KR20190111543A - Synthetic test circuit and testing method thereof - Google Patents

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KR20190111543A
KR20190111543A KR1020180033819A KR20180033819A KR20190111543A KR 20190111543 A KR20190111543 A KR 20190111543A KR 1020180033819 A KR1020180033819 A KR 1020180033819A KR 20180033819 A KR20180033819 A KR 20180033819A KR 20190111543 A KR20190111543 A KR 20190111543A
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김영우
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엘에스산전 주식회사
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Abstract

Provided is a synthesis test circuit comprising: a charging source charging a first test portion or a second test portion to activate the first test portion or the second test portion; a first current source supplying power for testing the activated first test portion; a second current source supplying power for testing the activated second test portion; and a short-circuit current supply source supplying a short-circuit current for the short-circuit test of the first test portion or the second test portion.

Description

합성시험회로 및 그 시험방법{Synthetic test circuit and testing method thereof}Synthetic test circuit and testing method

실시예는 합성시험회로 및 그 시험방법에 관한 것이다.The embodiment relates to a synthetic test circuit and a test method thereof.

산업이 발전하고 인구가 증가함에 따라 전력 수요는 급증하는데 반해, 전력생산에는 한계가 있다. As industry develops and population grows, soaring demand for electricity has limits.

이에 따라, 생산지에서 생성된 전력을 손실 없이 안정적으로 수요지로 공급하기 위한 전력계통이 점차 중요해지고 있다. Accordingly, the power system for supplying the power generated in the production site stably without loss is becoming increasingly important.

전력계통에 고전압직류송전(HVDC: High Voltage Direct-Current transmission) 방식을 적용하여 전력을 손실없이 장거리 송전이 가능하도록 하는 연구가 활발히 진행되고 있다. 이러한 고전압직류송전방식에 의해 비동기 계통 연계, 해저 케이블 사용 및 전력제어가 가능하다. High voltage direct-current transmission (HVDC) is applied to the power system, and research is being actively conducted to enable long-distance transmission without losing power. This high voltage DC transmission system enables asynchronous system linkage, submarine cable use, and power control.

고전압직류송전시스템은 송전측에서 교류전력을 직류전력으로 변환하여 송전하고 수요측에서 송전된 직류전력을 교류전력으로 변환하여 수용가에 공급한다.The high-voltage DC transmission system converts AC power into DC power on the power transmission side, and converts DC power transmitted from the demand side into AC power and supplies it to the customer.

고전압직류송전시스템에서는 교류전력을 직류전력으로 변환하거나 직류전력을 교류전력으로 변환하기 위한 컨버터가 요구된다.In high voltage DC transmission systems, a converter for converting AC power to DC power or DC power to AC power is required.

수용가는 전력을 최종 소비하는 주체이다.The consumer is the ultimate consumer of power.

한편, 전력계통을 통해 전력을 손실없이 안전하게 송전하기 위해, 전력조류와 계통전압, 안정도 향상을 위한 FACTS(Flexible AC Transmission System) 설비의 필요성이 대두되고 있다. FACTS 설비 중 3세대로 불리는 전력보상장치의 일종인 STATCOM(STATic synchronous COMpensator) 설비는 전력계통에 병렬로 병입되어 전력계통에서 필요로 하는 무효전력 및 유효전력을 보상해 주고 있다. On the other hand, in order to safely transmit power without loss through the power system, the need for a flexible AC Transmission System (FACTS) facility for improving the power current, grid voltage, stability. The STATCOM (STATCOM) equipment, a kind of power compensation device called the third generation of FACTS facilities, is fed in parallel to the power system to compensate for reactive and active power required by the power system.

도 1은 일반적인 전력계통시스템을 도시한다.1 shows a general power system system.

도 1에 도시한 바와 같이, 일반적인 전력계통시스템(10)은 전력생성원(20), 전력계통(30), 부하(40) 및 다수의 전력보상장치(50)를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 1, the general power system 10 may include a power generation source 20, a power system 30, a load 40, and a plurality of power compensators 50.

전력생성원(20)은 전력을 생성하는 장소나 설비를 의미하는 것으로서, 전력을 생성하는 생산자로 이해될 수 있다. The power generation source 20 refers to a place or a facility for generating power, and can be understood as a producer for generating power.

전력계통(30)은 전력생성원(20)에서 생성된 전력을 부하(40)로 송전하도록 하여 주는 전력선, 철탑, 피뢰기, 애자 등을 포함하는 일체의 설비를 의미할 수 있다. The power system 30 may refer to any facility including a power line, a pylon, an arrester, an insulator, etc. for transmitting power generated from the power generation source 20 to the load 40.

부하(40)는 전력생성원(20)에서 생성된 전력을 소비하는 장소나 설비를 의미하는 것으로서, 전력을 소비하는 소비자로 이해될 수 있다.The load 40 refers to a place or a facility that consumes power generated by the power generation source 20, and may be understood as a consumer consuming power.

부하(40)은 앞서 언급된 수용가이다. The load 40 is the customer mentioned above.

전력보상장치(50)는 전력계통(30)에 연계되어, 전력계통(30)의 유효전력 또는 무효전력의 과잉 또는 부족에 따라 해당 유효전력 또는 무효전력을 보상하여 준다.The power compensation device 50 is linked to the power system 30 to compensate for the corresponding active power or reactive power according to the excess or lack of the active power or the reactive power of the power system 30.

전력보상장치(50) 또한 전력을 변환하여 주기 위한 컨버터가 필요하다.The power compensator 50 also needs a converter for converting power.

고전압직류송전시스템이나 전력보상장치(50)에 사용되는 컨버터에는 다수의 다수의 서브모듈이 포함된다. The converter used in the high voltage DC transmission system or the power compensator 50 includes a plurality of sub-modules.

이러한 서브모듈이 컨버터로 구성되기 전에, 서브모듈의 성능시험이 요구된다.Before these submodules are configured as converters, performance testing of the submodules is required.

하지만, 종래의 성능시험을 위한 합성시험회로는 매우 중요한 기술로서, 관련 기술이 노출되지 않을 뿐만 아니라 기술 이전도 용이하지 않아, 현재까지 공지된 성능시험을 위한 합성시험회로는 없다.However, the synthesis test circuit for the conventional performance test is a very important technology, not only the related technology is exposed, but also technology transfer is not easy, there is no known synthesis test circuit for the performance test to date.

실시예는 전술한 문제 및 다른 문제를 해결하는 것을 목적으로 한다.The embodiment aims to solve the above and other problems.

실시예의 다른 목적은 서로 상이한 타입의 서브모듈의 성능시험이 가능한 합성시험회로 및 그 시험방법을 제공한다.Another object of the embodiment is to provide a synthetic test circuit and a test method thereof capable of performing performance tests on different types of submodules.

상기 또는 다른 목적을 달성하기 위해 실시예의 일 측면에 따르면, 합성시험회로는, 제1 시험부 또는 제2 시험부가 활성화되도록 상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부를 충전시키는 충전원; 상기 활성화된 제1 시험부를 테스트하기 위한 전원을 공급하여 주는 제1 전류원; 상기 활성화된 제2 시험부를 테스트하기 위한 전원을 공급하여 주는 제2 전류원; 및 상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부의 단락시험을 위한 단락전류를 공급하여 주는 단락전류공급원을 포함한다.According to an aspect of the embodiment to achieve the or another object, the synthetic test circuit, the charging source for charging the first test unit or the second test unit to activate the first test unit or the second test unit; A first current source for supplying power for testing the activated first test unit; A second current source supplying power for testing the activated second test unit; And a short circuit current supply source supplying a short circuit current for a short circuit test of the first test unit or the second test unit.

실시예에 따른 합성시험회로 및 그 시험방법의 효과에 대해 설명하면 다음과 같다.Referring to the effect of the synthesis test circuit and the test method according to the embodiment as follows.

실시예들 중 적어도 하나에 의하면, 하나의 충전부을 이용하여 제1 시험부뿐만 아니라 제2 시험부도 충전시킬 수 있어, 합성시험회로의 구조를 단순화하여 비용을 절감할 수 있다는 장점이 있다.According to at least one of the embodiments, one charging unit may be used to charge not only the first test unit but also the second test unit, thereby reducing the cost by simplifying the structure of the synthesis test circuit.

실시예들 중 적어도 하나에 의하면, 단일 합성시험회로를 이용하여 제1 시험부뿐만 아니라 제2 시험부도 테스트하고 또한 단락시험도 할 수 있어, 합성시험회로를 구매하는 구매자의 구매 욕구를 증진시킬 수 있다는 장점이 있다.According to at least one of the embodiments, a single synthetic test circuit can be used to test not only the first test section but also the second test section, and also to perform a short circuit test, thereby enhancing a purchaser's desire to purchase a synthetic test circuit. There is an advantage.

실시예들 중 적어도 하나에 의하면, 합성시험회로의 회로 구조를 간략화하여 불필요한 회로소자를 제거하여 줌으로써, 합성시험회로의 제품 사이즈를 줄여줄 수 있다는 장점이 있다.According to at least one of the embodiments, the circuit structure of the synthesis test circuit is simplified to remove unnecessary circuit elements, thereby reducing the product size of the synthesis test circuit.

본 발명의 적용 가능성의 추가적인 범위는 이하의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다. 그러나 본 발명의 사상 및 범위 내에서 다양한 변경 및 수정은 당업자에게 명확하게 이해될 수 있으므로, 상세한 설명 및 본 발명의 바람직한 실시예와 같은 특정 실시예는 단지 예시로 주어진 것으로 이해되어야 한다. Further scope of the applicability of the present invention will become apparent from the following detailed description. However, various changes and modifications within the spirit and scope of the present invention can be clearly understood by those skilled in the art, and therefore, specific embodiments, such as the detailed description and the preferred embodiments of the present invention, should be understood to be given by way of example only.

도 1은 일반적인 전력계통시스템을 도시한다.
도 2는 제1 실시예에 따른 합성시험회로를 도시한다.
도 3은 도 1의 손실보상부를 상세히 도시한다.
도 4는 도 1의 풀브릿지타입(full bridge type)의 서브모듈을 포함하는 시험부를 상세히 도시한다.
도 5는 도 1의 하프브릿지타입(half bridge type)의 서브모듈을 포함하는 시험부를 상세히 도시한다.
도 6 내지 도 8은 제1 실시예에 따른 합성시험회로에서 풀브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부를 성능시험하는 모습을 도시한다.
도 9는 풀브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부를 성능시험하기 위한 스위치의 동작파형도이다.
도 10 내지 도 12은 다른 실시예에 따른 합성시험회로에서 하프브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부를 성능시험하는 모습을 도시한다.
도 13는 하프브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부를 성능시험하기 위한 스위치의 동작파형도이다.
도 14는 하프브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부를 성능시험하기 위한 전류패턴 파형도이다.
도 15는 제2 실시예에 따른 합성시험회로를 도시한다.
도 16 및 도 17은 제2 실시예에 따른 합성시험회로에서 일 예로서의 단락전류를 시험하는 모습을 도시한다.
도 18 및 도 19는 제2 실시예에 따른 합성시험회로에서 다른 예로서의 단락전류를 시험하는 모습을 도시한다.1 shows a general power system system.
2 shows a synthesis test circuit according to the first embodiment.
3 illustrates the loss compensation unit of FIG. 1 in detail.
FIG. 4 is a detailed view of a test unit including a full bridge type submodule of FIG. 1.
FIG. 5 is a detailed view of a test unit including a subbridge of the half bridge type of FIG. 1.
6 to 8 illustrate a performance test of a test unit including a full bridge type submodule in the synthesis test circuit according to the first embodiment.
9 is an operation waveform diagram of a switch for performing a test of a test part including a full bridge type submodule.
10 to 12 illustrate a state in which a test unit including a half bridge type submodule is tested in a synthesis test circuit according to another embodiment.
FIG. 13 is an operational waveform diagram of a switch for performance test of a test unit including a half-bridge type submodule. FIG.
14 is a waveform diagram of a current pattern for performance testing of a test unit including a half bridge type submodule.
15 shows a synthesis test circuit according to the second embodiment.
16 and 17 show an example of testing a short-circuit current in the synthesis test circuit according to the second embodiment.
18 and 19 show a state in which a short circuit current is tested as another example in the synthesis test circuit according to the second embodiment.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments disclosed herein will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and the same or similar components will be given the same reference numerals regardless of the reference numerals, and redundant description thereof will be omitted. The suffixes "module" and "unit" for components used in the following description are given or used in consideration of ease of specification, and do not have distinct meanings or roles from each other. In addition, in describing the embodiments disclosed herein, when it is determined that the detailed description of the related known technology may obscure the gist of the embodiments disclosed herein, the detailed description thereof will be omitted. In addition, the accompanying drawings are only for easily understanding the embodiments disclosed herein, the technical spirit disclosed in the specification by the accompanying drawings are not limited, and all changes included in the spirit and scope of the present invention. It should be understood to include equivalents and substitutes.

도 2는 제1 실시예에 따른 합성시험회로를 도시한다.2 shows a synthesis test circuit according to the first embodiment.

제1 실시예에 따른 합성시험회로는 서로 상이한 타입을 갖는 서브모듈을 성능시험할 수 있다.The synthesis test circuit according to the first embodiment can perform performance tests on submodules having different types from each other.

예컨대, 풀브릿지타입의 서브모듈이나 하프브릿지타입의 서브모듈의 성능시험이 수행될 수 있다. For example, a performance test of a full bridge type submodule or a half bridge type submodule may be performed.

도 2에 도시한 바와 같이, 성능시험을 수행하는 부분은 피시험체로 명명되고, 피시험체에 체결되어 성능시험이 수행되는 부분은 시험체로 명명될 수 있다.As shown in FIG. 2, the part performing the performance test may be referred to as a test subject, and the part which is fastened to the test subject and the performance test is performed may be referred to as a test subject.

이를 위해, 피시험체의 끝단에 체결부(T1, T2)가 구비될 수 있다. 따라서, 체결부(T1, T2)에 시험체가 체결된 후, 피시험체에 의해 시험체의 성능시험이 수행될 수 있다. To this end, fastening parts T1 and T2 may be provided at the ends of the test object. Therefore, after the test piece is fastened to the fastening portions T1 and T2, the test object can be tested by the test object.

해당 시험체의 성능시험이 완료된 후, 시험체는 피시험체의 체결부(T1, T2)로부터 체결 해제될 수 있다.After the performance test of the test piece is completed, the test piece may be released from the fastening portions T1 and T2 of the test object.

체결부(T1, T2)는 피시험체 대신에 시험체에 구비될 수도 있다.The fastening portions T1 and T2 may be provided in the test body instead of the test subject.

시험체는 시험부(70, 90)를 포함할 수 있다.The test body may include test units 70 and 90.

실시예에 따르면, 시험부는 풀브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부(70)나 하프브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부(90)를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the test unit may include a test unit 70 including a full bridge type submodule or a test unit 90 including a half bridge type submodule.

편의상, 풀브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부(70)는 제1 시험부로 명명되고, 하프브릿지타입의 서브모듈을 포함하는 시험부(90)는 제2 시험부로 명명될 수 있다. For convenience, the test unit 70 including a full bridge type submodule may be referred to as a first test unit, and the test unit 90 including a half bridge type submodule may be referred to as a second test unit.

제1 시험부(70)는 전력보상장치에 포함되는 컨버터에 구비되고, 제2 시험부(90)는 고전압직류송전시스템에 포함되는 컨버터에 구비될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first test unit 70 may be provided in the converter included in the power compensation device, and the second test unit 90 may be provided in the converter included in the high voltage DC transmission system, but is not limited thereto.

제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90) 각각은 적어도 하나 이상의 서브모듈을 포함할 수 있다. 적어도 하나 이상의 서브모듈은 서로 직렬로 접속될 수 있다. Each of the first test unit 70 and the second test unit 90 may include at least one submodule. At least one or more submodules may be connected in series with each other.

도 4에 도시한 바와 같이, 제1 시험부(70)는 서로 직렬로 접속된 제1 및 제2 서브모듈(72, 74)을 포함할 수 있다. 제1 및 제2 서브모듈(72, 74) 각각은 풀브릿지타입 구조를 가질 수 있다. As shown in FIG. 4, the first test unit 70 may include first and second submodules 72 and 74 connected in series with each other. Each of the first and second submodules 72 and 74 may have a full bridge type structure.

도 4에서는 2개의 서브모듈(72, 74)이 도시되고 있지만, 제1 시험부(70)는 2개 이상의 서브모듈을 포함할 수 있다.Although two submodules 72 and 74 are shown in FIG. 4, the first test unit 70 may include two or more submodules.

제1 서브브듈(72)의 구성과 제2 서브모듈(74)의 구성은 동일하므로, 설명의 편의를 위해 제1 서브모듈(72)의 구성을 설명한다.Since the configuration of the first submodule 72 and the configuration of the second submodule 74 are the same, the configuration of the first submodule 72 will be described for convenience of description.

제1 서브모듈(72)은 제1 내지 제4 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72d)와 각 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72d)에 접속되는 커패시터(CSM)를 포함할 수 있다. The first submodule 72 may include first to fourth switching units 72a, 72b, 72c and 72d and a capacitor C SM connected to each of the switching units 72a, 72b, 72c and 72d. .

구체적으로, 제1 노드(n1)와 제4 노드(n4) 사이에 제1 스위칭부(72a)와 제2 스위칭부(72b)가 직렬로 접속될 수 있다. 제1 스위칭부(72a)는 제1 노드(n1)와 제2 노드(n2) 사이에 접속되고, 제2 스위칭부(72b)는 제2 노드(n2)와 제4 노드(n4) 사이에 접속될 수 있다. In detail, the first switching unit 72a and the second switching unit 72b may be connected in series between the first node n1 and the fourth node n4. The first switching unit 72a is connected between the first node n1 and the second node n2, and the second switching unit 72b is connected between the second node n2 and the fourth node n4. Can be.

제1 스위칭부(72a)는 제1 스위치(SLT)와 제1 스위치(SLT)와 병렬로 접속되는 제1 다이오드(DLT)를 포함하고, 제2 스위칭부(72b)는 제2 스위치(SLB)와 제2 스위치(SLB)와 병렬로 접속되는 제2 다이오드(DLB)를 포함할 수 있다.The first switching unit 72a includes a first switch S LT and a first diode D LT connected in parallel with the first switch S LT , and the second switching unit 72b includes a second switch. It may include a second diode (D LB) which is (S LB) and a second switch connected to the (S LB) and in parallel.

아울러, 제1 노드(n1)와 제4 노드(n4) 사이에 제3 스위칭부(72c)와 제4 스위칭부(72d)가 직렬로 접속될 수 있다. 제3 스위칭부(72c)는 제1 노드(n1)와 제3 노드(n3) 사이에 접속되고, 제4 스위칭부(72d)는 제3 노드(n3)와 제4 노드(n4) 사이에 접속될 수 있다.In addition, the third switching unit 72c and the fourth switching unit 72d may be connected in series between the first node n1 and the fourth node n4. The third switching unit 72c is connected between the first node n1 and the third node n3, and the fourth switching unit 72d is connected between the third node n3 and the fourth node n4. Can be.

제3 스위칭부(72c)는 제3 스위치(SRT)와 제3 스위치(SRT)와 병렬로 접속되는 제3 다이오드(DRT)를 포함하고, 제4 스위칭부(72d)는 제4 스위치(SRB)와 제4 스위치(SRB)와 병렬로 접속되는 제4 다이오드(DRB)를 포함할 수 있다. The third switching unit 72c includes a third switch S RT and a third diode D RT connected in parallel with the third switch S RT , and the fourth switching unit 72d includes the fourth switch. It may include a fourth diode (D RB) are (S RB) and a fourth switch connected to the (S RB) and a parallel.

제1 및 제4 노드(n1, n4) 사이에서 제1 및 제2 스위칭부(72a, 72b)로 구성되는 제1 스위치 쌍과 제3 및 제4 스위칭부(72c, 72d)로 구성되는 제2 스위치 쌍은 서로 병렬로 접속될 수 있다. A first switch pair consisting of the first and second switching parts 72a and 72b between the first and fourth nodes n1 and n4 and a second part consisting of the third and fourth switching parts 72c and 72d. The switch pairs may be connected in parallel with each other.

커패시터(CSM)는 제1 노드(n1)와 제4 노드(n4) 사이에 접속될 수 있다.The capacitor C SM may be connected between the first node n1 and the fourth node n4.

한편, 제1 시험부(70)의 입력단(76)은 체결부(T1, T2)에 접속될 수 있다.Meanwhile, the input terminal 76 of the first test unit 70 may be connected to the fastening units T1 and T2.

도 5에 도시한 바와 같이, 제2 시험부(90)는 서로 직렬로 접속된 제1 및 제2 서브모듈(92, 94)을 포함할 수 있다. 제1 및 제2 서브모듈(92, 94) 각각은 하프브릿지타입 구조를 가질 수 있다. As shown in FIG. 5, the second test unit 90 may include first and second submodules 92 and 94 connected in series with each other. Each of the first and second submodules 92 and 94 may have a half bridge type structure.

도 5에서는 2개의 서브모듈(92, 94)이 도시되고 있지만, 제2 시험부(90)는 2개 이상의 서브모듈(92, 94)을 포함할 수 있다. Although two submodules 92 and 94 are illustrated in FIG. 5, the second test unit 90 may include two or more submodules 92 and 94.

제1 서브모듈(92)의 구성과 제2 서브모듈(94)의 구성은 동일하므로, 설명의 편의를 위해 제1 서브모듈(92)의 구성을 설명한다.Since the configuration of the first submodule 92 and the configuration of the second submodule 94 are the same, the configuration of the first submodule 92 will be described for convenience of description.

제1 서브모듈(92)은 제1 및 제2 스위칭부(92a, 92b)과 각 스위칭부(92a, 92b)에 접속되는 커패시터(CSM)를 포함할 수 있다. The first submodule 92 may include first and second switching units 92a and 92b and a capacitor C SM connected to each of the switching units 92a and 92b.

구체적으로, 제1 노드(n1)와 제3 노드(n3) 사이에 제1 스위칭부(92a)와 제2 스위칭부(92b)가 직렬로 접속될 수 있다. 제1 스위칭부(92a)는 제1 노드(n1)와 제2 노드(n2) 사이에 접속되고, 제2 스위칭부(92b)는 제2 노드(n2)와 제3 노드(n3) 사이에 접속될 수 있다. Specifically, the first switching unit 92a and the second switching unit 92b may be connected in series between the first node n1 and the third node n3. The first switching unit 92a is connected between the first node n1 and the second node n2, and the second switching unit 92b is connected between the second node n2 and the third node n3. Can be.

제1 스위칭부(92a)는 제1 스위치(ST)와 제1 스위치(ST)와 병렬로 접속되는 제1 다이오드(DT)를 포함하고, 제2 스위칭부(92b)는 제2 스위치(SB)와 병렬로 접속되는 제2 다이오드(DB)를 포함할 수 있다.The first switching unit 92a includes a first switch S T and a first diode D T connected in parallel with the first switch S T , and the second switching unit 92 b includes a second switch. A second diode D B connected in parallel with S B may be included.

커패시터(CSM)는 제1 노드(n1)와 제3 노드(n3) 사이에 접속될 수 있다.The capacitor C SM may be connected between the first node n1 and the third node n3.

제2 시험부(90)의 입력단(96)은 체결부(T1, T2)에 접속될 수 있다.The input terminal 96 of the second test unit 90 may be connected to the fastening units T1 and T2.

다시 도 2를 참조하면, 피시험체는 충전원(51), 제1 전류원(60), 제2 전류원(55), 시험전류조절부(80) 및 다수의 스위치를 포함할 수 있다. Referring back to FIG. 2, the test object may include a charging source 51, a first current source 60, a second current source 55, a test current controller 80, and a plurality of switches.

스위치로는 예컨대, 제1 내지 제5 스위치(101, 103, 105, 107, 109), 개폐스위치(53) 및 부스바(Busbar)스위치(69)가 사용될 수 있다. For example, the first to fifth switches 101, 103, 105, 107, and 109, the opening and closing switch 53, and the busbar switch 69 may be used.

제1 스위치(101)는 진공차단스위치(VCB: Vacuum Circuit Breaker)일 수 있다. 제1 스위치(101)는 진공 중의 높은 절연내력을 이용하여 아크(arc) 생성물을 진공 중 급속한 확산을 이용하여 소호하는 차단부재로서, 차단시간이 짧고 차단성능이 주파수에 영향을 받지 않는 장점이 있어, 예컨대 22.9KV 급에서도 사용이 가능하다. The first switch 101 may be a vacuum circuit breaker (VCB). The first switch 101 is a blocking member for arc extinguishing arc products using rapid diffusion in vacuum by using a high dielectric strength in vacuum. The first switch 101 has a short breaking time and the breaking performance is not affected by frequency. For example, it can be used in 22.9KV class.

제2 내지 제4 스위치(103, 105, 107, 109)는 기중차단스위치(ACB: Air Circuit Breaker)일 수 있다. The second to fourth switches 103, 105, 107, and 109 may be an air circuit breaker (ACB).

필요에 따라 제1 스위치(101)와 제2 스위치(103)가 생략되는 경우, 제3 내지 제5 스위치(105, 107, 109) 각각은 제1 내지 제3 스위치로 명명될 수 있다. When the first switch 101 and the second switch 103 are omitted as necessary, each of the third to fifth switches 105, 107, and 109 may be referred to as a first to third switch.

제2 내지 제4 스위치(103, 105, 107, 109) 각각은 예컨대 교류전압 1000V 이하나 직류전압 3000V 이하의 선로에 사용될 수 있다. Each of the second to fourth switches 103, 105, 107, and 109 may be used in a line having, for example, an AC voltage of 1000V or less or a DC voltage of 3000V or less.

예컨대, 제1 스위치(101)는 모선(100)의 전력이 충전원(51), 제1 전류원(60) 및 제2 전류원(55)으로 공급되도록 스위칭할 수 있다. 따라서, 제1 스위치(101)는 충전원(51), 제1 전류원(60) 및 제2 전류원(55)에 접속될 수 있다.For example, the first switch 101 may switch the power of the bus line 100 to be supplied to the charging source 51, the first current source 60, and the second current source 55. Accordingly, the first switch 101 may be connected to the charging source 51, the first current source 60, and the second current source 55.

예컨대, 제2 스위치(103)는 제1 스위치(101)를 경유한 모선(100)의 전력이 충전원(51) 및 제1 전류원(60)으로 공급되도록 스위칭할 수 있다. 따라서, 제2 스위치(103)는 제1 스위치(101)와 충전원(51) 사이 또는 제1 스위치(101)와 제1 전류원(60) 사이에 접속될 수 있다. For example, the second switch 103 may switch the power of the bus bar 100 via the first switch 101 to be supplied to the charging source 51 and the first current source 60. Accordingly, the second switch 103 may be connected between the first switch 101 and the charging source 51 or between the first switch 101 and the first current source 60.

제1 스위치(101)가 도통되는 경우, 모선(100)의 전력이 제1 스위치(101)를 경유하여 제2 스위치(103)로 공급될 수 있다. 제2 스위치(103)가 도통될 때, 해당 모선(100)의 전력이 제2 스위치(103)를 경유하여 충전원(51) 및 제1 전류원(60)으로 공급될 수 있다. When the first switch 101 is turned on, power of the bus line 100 may be supplied to the second switch 103 via the first switch 101. When the second switch 103 is turned on, power of the bus bus 100 may be supplied to the charging source 51 and the first current source 60 via the second switch 103.

예컨대, 제3 스위치(105) 및 제4 스위치(107)는 제2 스위치(103)를 경유한 모선(100)의 전력이 충전원(51) 또는 제1 전류원(60)으로 선택적으로 공급되도록 스위칭 제어할 수 있다. 제4 스위치(107)가 개방되고 제3 스위치(105)가 도통되는 경우, 제2 스위치(103)를 경유한 모선(100)의 전력이 충전원(51)으로 공급될 수 있다. 제4 스위치(107)가 도통되고 제3 스위치(105)가 개방되는 경우, 제2 스위치(103)를 경유한 모선(100)의 전력이 제1 전류원(60)으로 공급될 수 있다.For example, the third switch 105 and the fourth switch 107 are switched such that the power of the bus bar 100 via the second switch 103 is selectively supplied to the charging source 51 or the first current source 60. Can be controlled. When the fourth switch 107 is opened and the third switch 105 is turned on, power of the bus line 100 via the second switch 103 may be supplied to the charging source 51. When the fourth switch 107 is turned on and the third switch 105 is open, the power of the bus line 100 via the second switch 103 may be supplied to the first current source 60.

한편, 제1 스위치(101)가 도통되는 경우, 모선(100)의 전력이 제1 스위치(101)를 경유하여 제5 스위치(109)로 공급될 수 있다. 제5 스위치(109)가 도통될 때, 해당 모선(100)의 전력이 제5 스위치(109)를 경유하여 제2 전류원(55)으로 공급될 수 있다. Meanwhile, when the first switch 101 is turned on, power of the bus line 100 may be supplied to the fifth switch 109 via the first switch 101. When the fifth switch 109 is turned on, the power of the bus bus 100 may be supplied to the second current source 55 via the fifth switch 109.

예컨대, 제5 스위치(109)는 제1 스위치(101)를 경유한 모선(100)의 전력이 제2 전류원(55)으로 공급되도록 스위칭 제어할 수 있다. 따라서, 제5 스위치(109)는 제1 스위치(101)와 제2 전류원(55) 사이에 접속될 수 있다. For example, the fifth switch 109 may control switching so that the power of the bus bar 100 via the first switch 101 is supplied to the second current source 55. Thus, the fifth switch 109 may be connected between the first switch 101 and the second current source 55.

제1 실시예에 따르면, 모선(100)의 전력은 충전원(51), 제1 전류원(60) 및 제2 전류원(55)에서 요구되는 전력, 구체적으로 전압으로 조정될 필요가 있다. 이를 위해, 제1 변압기(111) 및 제2 변압기(113)가 구비될 수 있다. According to the first embodiment, the power of the bus bar 100 needs to be adjusted to the power required by the charging source 51, the first current source 60, and the second current source 55, in particular, the voltage. To this end, the first transformer 111 and the second transformer 113 may be provided.

제1 변압기(111)는 제1 스위치(101)와 제5 스위치(109) 사이에 접속될 수 있다. 제1 변압기(111)에 의해 모선(100)의 전력의 전압이 강하된 제1 전압을 갖는 전력이 출력될 수 있다. The first transformer 111 may be connected between the first switch 101 and the fifth switch 109. The first transformer 111 may output power having a first voltage in which the voltage of the power of the bus 100 is dropped.

제2 변압기(113)는 제2 스위치(103) 및 제4 스위치(107) 사이 또는 제2 스위치(103) 및 제3 스위치(105) 사이에 접속될 수 있다. 제1 변압기(111)에 의해 출력되는 전력인 제1 전압이 제2 변압기(113)에 의해 강하되어 제2 전압을 갖는 전력이 출력될 수 있다. The second transformer 113 may be connected between the second switch 103 and the fourth switch 107 or between the second switch 103 and the third switch 105. The first voltage, which is the power output by the first transformer 111, may be dropped by the second transformer 113 to output power having the second voltage.

제1 내지 제5 스위치(101, 103, 105, 107, 109) 및 개폐스위치(53)는 스위치의 일종으로서, 해당 스위치가 설치되는 장소의 환경에 따라 그 환경에 적합한 스위치가 설치될 수 있다. The first to fifth switches 101, 103, 105, 107, and 109 and the opening / closing switch 53 are types of switches, and a switch suitable for the environment may be installed according to the environment of the place where the switch is installed.

제1 내지 제5 스위치(101, 103, 105, 107, 109) 및 개폐스위치(53) 중에서 먼저 언급되는 순서대로 정해질 수 있다. 예컨대, 개폐스위치(53)가 제일 먼저 언급되는 경우, 개폐스위치(53)가 제1 스위치로 명명될 수 있다. The first to fifth switches 101, 103, 105, 107, and 109 and the opening and closing switch 53 may be determined in the order mentioned first. For example, when the opening and closing switch 53 is mentioned first, the opening and closing switch 53 may be referred to as a first switch.

한편, 부스바스위치(69)는 기계 스위치로서, 스스로 구동되지 않고 운전자에 의해 도통 또는 개방될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.On the other hand, the busbar switch 69 is a mechanical switch, but may be conducted or opened by the driver without being driven by itself, but is not limited thereto.

충전원(51)이나 제1 전류원(60)보다는 제2 전류원(55)에서 더 큰 전압이 요구되므로, 제1 변압기(111)에 의해 출력되는 제1 전압의 전력이 제2 전류원(55)으로 공급되고, 제2 변압기(113)에 의해 출력되는 제1 전압의 전력보다 낮은 제2 전압의 전력이 충전원(51)이나 제1 전류원(60)으로 공급될 수 있다. Since a larger voltage is required at the second current source 55 than the charging source 51 or the first current source 60, the power of the first voltage output by the first transformer 111 is transferred to the second current source 55. The second voltage lower than the power of the first voltage supplied by the second transformer 113 may be supplied to the charging source 51 or the first current source 60.

일 예로서, 모선(100)의 전력의 전압은 대략 6.6KV이고, 제1 변압기(111)에 의해 출력되는 전력의 전압은 대략 380V이며, 제2 변압기(113)에 의해 출력되는 전력의 전압은 대략 220V일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 이러한 예는 설명의 편의를 위해 기재한 것으로서, 피시험체의 용량이나 시험체의 용량에 따라 해당 전압은 달라질 수 있다.As an example, the voltage of the power of the bus line 100 is approximately 6.6KV, the voltage of the power output by the first transformer 111 is approximately 380V, the voltage of the power output by the second transformer 113 is It may be approximately 220V, but is not limited thereto. These examples are provided for convenience of description, and the voltage may vary depending on the capacity of the test subject or the test subject.

제1 전류원(60)은 풀브릿지타입의 서브모듈(72, 74)을 포함하는 제1 시험부(70)의 성능시험을 위해 사용된다. 제1 시험부(70)는 저전압 및 대전류가 요구될 수 있다.The first current source 60 is used for the performance test of the first test unit 70 including the subbridges 72 and 74 of the full bridge type. The first test unit 70 may require a low voltage and a large current.

이에 반해, 제2 전류원(55)은 하프브릿지타입의 서브모듈(92, 94)을 포함하는 제2 시험부(90)의 성능시험에 사용된다. 제2 시험부(90)는 고전압 및 저전류가 요구될 수 있다.In contrast, the second current source 55 is used for the performance test of the second test unit 90 including the half-bridge type submodules 92 and 94. The second test unit 90 may require high voltage and low current.

여기서, 고전압과 저전압은 서로 상대적인 개념으로서 수백 V 이상의 고전압이고, 고전압값이 저전압값보다 크다. 또한, 대전류과 저전류는 서로 상대적인 개념으로서 수십 A 이상의 고전류이고, 대전류값이 저전류값보다 크다. Here, the high voltage and the low voltage are high voltages of several hundred V or more, and the high voltage value is larger than the low voltage value. In addition, the large current and the low current are high currents of several tens of A or more as a concept relative to each other, and the large current value is larger than the low current value.

충전원(51)은 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)를 충전시킬 수 있다. 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90)에 충전된 전력에 의해 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 활성화될 수 있다. The charging source 51 may charge the first test unit 70 or the second test unit 90. The first test unit 70 or the second test unit 90 may be activated by electric power charged in the first test unit 70 and the second test unit 90.

제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 활성화된다는 말은 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90) 내에 포함되는 각종 디바이스가 구동됨을 의미할 수 있다. The activation of the first test unit 70 or the second test unit 90 may mean that various devices included in the first test unit 70 or the second test unit 90 are driven.

예컨대, 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)는 다수의 스위칭부, 커패시터, 저항소자, 셀프파워서플라이(SPS: Self Power Supply), 인터페이스(SMI:SubModule Interface), 게이트드라이버 등과 같은 전자장치들을 포함할 수 있다. For example, the first test unit 70 or the second test unit 90 may include a plurality of switching units, a capacitor, a resistor, a self power supply (SPS), a sub-module interface (SMI), a gate driver, and the like. The same electronic device may be included.

스위칭부는 제1 시험부(70)의 제1 내지 제4 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72c)나 제2 시험부(90)의 제1 및 제2 스위칭부(92a, 92b)를 포함할 수 있다. The switching unit may include first to fourth switching units 72a, 72b, 72c, and 72c of the first test unit 70 or first and second switching units 92a and 92b of the second test unit 90. Can be.

커패시터는 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)나 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)를 포함할 수 있다. The capacitor may comprise a capacitor (C SM) of the capacitor (C SM) and the second test section (90) of the first test section (70).

다수의 스위칭부, 커패시터 및 저항소자는 수동형 디바이스인데 반해, 셀프파워서플라이, 인터페이스 및 게이트드라이버는 능동형 디바이스이다.Many switches, capacitors and resistors are passive devices, while self-power supplies, interfaces and gate drivers are active devices.

이러한 능동형 디바이스는 스스로 동작되지 못하고, 외부의 전원에 의해 구동이 된 후 원하는 동작을 수행할 수 있다. 이때, 이러한 능동형 디바이스를 구동시키기 위한 소스, 즉 외부의 전원으로서 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)에 충전된 전압이 사용될 수 있다. Such an active device may not operate by itself and may be driven by an external power source to perform a desired operation. In this case, a voltage charged in the capacitor C SM of the first test unit 70 or the second test unit 90 may be used as a source for driving the active device, that is, an external power source.

따라서, 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)의 성능시험이 수행되기 전에, 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)를 활성화시키기 위해 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. Therefore, before the performance test of the first test unit 70 or the second test unit 90 is performed, the first test unit 70 to activate the first test unit 70 or the second test unit 90. ) Or the second test unit 90 may be filled.

이와 같이, 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)의 성능시험이 수행되기 전에 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)를 충전시키기 위해 충전원(51)이 사용될 수 있다. As such, before the performance test of the first test unit 70 or the second test unit 90 is performed, the charging source 51 is charged to charge the first test unit 70 or the second test unit 90. Can be used.

충전원(51)은 정류부(52)와 가변저항기(RI)를 포함할 수 있다. The charging source 51 may include a rectifier 52 and a variable resistor R I.

정류부(52)는 3상 교류전압을 직류전압으로 정류하는 다이오드형 정류기일 수 있다. 모선(100)의 전력이 제2 변압기(113)에 의해 변환되어 출력되는 전력의 제2 전압은 3상 교류전압을 가질 수 있다. 따라서, 정류부(52)에 의해 직류전압으로 정류된 전력이 시험체, 즉 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)로 공급되어 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)를 충전시킬 수 있다. The rectifier 52 may be a diode-type rectifier for rectifying a three-phase AC voltage into a DC voltage. The second voltage of the power output of the bus line 100 by being converted by the second transformer 113 may have a three-phase AC voltage. Therefore, the power rectified to the DC voltage by the rectifying unit 52 is supplied to the test body, that is, the first test unit 70 or the second test unit 90 to supply the first test unit 70 or the second test unit 90. ) it is possible to charge the capacitor (C SM) of.

가변저항기(RI)는 시험체가 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)인지에 따라 서로 상이한 저항값을 갖도록 가변될 수 있다.The variable resistor R I may be varied to have different resistance values depending on whether the test body is the first test unit 70 or the second test unit 90.

예컨대, 성능시험의 수행을 위해 저전압 및 대전류가 요구되는 제1 시험부(70)가 체결부(T1, T2)에 체결되는 경우, 가변저항기(RI)는 제1 저항값을 갖도록 조정될 수 있다. 즉, 가변저항기(RI)는 대전류가 흐르도록 저항값이 작아지도록 조정될 수 있다.For example, when the first test unit 70 requiring low voltage and high current to perform the performance test is fastened to the fastening units T1 and T2, the variable resistor R I may be adjusted to have a first resistance value. . That is, the variable resistor R I may be adjusted so that the resistance value becomes small so that a large current flows.

예컨대, 또 다른 성능시험의 수행을 위해 고전압 및 저전류가 요구되는 제2 시험부(90)가 체결부(T1, T2)에 체결되는 경우, 가변저항기(RI)는 제2 저항값을 갖도록 조정될 수 있다. 제2 저항값은 제1 저항값보다 클 수 있다. 즉, 가변저항기(RI)는 저전류가 흐르도록 저항값이 커지도록 조정될 수 있다. For example, when the second test unit 90 requiring high voltage and low current to perform another performance test is fastened to the fastening units T1 and T2, the variable resistor R I has a second resistance value. Can be adjusted. The second resistance value may be greater than the first resistance value. That is, the variable resistor R I may be adjusted to increase the resistance value so that a low current flows.

충전원(51)과 체결부(T1, T2) 사이에 개폐스위치(53)가 접속될 수 있다. 개폐스위치(53)는 충전원(51)에 의해 초기 충전이 수행되는 동안에는 도통되고, 그 외의 시간 동안에는 개방될 수 있다. 그 외의 시간에는 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)의 성능시험을 수행하는 시간이 포함될 수 있다. The opening and closing switch 53 may be connected between the charging source 51 and the fastening portions T1 and T2. The opening and closing switch 53 may be turned on while initial charging is performed by the charging source 51, and may be opened during other times. Other times may include time for performing a performance test of the first test unit 70 or the second test unit 90.

도면에서는 개폐스위치(53)가 충전원(51)과 별개로 설치되고 있지만, 개폐스위치(53)는 충전원(51)에 포함될 수도 있다.Although the opening and closing switch 53 is installed separately from the charging source 51 in the drawing, the opening and closing switch 53 may be included in the charging source 51.

개폐스위치(53)는 제1 시험부(70)나 제2 시험부(90)의 성능시험을 수행하는 동안, 시험전류(itest)가 충전원(51)으로 유입되는 것을 방지하기 위한 역전류방지스위치일 수 있다.The on / off switch 53 performs a reverse current to prevent the test current i test from flowing into the charging source 51 while performing the performance test of the first test unit 70 or the second test unit 90. It may be a prevention switch.

개폐스위치(53)는 싸이리스터(thyristor)소자나 IGBT(Insulated Gate Bipolar mode Transistor)소자를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The on / off switch 53 may include a thyristor element or an insulated gate bipolar mode transistor (IGBT) element, but is not limited thereto.

제1 전류원(60)은 제1 시험부(70)의 성능시험을 수행하기 위한 전원을 공급하여 주는 한편 제1 전류원(60), 시험전류조절부(80) 및 제1 시험부(70)에 의해 구성된 합성시험회로에서 발생하는 손실보상분을 공급하여 주는 저전압-대전류 전원 공급장치일 수 있다. The first current source 60 supplies power to perform the performance test of the first test unit 70, while the first current source 60 supplies the first current source 60, the test current control unit 80, and the first test unit 70. It may be a low voltage-high current power supply for supplying the loss compensation generated in the composite test circuit.

제1 전류원(60)은 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전전압(VSM)을 충전시킬 수 있다. 충전전압(VSM)은 예컨대, 커패시터(CSM)에 설정된 용량만큼 충전될 수 있다. 이 충전전압(VSM)에 의해 지속적으로 제1 시험부(70)의 성능시험을 수행할 수 있다. The first current source 60 may charge the charging voltage V SM to the capacitor C SM of the first test unit 70. For example, the charging voltage V SM may be charged by a capacity set in the capacitor C SM . By the charging voltage V SM , the performance test of the first test unit 70 may be continuously performed.

커패시터(CSM)가 기 설정된 용량만큼 충전되면, 이 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 제1 시험부(70)의 서브모듈(72, 74)에 포함되는 게이트드라이버와 같은 전자장치가 동작될 수 있다. When the capacitor C SM is charged by a predetermined capacity, the gate driver included in the sub-modules 72 and 74 of the first test unit 70 by the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM . An electronic device such as the above may be operated.

제1 전류원(60)의 출력전압(VINV)은 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 매우 작은 값일 수 있다. 예컨대, 제1 전류원(60)의 출력전압은 예컨대, 25V인데 반해, 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)은 3kV 내지 3.6kV(직렬 접속된 3개의 서브모듈 기준)일 수 있다. The output voltage V INV of the first current source 60 may be very small compared to the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70. For example, the output voltage of the first current source 60 is, for example, 25V, whereas the charge voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70 is 3 kV to 3.6 kV (3 connected in series). Per submodule).

따라서, 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 제1 전류원(60)의 출력전압(VINV)은 무시될 수 있으므로, 제1 시험부(70)의 성능시험은 주로 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)을 소스(source)로 하여 수행될 수 있다. Therefore, the output voltage V INV of the first current source 60 may be ignored in comparison to the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70. The performance test of 70 may be mainly performed by using the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70 as a source.

제1 시험부(70)의 각 서브모듈(72, 74)의 커패시터(CSM)에 한번 충전되면, 제1 시험부(70)의 성능시험 동안 제1 전류원(60)으로부터 별도의 전압이 공급되지 않더라도, 거의 전력 소모 없이 성능시험을 용이하게 수행할 수 있다.Once charged in the capacitor C SM of each of the sub-modules 72 and 74 of the first test unit 70, a separate voltage is supplied from the first current source 60 during the performance test of the first test unit 70. If not, the performance test can be easily performed with little power consumption.

만일 제1 시험부(70)의 성능시험 동안 손실로 인해 원하는 전압이 커패시터(CSM)에 충전되지 않는 경우에 한해 간헐적으로 제1 전류원(60)의 손실보상부(66)에 의해 손실 전력이 보충될 수 있다. 이에 대해서는 나중에 상세히 설명한다.If the desired voltage is not charged to the capacitor C SM due to the loss during the performance test of the first test unit 70, the loss power is intermittently lost by the loss compensator 66 of the first current source 60. Can be supplemented. This will be described later in detail.

제1 전류원(60)은 정류부(62), 리플제거부(64) 및 손실보상부(66)를 포함할 수 있다.The first current source 60 may include a rectifier 62, a ripple remover 64, and a loss compensator 66.

정류부(62)는 3상 교류전압(Vs)을 저전압 직류전압(VDC)으로 정류하는 다이오드형 정류기일 수 있다. The rectifier 62 may be a diode-type rectifier for rectifying the three-phase AC voltage Vs into a low voltage DC voltage V DC .

3상 교류전압(Vs)은 제4 스위치(107)에 의해 출력되는 전력의 제2 전압일 수 있다. 전력의 제2 전압이 정류부(62)에 의해 직류전압으로 정류될 수 있다.The three-phase AC voltage Vs may be a second voltage of power output by the fourth switch 107. The second voltage of the power may be rectified by the rectifier 62 to a DC voltage.

예컨대, 직류전압(VDC)은 50V일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, the DC voltage V DC may be 50V, but is not limited thereto.

직류전압(VDC)에 포함되는 리플은 리플제거부(64)에 의해 제거될 수 있다. 리플제거부(64)는 정류부(62)에 접속되는 인덕터(LF)와 인덕터(LF)와 병렬로 접속되는 커패시터(CF)를 포함할 수 있다. The ripple included in the DC voltage V DC may be removed by the ripple removing unit 64. The ripple removing unit 64 may include an inductor L F connected to the rectifier 62 and a capacitor C F connected in parallel with the inductor L F.

직류전압(VDC)은 커패시터(CF)의 양단에 걸리게 된다. The DC voltage V DC is applied across the capacitor C F.

손실보상부(66)는 직류전압(VDC)을 그대로 출력하여 주거나 손실보상전압으로 변환한 후 출력하여 주는 인버터일 수 있다. 구체적으로, 손실보상부(66)는 제1 시험부(70)의 성능시험 시에 제1 전류원(60), 시험전류조절부(80) 및 제1 시험부(70)에 의해 구성된 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)에 손실이 발생되는 경우, 해당 손실을 보충 또는 보상하여 주기 위해 직류전압(VDC)으로부터 변환된 손실보상전압을 출력시켜 줄 수 있다.The loss compensation unit 66 may be an inverter that outputs a DC voltage V DC as it is or converts the loss voltage into a loss compensation voltage. Specifically, the loss compensation unit 66 is a synthetic test circuit composed of the first current source 60, the test current control unit 80 and the first test unit 70 during the performance test of the first test unit 70 When a loss occurs in the test current (i test ) flowing in, the loss compensation voltage converted from the DC voltage (V DC ) may be output to compensate or compensate for the loss.

손실보상전압은 예컨대, 시험전류(itest)의 반주기(T/2)의 일부 구간(Ts)동안 제1 전류원(60)의 손실보상부(66)로부터 제1 시험부(70)로 공급될 수 있다. The loss compensation voltage may be supplied from the loss compensation part 66 of the first current source 60 to the first test part 70 during, for example, a portion Ts of the half period T / 2 of the test current i test . Can be.

시험전류(itest)는 주기적인 교류파형을 가질 수 있다. 이때, 교류파형의 주기를 한 주기(T)로 정의될 때, 반주기(T/2)의 일부 구간(Ts)동안 손실보상전압이 손실보상부(66)로부터 공급될 수 있다. 일부 구간(Ts)은 (T/2-Ts) 내지 T/2 또는 (T-Ts) 내지 T일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The test current i test may have a periodic ac waveform. In this case, when the period of the AC waveform is defined as one period T, a loss compensation voltage may be supplied from the loss compensation unit 66 during a partial period Ts of the half period T / 2. Some intervals Ts may be (T / 2-Ts) to T / 2 or (T-Ts) to T, but are not limited thereto.

일부 구간(Ts)은 시험전류(itest)의 손실 정도에 따라 변동 가능하다. 예컨대, 시험전류(itest)의 손실이 큰 경우, Ts는 커질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Some sections Ts may vary depending on the degree of loss of the test current i test . For example, when the loss of the test current (i test ) is large, Ts may be large, but is not limited thereto.

아울러, 시험전류(itest)의 손실 정도에 따라 제1 전류원(60)의 손실보상부(66)로부터 출력되는 손실보상전압은 변동 가능하다. 예컨대, 시험전류(itest)의 손실이 큰 경우, 손실보상전압은 커질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.In addition, the loss compensation voltage output from the loss compensator 66 of the first current source 60 may vary according to the degree of loss of the test current i test . For example, when the loss of the test current (i test ) is large, the loss compensation voltage may be large, but is not limited thereto.

손실보상부(66)는 도 3에 도시한 바와 같이, 4개의 스위칭부(66a, 66b, 66c, 66d)를 포함할 수 있다. As shown in FIG. 3, the loss compensation unit 66 may include four switching units 66a, 66b, 66c, and 66d.

손실보상부(66)의 입력단자(67)는 정류부(62) 또는 리플제거부(64)에 접속되고, 손실보상부(66)의 출력단자(68)는 부스바스위치(69)를 경유하여 시험전류조절부(80)에 접속될 수 있다.The input terminal 67 of the loss compensator 66 is connected to the rectifier 62 or the ripple removing unit 64, and the output terminal 68 of the loss compensator 66 is connected via the busbar switch 69. It may be connected to the test current control unit 80.

제1 내지 제4 스위칭부(66a, 66b, 66c, 66d)는 풀브릿지 타입(full bridge type)으로 구성될 수 있다. The first to fourth switching units 66a, 66b, 66c, and 66d may be configured as a full bridge type.

구체적으로, 제1 노드(n11)과 제4 노드(n14) 사이에 제1 및 제2 스위칭부(66a, 66b)가 직렬로 접속될 수 있다. Specifically, the first and second switching units 66a and 66b may be connected in series between the first node n11 and the fourth node n14.

제1 스위칭부(66a)는 서로 병렬로 접속되는 제1 스위치(S1) 및 제1 다이오드(D1)를 포함하고, 제2 스위칭부(66b)는 서로 병렬로 접속되는 제2 스위치(S2) 및 제2 다이오드(D2)를 포함할 수 있다. 즉, 제1 노드(n11)와 제2 노드(n12) 사이에 제1 스위치(S1)가 접속되고, 제2 노드(n12)와 제4 노드(n14) 사이에 제2 스위치(S2)가 접속될 수 있다. 마찬가지로, 제1 노드(n11)와 제2 노드(n12) 사이에 제1 다이오드(D1)가 접속되고, 제2 노드(n12)와 제4 노드(n14) 사이에 제2 다이오드(D2)가 접속될 수 있다. The first switching unit 66a includes a first switch S1 and a first diode D1 connected in parallel with each other, and the second switching unit 66b includes a second switch S2 connected in parallel with each other; It may include a second diode (D2). That is, the first switch S1 is connected between the first node n11 and the second node n12, and the second switch S2 is connected between the second node n12 and the fourth node n14. Can be. Similarly, the first diode D1 is connected between the first node n11 and the second node n12, and the second diode D2 is connected between the second node n12 and the fourth node n14. Can be.

또한, 제1 노드(n11)와 제4 노드(n14) 사이에 제3 및 제4 스위칭부(66c, 66d)가 직렬로 접속될 수 있다. In addition, the third and fourth switching units 66c and 66d may be connected in series between the first node n11 and the fourth node n14.

제3 스위칭부(66c)는 서로 병렬로 접속되는 제3 스위치(S3) 및 제3 다이오드(D3)를 포함하고, 제4 스위칭부(66d)는 서로 병렬로 접속되는 제4 스위치(S4) 및 제4 다이오드(D4)를 포함할 수 있다. 즉, 제1 노드(n11)와 제3 노드(n13) 사이에 제3 스위치(S3)가 접속되고, 제3 노드(n13)와 제4 노드(n14) 사이에 제4 스위치(S4)가 접속될 수 있다. 마찬가지로, 제1 노드(n11)와 제3 노드(n13) 사이에 제3 다이오드(D3)가 접속되고, 제3 노드(n13)와 제4 노드(n14) 사이에 제4 다이오드(D4)가 접속될 수 있다. The third switching unit 66c includes a third switch S3 and a third diode D3 connected in parallel to each other, and the fourth switching unit 66d includes a fourth switch S4 connected in parallel with each other and It may include a fourth diode D4. That is, the third switch S3 is connected between the first node n11 and the third node n13, and the fourth switch S4 is connected between the third node n13 and the fourth node n14. Can be. Similarly, the third diode D3 is connected between the first node n11 and the third node n13, and the fourth diode D4 is connected between the third node n13 and the fourth node n14. Can be.

제1 내지 제4 스위치(S1, S2, S3, S4) 각각은 IGBT소자일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Each of the first to fourth switches S1, S2, S3, and S4 may be an IGBT element, but is not limited thereto.

제1 및 제4 노드(n11, n14) 사이에서 제1 및 제2 스위칭부(66a, 66b)로 구성되는 제1 스위치 쌍과 제3 및 제4 스위칭부(66c, 66d)로 구성되는 제2 스위치 쌍은 서로 병렬로 접속될 수 있다. A first switch pair consisting of the first and second switching parts 66a and 66b and a second part consisting of the third and fourth switching parts 66c and 66d between the first and fourth nodes n11 and n14. The switch pairs may be connected in parallel with each other.

제2 전류원(55)은 제2 시험부(90)의 성능시험을 수행하기 위한 전원을 공급하여 주는 고전압-저전류 전원 공급장치일 수 있다. The second current source 55 may be a high voltage-low current power supply for supplying power for performing the performance test of the second test unit 90.

제2 전류원(55)은 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)에 충전전압(VSM)을 충전시킬 수 있다. 충전전압(VSM)은 예컨대, 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)에 설정된 용량만큼 충전될 수 있다. 이 충전전압(VSM)에 의해 지속적으로 제2 시험부(90)의 성능시험을 수행할 수 있다. The second current source 55 may charge the charging voltage V SM to the capacitor C SM of the second test unit 90. For example, the charging voltage V SM may be charged by a capacity set in the capacitor C SM of the second test unit 90. By the charging voltage V SM , the performance test of the second test unit 90 may be continuously performed.

커패시터(CSM)가 기 설정된 용량만큼 충전되면, 이 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 제2 시험부(90)의 서브모듈(92, 94)에 포함되는 게이트드라이버와 같은 전자장치가 동작될 수 있다. When the capacitor C SM is charged by a predetermined capacity, the gate driver included in the sub-modules 92 and 94 of the second test unit 90 by the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM . An electronic device such as the above may be operated.

제2 전류원(55)의 출력전압(VINV)은 리플제거부(57)의 커패시터(CH)의 양단에 걸리는 직류전압(VDC)일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The output voltage V INV of the second current source 55 may be a DC voltage V DC across the capacitor C H of the ripple removing unit 57, but is not limited thereto.

제2 전류원(55)의 출력전압(VINV)은 제2 시험부(90)의 커패시터 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 매우 작은 값일 수 있다. The output voltage V INV of the second current source 55 may be very small compared to the charging voltage V SM charged in the capacitor capacitor C SM of the second test unit 90.

따라서, 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 제2 전류원(55)의 출력전압(VINV)은 무시될 수 있으므로, 제2 시험부(90)의 성능시험은 제2 시험부(90)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)을 소스로 하여 수행될 수 있다. Therefore, the output voltage V INV of the second current source 55 may be ignored compared to the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the second test unit 90, and thus, the second test unit ( The performance test of 90) may be performed using the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the second test unit 90 as a source.

제2 시험부(90)의 각 서브모듈(92, 94)의 커패시터(CSM)에 한번 충전되면, 제2 시험부(90)의 성능시험 동안 제2 전류원(55)으로부터 별도의 전압이 공급되지 않더라도, 거의 전력 소모 없이 성능시험을 용이하게 수행할 수 있다.Once charged in the capacitor C SM of each of the sub-modules 92 and 94 of the second test unit 90, a separate voltage is supplied from the second current source 55 during the performance test of the second test unit 90. If not, the performance test can be easily performed with little power consumption.

제2 전류원(55)은 정류부(56), 리플제거부(57) 및 전류흐름제어부(58)를 포함할 수 있다.The second current source 55 may include a rectifier 56, a ripple remover 57, and a current flow controller 58.

정류부(56)는 3상 교류전압(Vs)을 저전압 직류전압(VDC)으로 정류하는 다이오드형 정류기일 수 있다. The rectifier 56 may be a diode-type rectifier for rectifying the three-phase AC voltage Vs into a low voltage DC voltage V DC .

3상 교류전압(Vs)는 제5 스위치(109)에 의해 출력되는 전력의 제1 전압일 수 있다. 전력의 제1 전압이 정류부(56)에 의해 직류전압으로 정류될 수 있다. The three-phase AC voltage Vs may be a first voltage of power output by the fifth switch 109. The first voltage of the power may be rectified to the DC voltage by the rectifier 56.

직류전압(VDC)에 포함되는 리플은 리플제거부(57)에 의해 제거될 수 있다. 리플제거부(57)는 정류부(56)에 접속되는 인덕터(LH)와 인덕터(LH)와 병렬로 접속되는 커패시터(CH)를 포함할 수 있다. The ripple included in the DC voltage V DC may be removed by the ripple removing unit 57. The ripple removing unit 57 may include an inductor L H connected to the rectifier 56 and a capacitor C H connected in parallel with the inductor L H.

직류전압(VDC)은 커패시터(CH)의 양단에 걸리게 된다. The DC voltage V DC is applied across the capacitor C H.

전류흐름제어부(58)은 제2 시험부(90)의 성능시험시 시험전류(itest)의 흐름을 제어하는 역할을 할 수 있다. The current flow controller 58 may control the flow of the test current (i test ) during the performance test of the second test unit 90.

예컨대, 도 14에 도시한 바와 같은 전류패턴에 의해 시험전류(itest)가 발생되는 경우, t1 내지 t2 구간이나 t2 내지 t3 구간 등에서는 전류흐름제어부(58)의 스위치가 도통되어 시험전류(itest)가 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르게 된다. For example, when the test current (i test ) is generated by the current pattern as shown in FIG. 14, the switch of the current flow control unit 58 is turned on in the t1 to t2 section or the t2 to t3 section, so that the test current (i) is generated. test ) flows to the synthesis test circuit constituted by the second current source 55 and the second test unit 90.

예컨대, t0 내지 t1 구간이나 t3 내지 t4 구간 등에서는 전류흐름제어부(58)의 스위치가 개방되어 시험전류(itest)가 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르지 않게 된다. 이러한 경우, 제2 시험부(90)의 각 서브모듈(92, 94)의 커패시터(CSM)의 충전전압(VSM)은 DC로 유지되게 된다. 이때, 서브모듈(92, 94)의 커패시터(CSM)의 충전전압(VSM)에 의해 제2 시험부(90)의 각 서브모듈(92, 94)의 스위치가 견디는 시험이 수행될 수 있다. For example, in the t0 to t1 section, the t3 to t4 section, and the like, the switch of the current flow controller 58 is opened so that the test current i test is composed of the second current source 55 and the second test unit 90. It will not flow into the test circuit. In this case, the charging voltage V SM of the capacitor C SM of each of the sub-modules 92 and 94 of the second test unit 90 is maintained at DC. In this case, a test in which the switch of each submodule 92 and 94 of the second test unit 90 may be endured by the charging voltage V SM of the capacitor C SM of the submodule 92 and 94 may be performed. .

부스바스위치(69)는 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)를 제1 전류원(60) 또는 제2 전류원(55)으로 선택적으로 접속되도록 제어할 수 있다. The busbar switch 69 may control the first test unit 70 or the second test unit 90 to be selectively connected to the first current source 60 or the second current source 55.

예컨대, 체결부(T1, T2)에 제1 시험부(70)가 체결되어 제1 시험부(70)의 성능시험이 수행되는 경우, 부스바스위치(69)에 의해 시험전류조절부(80)와 제1 전류원(60)이 접속되도록 스위칭될 수 있다. For example, when the first test unit 70 is fastened to the fastening units T1 and T2 and the performance test of the first test unit 70 is performed, the test current adjusting unit 80 is performed by the busbar switch 69. And the first current source 60 may be switched to be connected.

예컨대, 체결부(T1, T2)에 제2 시험부(90)가 체결되어 제2 시험부(90)의 성능시험이 수행되는 경우, 부스바스위치(69)에 의해 시험전류조절부(80)와 제2 전류원(55)이 접속되도록 스위칭될 수 있다. For example, when the second test unit 90 is fastened to the fastening units T1 and T2 and the performance test of the second test unit 90 is performed, the test current adjusting unit 80 is performed by the busbar switch 69. And the second current source 55 may be switched to be connected.

시험전류조절부(80)는 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)에서 요구하는 시험전류(itest)가 흐르도록 시험전류(itest)의 전류량을 조절하여 줄 수 있다. The test current control unit 80 may reduce by controlling the amount of current of the first test unit 70, or the second test section (90) a test current (i test) to flow a test current (i test) to that required by the.

이를 위해, 시험전류조절부(80)는 제1 인덕터(LM1), 제2 인덕터(LM2) 그리고 바이패스스위치(82)를 포함할 수 있다. To this end, the test current controller 80 may include a first inductor L M1 , a second inductor L M2 , and a bypass switch 82.

제1 인덕터(LM1)와 제2 인덕터(LM2)는 서로 동일한 인덕턴스를 가질 수도 있고 그렇지 않을 수도 있다. The first inductor L M1 and the second inductor L M2 may or may not have the same inductance.

바이패스스위치(82)는 예컨대 제2 인덕터(LM2)의 입출력단에 제2 인덕터(LM2)와 병렬로 접속될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. By-pass switch 82 is, for example, but the second inductor may be connected to the second inductor (L M2) in parallel with the input and output terminals of the (L M2), it is not limited for this.

바이패스스위치(82)는 제1 인덕터(LM1)의 입출력단에 접속될 수도 있다.The bypass switch 82 may be connected to an input / output terminal of the first inductor L M1 .

이와 달리, 바이패스스위치(82)는 제1 인덕터(LM1)의 입출력단에 병렬로 접속될 수도 있다. Alternatively, the bypass switch 82 may be connected in parallel to the input / output terminal of the first inductor L M1 .

예컨대, 대전류가 요구되는 제1 시험부(70)의 성능시험이 수행되는 경우, 대전류에 해당하는 시험전류(itest)가 흐르도록 바이패스스위치(82)가 도통될 수 있다. 이러한 경우, 시험전류(itest)의 발생에 제2 인덕터(LM2)는 사용되지 않게 되고 제1 인덕터(LM1)만 사용되므로, 제1 전류원(60), 시험전류조절부(80) 및 제1 시험부(70)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)는 대전류로 조절될 수 있다. For example, when the performance test of the first test unit 70 requiring a large current is performed, the bypass switch 82 may be turned on so that a test current i test corresponding to the large current flows. In this case, since the second inductor L M2 is not used to generate the test current i test and only the first inductor L M1 is used, the first current source 60, the test current controller 80, and The test current (i test ) flowing in the synthesis test circuit constituted by the first test unit 70 may be adjusted to a large current.

예컨대, 저전류가 요구되는 제2 시험부(90)의 성능시험이 수행되는 경우, 저전류에 해당하는 시험전류(itest)가 흐르도록 바이패스스위치(82)가 개방될 수 있다. 이러한 경우, 시험전류(itest)의 발생에 제1 인덕터(LM1)뿐만 아니라 제2 인덕터(LM2)도 사용되므로, 제2 전류원(55), 시험전류조절부(80) 및 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)는 저전류로 조절될 수 있다.For example, when the performance test of the second test unit 90 requiring low current is performed, the bypass switch 82 may be opened so that a test current i test corresponding to the low current flows. In this case, the first inductor (L M1), as well as a second inductor (L M2) therefore also used, the second current source 55, the test current control unit 80 and the second test to the generation of the test current (i test) The test current (i test ) flowing in the synthesis test circuit constituted by the unit 90 may be adjusted to a low current.

다시 말해, 바이패스스위치(82)의 개방 또는 도통에 의해 서로 상이한 시험전류(itest)로 조절될 수 있다. In other words, it may be adjusted to a different test current (i test ) from each other by opening or conducting the bypass switch 82.

한편, 도 2에 도시된 바와 달이, 제5 스위치(109) 및 제2 스위치(103)가 제거되는 한편, 제4 스위치(107) 및 제3 스위치(105)가 개별적으로 제1 변압기(111)를 경유하여 제1 스위치(101)에 접속될 수도 있다. 이러한 경우, 제1 스위치(101), 제3 스위치(105) 및 제4 스위치(107)에 의해 모선(100)의 전력이 충전원(51), 제1 전류원(60) 또는 제2 전류원(55)으로 선택적으로 공급되도록 제어될 수 있다. Meanwhile, as shown in FIG. 2, the fifth switch 109 and the second switch 103 are removed while the fourth switch 107 and the third switch 105 are individually separated from the first transformer 111. It may be connected to the first switch 101 via). In this case, the power of the bus bar 100 is supplied by the first switch 101, the third switch 105, and the fourth switch 107 to the charging source 51, the first current source 60, or the second current source 55. May be controlled to be selectively supplied.

이하에서는 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90) 각각의 성능시험 방법을 설명한다.Hereinafter, a performance test method of each of the first test unit 70 and the second test unit 90 will be described.

<제1 시험부(70)의 성능시험><Performance test of the first test unit 70>

제1 시험부(70)의 성능시험은 제1 시험부(70)를 성능시험하기 위해 준비하는 과정(이하, 준비구간이라 함), 제1 시험부(70)를 충전(또는 활성화)시키는 과정(이하, 충전구간이라 함) 및 충전된 제1 시험부(70)의 성능시험을 수행하는 과정(이하, 시험수행구간이라 함)으로 구분될 수 있다.In the performance test of the first test unit 70, a process of preparing the first test unit 70 for performance test (hereinafter, referred to as a preparation section) and a process of charging (or activating) the first test unit 70. (Hereinafter, referred to as a charging section) and a process of performing a performance test of the charged first test unit 70 (hereinafter, referred to as a test execution section).

1. 준비구간1. Preparation Section

먼저, 도 6에 도시한 바와 같이, 체결부(T1, T2)에 성능시험할 제1 시험부(70)가 체결될 수 있다. First, as shown in FIG. 6, the first test part 70 to be tested for performance may be fastened to the fastening parts T1 and T2.

또한, 제1 시험부(70)는 제1 전류원(60)에 의해 성능시험이 수행되므로, 부스바스위치(69)가 스위칭되어 제1 전류원(60)이 시험전류조절부(80)를 경유하여 제1 시험부(70)에 접속될 수 있다. In addition, since the performance test is performed by the first current source 60 by the first current source 60, the busbar switch 69 is switched so that the first current source 60 passes through the test current control unit 80. It may be connected to the first test unit 70.

또한, 제1 시험부(70)에서 요구되는 시험전류(itest)가 발생되도록 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값이 가변될 수 있다.In addition, the resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 may be varied so that a test current i test required by the first test unit 70 is generated.

예컨대, 제1 시험부(70)는 대전류가 요구되므로, 해당 대전류값의 발생을 위한 저항값으로 가변될 수 있다. 즉, 가변저항기(RI)의 저항값이 작아질수록 제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 커지게 되므로, 해당 저항값은 작아지도록 가변될 수 있다. For example, since the first test unit 70 requires a large current, the first test unit 70 may be changed to a resistance value for generating the corresponding large current value. In other words, as the resistance of the variable resistor R I decreases, the test current i test flowing through the synthesis test circuit constituted by the first current source 60 and the first test unit 70 increases. The resistance value can be varied to be small.

마찬가지로, 제1 시험부(70)에서 요구되는 대전류를 갖는 시험전류(itest)가 발생되도록 시험전류조절부(80)의 스위치가 도통될 수 있다. 이에 따라, 시험전류조절부(80)에 포함된 제2 인덕터(LM2)는 스위치에 의해 전류가 바이패스되어 제2 인덕터(LM2)는 시험전류(itest)의 발생에 기여되지 않게 되므로, 시험전류조절부(80)에 의해 제1 시험부(70)에서 요구되는 대전류를 갖는 시험전류(itest)가 흐르도록 조절될 수 있다. Similarly, the switch of the test current adjusting unit 80 may be turned on so that a test current i test having a large current required by the first test unit 70 is generated. Accordingly, the second inductor L M2 included in the test current adjusting unit 80 is bypassed by the switch so that the second inductor L M2 does not contribute to the generation of the test current i test . The test current adjusting unit 80 may adjust the test current i test having a large current required by the first test unit 70 to flow.

제1 시험부(70)의 체결, 부스바스위치(69)의 조작, 시험전류조절부(80)의 스위치 동작 그리고 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값 가변의 동작 순서는 변경되어도 무방하다. 예컨대, 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값이 먼저 가변된 후, 부스바스위치(69)의 조작, 시험전류조절부(80)의 스위치 동작 및 제1 시험부(70)의 체결의 순서로 진행될 수도 있고, 다른 동작 순서로 진행될 수도 있다. The operation sequence of the fastening of the first test unit 70, the operation of the busbar switch 69, the switch operation of the test current adjusting unit 80, and the variable resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 It may be changed. For example, after the resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 is first varied, the operation of the busbar switch 69, the switch operation of the test current adjusting unit 80, and the first test unit 70 are performed. May be performed in the order of fastening, or may be performed in a different order of operation.

도 9에 도시한 바와 같이, 준비구간 동안 부스바스위치(69)가 제1 시험부(70)와 제1 전류원(60)이 접속되도록 도통되고, 시험전류조절부(80)의 스위치가 도통되어 제2 인덕터(LM2)를 바이패스되도록 할 수 있다. As shown in FIG. 9, during the preparation period, the busbar switch 69 is turned on so that the first test section 70 and the first current source 60 are connected, and the switch of the test current adjusting section 80 is turned on. The second inductor L M2 may be bypassed.

도 9에서, 하이 레벨은 해당 스위치가 도통됨을 의미하고, 로우 레벨은 해당 스위치가 개방됨을 의미할 수 있다. In FIG. 9, a high level may mean that the switch is conductive, and a low level may mean that the switch is open.

도 9에서는 시험전류조절부(80)의 스위치의 도통시점이 부스바스위치(69)의 도통시점보다 늦게 도시되고 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.In FIG. 9, the conduction time of the switch of the test current adjusting unit 80 is shown later than the conduction time of the busbar switch 69, but the present invention is not limited thereto.

예컨대, 시험전류조절부(80)의 스위치의 도통시점이 부스바스위치(69)의 도통시점과 동일할 수도 있다.For example, the conduction time of the switch of the test current adjusting unit 80 may be the same as the conduction time of the busbar switch 69.

2. 충전구간2. Charging section

도 7에 도시한 바와 같이, 충전원(51)에 의해 제1 시험부(70)가 충전될 수 있다. 제1 시험부(70)의 충전에 의해 제1 시험부(70)에 포함되는 전자장치들, 예컨대 게이트드라이버 등이 활성화될 수 있다. 이와 같이, 제1 시험부(70)에 포함되는 전자장치들이 활성화됨에 따라, 제1 시험부(70)의 성능시험할 준비가 완료될 수 있다. As shown in FIG. 7, the first test unit 70 may be charged by the charging source 51. By charging the first test unit 70, electronic devices included in the first test unit 70, such as a gate driver, may be activated. As such, as the electronic devices included in the first test unit 70 are activated, preparation of the performance test of the first test unit 70 may be completed.

활성화란 어떤 전자장치가 동작될 수 있도록 기동 또는 구동시키는 것을 의미할 수 있다. Activation may mean starting or driving a certain electronic device to be operated.

충전원(51)이 구동되도록 하기 위해, 제1 스위치(101), 제2 스위치(103) 및 제3 스위치(105)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 모선(100)의 전력이 제1 변압기(111) 및 제2 변압기(113)를 경유하여 충전원(51)으로 공급될 수 있다. In order for the charging source 51 to be driven, the first switch 101, the second switch 103, and the third switch 105 may be turned on. Accordingly, power of the bus bar 100 may be supplied to the charging source 51 via the first transformer 111 and the second transformer 113.

충전원(51)은 이러한 모선(100)의 전력을 제1 시험부(70)로 공급하여 제1 시험부(70)가 충전되도록 할 수 있다. 즉, 모선(100)의 전력은 3상 교류전압을 가지며, 충전원(51)은 이러한 3상 교류전압을 직류전압으로 정류하여 해당 직류전압을 제1 시험부(70)로 공급할 수 있다. The charging source 51 may supply the power of the bus bar 100 to the first test unit 70 so that the first test unit 70 is charged. That is, the power of the bus line 100 has a three-phase AC voltage, the charging source 51 may rectify the three-phase AC voltage to a DC voltage and supply the DC voltage to the first test unit 70.

해당 직류전압은 제1 시험부(70)에서 제1 서브모듈(72)의 제1 스위칭부(72a)의 제1 다이오드(DLT), 커패시터(CSM) 및 제4 스위칭부(72d)의 제4 다이오드(DRB)를 경유한 후 제2 서브모듈(74)의 제1 스위칭부(72a)의 제1 다이오드(DLT), 커패시터(CSM) 및 제4 스위칭부(72d)의 제4 다이오드(DRB)를 경유하게 되고, 이때 직류전압이 제1 서브모듈(72)의 커패시터(CSM) 그리고 제2 서브모듈(74)의 커패시터(CSM) 각각에 충전될 수 있다. 따라서, 제1 서브모듈(72)의 커패시터에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 제1 서브모듈(72)에 포함되는 전자장치들이 활성화되고, 제2 서브모듈(74)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 제2 서브모듈(74)에 포함되는 전자장치들이 활성화될 수 있다.The DC voltage of the first diode D LT , the capacitor C SM , and the fourth switching unit 72d of the first switching unit 72a of the first submodule 72 in the first test unit 70 is determined. After the fourth diode D RB , the first diode D LT , the capacitor C SM , and the fourth switch 72d of the first switching unit 72a of the second submodule 74 are connected. Through the four diodes D RB , a DC voltage may be charged in each of the capacitor C SM of the first submodule 72 and the capacitor C SM of the second submodule 74. Accordingly, electronic devices included in the first submodule 72 are activated by the charging voltage V SM charged in the capacitor of the first submodule 72, and the capacitor C SM of the second submodule 74 is activated. ), The electronic devices included in the second submodule 74 may be activated by the charging voltage V SM .

제1 서브모듈(72)의 커패시터(CSM)의 용량과 제2 서브모듈(74)의 커패시터(CSM)의 용량이 동일하므로, 제1 서브모듈(72)의 커패시터에 충전된 충전전압(VSM)과 제2 서브모듈(74)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM) 또한 동일할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. A first charging voltage charged in the capacitor of the sub-module 72, a capacitor (C SM) capacity and the second sub-module 74 have the same capacity of the capacitor (C SM), so the first sub-module 72 of the ( V SM ) and the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the second submodule 74 may also be the same, but embodiments are not limited thereto.

충전원(51)으로부터 출력된 직류전압이 제1 시험부(70)로 공급되도록 개폐스위치(53)가 도통될 수 있다.The opening and closing switch 53 may be turned on so that the DC voltage output from the charging source 51 is supplied to the first test unit 70.

나중에 설명하겠지만, 제1 시험부(70)의 성능시험이 수행되는 동안에는 시험전류(itest)가 충전원(51)으로 유입되지 않도록 개폐스위치(53)가 개방될 수 있다.As will be described later, while the performance test of the first test unit 70 is performed, the opening and closing switch 53 may be opened so that the test current (i test ) does not flow into the charging source 51.

도 9에 도시한 바와 같이, 초기충전구간 동안 제1 스위치(101), 제2 스위치(103), 제3 스위치(105) 및 개폐스위치(53)가 도통될 수 있다. As shown in FIG. 9, the first switch 101, the second switch 103, the third switch 105, and the opening / closing switch 53 may be turned on during the initial charging period.

도 9에서는 제1 스위치(101), 제2 스위치(103), 제3 스위치(105) 및 개폐스위치(53) 모두 동일한 시점에 도통되는 것으로 도시되고 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 예컨대, 제1 스위치(101), 제2 스위치(103), 제3 스위치(105) 및 개폐스위치(53)의 순서로 도통될 수 있다.In FIG. 9, all of the first switch 101, the second switch 103, the third switch 105, and the opening / closing switch 53 are shown to be connected at the same time, but the present invention is not limited thereto. For example, the first switch 101, the second switch 103, the third switch 105, and the opening / closing switch 53 may be turned on in this order.

3. 시험수행구간3. Test Performance Section

도 8에 도시한 바와 같이, 제1 전류원(60)에 의해 제1 시험부(70)의 성능시험이 수행될 수 있다.As shown in FIG. 8, the performance test of the first test unit 70 may be performed by the first current source 60.

먼저, 도 9에 도시한 바와 같이, 제1 시험부(70)의 충전이 완료되는 경우, 제3 스위치(105)가 개방되어 더 이상 모선(100)의 전력이 충전원(51)으로 공급되지 않는다. First, as shown in FIG. 9, when the charging of the first test unit 70 is completed, the third switch 105 is opened so that the power of the bus bus 100 is no longer supplied to the charging source 51. Do not.

개폐스위치(53)가 개방되어 충전원(51)으로부터 직류전압이 제1 시험부(70)로 공급되지 않는다. 또한, 개폐스위치(53)가 개방되는 경우 제1 시험부(70)의 성능시험시에 제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 충전원(51)으로 유입되지 않는다.The open / close switch 53 is opened so that a DC voltage is not supplied from the charging source 51 to the first test part 70. In addition, when the open / close switch 53 is opened, the test current flowing through the synthesis test circuit constituted by the first current source 60 and the first test unit 70 during the performance test of the first test unit 70 (i test ) does not flow into the charging source 51.

한편, 제1 스위치(101) 및 제2 스위치(103)는 그대로 도통된 상태로 유지되어 모선(100)의 전력이 제1 전류원(60)으로 공급되도록 한다.On the other hand, the first switch 101 and the second switch 103 is maintained in the conductive state so that the power of the bus line 100 is supplied to the first current source 60.

제4 스위치(107)가 도통됨으로써, 제1 및 제2 변압기(111, 113)를 경유한 모선(100)의 전력이 제1 전류원(60)으로 공급될 수 있다.As the fourth switch 107 is turned on, power of the bus bar 100 via the first and second transformers 111 and 113 may be supplied to the first current source 60.

제1 전류원(60)는 모선(100)의 전력의 3상 교류전압을 직류전압으로 정류하고 해당 직류전압에 포함되는 리플을 제거할 수 있다. The first current source 60 may rectify the three-phase AC voltage of the power of the bus line 100 into a DC voltage and remove ripples included in the DC voltage.

이에 따라, 제1 전류원(60)에서 생성된 직류전압과 제1 시험부(70)에 충전된 충전전압(VSM)을 이용하여 기 설정된 전류패턴에 따른 시험전류(itest)가 제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)로 구성되는 합성시험회로에 흐르도록 제어될 수 있다. Accordingly, the test current (i test ) according to the preset current pattern is generated by using the DC voltage generated by the first current source 60 and the charging voltage V SM charged in the first test unit 70. It can be controlled to flow to the synthesis test circuit consisting of 60 and the first test unit 70.

상술한 바와 같이, 전류원에서 생성된 직류전압은 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 상대적으로 매우 작아, 거의 무시될 수 있다. 따라서, 제1 시험부(70)의 성능시험은 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 수행될 수 있다. As described above, the DC voltage generated in the current source is relatively small compared to the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70 and can be almost ignored. Therefore, the performance test of the first test unit 70 may be performed by the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM .

따라서, 시험전류(itest)는 주로 제1 시험부(70)의 커패시터(CSM)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 발생될 수 있다. Therefore, the test current i test may be mainly generated by the charging voltage V SM charged in the capacitor C SM of the first test unit 70.

시험전류(itest) 발생을 위한 제어는 제1 시험부(70)의 제1 및 제2 서브모듈(72, 74) 각각의 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72d)의 스위칭을 통해 수행될 수 있다. 즉, 기 설정된 전류패턴에 따라 제1 시험부(70)의 제1 및 제2 서브모듈(72, 74) 각각의 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72d)의 스위칭 제어됨으로써, 제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)로 구성되는 합성시험회로에 시험전류(itest)가 흐르도록 할 수 있다. The control for generating a test current (i test ) may be performed by switching the switching units 72a, 72b, 72c, and 72d of each of the first and second submodules 72 and 74 of the first test unit 70. Can be. That is, the switching control of each of the switching units 72a, 72b, 72c, 72d of each of the first and second sub-modules 72, 74 of the first test unit 70 according to the preset current pattern, the first current source ( 60) and a test current (i test ) may flow in the synthesis test circuit including the first test unit 70.

제1 및 제2 서브모듈(72, 74) 각각은 풀브릿지타입을 가질 수 있다.Each of the first and second submodules 72 and 74 may have a full bridge type.

이러한 시험전류(itest)가 시험수행구간 동안 지속적으로 흐르게 됨으로써, 제1 시험부(70)의 제1 및 제2 서브모듈(72, 74)의 각 스위칭부(72a, 72b, 72c, 72d)나 다수의 전자장치들의 성능시험이 수행될 수 있다. This test current (i test ) is continuously flowing during the test execution period, thereby switching each of the switching unit (72a, 72b, 72c, 72d) of the first and second sub-modules 72, 74 of the first test unit 70 B. Performance tests of multiple electronic devices can be performed.

예컨대, 시험수행구간은 30분 이상일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, the test run interval may be 30 minutes or more, but is not limited thereto.

제1 시험부(70)의 성능시험은 국내출원번호 제10-2016-0150254호로부터 용이하게 이해될 수 있으므로, 더 이상의 설명은 생략한다.Since the performance test of the first test unit 70 can be easily understood from Korean Application No. 10-2016-0150254, further description is omitted.

도시되지 않았지만, 측정장비가 합성시험회로에 접속되어, 제1 시험부(70)의 성능시험결과가 검출 및 모니터링될 수 있다.Although not shown, the measurement equipment is connected to the synthesis test circuit, the performance test results of the first test unit 70 can be detected and monitored.

제1 시험부(70)의 성능시험이 완료되는 경우, 제1 스위치(101), 제2 스위치(103) 및 제4 스위치(107)가 개방되어, 모선(100)의 전력이 더 이상 제1 전류원(60)을 공급되지 않는다.When the performance test of the first test unit 70 is completed, the first switch 101, the second switch 103, and the fourth switch 107 are opened, so that the power of the bus bus 100 is no longer the first. The current source 60 is not supplied.

또한, 시험전류조절부(80)의 스위치가 개방될 수 있다.In addition, the switch of the test current adjusting unit 80 may be opened.

제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 0이 되도록 제1 시험부(70)에 충전된 충전전압(VSM)이 방전된 후, 제1 시험부(70)가 체결부(T1, T2)로부터 체결 해제될 수 있다. The charging voltage V SM charged in the first test unit 70 is zero such that the test current i test flowing through the synthesis test circuit constituted by the first current source 60 and the first test unit 70 becomes zero. After the discharge, the first test part 70 may be released from the fastening parts T1 and T2.

제1 전류원(60)과 제1 시험부(70)가 접속되도록 도통 상태를 유지하고 있는 부스바스위치(69)는 합성시험회로가 완전 방전된 후 개방될 수 있다. The busbar switch 69, which maintains the conduction state so that the first current source 60 and the first test unit 70 are connected, may be opened after the synthesis test circuit is completely discharged.

<제2 시험부(90)의 성능시험><Performance test of the second test unit 90>

제1 시험부(70)의 성능시험과 비슷하게, 제2 시험부(90)의 성능시험은 제2 시험부(90)를 성능시험하기 위해 준비하는 과정(이하, 준비구간이라 함), 제2 시험부(90)를 충전(또는 활성화)시키는 과정(이하, 충전구간이라 함) 및 충전된 제2 시험부(90)의 성능시험을 수행하는 과정(이하, 시험수행구간이라 함)으로 구분될 수 있다.Similar to the performance test of the first test unit 70, the performance test of the second test unit 90 is a process (hereinafter referred to as a preparation section) to prepare for the performance test of the second test unit 90, the second The process of charging (or activating) the test unit 90 (hereinafter referred to as a charging section) and the process of performing a performance test of the charged second test unit 90 (hereinafter referred to as a test execution section) Can be.

1. 준비구간1. Preparation Section

먼저, 도 10에 도시한 바와 같이, 체결부(T1, T2)에 성능시험할 제2 시험부(90)가 체결될 수 있다. First, as shown in FIG. 10, the second test unit 90 to be tested for performance may be fastened to the fastening units T1 and T2.

또한, 제2 시험부(90)는 제2 전류원(55)에 의해 성능시험이 수행되므로, 부스바스위치(69)가 스위칭되어 제2 전류원(55)이 시험전류조절부(80)를 경유하여 제2 시험부(90)에 접속될 수 있다. In addition, since the second test unit 90 performs the performance test by the second current source 55, the busbar switch 69 is switched so that the second current source 55 passes through the test current adjusting unit 80. It may be connected to the second test unit 90.

또한, 제2 시험부(90)에서 요구되는 시험전류(itest)가 발생되도록 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값이 가변될 수 있다.In addition, the resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 may be varied so that a test current i test required by the second test unit 90 is generated.

예컨대, 제2 시험부(90)는 저전류가 요구되므로, 해당 저전류값의 발생을 위한 저항값으로 가변될 수 있다. 즉, 가변저항기(RI)의 저항값이 커질수록 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 작아지게 되므로, 해당 저항값은 커지도록 가변될 수 있다. For example, since the second test unit 90 requires a low current, the second test unit 90 may be changed to a resistance value for generating the corresponding low current value. That is, as the resistance of the variable resistor R I increases, the test current i test flowing through the synthesis test circuit constituted by the second current source 55 and the second test unit 90 decreases. The value can be varied to increase.

마찬가지로, 제2 시험부(90)에서 요구되는 저전류를 갖는 시험전류(itest)가 발생되도록 시험전류조절부(80)의 스위치가 개방 상태로 유지될 수 있다. 이에 따라, 시험전류조절부(80)에 포함된 제1 인덕터(LM1)뿐만 아니라 제2 인덕터(LM2)도 시험전류(itest)의 발생에 기여되므로, 제1 및 제2 인덕터(LM1, LM2)의 합산 인덕턴스만큼 전류값이 낮아져 시험전류조절부(80)에 의해 제1 시험부(70)에서 요구되는 저전류를 갖는 시험전류(itest)가 흐르도록 조절될 수 있다. Similarly, the switch of the test current adjusting unit 80 may be kept open so that a test current i test having a low current required by the second test unit 90 is generated. Accordingly, not only the first inductor L M1 included in the test current controller 80 but also the second inductor L M2 contribute to the generation of the test current i test , and thus, the first and second inductors L As the current value is lowered by the sum of the inductances of M1 and L M2 , the test current controller 80 may adjust the test current i test having a low current required by the first test unit 70 to flow.

제2 시험부(90)의 체결, 부스바스위치(69)의 조작, 시험전류조절부(80)의 스위치 동작 그리고 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값 가변의 동작 순서는 변경되어도 무방하다. 예컨대, 충전원(51)의 가변저항기(RI)의 저항값이 먼저 가변된 후, 부스바스위치(69)의 조작, 시험전류조절부(80)의 스위치 동작 및 제2 시험부(90)의 체결의 순서로 진행될 수도 있고, 다른 동작 순서로 진행될 수도 있다. The operation sequence of the fastening of the second test unit 90, the operation of the busbar switch 69, the switch operation of the test current adjusting unit 80, and the variable resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 may be performed. It may be changed. For example, after the resistance value of the variable resistor R I of the charging source 51 is first varied, the operation of the busbar switch 69, the switch operation of the test current adjusting unit 80, and the second test unit 90 are performed. May be performed in the order of fastening, or may be performed in a different operation order.

도 13에 도시한 바와 같이, 준비구간 동안 부스바스위치(69)가 제2 시험부(90)와 제2 전류원(55)이 접속되도록 도통될 수 있다. As shown in FIG. 13, the busbar switch 69 may be turned on so that the second test unit 90 and the second current source 55 are connected during the preparation section.

도 13에서, 하이 레벨은 해당 스위치가 도통됨을 의미하고, 로우 레벨은 해당 스위치가 개방됨을 의미할 수 있다. In FIG. 13, a high level may mean that the corresponding switch is turned on, and a low level may mean that the corresponding switch is open.

2. 충전구간2. Charging section

도 11에 도시한 바와 같이, 충전원(51)에 의해 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. As illustrated in FIG. 11, the second test unit 90 may be filled by the charging source 51.

제2 시험부(90)의 충전과정은 앞서 설명한 제1 시험부(70)의 충전과정이 비슷하다. 따라서, 설명의 편의를 위해 제1 시험부(70)의 충전과정과 중복되는 부분은 생략한다.The charging process of the second test unit 90 is similar to the charging process of the first test unit 70 described above. Therefore, for convenience of description, a portion overlapping with the charging process of the first test unit 70 is omitted.

제2 시험부(90)의 충전에 의해 제2 시험부(90)에 포함되는 전자장치들, 예컨대 게이트드라이버 등이 활성화될 수 있다. 이와 같이, 제2 시험부(90)에 포함되는 전자장치들이 활성화됨에 따라, 제2 시험부(90)의 성능시험할 최종 준비가 완료될 수 있다. By the charging of the second test unit 90, electronic devices included in the second test unit 90, for example, a gate driver, may be activated. As such, as the electronic devices included in the second test unit 90 are activated, final preparation for performance test of the second test unit 90 may be completed.

충전원(51)이 구동되도록 하기 위해, 제1 스위치(101), 제2 스위치(103) 및 제3 스위치(105)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 모선(100)의 전력이 제1 변압기(103) 및 제2 변압기(105)를 경유하여 충전원(51)으로 공급될 수 있다. In order for the charging source 51 to be driven, the first switch 101, the second switch 103, and the third switch 105 may be turned on. Accordingly, the power of the bus bar 100 may be supplied to the charging source 51 via the first transformer 103 and the second transformer 105.

충전원(51)은 이러한 모선(100)의 전력을 제2 시험부(90)로 공급하여 제2 시험부(90)가 충전되도록 할 수 있다. The charging source 51 may supply the power of the bus line 100 to the second test unit 90 to charge the second test unit 90.

충전원(51)으로부터 출력된 직류전압이 제2 시험부(90)로 공급되도록 개폐스위치(53)가 도통될 수 있다.The opening and closing switch 53 may be turned on so that the DC voltage output from the charging source 51 is supplied to the second test unit 90.

도 13에 도시한 바와 같이, 초기충전구간 동안 제1 스위치(101), 제2 스위치(103), 제3 스위치(105) 및 개폐스위치(53)가 도통될 수 있다. As shown in FIG. 13, the first switch 101, the second switch 103, the third switch 105, and the opening / closing switch 53 may be turned on during the initial charging period.

3. 시험수행구간3. Test Performance Section

도 12에 도시한 바와 같이, 제2 전류원(55)에 의해 제2 시험부(90)의 성능시험이 수행될 수 있다.As shown in FIG. 12, the performance test of the second test unit 90 may be performed by the second current source 55.

먼저, 도 12에 도시한 바와 같이, 제2 시험부(90)의 충전이 완료되는 경우, 제3 스위치(105)가 개방되어 더 이상 모선(100)의 전력이 충전원(51)으로 공급되지 않는다. First, as shown in FIG. 12, when the charging of the second test unit 90 is completed, the third switch 105 is opened so that the power of the bus bus 100 is no longer supplied to the charging source 51. Do not.

개폐스위치(53)가 개방되어 충전원(51)으로부터 직류전압이 제2 시험부(90)로 공급되지 않는다. 또한, 개폐스위치(53)가 개방되어 제2 시험부(90)의 성능시험시에 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 충전원(51)으로 유입되지 않는다.The on / off switch 53 is opened so that DC voltage is not supplied from the charging source 51 to the second test unit 90. In addition, the test current flowing through the synthesis test circuit constituted by the second current source 55 and the second test unit 90 during the performance test of the second test unit 90 by opening / closing the switch 53 (i test) ) Does not flow into the charging source 51.

한편, 제1 스위치(101) 및 제5 스위치(109)는 그대로 도통된 상태로 유지되어 모선(100)의 전력이 제2 전류원(55)으로 공급되도록 한다.On the other hand, the first switch 101 and the fifth switch 109 are maintained in the conductive state so that the power of the bus line 100 is supplied to the second current source 55.

제5 스위치(109)가 도통됨으로써, 제1 변압기(111)를 경유한 모선(100)의 전력이 제2 전류원(55)으로 공급될 수 있다.As the fifth switch 109 is turned on, the power of the bus bar 100 via the first transformer 111 may be supplied to the second current source 55.

제2 전류원(55)은 모선(100)의 전력의 3상 교류전압을 직류전압으로 정류하고 해당 직류전압에 포함되는 리플을 제거할 수 있다. The second current source 55 may rectify the three-phase AC voltage of the power of the bus 100 into a DC voltage and remove ripples included in the DC voltage.

이에 따라, 제2 전류원(55)에서 생성된 직류전압과 제2 시험부(90)에 충전된 충전전압(VSM)을 이용하여 기 설정된 전류패턴에 따른 시험전류(itest)가 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)로 구성되는 합성시험회로에 흐르도록 제어될 수 있다. Accordingly, the test current i test according to a preset current pattern is generated by using the DC voltage generated by the second current source 55 and the charging voltage V SM charged in the second test unit 90. It can be controlled to flow in the synthetic test circuit consisting of 55 and the second test unit (90).

제2 전류원(55)에서 생성된 직류전압은 제2 시험부(90)에 충전된 충전전압(VSM)에 비해 거의 무시할 정도로 작으므로, 시험전류(itest)는 주로 제2 시험부(90)에 충전된 충전전압(VSM)에 의해 발생될 수 있다. Since the DC voltage generated by the second current source 55 is almost negligible compared to the charging voltage V SM charged in the second test unit 90, the test current i test is mainly performed by the second test unit 90. ) May be generated by the charging voltage V SM charged in the

시험전류(itest) 발생을 위한 제어는 제2 시험부(90)의 제1 및 제2 서브모듈(92, 94) 각각의 스위칭부(92a, 92b)의 스위칭을 통해 수행될 수 있다. 즉, 기 설정된 전류패턴에 따라 제2 시험부(90)의 제1 및 제2 서브모듈(92, 94) 각각의 스위칭부(92a, 92b)의 스위칭됨으로써, 제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)로 구성되는 합성시험회로에 도 14에 도시한 바와 같은 시험전류(itest)가 흐르도록 할 수 있다. Control for generating a test current (i test ) may be performed by switching the switching units 92a and 92b of each of the first and second sub-modules 92 and 94 of the second test unit 90. That is, the switching unit 92a and 92b of each of the first and second sub-modules 92 and 94 of the second test unit 90 is switched according to a preset current pattern, thereby allowing the second current source 55 and the second to be switched. A test current (i test ) as shown in FIG. 14 may flow in the synthesis test circuit including the test unit 90.

제1 및 제2 서브모듈(92, 94) 각각은 하프브릿지타입을 가질 수 있다.Each of the first and second submodules 92 and 94 may have a half bridge type.

이러한 시험전류(itest)가 시험수행구간 동안 지속적으로 흐르게 됨으로써, 제2 시험부(90)의 제1 및 제2 서브모듈(92, 94)의 각 스위칭부(92a, 92b)나 다수의 전자장치들의 성능시험이 수행될 수 있다. This test current (i test ) is continuously flowing during the test execution period, so that each of the switching unit (92a, 92b) of the first and second sub-modules 92, 94 of the second test unit 90 or a plurality of electrons Performance tests of the devices can be performed.

한편, 전류흐름제어부(58)의 스위치가 도 14에 도시된 전류패턴의 특정 구간, 예컨대 t0 내지 t1 구간이나 t3 내지 t4 구간 등에서 개방되어, 제2 시험부(90)의 각 서브모듈(92, 94)의 커패시터(CSM)의 충전전압(VSM)에 의해 각 스위칭부(92a, 92b)의 스위치가 견디는 성능시험이 수행될 수 있다. On the other hand, the switch of the current flow control unit 58 is opened in a specific section of the current pattern shown in FIG. 14, for example, t0 to t1 section or t3 to t4 section, so that each sub-module 92 of the second test section 90, The performance test that the switch of each switching unit 92a or 92b withstands by the charging voltage V SM of the capacitor C SM of 94 may be performed.

예컨대, 시험수행구간은 30분 이상일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, the test run interval may be 30 minutes or more, but is not limited thereto.

도시되지 않았지만, 측정장비가 합성시험회로에 접속되어, 제2 시험부(90)의 성능시험결과가 검출 및 모니터링될 수 있다.Although not shown, the measurement equipment is connected to the synthesis test circuit, the performance test results of the second test unit 90 can be detected and monitored.

제2 시험부(90)의 성능시험이 완료되는 경우, 제1 스위치(101) 및 제5 스위치(109)가 개방되어, 모선(100)의 전력이 더 이상 제2 전류원(55)을 공급되지 않는다.When the performance test of the second test unit 90 is completed, the first switch 101 and the fifth switch 109 are opened so that the power of the bus line 100 is no longer supplied with the second current source 55. Do not.

제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)에 의해 구성되는 합성시험회로에 흐르는 시험전류(itest)가 0이 되도록 제2 시험부에 충전된 충전전압(VSM)이 방전된 후, 제2 시험부(90)가 체결부(T1, T2)로부터 체결 해제될 수 있다. After the charging voltage V SM charged in the second test unit is discharged so that the test current i test flowing through the composite test circuit constituted by the second current source 55 and the second test unit 90 becomes zero. The second test unit 90 may be released from the fastening units T1 and T2.

제2 전류원(55)과 제2 시험부(90)가 접속되도록 도통 상태를 유지하고 있는 부스바스위치(69)는 합성시험회로가 완전 방전된 후 개방될 수 있다. The busbar switch 69 which maintains the conduction state so that the second current source 55 and the second test unit 90 are connected may be opened after the synthesis test circuit is completely discharged.

실시예는 하나의 충전부(51)을 이용하여 제1 시험부(70)뿐만 아니라 제2 시험부(90)도 충전시킬 수 있어, 합성시험회로의 구조를 단순화하여 비용을 절감할 수 있다. According to the embodiment, one charging unit 51 may be used to charge not only the first test unit 70 but also the second test unit 90, thereby reducing the cost by simplifying the structure of the synthesis test circuit.

실시예는 단일 합성시험회로를 이용하여 제1 시험부(70)뿐만 아니라 제2 시험부(90)도 테스트할 수 있어, 합성시험회로를 구매하는 구매자의 구매 욕구를 증진시킬 수 있다. The embodiment can test not only the first test unit 70 but also the second test unit 90 using a single synthetic test circuit, thereby enhancing the purchase desire of a buyer who purchases the synthetic test circuit.

실시예는 합성시험회로의 회로 구조를 간략화하여 불필요한 회로소자를 제거하여 줌으로써, 합성시험회로의 제품 사이즈를 줄여줄 수 있다.The embodiment simplifies the circuit structure of the synthesis test circuit to remove unnecessary circuit elements, thereby reducing the product size of the synthesis test circuit.

도 15는 제2 실시예에 따른 합성시험회로를 도시한다.15 shows a synthesis test circuit according to the second embodiment.

제2 실시예는 단락전류의 시험을 위해 필요한 구성 요소, 즉 단락전류공급원(110), 제2 및 제3 부스바스위치(63, 65) 및 단락전류검출부(81)를 제외하고는 제1 실시예와 동일하다. 제2 실시예에서 제1 실시예와 동일한 기능을 갖는 구성 요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 부여하고 상세한 설명은 생략한다.The second embodiment is the first embodiment except for the components necessary for the test of the short-circuit current, that is, the short-circuit current supply 110, the second and third busbar switches 63 and 65 and the short-circuit current detector 81 Same as the example. In the second embodiment, components having the same functions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

제2 실시예에의 설명에서 제1 실시예와 동일한 구성 요소에 대한 설명은 생략하고, 이에 대한 설명은 제1 실시예에서 용이하게 이해될 수 있다. In the description of the second embodiment, the description of the same components as in the first embodiment will be omitted, and the description thereof can be easily understood in the first embodiment.

도 15를 참조하면, 제2 실시예에 따른 합성시험회로에서, 피시험체는 충전원(51), 제1 전류원(60), 제2 전류원(55), 시험전류조절부(80), 단락전류공급원(110), 단락전류검출부(81) 및 다수의 스위치를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 15, in the synthesis test circuit according to the second embodiment, the test object includes a charging source 51, a first current source 60, a second current source 55, a test current controller 80, and a short circuit current. It may include a source 110, a short circuit current detector 81 and a plurality of switches.

피시험체의 끝단에 체결부(T1, T2)가 구비될 수 있다. 따라서, 체결부(T1, T2)에 시험체가 체결된 후, 피시험체에 의해 시험체의 성능시험이 수행될 수 있다. Fastening parts T1 and T2 may be provided at ends of the test object. Therefore, after the test piece is fastened to the fastening portions T1 and T2, the test object can be tested by the test object.

단락전류공급원(110)의 일측은 제5 스위치에 접속되고 단락전류공급원(110)의 타측은 충전원의 후단에 접속될 수 있다. 다른 예로서, 도시되지 않았지만, 단락전류공급원(110)의 일측은 제5 스위치에 접속되고 단락전류공급원(110)의 타측은 시험전류조절부의 후단에 접속될 수 있다. One side of the short-circuit current source 110 may be connected to the fifth switch, and the other side of the short-circuit current source 110 may be connected to a rear end of the charging source. As another example, although not shown, one side of the short-circuit current source 110 may be connected to the fifth switch, and the other side of the short-circuit current source 110 may be connected to the rear end of the test current controller.

단락전류공급원(110)은 단락시험을 위한 단락전류를 생성하기 위한 소스이다. 단락전류공급원(110)은 제6 스위치(115), 제3 변압기(117) 및 마그네틱스위치(119)를 포함할 수 있다. 제6 스위치(115) 및 제3 변압기(117)는 단락전류공급원(110)에 포함되지 않을 수도 있다. 즉, 단락전류공급원(110)은 마그네틱스위치(119)만을 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 마그네틱스위치(119)는 포괄적으로 스위치로 지칭될 수도 있다. 마그네틱스위치(119) 이외의 다른 종류의 스위치가 사용될 수도 있다. The short circuit current source 110 is a source for generating a short circuit current for a short circuit test. The short-circuit current source 110 may include a sixth switch 115, a third transformer 117, and a magnetic switch 119. The sixth switch 115 and the third transformer 117 may not be included in the short circuit current source 110. That is, the short-circuit current supply source 110 may include only the magnetic switch 119, but is not limited thereto. The magnetic switch 119 may be referred to collectively as a switch. Other kinds of switches other than the magnetic switch 119 may be used.

제6 스위치(115)는 제5 스위치에 접속되어, 모선(100)의 전력이 단락전류공급원(110)으로 공급되도록 한다. 제3 변압기(117)는 제6 스위치(115)에 접속되어, 단락전류공급원(110)에서 단락시험을 위한 전류를 생성하도록 모선의 전력을 변환하여 준다. 예컨대, 제1 변압기(111)에 의해 모선(100)의 전력의 전압이 강하된 제1 전압을 갖는 전력이 출력될 수 있다. 제3 변압기(117)에 의해 제1 전압이 변환된 제3 전압이 출력될 수 있다. The sixth switch 115 is connected to the fifth switch so that the power of the bus line 100 is supplied to the short-circuit current supply source 110. The third transformer 117 is connected to the sixth switch 115, and converts the power of the bus to generate a current for the short-circuit test in the short-circuit current source 110. For example, the first transformer 111 may output power having a first voltage in which the voltage of the power of the bus 100 is dropped. The third voltage converted from the first voltage may be output by the third transformer 117.

마그네틱스위치(119)는 내부에 코일을 감아서 코일에 흐르는 전류가 흐르면 자성을 띄는 전자석의 원리를 이용한 전자접촉기일 수 있다. The magnetic switch 119 may be a magnetic contactor using a principle of an electromagnet having magnetic properties when a current flowing through the coil flows by winding a coil therein.

마그네틱스위치(119)는 제3 변압기(117)에 접속되어, 시험체의 시험부(70, 90)로의 단락전류의 공급을 스위칭할 수 있다. 마그네틱스위치(119)가 도통되는 경우, 단락전류가 시험부(70, 90)로 공급될 수 있다.The magnetic switch 119 is connected to the third transformer 117 to switch the supply of short-circuit current to the test units 70 and 90 of the test body. When the magnetic switch 119 is turned on, a short circuit current may be supplied to the test units 70 and 90.

도시되지 않았지만, 단락전류가 급격하게 시험부70, 90)로 공급되는 것을 방지하기 위해, 단락전류공급원(110)에 인덕터가 구비될 수 있다. Although not shown, an inductor may be provided in the short circuit current source 110 to prevent the short circuit current from being suddenly supplied to the test units 70 and 90.

또는, 잔락전류조절부(81)의 인덕터(LI)에 의해 단락전류의 급격한 공급이 방지될 수 있다.Alternatively, abrupt supply of short-circuit current may be prevented by the inductor L I of the residual current control unit 81.

제2 실시예에 따른 합성시험회로는 제1 부스바스위치(69), 제2 부스바스위치(63) 및 제3 부스바스위치(65)를 제공할 수 있다. The synthesis test circuit according to the second embodiment may provide the first busbar switch 69, the second busbar switch 63, and the third busbar switch 65.

제1 부스바스위치(69)는 시험전류조절부가 제1 전류원(60) 또는 제2 전류원(55)으로 선택적으로 접속되도록 제어할 수 있다. 제1 부스바스위치(69)의 스위칭에 의해 시험전류조절부가 제1 전류원에 접속되거나 제2 전류원에 접속될 수 있다. The first busbar switch 69 may control the test current controller to be selectively connected to the first current source 60 or the second current source 55. By the switching of the first busbar switch 69, the test current controller may be connected to the first current source or to the second current source.

제2 부스바스위치(63)는 시험전류조절부, 충전원 또는 단락전류공급원(110)이 시험체의 일측 또는 단락전류검출부(81)의 일측으로 선택적으로 접속되도록 제어할 수 있다. 제2 부스바스위치(63)의 스위칭에 의해 시험전류조절부가 시험체의 일측에 접속되거나 단락전류검출부(81)의 일측에 접속될 수 있다. The second busbar switch 63 may control the test current control unit, the charging source, or the short-circuit current supply source 110 to be selectively connected to one side of the test body or one side of the short-circuit current detection unit 81. By switching of the second busbar switch 63, the test current controller may be connected to one side of the test body or to one side of the short-circuit current detector 81.

제3 부스바스위치(65)는 단락전류검출부(81)의 타측이 시험체의 타측으로 접속되도록 제어할 수 있다. 제3 부스바스위치(65)의 스위칭에 의해 단락전류검출부(81)의 타측이 시험체의 타측에 접속되거나 접속해제될 수 있다. The third busbar switch 65 may control the other side of the short-circuit current detection unit 81 to be connected to the other side of the test body. By switching of the third busbar switch 65, the other side of the short-circuit current detection unit 81 may be connected to or disconnected from the other side of the test body.

제2 실시예에 따른 합성시험회로는 단락전류검출부(81)를 제공할 수 있다. 단락전류검출부(81)는 제2 부스바스위치(63)와 제3 부스바스위치(65) 사이에 접속될 수 있다. The synthesis test circuit according to the second embodiment may provide a short circuit current detection unit 81. The short circuit current detector 81 may be connected between the second busbar switch 63 and the third busbar switch 65.

단락전류검출부(81)는 인덕터(LI), 정방향스위치(121) 및 역방향스위치(123)을 포함할 수 있다. 인덕터(LI)는 단락사고 발생시 전선이나 부스바스위치에 존재하는 기생(stray) 인덕턴스를 모의하기 위해 사용될 수 있다. The short circuit current detector 81 may include an inductor L I , a forward switch 121, and a reverse switch 123. The inductor L I may be used to simulate the stray inductance present in the wire or busbar switch in the event of a short circuit.

정방향스위치(121)와 역방향스위치(123)은 단락전류의 흐름을 제어할 수 있다. 정방향스위치(121)에 의해 정방향의 단락전류가 시험체로 공급되고, 역방향스위치(123)에 의해 역방향의 단락전류가 시험체로 공급될 수 있다. The forward switch 121 and the reverse switch 123 may control the flow of the short circuit current. The forward direction short circuit current may be supplied to the test specimen by the forward switch 121, and the reverse direction short circuit current may be supplied to the test specimen by the reverse switch 123.

제2 실시예에 따른 합성시험회로에 의해 2가지의 단락시험이 수행될 수 있다.Two short-circuit tests can be performed by the synthesis test circuit according to the second embodiment.

예컨대, 시험체의 시험부(70, 90) 내의 각 서브모듈(72, 74, 982, 94)의 단락시험이 수행될 수 있다(도 16 및 도 17 참조).For example, a short circuit test of each submodule 72, 74, 982, 94 in the test sections 70, 90 of the test specimen may be performed (see FIGS. 16 and 17).

예컨대, 시험체의 시험부(70, 90) 자체의 단락시험이 수행될 수 있다(도 18 및 도 19).For example, a short circuit test of the test sections 70 and 90 itself of the test specimen may be performed (FIGS. 18 and 19).

도 16 및 도 17은 제2 실시예에 따른 합성시험회로에서 일 예로서의 단락전류를 시험하는 모습을 도시한다.16 and 17 show an example of testing a short-circuit current in the synthesis test circuit according to the second embodiment.

도 16에 도시한 바와 같이, 먼저 충전원(51)을 이용하여 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. 이를 위해, 제1 스위치, 제2 스위치, 제3 스위치 및 개폐스위치가 도통될 수 있다. 아울러, 충전원이 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)의 일측과 접속되도록, 제2 부스바스위치(63)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 충전원의 전력이 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)로 제공되어, 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90)에 충전된 전력에 의해 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 활성화될 수 있다. As illustrated in FIG. 16, first, the first test unit 70 or the second test unit 90 may be charged using the charging source 51. To this end, the first switch, the second switch, the third switch, and the opening and closing switch may be turned on. In addition, the second busbar switch 63 may be turned on so that the charging source is connected to one side of the first test part 70 or the second test part 90. Accordingly, the power of the charging source may be provided to the first test unit 70 or the second test unit 90 to charge the first test unit 70 or the second test unit 90. The first test unit 70 or the second test unit 90 may be activated by electric power charged in the first test unit 70 and the second test unit 90.

도 17에 도시한 바와 같이, 초기 충전이 완료되는 경우, 단락전류 시험이 수행될 수 있다. 이를 위해, 제5 스위치, 단락전류공급원(110)의 제6 스위치(115) 및 마그네틱스위치(119)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 단락전류공급원(110)의 단락전류가 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90)로 유입될 수 있다. 이와 같이 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90)로 유입된 단락전류에 의해 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90) 내의 스위치(SLT, SLB, SRT, SRB)의 파손 여부를 통해 단락시험이 수행될 수 있다. As shown in FIG. 17, when the initial charging is completed, a short circuit current test may be performed. To this end, the fifth switch, the sixth switch 115 of the short-circuit current source 110 and the magnetic switch 119 may be turned on. Accordingly, the short circuit current of the short circuit current source 110 may flow into the first test unit 70 and the second test unit 90. In this way, the switches S LT , S LB , and S RT in the first test unit 70 and the second test unit 90 due to the short-circuit current introduced into the first test unit 70 and the second test unit 90. , R RB ) can be tested for short circuit.

도 18 및 도 19는 제2 실시예에 따른 합성시험회로에서 다른 예로서의 단락전류를 시험하는 모습을 도시한다.18 and 19 show a state in which a short circuit current is tested as another example in the synthesis test circuit according to the second embodiment.

도 18에 도시한 바와 같이, 먼저 충전원(51)을 이용하여 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. 이를 위해, 제1 스위치, 제2 스위치, 제3 스위치 및 개폐스위치가 도통될 수 있다. 아울러, 충전원이 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)의 일측과 접속되도록, 제2 부스바스위치(63)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 충전원의 전력이 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)로 제공되어, 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 충전될 수 있다. 제1 시험부(70) 및 제2 시험부(90)에 충전된 전력에 의해 제1 시험부(70) 또는 제2 시험부(90)가 활성화될 수 있다. As shown in FIG. 18, first, the first test unit 70 or the second test unit 90 may be charged using the charging source 51. To this end, the first switch, the second switch, the third switch, and the opening and closing switch may be turned on. In addition, the second busbar switch 63 may be turned on so that the charging source is connected to one side of the first test part 70 or the second test part 90. Accordingly, the power of the charging source may be provided to the first test unit 70 or the second test unit 90 to charge the first test unit 70 or the second test unit 90. The first test unit 70 or the second test unit 90 may be activated by electric power charged in the first test unit 70 and the second test unit 90.

도 19에 도시한 바와 같이, 초기 충전이 완료되는 경우, 단락전류 시험이 수행될 수 있다. 이를 위해, 충전원이 시험부(70, 90)의 일측과 단락전류검출부(81)의 일측에 동시에 접속되도록 제2 부스바스위치(63)가 도통되고, 단락전류검출부(81)의 타측이 시험부(70, 90)의 타측과 접속되도록 제3 부스바스위치(65)가 도통될 수 있다. 이에 따라, 시험부(70, 90)의의 각 서브모듈(72 및 74, 92 및 94) 사이가 단락될 수 있다. 이러한 경우, 충전원의 전력이 제2 부스바스위치(63)를 통해 시험부(70, 90)의 일측으로 공급되는 동시에, 제2 부스바스위치(63) 및 단락전류검출부(81)를 경유하여 시험부(70, 90)의 타측으로 공급될 수 있다. As shown in FIG. 19, when the initial charging is completed, a short circuit current test may be performed. To this end, the second busbar switch 63 is turned on so that the charging source is simultaneously connected to one side of the test sections 70 and 90 and one side of the short circuit current detection section 81, and the other side of the short circuit current detection section 81 is tested. The third busbar switch 65 may be turned on so as to be connected to the other side of the parts 70 and 90. Accordingly, a short circuit between each of the sub modules 72 and 74, 92, and 94 of the test unit 70 and 90 may be shorted. In this case, the power of the charging source is supplied to one side of the test unit 70, 90 through the second busbar switch 63, and also through the second busbar switch 63 and the short-circuit current detection unit 81. It may be supplied to the other side of the test unit (70, 90).

만일 시험부(70, 90)에 단락사고가 발생되는 경우, 사고 전류의 경로는 인덕터(LI)를 통과하지 못하고, 전선이나 부스바스위치(63, 65)의 기생 인덕턴스만이 존재하기 때문에, 각 서브모듈(72 및 74, 92 및 94)에 큰 전류가 흐른다. 이와 같이 흐르는 큰 전류가 인덕터(LI)에 의해 검출될 수 있다. 따라서, 상술한 바와 같이, 인덕터(LI)는 단락사고 발생시 전선이나 부스바스위치(63, 65)에 존재하는 기생(stray) 인덕턴스를 모의하기 위해 사용될 수 있다. If a short circuit occurs in the test unit 70, 90, the path of the fault current does not pass through the inductor L I , and only the parasitic inductance of the wire or busbar switch 63, 65 exists. A large current flows through each of the submodules 72 and 74, 92 and 94. The large current flowing in this way can be detected by the inductor L I. Therefore, as described above, the inductor L I may be used to simulate the stray inductances present in the wires or busbar switches 63 and 65 in the event of a short circuit accident.

상기의 상세한 설명은 모든 면에서 제한적으로 해석되어서는 아니되고 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구항의 합리적 해석에 의해 결정되어야 하고, 본 발명의 등가적 범위 내에서의 모든 변경은 본 발명의 범위에 포함된다.The above detailed description should not be construed as limiting in all respects but should be considered as illustrative. The scope of the invention should be determined by reasonable interpretation of the appended claims, and all changes within the equivalent scope of the invention are included in the scope of the invention.

51: 충전원
55, 60: 전류원
52, 56, 62: 정류부
53: 개폐스위치
58: 전류흐름제어부
57, 64: 리플제거부
66: 손실보상부
67, 76, 96: 입력단자
68: 출력단자
63, 65, 69: 부스바스위치
70, 90: 시험부
72, 74, 92, 94: 서브모듈
80: 시험전류조절부
81: 단락전류검출부
82: 바이패스스위치
100: 모선
101, 103, 105, 107, 109, 115: 스위치
110: 단락전류공급원
111, 113, 117: 변압기
119: 마그네틱스위치
CSM: 커패시터
D1 내지 D4, DT, DB, DLT, DLB, DRT, DRB: 다이오드
itest: 시험전류
LM1, LM2: 인덕터
LI: 인덕터
S1 내지 S4, ST, SB, SLT, SLB, SRT, SRB: 스위치
T1, T2: 체결부51: charging source
55, 60: current source
52, 56, 62: rectifier
53: opening and closing switch
58: current flow control unit
57, 64: ripple removing section
66: loss compensation
67, 76, 96: Input terminal
68: output terminal
63, 65, 69: busbar switch
70, 90: test part
72, 74, 92, 94: submodule
80: test current controller
81: short-circuit current detector
82: bypass switch
100: Mothership
101, 103, 105, 107, 109, 115: switch
110: short circuit current source
111, 113, 117: transformer
119 magnetic switch
C SM : Capacitor
D1 to D4, D T , D B , D LT , D LB , D RT , D RB : Diode
i test : Test current
LM1, LM2: Inductors
L I : Inductor
S1 to S4, S T , S B , S LT , S LB , S RT , S RB : Switch
T1, T2: Fastening

Claims (10)

서로 상이한 타입의 서브모듈을 포함하는 제1 시험부 및 제2 시험부를 테스트하기 위한 합성시험회로에 있어서,
상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부가 활성화되도록 상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부를 충전시키는 충전원;
상기 활성화된 제1 시험부를 테스트하기 위한 전원을 공급하여 주는 제1 전류원;
상기 활성화된 제2 시험부를 테스트하기 위한 전원을 공급하여 주는 제2 전류원; 및
상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부의 단락시험을 위한 단락전류를 공급하여 주는 단락전류공급원을 포함하는 합성시험회로.In the synthesis test circuit for testing the first test unit and the second test unit including different types of submodules,
A charging source for charging the first test part or the second test part to activate the first test part or the second test part;
A first current source for supplying power for testing the activated first test unit;
A second current source supplying power for testing the activated second test unit; And
And a short circuit current supply source for supplying a short circuit current for a short circuit test of the first test section or the second test section. 제1항에 있어서,
모선으로부터의 전력이 상기 충전원, 상기 제1 전류원, 상기 제2 전류원 및 상기 단락전류공급원에 선택적으로 공급되도록 스위칭하는 적어도 하나 이상의 스위치를 더 포함하는 합성시험회로.The method of claim 1,
And at least one switch for switching power from the bus bar to be selectively supplied to the charging source, the first current source, the second current source, and the short circuit current supply source. 제2항에 있어서,
상기 적어도 하나 이상의 스위치는,
상기 모선에 접속되는 제1 스위치;
상기 제1 스위치에 접속되어 상기 모선으로부터의 전력이 상기 충전원 또는 상기 제1 전류원으로 공급되도록 스위칭하는 제2 스위치;
상기 제2 스위치에 접속되어 상기 전력이 상기 충전원으로 공급되도록 스위칭하는 제3 스위치;
상기 제2 스위치에 접속되어 상기 전력이 상기 제1 전류원으로 공급되도록 스위칭하는 제4 스위치; 및
상기 제1 스위치에 접속되어 상기 전력이 상기 제2 전류원으로 공급되도록 스위칭하는 제5 스위치를 포함하는 합성시험회로.The method of claim 2,
The at least one switch,
A first switch connected to the bus bar;
A second switch connected to the first switch to switch power from the bus to be supplied to the charging source or the first current source;
A third switch connected to the second switch to switch the power to be supplied to the charging source;
A fourth switch connected to the second switch to switch the power to be supplied to the first current source; And
And a fifth switch connected to the first switch to switch the electric power to be supplied to the second current source. 제3항에 있어서,
상기 제1 시험부 또는 제2 시험부가 체결되는 체결부; 및
상기 체결부에 체결되는 시험부의 테스트를 위해 상기 제1 전류원 또는 상기 제2 전류원 중 하나가 상기 체결부에 접속되도록 스위칭하는 제1 부스바스위치를 더 포함하는 합성시험회로.The method of claim 3,
A fastening part to which the first test part or the second test part is fastened; And
And a first busbar switch for switching one of the first current source and the second current source to be connected to the fastening part for testing a test part which is fastened to the fastening part. 제4항에 있어서,
상기 단락시험시 단락전류를 검출하는 단락전류검출부를 더 포함하는 합성시험회로.The method of claim 4, wherein
And a short circuit current detector for detecting a short circuit current during the short circuit test. 제5항에 있어서,
상기 충전원 또는 상기 단락전류공급원이 상기 제1 시험부의 일측에 접속되거나 상기 단락전류검출부의 일측과 상기 제1 시험부의 일측에 동시에 접속되도록 스위칭하는 제2 부스바스위치; 및
상기 단락전류검출부의 타측이 상기 제1 시험부의 타측과 접속되도록 스위칭하는 제3 부스바스위치를 더 포함하는 합성시험회로. The method of claim 5,
A second busbar switch for switching the charging source or the short-circuit current supply source to be connected to one side of the first test part or to be connected to one side of the short-circuit current detection part and one side of the first test part simultaneously; And
And a third bus bar switch configured to switch the other side of the short circuit current detection unit to be connected to the other side of the first test unit. 제6항에 있어서,
상기 충전시 상기 충전원이 상기 제1 시험부의 일측에 접속되도록 상기 제2 부스바스위치가 도통되는 합성시험회로.The method of claim 6,
And the second busbar switch is turned on so that the charging source is connected to one side of the first test unit during the charging. 제6항에 있어서,
상기 단락시험시 상기 충전원 또는 상기 단락전류공급원이 상기 단락전류검출부의 일측과 상기 제1 시험부의 일측에 동시에 접속되도록 제2 부스바스위치가 도통되는 합성시험회로.The method of claim 6,
And a second busbar switch conducting such that the charging source or the short circuit current supply source is simultaneously connected to one side of the short circuit current detection unit and one side of the first test unit during the short circuit test. 제6항에 있어서,
상기 단락전류검출부는,
단락사고시 상기 제2 및 제3 부스바스위치의 기생 인덕턴스를 모의하기 위한 인덕터를 포함하는 합성시험회로.The method of claim 6,
The short circuit current detection unit,
Synthesis test circuit including an inductor for simulating the parasitic inductance of the second and third busbar switch in the event of a short circuit. 제3항에 있어서,
상기 단락전류공급원은,
상기 제5 스위치에 접속되어 상기 전력이 상기 단락전류공급원으로 공급되도록 스위칭하는 제6 스위치; 및
상기 제6 스위치에 접속되어 상기 제1 시험부 또는 상기 제2 시험부로의 단락전류의 공급을 스위칭하는 마그네틱스위치를 포함하는 합성시험회로.
The method of claim 3,
The short circuit current supply source,
A sixth switch connected to the fifth switch to switch the power to be supplied to the short-circuit current supply source; And
And a magnetic switch connected to said sixth switch for switching a supply of short-circuit current to said first test section or said second test section.
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