KR20210002170A - Display device - Google Patents
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Abstract
Description
본 개시는 표시 장치에 관한 것이다.The present disclosure relates to a display device.
표시 장치는 이미지를 표시하는 장치로, 최근 자발광 표시 장치로서 발광 표시 장치(light emitting diode display)가 주목 받고 있다.A display device is a device that displays an image, and recently, a light emitting diode display has been attracting attention as a self-luminous display device.
발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 가지며, 액정 표시 장치(liquid crystal display device)와 달리 별도의 광원을 필요로 하지 않으므로 두께와 무게를 줄일 수 있다. 또한, 발광 표시 장치는 낮은 소비 전력, 높은 휘도 및 높은 반응 속도 등의 고품위 특성을 나타낸다.The light emitting display device has a self-luminous characteristic, and unlike a liquid crystal display device, since it does not require a separate light source, thickness and weight can be reduced. In addition, the light emitting display device exhibits high quality characteristics such as low power consumption, high luminance, and high reaction speed.
일반적으로 발광 표시 장치는 복수의 화소를 포함하고, 각 화소는 복수의 트랜지스터 및 발광 소자를 포함한다. 복수의 트랜지스터는 신호선에 연결되어 있으며 발광 소자에 구동 전류를 전달할 수 있다. 트랜지스터는 채널 영역 및 도전 영역을 포함하는 액티브 패턴을 포함할 수 있다.In general, a light emitting display device includes a plurality of pixels, and each pixel includes a plurality of transistors and a light emitting element. The plurality of transistors are connected to the signal line and can transmit driving current to the light emitting device. The transistor may include an active pattern including a channel region and a conductive region.
발광 소자는 애노드 및 캐소드를 포함하고, 애노드는 화소의 트랜지스터와 연결되어 구동 전류를 전달받을 수 있다.The light emitting device includes an anode and a cathode, and the anode is connected to a transistor of a pixel to receive a driving current.
실시예들은 하부 패턴의 두께를 일정 수준 이하로 유지하면서 금속층을 통해 소정의 신호에 대한 저항을 감소시켜 영상 품질이 향상된 표시 장치를 제공하기 위한 것이다.Embodiments provide a display device with improved image quality by reducing resistance to a signal through a metal layer while maintaining the thickness of a lower pattern below a certain level.
일 실시예에 따른 표시 장치는 기판, 상기 기판 위에 위치하는 금속층, 상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층, 상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층, 상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층, 상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극, 상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함한다. The display device according to an exemplary embodiment includes a substrate, a metal layer disposed on the substrate, a first conductive layer including a lower pattern disposed on the metal layer, an active layer disposed on the first conductive layer, and a first conductive layer disposed on the active layer. And a second conductive layer including one gate electrode, a pixel electrode disposed on the second conductive layer, a light emitting layer disposed on the pixel electrode, and a common electrode.
상기 금속층은 기판 전면과 중첩할 수 있다. The metal layer may overlap the entire surface of the substrate.
상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The metal layer may include an opening overlapping the active layer.
상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함할 수 있다. A third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line may be further included.
상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The metal layer may include at least one of a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.
상기 금속층은 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층을 포함하고, 상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격될 수 있다. The metal layer may include a first voltage metal layer and the second voltage metal layer, and the first voltage metal layer and the second voltage metal layer may be spaced apart from each other.
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The first voltage metal layer and the second voltage metal layer may include openings overlapping the active layer.
상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고, 상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 그리고 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line, and the metal layer includes a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and It may include at least one of the third sub metal layers connected to the third data line.
상기 금속층은 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층을 포함하고, 상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The metal layer includes a first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer, and the first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer include an opening overlapping the active layer. can do.
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격될 수 있다. The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer may be spaced apart from each other.
일 실시예에 따른 표시 장치는 기판, 상기 기판 위에 위치하는 금속층, 상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층, 상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층, 상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층, 상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극, 상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하고, 상기 금속층의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬이다. The display device according to an exemplary embodiment includes a substrate, a metal layer disposed on the substrate, a first conductive layer including a lower pattern disposed on the metal layer, an active layer disposed on the first conductive layer, and a first conductive layer disposed on the active layer. A second conductive layer including one gate electrode, a pixel electrode disposed on the second conductive layer, a light emitting layer disposed on the pixel electrode, and a common electrode, and the thickness of the metal layer is about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms.
실시예들에 따르면 하부 패턴의 두께를 일정 수준 이하로 유지하면서 금속층을 통해 신호에 대한 저항을 감소시켜 영상 품질이 향상된 표시 장치를 제공할 수 있다. According to embodiments, a display device with improved image quality may be provided by reducing resistance to signals through a metal layer while maintaining a thickness of a lower pattern below a certain level.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 한 화소에 대한 회로도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 전극층 및 복수의 데이터선에 대한 평면 배치도이다.
도 4는 도 2에 도시한 표시 장치를 IVa-IVb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6b는 도 6a의 일부 영역에 대한 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 9는 도 8에 도시한 표시 장치를 XIIIa-XIIIb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다.
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 단면도이다. 1 is a circuit diagram of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
3 is a plan layout view of a pixel electrode layer and a plurality of data lines of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the display device illustrated in FIG. 2 taken along line IVa-IVb.
5 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
6A is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 6B is a cross-sectional view of a partial area of FIG. 6A.
7 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
9 is a cross-sectional view of the display device shown in FIG. 8 taken along lines XIIIa-XIIIb.
10 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
11 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment.
12 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
13 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
14 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
15 is a cross-sectional view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those of ordinary skill in the art may easily implement the present invention. The present invention may be implemented in various different forms and is not limited to the embodiments described herein.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly describe the present invention, parts irrelevant to the description have been omitted, and the same reference numerals are assigned to the same or similar components throughout the specification.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.In addition, the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of description, so the present invention is not necessarily limited to the illustrated bar. In the drawings, the thicknesses are enlarged to clearly express various layers and regions. And in the drawings, for convenience of description, the thickness of some layers and regions is exaggerated.
또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한, 기준이 되는 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 하는 것은 기준이 되는 부분의 위 또는 아래에 위치하는 것이고, 반드시 중력 반대 방향 쪽으로 "위에" 또는 "상에" 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.In addition, when a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" or "on" another part, this includes not only "directly over" another part, but also a case where another part is in the middle. . Conversely, when one part is "directly above" another part, it means that there is no other part in the middle. In addition, to be "on" or "on" the reference part means that it is located above or below the reference part, and does not necessarily mean that it is located "above" or "on" the direction opposite to the gravity. .
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In addition, throughout the specification, when a part "includes" a certain component, it means that other components may be further included rather than excluding other components unless otherwise stated.
또한, 명세서 전체에서, "평면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 위에서 보았을 때를 의미하며, "단면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 수직으로 자른 단면을 옆에서 보았을 때를 의미한다.In addition, throughout the specification, when referred to as "on a plane", it means when the target portion is viewed from above, and when referred to as "cross-sectional view", it means when the cross-section of the target portion vertically cut is viewed from the side.
명세서 전체에서, 평면 뷰(in a plan view)는 서로 교차하는 두 방향(예를 들어, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2))에 평행한 면을 관찰하는 뷰를 의미하고(평면상이라고도 표현함), 단면 뷰(in a cross-sectional view)는 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)에 평행한 면에 수직인 방향(예를 들어, 제3방향(DR3))으로 자른 면을 관찰하는 뷰를 의미한다. 또한, 두 구성 요소가 중첩한다고 할 때는 다른 언급이 없는 한 두 구성 요소가 제3방향(DR3)으로(예를 들어, 기판의 윗면에 수직인 방향으로) 중첩하는 것을 의미한다.Throughout the specification, a plan view refers to a view that observes a plane parallel to two directions that intersect each other (for example, the first direction (DR1) and the second direction (DR2)). Also referred to as an image), the cross-sectional view is in a direction perpendicular to a plane parallel to the first direction DR1 and the second direction DR2 (for example, the third direction DR3). It means a view to observe the cut side. In addition, when two components overlap, unless otherwise stated, it means that the two components overlap in the third direction DR3 (eg, in a direction perpendicular to the upper surface of the substrate).
이하 도 1을 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소에 대해 살펴본다. 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 한 화소(PX)에 대한 회로도이다.Hereinafter, one pixel of a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 1. 1 is a circuit diagram of one pixel PX of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소(PX)를 포함하고, 한 화소(PX)는 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3), 커패시터(Cst), 그리고 발광 소자인 적어도 하나의 발광 다이오드(light emitting diode)(ED)를 포함할 수 있다. 본 실시예에서는 한 화소(PX)가 하나의 발광 다이오드(ED)를 포함하는 예를 주로 하여 설명한다.The display device according to the exemplary embodiment of the present invention includes a plurality of pixels PX, and one pixel PX includes a plurality of transistors T1, T2, T3, a capacitor Cst, and at least one light emitting device. It may include a light emitting diode (ED). In this embodiment, an example in which one pixel PX includes one light emitting diode ED will be mainly described.
복수의 트랜지스터(T1, T2, T3)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)를 포함한다. 아래에서 설명할 소스 전극과 드레인 전극은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 채널의 양쪽에 위치하는 두 전극을 구분하기 위한 것으로 두 용어가 서로 바뀔 수도 있다.The plurality of transistors T1, T2, and T3 include a first transistor T1, a second transistor T2, and a third transistor T3. The source electrode and the drain electrode, which will be described below, are used to distinguish between two electrodes positioned on both sides of the channel of each of the transistors T1, T2, and T3, and the terms may be interchanged with each other.
제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)은 커패시터(Cst)의 일단과 연결되어 있고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1)은 구동 전압(ELVDD)을 전달하는 구동 전압선과 연결되어 있고, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1)은 발광 다이오드(ED)의 애노드 및 커패시터(Cst)의 타단과 연결되어 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제2 트랜지스터(T2)의 스위칭 동작에 따라 데이터 전압(DAT)을 전달받아 커패시터(Cst)에 저장된 전압에 따라 발광 다이오드(ED)에 구동 전류를 공급할 수 있다.The gate electrode G1 of the first transistor T1 is connected to one end of the capacitor Cst, and the source electrode S1 of the first transistor T1 is connected to a driving voltage line that transfers the driving voltage ELVDD. In addition, the drain electrode D1 of the first transistor T1 is connected to the anode of the light emitting diode ED and the other end of the capacitor Cst. The first transistor T1 may receive the data voltage DAT according to the switching operation of the second transistor T2 and supply a driving current to the light emitting diode ED according to the voltage stored in the capacitor Cst.
제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(G2)은 제1 스캔 신호(SC)를 전달하는 제1 스캔선과 연결되어 있고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스 전극(S2)은 데이터 전압(DAT) 또는 기준 전압을 전달할 수 있는 데이터선과 연결되어 있고, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(D2)은 커패시터(Cst)의 일단 및 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 연결되어 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 제1 스캔 신호(SC)에 따라 턴온되어 기준 전압 또는 데이터 전압(DAT)을 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단으로 전달할 수 있다.The gate electrode G2 of the second transistor T2 is connected to the first scan line transmitting the first scan signal SC, and the source electrode S2 of the second transistor T2 is the data voltage DAT or It is connected to a data line capable of transmitting a reference voltage, and the drain electrode D2 of the second transistor T2 is connected to one end of the capacitor Cst and the gate electrode G1 of the first transistor T1. The second transistor T2 is turned on according to the first scan signal SC to transfer the reference voltage or the data voltage DAT to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst. .
제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극(G3)은 제2 스캔 신호(SS)를 전달하는 제2 스캔선과 연결되어 있고, 제3 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3)은 커패시터(Cst)의 타단, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드와 연결되어 있고, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 전극(D3)은 초기화 전압(INIT)을 전달하는 초기화 전압선과 연결되어 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 제2 스캔 신호(SS)에 따라 턴온되어 초기화 전압(INIT)을 발광 다이오드(ED)의 애노드 및 커패시터(Cst)의 타단에 전달하여 발광 다이오드(ED)의 애노드의 전압을 초기화시킬 수 있다.The gate electrode G3 of the third transistor T3 is connected to a second scan line that transmits the second scan signal SS, and the source electrode S3 of the third transistor T3 is the other end of the capacitor Cst. , The drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED are connected, and the drain electrode D3 of the third transistor T3 is connected to an initialization voltage line transmitting the initialization voltage INIT. It is connected. The third transistor T3 is turned on according to the second scan signal SS, and transmits the initialization voltage INIT to the anode of the LED ED and the other end of the capacitor Cst to provide the voltage of the anode of the LED ED. Can be initialized.
커패시터(Cst)의 일단은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 연결되어 있고, 타단은 제3 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드와 연결되어 있다. 발광 다이오드(ED)의 캐소드는 공통 전압(ELVSS)을 전달하는 공통 전압선과 연결되어 있다.One end of the capacitor Cst is connected to the gate electrode G1 of the first transistor T1, and the other end is connected to the source electrode S3 of the third transistor T3 and the anode of the light emitting diode ED. . The cathode of the light emitting diode ED is connected to a common voltage line transmitting a common voltage ELVSS.
발광 다이오드(ED)는 제1 트랜지스터(T1)에 의해 생성된 구동 전류에 따른 휘도의 빛을 발광할 수 있다.The light emitting diode ED may emit light having a luminance according to a driving current generated by the first transistor T1.
도 1에 도시한 회로의 동작의 한 예, 특히 한 프레임 동안의 동작의 한 예에 대하여 설명한다. 여기서는 트랜지스터들(T1, T2, T3)이 N형 채널 트랜지스터인 경우를 예로 들어 설명하나, 이에 한정되는 것은 아니다.An example of the operation of the circuit shown in Fig. 1, in particular, an example of the operation during one frame will be described. Here, a case where the transistors T1, T2, and T3 are N-type channel transistors is described as an example, but the present invention is not limited thereto.
한 프레임이 시작되면, 초기화 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC) 및 하이 레벨의 제2 스캔 신호(SS)가 공급되어 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)가 턴온된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 데이터선으로부터의 기준 전압이 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단에 공급되고, 턴온된 제3 트랜지스터(T3)를 통해 초기화 전압(INIT)이 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드에 공급된다. 이에 따라, 초기화 구간 동안 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 초기화 전압(INIT)으로 초기화된다. 이때, 커패시터(Cst)에는 기준 전압과 초기화 전압(INIT)의 차전압이 저장된다.When one frame starts, a high-level first scan signal SC and a high-level second scan signal SS are supplied during an initialization period to turn on the second transistor T2 and the third transistor T3. The reference voltage from the data line is supplied to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst through the turned-on second transistor T2, and through the turned-on third transistor T3. The initialization voltage INIT is supplied to the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED. Accordingly, during the initialization period, the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED are initialized to the initialization voltage INIT. At this time, the difference voltage between the reference voltage and the initialization voltage INIT is stored in the capacitor Cst.
다음, 센싱 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC)가 유지된 상태에서 제2 스캔 신호(SS)가 로우 레벨이 되면, 제2 트랜지스터(T2)는 턴온 상태를 유지하고 제3 트랜지스터(T3)는 턴오프된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단은 기준 전압을 유지하고, 턴오프된 제3 트랜지스터(T3)를 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 초기화 전압(INIT)으로부터 끊어진다. 이에 따라, 제1 트랜지스터(T1)는 소스 전극(S1)으로부터 드레인 전극(D1)으로 전류가 흐르다가 드레인 전극(D1)의 전압이 "기준 전압-Vth"이 되면 턴오프된다. Vth는 제1 트랜지스터(T1)의 문턱 전압을 나타낸다. 이때, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 드레인 전극(D1)의 전압 차는 커패시터(Cst)에 저장되며, 제1 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(Vth)의 센싱이 완료된다. 센싱 구간 동안 센싱한 특성 정보를 반영하여 보상된 데이터 신호를 생성함으로써, 화소마다 다를 수 있는 제1 트랜지스터(T1)의 특성 편차를 외부적으로 보상할 수 있다.Next, when the second scan signal SS reaches the low level while the high level first scan signal SC is maintained during the sensing period, the second transistor T2 maintains a turn-on state and the third transistor T3 ) Is turned off. The gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst maintain the reference voltage through the turned-on second transistor T2, and the first transistor through the turned-off third transistor T3. The drain electrode D1 of (T1) and the anode of the light emitting diode ED are disconnected from the initialization voltage INIT. Accordingly, the first transistor T1 is turned off when a current flows from the source electrode S1 to the drain electrode D1 and the voltage of the drain electrode D1 becomes “reference voltage-Vth”. Vth represents the threshold voltage of the first transistor T1. At this time, the voltage difference between the gate electrode G1 and the drain electrode D1 of the first transistor T1 is stored in the capacitor Cst, and sensing of the threshold voltage Vth of the first transistor T1 is completed. By generating a compensated data signal by reflecting the characteristic information sensed during the sensing period, a characteristic variation of the first transistor T1, which may vary for each pixel, can be externally compensated.
다음, 데이터 입력 구간에서 하이 레벨의 제1 스캔 신호(SC)가 공급되고 로우 레벨의 제2 스캔 신호(SS)가 공급되면, 제2 트랜지스터(T2)는 턴온되고 제3 트랜지스터(T3)는 턴오프된다. 턴온된 제2 트랜지스터(T2)를 통해 데이터선으로부터의 데이터 전압(DAT)이 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1) 및 커패시터(Cst)의 일단에 공급된다. 이 때, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 발광 다이오드(ED)의 애노드는 턴오프 상태인 제1 트랜지스터(T1)에 의해 센싱 구간에서의 전위를 거의 그대로 유지할 수 있다.Next, when the high level first scan signal SC is supplied and the low level second scan signal SS is supplied during the data input period, the second transistor T2 is turned on and the third transistor T3 is turned on. Is off. The data voltage DAT from the data line is supplied to the gate electrode G1 of the first transistor T1 and one end of the capacitor Cst through the turned-on second transistor T2. In this case, the drain electrode D1 of the first transistor T1 and the anode of the light emitting diode ED may maintain the potential in the sensing period substantially as it is by the first transistor T1 in a turned-off state.
다음, 발광 구간에서 게이트 전극(G1)에 전달된 데이터 전압(DAT)에 의해 턴온된 제1 트랜지스터(T1)는 데이터 전압(DAT)에 따른 구동 전류를 발생시키고, 그 구동 전류에 의해 발광 다이오드(ED)가 발광할 수 있다.Next, the first transistor T1 turned on by the data voltage DAT transmitted to the gate electrode G1 in the emission period generates a driving current according to the data voltage DAT, and the light emitting diode ( ED) can emit light.
이하 도 1과 함께 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구체적인 구조에 대해 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대한 평면 배치도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 전극층 및 복수의 데이터선에 대한 평면 배치도이고, 도 4는 도 2에 도시한 표시 장치를 IVa-IVb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.Hereinafter, a detailed structure of a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4 along with FIG. 1. 2 is a plan layout view of a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 3 is a pixel electrode layer and a plurality of data of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention. A plan layout view of a line, and FIG. 4 is a cross-sectional view of the display device of FIG. 2 taken along line IVa-IVb.
여기서, 복수의 화소(PX1, PX2, PX3) 각각은 앞에서 설명한 한 화소(PX)가 포함하는 구성 요소 중 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 및 커패시터(Cst)가 형성된 부분 또는 영역을 의미할 수 있다.Here, each of the plurality of pixels PX1, PX2, PX3 refers to a portion or region in which a plurality of transistors T1, T2, T3 and a capacitor Cst are formed among the components included in the one pixel PX described above. I can.
일 실시예에 따른 표시 장치는 기판(110)을 포함할 수 있다. 기판(110)은 유리, 플라스틱 등의 절연 물질을 포함할 수 있고, 유연성(flexibility)을 가질 수 있다.The display device according to an exemplary embodiment may include a
기판(110) 위에는 금속층(111)이 위치할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 기판(110) 전면과 중첩할 수 있다. A
금속층(111)은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함하거나, 금속에 준하는 물질을 포함할 수 있다. 금속층(111)은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다.The
금속층(111)의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬일 수 있다. 금속층(111)은 상당히 두꺼운 두께를 가질 수 있다. 금속층(111)의 두께가 두꺼울수록 화소가 포함하는 트랜지스터의 성능을 향상시켜 영상 품질을 높일 수 있다. 금속층(111)의 두께가 증가하는 경우에도, 금속층(111)에 의한 단차가 발생하는 것이 아니므로 다른 도전층들의 형성이 용이할 수 있으며 신뢰성이 향상될 수 있다. The thickness of the
금속층(111) 위에 절연층(112)이 위치할 수 있다. 절연층(112)은 무기 절연 물질을 포함하거나, 유기 절연 물질을 포함하거나, 무기 절연 물질 및 유기 절연 물질을 모두 포함할 수 있다. 절연층(112)을 통해 금속층(111)과 다른 도전층과의 커패시턴스 형성을 제어할 수 있다. An insulating
다음 절연층(112) 위에 하부 패턴(115) 및 가로 공통 전압선(170a)을 포함하는 제1 도전층(115, 170a)이 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각의 하부 패턴(115)이 위치할 수 있다. 가로 공통 전압선(170a)은 대략 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다. 하부 패턴(115)은 다양한 도전성 금속 또는 이에 준하는 도전 특성을 가지는 반도체 물질을 포함할 수 있다.Next, first
제1 도전층(115, 170a) 위에는 절연층인 버퍼층(120)이 위치할 수 있다.A
버퍼층(120) 위에는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)을 포함하는 액티브층이 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 앞에서 설명한 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 각각의 채널을 형성하는 채널 영역(134a, 134b, 134c) 및 이에 연결된 도전 영역을 포함할 수 있다. 각 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 소스 영역(133a, 133b, 133c) 및 드레인 영역(135a, 135b, 135c)을 포함할 수 있다.An active layer including a plurality of
각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 서로 이격되어 있을 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)은 서로 연결되어 있을 수도 있다. 도 2는 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)이 서로 이격되어 분리된 예를 도시한다.The plurality of
액티브층은 비정질 규소, 다결정 규소, 또는 산화물 반도체 등의 반도체 물질을 포함할 수 있다.The active layer may include a semiconductor material such as amorphous silicon, polycrystalline silicon, or an oxide semiconductor.
액티브층 위에는 제1 절연층인 절연 패턴(144)이 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 채널 영역(134a, 134b, 134c)과 중첩하며 채널 영역(134a, 134b, 134c) 위에 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역과는 실질적으로 중첩하지 않을 수 있다.An
절연 패턴(144) 위에는 제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)이 위치할 수 있다.Second
제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)은, 앞에서 설명한 제1 스캔 신호(SC)를 전달할 수 있는 제1 스캔선(151), 제2 스캔 신호(SS)를 전달할 수 있는 제2 스캔선(152), 구동 게이트 전극(155), 제2 게이트 전극(154b), 그리고 제3 게이트 전극(154c) 등을 포함할 수 있다. 앞에서 설명한 회로도에서의 게이트 전극(G1), 게이트 전극(G2) 및 게이트 전극(G3)은 여기서 각각 구동 게이트 전극(155)이 포함하는 제1 게이트 전극(154a), 제2 게이트 전극(154b) 및 제3 게이트 전극(154c)에 대응될 수 있다. 구동 게이트 전극(155)을 제1 게이트 전극이라고도 할 수 있다.The second
제1 및 제2 스캔선(151, 152) 각각은 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 위쪽 및 아래쪽에는 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)이 각각 위치할 수 있다.Each of the first and
각 구동 게이트 전극(155)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 구동 게이트 전극(155)은 위 또는 아래로 돌출된 형태의 제1 게이트 전극(154a) 및 아래 또는 위로 돌출된 돌출부(155a)을 포함할 수 있다. 제1 게이트 전극(154a)은 액티브 패턴(130a)과 교차하며 액티브 패턴(130a)의 채널 영역(134a)과 중첩한다.Each driving
복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하는 복수의 제2 게이트 전극(154b)은 서로 연결되어 전체적으로 제2방향(DR2)으로 길게 연장된 형태를 이룰 수 있고 제1 스캔선(151)과 연결되어 있다. 제2 게이트 전극(154b)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 액티브 패턴(130b)과 교차하며 액티브 패턴(130b)의 채널 영역(134b)과 중첩한다.The plurality of
복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하는 복수의 제3 게이트 전극(154c)은 서로 연결되어 전체적으로 제2방향(DR2)으로 길게 연장된 형태를 이룰 수 있고 제2 스캔선(152)과 연결되어 있다. 제3 게이트 전극(154c)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 액티브 패턴(130c)과 교차하며 액티브 패턴(130c)의 채널 영역(134c)과 중첩한다.The plurality of
제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c)은 뒤에서 설명할 공통 전압선(170)과 중첩하는 도전 패턴(150a)을 더 포함할 수 있다.The second
제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c) 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다. 버퍼층(120) 및/또는 제2 절연층(160)은 복수의 접촉 구멍(60, 61, 62, 63a, 63b, 64, 65, 66, 68)을 포함할 수 있다.A second insulating
제2 절연층(160) 위에는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)이 위치할 수 있다. 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)은, 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)를 기준으로, 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173), 커패시터 전극(175), 그리고 복수의 연결 부재(178)를 포함할 수 있다.Third
공통 전압선(170)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60)을 통해 가로 공통 전압선(170a)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 도전층의 도전 패턴(150a)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60a)을 통해 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압선(170)의 저항을 낮출 수 있다. 도전 패턴(150a)은 생략될 수도 있다.The
구동 전압선(172)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(61)을 통해 액티브 패턴(130a)의 소스 영역(133a)과 전기적으로 연결되어 있다. The driving
또한 구동 전압선(172)은 제2 절연층(160), 버퍼층(120) 및 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍(59)을 통해 금속층(111)과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉 금속층(111)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결되어 있으면서 구동 전압선(172)에 의한 신호 저항을 감소시킬 수 있다. In addition, the driving
또한 금속층(111)은 기판(110) 전면에 형성되므로 단차에 대한 부담 없이 상당히 두꺼운 두께로 제공될 수 있다. 두께가 증가할수록 금속층(111)에 의한 신호 저항을 용이하게 감소시킬 수 있다. 또한 금속층(111)은 별도의 마스크 없이도 형성될 수 있으므로 제조 공정이 단순하고 공정에 소요되는 비용 및 시간을 감소시킬 수 있다. In addition, since the
초기화 전압선(173)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63a)을 통해 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)과 전기적으로 연결되어 있다.The
복수의 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다. 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c) 사이에는 제3 도전층의 다른 구성이 위치하지 않을 수 있다. 각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(64)을 통해 액티브 패턴(130b)의 소스 영역(133b)과 전기적으로 연결되어 있다. 각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이 적어도 한 번 굴곡되어 있을 수 있다.The plurality of
커패시터 전극(175)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 하나씩 위치하는 섬형일 수 있다. 커패시터 전극(175)은 평면 뷰에서 구동 전압선(172)과 데이터선(171a, 171b, 171c) 사이에 위치할 수 있다. 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)을 사이에 두고 대응하는 구동 게이트 전극(155)과 중첩하여 커패시터(Cst)를 형성할 수 있다. 구동 게이트 전극(155)은 제1 커패시터 전극이라 하고, 커패시터 전극(175)은 제2 커패시터 전극이라 할 수 있다.The
커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(62)을 통해 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63b)을 통해 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c)과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)의 접촉 구멍(68)을 통해 하부 패턴(115)과 전기적으로 연결되어 있다. 커패시터 전극(175)과 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a) 사이의 접촉을 위해 구동 게이트 전극(155)은 접촉 구멍(62)과 중첩하는 개구부(55a)를 포함하여 구동 게이트 전극(155)이 접촉 구멍(62) 주위를 둘러싸는 형태를 가질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The
연결 부재(178)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 접촉 구멍(65)을 통해 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 전기적으로 연결되고 접촉 구멍(66)을 통해 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)와 전기적으로 연결되어 결국, 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)가 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The
평면 뷰에서 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 그리고 초기화 전압선(173) 각각은 대략 제2방향(DR2)으로 길게 연장되어 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)과 교차할 수 있다. 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172) 및 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.In the plan view, each of the
도 2에 도시한 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)는 제2방향(DR2)으로 배열되어 서로 이웃할 수 있으며, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)으로 반복되어 배치될 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 좌측 및 우측 양쪽에 각각 공통 전압선(170)이 위치할 수 있고, 상측 및 하측에 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)이 각각 위치할 수 있다.A group of pixels PX1, PX2, and PX3 shown in FIG. 2 may be arranged in a second direction DR2 to be adjacent to each other, and are repeated in a first direction DR1 and a second direction DR2. Can be placed. A
반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)가 세 화소(PX1, PX2, PX3)를 포함하는 경우 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에는 세 개의 데이터선(171a, 171b, 171c), 하나의 구동 전압선(172), 그리고 하나의 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.When a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a repeating group includes three pixels PX1, PX2, PX3, three
제1 도전층(115, 170a), 제2 도전층(151, 152, 155, 154b, 154c) 및 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178) 중 적어도 하나는 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층 각각은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 도전층은 티타늄을 포함하는 하부층과 구리를 포함하는 상부층을 포함하는 다중층 구조를 가질 수 있다.At least one of the first
제1 트랜지스터(T1)는 채널 영역(134a), 소스 영역(133a) 및 드레인 영역(135a), 그리고 제1 게이트 전극(154a)을 포함한다. 제1 트랜지스터(T1)의 소스 영역(133a)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결되어 있으므로 구동 전압을 인가받을 수 있다.The first transistor T1 includes a
제1 트랜지스터(T1)에 대응하는 하부 패턴(115)은 제1 트랜지스터(T1)의 채널 영역(134a)과 기판(110) 사이에서 채널 영역(134a)과 중첩하여 외부광이 채널 영역(134a)에 도달하지 않도록 하여 누설 전류 및 특성 저하를 줄일 수 있다. 하부 패턴(115)은 커패시터 전극(175)을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 있다.The
제2 트랜지스터(T2)는 채널 영역(134b), 소스 영역(133b), 드레인 영역(135b), 그리고 제2 게이트 전극(154b)을 포함한다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 제2 트랜지스터(T2)의 소스 영역(133b)은 데이터선(171a, 171b, 171c)과 각각 전기적으로 연결되어 데이터 전압 또는 기준 전압을 인가받을 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 영역(135b)은 구동 게이트 전극(155)을 통해 제1 게이트 전극(154a)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second transistor T2 includes a
제3 트랜지스터(T3)는 채널 영역(134c), 소스 영역(133c) 및 드레인 영역(135c), 그리고 제3 게이트 전극(154c)을 포함한다. 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 영역(135c)은 초기화 전압선(173)으로부터 초기화 전압을 인가받을 수 있다.The third transistor T3 includes a
제3 도전층 위에는 제3 절연층(180)이 위치할 수 있다. 제3 절연층(180)은 제3 도전층 위에 위치하는 복수의 접촉 구멍(71a, 72a, 73a, 74a, 75a, 76a, 77a)을 가질 수 있다.A third insulating
제3 절연층(180) 위에는 제4 도전층이 위치할 수 있다. 제4 도전층은 그 아래에 위치하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)에 위치하는 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173) 및 커패시터 전극(175) 등의 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)의 도전 패턴과 대체로 비슷한 평면 형태를 가지며 대응하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172, 170, 173, 175, 178)의 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있는 복수의 도전 패턴을 포함할 수 있다.A fourth conductive layer may be positioned on the third insulating
예를 들어, 데이터선(171a, 171b, 171c)은 각각 접촉 구멍(74a, 75a, 76a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 구동 전압선(172)은 접촉 구멍(71a)을 통해 제6 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴(183a)과 전기적으로 연결되어 있고, 공통 전압선(170)은 접촉 구멍(72a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 초기화 전압선(173)은 접촉 구멍(73a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴과 전기적으로 연결되어 있고, 커패시터 전극(175)은 접촉 구멍(77a)을 통해 제4 도전층에 위치하는 대응하는 도전 패턴(183b)과 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.For example, the
제4 도전층의 도전 패턴들은 연결되어 있는 제3 도전층과 동일한 전압을 전달하여 저항을 낮출 수 있다. 실시예에 따라 제4 도전층은 생략될 수 있다. The conductive patterns of the fourth conductive layer may transmit the same voltage as the connected third conductive layer to reduce resistance. Depending on the embodiment, the fourth conductive layer may be omitted.
제4 도전층 위에는 제4 절연층(181)이 위치할 수 있다. 제4 절연층(181)은 커패시터 전극(175)과 연결되어 있는 도전 패턴(183b) 위에 위치하는 접촉 구멍(80), 그리고 공통 전압선(170) 위에 위치하는 접촉 구멍(81)을 포함할 수 있다.A fourth insulating
제4 절연층(181) 위에는 복수의 접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)를 포함하는 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)이 위치할 수 있다. 실시예에 따라 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 생략될 수 있다. A fifth
각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하며 접촉 구멍(80)을 통해 대응하는 도전 패턴(183b)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다. 따라서 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 도전 패턴(183b)과 전기적으로 연결되어 있는 커패시터 전극(175)과 각각 전기적으로 연결될 수 있다.Each of the
접촉 부재(190d)는 접촉 구멍(81)을 통해 공통 전압선(170)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.The
접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)는 각각이 접촉하는 제4 도전층의 도전 패턴과 다른 도전층과의 접착력을 향상시키며 제4 도전층의 산화를 막을 수 있다. 특히, 제4 도전층이 구리를 포함하는 경우 구리의 산화를 막을 수 있다. 이를 위해, 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 제4 도전층의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료, 예를 들면 제4 도전층이 구리를 포함하는 경우 제4 도전층을 캐핑하여 구리의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어 제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은, ITO, IZO 등의 금속 산화물 등의 도전성 물질을 포함할 수 있다.The
제5 도전층(190a, 190b, 190c, 190d) 위에는 제5 절연층(182)이 위치할 수 있다. 제5 절연층(182)은 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c) 위에 위치하는 접촉 구멍(83)을 포함할 수 있다.A fifth insulating
평면 뷰 및 단면 뷰에서 접촉 구멍(83)의 중심은 접촉 구멍(80)의 중심과 일치하지 않을 수 있다. 접촉 구멍(83)과 접촉 구멍(80)은 평면 뷰에서 서로 중첩하지 않을 수도 있고 일부 중첩하고 있을 수도 있다.The center of the
접촉 구멍(83)과 접촉 구멍(80)은 모두 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 대응하는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 중첩할 수 있다.Both the
절연층(112), 버퍼층(120), 절연 패턴(144)을 포함하는 제1 절연층(121), 제2 절연층(160), 제3 절연층(180), 제4 절연층(181) 및 제5 절연층(182) 중 적어도 하나는 질화규소(SiNx), 산화규소(SiOx), 산질화규소(SiON) 등의 무기 절연 물질 및/또는 유기 절연 물질을 포함할 수 있다. 특히, 제5 절연층(182)은 무기 절연 물질 및/또는 폴리이미드, 아크릴계 폴리머, 실록산계 폴리머 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있고, 실질적으로 평탄한 윗면을 가질 수 있다.The insulating
제5 절연층(182) 위에는 제6 도전층으로서 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)을 포함하는 화소 전극층(191a, 191b, 191c)이 위치할 수 있다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 평면 뷰에서 반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)(또는 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 제1 트랜지스터(T1)들)는 제2방향(DR2)으로 배열되어 있고 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각 대응하는 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 대체로 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다. 그러나, 화소(PX1, PX2, PX3) 및 이에 대응하는 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 배치 및 구조가 이에 한정되는 것은 아니다. 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 평면상 사이즈와 모양은 서로 다를 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.2 and 3, a plurality of pixels PX1, PX2, and PX3 of a group repeated in a plan view (or first transistors T1 of the plurality of pixels PX1, PX2, PX3) The plurality of
복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제5 절연층(182)의 접촉 구멍(83)을 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결되어 있는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 각각 전기적으로 연결될 수 있다. 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 접촉 부재(190a, 190b, 190c), 도전 패턴(183b) 및 커패시터 전극(175)을 경유하여 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 제1 트랜지스터(T1)로부터 전압을 전달받을 수 있다.The plurality of
예를 들어, 화소 전극(191a)은 화소(PX1)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있고, 화소 전극(191b)은 화소(PX2)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있고, 화소 전극(191c)은 화소(PX3)의 제1 트랜지스터(T1)와 연결되어 있을 수 있다.For example, the
화소 전극(191a, 191b, 191c)은 반투과성 도전 물질 또는 반사성 도전 물질을 포함할 수 있다.The
제5 절연층(182) 위에는 제6 절연층(350)이 위치할 수 있다. 제6 절연층(350)은 화소 전극(191a, 191b, 191c) 위에 각각 위치하는 개구부(355a, 355b, 355c)를 가진다.A sixth insulating
제6 절연층(350)은 폴리아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.The sixth
제6 절연층(350)과 화소 전극층 위에는 발광층(370)이 위치할 수 있다. 발광층(370)은 제6 절연층(350)의 개구부(355a, 355b, 355c) 안에 위치하는 부분을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 유기 발광 물질 또는 무기 발광 물질을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 도시한 바와 같이 제6 절연층(350) 위에 위치하는 부분을 포함할 수도 있고, 제6 절연층(350)의 적어도 일부의 위는 발광층(370)으로 덮이지 않을 수도 있다.An
제6 절연층(350)과 발광층(370)은 접촉 부재(190d) 위에 위치하는 접촉 구멍(82)을 포함할 수 있다.The sixth
발광층(370) 위에는 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)은 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 연속적으로 형성되어 있을 수 있다. 공통 전극(270)은 접촉 구멍(82)을 통해 접촉 부재(190d)와 접촉하여 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압을 전달받을 수 있다.A
공통 전극(270)은 도전성 투명 물질을 포함할 수 있다.The
각 화소(PX1, PX2, PX3)의 화소 전극(191a, 191b, 191c), 발광층(370) 및 공통 전극(270)은 함께 발광 다이오드(ED)를 이루고, 화소 전극(191a, 191b, 191c) 및 공통 전극(270) 중 하나가 캐소드가 되고 나머지 하나가 애노드가 된다. 앞에서는 화소 전극(191a, 191b, 191c) 애노드가 되는 예를 설명하였다.The
평면 뷰에서 제6 절연층(350)의 개구부(355a, 355b, 355c)가 위치하는 영역이 각 화소(PX1, PX2, PX3)의 발광 영역을 정의할 수 있다.In a plan view, a region in which the
도 2 및 도 3을 참조하면, 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 각각 연결되어 있는 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)에 각각 대응하는 복수의 개구부(355a, 355b, 355c)는 제1방향(DR1)으로 서로 이웃하며 배열되어 있을 수 있다.2 and 3, a plurality of
이하에서는 도 5 내지 도 7을 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 6b는 도 6a의 일부 영역에 대한 단면도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다. 앞서 설명한 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 5 to 7. 5 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 6A is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 6B is 6A is a cross-sectional view of a partial area, and FIG. 7 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment. Description of the same components as those described above will be omitted.
우선 도 5를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2), 그리고 제3 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제3 개구부(111-3)를 포함할 수 있다. First, referring to FIG. 5, the
일 실시예에 따른 금속층(111)은 구동 전압선(172)과 전기적으로 연결될 수 있으나, 금속층(111)이 포함하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 통해 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The
다음, 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIGS. 6A and 6B, the
평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. In plan view, the first
제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 구동 전압선(172)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170) 또는 가로 공통 전압선(170a) 또는 도전 패턴(150a)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first
제1 전압 금속층(111d)이 구동 전압을 인가 받기 위한 어떠한 적층 구조도 가질 수 있으며, 제2 전압 금속층(111s)이 공통 전압을 인가 받기 위한 어떠한 적층 구조도 가질 수 있다. The first
일 예로 도 6b에 도시된 바와 같이, 구동 전압선(172)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)을 관통하는 접촉 구멍(11d)을 통해 제1 도전층에 포함되는 연결 부재(115a)와 연결될 수 있으며, 연결 부재(115a)는 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍을 통해 제1 전압 금속층(111d)과 연결될 수 있다. 하부 패턴(115)과 동일한 층에 위치하는 연결 부재(115a)를 통해 제1 전압 금속층(111d)과 구동 전압선(172)이 연결될 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고 구동 전압선(172)이 접촉 구멍(11d)을 통해 직접 제1 전압 금속층(111d)과 연결될 수도 있다. As an example, as shown in FIG. 6B, the driving
이와 유사하게 공통 전압선(170)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)을 관통하는 접촉 구멍(11s)을 통해 제1 도전층에 포함되는 연결 부재(115b)와 연결될 수 있으며, 연결 부재(115b)는 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍을 통해 제2 전압 금속층(111s)과 연결될 수 있다. 하부 패턴(115)과 동일한 층에 위치하는 연결 부재를 통해 제2 전압 금속층(111s)과 공통 전압선(170)이 연결될 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고 공통 전압선(170)이 접촉 구멍(11s)을 통해 직접 제2 전압 금속층(111s)과 연결될 수도 있다. Similarly, the
다음 도 7을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 7, the
평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. On a plane, the first
제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 구동 전압선(172)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170) 또는 가로 공통 전압선(170a) 또는 도전 패턴(150a)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first
일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2), 그리고 제3 액티브 패턴(130a)과 중첩하는 제3 개구부(111-3)를 포함할 수 있다. The
금속층(111)은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2, 111-3)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The
이하에서는 도 8 및 도 9를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 9는 도 8에 도시한 표시 장치를 VIIIa-VIIIb 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 전술한 구성요소와 동일 유사한 구성에 대한 설명은 생략할 수 있다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 8 and 9. FIG. 8 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. 9 is a cross-sectional view of the display device of FIG. 8 taken along line VIIIa-VIIIb. Descriptions of the same and similar components as the above-described components may be omitted.
일 실시예에 따른 표시 장치는 기판(110)을 포함할 수 있다. 기판(110)은 유리, 플라스틱 등의 절연 물질을 포함할 수 있고, 유연성(flexibility)을 가질 수 있다.The display device according to an exemplary embodiment may include a
기판(110) 위에는 금속층(111)이 위치할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 기판(110) 전면과 중첩할 수 있다. A
금속층(111)은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함하거나, 금속에 준하는 물질을 포함할 수 있다. 금속층(111)은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다.The
금속층(111)의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬일 수 있다. 금속층(111)은 상당히 두꺼운 두께를 가질 수 있다. 금속층(111)의 두께가 두꺼울수록 화소가 포함하는 트랜지스터의 성능을 향상시켜 영상 품질을 높일 수 있다. 금속층(111)의 두께가 증가하는 경우에도, 금속층(111)에 의한 단차가 발생하는 것이 아니므로 다른 도전층들의 형성이 용이할 수 있으며 신뢰성이 향상될 수 있다. The thickness of the
금속층(111) 위에 절연층(112)이 위치할 수 있다. 절연층(112)은 무기 절연 물질을 포함하거나, 유기 절연 물질을 포함하거나, 무기 절연 물질 및 유기 절연 물질을 모두 포함할 수 있다. 절연층(112)을 통해 금속층(111)과 다른 도전층과의 커패시턴스 형성을 제어할 수 있다. An insulating
다음 절연층(112) 위에는 복수의 하부 패턴(115)을 포함하는 제1 도전층(115)이 위치할 수 있다. 하부 패턴(115)은 도전 패턴이라고도 한다. 제1 도전층은 다양한 도전성 금속 또는 이에 준하는 도전 특성을 가지는 반도체 물질을 포함할 수 있다.Next, a first
제1 도전층(115) 및 절연층(112) 위에 버퍼층(120)이 위치한다.A
버퍼층(120) 위에는 복수의 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)을 포함하는 액티브층(130a, 130b, 130c)이 위치한다. 즉, 하부 패턴(115)은 기판(110)과 액티브층(130a, 130b, 130c) 사이에 위치할 수 있다. 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)은 앞에서 설명한 복수의 트랜지스터(T1, T2, T3) 각각의 채널을 형성하는 채널 영역(134a, 134b, 134c) 및 이에 연결된 도전 영역을 포함할 수 있다. 각 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역은 각 트랜지스터(T1, T2, T3)의 소스 영역(133a, 133b, 133c) 및 드레인 영역(135a, 135b, 135c)을 포함할 수 있다.
각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)은 서로 연결되어 있을 수도 서로 이격되어 있을 수도 있다. 도 8은 액티브 패턴(130a)과 액티브 패턴(130c)이 서로 연결된 예를 도시한다. 이 경우, 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)은 곧 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c)일 수 있다.In each of the pixels PX1, PX2, and PX3, the
액티브층(130a, 130b, 130c)은 비정질 규소, 다결정 규소, 또는 산화물 반도체 등의 반도체 물질을 포함할 수 있다.The
액티브층(130a, 130b, 130c) 위에는 제1 절연층인 절연 패턴(144)이 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 채널 영역(134a, 134b, 134c)과 중첩하며 채널 영역(134a, 134b, 134c) 위에 위치할 수 있다. 절연 패턴(144)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 도전 영역과는 실질적으로 중첩하지 않을 수 있다.An
절연 패턴(144) 위에는 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c)이 위치할 수 있다. 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c)은, 앞에서 설명한 제1 스캔 신호(SC)를 전달할 수 있는 제1 스캔선(151), 제2 스캔 신호(SS)를 전달할 수 있는 제2 스캔선(152), 초기화 전압(INIT)을 전달할 수 있는 가로 초기화 전압선(153), 구동 전압(ELVDD)을 전달할 수 있는 가로 구동 전압선(172b), 구동 게이트 전극(155), 제2 게이트 전극(154b), 그리고 제3 게이트 전극(154c) 등을 포함할 수 있다. 앞에서 설명한 회로도에서의 게이트 전극(G1), 게이트 전극(G2) 및 게이트 전극(G3)은 여기서 각각 구동 게이트 전극(155)이 포함하는 제1 게이트 전극(154a), 제2 게이트 전극(154b) 및 제3 게이트 전극(154c)에 대응될 수 있다.Second
제1 및 제2 스캔선(151, 152), 가로 초기화 전압선(153), 그리고 가로 구동 전압선(172b)은 각각 제1방향(DR1)으로 연장되어 있을 수 있다.The first and
평면 뷰에서 구동 게이트 전극(155)은 제1 스캔선(151)과 제2 스캔선(152) 사이에 위치할 수 있다.In a plan view, the driving
제2 게이트 전극(154b)은 제1 스캔선(151)과 이격되어 있으며 대체로 제2방향(DR2)으로 연장되어 있을 수 있다. 이와 달리, 제2 게이트 전극(154b)은 제1 스캔선(151)과 직접 연결되어 있을 수도 있다.The
제3 게이트 전극(154c)은 제2 스캔선(152)과 이격되어 있으며 대체로 제2방향(DR2)으로 연장되어 있을 수 있다. 이와 달리, 제3 게이트 전극(154c)은 제2 스캔선(152)과 직접 연결되어 있을 수도 있다.The
각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 구동 게이트 전극(155)은, 위로 돌출된 돌출부(155a) 및 아래로 돌출되어 대체로 제2방향(DR2)으로 연장된 제1 게이트 전극(154a)을 포함할 수 있다.The driving
제1 게이트 전극(154a)은 액티브 패턴(130a)과 교차하며 액티브 패턴(130a)의 채널 영역(134a)과 중첩한다. 제2 게이트 전극(154b)은 액티브 패턴(130b)과 교차하며 액티브 패턴(130b)의 채널 영역(134b)과 중첩한다. 제3 게이트 전극(154c)은 액티브 패턴(130c)과 교차하며 액티브 패턴(130c)의 채널 영역(134c)과 중첩한다.The
가로 구동 전압선(172b)은 접촉 구멍(59)을 통해 제1 금속층(111)과 연결될 수 있다. The horizontal
제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c) 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다. 버퍼층(120) 및/또는 제2 절연층(160)은 복수의 접촉 구멍(24, 26, 60, 61, 62, 63, 64, 65, 66, 67, 68, 69)을 포함할 수 있다.A second insulating
제2 절연층(160) 위에는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)이 위치할 수 있다. 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)은, 복수의 데이터선(171a, 171b, 171c), 복수의 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 공통 전압선(170), 초기화 전압선(173), 커패시터 전극(175), 그리고 복수의 연결 부재(174, 176, 177, 178)를 포함할 수 있다.Third
평면 뷰에서 데이터선(171a, 171b, 171c), 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 공통 전압선(170), 그리고 초기화 전압선(173) 각각은 대략 제2방향(DR2)으로 길게 연장되어 제1 스캔선(151) 및 제2 스캔선(152)과 교차할 수 있다.In the plan view, each of the
도 8에 도시한 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)는 제1방향(DR1)으로 배열되어 서로 이웃할 수 있으며, 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2)으로 반복되어 배치될 수 있다. 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)의 좌측 및 우측 양쪽에 각각 공통 전압선(170)이 위치할 수 있다. 반복되는 한 그룹의 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)가 세 화소(PX1, PX2, PX3)를 포함하는 경우 이웃한 두 공통 전압선(170) 사이에는 세 개의 데이터선(171a, 171b, 171c), 세 개의 구동 전압선(172a, 172c, 172d), 그리고 적어도 하나의 초기화 전압선(173)이 위치할 수 있다.A group of pixels PX1, PX2, and PX3 shown in FIG. 8 may be arranged in a first direction DR1 to be adjacent to each other, and are repeated in a first direction DR1 and a second direction DR2. Can be placed. A
각 데이터선(171a, 171b, 171c)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(64)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(64)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130b)의 소스 영역(133b)과 전기적으로 연결되어 있다.Each of the
각 구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. Each of the driving
구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(61)(도 8에는 화소(PX1, PX2)에 각각 두 개의 접촉 구멍(61)이 도시되고 화소(PX3)에는 하나의 접촉 구멍(61)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130a)의 소스 영역(133a)과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 구동 전압선(172a, 172c, 172d)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(60)을 통해 가로 구동 전압선(172b)과 전기적으로 연결되어 있다. 따라서 가로 구동 전압선(172b)은 구동 전압선(172a, 172c, 172d)과 함께 구동 전압을 전달할 수 있고, 표시 장치 전체에서 구동 전압이 제1방향(DR1) 및 제2방향(DR2) 모든 방향에 메시(mesh) 형태로 전달될 수 있다.The driving
초기화 전압선(173)은 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(69)을 통해 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결되어 있다. 따라서 가로 초기화 전압선(153)은 초기화 전압선(173)과 함께 초기화 전압을 전달할 수 있고, 초기화 전압선(173)이 세 화소(PX1, PX2, PX3)마다 하나씩 형성되어 있어도 가로 초기화 전압선(153)을 통해 세 화소(PX1, PX2, PX3) 모두에 초기화 전압을 전달할 수 있다.The
커패시터 전극(175)은 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 하나씩 위치할 수 있다. 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160)을 사이에 두고 대응하는 구동 게이트 전극(155)과 중첩하여 커패시터(Cst)를 형성할 수 있다.One
커패시터 전극(175)은 아래쪽으로 길게 연장된 돌출부(175a)를 포함할 수 있다. 돌출부(175a)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(62)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(62)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130a)의 드레인 영역(135a)(또는 액티브 패턴(130c)의 소스 영역(133c))과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 커패시터 전극(175)은 제2 절연층(160) 및 버퍼층(120)의 접촉 구멍(68)을 통해 하부 패턴(115)과 전기적으로 연결되어 있다.The
연결 부재(174)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(24)을 통해 제2 스캔선(152) 및 제3 게이트 전극(154c)과 전기적으로 연결되어, 제2 스캔선(152)과 제3 게이트 전극(154c)을 서로 전기적으로 연결시킬 수 있다.The
연결 부재(176)는 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(26)을 통해 제1 스캔선(151) 및 제2 게이트 전극(154b)과 전기적으로 연결되어, 제1 스캔선(151)과 제2 게이트 전극(154b)을 서로 전기적으로 연결시킬 수 있다.The
연결 부재(177)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(63)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(63)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(67)을 통해 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결되어, 액티브 패턴(130c)의 드레인 영역(135c)은 가로 초기화 전압선(153)과 전기적으로 연결될 수 있다.The connecting
가로 초기화 전압선(153)은 세 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 제1방향(DR1)으로 연장되어 있으나 인접한 두 공통 전압선(170) 사이에 위치하며 두 공통 전압선(170)과 교차하지 않을 수 있다. 가로 초기화 전압선(153)은 이웃한 세 데이터선들(171a, 171b, 171c)과 교차하며 초기화 전압선(173)까지만 연장되어 있을 수 있다.The horizontal
연결 부재(178)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에서 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(65)(도 8에는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 두 개의 접촉 구멍(65)이 도시됨)을 통해 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 전기적으로 연결되고 제2 절연층(160)의 접촉 구멍(66)을 통해 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)와 전기적으로 연결되어, 액티브 패턴(130b)의 드레인 영역(135b)과 구동 게이트 전극(155)의 돌출부(155a)가 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The
제1 도전층(115), 제2 도전층(151, 152, 153, 172b, 155, 154b, 154c) 및 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178) 중 적어도 하나는 구리(Cu), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta), 이들의 합금 등 금속 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층 각각은 단일층 또는 다중층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 도전층은 티타늄을 포함하는 하부층과 구리를 포함하는 상부층을 포함하는 다중층 구조를 가질 수 있다.The first
제1 트랜지스터(T1)는 채널 영역(134a), 소스 영역(133a) 및 드레인 영역(135a), 그리고 제1 게이트 전극(154a)을 포함한다. 제1 트랜지스터(T1)의 소스 영역(133a)은 구동 전압선(172a, 172c, 172d)과 전기적으로 연결되어 있으므로 구동 전압을 인가받을 수 있다.The first transistor T1 includes a
제1 트랜지스터(T1)에 대응하는 하부 패턴(115)은 제1 트랜지스터(T1)의 채널 영역(134a)과 기판(110) 사이에서 채널 영역(134a)과 중첩하여 외부광이 채널 영역(134a)에 도달하지 않도록 하여 누설 전류 및 특성 저하를 줄일 수 있다. 하부 패턴(115)은 커패시터 전극(175)을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 있다.The
가로 구동 전압선(172b)은 버퍼층(120) 및 절연층(112)을 관통하는 접촉 구멍(59)을 통해 금속층(111)과 전기적으로 연결되어 있다. 즉 금속층(111)은 구동 전압선(172b)과 전기적으로 연결되어 있으면서 구동 전압선(172b)에 의한 저항을 감소시킬 수 있다. The horizontal
또한 금속층(111)은 기판(110) 전면에 형성되므로 단차에 대한 부담 없이 상당히 두꺼운 두께로 제공될 수 있다. 두께가 증가할수록 금속층(111)에 의한 신호 저항을 용이하게 감소시킬 수 있다. 또한 금속층(111)은 별도의 마스크 없이도 형성될 수 있으므로 제조 공정이 단순하고 공정에 소요되는 비용 및 시간을 감소시킬 수 있다. In addition, since the
제2 트랜지스터(T2)는 채널 영역(134b), 소스 영역(133b), 드레인 영역(135b), 그리고 제2 게이트 전극(154b)을 포함한다. 제2 트랜지스터(T2)의 소스 영역(133b)은 데이터선(171a, 171b, 171c)과 전기적으로 연결되어 데이터 전압 또는 기준 전압을 인가받을 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 영역(135b)은 구동 게이트 전극(155)을 통해 제1 게이트 전극(154a)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second transistor T2 includes a
제3 트랜지스터(T3)는 채널 영역(134c), 소스 영역(133c) 및 드레인 영역(135c), 그리고 제3 게이트 전극(154c)을 포함한다. 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 영역(135c)은 가로 초기화 전압선(153)으로부터 초기화 전압을 인가받을 수 있다.The third transistor T3 includes a
제2 절연층(160)과 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178) 위에는 제3 절연층(181)이 위치할 수 있다. 제3 절연층(181)은 커패시터 전극(175) 위에 위치하는 접촉 구멍(83a), 그리고 공통 전압선(170) 위에 위치하는 접촉 구멍(81)을 포함할 수 있다.A third insulating
제3 절연층(181) 위에는 복수의 접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)를 포함하는 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)이 위치할 수 있다. 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 실시예에 따라 생략될 수 있다. Fourth
각 접촉 부재(190a, 190b, 190c)는 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하며 접촉 구멍(83a)을 통해 커패시터 전극(175)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.Each of the
접촉 부재(190d)는 접촉 구멍(81)을 통해 공통 전압선(170)과 접촉하며 전기적으로 연결되어 있을 수 있다.The
접촉 부재(190a, 190b, 190c, 190d)는 각각이 접촉하는 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 커패시터 전극(175) 및 공통 전압선(170)과 다른 도전층과의 접착력을 향상시키며 제3 도전층의 산화를 막을 수 있다. 특히, 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층이 구리를 포함하는 경우 구리의 산화를 막을 수 있다. 이를 위해, 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료, 예를 들면 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층이 구리를 포함하는 경우 제3 도전층(171a, 171b, 171c, 172a, 172b, 172d, 170, 173, 175, 174, 176, 177, 178)의 상부층을 캐핑하여 구리의 부식을 방지할 수 있는 도전성 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d)은, ITO, IZO 등의 금속 산화물 등의 도전성 물질을 포함할 수 있다.The
제3 절연층(181)과 제4 도전층(190a, 190b, 190c, 190d) 위에는 제4 절연층(182)이 위치할 수 있다. 도 9를 참조하면, 제4 절연층(182)은 각 접촉 부재(190a, 190b, 190c) 위에 위치하며 접촉 구멍(83a)과 중첩하는 접촉 구멍(83b)을 포함할 수 있다.A fourth insulating
절연층(112), 버퍼층(120), 절연 패턴(144)을 포함하는 제1 절연층, 제2 절연층(160), 제3 절연층(181) 및 제4 절연층(182) 중 적어도 하나는 질화규소(SiNx), 산화규소(SiOx), 산질화규소(SiON) 등의 무기 절연 물질 및/또는 유기 절연 물질을 포함할 수 있다. 특히, 제4 절연층(182)은 무기 절연 물질 및/또는 폴리이미드, 아크릴계 폴리머, 실록산계 폴리머 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있고, 실질적으로 평탄한 윗면을 가질 수 있다.At least one of the insulating
제4 절연층(182) 위에는 제5 도전층(191a, 191b, 191c)으로서 복수의 화소 전극(191a, 191b, 191c)을 포함하는 화소 전극층(191a, 191b, 191c)이 위치할 수 있다. 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 도 8에 도시한 바와 같이 각 화소(PX1, PX2, PX3)에 대응하여 위치할 수 있다. 세 화소(PX1, PX2, PX3)에 위치하는 화소 전극(191a, 191b, 191c)의 평면상 사이즈와 모양은 서로 다를 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 화소(PX2)가 녹색을 나타내고 화소(PX1)는 적색을 나타내고 화소(PX3)는 청색을 나타낼 수 있으나 이에 한정되지 않는다.
각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제4 절연층(182)의 접촉 구멍(83b)을 통해 대응하는 접촉 부재(190a, 190b, 190c)와 접촉하고, 접촉 부재(190a, 190b, 190c)를 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서 각 화소 전극(191a, 191b, 191c)은 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 영역(135a)과 전기적으로 연결되어 제1 트랜지스터(T1)로부터 전압을 전달받을 수 있다.Each
화소 전극층(191a, 191b, 191c)은 반투과성 도전 물질 또는 반사성 도전 물질을 포함할 수 있다.The
제4 절연층(182) 위에는 제5 절연층(350)이 위치할 수 있다. 제5 절연층(350)은 화소 전극(191a, 191b, 191c) 위에 위치하는 개구부(355)를 가진다. 제5 절연층(350)은 폴리아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지 등의 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.A fifth insulating
제5 절연층(350)과 화소 전극층(191a, 191b, 191c) 위에는 발광층(370)이 위치한다. 발광층(370)은 제5 절연층(350)의 개구부(355) 안에 위치하는 부분을 포함할 수 있다. 발광층(370)은 유기 발광 물질 또는 무기 발광 물질을 포함할 수 있다. 도시한 바와 달리 제5 절연층(350)의 적어도 일부의 위는 발광층(370)으로 덮이지 않을 수도 있다.An
제5 절연층(350)과 발광층(370)은 접촉 부재(190d) 위에 위치하는 접촉 구멍(82)을 포함할 수 있다.The fifth insulating
발광층(370) 위에는 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)은 복수의 화소(PX1, PX2, PX3)에 걸쳐 연속적으로 형성되어 있을 수 있다. 공통 전극(270)은 접촉 구멍(82)을 통해 접촉 부재(190d)와 접촉하여 공통 전압선(170)과 전기적으로 연결되어 공통 전압을 전달받을 수 있다.A
공통 전극(270)은 도전성 투명 물질을 포함할 수 있다.The
각 화소(PX1, PX2, PX3)의 화소 전극(191a, 191b, 191c), 발광층(370) 및 공통 전극(270)은 함께 발광 다이오드(ED)를 이루고, 화소 전극(191a, 191b, 191c) 및 공통 전극(270) 중 하나가 캐소드가 되고 나머지 하나가 애노드가 된다. 앞에서는 화소 전극(191a, 191b, 191c) 애노드가 되는 예를 설명하였다.The
이하에서는 도 10 내지 도 14를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명한다. 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이고, 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 평면 배치도이다. 전술한 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 10 to 14. 10 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 11 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment, and FIG. FIG. 13 is a plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 13 is a plan layout view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 14 is an exemplary embodiment of the present invention. A plan layout diagram of a plurality of pixels of a display device according to an example. Description of the same components as the above-described components will be omitted.
우선 도 10을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2) 를 포함할 수 있다. First, referring to FIG. 10, the
금속층(111)은 가로 구동 전압선(172b)과 접촉 구멍(59)을 통해 연결되어 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The
다음, 도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 11, the
평면상 제1 전압 금속층(111d)은 제1 너비(Wd)를 가지고, 제2 전압 금속층(111s)은 제2 너비(Ws)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(Wd)와 제2 너비(Ws)는 실질적으로 동일할 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니며 화소 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. On a plane, the first
제1 전압 금속층(111d)은 접촉 구멍(11d)을 통해 가로 구동 전압선(172b)과 연결될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d)은 구동 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 접촉 구멍(11s)을 통해 공통 전압선(170)과 연결될 수 있다. 제2 전압 금속층(111s)은 공통 전압을 인가 받을 수 있다. The first
다음 도 12를 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)을 포함할 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전압 금속층(111d) 및 제2 전압 금속층(111s)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. Next, referring to FIG. 12, the
일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라 금속층(111)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 일부와 중첩하는 개구부를 포함할 수 있다. The
금속층(111)은 구동 전압 또는 공통 전압과 같은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The
다음, 도 13을 참조하면, 일 실시예에 따른 금속층(111)은 제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 제1 서브 금속층(111d1)은 접촉 구멍(11d1)을 통해 제1 데이터선(171a)과 연결될 수 있고, 제2 서브 금속층(111d2)은 접촉 구멍(11d2)을 통해 제2 데이터선(171b)과 연결될 수 있고, 제3 서브 금속층(111d3)은 접촉 구멍(11d3)을 통해 제3 데이터선(171c)과 연결될 수 있다. 제1 서브 금속층(111d1)은 제1 데이터선(171a)을 통해 전달되는 제1 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 제2 서브 금속층(111d2)은 제2 데이터선(171b)을 통해 전달되는 제2 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 제3 금속층(111d3)은 제3 데이터선(171c)을 통해 전달되는 제3 데이터 전압을 인가 받을 수 있다. 본 명세서는 도시하지 않았으나 각각의 데이터선은 데이터선과 금속층 사이에 위치하는 별도의 도전층에 의해 금속층과 연결될 수도 있다. Next, referring to FIG. 13, the
제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)은 서로 이격될 수 있다. 제1 서브 금속층(111d1), 제2 서브 금속층(111d2), 제3 서브 금속층(111d3)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 스트라이프 형태를 가질 수 있다. The first sub-metal layer 111d1, the second sub-metal layer 111d2, and the third sub-metal layer 111d3 may be spaced apart from each other. The first sub-metal layer 111d1, the second sub-metal layer 111d2, and the third sub-metal layer 111d3 may have a stripe shape extending along the second direction DR2.
평면상 제1 서브 금속층(111d1)은 제1 너비(W1)를 가지고, 제2 서브 금속층(111d2)은 제2 너비(W2)를 가지고, 제3 서브 금속층(111d3)은 제3 너비(W3)를 가질 수 있다. 이때 제1 너비(W1), 제2 너비(W2) 및 제3 너비(W3)는 실질적으로 동일할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니며, 각 화소의 너비, 구조 등에 따라 변경될 수 있다. In plan view, the first sub-metal layer 111d1 has a first width W1, the second sub-metal layer 111d2 has a second width W2, and the third sub-metal layer 111d3 has a third width W3. Can have In this case, the first width W1, the second width W2, and the third width W3 may be substantially the same, but are not limited thereto, and may be changed according to the width and structure of each pixel.
다음, 도 14를 참조하면 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브층과 중첩하는 개구부(111-1, 111-2)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 금속층(111)은 제1 액티브 패턴(130a) 및 제3 액티브 패턴(130c)과 중첩하는 제1 개구부(111-1), 제2 액티브 패턴(130b)과 중첩하는 제2 개구부(111-2) 를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)의 일부와 중첩하는 개구부를 포함할 수도 있다. 금속층(111)이 포함하는 개구부(111-1, 111-2)의 형태는 액티브 패턴(130a, 130b, 130c)에 의해 변경될 수 있다. Next, referring to FIG. 14, the
금속층(111)은 데이터 전압과 같은 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 일 실시예에 따른 금속층(111)은 개구부(111-1, 111-2)를 통해 액티브층과 중첩하지 않으므로 트랜지스터 성능에 영향을 미치지 않을 수 있다. The
이하에서는 도 15를 참조하여 일 실시예에 따른 표시 장치에 대해 설명한다. 도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 화소에 대한 단면도이다. Hereinafter, a display device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIG. 15. 15 is a cross-sectional view of a plurality of pixels of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
기판(110) 위에 기판(110) 전면과 중첩하는 금속층(111) 및 절연층(112)이 위치할 수 있다. 본 명세서는 도 2의 실시예에 따른 금속층(111) 및 절연층(112)이 적용된 실시예를 도시하였으나 이에 제한되지 않고 전술한 어떠한 실시예도 적용 가능함은 물론이다. A
절연층(112) 위에 하부 패턴(115)을 포함하는 제1 도전층이 위치할 수 있다.A first conductive layer including the
제1 도전층 위에는 버퍼층(120)이 위치하고 그 위에는 액티브층(130)이 위치할 수 있다.The
액티브층(130) 위에는 제1 절연층(121)이 위치할 수 있다. 제1 절연층(121)은 앞에서 설명한 절연 패턴(144)과 동일한 층일 수 있으나 절연 패턴(144)과 달리 기판(110) 위에 전면적으로 형성되어 있고 일부가 제거된 형태를 가질 수 있다. 즉, 제1 절연층(121)은 절연 패턴(144)과 달리 버퍼층(120) 위에도 위치할 수 있다. 이와 달리 제1 절연층(121) 대신 절연 패턴(144)과 같은 구조가 위치할 수도 있다.A first insulating
제1 절연층(121) 위에는 게이트 전극(154)을 포함하는 제2 도전층이 위치하고, 그 위에는 제2 절연층(160)이 위치할 수 있다.A second conductive layer including the
제2 절연층(160) 위에는 커패시터 전극(175)을 포함하는 제3 도전층이 위치할 수 있고, 그 위에는 제3 절연층(180)이 위치할 수 있다.A third conductive layer including a
제3 절연층(180) 위에는 복수의 화소 전극(191)을 포함하는 화소 전극층이 위치할 수 있다. 화소 전극(191)은 제3 절연층(180)의 접촉 구멍(89)을 통해 커패시터 전극(175)과 전기적으로 연결될 수 있다.A pixel electrode layer including a plurality of
제3 절연층(180) 위에는 제6 절연층(350)이 위치할 수 있고, 화소 전극층과 제6 절연층(350) 위에는 발광층(370) 및 공통 전극(270)이 차례대로 위치할 수 있다. 발광층(370)은 청색광일 수 있는 제1색광을 방출하는 발광 물질을 포함할 수 있다.A sixth insulating
공통 전극(270) 위에는 복수의 절연층(381, 382, 383)을 포함하는 봉지층(380)이 위치할 수 있다. 절연층(381)과 절연층(382)은 무기 절연 물질을 포함할 수 있고, 절연층(381)과 절연층(382) 사이에 위치하는 절연층(382)은 유기 절연 물질을 포함할 수 있다.An
봉지층(380) 위에는 충진제를 포함하는 충진층(390)이 위치할 수 있다. 충진층(390) 위에는 절연 물질을 포함하는 덮개층(400), 그리고 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c)이 위치할 수 있다.A
투과층(430c)은 입사되는 광을 통과시킬 수 있다. 즉, 투과층(430c)은 청색광일 수 있는 제1색광을 투과시킬 수 있다. 투과층(430c)은 제1색광을 투과시키는 폴리머 물질을 포함할 수 있다. 투과층(430c)이 위치하는 영역은 청색을 방출하는 발광 영역에 해당할 수 있고, 투과층(430c)은 별도의 반도체 나노 결정을 포함하지 않고 입사된 제1색광을 그대로 통과시킬 수 있다.The
색변환층(430a, 430b)은 서로 다른 반도체 나노 결정을 포함할 수 있다. 예를 들어, 색변환층(430a)으로 입사되는 제1색광은 색변환층(430b)이 포함하는 반도체 나노 결정에 의해 제2색광으로 변환되어 방출될 수 있다. 색변환층(430b)으로 입사되는 제1색광은 색변환층(430b)이 포함하는 반도체 나노 결정에 의해 제3색광으로 변환되어 방출될 수 있다.The
반도체 나노 결정은 입사되는 제1색광을 제2색광 또는 제3색광으로 변환하는 형광체 및 양자점(quantum dot) 물질 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The semiconductor nanocrystal may include at least one of a phosphor and a quantum dot material that converts incident first color light into second color light or third color light.
양자점의 코어는 II-VI족 화합물, III-V족 화합물, IV-VI족 화합물, IV족 원소, IV족 화합물 및 이들의 조합에서 선택될 수 있다.The core of the quantum dot may be selected from a group II-VI compound, a group III-V compound, a group IV-VI compound, a group IV element, a group IV compound, and combinations thereof.
II-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe, HgZnTe, MgZnSe, MgZnS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. Group II-VI compounds include binary compounds selected from the group consisting of CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS, and mixtures thereof; AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, the group consisting of HZnSe, MgZe, HgS and MgZe, HgS A three-element compound selected from; And HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe, and a mixture thereof.
III-V족 화합물은 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. The group III-V compound is a binary compound selected from the group consisting of GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb, and mixtures thereof; A ternary compound selected from the group consisting of GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP, and mixtures thereof; And GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb, it may be selected from the group consisting of a quaternary compound selected from the group consisting of a mixture thereof.
IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 원소로는 Si, Ge 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 화합물로는 SiC, SiGe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물일 수 있다. Group IV-VI compounds include a binary compound selected from the group consisting of SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe, and mixtures thereof; A three-element compound selected from the group consisting of SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe, and mixtures thereof; And SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe, and may be selected from the group consisting of a quaternary element compound selected from the group consisting of a mixture thereof. The group IV element may be selected from the group consisting of Si, Ge, and mixtures thereof. The group IV compound may be a binary compound selected from the group consisting of SiC, SiGe, and mixtures thereof.
이때, 이원소 화합물, 삼원소 화합물 또는 사원소 화합물은 균일한 농도로 입자 내에 존재하거나, 농도 분포가 부분적으로 다른 상태로 나누어져 동일 입자 내에 존재하는 것일 수 있다. 또한 하나의 양자점이 다른 양자점을 둘러싸는 코어/쉘 구조를 가질 수도 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다.In this case, the two-element compound, the three-element compound, or the quaternary element compound may be present in the particle at a uniform concentration, or may be present in the same particle by partially dividing the concentration distribution into different states. In addition, one quantum dot may have a core/shell structure surrounding another quantum dot. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient that decreases toward the center of the concentration of elements present in the shell.
몇몇 실시예에서, 양자점은 전술한 나노 결정을 포함하는 코어 및 상기 코어를 둘러싸는 쉘을 포함하는 코어-쉘 구조를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘은 상기 코어의 화학적 변성을 방지하여 반도체 특성을 유지하기 위한 보호층 역할 및/또는 양자점에 전기 영동 특성을 부여하기 위한 차징층(charging layer)의 역할을 수행할 수 있다. 상기 쉘은 단층 또는 다중층일 수 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘의 예로는 금속 또는 비금속의 산화물, 반도체 화합물 또는 이들의 조합 등을 들 수 있다.In some embodiments, the quantum dot may have a core-shell structure including a core including the aforementioned nanocrystal and a shell surrounding the core. The shell of the quantum dot may serve as a protective layer for maintaining semiconductor properties by preventing chemical modification of the core and/or a charging layer for imparting electrophoretic properties to the quantum dot. The shell may be a single layer or multiple layers. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient that decreases toward the center of the concentration of elements present in the shell. Examples of the shell of the quantum dot include metal or non-metal oxides, semiconductor compounds, or a combination thereof.
예를 들어, 상기 금속 또는 비금속의 산화물은 SiO2, Al2O3, TiO2, ZnO, MnO, Mn2O3, Mn3O4, CuO, FeO, Fe2O3, Fe3O4, CoO, Co3O4, NiO 등의 이원소 화합물, 또는 MgAl2O4, CoFe2O4, NiFe2O4, CoMn2O4등의 삼원소 화합물을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.For example, the oxide of the metal or non-metal is SiO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , ZnO, MnO, Mn 2 O 3 , Mn 3 O 4 , CuO, FeO, Fe 2 O 3 , Fe 3 O 4 , Two- element compounds such as CoO, Co 3 O 4 , and NiO, or three-element compounds such as MgAl 2 O 4 , CoFe 2 O 4 , NiFe 2 O 4 , and CoMn 2 O 4 , but the present invention is limited thereto. It is not.
또, 상기 반도체 화합물은 CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb등을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.In addition, the semiconductor compounds include CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb, etc. However, the present invention is not limited thereto.
양자점은 약 45nm 이하, 바람직하게는 약 40nm 이하, 더욱 바람직하게는 약 30nm 이하의 발광 파장 스펙트럼의 반치폭(full width of half maximum, FWHM)을 가질 수 있으며, 이 범위에서 색순도나 색재현성을 향상시킬 수 있다. 또한 이러한 양자점을 통해 발광되는 광은 전 방향으로 방출되는바, 광 시야각이 향상될 수 있다.Quantum dots may have a full width of half maximum (FWHM) of the emission wavelength spectrum of about 45 nm or less, preferably about 40 nm or less, more preferably about 30 nm or less, and improve color purity or color reproducibility within this range. I can. In addition, since the light emitted through the quantum dots is emitted in all directions, a wide viewing angle can be improved.
또한, 양자점의 형태는 당 분야에서 일반적으로 사용하는 형태의 것으로 특별히 한정하지 않지만, 보다 구체적으로 구형, 피라미드형, 다중 가지형(multi-arm), 또는 입방체(cubic)의 나노 입자, 나노 튜브, 나노와이어, 나노 섬유, 나노 판상 입자 등의 형태의 것을 사용할 수 있다.In addition, the shape of the quantum dot is a type generally used in the art and is not particularly limited, but more specifically, spherical, pyramidal, multi-arm, or cubic nanoparticles, nanotubes, It can be used in the form of nanowires, nanofibers, and nanoplatelet particles.
양자점은 입자 크기에 따라 방출하는 광의 색상을 조절 할 수 있으며, 이에 따라 양자점은 청색, 적색, 녹색 등 다양한 발광 색상을 가질 수 있다.The quantum dots can control the color of light emitted according to the particle size, and accordingly, the quantum dots can have various emission colors such as blue, red, and green.
복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c) 위에는 절연층(440)이 위치하고 그 위에 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 및 차광 부재(460)가 위치할 수 있다. 일 실시예에 따라 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c)가 생략될 수도 있다. An insulating
컬러 필터(450a)는 제2색광을 나타낼 수 있고, 컬러 필터(450b)는 제3색광을 나타낼 수 있고, 컬러 필터(450c)는 제1색광을 나타낼 수 있다.The
차광 부재(460)는 이웃한 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 사이에 위치할 수 있다.The
복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c) 및 차광 부재(460) 위에는 기판(210)이 위치할 수 있다. 즉, 기판(110)과 기판(210) 사이에 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 복수의 컬러 필터(450a, 450b, 450c)가 위치할 수 있다.A
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 복수의 색변환층(430a, 430b) 및 투과층(430c)을 포함하는 대신 발광층(370)이 양자점을 포함할 수도 있다.According to another embodiment of the present invention, instead of including the plurality of
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements by those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.
110: 기판
111: 금속층
115: 하부 패턴
131: 액티브층
191: 화소 전극
370: 발광층
270: 공통 전극110: substrate
111: metal layer
115: lower pattern
131: active layer
191: pixel electrode
370: light-emitting layer
270: common electrode
Claims (20)
상기 기판 위에 위치하는 금속층,
상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층,
상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층,
상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층,
상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극,
상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하는 표시 장치. Board,
A metal layer positioned on the substrate,
A first conductive layer including a lower pattern positioned on the metal layer,
An active layer on the first conductive layer,
A second conductive layer positioned on the active layer and including a first gate electrode,
A pixel electrode positioned on the second conductive layer,
A display device including a light emitting layer and a common electrode positioned on the pixel electrode.
상기 금속층은 기판 전면과 중첩하는 표시 장치. In claim 1,
The metal layer overlaps the entire surface of the substrate.
상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In paragraph 2,
The metal layer includes an opening overlapping the active layer.
상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함하는 표시 장치. In claim 1,
The display device further includes a third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line.
상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 장치. In claim 4,
The metal layer includes at least one of a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.
상기 금속층은 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층을 포함하고,
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격되는 표시 장치. In clause 5,
The metal layer includes a first voltage metal layer and the second voltage metal layer,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer are spaced apart from each other.
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In paragraph 6,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer include openings overlapping the active layer.
상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고,
상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 그리고 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 장치. In claim 4,
The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line,
The metal layer includes at least one of a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and a third sub metal layer connected to the third data line.
상기 금속층은 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층을 포함하고,
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In clause 8,
The metal layer includes a first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer,
The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer include openings overlapping the active layer.
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격되는 표시 장치. In clause 8,
The first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer are spaced apart from each other.
상기 기판 위에 위치하는 금속층,
상기 금속층 위에 위치하는 하부 패턴을 포함하는 제1 도전층,
상기 제1 도전층 위에 위치하는 액티브층,
상기 액티브층 위에 위치하며 제1 게이트 전극을 포함하는 제2 도전층,
상기 제2 도전층 위에 위치하는 화소 전극,
상기 화소 전극 위에 위치하는 발광층 및 공통 전극을 포함하고,
상기 금속층의 두께는 약 6,000 옹스트롬 내지 약 10,000 옹스트롬인 표시 장치. Board,
A metal layer positioned on the substrate,
A first conductive layer including a lower pattern positioned on the metal layer,
An active layer on the first conductive layer,
A second conductive layer positioned on the active layer and including a first gate electrode,
A pixel electrode positioned on the second conductive layer,
A light emitting layer and a common electrode positioned on the pixel electrode,
The thickness of the metal layer is about 6,000 angstroms to about 10,000 angstroms.
상기 금속층 및 상기 하부 패턴 사이에 위치하는 절연층을 더 포함하고,
상기 금속층은 기판 전면과 중첩하는 표시 장치. In clause 11,
Further comprising an insulating layer positioned between the metal layer and the lower pattern,
The metal layer overlaps the entire surface of the substrate.
상기 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In claim 12,
The metal layer includes an opening overlapping the active layer.
상기 상기 제2 도전층과 상기 화소 전극 사이에 위치하며, 공통 전압선, 구동 전압선 및 데이터선을 포함하는 제3 도전층을 더 포함하는 표시 장치. In clause 11,
The display device further includes a third conductive layer disposed between the second conductive layer and the pixel electrode and including a common voltage line, a driving voltage line, and a data line.
상기 금속층은 상기 구동 전압선과 연결되는 제1 전압 금속층, 그리고 상기 공통 전압선과 연결되는 제2 전압 금속층을 포함하는 표시 장치. In clause 14,
The metal layer includes a first voltage metal layer connected to the driving voltage line and a second voltage metal layer connected to the common voltage line.
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 서로 이격되는 표시 장치. In paragraph 15,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer are spaced apart from each other.
상기 제1 전압 금속층 및 상기 제2 전압 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In paragraph 15,
The first voltage metal layer and the second voltage metal layer include openings overlapping the active layer.
상기 데이터선은 제1 데이터선, 제2 데이터선 및 제3 데이터선을 포함하고,
상기 금속층은 상기 제1 데이터선과 연결되는 제1 서브 금속층, 상기 제2 데이터선과 연결되는 제2 서브 금속층, 상기 제3 데이터선과 연결되는 제3 서브 금속층을 포함하는 표시 장치. In clause 14,
The data line includes a first data line, a second data line, and a third data line,
The metal layer includes a first sub metal layer connected to the first data line, a second sub metal layer connected to the second data line, and a third sub metal layer connected to the third data line.
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 상기 액티브층과 중첩하는 개구부를 포함하는 표시 장치. In paragraph 18,
The first sub-metal layer, the second sub-metal layer, and the third sub-metal layer include openings overlapping the active layer.
상기 제1 서브 금속층, 상기 제2 서브 금속층 및 상기 제3 서브 금속층은 서로 이격되는 표시 장치.
In paragraph 18,
The first sub metal layer, the second sub metal layer, and the third sub metal layer are spaced apart from each other.
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