KR20210002170A - Display device - Google Patents

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KR20210002170A
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박준현
김동우
문성재
조강문
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삼성디스플레이 주식회사
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a display device includes: a substrate; a metal layer disposed on the substrate; a first conductive layer including a lower pattern disposed on the metal layer; an active layer disposed on the first conductive layer; a second conductive layer disposed on the active layer and including a first gate electrode; a pixel electrode disposed on the second conductive layer; and an emission layer and a common electrode disposed on the pixel electrode. According to the present invention, resistance to a predetermined signal is reduced through the metal layer while maintaining the thickness of the lower pattern below a certain level.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}Display device {DISPLAY DEVICE}

본 개시는 표시 장치에 관한 것이다.The present disclosure relates to a display device.

표시 장치는 이미지를 표시하는 장치로, 최근 자발광 표시 장치로서 발광 표시 장치(light emitting diode display)가 주목 받고 있다.A display device is a device that displays an image, and recently, a light emitting diode display has been attracting attention as a self-luminous display device.

발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 가지며, 액정 표시 장치(liquid crystal display device)와 달리 별도의 광원을 필요로 하지 않으므로 두께와 무게를 줄일 수 있다. 또한, 발광 표시 장치는 낮은 소비 전력, 높은 휘도 및 높은 반응 속도 등의 고품위 특성을 나타낸다.The light emitting display device has a self-luminous characteristic, and unlike a liquid crystal display device, since it does not require a separate light source, thickness and weight can be reduced. In addition, the light emitting display device exhibits high quality characteristics such as low power consumption, high luminance, and high reaction speed.

일반적으로 발광 표시 장치는 복수의 화소를 포함하고, 각 화소는 복수의 트랜지스터 및 발광 소자를 포함한다. 복수의 트랜지스터는 신호선에 연결되어 있으며 발광 소자에 구동 전류를 전달할 수 있다. 트랜지스터는 채널 영역 및 도전 영역을 포함하는 액티브 패턴을 포함할 수 있다.In general, a light emitting display device includes a plurality of pixels, and each pixel includes a plurality of transistors and a light emitting element. The plurality of transistors are connected to the signal line and can transmit driving current to the light emitting device. The transistor may include an active pattern including a channel region and a conductive region.

발광 소자는 애노드 및 캐소드를 포함하고, 애노드는 화소의 트랜지스터와 연결되어 구동 전류를 전달받을 수 있다.The light emitting device includes an anode and a cathode, and the anode is connected to a transistor of a pixel to receive a driving current.

실시예들은 하부 패턴의 두께를 일정 수준 이하로 유지하면서 금속층을 통해 소정의 신호에 대한 저항을 감소시켜 영상 품질이 향상된 표시 장치를 제공하기 위한 것이다.Embodiments provide a display device with improved image quality by reducing resistance to a signal through a metal layer while maintaining the thickness of a lower pattern below a certain level.

일 실시예에 따른 표시 장치는 기판, 상기 기판 위에 위치하는 금속층, 상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층, 상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층, 상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층, 상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극, 상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함한다. The display device according to an exemplary embodiment includes a substrate, a metal layer disposed on the substrate, a first conductive layer including a lower pattern disposed on the metal layer, an active layer disposed on the first conductive layer, and a first conductive layer disposed on the active layer. And a second conductive layer including one gate electrode, a pixel electrode disposed on the second conductive layer, a light emitting layer disposed on the pixel electrode, and a common electrode.

상기 금속층은 기판 전면과 중첩할 수 있다. The metal layer may overlap the entire surface of the substrate.

상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The metal layer may include an opening overlapping the active layer.

상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함할 수 있다. A third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line may be further included.

상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The metal layer may include at least one of a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.

상기 금속층은 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층을 포함하고, 상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격될 수 있다. The metal layer may include a first voltage metal layer and the second voltage metal layer, and the first voltage metal layer and the second voltage metal layer may be spaced apart from each other.

상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The first voltage metal layer and the second voltage metal layer may include openings overlapping the active layer.

상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고, 상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 그리고 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line, and the metal layer includes a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and It may include at least one of the third sub metal layers connected to the third data line.

상기 금속층은 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층을 포함하고, 상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The metal layer includes a first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer, and the first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer include an opening overlapping the active layer. can do.

상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격될 수 있다. The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer may be spaced apart from each other.

일 실시예에 따른 표시 장치는 기판, 상기 기판 위에 위치하는 금속층, 상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층, 상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층, 상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층, 상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극, 상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하고, 상기 금속층의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬이다. The display device according to an exemplary embodiment includes a substrate, a metal layer disposed on the substrate, a first conductive layer including a lower pattern disposed on the metal layer, an active layer disposed on the first conductive layer, and a first conductive layer disposed on the active layer. A second conductive layer including one gate electrode, a pixel electrode disposed on the second conductive layer, a light emitting layer disposed on the pixel electrode, and a common electrode, and the thickness of the metal layer is about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms.

실시예들에 따르면 하부 패턴의 두께를 일정 수준 이하로 유지하면서 금속층을 통해 신호에 대한 저항을 감소시켜 영상 품질이 향상된 표시 장치를 제공할 수 있다. According to embodiments, a display device with improved image quality may be provided by reducing resistance to signals through a metal layer while maintaining a thickness of a lower pattern below a certain level.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 한 화소에 대한 회로도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 전극층 및 복수의 데이터선에 대한 평면 배치도이다.
도 4는 도 2에 도시한 표시 장치를 IVa-IVb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6b는 도 6a의 일부 영역에 대한 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 9는 도 8에 도시한 표시 장치를 XIIIa-XIIIb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 단면도이다.
1 is a circuit diagram of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
3 is a plan layout view of a pixel electrode layer and a plurality of data lines of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the display device illustrated in FIG. 2 taken along line IVa-IVb.
5 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
6A is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 6B is a cross-sectional view of a partial area of FIG. 6A.
7 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
9 is a cross-sectional view of the display device shown in FIG. 8 taken along lines XIIIa-XIIIb.
10 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
11 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment.
12 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
13 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
14 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
15 is a cross-sectional view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those of ordinary skill in the art may easily implement the present invention. The present invention may be implemented in various different forms and is not limited to the embodiments described herein.

본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly describe the present invention, parts irrelevant to the description have been omitted, and the same reference numerals are assigned to the same or similar components throughout the specification.

또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.In addition, the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of description, so the present invention is not necessarily limited to the illustrated bar. In the drawings, the thicknesses are enlarged to clearly express various layers and regions. And in the drawings, for convenience of description, the thickness of some layers and regions is exaggerated.

또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한, 기준이 되는 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 하는 것은 기준이 되는 부분의 위 또는 아래에 위치하는 것이고, 반드시 중력 반대 방향 쪽으로 "위에" 또는 "상에" 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.In addition, when a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" or "on" another part, this includes not only "directly over" another part, but also a case where another part is in the middle. . Conversely, when one part is "directly above" another part, it means that there is no other part in the middle. In addition, to be "on" or "on" the reference part means that it is located above or below the reference part, and does not necessarily mean that it is located "above" or "on" the direction opposite to the gravity. .

또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In addition, throughout the specification, when a part "includes" a certain component, it means that other components may be further included rather than excluding other components unless otherwise stated.

또한, 명세서 전체에서, "평면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 위에서 보았을 때를 의미하며, "단면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 수직으로 자른 단면을 옆에서 보았을 때를 의미한다.In addition, throughout the specification, when referred to as "on a plane", it means when the target portion is viewed from above, and when referred to as "cross-sectional view", it means when the cross-section of the target portion vertically cut is viewed from the side.

명세서 전체에서, 평면 뷰(in a plan view)는 서로 교차하는 두 방향(예를 들어, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2))에 평행한 면을 관찰하는 뷰를 의미하고(평면상이라고도 표현함), 단면 뷰(in a cross-sectional view)는 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)에 평행한 면에 수직인 방향(예를 들어, 제3방향(DR3))으로 자른 면을 관찰하는 뷰를 의미한다. 또한, 두 구성 요소가 중첩한다고 할 때는 다른 언급이 없는 한 두 구성 요소가 제3방향(DR3)으로(예를 들어, 기판의 윗면에 수직인 방향으로) 중첩하는 것을 의미한다.Throughout the specification, a plan view refers to a view that observes a plane parallel to two directions that intersect each other (for example, the first direction (DR1) and the second direction (DR2)). Also referred to as an image), the cross-sectional view is in a direction perpendicular to a plane parallel to the first direction DR1 and the second direction DR2 (for example, the third direction DR3). It means a view to observe the cut side. In addition, when two components overlap, unless otherwise stated, it means that the two components overlap in the third direction DR3 (eg, in a direction perpendicular to the upper surface of the substrate).

이하 도 1을 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소에 대해 살펴본다. 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 한 화소(PX)에 대한 회로도이다.Hereinafter, one pixel of a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 1. 1 is a circuit diagram of one pixel PX of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소(PX)를 포함하고, 한 화소(PX)는 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3), 커패시터(Cst), 그리고 발광 소자인 적어도 하나의 발광 다이오드(light emitting diode)(ED)를 포함할 수 있다. 본 실시예에서는 한 화소(PX)가 하나의 발광 다이오드(ED)를 포함하는 예를 주로 하여 설명한다.The display device according to the exemplary embodiment of the present invention includes a plurality of pixels PX, and one pixel PX includes a plurality of transistors T1, T2, T3, a capacitor Cst, and at least one light emitting device. It may include a light emitting diode (ED). In this embodiment, an example in which one pixel PX includes one light emitting diode ED will be mainly described.

복수의 트랜지스터(T1, T2, T3)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)를 포함한다. 아래에서 설명할 소스 전극과 드레인 전극은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 채널의 양쪽에 위치하는 두 전극을 구분하기 위한 것으로 두 용어가 서로 바뀔 수도 있다.The plurality of transistors T1, T2, and T3 include a first transistor T1, a second transistor T2, and a third transistor T3. The source electrode and the drain electrode, which will be described below, are used to distinguish between two electrodes positioned on both sides of the channel of each of the transistors T1, T2, and T3, and the terms may be interchanged with each other.

제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)은 커패시터(Cst)의 일단과 연결되어 있고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1)은 구동 전압(ELVDD)을 전달하는 구동 전압선과 연결되어 있고, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1)은 발광 다이오드(ED)의 애노드 및 커패시터(Cst)의 타단과 연결되어 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제2 트랜지스터(T2)의 스위칭 동작에 따라 데이터 전압(DAT)을 전달받아 커패시터(Cst)에 저장된 전압에 따라 발광 다이오드(ED)에 구동 전류를 공급할 수 있다.The gate electrode G1 of the first transistor T1 is connected to one end of the capacitor Cst, and the source electrode S1 of the first transistor T1 is connected to a driving voltage line that transfers the driving voltage ELVDD. In addition, the drain electrode D1 of the first transistor T1 is connected to the anode of the light emitting diode ED and the other end of the capacitor Cst. The first transistor T1 may receive the data voltage DAT according to the switching operation of the second transistor T2 and supply a driving current to the light emitting diode ED according to the voltage stored in the capacitor Cst.

제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(G2)은 제1 스캔 신호(SC)를 전달하는 제1 스캔선과 연결되어 있고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스 전극(S2)은 데이터 전압(DAT) 또는 기준 전압을 전달할 수 있는 데이터선과 연결되어 있고, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(D2)은 커패시터(Cst)의 일단 및 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 연결되어 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 제1 스캔 신호(SC)에 따라 턴온되어 기준 전압 또는 데이터 전압(DAT)을 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단으로 전달할 수 있다.The gate electrode G2 of the second transistor T2 is connected to the first scan line transmitting the first scan signal SC, and the source electrode S2 of the second transistor T2 is the data voltage DAT or It is connected to a data line capable of transmitting a reference voltage, and the drain electrode D2 of the second transistor T2 is connected to one end of the capacitor Cst and the gate electrode G1 of the first transistor T1. The second transistor T2 is turned on according to the first scan signal SC to transfer the reference voltage or the data voltage DAT to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst. .

제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극(G3)은 제2 스캔 신호(SS)를 전달하는 제2 스캔선과 연결되어 있고, 제3 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3)은 커패시터(Cst)의 타단, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드와 연결되어 있고, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 전극(D3)은 초기화 전압(INIT)을 전달하는 초기화 전압선과 연결되어 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 제2 스캔 신호(SS)에 따라 턴온되어 초기화 전압(INIT)을 발광 다이오드(ED)의 애노드 및 커패시터(Cst)의 타단에 전달하여 발광 다이오드(ED)의 애노드의 전압을 초기화시킬 수 있다.The gate electrode G3 of the third transistor T3 is connected to a second scan line that transmits the second scan signal SS, and the source electrode S3 of the third transistor T3 is the other end of the capacitor Cst. , The drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED are connected, and the drain electrode D3 of the third transistor T3 is connected to an initialization voltage line transmitting the initialization voltage INIT. It is connected. The third transistor T3 is turned on according to the second scan signal SS, and transmits the initialization voltage INIT to the anode of the LED ED and the other end of the capacitor Cst to provide the voltage of the anode of the LED ED. Can be initialized.

커패시터(Cst)의 일단은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 연결되어 있고, 타단은 제3 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드와 연결되어 있다. 발광 다이오드(ED)의 캐소드는 공통 전압(ELVSS)을 전달하는 공통 전압선과 연결되어 있다.One end of the capacitor Cst is connected to the gate electrode G1 of the first transistor T1, and the other end is connected to the source electrode S3 of the third transistor T3 and the anode of the light emitting diode ED. . The cathode of the light emitting diode ED is connected to a common voltage line transmitting a common voltage ELVSS.

발광 다이오드(ED)는 제1 트랜지스터(T1)에 의해 생성된 구동 전류에 따른 휘도의 빛을 발광할 수 있다.The light emitting diode ED may emit light having a luminance according to a driving current generated by the first transistor T1.

도 1에 도시한 회로의 동작의 한 예, 특히 한 프레임 동안의 동작의 한 예에 대하여 설명한다. 여기서는 트랜지스터들(T1, T2, T3)이 N형 채널 트랜지스터인 경우를 예로 들어 설명하나, 이에 한정되는 것은 아니다.An example of the operation of the circuit shown in Fig. 1, in particular, an example of the operation during one frame will be described. Here, a case where the transistors T1, T2, and T3 are N-type channel transistors is described as an example, but the present invention is not limited thereto.

한 프레임이 시작되면, 초기화 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC) 및 하이 레벨의 제2 스캔 신호(SS)가 공급되어 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)가 턴온된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 데이터선으로부터의 기준 전압이 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단에 공급되고, 턴온된 제3 트랜지스터(T3)를 통해 초기화 전압(INIT)이 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드에 공급된다. 이에 따라, 초기화 구간 동안 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 초기화 전압(INIT)으로 초기화된다. 이때, 커패시터(Cst)에는 기준 전압과 초기화 전압(INIT)의 차전압이 저장된다.When one frame starts, a high-level first scan signal SC and a high-level second scan signal SS are supplied during an initialization period to turn on the second transistor T2 and the third transistor T3. The reference voltage from the data line is supplied to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst through the turned-on second transistor T2, and through the turned-on third transistor T3. The initialization voltage INIT is supplied to the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED. Accordingly, during the initialization period, the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED are initialized to the initialization voltage INIT. At this time, the difference voltage between the reference voltage and the initialization voltage INIT is stored in the capacitor Cst.

다음, 센싱 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC)가 유지된 상태에서 제2 스캔 신호(SS)가 로우 레벨이 되면, 제2 트랜지스터(T2)는 턴온 상태를 유지하고 제3 트랜지스터(T3)는 턴오프된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단은 기준 전압을 유지하고, 턴오프된 제3 트랜지스터(T3)를 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 초기화 전압(INIT)으로부터 끊어진다. 이에 따라, 제1 트랜지스터(T1)는 소스 전극(S1)으로부터 드레인 전극(D1)으로 전류가 흐르다가 드레인 전극(D1)의 전압이 "기준 전압-Vth"이 되면 턴오프된다. Vth는 제1 트랜지스터(T1)의 문턱 전압을 나타낸다. 이때, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 드레인 전극(D1)의 전압 차는 커패시터(Cst)에 저장되며, 제1 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(Vth)의 센싱이 완료된다. 센싱 구간 동안 센싱한 특성 정보를 반영하여 보상된 데이터 신호를 생성함으로써, 화소마다 다를 수 있는 제1 트랜지스터(T1)의 특성 편차를 외부적으로 보상할 수 있다.Next, when the second scan signal SS reaches the low level while the high level first scan signal SC is maintained during the sensing period, the second transistor T2 maintains a turn-on state and the third transistor T3 ) Is turned off. The gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst maintain the reference voltage through the turned-on second transistor T2, and the first transistor through the turned-off third transistor T3. The drain electrode D1 of (T1) and the anode of the light emitting diode ED are disconnected from the initialization voltage INIT. Accordingly, the first transistor T1 is turned off when a current flows from the source electrode S1 to the drain electrode D1 and the voltage of the drain electrode D1 becomes “reference voltage-Vth”. Vth represents the threshold voltage of the first transistor T1. At this time, the voltage difference between the gate electrode G1 and the drain electrode D1 of the first transistor T1 is stored in the capacitor Cst, and sensing of the threshold voltage Vth of the first transistor T1 is completed. By generating a compensated data signal by reflecting the characteristic information sensed during the sensing period, a characteristic variation of the first transistor T1, which may vary for each pixel, can be externally compensated.

다음, 데이터 입력 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC)가 공급되고 로우 레벨의 제2 스캔 신호(SS)가 공급되면, 제2 트랜지스터(T2)는 턴온되고 제3 트랜지스터(T3)는 턴오프된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 데이터선으로부터의 데이터 전압(DAT)이 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단에 공급된다. 이 때, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 턴오프 상태인 제1 트랜지스터(T1)에 의해 센싱 구간에서의 전위를 거의 그대로 유지할 수 있다.Next, when the high level first scan signal SC is supplied and the low level second scan signal SS is supplied during the data input period, the second transistor T2 is turned on and the third transistor T3 is turned on. Is off. The data voltage DAT from the data line is supplied to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst through the turned-on second transistor T2. In this case, the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED may maintain the potential in the sensing period substantially as it is by the first transistor T1 in a turned-off state.

다음, 발광 구간에서 게이트 전극(G1)에 전달된 데이터 전압(DAT)에 의해 턴온된 제1 트랜지스터(T1)는 데이터 전압(DAT)에 따른 구동 전류를 발생시키고, 그 구동 전류에 의해 발광 다이오드(ED)가 발광할 수 있다.Next, the first transistor T1 turned on by the data voltage DAT transmitted to the gate electrode G1 in the emission period generates a driving current according to the data voltage DAT, and the light emitting diode ( ED) can emit light.

이하 도 1과 함께 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구체적인 구조에 대해 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대한 평면 배치도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 전극층 및 복수의 데이터선에 대한 평면 배치도이고, 도 4는 도 2에 도시한 표시 장치를 IVa-IVb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.Hereinafter, a detailed structure of a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4 along with FIG. 1. 2 is a plan layout view of a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 3 is a pixel electrode layer and a plurality of data of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention. A plan layout view of a line, and FIG. 4 is a cross-sectional view of the display device of FIG. 2 taken along line IVa-IVb.

여기서, 복수의 화소(PX1, PX2, PX3) 각각은 앞에서 설명한 한 화소(PX)가 포함하는 구성 요소 중 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 및 커패시터(Cst)가 형성된 부분 또는 영역을 의미할 수 있다.Here, each of the plurality of pixels PX1, PX2, PX3 refers to a portion or region in which a plurality of transistors T1, T2, T3 and a capacitor Cst are formed among the components included in the one pixel PX described above. I can.

일 실시예에 따른 표시 장치는 기판(110)을 포함할 수 있다. 기판(110)은 유리, 플라스틱 등의 절연 물질을 포함할 수 있고, 유연성(flexibility)을 가질 수 있다.The display device according to an exemplary embodiment may include a substrate 110. The substrate 110 may include an insulating material such as glass or plastic, and may have flexibility.

기판(110) 위에는 금속층(111)이 위치할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 기판(110) 전면과 중첩할 수 있다. A metal layer 111 may be positioned on the substrate 110. The metal layer 111 according to an embodiment may overlap the entire surface of the substrate 110.

금속층(111)은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함하거나, 금속에 준하는 물질을 포함할 수 있다. 금속층(111)은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다.The metal layer 111 is copper (Cu), aluminum (Al), magnesium (Mg), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), palladium (Pd), nickel (Ni), neodymium (Nd), It may contain at least one of metals such as iridium (Ir), molybdenum (Mo), tungsten (W), titanium (Ti), chromium (Cr), tantalum (Ta), and alloys thereof, or may contain a material similar to a metal. have. The metal layer 111 may include a single layer or multiple layers.

금속층(111)의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬일 수 있다. 금속층(111)은 상당히 두꺼운 두께를 가질 수 있다. 금속층(111)의 두께가 두꺼울수록 화소가 포함하는 트랜지스터의 성능을 향상시켜 영상 품질을 높일 수 있다. 금속층(111)의 두께가 증가하는 경우에도, 금속층(111)에 의한 단차가 발생하는 것이 아니므로 다른 도전층들의 형성이 용이할 수 있으며 신뢰성이 향상될 수 있다. The thickness of the metal layer 111 may be about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms. The metal layer 111 may have a fairly thick thickness. As the thickness of the metal layer 111 increases, the performance of the transistor included in the pixel may be improved, thereby increasing the image quality. Even when the thickness of the metal layer 111 is increased, a step due to the metal layer 111 does not occur, so that other conductive layers may be easily formed and reliability may be improved.

금속층(111) 위에 절연층(112)이 위치할 수 있다. 절연층(112)은 무기 절연 물질을 포함하거나, 유기 절연 물질을 포함하거나, 무기 절연 물질 및 유기 절연 물질을 모두 포함할 수 있다. 절연층(112)을 통해 금속층(111)과 다른 도전층과의 커패시턴스 형성을 제어할 수 있다. An insulating layer 112 may be positioned on the metal layer 111. The insulating layer 112 may include an inorganic insulating material, an organic insulating material, or both an inorganic insulating material and an organic insulating material. Formation of capacitance between the metal layer 111 and another conductive layer may be controlled through the insulating layer 112.

다음 절연층(112) 위에 하부 패턴(115) 및 가로 공통 전압선(170a)을 포함하는 제1 도전층(115, 170a)이 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각의 하부 패턴(115)이 위치할 수 있다. 가로 공통 전압선(170a)은 대략 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다. 하부 패턴(115)은 다양한 도전성 금속 또는 이에 준하는 도전 특성을 가지는 반도체 물질을 포함할 수 있다.Next, first conductive layers 115 and 170a including the lower pattern 115 and the horizontal common voltage line 170a may be positioned on the insulating layer 112. Each lower pattern 115 may be positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3. The horizontal common voltage line 170a may extend substantially in the first direction DR1. The lower pattern 115 may include various conductive metals or semiconductor materials having conductive properties equivalent thereto.

제1 도전층(115, 170a) 위에는 절연층인 버퍼층(120)이 위치할 수 있다.A buffer layer 120, which is an insulating layer, may be positioned on the first conductive layers 115 and 170a.

버퍼층(120) 위에는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)을 포함하는 액티브층이 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 앞에서 설명한 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 각각의 채널을 형성하는 채널 영역(134a, 134b, 134c) 및 이에 연결된 도전 영역을 포함할 수 있다. 각 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 소스 영역(133a, 133b, 133c) 및 드레인 영역(135a, 135b, 135c)을 포함할 수 있다.An active layer including a plurality of active patterns 130a, 130b, and 130c may be positioned on the buffer layer 120. The active patterns 130a, 130b, and 130c positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 include channel regions 134a, 134b, and 134c forming channels of each of the plurality of transistors T1, T2, and T3 described above, and A conductive region connected thereto may be included. The conductive regions of each of the active patterns 130a, 130b, and 130c may include source regions 133a, 133b, 133c and drain regions 135a, 135b, and 135c of each of the transistors T1, T2, and T3.

각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 서로 이격되어 있을 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)은 서로 연결되어 있을 수도 있다. 도 2는 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)이 서로 이격되어 분리된 예를 도시한다.The plurality of active patterns 130a, 130b, and 130c positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 may be spaced apart from each other, but are not limited thereto. For example, the active pattern 130a and the active pattern 130c may be connected to each other. 2 illustrates an example in which the active pattern 130a and the active pattern 130c are separated from each other.

액티브층은 비정질 규소, 다결정 규소, 또는 산화물 반도체 등의 반도체 물질을 포함할 수 있다.The active layer may include a semiconductor material such as amorphous silicon, polycrystalline silicon, or an oxide semiconductor.

액티브층 위에는 제1 절연층인 절연 패턴(144)이 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 채널 영역(134a, 134b, 134c)과 중첩하며 채널 영역(134a, 134b, 134c) 위에 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역과는 실질적으로 중첩하지 않을 수 있다.An insulating pattern 144 as a first insulating layer may be positioned on the active layer. The insulating pattern 144 overlaps the channel regions 134a, 134b, and 134c of the active patterns 130a, 130b, and 130c and may be positioned on the channel regions 134a, 134b, and 134c. The insulating pattern 144 may not substantially overlap the conductive regions of the active patterns 130a, 130b, and 130c.

절연 패턴(144) 위에는 제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)이 위치할 수 있다.Second conductive layers 151, 152, 155, 154b and 154c may be positioned on the insulating pattern 144.

제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)은, 앞에서 설명한 제1 스캔 신호(SC)를 전달할 수 있는 제1 스캔선(151), 제2 스캔 신호(SS)를 전달할 수 있는 제2 스캔선(152), 구동 게이트 전극(155), 제2 게이트 전극(154b), 그리고 제3 게이트 전극(154c) 등을 포함할 수 있다. 앞에서 설명한 회로도에서의 게이트 전극(G1), 게이트 전극(G2) 및 게이트 전극(G3)은 여기서 각각 구동 게이트 전극(155)이 포함하는 제1 게이트 전극(154a), 제2 게이트 전극(154b) 및 제3 게이트 전극(154c)에 대응될 수 있다. 구동 게이트 전극(155)을 제1 게이트 전극이라고도 할 수 있다.The second conductive layers 151, 152, 155, 154b, and 154c include a first scan line 151 capable of transmitting the first scan signal SC described above, and a first scan line 151 capable of transmitting the second scan signal SS. A second scan line 152, a driving gate electrode 155, a second gate electrode 154b, and a third gate electrode 154c may be included. In the above-described circuit diagram, the gate electrode G1, the gate electrode G2, and the gate electrode G3 are each of the first gate electrode 154a, the second gate electrode 154b, and the driving gate electrode 155 included therein. It may correspond to the third gate electrode 154c. The driving gate electrode 155 may also be referred to as a first gate electrode.

제1 및 제2 스캔선(151, 152) 각각은 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 위쪽 및 아래쪽에는 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)이 각각 위치할 수 있다.Each of the first and second scan lines 151 and 152 may extend in the first direction DR1. A first scan line 151 and a second scan line 152 may be positioned above and below the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a group, respectively.

각 구동 게이트 전극(155)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 구동 게이트 전극(155)은 위 또는 아래로 돌출된 형태의 제1 게이트 전극(154a) 및 아래 또는 위로 돌출된 돌출부(155a)을 포함할 수 있다. 제1 게이트 전극(154a)은 액티브 패턴(130a)과 교차하며 액티브 패턴(130a)의 채널 영역(134a)과 중첩한다.Each driving gate electrode 155 may be positioned corresponding to each pixel PX1, PX2, and PX3. The driving gate electrode 155 positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 may include a first gate electrode 154a protruding upward or downward and a protrusion 155a protruding downward or upward. The first gate electrode 154a crosses the active pattern 130a and overlaps the channel region 134a of the active pattern 130a.

복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하는 복수의 제2 게이트 전극(154b)은 서로 연결되어 전체적으로 제2방향(DR2)으로 길게 연장된 형태를 이룰 수 있고 제1 스캔선(151)과 연결되어 있다. 제2 게이트 전극(154b)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 액티브 패턴(130b)과 교차하며 액티브 패턴(130b)의 채널 영역(134b)과 중첩한다.The plurality of second gate electrodes 154b corresponding to the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 may be connected to each other to form a shape that extends long in the second direction DR2 as a whole, and the first scan line 151 and It is connected. The second gate electrode 154b crosses the active pattern 130b of each of the pixels PX1, PX2, and PX3 and overlaps the channel region 134b of the active pattern 130b.

복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하는 복수의 제3 게이트 전극(154c)은 서로 연결되어 전체적으로 제2방향(DR2)으로 길게 연장된 형태를 이룰 수 있고 제2 스캔선(152)과 연결되어 있다. 제3 게이트 전극(154c)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 액티브 패턴(130c)과 교차하며 액티브 패턴(130c)의 채널 영역(134c)과 중첩한다.The plurality of third gate electrodes 154c corresponding to the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 are connected to each other to form a shape that extends long in the second direction DR2 as a whole, and the second scan line 152 and It is connected. The third gate electrode 154c crosses the active pattern 130c of each of the pixels PX1, PX2, and PX3 and overlaps the channel region 134c of the active pattern 130c.

제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)은 뒤에서 설명할 공통 전압선(170)과 중첩하는 도전 패턴(150a)을 더 포함할 수 있다.The second conductive layers 151, 152, 155, 154b and 154c may further include a conductive pattern 150a overlapping a common voltage line 170 to be described later.

제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c) 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다. 버퍼층(120) 및/또는 제2 절연층(160)은 복수의 접촉 구멍(60, 61, 62, 63a, 63b, 64, 65, 66, 68)을 포함할 수 있다.A second insulating layer 160 may be positioned on the second conductive layers 151, 152, 155, 154b and 154c. The buffer layer 120 and/or the second insulating layer 160 may include a plurality of contact holes 60, 61, 62, 63a, 63b, 64, 65, 66, and 68.

제2 절연층(160) 위에는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)이 위치할 수 있다. 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)은, 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)를 기준으로, 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173), 커패시터 전극(175), 그리고 복수의 연결 부재(178)를 포함할 수 있다.Third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, and 178 may be positioned on the second insulating layer 160. The third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178 are a plurality of data lines 171a, 171b, 171c based on a group of pixels PX1, PX2, PX3. ), a driving voltage line 172, a common voltage line 170, an initialization voltage line 173, a capacitor electrode 175, and a plurality of connection members 178.

공통 전압선(170)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60)을 통해 가로 공통 전압선(170a)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 도전층의 도전 패턴(150a)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60a)을 통해 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압선(170)의 저항을 낮출 수 있다. 도전 패턴(150a)은 생략될 수도 있다.The common voltage line 170 may be electrically connected to the horizontal common voltage line 170a through the contact hole 60 of the second insulating layer 160. The conductive pattern 150a of the second conductive layer is electrically connected to the common voltage line 170 through the contact hole 60a of the second insulating layer 160 to reduce the resistance of the common voltage line 170. The conductive pattern 150a may be omitted.

구동 전압선(172)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(61)을 통해 액티브 패턴(130a)의 소스 영역(133a)과 전기적으로 연결되어 있다. The driving voltage line 172 is electrically connected to the source region 133a of the active pattern 130a through the contact hole 61 of the second insulating layer 160.

또한 구동 전압선(172)은 제2 절연층(160), 버퍼층(120) 및 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍(59)을 통해 금속층(111)과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉 금속층(111)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결되어 있으면서 구동 전압선(172)에 의한 신호 저항을 감소시킬 수 있다. In addition, the driving voltage line 172 may be electrically connected to the metal layer 111 through the second insulating layer 160, the buffer layer 120, and the contact hole 59 penetrating the insulating layer 112. That is, while the metal layer 111 is electrically connected to the driving voltage line 172, the signal resistance caused by the driving voltage line 172 may be reduced.

또한 금속층(111)은 기판(110) 전면에 형성되므로 단차에 대한 부담 없이 상당히 두꺼운 두께로 제공될 수 있다. 두께가 증가할수록 금속층(111)에 의한 신호 저항을 용이하게 감소시킬 수 있다. 또한 금속층(111)은 별도의 마스크 없이도 형성될 수 있으므로 제조 공정이 단순하고 공정에 소요되는 비용 및 시간을 감소시킬 수 있다. In addition, since the metal layer 111 is formed on the entire surface of the substrate 110, it can be provided with a considerably thick thickness without the burden of steps. As the thickness increases, the signal resistance due to the metal layer 111 can be easily reduced. In addition, since the metal layer 111 can be formed without a separate mask, the manufacturing process is simple and the cost and time required for the process can be reduced.

초기화 전압선(173)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63a)을 통해 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)과 전기적으로 연결되어 있다.The initialization voltage line 173 is electrically connected to the drain region 135c of the active pattern 130c through the contact hole 63a of the second insulating layer 160.

복수의 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다. 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c) 사이에는 제3 도전층의 다른 구성이 위치하지 않을 수 있다. 각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(64)을 통해 액티브 패턴(130b)의 소스 영역(133b)과 전기적으로 연결되어 있다. 각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이 적어도 한 번 굴곡되어 있을 수 있다.The plurality of data lines 171a, 171b, and 171c may be arranged adjacent to each other in the first direction DR1. Other configurations of the third conductive layer may not be positioned between the plurality of data lines 171a, 171b, and 171c. Each of the data lines 171a, 171b, and 171c is electrically connected to the source region 133b of the active pattern 130b through the contact hole 64 of the second insulating layer 160. Each of the data lines 171a, 171b, and 171c may be bent at least once as shown in FIGS. 2 and 3.

커패시터 전극(175)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 하나씩 위치하는 섬형일 수 있다. 커패시터 전극(175)은 평면 뷰에서 구동 전압선(172)과 데이터선(171a, 171b, 171c) 사이에 위치할 수 있다. 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)을 사이에 두고 대응하는 구동 게이트 전극(155)과 중첩하여 커패시터(Cst)를 형성할 수 있다. 구동 게이트 전극(155)은 제1 커패시터 전극이라 하고, 커패시터 전극(175)은 제2 커패시터 전극이라 할 수 있다.The capacitor electrode 175 may have an island shape disposed one by one in each of the pixels PX1, PX2, and PX3. The capacitor electrode 175 may be positioned between the driving voltage line 172 and the data lines 171a, 171b, and 171c in a plan view. The capacitor electrode 175 may overlap with the corresponding driving gate electrode 155 with the second insulating layer 160 therebetween to form the capacitor Cst. The driving gate electrode 155 may be referred to as a first capacitor electrode, and the capacitor electrode 175 may be referred to as a second capacitor electrode.

커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(62)을 통해 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63b)을 통해 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c)과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)의 접촉 구멍(68)을 통해 하부 패턴(115)과 전기적으로 연결되어 있다. 커패시터 전극(175)과 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a) 사이의 접촉을 위해 구동 게이트 전극(155)은 접촉 구멍(62)과 중첩하는 개구부(55a)를 포함하여 구동 게이트 전극(155)이 접촉 구멍(62) 주위를 둘러싸는 형태를 가질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The capacitor electrode 175 is electrically connected to the drain region 135a of the active pattern 130a through the contact hole 62 of the second insulating layer 160 and the contact hole 63b of the second insulating layer 160 It is electrically connected to the source region 133c of the active pattern 130c through the device. Further, the capacitor electrode 175 is electrically connected to the lower pattern 115 through the contact hole 68 of the second insulating layer 160 and the buffer layer 120. For contact between the capacitor electrode 175 and the drain region 135a of the active pattern 130a, the driving gate electrode 155 includes an opening 55a overlapping the contact hole 62 and the driving gate electrode 155 It may have a shape surrounding the contact hole 62, but is not limited thereto.

연결 부재(178)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 접촉 구멍(65)을 통해 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 전기적으로 연결되고 접촉 구멍(66)을 통해 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)와 전기적으로 연결되어 결국, 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)가 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The connection member 178 is electrically connected to the drain region 135b of the active pattern 130b through a contact hole 65 in each of the pixels PX1, PX2, and PX3, and the driving gate electrode ( The protrusion 155a of the 155 is electrically connected to each other, so that the drain region 135b of the active pattern 130b and the protrusion 155a of the driving gate electrode 155 may be electrically connected to each other.

평면 뷰에서 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 그리고 초기화 전압선(173) 각각은 대략 제2방향(DR2)으로 길게 연장되어 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)과 교차할 수 있다. 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172) 및 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.In the plan view, each of the data lines 171a, 171b, and 171c, the driving voltage line 172, the common voltage line 170, and the initialization voltage line 173 extend substantially in the second direction DR2 to be extended to the first scan line 151. ) And the second scan line 152. A plurality of data lines 171a, 171b, and 171c, a driving voltage line 172, and an initialization voltage line 173 may be positioned between two adjacent common voltage lines 170.

도 2에 도시한 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)는 제2방향(DR2)으로 배열되어 서로 이웃할 수 있으며, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)으로 반복되어 배치될 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 좌측 및 우측 양쪽에 각각 공통 전압선(170)이 위치할 수 있고, 상측 및 하측에 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)이 각각 위치할 수 있다.A group of pixels PX1, PX2, and PX3 shown in FIG. 2 may be arranged in a second direction DR2 to be adjacent to each other, and are repeated in a first direction DR1 and a second direction DR2. Can be placed. A common voltage line 170 may be positioned on both left and right sides of the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a group, respectively, and a first scan line 151 and a second scan line 152 at the upper and lower sides Each of these can be located.

반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)가 세 화소(PX1, PX2, PX3)를 포함하는 경우 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에는 세 개의 데이터선(171a, 171b, 171c), 하나의 구동 전압선(172), 그리고 하나의 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.When a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a repeating group includes three pixels PX1, PX2, PX3, three data lines 171a, 171b, 171c between two adjacent common voltage lines 170 , One driving voltage line 172, and one initialization voltage line 173 may be positioned.

제1 도전층(115, 170a), 제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c) 및 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178) 중 적어도 하나는 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층 각각은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 도전층은 티타늄을 포함하는 하부층과 구리를 포함하는 상부층을 포함하는 다중층 구조를 가질 수 있다.At least one of the first conductive layers 115 and 170a, the second conductive layers 151, 152, 155, 154b, 154c, and the third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178 Silver copper (Cu), aluminum (Al), magnesium (Mg), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), palladium (Pd), nickel (Ni), neodymium (Nd), iridium (Ir) , Molybdenum (Mo), tungsten (W), titanium (Ti), chromium (Cr), tantalum (Ta), may include at least one of metals such as alloys thereof. Each of the first conductive layer, the second conductive layer, and the third conductive layer may include a single layer or multiple layers. For example, the third conductive layer may have a multilayer structure including a lower layer including titanium and an upper layer including copper.

제1 트랜지스터(T1)는 채널 영역(134a), 소스 영역(133a) 및 드레인 영역(135a), 그리고 제1 게이트 전극(154a)을 포함한다. 제1 트랜지스터(T1)의 소스 영역(133a)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결되어 있으므로 구동 전압을 인가받을 수 있다.The first transistor T1 includes a channel region 134a, a source region 133a and a drain region 135a, and a first gate electrode 154a. Since the source region 133a of the first transistor T1 is electrically connected to the driving voltage line 172, a driving voltage may be applied.

제1 트랜지스터(T1)에 대응하는 하부 패턴(115)은 제1 트랜지스터(T1)의 채널 영역(134a)과 기판(110) 사이에서 채널 영역(134a)과 중첩하여 외부광이 채널 영역(134a)에 도달하지 않도록 하여 누설 전류 및 특성 저하를 줄일 수 있다. 하부 패턴(115)은 커패시터 전극(175)을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 있다.The lower pattern 115 corresponding to the first transistor T1 overlaps the channel region 134a between the channel region 134a of the first transistor T1 and the substrate 110 so that external light is transmitted to the channel region 134a. Leakage current and characteristic degradation can be reduced by not reaching The lower pattern 115 is electrically connected to the drain region 135a of the first transistor T1 through the capacitor electrode 175.

제2 트랜지스터(T2)는 채널 영역(134b), 소스 영역(133b), 드레인 영역(135b), 그리고 제2 게이트 전극(154b)을 포함한다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 제2 트랜지스터(T2)의 소스 영역(133b)은 데이터선(171a, 171b, 171c)과 각각 전기적으로 연결되어 데이터 전압 또는 기준 전압을 인가받을 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 영역(135b)은 구동 게이트 전극(155)을 통해 제1 게이트 전극(154a)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second transistor T2 includes a channel region 134b, a source region 133b, a drain region 135b, and a second gate electrode 154b. The source region 133b of the second transistor T2 of each of the pixels PX1, PX2, and PX3 is electrically connected to the data lines 171a, 171b, and 171c, respectively, to receive a data voltage or a reference voltage. The drain region 135b of the second transistor T2 may be electrically connected to the first gate electrode 154a through the driving gate electrode 155.

제3 트랜지스터(T3)는 채널 영역(134c), 소스 영역(133c) 및 드레인 영역(135c), 그리고 제3 게이트 전극(154c)을 포함한다. 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 영역(135c)은 초기화 전압선(173)으로부터 초기화 전압을 인가받을 수 있다.The third transistor T3 includes a channel region 134c, a source region 133c and a drain region 135c, and a third gate electrode 154c. The drain region 135c of the third transistor T3 may receive an initialization voltage from the initialization voltage line 173.

제3 도전층 위에는 제3 절연층(180)이 위치할 수 있다. 제3 절연층(180)은 제3 도전층 위에 위치하는 복수의 접촉 구멍(71a, 72a, 73a, 74a, 75a, 76a, 77a)을 가질 수 있다.A third insulating layer 180 may be positioned on the third conductive layer. The third insulating layer 180 may have a plurality of contact holes 71a, 72a, 73a, 74a, 75a, 76a, and 77a positioned on the third conductive layer.

제3 절연층(180) 위에는 제4 도전층이 위치할 수 있다. 제4 도전층은 그 아래에 위치하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)에 위치하는 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173) 및 커패시터 전극(175) 등의 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)의 도전 패턴과 대체로 비슷한 평면 형태를 가지며 대응하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)의 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있는 복수의 도전 패턴을 포함할 수 있다.A fourth conductive layer may be positioned on the third insulating layer 180. The fourth conductive layer is the data lines 171a, 171b, 171c, the driving voltage lines 172 located on the third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178, The common voltage line 170, the initialization voltage line 173, and the third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178, etc. It may include a plurality of conductive patterns electrically connected to the conductive patterns of the corresponding third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, and 178.

예를 들어, 데이터선(171a, 171b, 171c)은 각각 접촉 구멍(74a, 75a, 76a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 구동 전압선(172)은 접촉 구멍(71a)을 통해 제6 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴(183a)과 전기적으로 연결되어 있고, 공통 전압선(170)은 접촉 구멍(72a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 초기화 전압선(173)은 접촉 구멍(73a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 커패시터 전극(175)은 접촉 구멍(77a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴(183b)과 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.For example, the data lines 171a, 171b, and 171c are electrically connected to a corresponding conductive pattern positioned in the fourth conductive layer through contact holes 74a, 75a, and 76a, respectively, and the driving voltage line 172 is It is electrically connected to the corresponding conductive pattern 183a positioned in the sixth conductive layer through the contact hole 71a, and the common voltage line 170 corresponds to the corresponding conductive pattern positioned in the fourth conductive layer through the contact hole 72a. It is electrically connected to the conductive pattern, and the initialization voltage line 173 is electrically connected to a corresponding conductive pattern located in the fourth conductive layer through a contact hole 73a, and the capacitor electrode 175 is a contact hole 77a. ) May be electrically connected to the corresponding conductive pattern 183b positioned on the fourth conductive layer.

제4 도전층의 도전 패턴들은 연결되어 있는 제3 도전층과 동일한 전압을 전달하여 저항을 낮출 수 있다. 실시예에 따라 제4 도전층은 생략될 수 있다. The conductive patterns of the fourth conductive layer may transmit the same voltage as the connected third conductive layer to reduce resistance. Depending on the embodiment, the fourth conductive layer may be omitted.

제4 도전층 위에는 제4 절연층(181)이 위치할 수 있다. 제4 절연층(181)은 커패시터 전극(175)과 연결되어 있는 도전 패턴(183b) 위에 위치하는 접촉 구멍(80), 그리고 공통 전압선(170) 위에 위치하는 접촉 구멍(81)을 포함할 수 있다.A fourth insulating layer 181 may be positioned on the fourth conductive layer. The fourth insulating layer 181 may include a contact hole 80 positioned on the conductive pattern 183b connected to the capacitor electrode 175 and a contact hole 81 positioned on the common voltage line 170. .

제4 절연층(181) 위에는 복수의 접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)를 포함하는 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)이 위치할 수 있다. 실시예에 따라 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 생략될 수 있다. A fifth conductive layer 190a, 190b, 190c, 190d including a plurality of contact members 190a, 190b, 190c, and 190d may be positioned on the fourth insulating layer 181. Depending on the embodiment, the fifth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d may be omitted.

각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하며 접촉 구멍(80)을 통해 대응하는 도전 패턴(183b)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다. 따라서 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 도전 패턴(183b)과 전기적으로 연결되어 있는 커패시터 전극(175)과 각각 전기적으로 연결될 수 있다.Each of the contact members 190a, 190b, and 190c may be positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3, and may be electrically connected by contacting a corresponding conductive pattern 183b through the contact hole 80. Accordingly, each of the contact members 190a, 190b, and 190c may be electrically connected to the capacitor electrode 175 electrically connected to the conductive pattern 183b, respectively.

접촉 부재(190d)는 접촉 구멍(81)을 통해 공통 전압선(170)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.The contact member 190d may contact the common voltage line 170 through the contact hole 81 and may be electrically connected.

접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)는 각각이 접촉하는 제4 도전층의 도전 패턴과 다른 도전층과의 접착력을 향상시키며 제4 도전층의 산화를 막을 수 있다. 특히, 제4 도전층이 구리를 포함하는 경우 구리의 산화를 막을 수 있다. 이를 위해, 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 제4 도전층의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료, 예를 들면 제4 도전층이 구리를 포함하는 경우 제4 도전층을 캐핑하여 구리의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은, ITO, IZO 등의 금속 산화물 등의 도전성 물질을 포함할 수 있다.The contact members 190a, 190b, 190c, and 190d may improve adhesion between the conductive pattern of the fourth conductive layer and other conductive layers, respectively, and prevent oxidation of the fourth conductive layer. Particularly, when the fourth conductive layer includes copper, oxidation of copper may be prevented. To this end, the fifth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d are conductive materials capable of preventing corrosion of the fourth conductive layer, for example, capping the fourth conductive layer when the fourth conductive layer contains copper. Thus, a conductive material capable of preventing corrosion of copper may be included. For example, the fifth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d may include a conductive material such as a metal oxide such as ITO or IZO.

제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d) 위에는 제5 절연층(182)이 위치할 수 있다. 제5 절연층(182)은 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c) 위에 위치하는 접촉 구멍(83)을 포함할 수 있다.A fifth insulating layer 182 may be positioned on the fifth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d. The fifth insulating layer 182 may include a contact hole 83 positioned on each of the contact members 190a, 190b, and 190c.

평면 뷰 및 단면 뷰에서 접촉 구멍(83)의 중심은 접촉 구멍(80)의 중심과 일치하지 않을 수 있다. 접촉 구멍(83)과 접촉 구멍(80)은 평면 뷰에서 서로 중첩하지 않을 수도 있고 일부 중첩하고 있을 수도 있다.The center of the contact hole 83 in plan view and cross-sectional view may not coincide with the center of the contact hole 80. The contact hole 83 and the contact hole 80 may or may not partially overlap each other in a plan view.

접촉 구멍(83)과 접촉 구멍(80)은 모두 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 대응하는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 중첩할 수 있다.Both the contact hole 83 and the contact hole 80 may overlap the corresponding contact members 190a, 190b, and 190c of each pixel PX1, PX2, and PX3.

절연층(112), 버퍼층(120), 절연 패턴(144)을 포함하는 제1 절연층(121), 제2 절연층(160), 제3 절연층(180), 제4 절연층(181) 및 제5 절연층(182) 중 적어도 하나는 질화규소(SiNx), 산화규소(SiOx), 산질화규소(SiON) 등의 무기 절연 물질 및/또는 유기 절연 물질을 포함할 수 있다. 특히, 제5 절연층(182)은 무기 절연 물질 및/또는 폴리이미드, 아크릴계 폴리머, 실록산계 폴리머 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있고, 실질적으로 평탄한 윗면을 가질 수 있다.The insulating layer 112, the buffer layer 120, the first insulating layer 121 including the insulating pattern 144, the second insulating layer 160, the third insulating layer 180, the fourth insulating layer 181 And at least one of the fifth insulating layer 182 may include an inorganic insulating material such as silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), and silicon oxynitride (SiON) and/or an organic insulating material. In particular, the fifth insulating layer 182 may include an inorganic insulating material and/or an organic insulating material such as polyimide, an acrylic polymer, or a siloxane polymer, and may have a substantially flat top surface.

제5 절연층(182) 위에는 제6 도전층으로서 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)을 포함하는 화소 전극층(191a, 191b, 191c)이 위치할 수 있다.Pixel electrode layers 191a, 191b, and 191c including a plurality of pixel electrodes 191a, 191b, and 191c as a sixth conductive layer may be positioned on the fifth insulating layer 182.

도 2 및 도 3을 참조하면, 평면 뷰에서 반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)(또는 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 제1 트랜지스터(T1)들)는 제2방향(DR2)으로 배열되어 있고 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각 대응하는 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 대체로 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다. 그러나, 화소(PX1, PX2, PX3) 및 이에 대응하는 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 배치 및 구조가 이에 한정되는 것은 아니다. 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 평면상 사이즈와 모양은 서로 다를 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.2 and 3, a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a group repeated in a plan view (or first transistors T1 of the plurality of pixels PX1, PX2, PX3) The plurality of pixel electrodes 191a, 191b, and 191c, which are arranged in two directions DR2 and each corresponding to the pixels PX1, PX2, and PX3, may be arranged adjacent to each other in the first direction DR1. However, the arrangement and structure of the pixels PX1, PX2, and PX3 and the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c corresponding thereto are not limited thereto. The pixel electrodes 191a, 191b, and 191c may have different planar sizes and shapes, but are not limited thereto.

복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제5 절연층(182)의 접촉 구멍(83)을 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결되어 있는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 각각 전기적으로 연결될 수 있다. 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 접촉 부재(190a, 190b, 190c), 도전 패턴(183b) 및 커패시터 전극(175)을 경유하여 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 제1 트랜지스터(T1)로부터 전압을 전달받을 수 있다.The plurality of pixel electrodes 191a, 191b, 191c are electrically connected to the contact members 190a, 190b, and 190c, which are electrically connected to the capacitor electrode 175 through the contact hole 83 of the fifth insulating layer 182, respectively. Can be connected to. Each of the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c is electrically connected to the drain region 135a of the first transistor T1 through the contact members 190a, 190b, and 190c, the conductive pattern 183b, and the capacitor electrode 175. It is connected to receive a voltage from the first transistor T1.

예를 들어, 화소 전극(191a)은 화소(PX1)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있고, 화소 전극(191b)은 화소(PX2)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있고, 화소 전극(191c)은 화소(PX3)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있을 수 있다.For example, the pixel electrode 191a is connected to the first transistor T1 of the pixel PX1, the pixel electrode 191b is connected to the first transistor T1 of the pixel PX2, and the pixel electrode 191c may be connected to the first transistor T1 of the pixel PX3.

화소 전극(191a, 191b, 191c)은 반투과성 도전 물질 또는 반사성 도전 물질을 포함할 수 있다.The pixel electrodes 191a, 191b, and 191c may include a semi-transmissive conductive material or a reflective conductive material.

제5 절연층(182) 위에는 제6 절연층(350)이 위치할 수 있다. 제6 절연층(350)은 화소 전극(191a, 191b, 191c) 위에 각각 위치하는 개구부(355a, 355b, 355c)를 가진다.A sixth insulating layer 350 may be positioned on the fifth insulating layer 182. The sixth insulating layer 350 has openings 355a, 355b, and 355c respectively positioned on the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c.

제6 절연층(350)은 폴리아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.The sixth insulating layer 350 may include an organic insulating material such as polyacrylic resin or polyimide resin.

제6 절연층(350)과 화소 전극층 위에는 발광층(370)이 위치할 수 있다. 발광층(370)은 제6 절연층(350)의 개구부(355a, 355b, 355c) 안에 위치하는 부분을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 유기 발광 물질 또는 무기 발광 물질을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 도시한 바와 같이 제6 절연층(350) 위에 위치하는 부분을 포함할 수도 있고, 제6 절연층(350)의 적어도 일부의 위는 발광층(370)으로 덮이지 않을 수도 있다.An emission layer 370 may be positioned on the sixth insulating layer 350 and the pixel electrode layer. The emission layer 370 may include portions positioned in the openings 355a, 355b, and 355c of the sixth insulating layer 350. The light emitting layer 370 may include an organic light emitting material or an inorganic light emitting material. The emission layer 370 may include a portion positioned on the sixth insulating layer 350 as illustrated, and at least a portion of the sixth insulating layer 350 may not be covered with the emission layer 370.

제6 절연층(350)과 발광층(370)은 접촉 부재(190d) 위에 위치하는 접촉 구멍(82)을 포함할 수 있다.The sixth insulating layer 350 and the light emitting layer 370 may include a contact hole 82 positioned on the contact member 190d.

발광층(370) 위에는 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)은 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 연속적으로 형성되어 있을 수 있다. 공통 전극(270)은 접촉 구멍(82)을 통해 접촉 부재(190d)와 접촉하여 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압을 전달받을 수 있다.A common electrode 270 is positioned on the emission layer 370. The common electrode 270 may be continuously formed over the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3. The common electrode 270 may contact the contact member 190d through the contact hole 82 and are electrically connected to the common voltage line 170 to receive the common voltage.

공통 전극(270)은 도전성 투명 물질을 포함할 수 있다.The common electrode 270 may include a conductive transparent material.

각 화소(PX1, PX2, PX3)의 화소 전극(191a, 191b, 191c), 발광층(370) 및 공통 전극(270)은 함께 발광 다이오드(ED)를 이루고, 화소 전극(191a, 191b, 191c) 및 공통 전극(270) 중 하나가 캐소드가 되고 나머지 하나가 애노드가 된다. 앞에서는 화소 전극(191a, 191b, 191c) 애노드가 되는 예를 설명하였다.The pixel electrodes 191a, 191b, 191c, the emission layer 370 and the common electrode 270 of each pixel PX1, PX2, PX3 together form a light emitting diode ED, and the pixel electrodes 191a, 191b, 191c, and One of the common electrodes 270 becomes a cathode and the other becomes an anode. In the above, an example in which the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c become anodes has been described.

평면 뷰에서 제6 절연층(350)의 개구부(355a, 355b, 355c)가 위치하는 영역이 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 발광 영역을 정의할 수 있다.In a plan view, a region in which the openings 355a, 355b, and 355c of the sixth insulating layer 350 are located may define the emission regions of each of the pixels PX1, PX2, and PX3.

도 2 및 도 3을 참조하면, 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각 연결되어 있는 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)에 각각 대응하는 복수의 개구부(355a, 355b, 355c)는 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다.2 and 3, a plurality of openings 355a, 355b, respectively corresponding to a plurality of pixel electrodes 191a, 191b, and 191c connected to a group of pixels PX1, PX2, and PX3, respectively. The 355c may be arranged adjacent to each other in the first direction DR1.

이하에서는 도 5 내지 도 7을 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6b는 도 6a의 일부 영역에 대한 단면도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다. 앞서 설명한 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 5 to 7. 5 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 6A is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 6B is 6A is a cross-sectional view of a partial area, and FIG. 7 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment. Description of the same components as those described above will be omitted.

우선 도 5를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2), 그리고 제3 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제3 개구부(111-3)를 포함할 수 있다. First, referring to FIG. 5, the metal layer 111 according to an exemplary embodiment may include openings 111-1, 111-2, and 111-3 overlapping the active layer. Specifically, the metal layer 111 includes a first opening 111-1 overlapping the first active pattern 130a, a second opening 111-2 overlapping the second active pattern 130b, and a third active A third opening 111-3 overlapping the pattern 130a may be included.

일 실시예에 따른 금속층(111)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결될 수 있으나, 금속층(111)이 포함하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 통해 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The metal layer 111 according to an embodiment may be electrically connected to the driving voltage line 172, but the active pattern 130a, through the openings 111-1, 111-2, and 111-3 included in the metal layer 111, 130b and 130c), so the transistor performance may not be affected.

다음, 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIGS. 6A and 6B, the metal layer 111 according to an exemplary embodiment may include a first voltage metal layer 111d and a second voltage metal layer 111s. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may be spaced apart from each other. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may have a stripe shape extending along the second direction DR2.

평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. In plan view, the first voltage metal layer 111d may have a first width Wd, and the second voltage metal layer 111s may have a second width Ws. In this case, the first width Wd and the second width Ws may be substantially the same. However, the present invention is not limited thereto and may be changed according to the pixel width and structure.

제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 구동 전압선(172)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170) 또는 가로 공통 전압선(170a) 또는 도전 패턴(150a)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first voltage metal layer 111d may be connected to the driving voltage line 172 through the contact hole 11d. The first voltage metal layer 111d may receive a driving voltage. The second voltage metal layer 111s may be connected to the common voltage line 170 or the horizontal common voltage line 170a or the conductive pattern 150a through the contact hole 11s. The second voltage metal layer 111s may receive a common voltage.

제1 전압 금속층(111d)이 구동 전압을 인가 받기 위한 어떠한 적층 구조도 가질 수 있으며, 제2 전압 금속층(111s)이 공통 전압을 인가 받기 위한 어떠한 적층 구조도 가질 수 있다. The first voltage metal layer 111d may have any stacked structure for applying a driving voltage, and the second voltage metal layer 111s may have any stacked structure for applying a common voltage.

일 예로 도 6b에 도시된 바와 같이, 구동 전압선(172)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)을 관통하는 접촉 구멍(11d)을 통해 제1 도전층에 포함되는 연결 부재(115a)와 연결될 수 있으며, 연결 부재(115a)는 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍을 통해 제1 전압 금속층(111d)과 연결될 수 있다. 하부 패턴(115)과 동일한 층에 위치하는 연결 부재(115a)를 통해 제1 전압 금속층(111d)과 구동 전압선(172)이 연결될 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고 구동 전압선(172)이 접촉 구멍(11d)을 통해 직접 제1 전압 금속층(111d)과 연결될 수도 있다. As an example, as shown in FIG. 6B, the driving voltage line 172 is a connection member 115a included in the first conductive layer through a contact hole 11d penetrating the second insulating layer 160 and the buffer layer 120. And the connection member 115a may be connected to the first voltage metal layer 111d through a contact hole penetrating the insulating layer 112. The first voltage metal layer 111d and the driving voltage line 172 may be connected through a connection member 115a positioned on the same layer as the lower pattern 115. However, the present invention is not limited thereto, and the driving voltage line 172 may be directly connected to the first voltage metal layer 111d through the contact hole 11d.

이와 유사하게 공통 전압선(170)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)을 관통하는 접촉 구멍(11s)을 통해 제1 도전층에 포함되는 연결 부재(115b)와 연결될 수 있으며, 연결 부재(115b)는 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍을 통해 제2 전압 금속층(111s)과 연결될 수 있다. 하부 패턴(115)과 동일한 층에 위치하는 연결 부재를 통해 제2 전압 금속층(111s)과 공통 전압선(170)이 연결될 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고 공통 전압선(170)이 접촉 구멍(11s)을 통해 직접 제2 전압 금속층(111s)과 연결될 수도 있다. Similarly, the common voltage line 170 may be connected to the connection member 115b included in the first conductive layer through the contact hole 11s penetrating the second insulating layer 160 and the buffer layer 120, and the connection member 115b may be connected to the second voltage metal layer 111s through a contact hole penetrating through the insulating layer 112. The second voltage metal layer 111s and the common voltage line 170 may be connected through a connection member positioned on the same layer as the lower pattern 115. However, the present invention is not limited thereto, and the common voltage line 170 may be directly connected to the second voltage metal layer 111s through the contact hole 11s.

다음 도 7을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 7, the metal layer 111 according to an embodiment may include a first voltage metal layer 111d and a second voltage metal layer 111s. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may be spaced apart from each other. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may have a stripe shape extending along the second direction DR2.

평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. On a plane, the first voltage metal layer 111d may have a first width Wd, and the second voltage metal layer 111s may have a second width Ws. In this case, the first width Wd and the second width Ws may be substantially the same. However, the present invention is not limited thereto and may be changed according to the pixel width and structure.

제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 구동 전압선(172)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170) 또는 가로 공통 전압선(170a) 또는 도전 패턴(150a)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first voltage metal layer 111d may be connected to the driving voltage line 172 through the contact hole 11d. The first voltage metal layer 111d may receive a driving voltage. The second voltage metal layer 111s may be connected to the common voltage line 170 or the horizontal common voltage line 170a or the conductive pattern 150a through the contact hole 11s. The second voltage metal layer 111s may receive a common voltage.

일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2), 그리고 제3 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제3 개구부(111-3)를 포함할 수 있다. The metal layer 111 according to an embodiment may include openings 111-1, 111-2, and 111-3 overlapping the active layer. Specifically, the metal layer 111 includes a first opening 111-1 overlapping the first active pattern 130a, a second opening 111-2 overlapping the second active pattern 130b, and a third active A third opening 111-3 overlapping the pattern 130a may be included.

금속층(111)은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The metal layer 111 may receive a predetermined voltage. Since the metal layer 111 according to an exemplary embodiment does not overlap the active layer through the openings 111-1, 111-2 and 111-3, transistor performance may not be affected.

이하에서는 도 8 및 도 9를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 9는 도 8에 도시한 표시 장치를 VIIIa-VIIIb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 전술한 구성요소와 동일 유사한 구성에 대한 설명은 생략할 수 있다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 8 and 9. FIG. 8 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 9 is a cross-sectional view of the display device of FIG. 8 taken along line VIIIa-VIIIb. Descriptions of the same and similar components as the above-described components may be omitted.

일 실시예에 따른 표시 장치는 기판(110)을 포함할 수 있다. 기판(110)은 유리, 플라스틱 등의 절연 물질을 포함할 수 있고, 유연성(flexibility)을 가질 수 있다.The display device according to an exemplary embodiment may include a substrate 110. The substrate 110 may include an insulating material such as glass or plastic, and may have flexibility.

기판(110) 위에는 금속층(111)이 위치할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 기판(110) 전면과 중첩할 수 있다. A metal layer 111 may be positioned on the substrate 110. The metal layer 111 according to an embodiment may overlap the entire surface of the substrate 110.

금속층(111)은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함하거나, 금속에 준하는 물질을 포함할 수 있다. 금속층(111)은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다.The metal layer 111 is copper (Cu), aluminum (Al), magnesium (Mg), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), palladium (Pd), nickel (Ni), neodymium (Nd), It may contain at least one of metals such as iridium (Ir), molybdenum (Mo), tungsten (W), titanium (Ti), chromium (Cr), tantalum (Ta), and alloys thereof, or may contain a material similar to a metal. have. The metal layer 111 may include a single layer or multiple layers.

금속층(111)의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬일 수 있다. 금속층(111)은 상당히 두꺼운 두께를 가질 수 있다. 금속층(111)의 두께가 두꺼울수록 화소가 포함하는 트랜지스터의 성능을 향상시켜 영상 품질을 높일 수 있다. 금속층(111)의 두께가 증가하는 경우에도, 금속층(111)에 의한 단차가 발생하는 것이 아니므로 다른 도전층들의 형성이 용이할 수 있으며 신뢰성이 향상될 수 있다. The thickness of the metal layer 111 may be about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms. The metal layer 111 may have a fairly thick thickness. As the thickness of the metal layer 111 increases, the performance of the transistor included in the pixel may be improved, thereby increasing the image quality. Even when the thickness of the metal layer 111 is increased, a step due to the metal layer 111 does not occur, so that other conductive layers may be easily formed and reliability may be improved.

금속층(111) 위에 절연층(112)이 위치할 수 있다. 절연층(112)은 무기 절연 물질을 포함하거나, 유기 절연 물질을 포함하거나, 무기 절연 물질 및 유기 절연 물질을 모두 포함할 수 있다. 절연층(112)을 통해 금속층(111)과 다른 도전층과의 커패시턴스 형성을 제어할 수 있다. An insulating layer 112 may be positioned on the metal layer 111. The insulating layer 112 may include an inorganic insulating material, an organic insulating material, or both an inorganic insulating material and an organic insulating material. Formation of capacitance between the metal layer 111 and another conductive layer may be controlled through the insulating layer 112.

다음 절연층(112) 위에는 복수의 하부 패턴(115)을 포함하는 제1 도전층(115)이 위치할 수 있다. 하부 패턴(115)은 도전 패턴이라고도 한다. 제1 도전층은 다양한 도전성 금속 또는 이에 준하는 도전 특성을 가지는 반도체 물질을 포함할 수 있다.Next, a first conductive layer 115 including a plurality of lower patterns 115 may be positioned on the insulating layer 112. The lower pattern 115 is also referred to as a conductive pattern. The first conductive layer may include various conductive metals or semiconductor materials having conductive properties equivalent thereto.

제1 도전층(115) 및 절연층(112) 위에 버퍼층(120)이 위치한다.A buffer layer 120 is positioned on the first conductive layer 115 and the insulating layer 112.

버퍼층(120) 위에는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)을 포함하는 액티브층(130a, 130b, 130c)이 위치한다. 즉, 하부 패턴(115)은 기판(110)과 액티브층(130a, 130b, 130c) 사이에 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 앞에서 설명한 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 각각의 채널을 형성하는 채널 영역(134a, 134b, 134c) 및 이에 연결된 도전 영역을 포함할 수 있다. 각 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 소스 영역(133a, 133b, 133c) 및 드레인 영역(135a, 135b, 135c)을 포함할 수 있다.Active layers 130a, 130b, and 130c including a plurality of active patterns 130a, 130b, and 130c are positioned on the buffer layer 120. That is, the lower pattern 115 may be positioned between the substrate 110 and the active layers 130a, 130b, and 130c. The active patterns 130a, 130b, and 130c positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 include channel regions 134a, 134b, and 134c forming channels of each of the plurality of transistors T1, T2, and T3 described above, and A conductive region connected thereto may be included. The conductive regions of each of the active patterns 130a, 130b, and 130c may include source regions 133a, 133b, 133c and drain regions 135a, 135b, and 135c of each of the transistors T1, T2, and T3.

각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)은 서로 연결되어 있을 수도 서로 이격되어 있을 수도 있다. 도 8은 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)이 서로 연결된 예를 도시한다. 이 경우, 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)은 곧 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c)일 수 있다.In each of the pixels PX1, PX2, and PX3, the active pattern 130a and the active pattern 130c may be connected to each other or spaced apart from each other. 8 illustrates an example in which the active pattern 130a and the active pattern 130c are connected to each other. In this case, the drain region 135a of the active pattern 130a may be the source region 133c of the active pattern 130c.

액티브층(130a, 130b, 130c)은 비정질 규소, 다결정 규소, 또는 산화물 반도체 등의 반도체 물질을 포함할 수 있다.The active layers 130a, 130b, and 130c may include a semiconductor material such as amorphous silicon, polycrystalline silicon, or an oxide semiconductor.

액티브층(130a, 130b, 130c) 위에는 제1 절연층인 절연 패턴(144)이 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 채널 영역(134a, 134b, 134c)과 중첩하며 채널 영역(134a, 134b, 134c) 위에 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역과는 실질적으로 중첩하지 않을 수 있다.An insulating pattern 144 as a first insulating layer may be positioned on the active layers 130a, 130b, and 130c. The insulating pattern 144 overlaps the channel regions 134a, 134b, and 134c of the active patterns 130a, 130b, and 130c and may be positioned on the channel regions 134a, 134b, and 134c. The insulating pattern 144 may not substantially overlap the conductive regions of the active patterns 130a, 130b, and 130c.

절연 패턴(144) 위에는 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c)이 위치할 수 있다. 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c)은, 앞에서 설명한 제1 스캔 신호(SC)를 전달할 수 있는 제1 스캔선(151), 제2 스캔 신호(SS)를 전달할 수 있는 제2 스캔선(152), 초기화 전압(INIT)을 전달할 수 있는 가로 초기화 전압선(153), 구동 전압(ELVDD)을 전달할 수 있는 가로 구동 전압선(172b), 구동 게이트 전극(155), 제2 게이트 전극(154b), 그리고 제3 게이트 전극(154c) 등을 포함할 수 있다. 앞에서 설명한 회로도에서의 게이트 전극(G1), 게이트 전극(G2) 및 게이트 전극(G3)은 여기서 각각 구동 게이트 전극(155)이 포함하는 제1 게이트 전극(154a), 제2 게이트 전극(154b) 및 제3 게이트 전극(154c)에 대응될 수 있다.Second conductive layers 151, 152, 153, 172b, 155, 154b, and 154c may be positioned on the insulating pattern 144. The second conductive layers 151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c transmit the first scan line 151 and the second scan signal SS that can transmit the first scan signal SC described above. A second scan line 152 that can transfer, a horizontal initialization voltage line 153 that can transfer an initialization voltage INIT, a horizontal driving voltage line 172b that can transfer a driving voltage ELVDD, a driving gate electrode 155, A second gate electrode 154b and a third gate electrode 154c may be included. In the above-described circuit diagram, the gate electrode G1, the gate electrode G2, and the gate electrode G3 are each of the first gate electrode 154a, the second gate electrode 154b, and the driving gate electrode 155 included therein. It may correspond to the third gate electrode 154c.

제1 및 제2 스캔선(151, 152), 가로 초기화 전압선(153), 그리고 가로 구동 전압선(172b)은 각각 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다.The first and second scan lines 151 and 152, the horizontal initialization voltage line 153, and the horizontal driving voltage line 172b may each extend in the first direction DR1.

평면 뷰에서 구동 게이트 전극(155)은 제1 스캔선(151)과 제2 스캔선(152) 사이에 위치할 수 있다.In a plan view, the driving gate electrode 155 may be positioned between the first scan line 151 and the second scan line 152.

제2 게이트 전극(154b)은 제1 스캔선(151)과 이격되어 있으며 대체로 제2방향(DR2)으로 연장되어 있을 수 있다. 이와 달리, 제2 게이트 전극(154b)은 제1 스캔선(151)과 직접 연결되어 있을 수도 있다.The second gate electrode 154b is spaced apart from the first scan line 151 and may generally extend in the second direction DR2. Alternatively, the second gate electrode 154b may be directly connected to the first scan line 151.

제3 게이트 전극(154c)은 제2 스캔선(152)과 이격되어 있으며 대체로 제2방향(DR2)으로 연장되어 있을 수 있다. 이와 달리, 제3 게이트 전극(154c)은 제2 스캔선(152)과 직접 연결되어 있을 수도 있다.The third gate electrode 154c is spaced apart from the second scan line 152 and may generally extend in the second direction DR2. Alternatively, the third gate electrode 154c may be directly connected to the second scan line 152.

각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 구동 게이트 전극(155)은, 위로 돌출된 돌출부(155a) 및 아래로 돌출되어 대체로 제2방향(DR2)으로 연장된 제1 게이트 전극(154a)을 포함할 수 있다.The driving gate electrode 155 positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 includes a protruding portion 155a protruding upward and a first gate electrode 154a protruding downward and extending substantially in the second direction DR2. Can include.

제1 게이트 전극(154a)은 액티브 패턴(130a)과 교차하며 액티브 패턴(130a)의 채널 영역(134a)과 중첩한다. 제2 게이트 전극(154b)은 액티브 패턴(130b)과 교차하며 액티브 패턴(130b)의 채널 영역(134b)과 중첩한다. 제3 게이트 전극(154c)은 액티브 패턴(130c)과 교차하며 액티브 패턴(130c)의 채널 영역(134c)과 중첩한다.The first gate electrode 154a crosses the active pattern 130a and overlaps the channel region 134a of the active pattern 130a. The second gate electrode 154b crosses the active pattern 130b and overlaps the channel region 134b of the active pattern 130b. The third gate electrode 154c crosses the active pattern 130c and overlaps the channel region 134c of the active pattern 130c.

가로 구동 전압선(172b)은 접촉 구멍(59)을 통해 제1 금속층(111)과 연결될 수 있다. The horizontal driving voltage line 172b may be connected to the first metal layer 111 through the contact hole 59.

제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c) 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다. 버퍼층(120) 및/또는 제2 절연층(160)은 복수의 접촉 구멍(24, 26, 60, 61, 62, 63, 64, 65, 66, 67, 68, 69)을 포함할 수 있다.A second insulating layer 160 may be positioned on the second conductive layers 151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c. The buffer layer 120 and/or the second insulating layer 160 may include a plurality of contact holes 24, 26, 60, 61, 62, 63, 64, 65, 66, 67, 68, 69.

제2 절연층(160) 위에는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)이 위치할 수 있다. 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)은, 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 복수의 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173), 커패시터 전극(175), 그리고 복수의 연결 부재(174, 176, 177, 178)를 포함할 수 있다.Third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178 may be positioned on the second insulating layer 160. The third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178 include a plurality of data lines 171a, 171b, 171c, and a plurality of driving voltage lines ( 172a, 172c, 172d), a common voltage line 170, an initialization voltage line 173, a capacitor electrode 175, and a plurality of connection members 174, 176, 177, and 178.

평면 뷰에서 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 공통 전압선(170), 그리고 초기화 전압선(173) 각각은 대략 제2방향(DR2)으로 길게 연장되어 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)과 교차할 수 있다.In the plan view, each of the data lines 171a, 171b, and 171c, the driving voltage lines 172a, 172c, 172d, the common voltage line 170, and the initialization voltage line 173 extend substantially in the second direction DR2 to be the first It may cross the scan line 151 and the second scan line 152.

도 8에 도시한 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)는 제1방향(DR1)으로 배열되어 서로 이웃할 수 있으며, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)으로 반복되어 배치될 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 좌측 및 우측 양쪽에 각각 공통 전압선(170)이 위치할 수 있다. 반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)가 세 화소(PX1, PX2, PX3)를 포함하는 경우 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에는 세 개의 데이터선(171a, 171b, 171c), 세 개의 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 그리고 적어도 하나의 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.A group of pixels PX1, PX2, and PX3 shown in FIG. 8 may be arranged in a first direction DR1 to be adjacent to each other, and are repeated in a first direction DR1 and a second direction DR2. Can be placed. A common voltage line 170 may be positioned on both left and right sides of the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a group, respectively. When a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a repeating group includes three pixels PX1, PX2, PX3, three data lines 171a, 171b, 171c between two adjacent common voltage lines 170 , Three driving voltage lines 172a, 172c, 172d, and at least one initialization voltage line 173 may be positioned.

각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(64)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(64)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130b)의 소스 영역(133b)과 전기적으로 연결되어 있다.Each of the data lines 171a, 171b, and 171c has a contact hole 64 of the second insulating layer 160 (two contact holes 64 are shown in each pixel PX1, PX2, PX3 in FIG. 8). It is electrically connected to the source region 133b of the active pattern 130b through the active pattern 130b.

각 구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. Each of the driving voltage lines 172a, 172c, and 172d may be positioned corresponding to each of the pixels PX1, PX2, and PX3.

구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(61)(도 8에는 화소(PX1, PX2)에 각각 두 개의 접촉 구멍(61)이 도시되고 화소(PX3)에는 하나의 접촉 구멍(61)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130a)의 소스 영역(133a)과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60)을 통해 가로 구동 전압선(172b)과 전기적으로 연결되어 있다. 따라서 가로 구동 전압선(172b)은 구동 전압선(172a, 172c, 172d)과 함께 구동 전압을 전달할 수 있고, 표시 장치 전체에서 구동 전압이 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2) 모든 방향에 메시(mesh) 형태로 전달될 수 있다.The driving voltage lines 172a, 172c, 172d are the contact holes 61 of the second insulating layer 160 (in FIG. 8, two contact holes 61 are shown in the pixels PX1 and PX2, respectively, and the pixel PX3 is It is electrically connected to the source region 133a of the active pattern 130a through one contact hole 61 (shown). Further, the driving voltage lines 172a, 172c, and 172d are electrically connected to the horizontal driving voltage line 172b through the contact hole 60 of the second insulating layer 160. Therefore, the horizontal driving voltage line 172b can transmit the driving voltage together with the driving voltage lines 172a, 172c, 172d, and the driving voltage is meshed in all directions in the first direction DR1 and the second direction DR2 throughout the display device. It can be delivered in (mesh) form.

초기화 전압선(173)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(69)을 통해 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결되어 있다. 따라서 가로 초기화 전압선(153)은 초기화 전압선(173)과 함께 초기화 전압을 전달할 수 있고, 초기화 전압선(173)이 세 화소(PX1, PX2, PX3)마다 하나씩 형성되어 있어도 가로 초기화 전압선(153)을 통해 세 화소(PX1, PX2, PX3) 모두에 초기화 전압을 전달할 수 있다.The initialization voltage line 173 is electrically connected to the horizontal initialization voltage line 153 through the contact hole 69 of the second insulating layer 160. Therefore, the horizontal initialization voltage line 153 can transmit the initialization voltage together with the initialization voltage line 173, and even if the initialization voltage line 173 is formed one for each of the three pixels PX1, PX2, PX3, the horizontal initialization voltage line 153 The initialization voltage can be delivered to all three pixels PX1, PX2, and PX3.

커패시터 전극(175)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 하나씩 위치할 수 있다. 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)을 사이에 두고 대응하는 구동 게이트 전극(155)과 중첩하여 커패시터(Cst)를 형성할 수 있다.One capacitor electrode 175 may be located in each pixel PX1, PX2, and PX3. The capacitor electrode 175 may overlap with the corresponding driving gate electrode 155 with the second insulating layer 160 therebetween to form the capacitor Cst.

커패시터 전극(175)은 아래쪽으로 길게 연장된 돌출부(175a)를 포함할 수 있다. 돌출부(175a)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(62)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(62)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)(또는 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c))과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)의 접촉 구멍(68)을 통해 하부 패턴(115)과 전기적으로 연결되어 있다.The capacitor electrode 175 may include a protrusion 175a extending downward. The protrusion 175a is the active pattern 130a through the contact hole 62 of the second insulating layer 160 (two contact holes 62 are shown in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 in FIG. 8). It is electrically connected to the drain region 135a (or the source region 133c of the active pattern 130c) of. Further, the capacitor electrode 175 is electrically connected to the lower pattern 115 through the contact hole 68 of the second insulating layer 160 and the buffer layer 120.

연결 부재(174)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(24)을 통해 제2 스캔선(152) 및 제3 게이트 전극(154c)과 전기적으로 연결되어, 제2 스캔선(152)과 제3 게이트 전극(154c)을 서로 전기적으로 연결시킬 수 있다.The connection member 174 is electrically connected to the second scan line 152 and the third gate electrode 154c through the contact hole 24 of the second insulating layer 160, so that the second scan line 152 and the The third gate electrodes 154c may be electrically connected to each other.

연결 부재(176)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(26)을 통해 제1 스캔선(151) 및 제2 게이트 전극(154b)과 전기적으로 연결되어, 제1 스캔선(151)과 제2 게이트 전극(154b)을 서로 전기적으로 연결시킬 수 있다.The connection member 176 is electrically connected to the first scan line 151 and the second gate electrode 154b through the contact hole 26 of the second insulating layer 160, and The second gate electrodes 154b may be electrically connected to each other.

연결 부재(177)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(63)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(67)을 통해 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결되어, 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)은 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결될 수 있다.The connecting member 177 is a contact hole 63 of the second insulating layer 160 in each pixel PX1, PX2, PX3 (two contact holes 63 in each pixel PX1, PX2, PX3 in FIG. 8) Is electrically connected to the drain region 135c of the active pattern 130c, and is electrically connected to the horizontal initialization voltage line 153 through the contact hole 67 of the second insulating layer 160, The drain region 135c of the pattern 130c may be electrically connected to the horizontal initialization voltage line 153.

가로 초기화 전압선(153)은 세 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 제1방향(DR1)으로 연장되어 있으나 인접한 두 공통 전압선(170) 사이에 위치하며 두 공통 전압선(170)과 교차하지 않을 수 있다. 가로 초기화 전압선(153)은 이웃한 세 데이터선들(171a, 171b, 171c)과 교차하며 초기화 전압선(173)까지만 연장되어 있을 수 있다.The horizontal initialization voltage line 153 extends in the first direction DR1 across the three pixels PX1, PX2, PX3, but is located between two adjacent common voltage lines 170 and may not cross the two common voltage lines 170. have. The horizontal initialization voltage line 153 crosses the three adjacent data lines 171a, 171b, and 171c and may extend only to the initialization voltage line 173.

연결 부재(178)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(65)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(65)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(66)을 통해 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)와 전기적으로 연결되어, 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)가 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The connection member 178 is a contact hole 65 of the second insulating layer 160 in each of the pixels PX1, PX2, and PX3 (two contact holes 65 in each pixel PX1, PX2, PX3 in FIG. 8). Is electrically connected to the drain region 135b of the active pattern 130b, and is electrically connected to the protrusion 155a of the driving gate electrode 155 through the contact hole 66 of the second insulating layer 160 The drain region 135b of the active pattern 130b and the protrusion 155a of the driving gate electrode 155 may be electrically connected to each other.

제1 도전층(115), 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c) 및 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178) 중 적어도 하나는 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층 각각은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 도전층은 티타늄을 포함하는 하부층과 구리를 포함하는 상부층을 포함하는 다중층 구조를 가질 수 있다.The first conductive layer 115, the second conductive layer 151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c, and the third conductive layer 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175 , 174, 176, 177, 178) at least one of copper (Cu), aluminum (Al), magnesium (Mg), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), palladium (Pd), nickel ( Ni), neodymium (Nd), iridium (Ir), molybdenum (Mo), tungsten (W), titanium (Ti), chromium (Cr), tantalum (Ta), may contain at least one of metals such as alloys thereof have. Each of the first conductive layer, the second conductive layer, and the third conductive layer may include a single layer or multiple layers. For example, the third conductive layer may have a multilayer structure including a lower layer including titanium and an upper layer including copper.

제1 트랜지스터(T1)는 채널 영역(134a), 소스 영역(133a) 및 드레인 영역(135a), 그리고 제1 게이트 전극(154a)을 포함한다. 제1 트랜지스터(T1)의 소스 영역(133a)은 구동 전압선(172a, 172c, 172d)과 전기적으로 연결되어 있으므로 구동 전압을 인가받을 수 있다.The first transistor T1 includes a channel region 134a, a source region 133a and a drain region 135a, and a first gate electrode 154a. Since the source region 133a of the first transistor T1 is electrically connected to the driving voltage lines 172a, 172c, and 172d, a driving voltage may be applied.

제1 트랜지스터(T1)에 대응하는 하부 패턴(115)은 제1 트랜지스터(T1)의 채널 영역(134a)과 기판(110) 사이에서 채널 영역(134a)과 중첩하여 외부광이 채널 영역(134a)에 도달하지 않도록 하여 누설 전류 및 특성 저하를 줄일 수 있다. 하부 패턴(115)은 커패시터 전극(175)을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 있다.The lower pattern 115 corresponding to the first transistor T1 overlaps the channel region 134a between the channel region 134a of the first transistor T1 and the substrate 110 so that external light is transmitted to the channel region 134a. Leakage current and characteristic degradation can be reduced by not reaching The lower pattern 115 is electrically connected to the drain region 135a of the first transistor T1 through the capacitor electrode 175.

가로 구동 전압선(172b)은 버퍼층(120) 및 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍(59)을 통해 금속층(111)과 전기적으로 연결되어 있다. 즉 금속층(111)은 구동 전압선(172b)과 전기적으로 연결되어 있으면서 구동 전압선(172b)에 의한 저항을 감소시킬 수 있다. The horizontal driving voltage line 172b is electrically connected to the metal layer 111 through a contact hole 59 penetrating through the buffer layer 120 and the insulating layer 112. That is, while the metal layer 111 is electrically connected to the driving voltage line 172b, resistance by the driving voltage line 172b may be reduced.

또한 금속층(111)은 기판(110) 전면에 형성되므로 단차에 대한 부담 없이 상당히 두꺼운 두께로 제공될 수 있다. 두께가 증가할수록 금속층(111)에 의한 신호 저항을 용이하게 감소시킬 수 있다. 또한 금속층(111)은 별도의 마스크 없이도 형성될 수 있으므로 제조 공정이 단순하고 공정에 소요되는 비용 및 시간을 감소시킬 수 있다. In addition, since the metal layer 111 is formed on the entire surface of the substrate 110, it can be provided with a considerably thick thickness without the burden of steps. As the thickness increases, the signal resistance due to the metal layer 111 can be easily reduced. In addition, since the metal layer 111 can be formed without a separate mask, the manufacturing process is simple and the cost and time required for the process can be reduced.

제2 트랜지스터(T2)는 채널 영역(134b), 소스 영역(133b), 드레인 영역(135b), 그리고 제2 게이트 전극(154b)을 포함한다. 제2 트랜지스터(T2)의 소스 영역(133b)은 데이터선(171a, 171b, 171c)과 전기적으로 연결되어 데이터 전압 또는 기준 전압을 인가받을 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 영역(135b)은 구동 게이트 전극(155)을 통해 제1 게이트 전극(154a)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second transistor T2 includes a channel region 134b, a source region 133b, a drain region 135b, and a second gate electrode 154b. The source region 133b of the second transistor T2 is electrically connected to the data lines 171a, 171b, and 171c to receive a data voltage or a reference voltage. The drain region 135b of the second transistor T2 may be electrically connected to the first gate electrode 154a through the driving gate electrode 155.

제3 트랜지스터(T3)는 채널 영역(134c), 소스 영역(133c) 및 드레인 영역(135c), 그리고 제3 게이트 전극(154c)을 포함한다. 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 영역(135c)은 가로 초기화 전압선(153)으로부터 초기화 전압을 인가받을 수 있다.The third transistor T3 includes a channel region 134c, a source region 133c and a drain region 135c, and a third gate electrode 154c. The drain region 135c of the third transistor T3 may receive an initialization voltage from the horizontal initialization voltage line 153.

제2 절연층(160)과 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178) 위에는 제3 절연층(181)이 위치할 수 있다. 제3 절연층(181)은 커패시터 전극(175) 위에 위치하는 접촉 구멍(83a), 그리고 공통 전압선(170) 위에 위치하는 접촉 구멍(81)을 포함할 수 있다.A third insulating layer 181 may be positioned on the second insulating layer 160 and the third conductive layer 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178. I can. The third insulating layer 181 may include a contact hole 83a positioned on the capacitor electrode 175 and a contact hole 81 positioned on the common voltage line 170.

제3 절연층(181) 위에는 복수의 접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)를 포함하는 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)이 위치할 수 있다. 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 실시예에 따라 생략될 수 있다. Fourth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d including a plurality of contact members 190a, 190b, 190c, and 190d may be positioned on the third insulating layer 181. The fourth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d may be omitted according to exemplary embodiments.

각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하며 접촉 구멍(83a)을 통해 커패시터 전극(175)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.Each of the contact members 190a, 190b, and 190c is positioned in each of the pixels PX1, PX2, and PX3, and may be electrically connected to the capacitor electrode 175 through the contact hole 83a.

접촉 부재(190d)는 접촉 구멍(81)을 통해 공통 전압선(170)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.The contact member 190d may contact the common voltage line 170 through the contact hole 81 and may be electrically connected.

접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)는 각각이 접촉하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 커패시터 전극(175) 및 공통 전압선(170)과 다른 도전층과의 접착력을 향상시키며 제3 도전층의 산화를 막을 수 있다. 특히, 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층이 구리를 포함하는 경우 구리의 산화를 막을 수 있다. 이를 위해, 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료, 예를 들면 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층이 구리를 포함하는 경우 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층을 캐핑하여 구리의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은, ITO, IZO 등의 금속 산화물 등의 도전성 물질을 포함할 수 있다.The contact members 190a, 190b, 190c, and 190d are capacitor electrodes of the third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178, which each contact The adhesion between the 175 and the common voltage line 170 and the other conductive layer may be improved, and oxidation of the third conductive layer may be prevented. In particular, when the upper layer of the third conductive layer 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178 contains copper, oxidation of copper may be prevented. To this end, the fourth conductive layers 190a, 190b, 190c, 190d are the upper layers of the third conductive layers 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178 The upper layer of the conductive material that can prevent corrosion of the third conductive layer (171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178) contains copper In this case, it includes a conductive material capable of preventing corrosion of copper by capping the upper layer of the third conductive layer 171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178 can do. For example, the fourth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d may include a conductive material such as a metal oxide such as ITO or IZO.

제3 절연층(181)과 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d) 위에는 제4 절연층(182)이 위치할 수 있다. 도 9를 참조하면, 제4 절연층(182)은 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c) 위에 위치하며 접촉 구멍(83a)과 중첩하는 접촉 구멍(83b)을 포함할 수 있다.A fourth insulating layer 182 may be positioned on the third insulating layer 181 and the fourth conductive layers 190a, 190b, 190c, and 190d. Referring to FIG. 9, the fourth insulating layer 182 may include a contact hole 83b positioned on each contact member 190a, 190b, and 190c and overlapping the contact hole 83a.

절연층(112), 버퍼층(120), 절연 패턴(144)을 포함하는 제1 절연층, 제2 절연층(160), 제3 절연층(181) 및 제4 절연층(182) 중 적어도 하나는 질화규소(SiNx), 산화규소(SiOx), 산질화규소(SiON) 등의 무기 절연 물질 및/또는 유기 절연 물질을 포함할 수 있다. 특히, 제4 절연층(182)은 무기 절연 물질 및/또는 폴리이미드, 아크릴계 폴리머, 실록산계 폴리머 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있고, 실질적으로 평탄한 윗면을 가질 수 있다.At least one of the insulating layer 112, the buffer layer 120, the first insulating layer including the insulating pattern 144, the second insulating layer 160, the third insulating layer 181, and the fourth insulating layer 182 May include inorganic insulating materials and/or organic insulating materials such as silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), and silicon oxynitride (SiON). In particular, the fourth insulating layer 182 may include an inorganic insulating material and/or an organic insulating material such as polyimide, an acrylic polymer, or a siloxane polymer, and may have a substantially flat top surface.

제4 절연층(182) 위에는 제5 도전층(191a, 191b, 191c)으로서 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)을 포함하는 화소 전극층(191a, 191b, 191c)이 위치할 수 있다. 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 도 8에 도시한 바와 같이 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. 세 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 평면상 사이즈와 모양은 서로 다를 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 화소(PX2)가 녹색을 나타내고 화소(PX1)는 적색을 나타내고 화소(PX3)는 청색을 나타낼 수 있으나 이에 한정되지 않는다.Pixel electrode layers 191a, 191b, and 191c including a plurality of pixel electrodes 191a, 191b, and 191c as fifth conductive layers 191a, 191b, and 191c may be positioned on the fourth insulating layer 182. Each of the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c may be positioned corresponding to each of the pixels PX1, PX2, and PX3 as shown in FIG. 8. The size and shape of the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c positioned in the three pixels PX1, PX2, and PX3 may be different from each other, but are not limited thereto. The pixel PX2 may represent green, the pixel PX1 may represent red, and the pixel PX3 may represent blue, but the present invention is not limited thereto.

각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제4 절연층(182)의 접촉 구멍(83b)을 통해 대응하는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 접촉하고, 접촉 부재(190a, 190b, 190c)를 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 제1 트랜지스터(T1)로부터 전압을 전달받을 수 있다.Each pixel electrode 191a, 191b, 191c contacts the corresponding contact members 190a, 190b, 190c through the contact hole 83b of the fourth insulating layer 182, and the contact members 190a, 190b, 190c Through the capacitor electrode 175 may be electrically connected. Therefore, each of the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c may be electrically connected to the drain region 135a of the first transistor T1 to receive a voltage from the first transistor T1.

화소 전극층(191a, 191b, 191c)은 반투과성 도전 물질 또는 반사성 도전 물질을 포함할 수 있다.The pixel electrode layers 191a, 191b, and 191c may include a semi-transmissive conductive material or a reflective conductive material.

제4 절연층(182) 위에는 제5 절연층(350)이 위치할 수 있다. 제5 절연층(350)은 화소 전극(191a, 191b, 191c) 위에 위치하는 개구부(355)를 가진다. 제5 절연층(350)은 폴리아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.A fifth insulating layer 350 may be positioned on the fourth insulating layer 182. The fifth insulating layer 350 has openings 355 positioned on the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c. The fifth insulating layer 350 may include an organic insulating material such as polyacrylic resin or polyimide resin.

제5 절연층(350)과 화소 전극층(191a, 191b, 191c) 위에는 발광층(370)이 위치한다. 발광층(370)은 제5 절연층(350)의 개구부(355) 안에 위치하는 부분을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 유기 발광 물질 또는 무기 발광 물질을 포함할 수 있다. 도시한 바와 달리 제5 절연층(350)의 적어도 일부의 위는 발광층(370)으로 덮이지 않을 수도 있다.An emission layer 370 is positioned on the fifth insulating layer 350 and the pixel electrode layers 191a, 191b, and 191c. The emission layer 370 may include a portion located in the opening 355 of the fifth insulating layer 350. The light emitting layer 370 may include an organic light emitting material or an inorganic light emitting material. Unlike illustrated, at least a portion of the fifth insulating layer 350 may not be covered with the light emitting layer 370.

제5 절연층(350)과 발광층(370)은 접촉 부재(190d) 위에 위치하는 접촉 구멍(82)을 포함할 수 있다.The fifth insulating layer 350 and the light emitting layer 370 may include a contact hole 82 positioned on the contact member 190d.

발광층(370) 위에는 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)은 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 연속적으로 형성되어 있을 수 있다. 공통 전극(270)은 접촉 구멍(82)을 통해 접촉 부재(190d)와 접촉하여 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압을 전달받을 수 있다.A common electrode 270 is positioned on the emission layer 370. The common electrode 270 may be continuously formed over the plurality of pixels PX1, PX2, and PX3. The common electrode 270 may contact the contact member 190d through the contact hole 82 and are electrically connected to the common voltage line 170 to receive the common voltage.

공통 전극(270)은 도전성 투명 물질을 포함할 수 있다.The common electrode 270 may include a conductive transparent material.

각 화소(PX1, PX2, PX3)의 화소 전극(191a, 191b, 191c), 발광층(370) 및 공통 전극(270)은 함께 발광 다이오드(ED)를 이루고, 화소 전극(191a, 191b, 191c) 및 공통 전극(270) 중 하나가 캐소드가 되고 나머지 하나가 애노드가 된다. 앞에서는 화소 전극(191a, 191b, 191c) 애노드가 되는 예를 설명하였다.The pixel electrodes 191a, 191b, 191c, the emission layer 370 and the common electrode 270 of each pixel PX1, PX2, PX3 together form a light emitting diode ED, and the pixel electrodes 191a, 191b, 191c, and One of the common electrodes 270 becomes a cathode and the other becomes an anode. In the above, an example in which the pixel electrodes 191a, 191b, and 191c become anodes has been described.

이하에서는 도 10 내지 도 14를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명한다. 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다. 전술한 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 10 to 14. 10 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 11 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. FIG. 13 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 13 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 14 is an exemplary embodiment of the present invention. A plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an example. Description of the same components as the above-described components will be omitted.

우선 도 10을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2) 를 포함할 수 있다. First, referring to FIG. 10, the metal layer 111 according to an embodiment may include openings 111-1 and 111-2 overlapping the active layer. Specifically, the metal layer 111 includes a first opening 111-1 overlapping the first active pattern 130a and the third active pattern 130c, and a second opening 111 overlapping the second active pattern 130b. -2) may be included.

금속층(111)은 가로 구동 전압선(172b)과 접촉 구멍(59)을 통해 연결되어 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The metal layer 111 may be connected to the horizontal driving voltage line 172b through the contact hole 59 to receive a predetermined voltage. Since the metal layer 111 according to an exemplary embodiment does not overlap the active layer through the openings 111-1 and 111-2, transistor performance may not be affected.

다음, 도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 11, the metal layer 111 according to an embodiment may include a first voltage metal layer 111d and a second voltage metal layer 111s. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may be spaced apart from each other. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may have a stripe shape extending along the second direction DR2.

평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. On a plane, the first voltage metal layer 111d may have a first width Wd, and the second voltage metal layer 111s may have a second width Ws. In this case, the first width Wd and the second width Ws may be substantially the same. However, the present invention is not limited thereto and may be changed according to the pixel width and structure.

제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 가로 구동 전압선(172b)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first voltage metal layer 111d may be connected to the horizontal driving voltage line 172b through the contact hole 11d. The first voltage metal layer 111d may receive a driving voltage. The second voltage metal layer 111s may be connected to the common voltage line 170 through the contact hole 11s. The second voltage metal layer 111s may receive a common voltage.

다음 도 12를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 12, the metal layer 111 according to an embodiment may include a first voltage metal layer 111d and a second voltage metal layer 111s. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may be spaced apart from each other. The first voltage metal layer 111d and the second voltage metal layer 111s may have a stripe shape extending along the second direction DR2.

일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라 금속층(111)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 일부와 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The metal layer 111 according to an embodiment may include openings 111-1 and 111-2 overlapping the active layer. Specifically, the metal layer 111 includes a first opening 111-1 overlapping the first active pattern 130a and the third active pattern 130c, and a second opening 111 overlapping the second active pattern 130b. -2) may be included. According to an embodiment, the metal layer 111 may include an opening overlapping a portion of the active patterns 130a, 130b, and 130c.

금속층(111)은 구동 전압 또는 공통 전압과 같은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The metal layer 111 may receive a predetermined voltage such as a driving voltage or a common voltage. Since the metal layer 111 according to an exemplary embodiment does not overlap the active layer through the openings 111-1 and 111-2, transistor performance may not be affected.

다음, 도 13을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 제1 서브 금속층(111d1)은 접촉 구멍(11d1)을 통해 제1 데이터선(171a)과 연결될 수 있고, 제2 서브 금속층(111d2)은 접촉 구멍(11d2)을 통해 제2 데이터선(171b)과 연결될 수 있고, 제3 서브 금속층(111d3)은 접촉 구멍(11d3)을 통해 제3 데이터선(171c)과 연결될 수 있다. 제1 서브 금속층(111d1)은 제1 데이터선(171a)을 통해 전달되는 제1 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 서브 금속층(111d2)은 제2 데이터선(171b)을 통해 전달되는 제2 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 제3 금속층(111d3)은 제3 데이터선(171c)을 통해 전달되는 제3 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 본 명세서는 도시하지 않았으나 각각의 데이터선은 데이터선과 금속층 사이에 위치하는 별도의 도전층에 의해 금속층과 연결될 수도 있다. Next, referring to FIG. 13, the metal layer 111 according to an embodiment may include a first sub metal layer 111d1, a second sub metal layer 111d2, and a third sub metal layer 111d3. The first sub-metal layer 111d1 according to an exemplary embodiment may be connected to the first data line 171a through the contact hole 11d1, and the second sub-metal layer 111d2 is provided with the second data through the contact hole 11d2. The line 171b may be connected, and the third sub-metal layer 111d3 may be connected to the third data line 171c through the contact hole 11d3. The first sub-metal layer 111d1 may receive a first data voltage transmitted through the first data line 171a. The second sub-metal layer 111d2 may receive a second data voltage transmitted through the second data line 171b. The third metal layer 111d3 may receive a third data voltage transmitted through the third data line 171c. Although not shown in the present specification, each data line may be connected to the metal layer by a separate conductive layer positioned between the data line and the metal layer.

제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)은 서로 이격될 수 있다. 제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. The first sub-metal layer 111d1, the second sub-metal layer 111d2, and the third sub-metal layer 111d3 may be spaced apart from each other. The first sub-metal layer 111d1, the second sub-metal layer 111d2, and the third sub-metal layer 111d3 may have a stripe shape extending along the second direction DR2.

평면상 제1 서브 금속층(111d1)은 제1 너비(W1)를 가지고, 제2 서브 금속층(111d2)은 제2 너비(W2)를 가지고, 제3 서브 금속층(111d3)은 제3 너비(W3)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(W1), 제2 너비(W2) 및 제3 너비(W3)는 실질적으로 동일할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니며, 각 화소의 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. In plan view, the first sub-metal layer 111d1 has a first width W1, the second sub-metal layer 111d2 has a second width W2, and the third sub-metal layer 111d3 has a third width W3. Can have In this case, the first width W1, the second width W2, and the third width W3 may be substantially the same, but are not limited thereto, and may be changed according to the width and structure of each pixel.

다음, 도 14를 참조하면 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2) 를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 일부와 중첩하는 개구부를 포함할 수도 있다. 금속층(111)이 포함하는 개구부(111-1, 111-2)의 형태는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)에 의해 변경될 수 있다. Next, referring to FIG. 14, the metal layer 111 according to an exemplary embodiment may include openings 111-1 and 111-2 overlapping the active layer. Specifically, the metal layer 111 includes a first opening 111-1 overlapping the first active pattern 130a and the third active pattern 130c, and a second opening 111 overlapping the second active pattern 130b. -2) may be included. The metal layer 111 according to an exemplary embodiment may include an opening overlapping a portion of the active patterns 130a, 130b, and 130c. The shapes of the openings 111-1 and 111-2 included in the metal layer 111 may be changed by the active patterns 130a, 130b and 130c.

금속층(111)은 데이터 전압과 같은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The metal layer 111 may receive a predetermined voltage such as a data voltage. Since the metal layer 111 according to an exemplary embodiment does not overlap the active layer through the openings 111-1 and 111-2, transistor performance may not be affected.

이하에서는 도 15를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 단면도이다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 15. 15 is a cross-sectional view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

기판(110) 위에 기판(110) 전면과 중첩하는 금속층(111) 및 절연층(112)이 위치할 수 있다. 본 명세서는 도 2의 실시예에 따른 금속층(111) 및 절연층(112)이 적용된 실시예를 도시하였으나 이에 제한되지 않고 전술한 어떠한 실시예도 적용 가능함은 물론이다. A metal layer 111 and an insulating layer 112 overlapping the entire surface of the substrate 110 may be positioned on the substrate 110. Although the present specification shows an embodiment in which the metal layer 111 and the insulating layer 112 according to the embodiment of FIG. 2 are applied, the embodiment is not limited thereto, and any embodiment described above may be applied.

절연층(112) 위에 하부 패턴(115)을 포함하는 제1 도전층이 위치할 수 있다.A first conductive layer including the lower pattern 115 may be positioned on the insulating layer 112.

제1 도전층 위에는 버퍼층(120)이 위치하고 그 위에는 액티브층(130)이 위치할 수 있다.The buffer layer 120 may be positioned on the first conductive layer, and the active layer 130 may be positioned thereon.

액티브층(130) 위에는 제1 절연층(121)이 위치할 수 있다. 제1 절연층(121)은 앞에서 설명한 절연 패턴(144)과 동일한 층일 수 있으나 절연 패턴(144)과 달리 기판(110) 위에 전면적으로 형성되어 있고 일부가 제거된 형태를 가질 수 있다. 즉, 제1 절연층(121)은 절연 패턴(144)과 달리 버퍼층(120) 위에도 위치할 수 있다. 이와 달리 제1 절연층(121) 대신 절연 패턴(144)과 같은 구조가 위치할 수도 있다.A first insulating layer 121 may be positioned on the active layer 130. The first insulating layer 121 may be the same layer as the insulating pattern 144 described above, but unlike the insulating pattern 144, the first insulating layer 121 may be formed entirely on the substrate 110 and partially removed. That is, unlike the insulating pattern 144, the first insulating layer 121 may also be positioned on the buffer layer 120. Alternatively, a structure such as the insulating pattern 144 may be positioned instead of the first insulating layer 121.

제1 절연층(121) 위에는 게이트 전극(154)을 포함하는 제2 도전층이 위치하고, 그 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다.A second conductive layer including the gate electrode 154 may be positioned on the first insulating layer 121, and a second insulating layer 160 may be positioned thereon.

제2 절연층(160) 위에는 커패시터 전극(175)을 포함하는 제3 도전층이 위치할 수 있고, 그 위에는 제3 절연층(180)이 위치할 수 있다.A third conductive layer including a capacitor electrode 175 may be positioned on the second insulating layer 160, and a third insulating layer 180 may be positioned thereon.

제3 절연층(180) 위에는 복수의 화소 전극(191)을 포함하는 화소 전극층이 위치할 수 있다. 화소 전극(191)은 제3 절연층(180)의 접촉 구멍(89)을 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결될 수 있다.A pixel electrode layer including a plurality of pixel electrodes 191 may be positioned on the third insulating layer 180. The pixel electrode 191 may be electrically connected to the capacitor electrode 175 through the contact hole 89 of the third insulating layer 180.

제3 절연층(180) 위에는 제6 절연층(350)이 위치할 수 있고, 화소 전극층과 제6 절연층(350) 위에는 발광층(370) 및 공통 전극(270)이 차례대로 위치할 수 있다. 발광층(370)은 청색광일 수 있는 제1색광을 방출하는 발광 물질을 포함할 수 있다.A sixth insulating layer 350 may be positioned on the third insulating layer 180, and a light emitting layer 370 and a common electrode 270 may be sequentially positioned on the pixel electrode layer and the sixth insulating layer 350. The emission layer 370 may include a light emitting material that emits a first color light, which may be blue light.

공통 전극(270) 위에는 복수의 절연층(381, 382, 383)을 포함하는 봉지층(380)이 위치할 수 있다. 절연층(381)과 절연층(382)은 무기 절연 물질을 포함할 수 있고, 절연층(381)과 절연층(382) 사이에 위치하는 절연층(382)은 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.An encapsulation layer 380 including a plurality of insulating layers 381, 382, and 383 may be positioned on the common electrode 270. The insulating layer 381 and the insulating layer 382 may include an inorganic insulating material, and the insulating layer 382 positioned between the insulating layer 381 and the insulating layer 382 may include an organic insulating material. .

봉지층(380) 위에는 충진제를 포함하는 충진층(390)이 위치할 수 있다. 충진층(390) 위에는 절연 물질을 포함하는 덮개층(400), 그리고 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c)이 위치할 수 있다.A filling layer 390 containing a filler may be positioned on the encapsulation layer 380. A cover layer 400 including an insulating material and a plurality of color conversion layers 430a and 430b and a transmission layer 430c may be positioned on the filling layer 390.

투과층(430c)은 입사되는 광을 통과시킬 수 있다. 즉, 투과층(430c)은 청색광일 수 있는 제1색광을 투과시킬 수 있다. 투과층(430c)은 제1색광을 투과시키는 폴리머 물질을 포함할 수 있다. 투과층(430c)이 위치하는 영역은 청색을 방출하는 발광 영역에 해당할 수 있고, 투과층(430c)은 별도의 반도체 나노 결정을 포함하지 않고 입사된 제1색광을 그대로 통과시킬 수 있다.The transmission layer 430c may pass incident light. That is, the transmission layer 430c may transmit the first color light, which may be blue light. The transmission layer 430c may include a polymer material that transmits the first color light. The region where the transmission layer 430c is located may correspond to a light emitting region that emits blue color, and the transmission layer 430c may pass the incident first color light as it is without including a separate semiconductor nanocrystal.

색변환층(430a, 430b)은 서로 다른 반도체 나노 결정을 포함할 수 있다. 예를 들어, 색변환층(430a)으로 입사되는 제1색광은 색변환층(430b)이 포함하는 반도체 나노 결정에 의해 제2색광으로 변환되어 방출될 수 있다. 색변환층(430b)으로 입사되는 제1색광은 색변환층(430b)이 포함하는 반도체 나노 결정에 의해 제3색광으로 변환되어 방출될 수 있다.The color conversion layers 430a and 430b may include different semiconductor nanocrystals. For example, the first color light incident on the color conversion layer 430a may be converted into second color light by semiconductor nanocrystals included in the color conversion layer 430b and then emitted. The first color light incident on the color conversion layer 430b may be converted into third color light by semiconductor nanocrystals included in the color conversion layer 430b and then emitted.

반도체 나노 결정은 입사되는 제1색광을 제2색광 또는 제3색광으로 변환하는 형광체 및 양자점(quantum dot) 물질 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The semiconductor nanocrystal may include at least one of a phosphor and a quantum dot material that converts incident first color light into second color light or third color light.

양자점의 코어는 II-VI족 화합물, III-V족 화합물, IV-VI족 화합물, IV족 원소, IV족 화합물 및 이들의 조합에서 선택될 수 있다.The core of the quantum dot may be selected from a group II-VI compound, a group III-V compound, a group IV-VI compound, a group IV element, a group IV compound, and combinations thereof.

II-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe, HgZnTe, MgZnSe, MgZnS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. Group II-VI compounds include binary compounds selected from the group consisting of CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS, and mixtures thereof; AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, the group consisting of HZnSe, MgZe, HgS and MgZe, HgS A three-element compound selected from; And HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe, and a mixture thereof.

III-V족 화합물은 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. The group III-V compound is a binary compound selected from the group consisting of GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb, and mixtures thereof; A ternary compound selected from the group consisting of GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP, and mixtures thereof; And GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb, it may be selected from the group consisting of a quaternary compound selected from the group consisting of a mixture thereof.

IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 원소로는 Si, Ge 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 화합물로는 SiC, SiGe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물일 수 있다. Group IV-VI compounds include a binary compound selected from the group consisting of SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe, and mixtures thereof; A three-element compound selected from the group consisting of SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe, and mixtures thereof; And SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe, and may be selected from the group consisting of a quaternary element compound selected from the group consisting of a mixture thereof. The group IV element may be selected from the group consisting of Si, Ge, and mixtures thereof. The group IV compound may be a binary compound selected from the group consisting of SiC, SiGe, and mixtures thereof.

이때, 이원소 화합물, 삼원소 화합물 또는 사원소 화합물은 균일한 농도로 입자 내에 존재하거나, 농도 분포가 부분적으로 다른 상태로 나누어져 동일 입자 내에 존재하는 것일 수 있다. 또한 하나의 양자점이 다른 양자점을 둘러싸는 코어/쉘 구조를 가질 수도 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다.In this case, the two-element compound, the three-element compound, or the quaternary element compound may be present in the particle at a uniform concentration, or may be present in the same particle by partially dividing the concentration distribution into different states. In addition, one quantum dot may have a core/shell structure surrounding another quantum dot. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient that decreases toward the center of the concentration of elements present in the shell.

몇몇 실시예에서, 양자점은 전술한 나노 결정을 포함하는 코어 및 상기 코어를 둘러싸는 쉘을 포함하는 코어-쉘 구조를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘은 상기 코어의 화학적 변성을 방지하여 반도체 특성을 유지하기 위한 보호층 역할 및/또는 양자점에 전기 영동 특성을 부여하기 위한 차징층(charging layer)의 역할을 수행할 수 있다. 상기 쉘은 단층 또는 다중층일 수 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘의 예로는 금속 또는 비금속의 산화물, 반도체 화합물 또는 이들의 조합 등을 들 수 있다.In some embodiments, the quantum dot may have a core-shell structure including a core including the aforementioned nanocrystal and a shell surrounding the core. The shell of the quantum dot may serve as a protective layer for maintaining semiconductor properties by preventing chemical modification of the core and/or a charging layer for imparting electrophoretic properties to the quantum dot. The shell may be a single layer or multiple layers. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient that decreases toward the center of the concentration of elements present in the shell. Examples of the shell of the quantum dot include metal or non-metal oxides, semiconductor compounds, or a combination thereof.

예를 들어, 상기 금속 또는 비금속의 산화물은 SiO2, Al2O3, TiO2, ZnO, MnO, Mn2O3, Mn3O4, CuO, FeO, Fe2O3, Fe3O4, CoO, Co3O4, NiO 등의 이원소 화합물, 또는 MgAl2O4, CoFe2O4, NiFe2O4, CoMn2O4등의 삼원소 화합물을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.For example, the oxide of the metal or non-metal is SiO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , ZnO, MnO, Mn 2 O 3 , Mn 3 O 4 , CuO, FeO, Fe 2 O 3 , Fe 3 O 4 , Two- element compounds such as CoO, Co 3 O 4 , and NiO, or three-element compounds such as MgAl 2 O 4 , CoFe 2 O 4 , NiFe 2 O 4 , and CoMn 2 O 4 , but the present invention is limited thereto. It is not.

또, 상기 반도체 화합물은 CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb등을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.In addition, the semiconductor compounds include CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb, etc. However, the present invention is not limited thereto.

양자점은 약 45nm 이하, 바람직하게는 약 40nm 이하, 더욱 바람직하게는 약 30nm 이하의 발광 파장 스펙트럼의 반치폭(full width of half maximum, FWHM)을 가질 수 있으며, 이 범위에서 색순도나 색재현성을 향상시킬 수 있다. 또한 이러한 양자점을 통해 발광되는 광은 전 방향으로 방출되는바, 광 시야각이 향상될 수 있다.Quantum dots may have a full width of half maximum (FWHM) of the emission wavelength spectrum of about 45 nm or less, preferably about 40 nm or less, more preferably about 30 nm or less, and improve color purity or color reproducibility within this range. I can. In addition, since the light emitted through the quantum dots is emitted in all directions, a wide viewing angle can be improved.

또한, 양자점의 형태는 당 분야에서 일반적으로 사용하는 형태의 것으로 특별히 한정하지 않지만, 보다 구체적으로 구형, 피라미드형, 다중 가지형(multi-arm), 또는 입방체(cubic)의 나노 입자, 나노 튜브, 나노와이어, 나노 섬유, 나노 판상 입자 등의 형태의 것을 사용할 수 있다.In addition, the shape of the quantum dot is a type generally used in the art and is not particularly limited, but more specifically, spherical, pyramidal, multi-arm, or cubic nanoparticles, nanotubes, It can be used in the form of nanowires, nanofibers, and nanoplatelet particles.

양자점은 입자 크기에 따라 방출하는 광의 색상을 조절 할 수 있으며, 이에 따라 양자점은 청색, 적색, 녹색 등 다양한 발광 색상을 가질 수 있다.The quantum dots can control the color of light emitted according to the particle size, and accordingly, the quantum dots can have various emission colors such as blue, red, and green.

복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c) 위에는 절연층(440)이 위치하고 그 위에 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 및 차광 부재(460)가 위치할 수 있다. 일 실시예에 따라 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c)가 생략될 수도 있다. An insulating layer 440 may be positioned on the plurality of color conversion layers 430a and 430b and the transmission layer 430c, and a plurality of color filters 450a, 450b, 450c and a light blocking member 460 may be positioned thereon. According to an embodiment, a plurality of color filters 450a, 450b, and 450c may be omitted.

컬러 필터(450a)는 제2색광을 나타낼 수 있고, 컬러 필터(450b)는 제3색광을 나타낼 수 있고, 컬러 필터(450c)는 제1색광을 나타낼 수 있다.The color filter 450a may represent a second color light, the color filter 450b may represent a third color light, and the color filter 450c may represent a first color light.

차광 부재(460)는 이웃한 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 사이에 위치할 수 있다.The light blocking member 460 may be positioned between adjacent color filters 450a, 450b, and 450c.

복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 및 차광 부재(460) 위에는 기판(210)이 위치할 수 있다. 즉, 기판(110)과 기판(210) 사이에 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c)가 위치할 수 있다.A substrate 210 may be positioned on the plurality of color filters 450a, 450b, and 450c and the light blocking member 460. That is, a plurality of color conversion layers 430a and 430b and a plurality of color filters 450a, 450b and 450c may be positioned between the substrate 110 and the substrate 210.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c)을 포함하는 대신 발광층(370)이 양자점을 포함할 수도 있다.According to another embodiment of the present invention, instead of including the plurality of color conversion layers 430a and 430b and the transmission layer 430c, the emission layer 370 may include quantum dots.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements by those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.

110: 기판
111: 금속층
115: 하부 패턴
131: 액티브층
191: 화소 전극
370: 발광층
270: 공통 전극
110: substrate
111: metal layer
115: lower pattern
131: active layer
191: pixel electrode
370: light-emitting layer
270: common electrode

Claims (20)

기판,
상기 기판 위에 위치하는 금속층,
상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층,
상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층,
상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층,
상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극,
상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하는 표시 장치.
Board,
A metal layer positioned on the substrate,
A first conductive layer including a lower pattern positioned on the metal layer,
An active layer on the first conductive layer,
A second conductive layer positioned on the active layer and including a first gate electrode,
A pixel electrode positioned on the second conductive layer,
A display device including a light emitting layer and a common electrode positioned on the pixel electrode.
제1항에서,
상기 금속층은 기판 전면과 중첩하는 표시 장치.
In claim 1,
The metal layer overlaps the entire surface of the substrate.
제2항에서,
상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In paragraph 2,
The metal layer includes an opening overlapping the active layer.
제1항에서,
상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함하는 표시 장치.
In claim 1,
The display device further includes a third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line.
제4항에서,
상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 장치.
In claim 4,
The metal layer includes at least one of a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.
제5항에서,
상기 금속층은 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층을 포함하고,
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격되는 표시 장치.
In clause 5,
The metal layer includes a first voltage metal layer and the second voltage metal layer,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer are spaced apart from each other.
제6항에서,
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In paragraph 6,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer include openings overlapping the active layer.
제4항에서,
상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고,
상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 그리고 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 장치.
In claim 4,
The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line,
The metal layer includes at least one of a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and a third sub metal layer connected to the third data line.
제8항에서,
상기 금속층은 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층을 포함하고,
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In clause 8,
The metal layer includes a first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer,
The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer include openings overlapping the active layer.
제8항에서,
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격되는 표시 장치.
In clause 8,
The first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer are spaced apart from each other.
기판,
상기 기판 위에 위치하는 금속층,
상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층,
상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층,
상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층,
상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극,
상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하고,
상기 금속층의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬인 표시 장치.
Board,
A metal layer positioned on the substrate,
A first conductive layer including a lower pattern positioned on the metal layer,
An active layer on the first conductive layer,
A second conductive layer positioned on the active layer and including a first gate electrode,
A pixel electrode positioned on the second conductive layer,
A light emitting layer and a common electrode positioned on the pixel electrode,
The thickness of the metal layer is about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms.
제11항에서,
상기 금속층 및 상기 하부 패턴 사이에 위치하는 절연층을 더 포함하고,
상기 금속층은 기판 전면과 중첩하는 표시 장치.
In clause 11,
Further comprising an insulating layer positioned between the metal layer and the lower pattern,
The metal layer overlaps the entire surface of the substrate.
제12항에서,
상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In claim 12,
The metal layer includes an opening overlapping the active layer.
제11항에서,
상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함하는 표시 장치.
In clause 11,
The display device further includes a third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line.
제14항에서,
상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층을 포함하는 표시 장치.
In clause 14,
The metal layer includes a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.
제15항에서,
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격되는 표시 장치.
In paragraph 15,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer are spaced apart from each other.
제15항에서,
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In paragraph 15,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer include openings overlapping the active layer.
제14항에서,
상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고,
상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층을 포함하는 표시 장치.
In clause 14,
The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line,
The metal layer includes a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and a third sub metal layer connected to the third data line.
제18항에서,
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치.
In paragraph 18,
The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer include openings overlapping the active layer.
제18항에서,
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격되는 표시 장치.
In paragraph 18,
The first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer are spaced apart from each other.
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