KR20190126621A - The device for measurement of transmittance by thickness for calculating the radiation attenuation coefficient in one direction - Google Patents

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KR20190126621A
KR20190126621A KR1020180050760A KR20180050760A KR20190126621A KR 20190126621 A KR20190126621 A KR 20190126621A KR 1020180050760 A KR1020180050760 A KR 1020180050760A KR 20180050760 A KR20180050760 A KR 20180050760A KR 20190126621 A KR20190126621 A KR 20190126621A
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제주대학교 산학협력단
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Abstract

The purpose is to provide an apparatus capable of concentrating radiation on a specimen (radiation blocking substance) through the formation of a straight radiation passage to emit the radiation in one direction and more accurately measuring an attenuation coefficient of every specimen of which radius-to-thickness ratio is no less than 0.28. To achieve the purpose, the apparatus to measure penetration ratios by thickness for the calculation of an attenuation coefficient for one-way radiation includes: a radiation one-way blocking unit made of lead and including a radiation source placement position formed in the upper part and a straight radiation passage formed in the center to secure the one-way straightness of radiation from the radiation source; and a radiation blocking substance fixing unit combined with the radiation one-way blocking unit, having a space in which a radiation blocking substance for the calculation of a radiation attenuation coefficient can be placed, and modularized to enable the space for the placement of the radiation blocking substance to be changed in length in accordance with the length of the radiation blocking substance.

Description

한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치{The device for measurement of transmittance by thickness for calculating the radiation attenuation coefficient in one direction}The device for measurement of transmittance by thickness for calculating the radiation attenuation coefficient in one direction}

본 발명은 인공 방사선원에 의한 방사선 측정시 차폐재의 두께에 따른 방사선투과율 측정을 위한 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 시료이외의 영향으로 감쇠계수의 오차가 발생하는 것을 방지하기 위한 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치에 대한 것이다.The present invention relates to a device for measuring the radiation transmittance according to the thickness of the shielding material when measuring the radiation by an artificial radiation source, and more specifically, to the radiation in one direction to prevent the error of the attenuation coefficient due to the influence of the sample. The present invention relates to an apparatus for measuring transmittance by thickness for calculating attenuation coefficient.

방사선이란 불안정한 원자핵이 안정한 상태로 바뀔 때 발생하는 알파선, 베타선, 엑스선, 감마선, 양성자선, 중성자선 등을 말한다. 일반적으로 방사선은 전리방사선을 의미하며 전리방사선은 물질을 통과할 때 물질의 이온화를 일으킨다. 구체적으로 전리방사선은 직접 전리하는 능력이 있는 알파선, 베타선, 양성자선 등의 직접전리방사선과 물질을 직접 전리하는 능력은 없으나 물질과의 상호작용에 의해 간접적으로 물질을 전리시키는 방사선인 엑스선, 감마선, 중성자 등의 간접전리방사선으로 분류된다. Radiation refers to alpha rays, beta rays, x-rays, gamma rays, proton rays, and neutron rays that occur when an unstable nucleus is changed to a stable state. In general, radiation means ionizing radiation, which causes ionization of a substance as it passes through it. Specifically, ionizing radiation has no direct ionizing radiation such as alpha rays, beta rays, and proton rays, which have the ability to directly ionize, and does not have the ability to directly ionize a substance, but X-rays, gamma rays, and neutrons, which are radiations that indirectly ionize a substance by interaction with the substance. It is classified as indirect ionizing radiation of.

방사선은 큰 에너지를 가지고 있기 때문에 인체에 지대한 영향을 끼칠 수 있다. 따라서 큰 에너지를 가지고 있는 방사선을 적절히 차폐하는 일은 방사선을 취급하는 과정에서 굉장히 중요하다. 방사선 차폐 시 알파선은 투과력이 낮기 때문에 종이 정도의 두께를 가진 물질로도 막을 수 있다. 베타선은 알파선보다 투과성이 강하나 일반적으로 알루미늄 포일이나 플라스틱정도로 막을 수 있다. 반면, 감마선은 핵의 붕괴나 변환으로부터 발생되며 엑스선보다 높은 에너지를 갖고 있는 전자기파로서, 투과력이 매우 강하다.  Because radiation has a large energy, it can have a profound effect on the human body. Therefore, adequate shielding of radiation with large energy is very important in the process of handling radiation. In radiation shielding, alpha rays have a low penetrability, so they can be blocked with materials of the same thickness as paper. Beta rays are more permeable than alpha rays, but generally can be blocked with aluminum foil or plastic. Gamma rays, on the other hand, are electromagnetic waves with higher energy than X-rays, resulting from the collapse or transformation of the nucleus, and have very strong penetration.

감마선원이나 엑스선원에서 방사된 전자기방사선이 물질 속을 투과할 때는 다음의 두 가지 메커니즘에 따라 강도는 약해진다. 첫째는 거리에 의한 감쇠이며, 둘째는 전자기방사선과 물질과의 상호작용에 바탕을 둔 흡수, 산란에 의한 감쇠이다. 그 중 흡수, 산란에 의한 감쇠는 전자기방사선이 물질 속으로 입사했을때 광자와 물질구성 원자와의 상호작용인 광전효과, 컴프턴효과, 전자쌍생성의 세 가지 현상에의해 일어난다. 이같이 전자기방사선은 물질속에서 흡수, 산란되는데 실험에 의하면, 감마선의 흡수, 산란은 물질의 두께가 증대함에 따라 증가하기 때문에 그것에 따라 투과 감마선의 강도는 차츰 감쇠한다.  When electromagnetic radiation from a gamma source or X-ray source penetrates through a material, the strength is weakened by the following two mechanisms. The first is attenuation by distance, and the second is absorption and scattering based on the interaction between electromagnetic radiation and matter. Among them, attenuation due to absorption and scattering is caused by three phenomena of photoelectric effect, compton effect, and electron pair formation, which are interactions between photons and material constituent atoms when electromagnetic radiation enters the material. As such, electromagnetic radiation is absorbed and scattered in the material. According to the experiment, absorption and scattering of the gamma ray increases with increasing thickness of the material, thereby gradually decreasing the intensity of the transmitted gamma ray.

감마선 광자는 물질 두께 x와 x+dx 사이에서 감소하는데 흡수, 산란으로 선속에서 소멸하는 광자수 dN은 그 지점에서의 광자수 N이 많을수록 또 물질의 두께 dx가 두꺼울수록 많아지므로Gamma-ray photons decrease between the material thickness x and x + dx, but the number of photons dN that disappears at the flux due to absorption and scattering increases as the number of photons N at that point and the thickness dx of the material become thicker.

-dN = μNdx 식(1)dN = μNdx Equation (1)

식(1)이 성립한다. 여기서 -는 감소를 뜻하고, μ는 비례상수이다. 한편 감마선 광자의 에너지는 균일하기 때문에 감마선의 강도 I는 광자수 N에 비례한다. 따라서 식(1)은 다음과 같이 나타낼 수 있다. Equation (1) holds. Where-means decrease and μ is proportional constant. On the other hand, since the energy of gamma ray photons is uniform, the intensity I of the gamma ray is proportional to the number of photons N. Therefore, Equation (1) can be expressed as follows.

-dI = μIdx 식(2)dI = μIdx equation (2)

이 식을 dI/I=-μdx로 변형하여 적분하면, lnI=-μx+c를 얻을 수 있다. 지금 초기조건으로 x=0에서 I=I0라 하면, C=lnI0가 되어 lnI=-μx+lnI0가 된다. 이것은 ln(I/I0)=-μx이다. 따라서 식(2)의 해는LnI = −μx + c can be obtained by integrating this equation with dI / I = −μdx. If now referred to as the initial conditions at x = 0 I = I 0, is a C = 0 is the lnI = lnI -μx lnI + 0. This is ln (I / I 0 ) =-μx. Therefore, the solution of equation (2)

I=I0exp(-μx) 식(3)I = I 0 exp (-μx) equation (3)

을 얻을 수 있다. 이 식은 강도 I0의 감마선이 두께 x의 물질에 입사하면 투과 감마선의 강도 I는 두께 x의 증대에 따라 지수적으로 감소한다는 것을 뜻한다. Can be obtained. This equation means that when the gamma ray of intensity I 0 enters a material of thickness x, the intensity I of the transmitted gamma ray decreases exponentially with increasing thickness x.

위의 μ는 수학적으로는 단순한 비례상수이지만 물리적으로는 감쇠의 정도를 나타내는 값이기 때문에 μ를 감쇠계수라 한다. μ값이 큰 물질일수록 감쇠의 정도도 커지기 때문에 물질의 감쇠계수를 측정하는 일은 방사선을 차폐하는 일에 있어서 매우 중요하며 감쇠계수의 측정은 두께변화에 따른 방사선 투과율을 비교하여 값을 얻어낼 수 있다. Μ is the attenuation coefficient because it is a mathematically simple proportional constant but physically represents the degree of attenuation. The larger the value of μ, the greater the degree of attenuation. Therefore, the measurement of the attenuation coefficient of a material is very important in shielding radiation, and the measurement of the attenuation coefficient can be obtained by comparing the radiation transmittance according to the thickness change. .

현재 Cs-137, Co-60등의 원판형 방사선원이 실험을 위한 도구로서 많이 쓰이고 있으나 국내외에서 원판형 방사선원에 의한 방사선 측정시 차폐재의 두께에 따른 차폐효과 비교를 위한 장치의 개발은 이루어지지 않았다. At present, Cs-137, Co-60, etc., are used as a tool for experiments. However, at home and abroad, a device for comparing the shielding effect according to the thickness of the shielding material has not been developed.

종래의 감쇠계수 측정을 위한 장치는 투과율 측정시 감쇠계수를 측정하고자하는 물질 이외에 다른 물질에 의핸 감쇠효과도 동시에 적용되어 측정되었다.In the conventional device for measuring the damping coefficient, the damping effect of other materials is measured and applied at the same time as the material to measure the damping coefficient at the time of measuring the transmittance.

따라서 종래의 장치는 감쇠계수를 측정시 측정하고자하는 차폐물질 이외의 다른 물질에 의한 차폐효과도 포함되어 있어 원하는 차폐물질의 감쇠계수 측정에 있어 정밀도에 영향을 주고 있다.Therefore, the conventional apparatus includes a shielding effect by a material other than the shielding material to be measured when measuring the attenuation coefficient, thereby affecting the precision in measuring the attenuation coefficient of the desired shielding material.

따라서, 다른 물질의 차폐효과를 방지하기 위한 전 방향성 감마선원을 한 방향으로 접속시켜 원하는 차폐물질의 투과율을 측정하는 방법 및 장치가 요구되고 있는 실정이다.Accordingly, there is a need for a method and apparatus for measuring a transmittance of a desired shielding material by connecting an omnidirectional gamma ray source in one direction to prevent shielding effects of other materials.

대한민국등록특허 제10-1835690호(방사선 조사 조절장치)Republic of Korea Patent No. 10-1835690 (Radiation Irradiation Control Device)

본 발명은 방사선을 일방향으로 방사되도록 방사선 직진 통로를 형성하여 시료(방사선 차폐물질)에 방사선이 집중될 수 있도록 하고 시료의 반경과 두께비가 0.28 이상인 모든 시료의 감쇠계수를 보다 정확하게 측정하는 장치를 제공하는 것이 목적이다.The present invention provides a device for forming a straight path to the radiation to radiate the radiation in one direction to focus the radiation on the sample (radiation shielding material) and to more accurately measure the attenuation coefficient of all the samples having a radius and thickness ratio of 0.28 or more. The purpose is to.

본 발명은 방사선 차폐물질의 감쇠계수를 구하는데 있어 감쇠계수를 구하고자하는 시료이외의 영향으로 감쇠계수의 오차가 발생하는 것을 방지하는 장치를 제공하는 것이 목적이다.It is an object of the present invention to provide an apparatus for preventing an error of attenuation coefficient from occurring due to the influence of a sample other than the sample for which the attenuation coefficient is to be obtained.

본 발명은 방사선원의 한 방향의 방사선에 대해 방사선 차폐물질의 감쇠계수 산정을 위한 두께별 방사선 투과율 측정 장치에 있어서, 상부에 방사선원의 안착위치가 형성되어 있고 중심부에는 상기 방사선원의 방사선의 일방향의 직진성을 확보하기 위한 방사선 직진 통로가 형성되어 있는 납으로 구성된 방사선 일방향성 차폐기구; 및 상기 방사선 일방향성 차폐기구와 결합되고, 내부에 방사선 감쇠계수를 구하기 위한 방사선 차폐물질이 안착되는 공간이 형성되어 있으며, 상기 방사선 차폐물질의 두께에 따라 상기 방사선 차폐물질이 안착되는 공간의 길이를 변경할 수 있도록 모듈 구조로 형성되는 방사선 차폐물질 고정 기구;를 포함하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치가 제공된다.The present invention is a device for measuring the radiation transmittance by thickness for calculating the attenuation coefficient of the radiation shielding material with respect to radiation in one direction of the radiation source, the mounting position of the radiation source is formed in the upper portion and the linearity of the radiation in the one direction of the radiation source in the center A radiation unidirectional shielding mechanism consisting of lead having a radiation straight passage for securing; And a space combined with the radiation unidirectional shielding mechanism, the space having a radiation shielding material seated therein for obtaining a radiation attenuation coefficient therein, the length of the space where the radiation shielding material is seated according to the thickness of the radiation shielding material. Provided is a thickness-specific transmittance measurement device for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction, including; radiation shielding material fixing mechanism formed in a modular structure so that it can be changed.

여기서, 상기 방사선 직진 통로는 원통형으로 구성되어 있으며, 상기 방사선 직진통로의 중심축의 횡단면인 직사각형구조에서 대각선과 세로축이 이루는 각이 θ인 경우에 cosθ는 0.98 과 같거나 크도록 상기 방사선 직진 통로가 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, the radiation straight passage is formed in a cylindrical shape, the radiation straight passage is formed so that the cos θ is equal to or greater than 0.98 when the angle formed by the diagonal and the vertical axis in the rectangular structure that is the cross section of the central axis of the radiation straight path is θ. It may be characterized by.

여기서, 상기 방사선 직진 통로의 최대 반지름이 2 mm 인 경우에, 상기 방사선 차폐물질 고정 기구의 상기 차폐물질이 안착되는 공간은 상기 방사선 차폐물질의 반경과 두께의 비율(k)이 0.28 이상이 되도록 상기 방사선 차폐물질이 안착되는 공간이 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, when the maximum radius of the radiation straight passage is 2 mm, the space in which the shielding material of the radiation shielding material fixing mechanism is seated is such that the ratio (k) of the radius and thickness of the radiation shielding material is 0.28 or more. The space in which the radiation shielding material is seated may be formed.

여기서, 상기 방사선 차폐물질 고정 기구는 합성 수지 또는 MC 나일론(MC NYLON)으로 구성되는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, the radiation shielding material fixing mechanism may be made of synthetic resin or MC nylon (MC NYLON).

여기서, 상기 방사선 일방향성 차폐기구는 2개의 원판이 결합된 구조로 상부 원판이 하부 원판보다 큰 구조이며, 상기 상부 원판에는 상기 방사선원이 안착되는 공간이 형성되어 있으며, 상기 상부 원판의 상기 방사선원이 안착되는 공간의 하부에서부터 상기 하부 원판 내부에 상기 방사선 직진 통로가 형성되어 있는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, the radiation unidirectional shielding mechanism is a structure in which the two disks are combined, the upper disk is larger than the lower disk, the upper disk is formed with a space in which the radiation source is seated, the radiation source of the upper disk is seated It may be characterized in that the straight path through the radiation is formed in the lower disc from the lower portion of the space.

여기서, 상기 방사선 직진 통로는 하나 이상 형성되어 있는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, the radiation straight passage may be characterized in that at least one is formed.

본 발명은 시료 이외의 다른 영향으로 감쇠계수의 오차가 발생하는 것을 방지하는 효과가 있다.The present invention has the effect of preventing an error in the attenuation coefficient from occurring under other influences than the sample.

또한, 본 발명은 시료의 두께에 맞게 시료를 고정하는 방사선 차폐물질 고정 기구의 길이를 조절할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of adjusting the length of the radiation shielding material fixing mechanism for fixing the sample to the thickness of the sample.

또한, 본 발명은 하나의 방사선원으로부터 동시에 하나 이상의 시료의 감쇠계수를 구할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of obtaining the attenuation coefficient of one or more samples at the same time from one radiation source.

도 1은 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치의 외형을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치의 단면을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예로 방사선 직진 통로와 방사선 차폐물질과의 크기 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치에서 하나 이상의 방사선 차폐물질의 감쇠계수를 구하기 위한 구조를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예로 방사선 일방향성 차폐기구와 방사선 차폐물질 고정 기구가 결합하는 방법 및 구조를 나타낸 도면이다.1 is a view showing the appearance of the transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a cross-sectional view of the transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of an embodiment of the present invention.
3 is a view for explaining the size relationship between the radiation straight path and the radiation shielding material in one embodiment of the present invention.
4 is a diagram illustrating a structure for obtaining attenuation coefficients of at least one radiation shielding material in a thickness-specific transmittance measurement device for calculating attenuation coefficients for radiation in one direction according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a view illustrating a method and a structure in which a radiation unidirectional shielding mechanism and a radiation shielding material fixing mechanism are coupled to one embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되는 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with reference to the accompanying drawings.

그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예로 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다.However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms.

본 명세서에서 본 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.In this specification, the embodiments are provided so that the disclosure of the present invention may be completed and the scope of the present invention may be completely provided to those skilled in the art.

그리고 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.And the present invention is only defined by the scope of the claims.

따라서, 몇몇 실시 예에서, 잘 알려진 구성 요소, 잘 알려진 동작 및 잘 알려진 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다.Thus, in some embodiments, well known components, well known operations, and well known techniques are not described in detail in order to avoid obscuring the present invention.

또한, 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하고, 본 명세서에서 사용된(언급된) 용어들은 실시 예를 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다.In addition, the same reference numerals throughout the specification refer to the same components, and the terminology (discussed) used herein is for the purpose of describing the embodiments are not intended to limit the invention.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함하며, '포함(또는, 구비)한다'로 언급된 구성 요소 및 동작은 하나 이상의 다른 구성요소 및 동작의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.As used herein, the singular forms "a", "an" and "the" include plural unless the context clearly dictates otherwise, and the elements and acts referred to as 'comprises' or 'do' not exclude the presence or addition of one or more other components and acts. .

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used in a sense that can be commonly understood by those skilled in the art.

또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.In addition, terms that are defined in a commonly used dictionary are not ideally or excessively interpreted unless they are defined.

이하, 첨부된 도면을 참고로 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치의 외형을 도시한 도면이다.1 is a view showing the appearance of the transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of an embodiment of the present invention.

본 발명의 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치는 방사선 일방향성 차폐기구(100) 및 방사선 차폐물질 고정 기구(200)로 구성된다.The thickness-specific transmittance measuring apparatus for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of the present invention includes a radiation unidirectional shielding mechanism 100 and a radiation shielding material fixing mechanism 200.

방사선 일방향성 차폐기구(100)는 상부에 방사선원(10)의 안착되는 방사선원 공간(120)이 형성되어 있고 중심부에는 방사선원(10)의 방사선이 직진성을 확보하여 일방향으로 방사되기 위한 방사선 직진 통로(150)가 형성되어 있으며, 납으로 구성되어 있다.The radiation unidirectional shielding mechanism 100 has a radiation source space 120 seated at the top of the radiation source 10 and a radiation straight passage 150 for radiating the radiation of the radiation source 10 in one direction at the center thereof. ) Is formed and is composed of lead.

여기서, 방사선 직진 통로(150)는 원통형으로 구성되어 있다.Here, the radiation straight passage 150 is configured in a cylindrical shape.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 방사선 일방향성 차폐기구(100)와 결합되고, 내부에 방사선 감쇠계수를 구하기 위한 방사선 차폐물질(20)이 안착되는 공간이 형성되어 있다. 그리고, 방사선 차폐물질(20)의 길이에 따라 방사선 차폐물질이 안착되는 공간의 길이를 변경할 수 있도록 복수개의 모듈 구조로 형성되어 있다.The radiation shielding material fixing mechanism 200 is coupled to the radiation unidirectional shielding mechanism 100 and has a space in which the radiation shielding material 20 is mounted to obtain a radiation attenuation coefficient therein. The length of the space in which the radiation shielding material is seated is changed into a plurality of module structures according to the length of the radiation shielding material 20.

따라서, 방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 하나 이상의 모듈을 연결되고 구성되며, 방사선 차폐물질(20)의 두께에 따라서 연결되는 모듈의 개수가 결정된다.Thus, the radiation shielding material fixing mechanism 200 is connected and configured with one or more modules, the number of modules to be connected is determined according to the thickness of the radiation shielding material (20).

여기서, 방사선 일방향성 차폐기구(100)는 하부에 방사선 차폐물질 고정 기구(200)와 결합될 수 있는 결합 부분(110)이 형성된 원통형으로 형성된다.Here, the radiation unidirectional shielding mechanism 100 is formed in a cylindrical shape having a coupling portion 110 that can be coupled to the radiation shielding material fixing mechanism 200 at the bottom.

여기서, 방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 하나 이상의 모듈(210,220,230)이 연결되어 구성되며, 각각의 모듈은 다른 모듈과 연결되기 위한 연결돌기(211,221)와 연결 홈(222,232)이 형성되어 있는 구조로 형성되며 중앙부에는 방사선 차폐물질(20)이 안착되기 위한 공간(213,223,233)이 형성되어 있다. 여기서, 최상단부의 모듈(210)은 방사선 일방향성 차폐기구(100)와 결합하기 위한 결합 홈(212)이 형성되어 있으며, 최하단부의 모듈(230)은 상부에 연결 홈(232)이 형성되어 있으나 하부에는 연결돌기가 형성되어 있지는 않은 구조로 형성된다.Here, the radiation shielding material fixing mechanism 200 is configured by connecting one or more modules (210, 220, 230), each module has a structure in which the connecting projections (211, 221) and connecting grooves (222, 232) for connecting to other modules are formed. In the center portion, spaces 213, 223, and 233 are provided for mounting the radiation shielding material 20. Here, the uppermost module 210 is formed with a coupling groove 212 for coupling with the radiation unidirectional shielding mechanism 100, the lowermost module 230 has a connection groove 232 is formed on the upper but lower It is formed in a structure in which no connecting projection is formed.

여기서, 방사선 일방향성 차폐기구(100)는 방사선원(10)에서 사방으로 방사되는 방사선을 방지하고 일방향의 직진으로 방사되도록 하기 위해 재질을 납으로 구성하였으며, 방사선 직진 통로를 형성하여 방사선이 한 방향으로 직진으로 방사되도록 구성한다.Here, the radiation unidirectional shielding mechanism 100 is made of lead in order to prevent radiation radiating in all directions from the radiation source 10 and to be radiated in one direction straight, and form a radiation straight passage to form radiation in one direction. Configure to radiate straight.

방사선 일방향성 차폐기구(100)의 재질로 납을 사용한 이유는 납의 원자번호가 높아 방사선을 효과적으로 차폐하기 때문에 특정방향 이외의 방사선은 무시할 수 있기 때문이다.The reason why lead is used as the material of the radiation unidirectional shielding mechanism 100 is that the radiation outside the specific direction can be ignored because the atomic number of lead effectively shields the radiation.

방사선 일방향성 차폐기구(100)의 구조를 보다 상세히 설명하면, 2개의 원판이 결합된 구조로 상부 원판이 결합 부분(110)인 하부 원판보다 큰 구조이며, 상부 원판에는 방사선원(10)이 안착되는 공간(120)이 형성되어 있으며, 상기 방사선원이 안착되는 공간(120)의 하부에서부터 결합 부분(110)인 하부 원판 내부에 방사선 직진 통로(150)가 형성되어 있는 구조이다.Referring to the structure of the radiation unidirectional shielding mechanism 100 in more detail, the structure of the two disks is a combination of the upper disk is larger than the lower disk of the coupling portion 110, the radiation source 10 is seated on the upper disk The space 120 is formed, and the radiation straight passage 150 is formed in the lower disc, which is the coupling portion 110, from the bottom of the space 120 in which the radiation source is seated.

본 발명의 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치를 방사선 검출기에 삽입하여 측정하고자하는 방사선 차폐물질(20)의 방사선 투과율을 측정함으로써 다음과 같은 식을 통해 감쇠계수(μ)를 구할 수 있다.By measuring the radiation transmittance of the radiation shielding material 20 to be measured by inserting a thickness-specific transmittance measuring device for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction of the present invention by the following equation (μ) ) Can be obtained.

I=I0exp(-μx) I = I 0 exp (-μx)

I0 : 조사한 방사선I 0: irradiated radiation

I : 투과되어 측정된 방사선I: radiation transmitted and measured

X : 방사선 차폐물질의 두께. X: thickness of the radiation shielding material.

μ : 감쇠계수μ: damping coefficient

도 2는 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치의 단면을 나타낸 도면이다.2 is a view showing a cross-sectional view of the transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of an embodiment of the present invention.

방사선 일방향성 차폐기구(100)는 방사선원(10)이 안착되어 있으며, 방사선 차폐물질 고정 기구(200)와 결합하는 구조로 형성된다.Radiation unidirectional shielding mechanism 100 is a radiation source 10 is seated, it is formed in a structure that is coupled to the radiation shielding material fixing mechanism 200.

이를 위해서 결합돌기(110)가 형성되어 있어 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 결합 홈(212)과 결합된다.To this end, the coupling protrusion 110 is formed to be coupled to the coupling groove 212 of the radiation shielding material fixing mechanism 200.

또한, 방사선원(10)에서 방사되는 방사선이 일방향으로 직진성을 가지며 방사될 수 있도록 방사선 직진 통로(150)가 방사선원 공간(120)하부에서 결합돌기(110)를 통해 방사선 차폐물질 고정 기구(200) 내부의 방사선 차폐물질 안착 공간까지 연결된다.In addition, the radiation straight passage 150 is inside the radiation shielding material fixing mechanism 200 through the coupling protrusion 110 in the lower portion of the radiation source space 120 so that the radiation radiated from the radiation source 10 can be radiated in one direction. To the space of the radiation shielding material

방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 복수개의 모듈(210,220,230)로 구성되며, 각각의 모듈(210,220,230)이 연결되어 방사선 차폐물질 고정 기구(200)를 형성한다.The radiation shielding material fixing mechanism 200 is composed of a plurality of modules 210, 220, and 230, and each module 210, 220, 230 is connected to form the radiation shielding material fixing mechanism 200.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 내부에는 방사선 차폐물질(20)이 안착되어 고정되는 방사선 차폐물질 안착 공간이 형성되어 있다.A radiation shielding material seating space in which the radiation shielding material 20 is seated and fixed is formed in the radiation shielding material fixing mechanism 200.

방사선 차폐물질 안착 공간은 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 각각의 모듈에 형성되어 있는 공간(213,223,233)이 연결되어 형성한다.The radiation shielding material seating space is formed by connecting the spaces 213, 223, and 233 formed in each module of the radiation shielding material fixing mechanism 200.

따라서, 방사선 차폐물질(20)의 두께에 따라 결합되는 모듈의 수가 달라진다.Therefore, the number of modules to be coupled depends on the thickness of the radiation shielding material 20.

도 3은 본 발명의 일실시예로 방사선 직진 통로와 방사선 차폐물질과의 크기 관계를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining the size relationship between the radiation straight path and the radiation shielding material in one embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이 방사선 직진 통로(150)의 중심축의 횡단면인 직사각형구조에서 대각선과 세로축이 이루는 각을 θ라고 하면, 방사선원(10)에서 방사되는 방사선의 직진성을 확보하기 위해서 cosθ는 0.98 이상(cos

Figure pat00001
?0.98) 으로 제한하여 방사선 직진 통로(150)를 형성한다.As shown in FIG. 3, when the angle formed by the diagonal and the vertical axis in the rectangular structure that is a cross section of the central axis of the radiation straight passage 150 is θ, cos θ is 0.98 or more in order to secure the straightness of the radiation emitted from the radiation source 10. (cos
Figure pat00001
0.98) to form a straight path 150 for radiation.

보다 상세한 실시예로는 방사선 직진 통로(150)의 길이(l)를 20 mm 로 하는 경우에는 방사선 직진 통로(150)의 최대 반경(x)는 2 mm 가 되도록 방사선 직진 통로(150)를 구성한다.In a more detailed embodiment, when the length l of the radiation straight passage 150 is 20 mm, the radiation straight passage 150 is configured such that the maximum radius x of the radiation straight passage 150 is 2 mm. .

상기와 같이 방사선 직진 통로(150)를 길이가 20 mm 이고 최대 반경이 2 mm 가 되도록 구성한 경우에는 방사선 직진 통로(150)의 중심축의 횡단면인 직사각형구조에서 대각선과 세로축이 이루는 각(θ)은 11 도이다.As described above, when the straight path 150 is configured to have a length of 20 mm and a maximum radius of 2 mm, the angle θ between the diagonal and the vertical axis is 11 in a rectangular structure that is a cross section of the central axis of the straight path 150. It is also.

이때 감쇠계수를 구하고자하는 방사선 차폐물질(20)의 두께가 25 mm인 경우에는 방사선 차폐물질의 최소반경(R)은 7 mm 가 된다.At this time, when the thickness of the radiation shielding material 20 to obtain the attenuation coefficient is 25 mm, the minimum radius (R) of the radiation shielding material is 7 mm.

이에 따라 방사선 차폐물질(20)의 반경과 총 두께의 비(K)는 0.28이 되며, 본 발명에서는 방사선 차폐물질(20)의 반경과 총 두께의 비(K)가 0.28 이상(K≥0.28)이 되는 방사선 차폐물질에 대해서 정확한 감쇠계수의 측정이 가능하다.Accordingly, the ratio K of the radius and the total thickness of the radiation shielding material 20 is 0.28. In the present invention, the ratio K of the radius and the total thickness of the radiation shielding material 20 is 0.28 or more (K ≧ 0.28). For this radiation shielding material, accurate attenuation coefficient can be measured.

따라서, 본 발명에서는 방사선 차폐물질(20)의 두께가 25 mm인 경우에는 반경이 7 mm 이상이 되는 모든 방사선 차폐물질(20)의 감쇠계수를 정확하게 구할 수 있다.Therefore, in the present invention, when the thickness of the radiation shielding material 20 is 25 mm, the attenuation coefficients of all the radiation shielding materials 20 having a radius of 7 mm or more can be accurately obtained.

상술한 바와 같이 같이 방사선 직진 통로(150) 및 방사선 차폐물질(20)의 반경 조정을 하지 않을 경우에는 방사선 직진 통로(150)를 통과하는 방사선이 방사선 차폐물질(20)의 범위를 벗어나게 된다. 이러한 경우에는 방사선 차폐물질(20)의 감쇠계수 및 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 감쇠계수가 모두 측정되므로 감쇠계수 도출의 신뢰도에 영향을 줄 수 있다.As described above, if the radius of the radiation straight passage 150 and the radiation shielding material 20 is not adjusted, the radiation passing through the radiation straight passage 150 is out of the range of the radiation shielding material 20. In this case, since both the attenuation coefficient of the radiation shielding material 20 and the attenuation coefficient of the radiation shielding material fixing mechanism 200 are measured, it may affect the reliability of derivation of the attenuation coefficient.

따라서, 본 발명은 방사선 차폐물질(20)의 감쇠계수를 측정하는데 있어 방사선 직진 통로(150)를 통과하는 방사선이 모두 방사선 차폐물질(20)만 통과하도록 방사선 직진 통로(150)를 길이와 반경에 특정의 조건을 두고 형성하고 해당 조건에 따라 형성된 방사선 직진 통로(150)와 방사선 차폐물질(20)의 반경과 총 두께의 비(K)가 0.28 이상(K≥0.28)이 되도록 구성함으로써, 감쇠계수를 측정하는데 신뢰도를 하락시킬 수 있는 다른 요인들을 배제시켜 원하는 방사선 차폐물질의 정확한 감쇠계수를 구할 수 있도록 한다.Accordingly, in the present invention, in measuring the attenuation coefficient of the radiation shielding material 20, the radiation straight path 150 is extended in length and radius so that all radiation passing through the radiation straight path 150 passes only through the radiation shielding material 20. The damping coefficient is formed so that the ratio (K) of the radius and the total thickness of the radiation straight passage 150 and the radiation shielding material 20 formed under a specific condition and formed according to the condition is 0.28 or more (K ≧ 0.28). In order to determine the exact attenuation coefficient of the desired radiation shielding material, the other factors that can reduce the reliability can be obtained.

다음 표1은 본 발명의 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치에서 방사선 차폐물질의 두게가 25 mm 인 경우에 방사선 직진 통로(150)와 방사선 차폐물질(20)의 반경과 총 두께의 비(K)에 따른 구성의 예이다.Table 1 shows the radius of the radiation straight passage 150 and the radiation shielding material 20 when the thickness of the radiation shielding material is 25 mm in the thickness-specific transmittance measurement device for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction of the present invention. An example of the configuration according to the ratio (K) of the total thickness.

방사선 직진 통로의 길이(l)Length of straight path of radiation (l) 방사선 직진 통로의 반경(x)Radius of straight path of radiation (x) 방사선 차폐물질의 반경Radius of radiation shielding material 27 mm27 mm 2.7 mm2.7 mm 13 mm13 mm 27 mm27 mm 2.5 mm2.5 mm 8 mm8 mm 16 mm16 mm 1.4 mm1.4 mm 18 mm18 mm 30 mm30 mm 2.3 mm2.3 mm 10 mm10 mm 35 mm35 mm 2.4 mm2.4 mm 15 mm15 mm

도 4는 본 발명의 일실시예로 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치에서 하나 이상의 방사선 차폐물질의 감쇠계수를 구하기 위한 구조를 나타낸 도면이다.4 is a diagram illustrating a structure for obtaining attenuation coefficients of at least one radiation shielding material in a thickness-specific transmittance measurement device for calculating attenuation coefficients for radiation in one direction according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치는 하나의 방사선 차폐물질(20)의 차폐계수를 구할 수 있을 뿐만 아니라 동시에 하나 이상의 방사선 차폐물질(20)의 차폐계수를 구할 수 있는 구조를 가지고 있다.The thickness-specific transmittance measurement device for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction of the present invention can obtain the shielding coefficient of one radiation shielding material 20 as well as the shielding coefficient of one or more radiation shielding materials 20 at the same time. It has a structure that can be obtained.

도4에 도시되어 있는 바와 같이 방사선 일방향성 차폐기구(100)에 방사선 직진 통로(150)를 하나 이상 형성하고 해당 방사선 직진 통로(150)에 방사선 차폐물질(20)의 반경과 총 두께의 비(K)가 0.28 이상(K≥0.28)이 되는 방사선 차폐물질(20)을 해당 방사선 직진 통로(150)의 하부에 안착하여 동시에 하나 이상의 방사선 차폐물질(20)의 감쇠계수를 구할 수 있다.As shown in FIG. 4, one or more radiation straight passages 150 are formed in the radiation unidirectional shielding mechanism 100, and a ratio of the radius and the total thickness of the radiation shielding material 20 to the radiation straight passage 150 is provided. The attenuation coefficient of the at least one radiation shielding material 20 may be obtained by seating the radiation shielding material 20 having K) of 0.28 or more (K ≧ 0.28) at the bottom of the radiation straight passage 150 at the same time.

도4에서와 같이 방사선 일방향성 차폐기구(100)에 방사선 직진 통로(150)가 하나 이상 형성되어 있는 경우에는 방사선 검출기에 하나 이상의 방사선 차폐물질의 방사선 투과율을 검출할 수 있는 구조가 형성되어 있어야 한다.As shown in FIG. 4, when one or more radiation straight passages 150 are formed in the radiation unidirectional shielding mechanism 100, a structure for detecting the radiation transmittance of one or more radiation shielding materials should be formed in the radiation detector. .

도 5는 본 발명의 일실시예로 방사선 일방향성 차폐기구와 방사선 차폐물질 고정 기구가 결합하는 방법 및 구조를 나타낸 도면이다.FIG. 5 is a view illustrating a method and a structure in which a radiation unidirectional shielding mechanism and a radiation shielding material fixing mechanism are coupled to one embodiment of the present invention.

상술한 바와 같이 본 발명의 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치는 방사선 일방향성 차폐기구(100)와 방사선 차폐물질 고정 기구(200)로 구성되며, 방사선 일방향성 차폐기구(100)는 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 상측에서 결합되고, 방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 복수개의 모듈로 구성된다.As described above, the thickness-specific transmittance measuring device for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction of the present invention includes a radiation unidirectional shielding mechanism 100 and a radiation shielding material fixing mechanism 200, and a radiation unidirectional shielding mechanism. 100 is coupled on the upper side of the radiation shielding material fixing mechanism 200, the radiation shielding material fixing mechanism 200 is composed of a plurality of modules.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 서로간의 결합 및 내부의 방사선 차폐물질(20)이 고정되어 안착될 수 있도록 합성 수지 또는 MC 나일론(MC NYLON)으로 구성될 수 있다.Radiation shielding material fixing mechanism 200 may be composed of a synthetic resin or MC nylon (MC NYLON) so that the coupling between each other and the radiation shielding material 20 therein can be fixed and seated.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 합성 수지 또는 MC 나일론(MC NYLON)으로 구성될 수 있어 모듈화된 구조로 성형하기 용이하며 내부이 방사선 차폐물질(20)이 크기에 맞는 내부공간을 형성하기에도 용이하다Since the radiation shielding material fixing device 200 may be made of synthetic resin or MC nylon (MC NYLON), the radiation shielding material fixing device 200 may be easily formed into a modular structure, and the inside may be easily formed to form an inner space suitable for the radiation shielding material 20.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)는 모듈화된 구조이므로 방사선 차폐물질(20)의 두께가 단위 두께만큼 늘어나거나 줄어드는 경우에 각각의 모듈을 결합하거나 결합된 모듈을 일부 제거하여 측정하고자하는 방사선 차폐물질(20)의 두께에 맞도록 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 높이를 용이하게 조절할 수 있다.Since the radiation shielding material fixing mechanism 200 is a modular structure, when the thickness of the radiation shielding material 20 increases or decreases by a unit thickness, the radiation shielding material to be measured by combining each module or removing some of the combined modules ( The height of the radiation shielding material fixing mechanism 200 can be easily adjusted to suit the thickness of 20).

방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 각각의 모듈 구조는 다음과 같다.Each module structure of the radiation shielding material fixing mechanism 200 is as follows.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 상단부를 이루는 모듈(210)은 방사선 일방향성 차폐기구(100)와 결합하기위한 연결 홈(212)이 상측에 형성되어 있고, 중간부 모듈(220)과 연결하기 위한 연결돌기(211)가 하측에 형성되어 있다.The module 210 that forms the upper end of the radiation shielding material fixing mechanism 200 has a connecting groove 212 formed thereon for coupling with the radiation unidirectional shielding mechanism 100, and is connected to the middle module 220. Connecting protrusion 211 is formed on the lower side.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 중간부를 이루는 모듈(220)은 상측의 모듈(210)과 결합하기위한 연결 홈(222)이 상측에 형성되어 있고, 하단부 모듈(230)과 연결하기 위한 연결돌기(221)가 하측에 형성되어 있다.The module 220 constituting the middle portion of the radiation shielding material fixing mechanism 200 has a connecting groove 222 for coupling to the upper module 210 is formed on the upper side, the connecting projection for connecting with the lower module 230 221 is formed below.

방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 하단부를 이루는 모듈(230)은 상측의 중간부 모듈(220)과 결합하기위한 연결 홈(232)이 상측에 형성되어 있고, 하측에는 평평한 구조로 형성되어 있다. 즉, 하단부를 이루는 모듈(230) 다른 모듈과는 다르게 하측에 돌출부가 형성되어 있지 않다.The module 230 constituting the lower end of the radiation shielding material fixing mechanism 200 has a connecting groove 232 for coupling with the upper middle module 220 is formed on the upper side, and has a flat structure on the lower side. That is, unlike the other modules of the module 230 forming the lower end, no protrusion is formed on the lower side.

여기서, 중간부를 이루는 모듈(220)은 다수 연결될 수 있어 방사선 차폐물질(20)의 두께에 따라 방사선 차폐물질 고정 기구(200)의 높이를 조절할 수 있다.Here, a plurality of modules 220 forming the intermediate portion may be connected to adjust the height of the radiation shielding material fixing mechanism 200 according to the thickness of the radiation shielding material 20.

본 발명은 상기한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 되는 것임은 자명하다.The present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and various modifications can be made by those skilled in the art without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims. Of course, it is obvious that such changes will fall within the scope of the claims.

10 : 방사선원
20 : 방사선 차폐물질
100 : 방사선 일방향성 차폐기구
110 : 결합돌기
120 : 방사선원 공간
150 : 방사선 직진 통로
200 : 방사선 차폐물질 고정 기구
210 : 상단부 모듈
220 : 중간부 모듈
230 : 하단부 모듈
211, 221, : 연결돌기
212,222,232 : 연결홈10: radiation source
20: radiation shielding material
100: radiation unidirectional shielding mechanism
110: coupling protrusion
120: radiation source space
150: radiation straight passage
200: radiation shielding material fixing mechanism
210: upper module
220: middle module
230: lower module
211, 221,: connecting protrusion
212,222,232: Connecting groove

Claims (6)

방사선원의 한 방향의 방사선에 대해 방사선 차폐물질의 감쇠계수 산정을 위한 두께별 방사선 투과율 측정 장치에 있어서,
상부에 방사선원의 안착위치가 형성되어 있고 중심부에는 상기 방사선원의 방사선의 일방향의 직진성을 확보하기 위한 방사선 직진 통로가 형성되어 있는 납으로 구성된 방사선 일방향성 차폐기구; 및
상기 방사선 일방향성 차폐기구와 결합되고, 내부에 방사선 감쇠계수를 구하기 위한 방사선 차폐물질이 안착되는 공간이 형성되어 있으며, 상기 방사선 차폐물질의 두께에 따라 상기 방사선 차폐물질이 안착되는 공간의 길이를 변경할 수 있도록 모듈 구조로 형성되는 방사선 차폐물질 고정 기구;
를 포함하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
In the radiation transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient of the radiation shielding material for radiation in one direction of the radiation source,
A radiation unidirectional shielding mechanism formed of lead having a seating position of a radiation source formed at an upper portion thereof and a radiation straight passage formed at a central portion thereof to ensure a straightness of the radiation of the radiation source in one direction; And
The space is combined with the radiation unidirectional shielding mechanism, and a space in which the radiation shielding material is seated is formed, and the length of the space in which the radiation shielding material is seated is changed according to the thickness of the radiation shielding material. A radiation shielding material fixing mechanism formed in a modular structure to be able to;
Transmittance measurement device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction comprising a.
청구항 1에 있어서,
상기 방사선 직진 통로는 원통형으로 구성되어 있으며,
상기 방사선 직진통로의 중심축의 횡단면인 직사각형구조에서 대각선과 세로축이 이루는 각이 θ인 경우에 cosθ는 0.98 과 같거나 크도록 상기 방사선 직진 통로가 형성되는 것을 특징으로 하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
The method according to claim 1,
The radiation straight passage is of a cylindrical shape,
In the rectangular structure that is the cross section of the central axis of the radiation straight path, when the angle between the diagonal and the vertical axis is θ, the cos θ is formed so that the radiation straight passage is formed such that the radiation straight path is greater than or equal to 0.98. Device for measuring transmittance by thickness for calculation.
청구항 2에 있어서,
상기 방사선 직진 통로의 최대 반지름이 2 mm 인 경우에, 상기 방사선 차폐물질 고정 기구의 상기 차폐물질이 안착되는 공간은 상기 방사선 차폐물질의 반경과 두께의 비율(k)이 0.28 이상이 되도록 상기 방사선 차폐물질이 안착되는 공간이 형성되는 것을 특징으로 하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
The method according to claim 2,
When the maximum radius of the radiation straight path is 2 mm, the space in which the shielding material of the radiation shielding material fixing mechanism is seated is such that the ratio (k) of the radius and thickness of the radiation shielding material is 0.28 or more. Device for measuring the transmittance of each thickness for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction, characterized in that the space in which the material is settled.
청구항 1 내지 청구항 3의 어느 하나의 항에 있어서,
상기 방사선 차폐물질 고정 기구는 합성 수지 또는 MC 나일론(MC NYLON)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The radiation shielding material fixing mechanism is a synthetic resin or MC nylon (MC NYLON) characterized in that the transmittance measurement device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for radiation in one direction.
청구항 1 내지 청구항 3의 어느 하나의 항에 있어서,
상기 방사선 일방향성 차폐기구는 2개의 원판이 결합된 구조로 상부 원판이 하부 원판보다 큰 구조이며, 상기 상부 원판에는 상기 방사선원이 안착되는 공간이 형성되어 있으며, 상기 상부 원판의 상기 방사선원이 안착되는 공간의 하부에서부터 상기 하부 원판 내부에 상기 방사선 직진 통로가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The radiation unidirectional shielding mechanism is a structure in which two disks are combined, the upper disk is larger than the lower disk, and the upper disk is formed with a space in which the radiation source is seated, and a space in which the radiation source of the upper disk is seated. A device for measuring transmittance by thickness for estimating attenuation coefficient for radiation in one direction, characterized in that the straight path of radiation is formed in the lower disc from the lower part of.
청구항 5에 있어서,
상기 방사선 직진 통로는 하나 이상 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 한 방향의 방사선에 대해 감쇠계수 산정을 위한 두께별 투과율 측정 장치.
The method according to claim 5,
At least one rectilinear path is formed, the transmittance measuring device for each thickness for calculating the attenuation coefficient for the radiation in one direction.
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