KR20210015472A - Circuit redundancy system and method - Google Patents

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KR20210015472A
KR20210015472A KR1020190094364A KR20190094364A KR20210015472A KR 20210015472 A KR20210015472 A KR 20210015472A KR 1020190094364 A KR1020190094364 A KR 1020190094364A KR 20190094364 A KR20190094364 A KR 20190094364A KR 20210015472 A KR20210015472 A KR 20210015472A
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processing unit
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KR1020190094364A
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최원석
김재현
조영기
황인서
김희수
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엘아이지넥스원 주식회사
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Abstract

According to one embodiment of the present invention, disclosed are a circuit duplexing system and a method thereof. The circuit duplexing system includes: a first circuit module storing a program for operating a subject, and operating the subject by executing a program with power applied from a power supply part; a second circuit module storing the program, and pre-operating the subject by executing the program with power applied from the power supply part when the first circuit module malfunctions; and a malfunction handling part connected to the first and second circuit modules, and sensing the malfunction of the first circuit module to cut off the power applied to the first circuit module and apply the power to the second circuit module. Therefore, the present invention is capable of stably operating the subject while minimizing the consumption of power.

Description

회로 이중화 시스템 및 방법{CIRCUIT REDUNDANCY SYSTEM AND METHOD}Circuit redundancy system and method {CIRCUIT REDUNDANCY SYSTEM AND METHOD}

본 발명은 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit redundancy system and method for redundant circuits that operate an object.

일반적으로, 비행체와 같은 대상체는 조종사의 조종력에 의하여 비행이 이루어지는 일반 비행체와 조종사의 조종력에 의존하지 않는 무인 비행체로 구분될 수 있다. 무인 비행체는 지상국, 항공, 선박 등의 이동국에서 보내는 무선 신호에 의해 제어될 수 있다.In general, an object such as a vehicle may be classified into a general vehicle in which flight is performed by the pilot's control power and an unmanned vehicle that does not depend on the pilot's control power. The unmanned aerial vehicle can be controlled by radio signals sent from mobile stations such as ground stations, aviation, and ships.

높은 신뢰성을 요구하는 대상체는 작동 장치를 2중으로 구성하고 고장 진단을 수행하여 작동 장치 각각의 고장에 대한 고장 여유를 갖도록 설계되고 있다. 하드웨어적인 방법으로 작동 장치를 2중으로 구성하는 경우, 작동 장치 간의 작동 결과 측정값을 비교하여 고장에 대처할 수 있다.An object requiring high reliability is designed to have a fault margin for each failure of the operating device by configuring the operating device in duplicate and performing fault diagnosis. When the operating device is configured in duplicate by a hardware method, it is possible to cope with a failure by comparing the measured values of the operation result between the operating devices.

한편, 대상체의 작동 장치는 프로그램을 저장하고 프로그램을 실행하여 대상체(즉, 작동 장치)를 작동시키는 회로 모듈을 포함하고 있다. 이 회로 모듈에 고장이 발생하는 경우 대상체를 정상적으로 작동시킬 수 없으므로, 회로 모듈을 2중으로 구성하는 것이 요구되고 있다.Meanwhile, the operating device of the object includes a circuit module that stores a program and executes the program to operate the object (ie, the operating device). When a failure occurs in the circuit module, the object cannot be operated normally, and thus it is required to configure the circuit module in duplicate.

본 발명은 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈의 고장 시에 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하여 대상체를 예비 작동시키는 회로 이중화 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.The present invention can provide a circuit redundancy system and method for preliminary operation of an object by cutting off power applied to a first circuit module and applying power to a second circuit module when a first circuit module operating an object fails. .

또한, 본 발명은 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈의 고장 시에 제1 회로 모듈의 작동과 연관된 파라미터 정보에 기초하여 제2 회로 모듈을 이용하여 대상체를 연속적으로 예비 작동시키는 회로 이중화 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.In addition, the present invention provides a circuit redundancy system and method for continuously preliminary operation of an object using a second circuit module based on parameter information associated with the operation of the first circuit module when a first circuit module operating the object fails. Can provide.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템은, 대상체를 작동시키기 위한 프로그램을 저장하고, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈; 프로그램을 저장하고, 제1 회로 모듈의 고장시에 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈; 및 제1 회로 모듈 및 제2 회로 모듈에 연결되고, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하는 고장 처리부를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a circuit redundancy system for redundant circuits for operating an object is disclosed. A circuit redundancy system according to an embodiment includes: a first circuit module that stores a program for operating an object and operates the object by executing a program by power applied from a power supply; A second circuit module for pre-operating the object by storing the program and executing the program by power applied from the power supply when the first circuit module fails; And a failure processing unit connected to the first circuit module and the second circuit module, detecting a failure of the first circuit module, cutting off power applied to the first circuit module, and applying power to the second circuit module. .

일 실시예에 있어서, 고장 처리부는, 전원 공급부를 제1 회로 모듈 또는 제2 회로 모듈에 연결시키는 전원 릴레이부; 전원 릴레이부로부터 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력하는 전원 감지부; 및 전원 감지부로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈의 고장에 대응하여 제2 회로 모듈을 작동시키기 위한 제어 신호를 출력하는 프로세서를 포함할 수 있다.In an embodiment, the failure processing unit includes: a power relay unit connecting the power supply unit to the first circuit module or the second circuit module; A power detection unit detecting power applied to the first circuit module from the power relay unit and outputting a detection signal; And a processor that determines whether the first circuit module has a failure based on a detection signal output from the power detection unit, and outputs a control signal for operating the second circuit module in response to the failure of the first circuit module. have.

일 실시예에 있어서, 전원 감지부는, 전원 릴레이부로부터 제1 회로 모듈에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 전류값을 포함하는 감지 신호를 출력할 수 있다.In an embodiment, the power detection unit may detect a current value of power applied to the first circuit module from the power relay unit, and may output a detection signal including the current value.

일 실시예에 있어서, 프로세서는, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교하고, 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제어 신호를 출력할 수 있다.In one embodiment, the processor compares a current value included in the detection signal with a first preset threshold value for determining whether the first circuit module has failed, and when it is determined that the current value is greater than or equal to the first threshold value, the processor controls You can output a signal.

일 실시예에 있어서, 프로세서는, 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교하고, 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 제어 신호를 출력할 수 있다.In an embodiment, the processor compares a current value included in the detection signal with a second preset threshold value that is smaller than the first threshold value for determining whether the first circuit module has failed, and the current value is If it is determined that it is less than the threshold value, a control signal may be output.

일 실시예에 있어서, 제어 신호는, 전원 릴레이부를 제어하여 전원 공급부와 제1 회로 모듈의 연결을 해제하고 전원 공급부를 제2 회로 모듈에 연결시키기 위한 제1 제어 신호; 및 제2 회로 모듈을 제어하여 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호를 포함할 수 있다.In an embodiment, the control signal includes: a first control signal for controlling the power relay unit to disconnect the power supply unit from the first circuit module and connect the power supply unit to the second circuit module; And a second control signal for pre-operating the object by controlling the second circuit module.

일 실시예에 있어서, 고장 처리부는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성할 수 있다.In an embodiment, the failure processing unit may generate failure occurrence information indicating that a failure has occurred in the first circuit module.

일 실시예에 있어서, 고장 처리부는 고장 발생 정보를 표시하는 표시부를 더 포함할 수 있다.In an embodiment, the failure processing unit may further include a display unit displaying information on occurrence of a failure.

일 실시예에 있어서, 프로세서는, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하고, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 전원 릴레이부를 제어하여 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결하기 위한 제3 제어 신호를 출력할 수 있고, 전원 릴레이부는 제3 제어 신호에 기초하여 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결할 수 있다.In one embodiment, the processor determines whether the power supply has been switched from a turned-off state to a turned-on state, and when it is determined that the power supply is switched from a turn-off state to a turn-on state and power is resupplied, the power supply The relay unit may be controlled to output a third control signal for connecting the power supply unit to the first circuit module, and the power relay unit may connect the power supply unit to the first circuit module based on the third control signal.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 프로그램을 저장하는 제1 회로 모듈, 프로그램을 저장하는 제2 회로 모듈 및 고장 처리부를 포함하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 방법은, 제1 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계; 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈에 인가되는 전원에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계; 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈의 고장에 따라 전원 공급부와 제1 회로 모듈의 연결을 해제시키고, 전원 공급부를 제2 회로 모듈에 연결하는 단계; 및 제2 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a circuit redundancy method in a circuit redundancy system including a first circuit module storing a program, a second circuit module storing a program, and a failure processing unit is disclosed. A circuit redundancy method according to an embodiment includes, in a first circuit module, operating an object by executing a program by power applied from a power supply unit; Detecting, in a failure processing unit, a failure of the first circuit module based on power applied to the first circuit module; In the failure processing unit, disconnecting the power supply unit and the first circuit module according to a failure of the first circuit module, and connecting the power supply unit to the second circuit module; And preliminary operation of the object by executing a program in the second circuit module by power applied from the power supply unit.

일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계는, 제1 회로 모듈에 인가되는 전원의 전류값을 감지하는 단계; 및 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the detecting of a failure of the first circuit module includes: sensing a current value of power applied to the first circuit module; And determining whether the first circuit module has failed based on the current value.

일 실시예에 있어서, 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 전류값을 비교하는 단계; 및 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, the determining whether the first circuit module has failed based on the current value includes: comparing a first preset threshold value and a current value for determining whether the first circuit module has failed; And determining that a failure has occurred in the first circuit module when it is determined that the current value is equal to or greater than the first threshold value.

일 실시예에 있어서, 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는, 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 전류값을 비교하는 단계; 및 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of determining whether the first circuit module has a failure based on the current value is less than the first threshold value and a preset second threshold value and a current for determining whether the first circuit module has failed. Comparing the values; And determining that a failure has occurred in the first circuit module when it is determined that the current value is less than or equal to the second threshold value.

일 실시예에 있어서, 회로 이중화 방법은, 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는 단계; 및 고장 처리부에서, 고장 발생 정보를 표시부에 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, a circuit redundancy method includes: generating, in a failure processing unit, failure occurrence information indicating that a failure has occurred in a first circuit module; And displaying, in the failure processing unit, failure occurrence information on the display unit.

일 실시예에 있어서, 회로 이중화 방법은, 고장 처리부에서, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하는 단계; 고장 처리부에서, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 전원 공급부와 제2 회로 모듈의 연결을 해제하는 단계; 및 고장 처리부에서, 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결하는 단계를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, the circuit redundancy method includes: determining, in a failure processing unit, whether a power supply unit is switched from a turned-off state to a turned-on state; Releasing the connection between the power supply unit and the second circuit module when it is determined that power is resupplied by switching the power supply unit from the turn-off state to the turn-on state in the failure processing unit; And connecting the power supply to the first circuit module in the failure processing unit.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템은, 프로그램을 저장하고, 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈; 제1 회로 모듈에 연결되고, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 저장하고, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 제1 고장 처리부; 제1 고장 처리부에 연결되고, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하는 제2 고장 처리부; 및 제2 고장 처리부에 연결되고, 프로그램을 저장하고, 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈을 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a circuit redundancy system for redundant circuits for operating an object is disclosed. A circuit redundancy system according to an embodiment includes: a first circuit module for storing a program and executing a program to operate an object; It is connected to the first circuit module, generates and stores parameter information related to the operation of the object every preset first time, detects the failure of the first circuit module, and outputs a signal indicating the failure of the first circuit module. A first failure processing unit; A second failure processing unit connected to the first failure processing unit and extracting parameter information from the first failure processing unit based on a signal; And a second circuit module connected to the second failure processing unit, storing the program, and preliminarily operating the object by executing the program based on the extracted parameter information.

일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In an embodiment, the parameter information may include at least one of GPS location data, navigation data, sensor signal, or object operation procedure data.

일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부는, 파라미터 정보를 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 저장하는 제1 저장부; 사전 설정된 제1 시간마다 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하고, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 신호를 생성하고, 신호를 제2 고장 처리부로 출력하는 제1 프로세서; 및 제1 저장부를 제1 프로세서 또는 제2 고장 처리부에 연결하는 릴레이부를 포함할 수 있다.In an embodiment, the first failure processing unit comprises: a first storage unit for mapping and storing parameter information to a time when the parameter information is generated; Generates parameter information every preset first time and stores it in the first storage unit, generates a signal by determining whether the first circuit module has failed at every second preset time, and outputs the signal to the second failure processing unit. 1 processor; And a relay unit connecting the first storage unit to the first processor or the second failure processing unit.

일 실시예에 있어서, 제1 저장부는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함할 수 있다.In an embodiment, the first storage unit may include ferroelectrics random access memory (FRAM).

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는 릴레이부, 제1 회로 모듈 및 제1 저장부와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행할 수 있다.In one embodiment, the first processor may perform serial peripheral interface (SPI) communication with the relay unit, the first circuit module, and the first storage unit.

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성할 수 있다.In one embodiment, the first processor determines whether or not the first circuit module is malfunctioning every second preset time, and when it is determined that the first circuit module is operating normally, the first circuit module indicates that the first circuit module is operating normally. Can generate signals.

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성할 수 있다.In one embodiment, the first processor determines whether or not the first circuit module has failed every second preset time, and when it is determined that the first circuit module has a failure, the first processor indicates that a failure has occurred in the first circuit module. Can generate signals.

일 실시예에 있어서, 제2 고장 처리부는, 릴레이부 및 제1 프로세서에 연결되고, 신호에 기초하여 릴레이부를 통해 연결되는 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 제2 프로세서; 및 추출된 파라미터 정보를 저장하는 제2 저장부를 포함할 수 있다.In an embodiment, the second failure processing unit includes: a second processor connected to the relay unit and the first processor, and extracting parameter information from a first storage unit connected through the relay unit based on a signal; And a second storage unit for storing the extracted parameter information.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 프로세서로부터 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하고, 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 릴레이부와 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 릴레이부를 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 릴레이부에 출력할 수 있다.In one embodiment, the second processor determines whether a signal indicating the normal operation of the first circuit module is received from the first processor, and when it is determined that the signal is not received, the connection between the relay unit and the first processor is released. And a control signal for connecting the relay unit to the second processor may be output to the relay unit.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 프로세서로부터 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하고, 신호가 수신된 것으로 판단되면 릴레이부와 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 릴레이부를 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 릴레이부에 출력할 수 있다.In one embodiment, the second processor determines whether a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module is received from the first processor, and when it is determined that the signal is received, the connection between the relay unit and the first processor is released. And a control signal for connecting the relay unit to the second processor may be output to the relay unit.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 저장부에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보를 추출할 수 있다.In an embodiment, the second processor may extract the most recently stored parameter information from the parameter information stored in the first storage unit.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 릴레이부 및 제2 저장부와 SPI 통신을 수행할 수 있다.In an embodiment, the second processor may perform SPI communication with the relay unit and the second storage unit.

일 실시예에 있어서, 제2 저장부는 FRAM을 포함할 수 있다.In an embodiment, the second storage unit may include an FRAM.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 방법은, 제1 회로 모듈에서, 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계; 제1 고장 처리부에서, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계; 제1 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계; 제2 고장 처리부에서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계; 및 제2 회로 모듈에서, 제2 저장부에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a circuit redundancy method in a circuit redundancy system for redundant circuits for operating an object is disclosed. A circuit redundancy method according to an embodiment includes, in a first circuit module, operating an object by executing a program; Generating, by a first failure processing unit, parameter information related to an operation of the object every preset first time and storing it in a first storage unit; Outputting a signal indicating whether the first circuit module has failed by detecting whether the first circuit module has failed, in the first failure processing unit; Extracting parameter information from the first failure processing unit based on the signal in a second failure processing unit and storing the parameter information in a second storage unit; And preliminarily operating the object by executing a program in the second circuit module based on parameter information stored in the second storage unit.

일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In an embodiment, the parameter information may include at least one of GPS location data, navigation data, sensor signal, or object operation procedure data.

일 실시예에 있어서, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계는, 파라미터 정보를 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 제1 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of generating parameter information related to an operation of an object at every preset first time and storing the parameter information in the first storage unit comprises mapping the parameter information to a time when the parameter information is generated and storing it in the first storage unit It may include the step of.

일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계; 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계; 및 신호를 제2 고장 처리부로 출력하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, the step of detecting whether the first circuit module has a failure and outputting a signal indicating whether the first circuit module has failed comprises: determining whether the first circuit module has failed at every second preset time; Generating a signal based on the determination of whether or not there is a failure; And outputting the signal to the second failure processing unit.

일 실시예에 있어서, 제1 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.In one embodiment, the first storage unit circuit redundancy method including an FRAM.

일 실시예에 있어서, 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계는, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, generating the signal based on the determination of whether or not there is a failure, when it is determined that the first circuit module is operating normally, includes generating a signal indicating that the first circuit module is operating normally. I can.

일 실시예에 있어서, 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계는, 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of generating a signal based on the determination of whether or not a failure includes generating a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module when it is determined that the first circuit module is defective. I can.

일 실시예에 있어서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는, 제1 고장 처리부로부터 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하는 단계; 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 제1 저장부에 연결하는 단계; 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및 추출된 파라미터 정보를 제2 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of extracting parameter information from the first failure processing unit based on the signal and storing the parameter information in the second storage unit determines whether a signal indicating that the first circuit module is operating normally is received from the first failure processing unit. Step to do; If it is determined that the signal has not been received, connecting to the first storage unit; Extracting parameter information from the first storage unit; And storing the extracted parameter information in a second storage unit.

일 실시예에 있어서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는, 제1 고장 처리부로부터 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하는 단계; 신호가 수신된 것으로 판단되면 제1 저장부에 연결하는 단계; 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및 추출된 파라미터 정보를 제2 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of extracting parameter information from the first failure processing unit based on the signal and storing the parameter information in the second storage unit includes whether a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module is received from the first failure processing unit. Judging; Connecting to a first storage unit when it is determined that the signal has been received; Extracting parameter information from the first storage unit; And storing the extracted parameter information in a second storage unit.

일 실시예에 있어서, 제2 저장부는 FRAM을 포함할 수 있다.In an embodiment, the second storage unit may include an FRAM.

본 발명의 다양한 실시예에 의하면, 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하여도, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 따라서, 대상체를 작동시키는데 필요한 전원의 소비가 최소화되면서 대상체가 안정적으로 작동될 수 있다.According to various embodiments of the present invention, even if a failure occurs in a first circuit module that operates an object, a failure of the first circuit module is detected to cut off power applied to the first circuit module, and power to the second circuit module. By applying, the subject can be preliminarily operated. Accordingly, the object can be stably operated while consumption of power required to operate the object is minimized.

또한, 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하여도, 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 생성된 파라미터 정보에 기초하여 제2 회로 모듈을 이용하여 대상체를 연속적으로 예비 작동시킬 수 있다.In addition, even if a failure occurs in the first circuit module that operates the object, the object can be continuously preliminarily operated using the second circuit module based on the most recently generated parameter information among parameter information related to the operation of the object. have.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예예에 따라 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 제2 회로 모듈을 예비 작동시키는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 경우 전원이 인가되는 예를 나타낸 예시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 회로 모듈이 고장인 경우 전원이 인가되는 예를 나타낸 예시도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제1 고장 처리부 및 제2 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제1 저장부에 파라미터 정보를 저장하는 예를 나타낸 예시도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시시예에 따른 제2 저장부에 파라미터 정보를 저장하는 예를 나타낸 예시도이다.
1 is a block diagram schematically showing the configuration of a circuit redundancy system according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart schematically showing the configuration of a failure processing unit according to an embodiment of the present invention.
3 is a flowchart illustrating a method of redundant circuitry for operating an object according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart illustrating a method of preliminarily operating a second circuit module by determining whether a first circuit module has failed according to an embodiment of the present invention.
5 is an exemplary diagram illustrating an example in which power is applied when a first circuit module according to an embodiment of the present invention operates normally.
6 is an exemplary view showing an example in which power is applied when a first circuit module according to an embodiment of the present invention fails.
7 is a flowchart schematically showing the configuration of a circuit redundancy system according to another embodiment of the present invention.
8 is a block diagram schematically showing the configuration of a first failure processing unit and a second failure processing unit according to another embodiment of the present invention.
9 is a flowchart illustrating a method of redundant circuitry for operating an object according to another embodiment of the present invention.
10 is an exemplary view showing an example of storing parameter information in a first storage unit according to another embodiment of the present invention.
11 is an exemplary view showing an example of storing parameter information in a second storage unit according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 발명에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present invention are illustrated for the purpose of describing the technical idea of the present invention. The scope of the rights according to the present invention is not limited to the embodiments presented below or the detailed description of these embodiments.

본 발명에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 발명에 사용되는 모든 용어들은 본 발명을 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 발명에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical terms and scientific terms used in the present invention have meanings generally understood by those of ordinary skill in the art, unless otherwise defined. All terms used in the present invention are selected for the purpose of describing the present invention more clearly, and are not selected to limit the scope of the present invention.

본 발명에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as "comprising", "having", "having" and the like used in the present invention are open terms that imply the possibility of including other embodiments unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. It should be understood as (open-ended terms).

본 발명에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.The expression of the singular form described in the present invention may include the meaning of the plural, unless otherwise stated, and this applies equally to the expression of the singular form described in the claims.

본 발명에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as "first" and "second" used in the present invention are used to distinguish a plurality of elements from each other, and do not limit the order or importance of the elements.

본 발명에서 사용되는 용어 "부"는, 소프트웨어, 또는 FPGA(field-programmable gate array), ASIC(application specific integrated circuit)과 같은 하드웨어 구성요소를 의미한다. 그러나, "부"는 하드웨어 및 소프트웨어에 한정되는 것은 아니다. "부"는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고, 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 례로서, "부"는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스, 함수, 속성, 프로시저, 서브루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 어레이 및 변수를 포함한다. 구성요소와 "부" 내에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소 및 "부"로 결합되거나 추가적인 구성요소와 "부"로 분리될 수 있다.The term "unit" used in the present invention refers to software or hardware components such as field-programmable gate array (FPGA) and application specific integrated circuit (ASIC). However, "unit" is not limited to hardware and software. The “unit” may be configured to be in an addressable storage medium, or may be configured to reproduce one or more processors. Thus, as an example, "unit" refers to components such as software components, object-oriented software components, class components, and task components, processes, functions, properties, procedures, subroutines, Includes segments of program code, drivers, firmware, microcode, circuits, data, databases, data structures, tables, arrays, and variables. Components and functions provided within "units" may be combined into a smaller number of components and "units" or separated into additional components and "units".

본 발명에서 사용되는 "~에 기초하여"라는 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 기술되는, 결정 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 하나 이상의 인자를 기술하는데 사용되며, 이 표현은 결정, 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 추가적인 인자를 배제하지 않는다.The expression "based on" as used in the present invention is used to describe one or more factors that influence the act or action of a decision judgment, which is described in a phrase or sentence in which the expression is included, and this expression However, additional factors that influence the behavior or behavior of judgment are not excluded.

본 발명에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.In the present invention, when a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, a component can be directly connected to or can be connected to another component, or a new other component It is to be understood that it may or may be connected via an element.

본 발명에서 사용되는 용어 "대상체"는 프로그램을 실행하여 작동하는 장치로서, 회로 이중화가 필요한 장치를 의미한다. 예를 들면, 대상체는 항공기, 우주선, 자동차, 선박, 미사일, 발전소 등을 포함할 수 있다.The term "object" as used in the present invention refers to a device that executes a program and operates, and requires circuit redundancy. For example, the object may include an aircraft, spacecraft, automobile, ship, missile, power plant, and the like.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, the same or corresponding elements are assigned the same reference numerals. In addition, in the description of the following embodiments, overlapping descriptions of the same or corresponding components may be omitted. However, even if description of a component is omitted, it is not intended that such component is not included in any embodiment.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 1을 참조하면, 회로 이중화 시스템(100)은 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 회로 이중화 시스템(100)은 모체 기판(140) 및 전원 공급부(150)를 더 포함할 수 있다.1 is a block diagram schematically showing the configuration of a circuit redundancy system according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the circuit redundancy system 100 may include a first circuit module 110, a second circuit module 120, and a failure processing unit 130. In addition, the circuit redundancy system 100 may further include a mother substrate 140 and a power supply unit 150.

제1 회로 모듈(110)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)은 도 1에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(111), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터(111)로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 주 회로부(112)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 주 회로부(112)는 FPGA(field programmable gate array), ASIC(application specific integrated circuit), CPU 등을 포함할 수 있다.The first circuit module 110 may operate an object by executing a program by power applied from the power supply unit 150. In an embodiment, the first circuit module 110 includes a DC-DC converter 111 that converts power of a predetermined voltage applied from the power supply unit 150 into power of another voltage, as shown in FIG. 1, And a main circuit unit 112 that stores the program and executes the program by power output from the DC-DC converter 111 to operate the object. For example, the main circuit unit 112 may include a field programmable gate array (FPGA), an application specific integrated circuit (ASIC), a CPU, or the like.

제2 회로 모듈(120)은 제1 회로 모듈(110)의 고장 시에 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(120)은 도 1에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(121), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터(121)로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 예비 회로부(122)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 예비 회로부(122)는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.The second circuit module 120 may preliminarily operate the object by executing a program when the first circuit module 110 fails. In an embodiment, the second circuit module 120 includes a DC-DC converter 121 that converts power of a predetermined voltage applied from the power supply unit 150 into power of another voltage, as shown in FIG. 1, And a preliminary circuit unit 122 that stores a program and executes the program by power output from the DC-DC converter 121 to preliminarily operate the object. For example, the preliminary circuit unit 122 may include an FPGA, an ASIC, a CPU, or the like.

고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110) 및 제2 회로 모듈(120)에 연결될 수 있다. 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈(110)에 안가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈(120)에 전원을 인가할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단할 수 있다.The failure processing unit 130 may be connected to the first circuit module 110 and the second circuit module 120. The failure processing unit 130 may detect a failure of the first circuit module 110, cut off power that is not available to the first circuit module 110, and apply power to the second circuit module 120. In an embodiment, the failure processing unit 130 may detect power applied to the first circuit module 110 to determine whether the first circuit module 110 has a failure.

모체 기판(140)은 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)가 결합될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 모체 기판(140)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원을 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)에 인가할 수 있다.The mother substrate 140 may include a first circuit module 110, a second circuit module 120, and a failure processing unit 130. In an embodiment, the mother substrate 140 may apply power applied from the power supply unit 150 to the first circuit module 110, the second circuit module 120, and the failure processing unit 130.

전원 공급부(150)는 대상체를 구성하는 모든 하드웨어 모듈에 전원을 공급할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 공급부(150)는 모체 기판(140)을 통해 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)에 소정의 전압을 갖는 전원을 인가할 수 있다.The power supply unit 150 may supply power to all hardware modules constituting an object. In one embodiment, the power supply unit 150 may apply power having a predetermined voltage to the first circuit module 110, the second circuit module 120, and the failure processing unit 130 through the mother substrate 140. I can.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 2를 참조하면, 고장 처리부(130)는 전원 릴레이부(210), 전원 감지부(220) 및 프로세서(230)를 포함할 수 있다. 또한, 고장 처리부(130)는 표시하는 표시부(240) 및 DC-DC 컨버터(250)를 더 포함할 수 있다.2 is a block diagram schematically showing the configuration of a failure processing unit according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2, the failure processing unit 130 may include a power relay unit 210, a power detection unit 220, and a processor 230. In addition, the failure processing unit 130 may further include a display unit 240 and a DC-DC converter 250 to display.

전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110) 또는 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 릴레이부(210)는 프로세서(230)로부터 출력되는 제어 신호에 기초하여, 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110) 또는 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다.The power relay unit 210 may connect the power supply unit 150 to the first circuit module 110 or the second circuit module 120. In one embodiment, the power relay unit 210 may connect the power supply unit 150 to the first circuit module 110 or the second circuit module 120 based on a control signal output from the processor 230. I can.

일부 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결시킬 수 있다. 따라서, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원은 전원 릴레이부(210)를 통해 제1 회로 모듈(110)에 인가될 수 있다.In some embodiments, when the first circuit module 110 operates normally, the power relay unit 210 may connect the power supply unit 150 to the first circuit module 110. Accordingly, power applied from the power supply unit 150 may be applied to the first circuit module 110 through the power relay unit 210.

일부 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다. 따라서, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원은 전원 릴레이부(210)를 통해 제2 회로 모듈(120)에 인가될 수 있다.In some embodiments, when a failure occurs in the first circuit module 110, the power relay unit 210 disconnects the power supply unit 150 and the first circuit module 110, and the power supply unit 150 May be connected to the second circuit module 120. Accordingly, power applied from the power supply unit 150 may be applied to the second circuit module 120 through the power relay unit 210.

일부 실시예에 있어서, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)이 새로운 제1 회로 모듈(110)로 교체(수리)되고 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)와 제2 회로 모듈(120)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 다시 연결할 수 있다.In some embodiments, the failed first circuit module 110 is replaced (repaired) with a new first circuit module 110, and the power supply unit 150 is switched from a turned-off state to a turned-on state, and the power is restored. When supplied, the power relay unit 210 may disconnect the power supply unit 150 and the second circuit module 120 and reconnect the power supply unit 150 to the first circuit module 110.

전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고, 감지 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 전류값을 포함하는 감지 신호를 출력할 수 있다.The power detection unit 220 may detect power applied from the power relay unit 210 to the first circuit module 110 and output a detection signal. In one embodiment, the power detection unit 220 may detect a current value of power applied to the first circuit module 110 from the power relay unit 210 and output a detection signal including the current value. .

프로세서(230)는 전원 릴레이부(210) 및 전원 감지부(220)에 연결될 수 있다. 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈(110)의 고장에 대응하여 제2 회로 모듈(120)을 동작시키기 위한 제어 신호를 출력할 수 있다.The processor 230 may be connected to the power relay unit 210 and the power detection unit 220. The processor 230 determines whether the first circuit module 110 has a failure based on a detection signal output from the power detection unit 220, and in response to the failure of the first circuit module 110, the second circuit module ( A control signal for operating 120) may be output.

일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제1 임계값은 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 높은 전류값(즉, 고전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다. 프로세서(230)는 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제어 신호를 전원 릴레이부(210) 및 제2 회로 모듈(120)로 출력할 수 있다.In an embodiment, the processor 230 may compare a first preset threshold value for determining whether the first circuit module 110 has a failure, and a current value included in the detection signal. For example, the first threshold may be a threshold for determining a current value (ie, a high current value) higher than a current value required for the first circuit module 110 to operate normally. When it is determined that the current value is greater than or equal to the first threshold value, the processor 230 may output a control signal to the power relay unit 210 and the second circuit module 120.

일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 제2 임계값은 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 낮은 전류값(즉, 저전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다. 프로세서(230)는 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 전원 릴레이부(210) 및 제2 회로 모듈(120)로 출력할 수 있다.In an embodiment, the processor 230 may compare a second preset threshold value for determining whether the first circuit module 110 has a failure, and a current value included in the detection signal. The second threshold value is smaller than the first threshold value and may be a threshold value for determining a current value lower than the current value required for the first circuit module 110 to operate normally (ie, a low current value). When it is determined that the current value is less than or equal to the second threshold, the processor 230 may output the output to the power relay unit 210 and the second circuit module 120.

일 실시예에 있어서, 제어 신호는, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시키기 위한 제1 제어 신호, 및 제2 회로 모듈(120)을 제어하여 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호를 포함할 수 있다.In one embodiment, the control signal controls the power relay unit 210 to release the connection between the power supply unit 150 and the first circuit module 110 and connect the power supply unit 150 to the second circuit module 120. A first control signal to be connected to and a second control signal for preliminary operation of the object by controlling the second circuit module 120 may be included.

일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생하였음을 나타내는 정보(이하, "고장 발생 정보"라 함)를 생성하고, 생성된 고장 발생 정보를 표시부(240)로 출력할 수 있다.In one embodiment, the processor 230 includes information indicating that a failure has occurred in the first circuit module 110 based on a detection signal output from the power detection unit 220 (hereinafter referred to as “failure occurrence information”). ), and the generated failure occurrence information may be output to the display unit 240.

일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단할 수 있다. 예를 들면, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)을 교체(수리)하기 위해, 전원 공급부(150)가 턴 온 상태에서 턴 오프 상태로 전환되고, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)이 새로운 제1 회로 모듈로 교체(수리)된 후, 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되면, 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것을 판단할 수 있다. 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 온 상태로 전환된 것으로 판단되면, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결하기 위한 제어 신호(이하, "제3 제어 신호"라 함)를 출력할 수 있다. 따라서, 전원 릴레이부(210)는 프로세서(230)로부터 출력되는 제3 제어 신호에 기초하여 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈에 연결할 수 있다. 예를 들면, 전원 릴레이부(210)는 제3 제어 신호에 기초하여, 전원 공급부(150)와 제2 회로 모듈(120)의 연결을 해제하고 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결할 수 있다.In an embodiment, the processor 230 may determine whether the power supply unit 150 is switched from a turn-off state to a turn-on state. For example, in order to replace (repair) the first circuit module 110 in which a failure has occurred, the power supply unit 150 is switched from a turned-on state to a turn-off state, and the first circuit module 110 in which the failure occurs is After being replaced (repaired) with a new first circuit module, when the power supply unit 150 is switched from a turned-off state to a turned-on state, the processor 230 returns the power supply unit 150 to the turned-on state. You can judge what is being supplied. When it is determined that the power supply unit 150 is turned on, the processor 230 controls the power relay unit 210 to connect the power supply unit 150 to the first circuit module 110. Hereinafter, a "third control signal") may be output. Accordingly, the power relay unit 210 may connect the power supply unit 150 to the first circuit module based on the third control signal output from the processor 230. For example, the power relay unit 210 disconnects the power supply unit 150 and the second circuit module 120 based on the third control signal and connects the power supply unit 150 to the first circuit module 110. Can connect to

표시부(240)는 프로세서(230)에 연결될 수 있다. 표시부(240)는 프로세서(230)로부터 출력되는 고장 발생 정보를 표시할 수 있다. 따라서, 대상체를 관리하는 관리자는 표시부(240)에 표시된 고장 발생 정보에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 발생을 확인하고, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)을 교체(수리)할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 표시부(240)는 LED(light emitting diode), LED 디스플레이, LCD(liquid crystal display) 등을 포함할 수 있다.The display unit 240 may be connected to the processor 230. The display unit 240 may display failure occurrence information output from the processor 230. Therefore, the manager who manages the object checks the occurrence of the failure of the first circuit module 110 based on the failure occurrence information displayed on the display unit 240 and replaces (repairs) the first circuit module 110 in which the failure has occurred. I can. In one embodiment, the display unit 240 may include a light emitting diode (LED), an LED display, a liquid crystal display (LCD), and the like.

DC-DC 컨버터(250)는 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환할 수 있다. DC-DC 컨버터(250)는 변환된 전원을 고장 처리부(130)의 전원 릴레이부(210), 전원 감지부(220), 프로세서(230) 및 표시부(240)에 인가할 수 있다.The DC-DC converter 250 may convert power of a predetermined voltage applied from the power supply unit 150 to power of another voltage. The DC-DC converter 250 may apply the converted power to the power relay unit 210, the power detection unit 220, the processor 230 and the display unit 240 of the failure processing unit 130.

본 발명에 도시된 흐름도에서 프로세스 단계들, 방법 단계들, 알고리즘들 등이 순차적인 순서로 설명되었지만, 그러한 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들은 임의의 적합한 순서로 작동되도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 본 발명의 다양한 실시예들에서 설명되는 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들의 단계들이 본 발명에서 기술된 순서로 수행될 필요는 없다. 또한, 일부 단계들이 비동시적으로 수행되는 것으로서 설명되더라도, 다른 실시예에서는 이러한 일부 단계들이 동시에 수행될 수 있다. 또한, 도면에서의 묘사에 의한 프로세스의 예시는 예시된 프로세스가 그에 대한 다른 변화들 및 수정들을 제외하는 것을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스 또는 그의 단계들 중 임의의 것이 본 개시의 다양한 실시예들 중 하나 이상에 필수적임을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스가 바람직하다는 것을 의미하지 않는다.Although process steps, method steps, algorithms, and the like have been described in a sequential order in the flowchart shown in the present invention, such processes, methods, and algorithms may be configured to operate in any suitable order. In other words, the steps of the processes, methods and algorithms described in various embodiments of the present invention need not be performed in the order described in the present invention. Further, although some steps are described as being performed asynchronously, in other embodiments, some of these steps may be performed simultaneously. Further, the illustration of the process by depiction in the drawings does not imply that the illustrated process excludes other changes and modifications thereto, and the illustrated process or any of its steps are among the various embodiments of the present disclosure. It does not imply that it is essential for one or more, and does not imply that the illustrated process is desirable.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 3을 참조하면, 단계 S302에서, 제1 회로 모듈(110)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)의 DC-DC 컨버터(111)는 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하고, 제1 회로 모듈(110)의 주 회로부(112)는 DC-DC 컨버터(111)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다.3 is a flowchart illustrating a method of redundant circuitry for operating an object according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3, in step S302, the first circuit module 110 may operate an object by executing a program by power applied from the power supply unit 150. In one embodiment, the DC-DC converter 111 of the first circuit module 110 converts power of a predetermined voltage applied from the power supply unit 150 into power of another voltage, and the first circuit module 110 The main circuit part 112 of may run a program by power applied from the DC-DC converter 111 to operate the object.

단계 S304에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장을 감지할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력할 수 있다. 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단할 수 있다.In step S304, the failure processing unit 130 may detect a failure of the first circuit module 110 based on the power applied to the first circuit module 110. In an embodiment, the power detection unit 220 of the failure processing unit 130 may detect power applied to the first circuit module 110 from the power relay unit 210 and output a detection signal. The processor 230 of the failure processing unit 130 may determine whether the first circuit module 110 has a failure based on a detection signal output from the power detection unit 220.

단계 S306에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장에 따라 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제시키고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다.In step S306, the failure processing unit 130 disconnects the power supply unit 150 and the first circuit module 110 according to the failure of the first circuit module 110, and connects the power supply unit 150 to the second circuit module. You can connect to 120. In one embodiment, when it is determined that a failure has occurred in the first circuit module 110, the processor 230 of the failure processing unit 130 controls the power relay unit 210 to control the power supply unit 150 and the first circuit. The module 110 may be disconnected and the power supply unit 150 may be connected to the second circuit module 120.

단계 S308에서, 제2 회로 모듈(120)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(120)은 고장 처리부(130)로부터 출력되는 제어 신호(예를 들어, 제2 제어 신호)에 기초하여, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다.In step S308, the second circuit module 120 may pre-operate the object by executing a program by power applied from the power supply unit 150. In one embodiment, the second circuit module 120 is programmed by power applied from the power supply unit 150 based on a control signal (eg, a second control signal) output from the failure processing unit 130. You can pre-operate the object by executing.

도 4는 본 발명의 일 실시예예에 따라 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 제2 회로 모듈을 예비 작동시키는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 4를 참조하면, 단계 S402에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 감지된 전류값을 포함하는 감지 신호를 프로세서(230)로 출력할 수 있다.4 is a flowchart illustrating a method of preliminarily operating a second circuit module by determining whether a first circuit module has failed according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, in step S402, the failure processing unit 130 may detect power applied to the first circuit module 110 and output a detection signal. In one embodiment, the power detection unit 220 of the failure processing unit 130 detects a current value of power applied from the power relay unit 210 to the first circuit module 110, and includes the detected current value. The detected signal may be output to the processor 230.

단계 S404에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 사전 설정된 제1 임계값과 전류값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제1 임계값은 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 높은 전류값(즉, 고전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다.In step S404, the failure processing unit 130 may compare a first preset threshold value for determining whether the first circuit module 110 has a failure, and a current value included in the detection signal. In one embodiment, the processor 230 of the failure processing unit 130 may compare a preset first threshold value and a current value. For example, the first threshold may be a threshold for determining a current value (ie, a high current value) higher than a current value required for the first circuit module 110 to operate normally.

단계 S406에서, 고장 처리부(130)는 전류값이 제1 임계값 이상인지 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 고장 처리부(130)는 전류값이 제1 임계값 이상인지 여부를 판단할 수 있다.In step S406, the failure processing unit 130 may determine whether the current value is equal to or greater than the first threshold value. In one embodiment, the processor 230 of the failure processing unit 130 may determine whether the current value is greater than or equal to the first threshold value.

단계 S406에서 전류값이 제1 임계값 이상이 아닌 것으로 판단, 즉 전류값이 제1 임계값 미만으로 판단되면, 단계 S408에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전류값과 제2 임계값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제2 임계값은 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 낮은 전류값(즉, 저전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다.If it is determined in step S406 that the current value is not equal to or greater than the first threshold value, that is, if the current value is determined to be less than the first threshold value, in step S408, the failure processing unit 130 determines whether the first circuit module 110 has failed. The second preset threshold value for determination may be compared with a current value included in the detection signal. In one embodiment, the processor 230 of the failure processing unit 130 may compare the current value and the second threshold value. For example, the second threshold value may be a threshold value for determining a current value (ie, a low current value) that is smaller than the first threshold value and lower than the current value required for the first circuit module 110 to operate normally.

단계 S410에서, 고장 처리부(130)는 전류값이 제2 임계값 이하인지 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전류값이 제2 임계값 이하인지 여부를 판단할 수 있다.In step S410, the failure processing unit 130 may determine whether the current value is less than or equal to the second threshold value. In an embodiment, the processor 230 of the failure processing unit 130 may determine whether the current value is less than or equal to the second threshold value.

단계 S410에서 전류값이 제2 임계값 이하가 아닌 것으로 판단, 즉 전류값이 제2 임계값을 초과하는 것으로 판단되면, 단계 S402 내지 S410이 다시 수행될 수 있다. 즉, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단하고, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 릴레이부(210)를 제1 회로 모듈(110)에 계속 연결시킨다. 따라서, 도 5에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원(굵은 실선 표시)은 전원 릴레이부(210)를 통해 제1 회로 모듈(110)에 인가될 수 있다.If it is determined in step S410 that the current value is not less than the second threshold value, that is, if it is determined that the current value exceeds the second threshold value, steps S402 to S410 may be performed again. That is, the processor 230 of the failure processing unit 130 determines that the first circuit module 110 is operating normally, and controls the power relay unit 210 to transfer the power relay unit 210 to the first circuit module 110. ) To continue. Accordingly, as shown in FIG. 5, power (indicated by a thick solid line) applied from the power supply unit 150 may be applied to the first circuit module 110 through the power relay unit 210.

한편, 단계 S406에서 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되거나, 단계 S410에서 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면, 단계 S412에서, 고장 처리부(130)는 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 것으로 판단하여, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 따라서, 도 6에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원(굵은 실선 표시)은 전원 릴레이부(210)를 통해 제2 회로 모듈(120)에 인가될 수 있다.On the other hand, if it is determined in step S406 that the current value is greater than or equal to the first threshold value, or if it is determined in step S410 that the current value is less than or equal to the second threshold value, in step S412, the failure processing unit 130 is The circuit module 110 may be disconnected and the power supply unit 150 may be connected to the second circuit module 120. In one embodiment, the processor 230 of the failure processing unit 130 determines that a failure has occurred in the first circuit module 110, and controls the power relay unit 210 to control the power supply unit 150 and the first circuit. The module 110 may be disconnected and the power supply unit 150 may be connected to the second circuit module 120. Accordingly, as shown in FIG. 6, power (indicated by a thick solid line) applied from the power supply unit 150 may be applied to the second circuit module 120 through the power relay unit 210.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 7을 참조하면, 회로 이중화 시스템(700)은 제1 회로 모듈(710), 제1 고장 처리부(720), 제2 고장 처리부(730) 및 제2 회로 모듈(740)을 포함할 수 있다. 또한, 회로 이중화 시스템(700)은 모체 기판(750) 및 전원 공급부(도시하지 않음)를 더 포함할 수 있다.7 is a block diagram schematically showing the configuration of a circuit redundancy system according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 7, the circuit redundancy system 700 may include a first circuit module 710, a first failure processing unit 720, a second failure processing unit 730, and a second circuit module 740. In addition, the circuit redundancy system 700 may further include a mother substrate 750 and a power supply (not shown).

제1 회로 모듈(710)은 프로그램을 저장하고, 저장된 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(710)은 전원 공급부로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(도시하지 않음), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 주 회로부(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 주 회로부는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.The first circuit module 710 may store a program and operate the object by executing the stored program. In one embodiment, the first circuit module 710 is a DC-DC converter (not shown) for converting a power of a predetermined voltage applied from the power supply to a power of another voltage, and a DC-DC converter It may include a main circuit unit (not shown) that operates the object by executing a program by power output from For example, the main circuit unit may include an FPGA, an ASIC, a CPU, or the like.

제1 고장 처리부(720)는 제1 회로 모듈(710)에 연결될 수 있다. 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하고, 생성된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 대상체의 작동에 필요한 연속적인 데이터를 나타내며, 예를 들면 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있지만, 반드시 이에 한정되지 않는다. 또한, 제1 고장 처리부(720)는 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력할 수 있다.The first failure processing unit 720 may be connected to the first circuit module 710. The first failure processing unit 720 may generate parameter information related to the operation of the object every preset first time and store the generated parameter information. In one embodiment, the parameter information represents continuous data required for the operation of the object, and may include at least one of, for example, GPS location data, navigation data, sensor signal, or object operation procedure data, but is not limited thereto. Does not. In addition, the first failure processing unit 720 may detect whether the first circuit module 710 has a failure and output a signal indicating whether the first circuit module 710 has a failure.

제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)에 연결될 수 있다. 제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)로부터 신호를 수신하고, 수신된 신호에 기초하여 제1 고장 처리부(720)로부터 파라미터 정보를 추출할 수 있다. 또한, 제2 고장 처리부(730)는 수신된 신호에 기초하여 제2 회로 모듈(740)을 제어할 수 있다.The second failure processing unit 730 may be connected to the first failure processing unit 720. The second failure processing unit 730 may receive a signal from the first failure processing unit 720 and extract parameter information from the first failure processing unit 720 based on the received signal. Also, the second failure processing unit 730 may control the second circuit module 740 based on the received signal.

제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)에 연결될 수 있다. 제2 회로 모듈(740)은 프로그램을 저장하고, 제2 고장 처리부(730)에 의해 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(740)은 전원 공급부로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(도시하지 않음), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 예비 회로부(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 예비 회로부는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.The second circuit module 740 may be connected to the second failure processing unit 730. The second circuit module 740 may store a program and execute the program based on parameter information extracted by the second failure processing unit 730 to pre-operate the object. In one embodiment, the second circuit module 740 is a DC-DC converter (not shown) that converts a power of a predetermined voltage applied from the power supply to a power of another voltage, and a DC-DC converter It may include a preliminary circuit unit (not shown) for pre-operating the object by executing a program by power output from. For example, the spare circuit unit may include an FPGA, ASIC, CPU, or the like.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 고장 처리부(720) 및 제2 고장 처리부(730)의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 8을 참조하면, 제1 고장 처리부(720)는 제1 저장부(810), 제1 프로세서(820) 및 릴레이부(830)를 포함할 수 있다. 또한, 제2 고장 처리부(730)는 제2 프로세서(840) 및 제2 저장부(850)를 포함할 수 있다.8 is a block diagram schematically showing the configuration of a first failure processing unit 720 and a second failure processing unit 730 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 8, the first failure processing unit 720 may include a first storage unit 810, a first processor 820, and a relay unit 830. In addition, the second failure processing unit 730 may include a second processor 840 and a second storage unit 850.

제1 저장부(810)는 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 저장부(810)는 제1 프로세서(820)에 의해 파라미터 정보가 생성되는 시간에 매핑하여 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 예를 들면, 제1 저장부(810)는 도 8에 도시된 바와 같이 시간(Ti(1≤i))별로 파라미터 정보(PIj(1≤j))를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 저장부(810)는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함할 수 있다. 그러나, 제1 저장부(810)는 파라미터 정보를 안정적으로 저장할 수 있는 매체라면 어떠한 매체라도 무방하다.The first storage unit 810 may store parameter information. In an embodiment, the first storage unit 810 may store parameter information by mapping it to a time when the parameter information is generated by the first processor 820. For example, as shown in FIG. 8, the first storage unit 810 may store parameter information PI j (1≦ j ) for each time T i (1≦i). In an embodiment, the first storage unit 810 may include ferroelectrics random access memory (FRAM). However, the first storage unit 810 may be any medium as long as it can stably store parameter information.

제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710) 및 릴레이부(830)에 연결될 수 있다. 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제1 시간마다 파라미터 정보를 생성하고, 릴레이부(830)를 통해 파라미터 정보를 제1 저장부(810)에 저장할 수 있다. 또한, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 생성하며, 생성된 신호를 제2 고장 처리부(730)로 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 신호는 펄스 형태의 신호일 수 있다.The first processor 820 may be connected to the first circuit module 710 and the relay unit 830. The first processor 820 may generate parameter information every preset first time, and store the parameter information in the first storage unit 810 through the relay unit 830. In addition, the first processor 820 determines whether the first circuit module 710 has failed every second preset time, generates a signal indicating whether the first circuit module 710 has failed, and generates the generated signal. 2 It can be output to the failure processing unit 730. In an embodiment, the signal may be a pulse type signal.

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710), 제1 저장부(810) 및 릴레이부(830)와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행할 수 있다.In one embodiment, the first processor 820 may perform serial peripheral interface (SPI) communication with the first circuit module 710, the first storage unit 810, and the relay unit 830.

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성할 수 있다. 생성된 신호는 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다.In an embodiment, the first processor 820 may determine whether or not the first circuit module 710 has failed every second preset time. When it is determined that the first circuit module 710 operates normally, the first processor 820 may generate a signal indicating that the first circuit module 710 operates normally. The generated signal may be output to the second failure processing unit 730 (ie, the second processor 840 of the second failure processing unit 730 ).

일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성할 수 있다. 생성된 신호는 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다. In an embodiment, the first processor 820 may determine whether or not the first circuit module 710 has failed every second preset time. When it is determined that a failure has occurred in the first circuit module 710, the first processor 820 may generate a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module 710. The generated signal may be output to the second failure processing unit 730 (ie, the second processor 840 of the second failure processing unit 730 ).

릴레이부(830)는 제1 저장부(810)를 제1 프로세서(820) 또는 제2 고장 처리부(730)에 연결시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 릴레이부(830)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 동작하는 경우 제1 저장부(810)를 제1 프로세서(820)에 연결시킬 수 있다. 또한, 릴레이부(830)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 경우 제1 저장부(810)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고, 제1 저장부(810)를 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))에 연결시킬 수 있다.The relay unit 830 may connect the first storage unit 810 to the first processor 820 or the second failure processing unit 730. In an embodiment, the relay unit 830 may connect the first storage unit 810 to the first processor 820 when the first circuit module 710 operates normally. In addition, when a failure occurs in the first circuit module 710, the relay unit 830 disconnects the first storage unit 810 and the first processor 820, and transfers the first storage unit 810 to the second It may be connected to the failure processing unit 730 (that is, the second processor 840 of the second failure processing unit 730).

제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820) 및 릴레이부(830)에 연결될 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 수신하고, 수신된 신호에 기초하여 릴레이부(830)를 통해 제1 저장부(810)로부터 파라미터 정보를 추출할 수 있다.The second processor 840 may be connected to the first processor 820 and the relay unit 830. The second processor 840 receives a signal indicating whether the first circuit module 710 has failed from the first processor 820, and based on the received signal, the first storage unit 810 through the relay unit 830 Parameter information can be extracted from ).

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단할 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 결정하고, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어 신호는 릴레이부(830)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고 릴레이부(830)를 제2 프로세서(840)에 연결시키기 위한 제어 신호일 수 있다.In an embodiment, the second processor 840 may determine whether a signal indicating that the first circuit module 710 operates normally is received from the first processor 820. If it is determined that a signal has not been received from the first processor 820, the second processor 840 determines that a failure has occurred in the first circuit module 710, and generates a control signal for controlling the relay unit 830. It can be output to the relay unit 830. For example, the control signal may be a control signal for disconnecting the relay unit 830 and the first processor 820 and connecting the relay unit 830 to the second processor 840.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단할 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신된 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 결정하고, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어 신호는 릴레이부(830)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고 릴레이부(830)를 제2 프로세서(840)에 연결시키기 위한 제어 신호일 수 있다.In an embodiment, the second processor 840 may determine whether a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module 710 is received from the first processor 820. When it is determined that a signal has been received from the first processor 820, the second processor 840 determines that a failure has occurred in the first circuit module 710, and relays a control signal for controlling the relay unit 830. It can be output to the unit 830. For example, the control signal may be a control signal for disconnecting the relay unit 830 and the first processor 820 and connecting the relay unit 830 to the second processor 840.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결된 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다.In one embodiment, the second processor 840 inquires the first storage unit 810 connected through the relay unit 830 and the most recently stored parameter information among parameter information stored in the first storage unit 810 ( That is, the most recently generated parameter information) can be extracted.

일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830) 및 제2 저장부(850)와 SPI 통신을 수행할 수 있다.In an embodiment, the second processor 840 may perform SPI communication with the relay unit 830 and the second storage unit 850.

제2 저장부(850)는 제2 프로세서(840)에 의해 추출된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 저장부(850)는 제1 프로세서(820)에 의해 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 저장부(850)는 FRAM을 포함할 수 있다.The second storage unit 850 may store parameter information extracted by the second processor 840. In an embodiment, the second storage unit 850 may store parameter information by mapping it to a time when the parameter information is generated by the first processor 820. In an embodiment, the second storage unit 850 may include an FRAM.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 9를 참조하면, 단계 S902에서, 제1 회로 모듈(710)은 저장된 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다.9 is a flowchart illustrating a method of redundant circuitry for operating an object according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 9, in step S902, the first circuit module 710 may operate an object by executing a stored program.

단계 S904에서, 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성할 수 있다. 예를 들면, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In step S904, the first failure processing unit 720 may generate parameter information related to the operation of the object every preset first time. In an embodiment, the first processor 820 of the first failure processing unit 720 may generate parameter information related to the operation of the object every preset first time. For example, the parameter information may include at least one of GPS location data, navigation data, sensor signal, or object operation procedure data.

단계 S906에서, 제1 고장 처리부(720)는 생성된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 도 10에 도시된 바와 같이, 파라미터 정보가 생성된 시간(Ti(1≤i))별로 파라미터 정보(PIj(1≤j))를 제1 저장부(810)에 저장할 수 있다.In step S906, the first failure processing unit 720 may store the generated parameter information. In one embodiment, the first processor 820 of the first failure processing unit 720 is parameter information (PI j ) for each time the parameter information is generated (T i (1 i)), as shown in FIG. (1≤j)) may be stored in the first storage unit 810.

단계 S908에서, 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 감지할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다.In step S908, the first failure processing unit 720 may detect whether the first circuit module 710 has a failure every second preset time. In an exemplary embodiment, the first processor 820 of the failure processing unit 720 may determine whether the first circuit module 710 has failed every second preset time.

단계 S910에서, 제1 고장 처리부(720)는 고장 여부의 판단에 기초하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성하고, 생성된 신호를 제2 고장부(730)(즉, 제2 고장부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성하고, 생성된 신호를 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다. In step S910, the first failure processing unit 720 may output a signal indicating whether the first circuit module 710 has failed, based on the determination of whether there is a failure. In one embodiment, when it is determined that the first circuit module 710 operates normally, the first processor 820 of the first failure processing unit 720 is a signal indicating that the first circuit module 710 operates normally. And outputs the generated signal to the second failure unit 730 (that is, the second processor 840 of the second failure unit 730). In one embodiment, when it is determined that a failure has occurred in the first circuit module 710, the first processor 820 generates a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module 710, and the generated signal May be output to the second failure processing unit 730 (ie, the second processor 840 of the second failure processing unit 730 ).

단계 S912에서, 제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)로부터 출력되는 신호에 기초하여 제1 고장 처리부(720)로부터 파라미터를 추출할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단하고, 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 또한, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결되는 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다. 예를 들면, 제2 프로세서(840)는 도 11에 도시된 바와 같이, 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보(PI1 내지 PI7) 중 가장 최근(T4)에 저장된 파라미터 정보(PI6 및 PI7)를 추출할 수 있다. 추출된 파라미터 정보(PI6 및 PI7)는 파라미터 정보가 생성된 시간(T4)에 매핑하여 제2 저장부(850)에 저장될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단하고, 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신된 것으로 판단되면, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 또한, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결되는 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다. In step S912, the second failure processing unit 730 may extract a parameter from the first failure processing unit 720 based on a signal output from the first failure processing unit 720. In one embodiment, the second processor 840 of the second failure processing unit 730 determines whether a signal indicating that the first circuit module 710 operates normally is received from the first processor 820, When it is determined that a signal has not been received from the first processor 820, a control signal for controlling the relay unit 830 may be output to the relay unit 830. In addition, the second processor 840 inquires the first storage unit 810 connected through the relay unit 830, and the most recently stored parameter information (that is, the most recently stored parameter information among the parameter information stored in the first storage unit 810). Recently generated parameter information) can be extracted. For example, the second processor 840, as shown in FIG. 11, the parameter information (PI 1 to PI 7 ) stored in the most recent (T 4 ) of the parameter information (PI 1 to PI 7 ) stored in the first storage unit 810 6 and PI 7 ) can be extracted. The extracted parameter information PI 6 and PI 7 may be mapped to a time T 4 at which the parameter information is generated and stored in the second storage unit 850. In one embodiment, the second processor 840 determines whether a signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module 710 is received from the first processor 820, and When it is determined that the signal has been received, a control signal for controlling the relay unit 830 may be output to the relay unit 830. In addition, the second processor 840 inquires the first storage unit 810 connected through the relay unit 830, and the most recently stored parameter information (that is, the most recently stored parameter information among the parameter information stored in the first storage unit 810). Recently generated parameter information) can be extracted.

단계 S914에서, 제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)에 의해 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)의 제2 저장부(850)에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다.In operation S914, the second circuit module 740 may pre-operate the object by executing a program based on the parameter information extracted by the second failure processing unit 730. In an embodiment, the second circuit module 740 may preliminarily operate the object by executing a program based on parameter information stored in the second storage unit 850 of the second failure processing unit 730.

위 방법은 특정 실시예들을 통하여 설명되었지만, 위 방법은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의해 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있다. 또한, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고, 위 실시예들을 구현하기 위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.Although the above method has been described through specific embodiments, the above method can also be implemented as a computer-readable code on a computer-readable recording medium. The computer-readable recording medium includes all types of recording devices that store data that can be read by a computer system. Examples of computer-readable recording media include ROM, RAM, CD-ROM, magnetic tapes, floppy disks, and optical data storage devices. In addition, the computer-readable recording medium is distributed over a computer system connected through a network, so that computer-readable codes can be stored and executed in a distributed manner. In addition, functional programs, codes, and code segments for implementing the above embodiments can be easily inferred by programmers in the technical field to which the present invention belongs.

이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 발명의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 발명의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.Although the technical idea of the present invention has been described with reference to some embodiments and examples shown in the accompanying drawings above, it does not depart from the technical idea and scope of the present invention that can be understood by those of ordinary skill in the art. It will be appreciated that various substitutions, modifications and changes may be made in the range. In addition, such substitutions, modifications and changes are to be considered as falling within the scope of the appended claims.

100: 회로 이중화 시스템 110: 제1 회로 모듈
111: DC-DC 컨버터 112: 주 회로부
120: 제2 회로 모듈 121: DC-DC 컨버터
122: 예비 회로부 130: 고장 처리부
140: 모체 기판 150: 전원 공급부
210: 전원 릴레이부 220: 전원 감지부
230: 프로세서 240: 표시부
250: DC-DC 컨버터 700: 회로 이중화 시스템
710: 제1 회로 모듈 720: 제1 고장 처리부
730: 제2 고장 처리부 740: 제2 회로 모듈
750: 모체 기판 810: 제1 저장부
820: 제1 프로세서 830: 릴레이부
840: 제2 프로세서 850: 제2 저장부
100: circuit redundancy system 110: first circuit module
111: DC-DC converter 112: main circuit
120: second circuit module 121: DC-DC converter
122: spare circuit unit 130: failure processing unit
140: mother substrate 150: power supply
210: power relay unit 220: power detection unit
230: processor 240: display
250: DC-DC converter 700: circuit redundant system
710: first circuit module 720: first failure processing unit
730: second failure processing unit 740: second circuit module
750: mother substrate 810: first storage unit
820: first processor 830: relay unit
840: second processor 850: second storage unit

Claims (38)

대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템으로서,
상기 대상체를 작동시키기 위한 프로그램을 저장하고, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈;
상기 프로그램을 저장하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장시에 상기 전원 공급부로부터 인가되는 상기 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈; 및
상기 제1 회로 모듈 및 상기 제2 회로 모듈에 연결되고, 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 상기 제2 회로 모듈에 상기 전원을 인가하는 고장 처리부
를 포함하는 회로 이중화 시스템.
A circuit redundancy system for redundant circuits that operate an object,
A first circuit module that stores a program for operating the object and operates the object by executing the program by power applied from a power supply;
A second circuit module preliminarily operating the object by storing the program and executing the program by the power applied from the power supply when the first circuit module fails; And
A failure processing unit connected to the first circuit module and the second circuit module, detecting a failure of the first circuit module, cutting off power applied to the first circuit module, and applying the power to the second circuit module
Circuit redundancy system comprising a.
제1항에 있어서, 상기 고장 처리부는,
상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈 또는 상기 제2 회로 모듈에 연결시키는 전원 릴레이부;
상기 전원 릴레이부로부터 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원을 감지하고 감지 신호를 출력하는 전원 감지부; 및
상기 전원 감지부로부터 출력되는 상기 감지 신호에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장에 대응하여 상기 제2 회로 모듈을 작동시키기 위한 제어 신호를 출력하는 프로세서
를 포함하는 회로 이중화 시스템.
The method of claim 1, wherein the failure processing unit,
A power relay unit connecting the power supply unit to the first circuit module or the second circuit module;
A power detector configured to detect the power applied to the first circuit module from the power relay unit and output a detection signal; And
Processor for determining whether the first circuit module has a failure based on the detection signal output from the power detection unit, and outputting a control signal for operating the second circuit module in response to the failure of the first circuit module
Circuit redundancy system comprising a.
제2항에 있어서, 상기 전원 감지부는,
상기 전원 릴레이부로부터 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원의 전류값을 감지하고,
상기 전류값을 포함하는 상기 감지 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 2, wherein the power detection unit,
Sensing a current value of the power applied to the first circuit module from the power relay unit,
The circuit redundancy system for outputting the detection signal including the current value.
제3항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 상기 감지 신호에 포함된 상기 전류값을 비교하고,
상기 전류값이 상기 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 상기 제어 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 3, wherein the processor,
Compare the current value included in the detection signal with a first preset threshold value for determining whether the first circuit module has a failure,
Outputting the control signal when it is determined that the current value is equal to or greater than the first threshold value.
제4항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 제1 임계값보다 작으며 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 상기 감지 신호에 포함된 상기 전류값을 비교하고,
상기 전류값이 상기 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 상기 제어 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 4, wherein the processor,
Compare the current value included in the detection signal with a second preset threshold value that is smaller than the first threshold value and for determining whether the first circuit module has a failure,
Outputting the control signal when it is determined that the current value is less than or equal to the second threshold value.
제2항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어 신호는,
상기 전원 릴레이부를 제어하여 상기 전원 공급부와 상기 제1 회로 모듈의 연결을 해제하고 상기 전원 공급부를 상기 제2 회로 모듈에 연결시키기 위한 제1 제어 신호; 및
상기 제2 회로 모듈을 제어하여 상기 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호
를 포함하는 회로 이중화 시스템.
The method according to any one of claims 2 to 5, wherein the control signal is
A first control signal for controlling the power relay unit to disconnect the power supply unit from the first circuit module and connect the power supply unit to the second circuit module; And
A second control signal for preliminarily operating the object by controlling the second circuit module
Circuit redundancy system comprising a.
제2항에 있어서, 상기 고장 처리부는 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는, 회로 이중화 시스템.The circuit redundancy system according to claim 2, wherein the failure processing unit generates failure occurrence information indicating that a failure has occurred in the first circuit module. 제7항에 있어서, 상기 고장 처리부는
상기 고장 발생 정보를 표시하는 표시부
를 더 포함하는 회로 이중화 시스템.
The method of claim 7, wherein the failure processing unit
Display unit for displaying the fault occurrence information
Circuit redundancy system further comprising a.
제2항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하고, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 상기 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 상기 전원 릴레이부를 제어하여 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하기 위한 제3 제어 신호를 출력하고,
상기 전원 릴레이부는 상기 제3 제어 신호에 기초하여 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 2, wherein the processor determines whether the power supply unit has been switched from a turned-off state to a turned-on state, and the power supply unit is converted from a turned-off state to a turned-on state to resupply the power. When it is determined, by controlling the power relay unit to output a third control signal for connecting the power supply unit to the first circuit module,
The power relay unit connects the power supply unit to the first circuit module based on the third control signal.
프로그램을 저장하는 제1 회로 모듈, 상기 프로그램을 저장하는 제2 회로 모듈 및 고장 처리부를 포함하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법으로서,
상기 제1 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계;
상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계;
상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈의 고장에 따라 상기 전원 공급부와 상기 제1 회로 모듈의 연결을 해제시키고, 상기 전원 공급부를 상기 제2 회로 모듈에 연결하는 단계; 및
상기 제2 회로 모듈에서, 상기 전원 공급부로부터 인가되는 상기 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 예비 작동시키는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
A circuit redundancy method in a circuit redundancy system including a first circuit module storing a program, a second circuit module storing the program, and a failure processing unit,
Operating the object by executing the program by power applied from a power supply unit in the first circuit module;
Detecting, by the failure processing unit, a failure of the first circuit module based on the power applied to the first circuit module;
In the failure processing unit, disconnecting the power supply unit and the first circuit module according to a failure of the first circuit module, and connecting the power supply unit to the second circuit module; And
Pre-operating the object by executing the program by the power applied from the power supply in the second circuit module
Circuit redundancy method comprising a.
제10항에 있어서, 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계는,
상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원의 전류값을 감지하는 단계; 및
상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 10, wherein detecting a failure of the first circuit module,
Sensing a current value of the power applied to the first circuit module; And
Determining whether the first circuit module has failed based on the current value
Circuit redundancy method comprising a.
제11항에 있어서, 상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는,
상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 상기 전류값을 비교하는 단계; 및
상기 전류값이 상기 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 11, wherein determining whether the first circuit module has failed based on the current value,
Comparing the current value with a first preset threshold value for determining whether the first circuit module has a failure; And
Determining that a failure has occurred in the first circuit module when it is determined that the current value is equal to or greater than the first threshold value
Circuit redundancy method comprising a.
제12항에 있어서, 상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는,
상기 제1 임계값보다 작으며 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 상기 전류값을 비교하는 단계; 및
상기 전류값이 상기 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 12, wherein determining whether the first circuit module has failed based on the current value,
Comparing the current value with a second preset threshold value that is smaller than the first threshold value and is used to determine whether the first circuit module has a failure; And
Determining that a failure has occurred in the first circuit module when it is determined that the current value is less than the second threshold value
Circuit redundancy method comprising a.
제10항에 있어서,
상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는 단계; 및
상기 고장 처리부에서, 상기 고장 발생 정보를 표시부에 표시하는 단계
를 더 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 10,
Generating, in the failure processing unit, failure occurrence information indicating that a failure has occurred in the first circuit module; And
In the failure processing unit, displaying the failure occurrence information on a display unit
Circuit redundancy method further comprising a.
제10항에 있어서,
상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하는 단계;
상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 상기 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 상기 전원 공급부와 상기 제2 회로 모듈의 연결을 해제하는 단계; 및
상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하는 단계
를 더 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 10,
Determining, in the failure processing unit, whether the power supply unit is switched from a turned-off state to a turned-on state;
In the failure processing unit, when it is determined that the power supply unit is switched from a turned-off state to a turned-on state and the power is supplied again, disconnecting the connection between the power supply unit and the second circuit module; And
In the failure processing unit, connecting the power supply to the first circuit module
Circuit redundancy method further comprising a.
대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템으로서,
프로그램을 저장하고, 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈;
상기 제1 회로 모듈에 연결되고, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 저장하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 제1 고장 처리부;
상기 제1 고장 처리부에 연결되고, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 제2 고장 처리부; 및
상기 제2 고장 처리부에 연결되고, 상기 프로그램을 저장하고, 상기 추출된 파라미터 정보에 기초하여 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈
을 포함하는 회로 이중화 시스템.
A circuit redundancy system for redundant circuits that operate an object,
A first circuit module storing a program and executing the program to operate the object;
It is connected to the first circuit module, generates and stores parameter information related to the operation of the object every preset first time, detects whether the first circuit module has a failure, and indicates whether the first circuit module has a failure A first failure processing unit outputting a signal;
A second failure processing unit connected to the first failure processing unit and extracting the parameter information from the first failure processing unit based on the signal; And
A second circuit module connected to the second failure processing unit, storing the program, and preliminarily operating the object by executing the program based on the extracted parameter information
Circuit redundancy system comprising a.
제16항에 있어서, 상기 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 회로 이중화 시스템.The circuit redundancy system of claim 16, wherein the parameter information includes at least one of GPS location data, navigation data, sensor signals, and object operation procedure data. 제16항에 있어서, 상기 제1 고장 처리부는,
상기 파라미터 정보를 상기 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 저장하는 제1 저장부;
상기 사전 설정된 제1 시간마다 상기 파라미터 정보를 생성하여 상기 제1 저장부에 저장하고, 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 상기 신호를 생성하고, 상기 신호를 상기 제2 고장 처리부로 출력하는 제1 프로세서; 및
상기 제1 저장부를 상기 제1 프로세서 또는 상기 제2 고장 처리부에 연결하는 릴레이부
를 포함하는 회로 이중화 시스템.
The method of claim 16, wherein the first failure processing unit,
A first storage unit that maps and stores the parameter information to a time when the parameter information is generated;
The parameter information is generated at each preset first time and stored in the first storage unit, and the signal is generated by determining whether the first circuit module has failed at every second preset time. 2 a first processor outputting to the failure processing unit; And
A relay unit connecting the first storage unit to the first processor or the second failure processing unit
Circuit redundancy system comprising a.
제18항에 있어서, 상기 제1 저장부는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함하는 회로 이중화 시스템.19. The circuit redundancy system of claim 18, wherein the first storage unit comprises ferroelectrics random access memory (FRAM). 제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는 상기 릴레이부, 상기 제1 회로 모듈 및 상기 제1 저장부와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행하는, 회로 이중화 시스템. The circuit redundancy system of claim 18, wherein the first processor performs serial peripheral interface (SPI) communication with the relay unit, the first circuit module, and the first storage unit. 제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는,
상기 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고,
상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호를 생성하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 18, wherein the first processor,
It is determined whether or not the first circuit module has a failure every second preset time,
When it is determined that the first circuit module is operating normally, generating the signal indicating that the first circuit module is operating normally.
제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는,
상기 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고,
상기 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호를 생성하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 18, wherein the first processor,
It is determined whether or not the first circuit module has a failure every second preset time,
If it is determined that the first circuit module has a failure, generating the signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module.
제18항에 있어서, 상기 제2 고장 처리부는,
상기 릴레이부 및 상기 제1 프로세서에 연결되고, 상기 신호에 기초하여 상기 릴레이부를 통해 연결되는 상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 제2 프로세서; 및
상기 추출된 파라미터 정보를 저장하는 제2 저장부
를 포함하는 회로 이중화 시스템.
The method of claim 18, wherein the second failure processing unit,
A second processor connected to the relay unit and the first processor, and extracting the parameter information from the first storage unit connected through the relay unit based on the signal; And
A second storage unit for storing the extracted parameter information
Circuit redundancy system comprising a.
제23항에 있어서, 제2 프로세서는,
상기 제1 프로세서로부터 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하고,
상기 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 상기 릴레이부와 상기 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 상기 릴레이부를 상기 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 상기 릴레이부에 출력하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 23, wherein the second processor,
It is determined whether the signal indicating that the first circuit module is operating normally is received from the first processor,
When it is determined that the signal has not been received, the connection between the relay unit and the first processor is released, and a control signal for connecting the relay unit to the second processor is output to the relay unit.
제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는,
상기 제1 프로세서로부터 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하고,
상기 신호가 수신된 것으로 판단되면 상기 릴레이부와 상기 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 상기 릴레이부를 상기 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 상기 릴레이부에 출력하는, 회로 이중화 시스템.
The method of claim 23, wherein the second processor,
Determining whether the signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module is received from the first processor,
When it is determined that the signal has been received, the connection between the relay unit and the first processor is released, and a control signal for connecting the relay unit to the second processor is output to the relay unit.
제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는, 상기 제1 저장부에 저장된 상기 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보를 추출하는. 회로 이중화 시스템.The method of claim 23, wherein the second processor extracts the most recently stored parameter information from the parameter information stored in the first storage unit. Circuit redundancy system. 제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는, 상기 릴레이부 및 상기 제2 저장부와 SPI 통신을 수행하는, 회로 이중화 시스템.The circuit redundancy system of claim 23, wherein the second processor performs SPI communication with the relay unit and the second storage unit. 제23항에 있어서, 상기 제2 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 시스템.The circuit redundancy system of claim 23, wherein the second storage unit comprises an FRAM. 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법으로서,
제1 회로 모듈에서, 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 단계;
제1 고장 처리부에서, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계;
상기 제1 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계;
제2 고장 처리부에서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계; 및
제2 회로 모듈에서, 상기 제2 저장부에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
A circuit redundancy method in a circuit redundancy system for redundant circuits that operate an object,
Operating the object by executing a program in a first circuit module;
Generating, by a first failure processing unit, parameter information related to the operation of the object every preset first time and storing it in a first storage unit;
Detecting, by the first failure processing unit, whether the first circuit module has failed and outputting a signal indicating whether the first circuit module has failed;
In a second failure processing unit, extracting the parameter information from the first failure processing unit based on the signal and storing the parameter information in a second storage unit; And
Pre-operating an object by executing the program, in a second circuit module, based on parameter information stored in the second storage unit
Circuit redundancy method comprising a.
제29항에 있어서, 상기 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 회로 이중화 방법.The method of claim 29, wherein the parameter information includes at least one of GPS location data, navigation data, sensor signals, and object operation procedure data. 제29항에 있어서, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계는,
상기 파라미터 정보를 상기 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 상기 제1 저장부에 저장하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 29, wherein the step of generating parameter information related to the operation of the object every preset first time and storing it in the first storage unit,
Mapping the parameter information to a time when the parameter information is generated and storing the parameter information in the first storage unit
Circuit redundancy method comprising a.
제29항에 있어서, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계는,
사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계;
상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계; 및
상기 신호를 상기 제2 고장 처리부로 출력하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 29, wherein detecting whether the first circuit module has a failure and outputting a signal indicating whether the first circuit module has failed,
Determining whether the first circuit module has a failure every second preset time;
Generating the signal based on the determination of the failure; And
Outputting the signal to the second failure processing unit
Circuit redundancy method comprising a.
제31항에 있어서, 상기 제1 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.32. The method of claim 31, wherein the first storage unit comprises an FRAM. 제32항에 있어서, 상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계는
상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호를 생성하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 32, wherein generating the signal based on the determination of the failure
If it is determined that the first circuit module is operating normally, generating the signal indicating that the first circuit module is operating normally
Circuit redundancy method comprising a.
제32항에 있어서, 상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계는,
상기 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호를 생성하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 32, wherein generating the signal based on the determination of whether or not the failure comprises:
If it is determined that the first circuit module has a failure, generating the signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module
Circuit redundancy method comprising a.
제32항에 있어서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는,
상기 제1 고장 처리부로부터 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하는 단계;
상기 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 상기 제1 저장부에 연결하는 단계;
상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및
상기 추출된 파라미터 정보를 상기 제2 저장부에 저장하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 32, wherein the step of extracting the parameter information from the first failure processing unit based on the signal and storing the parameter information in a second storage unit,
Determining whether the signal indicating that the first circuit module operates normally is received from the first failure processing unit;
Connecting to the first storage unit when it is determined that the signal has not been received;
Extracting the parameter information from the first storage unit; And
Storing the extracted parameter information in the second storage unit
Circuit redundancy method comprising a.
제32항에 있어서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는,
상기 제1 고장 처리부로부터 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하는 단계;
상기 신호가 수신된 것으로 판단되면 상기 제1 저장부에 연결하는 단계;
상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및
상기 추출된 파라미터 정보를 상기 제2 저장부에 저장하는 단계
를 포함하는 회로 이중화 방법.
The method of claim 32, wherein the step of extracting the parameter information from the first failure processing unit based on the signal and storing the parameter information in a second storage unit,
Determining whether the signal indicating that a failure has occurred in the first circuit module is received from the first failure processing unit;
Connecting to the first storage unit when it is determined that the signal has been received;
Extracting the parameter information from the first storage unit; And
Storing the extracted parameter information in the second storage unit
Circuit redundancy method comprising a.
제37항에 있어서, 상기 제2 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.

38. The method of claim 37, wherein the second storage unit comprises an FRAM.

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