KR20210079717A - Apparatus for drop weight test and control method thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a falling weight test device, comprising: a sensor unit including a sensor for detecting movement of a test piece transfer arm, a sensor for detecting the seating of the test piece on a test bench, a sensor for detecting opening/closing of a chamber door, and a sensor for detecting an opening/closing interval of the test bench; a driving unit for adjusting the movement of the test piece transfer arm, opening and closing of the chamber door, and opening and closing intervals of the test bench in a motor or hydraulic manner according to control of a control unit; and a control unit for automatically performing a falling weight test by placing a test piece drawn out in units of one test piece from the chamber through the driving unit on the test bench based on the sensing information detected through the sensor unit and controlling a falling weight device.

Description

낙중 시험 장치 및 그 제어 방법{APPARATUS FOR DROP WEIGHT TEST AND CONTROL METHOD THEREOF}Fall weight test apparatus and its control method {APPARATUS FOR DROP WEIGHT TEST AND CONTROL METHOD THEREOF}

본 발명은 낙중 시험 장치 및 그 제어 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 시험편을 저온 챔버에서 낙중 시험 작업대로 자동 이송하여 낙중 시험을 자동 수행할 수 있도록 함으로써, 안전하고 일관적인 낙중 시험이 가능하게 하는, 낙중 시험 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a drop test apparatus and a method for controlling the same, and more particularly, by automatically transferring a test piece from a low temperature chamber to a drop test workbench to automatically perform the drop test, thereby enabling a safe and consistent drop test. , to a falling weight test device and a control method therefor.

일반적으로 낙중(Drop Weight)시험은 무거운 추를 지정된 높이에서 낙하시켜 그 타격에 의해 발생한 시험편의 손상정도에 따라 재료의 결함 유무를 판단하는 시험을 의미한다. In general, the drop weight test refers to a test to determine the presence or absence of defects in the material according to the degree of damage to the specimen caused by the blow by dropping a heavy weight from a specified height.

예컨대 용접부에 실시하는 낙중 시험으로서 NRL(Naval Research Laboratory) 낙중시험이 대표적이다. 상기 NRL 시험은 시험대상재(또는 시험편)의 무연성천이온도를 구하는 시험으로서, 시험대상재의 파괴거동은 분위기가 저온으로 갈수록 연성에서 취성으로 바뀌게 되는데, 연성에서 취성으로 변환되는 시험대상재의 온도를 찾기 위한 것이 NRL 시험의 목적이다. 따라서 NRL 시험은 필연적으로 시험대상재를 저온에서 시험하는 것이 필수적이다. For example, the NRL (Naval Research Laboratory) drop test is a typical example of a drop test performed on a weld. The NRL test is a test to obtain the non-ductile transition temperature of the test material (or test piece), and the fracture behavior of the test material changes from ductile to brittle as the atmosphere lowers. To find out is the purpose of the NRL exam. Therefore, in the NRL test, it is inevitably essential to test the test material at a low temperature.

예컨대 시험대상재를 저온 챔버에서 정해진 시험온도에서 20분 이상 유지시켰다가 낙중 시험기로 시험하게 되며, 이 과정에서 저온 챔버에서 시험대상재를 꺼내어 낙중 시험대로 이송하는 작업은 수작업으로 진행된다. 그런데 저온냉매에 침지되어 있던 시험대상재를 수작업으로 이송시키는 작업은 위험이 수반되는 작업이며, 특히 고니켈강과 같은 극저온용 시험대상재의 경우 저온 분위기가 -196도에 이르는 극저온에 침지시켰다가 이송하여야 하기 때문에 작업의 위험성이 크며 일관된 시험작업이 이루어지기 어려운 문제점이 있다.For example, the test object is maintained at a predetermined test temperature in a low temperature chamber for more than 20 minutes and then tested with a drop tester. In this process, the test object is taken out from the low temperature chamber and transferred to the drop weight test bench manually. However, the operation of manually transferring the test object immersed in the low-temperature refrigerant is a risky operation. In particular, in the case of cryogenic test materials such as high nickel steel, the low-temperature atmosphere must be immersed in a cryogenic temperature of -196 degrees before transfer. Therefore, there is a problem in that the risk of work is high and it is difficult to perform consistent test work.

본 발명의 배경기술은 대한민국 등록특허 제10-1899717호(2018.09.11. 등록, 낙중 시험장치)에 개시되어 있다. The background technology of the present invention is disclosed in Republic of Korea Patent Registration No. 10-1899717 (Registered on September 11, 2018, falling weight test apparatus).

본 발명의 일 측면에 의하면, 본 발명은 시험편을 저온 챔버에서 낙중 시험 작업대로 자동 이송하여 낙중 시험을 자동 수행할 수 있도록 함으로써, 안전하고 일관적인 낙중 시험이 가능하게 하는, 낙중 시험 장치 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.According to one aspect of the present invention, the present invention enables a safe and consistent drop test by automatically transferring a test piece from a low-temperature chamber to a drop test workbench to automatically perform a drop test, and a drop test apparatus and control thereof to provide a way

본 발명의 일 측면에 따른 낙중 시험 장치는, 시험편 이송암의 이동을 감지하기 위한 센서, 시험편의 시험대 안착을 검출하기 위한 센서, 챔버 도어 개폐를 감지하기 위한 센서, 및 시험대의 개폐 간격을 감지하기 위한 센서를 포함하는 센서부; 제어부의 제어에 따라, 모터 또는 유압 방식으로, 상기 시험편 이송암의 이동, 상기 챔버 도어의 개폐, 및 시험대의 개폐 간격을 조정하는 구동부; 및 센서부를 통해 검출된 센싱 정보에 기초하여 상기 구동부를 통해 챔버에서 하나의 시험편 단위로 인출한 시험편을 시험대 위에 올려놓고 낙중장치를 제어하여 낙중 시험을 자동으로 실시하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A drop weight test apparatus according to an aspect of the present invention includes a sensor for detecting the movement of a test piece transfer arm, a sensor for detecting the seating of the test piece on a test bench, a sensor for detecting opening and closing of a chamber door, and an opening/closing interval of the test bench. a sensor unit including a sensor for; a driving unit for adjusting the movement of the test piece transfer arm, opening and closing of the chamber door, and opening/closing interval of the test bench according to the control of the controller; and a control unit that automatically performs a falling weight test by placing a test piece drawn out in units of one test piece from the chamber through the driving unit on the test bench based on the sensing information detected through the sensor unit and controlling the falling weight device. do.

본 발명에 있어서, 상기 낙중 시험 장치는, 시험편에 충돌체를 낙하시켜 충돌시키는 낙하수단에 해당하는 낙중장치; 시험편을 올려놓고 시험편이 움직이지 않도록 고정하는 지그에 해당하는 시험대; 시험편을 침지시키기 위한 저온냉매 저장 수단에 해당하는 챔버; 및 상기 챔버의 상부와 상기 시험대의 하부 사이에 위치하며, 낙중장치의 충돌체 낙하 시 낙하 충격이 챔버에 전달되지 않도록 방지하는 낙중장치 받침대;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, the drop test apparatus includes: a drop weight apparatus corresponding to a falling means for crashing by dropping a colliding body on a test piece; A test bench corresponding to a jig on which a test piece is placed and fixed so that the test piece does not move; a chamber corresponding to a low-temperature refrigerant storage means for immersing the test piece; And it is located between the upper part of the chamber and the lower part of the test bench, and the dropping device pedestal for preventing the falling impact from being transmitted to the chamber when the impact body of the falling weight device falls.

본 발명의 다른 측면에 따른 낙중 시험 장치의 제어 방법은, 낙중 시험 장치의 제어부가 챔버에 장입되어 냉각된 시험편을 시험편 이송암1을 이용해 시험대로 이송시키는 단계; 상기 제어부가 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계; 상기 시험편이 시험대에 안착 완료되면, 상기 제어부가 낙중 장치의 충돌체를 시험체에 낙중시켜 낙중 시험을 실시하는 단계; 상기 낙중 시험이 완료되어 시험편이 제거되면, 상기 제어부가 챔버 내에 있는 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료되었는지 체크하는 단계; 및 아직 시험할 시험편이 남아 있을 경우, 챔버 내의 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료될 때까지, 챔버 내의 모든 시험편을 시험편 단위로 시험대에 이송시켜 안착시킨 후 낙중 시험을 반복 수행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method of controlling a drop weight test apparatus according to another aspect of the present invention includes: transferring the cooled test piece to the test bench using the test piece transfer arm 1 by a control unit of the drop weight test apparatus; placing the test piece on the test bench by the control unit; when the test piece is completely seated on the test bench, performing a drop test by the control unit dropping the impact body of the falling weight device onto the test body; When the drop test is completed and the test piece is removed, the control unit checks whether all tests on all the test pieces in the chamber are completed; And if there is still a test piece to be tested, until all the test pieces in the chamber are completed, transfer all the test pieces in the chamber to the test bench unit by test piece and place them on the test bench, and then repeat the falling weight test; characterized in that

본 발명에 있어서, 상기 시험편을 시험편 이송암1을 이용해 시험대로 이송시키기 위하여, 상기 제어부는, 챔버 도어를 열고 시험대 간격을 벌리고, 시험편 이송암1을 거상시켜 시험편 받침대 위에 놓여 있는 시험편을 시험대의 상부까지 밀어 올린 다음, 시험대의 간격을 지정된 위치까지 좁히고, 시험편 이송암1을 완전히 하강시켜 챔버 내부로 들어가게 한 후, 챔버 도어를 닫는 것을 특징으로 한다.In the present invention, in order to transfer the test piece to the test bench using the test piece transfer arm 1, the control unit opens the chamber door, widens the test bench interval, raises the test piece transfer arm 1, and transfers the test piece placed on the test piece support to the upper part of the test bench. After pushing up the test bench to the specified position, the test specimen transfer arm 1 is completely lowered to enter the chamber, and then the chamber door is closed.

본 발명에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계에서, 상기 제어부는, 시험대에 설치된 복수의 센서를 통해 시험편이 정상적으로 시험대에 형성된 홈부에 안착되는 것을 감지하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the step of seating the test piece on the test bench, the control unit detects that the test piece is normally seated in a groove formed on the test bench through a plurality of sensors installed on the test bench.

본 발명에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계는, 상기 제어부가, 시험편이 정상적으로 시험대의 홈부에 안착될 때까지 시험대의 개폐 간격을 좁히는 것을 특징으로 한다.In the present invention, the step of seating the test piece on the test bench is characterized in that the control unit narrows the opening/closing interval of the test bench until the test piece is normally seated in the groove of the test bench.

본 발명에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키기 위하여, 시험편 받침대에 복수의 시험편이 상하 일렬로 놓여 있는 방식인 경우, 상기 제어부가, 상기 시험편의 가장 하부에 위치하고 있는 시험편 이송암1의 상승 높이를 조정하여 하나의 시험편만 시험기 모루에 안착시키도록 제어하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the case of a method in which a plurality of test pieces are placed in a vertical line on a test piece pedestal in order to seat the test piece on the test bench, the control unit determines the rise height of the test piece transfer arm 1 located at the bottom of the test piece It is characterized by controlling so that only one specimen is seated on the anvil of the testing machine by adjusting.

본 발명에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키기 위하여, 시험편 받침대에 복수의 시험편이 좌우 일렬로 놓여 있는 방식인 경우, 상기 제어부가, 시험편 이송암2를 통해 시험편을 밀어 가장 끝에 위치한 하나의 시험편이 지정된 위치에 놓이게 하고, 상기 시험편 이송암1을 상승시켜 상기 지정된 위치에 있는 하나의 시험편을 밀어 올려 시험기 모루에 안착시키도록 제어하되, 상기 시험편 이송암2는 상기 시험편의 가장 우측이나 가장 좌측에 위치하며, 상기 시험편 이송암1은 상기 시험편의 가장 우측이나 가장 좌측의 하부에 위치하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the case of a method in which a plurality of test pieces are placed in a row on the test piece pedestal in order to seat the test piece on the test bench, the control unit pushes the test piece through the test piece transfer arm 2, and one test piece located at the end is It is placed in a designated position, and the test piece transfer arm 1 is raised to push up one test piece in the designated position and control it to be seated on the anvil of the testing machine, but the test piece transfer arm 2 is located on the rightmost or leftmost side of the test piece And, the test piece transfer arm 1 is characterized in that it is located at the rightmost or leftmost lower part of the test piece.

본 발명의 일 측면에 의하면, 본 발명은 시험편을 저온 챔버에서 낙중 시험 작업대로 자동 이송하여 낙중 시험을 자동 수행할 수 있도록 함으로써, 안전하고 일관적인 낙중 시험이 가능하게 하는 효과가 있다.According to one aspect of the present invention, the present invention has the effect of enabling a safe and consistent drop weight test by automatically transferring a test piece from a low temperature chamber to a drop weight test workbench so that the drop weight test can be performed automatically.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 낙중 시험 장치의 개략적인 구성을 보인 예시도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 낙중 시험 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 3 내지 도 4는 상기 도 2에 있어서, 낙중 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 예시도.
도 5는 상기 도 2에 있어서, 낙중 시험 장치의 시험편 이송 동작을 설명하기 위한 예시도. 1 is an exemplary view showing a schematic configuration of a falling weight test apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a flow chart for explaining a control method of the falling weight test apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 to 4 are exemplary views for explaining the operation of the falling weight test apparatus in FIG. 2 .
5 is an exemplary view for explaining a test piece transfer operation of the falling weight test apparatus in FIG. 2 .

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 낙중 시험 장치 및 그 제어 방법의 일 실시예를 설명한다. Hereinafter, an embodiment of a falling weight test apparatus and a method for controlling the same according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation. In addition, the terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to the intention or custom of the user or operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the content throughout this specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 낙중 시험 장치의 개략적인 구성을 보인 예시도이다.1 is an exemplary view showing a schematic configuration of a falling weight test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 낙중 시험 장치는, 입력부(110), 제어부(120), 센서부(130), 및 구동부(140)를 포함한다.1 , the falling weight test apparatus according to the present embodiment includes an input unit 110 , a control unit 120 , a sensor unit 130 , and a driving unit 140 .

상기 입력부(110)는 낙중 시험 장치의 동작을 제어하기 위한 적어도 하나 이상의 기능 버튼(미도시)을 포함한다. 예컨대 상기 기능 버튼(미도시)은 낙중 시험 장치의 동작 중 사용자의 제어 명령을 반영하기 위한 매뉴얼 버튼이다.The input unit 110 includes at least one function button (not shown) for controlling the operation of the falling weight test apparatus. For example, the function button (not shown) is a manual button for reflecting a user's control command during the operation of the falling weight test apparatus.

상기 제어부(120)는 상기 입력부(110)를 통해 입력된 사용자의 제어 명령, 및 센서부(130)를 통해 검출된 센싱 정보에 기초하여 낙중 시험 장치의 전반적인 동작(즉, 낙중 시험을 위한 동작)을 제어한다.The control unit 120 controls the overall operation of the falling weight test apparatus based on the user's control command input through the input unit 110 and sensing information detected through the sensor unit 130 (ie, the operation for the falling weight test). to control

상기 제어부(120)는 시험편의 이송을 위한 구동부(예 : 이송암)를 제어한다.The control unit 120 controls a driving unit (eg, a transfer arm) for transferring the test piece.

상기 센서부(130)는 시험편 이송암(예 : 이송암1, 이송암2)의 이동을 감지하기 위한 센서, 시험편의 시험대(즉, 시험기 모루) 안착을 검출하기 위한 센서, 챔버 도어 개폐를 감지하기 위한 센서, 및 시험대의 개폐 간격을 감지하기 위한 센서를 포함한다.The sensor unit 130 is a sensor for detecting the movement of the test piece transfer arm (eg, transfer arm 1, transfer arm 2), a sensor for detecting the seating of the test specimen (ie, the test anvil) of the test piece, and detects opening and closing of the chamber door and a sensor for detecting the opening/closing interval of the test bench.

상기 구동부(140)는, 상기 제어부(120)의 제어에 따라, 모터 또는 유압 방식으로, 시험편 이송을 위한 이송암의 이동, 시험편이 침지되어 있는 챔버(예 : 저온 챔버) 도어의 개폐, 및 시험기 모루(예 : 시험편을 올려놓는 지그)의 간격을 조정한다.The driving unit 140, under the control of the control unit 120, by a motor or hydraulic method, movement of the transfer arm for transferring the test piece, opening and closing of the door of the chamber (eg, low-temperature chamber) in which the test piece is immersed, and the tester Adjust the spacing of the anvil (eg, the jig for placing the specimen).

도 1에서 설명이 생략된 낙중장치는 시험편에 충돌체(미도시)를 낙하시켜 충돌시키는 낙하수단에 해당하며, 모루(또는 시험대)는 시험편을 올려놓고 시험편이 움직이지 않도록 고정하는 지그에 해당하며, 챔버(예 : 저온 챔버)는 시험편(또는 시험대상재)을 침지시키기 위한 저온냉매 저장 수단(예 : 수조)에 해당하며, 상기 챔버의 상부와 모루(또는 시험대)의 하부 사이에 위치하며 낙중장치의 낙하 시 낙하 충격이 챔버에 전달되지 않도록 하는 낙중장치 받침대(즉, 지지대)에 해당한다.The falling weight device, which is not described in FIG. 1, corresponds to a falling means for crashing a colliding body (not shown) on the test piece, and the anvil (or test bench) corresponds to a jig that puts the test piece on it and fixes the test piece so that it does not move, The chamber (eg, low-temperature chamber) corresponds to a low-temperature refrigerant storage means (eg, water tank) for immersing the test piece (or the test subject), and is located between the upper part of the chamber and the lower part of the anvil (or test bench) and is a falling weight device. It corresponds to the pedestal of the falling weight device (ie, the support) that prevents the impact of the drop from being transmitted to the chamber during the fall.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 낙중 시험 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.2 is a flowchart illustrating a control method of a falling weight test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 시험(즉, 낙중시험)이 시작되면, 제어부(120)는 챔버에 시험편을 장입하고(S101) 냉각 기능을 온(ON)시켜 시험편을 냉각 시킨다(S102).Referring to FIG. 2 , when the test (ie, falling weight test) starts, the control unit 120 charges the test piece into the chamber (S101) and turns on the cooling function to cool the test piece (S102).

상기 시험편의 냉각은 지정된 냉각 조건이 만족할 때까지 계속되며(S103의 아니오, S102), 지정된 냉각 조건이 만족되면(S103의 예), 상기 제어부(120)는 시험편을 시험대(즉, 시험기 모루)로 이송(즉, 이송1)시켜(S104), 시험대에 시험편을 안착시킨다(S107).The cooling of the test piece continues until the specified cooling condition is satisfied (No in S103, S102), and when the specified cooling condition is satisfied (Yes in S103), the control unit 120 transfers the test piece to the test bench (ie, the anvil of the testing machine). Transfer (ie, transfer 1) (S104), and seat the test piece on the test bench (S107).

도 3 내지 도 4는 상기 도 2에 있어서, 낙중 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 예시도로서, 상기 제어부(120)가 상기 시험편을 시험대로 이송(즉, 이송1)시키기 위하여, 도 3의 (a)와 (c)에 도시된 바와 같이, 챔버 도어(자동 개폐 도어)를 열고, 도 3의 (b)와 (d)에 도시된 바와 같이 시험편 이송암1을 거상시켜 시험편 받침대 위에 놓여 있는 시험편(즉, 냉각된 시험편)을 챔버의 외부 상부로 밀어 올린다. 이때 상기 제어부(120)는 상기 시험편 이송암1을 시험편 단위로 밀어 올린다. 도 3의 (b)는 복수의 시험편이 시험편 받침대 위에 놓여 있는 것을 보인 예시도이고, 도 3의 (d)는 하나의 시험편이 시험편 받침대 위에 놓여 있는 것을 보인 예시도이다. 3 to 4 are exemplary views for explaining the operation of the falling weight test apparatus in FIG. 2, in which the controller 120 transfers the test piece to the test bench (ie, transfer 1), in FIG. 3 ( As shown in a) and (c), the chamber door (automatic opening/closing door) is opened, and as shown in (b) and (d) of FIG. 3, the specimen transfer arm 1 is raised and the specimen placed on the specimen stand. (i.e., the cooled specimen) is pushed up to the outer upper part of the chamber. At this time, the control unit 120 pushes up the test piece transfer arm 1 in units of the test piece. Figure 3 (b) is an exemplary view showing that a plurality of test pieces are placed on the test piece stand, Figure 3 (d) is an exemplary view showing that one test piece is placed on the test piece stand.

도 4를 참조하여 좀 더 구체적으로 설명하면, 도 4의 (a)와 같이 챔버 내의 시험편 받침대 위에 하나의 시험편이 놓여 있다고 가정할 때, 도 4의 (b)와 같이 상기 제어부(120)는 챔버 도어를 열고 시험기 모루의 간격을 벌리고, 도 4의 (c)와 같이 상기 제어부(120)는 시험편 이송암1을 거상시켜 시험편 받침대 위에 놓여 있는 시험편을 시험기 모루의 상부까지 밀어 올린 다음, 도 4의 (d)와 같이 상기 제어부(120)는 시험기 모루의 간격을 지정된 위치(즉, 시험편이 시험기 모루의 상부에 안착되고, 시험편 이송암1은 시험기 모루의 밑으로 빠져나갈 수 있는 공간을 형성할 수 있는 위치)까지 좁히고, 도 4의 (e)와 같이 상기 제어부(120)는 시험편 이송암1을 완전히 하강시켜 챔버 내부로 들어가게 한 후, 도 4의 (f)와 같이 상기 제어부(120)는 챔버 도어를 닫는다. 4, when it is assumed that one test piece is placed on the test piece pedestal in the chamber as shown in FIG. 4(a), as shown in FIG. 4(b), the controller 120 controls the chamber The door is opened and the distance between the anvils of the testing machine is widened, and as shown in FIG. 4(c), the control unit 120 raises the test piece transfer arm 1 to push up the test piece placed on the test piece support to the upper part of the anvil of the testing machine, and then, as shown in FIG. As shown in (d), the control unit 120 sets the interval between the anvils of the testing machine at a designated location (that is, the test piece is seated on the upper part of the anvil of the testing machine, and the test piece transfer arm 1 can form a space to escape under the anvil of the testing machine. position), and as shown in FIG. 4(e), the control unit 120 lowers the specimen transfer arm 1 completely to enter the chamber, and then, as shown in FIG. 4(f), the control unit 120 controls the chamber. Close the door.

이때 상기 챔버 도어는 단순히 덮개의 역할만 할 수도 있고 낙중장치 받침대(또는 지지대)의 역할까지 겸용할 수도 있다.In this case, the chamber door may simply serve as a cover or may also serve as a support for the fall weight device.

상기 시험편의 안착은 시험편이 정상적으로 시험기 모루에 형성된 홈부에 안착(예 : 모루에 설치된 센서를 통해 시험편 안착 완료가 감지될 때까지) 완료시까지 계속되며(S108의 아니오, S107), 시험대(즉, 시험기 모루)에 시험편 안착이 정상적으로 완료되면(S108의 예), 상기 제어부(120)는 낙중 장치의 충돌체(미도시)를 낙중시켜 시험(즉, 낙중 시험)을 실시한다(S109).The seating of the test piece is continued until the test piece is placed in the groove normally formed in the anvil of the testing machine (for example, until the completion of the setup of the test piece is detected through a sensor installed in the anvil) (No in S108, S107), and the test bench (that is, the testing machine) When the test piece seating on the anvil) is normally completed (YES in S108), the control unit 120 performs a test (ie, a falling weight test) by dropping a collision body (not shown) of the falling weight device (S109).

한편 상기 도 4의 (d) 및 (e)에서 상기 제어부(120)는 시험편이 정상적으로 시험기 모루에 안착(예 : 모루에 설치된 센서를 통해 시험편 안착 완료가 감지)될 때까지 모루의 간격을 좁힌다.Meanwhile, in FIGS. 4 (d) and (e), the control unit 120 narrows the gap between the anvils until the test piece is normally seated on the anvil of the testing machine (eg, completion of the test piece seating is detected through a sensor installed on the anvil). .

상기 시험(즉, 낙중 시험)이 완료되어 시험편이 제거되면(S110), 상기 제어부(120)는 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료되었는지 체크하고(S111), 아직 시험할 시험편이 남아 있을 경우(S111의 아니오), 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료될 때까지 상기 S107 내지 S110 단계를 반복 수행한다.When the test (ie, falling weight test) is completed and the test piece is removed (S110), the control unit 120 checks whether all tests for all test pieces are completed (S111), and if there are still test pieces to be tested (S111) of No), repeat steps S107 to S110 until all tests for all specimens are completed.

한편 상기 제어부(120)는 챔버의 시험편의 시험대로 이송 후(S104), 챔버 내에 잔여 시험편이 남아 있을 경우(S105의 예), 챔버내의 시험편을 지정된 위치(즉, 시험편을 시험대로 이동할 수 있도록 지정된 위치)로 이송(즉, 이송2) 시킨 후(S106), 챔버 내에 더 이상 시험편이 없을 때까지 상기 S102 단계 내지 S104 단계를 반복 수행한다.On the other hand, when the control unit 120 transfers the test piece in the chamber to the test bench (S104), and if the remaining test piece remains in the chamber (Yes in S105), the control unit 120 moves the test piece in the chamber to a designated position (that is, to move the test piece to the test bed) position) (ie, transfer 2) (S106), and repeat steps S102 to S104 until there are no more specimens in the chamber.

도 5는 상기 도 2에 있어서, 낙중 시험 장치의 시험편 이송 동작을 설명하기 위한 예시도이다. 5 is an exemplary view for explaining a test piece transfer operation of the falling weight test apparatus in FIG. 2 .

도 5의 (a) 내지 (c)는 시험편 받침대에 복수의 시험편이 상하 일렬로 놓여 있고, 상기 시험편의 가장 하부에 시험편 이송암1이 위치하고 있다가, 상기 시험편을 시험기 모루에 올려놓기 위하여, 상기 시험편 이송암1의 상승 거리(또는 높이)를 조정하여 하나의 시험편만 시험기 모루에 안착시키는 방식이다.5 (a) to (c) shows that a plurality of test pieces are placed in a vertical line on the test piece support, and the test piece transfer arm 1 is located at the bottom of the test piece, and in order to put the test piece on the anvil of the testing machine, This is a method in which only one specimen is seated on the anvil of the testing machine by adjusting the lifting distance (or height) of the specimen transfer arm 1.

도 5의 (d) 내지 (f)는 시험편 받침대에 복수의 시험편이 좌우 일렬로 놓여 있고, 상기 시험편의 가장 우측(또는 좌측)에 시험편 이송암2가 위치하고 있으며, 상기 시험편의 가장 우측(또는 좌측)의 하부에 시험편 이송암1이 위치하고 있다가, 상기 시험편을 시험기 모루에 올려놓기 위하여, 상기 시험편 이송암2가 시험편을 밀어 가장 끝에 위치한 하나의 시험편이 지정된 위치(즉, 시험편 이송암1의 위치)에 놓이게 하고, 상기 시험편 이송암1이 상승하여 상기 지정된 위치에 있는 하나의 시험편을 밀어 올려 시험기 모루에 안착시키는 방식이다.5 (d) to (f) shows that a plurality of test pieces are placed in a left and right line on the test piece support, the test piece transfer arm 2 is located on the most right (or left) side of the test piece, and the rightmost (or left side) of the test piece ), the specimen transfer arm 1 is positioned at the lower part, and in order to place the specimen on the anvil of the testing machine, the specimen transfer arm 2 pushes the specimen to the designated position (that is, the position of the specimen transfer arm 1) ), and the test piece transfer arm 1 rises to push up one test piece at the designated position and seat it on the anvil of the testing machine.

상기와 같이 본 실시예는 시험편을 저온 챔버에서 낙중 시험 작업대로 자동 이송하여 낙중 시험을 자동 수행할 수 있도록 함으로써, 안전하고 일관적인 낙중 시험이 가능하게 하는 효과가 있다.As described above, this embodiment has the effect of enabling a safe and consistent drop weight test by automatically transferring the test piece from the low temperature chamber to the drop weight test workbench to automatically perform the drop weight test.

이상으로 본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다. 또한 본 명세서에서 설명된 구현은, 예컨대, 방법 또는 프로세스, 장치, 소프트웨어 프로그램, 데이터 스트림 또는 신호로 구현될 수 있다. 단일 형태의 구현의 맥락에서만 논의(예컨대, 방법으로서만 논의)되었더라도, 논의된 특징의 구현은 또한 다른 형태(예컨대, 장치 또는 프로그램)로도 구현될 수 있다. 장치는 적절한 하드웨어, 소프트웨어 및 펌웨어 등으로 구현될 수 있다. 방법은, 예컨대, 컴퓨터, 마이크로프로세서, 집적 회로 또는 프로그래밍 가능한 로직 디바이스 등을 포함하는 프로세싱 디바이스를 일반적으로 지칭하는 프로세서 등과 같은 장치에서 구현될 수 있다. 프로세서는 또한 최종-사용자 사이에 정보의 통신을 용이하게 하는 컴퓨터, 셀 폰, 휴대용/개인용 정보 단말기(personal digital assistant: "PDA") 및 다른 디바이스 등과 같은 통신 디바이스를 포함한다.As described above, the present invention has been described with reference to the embodiment shown in the drawings, but this is merely exemplary, and various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom by those of ordinary skill in the art. will understand the point. Therefore, the technical protection scope of the present invention should be defined by the following claims. Also, the implementations described herein may be implemented as, for example, a method or process, an apparatus, a software program, a data stream, or a signal. Although discussed only in the context of a single form of implementation (eg, discussed only as a method), implementations of the discussed features may also be implemented in other forms (eg, as an apparatus or program). The apparatus may be implemented in suitable hardware, software and firmware, and the like. A method may be implemented in an apparatus such as, for example, a processor, which generally refers to a computer, a microprocessor, a processing device, including an integrated circuit or programmable logic device, or the like. Processors also include communication devices such as computers, cell phones, portable/personal digital assistants (“PDAs”) and other devices that facilitate communication of information between end-users.

110 : 입력부
120 : 제어부
130 : 센서부
140 : 구동부110: input unit
120: control unit
130: sensor unit
140: drive unit

Claims (8)

시험편 이송암의 이동을 감지하기 위한 센서, 시험편의 시험대 안착을 검출하기 위한 센서, 챔버 도어 개폐를 감지하기 위한 센서, 및 시험대의 개폐 간격을 감지하기 위한 센서를 포함하는 센서부;
제어부의 제어에 따라, 모터 또는 유압 방식으로, 상기 시험편 이송암의 이동, 상기 챔버 도어의 개폐, 및 시험대의 개폐 간격을 조정하는 구동부; 및
센서부를 통해 검출된 센싱 정보에 기초하여 상기 구동부를 통해 챔버에서 하나의 시험편 단위로 인출한 시험편을 시험대 위에 올려놓고 낙중장치를 제어하여 낙중 시험을 자동으로 실시하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치.
a sensor unit including a sensor for detecting the movement of the test piece transfer arm, a sensor for detecting the seating of the test piece on the test bench, a sensor for detecting opening/closing of the chamber door, and a sensor for detecting an opening/closing interval of the test bench;
a driving unit for adjusting the movement of the test piece transfer arm, opening and closing of the chamber door, and opening/closing interval of the test bench according to the control of the controller; and
Based on the sensing information detected through the sensor unit, a control unit that automatically performs a falling weight test by placing a test piece drawn out in units of one test piece from the chamber through the driving unit on the test bench and controlling the falling weight device; characterized in that it comprises a drop test device.
 제 1항에 있어서, 상기 낙중 시험 장치는,
시험편에 충돌체를 낙하시켜 충돌시키는 낙하수단에 해당하는 낙중장치;
시험편을 올려놓고 시험편이 움직이지 않도록 고정하는 지그에 해당하는 시험대;
시험편을 침지시키기 위한 저온냉매 저장 수단에 해당하는 챔버; 및
상기 챔버의 상부와 상기 시험대의 하부 사이에 위치하며, 낙중장치의 충돌체 낙하 시 낙하 충격이 챔버에 전달되지 않도록 방지하는 낙중장치 받침대;를 포함하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치.
According to claim 1, wherein the falling weight test device
a drop weight device corresponding to a falling means for dropping a colliding body on a test piece to collide;
A test bench corresponding to a jig on which a test piece is placed and fixed so that the test piece does not move;
a chamber corresponding to a low-temperature refrigerant storage means for immersing the test piece; and
Drop weight test apparatus comprising a; located between the upper portion of the chamber and the lower portion of the test bench, and preventing the drop shock from being transmitted to the chamber when the impact body of the drop weight apparatus falls.
 낙중 시험 장치의 제어부가 챔버에 장입되어 냉각된 시험편을 시험편 이송암1을 이용해 시험대로 이송시키는 단계;
상기 제어부가 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계;
상기 시험편이 시험대에 안착 완료되면, 상기 제어부가 낙중 장치의 충돌체를 시험체에 낙중시켜 낙중 시험을 실시하는 단계;
상기 낙중 시험이 완료되어 시험편이 제거되면, 상기 제어부가 챔버 내에 있는 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료되었는지 체크하는 단계; 및
아직 시험할 시험편이 남아 있을 경우, 챔버 내의 모든 시험편에 대한 시험이 모두 완료될 때까지, 챔버 내의 모든 시험편을 시험편 단위로 시험대에 이송시켜 안착시킨 후 낙중 시험을 반복 수행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
transferring the cooled test piece into the chamber by the control unit of the falling weight test apparatus using the test piece transfer arm 1 to the test bench;
placing the test piece on the test bench by the control unit;
when the test piece is completely seated on the test bench, performing a drop weight test by the control unit dropping the impact body of the falling weight device onto the test body;
When the drop test is completed and the test piece is removed, the control unit checks whether all tests on all the test pieces in the chamber are completed; and
If there are still specimens to be tested, until all specimens in the chamber are tested, transfer all specimens in the chamber to the test bench in units of specimens and place them on the test bench, and then repeat the falling weight test. A control method of a falling weight test device, characterized in that.
 제 3항에 있어서, 상기 시험편을 시험편 이송암1을 이용해 시험대로 이송시키기 위하여,
상기 제어부는,
챔버 도어를 열고 시험대 간격을 벌리고, 시험편 이송암1을 거상시켜 시험편 받침대 위에 놓여 있는 시험편을 시험대의 상부까지 밀어 올린 다음, 시험대의 간격을 지정된 위치까지 좁히고, 시험편 이송암1을 완전히 하강시켜 챔버 내부로 들어가게 한 후, 챔버 도어를 닫는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
The method of claim 3, wherein in order to transfer the test piece to the test bench using the test piece transfer arm 1,
The control unit is
Open the chamber door, widen the distance between the test benches, raise the test piece transfer arm 1 to push the test piece placed on the test piece stand up to the top of the test bench, narrow the gap between the test benches to the specified position, and completely lower the test piece transfer arm 1 into the chamber. After entering the chamber, the control method of the drop test apparatus, characterized in that closing the chamber door.
 제 3항에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계에서,
상기 제어부는,
시험대에 설치된 복수의 센서를 통해 시험편이 정상적으로 시험대에 형성된 홈부에 안착되는 것을 감지하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
4. The method of claim 3, wherein in the step of seating the test piece on a test bench,
The control unit is
A control method for a falling weight test apparatus, characterized in that it detects that the test piece is normally seated in a groove formed on the test bench through a plurality of sensors installed on the test bench.
 제 3항에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키는 단계는,
상기 제어부가,
시험편이 정상적으로 시험대의 홈부에 안착될 때까지 시험대의 개폐 간격을 좁히는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
According to claim 3, wherein the step of seating the test piece on the test bench,
the control unit,
A control method for a falling weight test apparatus, characterized in that the opening and closing interval of the test bench is narrowed until the specimen is normally seated in the groove of the test bench.
 제 3항에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키기 위하여,
시험편 받침대에 복수의 시험편이 상하 일렬로 놓여 있는 방식인 경우,
상기 제어부가,
상기 시험편의 가장 하부에 위치하고 있는 시험편 이송암1의 상승 높이를 조정하여 하나의 시험편만 시험기 모루에 안착시키도록 제어하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
The method of claim 3, wherein in order to seat the test piece on the test bench,
In the case of a method in which a plurality of specimens are placed in a line up and down on the specimen stand,
the control unit,
A control method of a falling weight test apparatus, characterized in that by adjusting the elevation height of the test piece transfer arm 1 located at the lowest part of the test piece, controlling so that only one test piece is seated on the anvil of the testing machine.
 제 3항에 있어서, 상기 시험편을 시험대에 안착시키기 위하여,
시험편 받침대에 복수의 시험편이 좌우 일렬로 놓여 있는 방식인 경우,
상기 제어부가
시험편 이송암2를 통해 시험편을 밀어 가장 끝에 위치한 하나의 시험편이 지정된 위치에 놓이게 하고, 상기 시험편 이송암1을 상승시켜 상기 지정된 위치에 있는 하나의 시험편을 밀어 올려 시험기 모루에 안착시키도록 제어하되,
상기 시험편 이송암2는 상기 시험편의 가장 우측이나 가장 좌측에 위치하며,
상기 시험편 이송암1은 상기 시험편의 가장 우측이나 가장 좌측의 하부에 위치하는 것을 특징으로 하는 낙중 시험 장치의 제어 방법.
The method of claim 3, wherein in order to seat the test piece on the test bench,
In the case of a method in which a plurality of specimens are placed in a row on the specimen stand,
the control unit
The test piece is pushed through the test piece transfer arm 2 so that one test piece located at the end is placed at the designated position, and the test piece transfer arm 1 is raised to push up one test piece at the designated position to be seated on the anvil of the testing machine,
The test piece transfer arm 2 is located on the rightmost or leftmost side of the test piece,
The test piece transfer arm 1 is a control method of a drop weight test apparatus, characterized in that located in the lower right or left most of the test piece.
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