KR20210001189A - Apparatus of Atomic Layer Deposition - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an atomic layer deposition device. The present invention relates to the atomic layer deposition device for coating a particle surface, which has a simple configuration, is not sensitive to movement of powder, and can perform large processing. The device comprises a reaction chamber and one or more powder holders.

Description

원자층 증착 장치{Apparatus of Atomic Layer Deposition}Atomic layer deposition apparatus {Apparatus of Atomic Layer Deposition}

본 발명은 원자층 증착 장치에 관한 것으로, 특히, 배치(batch) 타입의 원자층 증착장치에 관한 것이며, 예를 들어, 입자 표면 코팅용 원자층 증착장치에 관한 것이고, 기류의 형성에 의해 증착이 이루어지는 다양한 증착 방식, 예를 들어, 화학적 기상 증착, 분자층 증착, 또는 이들의 조합에 의한 증착에도 적용될 수 있다.The present invention relates to an atomic layer deposition apparatus, and in particular, to an atomic layer deposition apparatus of a batch type, for example, to an atomic layer deposition apparatus for coating the surface of particles, and the deposition is performed by the formation of an air stream. It can be applied to various deposition methods made, for example, chemical vapor deposition, molecular layer deposition, or deposition by a combination thereof.

원자층 증착(ALD: Atomic Layer Deposition)은, 통상적으로 기상(gas phase)인 화학물질의 순차적인 공급에 기반하여 기재 상에 막을 형성하는 기술로서, 다양한 분야에 적용되고 있다.Atomic Layer Deposition (ALD) is a technique of forming a film on a substrate based on the sequential supply of chemical substances, which are typically gas phase, and has been applied in various fields.

또한, 원자층 증착법은 높은 단차피복성(Conformality, Step Coverage)과 코팅 두께 제어 특성으로 인해, 입자('분말'이라고도 함) 표면에 대한 코팅 방법으로 유망한 방법이다.In addition, the atomic layer deposition method is a promising method for coating the surface of particles (also referred to as'powder') due to its high conformality (step coverage) and coating thickness control characteristics.

입자 표면에 대한 원자층 증착은 유동층 반응기(Fluidized Bed Reactor, FBR)를 이용하는 방법과, 로터리(Rotary) 반응기를 이용하는 방법으로 구분된다.The atomic layer deposition on the particle surface is divided into a method using a fluidized bed reactor (FBR) and a method using a rotary reactor.

유동층 반응기를 살펴보면, 반응기로 주입되는 가스의 유량 및 압력을 제어하여 입자를 순간적으로 부양시키면서 소스 가스를 주입하여 입자 표면의 코팅이 이루어진다. 그러나 유동층 반응기에서는, 입자의 크기, 표면 상태, 물질의 종류, 반응기 체적 대비 분말 총질량 및 충진률 등에 따라 분말의 유동과 혼합을 제어하기 어려운 문제가 발생된다.Looking at the fluidized bed reactor, the surface of the particles is coated by injecting a source gas while momentarily buoying the particles by controlling the flow rate and pressure of the gas injected into the reactor. However, in the fluidized bed reactor, it is difficult to control the flow and mixing of the powder depending on the size of the particles, the surface condition, the type of the material, the total powder mass and the filling rate relative to the reactor volume.

한편, 로터리 반응기를 살펴보면, 지면에 평행하게 설치된 반응기가 회전하는 동안에, 분말이 반응기 하단에서 상단으로 이동 후, 중력 방향으로 하강하게 함으로써, 입자의 분리가 이루어진다. 그러나 로터리 반응기에서는 코팅 공정성에 대한 분말 충진량, 충진률, 물질의 특성 등에 의한 영향이 클 뿐만 아니라 장치의 구성 및 운용이 복잡한 문제가 발생된다.On the other hand, looking at the rotary reactor, while the reactor installed parallel to the ground rotates, the powder moves from the bottom of the reactor to the top and then descends in the direction of gravity, thereby separating the particles. However, in the rotary reactor, not only the powder filling amount, the filling rate, and the properties of the material have a large influence on the coating processability, but also the configuration and operation of the device are complicated.

따라서 분말의 유동에 민감하기 않으면서 장치의 구성이 간단할 뿐만 아니라 대량 처리가 가능한 입자 표면 코팅용 원자층 증착장치의 개발이 요구된다.Therefore, there is a need to develop an atomic layer deposition apparatus for particle surface coating that is not sensitive to the flow of powder and can be processed in a simple manner as well as mass processing.

본 발명은 입자 표면 코팅용 원자층 증착장치를 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.An object of the present invention is to provide an atomic layer deposition apparatus for particle surface coating.

또한, 본 발명은 분말의 유동에 민감하기 않으면서, 대량 처리가 가능한 입자 표면 코팅용 원자층 증착장치를 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.In addition, it is an object of the present invention to provide an atomic layer deposition apparatus for particle surface coating capable of mass-processing without being sensitive to the flow of powder.

상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 입자 표면을 코팅하기 위한 원자층 증착장치로서, 1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트, 유입 포트와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 펌핑부와 연결되도록 마련된 하나 이상의 배기 포트를 갖는 반응 챔버 및 반응챔버 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간을 갖는 하나 이상의 분말 홀더를 포함하는 원자층 증착장치가 제공된다.In order to solve the above problems, according to an aspect of the present invention, as an atomic layer deposition apparatus for coating a particle surface, at least one provided to be connected to at least one source for supplying at least one source gas and an inert gas, respectively. In the reaction chamber and the reaction chamber having at least one exhaust port provided to be connected to an inlet port, a first receiving space connected to the inlet port, and a pumping unit for exhausting the gas supplied to the first receiving space There is provided an atomic layer deposition apparatus including one or more powder holders disposed, one surface is open, and having a second accommodation space for receiving particles.

또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원, 상기 공급원과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트, 유입 포트와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 하나 이상의 배기 포트를 갖는 반응 챔버, 배기 포트와 연결되는 펌핑부, 반응챔버 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간을 갖는 하나 이상의 분말 홀더, 및 공급원과 펌핑부를 제어하기 위한 제어부를 포함할 수 있다.In addition, according to another aspect of the present invention, at least one supply source for supplying at least one source gas and an inert gas, respectively, at least one inlet port provided to be connected to the supply source, a first accommodation space connected to the inlet port, and a first A reaction chamber connected to the receiving space and having one or more exhaust ports for exhausting the gas supplied to the first receiving space, a pumping unit connected to the exhaust port, disposed in the reaction chamber, one side open, and receiving particles It may include at least one powder holder having a second accommodation space for, and a control unit for controlling the supply source and the pumping unit.

또한, 제어부는, 분말 홀더가 반응 챔버 내에 배치되면, 소스 가스 및 불활성 가스를 제1 수용공간으로 교차 주입시키도록 마련된다.In addition, when the powder holder is disposed in the reaction chamber, the control unit is provided to cross-inject the source gas and the inert gas into the first accommodation space.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 적어도 일 실시예와 관련된 원자층 증착 장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.As described above, the atomic layer deposition apparatus related to at least one embodiment of the present invention has the following effects.

입자 표면 코팅용 원자층 증착장치로서, 분말의 유동에 민감하기 않으면서, 대량 처리가 가능하다.As an atomic layer deposition apparatus for particle surface coating, mass processing is possible without being sensitive to the flow of powder.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 원자층 증착장치를 나타내는 개략도이다.
도 2는 분말 홀더의 일 실시예를 나타내는 개략도이다.
도 3 및 4는 분말 홀더의 또 다른 실시예를 나타내는 개략도이다.
1 is a schematic diagram showing an atomic layer deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram showing an embodiment of a powder holder.
3 and 4 are schematic diagrams showing still another embodiment of a powder holder.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 원자층 증착 장치를 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an atomic layer deposition apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.In addition, regardless of the reference numerals, the same or corresponding components are given the same or similar reference numbers, and duplicate descriptions thereof will be omitted, and the size and shape of each component member shown for convenience of explanation are exaggerated or reduced. Can be.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 원자층 증착장치(10)를 나타내는 개략도이고, 도 2는 분말 홀더(100)의 일 실시예를 나타내는 개략도이며, 도 3 및 4는 분말 홀더(110)의 또 다른 실시예를 나타내는 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an atomic layer deposition apparatus 10 related to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing an embodiment of a powder holder 100, and FIGS. 3 and 4 are a powder holder 110 It is a schematic diagram showing another embodiment of.

원자층 증착장치(10)는 분말(또는 '입자'라고도 함)의 표면 코팅을 위해 사용될 수 있다. The atomic layer deposition apparatus 10 may be used for surface coating of powders (or'particles').

상기 원자층 증착장치(10)는 반응챔버(40)를 포함한다. 또한, 상기 반응챔버(40)는 유입포트, 제1 수용공간 및 배기포트를 포함한다.The atomic layer deposition apparatus 10 includes a reaction chamber 40. In addition, the reaction chamber 40 includes an inlet port, a first accommodation space, and an exhaust port.

본 발명의 일 실시예와 관련된, 원자층 증착장치(10)는 1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원(20)과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트(41), 유입 포트(41)와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 펌핑부(30)와 연결되도록 마련된 하나 이상의 배기 포트(42)를 갖는 반응 챔버(40)를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, the atomic layer deposition apparatus 10 includes at least one inlet port 41 and an inlet port provided to be connected with at least one supply source 20 for supplying at least one source gas and an inert gas, respectively. A reaction chamber having a first accommodation space connected to 41 and one or more exhaust ports 42 connected to the first accommodation space and connected to a pumping unit 30 for exhausting gas supplied to the first accommodation space It includes (40).

또한, 원자층 증착장치(10)는 반응챔버(40) 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간(S)을 갖는 하나 이상의 분말 홀더(100, 110)를 포함한다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 includes one or more powder holders 100 and 110 disposed in the reaction chamber 40, open on one side, and having a second receiving space S for receiving particles. .

도 2를 참조하면, 분말 홀더(100)는 제2 수용공간을 형성하는 일면 이상이 다공성 메쉬(mesh)로 형성될 수 있다. 상기 다공성 메쉬는 가스의 유출입이 가능한 크기의 메쉬를 가질 수 있고, 특히, 수용된 분말이 이탈되는 것을 방지할 수 있는 크기의 메쉬를 가질 수 있다. 또한, 메쉬의 크기 및 형상은 수용되는 입자, 요구되는 가스 유동 등에 기반하여 적절하게 결정될 수 있다.Referring to FIG. 2, the powder holder 100 may be formed of a porous mesh on at least one surface forming the second accommodation space. The porous mesh may have a mesh having a size capable of flowing out of the gas, and in particular, may have a mesh having a size capable of preventing the contained powder from being separated. In addition, the size and shape of the mesh may be appropriately determined based on the particles to be accommodated, required gas flow, and the like.

도 2를 참조하면, 분말 홀더(100)는 제2 수용공간(S)의 상부면이 개방될 수 있다. 이러한 구조에서, 예를 들어, 상기 분말 홀더(100)는 제2 수용공간(S)을 형성하는 바닥면(101), 및 4개의 측면(102, 103, 104, 105)를 포함할 수 있다. 이때, 제2 수용공간(S)의 상부면의 반대방향의 하부면(101)이 다공성 메쉬로 형성될 수 있다.Referring to FIG. 2, the powder holder 100 may have an upper surface of the second accommodation space S open. In this structure, for example, the powder holder 100 may include a bottom surface 101 forming a second accommodation space S, and four side surfaces 102, 103, 104, and 105. In this case, the lower surface 101 in the opposite direction to the upper surface of the second accommodation space S may be formed of a porous mesh.

예를 들어, 제2 수용공간(S)의 깊이(h)는 5mm 이하일 수 있고, 제2 수용공간의 깊이는 3mm 이하일 수 있으며, 제2 수용공간의 깊이는 1mm 이하일 수 있다. For example, the depth h of the second accommodation space S may be 5 mm or less, the depth of the second accommodation space may be 3 mm or less, and the depth of the second accommodation space may be 1 mm or less.

전술한 바와 같이, 분말 홀더(100)는 제2 수용공간(S)의 상부면이 개방될 수 있다. 다만, 원자층 증착 공정 중, 소실이 발생할 수 있는 분말의 경우, 분말 홀더(1000)의 제2 수용공간(S)에 분말을 충진한 후, 상부면에 뚜껑을 장착할 수 있다. 이때, 뚜껑은 다공성 메쉬로 이루어지는 것이 바람직하다.As described above, the powder holder 100 may have an upper surface of the second accommodation space S open. However, in the case of powder that may be lost during the atomic layer deposition process, the powder may be filled in the second accommodation space S of the powder holder 1000 and then a lid may be mounted on the upper surface. At this time, the lid is preferably made of a porous mesh.

도 3 및 도 4를 참조하면, 분말 홀더(110)는 제2 수용공간의 상부면이 개방될 수 있고, 예를 들어, 상기 분말 홀더(100)는 제2 수용공간(S)을 형성하는 바닥면(111), 및 4개의 측면(112, 113, 114, 115)를 포함할 수 있다. 이때, 제2 수용공간(S)을 형성하는 나머지 면(111, 112, 113, 114, 115)이 모두 다공성 메쉬로 형성될 수 있다. 3 and 4, the powder holder 110 may have an upper surface of the second accommodation space open, for example, the powder holder 100 is a bottom forming the second accommodation space (S) It may include a face 111, and four side surfaces 112, 113, 114, 115. In this case, all of the remaining surfaces 111, 112, 113, 114, and 115 forming the second accommodation space S may be formed of a porous mesh.

또한, 원자층 증착장치(10)에서, 유입포트(41) 및 배기포트(42)는 가스 주입 및 펌핑이 분말 홀더(100)의 상부면 또는 하부면과 평행하게 이루어지도록 각각 배치될 수 있다. In addition, in the atomic layer deposition apparatus 10, the inlet port 41 and the exhaust port 42 may be disposed so that gas injection and pumping are performed in parallel with the upper or lower surface of the powder holder 100, respectively.

일 실시태양으로, 반응챔버(110) 내에서 높이방향(y축 방향)을 따라 복수 개의 분말 홀더가 소정 간격으로 떨어져 배열될 수 있다. 도 1에서, x축 방향은 가스가 반응챔버(40)를 통과하는 방향을 나타내고, y축 방향은 반응챔버(40)의 높이 방향을 나타낸다. 이때, 복수 개의 유입포트 및 복수 개의 배기포트는 각각 반응챔버(40)의 높이방향을 따라 소정 간격 떨어져 배치될 수 있다. 또한, 한 쌍의 유입포트 및 배기포트는 반응챔버의 높이방향을 따라 동일한 높이에 쌍을 이루어 위치할 수 있다.In one embodiment, in the reaction chamber 110, a plurality of powder holders may be arranged apart at predetermined intervals along the height direction (y-axis direction). In FIG. 1, the x-axis direction represents the direction in which gas passes through the reaction chamber 40, and the y-axis direction represents the height direction of the reaction chamber 40. In this case, the plurality of inlet ports and the plurality of exhaust ports may be disposed at predetermined intervals along the height direction of the reaction chamber 40, respectively. In addition, a pair of inlet ports and exhaust ports may be positioned in pairs at the same height along the height direction of the reaction chamber.

각각의 한 쌍의 유입포트 및 배기포트는, 가스 주입 및 펌핑이 분말 홀더(100)의 상부면 또는 하부면과 평행하게 이루어지도록 각각 배치될 수 있다. Each of the pair of inlet ports and exhaust ports may be disposed so that gas injection and pumping are performed in parallel with the upper surface or the lower surface of the powder holder 100.

또한, 원자층 증착장치(10)는 복수 개의 분말 홀더(100)를 동시에 지지하기 위한 하나 이상의 카세트(도시되지 않음)를 포함할 수 있다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 may include one or more cassettes (not shown) for simultaneously supporting a plurality of powder holders 100.

또한, 카세트는, 지지된 복수 개의 분말 홀더(100)를 반응챔버(40) 내에서 동일한 높이에 위치시키도록 마련될 수 있다. 또한, 카세트는 1개 내지 100개의 분말 홀더(100)를 지지하도록 마련될 수 있다. 또한, 카세트는 반응챔버(40) 내로 분말 홀더(100)의 상부면 및 하부면을 노출시킨 상태에서 분말 홀더(100)를 지지할 수 있다. Further, the cassette may be provided to position the supported plurality of powder holders 100 at the same height within the reaction chamber 40. In addition, the cassette may be provided to support 1 to 100 powder holders 100. In addition, the cassette may support the powder holder 100 in a state in which the upper and lower surfaces of the powder holder 100 are exposed into the reaction chamber 40.

또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원자층 증착장치(10)는 1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원(20)을 포함한다.Further, according to another aspect of the present invention, the atomic layer deposition apparatus 10 includes one or more supply sources 20 for supplying one or more source gases and inert gases, respectively.

또한, 원자층 증착장치(10)는 상기 공급원(20)과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트(41), 유입 포트와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 하나 이상의 배기 포트(42)를 갖는 반응 챔버(40)를 포함한다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 is connected to at least one inlet port 41 provided to be connected to the supply source 20, a first receiving space connected to the inlet port, and a first receiving space, and supplied to the first receiving space. And a reaction chamber 40 having one or more exhaust ports 42 for evacuating the resulting gas.

또한, 공급원(20)과 유입포트(41) 사이에는 하나 이상의 밸브가 마련될 수 있다.In addition, one or more valves may be provided between the supply source 20 and the inlet port 41.

또한, 원자층 증착장치(10)는 배기 포트(42)와 연결되는 펌핑부(30)를 포함한다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 includes a pumping unit 30 connected to the exhaust port 42.

또한, 펌핑부(30)과 배기포트(42) 사이에는 하나 이상의 밸브가 마련될 수 있다.In addition, one or more valves may be provided between the pumping unit 30 and the exhaust port 42.

또한, 원자층 증착장치(10)는 반응챔버(40) 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간을 갖는 하나 이상의 분말 홀더(100)를 포함한다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 includes one or more powder holders 100 disposed in the reaction chamber 40, open on one side, and having a second accommodation space for receiving particles.

또한, 원자층 증착장치(10)는 공급원(20)과 펌핑부(30)를 제어하기 위한 제어부를 포함할 수 있다.In addition, the atomic layer deposition apparatus 10 may include a control unit for controlling the supply source 20 and the pumping unit 30.

또한, 제어부는, 분말 홀더가 반응 챔버 내에 배치되면, 소스 가스 및 불활성 가스를 제1 수용공간으로 교차 주입시키도록 마련된다.In addition, when the powder holder is disposed in the reaction chamber, the control unit is provided to cross-inject the source gas and the inert gas into the first accommodation space.

상기 공급원(20)은 입자의 표면처리 공정 수행을 위한, 1종 이상의 소스 가스를 공급하기 위한 소스가스 공급원, 퍼지 공정 수행을 위한 불활성가스 공급원을 포함할 수 있다. The supply source 20 may include a source gas supply source for supplying one or more source gases for performing a surface treatment process of particles, and an inert gas supply source for performing a purge process.

또한, 각각의 공급원으로 복수 개로 구비될 수 있고, 예를 들어, 소스가스 공급원이 복수 개로 마련되는 경우, 서로 다른 증착물질이 입자 측으로 공급되도록 마련될 수 있다. 즉, 서로 다른 소스가스를 공급하도록 마련된 복수 개의 소스가스 공급원을 통해 입자 표면에 이종 소재의 제1 및 제2 증착층이 각각 증착될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 소스가스 공급원에서, TMA 및 H2O의 소스 가스가 사용될 수 있고, 제3 및 제4 소스가스 공급원에서, TiCl4와 H2O의 소스 가스가 사용될 수 있다. 이 밖에, 소스 가스로는, 산화물, 질화물, 황화물, 단일 원소 등의 다양한 조합이 가능하다.In addition, a plurality of sources may be provided for each supply source. For example, when a plurality of source gas supply sources are provided, different deposition materials may be provided to be supplied to the particles. That is, first and second deposition layers of different materials may be respectively deposited on the particle surface through a plurality of source gas supply sources provided to supply different source gases. For example, in the first and second source gas sources, a source gas of TMA and H 2 O may be used, and in the third and fourth source gas sources, a source gas of TiCl 4 and H 2 O may be used. . In addition, as the source gas, various combinations of oxides, nitrides, sulfides, and single elements can be used.

위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art who have ordinary knowledge of the present invention will be able to make various modifications, changes and additions within the spirit and scope of the present invention, And additions should be seen as falling within the scope of the following claims.

10: 원자층 증착장치
20: 공급원
30: 펌핑부
40: 반응 챔버
10: atomic layer deposition apparatus
20: source
30: pumping part
40: reaction chamber

Claims (10)

입자 표면을 코팅하기 위한 원자층 증착장치로서,
1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트, 유입 포트와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 펌핑부와 연결되도록 마련된 하나 이상의 배기 포트를 갖는 반응 챔버; 및
반응챔버 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간을 갖는 하나 이상의 분말 홀더를 포함하는 원자층 증착장치.
As an atomic layer deposition apparatus for coating the surface of particles,
At least one inlet port provided to be connected to at least one supply source for supplying at least one source gas and an inert gas, respectively, a first receiving space connected to the inlet port, and a gas connected to the first receiving space, and supplied to the first receiving space A reaction chamber having at least one exhaust port provided to be connected to a pumping unit for exhausting the gas; And
An atomic layer deposition apparatus comprising at least one powder holder disposed in a reaction chamber, one surface open, and having a second accommodation space for receiving particles.
제 1 항에 있어서,
분말 홀더는 제2 수용공간을 형성하는 일면 이상이 다공성 메쉬로 형성된, 원자층 증착장치.
The method of claim 1,
The powder holder is formed of a porous mesh at least one surface forming the second accommodation space, atomic layer deposition apparatus.
제 2 항에 있어서,
분말 홀더는 제2 수용공간의 상부면이 개방되고, 상부면의 반대방향의 하부면이 다공성 메쉬로 형성된, 원자층 증착장치.
The method of claim 2,
The powder holder has an upper surface of the second accommodation space open, and a lower surface opposite to the upper surface is formed of a porous mesh.
제 2 항에 있어서,
분말 홀더는 제2 수용공간의 상부면이 개방되고, 제2 수용공간을 형성하는 나머지 면이 모두 다공성 메쉬로 형성된, 원자층 증착장치.
The method of claim 2,
In the powder holder, an upper surface of the second accommodation space is opened, and all other surfaces forming the second accommodation space are formed of a porous mesh.
제 3 항 또는 제 4 항에 있어서
유입포트 및 배기포트는 가스 주입 및 펌핑이 분말 홀더의 상부면 또는 하부면과 평행하게 이루어지도록 각각 배치된 원자층 증착장치.
The method according to claim 3 or 4
The inlet port and the exhaust port are respectively arranged so that gas injection and pumping are performed in parallel with the upper or lower surface of the powder holder.
제 1 항에 있어서,
반응챔버 내에서 높이방향을 따라 복수 개의 분말 홀더가 소정 간격으로 떨어져 배열되며,
복수 개의 유입포트 및 복수 개의 배기포트는 각각 반응챔버의 높이방향을 따라 소정 간격 떨어져 배치되고,
한 쌍의 유입포트 및 배기포트는 반응챔버의 높이방향을 따라 동일한 높이에 쌍을 이루어 위치하는, 원자층 증착 장치.
The method of claim 1,
A plurality of powder holders are arranged apart at predetermined intervals along the height direction in the reaction chamber,
The plurality of inlet ports and the plurality of exhaust ports are each disposed at a predetermined distance along the height direction of the reaction chamber,
A pair of inlet ports and exhaust ports are positioned in pairs at the same height along the height direction of the reaction chamber.
제 6 항에 있어서,
복수 개의 분말 홀더를 동시에 지지하기 위한 하나 이상의 카세트를 포함하는, 원자층 증착 장치.
The method of claim 6,
An atomic layer deposition apparatus comprising one or more cassettes for simultaneously supporting a plurality of powder holders.
제 7 항에 있어서,
카세트는, 지지된 복수 개의 분말 홀더를 반응챔버 내에서 동일한 높이에 위치시키도록 마련된, 원자층 증착장치.
The method of claim 7,
The cassette is provided to position a plurality of supported powder holders at the same height in the reaction chamber, atomic layer deposition apparatus.
제 8 항에 있어서,
카세트는 1개 내지 100개의 분말 홀더를 지지하도록 마련된, 원자층 증착장치.
The method of claim 8,
The cassette is provided to support 1 to 100 powder holders, atomic layer deposition apparatus.
1종 이상의 소스 가스 및 불활성 가스를 각각 공급하기 위한 하나 이상의 공급원;
상기 공급원과 연결되도록 마련된 하나 이상의 유입 포트, 유입 포트와 연결된 제1 수용공간 및 제1 수용공간과 연결되고, 제1 수용공간으로 공급된 가스를 배기시키기 위한 하나 이상의 배기 포트를 갖는 반응 챔버;
배기 포트와 연결되는 펌핑부;
반응챔버 내에 배치되고, 일면이 개방되며, 입자를 수용하기 위한 제2 수용공간을 갖는 하나 이상의 분말 홀더; 및
공급원과 펌핑부를 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
제어부는, 분말 홀더가 반응 챔버 내에 배치되면, 소스 가스 및 불활성 가스를 제1 수용공간으로 교차 주입시키는 원자층 증착장치.
At least one source for supplying at least one source gas and an inert gas, respectively;
A reaction chamber having at least one inlet port provided to be connected to the supply source, a first receiving space connected to the inlet port, and one or more exhaust ports connected to the first receiving space and for exhausting gas supplied to the first receiving space;
A pumping unit connected to the exhaust port;
One or more powder holders disposed in the reaction chamber, open on one side, and having a second receiving space for receiving particles; And
It includes a control unit for controlling the supply source and the pumping unit,
The control unit is an atomic layer deposition apparatus for cross-injecting a source gas and an inert gas into the first accommodation space when the powder holder is disposed in the reaction chamber.
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