KR20200044586A - Method for Light Test of Display Panel - Google Patents

Method for Light Test of Display Panel Download PDF

Info

Publication number
KR20200044586A
KR20200044586A KR1020180125558A KR20180125558A KR20200044586A KR 20200044586 A KR20200044586 A KR 20200044586A KR 1020180125558 A KR1020180125558 A KR 1020180125558A KR 20180125558 A KR20180125558 A KR 20180125558A KR 20200044586 A KR20200044586 A KR 20200044586A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
lighting
image
lighting pattern
pattern
Prior art date
Application number
KR1020180125558A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이승원
Original Assignee
이승원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이승원 filed Critical 이승원
Priority to KR1020180125558A priority Critical patent/KR20200044586A/en
Publication of KR20200044586A publication Critical patent/KR20200044586A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
    • G06F7/60—Methods or arrangements for performing computations using a digital non-denominational number representation, i.e. number representation without radix; Computing devices using combinations of denominational and non-denominational quantity representations, e.g. using difunction pulse trains, STEELE computers, phase computers
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

Disclosed is a display panel lighting inspection method comprising: a positioning step of disposing a display panel having a plurality of pixels on the front of a photographing module so that the display panel and the photographing module face each other; a lighting step of enabling some of the display panels to light up so as to generate a lighting pattern; a detection step of allowing the photographing module to capture a first image of the display panel in which the lighting pattern is lit, and detecting lighting pattern coordinates from the first image; a table forming step of forming a matching table by matching location information of the lighting pattern lit on the display panel with coordinate points of the lighting pattern detected in the first image; a photographing step of lighting the display panel to capture a second image including an inspection pattern; and an inspection step of applying the second image to the matching table to derive the position of a defective pixel in the display panel. The display panel lighting inspection method can accurately grasp a bad pixel location in an actual display panel.

Description

디스플레이 패널 점등 검사방법{Method for Light Test of Display Panel}Display panel lighting inspection method {Method for Light Test of Display Panel}

본 발명은 제조된 디스플레이 패널의 점등검사를 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법에 관한 것으로서 보다 상세하게는, 디스플레이 패널과 이를 촬영한 이미지에서의 픽셀 차이를 통해 매칭테이블을 형성한 후 이를 이용하여 디스플레이패널의 불량픽셀 위치를 도출할 수 있는 디스플레이 패널 점등 검사방법이다.The present invention relates to a display panel lighting inspection method for inspecting lighting of a manufactured display panel. More specifically, after forming a matching table through a pixel difference in a display panel and an image taken therefrom, the display panel is used to display a matching table. It is a method of inspecting lighting of a display panel that can derive a defective pixel position.

디스플레이 패널이란 화면을 통해 정보를 표시하는 것으로써, 가전제품에 널리 사용되고 있다. 최근에는 이런 디스플레이 패널의 일 예로 엘씨디가 보편적으로 사용되고 있다.A display panel is a information displayed on a screen, and is widely used in home appliances. Recently, LCD is commonly used as an example of such a display panel.

일반적으로 엘씨디란 TV나 컴퓨터등의 모니터에 사용되고 있는 음극선관을 대체하기 위해 개발된 표시장치로, 경량화가 용이하고 고화질, 저전력소비 등의 장점을 가지므로 산업에서 널리 이용되고 있다.In general, LCD is a display device developed to replace the cathode ray tube used in monitors such as TVs and computers, and is widely used in the industry because it is easy to reduce weight and has advantages such as high image quality and low power consumption.

*특히, 근래에는 휴대폰이나 PDA와 같은 이동통신단말기의 수요가 지속적으로 확산됨에 따라, 그 이동통신단말기에 탑재되는 소형 디스플레이 패널 시장이 기하급수적으로 팽창하고 있다.* Particularly, in recent years, as the demand for mobile communication terminals such as mobile phones and PDAs continues to spread, the market for small display panels mounted on mobile communication terminals is expanding exponentially.

디스플레이 패널은 제조공정에서 색도, 색 얼룩, 콘트라스트 등의 동작상태를 검사하는 점등검사를 거치게 된다. 이때, 이동통신단말기가 점차 고도의 기술과 품질이 요구되는 칼라 디스플레이 패널을 탑재하게 됨에 따라, 정밀한 검사가 필연적으로 수반됨은 물론, 대량생산이 본격화됨에 따라 검사의 효율성 향상이 수반된다.In the manufacturing process, the display panel undergoes a lighting test to check the operating status such as chromaticity, color unevenness, and contrast. At this time, as the mobile communication terminal is gradually equipped with a color display panel requiring high technology and quality, precise inspection is inevitably carried out, and as the mass production is in earnest, the efficiency of inspection is accompanied.

이와 같이 디스플레이시장이 활성화됨에 따라 다양한 형태의 디스플레이 패널의 테스트 장치 및 방법들이 개발되었다.As the display market has been activated, test devices and methods for various types of display panels have been developed.

종래에는 단순히 디스플레이패널을 점등시켜 이를 촬영하기는 하였으나 정확한 색상의 구분 및 이를 통한 불량픽셀의 위치를 도출하기 어려웠다.In the past, it was simply photographed by turning on the display panel, but it was difficult to accurately identify the color and locate the defective pixel.

특히 화소가 높은 고픽셀의 디스플레이패널의 경우 이를 정확하게 분석하기 어려울 뿐만 아니라 해당 위치의 정확한 도출을 판단할 방법이 없는 문제점이 있었다.In particular, in the case of a high pixel display panel having a high pixel, it is difficult to accurately analyze it, and there is a problem in that there is no method to determine the accurate derivation of the corresponding position.

본 발명의 목적은 종래의 디스플레이 패널 점등 검사방법의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 디스플레이 패널에서 점등패턴이 점등된 제1이미지를 촬영하고 이를 통해 제1이미지와 실제 디스플레이 패널간의 매칭테이블을 형성하고, 이를 통해 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 디스플레이 패널 점등 검사방법을 제공함에 있다.An object of the present invention is to solve the problem of the conventional display panel lighting inspection method, by shooting a first image with a lighting pattern lit on the display panel, thereby forming a matching table between the first image and the actual display panel, Accordingly, it is to provide a display panel lighting inspection method for deriving a position of a defective pixel from the display panel.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description. There will be.

상기한 과제를 해결하기 위하여 본 발명은, 디스플레이 패널 점등 검사방법에 관한 것으로, 복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널을 촬영모듈의 전방에 마주보도록 배치하는 위치설정 단계, 상기 디스플레이 패널 중 일부가 점등하여 점등패턴을 발생시키는 점등단계, 상기 촬영모듈에서 상기 점등패턴이 점등된 상기 디스플레이 패널의 제1이미지를 촬영하고 상기 제1이미지에서 상기 점등패턴 좌표를 검출하는 검출단계, 상기 디스플레이 패널에서 점등된 상기 점등패턴의 위치정보와 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 대응시켜 매칭테이블을 형성하는 테이블 형성단계, 상기 디스플레이 패널을 점등시켜 검사패턴이 포함된 제2이미지를 촬영하는 촬영단계 및 상기 제2이미지를 상기 매칭테이블에 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 검수단계를 포함한다.In order to solve the above problems, the present invention relates to a display panel lighting inspection method, a positioning step of arranging a display panel having a plurality of pixels facing the front of a shooting module, and a part of the display panel is lit and lit A lighting step of generating a pattern, a detection step of capturing a first image of the display panel in which the lighting pattern is lit in the photographing module and detecting the lighting pattern coordinates in the first image, the lighting of the lighting in the display panel A table forming step of forming a matching table by matching the positional information of the pattern with the coordinate points of the lighting pattern detected in the first image; a shooting step of taking a second image including the inspection pattern by lighting the display panel; The second image is applied to the matching table to display the The panel comprises a verification step for deriving a position of the defective pixel.

또한, 상기 점등패턴은 상기 디스플레이 패널의 픽셀 중 적어도 일부를 기 설정된 간격으로 분산되어 점등하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the lighting pattern may be characterized in that at least a portion of the pixels of the display panel are distributed at predetermined intervals to light.

또한, 상기 검수단계는 상기 제2이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에 상기 매칭테이블을 적용시키며 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the inspecting step may be characterized by dividing the second image into a plurality of regions, applying the matching table to the region where the defective pixels exist, and deriving the location of the defective pixels.

또한, 상기 검수단계는 상기 제1이미지에서 측정된 상기 점등패턴의 위치를 기준으로 상기 제2이미지상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the inspection step derives the coordinates of the defective pixels measured on the second image based on the position of the lighting pattern measured on the first image, and applies the matching table to the display panel to display the It may be characterized in that the position of the defective pixel is derived.

또한, 상기 점등패턴은 상기 디스플레이 패널 픽셀 중 일부가 선형으로 이격된 격자형태로 점등하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the lighting pattern may be characterized in that some of the display panel pixels light up in a linearly spaced grid shape.

또한, 상기 디스플레이 패널은 복수 개가 연속하여 교체되며 상기 촬영모듈의 전방에서 점등검사가 진행되고, 각각이 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the display panel may be characterized in that a plurality of successively replaced, the lighting inspection proceeds in front of the photographing module, and each independently performs the detection step and the table forming step.

또한, 상기 촬영모듈은 상기 디스플레이 패널의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지 및 상기 제2이미지를 촬영하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the photographing module may be characterized by photographing the first image and the second image relatively larger than the size of the display panel.

상기 문제점을 해결하기 위해 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.According to the present invention to solve the above problems has the following effects.

첫째, 디스플레이패널에서 점등된 점등패턴의 위치와 촬영모듈에서 촬영된 디스플레이패널의 이미지에서 점등패턴의 좌표를 도출하여 실제 디스플레이패널과 촬영된 이미지 사이의 매칭을 위한 매칭테이블을 형성함으로써, 검사패턴이 점등된 디스플레이 패널의 이미지에 매칭테이블을 적용하여 실제 디스플레이패널에서의 불량픽셀 위치를 정확하게 파악할 수 있는 이점이 있다.First, by deriving the coordinates of the lighting pattern from the position of the lighting pattern lit on the display panel and the image of the display panel shot from the shooting module, the matching pattern is formed for matching between the actual display panel and the captured image, thereby making the inspection pattern By applying a matching table to the image of the lit display panel, there is an advantage of accurately grasping the position of the defective pixel in the actual display panel.

둘째, 촬영모듈에서 촬영된 이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 불량픽셀이 위치한 영역만 별도로 매칭테이블을 적용함으로써 보다 쉽게 불량픽셀의 실제 위치를 파악할 수 있는 이점이 있다.Second, by dividing the image captured by the imaging module into a plurality of regions and applying a matching table separately to only the regions where the defective pixels are located, there is an advantage that the actual location of the defective pixels can be more easily grasped.

이러한 본 발명에 의한 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

도 1은 디스플레이 패널을 촬영모듈이 촬영하는 상태를 나타낸 도면;
도 2는 도 1의 디스플레이 패널에 점등패턴이 점등되어 제1이미지를 촬영한 상태를 나타낸 도면;
도 3은 도 2의 디스플래이패널에서 검사패턴을 촬영한 제2이지미를 나타낸 도면; 및
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법을 나타낸 흐름도이다.1 is a view showing a state in which the photographing module photographs the display panel;
FIG. 2 is a view showing a state in which a first image is taken when a lighting pattern is lit on the display panel of FIG. 1;
3 is a view showing a second image taken by the inspection pattern in the display panel of FIG. 2; And
4 is a flowchart illustrating a method for inspecting lighting of a display panel according to the present invention.

이와 같이 구성된 본 발명에 의한 디스플레이 패널 점등 검사방법 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 통하여 설명한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정형태로 한정하려는 것이 아니라 본 실시예를 통해서 좀더 명확한 이해를 돕기 위함이다.A preferred embodiment of the display panel lighting inspection method according to the present invention configured as described above will be described with reference to the accompanying drawings. However, this is not intended to limit the present invention to a specific form, but rather to help a more clear understanding through the present embodiment.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 제조된 디스플레이 패널(D)의 점등검사 시 화상카메라로 디스플레이 패널의 점등 영상을 측정하여 이를 통해 불량화소의 위치를 정확하게 측정할 수 있도록 하기 위한 점등검사 방법이다. The display panel lighting inspection method according to the present invention is a lighting inspection method for accurately measuring the position of a defective pixel by measuring a lighting image of the display panel with an image camera during lighting inspection of the manufactured display panel D .

먼저, 도1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.First, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4 as follows.

도 1은 디스플레이 패널을 촬영모듈이 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 2는 도 1의 디스플레이 패널에 점등패턴이 점등되어 제1이미지를 촬영한 상태를 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a view showing a state in which a photographing module photographs a display panel, and FIG. 2 is a view showing a state in which a lighting pattern is lit on the display panel of FIG. 1 to photograph a first image.

그리고 도 3은 도 2의 디스플래이패널에서 검사패턴을 촬영한 제2이지미를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법을 나타낸 흐름도이다.And Figure 3 is a view showing a second image taken in the inspection pattern in the display panel of Figure 2, Figure 4 is a flow chart showing a display panel lighting inspection method according to the present invention.

먼저, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 크게, 위치설정 단계, 점등단계, 검출단계, 테이블 형성단계 및 검수단계를 포함한다.First, the display panel lighting inspection method according to the present invention largely includes a positioning step, a lighting step, a detection step, a table forming step and an inspection step.

상기 위치설정 단계는 디스플레이 패널(P)의 점등검사를 하기 위한 초기상태로, 도 1에 도시된 바와 같이 복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널(P)을 촬영모듈(100)의 전방으로 향하도록 배치한다.The positioning step is an initial state for inspecting the lighting of the display panel P. As shown in FIG. 1, the display panel P having a plurality of pixels is arranged to face the front of the imaging module 100. .

여기서, 도시된 바와 같이 상기 디스플레이 패널(P)은 고정된 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 복수 개가 반복적으로 이송되며 점등검사를 실시하게 된다.Here, as shown in the figure, a plurality of display panels P are repeatedly transported from the front of the fixed photographing module 100 to perform lighting inspection.

이때, 상기 촬영모듈(100)의 촬영영역 내에 상기 디스플레이 패널(P)이 위치하도록 위치가 조절되며, 이때 상기 디스플레이 패널(P)의 위치가 설정된다.(S1)At this time, the position is adjusted so that the display panel P is located in the shooting area of the shooting module 100, and at this time, the position of the display panel P is set. (S1)

이와 같이 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 위치가 설정된다.In this way, the display panel P is positioned in front of the photographing module 100.

그리고 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 기 설정된 점등패턴(10)으로 빛이 발광되는 점등단계를 거친다.(S2)In addition, the display panel P undergoes a lighting step in which light is emitted from the front of the photographing module 100 to a preset lighting pattern 10. (S2)

구체적으로 상기 점등단계는 상기 점등패턴(10)이 발광된 상태에서 상기 디스플레이 패널(P)이 상기 촬영모듈(100)에 의해 이미지로 촬영된다.Specifically, in the lighting step, the display panel P is photographed as an image by the photographing module 100 while the lighting pattern 10 is emitted.

이때, 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)에서 일부의 소자가 기 설정된 패턴 형태로 점등되는 것을 나타내며, 다양한 형태로 배치될 수 있다.At this time, the lighting pattern 10 indicates that some elements of the display panel P are lit in a predetermined pattern form, and may be arranged in various forms.

본 실시예에서 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)상에서 복수 개의 점들이 기 설정된 간격으로 분산되어 형성되며, 이와 달리 일정한 패턴이나 형상 등을 형성하도록 구성될 수도 있다.In the present exemplary embodiment, the lighting pattern 10 is formed by dispersing a plurality of dots at predetermined intervals on the display panel P. Alternatively, the lighting pattern 10 may be configured to form a constant pattern or shape.

또한 이와 달리 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀 중 일부가 선형으로 이격되 격자 형태로 점등될 수도 있다.In addition, unlike this, in the lighting pattern 10, some of the pixels of the display panel P may be linearly spaced and lighted in a lattice form.

*이와 같이 상기 점등단계에서 상기 디스플레이 패널(P)이 점등패턴(10)을 가지며 점등되면, 이를 상기 촬영모듈(100)에서 이미지로 촬영할 수 있다.* As described above, when the display panel P has a lighting pattern 10 in the lighting step and is lit, it can be taken as an image in the shooting module 100.

한편, 상기 점등단계를 거친 후 상기 촬영모듈(100)을 통해 상기 점등패턴(10)이 발광된 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 촬영한다.(S3)Meanwhile, after the lighting step, the first image I1 of the display panel P in which the lighting pattern 10 is emitted is photographed through the shooting module 100. (S3)

이때, 상기 촬영모듈(100)에서 촬영되는 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)는 실제 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100) 자체에서 기록되는 픽셀이 서로 다르게 구성된다.At this time, the first image I1 of the display panel P photographed by the photographing module 100 is configured differently from the pixels of the display panel P and the pixels recorded by the photographing module 100 itself. do.

일반적으로 상기 촬영모듈(100)은 카메라 등이 구성될 수 있으며, 이와 같은 촬영모듈(100)에서 기록되는 픽셀은 카메라 자체의 해상도에 의해 결정된다.In general, the imaging module 100 may include a camera or the like, and the pixels recorded in the imaging module 100 are determined by the resolution of the camera itself.

그리고, 이와 같이 상기 촬영모듈(100)에 의해 촬영된 상기 제1이미지(I1)에서, 상기 점등패턴(10)의 좌표를 검출한다.Then, in the first image I1 photographed by the photographing module 100 as described above, the coordinates of the lighting pattern 10 are detected.

구체적으로 상술한 바와 같이 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100)의 픽셀이 상이하기 때문에 상기 제1이미지(I1)에서 상기 디스플레이 패널(P)의 상기 점등패턴(10)에 대한 좌표를 검출한다.Specifically, as described above, since the pixels of the display panel P and the pixels of the photographing module 100 are different, the lighting pattern 10 of the display panel P in the first image I1 is Coordinates are detected.

여기서, 일반적인 촬영모듈(100)의 경우 촬영된 이미지의 외측 끝단부는 중앙부에 비해 상대적으로 흐리게 측정될 수 있기 때문에 상기 촬영모듈(100)이 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 촬영 시 실제 디스플레이 패널(P)의 가장자리를 포함하도록 한다.Here, in the case of the general photographing module 100, since the outer end portion of the photographed image may be relatively blurred compared to the central portion, the photographing module 100 photographs the first image I1 of the display panel P. When the actual display panel (P) to include the edge.

즉, 상기 촬영모듈(100)은 상기 디스플레이 패널(P)의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지(I1) 및 후술하는 제2이미지(I2)를 촬영한다.That is, the photographing module 100 photographs the first image I1 and the second image I2, which will be described later, relatively larger than the size of the display panel P.

이와 같이 상기 검출단계는 상기 점등단계에서 점등된 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 상기 촬영모듈(100)을 통해 촬영하고 상기 제1이미지(I1) 내에서 상기 점등패턴(10)의 좌표를 검출한다.In this way, the detection step shoots the first image I1 of the display panel P lit in the lighting step through the shooting module 100 and the lighting pattern 10 in the first image I1. ) Is detected.

다음으로 상기 테이블 형성단계는 상기 점등패턴(10)이 점등된 상기 디스플레이 패널(P)에서 상기 점등패턴(10)의 위치정보와 상기 제1이미지(I1)에서 검출된 상기 점등패턴(10)의 좌표를 대응하여 매칭테이블(미도시)을 형성한다.(S4)Next, the table forming step includes the location information of the lighting pattern 10 and the lighting pattern 10 detected in the first image I1 in the display panel P in which the lighting pattern 10 is lit. A matching table (not shown) is formed in correspondence with the coordinates. (S4)

구체적으로, 상기 제1이미지(I1)는 상기 카메라의 픽셀에 대응하여 저장된 이미지로써, 상기 디스플레이 패널(P)에서의 점등패턴(10) 위치와 상기 제1이미지(I1)에서의 점등패턴(10) 좌표가 서로 일치되도록 한다. Specifically, the first image I1 is an image stored in correspondence with the pixel of the camera, the position of the lighting pattern 10 in the display panel P and the lighting pattern 10 in the first image I1. ) Make sure that the coordinates match each other.

이때, 상기 매칭테이블이란 상술한 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 상기 제1이미지(I1)의 픽셀이 서로 다르기 때문에 실제 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 점등패턴(10)의 실제 위치와 상기 제1이미지(I1)에서의 상기 점등패턴(10) 좌표를 상호 대응되도록 하는 테이블이다.At this time, the matching table means that the pixels of the display panel P and the pixels of the first image I1 photographed by the photographing module 100 are different from each other, so that the lighting on the display panel P is actually performed. It is a table to make the actual position of the lighting pattern 10 correspond to the coordinates of the lighting pattern 10 in the first image I1.

보다 상세하게 살펴보면 상기 제1이미지(I1)에서 상기 점등패턴(10) 의 좌표점을 연결하여 Spline 곡선을 만들고 이를 상기 디스플레이 패널(P)의 해상도에 맞게 분해하여 만들어진 Mesh를 통해 상기 매칭테이블을 형성한다.Looking in more detail, the first image (I1) is connected to the coordinate points of the lighting pattern (10) to create a spline curve and decompose it according to the resolution of the display panel (P) to form the matching table through a mesh do.

여기서, 상기 매칭테이블은 상기 제1이미지(I1)에서 특정 좌표의 위치를 적용하여 실제 디스플레이 패널(P)에서 대응하는 지점의 위치를 도출할 수 있는 일종의 보정수단의 역할을 한다.Here, the matching table serves as a kind of correction means that can derive the position of a corresponding point in the actual display panel P by applying a position of a specific coordinate in the first image I1.

예를 들어, 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 점등패턴(10)에서 점등위치간의 이격 거리가 10Point인 경우, 상기 제1이미지(I1)에서 나타난 점등패턴(10)의 좌표지점을 이에 대응하여 비율을 도출할 수 있다.For example, when the distance between the lighting positions in the lighting pattern 10 lit on the display panel P is 10 points, the coordinate point of the lighting pattern 10 shown in the first image I1 is correspondingly The ratio can be derived.

그리고 이와 같은 비율 차이를 통해 상기 매칭테이블을 형성할 수 있다.In addition, the matching table may be formed through such a difference in ratio.

이와 같이 상기 테이블 형성단계에서는 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 점등패턴(10)의 위치와 상기 제1이미지(I1)에서 검출된 점등패턴(10)의 좌표지점 위치를 대응하여 비율에 대응하여 매칭테이블을 형성한다.In this way, in the table forming step, the position of the lighting pattern 10 lit on the display panel P and the position of the coordinate point of the lighting pattern 10 detected on the first image I1 correspond to a ratio. To form a matching table.

다음으로, 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등패턴(10)이 아닌 검사패턴(20)을을 점등하고(S5) 이를 상기 촬영모듈(100)을 통해 촬영하여 제2이미지(I2)를 수집한다.(S6)Next, the inspection pattern 20, not the lighting pattern 10, is turned on in the display panel P (S5), and the second image I2 is collected by photographing it through the shooting module 100. (S6)

구체적으로 상기 제2이미지(I2)는 상술한 점등패턴(10)의 제1이미지(I1)와 달리 상기 디스플레이 패널(P)의 점등검사를 하기 위한 패턴으로써 각각의 패널(P)에서 입력되는 값과 출력되는 색상이 올바른지 검사하기 위한 이미지이다.Specifically, unlike the first image I1 of the above-described lighting pattern 10, the second image I2 is a pattern for inspecting the lighting of the display panel P, and is a value input from each panel P And this is an image to check if the output color is correct.

그리고 이와 같이 상기 촬영모듈(100)에 의해 촬영된 상기 제2이미지(I2)는 상기 매칭테이블에 적용하여 실제 디스플레이 패널(P)의 위치와 비교하는 검수단계를 거친다.In addition, the second image I2 photographed by the photographing module 100 is applied to the matching table and subjected to an inspection step of comparing with the position of the actual display panel P.

상기 검수단계에서 상기 제2이미지를 확인 결과 불략픽셀이 존재하는지 여부를 판단하게 된다(S7).As a result of checking the second image in the inspection step, it is determined whether or not a pixel is missing (S7).

구체적으로 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 검사패턴(20)에서 불량픽셀이 발견되는 경우, 상기 제2이미지(I2) 내에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하고 이를 상기 매칭테이블에 적용시킨다(S8).Specifically, when a defective pixel is found in the inspection pattern 20 lit on the display panel P, the position of the defective pixel in the second image I2 is derived and applied to the matching table ( S8).

이에 따라, 상기 제2이미지(I2)에서 측정된 상기 불량픽셀의 위치에 상기 매칭테이블을 적용시킴으로써 상기 디스플레이 패널(P)에서의 실제 불량픽셀 위치를 도출할 수 있다(S9).Accordingly, by applying the matching table to the position of the defective pixel measured in the second image I2, the actual defective pixel position in the display panel P can be derived (S9).

여기서, 상기 검수단계는 상기 제1이미지(I1)에서 측정된 상기 점등패턴(10)의 위치를 기준으로 상기 제2이미지(I2)상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널(P)에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출할 수 있다.Here, the inspection step derives the coordinates of the defective pixels measured on the second image I2 based on the position of the lighting pattern 10 measured on the first image I1, and matches the A position of the defective pixel in the display panel P may be derived by applying a table.

이와 같이 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 상기 제2이미지(I2)에서의 상기 불량픽셀의 좌표를 상기 매칭테이블에 적용함으로써 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 불량픽셀의 실제 위치를 도출할 수 있다.Thus, by applying the coordinates of the defective pixels in the second image (I2) photographed in the shooting module 100 to the matching table to derive the actual position of the defective pixels lit in the display panel (P). You can.

한편, 상기 검수단계에서는 상기 제2이미지(I2)에서 상기 불량픽셀의 좌표를 도출할 때, 상기 제2이미지(I2) 전체를 기준으로 하지 않고 상기 제2이미지(I2)를 가상의 선(L)을 이용하여 복수 개의 영역으로 구획하고 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에서 매칭테이블을 적용시킴으로써 보다 간결하게 상기 불량픽셀의 위치를 도출할 수 있다.On the other hand, in deriving the coordinates of the defective pixel from the second image (I2) in the inspection step, the second image (I2) is not based on the entirety of the virtual image (L) ) To divide a plurality of regions and apply a matching table in an area where the defective pixels exist, so that the position of the defective pixels can be more concisely derived.

이와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 상술한 바와 같이 위치설정 단계, 상기 점등단계, 상기 검출단계, 상기 테이블 형성단계 및 상기 검수단계를 포함하여 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 이미지로 손쉽게 불량픽셀의 실제 위치를 도출할 수 있다.As described above, the display panel lighting inspection method according to the present invention includes the position setting step, the lighting step, the detection step, the table forming step, and the inspection step. It is easy to derive the actual location of a defective pixel.

그리고 이와 같은 방법을 통해 복수 개의 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 복수 개가 연속하여 교체되며 점등검사를 시할 수 있다(S10).In addition, a plurality of the display panels P are continuously replaced in front of the photographing module 100 through the above-described method, and lighting inspection can be performed (S10).

여기서, 상기 복수 개의 디스플레이 패널(P)은 매 검사마다 각각에 대해 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하게 된다.Here, each of the plurality of display panels P independently performs the detection step and the table formation step for each inspection.

즉, 교체가 진행되며 복수의 디스플레이 패널(P)에 대해 점등검사를 실시하는 경우, 상기 디스플레이 패널(P) 각각마다 픽셀이 서로 다를 수 있기 때문에 매번 점등 검사마다 상기 매칭테이블을 새로 형성한다.That is, when the lighting inspection is performed on the plurality of display panels P while the replacement is in progress, since the pixels may be different for each of the display panels P, the matching table is newly formed for each lighting inspection.

이에 따라 상기 디스플레이 패널(P)에서 불량픽셀이 발생하는 경우 위치를 보다 정밀하게 측정할 수 있다.Accordingly, when a defective pixel occurs in the display panel P, the position can be more accurately measured.

이상과 같이 본 발명에 대한 바람직한 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명한 실시예 외에도 본 발명의 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 형태로 구체화될 수 있다. 그러므로, 상술한 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.As described above, preferred embodiments of the present invention have been described, and in addition to the above-described embodiments, other forms may be embodied without departing from the spirit or scope of the present invention. Therefore, the above-described embodiments are to be regarded as illustrative rather than restrictive, and accordingly, the present invention is not limited to the above description and may be changed within the scope of the appended claims and their equivalents.

100: 촬영모듈
10: 점등패턴
20: 검사패턴
I1: 제1이미지
I2: 제2이미지
P: 디스플레이 패널100: shooting module
10: lighting pattern
20: inspection pattern
I1: first image
I2: Second image
P: Display panel

Claims (7)

복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널을 촬영모듈의 전방에 마주보도록 배치하는 위치설정 단계;
상기 디스플레이 패널 중 일부가 점등하여 점등패턴을 발생시키는 점등단계;
상기 촬영모듈에서 상기 점등패턴이 점등된 상기 디스플레이 패널의 제1이미지를 촬영하고 상기 제1이미지에서 상기 점등패턴 좌표를 검출하는 검출단계;
상기 디스플레이 패널에서 점등된 상기 점등패턴의 위치정보와 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 대응시키되, 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 연결하여 스플라인(spline) 곡선을 만들고 상기 디스플레이 패널의 해상도에 맞게 분해한 메시(mesh)로 이루어진 매칭테이블을 형성하는 테이블 형성단계;
상기 디스플레이 패널을 점등시켜 검사패턴이 포함된 제2이미지를 촬영하는 촬영단계; 및
상기 제2이미지를 상기 매칭테이블에 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 검수단계;
를 포함하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.A positioning step of arranging a display panel having a plurality of pixels to face the front of the imaging module;
A lighting step in which a part of the display panel is turned on to generate a lighting pattern;
A detection step of capturing a first image of the display panel in which the lighting pattern is lit in the photographing module and detecting the lighting pattern coordinates in the first image;
The position information of the lighting pattern lit on the display panel and the coordinate points of the lighting pattern detected on the first image are matched, but spline is connected by connecting the coordinate points of the lighting pattern detected on the first image. A table forming step of forming a matching table made of a mesh that is decomposed according to the resolution of the display panel by making a curve;
A photographing step of photographing a second image including an inspection pattern by turning on the display panel; And
A detection step of applying the second image to the matching table to derive the location of a defective pixel in the display panel;
Display panel lighting inspection method comprising a. 제1항에 있어서,
상기 점등패턴은,
상기 디스플레이 패널의 픽셀 중 적어도 일부를 기 설정된 간격으로 분산되어 점등하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.According to claim 1,
The lighting pattern,
A method of inspecting lighting of a display panel, characterized in that at least some of the pixels of the display panel are dispersed at predetermined intervals and lit. 제2항에 있어서,
상기 검수단계는,
상기 제2이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에 상기 매칭테이블을 적용시키며 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.According to claim 2,
The inspection step,
A method of inspecting lighting of a display panel, characterized in that the second image is divided into a plurality of regions to apply the matching table to an area where the defective pixels exist and derive the location of the defective pixels. 제2항에 있어서,
상기 검수단계는,
상기 제1이미지에서 측정된 상기 점등패턴의 위치를 기준으로 상기 제2이미지상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.According to claim 2,
The inspection step,
The coordinates of the defective pixels measured on the second image are derived based on the position of the lighting pattern measured on the first image, and the matching table is applied thereto to derive the positions of the defective pixels on the display panel. Display panel lighting inspection method characterized in that the. 제1항에 있어서,
상기 점등패턴은,
상기 디스플레이 패널 픽셀 중 일부가 선형으로 이격된 격자형태로 점등하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.According to claim 1,
The lighting pattern,
A display panel lighting inspection method characterized in that some of the display panel pixels light up in a linearly spaced grid shape. 제1항에 있어서,
상기 디스플레이 패널은,
복수 개가 연속하여 교체되며 상기 촬영모듈의 전방에서 점등검사가 진행되고,
각각이 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.According to claim 1,
The display panel,
A plurality of pieces are continuously replaced, and a lighting inspection is performed in front of the photographing module,
A display panel lighting inspection method characterized in that each independently performs the detection step and the table formation step. 제1항에 있어서,
상기 촬영모듈은,
상기 디스플레이 패널의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지 및 상기 제2이미지를 촬영하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.
According to claim 1,
The shooting module,
A display panel lighting inspection method characterized in that the first image and the second image are taken relatively larger than the size of the display panel.
KR1020180125558A 2018-10-19 2018-10-19 Method for Light Test of Display Panel KR20200044586A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180125558A KR20200044586A (en) 2018-10-19 2018-10-19 Method for Light Test of Display Panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180125558A KR20200044586A (en) 2018-10-19 2018-10-19 Method for Light Test of Display Panel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200044586A true KR20200044586A (en) 2020-04-29

Family

ID=70466843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180125558A KR20200044586A (en) 2018-10-19 2018-10-19 Method for Light Test of Display Panel

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20200044586A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3514785A1 (en) Screen calibration method and screen calibration system capable of correcting full screen color tones automatically
US10148944B2 (en) Calibration method of an image capture system
JP5471306B2 (en) Color unevenness inspection apparatus and color unevenness inspection method
CN111896232B (en) Optical machine module testing method, equipment, system and computer readable storage medium
CN104090689B (en) A kind of method and system of mobile terminal and its interactive projection
CN105185302A (en) Correction method for light point position deviation among monochromatic images and application thereof
CN110620887B (en) Image generation device and image generation method
JP2010019868A (en) System and method of measuring display at multi-angles
JP2011180083A (en) Device and method for inspection of color unevenness
WO2020073816A1 (en) Method and device used for measuring distortion parameters of display device, measuring device, and computer-readable medium
KR101668039B1 (en) Method for Light Test of Display Panel
CN112885289A (en) Display screen calibration method and device
CN112102762A (en) Method and device for identifying abnormal light points of LED screen
CN108986721B (en) Detection graph generation method for display panel detection
KR102688199B1 (en) Imaging apparatus and driving method of the same
JP2006139777A (en) Method and device for detecting flat panel display device by visual model
CN104637425A (en) Assembly-line LED (light emitting diode) display unit uniformity detection method, system and device
CN109819242B (en) Flare testing method and system and readable storage medium
CN106840384A (en) Means for correcting and the bearing calibration using the means for correcting
CN104658461A (en) Method for testing light emission uniformity of display
KR101068356B1 (en) Method for inspecting defect of the Pixels in display panel device by image
KR20200044586A (en) Method for Light Test of Display Panel
KR20200042352A (en) Method for Light Test of Display Panel
CN109839061B (en) Lens module detection method and system
TW201445458A (en) Testing device and method for camera