KR20200053198A - Spi 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, spi 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템 - Google Patents

Spi 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, spi 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템 Download PDF

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KR20200053198A KR1020180136508A KR20180136508A KR20200053198A KR 20200053198 A KR20200053198 A KR 20200053198A KR 1020180136508 A KR1020180136508 A KR 1020180136508A KR 20180136508 A KR20180136508 A KR 20180136508A KR 20200053198 A KR20200053198 A KR 20200053198A
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Abstract

본 발명은 배터리 관리 시스템(BMS) 내 다수의 SPI 통신라인에 결함신호(Fault signal)을 인가시킨 후, BMS의 출력값이 정상적이지 않고 결함신호에 대응한 값이 출력되는 경우 SPI 통신라인에 문제가 발생된 것으로 판단하는 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것이다.

Description

SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템{SYSTEM AND METHOD FOR DIAGNOSING THE RELIABILITY OF SPI COMMUNICATION INFORMATION, BMS INCLUDES A SYSTEM FOR DIAGNOSING THE RELIABILITY OF SPI COMMUNICATION INFORMATION}
본 발명은 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, 배터리 관리 시스템(BMS) 내 다수의 SPI 통신라인에 결함신호(Fault signal)을 인가시킨 후, BMS의 출력값이 정상적이지 않고 결함신호에 대응한 값이 출력되는 경우 SPI 통신라인에 문제가 발생된 것으로 판단하는 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것이다.
일반적으로, 배터리 관리 시스템(BMS)은 배터리 팩 및 배터리 셀의 상태 정보와, BMS의 상태, 진단정보 전달을 위해, CAN 통신, LIN 통신, Daisy-chain 통신, SPI 통신 등과 같은 통신방식을 통해 차량과 통신하게 된다
이때, SPI 통신의 경우 통신 프로토콜 자체적으로 통신 문제성 혹은 통신하는 정보의 신뢰성을 확인하는 로직이 없기 때문에, 해당 정보가 신뢰할 만한 정보인지 여부를 판단할 수 없다는 단점이 있다.
따라서, 현재 차량의 안전과 직결되는 통신기능 중 하나인 SPI 통신 정보가 신뢰할 만한 정보인지 여부를 진단하기 위한 기술의 필요성이 대두되고 있다.
한국공개특허 제10-2014-0072265호
본 발명은 상술된 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 배터리 관리 시스템(BMS) 내 다수의 SPI 통신라인에 결함신호(Fault signal)을 인가시킨 후, BMS의 출력값이 정상적이지 않고 결함신호에 대응한 값이 출력되는 경우 SPI 통신라인에 문제가 발생된 것으로 판단하는 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템 및 진단 방법, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 배터리 관리 시스템을 제공하고자 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템은 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 SPI 통신라인 선택부, 선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 결함신호 인가부 및 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 판단부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 SPI 통신라인은 칩 선택(CS) 통신라인에 해당하고, 상기 제2 SPI 통신라인은 클럭(CLK) 통신라인에 해당하며, 상기 제3 SPI 통신라인은 마스터 아웃 슬레이브 인(MOSI) 통신라인에 해당하고, 상기 제4 SPI 통신라인은 마스터 인 슬레이브 아웃(MISO) 통신라인에 해당할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 결함신호 인가부는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 전원(Vcc) 쇼트 신호 및 그라운드(GND) 쇼트 신호를 각각 순차적으로 인가하며, 상기 판단부는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 어느 하나가 상기 전원 쇼트 신호 또는 상기 그라운드 쇼트 신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 결함신호 인가부는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 전원 쇼트 신호의 인가가 완료되는 경우 상기 그라운드 쇼트 신호를 순차적으로 인가할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 결함신호 인가부는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호 및 상기 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법은 SPI 통신라인 선택부를 통해, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 단계, 결함신호 인가부를 통해, 선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 단계 및 판단부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는, 상기 결함신호 인가부를 통해 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 전원(Vcc) 쇼트 신호 및 그라운드(GND) 쇼트 신호를 각각 순차적으로 인가하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 어느 하나가 상기 전원 쇼트 신호 또는 상기 그라운드 쇼트 신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 판단부를 통해 상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는 상기 결함신호 인가부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 전원 쇼트 신호의 인가가 완료되는 경우 상기 그라운드 쇼트 신호를 순차적으로 인가하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는 상기 결함신호 인가부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호 및 상기 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 배터리 관리 시스템은 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 SPI 통신라인 선택부, 선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 결함신호 인가부 및 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 판단부가 포함된 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 다수의 SPI 통신라인 별로 인가된 결함신호의 결과로써, BMS의 출력값이 정상적이지 않고 결함신호에 대응한 값이 출력되는 경우 SPI 통신라인에 문제가 발생된 것으로 판단함으로써, BMS가 SPI 통신과 연관된 정확한 출력값을 출력하는지 여부를 확인할 수 있는 이점을 가진다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템(100)의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 판단부(130)에서 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하기 위한 출력값과 기준값을 비교하는 비교 테이블을 도시한 도면이다.
도 3은 도 1에 도시된 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템(100)을 통한 SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법을 순서대로 도시한 도면이다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시한다. 그러나 하기의 실시예는 본 발명을 보다 쉽게 이해하기 위하여 제공되는 것일 뿐, 실시예에 의해 본 발명의 내용이 한정되는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템(100)의 구성을 도시한 도면이다.
도 1을 살펴보면, 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템(100)은 크게 SPI 통신라인 선택부(110), 결함신호 인가부(120) 및 판단부(130)를 포함하여 구성될 수 있다.
SPI 통신라인 선택부(110)는 BMS 내에 마련된 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터(Digital Isolator) 사이를 연결하는 하나 이상의 SPI 통신라인(예컨대, CS 라인, CLK 라인, MOSI 라인, MISO 라인 등) 중에서 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이를 연결하는 하나 이상의 SPI 통신라인(예컨대, CS 라인, CLK 라인, MOSI 라인, MISO 라인 등) 중에서 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 역할을 한다.
이때, 제1 SPI 통신라인은 칩 선택(CS) 통신라인에 해당하고, 제2 SPI 통신라인은 클럭(CLK) 통신라인에 해당하며, 제3 SPI 통신라인은 마스터 아웃 슬레이브 인(MOSI) 통신라인에 해당하고, 제4 SPI 통신라인은 마스터 인 슬레이브 아웃(MISO) 통신라인에 해당할 수 있다.
따라서, 후술되는 판단부(130)에서는 이러한 제1 내지 제2 SPI 통신라인으로부터 출력되는 출력값이 정상범위를 벗어나는지 유무를 토대로 SPI 통신라인에 문제가 발생하였는지 여부를 판단하게 된다. 이에 관해서는 도 2를 통해 보다 구체적으로 살펴보기로 한다.
결함신호 인가부(120)는 선택된 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)을 인위적으로 인가하는 역할을 한다.
보다 구체적으로, 결함신호라 함은 결함인가(Fault Injection) 테스트를 위한 일종의 노이즈 신호를 의미할 수 있는데, 예컨대 5V(전압)의 전원(Vcc) 쇼트 신호와 그라운드(GND) 쇼트 신호가 해당될 수 있다.
따라서, 결함신호 인가부(120)는 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 전원 쇼트 신호(5V Short) 및 그라운드 쇼트 신호(GND Short)를 인가하게 된다.
이때, 결함신호 인가부(120)는 일 실시예에서 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 우선 전원 쇼트 신호를 순차적으로 인가하고, 전원 쇼트 신호의 인가가 완료된 후 차순으로써 그라운드 쇼트 신호를 순차적으로 인가하게 된다.
또한 다른 일 실시예에서 결함신호 인가부(120)는 제1 SPI 통신라인에 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가한 후, 제2 SPI 통신라인, 제3 SPI 통신라인, 제4 SPI 통신라인 순으로 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가할 수도 있다.
판단부(130)는 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값, 보다 구체적으로 결함신호 인가부(120)를 통한 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 전 출력값과, 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 후 출력값을 서로 비교한 후, 만약 어느 하나의 출력값에서 변경된 출력값이 존재할 경우 SPI 통신라인에 문제가 발생되어 신뢰성이 저하된 것으로 판단하게 된다. 이러한 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 전, 인가 후를 비교하는 비교 테이블에 대해서는 도 2를 통해 살펴보기로 한다.
도 2는 도 1에 도시된 판단부(130)에서 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하기 위한 출력값과 기준값을 비교하는 비교 테이블을 도시한 도면이다.
도 2를 살펴보면, 도 1의 SPI 통신라인 선택부(110)를 통해 선택된 4개의 SPI 통신라인(CS, CLK, MOSI, MISO) 별로 전원 쇼트 신호(5V Short)가 인가된 경우의 출력값과, 그라운드 쇼트 신호(GND Short)가 인가된 경우의 출력값이 도시되어 있다. 이때, 일반적인 기준이 되는 PackV의 출력값은 348V, ISO5V의 출력값은 5V, ISO2.5V의 출력값은 2.5V 인 것으로 가정하며, 이 경우 도 1의 판단부(130)에서는 SPI 통신라인에 이상이 없고 신뢰할 만한 통신정보가 제공되는 것으로 판단하게 된다.
먼저, 제1 SPI 통신라인인 CS 통신라인을 살펴보면, 그라운드 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to GND)에서 PackV의 출력값은 347.86V, ISO5V의 출력값은 5.013V, ISO2.5V의 출력값은 2.516V을 나타내고, 전원 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to 5VCC)에서 PackV의 출력값은 0V, ISO5V의 출력값은 0V, ISO2.5V의 출력값은 0V을 나타낸다.
이 경우, 도 1의 판단부(130)는 제1 SPI 통신라인은 신뢰할 만한 SPI 통신이 이루어지는 것으로 판단하게 된다.
다음으로, 제2 SPI 통신라인인 CLK 통신라인을 살펴보면, 그라운드 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to GND)에서 PackV의 출력값은 0V, ISO5V의 출력값은 0V, ISO2.5V의 출력값은 0V을 나타내고, 전원 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to 5VCC)에서 PackV의 출력값은 0V, ISO5V의 출력값은 0V, ISO2.5V의 출력값은 0V을 나타낸다.
이 경우, 도 2의 판단부(130)는 제2 SPI 통신라인은 신뢰할 만한 SPI 통신이 이루어지는 것으로 판단하게 된다.
다음으로, 제3 SPI 통신라인인 MOSI 통신라인을 살펴보면, 그라운드 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to GND)에서 PackV의 출력값은 348.1V, ISO5V의 출력값은 6.984V, ISO2.5V의 출력값은 3.496V을 나타내고, 전원 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to 5VCC)에서 PackV의 출력값은 0V, ISO5V의 출력값은 0V, ISO2.5V의 출력값은 0V을 나타낸다.
이 경우, 도 2의 판단부(130)는 제3 SPI 통신라인은 현재 그라운드 쇼트 신호가 인가된 상태에서의 출력값이 정상상태에서의 출력값(기준 출력값) 대비 비정상적인 것으로 판단하여, 제3 SPI 통신라인인 MOSI 통신라인은 신뢰할 만한 SPI 통신이 이루어지지 못한 것으로 판단하게 된다.
다음으로, 제4 SPI 통신라인인 MISO 통신라인을 살펴보면, 그라운드 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to GND)에서 PackV의 출력값은 0V, ISO5V의 출력값은 0V, ISO2.5V의 출력값은 0V을 나타내고, 전원 쇼트 신호가 인가된 상태(Short to 5VCC)에서 PackV의 출력값은 500V, ISO5V의 출력값은 10V, ISO2.5V의 출력값은 5V을 나타낸다.
이 경우, 도 2의 판단부(130)는 제4 SPI 통신라인은 현재 전원 쇼트 신호가 인가된 상태에서의 출력값이 정상상태에서의 출력값(기준 출력값) 대비 비정상적인 것으로 판단하여, 제4 SPI 통신라인인 MISO 통신라인은 신뢰할 만한 SPI 통신이 이루어지지 못한 것으로 판단하게 된다.
한편, 상기의 비교 테이블에 기재된 수치는 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 전 출력값과, 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 후 출력값을 서로 비교하기 위한 일 예로써 설명한 것으로서, 본원발명은 상기의 수치에 국한되지 않는다.
다음으로는, 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 전 출력값과, 전원 쇼트 신호 및 그라운드 쇼트 신호의 인가 후 출력값을 서로 비교함으로써 SPI 통신정보 신뢰성을 진단하기 위한 방법(과정)을 순서대로 살펴보기로 한다.
도 3은 도 1에 도시된 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템(100)을 통한 SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법을 순서대로 도시한 도면이다.
도 3을 살펴보면, 먼저 SPI 통신라인 선택부를 통해, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하고(S301), 결함신호 인가부를 통해 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하며(S302), 판단부에서 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값과 기준 출력값을 비교 테이블을 기초로 비교하여(S303) 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하게 된다(S304).
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템
110: SPI 통신라인 선택부
120: 결함신호 인가부
130: 판단부

Claims (12)

  1. 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 SPI 통신라인 선택부;
    선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 결함신호 인가부; 및
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 판단부;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 SPI 통신라인은 칩 선택(CS) 통신라인에 해당하고,
    상기 제2 SPI 통신라인은 클럭(CLK) 통신라인에 해당하며,
    상기 제3 SPI 통신라인은 마스터 아웃 슬레이브 인(MOSI) 통신라인에 해당하고,
    상기 제4 SPI 통신라인은 마스터 인 슬레이브 아웃(MISO) 통신라인에 해당하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 결함신호 인가부는,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 전원(Vcc) 쇼트 신호 및 그라운드(GND) 쇼트 신호를 각각 순차적으로 인가하며,
    상기 판단부는 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 어느 하나가 상기 전원 쇼트 신호 또는 상기 그라운드 쇼트 신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 결함신호 인가부는,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 전원 쇼트 신호의 인가가 완료되는 경우 상기 그라운드 쇼트 신호를 순차적으로 인가하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 결함신호 인가부는,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호 및 상기 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템.
  6. SPI 통신라인 선택부를 통해, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 단계;
    결함신호 인가부를 통해, 선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 단계; 및
    판단부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 SPI 통신라인은 칩 선택(CS) 통신라인에 해당하고,
    상기 제2 SPI 통신라인은 클럭(CLK) 통신라인에 해당하며,
    상기 제3 SPI 통신라인은 마스터 아웃 슬레이브 인(MOSI) 통신라인에 해당하고,
    상기 제4 SPI 통신라인은 마스터 인 슬레이브 아웃(MISO) 통신라인에 해당하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는, 상기 결함신호 인가부를 통해 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 전원(Vcc) 쇼트 신호 및 그라운드(GND) 쇼트 신호를 각각 순차적으로 인가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계는,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 어느 하나가 상기 전원 쇼트 신호 또는 상기 그라운드 쇼트 신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 판단부를 통해 상기 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는,
    상기 결함신호 인가부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 전원 쇼트 신호의 인가가 완료되는 경우 상기 그라운드 쇼트 신호를 순차적으로 인가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호를 인가하는 단계는,
    상기 결함신호 인가부를 통해, 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 상기 전원 쇼트 신호 및 상기 그라운드 쇼트 신호 각각을 번갈아가며 순차적으로 인가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, SPI 통신정보 신뢰성 진단 방법.
  12. 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와 디지털 아이솔레이터 사이에 연결된 하나 이상의 에스피아이(SPI) 통신라인 중 제1 및 제2 SPI 통신라인을 선택하고, 상기 디지털 아이솔레이터와 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 사이에 연결된 하나 이상의 SPI 통신라인 중 제3 및 제4 SPI 통신라인을 선택하는 SPI 통신라인 선택부, 선택된 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인 각각에 결함신호(Fault signal)를 인가하는 결함신호 인가부 및 상기 제1 내지 제4 SPI 통신라인의 출력값 중 상기 결함신호에 의한 변경된 출력값이 하나 이상 존재하는 경우, 상기 ADC, 상기 디지털 아이솔레이터 및 상기 MCU를 서로 연결하는 SPI 통신라인에 문제가 발생한 것으로 판단하는 판단부가 포함된 SPI 통신정보 신뢰성 진단 시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는, 배터리 관리 시스템.
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