KR20190120686A - Test method for RF integrated circuit - Google Patents

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KR20190120686A
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윤대영
이선우
조병학
허승찬
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삼성전자주식회사
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Abstract

According to one aspect of a technical idea of the present disclosure, provided is a test method for an RF integrated circuit. The RF integrated circuit comprises the following steps. The RF integrated circuit forms a test loop passing through a first transceiver circuit, a first front-end circuit, and a second transceiver circuit based on a test control signal received from a test device. The RF integrated circuit adjusts a degree of displacement of at least one phase shifter in the first front-end circuit based on the test control signal. The RF integrated circuit receives a test input signal from the test device through the first transceiver circuit, and outputs the test input signal passing through the test loop as a test output signal through the second transceiver circuit.

Description

RF 집적회로에 대한 테스트 방법{Test method for RF integrated circuit}Test method for RF integrated circuit

본 개시의 기술적 사상은 고주파수 대역 신호를 송수신하는 RF 집적회로 양산 단계에서 불량 여부를 판별하기 위한 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 관한 것이다.The technical idea of the present disclosure relates to a test method for an RF integrated circuit for determining whether there is a failure in the mass production stage of the RF integrated circuit that transmits and receives a high frequency band signal.

기존의 통신 기술(예를 들면, 3G 또는 4G)에서의 저주파수 통신 대역과는 달리 밀리미터파 주파수 대역(또는, 고주파수 대역)에서의 신호 감쇄는 통신 성능에 상당한 영향을 주어 밀리미터파를 이용한 통신(예를 들면, 5G)의 구현에 큰 어려움이 있었다. 신호 감쇄를 보완하기 위해 밀리미터파를 이용한 통신에서는 RF 집적회로은 높은 송신 전력을 사용하고, 안테나 이득을 최대화하는 방안이 연구되고 있다. Unlike the low frequency communication bands in conventional communication technologies (eg 3G or 4G), signal attenuation in the millimeter wave frequency band (or high frequency band) has a significant effect on the communication performance, so that millimeter wave communication (eg For example, there was a great difficulty in the implementation of 5G). In order to compensate for signal attenuation, RF integrated circuits use high transmit power and maximize antenna gain in communication using millimeter waves.

한편, 기존의 저주파수 대역의 RF 집적회로의 양산을 위한 특성 평가 환경에서 테스트 장치(예를 들면, 신호 발생기, 신호 수신기)를 이용하여 RF 집적회로를 통과하는 신호의 크기에 따라 RF 집적회로의 정상 또는 불량을 판별한다. 이는 짧은 시간 내에 최대한 많은 개수의 RF 집적회로의 제품 평가를 위함이다. 그러나, 기존의 테스트 장치로는 밀리미터파를 이용한 통신을 지원하는 RF 집적회로의 주요 특성인 위상 변위기에 대한 평가가 어려운 바, 상기 평가를 위해서는 벡터 네트워크 분석기(vector network analyzer)를 활용하는 방안이 제안되고 있다. 다만, 벡터 네트워크 분석기는 매우 고가의 장비이며, 개발 환경에 특화된 장비이므로 RF 집적회로의 양산 단계에서 활용하기는 무리가 있기 때문에, 기존의 양산용 테스트 장치를 이용하여 RF 집적회로에 대한 특성 평가를 수행하는 방안이 연구되고 있는 실정이다.Meanwhile, in a characteristic evaluation environment for mass production of a conventional low frequency band RF integrated circuit, a test apparatus (for example, a signal generator and a signal receiver) is used to normalize an RF integrated circuit according to the size of a signal passing through the RF integrated circuit. Or determine the failure. This is for product evaluation of as many RF integrated circuits as possible in a short time. However, it is difficult to evaluate a phase shifter, which is a main characteristic of an RF integrated circuit supporting millimeter wave communication using a conventional test apparatus. Therefore, a method using a vector network analyzer may be used for the evaluation. It is proposed. However, since vector network analyzer is very expensive equipment and specialized equipment for development environment, it is impossible to use it at the mass production stage of RF integrated circuit. Therefore, the characteristics of RF integrated circuit is evaluated using the existing mass production test equipment. The way to carry out is being studied.

본 개시의 기술적 사상이 해결하려는 과제는 밀리미터파를 이용한 통신을 지원하는 RF 집적회로의 양산 단계에서 RF 집적회로의 위상 변위기를 테스트하여 RF 집적회로의 특성을 효율적으로 평가할 수 있는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법을 제공하는 데에 있다.The problem to be solved by the technical idea of the present disclosure is to test the phase shifter of the RF integrated circuit in the mass production stage of the RF integrated circuit supporting the millimeter wave communication for an RF integrated circuit that can efficiently evaluate the characteristics of the RF integrated circuit To provide a test method.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 제1 안테나 어레이와의 연결을 위한 복수의 스위치 소자들이 구비된 제1 프론트-엔드 회로, 제2 안테나 어레이와의 연결을 위한 복수의 스위치 소자들이 구비된 제2 프론트-엔드 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제1 트랜시버 회로, 상기 제2 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제2 트랜시버 회로 및 상기 프론트-엔드 회로들과 상기 트랜시버 회로들간의 선택적인 연결을 위한 스위칭 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서, 상기 RF 집적회로는, 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 제1 트랜시버 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로 및 상기 제2 트랜시버 회로를 경유하는 테스트 루프를 형성하는 단계, 상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계 및 상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 제1 트랜시버 회로를 통해 수신하고, 상기 테스트 루프를 통과한 상기 테스트 입력신호를 상기 제2 트랜시버 회로를 통해 테스트 출력신호로서 상기 테스트 장치에 출력하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above object, a first front-end circuit having a plurality of switch elements for connection with a first antenna array, a second having a plurality of switch elements for connection with a second antenna array. A front transceiver circuit, a first transceiver circuit connected to the first front-end circuit to transmit and receive a signal, a second transceiver circuit connected to the second front-end circuit to transmit and receive a signal, and the front-end circuits; 12. A test method for an RF integrated circuit comprising a switching circuit for selective connection between the transceiver circuits, the RF integrated circuit comprising: the first transceiver circuit, the first transceiver circuit based on a test control signal received from a test device; Forming a test loop via one front-end circuit and the second transceiver circuit, wherein the RF integrated circuit comprises: Adjusting a degree of displacement of at least one phase shifter in the first front-end circuit based on a network control signal and the RF integrated circuit receives a test input signal from the test device through the first transceiver circuit. And outputting the test input signal passing through the test loop to the test apparatus as a test output signal through the second transceiver circuit.

본 개시의 다른 측면에 따른 복수의 안테나들과 각각 연결된 복수의 송수신 체인들이 구비된 프론트-엔드 회로, 상기 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 트랜시버 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서, 상기 RF 집적회로는, 제1 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 송수신 체인들 중 적어도 두 개의 선택 송수신 체인들 내에 송신 패스(path)들을 형성하는 단계, 상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 선택 송수신 체인들 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계, 상기 RF 집적회로는, 상기 제1 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 트랜시버 회로를 통해 수신하고, 상기 송신 패스들을 경유한 상기 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 상기 선택 송수신 체인들과 연결된 안테나들을 통해 제2 테스트 장치로 송신하는 단계를 포함한다.Test method for an RF integrated circuit comprising a front-end circuit having a plurality of transmit and receive chains, each connected to a plurality of antennas according to another aspect of the present disclosure, and a transceiver circuit connected to the front-end circuit for transmitting and receiving signals The RF integrated circuit of claim 1, wherein the RF integrated circuit forms transmission paths in at least two selected transmit / receive chains of the transmit / receive chains based on a test control signal received from a first test device. And adjusting a degree of displacement of at least one phase shifter of the phase shifters in the selected transmission / reception chains based on the test control signal, wherein the RF integrated circuit is configured to receive a test input signal from the first test device. Receives through a transceiver circuit and test outputs the test input signal via the transmission paths. A call comprises the step of sending the second test device via the antenna connected with the selected transmission and reception chains.

본 개시의 또 다른 측면에 따른 복수의 안테나들과 각각 연결된 복수의 송수신 체인들이 구비된 제1 프론트-엔드 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제1 트랜시버 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서, 상기 RF 집적회로는, 제1 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 송수신 체인들 중 적어도 두 개의 선택 송수신 체인들 내에 수신 패스들을 형성하는 단계, 상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 선택 송수신 체인들 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계, 상기 RF 집적회로는, 제2 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 프론트-엔드 회로를 통해 수신하고, 상기 수신 패스들을 통과한 상기 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 상기 트랜시버 회로를 통해 상기 제1 테스트 장치로 출력하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present disclosure includes a first front-end circuit having a plurality of transmission and reception chains respectively connected to a plurality of antennas, and a first transceiver circuit connected to the first front-end circuit for transmitting and receiving a signal; 12. A test method for an RF integrated circuit, the RF integrated circuit forming receive paths in at least two selected transmit and receive chains of the transmit and receive chains based on a test control signal received from a first test device; The RF integrated circuit adjusts a degree of displacement of at least one phase shifter of the phase shifters in the select transmission / reception chains based on the test control signal, wherein the RF integrated circuit includes a test input from a second test device. Receive a signal through the front-end circuit and test the test input signal passing through the receive paths As an output signal includes a step of outputting to the first test device via the transceiver circuit.

본 개시의 일 실시예에 따른 RF 집적회로에 대한 테스트 방법은 RF 집적회로 내에 테스트를 위한 내부 경로를 형성하여, 내부 경로를 통과한 테스트 신호의 크기를 이용하여 밀리미터파 대역에서의 RF 집적회로의 특성을 쉽고 빠르게 평가할 수 있고, 평가된 특성을 기반으로 많은 개수의 RF 집적회로들의 정상 또는 불량을 일괄적으로 판별할 수 있기 때문에, RF 집적회로의 양산 단계에서 수행되는 테스트 방법으로 적합한 특징이 있다.A test method for an RF integrated circuit according to an embodiment of the present disclosure forms an internal path for a test in the RF integrated circuit, and uses the magnitude of the test signal passing through the internal path to determine an RF integrated circuit in the millimeter wave band. Since the characteristics can be easily and quickly evaluated and the normal or the defect of a large number of RF integrated circuits can be collectively determined based on the evaluated characteristics, there is a suitable characteristic as a test method performed at the mass production stage of the RF integrated circuit. .

도 1은 무선 통신 동작을 수행하는 무선 통신 장치 및 이를 포함하는 무선 통신 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 RF 집적회로를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 도 2의 제1 프론트-엔드 회로를 설명하기 위한 블록도이다.
도 4a 내지 도 4c는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 스위칭 회로 및 트랜시버 회로들을 설명하기 위한 블록도이다.
도 5a 및 도 5b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 제1 프론트-엔드 회로를 구체적으로 설명하기 위한 블록도이다.
도 6은 본 개시의 일 실시예에 따른 테스트 출력신호의 크기를 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 개시의 일 실시 예에 따른 노이즈에 강한 특성 평가 테스트가 수행되는 제1 프론트-엔드 회로를 설명하기 위한 블록도이다.
도 8은 도 5a보다 더 많은 송수신 체인들을 이용하여 테스트 루프를 형성하여 특성 평가 테스트를 수행할 때의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 10은 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.
도 11a 및 도 11b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로 내 송신 패스들을 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도이고, 도 11c는 도 11a 및 도 11b에서와 같이 송신 패스들을 이용한 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.
도 12a 및 도 12b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로 내 수신 패스들을 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도이고, 도 12c는 도 12a 및 도 12b에서와 같이 수신 패스들을 이용한 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.
도 13a 내지 도 13c는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로에 연결되는 안테나 종류를 설명하기 위한 도면이다.
도 14는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트를 통해 정상으로 판별되어 양산된 RF 집적회로를 포함하는 통신 기기들을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a wireless communication device performing a wireless communication operation and a wireless communication system including the same.
2 is a block diagram illustrating an RF integrated circuit in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.
FIG. 3 is a block diagram illustrating a first front-end circuit of FIG. 2 in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.
4A through 4C are block diagrams illustrating switching circuits and transceiver circuits in which a characteristic evaluation test is performed according to an exemplary embodiment.
5A and 5B are block diagrams illustrating in detail a first front-end circuit in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.
6 is a view for explaining a characteristic evaluation test method using the magnitude of a test output signal according to an embodiment of the present disclosure.
FIG. 7 is a block diagram illustrating a first front-end circuit for performing a characteristic evaluation test against noise according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
FIG. 8 is a diagram for describing an effect of performing a characteristic evaluation test by forming a test loop using more transmission / reception chains than FIG. 5A.
9 is a flowchart illustrating a characteristic evaluation test method for an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
FIG. 10 is a flowchart for describing step S100 of FIG. 9 in detail.
11A and 11B are block diagrams illustrating a characteristic evaluation test method using transmission paths in an RF integrated circuit according to an embodiment of the present disclosure, and FIG. 11C is a diagram using transmission paths as in FIGS. 11A and 11B. 9 is a flowchart for specifically describing step S100 of FIG.
12A and 12B are block diagrams illustrating a characteristic evaluation test method using reception paths in an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure, and FIG. 12C is a diagram using reception paths as in FIGS. 12A and 12B. 9 is a flowchart for specifically describing step S100 of FIG.
13A to 13C are diagrams for describing antenna types connected to an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
14 is a diagram illustrating communication devices including an RF integrated circuit that is determined to be normal and mass produced through a characteristic evaluation test according to an embodiment of the present disclosure.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment of the present invention.

도 1은 무선 통신 동작을 수행하는 무선 통신 장치 및 이를 포함하는 무선 통신 시스템을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a wireless communication device performing a wireless communication operation and a wireless communication system including the same.

도 1을 참조하면, 무선 통신 시스템(10)은 LTE(Long Term Evolution) 시스템, CDMA(Code Division Multiple) 시스템, GSM 시스템(Global System for Mobile Communication), WLAN(Wireless Local Area Network) 시스템 등 중 어느 하나일 수 있다. 또한, CDMA 시스템은 광대역 CDMA(WCDMA), 시간 분할 동기화 CDMA(TD-SCDMA), cdma2000 등의 다양한 CDMA 버전으로 구현될 수 있다.Referring to FIG. 1, the wireless communication system 10 may be any one of a long term evolution (LTE) system, a code division multiple (CDMA) system, a global system for mobile communication (GSM) system, a wireless local area network (WLAN) system, and the like. It can be one. In addition, the CDMA system may be implemented in various CDMA versions such as wideband CDMA (WCDMA), time division synchronization CDMA (TD-SCDMA), cdma2000, and the like.

무선 통신 시스템(10)은 적어도 두 개의 기지국(110, 112; Base Station) 및 시스템 컨트롤러(120)를 포함할 수 있다. 다만, 이는 예시적 실시예로 이에 국한되지 않으며, 무선 통신 시스템(10)은 다수의 기지국들 및 다수의 네트워크 엔티티들(Network entities)을 포함할 수 있다. 무선 통신 장치(100)는 UE(User Equipment), MS(Mobile Station), MT(Mobile Terminal), UT(User Terminal), SS(Subscribe Station), 휴대 장치 등으로 지칭될 수 있다. 기지국(110, 112)은 무선 통신 장치(100) 및/또는 다른 기지국과 통신하는 고정된 지점(fixed station)을 지칭할 수 있고, 무선 통신 장치(100) 및/또는 다른 기지국과 통신하여 데이터 신호 및/또는 제어 정보를 포함하는 RF(Radio Frequency) 신호를 송수신할 수 있다. 기지국(110, 120)은 Node B, eNB(evolved-Node B), BTS(Base Transceiver System) 및 AP(Access Point) 등으로 지칭될 수도 있다.The wireless communication system 10 may include at least two base stations 110 and 112 and a system controller 120. However, this is an exemplary embodiment, but is not limited thereto, and the wireless communication system 10 may include a plurality of base stations and a plurality of network entities. The wireless communication device 100 may be referred to as a user equipment (UE), a mobile station (MS), a mobile terminal (MT), a user terminal (UT), a subscriber station (SS), a portable device, or the like. Base stations 110 and 112 may refer to a fixed station that communicates with wireless communication device 100 and / or other base stations, and communicates with wireless communication device 100 and / or other base stations in a data signal. And / or transmit / receive a Radio Frequency (RF) signal including control information. The base stations 110 and 120 may also be referred to as a Node B, an evolved-Node B (eNB), a base transceiver system (BTS), an access point (AP), and the like.

무선 통신 장치(100)는 무선 통신 시스템(10)과 통신할 수 있으며, 브로드캐스트 스테이션(114)으로부터 신호들을 수신할 수 있다. 더 나아가, 무선 통신 장치(100)는 글로벌 네비게이션 위성 시스템(Global Navigation Satellite System, GNSS)의 위성(130)으로부터 신호를 수신할 수 있다. 무선 통신 장치(100)는 무선 통신(예를 들면, 5G(5th gerneration), LTE, cdma2000, WCDMA, TD-SCDMA, GSM, 802.11 등)을 위한 라디오(radio) 기술을 지원할 수 있다.The wireless communication device 100 may communicate with the wireless communication system 10 and may receive signals from the broadcast station 114. Furthermore, the wireless communication device 100 may receive a signal from the satellite 130 of the global navigation satellite system (GNSS). The wireless communication device 100 may support radio technology for wireless communication (eg, 5 th gerneration (5G), LTE, cdma2000, WCDMA, TD-SCDMA, GSM, 802.11, etc.).

특히, 무선 통신 장치(100)는 밀리미터파(mm-Wave) 무선 통신 기술을 지원할 수 있으며, 30~300GHz의 초고주파를 이용하여 1GHz 이상의 대역폭을 사용하고, 밀리미터(mm) 단위의 짧은 파장을 제어하여 대량의 멀티미디어 정보를 전송할 수 있다. 무선 통신 장치(100)의 RF 집적회로는 양산 과정에서 안테나와 연결되기 전 또는 안테나와 연결된 후에 밀리미터파 대역에서의 특성 평가 테스트를 통과한 것일 수 있다. In particular, the wireless communication device 100 may support a millimeter-wave (mm-Wave) wireless communication technology, using a bandwidth of 1GHz or more by using an ultra-high frequency of 30 ~ 300GHz, by controlling a short wavelength in millimeters (mm) unit A large amount of multimedia information can be transmitted. The RF integrated circuit of the wireless communication device 100 may have passed the characteristic evaluation test in the millimeter wave band before or after being connected to the antenna in the mass production process.

일 실시 예로, 무선 통신 장치(100)의 RF 집적회로 내에는 특성 평가 테스트를 위한 테스트 루프가 형성되고, RF 집적회로에 입력된 테스트 입력신호는 테스트 루프를 통과하여 테스트 출력신호로서 테스트 장치에 출력될 수 있다. 테스트 루프는 다중 안테나 기술을 지원하기 위해 RF 집적회로에 구비된 복수의 위상 변위기들을 경유할 수 있으며, 테스트 장치는 특성 평가 테스트 시에 RF 집적회로 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 타겟 위상 변위기에 대한 변위 정도를 조절하면서 테스트 출력신호의 크기 변화를 체크하고, 체크 결과를 기반으로 RF 집적회로(구체적으로는, RF 집적회로 내의 위상 변위기들)의 특성을 평가할 수 있다.In an embodiment, a test loop for a characteristic evaluation test is formed in an RF integrated circuit of the wireless communication device 100, and a test input signal input to the RF integrated circuit passes through the test loop and outputs to the test device as a test output signal. Can be. The test loop may pass through a plurality of phase shifters provided in the RF integrated circuit to support the multi-antenna technique, and the test apparatus may change the target phase shift of at least one of the phase shifters in the RF integrated circuit during the characteristic evaluation test. The magnitude of the test output signal can be checked while adjusting the degree of displacement to the crisis, and based on the check result, the characteristics of the RF integrated circuit (specifically, phase shifters in the RF integrated circuit) can be evaluated.

일 실시 예로, 무선 통신 장치(100)의 RF 집적회로 내에는 특성 평가 테스트를 위한 복수의 송신 패스들 또는 복수의 수신 패스들이 형성되고, RF 집적회로에 입력된 테스트 입력신호는 송신 패스들을 통과하여 RF 집적회로와 연결된 안테나 어레이를 통해 테스트 출력신호로서 테스트 장치에 송신되거나, 안테나 어레이를 통해 RF 집적회로에 수신된 테스트 입력신호는 수신 패스들을 통과하여 테스트 출력신호로서 테스트 장치에 출력될 수 있다. 송신 패스들 또는 수신 패스들은 다중 안테나 기술을 지원하기 위해 RF 집적회로에 구비된 복수의 위상 변위기들을 경유할 수 있으며, 테스트 장치는 특성 평가 테스트 시에 RF 집적회로 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 타겟 위상 변위기에 대한 변위 정도를 조절하면서 테스트 출력신호의 크기 변화를 체크하고, 체크 결과를 기반으로 RF 집적회로(구체적으로는, RF 집적회로 내의 위상 변위기들)의 특성 및 RF 집적회로와 연결된 안테나 어레이(또는, 안테나 모듈)의 방사 특성, 수신 특성을 평가할 수 있다.In an embodiment, a plurality of transmission paths or a plurality of reception paths for a characteristic evaluation test are formed in the RF integrated circuit of the wireless communication device 100, and the test input signal input to the RF integrated circuit passes through the transmission paths. The test input signal may be transmitted to the test apparatus as a test output signal through an antenna array connected to the RF integrated circuit, or the test input signal received at the RF integrated circuit through the antenna array may be output to the test apparatus as a test output signal through the reception paths. The transmit passes or receive passes may be via a plurality of phase shifters provided in the RF integrated circuit to support multiple antenna technology, and the test apparatus may include at least one of the phase shifters in the RF integrated circuit during the characteristic evaluation test. The magnitude of the test output signal is checked while adjusting the degree of displacement with respect to the target phase shifter, and based on the check result, the characteristics of the RF integrated circuit (specifically, phase shifters in the RF integrated circuit) and the RF integrated circuit The radiation characteristics and the reception characteristics of the antenna array (or the antenna module) connected with may be evaluated.

위와 같이, 본 개시의 일 실시 예에 따른 무선 통신 장치(100)의 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트 방법을 통하여 RF 집적회로들에 대한 정상 또는 불량을 쉽고, 빠르게 판별함으로써, 밀리미터파 대역에서의 RF 집적회로 및 RF 집적회로에 연결되는 안테나 어레이(또는, 안테나 모듈)에 대한 양산을 효과적으로 수행할 수 있다.As described above, by easily and quickly determining the normal or bad for the RF integrated circuits through the characteristic evaluation test method for the RF integrated circuit of the wireless communication device 100 according to an embodiment of the present disclosure, Mass production of the RF integrated circuit and the antenna array (or antenna module) connected to the RF integrated circuit can be performed efficiently.

도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 RF 집적회로를 설명하기 위한 블록도이다.2 is a block diagram illustrating an RF integrated circuit in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.

도 2를 참조하면, RF 집적회로(200)는 복수의 프론트-엔드 회로들(230a-230k), 스위칭 회로(240) 및 복수의 트랜시버 회로들(250a-250m)을 포함할 수 있다. 프론트-엔드 회로(230a-230k)는 각각 안테나 어레이(210a-210k)와 직접 연결될 수 있으며, 안테나 어레이(210a-210k)는 복수의 안테나들(212a_1-212a_n, 212b_1-212b_n,?,212k_1-212k_n)을 포함할 수 있다. 프론트-엔드 회로(230a-230k)는 다중 안테나 기술을 지원하기 위한 복수의 위상 변위기들을 포함할 수 있다. 구체적으로, 프론트-엔드 회로(230a-230k) 내의 RF 신호를 송수신하는 복수의 경로들은 각각 위상 변위기를 경유할 수 있다. 다만, RF 집적회로(200)의 테스트 루프(T_Loop)를 이용한 특성 평가 테스트를 수행할 때의 프론트-엔드 회로(230a-230k)에는 안테나 어레이(210a-210k)가 연결되지 않은 상태를 전제하며, 이에 따라, 도 2에서 안테나 어레이들(210a-210k)은 점선으로 도시되었다. 또한, RF 집적회로(200)에 대한 특성 평가 테스트는 복수의 프론트-엔드 회로들(230a-230k)에 대한 특성 평가 테스트들을 포함할 수 있다. 프론트-엔드 회로(230a-230k)에 대한 특성 평가 테스트는 각 프론트-엔드 회로(230a-230k) 내의 복수의 위상 변위기들에 대한 특성 평가 테스트들을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the RF integrated circuit 200 may include a plurality of front-end circuits 230a-230k, a switching circuit 240, and a plurality of transceiver circuits 250a-250m. The front-end circuits 230a-230k may be directly connected to the antenna arrays 210a-210k, respectively, and the antenna arrays 210a-210k may each include a plurality of antennas 212a_1-212a_n, 212b_1-212b_n,?, 212k_1-212k_n ) May be included. The front-end circuits 230a-230k may include a plurality of phase shifters to support multiple antenna technology. Specifically, the plurality of paths for transmitting and receiving the RF signal in the front-end circuits 230a-230k may each pass through a phase shifter. However, it is assumed that the antenna arrays 210a-210k are not connected to the front-end circuits 230a-230k when performing the characteristic evaluation test using the test loop T_Loop of the RF integrated circuit 200. Accordingly, the antenna arrays 210a-210k are shown in dashed lines in FIG. 2. In addition, the characteristic evaluation test for the RF integrated circuit 200 may include characteristic evaluation tests for the plurality of front-end circuits 230a-230k. Characterization tests for front-end circuits 230a-230k may include characterization tests for a plurality of phase shifters in each front-end circuit 230a-230k.

트랜시버 회로(250a-250m)는 프론트-엔드 회로들(230a-230k) 중 적어도 하나에 전용으로 할당(dedicated)될 수 있다. 예를 들어, 제1 트랜시버 회로(250a-250m)가 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 할당된 경우, 제1 트랜시버 회로(250a)는 제1 프론트-엔드 회로(230a)를 통해 통신 신호를 송수신할 수 있다. 이하에서는, 제1 트랜시버 회로(250a)는 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 할당되고, 제2 트랜시버 회로(250b)는 제2 프론트-엔드 회로(230b)에 할당된 것을 가정하여 서술한다. The transceiver circuits 250a-250m may be dedicated to at least one of the front-end circuits 230a-230k. For example, when the first transceiver circuits 250a-250m are assigned to the first front-end circuit 230a, the first transceiver circuit 250a sends a communication signal through the first front-end circuit 230a. Can send and receive In the following description, it is assumed that the first transceiver circuit 250a is assigned to the first front-end circuit 230a and the second transceiver circuit 250b is assigned to the second front-end circuit 230b.

스위칭 회로(240)는 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트 또는 통신 동작을 수행할 때에, 프론트-엔드 회로들(230a-230k)과 트랜시버 회로들(250a-250k)간의 선택적인 연결 동작을 수행할 수 있다. 또한, 스위칭 회로(240)는 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트 시에 트랜시버 회로들(250a-250k) 중 테스트 루프(T_Loo)가 경유하는 두 개의 트랜시버 회로들을 선택적으로 연결하기 위한 연결 회로를 포함할 수 있다. 스위칭 회로(240)의 연결 회로의 구조를 통하여 테스트 루프(T_Loop)를 통과한 테스트 입력신호(TS_IN)는 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 테스트 장치(TD)에 출력될 수 있다.The switching circuit 240 may perform a selective connection operation between the front-end circuits 230a-230k and the transceiver circuits 250a-250k when performing a characteristic evaluation test or communication operation on the RF integrated circuit. have. In addition, the switching circuit 240 may include a connection circuit for selectively connecting two transceiver circuits via the test loop T_Loo among the transceiver circuits 250a-250k during the characteristic evaluation test on the RF integrated circuit. Can be. The test input signal TS_IN passing through the test loop T_Loop through the structure of the connection circuit of the switching circuit 240 is output to the test device TD as the test output signal TS_OUT through the second transceiver circuit 250b. Can be.

일 실시 예에 따른 RF 집적회로(200)는 테스트 장치(TD)로부터 테스트 제어신호(T_CS)를 수신하고, 테스트 제어신호(Test_CS)에 응답하여 RF 집적회로(200) 내의 테스트 루프(T_Loop)를 형성할 수 있다. 일 예로서, 테스트 루프(T_Loop)는 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 위상 변위기들의 특성을 평가하기 위해 형성된 것이며, 테스트 루프(T_Loop)는 제1 트랜시버 회로(250a), 제1 프론트-엔드 회로(230a) 및 제2 트랜시버 회로(250b)를 경유하도록 형성될 수 있다. 다만, 이는 예시적인 실시예에 불과한 바, 이에 국한되지 않고, 테스트 루프(T_Loop)는 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 다른 프론트-엔드 회로들(230b-230k) 내의 위상 변위기들의 특성을 평가할 수 있도록 다양하게 형성될 수 있다. 일 예로, 테스트 루프(T_Loop)는 제2 프론트-엔드 회로(230b) 내의 위상 변위기들의 특성을 평가하기 위해 형성된 것인 때에, 테스트 루프(T_Loop)는 제2 트랜시버 회로(250b), 제2 프론트-엔드 회로(230b) 및 제1 트랜시버 회로(250a)를 경유하도록 형성될 수 있다.The RF integrated circuit 200 according to an exemplary embodiment receives the test control signal T_CS from the test device TD and performs a test loop T_Loop in the RF integrated circuit 200 in response to the test control signal Test_CS. Can be formed. As an example, the test loop T_Loop is formed to evaluate the characteristics of the phase shifters in the first front-end circuit 230a, and the test loop T_Loop is the first transceiver circuit 250a, the first front- It may be formed through the end circuit 230a and the second transceiver circuit 250b. However, this is only an exemplary embodiment, and is not limited thereto. The test loop T_Loop may evaluate characteristics of phase shifters in the other front-end circuits 230b to 230k based on the test control signal Test_CS. It can be formed in various ways. As an example, when the test loop T_Loop is formed to evaluate characteristics of phase shifters in the second front-end circuit 230b, the test loop T_Loop may include the second transceiver circuit 250b and the second front. And may be formed via the end circuit 230b and the first transceiver circuit 250a.

제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 위상 변위기들 중 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 적어도 하나의 타겟 위상 변위기가 선택되고, 타겟 위상 변위기의 변위 정도가 조절될 수 있으며, 타겟 위상 변위기 외의 나머지 위상 변위기들의 변위 정도가 고정될 수 있다. 타겟 위상 변위기의 변위 정도가 조절될 때마다, 테스트 장치(TD)는 기저 대역 또는 중간 주파수 대역의 테스트 입력신호(TS_IN)를 제1 트랜시버 회로(250a)에 제공할 수 있으며, 테스트 입력신호(TS_IN)는 테스트 루프(T_Loop)를 통과하여, 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 테스트 장치(TD)에 출력될 수 있다.At least one target phase shifter may be selected based on a test control signal Test_CS among the phase shifters in the first front-end circuit 230a, and the degree of displacement of the target phase shifter may be adjusted. The degree of displacement of the remaining phase shifters outside the crisis can be fixed. Each time the degree of displacement of the target phase shifter is adjusted, the test device TD may provide a test input signal TS_IN of the base band or the intermediate frequency band to the first transceiver circuit 250a, and the test input signal ( The TS_IN may pass through the test loop T_Loop and may be output to the test device TD as the test output signal TS_OUT through the second transceiver circuit 250b.

테스트 장치(TD)는 타겟 위상 변위기의 변위 정도가 조절됨에 따른 복수의 테스트 출력신호들(TS_OUT)의 크기를 기반으로 타겟 위상 변위기의 특성을 평가하여 타겟 위상 변위기의 불량 여부를 판별할 수 있다.The test apparatus TD may determine whether the target phase shifter is defective by evaluating characteristics of the target phase shifter based on the magnitudes of the plurality of test output signals TS_OUT as the degree of displacement of the target phase shifter is adjusted. Can be.

제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트가 완료된 때에, 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 제1 프론트-엔드 회로(230a)에서 다음 타겟 위상 변위기를 선택하고, 전술한 특성 평가 테스트를 반복하여 수행할 수 있다. 이와 같은 방식으로 테스트 장치(TD)는 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 위상 변위기들에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 테스트 결과를 기반으로 제1 프론트-엔드 회로(230a)의 불량 여부를 판별할 수 있다.When the characteristic evaluation test for the target phase shifter in the first front-end circuit 230a is completed, the next target phase shifter is selected in the first front-end circuit 230a based on the test control signal Test_CS, The aforementioned characteristic evaluation test can be repeated. In this manner, the test apparatus TD may perform a characteristic evaluation test on the phase shifters in the first front-end circuit 230a and based on the test result, It can be determined whether or not defective.

테스트 장치(TD)는 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트가 완료된 때에, 다음 제2 프론트-엔드 회로(230b)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 이와 같은 방식으로 테스트 장치(TD)는 모든 프론트-엔드 회로들(230a-230k)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 테스트 결과를 기반으로 RF 집적회로(200)의 불량 여부를 판별할 수 있다. 일 실시 예로, 테스트 장치(TD)는 프론트-엔드 회로들(230a-230k) 중 소정의 개수 이상의 프론트-엔드 회로들이 불량인 때에는 RF 집적회로(200)를 불량으로 판별할 수 있다.The test device TD may perform a characteristic evaluation test on the next second front-end circuit 230b when the characteristic evaluation test on the first front-end circuit 230a is completed. In this manner, the test apparatus TD may perform a characteristic evaluation test on all the front-end circuits 230a-230k, and determine whether the RF integrated circuit 200 is defective based on the test result. have. According to an embodiment, the test apparatus TD may determine that the RF integrated circuit 200 is defective when more than a predetermined number of front-end circuits among the front-end circuits 230a-230k are defective.

또한, 일 실시 예로, 테스트 장치(TD)는 프론트-엔드 회로들(230a-230k) 중 일부에 대해서만 선택적으로 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 더 나아가, 하나의 프론트-엔드 회로(230a-230k) 내의 일부 위상 변위기들에 대해서만 선택적으로 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.In addition, in one embodiment, the test device TD may selectively perform a characteristic evaluation test on only some of the front-end circuits 230a-230k, and furthermore, one front-end circuit 230a-230k It is possible to selectively perform the characteristic evaluation test only for some phase shifters in the).

도 3은 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 도 2의 제1 프론트-엔드 회로를 설명하기 위한 블록도이다.FIG. 3 is a block diagram illustrating a first front-end circuit of FIG. 2 in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.

도 3을 참조하면, 제1 프론트-엔드 회로(230a)는 복수의 송수신 체인들(320_1-320_4), 복수의 스플리터들(330a-330c), 복수의 컴바이너들(331a-331c) 및 복수의 드라이버들(332, 333)을 포함할 수 있다. 제1 송수신 체인(320_1)은 송신 체인(321_1) 및 수신 체인(321_2)을 포함하고, 송신 체인(321_1) 및 수신 체인(322_1)은 각각 스위치 소자(322_1)를 통해 제1 안테나(212a_1)와 연결될 수 있다. 송신 체인(321_1)은 전력 증폭기(323_1) 및 위상 변위기(324_1)를 포함하고, 수신 체인(321_2)은 저잡음 증폭기(326_1) 및 위상 변위기(327_1)를 포함할 수 있다. 송신 체인(321_1)은 송신 라인으로 지칭되고, 수신 체인(321_2)은 수신 라인으로 지칭될 수 있다. 제1 송수신 체인(320_1)의 구조는 다른 송수신 체인들(320_2-320_4)에도 적용될 수 있다. 송수신 체인들(320_1-320_4) 각각에 연결되는 안테나들(212a_1-212a_4)은 안테나 어레이로 지칭될 수 있다.Referring to FIG. 3, the first front-end circuit 230a includes a plurality of transmit and receive chains 320_1-320_4, a plurality of splitters 330a-330c, a plurality of combiners 331a-331c, and a plurality of Drivers 332, 333. The first transmit / receive chain 320_1 includes a transmit chain 321_1 and a receive chain 321_2, and the transmit chain 321_1 and the receive chain 322_1 respectively communicate with the first antenna 212a_1 through the switch element 322_1. Can be connected. The transmit chain 321_1 may include a power amplifier 323_1 and a phase shifter 324_1, and the receive chain 321_2 may include a low noise amplifier 326_1 and a phase shifter 327_1. The transmit chain 321_1 may be referred to as a transmit line, and the receive chain 321_2 may be referred to as a receive line. The structure of the first transmit / receive chain 320_1 may be applied to other transmit / receive chains 320_2-320_4. Antennas 212a_1-212a_4 connected to each of the transmit / receive chains 320_1-320_4 may be referred to as an antenna array.

제1 송수신 체인(320_1)의 송신 체인(321_1)과 제2 송수신 체인(320_2)의 송신 체인은 제1 스플리터(330a)와 연결되고, 제3 송수신 체인(320_3)의 송신 체인과 제4 송수신 체인(320_4)의 송신 체인은 제2 스플리터(330b)와 연결될 수 있다. 제1 스플리터(330a)와 제2 스플리터(330b)는 제3 스플리터(330c)와 연결될 수 있다. 제3 스플리터(330c)는 제1 드라이버(332)로부터 출력된 송신 신호를 분리해 제1 스플리터(330a) 및 제2 스플리터(330b)에 제공할 수 있으며, 제1 스플리터(330a)는 분리된 송신 신호를 한번 더 분리하여 제1 송수신 체인(320_1) 및 제2 송수신 체인(320_2)에 제공하고, 제2 스플리터(330b)는 분리된 송신 신호를 한번 더 분리하여 제3 송수신 체인(320_3) 및 제4 송수신 체인(320_4)에 제공할 수 있다.The transmission chain 321_1 of the first transmission / reception chain 320_1 and the transmission chain of the second transmission / reception chain 320_2 are connected to the first splitter 330a, and the transmission chain and the fourth transmission / reception chain of the third transmission / reception chain 320_3 are connected. The transmit chain of 320_4 may be connected to the second splitter 330b. The first splitter 330a and the second splitter 330b may be connected to the third splitter 330c. The third splitter 330c may separate the transmission signal output from the first driver 332 and provide it to the first splitter 330a and the second splitter 330b, and the first splitter 330a is a separate transmission. The signal is separated once more and provided to the first transmit / receive chain 320_1 and the second transmit / receive chain 320_2, and the second splitter 330b separates the separated transmit signal once more to separate the third transmit / receive chain 320_3 and the first. 4 may be provided to the transmit / receive chain 320_4.

제1 송수신 체인(320_1)의 수신 체인(321_2)과 제2 송수신 체인(320_2)의 수신 체인은 제1 컴바이너(331a)와 연결되고, 제3 송수신 체인(320_3)의 수신 체인과 제4 송수신 체인(320_4)의 수신 체인은 제2 컴바이너(331b)와 연결될 수 있다. 제1 컴바이너(331a)와 제2 컴바이너(331b)는 제3 컴바이너(331c)와 연결될 수 있다. 제1 컴바이너(331a)는 제1 송수신 체인(320_1) 및 제2 송수신 체인(320_2)으로부터 수신한 수신 신호를 합하여 제3 컴바이너(331c)에 제공하고, 제2 컴바이너(331b)는 제3 송수신 체인(320_3) 및 제4 송수신 체인(320_4)으로부터 수신한 수신 신호를 합하여 제3 컴바이너(331c)에 제공할 수 있다. 제3 컴바이너(331c)는 컴바이너들(331a, 331b)로부터 수신한 수신 신호를 합하여 제2 드라이버(333)로 출력할 수 있다.The reception chain 321_2 of the first transmission / reception chain 320_1 and the reception chain of the second transmission / reception chain 320_2 are connected to the first combiner 331a, and the reception chain and the fourth transmission / reception chain 320_3 of the third transmission / reception chain 320_3. The reception chain of the transmission / reception chain 320_4 may be connected to the second combiner 331b. The first combiner 331a and the second combiner 331b may be connected to the third combiner 331c. The first combiner 331a adds the received signals received from the first transmit / receive chain 320_1 and the second transmit / receive chain 320_2 to the third combiner 331c, and the second combiner 331b. ) May add the received signals received from the third transmit / receive chain 320_3 and the fourth transmit / receive chain 320_4 to the third combiner 331c. The third combiner 331c may add the received signals received from the combiners 331a and 331b and output the sum signal to the second driver 333.

제1 프론트-엔드 회로(230a)와 스위칭 회로(240)는 테스트 제어신호(Test_CS)를 수신하고, 이에 응답하여 테스트 루프를 형성할 수 있다. 구체적으로, 송수신 체인들(320_1-320_4) 내의 스위치 소자들(예를 들면, 제1 송수신 체인들(320_1)의 송신 체인(321_1)과 수신 체인(321_2) 사이에 연결된 스위치 소자(322_1))의 스위칭이 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 제어되고, 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 스위칭이 제어된 스위칭 회로(240)에 의해 제1 트랜시버 회로(250a)와 제2 트랜시버 회로(250b)가 연결됨으로써, 테스트 루프가 형성될 수 있다. 즉, 테스트 루프는 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 복수의 송수신 체인들(320_1-320_4) 중 적어도 둘 이상의 송수신 체인들에 각각 형성된 테스트 서브 루프들을 포함할 수 있다. 이하에서는, 테스트 루프가 경유하는 송수신 체인은 선택 송수신 체인으로 지칭될 수 있다. 또한, 도 3에 도시되지는 않았으나, 테스트 루프를 형성하기 위하여 제1 트랜시버 회로(250a)와 제2 트랜시버 회로(250b)도 테스트 제어신호(Test_CS)를 수신하고, 이에 응답하여 각각에 포함된 스위치 소자가 제어될 수 있다.The first front-end circuit 230a and the switching circuit 240 may receive the test control signal Test_CS and form a test loop in response thereto. Specifically, the switch elements in the transmit / receive chains 320_1-320_4 (eg, the switch element 322_1 connected between the transmit chain 321_1 and the receive chain 321_2 of the first transmit / receive chains 320_1). Switching is controlled based on the test control signal Test_CS, and the first transceiver circuit 250a and the second transceiver circuit 250b are controlled by the switching circuit 240 in which switching is controlled based on the test control signal Test_CS. By being connected, a test loop can be formed. That is, the test loop may include test sub-loops formed in at least two transmit / receive chains among the plurality of transmit / receive chains 320_1-320_4 in the first front-end circuit 230a. In the following, the transmit / receive chain via the test loop may be referred to as a select transmit / receive chain. In addition, although not shown in FIG. 3, the first transceiver circuit 250a and the second transceiver circuit 250b also receive a test control signal Test_CS in order to form a test loop, and in response thereto, a switch included in each of the switches. The device can be controlled.

테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 송수신 체인들(320_1-320_4) 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 타겟 위상 변위기에 대한 변위 정도가 조절될 수 있다. 일 예로, 테스트 제어신호(Test_CS)를 기반으로 테스트 루프가 경유하는 위상 변위기들 중 적어도 하나의 타겟 위상 변위기에 대한 변위 정도가 조절될 수 있다. 타겟 위상 변위기의 변위 정도는 소정의 단위로 조절될 수 있으며, 상기 단위는 특성 평가 테스트의 모드(예를 들면, 파인(fine) 모드 또는 러프(rough) 모드) 또는 제1 프론트-엔드 회로(230a)를 포함하는 RF 집적회로가 지원 가능한 다중 안테나 통신 기술 스펙 등에 따라 상이할 수 있다. 타겟 위상 변위기는 송신 체인(예를 들면, 제1 송수신 체인(320_1)의 송신 체인(321_1)) 또는 수신 체인(예를 들면, 제1 송수신 체인(320_2)의 수신 체인(321_2))에 포함된 위상 변위기일 수 있다. 송수신 체인들(320_1-320_4) 내의 위상 변위기들 중 타겟 위상 변위기 이외의 나머지 위상 변위기들에 대한 변위 정도는 종전과 동일하게 고정(또는, 유지)될 수 있다. 이후, 테스트 입력신호(TS_IN)는 제1 트랜시버 회로(250a)에 입력되어 테스트 루프를 통과하고, 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 위와 같은 방식으로, 타겟 위상 변위기에 대한 변위 정도를 조절해 나감으로써, 크기가 상이한 복수의 테스트 출력신호들(TS_OUT)을 출력할 수 있다.The degree of displacement of at least one target phase shifter among the phase shifters in the transmission / reception chains 320_1-320_4 may be adjusted based on the test control signal Test_CS. For example, the degree of displacement of at least one target phase shifter of the phase shifters via the test loop may be adjusted based on the test control signal Test_CS. The degree of displacement of the target phase shifter may be adjusted in a predetermined unit, which unit may be a mode of the characteristic evaluation test (for example, a fine mode or a rough mode) or a first front-end circuit ( The RF integrated circuit including the 230a may be different according to a multi-antenna communication technology specification that can be supported. The target phase shifter is included in a transmit chain (eg, transmit chain 321_1 of first transmit / receive chain 320_1) or receive chain (eg, receive chain 321_2 of first transmit / receive chain 320_2). It may be a phase shifter. The degree of displacement with respect to the remaining phase shifters other than the target phase shifter among the phase shifters in the transmission / reception chains 320_1-320_4 may be fixed (or maintained) as before. Thereafter, the test input signal TS_IN may be input to the first transceiver circuit 250a, pass through the test loop, and be output as the test output signal TS_OUT through the second transceiver circuit 250b. In the above manner, the plurality of test output signals TS_OUT having different magnitudes may be output by adjusting the degree of displacement with respect to the target phase shifter.

제1 프론트-엔드 회로(230a)의 구성은 도 2의 다른 프론트-엔드 회로(230b-230k)에도 적용될 수 있으며, 다른 프론트-엔드 회로(230b-230k)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 때에도, 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트의 실시 예가 적용될 수 있다.The configuration of the first front-end circuit 230a may also be applied to the other front-end circuits 230b-230k of FIG. 2, and even when performing a characteristic evaluation test on the other front-end circuits 230b-230k. An embodiment of the characteristic evaluation test for the first front-end circuit 230a may be applied.

도 3에서는 제1 프론트-엔드 회로(230a)는 네 개의 송수신 체인들(320_1-320_4)을 포함하는 것으로 도시되었으나, 이는 예시적 실시예에 불과한 바, 이에 국한되지 않고, 더 적거나, 더 많은 송수신 체인들이 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 포함될 수 있다.In FIG. 3, the first front-end circuit 230a is illustrated as including four transmit / receive chains 320_1-320_4, but this is only an exemplary embodiment, but is not limited thereto, and fewer or more. Transceiver chains may be included in the first front-end circuit 230a.

도 4a 내지 도 4c는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 스위칭 회로 및 트랜시버 회로들을 설명하기 위한 블록도이다. 도 4a 내지 도 4c에서는 제1 트랜시버 회로(250a)는 제1 프론트-엔드 회로를 포함하는 제1 프론트-엔드 회로 그룹(230G1)에 할당되어 스위칭 회로(240)를 통해 선택적으로 연결되고, 제2 트랜시버 회로(250b)는 제2 프론트-엔드 회로를 포함하는 제2 프론트-엔드 회로 그룹(230G2)에 할당되어 스위칭 회로(240)를 통해 선택적으로 연결되는 구조를 전제한다. 또한, 도 4a는 제1 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 때에 형성된 테스트 루프(T_Loop)를 가정한다. 4A through 4C are block diagrams illustrating switching circuits and transceiver circuits in which a characteristic evaluation test is performed according to an exemplary embodiment. In FIGS. 4A-4C, the first transceiver circuit 250a is assigned to a first front-end circuit group 230G1 that includes a first front-end circuit, selectively connected through a switching circuit 240, and a second The transceiver circuit 250b is assumed to be assigned to a second front-end circuit group 230G2 including a second front-end circuit and selectively connected through the switching circuit 240. 4A also assumes a test loop T_Loop formed when performing a characteristic evaluation test on the first front-end circuit.

도 4a를 참조하면, 스위칭 회로(240)는 제1 스위칭 회로(241a), 제2 스위칭 회로(242a) 및 연결 회로(243a)를 포함할 수 있다. 제1 스위칭 회로(241a)는 제1 프론트-엔드 회로 그룹(230G1)과 제1 트랜시버 회로(250a)를 선택적으로 연결할 수 있다. 제2 스위칭 회로(242a)는 제2 프론트-엔드 회로 그룹(230G2)과 제2 트랜시버 회로(250b)를 선택적으로 연결할 수 있다. 일 실시 예에 따른 연결 회로(243a)는 제1 트랜시버 회로(250a)에서 테스트 입력신호에 대한 주파수 상향 및 주파수 하향 변환이 수행되고, 제2 트랜시버 회로(250b)에서는 테스트 루프(T_Loop)를 통과한 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 출력하도록 제1 트랜시버 회로(250a) 내의 제1 노드(N1)와 제2 트랜시버 회로(250b) 내의 제2 노드(N2)를 선택적으로 연결하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 4A, the switching circuit 240 may include a first switching circuit 241a, a second switching circuit 242a, and a connection circuit 243a. The first switching circuit 241a may selectively connect the first front-end circuit group 230G1 and the first transceiver circuit 250a. The second switching circuit 242a may selectively connect the second front-end circuit group 230G2 and the second transceiver circuit 250b. According to an exemplary embodiment, the first transceiver circuit 250a performs frequency up and frequency downconversion with respect to the test input signal, and the second transceiver circuit 250b passes the test loop T_Loop. The first node N1 in the first transceiver circuit 250a and the second node N2 in the second transceiver circuit 250b may be selectively connected to output the test input signal as the test output signal.

제1 트랜시버 회로(250a)는 주파수 변환을 위한 믹서들(251a, 252a), 가변 이득 증폭기들(253a, 254a) 및 스위치 소자(255a)를 포함하고, 제2 트랜시버 회로(250b)는 주파수 변환을 위한 믹서들(251b, 252b), 가변 이득 증폭기들(253b, 254b) 및 스위치 소자(255b)를 포함할 수 있다. 제1 트랜시버 회로(250a) 및 제2 트랜시버 회로(250b)는 주파수 변환 동작에 필요한 주파수 신호를 생성하는 로컬 오실레이터(260)와 연결될 수 있다. 로컬 오실레이터(260)는 주파수 멀티플라이어(261), VCO(Voltage Controled Ocillator)(262) 및 PLL(Phase Locked Loop) 회로(263)를 포함할 수 있다. 테스트 장치(TD)는 테스트 입력신호를 출력하는 제1 단자(T1), 테스트 출력신호를 수신하는 제2 단자(T2) 및 기준 신호를 출력하는 제3 단자(T3)를 포함할 수 있다.The first transceiver circuit 250a includes mixers 251a and 252a for frequency conversion, variable gain amplifiers 253a and 254a and a switch element 255a, and the second transceiver circuit 250b performs frequency conversion. Mixers 251b and 252b, variable gain amplifiers 253b and 254b, and a switch element 255b. The first transceiver circuit 250a and the second transceiver circuit 250b may be connected to a local oscillator 260 that generates a frequency signal for a frequency conversion operation. The local oscillator 260 may include a frequency multiplier 261, a voltage controlled oscillator (VCO) 262, and a phase locked loop (PLL) circuit 263. The test device TD may include a first terminal T1 for outputting a test input signal, a second terminal T2 for receiving a test output signal, and a third terminal T3 for outputting a reference signal.

일 실시 예에 따른 테스트 루프(T_Loop)는 제1 트랜시버 회로(250a)가 수신하는 테스트 입력신호의 증폭 및 주파수 상향 변환을 위한 제1 트랜시버 회로(250a) 내의 제1 루프 패스(LP1), 제1 프론트-엔드 회로를 통과한 테스트 입력신호의 증폭 및 주파수 하향 변환을 위한 제1 트랜시버 회로(250a) 내의 제2 루프 패스(LP2) 및 제2 루프 패스(LP2)를 통과한 테스트 입력신호를 테스트 장치(TD)에 테스트 출력신호로서 출력하기 위한 제2 트랜시버 회로(250b) 내의 제3 루프 패스(LP3)를 포함할 수 있다.The test loop T_Loop according to an embodiment may include a first loop pass LP1 and a first loop in the first transceiver circuit 250a for amplifying and up-converting a test input signal received by the first transceiver circuit 250a. A test device for testing the test input signal passing through the second loop path LP2 and the second loop path LP2 in the first transceiver circuit 250a for amplifying and down-converting the test input signal passing through the front-end circuit. And a third loop path LP3 in the second transceiver circuit 250b for outputting to the TD as a test output signal.

제1 루프 패스(LP1)는 테스트 입력신호를 증폭하는 가변 이득 증폭기(253a)와 테스트 입력신호의 주파수 상향 변환을 위한 믹서(251a)를 경유할 수 있다. 제1 트랜시버 회로(250a)가 테스트 장치(TD)로부터 수신하는 테스트 입력신호는 기저 대역 또는 중간 주파수 대역의 신호로서, 제1 루프 패스(LP1)를 통과할 때에, 믹서(251a)에 의하여 RF 대역의 신호로 변환될 수 있다. 제2 루프 패스(LP2)는 제1 프론트-엔드 회로를 통과한 테스트 입력신호의 주파수 하향 변환을 위한 믹서(252b)와 테스트 입력신호를 증폭하는 가변 이득 증폭기(254b)를 경유할 수 있다. 제1 프론트-엔드 회로를 통과한 테스트 입력신호는 RF 대역의 신호로서, 제2 루프 패스(LP2)를 통과할 때에, 믹서(252a)에 의하여 기저 대역 또는 중간 주파수 대역의 신호로 변환되고, 가변 이득 증폭기(254b)에 의해 증폭될 수 있다.The first loop path LP1 may pass through a variable gain amplifier 253a for amplifying the test input signal and a mixer 251a for up-converting the frequency of the test input signal. The test input signal received by the first transceiver circuit 250a from the test apparatus TD is a signal of the base band or the intermediate frequency band, and is passed by the mixer 251a by the mixer 251a when passing through the first loop path LP1. It can be converted into a signal of. The second loop path LP2 may pass through the mixer 252b for frequency downconversion of the test input signal passing through the first front-end circuit and the variable gain amplifier 254b for amplifying the test input signal. The test input signal passing through the first front-end circuit is an RF band signal, which is converted by the mixer 252a into a signal of the base band or the intermediate frequency band when the second loop path LP2 passes, and is variable. It can be amplified by the gain amplifier 254b.

테스트 장치(TD)는 특성 평가 테스트를 수행할 때의 주파수 변환에 필요한 주파수를 갖는 신호를 생성할 수 있도록 로컬 오실레이터(260)에 기준 신호를 제공할 수 있다. 로컬 오실레이터(260)는 기준 신호를 기반으로 주파수 신호를 생성하고, 주파수 신호를 제1 트랜시버 회로(250a)의 믹서들(251a, 252a)에 제공할 수 있다.The test device TD may provide a reference signal to the local oscillator 260 to generate a signal having a frequency required for frequency conversion when performing the characteristic evaluation test. The local oscillator 260 may generate a frequency signal based on the reference signal and provide the frequency signal to the mixers 251a and 252a of the first transceiver circuit 250a.

테스트 장치(TD)는 제2 단자(T2)를 통해 테스트 출력신호를 수신할 때마다, 테스트 출력신호의 크기를 측정하고, 측정된 테스트 출력신호의 크기를 제1 프론트-엔드 회로의 타겟 위상 변위기의 변위 정도와 매칭하여 테스트 결과로서 저장할 수 있다. 테스트 장치(TD)는 테스트 결과를 기반으로 제1 프론트-엔드 회로의 불량 여부를 판별할 수 있다.Each time the test device TD receives the test output signal through the second terminal T2, the test device TD measures the magnitude of the test output signal and changes the magnitude of the measured test output signal to the target phase shift of the first front-end circuit. Matching with the degree of crisis displacement can be stored as a test result. The test device TD may determine whether the first front-end circuit is defective based on the test result.

도 4b를 참조하면, 도 4a와 비교하여, 연결 회로(243a')는 제1 트랜시버 회로(250a)에서 테스트 입력신호에 대한 주파수 상향 변환이 수행되고, 제2 트랜시버 회로(250b)에서는 제1 프론트-엔드 회로를 통과한 테스트 입력신호에 대한 주파수 하향 변환이 수행되도록 제1 트랜시버 회로(250a) 내의 제1 노드(N1')와 제2 트랜시버 회로(250b) 내의 제2 노드(N2')를 선택적으로 연결하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 4B, compared to FIG. 4A, the connection circuit 243a ′ performs frequency up-conversion on the test input signal in the first transceiver circuit 250a, and the first front circuit in the second transceiver circuit 250b. Selecting the first node N1 'in the first transceiver circuit 250a and the second node N2' in the second transceiver circuit 250b to perform frequency downconversion on the test input signal passing through the end circuit. Can be configured to connect.

도 4c를 참조하면, 도 4a와 비교하여, 제1 트랜시버 회로(250a')는 필터들(255a, 256a), 디지털-아날로그 변환기(257a) 및 아날로그-디지털 변환기(258a)를 더 포함하고, 제2 트랜시버 회로(250b')는 필터들(255b, 256b), 디지털-아날로그 변환기(257b) 및 아날로그-디지털 변환기(258b)를 더 포함할 수 있다. 연결 회로(243a'')는 제1 트랜시버 회로(250a')에서 테스트 입력신호에 대한 아날로그-디지털 변환, 소정의 대역 필터링, 주파수 상향 변환, 주파수 하향 변환, 디지털-아날로그 변환이 수행되고, 제2 트랜시버 회로(250b')에서는 테스트 루프를 통과한 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 출력하도록 제1 트랜시버 회로(250a') 내의 제1 노드(N1'')와 제2 트랜시버 회로(250b') 내의 제2 노드(N2'')를 선택적으로 연결하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 4C, compared with FIG. 4A, the first transceiver circuit 250a ′ further includes filters 255a, 256a, a digital-to-analog converter 257a, and an analog-to-digital converter 258a. The two transceiver circuits 250b 'may further include filters 255b and 256b, a digital-to-analog converter 257b and an analog-to-digital converter 258b. The connection circuit 243a '' performs analog-to-digital conversion, predetermined band filtering, frequency up-conversion, frequency down-conversion, and digital-to-analog conversion on the test input signal in the first transceiver circuit 250a '. In the transceiver circuit 250b ', the first node N1 " in the first transceiver circuit 250a' and the second transceiver circuit 250b 'in the first transceiver circuit 250a' output the test input signal passing through the test loop as a test output signal. It can be configured to selectively connect two nodes (N2 ″).

다만, 도 4a 내지 도 4c는 예시적 실시예에 불과한 바, 이에 국한되지 않으며, 제1 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 위해 제1 트랜시버 회로(250a)를 통해 테스트 입력신호를 수신하고, 테스트 입력신호가 테스트 루프(T_Loop)를 통과하여 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호를 출력하는 형태의 다양한 실시 예가 구현될 수 있다.However, FIGS. 4A to 4C are only exemplary embodiments, and are not limited thereto, and receive a test input signal through the first transceiver circuit 250a for the characteristic evaluation test on the first front-end circuit, Various embodiments may be implemented in which a test input signal passes through the test loop T_Loop and outputs a test output signal through the second transceiver circuit 250b.

도 5a 및 도 5b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트가 수행되는 제1 프론트-엔드 회로를 구체적으로 설명하기 위한 블록도이다.5A and 5B are block diagrams illustrating in detail a first front-end circuit in which a characteristic evaluation test is performed according to an embodiment of the present disclosure.

도 5a를 참조하면, 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 위하여 제1 송수신 체인(320_1) 및 제2 송수신 체인(320_2)을 이용해 테스트 루프(T_Loop)를 형성할 수 있다. 구체적으로, 제1 송수신 체인(320_1)에 포함된 스위치 소자(322_1)는 테스트 제어신호(Test_CS1)에 응답하여 송신 체인(321_1)과 수신 체인(325_1)을 연결시킬 수 있다. 제2 송수신 체인(320_2)에 포함된 스위치 소자(322_2)는 테스트 제어신호(Test_CS1)에 응답하여 송신 체인(321_2)과 수신 체인(325_2)을 연결시킬 수 있다. 또한, 제3 송수신 체인(320_3)에 포함된 스위치 소자(322_3)와 제4 송수신 체인(320_4)에 포함된 스위치 소자(322_4)는 테스트 제어신호(Test_CS1)에 응답하여 각각의 송신 체인과 수신 체인이 연결되지 않도록 할 수 있다.Referring to FIG. 5A, a test loop T_Loop may be formed using the first transmit / receive chain 320_1 and the second transmit / receive chain 320_2 to test the characteristics of the first front-end circuit 230a. In detail, the switch element 322_1 included in the first transmission / reception chain 320_1 may connect the transmission chain 321_1 and the reception chain 325_1 in response to the test control signal Test_CS1. The switch element 322_2 included in the second transmission / reception chain 320_2 may connect the transmission chain 321_2 and the reception chain 325_2 in response to the test control signal Test_CS1. In addition, the switch element 322_3 included in the third transmit / receive chain 320_3 and the switch element 322_4 included in the fourth transmit / receive chain 320_4 respond to the test control signal Test_CS1, respectively. You can prevent this from connecting.

위와 같은 연결을 통해 형성된 테스트 루프(T_Loop)는 제1 송수신 체인(320_1)의 제1 송신 패스(TP1) 및 제1 수신 패스(RP1), 제2 송수신 체인(320_2)의 제2 송신 패스(TP2) 및 제2 수신 패스(RP2)를 포함할 수 있다. 테스트 루프(T_Loop)가 형성된 이후에, 제1 송수신 체인(320_1)의 송신 체인(321_1)에 연결된 위상 변위기(324_1)는 타겟 위상 변위기로 선택될 수 있으며, 테스트 제어신호(Test_CS1)를 기반으로 변위 정도가 조절될 수 있다. 타겟 위상 변위기(324_1) 외에 테스트 루프(T_Loop)가 경유하는 위상 변위기들(327_1, 324_2, 327_2)의 변위 정도는 소정의 값으로 고정될 수 있다.The test loop T_Loop formed through the above connection includes the first transmission path TP1 and the first reception path RP1 of the first transmission / reception chain 320_1 and the second transmission path TP2 of the second transmission / reception chain 320_2. ) And a second receive path RP2. After the test loop T_Loop is formed, the phase shifter 324_1 connected to the transmission chain 321_1 of the first transmit / receive chain 320_1 may be selected as the target phase shifter and based on the test control signal Test_CS1. The degree of displacement can be adjusted. In addition to the target phase shifter 324_1, the degree of displacement of the phase shifters 327_1, 324_2, and 327_2 via the test loop T_Loop may be fixed to a predetermined value.

일 예로서, 타겟 위상 변위기(324_1)가 제1 값으로 변위 정도가 조절된 때에, 테스트 입력신호(TS_IN)는 제1 트랜시버 회로(250a)에 입력되어 테스트 루프(T_Loop)를 통과하여 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 이후, 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도가 제2 값으로 조절될 수 있고, 테스트 입력신호(TS_IN)는 다시 제1 트랜시버 회로(250a)에 입력되어 테스트 루프(T_Loop)를 통과하여 제2 트랜시버 회로(250b)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 이와 같은 방식으로, 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도를 복수 회 조절함으로써 출력된 복수의 테스트 출력신호들(TS_OUT)을 이용하여 타겟 위상 변위기(324_1)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.As an example, when the degree of displacement of the target phase shifter 324_1 is adjusted to the first value, the test input signal TS_IN is input to the first transceiver circuit 250a and passes through the test loop T_Loop to perform a second operation. It may be output as the test output signal TS_OUT through the transceiver circuit 250b. Thereafter, the degree of displacement of the target phase shifter 324_1 may be adjusted to a second value, and the test input signal TS_IN is input to the first transceiver circuit 250a again and passes through the test loop T_Loop to provide a second value. It may be output as the test output signal TS_OUT through the transceiver circuit 250b. In this manner, a characteristic evaluation test may be performed on the target phase shifter 324_1 using the plurality of test output signals TS_OUT output by adjusting the degree of displacement of the target phase shifter 324_1 a plurality of times. have.

도 5b를 참조하면, 도 5a에서의 타겟 위상 변위기(324_1)의 특성 평가 테스트가 완료된 때에, 다음 타겟 위상 변위기를 선택하여 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 일 예로, 제1 송수신 체인(320_1)의 수신 체인(325_1)에 연결된 위상 변위기(327_1)는 타겟 위상 변위기로 선택되어, 테스트 제어신호(Test_CS2)를 기반으로 변위 정도가 조절될 수 있으며, 전술한 바와 같은 방식으로 타겟 위상 변위기(324_2)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. Referring to FIG. 5B, when the characteristic evaluation test of the target phase shifter 324_1 in FIG. 5A is completed, the next target phase shifter may be selected to perform the characteristic evaluation test. For example, the phase shifter 327_1 connected to the reception chain 325_1 of the first transmission / reception chain 320_1 may be selected as a target phase shifter, and the degree of displacement may be adjusted based on the test control signal Test_CS2. In one manner, a characteristic evaluation test may be performed on the target phase shifter 324_2.

도 6은 본 개시의 일 실시예에 따른 테스트 출력신호의 크기를 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는, 도 6의 설명을 위하여 도 5a가 참조된다. 6 is a view for explaining a characteristic evaluation test method using the magnitude of a test output signal according to an embodiment of the present disclosure. In the following, reference is made to FIG. 5A for the description of FIG. 6.

도 5a 및 도 6을 참조하면, 위상 상태는 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도에 따라 결정되는 것으로 예를 들어, 타겟 위상 변위기(324_1)가 제1 값의 변위 정도를 가질 때에, 제1 위상 상태(PS1)라고 정의될 수 있다. 테스트 입력신호(TS_IN)는 스플리터(330a)에 의해 분리되어 제1 송수신 체인(320_1) 및 제2 송수신 체인(320_2)을 통과할 수 있다. 이후, 제1 송수신 체인(320_1) 및 제2 송수신 체인(320_2)을 통과한 테스트 입력신호(TS_IN)는 컴바이너(331a)에 의해 합쳐져 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 제1 송수신 체인(320_1)을 통과한 테스트 입력신호(TS_IN)와 제2 송수신 체인(320_2)을 통과한 테스트 입력신호(TS_IN)간의 위상 차는 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도에 의존하기 때문에, 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도가 조절됨에 따라 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기는 달라질 수 있다. 5A and 6, the phase state is determined according to the degree of displacement of the target phase shifter 324_1. For example, when the target phase shifter 324_1 has a degree of displacement of the first value, One phase state PS1 may be defined. The test input signal TS_IN may be separated by the splitter 330a and pass through the first transmission / reception chain 320_1 and the second transmission / reception chain 320_2. Thereafter, the test input signal TS_IN passing through the first transmission / reception chain 320_1 and the second transmission / reception chain 320_2 may be combined by the combiner 331a and output as the test output signal TS_OUT. Since the phase difference between the test input signal TS_IN passing through the first transmission / reception chain 320_1 and the test input signal TS_IN passing through the second transmission / reception chain 320_2 depends on the degree of displacement of the target phase shifter 324_1. As the degree of displacement of the target phase shifter 324_1 is adjusted, the size of the test output signal TS_OUT may vary.

따라서, 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기를 이용하여 타겟 위상 변위기(324_1)의 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 즉, 타겟 위상 변위기(324_1)가 불량하여, 타겟 위상 변위기(324_1)의 변위 정도가 테스트 제어신호(Test_CS1)에 의해 정확하게 조절되지 않는 경우에는, 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기 변화량도 줄어들 수 있다.Therefore, the characteristic evaluation test of the target phase shifter 324_1 may be performed using the magnitude of the test output signal TS_OUT. That is, when the target phase shifter 324_1 is poor and the degree of displacement of the target phase shifter 324_1 is not accurately adjusted by the test control signal Test_CS1, the amount of change in the magnitude of the test output signal TS_OUT is also reduced. Can be.

도 6에서는 타겟 위상 변위기(324_1)의 위상 상태는 제1 내지 제7 위상 상태(PS1-PS7)가 되도록 제어될 수 있으며, 각각의 위상 상태(PS1-PS7)에서의 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기를 측정하여 타겟 위상 변위기(324_1)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 일 실시 예로, 테스트 출력신호(TS_OUT)의 최대 크기(MAX)와 최소 크기(MIN_PL)간의 차이(D)를 기반으로 타겟 위상 변위기(324_1)의 불량 여부를 판별할 수 있다. 예를 들어, 상기 차이(D)가 임계값 이하인 경우에 타겟 위상 변위기(324_1)는 불량으로 판별될 수 있으며, 상기 차이(D)가 임계값을 초과하는 경우에 타겟 위상 변위기(324_1)는 정상으로 판별될 수 있다. 이후, 타겟 위상 변위기(324_1)가 정상으로 판별된 때에는, 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 다른 위상 변위기를 타겟 위상 변위기로 선택하여, 특성 평가 테스트를 수행하고, 타겟 위상 변위기(324_1)가 불량으로 판별된 때에는, 제1 프론트-엔드 회로(230a)를 불량으로 판별하여 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 종료할 수 있다.In FIG. 6, the phase state of the target phase shifter 324_1 may be controlled to be the first to seventh phase states PS1-PS7, and the test output signal TS_OUT in each phase state PS1-PS7. The characteristic evaluation test for the target phase shifter 324_1 may be performed by measuring the size of. For example, the target phase shifter 324_1 may be determined based on a difference D between the maximum magnitude MAX and the minimum magnitude MIN_PL of the test output signal TS_OUT. For example, the target phase shifter 324_1 may be determined to be defective when the difference D is less than or equal to a threshold value, and the target phase shifter 324_1 when the difference D exceeds the threshold value. Can be determined to be normal. Then, when the target phase shifter 324_1 is determined to be normal, another phase shifter in the first front-end circuit 230a is selected as the target phase shifter to perform a characteristic evaluation test, and the target phase shifter 324_1 ) Is determined to be defective, the first front-end circuit 230a may be determined to be defective, and the characteristic evaluation test for the first front-end circuit 230a may be completed.

다른 일 실시예로, 위상 상태(PS)의 변화에 따른 테스트 출력신호(TS_OUT)의 변화량을 측정하여 타겟 위상 변위기(324_1)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 예를 들어, 위상 상태(PS)의 변화에 따른 테스트 출력신호(TS_OUT)의 평균 변화량이 임계값 이하인 경우에 타겟 위상 변위기(324_1)는 불량으로 판별될 수 있으며, 상기 평균 변화량이 임계값을 초과하는 경우에 타겟 위상 변위기(324_1)는 정상으로 판별될 수 있다.In another embodiment, a characteristic evaluation test may be performed on the target phase shifter 324_1 by measuring a change amount of the test output signal TS_OUT according to the change of the phase state PS. For example, when the average change amount of the test output signal TS_OUT according to the change of the phase state PS is less than or equal to a threshold value, the target phase shifter 324_1 may be determined to be inferior, and the average change amount may be determined as a threshold value. If so, the target phase shifter 324_1 may be determined to be normal.

도 7은 본 개시의 일 실시 예에 따른 노이즈에 강한 특성 평가 테스트가 수행되는 제1 프론트-엔드 회로를 설명하기 위한 블록도이다.FIG. 7 is a block diagram illustrating a first front-end circuit for performing a characteristic evaluation test against noise according to an exemplary embodiment of the present disclosure.

도 7을 참조하면, 도 5a와 비교하여, 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 위하여 제1 송수신 체인(320_1), 제2 송수신 체인(320_2) 및 제3 송수신 체인(320_3)을 이용해 테스트 루프를 형성할 수 있다. 테스트 제어신호(Test_CS3)를 기반으로 송수신 체인들(320_1-320_4) 각각에 포함된 스위치 소자들(322_1-322_4)이 제어될 수 있으며, 제4 송수신 체인(320_4)을 제외한 제1 내지 제3 송수신 체인(320_1-320_3) 내의 송신 체인과 수신 체인은 서로 연결될 수 있다. 즉, 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 위해 복수의 송수신 체인들(320_1-320_4) 중 세 개 이상의 송수신 체인들을 이용하여 테스트 루프를 형성할 수 있다.Referring to FIG. 7, the first transmit / receive chain 320_1, the second transmit / receive chain 320_2, and the third transmit / receive chain 320_3 for the characteristic evaluation test of the first front-end circuit 230a may be compared with FIG. 5A. ) To form a test loop. The switch elements 322_1 to 322_4 included in each of the transmission and reception chains 320_1 to 320_4 may be controlled based on the test control signal Test_CS3, and the first to third transmission and reception except for the fourth transmission and reception chain 320_4 may be controlled. The transmit chain and the receive chain in the chains 320_1-320_3 may be connected to each other. That is, a test loop may be formed using three or more transmit / receive chains among the plurality of transmit / receive chains 320_1 to 320_4 for the characteristic evaluation test on the first front-end circuit 230a.

이와 같이, 특성 평가 테스트를 위한 테스트 루프를 형성하기 위해 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 이용되는 송수신 체인의 개수가 많을수록 노이즈에 둔감한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 이에 대한 구체적인 내용은 도 8에서 서술한다.As described above, the larger the number of transmit / receive chains used in the first front-end circuit 230a to form the test loop for the characteristic evaluation test, the more insensitive to the characteristic evaluation test. It describes in FIG.

도 8은 도 5a보다 더 많은 송수신 체인들을 이용하여 테스트 루프를 형성하여 특성 평가 테스트를 수행할 때의 효과를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는, 도 8의 설명을 위하여 도 7이 참조된다. FIG. 8 is a diagram for describing an effect of performing a characteristic evaluation test by forming a test loop using more transmission / reception chains than FIG. 5A. In the following, reference is made to FIG. 7 for description of FIG. 8.

도 7 및 도 8을 참조하면, 도 5a보다 더 많은 송수신 체인들(320_1-320_3)을 이용하여 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행하기 때문에, 제2 트랜시버 회로(250b)에서 출력되는 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기는 도 5a에서보다 더 클 수 있다. 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 때에는, 주변 노이즈(noise)(예를 들면, 제1 프론트-엔드 회로(230a) 내의 노이즈)가 존재할 수 있다. 이 때, 도 6보다 더 큰 크기의 테스트 출력신호(TS_OUT)를 이용하여 노이즈(noise)에 둔감한 제1 프론트-엔드 회로(230a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 구체적으로, 테스트 출력신호(TS_OUT)의 최대 크기(MAX') 및 최소 크기(MIN')는 도 6보다 클 수 있으며, 최대 크기(MAX') 및 최소 크기(MIN')간의 차이(D')와 비교되는 임계값은 도 6보다 클 수 있다. 이외에는 도 6에서 서술된 내용과 중복되는 바, 구체적인 내용은 생략한다.7 and 8, since the characteristic evaluation test is performed on the first front-end circuit 230a using more transmit / receive chains 320_1-320_3 than FIG. 5A, the second transceiver circuit 250b is used. ), The test output signal TS_OUT may be larger than in FIG. 5A. When performing a characteristic evaluation test on the first front-end circuit 230a, there may be ambient noise (eg, noise in the first front-end circuit 230a). In this case, a characteristic evaluation test may be performed on the first front-end circuit 230a which is insensitive to noise by using the test output signal TS_OUT having a size larger than that of FIG. 6. Specifically, the maximum magnitude MAX 'and the minimum magnitude MIN' of the test output signal TS_OUT may be larger than FIG. 6, and the difference D 'between the maximum magnitude MAX' and the minimum magnitude MIN '. The threshold compared with may be greater than FIG. 6. Except for the overlapping with the content described in Figure 6, the specific content is omitted.

도 9는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 순서도이다.9 is a flowchart illustrating a characteristic evaluation test method for an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure.

도 9를 참조하면, RF 집적회로의 제k 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다(S100). RF 집적회로는 복수의 프론트-엔드 회로들을 포함할 수 있으며, 각 프론트-엔드 회로들은 연결된 안테나를 통해 송수신되는 RF 신호의 위상을 제어할 수 있는 복수의 위상 변위기들을 포함할 수 있다. 제k 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트는 제k 프론트-엔드 회로의 위상 변위기들에 대한 특성 평가 테스트를 의미할 수 있다.Referring to FIG. 9, a characteristic evaluation test may be performed on a k-th front-end circuit of an RF integrated circuit (S100). The RF integrated circuit may include a plurality of front-end circuits, and each front-end circuit may include a plurality of phase shifters capable of controlling the phase of the RF signal transmitted and received through the connected antenna. The characteristic evaluation test for the kth front-end circuit may refer to the characteristic evaluation test for phase shifters of the kth front-end circuit.

제k 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행한 결과를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로가 불량인지 여부를 판별할 수 있다(S110). 일 예로, 제k 프론트-엔드 회로의 복수의 위상 변위기들 중 적어도 하나가 불량인 경우(또는, 제k 프론트-엔드 회로의 소정의 개수 이상의 위상 변위기들이 불량인 경우)에는 제k 프론트-엔드 회로가 불량인 것으로 결정될 수 있다. 제k 프론트-엔드 회로가 불량이 아닌 때에(S110, No), 제k 프론트-엔드 회로가 RF 집적회로 내의 특성 평가 테스트 대상이 되는 마지막 프론트-엔드 회로인지 여부를 판별할 수 있다(S120). 제k 프론트-엔드 회로가 불량인 때에(S110, Yes), RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트를 종료하고, RF 집적회로에 대한 특성을 평가할 수 있다(S130). 즉, RF 집적회로의 제k 프론트-엔드 회로는 불량이기 때문에, RF 집적회로는 불량으로 결정될 수 있다.It may be determined whether the k-th front-end circuit is inferior based on the result of performing the characteristic evaluation test on the k-th front-end circuit (S110). For example, when at least one of the plurality of phase shifters of the kth front-end circuit is defective (or when a predetermined number or more of the phase shifters of the kth front-end circuit are defective), the kth front- It can be determined that the end circuit is bad. When the k-th front-end circuit is not bad (S110, No), it may be determined whether the k-th front-end circuit is the last front-end circuit to be subjected to the characteristic evaluation test in the RF integrated circuit (S120). When the k-th front-end circuit is defective (S110, Yes), the characteristic evaluation test for the RF integrated circuit may be terminated, and the characteristic for the RF integrated circuit may be evaluated (S130). That is, since the k-th front-end circuit of the RF integrated circuit is defective, the RF integrated circuit may be determined to be defective.

제k 프론트-엔드 회로가 RF 집적회로 내의 특성 평가 테스트 대상이 되는 마지막 프론트-엔드 회로가 아닌 때에(S120, No), k를 카운트 업하고(S140), 단계 S100으로 돌아가 다음 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 제k 프론트-엔드 회로가 RF 집적회로 내의 특성 평가 테스트 대상이 되는 마지막 프론트-엔드 회로인 때에(S120, Yes), RF 집적회로의 프론트-엔드 회로들에 대한 특성 평가 테스트 결과를 기반으로 RF 집적회로에 대한 특성을 평가할 수 있다(S130).When the kth front-end circuit is not the last front-end circuit to be subjected to the characteristic evaluation test in the RF integrated circuit (S120, No), count up k (S140), and return to step S100 to the next front-end circuit. Characterization tests for the When the k-th front-end circuit is the last front-end circuit to be subjected to the characteristic evaluation test in the RF integrated circuit (S120, Yes), the RF integration is based on the result of the characteristic evaluation test on the front-end circuits of the RF integrated circuit. The characteristics of the circuit may be evaluated (S130).

도 10은 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 10 is a flowchart for describing step S100 of FIG. 9 in detail.

도 10을 참조하면, 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로의 특성 평가 테스트를 위한 테스트 루프를 RF 집적회로 내에 형성할 수 있다(S101). 형성된 테스트 루프는 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 타겟 위상 변위기를 경유할 수 있다. 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로 내의 적어도 하나의 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다(S102). 타겟 위상 변위기는 테스트 제어신호를 기반으로 선택될 수 있다. 테스트 루프를 통과한 테스트 입력신호를 제n 테스트 출력신호로서 출력할 수 있다(S103). 제n 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호인지를 판별할 수 있다(S104). 제n 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호가 아닌 때에(S104, No), n을 카운트 업하고(S105), 단계 S102로 돌아가 다음 테스트 출력신호를 출력할 수 있도록 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다. 제n 테스트 출력신호가 마지막 출력신호인 때에(S104, Yes), 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절하면서 출력된 복수의 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 타겟 위상 변위기의 특성을 평가할 수 있다(S106). 일 예로, 타겟 위상 변위기의 특성 평가는 복수의 테스트 출력신호들 중 가장 큰 테스트 출력신호의 크기와 가장 작은 테스트 출력신호의 크기의 차이를 임계값과 비교하는 동작을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, a test loop for the characteristic evaluation test of the k-th front-end circuit may be formed in the RF integrated circuit based on the test control signal (S101). The test loop formed may be via the target phase shifter to perform a characterization test on the target phase shifter. The degree of displacement of the at least one target phase shifter in the k-th front-end circuit may be adjusted based on the test control signal (S102). The target phase shifter may be selected based on the test control signal. The test input signal passing through the test loop may be output as the n th test output signal (S103). It may be determined whether the n th test output signal is the last test output signal (S104). When the n-th test output signal is not the last test output signal (S104, No), n is counted up (S105), and the degree of displacement of the target phase shifter is adjusted to return to step S102 to output the next test output signal. Can be. When the n th test output signal is the last output signal (S104, Yes), the characteristics of the target phase shifter may be evaluated using the magnitudes of the plurality of output test output signals while adjusting the degree of displacement of the target phase shifter ( S106). For example, the characteristic evaluation of the target phase shifter may include comparing a difference between the magnitude of the largest test output signal and the smallest test output signal among the plurality of test output signals with a threshold value.

타겟 위상 변위기의 특성 평가 결과를 기반으로 타겟 위상 변위기가 불량인지 여부를 판별할 수 있다(S107). 일 예로, 테스트 출력신호들 중 가장 큰 테스트 출력신호의 크기와 가장 작은 테스트 출력신호의 크기의 차이가 임계값 이하인 경우에 타겟 위상 변위기는 불량으로 판별될 수 있다. 타겟 위상 변위기가 불량으로 판별된 때에(S107), 단계 S110(도 9)로 넘어가 제k 프론트-엔드 회로의 불량 여부를 판별하는 때에 타겟 위상 변위기의 불량 결과가 이용될 수 있다. 예를 들어, 타겟 위상 변위기가 불량인 때에, 제k 프론트-엔드 회로가 불량인 것으로 판별할 수 있다.It may be determined whether the target phase shifter is defective based on the result of the evaluation of the characteristic of the target phase shifter (S107). As an example, when the difference between the magnitude of the largest test output signal and the magnitude of the smallest test output signal among the test output signals is less than or equal to the threshold value, the target phase shifter may be determined as defective. When the target phase shifter is determined to be defective (S107), the flow goes to step S110 (FIG. 9) to determine whether the k-th front-end circuit is defective or not. For example, when the target phase shifter is bad, it can be determined that the k-th front-end circuit is bad.

타겟 위상 변위기가 불량이 아닌 때에(S107, No), 타겟 위상 변위기가 제k 프론트-엔드 회로 내의 마지막 타겟 위상 변위기인지 여부를 판별할 수 있다(S108). 타겟 위상 변위기가 제k 프론트-엔드 회로 내의 마지막 타겟 위상 변위기가 아닌 때에(S108, No), 제k 프론트-엔드 회로 내 다음 타겟 위상 변위기를 선택할 수 있다(S109). 다음 타겟 위상 변위기 선택은 테스트 제어신호를 기반으로 수행될 수 있다. 단계 S101로 돌아가 다음 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 다음 타겟 위상 변위기를 경유하는 테스트 루프를 형성하고, 테스트 루프를 이용하여 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.When the target phase shifter is not bad (S107, No), it may be determined whether the target phase shifter is the last target phase shifter in the kth front-end circuit (S108). When the target phase shifter is not the last target phase shifter in the kth front-end circuit (S108, No), the next target phase shifter in the kth front-end circuit may be selected (S109). The next target phase shifter selection may be performed based on the test control signal. Returning to step S101, a test loop through the next target phase shifter may be formed to perform a characteristic evaluation test on the next target phase shifter, and the property evaluation test may be performed using the test loop.

도 11a 및 도 11b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로 내 송신 패스들을 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도이고, 도 11c는 도 11a 및 도 11b에서와 같이 송신 패스들을 이용한 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다. 제1 프론트-엔드 회로(430a)의 구성은 도 5a의 제1 프론트-엔드 회로(230a)의 구성과 비교할 때에, 송수신 체인들(520_1-520_4)은 각각 안테나(412a_1-412a_4)와 연결된 상태이며, 그 외의 구성은 유사한 바, 중복되는 내용은 생략한다. 일 실시예로, 안테나(412a_1-412a_4)는 차동 급전 안테나 또는 배열 안테나로 구현될 수 있으며, 이에 대한 구체적인 실시 예는, 도 13a 내지 도 13c에서 후술한다. 11A and 11B are block diagrams illustrating a characteristic evaluation test method using transmission paths in an RF integrated circuit according to an embodiment of the present disclosure, and FIG. 11C is a diagram using transmission paths as in FIGS. 11A and 11B. 9 is a flowchart for specifically describing step S100 of FIG. Compared with the configuration of the first front-end circuit 230a of FIG. 5A, the configuration of the first front-end circuit 430a is a state where the transmission / reception chains 520_1-520_4 are connected to the antennas 412a_1-412a_4, respectively. Since other configurations are similar, duplicated contents are omitted. According to an embodiment, the antennas 412a_1 to 412a_4 may be implemented as differentially fed antennas or array antennas, which will be described later with reference to FIGS. 13A to 13C.

도 11a를 참조하면, RF 집적회로 내의 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 위하여 제1 송수신 체인(524_1) 및 제2 송수신 체인(524_2)을 이용해 송신 패스들(TX_Path)을 형성할 수 있다. 이하에서는, 송신 패스들(TX_Path)을 형성하기 위해 선택된 송수신 체인들(524_1, 524_2)은 선택 송수신 체인으로 지칭될 수 있다. 구체적으로, 제1 송수신 체인(520_1)에 포함된 스위치 소자(522_1)는 테스트 제어신호(Test_CS3)에 응답하여 송신 체인과 제1 안테나(412a_1)를 연결시킬 수 있다. 제2 송수신 체인(520_2)에 포함된 스위치 소자(522_2)는 테스트 제어신호(Test_CS3)에 응답하여 송신 체인과 제2 안테나(412a_2)를 연결시킬 수 있다. 또한, 제3 송수신 체인(520_3)에 포함된 스위치 소자(522_3)와 제4 송수신 체인(520_4)에 포함된 스위치 소자(522_4)는 테스트 제어신호(Test_CS3)에 응답하여 각각의 송신 체인과 안테나들(412a_3, 412a_4)이 연결되지 않도록 할 수 있다.Referring to FIG. 11A, transmission paths TX_Path are determined using a first transmit / receive chain 524_1 and a second transmit / receive chain 524_2 for a characteristic evaluation test on the first front-end circuit 430a in the RF integrated circuit. Can be formed. Hereinafter, the transmission / reception chains 524_1 and 524_2 selected to form the transmission paths TX_Path may be referred to as a selection transmission / reception chain. In detail, the switch element 522_1 included in the first transmission / reception chain 520_1 may connect the transmission chain to the first antenna 412a_1 in response to the test control signal Test_CS3. The switch element 522_2 included in the second transmission / reception chain 520_2 may connect the transmission chain to the second antenna 412a_2 in response to the test control signal Test_CS3. In addition, the switch element 522_3 included in the third transmit / receive chain 520_3 and the switch element 522_4 included in the fourth transmit / receive chain 520_4 correspond to respective transmit chains and antennas in response to the test control signal Test_CS3. 412a_3 and 412a_4 may not be connected.

위와 같은 연결을 통해 제1 송수신 체인(520_1)의 송신 체인 및 제2 송수신 체인(520_2)의 송신 체인을 경유하는 송신 패스들(TX_Path)이 형성될 수 있다. 송신 패스들(TX_Path)이 형성된 이후에, 제1 송수신 체인(520_1)의 송신 체인에 연결된 위상 변위기(524_1)는 타겟 위상 변위기로 선택될 수 있으며, 테스트 제어신호(Test_CS3)를 기반으로 변위 정도가 조절될 수 있다. 타겟 위상 변위기(524_1) 외에 송신 패스들(TX_Path)이 경유하는 위상 변위기(524_2)의 변위 정도는 소정의 값으로 고정될 수 있다.Through the above connection, transmission paths TX_Path through the transmission chain of the first transmission / reception chain 520_1 and the transmission chain of the second transmission / reception chain 520_2 may be formed. After the transmission paths TX_Path are formed, the phase shifter 524_1 connected to the transmission chain of the first transmission / reception chain 520_1 may be selected as the target phase shifter, and the degree of displacement based on the test control signal Test_CS3. Can be adjusted. In addition to the target phase shifter 524_1, the degree of displacement of the phase shifter 524_2 via the transmission paths TX_Path may be fixed to a predetermined value.

일 예로서, 타겟 위상 변위기(524_1)가 제1 값으로 변위 정도가 조절된 때에, 제1 테스트 장치(TD1)로부터 제1 트랜시버 회로(450a)에 입력된 테스트 입력신호(TS_IN)는 송신 패스들(TX_Path)을 통과하여 안테나들(412a_1, 412a_2)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT')로서 출력될 수 있다. 제2 테스트 장치(TD2)는 테스트 안테나(T_Ant)를 포함하고, 테스트 안테나(T_Ant)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT')를 수신할 수 있다. 이후, 타겟 위상 변위기(524_1)의 변위 정도가 제2 값으로 조절될 수 있고, 테스트 입력신호(TS_IN)는 송신 패스들(TX_Path)을 통과하여 안테나들(412a_1, 412a_2)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT')로서 출력될 수 있다. 이와 같은 방식으로, 타겟 위상 변위기(524_1)의 변위 정도를 복수 회 조절함으로써 출력된 복수의 테스트 출력신호들(TS_OUT')을 제2 테스트 장치(TD2)가 수신하고, 테스트 출력신호들(TS_OUT')을 이용하여 타겟 위상 변위기(524_1)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.As an example, when the degree of displacement of the target phase shifter 524_1 is adjusted to the first value, the test input signal TS_IN input from the first test apparatus TD1 to the first transceiver circuit 450a is transmitted. The test output signal TS_OUT 'may be output through the antennas TX_Path and through the antennas 412a_1 and 412a_2. The second test device TD2 may include a test antenna T_Ant and receive the test output signal TS_OUT 'through the test antenna T_Ant. Thereafter, the degree of displacement of the target phase shifter 524_1 may be adjusted to a second value, and the test input signal TS_IN passes through the transmission paths TX_Path and passes through the antennas 412a_1 and 412a_2. It can be output as (TS_OUT '). In this manner, the second test apparatus TD2 receives the plurality of test output signals TS_OUT 'output by adjusting the degree of displacement of the target phase shifter 524_1 a plurality of times, and the test output signals TS_OUT. ') May be used to perform a characteristic evaluation test on the target phase shifter 524_1.

제2 테스트 장치(TD2)는 도 6에서 서술한 것과 같은 방식으로 테스트 출력신호들(TS_OUT')을 이용하여 타겟 위상 변위기(524_1)에 대한 특성을 평가할 수 있다. 또한, 더 나아가, 제2 테스트 장치(TD2)는 테스트 출력신호들(TS_OUT')을 이용하여 안테나들(412a_1, 412a_2)의 방사 특성을 평가할 수 있다. 제1 송수신 체인(520_1)의 타겟 위상 변위기(524_1)에 대한 특성 평가 테스트가 완료되면, 제2 송수신 체인(520_2)의 위상 변위기(524_2)를 타겟 위상 변위기로 선택하여 다음 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 제1 프론트-엔드 회로(530a)에 대한 특성 평가 테스트가 완료된 때에는, RF 집적회로 내의 다른 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. The second test device TD2 may evaluate characteristics of the target phase shifter 524_1 using the test output signals TS_OUT 'in the same manner as described with reference to FIG. 6. In addition, the second test apparatus TD2 may evaluate the radiation characteristics of the antennas 412a_1 and 412a_2 using the test output signals TS_OUT '. When the characteristic evaluation test for the target phase shifter 524_1 of the first transmission / reception chain 520_1 is completed, the phase shifter 524_2 of the second transmission / reception chain 520_2 is selected as the target phase shifter to perform the next characteristic evaluation test. Can be done. When the characteristic evaluation test for the first front-end circuit 530a is completed, the characteristic evaluation test for another front-end circuit in the RF integrated circuit may be performed.

도 11b를 참조하면, 도 11a보다 더 많은 송수신 체인들(520_1-520_3)을 이용하여 테스트 제어신호(Test_CS4)를 기반으로 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행하기 때문에, 안테나들(412a_1-412a_3)을 통해 출력되는 테스트 출력신호(TS_OUT')의 크기는 도 11a에서보다 더 클 수 있다. 테스트 출력신호(TS_OUT')의 크기가 큼에 따라, 노이즈에 둔감한 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 이에 대한 구체적인 내용은 도 8에서 서술한 바, 이하 생략한다.Referring to FIG. 11B, since the characteristic evaluation test is performed on the first front-end circuit 430a based on the test control signal Test_CS4 using more transmission / reception chains 520_1-520_3 than in FIG. 11A, The size of the test output signal TS_OUT ′ output through the antennas 412a_1-412a_3 may be larger than that in FIG. 11A. As the test output signal TS_OUT 'is large in size, a characteristic evaluation test may be performed on the first front-end circuit 430a which is insensitive to noise, and details thereof will be described with reference to FIG. 8. Omitted below.

도 11c를 참조하면, 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로의 특성 평가 테스트를 위한 송신 패스들을 RF 집적회로 내에 형성할 수 있다(S101'). 형성된 송신 패스들은 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 타겟 위상 변위기를 경유할 수 있다. 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로 내의 적어도 하나의 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다(S102'). 타겟 위상 변위기는 테스트 제어신호를 기반으로 선택될 수 있다. 송신 패스들을 통과한 테스트 입력신호를 제p 테스트 출력신호로서 출력할 수 있다(S103'). 제p 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호인지를 판별할 수 있다(S104'). 제p 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호가 아닌 때에(S104', No), p를 카운트 업하고(S105'), 단계 S102'로 돌아가 다음 테스트 출력신호를 출력할 수 있도록 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다. 제p 테스트 출력신호가 마지막 출력신호인 때에(S104', Yes), 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절하면서 출력된 복수의 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 타겟 위상 변위기의 특성을 평가할 수 있다(S106').Referring to FIG. 11C, transmission paths for the characteristic evaluation test of the k-th front-end circuit may be formed in the RF integrated circuit based on the test control signal (S101 ′). The formed transmission passes may pass through the target phase shifter to perform a characterization test on the target phase shifter. The degree of displacement of the at least one target phase shifter in the k-th front-end circuit may be adjusted based on the test control signal (S102 ′). The target phase shifter may be selected based on the test control signal. The test input signal passing through the transmission paths may be output as the p-th test output signal (S103 '). It may be determined whether the p-th test output signal is the last test output signal (S104 '). When the p-th test output signal is not the last test output signal (S104 ', No), p is counted up (S105'), and the displacement of the target phase shifter is returned to step S102 'to output the next test output signal. You can adjust the degree. When the p-th test output signal is the last output signal (S104 ', Yes), the characteristics of the target phase shifter may be evaluated using the magnitudes of the plurality of test output signals output while adjusting the degree of displacement of the target phase shifter. (S106 ').

타겟 위상 변위기의 특성 평가 결과를 기반으로 타겟 위상 변위기가 불량인지 여부를 판별할 수 있다(S107'). 타겟 위상 변위기가 불량으로 판별된 때에(S107', Yes), 단계 S110(도 9)로 넘어가 제k 프론트-엔드 회로의 불량 여부를 판별하는 때에 타겟 위상 변위기의 불량 결과가 이용될 수 있다. 예를 들어, 타겟 위상 변위기가 불량인 때에, 제k 프론트-엔드 회로가 불량인 것으로 판별할 수 있다.It may be determined whether the target phase shifter is defective based on the result of the evaluation of the characteristic of the target phase shifter (S107 '). When the target phase shifter is judged to be defective (S107 ', Yes), the flow of the target phase shifter may be used when the process proceeds to step S110 (Fig. 9) to determine whether or not the k-th front-end circuit is defective. For example, when the target phase shifter is bad, it can be determined that the k-th front-end circuit is bad.

타겟 위상 변위기가 불량이 아닌 때에(S107', No), 타겟 위상 변위기가 제k 프론트-엔드 내의 마지막 타겟 위상 변위기인지 여부를 판별할 수 있다(S108'). 타겟 위상 변위기가 선택 송수신 체인들 내의 마지막 타겟 위상 변위기가 아닌 때에(S108', No), 제k 프론트-엔드 회로 내의 다음 타겟 위상 변위기를 선택할 수 있다(S109'). 다음 타겟 위상 변위기 선택은 테스트 제어신호를 기반으로 수행될 수 있다. 단계 S101'로 돌아가 다음 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 다음 타겟 위상 변위기를 경유하는 송신 패스들을 형성하고, 송신 패스들을 이용하여 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.When the target phase shifter is not bad (S107 ', No), it may be determined whether the target phase shifter is the last target phase shifter in the kth front-end (S108'). When the target phase shifter is not the last target phase shifter in the select transmission / reception chains (S108 ', No), the next target phase shifter in the kth front-end circuit may be selected (S109'). The next target phase shifter selection may be performed based on the test control signal. Returning to step S101 ', the transmission paths through the next target phase shifter may be formed to perform the characteristic evaluation test on the next target phase shifter, and the characteristic evaluation test may be performed using the transmission paths.

도 11a 내지 도 11c에서 서술된 특성 평가 테스트 방법을 통해 RF 집적회로의 복수의 송신 체인들에 연결된 위상 변위기들에 대하여 불량 여부를 판별할 수 있다. RF 집적회로의 복수의 수신 체인들에 연결된 위상 변위기들에 대한 불량 여부는 도 12a 내지 도 12c에서 서술되는 특성 평가 테스트 방법을 통해 판별 가능할 수 있다. It is possible to determine whether the phase shifters connected to the plurality of transmission chains of the RF integrated circuit are defective through the characteristic evaluation test method described in FIGS. 11A to 11C. The failure of the phase shifters connected to the plurality of receiving chains of the RF integrated circuit may be determined through the characteristic evaluation test method described in FIGS. 12A to 12C.

도 12a 및 도 12b는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로 내 수신 패스들을 이용한 특성 평가 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도이고, 도 12c는 도 12a 및 도 12b에서와 같이 수신 패스들을 이용한 도 9의 단계 S100를 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다. 제1 프론트-엔드 회로(430a)의 구성은 도 11a에서 구체적으로 서술한 바, 중복되는 내용은 생략한다. 12A and 12B are block diagrams illustrating a characteristic evaluation test method using reception paths in an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure, and FIG. 12C is a diagram using reception paths as in FIGS. 12A and 12B. 9 is a flowchart for specifically describing step S100 of FIG. The configuration of the first front-end circuit 430a has been described in detail with reference to FIG. 11A, and overlapping descriptions thereof will be omitted.

도 12a를 참조하면, RF 집적회로 내의 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 위하여 제1 송수신 체인(524_1) 및 제2 송수신 체인(524_2)을 이용해 수신 패스들(RX_Path)을 형성할 수 있다. 이하에서는, 수신 패스들(RX_Path)을 형성하기 위해 선택된 송수신 체인들(524_1, 524_2)은 선택 송수신 체인으로 지칭될 수 있다. 구체적으로, 제1 송수신 체인(520_1)에 포함된 스위치 소자(522_1)는 테스트 제어신호(Test_CS5)에 응답하여 수신 체인과 제1 안테나(412a_1)를 연결시킬 수 있다. 제2 송수신 체인(520_2)에 포함된 스위치 소자(522_2)는 테스트 제어신호(Test_CS5)에 응답하여 수신 체인과 제2 안테나(412a_2)를 연결시킬 수 있다. 또한, 제3 송수신 체인(520_3)에 포함된 스위치 소자(522_3)와 제4 송수신 체인(520_4)에 포함된 스위치 소자(522_4)는 테스트 제어신호(Test_CS5)에 응답하여 각각의 수신 체인과 안테나들(412a_3, 412a_4)이 연결되지 않도록 할 수 있다.Referring to FIG. 12A, reception paths RX_Path may be obtained using a first transmit / receive chain 524_1 and a second transmit / receive chain 524_2 for a characteristic evaluation test on the first front-end circuit 430a in the RF integrated circuit. Can be formed. Hereinafter, the transmission / reception chains 524_1 and 524_2 selected to form the reception paths RX_Path may be referred to as a selection transmission / reception chain. In detail, the switch element 522_1 included in the first transmission / reception chain 520_1 may connect the reception chain to the first antenna 412a_1 in response to the test control signal Test_CS5. The switch element 522_2 included in the second transmission / reception chain 520_2 may connect the reception chain to the second antenna 412a_2 in response to the test control signal Test_CS5. In addition, the switch element 522_3 included in the third transmit / receive chain 520_3 and the switch element 522_4 included in the fourth transmit / receive chain 520_4 correspond to respective receive chains and antennas in response to the test control signal Test_CS5. 412a_3 and 412a_4 may not be connected.

위와 같은 연결을 통해 제1 송수신 체인(520_1)의 수신 체인 및 제2 송수신 체인(520_2)의 수신 체인을 경유하는 수신 패스들(RX_Path)이 형성될 수 있다. 수신 패스들(RX_Path)이 형성된 이후에, 제1 송수신 체인(520_1)의 수신 체인에 연결된 위상 변위기(527_1)는 타겟 위상 변위기로 선택될 수 있으며, 테스트 제어신호(Test_CS5)를 기반으로 변위 정도가 조절될 수 있다. 타겟 위상 변위기(527_1) 외에 수신 패스들(RX_Path)이 경유하는 위상 변위기(527_2)의 변위 정도는 소정의 값으로 고정될 수 있다.Through the above connection, reception paths RX_Path through the reception chain of the first transmission / reception chain 520_1 and the reception chain of the second transmission / reception chain 520_2 may be formed. After the reception paths RX_Path are formed, the phase shifter 527_1 connected to the reception chain of the first transmit / receive chain 520_1 may be selected as a target phase shifter, and the degree of displacement based on the test control signal Test_CS5. Can be adjusted. In addition to the target phase shifter 527_1, the degree of displacement of the phase shifter 527_2 via the reception paths RX_Path may be fixed to a predetermined value.

일 예로서, 타겟 위상 변위기(527_1)가 제1 값으로 변위 정도가 조절된 때에, 제2 테스트 장치(TD2)의 테스트 안테나(T_Ant)로부터 송신된 테스트 입력신호(TS_IN')는 제1 안테나(412a_1) 및 제2 안테나(412a_2)에 의해 수신되고, 수신 패스들(RX_Path)을 통과하여 제1 트랜시버 회로(450a)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 제1 테스트 장치(TD1)는 테스트 출력신호(TS_OUT)를 수신할 수 있다. As an example, when the degree of displacement of the target phase shifter 527_1 is adjusted to the first value, the test input signal TS_IN ′ transmitted from the test antenna T_Ant of the second test apparatus TD2 is the first antenna. The signal may be received by the second antenna 412a_1 and the second antenna 412a_2, and may be output as the test output signal TS_OUT through the first transceiver circuit 450a through the reception paths RX_Path. The first test device TD1 may receive the test output signal TS_OUT.

이후, 타겟 위상 변위기(527_1)의 변위 정도가 제2 값으로 조절될 수 있고, 제2 테스트 장치(TD2)의 테스트 안테나(T_Ant)로부터 송신된 테스트 입력신호(TS_IN')는 제1 안테나(412a_1) 및 제2 안테나(412a_2)에 의해 수신되고, 수신 패스들(RX_Path)을 통과하여 제1 트랜시버 회로(450a)를 통해 테스트 출력신호(TS_OUT)로서 출력될 수 있다. 이와 같은 방식으로, 타겟 위상 변위기(527_1)의 변위 정도를 복수 회 조절함으로써 출력된 복수의 테스트 출력신호들(TS_OUT)을 제1 테스트 장치(TD1)가 수신하고, 테스트 출력신호들(TS_OUT)을 이용하여 타겟 위상 변위기(527_1)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.Thereafter, the degree of displacement of the target phase shifter 527_1 may be adjusted to a second value, and the test input signal TS_IN ′ transmitted from the test antenna T_Ant of the second test apparatus TD2 may be a first antenna ( The signal may be received by the second antenna 412a_1 and the second antenna 412a_2, and may be output as the test output signal TS_OUT through the first transceiver circuit 450a through the reception paths RX_Path. In this manner, the first test device TD1 receives the plurality of test output signals TS_OUT output by adjusting the degree of displacement of the target phase shifter 527_1 a plurality of times, and the test output signals TS_OUT. The characteristic evaluation test for the target phase shifter 527_1 may be performed by using.

제1 테스트 장치(TD1)는 도 6에서 서술한 것과 같은 방식으로 테스트 출력신호들(TS_OUT)을 이용하여 타겟 위상 변위기(527_1)에 대한 특성을 평가할 수 있다. 또한, 더 나아가, 제2 테스트 장치(TD2)는 테스트 출력신호들(TS_OUT')을 이용하여 안테나들(412a_1, 412a_2)의 수신 특성을 평가할 수 있다. 제1 송수신 체인(520_1)의 타겟 위상 변위기(527_1)에 대한 특성 평가 테스트가 완료되면, 제2 송수신 체인(520_2)의 위상 변위기(527_2)를 타겟 위상 변위기로 선택하여 다음 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다. 제1 프론트-엔드 회로(530a)에 대한 특성 평가 테스트가 완료된 때에는, RF 집적회로 내의 다른 프론트-엔드 회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.The first test device TD1 may evaluate characteristics of the target phase shifter 527_1 using the test output signals TS_OUT in the same manner as described with reference to FIG. 6. In addition, the second test apparatus TD2 may evaluate the reception characteristics of the antennas 412a_1 and 412a_2 using the test output signals TS_OUT '. When the characteristic evaluation test on the target phase shifter 527_1 of the first transmission / reception chain 520_1 is completed, the phase shifter 527_2 of the second transmission / reception chain 520_2 is selected as the target phase shifter to perform the next characteristic evaluation test. Can be done. When the characteristic evaluation test for the first front-end circuit 530a is completed, the characteristic evaluation test for another front-end circuit in the RF integrated circuit may be performed.

도 12b를 참조하면, 도 12a보다 더 많은 송수신 체인들(520_1-520_3)을 이용하여 테스트 제어신호(Test_CS6)를 기반으로 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행하기 때문에, 안테나들(412a_1-412a_3)을 통해 출력되는 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기는 도 12a에서보다 더 클 수 있다. 테스트 출력신호(TS_OUT)의 크기가 큼에 따라, 노이즈에 둔감한 제1 프론트-엔드 회로(430a)에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있으며, 이에 대한 구체적인 내용은 도 8에서 서술한 바, 이하 생략한다.Referring to FIG. 12B, since the characteristic evaluation test is performed on the first front-end circuit 430a based on the test control signal Test_CS6 using more transmit / receive chains 520_1-520_3 than FIG. 12A, The test output signal TS_OUT output through the antennas 412a_1-412a_3 may be larger than in FIG. 12A. As the test output signal TS_OUT has a large magnitude, a characteristic evaluation test may be performed on the first front-end circuit 430a which is insensitive to noise, and details thereof will be described with reference to FIG. 8. Omit.

도 12c를 참조하면, 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로의 특성 평가 테스트를 위한 수신 패스들을 RF 집적회로 내에 형성할 수 있다(S101''). 형성된 수신 패스들은 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 타겟 위상 변위기를 경유할 수 있다. 테스트 제어신호를 기반으로 제k 프론트-엔드 회로 내의 적어도 하나의 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다(S102''). 타겟 위상 변위기는 테스트 제어신호를 기반으로 선택될 수 있다. 수신 패스들을 통과한 테스트 입력신호를 제j 테스트 출력신호로서 출력할 수 있다(S103''). 제j 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호인지를 판별할 수 있다(S104''). 제j 테스트 출력신호가 마지막 테스트 출력신호가 아닌 때에(S104'', No), j를 카운트 업하고(S105'), 단계 S102''로 돌아가 다음 테스트 출력신호를 출력할 수 있도록 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 수 있다. 제j 테스트 출력신호가 마지막 출력신호인 때에(S104'', Yes), 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절하면서 출력된 복수의 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 타겟 위상 변위기의 특성을 평가할 수 있다(S106'').Referring to FIG. 12C, reception paths for the characteristic evaluation test of the k-th front-end circuit may be formed in the RF integrated circuit based on the test control signal (S101 ″). The received receive paths may pass through the target phase shifter to perform a characterization test on the target phase shifter. The degree of displacement of the at least one target phase shifter in the k-th front-end circuit may be adjusted based on the test control signal (S102 ″). The target phase shifter may be selected based on the test control signal. The test input signal passing through the reception paths may be output as the j th test output signal (S103 ″). It may be determined whether the j th test output signal is the last test output signal (S104 ″). When the j th test output signal is not the last test output signal (S104 ", No), the j counts up (S105 '), and returns to step S102 " so that the target phase shifter can output the next test output signal. You can adjust the degree of displacement. When the j th test output signal is the last output signal (S104 ″, Yes), the characteristics of the target phase shifter may be evaluated using the magnitudes of the plurality of test output signals output while adjusting the degree of displacement of the target phase shifter. (S106 '').

타겟 위상 변위기의 특성 평가 결과를 기반으로 타겟 위상 변위기가 불량인지 여부를 판별할 수 있다(S107''). 타겟 위상 변위기가 불량으로 판별된 때에(S107'', Yes), 단계 S110(도 9)로 넘어가 제k 프론트-엔드 회로의 불량 여부를 판별하는 때에 타겟 위상 변위기의 불량 결과가 이용될 수 있다. 예를 들어, 타겟 위상 변위기가 불량인 때에, 제k 프론트-엔드 회로가 불량인 것으로 판별할 수 있다.On the basis of the evaluation result of the characteristics of the target phase shifter, it may be determined whether the target phase shifter is defective (S107 ″). When it is determined that the target phase shifter is bad (S107 ″, Yes), the bad result of the target phase shifter can be used to proceed to step S110 (FIG. 9) to determine whether the k-th front-end circuit is bad. . For example, when the target phase shifter is bad, it can be determined that the k-th front-end circuit is bad.

타겟 위상 변위기가 불량이 아닌 때에(S107'', No), 타겟 위상 변위기가 제k 프론트-엔드 내의 마지막 타겟 위상 변위기인지 여부를 판별할 수 있다(S108''). 타겟 위상 변위기가 선택 송수신 체인들 내의 마지막 타겟 위상 변위기가 아닌 때에(S108'', No), 제k 프론트-엔드 회로 내의 다음 타겟 위상 변위기를 선택할 수 있다(S109'). 다음 타겟 위상 변위기 선택은 테스트 제어신호를 기반으로 수행될 수 있다. 단계 S101''로 돌아가 다음 타겟 위상 변위기에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있도록 다음 타겟 위상 변위기를 경유하는 수신 패스들을 형성하고, 수신 패스들을 이용하여 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.When the target phase shifter is not bad (S107 ", No), it can be determined whether the target phase shifter is the last target phase shifter in the kth front-end (S108 "). When the target phase shifter is not the last target phase shifter in the select transmission / reception chains (S108 ″, No), the next target phase shifter in the k-th front-end circuit may be selected (S109 ′). The next target phase shifter selection may be performed based on the test control signal. Returning to step S101 ″, reception paths through the next target phase shifter may be formed to perform the property evaluation test on the next target phase shifter, and the property evaluation test may be performed using the reception paths.

도 13a 내지 도 13c는 본 개시의 일 실시 예에 따른 RF 집적회로에 연결되는 안테나 종류를 설명하기 위한 도면이다.13A to 13C are diagrams for describing antenna types connected to an RF integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present disclosure.

도 11a 및 도 13a를 참조하면, 이중 입력 다이폴 안테나(Ant1)는 제1 프론트-엔트 회로(430a)와 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 송수신 체인(520_1)은 제1 포트(Port 1)를 포함할 수 있으며, 제1 포트(Port 1)를 통해 이중 입력 다이폴 안테나(Ant1)의 제1 팔대(Arm1)와 연결되고, 제2 송수신 체인(520_2)은 제2 포트(Port 2)를 포함할 수 있으며, 제2 포트(Port 2)를 통해 이중 입력 다이폴 안테나(Ant1)의 제2 팔대(Arm2)와 연결될 수 있다. 이와 같은 방식으로 복수의 이중 입력 다이폴 안테나들은 RF 집적회로와 연결될 수 있다. 별도의 안테나를 이용하여 이중 입력 다이폴 안테나(Ant1)로부터 방사되는 신호를 측정할 경우, 각 팔대(Arm1, Amr2)에서 방사하는 신호들이 180도의 위상 차를 가질 때에 최대 크기의 신호가 검출될 수 있다. 즉, 이중 입력 다이폴 안테나(Ant1)를 통해 방사되는 신호들의 위상 차에 따라 다른 안테나 빔(beam)이 형성되기 때문에 빔의 세기는 달라질 수 있다. 이러한 특성을 이용하여 도 11a 내지 도 11c에 서술된 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.11A and 13A, the dual input dipole antenna Ant1 may be connected to the first front-end circuit 430a. For example, the first transmission / reception chain 520_1 may include a first port (Port 1), and is connected to the first arm Arm1 of the dual input dipole antenna Ant1 through the first port (Port 1). The second transmission / reception chain 520_2 may include a second port Port 2 and may be connected to the second arm Arm2 of the dual input dipole antenna Ant1 through the second port Port 2. In this manner a plurality of dual input dipole antennas can be connected to the RF integrated circuit. When a signal radiated from the dual input dipole antenna Ant1 is measured using a separate antenna, a signal having a maximum magnitude may be detected when the signals radiated from each arm Arm1 and Amr2 have a phase difference of 180 degrees. . That is, since different antenna beams are formed according to the phase difference between signals emitted through the dual input dipole antenna Ant1, the intensity of the beam may vary. This characteristic can be used to perform a characteristic evaluation test on the RF integrated circuit described in FIGS. 11A-11C.

도 11a 및 도 13b를 참조하면, 차동 급전 패치 안테나(Ant2)는 제1 프론트-엔드 회로(430a)와 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 송수신 체인(520_1)은 제1 급전 포인트(FP1)와 연결되고, 제2 송수신 체인(520_2)은 제2 급전 포인트(FP2)와 연결될 수 있다. 차동 급전 패치 안테나(Ant2)를 통해 방사되는 신호들의 위상 차에 따라 다른 안테나 빔(beam)이 형성되기 때문에 빔의 세기는 달라질 수 있다. 이러한 특성을 이용하여 도 11a 내지 도 11c에 서술된 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.11A and 13B, the differential feed patch antenna Ant2 may be connected to the first front-end circuit 430a. For example, the first transmission / reception chain 520_1 may be connected to the first feed point FP1, and the second transmission / reception chain 520_2 may be connected to the second feed point FP2. Since different antenna beams are formed according to the phase difference of signals radiated through the differential feeding patch antenna Ant2, the intensity of the beam may vary. This characteristic can be used to perform a characteristic evaluation test on the RF integrated circuit described in FIGS. 11A-11C.

도 11a 및 도 13c를 참조하면, 1 x 2 패치 안테나(Ant3)는 제1 프론트-엔드 회로(430a)와 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 송수신 체인(520_1)은 제1 급전 포인트(FP1)와 연결되고, 제2 송수신 체인(520_2)은 제2 급전 포인트(FP2)와 연결될 수 있다. 제2 송수신 체인(520_2)은 제2 급전 포인트(FP2)와 연결될 수 있다. 1 x 2 패치 안테나(Ant3)를 통해 방사되는 신호들의 위상 차에 따라 다른 안테나 빔(beam)이 형성되기 때문에 빔의 세기는 달라질 수 있다. 이러한 특성을 이용하여 도 11a 내지 도 11c에 서술된 RF 집적회로에 대한 특성 평가 테스트를 수행할 수 있다.11A and 13C, the 1 × 2 patch antenna Ant3 may be connected to the first front-end circuit 430a. For example, the first transmission / reception chain 520_1 may be connected to the first feed point FP1, and the second transmission / reception chain 520_2 may be connected to the second feed point FP2. The second transmission / reception chain 520_2 may be connected to the second power supply point FP2. Since different antenna beams are formed according to the phase difference of signals emitted through the 1 × 2 patch antenna Ant3, the intensity of the beam may vary. This characteristic can be used to perform a characteristic evaluation test on the RF integrated circuit described in FIGS. 11A-11C.

도 14는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트를 통해 정상으로 판별되어 양산된 RF 집적회로를 포함하는 통신 기기들을 나타내는 도면이다.14 is a diagram illustrating communication devices including an RF integrated circuit that is determined to be normal and mass produced through a characteristic evaluation test according to an embodiment of the present disclosure.

도 14를 참조하면, 가정용 기기(1100), 가전(1120), 엔터테인먼트 기기(1140) 및 AP(Access Point)(1200)는 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트를 통해 정상으로 판별되어 양산된 RF 집적회로를 포함하고, RF 집적회로를 이용하여 통신을 수행할 수 있다. 일부 실시예들에서, 가정용 기기(1100), 가전(1120), 엔터테인먼트 기기(1140) 및 AP(1200)는 IoT(Internet of Things) 네트워크 시스템을 구성할 수 있다. 도 14에 도시된 통신 기기들은 예시일 뿐이며, 도 14에 도시되지 아니한 다른 통신 기기들에도 본 개시의 일 실시 예에 따른 특성 평가 테스트를 통과한 RF 집적회로가 포함될 수 있는 점은 이해될 것이다.Referring to FIG. 14, the home appliance 1100, the home appliance 1120, the entertainment device 1140, and the access point 1200 may be determined to be normal through mass-feature evaluation tests according to an embodiment of the present disclosure. Including the integrated RF integrated circuit, it is possible to perform communication using the RF integrated circuit. In some embodiments, home appliance 1100, home appliance 1120, entertainment device 1140, and AP 1200 may form an Internet of Things (IoT) network system. It will be appreciated that the communication devices shown in FIG. 14 are exemplary only, and that other communication devices not shown in FIG. 14 may also include an RF integrated circuit that has passed a characteristic evaluation test according to an embodiment of the present disclosure.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시예들을 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. As described above, exemplary embodiments have been disclosed in the drawings and the specification. Although embodiments have been described using specific terms in this specification, they are used only for the purpose of describing the technical spirit of the present disclosure and are not used to limit the scope of the present disclosure as defined in the meaning or claims. . Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present disclosure will be defined by the technical spirit of the appended claims.

Claims (20)

제1 안테나 어레이와의 연결을 위한 복수의 스위치 소자들이 구비된 제1 프론트-엔드 회로, 제2 안테나 어레이와의 연결을 위한 복수의 스위치 소자들이 구비된 제2 프론트-엔드 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제1 트랜시버 회로, 상기 제2 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제2 트랜시버 회로 및 상기 프론트-엔드 회로들과 상기 트랜시버 회로들간의 선택적인 연결을 위한 스위칭 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서,
상기 RF 집적회로는, 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 제1 트랜시버 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로 및 상기 제2 트랜시버 회로를 경유하는 테스트 루프를 형성하는 단계;
상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계; 및
상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 제1 트랜시버 회로를 통해 수신하고, 상기 테스트 루프를 통과한 상기 테스트 입력신호를 상기 제2 트랜시버 회로를 통해 테스트 출력신호로서 상기 테스트 장치에 출력하는 단계를 포함하는 테스트 방법.A first front-end circuit with a plurality of switch elements for connection with a first antenna array, a second front-end circuit with a plurality of switch elements for connection with a second antenna array, the first front A first transceiver circuit connected to an end circuit to transmit and receive a signal, a second transceiver circuit connected to the second front-end circuit to transmit and receive a signal, and a selective connection between the front-end circuits and the transceiver circuits; In the test method for an RF integrated circuit comprising a switching circuit for,
The RF integrated circuit may include: forming a test loop via the first transceiver circuit, the first front-end circuit, and the second transceiver circuit based on a test control signal received from a test device;
The RF integrated circuit may further include: adjusting a degree of displacement of at least one phase shifter in the first front-end circuit based on the test control signal; And
The RF integrated circuit receives a test input signal from the test device through the first transceiver circuit, and receives the test input signal passing through the test loop through the second transceiver circuit as a test output signal to the test device. A test method comprising the step of outputting. 제1항에 있어서,
상기 테스트 루프는,
상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 복수의 송수신 체인(chain)들 중 적어도 둘 이상의 선택 송수신 체인들에 각각 형성된 테스트 서브 루프들을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
The test loop,
And test sub-loops each formed in at least two selected transmit / receive chains of a plurality of transmit / receive chains in the first front-end circuit. 제2항에 있어서,
상기 테스트 루프를 형성하는 단계는,
상기 RF 집적회로는, 상기 선택 송수신 체인들 각각에 포함된 송신 체인과 수신 체인을 상기 스위치 소자를 통해 연결하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 2,
Forming the test loop,
The RF integrated circuit further comprises connecting the transmission chain and the reception chain included in each of the selected transmission and reception chains through the switch element. 제1항에 있어서,
상기 테스트 루프는,
상기 테스트 입력신호의 증폭 및 주파수 상향 변환을 위한 상기 제1 트랜시버 회로 내의 제1 루프 패스(loop path), 상기 제1 프론트-엔드 회로를 통과한 상기 테스트 입력신호의 증폭 및 주파수 하향 변환을 위한 상기 제1 트랜시버 회로 내의 제2 루프 패스 및 상기 제2 루프 패스를 통과한 상기 테스트 입력신호를 상기 테스트 장치에 출력하기 위한 상기 제2 트랜시버 회로 내의 제3 루프 패스를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
The test loop,
A first loop path within the first transceiver circuit for amplifying the test input signal and upconverting the frequency, for amplifying the frequency and downconverting the test input signal passing through the first front-end circuit; And a third loop path in the second transceiver circuit for outputting a second loop path in the first transceiver circuit and the test input signal passing through the second loop path to the test device. 제4항에 있어서,
상기 스위칭 회로는,
상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 제2 루프 패스와 상기 제3 루프 패스를 선택적으로 연결시키는 연결 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 4, wherein
The switching circuit,
And a connection circuit for selectively connecting the second loop path and the third loop path based on the test control signal. 제1항에 있어서,
상기 변위 정도를 조절하는 단계는,
상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 테스트 대상이 되는 적어도 하나의 타겟 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계; 및
상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 상기 타겟 위상 변위기 외 나머지 위상 변위기들의 변위 정도는 고정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
Adjusting the degree of displacement,
Adjusting a degree of displacement of at least one target phase shifter under test in the first front-end circuit; And
And fixing the degree of displacement of the remaining phase shifters other than the target phase shifter in the first front-end circuit. 제6항에 있어서,
상기 타겟 위상 변위기는,
상기 제1 프론트-엔드 회로 내의 복수의 송수신 체인들 중 어느 하나의 송신 체인 또는 수신 체인에 포함된 위상 변위기인 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 6,
The target phase shifter,
And a phase shifter included in any one of a plurality of transmit and receive chains in the first front-end circuit. 제1항에 있어서,
상기 테스트 출력신호를 상기 테스트 장치에 출력하는 단계는,
상기 테스트 입력신호는 상기 제1 트랜시버 회로에 의해 주파수 상향 변환되는 단계; 및
상기 테스트 루프를 통과한 상기 테스트 입력신호는 상기 제1 트랜시버 회로에 의해 주파수 하향 변환되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
Outputting the test output signal to the test device,
Frequency up-converting the test input signal by the first transceiver circuit; And
And the test input signal passing through the test loop is frequency downconverted by the first transceiver circuit. 제1항에 있어서,
상기 테스트 입력신호와 상기 테스트 출력신호는 기저 대역 또는 중간 주파수 대역에 대응하는 주파수를 갖는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
And the test input signal and the test output signal have a frequency corresponding to a base band or an intermediate frequency band. 제1항에 있어서,
상기 RF 집적회로는,
상기 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 때마다, 상기 테스트 입력신호를 상기 테스트 장치로부터 수신하여, 상기 테스트 출력신호를 상기 테스트 장치에 출력하는 동작을 반복하여 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
The RF integrated circuit,
Whenever the degree of displacement of the phase shifter is adjusted, the test input signal is received from the test apparatus, and the test output signal is repeatedly outputted to the test apparatus. 제10항에 있어서,
상기 테스트 방법에서,
상기 테스트 장치는, 상기 RF 집적회로로부터 수신한 복수의 상기 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 상기 위상 변위기의 특성을 평가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 10,
In the test method,
And the test apparatus further comprises evaluating characteristics of the phase shifter using magnitudes of the plurality of test output signals received from the RF integrated circuit. 제11항에 있어서,
상기 위상 변위기의 특성을 평가하는 단계는,
상기 테스트 출력신호들의 크기들 중 최대 크기와 최소 크기의 차이를 임계 값과 비교하는 단계; 및
상기 비교 결과를 기반으로 상기 위상 변위기의 불량 여부를 판별하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 11,
Evaluating the characteristics of the phase shifter,
Comparing a difference between a maximum magnitude and a minimum magnitude among the magnitudes of the test output signals with a threshold value; And
And determining whether the phase shifter is defective based on the comparison result. 복수의 안테나들과 각각 연결된 복수의 송수신 체인들이 구비된 프론트-엔드 회로, 상기 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 트랜시버 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서,
상기 RF 집적회로는, 제1 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 송수신 체인들 중 적어도 두 개의 선택 송수신 체인들 내에 송신 패스(path)들을 형성하는 단계;
상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 선택 송수신 체인들 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계;
상기 RF 집적회로는, 상기 제1 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 트랜시버 회로를 통해 수신하고, 상기 송신 패스들을 경유한 상기 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 상기 선택 송수신 체인들과 연결된 안테나들을 통해 제2 테스트 장치로 송신하는 단계를 포함하는 테스트 방법.A test method for an RF integrated circuit comprising a front-end circuit having a plurality of transmit and receive chains connected to a plurality of antennas, respectively, and a transceiver circuit connected to the front-end circuit to transmit and receive a signal.
The RF integrated circuit may include forming transmission paths in at least two selected transmission / reception chains of the transmission / reception chains based on a test control signal received from a first test device;
The RF integrated circuit may further include: adjusting a degree of displacement of at least one of the phase shifters in the selected transmission / reception chains based on the test control signal;
The RF integrated circuit receives a test input signal from the first test apparatus through the transceiver circuit, and transmits the test input signal via the transmission paths through antennas connected to the selected transmission / reception chains as test output signals. 2 The test method comprising the step of transmitting to a test device. 제13항에 있어서,
상기 안테나들은,
차동 급전 안테나 또는 배열 안테나인 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 13,
The antennas,
And a differential feeding antenna or an array antenna. 제13항에 있어서,
상기 RF 집적회로는,
상기 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 때마다, 상기 테스트 입력신호를 상기 제1 테스트 장치로부터 수신하여, 상기 테스트 출력신호를 상기 제2 테스트 장치로 송신하는 동작을 반복하여 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 13,
The RF integrated circuit,
Whenever the degree of displacement of the phase shifter is adjusted, the test input signal is received from the first test device and the test output signal is repeatedly transmitted to the second test device. Way. 제15항에 있어서,
상기 테스트 방법에서,
상기 제2 테스트 장치는, 테스트 안테나를 통해 상기 RF 집적회로로부터 수신한 복수의 상기 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 상기 위상 변위기의 특성을 평가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 15,
In the test method,
And the second test apparatus further comprises evaluating characteristics of the phase shifter using magnitudes of the plurality of test output signals received from the RF integrated circuit through a test antenna. 복수의 안테나들과 각각 연결된 복수의 송수신 체인들이 구비된 제1 프론트-엔드 회로, 상기 제1 프론트-엔드 회로와 연결되어 신호를 송수신하는 제1 트랜시버 회로를 포함하는 RF 집적회로에 대한 테스트 방법에 있어서,
상기 RF 집적회로는, 제1 테스트 장치로부터 수신된 테스트 제어신호를 기반으로 상기 송수신 체인들 중 적어도 두 개의 선택 송수신 체인들 내에 수신 패스들을 형성하는 단계;
상기 RF 집적회로는, 상기 테스트 제어신호를 기반으로 상기 선택 송수신 체인들 내의 위상 변위기들 중 적어도 하나의 위상 변위기의 변위 정도를 조절하는 단계;
상기 RF 집적회로는, 제2 테스트 장치로부터 테스트 입력신호를 상기 프론트-엔드 회로를 통해 수신하고, 상기 수신 패스들을 통과한 상기 테스트 입력신호를 테스트 출력신호로서 상기 트랜시버 회로를 통해 상기 제1 테스트 장치로 출력하는 단계를 포함하는 테스트 방법.A first front-end circuit having a plurality of transmit and receive chains connected to a plurality of antennas, respectively, and a first transceiver circuit connected to the first front-end circuit to transmit and receive a signal. In
The RF integrated circuit may include forming receive paths in at least two selected transmit / receive chains of the transmit / receive chains based on a test control signal received from a first test device;
The RF integrated circuit may further include: adjusting a degree of displacement of at least one of the phase shifters in the selected transmission / reception chains based on the test control signal;
The RF integrated circuit receives a test input signal from a second test device through the front-end circuit and receives the test input signal passing through the reception paths as a test output signal through the transceiver circuit through the first test device. Test method comprising the step of outputting. 제1항에 있어서,
상기 안테나들은,
차동 급전 안테나 또는 배열 안테나인 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 1,
The antennas,
And a differential feeding antenna or an array antenna. 제17항에 있어서,
상기 RF 집적회로는,
상기 위상 변위기의 변위 정도를 조절할 때마다, 상기 테스트 입력신호를 상기 제2 테스트 장치로부터 수신하여, 상기 테스트 출력신호를 상기 제1 테스트 장치로 출력하는 단계를 포함하는 테스트 방법.The method of claim 17,
The RF integrated circuit,
Whenever the degree of displacement of the phase shifter is adjusted, receiving the test input signal from the second test device and outputting the test output signal to the first test device. 제19항에 있어서,
상기 테스트 방법에서,
상기 제1 테스트 장치는, 상기 RF 집적회로로부터 수신한 복수의 상기 테스트 출력신호들의 크기를 이용하여 상기 위상 변위기의 특성을 평가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 방법.The method of claim 19,
In the test method,
And the first test device further comprising evaluating characteristics of the phase shifter using the magnitudes of the plurality of test output signals received from the RF integrated circuit.
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