갖는다. 염색 처리부(132)가 갖는 처리액에 필름을 침지함으로써, 필름(2)에 염색 처리가 행해진다. 본 실시형태에서는, 닙 롤(112) 및 가이드 롤(124∼126)에 의해, 처리액에 필름(2)을 침지하는 필름의 반송 경로가 형성되어 있다. 이 구성에서는, 닙 롤(112) 및 가이드 롤(126)은, 염색 처리부(132)에 의한 염색 처리가 필름(2)에 실시되기 전 및 후(환언하면, 염색 처리부(132)의 전 및 후)에 배치되어 있다.The
본 실시형태에 있어서의 염색 처리부(132)가 갖는 처리액은, 이색성 색소의 수용액이고, 염색 처리에서는, 필름(2)을 이색성 색소로 염색한다. 통상의 이색성 색소에 의한 염색 처리는, 필름(2)에 이색성 색소를 흡착시키는 등의 목적으로 행해진다. 처리 조건은 이러한 목적을 달성할 수 있는 범위에서, 또한 필름(2)의 극단적인 용해, 실투 등의 문제점이 발생하지 않는 범위에서 원하는 광학 특성에 따라 결정된다. 염색에 사용되는 이색성 색소의 예는, 요오드 및 이색성 염료이다.The processing liquid which the
이색성 색소로서 요오드를 이용하는 경우에는, 예컨대 10∼50℃, 바람직하게는 15∼40℃의 온도에서, 또한 물 100 중량부에 대해, 요오드를 0.003∼0.2 중량부 및 요오드화칼륨을 0.1∼10 중량부 포함하는 수용액 중에, 10∼600초간, 바람직하게는 30∼300초간, 필름(2)을 침지함으로써, 염색 처리가 행해진다. 요오드화칼륨을 대신하여 다른 요오드화물, 예컨대 요오드화아연 등을 이용해도 좋다. 다른 요오드화물을 요오드화칼륨과 병용해도 좋다. 또한, 요오드화물 이외의 화합물, 예컨대 붕산, 염화아연, 염화코발트 등을 공존시켜도 좋다. 물 100 중량부에 대해, 요오드를 0.003 중량부 이상 포함하고 있는 처리액이면, 염색용의 처리액이라고 간주할 수 있다.When iodine is used as the dichroic dye, for example, at a temperature of 10 to 50°C, preferably 15 to 40°C, 0.003 to 0.2 parts by weight of iodine and 0.1 to 10 parts by weight of potassium iodide with respect to 100 parts by weight of water. A dyeing process is performed by immersing the
이색성 색소로서 수용성 이색성 염료를 이용하는 경우에는, 예컨대 20∼80℃, 바람직하게는 30∼60℃의 온도에서, 또한 물 100 중량부에 대해 이색성 염료를 0.001∼0.1 중량부 포함하는 수용액 중에, 10∼600초간, 바람직하게는 20∼300초간, 필름(2)을 침지함으로써, 염색 처리가 행해진다. 사용하는 이색성 염료의 수용액은, 염색 조제 등을 함유하고 있어도 좋고, 황산나트륨과 같은 무기염, 계면 활성제 등을 함유하고 있어도 좋다. 이색성 염료는 1종류만 이용해도 좋고, 원하는 색상에 따라 2종류 이상의 이색성 염료를 병용할 수도 있다.When a water-soluble dichroic dye is used as the dichroic dye, for example, at a temperature of 20 to 80° C., preferably 30 to 60° C., in an aqueous solution containing 0.001 to 0.1 parts by weight of the dichroic dye with respect to 100 parts by weight of water. , for 10 to 600 seconds, preferably for 20 to 300 seconds, the dyeing treatment is performed by immersing the
가교 처리부(133)는, 필름(2)에 가교 처리를 행하는 부분이다. 가교 처리부(133)는, 가교 처리를 위한 처리액이 저류된 처리조를 갖는다. 가교 처리부(133)가 갖는 처리액에 필름을 침지함으로써, 필름(2)에 가교 처리가 행해진다. 본 실시형태에서는, 닙 롤(113) 및 가이드 롤(127∼129)에 의해, 처리액에 필름(2)을 침지하는 필름의 반송 경로가 형성되어 있다. 이 구성에서는, 닙 롤(113) 및 가이드 롤(129)은, 가교 처리부(133)에 의한 가교 처리가 필름(2)에 실시되기 전 및 후(환언하면, 가교 처리부(133)의 전 및 후)에 배치되어 있다.The
가교 처리는, 가교에 의한 내수화나 색상 조정(필름(2)이 푸른빛을 띠는 것을 방지하는 등) 등의 목적으로 행하는 처리이다.The crosslinking treatment is a treatment performed for the purpose of water resistance by crosslinking or color adjustment (preventing the
가교 처리부(133)에서 사용하는 처리액은, 예컨대 물 100 중량부에 대해 붕산을, 예컨대 약 1∼10 중량부 함유하는 수용액이다. 염색 처리에서 사용한 이색성 색소가 요오드인 경우, 가교 처리부(133)에서 사용하는 처리액은, 붕산에 더하여 요오드화물을 함유하는 것이 바람직하고, 그 양은, 물 100 중량부에 대해, 예컨대 1∼30 중량부이다. 요오드화물로서는, 요오드화칼륨, 요오드화아연 등을 들 수 있다. 요오드화물 이외의 화합물, 예컨대 염화아연, 염화코발트, 염화지르코늄, 티오황산나트륨, 아황산칼륨, 황산나트륨 등을 공존시켜도 좋다. The treatment liquid used in the
가교 처리부(133)에서의 가교 처리에 있어서는, 그 목적에 따라, 붕산 및 요오드화물의 농도, 및 처리액의 온도를 적절히 변경할 수 있다. In the crosslinking treatment in the
예컨대, 가교 처리의 목적이 가교에 의한 내수화이고, 폴리비닐알코올계 수지 필름에 대해, 팽윤 처리, 염색 처리 및 가교 처리를 이 순서로 실시하는 경우, 처리액의 가교제 함유액은, 예컨대 농도가 중량비로 붕산/요오드화물/물=3∼10/1∼20/100의 수용액이다. 필요에 따라, 붕산을 대신하여 글리옥살 또는 글루타르알데히드 등의 다른 가교제를 이용해도 좋고, 붕산과 다른 가교제를 병용해도 좋다. 필름(2)을 침지할 때의 처리액의 온도는, 통상 50℃∼70℃ 정도이고, 바람직하게는 53℃∼65℃이며, 필름(2)의 침지 시간은, 통상 10∼600초 정도, 바람직하게는 20∼300초, 보다 바람직하게는 20∼200초이다. 팽윤 처리 전에 미리 연신한 필름(2)에 대해 염색 처리 및 가교 처리를 이 순서로 실시하는 경우, 처리액의 온도는, 통상 50∼85℃ 정도, 바람직하게는 55∼80℃이다.For example, when the purpose of the crosslinking treatment is water resistance by crosslinking, and the polyvinyl alcohol-based resin film is subjected to swelling treatment, dyeing treatment, and crosslinking treatment in this order, the crosslinking agent-containing solution of the treatment solution has, for example, a concentration It is an aqueous solution of boric acid/iodide/water = 3 to 10/1 to 20/100 by weight. If necessary, other crosslinking agents such as glyoxal or glutaraldehyde may be used instead of boric acid, or boric acid and other crosslinking agents may be used in combination. The temperature of the processing liquid at the time of immersing the
가교 처리의 목적이 색상 조정이고, 예컨대 이색성 색소로서 요오드를 이용한 경우, 농도가 중량비로 붕산/요오드화물/물=1∼5/3∼30/100의 가교제 함유액을 처리액으로서 사용할 수 있다. 필름(2)을 침지할 때의 처리액의 온도는, 통상 10∼45℃ 정도이고, 필름(2)의 침지 시간은, 통상 1∼300초 정도, 바람직하게는 2∼100초이다.When the purpose of the crosslinking treatment is color adjustment, for example, when iodine is used as a dichroic dye, a crosslinking agent-containing solution having a concentration of boric acid/iodide/water = 1 to 5/3 to 30/100 in a weight ratio can be used as the treatment solution. . The temperature of the processing liquid at the time of immersing the
세정 처리부(134)는, 가교 처리 후의 필름(2)에 세정 처리를 행하는 부분이다. 세정 처리부(134)는, 세정 처리를 위한 처리액이 저류된 처리조를 갖는다. 세정 처리부(134)가 갖는 처리액에 필름(2)을 침지함으로써, 필름(2)에 세정 처리가 행해진다. 본 실시형태에서는, 닙 롤(114) 및 가이드 롤(1210∼1212)에 의해, 처리액에 필름(2)을 침지하는 필름의 반송 경로가 형성되어 있다. 이 구성에서는, 닙 롤(114) 및 가이드 롤(1212)은, 세정 처리부(134)에 의한 세정 처리가 필름(2)에 실시되기 전 및 후(환언하면, 세정 처리부(134)의 전 및 후)에 배치되어 있다. 세정 처리에 있어서의 처리액으로서는, 물, 요오드화칼륨을 포함하는 수용액, 붕산을 포함하는 수용액을 들 수 있다. 처리액의 온도는, 통상 2℃∼40℃ 정도이고, 처리 시간은, 통상 2초∼120초 정도이다.The
세정 처리부(134)에 있어서의 세정 처리는, 처리액을 샤워로서 분무하는 방법, 혹은 침지와 분무를 병용하는 방법 등에 의해 필름(2)의 세정을 행해도 좋다.As for the washing process in the washing|
건조 처리부(135)는, 필름(2)에 건조 처리를 행하는 부분이다. 본 실시형태에 있어서 건조 처리부(135)는, 건조 장치이다. 건조 처리부(135)에는, 세정 처리부(134)에서 세정 처리된 필름(2)이 반입되고, 필름(2)이 건조 처리부(135) 내를 통과하는 동안에, 필름(2)을 건조시킨다. 본 실시형태에서는, 닙 롤(115, 116)에 의해, 처리액에 필름(2)을 침지하는 필름의 반송 경로가 형성되어 있다. 건조 처리부(135) 내에, 필름(2)을 지지 및 반송하기 위해서, 가이드 롤(12)이 적절히 배치되어도 좋다. 건조 처리부(135)에 의한 건조는, 약 40℃∼100℃의 온도로 유지된 건조 처리부(135) 중에서, 약 30초∼약 600초 행해진다. 도 1에서는, 건조 처리부(135)를 모식적으로 도시하고 있다. 건조 처리부(135)는, 필름(2)에 부착된 수분을 건조시킬 수 있으면 특별히 한정되지 않고, 편광 필름의 제조에 있어서, 통상 사용되는 공지된 것이어도 좋다.The drying
제조 장치(10)에 있어서는, 복수의 닙 롤(11)에 있어서의 적어도 2개의 닙 롤(11)(상류측의 닙 롤(11)과 하류측의 닙 롤(11))의 주속차를 이용하여 필름(2)을 일축 연신 처리하는 연신 처리를 실시한다. 이 경우, 상기 일축 연신 처리에 기여하는 2개의 닙 롤(11)은 연신 처리부로서 기능한다.In the
예컨대, 가교 처리부(133) 앞에 배치된 닙 롤(113)과 가교 처리부(133) 뒤에 배치된 닙 롤(114)의 주속차를 이용하여 일축 연신 처리하는 연신 처리를 행해도 좋다. 이 경우, 가교 처리와 병행하여 연신 처리가 행해지기 때문에, 가교 처리부(133)도, 연신 처리부로서 기능한다. 연신 처리는, 주름의 발생을 억제하기 위해서도 유효하다.For example, you may perform the extending|stretching process of carrying out a uniaxial stretching process using the peripheral speed difference of the
하나의 처리부(예컨대, 전술한 가교 처리부(133))의 전후에 배치된 2개의 닙 롤(11)을 이용하여 주로 연신 처리를 행하는 한편, 다른 닙 롤(11)을 이용하여 서서히 연신 처리를 더 실시해도 좋다.The stretching treatment is mainly performed using two nip rolls 11 disposed before and after one treatment section (eg, the
제조 장치(10)는, 연신 처리를 행하기 위한 연신 처리부를 별도로 가져도 좋다. 이 경우, 연신 처리부는, 예컨대 가교 처리부(133)의 후단(예컨대, 가교 처리부(133)와 세정 처리부(134) 사이)에 배치된다.The
제조 장치(10)는, 팽윤 처리부(131), 염색 처리부(132), 가교 처리부(133), 세정 처리부(134) 및 건조 처리부(135) 중 적어도 하나의 처리부를 복수 가져도 좋다. 예컨대, 제조 장치(10)는, 가교 처리부(133)를 복수 구비해도 좋다. 제조 장치(10)가 연신 처리부를 구비하는 경우도 마찬가지이고, 제조 장치(10)는, 예컨대 연신 처리부를 복수 구비해도 좋다.The
상기 제조 장치(10)를 이용하여 편광 필름(4)을 제조하는 경우, 먼저 원반 롤(6)로부터 필름(2)을 풀어내어, 복수의 닙 롤(11) 및 복수의 가이드 롤(12)로 형성되는 반송 경로를 따라 필름(2)을, 그 길이 방향으로 반송한다. 반송 속도의 예는, 1 m/분∼60 m/분이어도 좋고, 1.5 m/분∼50 m/분이다. 필름(2)의 반송 경로에는, 원반 롤(6)측으로부터, 팽윤 처리부(131), 염색 처리부(132), 가교 처리부(133), 세정 처리부(134) 및 건조 처리부(135)가 설치되어 있다. 또한, 전술한 바와 같이 적어도 2개의 닙 롤(11)은 연신 처리부로서의 기능도 갖는다. 그 때문에, 반송되고 있는 필름(2)에, 팽윤 처리, 염색 처리, 가교 처리, 세정 처리 및 건조 처리가 실시됨과 동시에, 연신 처리가 실시된다. 이에 의해, 필름(2)에 직선 편광 특성(광학 특성)이 부여되어, 편광 필름(4)이 얻어진다.When manufacturing the polarizing film 4 using the said
건조 처리부(135)를 거쳐 얻어진 편광 필름(4)은, 예컨대 편광 필름(4)을 포함하는 편광판의 제조에 이용된다. 예컨대, 상기 편광판은, 편광 필름(4)의 편면 또는 양면에 보호 필름을 접합하는 접합 공정 등이 실시됨으로써 제조될 수 있다. 건조 처리부(135)를 거쳐 얻어진 편광 필름(4)은, 상기 편광판의 제조를 위해서 연속적으로 반송되어도 좋고, 롤형으로 한번 권취되어도 좋다.The polarizing film 4 obtained through the
도 2에 도시된 바와 같이, 필름(2)을 반송하면서 N개의 처리를 실시하여 편광 필름(4)을 제조하는 과정에 있어서, 필름(2)의 폭 방향의 길이가 변화한다. 필름(2)의 반송에 있어서의 임의의 2개의 개소 중, 상류측에 위치하는 개소(이하, 「상류 개소」라고 칭함)에 있어서의 필름(2)의 폭을 W1로 하고, 상류 개소보다 하류측에 위치하는 개소(이하, 「하류 개소」라고 칭함)에 있어서의 필름(2)의 폭을 W2로 하며, 상기 상류 개소와 하류 개소 사이에서의 필름(2)의 폭의 변화율을 네크인율(%)이라고 칭했을 때, 본 실시형태에서는, 네크인율을 이하의 식으로 정의한다.As shown in FIG. 2, in the process of carrying out N processes, conveying the
네크인율=((W1-W2)/W1)×100Neck-in ratio = ((W1-W2)/W1)×100
본 발명의 일 실시형태에서는, 상기 네크인율을 감시하는 감시 공정을 더 갖는다. 감시 공정에서는, 도 1에 도시된 바와 같이, 반송 중인 필름(2)에 있어서의 복수의 측정 포인트(20)(복수 개소)에서 필름(2)의 폭을 연속적으로 측정한다. 도 1에서는, 필름(2)의 폭의 복수의 측정 포인트(20)를 화살표로 나타내고 있다. 복수의 측정 포인트(20)를 구별하여 설명하는 경우에는, 복수의 측정 포인트(20)를 측정 포인트(201∼2012)라고 칭한다.In one Embodiment of this invention, it further has the monitoring process of monitoring the said neck-in rate. In a monitoring process, as shown in FIG. 1, the width|variety of the
측정 포인트(20)는, 닙 롤(11) 또는 가이드 롤(12)에 감겨진 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트여도 좋고, 또는 닙 롤(11) 또는 가이드 롤(12)에 감겨져 있지 않은 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트여도 좋다. 도 1에 도시된 측정 포인트(20)는 일례이며, 예컨대 측정 포인트(201)는, 닙 롤(111)로부터 송출된 필름(2)의 폭을 측정하는 위치에 있어도 좋고, 측정 포인트(204)는, 가이드 롤(126)에 감겨진 필름(2)(가이드 롤(126) 상의 필름(2))의 폭을 측정하는 위치에 있어도 좋다.The measuring
염색 처리가 필름(2)에 실시되기 전의 측정 포인트(201∼203)는, 닙 롤(11) 또는 가이드 롤(12)에 감겨진 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트인 것이 바람직하다. 한편, 측정 포인트(204) 이후는, 닙 롤(11) 또는 가이드 롤(12)과 필름(2)의 관계는, 통상 한정되지 않는다.It is preferable that the measurement points 20 1 to 203 before the dyeing treatment is performed on the film 2 are points for measuring the width of the
측정 포인트(20)는, 예컨대 N개의 처리 중 하나의 처리가 필름(2)에 실시되기 전후에 배치될 수 있다. 예컨대, 측정 포인트(201)는, 도 1에 있어서 닙 롤(111)에 감겨져 있는 상태 또는 닙 롤(111)로부터 송출된 직후의 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트이고, 팽윤 처리가 실시되기 전의 측정 포인트이다. 측정 포인트(202)는, 가이드 롤(123) 상 또는 가이드 롤(123)로부터 송출된 직후의 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트이다.The measuring
따라서, 측정 포인트(201, 202)는, 팽윤 처리가 필름(2)에 실시되기 전후에 있어서의 필름(2)의 폭의 측정 포인트이다. 이와 같이, 하나의 처리가 행해지기 전후(어떤 처리부의 처리액에 필름이 침지되기 전후)의 측정 포인트는, 그 처리가 행해지는 처리부의 전후의 측정 포인트이기도 하다.Accordingly, the measurement points 20 1 , 20 2 are measurement points of the width of the
이러한 측정 포인트(20)의 다른 예는, 측정 포인트(203, 204), 측정 포인트(205, 207), 측정 포인트(208, 2010), 및 측정 포인트(2011, 2012)이다. 측정 포인트(203, 204), 측정 포인트(205, 207) 및 측정 포인트(208, 2010)는, 팽윤 처리, 염색 처리, 가교 처리 및 세정 처리가 실시되기 전후에 있어서의 필름(2)의 폭의 측정 포인트이다. 측정 포인트(2011, 2012)는, 건조 처리가 실시되기 전후에 있어서의 필름(2)의 폭의 측정 포인트이다.Other examples of such measurement points 20 are
측정 포인트(20)는, 하나의 처리가 필름(2)에 실시되고 있는 공정 동안에 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트여도 좋다. 이러한 측정 포인트(20)의 예는, 측정 포인트(206, 209)이다. 측정 포인트(206)는, 가이드 롤(127)과 가이드 롤(128) 사이에서 필름(2)이 반송되고 있는 도중의 측정 포인트이다. 마찬가지로, 측정 포인트(209)는, 가이드 롤(1210)과 가이드 롤(1211) 사이에서 필름(2)이 반송되고 있는 도중의 측정 포인트이다. 측정 포인트(206, 209)에서는 처리액 중의 필름(2)의 폭이 측정된다.The
감시 공정에서는, 복수의 측정 포인트(20)로부터 미리 선택되어 있는 2개소(상류 개소 및 하류 개소) 각각에 있어서의 필름(2)의 폭을 연속적으로 측정한 측정 결과 중 상기 2개소에 있어서 동일한 타이밍에서(즉, 동시에) 측정된 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출한다. 상기 「동일한 타이밍(즉, 동시에)」은, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 약간의 어긋남이 발생하고 있어도 좋다. 상기 상류 개소에서의 측정 시와 상기 하류 개소의 측정 시의 시간차는, 특별히 한정되지 않으나, 1분 이내 정도여도 좋고, 30초 이내여도 좋으며, 20초 이내여도 좋고, 10초 이내여도 좋다. 감시 공정은, 자동화(오토메이션화)하여 실시하는 것이 바람직하다.In a monitoring process, the same timing in the said two places among the measurement results which measured the width|variety of the
상기 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 상류 개소가 N개의 처리 중 하나의 처리(이하, 「소정 처리」라고 칭함) 전이고, 하류 개소가 상기 소정 처리 후이다. 예컨대, 상기 소정 처리를 염색 처리로 한 경우, 상류 개소가 염색 처리 전이고, 하류 개소가 염색 처리 후이다. 「소정 처리 전」 및 「소정 처리 후」란, 상류 개소와 하류 개소와 상기 「소정 처리」 사이에 다른 처리가 실시되는 경우도 포함한다.In the example of the upstream location and the downstream location, the upstream location is before one of the N treatments (hereinafter referred to as "predetermined treatment"), and the downstream location is after the predetermined treatment. For example, when the predetermined treatment is a dyeing treatment, the upstream portion is before the dyeing treatment, and the downstream portion is after the dyeing treatment. "Before predetermined processing" and "after predetermined processing" include cases in which other processing is performed between an upstream location and a downstream location and the "predetermined processing".
N개의 처리 중 임의의 인접하는 2개의 처리를 제i-1 처리 및 제i 처리(i는 2 이상의 정수)라고 칭하고, 대응하는 처리부를 제i-1 처리부 및 제i 처리부라고 칭한 경우, 상기 상류 개소 및 하류 개소는, 이하의 배치예 1∼3 중 어느 하나여도 좋다.If any two adjacent processes among the N processes are referred to as i-1 th processing and i th processing (i is an integer greater than or equal to 2), and corresponding processing units are referred to as i-1 th processing units and i-th processing units, the upstream Any one of the following arrangement examples 1-3 may be sufficient as a location and a downstream location.
[배치예 1][Arrangement Example 1]
상류 개소가 제i-1 처리 중의 위치(제i-1 처리부의 위치)에 있고 또한 하류 개소가 제i-1 처리(제i-1 처리부)의 위치와 제i 처리(제i 처리부)의 위치 사이에 있. 예컨대, 제i-1 처리가 가교 처리인 경우, 도 1에 도시된 복수의 측정 포인트(20)에 있어서, 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 측정 포인트(206) 및 측정 포인트(207)이다.The upstream point is at a position during the i-1 processing (position of the i-1 processing unit), and the downstream location is the position of the i-1 processing (i-1 processing unit) and the position of the i-th processing (i-th processing unit) be in between For example, when the i-1th process is a crosslinking process, in the plurality of measurement points 20 shown in FIG. 1 , examples of the upstream location and the downstream location are the
[배치예 2][Arrangement Example 2]
상류 개소 및 하류 개소가, 각각 제i-1 처리(제i-1 처리부)의 위치와 제i 처리(제i 처리부)의 위치 사이에 있다. 예컨대, 제i-1 처리가 가교 처리인 경우, 도 1에 도시된 복수의 측정 포인트(20)에 있어서, 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 측정 포인트(207) 및 측정 포인트(208)이다.The upstream location and the downstream location are between the position of the i-1 th processing (i-1 processing unit) and the position of the i th processing (i-th processing unit), respectively. For example, when the i-1th process is a crosslinking process, in the plurality of measurement points 20 shown in FIG. 1 , examples of the upstream location and the downstream location are the
[배치예 3][Arrangement Example 3]
상류 개소가 제i-1 처리(제i-1 처리부) 전의 위치에 있고 또한 하류 개소가 제i-1 처리 중의 위치(제i-1 처리부의 위치)에 있다. 예컨대, 제i-1 처리가 가교 처리인 경우, 도 1에 도시된 복수의 측정 포인트(20)에 있어서, 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 측정 포인트(205) 및 측정 포인트(206)이다.The upstream location is at a position before the i-1 processing (i-1 processing unit), and the downstream location is at a position during the i-1 processing (position of the i-1 processing unit). For example, when the i-1th process is a crosslinking process, in the plurality of measurement points 20 shown in FIG. 1 , examples of the upstream location and the downstream location are the
i를 2 이상의 정수로 하고, 제i 처리의 다음 처리를 제i+1 처리라고 칭하며, 대응하는 처리부를 제i+1 처리부라고 칭한 경우, 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 이하의 배치예 4여도 좋다.When i is an integer of 2 or more, the processing following the i-th processing is called the i+1-th processing, and the corresponding processing unit is called the i+1-th processing unit, examples of the upstream location and the downstream location are the following arrangement example 4 it's good too
[배치예 4][Arrangement Example 4]
상류 개소가 제i-1 처리(제i-1 처리부)의 위치와 제i 처리(제i 처리부)의 위치 사이에 있고, 또한 하류 개소가 제i 처리(제i 처리부)의 위치와 제i+1 처리(제i+1 처리부)의 위치 사이에 있다. 예컨대, 제i-1 처리가 가교 처리인 경우, 도 1에 도시된 복수의 측정 포인트(20)에 있어서, 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 측정 포인트(207) 및 측정 포인트(2010)이다.The upstream location is between the position of the i-1 th processing (i-1 processing unit) and the position of the i th processing (i-th processing unit), and the downstream location is between the position of the i-th processing (i-th processing unit) and the i+ It is between the positions of the 1st process (i+1th processing unit). For example, when the i-1 process is a crosslinking process, in the plurality of measurement points 20 shown in FIG. 1 , examples of the upstream location and the downstream location are the measurement point 207 and the measurement point 20 10 . to be.
상류 개소 및 하류 개소의 세트로서, 예컨대 상류 개소가 측정 포인트(201)이고, 하류 개소가 측정 포인트(208)인 바와 같이, 인접하고 있지 않은 2개의 측정 포인트(20)의 세트를 채용해도 좋다.As a set of the upstream point and the downstream location, for example, the upstream location is the
제조 장치(10)가, 팽윤 처리부(131), 염색 처리부(132), 가교 처리부(133), 세정 처리부(134), 건조 처리부(135) 중 적어도 하나를 복수 갖는 경우, 상류 개소 및 하류 개소가, 각각 동일한 목적의 처리를 행하는 개소여도 좋고, 상이한 목적의 처리를 행하는 개소여도 좋다. 예컨대, 제조 장치(10)가, 팽윤 처리부(131)를 2개 이상 갖고, 2개의 팽윤 처리부(131)를 팽윤 처리부(131-a, 131-b)라고 칭한 경우, 상류 개소가 팽윤 처리부(131-a)의 위치(또는 그 전 혹은 후)에 있고, 하류 개소가 팽윤 처리부(131-b)의 위치(또는 그 전 혹은 후)에 있어도 좋으며, 상류 개소가 팽윤 처리부(131-a) 또는 팽윤 처리부(131-b)의 위치(또는 그 전 혹은 후)에 있고, 하류 개소가 염색 처리부(132)의 위치(또는 그 전 혹은 후)에 있어도 좋다. 연신 처리부가 복수 있는 경우도 마찬가지이다.When the
네크인율은, 복수의 측정 포인트(20)에서 선택되는 상류 개소와 하류 개소의 복수의 세트로 산출되어도 좋다. 예컨대, 측정 포인트(201)에서의 측정 결과와, 측정 포인트(202)에서의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출하고, 또 측정 포인트(205)에서의 측정 결과와 측정 포인트(207)에서의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출해도 좋다. 상류 개소와 하류 개소의 복수의 세트에 있어서, 상류 개소 또는 하류 개소가 공통인 세트가 있어도 좋다. 예컨대, 측정 포인트(201)의 측정 결과와 측정 포인트(202)의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출하고, 또 측정 포인트(201)의 측정 결과와 측정 포인트(204)의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출해도 좋다. 마찬가지로, 측정 포인트(205)의 측정 결과와 측정 포인트(207)의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출하고, 또 측정 포인트(206)의 측정 결과와 측정 포인트(207)의 측정 결과에 기초하여 네크인율을 산출해도 좋다.The neck-in rate may be calculated from a plurality of sets of an upstream location and a downstream location selected from the plurality of measurement points 20 . For example, the neck-in rate is calculated based on the measurement result at the measurement point 20 1 and the measurement result at the
상기 네크인율을 산출하기 위해서, 광학 필름의 제조 장치(10)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 폭 측정기(30)와 산출부(40)를 갖는다.In order to calculate the neck-in ratio, the optical
각 폭 측정기(30)는, 필름(2)의 폭을 연속적으로 측정하는 장치이다. 복수의 폭 측정기(30)는, 복수의 측정 포인트(20)에 1 대 1로 배치된다. 즉, 하나의 측정 포인트(20)에 하나의 폭 측정기(30)가 배치된다. 도 3에서는, 복수의 폭 측정기(30) 중, 네크인율을 산출하기 위해서 선택된 2개의 폭 측정기(30)(즉, 상류 개소에 배치된 상류측 폭 측정기(30UP)와, 하류 개소에 배치된 하류측 폭 측정기(30DOWN))와, 산출부(40)를 모식적으로 도시하고 있다.Each
폭 측정기(30)는, 2개의 단부 검출기(31)를 갖는다. 2개의 단부 검출기(31)의 한쪽은, 필름(2)의 폭 방향에 있어서의 한쪽의 단부(2a)를 검출하는 검출기이고, 다른쪽은, 필름의 폭 방향에 있어서의 다른쪽의 단부(2b)(상기 단부(2a)와 반대측의 단부)를 검출하는 검출기이다. 폭 측정기(30)는, 측정 포인트(20)에 있어서의 필름(2)의 상태에 따라 필름(2)의 단부(2a, 2b)를 검출하도록 구성되어 있다. 그 때문에, 측정 포인트(20)마다 폭 측정기(30)의 구성은 상이해도 좋다. 단, 하나의 폭 측정기(30)가 갖는 2개의 단부 검출기(31)(하나의 측정 포인트(20)에 배치되는 2개의 단부 검출기(31))의 구성은 동일하다.The
도 4는 단부 검출기(31)의 일례인 단부 검출기(31A)의 개략 구성을 설명하기 위한 모식도이다. 단부 검출기(31A)는, 반송 롤(R) 상의 필름(2)의 폭을 측정할 때에 적용되는 검출기이다. 반송 롤(R)은, 도 1에 도시된 닙 롤(11) 또는 가이드 롤(12)이다.4 : is a schematic diagram for demonstrating the schematic structure of the
단부(2a) 및 단부(2b)를 각각 검출하도록 필름(2)에 대해 2개의 단부 검출기(31A)가 배치된다. 전술한 바와 같이 단부 검출기(31A)의 구성은 동일하기 때문에, 단부 검출기(31A)가 단부(2a)를 검출하는 경우를 설명한다.Two
단부 검출기(31A)는, 광 조사부(32)와, 광 검출부(33)를 갖는다. 도 4에서는, 필름(2)이 반송 롤(R) 상에 배치되어 있는 경우를 예시하고 있다.The
광 조사부(32)는, 필름(2)을 향해 광을 조사한다. 광 조사부(32)는, 필름(2)의 단부(2a)와 단부(2a)보다 외측에 광을 조사하도록 구성되어 있다. 따라서, 도 4에 도시된 바와 같이, 반송 롤(R) 상에 필름(2)이 배치되어 있는 경우, 광 조사부(32)로부터의 광은, 반송 롤(R) 중 필름(2)과 겹쳐 있지 않은 부분에도 조사된다. 광 조사부(32)는, 필름(2)의 폭 방향으로 연장된 라인형의 광원일 수 있다. 광 조사부(32)는, 예컨대 LED를 가질 수 있다.The
광 조사부(32)는, 케이스(34) 내에 배치되어 있어도 좋다. 케이스(34)는, 광 조사부(32)로부터 출력된 광을 필름(2)에 조사하기 위해서 창부(34a)를 갖는다. 창부(34a)는, 광 조사부(32)로부터 출력된 광을 투과하는 재료로 구성되어 있으면 된다. 예컨대, 창부(34a)의 재료의 예는, 폴리카보네이트 수지, 아크릴 수지, 염화비닐 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지 및 유리를 포함한다.The
광 검출부(33)는, 광 조사부(32)로부터 필름(2)에 조사된 광이 필름(2)에서 반사된 광(반사광)의 휘도를 검출한다. 광 검출부(33)는, 필름(2)의 적어도 단부(2a)를 촬상하는 카메라(예컨대, CCD 카메라)와 같은 촬상부일 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 반송 롤(R) 상에 필름(2)이 배치되어 있는 경우, 광 검출부(33)는, 광 조사부(32)로부터 필름(2)에 조사된 광 중, 예컨대 반송 롤(R)에서 반사된 광의 휘도도 검출한다.The
광 검출부(33)는, 케이스(35) 내에 배치되어 있어도 좋다. 케이스(35)는, 상기 반사광을 광 검출부(33)로 검출하기 위해서 창부(35a)를 갖는다. 창부(35a)는, 상기 반사광을 투과하는 재료로 구성되어 있으면 된다. 창부(35a)의 재료의 예는 창부(34a)의 경우와 동일하다.The
염색 처리가 필름(2)에 실시되기 전의 측정 포인트(201, 202, 203)는, 통상 반송 롤(R) 상의 필름(2)의 폭을 측정하는 포인트이다. 따라서, 단부 검출기(31A)는, 측정 포인트(201, 202, 203)에서 적합하게 적용된다.The measurement points 20 1 , 20 2 , 20 3 before the dyeing treatment is applied to the
도 5는 단부 검출기(폭 측정기)(31)의 다른 예인 단부 검출기(31B)의 개략 구성을 설명하기 위한 모식도이다. 단부 검출기(31B)는, 필름(2)에, 직선 편광 특성이 발생하고 있는 경우(흡수축이 형성되어 있는 경우)에 적용되는 검출기이다. 통상, 단부 검출기(31B)는, 염색 처리부(132)에 있어서의 염색 처리가 실시된 후의 필름(2)에 대해 적용될 수 있다.5 : is a schematic diagram for demonstrating the schematic structure of the
단부(2a) 및 단부(2b)를 각각 검출하도록 필름(2)에 대해 2개의 단부 검출기(31B)가 배치된다. 그러나, 전술한 바와 같이 단부 검출기(31B)의 구성은 동일하기 때문에, 단부 검출기(31B)가 단부(2a)를 검출하는 경우를 설명한다.Two
단부 검출기(31B)는, 광 검출부(36)와 편광 필터(37)를 갖는다.The
광 검출부(36)는, 필름(2)의 주변 환경에 있어서의 광이 필름(2)에 입사하여, 필름(2)을 투과한 광(이하, 「필름(2)으로부터의 광」이라고 칭함)의 휘도를 검출한다. 광 검출부(36)는, 필름(2)의 적어도 단부(2a)를 촬상하는 카메라(예컨대, CCD 카메라)와 같은 촬상부일 수 있다.The
상기 「필름(2)의 주변 환경의 광」은, 편광 필름(4)을 제조하는 공장에 설치된 조명 기구로부터의 조명광, 상기 조명광이 제조 장치(10)를 구성하는 요소(예컨대, 닙 롤(11) 및 가이드 롤(12)과 같은 반송 롤(R), 도 1에 도시된 각 처리부가 갖는 처리조의 측벽 및 바닥벽 중 적어도 한쪽, 상기 공장의 바닥 등)에 반사한 광 등을 포함한다. 도 5에서는, 필름(2)의 주변 환경의 광을 흰 화살표로 모식적으로 도시하고 있다.The said "light of the surrounding environment of the
편광 필터(37)는, 직선 편광 특성을 갖는 필터이다. 편광 필터(37)는, 광 검출부(36)와 필름(2) 사이에 있어서, 필름(2)의 흡수축과 편광 필터(37)의 흡수축이 크로스니콜 상태가 되도록 배치되어 있다. 상기 크로스니콜 상태란, 필름(2)의 흡수축과 편광 필터(37)의 흡수축이 이루는 각도가 90°인 경우에 한하지 않고, 예컨대 90°에 대해 ±5°, ±10° 또는 15° 정도의 오차를 포함하는 의미이다.The
광 검출부(36) 및 편광 필터(37)는, 광 검출부(33)의 경우와 마찬가지로, 창부(35a)를 갖는 케이스(35) 내에 배치되어도 좋다. 창부(35a)는, 필름(2)으로부터의 광이 투과 가능한 재료이면 된다.The
필름(2)의 주변 환경의 광만을 사용한 경우에 있어서, 광 검출부(36)에서 검출하는 주변 환경으로부터의 광과 필름(2)을 투과한 광의 휘도의 차가 작은 경우, 단부 검출기(31B)는, 보조 조명부(광 조사부)를 가져도 좋다. 보조 조명부의 구성은, 광 조사부(32)의 경우와 동일하게 할 수 있다. 보조 조명부는, 광 조사부(32)보다 소형 또는 광 조사부(32)로부터 출력되는 광의 파워보다 작은 파워의 광을 출력하도록 구성되어 있어도 좋다. 보조 조명부는, 광 조사부(32)의 경우와 마찬가지로, 창부(34a)를 갖는 케이스(34) 내에 배치되어도 좋다. 보조 조명부는, 광 검출부(36)의 검출 영역(혹은 촬상 영역) 및 그 주변의 적어도 한쪽을 조명하고, 보조 조명부로부터의 광이 주변 환경의 광으로서 필름(2)에 입사하도록 배치된다.In the case of using only light from the surrounding environment of the
단부 검출기(31B)는, 반송 롤(R) 상의 필름(2)의 폭을 측정하는 경우에 이용해도 좋다. 단부 검출기(31B)는, 예컨대 측정 포인트(205, 208, 2010)에서의 측정에 이용될 수 있다. 이 경우의 반송 롤(R)은 휘도의 차를 명료화하기 위해서, 백색계의 롤이 바람직하다.You may use the
단부 검출기(31B)는, 반송 롤(R)과 반송 롤(R) 사이의 필름(2)의 폭을 측정하는 경우에 이용해도 좋다. 단부 검출기(31B)는, 예컨대 측정 포인트(204, 206, 207, 209, 2011, 2012)에서의 필름(2)의 폭의 측정에 이용될 수 있다. 이 경우, 휘도의 차를 명료화하기 위해서, 광 검출부(33)의 검출 영역의 배경(혹은 촬상 영역의 배경)에 백색계의 판형의 부재 등을 설치해도 좋다. 2개의 반송 롤(R) 사이의 필름(2)의 폭의 측정에 있어서, 보조 조명부를 사용하는 경우, 보조 조명부는, 필름(2)에 대해 단부 검출기(31B)와 동일한 측에 배치되어도 좋고, 필름(2)에 대해 단부 검출기(31B)와 반대측에 배치되어도 좋다.You may use the
측정 포인트(206, 209)에서의 필름(2)의 폭의 측정의 경우, 단부 검출기(31B)는, 처리액 중의 필름(2)의 폭을 측정한다. 이 경우, 예컨대 단부 검출기(31B)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 창부(35a)를 갖는 케이스(35)를 갖고, 창부(35a)의 부분이 처리액 중에 위치하도록 케이스(35)가 배치되어도 좋다. 창부(35a)의 부분이 처리액 중에 배치되는 경우, 창부(35a)의 외면은 친수성 처리, 요철 가공 및 경사 가공 중 적어도 한쪽이 실시되어 있어도 좋다. 이에 의해, 예컨대 창부(35a)의 외면에 기포가 체류하기 어렵기 때문에, 필름(2)의 단부(2a)를 정확히 검출하기 쉽다. 처리액 중의 필름(2)의 폭의 측정에 있어서, 보조 조명부를 사용하는 경우, 예컨대 보조 조명부는, 필름(2)에 대한 처리가 행해지는 처리조의 바닥벽을 조명해도 좋다. 이 경우, 보조 조명부로부터 조사되고, 상기 처리조의 바닥벽에서 반사되어, 필름(2)을 투과한 투과광의 휘도가 편광 필터(37)를 통해 광 검출부(36)에서 검출된다.In the case of measurement of the width of the film 2 at the measurement points 206 , 209 , the
단부 검출기(31B)가 갖는 편광 필터(37)는, 예컨대 필름(2)에의 광의 입사측에 배치되어도 좋다. 예컨대, 단부 검출기(31B)가 보조 조명부(광 조사부)를 갖는 경우, 편광 필터(37)는, 편광 필터(37)은, 광 검출부(33)가 아니라, 보조 조명부와, 필름(2) 사이에 배치되어도 좋다. 이 경우도, 편광 필터(37)는, 필름(2)과 크로스니콜 상태로 배치된다.The
도 3∼도 5에 도시된 산출부(40)는, 복수의 폭 측정기(30)(상류 개소 및 하류 개소에 배치된 폭 측정기(30))에 유선 또는 무선으로 접속되어 있고, 복수의 폭 측정기(30)로부터 취득한 측정 결과에 기초하여, 상기 네크인율을 산출한다.The
구체적으로는, 산출부(40)는, 복수의 폭 측정기(30)의 측정 결과에 기초하여 각 폭 측정기(30)의 배치 개소에 있어서의 필름(2)의 단부(2a) 및 단부(2b)를 판정한다. 단부(2a) 및 단부(2b)는, 폭 측정기(30)의 측정 결과인 휘도 데이터에 있어서의 변화로 판정될 수 있다.Specifically, the
예컨대, 도 4에 도시된 바와 같이, 단부 검출기(31A)를 포함하는 폭 측정기(30)에 의해, 반송 롤(R) 상에 필름(2)이 배치되어 있는 필름(2)의 폭을 측정하는 경우, 광 검출부(33)는, 필름(2)으로부터의 반사광과 반송 롤(R)로부터의 반사광의 휘도를 검출한다. 필름(2)으로부터의 반사광의 휘도와 반송 롤(R)로부터의 반사광의 휘도에는 차가 발생하기 때문에, 산출부(40)는, 그 차가 발생하고 있는 개소를 필름(2)의 단부(2a, 2b)라고 판정하면 된다.For example, as shown in FIG. 4 , by a
예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이, 단부 검출기(31B)를 포함하는 폭 측정기(30)에 의해, 필름(2)의 폭을 측정하는 경우, 편광 필터(37)와 필름(2)은 크로스니콜 상태이기 때문에, 필름(2)으로부터의 광은 실질적으로 차단되는 한편, 필름(2) 이외로부터의 광은 검출된다. 그 때문에, 광 검출부(36)에서 검출된 휘도 데이터로 형성되는 상에서는, 필름(2)과 필름(2) 이외의 개소에서 휘도의 차가 발생하기(필름(2)측이 어둡고, 필름(2) 이외가 밝음) 때문에, 산출부(40)는, 그 차가 발생하고 있는 개소를 필름(2)의 단부(2a, 2b)라고 판정하면 된다.For example, as shown in FIG. 5 , when the width of the
필름(2)의 단부(2a, 2b)가 특정되면, 산출부(40)는, 예컨대 단부 검출기(31A)(또는 단부 검출기(31B))의 배치 위치와, 검출된 휘도 데이터에 있어서의 단부(2a, 2b)의 위치와의 관계로부터 필름(2)의 폭을 산출한다. 단부 검출기(31A)(또는 단부 검출기(31B))에서 얻어진 휘도 데이터로부터 예컨대 반송 롤(R)의 단부를 특정할 수 있는 경우에는, 휘도 데이터에 있어서의 반송 롤(R)의 단부와 필름(2)의 단부(2a, 2b)의 위치와의 관계 및 실제의 반송 롤(R)의 단부의 위치로부터 필름(2)의 폭을 산출한다.When the
다음으로, 산출부(40)는, 복수의 측정 포인트(20) 중에서 미리 선택되어 있는 상류 개소 및 하류 개소에 각각 배치된 2개의 폭 측정기(30)(상류측 폭 측정기(30UP) 및 하류측 폭 측정기(30DOWN))의 측정 결과에 기초하여 산출된 필름(2)의 폭을 이용하여, 네크인율을 산출한다. 상류 개소 및 하류 개소의 예는, 전술한 바와 같다.Next, the
상기 편광 필름(4)의 제조 방법 및 편광 필름(4)의 제조 장치(10)에서는, 필름(2)의 폭을, 복수의 측정 포인트(20)(복수 개소) 각각에 배치된 폭 측정기(30)로 측정한다. 이에 의해, 필름(2)을 반송하면서, 필름(2)의 폭을 연속적으로 측정할 수 있다. 또한, 복수의 측정 포인트(20)에서 연속적으로 측정된 필름(2)의 폭 중, 상류 개소 및 하류 개소에 있어서 동일한 타이밍에서 측정된 필름(2)의 폭의 측정 결과에 기초하여, 네크인율을 산출한다. 그 때문에, 필름(2)의 반송 중에, 실시간으로 필름(2)의 네크인율이 얻어진다. 즉, 네크인율을 효율적으로 측정할 수 있다. 환언하면, 실시간으로 네크인율을 감시할 수 있다.In the manufacturing method of the said polarizing film 4, and the
네크인율은, 필름(2)의 폭의 변화율을 나타내고 있다. 따라서, 예컨대 폭 측정을 행한 개소에 있어서, 예비 실험 또는 시뮬레이션 등으로 얻어지는 네크인율의 허용 범위(네크인율의 관리 폭)를 초과하면, 예컨대 후공정에서 필름(2)이 파단되거나, 필름(2)의 두께가 원하는 두께(설계상의 두께)로부터 어긋나거나, 원하는 광학 특성이나 줄무늬, 얼룩 등의 외관이 뒤떨어지는 불량품으로서의 필름이 제조되거나 하는 경우가 있다.The neck-in rate represents the rate of change of the width of the
그 때문에, 실시간으로 네크인율을 감시할 수 있는 상기 편광 필름(광학 필름)(4)의 제조 방법 및 편광 필름(4)의 제조 장치(10)에서는, 네크인율이 허용 범위를 초과한 경우에, 예컨대 편광 필름(4)의 제조를 중단할 수 있다. 제조를 중단한 경우에는, 네크인율이 허용 범위가 되도록, 편광 필름(4)의 제조 조건의 조정(예컨대, 처리액의 조정, 연신 처리 조건의 조정 등)을 행하면 된다. 또한, 예컨대 네크인율이 허용 범위가 되도록 조정하면서 제조를 계속할 수도 있다. 이에 따라, 전술한 후공정에서의 필름(2)의 파단을 방지하거나, 상기 불량품이 되는 편광 필름(4)의 제조를 억제하거나 할 수 있다. 그 때문에, 안정된 공정으로 편광 필름(4)을 제조할 수 있다. 또한, 품질이 안정된 편광 필름(4)을 균일하게 제조할 수 있다. 또한, 편광 필름(4)의 재료 비용을 저감할 수 있다. 또한, 양품의 편광 필름(광학 필름)(4)을 효율적으로 제조할 수 있기 때문에, 편광 필름(4)의 제조 수율이 향상된다.Therefore, in the manufacturing method of the said polarizing film (optical film) 4 which can monitor a neck-in rate in real time, and the
필름(2)의 폭은, 필름(2)에 N개의 처리 중 적어도 하나가 실시됨으로써 변화하기 쉽다. 그 때문에, 전술한 바와 같이, 상류 개소가, N개의 처리 중 소정 처리 전이고, 하류 개소가 소정 처리 후인 경우, 편광 필름(4)의 제조에 있어서의 문제점(예컨대, 후공정에서의 필름(2)의 파단, 필름(2)의 원하는 두께로부터의 어긋남 등)에 기여하는 네크인율을 감시하기 쉽다.The width of the
동일한 이유에 의해, 전술한 배치예 1∼4의 경우에도, 편광 필름(4)의 제조에 있어서의 문제점에 기여하는 네크인율을 감시하기 쉽다. 예컨대, 배치 상태에 있어서, 어떤 처리의 전 혹은 후의 상태의 변화, 그 처리에 기인하는 상태의 변화, 또는 그 처리 도중에서의 상태의 변화가 네크인율에 영향을 주고 있는 것을 특정할 수 있다. 그 때문에, 네크인율이 허용 범위에서 벗어나 있는 경우에, 제조 조건의 조정을 행하기 쉽다.For the same reason, it is easy to monitor the neck-in rate contributing to the malfunction in manufacture of the polarizing film 4 also in the case of arrangement examples 1-4 mentioned above. For example, in the batch state, it is possible to specify that a change in state before or after a certain process, a change in state resulting from the process, or a change in state in the middle of the process affects the neck-in rate. Therefore, when the neck-in rate is out of an allowable range, it is easy to adjust manufacturing conditions.
그 결과, 편광 필름(4)의 재료 비용을 더욱 저감할 수 있음과 동시에, 편광 필름(4)의 제조 수율을 한층 더 향상시킬 수 있다. 또한, 보다 안정된 공정으로, 품질이 한층 더 안정된 편광 필름(4)을 균일하게 제조할 수 있다.As a result, while being able to further reduce the material cost of the polarizing film 4, the manufacturing yield of the polarizing film 4 can be improved further. Moreover, by a more stable process, quality can manufacture the still more stable polarizing film 4 uniformly.
측정 포인트(201)에서 필름(2)의 폭을 측정하는 경우(N개의 처리가 실시되기 전)에는, 필름(2)에는 예컨대 직선 편광 특성이 발생하고 있지 않다. 따라서, 필름(2)은, 통상 흡수축을 갖지 않는 투명 필름이다. 이 경우, 도 4에 도시된 단부 검출기(31A)를 갖는 폭 측정기(30)를 이용하여, 반송 롤(R) 상의 필름(2)의 단부(2a, 2b)를 검출함으로써, 필름(2)의 단부(2a, 2b)를 확실히 검출할 수 있다. 그 결과, 필름(2)의 폭을, 보다 정확히 측정할 수 있다. 여기서는, 측정 포인트(201)의 경우를 예시하여 설명하였으나, 측정 포인트(202, 203)에서도 마찬가지로, 도 4에 도시된 단부 검출기(31A)를 갖는 폭 측정기(30)를 이용하여, 필름(2)의 단부(2a, 2b)를 확실히 검출할 수 있다.In the case of measuring the width of the
필름(2)에 염색 처리 및 연신 처리가 실시되면, 필름(2)에 직선 편광 특성이 부여된다. 필름(2)이 반송되는 경우, 필름(2)의 반송 방향을 따라 필름(2)에 텐션이 부여된다. 그 때문에, 필름(2)을 반송하면서, 팽윤 처리, 염색 처리, 가교 처리 및 건조 처리 중 어느 하나에서 연신 처리가 서서히 실시되는 경우, 염색 처리 후의 필름(2)에 서서히 직선 편광 특성이 부여된다. 또한, 도 1에 도시된 바와 같이 건조 처리는, 통상 N개의 처리의 마지막에 실시된다. 그 때문에, 염색 처리 및 연신 처리가 실시된 후에, 필름(2)의 폭을 측정하는 경우에는, 도 5에 도시된 단부 검출기(31B)를 갖는 폭 측정기(30)를 이용함으로써, 필름(2)의 폭을 확실히 검출할 수 있다. 그 결과, 필름(2)의 폭을, 보다 정확히 측정할 수 있다.When the
도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 폭 측정기(30)가 케이스(34, 35)를 구비하는 형태에서는, 광 조사부(32) 및 광 검출부(33, 36)의 요오드에 의한 부식을 방지할 수 있다. 편광 필름(4)의 제조에는, 요오드를 포함하는 처리액을 사용하기 때문에, 제조 환경에는, 요오드가 존재하여, 예컨대 광 검출부(33, 36) 등을 부식시킨다. 이에 대해, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 광 조사부(32) 및 광 검출부(33, 36)를 케이스(34, 35) 내에 배치함으로써, 상기 요오드에 의한 부식을 방지할 수 있다. 케이스(34, 35) 내는 에어를 공급하는 등 하여 양압화(陽壓化)해 두는 것이 바람직하다.As shown in FIGS. 4 and 5 , in the form in which the
이상 설명한 실시형태와 함께, 여러 가지 변형예를 설명하였다. 그러나, 본 발명은 상기 실시형태 및 여러 가지 변형예에 한정되는 것은 아니며, 특허청구의 범위에 의해 나타나고, 특허청구의 범위와 균등의 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.In conjunction with the embodiment described above, various modifications have been described. However, this invention is not limited to the said embodiment and various modified examples, It is shown by a claim, and it is intended that the meaning of a claim and equivalent and all the changes within the range are included.
광학 필름으로서 편광 필름을 제조하는 경우를 예시하였다. 그러나, 본 발명은 필름으로부터 광학 필름을 제조하는 과정에 있어서 네크인율의 감시가 필요한 광학 필름의 제조 방법 및 제조 장치에 적용할 수 있다. 광학 필름의 다른 예는, 보호 필름, 위상차 필름, 표면 처리 필름, 반사 방지 필름 및 확산 필름을 포함한다.The case of manufacturing a polarizing film as an optical film was illustrated. However, the present invention can be applied to a method and apparatus for manufacturing an optical film requiring monitoring of the neck-in rate in the process of manufacturing an optical film from the film. Other examples of the optical film include a protective film, a retardation film, a surface treatment film, an antireflection film, and a diffusion film.
도 5에 도시된 단부 검출기(31B)를 갖는 폭 측정기는, N개의 처리가 염색 처리 및 연신 처리를 포함하는 경우에, 상류 개소가, 염색 처리 및 연신 처리가 실시된 필름의 폭을 측정하는 개소인 경우에 적합하게 적용할 수 있다. 이 경우, 상류 개소에서 필름의 폭을 측정할 때에, 필름에 직선 편광 특성이 발생하고 있는 경향이 있기 때문이다. 필름을 반송하면서 N개의 처리를 실시하는 경우, 전술한 바와 같이, 필름에 서서히 연신 처리가 실시된다. 따라서, 단부 검출기(31B)를 갖는 폭 측정기는, 상류 개소가, 염색 처리가 실시된 필름의 폭을 측정하는 개소인 경우에도, 적합하게 적용할 수 있다.The width measuring device having the
필름(2)의 폭의 측정 방법은, 예시한 방법에 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 레이저식 변위계, LED식 변위계 등의 측정 기기로 폭을 측정해도 좋다. 필름(2) 전체를 카메라 등으로 촬영하여, 얻어진 화상으로부터 폭을 산출해도 좋다. 도 3에 도시된 바와 같이, 필름(2)의 단부(2a, 2b)의 위치를 취득하는 방법에서는, 필름(2)의 단부(2a, 2b) 각각에 단부(2a, 2b)의 위치를 측정하는 장치를 배치하면 되기 때문에, 설치 스페이스나 기기 관리(보수 점검 등)의 관점에서 바람직하다.The measuring method of the width|variety of the
연신 처리부에 있어서의 연신 처리는, 습식의 연신 방법에 한하지 않고, 건식의 연신 방법이 채용되어도 좋다. 전술한 실시형태에 있어서, 편광 필름을 제조하기 위해서 예시한 처리의 순서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절히 변경 또는 조합되어도 좋다. 각 처리부가 갖는 처리조의 수는, 하나여도 좋고, 복수여도 좋다. N개의 처리는, 예시한 처리의 수에 한정되지 않는다.The extending|stretching process in an extending|stretching part is not limited to the wet extending|stretching method, A dry extending|stretching method may be employ|adopted. In the above-mentioned embodiment, the order of the process illustrated in order to manufacture a polarizing film may be suitably changed or combined in the range which does not deviate from the meaning of this invention. One may be sufficient as the number of the processing tank which each processing part has, and multiple may be sufficient as it. The N processes are not limited to the number of exemplified processes.
필름의 폭의 변화율(네크인율)의 정의는, 상류 개소와 하류 개소 사이의 필름의 폭의 변화율이 나타나 있으면, 예시한 정의에 한정되지 않는다.The definition of the change rate (neck-in rate) of the width of a film will not be limited to the definition illustrated as long as the rate of change of the width of a film between an upstream location and a downstream location is shown.
상기 실시형태 및 여러 가지 변형예는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절히 조합되어도 좋다. The above-described embodiment and various modifications may be appropriately combined within a range not departing from the spirit of the present invention.
2: 필름
4: 편광 필름(광학 필름)
10: 제조 장치
11: 닙 롤(반송 기구)
12: 가이드 롤(반송 기구)
20: 측정 포인트(복수 개소)
30: 폭 측정기
30UP: 상류측 폭 측정기
30DOWN: 하류측 폭 측정기
32: 광 조사부
33: 광 검출부(촬상부)
36: 광 검출부(촬상부)2: film
4: Polarizing film (optical film)
10: manufacturing device
11: nip roll (conveying mechanism)
12: guide roll (conveying mechanism)
20: measurement point (plural points)
30: width gauge
30 UP : Upstream side width measuring device
30 DOWN : downstream width measuring instrument
32: light irradiation unit
33: light detection unit (imaging unit)
36: light detection unit (imaging unit)
Claims (22)
상기 N개의 처리는, 상기 필름을 반송하면서 행해지고,
상기 반송 중에, 복수 개소 각각에서, 상기 필름의 폭을 연속적으로 측정하며, 상기 복수 개소에서 선택되는 2개소 중 상류 개소에 있어서의 측정 결과 및 하류 개소에 있어서의 측정 결과 중 동일한 타이밍에서 얻어진 측정 결과에 기초하여, 상기 필름의 폭의 변화율을 산출하는 광학 필름의 제조 방법.A method of manufacturing an optical film by subjecting a long film to N treatments (N is an integer greater than or equal to 1),
The N treatments are performed while conveying the film,
During the conveyance, the width of the film is continuously measured at each of the plurality of locations, and the measurement result obtained at the same timing among the measurement result at the upstream location and the measurement result at the downstream location among two locations selected from the plurality of locations Based on, the manufacturing method of the optical film which computes the change rate of the width|variety of the said film.
상기 하류 개소는 상기 하나의 처리가 실시된 후의 위치에 있는 것인 광학 필름의 제조 방법.The method according to claim 1, wherein the upstream location is at a position before one of the N treatments is performed,
The manufacturing method of the optical film whose said downstream location exists in the position after said one process was performed.
상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있고, 또한 상기 하류 개소가 상기 제i 처리의 위치와 상기 제i+1 처리의 위치 사이에 있는 것인 광학 필름의 제조 방법.The method according to claim 1 or 2, wherein the N processes include i-1 th processing, i th processing, and i+1 th processing (i is an integer of 2 or more),
the upstream location is between the position of the i-1th treatment and the position of the i-th treatment, and the downstream location is between the position of the i-th treatment and the position of the i+1th treatment. manufacturing method.
상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리 중의 위치에 있고 또한 상기 하류 개소가 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있거나,
상기 상류 개소 및 상기 하류 개소가 각각 상기 제i-1 처리의 위치와 상기 제i 처리의 위치 사이에 있거나, 또는
상기 상류 개소가 상기 제i-1 처리 전의 위치에 있고 또한 상기 하류 개소가 상기 제i-1 처리 중의 위치에 있는 것인 광학 필름의 제조 방법.The method according to claim 1 or 2, wherein the N processes include i-1 th processing and i th processing (i is an integer greater than or equal to 2),
the upstream location is at a position during the i-1 processing and the downstream location is between the location of the i-1 processing and the position of the i-th processing;
the upstream location and the downstream location are respectively between the position of the i-1 th treatment and the position of the i th treatment, or
The manufacturing method of the optical film whose said upstream location exists in the position before the said i-1 process, and the said downstream location exists in the position during the said i-1 process.
상기 반송 롤 상의 상기 필름에 상기 광을 조사하고, 상기 광의 조사에 의해 발생하는 상기 필름 및 상기 반송 롤의 반사광의 휘도의 차에 기초하여, 상기 필름의 단부를 검출함으로써, 상기 필름에 있어서의 상기 폭을 측정하는 것인 광학 필름의 제조 방법.The film according to any one of claims 1 to 6, wherein the film is conveyed by a conveying roll,
By irradiating the light to the film on the conveyance roll, and detecting an edge portion of the film based on the difference in luminance of the reflected light of the film and the conveying roll generated by the irradiation of the light, the above in the film A method of manufacturing an optical film, wherein the width is measured.
상기 필름을 반송하는 반송 기구와,
상기 반송 기구 상의 복수 개소에 배치되어 있고, 상기 복수 개소 각각에서, 상기 반송 기구로 반송 중인 상기 필름의 폭을 연속적으로 측정하는 복수의 폭 측정기와,
상기 복수의 폭 측정기에서 선택되는 2개의 폭 측정기 중 상류측 폭 측정기의 측정 결과와, 하류측 폭 측정기의 측정 결과 중 동일한 타이밍에서 얻어진 측정 결과에 기초하여, 상기 필름의 폭의 변화율을 산출하는 산출부
를 구비하는 광학 필름의 제조 장치.N processing units (N is an integer greater than or equal to 1) for performing a process for imparting at least optical properties to the film;
a conveying mechanism for conveying the film;
a plurality of width measuring devices disposed at a plurality of locations on the conveying mechanism and continuously measuring the width of the film being conveyed by the conveying mechanism at each of the plurality of locations;
Calculation for calculating the rate of change of the width of the film based on the measurement result obtained at the same timing among the measurement result of the upstream width measurement device and the measurement result of the downstream width measurement device among the two width measurement devices selected from the plurality of width measurement devices wealth
A manufacturing apparatus for an optical film comprising a.
상기 하류측 폭 측정기는 상기 하나의 처리부 뒤에 배치되어 있는 것인 광학 필름의 제조 장치.13. The method of claim 12, wherein the upstream width measurer is disposed in front of one of the N processing units;
and the downstream width measuring device is disposed behind the one processing unit.
상기 상류측 폭 측정기는 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있으며,
상기 하류측 폭 측정기는 상기 제i 처리부와 상기 제i+1 처리부 사이에 배치되어 있는 것인 광학 필름의 제조 장치.The method according to claim 12 or 13, wherein the N processing units include an i-1th processing unit, an i-th processing unit, and an i+1th processing unit (i is an integer greater than or equal to 2),
The upstream width measuring device is disposed between the i-1th processing unit and the i-th processing unit,
The downstream width measuring device is an optical film manufacturing apparatus disposed between the i-th processing unit and the i+1-th processing unit.
상기 상류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부의 위치에 배치되어 있고 또한 상기 하류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있거나,
상기 상류측 폭 측정기 및 상기 하류측 폭 측정기가 각각 상기 제i-1 처리부와 상기 제i 처리부 사이에 배치되어 있거나, 또는
상기 상류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부 앞에 배치되어 있고 또한 상기 하류측 폭 측정기가 상기 제i-1 처리부의 위치에 배치되어 있는 것인 광학 필름의 제조 장치.The method according to claim 12 or 13, wherein the N processing units include an i-1 th processing unit and an i th processing unit (i is an integer of 2 or more),
the upstream-side width measuring device is disposed at the position of the i-1th processing unit, and the downstream-side width measuring device is disposed between the i-1 th processing unit and the i-th processing unit;
the upstream side width measuring device and the downstream side width measuring device are respectively disposed between the i-1 th processing unit and the i th processing unit, or
The apparatus for producing an optical film, wherein the upstream width measuring device is disposed in front of the i-1 processing unit, and the downstream side width measuring device is disposed at the position of the i-1 processing unit.
상기 광 조사부는 상기 반송 롤 상의 상기 필름에 광을 조사하며,
상기 복수의 폭 측정기 중 적어도 하나의 폭 측정기는, 상기 반송 롤 상의 상기 필름에의 상기 광 조사부로부터의 광에 의해 발생하는 상기 필름 및 상기 반송 롤의 반사광의 휘도의 차에 기초하여, 상기 필름의 폭을 측정하는 것인 광학 필름의 제조 장치.19. The method of claim 18, wherein the conveying mechanism has a conveying roll;
The light irradiation unit irradiates light to the film on the conveyance roll,
At least one width measurer among the plurality of width measurers is, based on the difference in luminance of the reflected light of the film and the carrier roll generated by the light from the light irradiating unit to the film on the conveyance roll, the thickness of the film An apparatus for manufacturing an optical film that measures the width.
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