KR20200101265A

KR20200101265A - 터치와 연관된 데이터를 처리하는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법

Info

Publication number: KR20200101265A
Application number: KR1020190175776A
Authority: KR
Inventors: 곽상헌; 유대현; 고봉준; 김만성; 이재호; 최정훈; 김창진; 박상헌; 박종대
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2019-02-19
Filing date: 2019-12-26
Publication date: 2020-08-27
Also published as: KR20200101254A

Abstract

다양한 실시예에 전자 장치에 있어서, 프로세서 및 상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 상기 터치 회로의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고, 상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하도록 설정될 수 있다.

Description

터치와 연관된 데이터를 처리하는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법{TOUCH CIRCUIT FOR PROCESSING DATA RELATED TO TOUCH, ELECTRONIC DEVICE COMPRISING TOUCH CIRCUIT AND METHOD FOR OPERATING THEREOF}

본 문서는, 터치와 연관된 데이터를 처리하는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법에 관한 것이다.

터치 스크린을 포함하는 전자 장치는, 터치 스크린에 입력되는 터치의 위치(좌표)를 확인할 수 있다. 터치 스크린에 포함된 터치 센서 IC(integrated circuit)는, 터치 센서로부터 획득된 로우 데이터(raw data) 및 레퍼런스(reference)로 이용되는 베이스라인(baseline) 사이의 차이에 기반하여 터치 위치를 확인할 수 있다. 베이스라인은 채널별(또는, 노드별) 값을 가질 수 있다. 터치 센서 IC는, 복수 개의 채널별(또는, 노드별) 로우 데이터 및 베이스라인 사이의 차이를 확인할 수 있다. 베이스라인은 전자 장치의 상태, 특히, 디스플레이의 상태에 따라 상이하게 설정될 수 있다.

이에 따라, 전자 장치는, 디스플레이의 상태가 전환되는 경우 베이스라인을 설정(또는, 변경)할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 디스플레이가 온 상태에서 오프 상태로 전환되는 경우에 베이스라인을 설정(또는, 변경)할 수 있다. 또는, 전자 장치는 디스플레이가 오프 상태에서 온 상태로 전환되는 경우에 베이스라인을 설정(또는, 변경)할 수도 있다.

전자 장치는 디스플레이의 상태가 전환되면 베이스라인을 새로 설정하므로, 디스플레이의 상태가 전환될 때 노이즈가 존재하면, 노이즈가 포함된 베이스라인을 설정할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이가 온 상태에서부터 터치가 유지되는 동안 디스플레이가 오프 상태로 전환되는 경우, 전자 장치는 터치에 의한 노이즈를 포함하는 베이스라인을 설정할 수 있는 문제점이 발생할 수 있다.

본 문서는 상술한 문제점 또는 다른 문제점을 해결하기 위한 것으로, 베이스라인이 노이즈가 있는 상태에서 생성되었는지 여부를 확인할 수 있는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법을 제공할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 터치 회로 및 프로세서를 포함하는 전자 장치의 동작 방법에 있어서, 상기 터치 회로에 의하여, 상기 터치 회로의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하는 동작, 상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하는 동작, 상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 동작 및 상기 터치 회로에 의하여, 상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치에 있어서, 프로세서 및 상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 제 1 시점에서, 상기 터치 회로의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 생성하고, 제 2 시점에서, 상기 터치 회로의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치 이하인 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 1 방식으로 처리하고, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치를 초과하는 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 2 방식으로 처리하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치는, 프로세서 및 상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 전극들에 대응하는 복수의 전송 채널들과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 전극들에 대응하는 복수의 수신 채널들을 포함하고, 상기 복수의 전송 전극들과 상기 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터(signal data)를 생성하고-상기 신호 데이터는, 상기 노드 각각에 대응하는 데이터를 포함함-, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족함에 반응하여, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하지 않음에 반응하여, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서에게 출력하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치는, 프로세서 및 상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 획득하고,

상기 제 1 로우 데이터 및 현재의 제 1 베이스라인(baseline)에 기반하여 신호 데이터를 획득하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제1 베이스라인의 리셋 여부를 확인하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 베이스라인이 노이즈가 있는 상태에서 생성되었는지 여부를 확인할 수 있는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법이 제공될 수 있다. 베이스라인이 노이즈가 있는 상태에서 생성된 경우, 베이스라인을 재설정하는 것이 가능하며, 이에 따라, 터치 입력에 관한 정확도를 높일 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 신호 데이터가 사용자가 의도하지 않은 터치를 확인할 수 있는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법이 제공될 수 있다. 사용자가 의도하지 않은 터치가 발생한 경우, 터치에 의한 동작을 수행하지 않는 것이 가능하며, 이에 따라, 오터치를 방지할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 터치의 다양한 특성 데이터를 이용하여 베이스라인 리셋 시점을 변경하거나, 베이스라인을 변경할 수 있는 터치 회로, 터치 회로를 포함하는 전자 장치, 및 그 동작 방법이 제공될 수 있다. 터치의 다양한 특성 데이터를 분석하여 베이스라인 리셋하지 않거나, 리셋 후 기저장된 베이스라인으로 변경하여 터치에 의한 오동작을 방지할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 터치 센싱을 위한 파라미터를 조정 및 타 센서에서 획득된 센싱 정보를 이용하여 오터치 여부를 판단하는 전자 장치, 및 그 동작 방법이 제공될 수 있다. 온도 변화에 따라 변경된 감도를 기반으로 파라미터를 조정하고, 터치 회로에서 획득된 데이터와 타 센서에서 획득된 센싱 정보를 함꼐 고려함으로써 보다 정확한 터치 인식이 가능하게 된다.

도 1은 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경 내의 전자 장치(101)의 블럭도이다.
도 2는 다양한 실시예들에 따른, 표시 장치의 블록도이다.
도 3은 다양한 실시예들에 따른, 디스플레이의 구조를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 5a는 다양한 실시예에 따른, 로우 데이터를 나타내는 도면이다.
도 5b는 다양한 실시예에 따른, 로우 데이터를 나타내는 도면이다.
도 6은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 7a는 다양한 실시예들에 따른, 로우 데이터를 나타내는 도면이다.
도 7b는 다양한 실시예들에 따른, 로우 데이터를 나타내는 도면이다.
도 8은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9a은 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.
도 9b는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.
도 10a은 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.
도 10b는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 12는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 13a는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 13b는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 13c는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 13d는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 14는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 15a는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 15b는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 16a는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 16b는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 17은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 18은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 19는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 20a은 다양한 실시예들에 따른, 베이스라인을 나타내는 도면이다.
도 20b는 다양한 실시예들에 따른, 베이스라인을 나타내는 도면이다.
도 21은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 22a는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 22b는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.
도 23은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.

도 1은, 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경(100) 내의 전자 장치(101)의 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 네트워크 환경(100)에서 전자 장치(101)는 제 1 네트워크(198)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(102)와 통신하거나, 또는 제 2 네트워크(199)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(104) 또는 서버(108)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 서버(108)를 통하여 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(120), 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 또는 안테나 모듈(197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(101)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 표시 장치(160) 또는 카메라 모듈(180))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성 요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들은 하나의 통합된 회로로 구현될 수 있다. 예를 들면, 센서 모듈(176)(예: 지문 센서, 홍채 센서, 또는 조도 센서)은 표시 장치(160)(예: 디스플레이)에 임베디드된 채 구현될 수 있다

프로세서(120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(140))를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)을 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(176) 또는 통신 모듈(190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(132)에 로드하고, 휘발성 메모리(132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(134)에 저장할 수 있다. 일실시예에 따르면, 프로세서(120)는 메인 프로세서(121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서), 및 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치, 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 보조 프로세서(123)은 메인 프로세서(121)보다 저전력을 사용하거나, 또는 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

보조 프로세서(123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)와 함께, 전자 장치(101)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 표시 장치(160), 센서 모듈(176), 또는 통신 모듈(190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성 요소(예: 카메라 모듈(180) 또는 통신 모듈(190))의 일부로서 구현될 수 있다.

메모리(130)는, 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(120) 또는 센서모듈(176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(130)는, 휘발성 메모리(132) 또는 비휘발성 메모리(134)를 포함할 수 있다.

프로그램(140)은 메모리(130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(142), 미들 웨어(144) 또는 어플리케이션(146)을 포함할 수 있다.

입력 장치(150)는, 전자 장치(101)의 구성요소(예: 프로세서(120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 장치(150)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 또는 디지털 펜(예:스타일러스 펜)을 포함할 수 있다.

음향 출력 장치(155)는 음향 신호를 전자 장치(101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 장치(155)는, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있고, 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

표시 장치(160)는 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 표시 장치(160)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 표시 장치(160)는 터치를 감지하도록 설정된 터치 회로(touch circuitry), 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 센서 회로(예: 압력 센서)를 포함할 수 있다.

오디오 모듈(170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일실시예에 따르면, 오디오 모듈(170)은, 입력 장치(150)를 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 장치(155), 또는 전자 장치(101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102)) (예: 스피커 또는 헤드폰))를 통해 소리를 출력할 수 있다.

센서 모듈(176)은 전자 장치(101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 센서 모듈(176)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.

인터페이스(177)는 전자 장치(101)이 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일실시예에 따르면, 인터페이스(177)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.

연결 단자(178)는, 그를 통해서 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 연결 단자(178)은, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.

햅틱 모듈(179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일실시예에 따르면, 햅틱 모듈(179)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.

카메라 모듈(180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일실시예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.

전력 관리 모듈(188)은 전자 장치(101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(388)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.

배터리(189)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성 요소에 전력을 공급할 수 있다. 일실시예에 따르면, 배터리(189)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.

통신 모듈(190)은 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102), 전자 장치(104), 또는 서버(108))간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(190)은 프로세서(120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 통신 모듈(190)은 무선 통신 모듈(192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(198)(예: 블루투스, WiFi direct 또는 IrDA(infrared data association) 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(199)(예: 셀룰러 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성 요소(예: 단일 칩)으로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성 요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 가입자 식별 모듈(196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(101)를 확인 및 인증할 수 있다.

안테나 모듈(197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 하나의 안테나를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 복수의 안테나들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(190)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(190)과 외부 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC)이 추가로 안테나 모듈(197)의 일부로 형성될 수 있다.

상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))를 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.

일실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(199)에 연결된 서버(108)를 통해서 전자 장치(101)와 외부의 전자 장치(104)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 전자 장치(102, 104) 각각은 전자 장치(101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부 전자 장치들(102, 104, or 108) 중 하나 이상의 외부 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(101)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다.

도 2는 다양한 실시예들에 따른, 표시 장치(160)의 블록도(200)이다. 도 2를 참조하면, 표시 장치(160)는 디스플레이(210), 및 이를 제어하기 위한 디스플레이 드라이버 IC(DDI)(230)를 포함할 수 있다. DDI(230)는 인터페이스 모듈(231), 메모리(233)(예: 버퍼 메모리), 이미지 처리 모듈(235), 또는 맵핑 모듈(237)을 포함할 수 있다. DDI(230)은, 예를 들면, 영상 데이터, 또는 상기 영상 데이터를 제어하기 위한 명령에 대응하는 영상 제어 신호를 포함하는 영상 정보를 인터페이스 모듈(231)을 통해 전자 장치 101의 다른 구성요소로부터 수신할 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 영상 정보는 프로세서(120)(예: 메인 프로세서(121)(예: 어플리케이션 프로세서) 또는 메인 프로세서(121)의 기능과 독립적으로 운영되는 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치)로부터 수신될 수 있다. DDI(230)는 터치 회로(250) 또는 센서 모듈(176) 등과 상기 인터페이스 모듈(231)을 통하여 커뮤니케이션할 수 있다. 또한, DDI(230)는 상기 수신된 영상 정보 중 적어도 일부를 메모리(233)에, 예를 들면, 프레임 단위로 저장할 수 있다. 이미지 처리 모듈(235)은, 예를 들면, 상기 영상 데이터의 적어도 일부를 상기 영상 데이터의 특성 또는 디스플레이(210)의 특성에 적어도 기반하여 전처리 또는 후처리(예: 해상도, 밝기, 또는 크기 조정)를 수행할 수 있다. 맵핑 모듈(237)은 이미지 처리 모듈(135)를 통해 전처리 또는 후처리된 상기 영상 데이터에 대응하는 전압 값 또는 전류 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전압 값 또는 전류 값의 생성은 예를 들면, 디스플레이(210)의 픽셀들의 속성(예: 픽셀들의 배열(RGB stripe 또는 pentile 구조), 또는 서브 픽셀들 각각의 크기)에 적어도 일부 기반하여 수행될 수 있다. 디스플레이(210)의 적어도 일부 픽셀들은, 예를 들면, 상기 전압 값 또는 전류 값에 적어도 일부 기반하여 구동됨으로써 상기 영상 데이터에 대응하는 시각적 정보(예: 텍스트, 이미지, 또는 아이콘)가 디스플레이(210)를 통해 표시될 수 있다.

일실시예에 따르면, 표시 장치(160)는 터치 회로(250)를 더 포함할 수 있다. 터치 회로(250)는 터치 센서(251) 및 이를 제어하기 위한 터치 센서 IC(253)를 포함할 수 있다. 터치 센서 IC(253)는, 예를 들면, 디스플레이(210)의 특정 위치에 대한 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지하기 위해 터치 센서(251)를 제어할 수 있다. 예를 들면, 터치 센서 IC(253)는 디스플레이(210)의 특정 위치에 대한 신호(예: 전압, 광량, 저항, 또는 전하량)의 변화를 측정함으로써 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지할 수 있다. 터치 센서 IC(253)는 감지된 터치 입력 또는 호버링 입력에 관한 정보(예: 위치, 면적, 압력, 또는 시간)를 프로세서(120) 에 제공할 수 있다. 일실시예에 따르면, 터치 회로(250)의 적어도 일부(예: 터치 센서 IC(253))는 디스플레이 드라이버 IC(230), 또는 디스플레이(210)의 일부로, 또는 표시 장치(160)의 외부에 배치된 다른 구성요소(예: 보조 프로세서(123))의 일부로 포함될 수 있다.

일실시예에 따르면, 표시 장치(160)는 센서 모듈(176)의 적어도 하나의 센서(예: 지문 센서, 홍채 센서, 압력 센서 또는 조도 센서), 또는 이에 대한 제어 회로를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 적어도 하나의 센서 또는 이에 대한 제어 회로는 표시 장치(160)의 일부(예: 디스플레이(210) 또는 DDI(230)) 또는 터치 회로(250)의 일부에 임베디드될 수 있다. 예를 들면, 표시 장치(160)에 임베디드된 센서 모듈(176)이 생체 센서(예: 지문 센서)를 포함할 경우, 상기 생체 센서는 디스플레이(210)의 일부 영역을 통해 터치 입력과 연관된 생체 정보(예: 지문 이미지)를 획득할 수 있다. 다른 예를 들면, 표시 장치(160)에 임베디드된 센서 모듈(176)이 압력 센서를 포함할 경우, 상기 압력 센서는 디스플레이(210)의 일부 또는 전체 영역을 통해 터치 입력과 연관된 압력 정보를 획득할 수 있다. 일실시예에 따르면, 터치 센서(251) 또는 센서 모듈(176)은 디스플레이(210)의 픽셀 레이어의 픽셀들 사이에, 또는 상기 픽셀 레이어의 위에 또는 아래에 배치될 수 있다.

도 3은 다양한 실시예에 따른 디스플레이의 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 3에서와 같이, 디스플레이(예: 디스플레이(210))는, 패널(panel)(301) 상에 박막봉지(TFE, thin film encapsulation)(303) 및 터치 전극층(TSP pattern)(305)을 증착하고, 편광판(POL, polarizer)(307) 및 윈도우(window)(309)를 증착한 구조일 수 있다. 이 경우, 패널(301)과 터치 전극층(TSP pattern)(305) 사이의 간격은 6 um 이상에서 10um 이하일 수 있다. 디스플레이는, 박막봉지(TFE)(303)와 편광판(POL)(307) 사이의 터치 전극층(TSP pattern)(305)에서 센서를 패터닝하여 터치스크린을 구현할 수 있다.

도 4는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 4의 실시예는 도 5를 참조하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다. 도 5는 다양한 실시예에 따른 로우 데이터를 나타내는 도면이다. 도 4의 다양한 동작들은 선후 관계가 제한되지 않으며, 도 4의 흐름도에서 후행하는 것과 같이 도시된 동작이 선행하는 것과 같이 도시된 동작보다 선행할 수도 있다. 아울러, 도 4의 다양한 동작 중 적어도 일부는 적어도 동시에 수행될 수도 있다. 또한, 도 4의 인접한 두 동작 사이에는 다른 동작이 개입되어 수행될 수도 있다. 또는, 도 4의 적어도 하나의 동작이 수행되지 않을 수도 있다. 상술한 바는, 본 문서의 모든 흐름도에서 같을 수 있다. 본 문서에서, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 전자 장치(101) 내의 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))가 특정 동작을 수행함을 의미할 수 있다. 이 경우, 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))는 하드웨어 장치 내의 제어 회로(예: 터치 센서 IC(253))에 의하여 스스로 특정 동작을 수행할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120)가 특정 동작을 수행하거나, 하드웨어 장치(예: 터치 센서 IC(253), 디스플레이 드라이버 IC(230), 디스플레이(210))가 프로세서(120)의 제어에 기반하여 특정 동작을 수행하는 것을 의미할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120) 또는 프로세서(120) 이외의 다른 하드웨어 장치가 특정 동작을 수행하도록 야기하는 인스트럭션이 실행됨을 의미할 수 있다. 이 경우, 특정 동작을 수행한다는 것은, 특정 동작 수행을 야기하는 인스트럭션이 메모리(130)에 저장되어 있음을 의미할 수도 있다.

도 4를 참조하면, 401 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 터치 회로(250)의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 터치 회로(250)는 서로 교차하는 복수의 전송 채널과 복수의 수신 채널을 포함할 수 있다. 복수의 전송 채널과 복수의 수신 채널이 교차한다는 의미는, 전송 채널에 연결되는 전송 전극이 제 1 방향으로 배열되고, 수신 채널에 연결되는 수신 전극이 제 1 방향과 수직하는 제 2 방향으로 배열되어, 전송 전극과 수신 전극이 교차함을 의미할 수 있다. 이 경우, 터치 회로(250)는 수신 채널 각각으로부터 전기적인 신호를 수신할 수 있으며, 이에 기반하여 전송 채널과 수신 채널 상호간에 형성되는 커패시턴스를 확인할 수 있다. 예를 들어, 전기적인 신호는 아날로그 신호이며, 디지털 신호로 변환될 수 있다. 로우 데이터는, 디지털 신호 자체일 수 있거나, 또는 디지털 신호에 기반하여 생성된 데이터(예: 커패시턴스)일 수도 있다. 로우 데이터는, 복수 개의 채널(또는, 노드)별 값을 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 5a에서와 같이, 터치 회로(250)는 제 1 방향으로 배열된 제 1 내지 제 17 전송 채널(Tx1 내지 Tx17) 및 제 2 방향으로 배열된 제 1 내지 제 19 수신 채널(Rx1 내지 Rx19)을 포함할 수 있다. 전송 채널이 제 1 방향으로 배열되었다는 의미는, 전송 채널에 연결되는 전송 전극이 제 1 방향으로 배열됨을 의미할 수 있다. 수신 채널이 제 2 방향으로 배열되었다는 의미는, 수신 채널에 연결되는 수신 전극이 제 2 방향으로 배열됨을 의미할 수 있다. 도 5a의 값들은, 제 1 내지 제 17 전송 채널(Tx1 내지 Tx17) 각각에 순차적으로 제공된 전력에 의해, 제 1 내지 제 17 전송 채널(Tx1 내지 Tx17)과 제 1 내지 제 19 수신 채널(Rx1 내지 Rx19)들 상호간에 형성되는 커패시턴스의 세기를 나타내는 값들일 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는 도 5a의 값들을 로우 데이터로 생성할 수 있다. 또는, 전자 장치(101)는 도 5a의 값들 중 일부의 값만을 로우 데이터로 생성할 수 있으며, 예를 들어, 제 1 전송 채널(Tx1)에 공급된 전력에 대하여 제 1 내지 제 19 수신 채널(Rx1 내지 Rx19)들 각각에서 획득한 커패시턴스의 세기에 기반한 데이터들(510)을 로우 데이터로 생성할 수도 있다.

403 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성할 수 있다. 베이스라인을 생성한다는 것은, 로우 데이터를 베이스라인으로 설정하는 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 표시 장치(160)(예: 디스플레이(210))의 모드가 전환된 이후 최초로 생성된 로우 데이터를 베이스라인으로 설정할 수 있다. 표시 장치(160)의 모드가 전환된다는 것은, 표시 장치(160)가 온(on) 모드에서 오프(off) 모드로 전환되거나, 오프 모드에서 온 모드로 전환되는 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 도 5b의 (a)는, 표시 장치(160)가 하얀 화면의 온 모드에서 생성된 베이스라인일 수 있다. 도 5b의 (b)는, 표시 장치(160)가 까만 화면의 온 모드에서 생성된 베이스라인일 수 있다. 도 5b의 (c)는, 표시 장치(160)가 하얀 화면의 온 모드에서 생성된 베이스라인일 수 있다. 이와 같이, 전자 장치(101)는, 표시 장치(160)의 모드에 따라 상이한 베이스라인이 생성할 수 있다. 다양한 실시예에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 모드 변경 시, 기존에 획득된 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 재설정할 수 있다. 또는, 전자 장치(101)는, 외부 요인에 의한 이벤트가 발생한 이후 생성된 로우 데이터를 베이스라인으로 설정할 수 있다. 예를 들어, 외부 요인에 의한 이벤트는, 전자 장치(101)에 차저(charger), 이어잭(earjack), USB 등이 연결되는 경우, RF 노이즈가 발생하는 경우 또는 사용자의 파지가 발생(또는 변경)하는 경우일 수 있다. 또는, 전자 장치(101)는, 미리 설정된 주기마다 생성된 로우 데이터를 베이스라인으로 생성할 수도 있다.

405 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인할 수 있다. 403 동작에서, 전자 장치(101)가 제 1 로우 데이터를 새로운 베이스라인으로 설정하였기 때문에, 405 동작은 전자 장치(101)가 새롭게 베이스라인이 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 것으로 이해될 수도 있다. 예를 들어, 지정된 조건은 터치 회로(250)가 터치를 감지할 수 있는 영역에 터치가 유지되고 있는 상태에서 제 1 로우 데이터를 생성하였는지 판단할 수 있는 조건일 수 있다. 즉, 지정된 조건은, 예를 들어 제 1 로우 데이터, 즉 제 1 베이스라인이 오류를 발생시킬 값을 포함하는지를 판별할 수 있는 조건일 수 있다. 예를 들어, 제 1 로우 데이터에 포함된 복수의 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우, 전자 장치(101)는, 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는 것을 확인할 수 있다. 지정된 조건에 대한 상세한 설명은 더욱 상세하게 후술하도록 한다.

407 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인할 수 있다. 전자 장치(101)는, 지정된 조건이 만족되면 제 1 베이스라인을 리셋하는 것으로 확인할 수 있고, 지정된 조건이 만족되지 않으면 제 1 베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인할 수 있다. 이에 따라, 지정된 조건이 만족되는 경우, 즉 제 1 베이스라인에서 오류가 발생된 것으로 판단되는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 베이스라인을 오류를 가지지 않는 베이스라인으로 리셋할 수 있다.

도 6은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 6의 실시예는 도 7a 및 도 7b를 참조하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다. 도 7a는 다양한 실시예들에 따른, 로우(raw) 데이터를 나타내는 도면이다. 도 7b는 다양한 실시예들에 따른, 로우(raw) 데이터를 나타내는 도면이다.

도 6을 참조하면, 601 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들을 획득할 수 있다. 예를 들어, 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들은, 베이스라인으로 선정된 로우 데이터일 수 있다. 다양한 실시예에서, 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값은, 복수의 채널 별 출력된 아날로그 신호가 디지털로 변환된 값을 나타낼 수도 있으며, 또는 복수의 채널 별 출력된 신호에 기반하여 확인된 복수의 채널 별 커패시턴스 크기와 연관된 값일 수도 있다. 본 문서에서, 채널 별 커패시턴스와 연관된 값은, 채널 별 터치여부를 검출하는데 이용되는 값, 예를 들어 채널 별 출력되는 신호의 세기의 값, 채널 별 커패시턴스의 값 또는 채널별 커패시턴스와 매핑될 수 있는 값 중 어느 하나로 구현될 수 있으며, 제한은 없다.

구체적으로, 터치 회로(250)에 포함된 복수의 전송 채널들과 복수의 수신 채널들은 서로 직교하도록 배치될 수 있다. 이 경우, 전자 장치(101)는, 복수의 전송 채널들과 복수의 수신 채널들로부터 출력되는 신호에 기반하여 로우 데이터(예: 채널들 상호간에 형성되는 커패시턴스를 포함하는 로우 데이터)를 생성할 수 있다.

603 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 채널 중 인접하는 두 채널에 연관된 값들의 차이를 확인할 수 있다. 예를 들어, 도 7a에서와 같이, 복수의 채널들이 배열된 순서에 따라 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들을 나타낼 수 있다. 이 경우, 전자 장치(101)는, 제 1 채널에 연관된 값(711)과 제 2 채널에 연관된 값(713)의 차이(721) 및/또는 제 2 채널에 연관된 값(713)과 제 3 채널에 연관된 값(715)의 차이(723) 들을 인접하는 두 채널에 연관된 값들의 차이로 확인할 수 있다. 603 동작에서는, 제 1 내지 제 3 채널만을 예로 들어 설명하였으나, 전자 장치(101)는, 복수의 채널들 중 임의의 인접하는 두 채널들에 대한 차이 값들을 모두 확인할 수 있다.

일 실시예에 따라, 전자 장치(101)는, 하나의 전송 채널에 대한 복수의 수신 채널들에서 획득한 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여, 복수의 채널들 중 인접한 채널들의 값들의 차이를 확인할 수 있다. 예를 들어, 도 7b에서와 같이, 터치 회로(250)는 제 1 내지 전송 채널(Tx1)(731) 제 17 전송 채널(Tx17)(735) 및 제 1 수신 채널(Rx1)(741) 내지 제 19 수신 채널(Rx19)(743)을 포함할 수 있다. 이 경우, 터치 회로(250)는 제 1 전송 채널(731)에 전력을 공급하고, 제 1 수신 채널(741) 내지 제 19 수신 채널(743)을 통해 커패시턴스와 연관된 값을 획득할 수 있다. 그리고, 터치 회로(250)는 제 2 전송 채널(733)에 전력을 공급하고, 제 1 수신 채널(741) 내지 제 19 수신 채널(743)을 통해 커패시턴스와 연관된 값을 획득할 수 있다. 각각의 전송 채널들(제 3 전송 채널 내지 제 17 전송 채널(735))에도 순차적으로 전력을 공급하고, 하나의 전송 채널에 전력을 공급할 때마다 제 1 수신 채널(741) 내지 제 19 수신 채널(743)을 통해 커패시턴스와 연관된 값을 획득하는 과정을 반복함으로써, 도 7b와 같은, 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들을 획득할 수 있다. 이와 같이 전송 채널 별로 구동되는 경우, 각각의 전송 채널들에는 순차적으로(즉, 동일하지 않은 시간에) 전력이 제공되는 반면, 복수의 수신 채널들은 동시에 커패시턴스와 연관된 값을 획득할 수 있다. 이 경우에는 하나의 전송 채널에 전력이 공급된 이후 복수의 수신 채널들에서 커패시턴스와 연관된 값을 획득함에 있어서는 유사한 수준의 노이즈 영향을 받을 수 있다. 이러한 점을 이용하여 전송 채널들 각각에 대하여 복수의 수신 채널들에서 획득한 값들 중 인접하는 두 채널에 연관된 값들의 차이를 확인할 수 있다. 예를 들어, 제 17 전송 채널(735)에 전력을 공급하고, 제 1 수신 채널(741) 내지 제 19 수신 채널(743)을 통해 커패시턴스와 연관된 값을 획득한 값(751)은 (8, 10, 7, 5, 5, 10, 6, 6, 14, 16, 10, 7, 6, 3, 3, 0, 2, 1, 1)일 수 있다. 전자 장치(101)는, 획득한 값(751) 중 인접하는 두 값의 차이를 확인함으로써, 인접하는 두 채널에 연관된 값들의 차이를 확인할 수 있다. 한편, 전송 채널 별로 구동되는 경우에는, 전송 채널들 각각에 전력이 제공되는 시차가 존재하므로, 인접하는 두 전송 채널에 연관된 값들(예를 들어, 755)은 고려하지 않을 수 있다.

다시 도 6을 참조하면, 605 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 확인된 값들의 차이가 임계치를 초과하는지 여부를 확인할 수 있다. 도 7b를 예로 들어, 전자 장치(101)는, 제 17 전송 채널(735)과 복수의 수신 채널들 상호간에 형성되는 커패시턴스와 연관된 값들 중 인접하는 제 8 수신 채널(745)과 제 9 수신 채널(747)에 연관된 값들(753)의 차이가 임계치를 초과하는 것으로 확인할 수 있다. 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들은, 노이즈(예를 들어, Display, charger, RF 노이즈 등)에 의하여 차이가 있을 수 있으며, 이러한 노이즈에 의한 차이는, 터치에 의한 노이즈보다 작을 수 있다. 이에 따라, 임계치는, Display, charger, RF 노이즈 등에 의하여 발생하는 차이보다 큰 값으로 설정될 수 있다.

다시 도 6을 참조하면, 확인된 값들의 차이가 임계치를 초과하지 않는 경우, 607 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 생성된 베이스라인에 기반하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 전자 장치(101)는 로우 데이터를 생성할 수 있고, 생성된 로우 데이터와 베이스라인의 차이에 따라 신호 데이터를 생성할 수 있다. 확인된 값들의 차이가 임계치를 초과하지 않는다는 것은 터치가 없는 상태에서 획득한 값들을 이용하여 로우 데이터를 생성한 것을 의미할 수 있다. 이에 따라, 전자 장치(101)는, 로우 데이터에 기반하여 생성된 베이스라인에 기반하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 한편, 임계치를 초과하는 것으로 확인된 값들이, 디스플레이의 엣지(edge) 또는 홀부와 같이 특정 영역에 대응하는 경우에는, 임계치를 초과하는 경우에도 607 동작에 따라 동작할 수 있다.

확인된 값들의 차이가 임계치를 초과하는 경우, 609 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 생성된 베이스라인을 리셋할 수 있다. 확인된 값들의 차이가 임계치를 초과한다는 것은, 터치가 유지되는 상태에서 획득된 값들을 이용하여 로우 데이터를 생성한 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이(예: 디스플레이(210)) 화면이 온 모드에서 사용자의 손이 터치되고, 터치가 유지되는 동안 디스플레이 화면이 오프 모드로 전환된 경우를 가정하면, 디스플레이 화면이 오프 모드로 전환된 이후 최초로 생성된 로우 데이터는 터치가 유지되는 상태에서 획득된 값들일 수 있다. 또는, 확인된 값들의 차이가 임계치를 초과한다는 것은, 차저(charger)가 연결된 상태, RF 노이즈가 존재하는 상태, 외부 물체가 근접된 상태 또는 사용자에 의한 파지가 유지되는 상태에서 획득된 값들을 이용하여 로우 데이터를 생성한 것을 의미할 수 있다. 이러한 로우 데이터에 기반하여 생성된 베이스라인은 노이즈를 포함하므로, 전자 장치(101)는, 생성된 베이스라인을 리셋할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 새로운 로우 데이터를 생성하고, 생성된 새로운 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 리셋할 수 있다.

611 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 리셋된 베이스라인에 기반하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 전자 장치(101)는, 로우 데이터를 생성할 수 있고, 생성된 로우 데이터와 리셋된 베이스라인의 차이에 따라 신호 데이터를 생성할 수 있다.

도 8은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 8의 실시예는 도 9a 및 도 9b를 참조하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다. 도 9a는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다. 도 9b는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.

도 8의 동작들은 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))에서 수행되는 동작을 의미할 수 있다. 도 8의 다양한 동작 중 적어도 일부는 적어도 동시에 수행될 수도 있다. 또한, 도 8의 인접한 두 동작 사이에는 다른 동작이 개입되어 수행될 수도 있다. 또는, 도 8의 적어도 하나의 동작이 수행되지 않을 수도 있다.

일 실시예에 따라, 전자 장치(101)는 터치 센서(251)에서 감지되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 전환(801)할 수 있다. 예를 들어, 터치 센서(251)는 터치 회로(250)의 복수의 채널들에 의하여 형성된 커패시턴스를 감지할 수 있으며, 복수의 채널들에 의하여 형성된 커패시턴스의 일부는 터치에 의하여 변경될 수 있다.

전자 장치(101)는, 디지털 신호로 전환된 데이터를 교정(calibration) 또는 오프셋(offset) 제거 등의 과정을 통해 로우 데이터를 생성할(803) 수 있다.

전자 장치(101)는, 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 생성(805)할 수 있다. 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 생성한다는 것은, 생성된 로우 데이터 중 특정 로우 데이터를 베이스라인으로 설정하는 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 디스플레이(예: 디스플레이(210))의 모드가 전환된 이후 최초로 생성된 로우 데이터를 베이스라인으로 설정할 수 있다.

전자 장치(101)는, 로우 데이터로부터 베이스라인을 제거한 데이터를 산출(807)할 수 있다. 이 경우, 로우 데이터는, 베이스라인으로 설정된 로우 데이터 이후에 생성된 로우 데이터일 수 있다. 산출된 데이터는 로우 데이터의 변화량을 의미할 수 있다.

전자 장치(101)는, 산출된 데이터를 필터링(809)하여 신호 데이터를 생성(811)할 수 있다. 예를 들어, 도 9a의 (a)에서와 같이, 베이스라인(901)이 설정되고, 로우 데이터(903)가 생성될 수 있다. 도 9a의 (b)의 신호 데이터(905)는 로우 데이터(903)에서 베이스라인(901)을 제거한 데이터를 필터링하여 생성된 신호 데이터를 나타낼 수 있다. 다른 예를 들어, 도 9b의 (a)에서와 같이, 베이스라인(911)이 설정되고, 로우 데이터(913)가 생성될 수 있다. 로우 데이터(913)는 사용자의 터치가 입력된 상태를 나타낼 수 있다. 도 9b의 (a)의 신호 데이터(915)는, 로우 데이터(913)에서 베이스라인(911)을 제거한 데이터를 필터링하여 생성된 신호 데이터를 나타낼 수 있다. 이 경우, 사용자의 터치가 입력된 상태이지만, 전자 장치(101)는, 신호 데이터(915)를 처리하여 사용자의 터치를 확인할 수 없다.

전자 장치(101)는, 신호 데이터를 이미지 처리(813)하여 터치가 입력된 위치에 대한 정보를 프로세서(예: 프로세서(120))에게 보고(815)할 수 있다.

도 10a는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.

도 10a를 참조하면, 도 10a의 (a)의 로우 데이터(1001)는, t1 시점에서 생성된 제 1 로우 데이터이다. 제 1 로우 데이터 중 인접하는 채널들 각각에 대응하는 데이터들(1011, 1013) 사이의 차이는 임계치 이하인 것을 확인할 수 있다. 인접하는 두 개의 채널에 대응하는 데이터들에 대하여만 표시하였으나, 제 1 로우 데이터 중 인접하는 채널들 각각에 대응하는 데이터들 차이는 모두 임계치 이하일 수 있다. 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 로우 데이터(1001)를 이용하여 제 1 베이스라인을 생성할 수 있다.

도 10a의 (b)의 로우 데이터(1003)는, t2 시점에서 생성된 제 2 로우 데이터(1003)이다. 제 1 로우 데이터(1001) 중 인접하는 채널들 각각에 대응하는 데이터들(1011, 1013) 사이의 차이가 임계치 이하인 것에 기반하여, 전자 장치(101)는, 제 2 로우 데이터(1003)에서 제 1 베이스라인(1005)을 제거하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 전자 장치(101)는, 생성된 신호 데이터에 기반하여 터치가 입력된 위치에 대한 정보를 프로세서(예: 프로세서(120))에게 제공할 수 있다.

도 10b는 다양한 실시예들에 따른, 신호 데이터를 설명하기 위한 도면이다.

도 10b를 참조하면, 도10b의 (a)의 로우 데이터(1021)는, t1 시점에서 생성된 제 1 로우 데이터이다. 제 1 로우 데이터 중 인접하는 채널들 각각에 대응하는 데이터들(1031, 1033) 사이의 차이(1035)는 임계치를 초과하는 것을 확인할 수 있다. 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 로우 데이터(1021)를 이용하여 제 1 베이스라인을 생성할 수 있다.

도 10b의 (b)의 로우 데이터(1023)는, t2 시점에서 생성된 제 2 로우 데이터(1023)이다. 제 1 로우 데이터(1021) 중 인접하는 채널들 각각에 대응하는 데이터들(1031, 1033) 사이의 차이가 임계치를 초과하는 것에 기반하여, 전자 장치(101)는, 제 2 로우 데이터(1023)에서 제 1 베이스라인(1025)을 제거하여 생성된 신호 데이터를 무시할 수 있다. 신호 데이터를 무시한다는 것은, 터치 회로(250)가 신호 데이터에 기반하여 터치가 입력된 위치에 대한 정보를 프로세서에게 제공하는 동작을 수행하지 않는 것을 의미할 수 있다.

도 10a와 10b에서 설명한 바와 같이, 베이스라인으로 설정된 로우 데이터 중 인접하는 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치를 초과하는지 여부에 따라, 베이스라인에 기반하여 생성된 신호 데이터의 처리 방식이 상이할 수 있다.

도 11은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 전자 장치(101) 내의 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))가 특정 동작을 수행함을 의미할 수 있다. 이 경우, 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))는 하드웨어 장치 내의 제어 회로(예: 터치 센서 IC(253))에 의하여 스스로 특정 동작을 수행할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120)가 특정 동작을 수행하거나, 하드웨어 장치(예: 터치 센서 IC(253), 디스플레이 드라이버 IC(230), 디스플레이(210))가 프로세서(120)의 제어에 기반하여 특정 동작을 수행하는 것을 의미할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120) 또는 프로세서(120) 이외의 다른 하드웨어 장치가 특정 동작을 수행하도록 야기하는 인스트럭션이 실행됨을 의미할 수 있다. 이 경우, 특정 동작을 수행한다는 것은, 특정 동작 수행을 야기하는 인스트럭션이 메모리(130)에 저장되어 있음을 의미할 수도 있다.

도 11을 참조하면, 1101 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 전송 전극들과 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터(signal data)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는 서로 교차하는 복수의 전송 채널과 복수의 수신 채널을 포함할 수 있다. 이 경우, 전자 장치(101)는 수신 채널 각각으로부터 전기적인 신호를 수신할 수 있으며, 이에 기반하여 전송 채널과 수신 채널 상호간에 형성되는 커패시턴스를 확인할 수 있다. 전송 채널과 수신 채널 상호간에 형성되는 커패시턴스를 노드 별 커패시 턴스라고 표현할 수 있고, 커패시턴스와 연관된 값은 로우 데이터일 수 있다. 전자 장치(101)는 로우 데이터와 베이스라인(baseline)의 차이에 따라 신호 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 신호 데이터는 로우 데이터에서 베이스라인을 뺀 것일 수 있다.

1103 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인할 수 있다. 신호 데이터가 지정된 조건을 만족한다는 것은, 신호 데이터에 기반한 입력이 사용자의 터치 입력이 아닌 것으로 확인되는 조건을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 신호 데이터 중 적어도 일부가 음성(negative)인 제 1 임계값 보다 작은 값인 경우, 지정된 조건을 만족하는 것으로 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 신호 데이터 중 크기가 제 2 임계값을 초과하는 노드의 수가 제 3 임계값을 초과하는 경우, 지정된 조건을 만족하는 것으로 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작을 확인하는 것에 연속적으로 실패하고, 연속적인 실패 횟수가 설정된 횟수 이상인 경우, 지정된 조건을 만족하는 것으로 확인할 수 있다.

1105 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터가 지정된 조건을 만족함에 반응하여, 신호 데이터를 무시(discard)할 수 있다. 신호 데이터를 무시한다는 것은, 신호 데이터에 기반하여 확인된 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 전송하지 않는 것일 수 있다. 또는, 신호 데이터를 무시한다는 것은, 신호 데이터에 기반하여 확인된 터치와 연관된 정보에 대응하는 동작을 수행하지 않는 것일 수 있다.

1107 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하지 않음에 반응하여, 신호 데이터에 기반하여 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 신호 데이터를 이미지 처리하여 터치가 입력된 위치에 대한 정보를 프로세서에게 알릴 수 있다.

도 12는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 12의 실시예는 도 13a, 도 13b, 도 13c 및 도 13d를 참조하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다. 도 13a 내지 도 13d는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.

도 12를 참조하면, 1201 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 전송 전극들과 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터(signal data)를 생성할 수 있다. 전자 장치(101)는, 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들과 베이스라인의 차이를 신호 데이터로 생성할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치의 적어도 일면에 사용자의 손이 터치된 상태(예: 파지 상태)인 경우, 사용자의 손에 의해 터치된 부분은, 사용자의 손에 의하여 커패시턴스 값이 증가할 수 있다. (정상적인 베이스라인이 설정되어 있는 경우) 전자 장치(101)는, 도 13a에서와 같이, 사용자의 손이 터치된 영역(1301)의 데이터가 사용자의 손이 터치되지 않은 영역(1303)의 데이터보다 큰 값을 가지는 신호 데이터를 생성할 수 있다.

한편, 파지 상태가 유지되는 동안, 이벤트 발생(예: 디스플레이 화면의 온/오프, 차저(charger) 연결, 이어잭(earjack) 연결, 설정된 주기의 도달 등)이 감지되면, 전자 장치(101)는 파지 상태가 반영된 로우 데이터(raw data)를 베이스라인으로 재설정(reset)할 수 있다. 1203 동작은 사용자의 손이 터치된 상태에서 생성된 로우 데이터가 베이스라인으로 설정된 상황에서 동작하는 것으로 가정할 수 있다.

1203 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터 중 적어도 일부가 제 1 음성(negative) 값보다 작은지 확인할 수 있다. 사용자의 손이 터치된 상태에서 생성된 로우 데이터가 베이스라인으로 설정된 상태에서, 사용자의 손이 터치를 유지하면서 움직이면, 손의 터치가 유지되는 영역의 신호 데이터 값은 유지될 수 있다. 그러나, 사용자의 손이 접촉하지 않다가 접촉하게 되는 영역의 신호 데이터는 증가하고, 사용자의 손이 접촉하다가 접촉하지 않게 되는 영역의 신호 데이터는 감소할 수 있다. 예를 들어, 도 13b를 참고하면, 사용자의 터치가 유지된 상태에서 생성된 베이스라인은 도면번호 1311과 같은 수 있다. 전자 장치(101)의 일면과 접촉된 사용자의 손이 미세하게 움직이면, 전자 장치(101)는 도면번호 1313과 같은 로우 데이터를 생성할 수 있다. 전자 장치(101)는 베이스라인(1311)과 로우 데이터(1313)의 차이를 이용하여 도면번호 1315와 같은 신호 데이터를 생성할 수 있다. 복수의 채널들에 대한 신호 데이터는, 도 13c와 같을 수 있다. 사용자의 손이 터치된 상태에서 생성된 로우 데이터가 베이스라인으로 설정된 상태에서, 사용자의 손이 흔들리는 경우, 전자 장치(101)는 도 13c과 같은 신호 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 사용자의 손의 터치가 유지되는 영역(1321)의 신호 데이터 값은 유지될 수 있다. 한편, 신호 데이터 값이 유지된다는 것은 오차 범위 내의 신호 변화를 포함할 수 있다. 사용자의 손의 터치가 접촉하지 않다가 접촉하게 되는 영역(1323)의 신호 데이터는 증가하고, 사용자의 손이 접촉하다가 접촉하지 않게 되는 영역(1325)의 신호 데이터는 감소할 수 있다. 한편, 사용자의 손이 접촉하다가 접촉하지 않는 영역(1325)은, 도 13b의 신호 데이터가 음의 값을 갖는 영역(1329)과 대응될 수 있다. 즉, 사용자의 손이 터치된 상태(파지 상태)에서 베이스라인을 생성한 경우, 전자 장치(101)는 사용자의 손의 흔들림으로 인해 음성(negative) 값을 가지는 데이터를 생성할 수 있다. 베이스라인이 정상적으로 설정된 경우에도 오차 범위 내에서 음성 값을 가지는 데이터가 생성될 수 있으므로, 전자 장치(101)는, 신호 데이터 중 적어도 일부가 제 1 음성 값보다 작은지 여부를 판단할 수 있다.신호 데이터 중 적어도 일부가 제 1 음성 값보다 작은 경우, 1205 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역을 확인할 수 있다. 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역은, 도 13d에서와 같이, 터치가 입력되는 것으로 판단되는 영역(1331), 터치가 입력되는 것으로 판단되는 영역의 인접 영역(1333) 및 터치를 입력 받을 수 있는 전체 영역(1335) 중 어느 하나일 수 있다. 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역은 이에 한정되지 않고, 다양할 수 있다.

1207 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터 및 상기 영역을 고려하여 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다. 전자 장치(101)는 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역에 대한 터치와 연관된 정보를 무시할 수 있다. 그리고, 전자 장치(101)는 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역이 아닌 영역에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다. 이에 따라, 사용자의 손이 흔들리는 등 사용자가 터치를 의도하지 않은 경우에도 터치가 입력된 것으로 오작동하는 상황을 방지할 수 있다.

신호 데이터 중 제 1 음성 값보다 작은 데이터가 없는 경우, 1209 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터를 고려하여 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다.

도 14는 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 14의 실시예는 도 15a, 도 15b, 도 16a 및 도 16b를 참조하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다. 도 15a, 도 15b, 도 16a 및 도 16b는 다양한 실시예에 따른, 신호 데이터를 나타내는 도면이다.

도 14를 참조하면, 1401 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 전송 전극들과 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 터치 회로(250)는, 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들과 베이스라인의 차이를 신호 데이터로 생성할 수 있다. 예를 들어, 신호 데이터는 노드 각각에 대응하는 데이터를 포함할 수 있다.

1403 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터 중 적어도 일부의 크기가 제 1 임계값을 초과하는지 확인할 수 있다. 제 1 임계값은 터치로 인식하지 않는 노이즈 레벨(noise floor)를 식별하기 위한 값으로 설정될 수 있다.

예를 들어, 도 15a에서와 같이, 손가락에 의한 신호 데이터(1501)는 터치가 발생하는 동안 세기가 큰 값을 가질 수 있다. 전자 장치(101)는, 신호 데이터가 노이즈 레벨(1505)을 초과하면서, 제 3 임계값(1507)을 초과하면 손에 의한 터치가 발생하는 것으로 판단할 수 있다. 그러나, 전자 장치(101)가 주머니 안에서 사용자의 신체와 넓은 면적으로 접촉되는 경우 또는 마그네틱 카드와 넓은 면적으로 접촉되는 경우 등과 같이, 넓은 면적에 접촉하는 물체에 의한 신호 데이터(1503)는 노이즈 레벨은 초과하지만 제 3 임계값(1507)을 초과하지 않는 세기를 가질 수 있다. 한편, 도 15b에서와 같이, 손가락에 의한 신호 데이터(1511)는 터치가 발생하는 동안 세기가 큰 값을 가질 수 있다. 그러나, 전자 장치(101)와 넓은 면적으로 접촉하는 물체에 의한 신호 데이터(1513)는 음의 노이즈 레벨보다 작은 값을 가지지만, 터치로 식별되는 음의 임계값(1515)보다는 큰 값을 가질 수 있다. 다시 말해, 전자 장치(101)는, 신호 데이터의 크기 중 적어도 일부가 제 1 임계값(예: 노이즈 레벨)을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다. 넓은 면적에 접촉하는 물체에 의한 데이터 신호는 양의 값 또는 음의 값을 가질 수 있으므로, 전자 장치(101)는 신호 데이터의 크기(절대값)가 제 1 임계값(예: 노이즈 레벨)을 초과하는지 여부를 판단할 수 있다.

1405 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 임계값을 초과하는 노드의 수가 제 2 임계값을 초과하는지 확인할 수 있다. 제 2 임계값은, 전자 장치(101)의 터치 인식이 가능한 영역의 특정 영역 이상을 차지하는 노드의 수로 설정될 수 있다.

도 16a에서와 같이, 물체와 접촉된 영역(1601)의 신호의 세기는 제 1 임계값(예: 노이즈 레벨)을 초과하고, 물체와 접촉되지 않은 영역(1603)의 신호의 세기는 제 1 임계값 이하일 수 있다. 또한, 도 16b에서와 같이, 물체와 접촉된 영역(1611)의 신호의 크기는 제 1 임계값(예: 노이즈 레벨)을 초과하고, 물체와 접촉되지 않은 영역(1613)의 신호는 제 1 임계값 이하일 수 있다. 물체와 접촉된 영역(1601, 1611)에 해당하는 노드의 수가 제 2 임계값을 초과하는 경우, 넓은 면적에 접촉된 물체의 의한 데이터 신호일 수 있으므로, 사용자가 의도한 터치가 아닐 수 있다. 즉, 신호 데이터의 세기가 제 1 임계값을 초과하는 데이터를 포함하고, 신호 데이터의 세기가 제 1 임계값을 초과하는 노드가 제 2 임계값 보다 많은 경우에는, 전자 장치(101)가 주머니 속에서 사용자의 신체와 넓은 영역으로 접촉하거나, 마그네틱 카드와 넓은 영역으로 접촉하는 등, 사용자가 의도하지 않은 터치일 수 있다.

1407 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 임계값을 초과하는 값을 가지는 노드를 포함하는 영역을 확인할 수 있다. 제 1 음성 값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역은, 물체가 접촉된 것으로 판단되는 영역, 물체가 접촉된 것으로 판단되는 영역의 인접 영역 및 터치를 입력 받을 수 있는 전체 영역 중 어느 하나일 수 있으며, 이에 한정되지 않는다.

1409 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터 및 제 1 임계값을 초과하는 값을 가지는 노드를 포함하는 영역을 고려하여, 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다. 전자 장치(101)는 제 1 임계값을 초과하는 신호 세기를 가지는 노드를 포함하는 영역에 대한 터치와 연관된 정보를 무시할 수 있다. 그리고, 전자 장치(101)는 제 1 임계값을 초과하는 신호 세기를 가지는 노드를 포함하는 영역이 아닌 영역에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다. 이에 따라, 주머니 속에서 사용자의 신체에 접촉되는 경우에도 터치가 입력된 것으로 오작동하는 상황을 방지할 수 있다.

1411 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터를 고려하여 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다.

도 17은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다.

도 17을 참조하면, 1701 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 복수의 전송 전극들과 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터를 생성할 수 있다. 터치 회로(250)는, 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들과 베이스라인의 차이를 신호 데이터로 생성할 수 있다. 예를 들어, 신호 데이터는 노드 각각에 대응하는 데이터를 포함할 수 있다.

1703 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작이 있는지 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는 신호 데이터를 바탕으로, 사용자의 터치 사이의 거리, 터치 사이의 시간, 유효 영역에 대한 터치 등을 확인할 수 있다. 전자 장치(101)는 사용자의 입력에 대응하는 동작이 터블 탭, 스와이프 등인지 확인할 수 있다.

신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작이 있는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 1705 동작에서, 신호 데이터를 고려하여 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 프로세서에게 출력할 수 있다.

신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작이 없는 경우, 1707 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 설정된 제 1 시간 동안, 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작 확인의 실패 횟수가 n회 이상인지 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는 3초 동안, 대응되는 동작이 없는 입력이 4회 이상인지 여부를 판단할 수 있다.

설정된 제 1 시간 동안, 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작 확인의 실패 횟수가 n회 미만인 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 1701 동작으로 되돌아가 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들과 베이스라인의 차이를 신호 데이터로 생성할 수 있다.

설정된 시간 동안, 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작 확인의 실패 횟수가 n회 이상인 경우, 1709 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 설정된 제 2 시간 동안 신호 데이터에 기반한 입력을 무시할 수 있다. 예를 들어, 제 1 시간 동안 입력에 대응하는 동작이 없는 입력이 n회 이상 반복된다는 것은, 사용자가 터치를 의도하지 않는 상황일 수 있으므로, 설정된 제 2 시간 동안의 입력을 무시함으로써 전자 장치(101)의 오작동을 방지할 수 있다.

1711 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 설정된 제 3 시간 동안 임계값을 초과하는 신호 데이터가 생성되는지 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 300ms 동안, 생성된 신호 데이터의 크기가 임계값(예: 노이즈 레벨)을 초과하는 신호 데이터가 생성되는지 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)는, 300ms 동안 생성된 모든 신호 데이터의 크기가 임계값 이하인 경우, 1701 동작으로 되돌아갈 수 있다. 예를 들어, 300ms 동안 생성된 모든 신호 데이터의 크기가 임계값 이하라는 것은, 사용자가 터치를 의도하지 않은 상황에서 터치가 반복적으로 입력되는 상황을 벗어난 것일 수 있다.

도 18은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 전자 장치(101) 내의 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))가 특정 동작을 수행함을 의미할 수 있다. 이 경우, 하드웨어 장치(예: 터치 회로(250))는 하드웨어 장치 내의 제어 회로(예: 터치 센서 IC(253))에 의하여 스스로 특정 동작을 수행할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120)가 특정 동작을 수행하거나, 하드웨어 장치(예: 터치 센서 IC(253), 디스플레이 드라이버 IC(230), 디스플레이(210))가 프로세서(120)의 제어에 기반하여 특정 동작을 수행하는 것을 의미할 수도 있다. 또는, 전자 장치(101)가 특정 동작을 수행한다는 것은, 프로세서(120) 또는 프로세서(120) 이외의 다른 하드웨어 장치가 특정 동작을 수행하도록 야기하는 인스트럭션이 실행됨을 의미할 수 있다. 이 경우, 특정 동작을 수행한다는 것은, 특정 동작 수행을 야기하는 인스트럭션이 메모리(130)에 저장되어 있음을 의미할 수도 있다.

도 18을 참조하면, 다양한 실시예에 따라, 1810 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 획득할 수 있다. 여기서, 예를 들어, 터치 회로(250)는 서로 교차하는 복수의 전송 채널과 복수의 수신 채널을 포함할 수 있다. 복수의 전송 채널과 복수의 수신 채널이 교차한다는 의미는, 전송 채널에 연결되는 전송 전극이 제 1 방향으로 배열되고, 수신 채널에 연결되는 수신 전극이 제 1 방향과 수직하는 제 2 방향으로 배열되어, 전송 전극과 수신 전극이 교차함을 의미할 수 있다. 이 경우, 터치 회로(250)는 수신 채널 각각으로부터 전기적인 신호를 수신할 수 있으며, 이에 기반하여 전송 채널과 수신 채널 상호간에 형성되는 커패시턴스를 확인할 수 있다. 예를 들어, 전기적인 신호는 아날로그 신호이며, 디지털 신호로 변환될 수 있다. 로우 데이터는, 디지털 신호 자체일 수 있거나, 또는 디지털 신호에 기반하여 생성된 데이터(예: 커패시턴스)일 수도 있다. 로우 데이터는, 복수 개의 채널(또는, 노드)별 값을 포함할 수 있다.

1820 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 로우 데이터 및 현재의 제 1 베이스라인(baseline)에 기반하여 신호 데이터를 획득할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 획득된 제1 로우 데이터와 현재의 베이스라인인 제1 베이스라인의 차이에 따라 신호 데이터를 생성할 수 있다.

1830 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 제1 베이스라인의 리셋 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 베이스라인의 리셋을 수행하기 전, 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 베이스라인의 리셋을 지연할 수 있다. 일 실시예로, 디스플레이(예: 디스플레이(210))의 온(on) 모드 또는 오프(off) 모드에 따라 상이한 베이스라인이 획득되므로, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 디스플레이의 온/오프가 전환되는 전의 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 확인하고, 디스플레이의 온/오프를 수행할 때 현재의 베이스라인을 리셋할지 여부를 확인할 수 있다.

예를 들어, 지정된 조건은, 신호 데이터가 오터치인 것으로 판단된 경우 또는, 신호 데이터의 값이 기설정된 임계값 범위를 만족하는 경우 중 적어도 하나일 수 있다. 예를 들어, 신호 데이터가 오터치인 것으로 판단된 경우는, 전자 장치(101)가 주머니 속 또는 가방 속에 있는 것으로 판단된 상태에서 디스플레이의 온/오프가 전환되기 전 터치가 센싱된 경우일 수 있다. 이때, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 지정된 조건이 만족되면 제1 베이스라인의 리셋을 지연할 수 있다.

다양한 실시 예에 따라, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 디스플레이의 온/오프가 전환되기 전 센싱된 터치에 대응되는 신호 데이터의 형태적 특성이 디스플레이의 온/오프가 전환된 이후에도 유지되는지 확인하고, 신호 데이터의 형태적 특성이 확인되지 않으면, 오터치 상태가 해제된 것으로 확인할 수 있다.

다양한 실시 예에 따라, 오터치 상태가 해제되거나, 신호 데이터의 값이 기설정된 임계값 범위를 벗어나는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 현재의 베이스라인을 리셋할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 개시의 다양한 실시예에 따르면, 부정확한 베이스라인이 획득되는 것을 방지하여 디스플레이의 온/오프가 전환된 이후의 터치 인식의 정확도를 향상시킬 수 있다.

도 19를 참조하면, 다양한 실시 예에 따라, 1910 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제1 로우 데이터 및 현재의 제 1 베이스라인(baseline)에 기반하여 신호 데이터를 획득할 수 있다. 그리고, 1920 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 베이스라인 리셋 여부를 판단할 수 있다. 1910 동작 및 1920 동작은 도 18의 1820 동작 및 1830 동작과 동일한 바, 중복된 설명은 생략한다.

베이스라인을 리셋하는 것으로 확인되면(1920 동작-Y), 1930 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 기존 제1 베이스라인을 리셋할 수 있다. 예를 들어, 리셋된 베이스라인은 제2 베이스라인으로 지칭될 수 있다.

다만, 베이스라인 리셋 동작을 수행하더라도, 베이스라인이 리셋되는 순간에 터치가 입력되어, 입력된 터치에 대한 데이터가 고려되지 못하고 베이스라인이 리셋되는 경우가 있을 수 있다. 이 경우, 리셋된 베이스라인(제2 베이스라인)이 부정확하여 터치 성능이 저하되는 문제가 있을 수 있다.

이에 1930 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인의 형태 이상 여부 또는 기준 베이스라인과의 차이가 임계값을 초과하는 하나 이상의 채널이 존재하는지 여부를 확인할 수 있다.

예를 들어, 베이스라인 리셋으로 인해, 로우 데이터와 베이스라인의 차이인 신호 데이터가 초기화될 수 있으며, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인의 형태에 기반하여 정확한 터치 인식을 위해 사용 가능한 베이스라인인지 확인할 수 있다.

예를 들어, 도 20a에 도시된 바와 같이, 리셋된 베이스라인 중 인접하는 제1 채널 및 제2 채널 각각에 대응하는 값 사이의 차이가 임계값을 초과하는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인은 정확한 터치 인식을 위해 사용 가능하지 않은 것으로 확인할 수 있다.

또 다른 실시 예로, 도 20b에 도시된 바와 같이, 리셋된 베이스 라인과 상기 기준 베이스 라인의 차이가 임계값을 초과하는 하나 이상의 채널이 존재하는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인은 정확한 터치 인식을 위해 사용 가능하지 않은 것으로 확인할 수 있다. 여기서, 기준 베이스라인은 터치 입력이 없는 상태를 유지하는 동안 획득된 것으로, 캘리브레이션 오프셋(calibration offset)이 적용된 경우에 대응하는 베이스라인일 수 있으며, 메모리(예: 메모리(130))에 기저장된 것일 수 있다.

리셋된 베이스라인 자체의 형태에 이상이 있거나, 기준 베이스라인과의 차이가 임계값을 초과하는 하나 이상의 채널이 존재하는 것으로 확인되면(1930 동작-Y), 1940 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인을 기준 베이스라인으로 변경할 수 있다. 또 다른 실시 예로, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인이 잘못된 베이스라인인 경우, 베이스라인 리셋을 다시 수행할 수도 있다.

리셋된 베이스라인에 이상이 없으면(1930 동작-N), 1945 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 리셋된 베이스라인을 유지할 수 있다.

베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인되면(1920 동작-N), 1950 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 제2 로우 데이터를 획득할 수 있다. 이때, 베이스 라인을 리셋하지 않음에 따라 제1 베이스라인은 유지되는 상태일 수 있다.

다양한 실시 예에 따르면, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 디스플레이 온/오프 모드 전환에도 베이스라인 리셋 없이 오터치 여부를 판단하는 경우, 디스플레이 노이즈 특성을 고려하여 노이즈 필터링의 강도를 강화하거나 별도의 필터를 적용할 수 있다.

1960 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 제2 로우데이터 및 제1 베이스라인에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 획득된 제2 로우 데이터와 베이스라인 리셋 없이 유지된 제1 베이스라인의 차이에 따라 신호 데이터를 생성할 수 있다.

1970 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 제2 신호 데이터에 오류가 있는지 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 베이스라인 리셋 없이 제1 베이스라인을 유지하면서, 획득된 제2 로우 데이터를 이용하여 제2 신호 데이터를 획득하였으나, 제2 신호 데이터에 오류가 있으면(1970 동작-Y), 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 1980 동작에서, 베이스라인 리셋을 수행할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제2 신호 데이터의 형태가 이상 형태를 가지면, 제2 신호 데이터에 오류가 있는 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 제2 신호 데이터의 형태가 양성(positive) 및 음성(negative)을 반복하는 형태이거나, 음성인 구간이 지정된 크기보다 크거나, 지정된 값 이상의 음성 값이 존재하는 경우, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제2 신호 데이터의 형태가 이상 형태인 것으로 판단하고, 베이스라인 리셋을 수행할 수 있다.

제2 신호 데이터에 오류가 없는 것으로 확인되면(1970 동작-N), 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 1985 동작에서, 제1 베이스라인을 유지할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 개시의 다양한 실시예에 따르면, 베이스라인 리셋의 지연을 통해 디스플레이 노이즈는 회피하여 주머니 속 또는 가방 속에서의 터치 인식률을 높이되, 자석, 동전 또는 수분과 같은 다른 성격의 노이즈에 의한 오동작을 감소시킬 수 있다.

도 21은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 21의 실시예는, 도 22a 및 도 2b를 참조하여 설명하도록 한다. 도 22a 및 도 2b는 두 종류의 방식에 기반하여 획득된 신호 데이터를 설명하기 위한 도면들이다.

도 21을 참조하면, 다양한 실시예에 따라, 2110 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제1 방식에 기반하여 제1 신호 데이터를 획득할 수 있다. 2120 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제2 방식에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 뮤추얼(Mutual) 커패시턴스 방식에 기반하여 적어도 하나의 제 1 신호 데이터를 획득할 수 있으며, 셀프(Self) 커패시턴스 방식에 기반하여 적어도 하나의 제 2 신호 데이터를 획득할 수 있다. 2130 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제1 신호 데이터 및 제2 신호 데이터 중 하나에 오류가 있음을 확인할 수 있다. 예를 들어, 뮤추얼 커패시턴스 방식에 기반하여서는 터치가 센싱되지만, 셀프 커패시턴스 방식에 기반하여서는 터치가 센싱되지 않을 수도 있다. 이것은 전자 장치(101)가 인 포켓(in-pocket, 예: 주머니 속 또는 가방 속) 상태 유지를 지속적으로 판단할 때 및 오동작을 제어하는 중요한 요소일 수 있다. 실제 폰 커버의 Hall IC나, 주머니 속의 동전, 차 키 등에 의해 주머니 속에서 여러 형태의 커패시턴스 데이터를 보일 수 있기 때문이다. 또한, 실제 장시간 통화에 의한 전자 장치(101)의 온도변화, 또는 습기(땀, 화장품), 파지 등에 의해, 검출되는 커패시턴스가 왜곡될 가능성이 있기 때문이다.

다양한 실시 예에 따라, 2140 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 오류가 있는 경우, 오류를 가지지 않는 신호 데이터에 기반하여 터치와 연관된 정보를 확인할 수 있다. 2150 동작에서, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 오류가 발생한 방식의 파라미터를 조정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터의 프로파일 형태, 지속 시간에 따라 인-포켓 여부를 판단하지 않으며, 판단 조건이나 임계 값 등을 동적으로 조절할 수 있다. 예를 들어, 실제 장시간 통화에 의한 전자 장치(101)의 온도가 상승한 경우, 터치 감도와 관련된 임계 값을 상향 조정할 수 있다.

다양한 실시예에 따라, 도 22a를 참조하면, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 뮤추얼 커패시턴스 방식에 기반하여 제 1 신호 데이터(2210)를 획득하고, 셀프 커패시턴스 방식에 기반하여 제 2 신호 데이터(2211)를 획득할 수 있다. 정상적인 경우에는, 제 1 신호 데이터(2210)에서 임계치를 초과한 데이터들의 노드들의 위치가, 제 2 신호 데이터(2211)에서 임계치를 초과한 데이터들의 채널의 위치가 서로 대응될 수 있다.

예를 들어, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 제 1 신호 데이터(2210)의 프로파일 형태와 제 2 신호 데이터(2211)의 형태가 대응됨을 확인하고, 전자 장치(101)가 인-포켓 상태이며, 허벅지 터치 상태임을 확인할 수 있다.

또 다른 실시예로, 도 22b를 참조하면, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 뮤추얼 커패시턴스 방식에 기반하여 제 1 신호 데이터(2220)를 획득하고, 셀프 커패시턴스 방식에 기반하여 제 2 신호 데이터(2221)를 획득할 수 있다. 도 22b에 도시된 신호 데이터는 인-포켓 조건과 맞는 에너지 형태(예: 에너지의 합)를 가지지만, 인접 노드 간 굴곡이 크며, 형태가 원형이 아니므로, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는, 인-포켓 상태가 아니고, 자석 또는 수분 등에 의한 터치인 것으로 확인할 수 있다.

도 23은 다양한 실시예들에 따른, 전자 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도를 도시한다. 도 23은 추가적으로 다른 센서로부터의 센싱 데이터를 추가적으로 이용하여, 귀 터치와 연관된 정보를 확인하는 실시예를 설명하기 위한 것이다.

다양한 실시예에 따라, 2310 동작에서, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120)는 터치 회로(250)로부터 신호 데이터에 기반한 전자 장치(101)의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 획득(예: 수신)할 수 있다. 2320 동작에서, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120)는 적어도 하나의 센서(예: 센서 모듈(176))로부터 센싱 정보를 획득(예: 수신)할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 센서는 자이로 센서, 가속도 센서, 조도 센서, 또는 초음파 센서 등일 수 있다. 프로세서(120)가 추가적으로 이용하는 센서의 종류에는 제한이 없다.

다양한 실시예에 따라, 2330 동작에서, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120)는 터치 회로(250)로부터 획득된 신호 데이터에 기반한 전자 장치(101)의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보 및 적어도 하나의 센서(예: 센서 모듈(176))로부터 획득된 센싱 정보에 기반하여 터치 회로(250)로부터 획득된 터치와 연관된 정보를 무시할지 여부를 결정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120))는 터치 회로(250)로부터 획득된 신호 데이터에 기반하여 전자 장치(101)가 인-포켓 상태의 조건을 만족하더라도, 조도 센서, 자이로 센서 및/또는 가속도 센서로부터의 센싱 정보를 추가로 고려하였을 때 인-포켓 상태가 아닌 것으로 확인할 수 있다.

예를 들어, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120))는 터치 회로(250)로부터 획득된 신호 데이터 및 조도 센서로부터 획득된 센싱 정보에 기반하여 전자 장치(101)가 인-포켓 상태의 조건을 만족하면, 입력된 터치가 오동작인 것으로 확인하고, 입력된 터치에 대응하여 디스플레이를 온 모드로 전환하고 오동작 방지 필터를 디스플레이하거나, 터치가 입력되어도 디스플레이를 온 모드로 전환하지 않을 수 있다. 이때, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 본 개시에 따른 베이스라인 리셋 동작을 수행할 수 있다.

또 다른 실시 예로, 터치 회로(250)로부터 획득된 신호 데이터에 기반하면 전자 장치(101)가 인-포켓 상태의 조건을 만족하나, 조도 센서에 의해 획득된 조도 값이 지정된 값 이상이거나, 자이로 센서 및/또는 가속도 센서로부터 획득된 센싱 정보가 주머니에서 전자 장치(101)를 꺼낼 때의 신호 형태를 포함하면, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120))는 전자 장치(101)가 인-포켓 상태가 아닌 것으로 판단할 수 있다. 다양한 실시예에 따라, 전자 장치(101)(예: 프로세서(120))는 전자 장치(101)가 인-포켓 상태가 아닌 것으로 판단되면, 터치에 대응되는 동작을 수행할 수 있다. 이때, 전자 장치(101)(예: 터치 회로(250))는 본 개시에 따른 베이스라인 리셋 동작을 수행할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는, 프로세서(예: 프로세서(120)) 및 상기 프로세서(예: 프로세서(120))로, 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로(예: 터치 회로(250))를 포함하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값들을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고, 상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 지정된 조건은, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 채널들과 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 채널들을 포함하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서, 상기 복수의 전송 채널들 중 제 1 전송 채널의 커패시턴스와 연관된 값을 획득하고, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서 획득한 커패시턴스와 연관된 값에 기반하여 상기 제 1 로우 데이터를 생성하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 베이스라인이 생성된 이후, 상기 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 1 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서(예: 프로세서(120))에게 출력하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로, 상기 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 3 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 3 로우 데이터에 기반하여 제 2 베이스라인을 생성하고, 상기 제 2 베이스라인으로 상기 제 1 베이스라인을 리셋하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 2 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하고, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서(예: 프로세서(120))에게 출력하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 채널에 대응하는 데이터와 상기 제 2 채널에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우, 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제외한 제 1 로우 데이터 중 적어도 일부를 이용하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 보정하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 동작의 적어도 일부로서, 지정된 이벤트 발생 여부를 확인하고, 상기 지정된 이벤트가 발생하는지 여부에 기반하여 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 상기 지정된 이벤트는, 디스플레이 모드 전환, 외부 장치 연결 감지, 사용자의 파지 감지, RF 노이즈 감지 중 적어도 일부를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 터치 회로(예: 터치 회로(250)) 및 프로세서(예: 프로세서(120))를 포함하는 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 동작 방법은, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하는 동작, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하는 동작, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 동작 및 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치회로는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 채널들과 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 채널들을 포함하고, 상기 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작은, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서, 상기 복수의 전송 채널들 중 제 1 전송 채널의 커패시턴스와 연관된 값을 획득하고, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서 획득한 커패시턴스와 연관된 값에 기반하여 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 제 1 베이스라인이 생성된 이후, 상기 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하는 동작 및 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 프로세서(예: 프로세서(120))에게 상기 제 1 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 출력하는 동작을 더 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하는 동작 및 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))에 의하여, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하는 동작을 더 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작은, 상기 제 3 로우 데이터에 기반하여 제 2 베이스라인을 생성하여 상기 제 2 베이스라인으로 상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 동작, 상기 제 2 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하는 동작 및 기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는, 프로세서(예: 프로세서(120)) 및 상기 프로세서(예: 프로세서(120))로, 상기 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로(예: 터치 회로(250))를 포함하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 제 1 시점에서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 생성하고, 제 2 시점에서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))의 복수의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하고, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치 이하인 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 1 방식으로 처리하고, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치를 초과하는 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 2 방식으로 처리하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 1 방식으로 처리하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 베이스라인과 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터에 기반하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 신호 데이터를 생성하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제 2 방식으로 처리하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 베이스라인을 보정하고, 상기 보정된 베이스라인과 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터에 기반하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 신호 데이터를 생성하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는, 프로세서 및 상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 전극들에 대응하는 복수의 전송 채널들과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 전극들에 대응하는 복수의 수신 채널들을 포함하고, 상기 복수의 전송 전극들과 상기 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터(signal data)를 생성하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고-상기 신호 데이터는, 상기 노드 각각에 대응하는 데이터를 포함함-, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족함에 반응하여, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하지 않음에 반응하여, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서에게 출력하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 지정된 조건은, 상기 신호 데이터 중 적어도 일부가 음성(negative) 인 제 1 임계값보다 작은 값인 경우를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로, 상기 제 1 임계값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역의 신호 데이터를 무시하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 지정된 조건은, 신호 데이터 중 크기가 제 2 임계값을 초과하는 노드의 수가 제 3 임계값을 초과하는 경우를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로, 상기 신호 데이터 중 크기가 제 2 임계값을 초과하는 노드를 포함하는 영역의 신호 데이터를 무시하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 지정된 조건은, 상기 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작의 확인의 연속적인 실패 횟수가 설정된 횟수 이상인지 여부를 포함하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로, 상기 지정된 조건을 만족한 시점 이후부터 설정된 시간 동안 상기 신호 데이터를 무시하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서 , 전자 장치(예: 전자 장치(101))는, 프로세서 및

상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고, 상기 터치 회로는, 상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 획득하고, 상기 제 1 로우 데이터 및 현재의 제 1 베이스라인(baseline)에 기반하여 신호 데이터를 획득하고, 상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제1 베이스라인의 리셋 여부를 확인하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 지정된 조건은, 상기 신호 데이터가 오터치인 것으로 판단된 경우 또는, 상기 신호 데이터의 값이 기설정된 임계값 범위를 만족하는 경우 중 적어도 하나를 포함하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 지정된 조건이 만족되면 상기 제1 베이스라인의 리셋을 지연하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제1 베이스라인의 리셋을 지연한 상태에서, 상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제2 로우 데이터를 획득하고, 상기 제1 베이스라인 및 상기 제2 로우 데이터에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득하고, 상기 제2 신호 데이터에 오류가 있는 것으로 판단되면, 상기 제1 베이스라인을 리셋하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 메모리(예: 메모리(130))를 더 포함하고, 상기 메모리는, 터치 입력이 없을 때 획득된 기준 베이스 라인에 대한 정보를 저장하고, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 상기 제1 베이스라인을 제2 베이스라인으로 리셋한 이후, 상기 제2 베이스라인 중 인접하는 제1 채널 및 제2 채널 각각에 대응하는 값 사이의 차이가 임계값을 초과하거나, 상기 제2 베이스 라인과 상기 기준 베이스 라인의 차이가 임계값을 초과하는 하나 이상의 채널이 존재하는 경우, 상기 제2 베이스라인을 상기 기준 베이스라인으로 변경할 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 상기 터치 회로(예: 터치 회로(250))는, 제1 방식에 기반하여 제1 신호 데이터를 획득하고, 제2 방식에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득하고, 상기 제1 신호 데이터 및 상기 제2 신호 데이터에 중 하나에 오류가 있는 경우, 오류를 가지지 않는 신호 데이터에 기반하여 터치와 연관된 정보를 확인하고, 상기 오류가 발생한 방식의 파라미터를 조정하도록 설정될 수 있다.

다양한 실시예에 따라서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))적어도 하나의 센서(예: 센서 모듈(176))를 더 포함하고, 상기 프로세서(예: 프로세서(120))는, 상기 터치 회로로부터 상기 신호 데이터에 기반한 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 획득하고, 상기 적어도 하나의 센서로부터 센싱 정보를 획득하고, 상기 터치 회로로부터 수신된 터치와 연관된 정보 및 상기 적어도 하나의 센서로부터 획득된 센싱 정보에 기반하여 상기 터치 회로로부터 수신된 터치와 연관된 정보를 무시할지 여부를 결정할 수 있다.

본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 마스터 장치 또는 태스크 수행 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 마스터 장치 또는 태스크 수행 장치는, 예를 들면, 컴퓨터 장치, 휴대용 통신 장치 (예: 스마트폰), 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시예에 따른 마스터 장치 또는 태스크 수행 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.

본 문서의 다양한 실시예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나, 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.

본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.

본 문서의 다양한 실시예들은 기기(machine)(예: 마스터 장치 또는 태스크 수행 장치) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램)로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 마스터 장치 또는 태스크 수행 장치)의 프로세서는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체 는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, "비일시적"은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.

일실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두개의 사용자 장치들(예: 스마트폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

Claims

전자 장치에 있어서,
프로세서; 및
상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고,
상기 터치 회로는,
상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하고,
상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하고,
상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고,
상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하도록 설정된 전자 장치.
제1항에 있어서,
상기 지정된 조건은, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우를 포함하는 전자 장치.
제2항에 있어서,
상기 터치 회로는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 채널들과 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 채널들을 포함하고,
상기 터치 회로는, 상기 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작의 적어도 일부로서,
상기 복수의 수신 채널들 각각에서, 상기 복수의 전송 채널들 중 제 1 전송 채널의 커패시턴스와 연관된 값을 획득하고, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서 획득한 커패시턴스와 연관된 값에 기반하여 상기 제 1 로우 데이터를 생성하도록 설정된 전자 장치.
제1항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 베이스라인이 생성된 이후, 상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하고,
상기 제 1 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하도록 설정된 전자 장치.
제4항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서에게 출력하도록 설정된 전자 장치.
제4항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하도록 설정된 전자 장치.
제6항에 있어서,
상기 터치 회로는, 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로,
상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 3 로우 데이터를 생성하고,
상기 제 3 로우 데이터에 기반하여 제 2 베이스라인을 생성하고, 상기 제 2 베이스라인으로 상기 제 1 베이스라인을 리셋하도록 설정된 전자 장치.
제7항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 2 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하고,
상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서에게 출력하도록 설정된 전자 장치.
제2항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 채널에 대응하는 데이터와 상기 제 2 채널에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우, 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제외한 제 1 로우 데이터 중 적어도 일부를 이용하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 보정하도록 설정된 전자 장치.
제1항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 동작의 적어도 일부로서,
지정된 이벤트 발생 여부를 확인하고,
상기 지정된 이벤트가 발생하는지 여부에 기반하여 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하도록 설정된 전자 장치.
제10항에 있어서,
상기 지정된 이벤트는, 디스플레이 모드 전환, 외부 장치 연결 감지, 사용자의 파지 감지 또는 RF 노이즈 감지 중 적어도 하나를 포함하는 전자 장치.
터치 회로 및 프로세서를 포함하는 전자 장치의 동작 방법에 있어서,
상기 터치 회로에 의하여, 상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 생성하는 동작;
상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 제 1 베이스라인(baseline)을 생성하는 동작;
상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 로우 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하는 동작; 및
상기 터치 회로에 의하여, 상기 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제 1 베이스라인의 리셋(reset) 여부를 확인하는 동작;을 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
제12항에 있어서,
상기 지정된 조건은, 상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터 사이의 차이가 임계치를 초과하는 경우를 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
제13항에 있어서,
상기 터치회로는, 제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 채널들과 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 채널들을 포함하고,
상기 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작은,
상기 복수의 수신 채널들 각각에서, 상기 복수의 전송 채널들 중 제 1 전송 채널의 커패시턴스와 연관된 값을 획득하고, 상기 복수의 수신 채널들 각각에서 획득한 커패시턴스와 연관된 값에 기반하여 제 1 로우 데이터를 생성하는 동작;을 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
제12항에 있어서,
상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 베이스라인이 생성된 이후, 상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하는 동작; 및
상기 터치 회로에 의하여, 상기 프로세서에게 상기 제 1 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 출력하는 동작;을 더 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
제15항에 있어서,
상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하지 않는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하는 동작; 및
상기 터치 회로에 의하여, 상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 것으로 확인되면, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하는 동작;을 더 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
제16항에 있어서,
상기 신호 데이터를 무시하는 동작은,
상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 3 로우 데이터를 생성하는 동작;
상기 제 3 로우 데이터에 기반하여 제 2 베이스라인을 생성하여 상기 제 2 베이스라인으로 상기 제 1 베이스라인을 리셋하는 동작;
상기 제 2 베이스라인 및 상기 제 2 로우 데이터에 기반하여 신호 데이터를 생성하는 동작; 및
상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하는 동작;을 포함하는 전자 장치의 동작 방법.
전자 장치에 있어서,
프로세서; 및
상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고,
상기 터치 회로는,
제 1 시점에서, 상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우 데이터를 생성하고,
상기 제 1 로우 데이터에 기반하여 베이스라인을 생성하고,
제 2 시점에서, 상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 2 로우 데이터를 생성하고,
상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치 이하인 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 1 방식으로 처리하고,
상기 제 1 로우 데이터 중 인접하는 제 1 채널 및 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터들 사이의 차이가 임계치를 초과하는 것에 기반하여, 상기 제 2 로우 데이터 중 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터를 제 2 방식으로 처리하도록 설정된 전자 장치.
제18항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 1 방식으로 처리하는 동작의 적어도 일부로서,
상기 베이스라인과 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터에 기반하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 신호 데이터를 생성하도록 설정된 전자 장치.
제18항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제 2 방식으로 처리하는 동작의 적어도 일부로서,
상기 베이스라인을 보정하고,
상기 보정된 베이스라인과 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 데이터에 기반하여 상기 제 1 채널 및 상기 제 2 채널 각각에 대응하는 신호 데이터를 생성하도록 설정된 전자 장치.
전자 장치에 있어서,
프로세서; 및
상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로를 포함하고,
상기 터치 회로는,
제 1 방향으로 배열된 복수의 전송 전극들에 대응하는 복수의 전송 채널들과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 배열된 복수의 수신 전극들에 대응하는 복수의 수신 채널들을 포함하고,
상기 복수의 전송 전극들과 상기 복수의 수신 전극들이 교차하는 노드 별 커패시턴스와 연관된 값들에 기반하여 신호 데이터(signal data)를 생성하고-상기 신호 데이터는, 상기 노드 각각에 대응하는 데이터를 포함함-,
상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부를 확인하고,
상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족함에 반응하여, 상기 신호 데이터를 무시(discard)하고,
상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하지 않음에 반응하여, 상기 신호 데이터에 기반하여 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 상기 프로세서에게 출력하도록 설정된 전자 장치.
제21항에 있어서,
상기 지정된 조건은, 상기 신호 데이터 중 적어도 일부가 음성(negative) 인 제 1 임계값보다 작은 값인 경우를 포함하는 전자 장치.
제22항에 있어서,
상기 터치 회로는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로,
상기 제 1 임계값보다 작은 값을 가지는 노드를 포함하는 영역의 신호 데이터를 무시하도록 설정된 전자 장치.
제21항에 있어서,
상기 지정된 조건은, 신호 데이터 중 크기가 제 2 임계값을 초과하는 노드의 수가 제 3 임계값을 초과하는 경우를 포함하는 전자 장치.
제24항에 있어서,
상기 터치 회로는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로,
상기 신호 데이터 중 크기가 제 2 임계값을 초과하는 노드를 포함하는 영역의 신호 데이터를 무시하도록 설정된 전자 장치.
제21항에 있어서,
상기 지정된 조건은, 상기 신호 데이터에 기반한 입력에 대응하는 동작의 확인의 연속적인 실패 횟수가 설정된 횟수 이상인지 여부를 포함하고,
상기 터치 회로는, 상기 신호 데이터를 무시하는 동작의 적어도 일부로, 상기 지정된 조건을 만족한 시점 이후부터 설정된 시간 동안 상기 신호 데이터를 무시하도록 설정된 전자 장치.
전자 장치에 있어서,
프로세서; 및
상기 프로세서로, 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 출력하도록 설정된 터치 회로;를 포함하고,
상기 터치 회로는,
상기 터치 회로의 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제 1 로우(raw) 데이터를 획득하고,
상기 제 1 로우 데이터 및 현재의 제 1 베이스라인(baseline)에 기반하여 신호 데이터를 획득하고,
상기 신호 데이터가 지정된 조건을 만족하는지 여부에 기반하여 상기 제1 베이스라인의 리셋 여부를 확인 하도록 설정된 전자 장치.
제27항에 있어서,
상기 지정된 조건 은, 상기 신호 데이터가 오터치인 것으로 판단된 경우 또는, 상기 신호 데이터의 값이 기설정된 임계값 범위를 만족하는 경우 중 적어도 하나를 포함하고,
상기 터치 회로는,
상기 지정된 조건이 만족되면 상기 제1 베이스라인의 리셋을 지연하도록 설정된 전자 장치.
제28항에 있어서,
상기 터치 회로는,
상기 제1 베이스라인의 리셋을 지연한 상태에서, 상기 복수 개의 채널 별 커패시턴스와 연관된 값을 포함하는 제2 로우 데이터를 획득하고,
상기 제1 베이스라인 및 상기 제2 로우 데이터에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득하고,
상기 제2 신호 데이터에 오류가 있는 것으로 판단되면, 상기 제1 베이스라인을 리셋 하도록 설정된 전자 장치.
제27항에 있어서,
메모리;를 더 포함하고,
상기 메모리는,
터치 입력이 없을 때 획득된 기준 베이스 라인에 대한 정보를 저장하고,
상기 터치 회로는 ,
상기 제1 베이스라인을 제2 베이스라인으로 리셋한 이후, 상기 제2 베이스라인 중 인접하는 제1 채널 및 제2 채널 각각에 대응하는 값 사이의 차이가 임계값을 초과하거나, 상기 제2 베이스 라인과 상기 기준 베이스 라인의 차이가 임계값을 초과하는 하나 이상의 채널이 존재하는 경우, 상기 제2 베이스라인을 상기 기준 베이스라인으로 변경하는 전자 장치.
제27항에 있어서,
상기 터치 회로는,
제1 방식에 기반하여 제1 신호 데이터를 획득하고,
제2 방식에 기반하여 제2 신호 데이터를 획득하고,
상기 제1 신호 데이터 및 상기 제2 신호 데이터에 중 하나에 오류가 있는 경우, 오류를 가지지 않는 신호 데이터에 기반하여 터치와 연관된 정보를 확인하고,
상기 오류가 발생한 방식의 파라미터를 조정하도록 설정된 전자 장치.
제27항에 있어서,
적어도 하나의 센서;를 더 포함하고,
상기 프로세서는,
상기 터치 회로로부터 상기 신호 데이터에 기반한 상기 전자 장치의 적어도 일면에 대한 터치와 연관된 정보를 획득하고,
상기 적어도 하나의 센서로부터 센싱 정보를 획득하고,
상기 터치 회로로부터 수신된 터치와 연관된 정보 및 상기 적어도 하나의 센서로부터 획득된 센싱 정보에 기반하여 상기 터치 회로로부터 수신된 터치와 연관된 정보를 무시할지 여부를 결정하는 전자 장치.