KR20190084890A - Resin composition - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a resin composition which is capable of obtaining a cured product having low dielectric loss and having excellent smear removal properties, to a resin sheet having a resin composition layer including the resin composition, to a printed wiring board including an insulation layer formed by the cured product of the resin composition and to a semiconductor device including the cured product of the resin composition. The resin composition comprises: (A) an aromatic hydrocarbon resin containing an aromatic ring as a single ring or a condensed ring and having two or more groups containing an oxygen atom coupled with the aromatic ring per unit; and (B) an active ester-based curing agent.

Description

수지 조성물{RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 본 발명은, 수지 조성물을 사용한, 수지 시트, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. The present invention also relates to a resin sheet, a printed wiring board and a semiconductor device using the resin composition.

최근, 전자 기기의 소형화, 고성능화가 진전되어, 다층 프린트 배선판에 있어서는, 빌드업층이 복층화되어, 배선의 미세화 및 고밀도화가 요구되며, 또한 전송 손실 저감을 위해 유전 정접이 낮은 절연 재료가 요구되고 있다. In recent years, miniaturization and high performance of electronic devices have progressed. In a multilayer printed wiring board, the buildup layer has been layered, requiring miniaturization and high density wiring, and insulating materials with low dielectric tangent are required for reduction of transmission loss.

예를 들면, 특허문헌 1에는, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 스미어 억제 성분을 함유하는 수지 조성물이고, 상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우에, (C) 스미어 억제 성분이 0.001 내지 10질량%인 수지 조성물에 관해서 기재되어 있다.For example, Patent Document 1 discloses a resin composition containing (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) a smear suppressing component, and when the nonvolatile component of the resin composition is 100 mass% , And (C) 0.001 to 10% by mass of a smear inhibiting component.

일본 공개특허공보 특개2014-5464호Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-5464

다층 프린트 배선판의 절연층을 천공 가공할 때에는, 비아홀 내에 스미어(수지 잔사)가 발생하여, 조화 처리 공정으로 스미어를 제거하는 것이 요구된다. 그러나, 본 발명자 등의 지견에 의하면, 활성 에스테르 화합물을 함유하는 저유전 정접의 수지 조성물을 사용하여 다층 프린트 배선판을 제작한 결과, 절연층의 천공 가공 후에 비아홀 내를 조화 처리해도, 비아홀 내의 스미어(수지 잔사)의 제거가 불충분한 경우가 있으며, 소직경의 비아홀이 될수록 어려워지는 것을 알게 되었다.When the insulating layer of the multilayered printed circuit board is perforated, smear (resin residue) is generated in the via hole, and smear is required to be removed in the roughening process. However, the inventors of the present invention have found that the multilayer printed circuit board using the low dielectric loss tangent resin composition containing the active ester compound is used to produce smear in the via hole Resin residue) is sometimes insufficient, and it is found that the smaller the diameter of the via-hole becomes, the more difficult it becomes.

따라서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 유전 정접이 낮고, 또한 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻는 것이 가능한 수지 조성물; 상기 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 갖는 수지 시트; 상기 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는 프린트 배선판; 및 상기 수지 조성물의 경화물을 포함하는 반도체 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Accordingly, a problem to be solved by the present invention is to provide a resin composition capable of obtaining a cured product having a low dielectric tangent and an excellent smear removal property; A resin sheet having a resin composition layer containing the resin composition; A printed wiring board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition; And a semiconductor device including the cured product of the resin composition.

본 발명자는 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, (A) 단환(單環) 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하며, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향족 탄화수소 수지, 및 (C) 활성 에스테르계 경화제를 조합하여 포함하는 수지 조성물에 의해, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 밝혀내고, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that (A) an aromatic ring containing an aromatic ring as a single ring or condensed ring, and a group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring per one (C) an active ester-based curing agent, the present inventors have accomplished the present invention by finding out that the above problems can be solved by a resin composition comprising a combination of two or more aromatic hydrocarbon resins and (C) an active ester-based curing agent.

즉, 본 발명은 하기의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] (A) 단환 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하고, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향환 탄화수소 수지, 및(1) An aromatic ring hydrocarbon resin composition comprising (A) an aromatic ring hydrocarbon resin containing an aromatic ring as a monocyclic or condensed ring and having two or more groups containing oxygen atoms bonded to the aromatic ring per one aromatic ring, and

(B) 활성 에스테르계 경화제를 함유하는, 수지 조성물.(B) an active ester-based curing agent.

[2] (A) 성분이 하기 화학식 1로 표시되는 구조를 갖는, [1]에 기재된 수지 조성물.[2] The resin composition according to [1], wherein the component (A) has a structure represented by the following formula (1).

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 화학식 1에 있어서,In Formula 1,

R11은 각각 독립적으로 1가의 기이다.R 11 each independently represents a monovalent group.

[3] (A) 성분이 하기 화학식 2로 표시되는 구조를 갖는, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [1] or [2], wherein the component (A) has a structure represented by the following formula (2).

Figure pat00002
Figure pat00002

상기 화학식 2에 있어서,In Formula 2,

R21은 각각 독립적으로 1가의 기이다.R 21 each independently represents a monovalent group.

[4] (A) 성분이 하기 화학식 3으로 표시되는, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to [1] or [2], wherein component (A) is represented by the following formula (3).

Figure pat00003
Figure pat00003

상기 화학식 3에 있어서,In Formula 3,

R31은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 31 each independently represents a monovalent group,

R32는 각각 독립적으로 2가의 탄화수소기이고,R 32 each independently represents a divalent hydrocarbon group,

n3은 0 내지 10의 정수이다.n3 is an integer of 0 to 10;

[5] (A) 성분이 하기 화학식 6으로 표시되는, [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the component (A) is represented by the following formula (6).

Figure pat00004
Figure pat00004

상기 화학식 6에 있어서,In Formula 6,

R61은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 61 each independently represents a monovalent group,

n6은 0 내지 10의 정수이다.n6 is an integer of 0 to 10;

[6] 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가, 에폭시알킬렌옥시기, 알콕시기, 또는 수산기인, [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring is an epoxyalkyleneoxy group, an alkoxy group or a hydroxyl group.

[7] (C) 에폭시 수지를 추가로 함유하는, [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], further comprising (C) an epoxy resin.

[8] (A) 성분의 함유량이, (A) 성분 및 (C) 성분의 합계 함유량을 100질량%로 한 경우, 5질량% 이상 50질량% 이하인, [7]에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to [7], wherein the content of the component (A) is 5% by mass or more and 50% by mass or less when the total content of the component (A) and the component (C) is 100% by mass.

[9] (B) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 1질량% 이상 30질량% 이하인, [1] 내지 [8] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], wherein the content of the component (B) is 1% by mass or more and 30% by mass or less when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

[10] (D) 무기 충전재를 추가로 함유하는, [1] 내지 [9] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to any one of [1] to [9], further comprising (D) an inorganic filler.

[11] (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 50질량% 이상인, [10]에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to [10], wherein the content of the component (D) is 50% by mass or more based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition.

[12] 다층 프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물인, [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[12] A resin composition according to any one of [1] to [11], which is a resin composition for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board.

[13] 톱 직경이 35㎛ 이하인 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물인, [1] 내지 [12] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[13] A resin composition according to any one of [1] to [12], which is a resin composition for forming an insulating layer having a via hole having a top diameter of 35 μm or less.

[14] 절연층의 두께(㎛)와 톱 직경(㎛)의 종횡비(절연층의 두께/톱 직경)가 0.5 이상인 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물인, [1] 내지 [13] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[14] A resin composition for forming an insulating layer having a via-hole having a thickness (탆) of an insulating layer and an aspect ratio (thickness of an insulating layer / top diameter) of a top diameter (탆) of 0.5 or more is selected from among [1] to [13] Lt; / RTI >

[15] 지지체와, 상기 지지체 위에 제공된, [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.[15] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer comprising the resin composition according to any one of [1] to [14] provided on the support.

[16] 수지 조성물층의 두께가 20㎛ 이하인, [15]에 기재된 수지 시트.[16] The resin sheet according to [15], wherein the resin composition layer has a thickness of 20 μm or less.

[17] [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.[17] A printed wiring board comprising an insulating layer formed by a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [14].

[18] [17]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[18] A semiconductor device comprising a printed wiring board according to [17].

본 발명에 의하면, 유전 정접이 낮고, 또한 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻는 것이 가능한 수지 조성물; 상기 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 갖는 수지 시트; 상기 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는 프린트 배선판; 및 상기 수지 조성물의 경화물을 포함하는 반도체 장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, there can be provided a resin composition capable of obtaining a cured product having a low dielectric tangent and an excellent smear removal property; A resin sheet having a resin composition layer containing the resin composition; A printed wiring board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition; And a semiconductor device including the cured product of the resin composition.

이하, 실시형태 및 예시물을 나타내어, 본 발명에 관해서 상세하게 설명한다. 단, 본 발명은, 이하에 열거하는 실시형태 및 예시물로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 특허청구의 범위 및 그 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경하여 실시할 수 있다.Hereinafter, embodiments and examples are shown, and the present invention will be described in detail. It should be noted, however, that the present invention is not limited to the embodiments and examples enumerated below, and can be arbitrarily changed without departing from the scope of the claims of the present invention and its equivalent scope.

[수지 조성물][Resin composition]

본 발명의 수지 조성물은, (A) 단환 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하고, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향족 탄화수소 수지, 및 (B) 활성 에스테르계 경화제를 함유한다. 이러한 수지 조성물층을 사용함으로써, 유전 정접이 낮으며, 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻을 수 있다는, 본 발명의 원하는 효과를 얻을 수 있다. 따라서, 이 수지 조성물의 경화물은, 그 우수한 특성을 살려, 다층 프린트 배선판의 절연층으로서 바람직하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention comprises (A) an aromatic hydrocarbon resin containing an aromatic ring as a monocyclic or condensed ring and having two or more groups containing oxygen atoms bonded to the aromatic ring per one aromatic ring, and (B ) An active ester-based curing agent. By using such a resin composition layer, it is possible to obtain the desired effect of the present invention that a cured product having a low dielectric tangent and excellent smear removal property can be obtained. Therefore, the cured product of the resin composition can be preferably used as an insulating layer of a multilayer printed circuit board, taking advantage of its excellent properties.

또한, 상기 수지 조성물은, (A) 내지 (B) 성분에 조합하여, 추가로 임의의 성분을 함유하고 있어도 좋다. 임의의 성분으로서는, 예를 들면, (C) 에폭시 수지, (D) 무기 충전재, (F) 경화제, (F) 열가소성 수지, (G) 경화 촉진제, 및 (H) 기타 첨가제 등을 들 수 있다. 이하, 본 발명의 수지 조성물에 함유되는 각 성분에 관해서 상세하게 설명한다.The resin composition may further contain optional components in combination with the components (A) to (B). Examples of optional components include (C) an epoxy resin, (D) an inorganic filler, (F) a curing agent, (F) a thermoplastic resin, (G) a curing accelerator, and (H) other additives. Hereinafter, each component contained in the resin composition of the present invention will be described in detail.

<(A) 단환 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하고, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향족 탄화수소 수지><(A) An aromatic hydrocarbon resin containing an aromatic ring as a monocyclic or condensed ring, and having two or more groups containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring per one aromatic ring>

수지 조성물은, (A) 단환 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하며, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향족 탄화수소 수지를 함유한다. 방향환은, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기에서의 산소 원자의 전자 공여에 의해 산화되기 쉽다. 또한, 이 기가 방향환 1개당 2개 이상 함유되기 때문에, 방향환은 보다 산화되기 쉽다. 따라서, (A) 성분이 산화되기 쉽기 때문에, 수지 조성물의 경화물의 스미어 제거성을 향상시킬 수 있다.The resin composition contains (A) an aromatic ring as a monocyclic or condensed ring, and contains, per one aromatic ring, an aromatic hydrocarbon resin having two or more groups containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring. The aromatic ring is liable to be oxidized by electron donation of an oxygen atom in a group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring. Further, since two or more of these groups are contained per one aromatic ring, the aromatic rings are more likely to be oxidized. Therefore, since the component (A) is easily oxidized, the smear removal property of the cured product of the resin composition can be improved.

여기서, 용어「방향환」은, 벤젠환과 같은 단환으로서의 방향환, 및 나프탈렌환과 같은 축합환으로서의 방향환 중 어느 것이라도 포함한다. (A) 성분에 포함되는 상기 방향환 1개당 탄소 원자수는, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 6개 이상이며, 바람직하게는 10개 이상이며, 바람직하게는20개 이하, 보다 바람직하게는 14개 이하이다.Here, the term &quot; aromatic ring &quot; includes any aromatic ring as a monocyclic ring such as a benzene ring and an aromatic ring as a condensed ring such as a naphthalene ring. The number of carbon atoms per one aromatic ring contained in the component (A) is preferably 6 or more, preferably 10 or more, and preferably 20 or less, more preferably 20 or more, from the viewpoint of obtaining a desired effect of the present invention More preferably 14 or less.

방향환의 예로서는, 벤젠환, 비페닐환 등의 단환; 나프탈렌환, 안트라센환 등의 축합환 등을 들 수 있으며, 스미어 제거성을 보다 향상시키는 관점에서 축합환이 바람직하다. 또한, 방향족 탄화수소 수지 1분자에 포함되는 방향환의 종류는, 1종류라도 좋고, 2종류 이상이라도 좋다.Examples of the aromatic ring include monocyclic rings such as a benzene ring and a biphenyl ring; Naphthalene ring and condensed ring such as anthracene ring, and condensed rings are preferable from the viewpoint of further improving the smear removal property. The type of the aromatic ring contained in one molecule of the aromatic hydrocarbon resin may be one kind or two or more types.

(A) 성분으로서의 방향족 탄화수소 수지가 포함하는 방향환 중 적어도 1개는, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 가진다. 방향환 1개당 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기의 수는, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 4개 이하, 보다 바람직하게는 3개 이하, 특히 바람직하게는 2개이다.At least one of the aromatic rings contained in the aromatic hydrocarbon resin as the component (A) has two or more groups containing oxygen atoms bonded to the aromatic ring per one aromatic ring. The number of groups containing an oxygen atom bonded to an aromatic ring per aromatic ring is preferably 4 or less, more preferably 3 or less, particularly preferably 3 or less, particularly preferably 3 or less, from the viewpoint of obtaining a desired effect of the present invention. Two.

(A) 성분 1분자당, 2개 이상의 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 갖는 방향환의 수는, 통상 1개 이상이며, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 2개 이상, 보다 바람직하게는 3개 이상이다. 상한에 특별한 제한은 없지만, 입체 장해를 억제하여 에폭시 수지와의 반응성을 높이는 관점에서, 바람직하게는 6개 이하, 보다 바람직하게는 5개 이하이다.The number of aromatic rings having a group containing an oxygen atom bonded to two or more of these aromatic rings per one molecule of the component (A) is usually one or more, and from the viewpoint of obtaining a desired effect of the present invention remarkably, Two or more, and more preferably three or more. The upper limit is not particularly limited, but is preferably 6 or less, and more preferably 5 or less, from the viewpoint of suppressing steric hindrance and enhancing reactivity with the epoxy resin.

방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기의 예로서는, 에폭시알킬렌옥시기, 알콕시기, 수산기 등을 들 수 있다. 알콕시기는, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 탄소 원자수 1 내지 10의 알콕시기가 바람직하며, 탄소 원자수 1 내지 6의 알콕시기가 보다 바람직하며, 탄소 원자수 1 내지 3의 알콕시기가 더욱 바람직하며, 탄소 원자수 1의 알콕시기(메톡시기)가 특히 바람직하다. 에폭시알킬렌옥시기에 있어서의 알킬렌기는, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 탄소 원자수 1 내지 10이 바람직하며, 탄소 원자수 1 내지 6이 보다 바람직하며, 탄소 원자수 1 내지 3이 더욱 바람직하며, 탄소 원자수 1(글리시딜에테르기)이 특히 바람직하다.Examples of the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring include an epoxyalkyleneoxy group, an alkoxy group, and a hydroxyl group. The alkoxy group is preferably an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably an alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms, in view of obtaining the desired effect of the present invention remarkably And an alkoxy group (methoxy group) having 1 carbon atom is particularly preferable. The alkylene group in the epoxyalkyleneoxy group is preferably 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 6 carbon atoms, and more preferably 1 to 3 carbon atoms, from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention remarkably. More preferably 1 (number of carbon atoms) (glycidyl ether group) is particularly preferable.

(A) 성분으로서는, 예를 들면, 하기 화학식 1로 표시되는 구조를 갖는 방향족 탄화수소 수지가 바람직하다.As the component (A), for example, an aromatic hydrocarbon resin having a structure represented by the following formula (1) is preferable.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure pat00005
Figure pat00005

상기 화학식 1에 있어서,In Formula 1,

R11은 각각 독립적으로 1가의 기이다.R 11 each independently represents a monovalent group.

화학식 1에 있어서, R11은 각각 독립적으로 1가의 기를 나타낸다. 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기는, 화학식 1 중의 「-OR11」이다. 1가의 기의 예로서는, 수소 원자; 에폭시알킬기, 치환되어 있어도 좋은 알킬기 등의 1가의 유기기 등을 들 수 있다. 에폭시알킬기에 있어서의 알킬기 및 알킬기의 탄소 원자수는, 상기한 알콕시기의 탄소 원자수와 같다. 알킬기의 치환기로서는, 예를 들면, 할로겐 원자, 수산기, 에폭시 등을 들 수 있다. 또한, 2 이상의 치환기가 결합하여 환을 형성하고 있어도 좋다. 이 중에서도, 스미어 제거성을 향상시키는 관점에서, R11은 에폭시알킬기, 수소 원자가 바람직하며, 에폭시알킬기가 보다 바람직하며, 글리시딜기가 더욱 바람직하다.In the general formula (1), each R 11 independently represents a monovalent group. The group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring is "-OR 11 " in the formula (1). Examples of the monovalent group include a hydrogen atom; A monovalent organic group such as an epoxy alkyl group and an optionally substituted alkyl group. The number of carbon atoms in the alkyl group and the alkyl group in the epoxy alkyl group is equal to the number of carbon atoms in the alkoxy group. Examples of the substituent of the alkyl group include a halogen atom, a hydroxyl group and an epoxy. Two or more substituents may be bonded to form a ring. Among them, R 11 is preferably an epoxy alkyl group or a hydrogen atom, more preferably an epoxy alkyl group, and more preferably a glycidyl group, from the viewpoint of improving the smear removal property.

화학식 1로 표시되는 구조는, 하기 화학식 2로 표시되는 것이 바람직하다. The structure represented by the formula (1) is preferably represented by the following formula (2).

[화학식 2](2)

Figure pat00006
Figure pat00006

상기 화학식 2에 있어서,In Formula 2,

R21은 각각 독립적으로 1가의 기이다.R 21 each independently represents a monovalent group.

화학식 2에 있어서, R21은 1가의 기를 나타내고, R21은 화학식 1에 있어서의 R11과 같다. 화학식 2와 같이, 나프탈렌환의 1위치 및 6위치에서 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가 결합함으로써, 스미어 제거성을 보다 향상시키는 것이 가능해진다.In the general formula (2), R 21 represents a monovalent group, and R 21 is the same as R 11 in the general formula (1). A group containing an oxygen atom bonded to an aromatic ring at the 1-position and 6-position of the naphthalene ring is bonded to the aromatic ring as shown by the general formula (2), whereby smear removal can be further improved.

(A) 성분으로서는, 예를 들면, 하기 화학식 3으로 표시되는 방향족 탄화수소 수지인 것이 바람직하다.As the component (A), for example, an aromatic hydrocarbon resin represented by the following formula (3) is preferable.

[화학식 3](3)

Figure pat00007
Figure pat00007

상기 화학식 3에 있어서,In Formula 3,

R31은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 31 each independently represents a monovalent group,

R32는 각각 독립적으로 2가의 탄화수소기이고,R 32 each independently represents a divalent hydrocarbon group,

n3은 0 내지 10의 정수이다.n3 is an integer of 0 to 10;

화학식 3에 있어서, R31은 1가의 기를 나타내고, R31은 화학식 1에 있어서의 R11과 같다.In the formula (3), R 31 represents a monovalent group, and R 31 is the same as R 11 in the formula (1).

화학식 3에 있어서, R32는 2가의 탄화수소기를 나타낸다. 2가의 탄화수소기는, 지방족 탄화수소기라도 좋고, 방향족 탄화수소기라도 좋고, 지방족 탄화수소기 및 방향족 탄화수소기를 조합한 기라도 좋다. 2가의 탄화수소기의 탄소 원자수는, 통상 1 이상이며, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 3 이상, 보다 바람직하게는 5 이상, 더욱 바람직하게는 7 이상으로 할 수 있다. 상기 탄소 원자수의 상한은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 20 이하, 15 이하 또는 10 이하로 할 수 있다.In the general formula (3), R 32 represents a divalent hydrocarbon group. The divalent hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, or a combination of an aliphatic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group. The number of carbon atoms of the divalent hydrocarbon group is usually 1 or more and is preferably 3 or more, more preferably 5 or more, further preferably 7 or more from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention . The upper limit of the number of carbon atoms is preferably 20 or less, 15 or less, or 10 or less from the viewpoint of achieving the desired effect of the present invention.

R32의 구체예로서는, 하기의 2가의 탄화수소기를 들 수 있다.Specific examples of R 32 include the following divalent hydrocarbon groups.

Figure pat00008
Figure pat00008

화학식 3에 있어서, n3은 0 내지 10의 정수를 나타낸다. 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, n3은, 바람직하게는 0 이상, 보다 바람직하게는 2 이상이며, 더욱 바람직하게는 3 이상이며, 바람직하게는 10 이하, 보다 바람직하게는 5 이하이다.In the general formula (3), n3 represents an integer of 0 to 10. From the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention remarkably, n3 is preferably 0 or more, more preferably 2 or more, still more preferably 3 or more, preferably 10 or less, more preferably 5 or less .

화학식 3으로 표시되는 방향족 탄화수소 수지는, 하기 화학식 4로 표시되는 방향족 탄화수소 수지인 것이 바람직하다.The aromatic hydrocarbon resin represented by the general formula (3) is preferably an aromatic hydrocarbon resin represented by the following general formula (4).

Figure pat00009
Figure pat00009

상기 화학식 4에 있어서,In Formula 4,

R41은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 41 each independently represents a monovalent group,

R42는 각각 독립적으로 알킬렌기이고,R &lt; 42 &gt; each independently represents an alkylene group,

n4는 0 내지 10의 정수이다.n4 is an integer of 0 to 10;

화학식 4에 있어서, R41은 1가의 기를 나타내고, R41은 화학식 1에 있어서의 R11과 같다.In the general formula (4), R 41 represents a monovalent group, and R 41 is the same as R 11 in the general formula (1).

화학식 4에 있어서, R42는 알킬렌기를 나타낸다. 알킬렌기의 탄소원자수로서는, 바람직하게는 10 이하, 보다 바람직하게는 6 이하, 더욱 바람직하게는 3 이하이며, 하한은 1 이상으로 할 수 있다. 이 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 메틸렌기, 디메틸에틸렌기가 바람직하다.In the formula 4, R 42 represents an alkylene group. The number of carbon atoms of the alkylene group is preferably 10 or less, more preferably 6 or less, still more preferably 3 or less, and the lower limit may be 1 or more. Among them, a methylene group and a dimethylethylene group are preferable from the viewpoint of obtaining a desired effect of the present invention remarkably.

화학식 4에 있어서, n4는 0 내지 10의 정수를 나타내고, n4는 화학식 3에 있어서의 n3과 같다.In the general formula (4), n4 represents an integer of 0 to 10, and n4 is equal to n3 in the general formula (3).

화학식 4 중의 페닐렌기는, 1위치 및 4위치에서 2개의 R42로 표시되는 알킬렌기와 결합하는 것이 바람직하다.The phenylene group in the formula (4) is preferably bonded to the alkylene group represented by two R &lt; 42 &gt; at the 1-position and the 4-position.

화학식 4로 표시되는 방향족 탄화수소 수지는, 하기 화학식 5로 표시되는 방향족 탄화수소 수지인 것이 바람직하다.The aromatic hydrocarbon resin represented by the general formula (4) is preferably an aromatic hydrocarbon resin represented by the following general formula (5).

Figure pat00010
Figure pat00010

상기 화학식 5에 있어서,In Formula 5,

R51은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 51 each independently represents a monovalent group,

R52는 각각 독립적으로 알킬렌기이고,R 52 each independently represents an alkylene group,

n5는 0 내지 10의 정수이다.n5 is an integer of 0 to 10;

화학식 5에 있어서, R51은 1가의 기를 나타내고, R51은 화학식 1에 있어서의 R11과 같다.In the general formula (5), R 51 represents a monovalent group, and R 51 is the same as R 11 in the general formula (1).

화학식 5에 있어서, R52는 알킬렌기를 나타낸다. R52는 화학식 4에 있어서의 R42와 같다.In formula (5), R 52 represents an alkylene group. R 52 is the same as R 42 in the formula (4).

화학식 5에 있어서, n5는 0 내지 10의 정수를 나타내고, n5는 화학식 3에 있어서의 n3과 같다.In the general formula (5), n5 represents an integer of 0 to 10, and n5 is equal to n3 in the general formula (3).

이 중에서도, (A) 성분으로서는, 하기 화학식 6으로 표시되는 방향족 탄화수소 수지인 것이 바람직하다.Among them, the component (A) is preferably an aromatic hydrocarbon resin represented by the following formula (6).

[화학식 6][Chemical Formula 6]

Figure pat00011
Figure pat00011

상기 화학식 6에 있어서,In Formula 6,

R61은 각각 독립적으로 1가의 기이고,R 61 each independently represents a monovalent group,

n6은 0 내지 10의 정수이다.n6 is an integer of 0 to 10;

화학식 6에 있어서, R61은 1가의 기를 나타내고, R61은 화학식 1에 있어서의 R11과 같다.In the general formula (6), R 61 represents a monovalent group, and R 61 is the same as R 11 in the general formula (1).

화학식 6에 있어서, n6은 0 내지 10의 정수를 나타내고, n6은 화학식 3에 있어서의 n3과 같다.In the formula (6), n6 represents an integer of 0 to 10, and n6 is the same as n3 in the formula (3).

(A) 성분의 시판품으로서는, 예를 들면, 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「ESN375」,「SN395」, DIC사 제조의「HP4032」,「HP4032D」,「HP4032SS」,「HP4032H」,「HP4700」,「HP4710」, 니혼가야쿠사 제조의「NC3500」등을 들 수 있다.Examples of commercially available products of the component (A) include "ESN375", "SN395", "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS", "HP4032H", "HP4700 , &Quot; HP4710 &quot;, and &quot; NC3500 &quot; manufactured by Nihon Kayaku Co.,

(A) 성분으로서의 방향족 탄화수소 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The aromatic hydrocarbon resin as the component (A) may be used singly or in combination of two or more kinds.

(A) 성분의 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가 에폭시기를 함유하는 경우, (A) 성분의 에폭시 당량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 50 내지 5,000g/eq., 보다 바람직하게는 50 내지 3,000g/eq., 더욱 바람직하게는 80 내지 2,000g/eq., 보다 더 바람직하게는 90 내지 1,000g/eq.이다. 에폭시 당량은, 1당량의 에폭시기를 함유하는 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K 7236에 따라 측정할 수 있다.When the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring of the component (A) contains an epoxy group, the epoxy equivalent of the component (A) is preferably from 50 to 5,000 g / eq., more preferably 50 to 3,000 g / eq., more preferably 80 to 2,000 g / eq., even more preferably 90 to 1,000 g / eq. The epoxy equivalent is the mass of the resin containing one equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JIS K 7236.

(A) 성분의 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가 수산기를 함유하는 경우, (A) 성분의 수산기 당량은, 수지 조성물층의 경화물로서의 절연층의 가교 밀도를 높이는 관점, 및 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 50g/eq. 이상, 보다 바람직하게는 60g/eq. 이상, 더욱 바람직하게는 70g/eq. 이상이며, 또한, 바람직하게는 250g/eq. 이하, 보다 바람직하게는 150g/eq. 이하, 특히 바람직하게는 120g/eq. 이하이다. 수산기 당량은, 1당량의 수산기를 함유하는 수지의 질량이다.When the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring of the component (A) contains a hydroxyl group, the hydroxyl equivalent of the component (A) is preferably from the viewpoint of increasing the crosslinking density of the insulating layer as the cured product of the resin composition layer, From the viewpoint of achieving a desired effect of the present invention, preferably 50 g / eq. Or more, more preferably 60 g / eq. More preferably 70 g / eq. And more preferably 250 g / eq. More preferably 150 g / eq. Particularly preferably 120 g / eq. Or less. The hydroxyl equivalent is the mass of the resin containing one equivalent of hydroxyl groups.

또한, (A) 성분의 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가 수산기를 함유하는 경우, (C) 에폭시 수지의 에폭시기 수를 1로 한 경우, (A) 성분의 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기 수는, 스미어 제거성이 보다 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 바람직하게는 1 이상, 보다 바람직하게는 5 이상, 더욱 바람직하게는 10 이상이며, 바람직하게는 30 이하, 보다 바람직하게는 25 이하, 더욱 바람직하게는 20 이하이다. 여기서,「(C) 에폭시 수지의 에폭시기 수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 (C) 성분의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모두 합계한 값이다. 또한,「(A) 성분의 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기 수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 (A) 성분의 불휘발 성분의 질량을, 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기의 당량으로 나눈 값을 모두 합계한 값이다.When the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring of the component (A) contains a hydroxyl group and the number of epoxy groups of the epoxy resin (C) is 1, the oxygen atom bonded to the aromatic ring of the component (A) Is preferably 1 or more, more preferably 5 or more, further preferably 10 or more, preferably 30 or less, still more preferably 30 or less, still more preferably 30 or less, Is 25 or less, more preferably 20 or less. Here, the "epoxy group number of the epoxy resin (C)" is a value obtained by dividing the mass of the nonvolatile component of the component (C) present in the resin composition by the epoxy equivalent. The term "a group containing an oxygen atom bonded to an aromatic ring of the component (A)" refers to a group containing an oxygen atom that bonds an aromatic ring to the aromatic ring, And the value divided by the equivalent of the group.

(A) 성분의 함유량은, 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.5질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.8질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상이며, 바람직하게는 15질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 8질량% 이하 또는 5질량% 이하이다.The content of the component (A) is preferably 0.5% by mass or more, more preferably 0.8% by mass or more, more preferably 0.8% by mass or more, More preferably not less than 1% by mass, preferably not more than 15% by mass, more preferably not more than 10% by mass, further preferably not more than 8% by mass or not more than 5% by mass.

또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다.In the present invention, the content of each component in the resin composition is a value obtained by assuming that the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, unless otherwise specified.

또한, (A) 성분의 함유량은, 스미어 제거성이 보다 우수한 경화물을 얻는 관점에서, (A) 성분 및 후술하는 (C) 에폭시 수지의 합계 함유량을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 2질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 15질량% 이상이며, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하이다.The content of the component (A) is preferably from 2% by mass, more preferably from 2% by mass, based on 100% by mass of the total content of the component (A) and the epoxy resin (C) described below from the viewpoint of obtaining a cured product having superior smear- More preferably 5 mass% or more, further preferably 15 mass% or more, preferably 50 mass% or less, more preferably 40 mass% or less, still more preferably 30 mass% or less.

<(B) 활성 에스테르계 경화제><(B) Active ester-based curing agent>

수지 조성물은 (B) 활성 에스테르계 경화제를 함유한다. 활성 에스테르계 경화제를 사용하면, 통상 유전 정접을 낮게 할 수 있는 한편, 스미어 제거성이 떨어진다. 그러나, 본 발명의 수지 조성물은 (A) 성분을 함유하기 때문에, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물을 얻는 것이 가능해진다.The resin composition contains (B) an active ester-based curing agent. When the active ester type curing agent is used, the dielectric tangent can be generally lowered and the smear removal property is lowered. However, since the resin composition of the present invention contains the component (A), it becomes possible to obtain a resin composition capable of lowering the dielectric loss tangent and obtaining a cured product excellent in smear removal property.

(B) 활성 에스테르계 경화제로서는, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 상기 활성 에스테르계 경화제는, 카르복실산 화합물 및/또는 티오카르복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카르복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하며, 카르복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카르복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 여기서,「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.Examples of the active ester curing agent (B) generally include ester groups having high reactivity, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds, Are preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound. From the viewpoint of heat resistance improvement, an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, pyromellitic acid and the like. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalein, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o- Cresol, catechol, alpha -naphthol, beta -naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzene triol, dicyclopentadiene type diphenol compounds, phenol novolak, and the like. Here, the "dicyclopentadiene type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol in one dicyclopentadiene molecule.

구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제, 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하며, 이 중에서도 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르계 경화제, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하며, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제가 더욱 바람직하다. 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어지는 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specifically, there may be mentioned a dicyclopentadiene type active ester type curing agent, an active ester type curing agent containing a naphthalene structure, an active ester type curing agent containing an acetylated phenol novolac, an active ester type Among them, an active ester type curing agent containing a naphthalene structure and a dicyclopentadiene type active ester type curing agent are more preferable, and a dicyclopentadiene type active ester type curing agent is more preferable. As the dicyclopentadiene type active ester type curing agent, an active ester type curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure is preferable. The "dicyclopentadiene type diphenol structure" refers to a divalent structural unit comprising phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

(B) 활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서,「EXB9451」,「EXB9460」,「EXB9460S」,「HPC-8000-65T」,「HPC-8000H-65TM」,「EXB8000L-65TM」(DIC사 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서「EXB8150-60T」,「EXB9416-70BK」(DIC사 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르계 경화제로서「DC808」(미쯔비시케미칼사 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르계 경화제로서「YLH1026」(미쯔비시케미칼사 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서「DC808」(미쯔비시케미칼사 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서「YLH1026」(미쯔비시케미칼사 제조), 「YLH1030」(미쯔비시케미칼사 제조), 「YLH1048」(미쯔비시케미칼사 제조) 등을 들 수 있다.(EXB9451), EXB9460, EXB9460S, HPC-8000-65T, HPC-8000-65T and HPC-8000-65T as active ester curing agents containing a dicyclopentadiene type diphenol structure as commercially available products of the active ester curing agent (B) EXB8150-60T "," EXB9416-70BK "(manufactured by DIC) as an active ester curing agent containing a naphthalene structure, acetylated products of phenol novolak Quot; DC808 &quot; (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester-based curing agent and YLH1026 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corp.) as an active ester-based curing agent containing a benzoylate of phenol novolak, , "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) and "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) were used as the ester- based curing agent, "DC808" Mitsu When the like Chemical Company).

(B) 활성 에스테르계 경화제와 (A) 및 (C) 성분의 양비는, [(A) 및 (C) 성분의 에폭시기의 합계 수]:[활성 에스테르계 경화제의 반응기의 합계 수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:5의 범위가 바람직하며, 1:0.05 내지 1:2가 보다 바람직하며, 1:0.1 내지 1:1.8이 더욱 바람직하다. 여기서, 활성 에스테르계 경화제의 반응기란, 활성 에스테르기이다. 또한, (A) 및 (C) 성분의 에폭시기의 합계 수란, 각 성분의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모두 합계한 값이며, 활성 에스테르계 경화제의 반응기의 합계 수란, 각 활성 에스테르계 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 활성 에스테르계 경화제에 관해서 합계한 값이다. 에폭시 수지와 활성 에스테르계 경화제의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.(A) and (C): the total number of epoxy groups of the components (A) and (C): the total number of reactors of the active ester-based curing agent] , Preferably in the range of 1: 0.01 to 1: 5, more preferably 1: 0.05 to 1: 2, and even more preferably 1: 0.1 to 1: 1.8. Here, the reactive ester curing agent is an active ester group. The total number of epoxy groups in the components (A) and (C) means the value obtained by dividing the solid mass of each component by the epoxy equivalent. The total number of reactors of the active ester type curing agent and the total number of active ester type curing agents The value obtained by dividing the mass of the solid component by the equivalent of the reactor in terms of all the active ester-based curing agents. By setting the ratio of the epoxy resin and the active ester type curing agent to this range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

(B) 활성 에스테르계 경화제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 또한, 상한은 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 더욱 바람직하게는 15질량% 이하이다. (B) 성분의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 스미어 제거성이 우수한 경화물을 얻는 것이 가능해진다.The content of the active ester curing agent (B) in the resin composition is preferably 1% by mass or more, more preferably 3% by mass or more, further preferably 5% by mass or more, based on 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition to be. The upper limit is preferably 30 mass% or less, more preferably 20 mass% or less, further preferably 15 mass% or less. By making the content of the component (B) fall within this range, it becomes possible to obtain a cured product having excellent smear removal properties.

<(C) 에폭시 수지>&Lt; (C) Epoxy resin >

수지 조성물은 (C) 에폭시 수지를 함유할 수 있다. 단, (C) 성분으로부터는, (A) 성분에 해당하는 것은 제외한다.The resin composition may contain (C) an epoxy resin. However, the component (C) is not limited to the component (A).

(C) 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the epoxy resin (C) include epoxy resins such as bicalcylenol type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, A phenol type epoxy resin, a naphthol novolak type epoxy resin, a phenol novolak type epoxy resin, a tert-butyl catechol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, , Glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring containing epoxy resin, Cyclohexane type epoxy resin, cyclohexane dimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin Trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethan type epoxy resin, and the like. One type of epoxy resin may be used alone, or two or more types may be used in combination.

수지 조성물은, (C) 에폭시 수지로서, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, (C) 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.The resin composition preferably contains (C) an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule as the epoxy resin. From the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to (C) 100% by mass of the nonvolatile component of the epoxy resin is preferably 50% by mass or more, More preferably not less than 60% by mass, particularly preferably not less than 70% by mass.

에폭시 수지에는, 온도 20℃에서 액상인 에폭시 수지(이하,「액상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있다)와, 온도 20℃에서 고체상인 에폭시 수지(이하,「고체 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있다)가 있다. 수지 조성물은, (C) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지만을 함유하고 있어도 좋고, 고체상 에폭시 수지만을 함유하고 있어도 좋지만, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 함유하는 것이 바람직하다. (C) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용함으로써, 수지 조성물층의 가요성을 향상시키거나, 수지 조성물층의 경화물의 파단 강도를 향상시킬 수 있다.The epoxy resin includes epoxy resin (hereinafter sometimes referred to as &quot; liquid epoxy resin &quot;) which is liquid at a temperature of 20 占 폚, epoxy resin which is solid at 20 占 폚 . The resin composition may contain only liquid epoxy resin (C) as the epoxy resin, or may contain only solid epoxy resin, but it is preferable that the resin composition contains a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin. (C) When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, the flexibility of the resin composition layer can be improved or the breaking strength of the cured product of the resin composition layer can be improved.

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하며, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 액상 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 여기서,「방향족계」의 에폭시 수지란, 그 분자 내에 방향환을 갖는 에폭시 수지를 의미한다.As the liquid epoxy resin, a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable, and an aromatic liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more preferable. Here, the "aromatic-based" epoxy resin means an epoxy resin having an aromatic ring in its molecule.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하며, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지 및 사이클로헥산형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin , An alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexane-type epoxy resin, a cyclohexane dimethanol-type epoxy resin, a glycidylamine-type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and bisphenol A- F type epoxy resin and cyclohexane type epoxy resin are more preferable.

액상 에폭시 수지의 구체예로서는, 미쯔비시케미칼사 제조의「828US」,「jER828EL」,「825」,「에피코트828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「jER807」,「1750」(비스페놀 F형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「630」,「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지); 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세켐텍스사 제조의「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의「세록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「ZX1658」,「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Specific examples of the liquid epoxy resin include "828US", "jER828EL", "825", "Epikote 828EL" (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "JER807" and "1750" (bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "JER152" (phenol novolak type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; 630 &quot;, &quot; 630LSD &quot; (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; ZX1059 &quot; (a mixture of a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd.; EX-721 &quot; (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase ChemteX Corporation; "SEROCIDE 2021P" (an alicyclic epoxy resin having an ester skeleton) manufactured by DICEL Corporation; &Quot; PB-3600 &quot; (epoxy resin having a butadiene structure) manufactured by Daicel Company; ZX1658 &quot; and &quot; ZX1658GS &quot; (liquid 1,4-glycidyl cyclohexane type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하며, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As the solid epoxy resin, a solid epoxy resin having three or more epoxy groups in a molecule is preferable, and an aromatic solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프탈렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하며, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 및 나프틸렌에테르형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the solid epoxy resin include epoxy resins such as bicalcylenol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, naphthalene type tetrafunctional epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, A bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol AF type epoxy resin and a tetraphenyl ethane type epoxy resin are preferable, and a biscylenol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a bisphenol type epoxy resin, a bisphenol type epoxy resin, AF type epoxy resin, and naphthylene ether type epoxy resin are more preferable.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의「HP-7200」,「HP-7200HH」,「HP-7200H」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의「EXA-7311」,「EXA-7311-G3」,「EXA-7311-G4」,「EXA-7311-G4S」,「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 니혼가야쿠사 제조의「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 니혼가야쿠사 제조의「NC7000L」(나프톨노볼락형 에폭시 수지); 니혼가야쿠사 제조의「NC3000H」,「NC3000」,「NC3000L」,「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「ESN475V」(나프톨형 에폭시 수지); 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「YX4000H」,「YX4000」,「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 오사카가스케미칼사 제조의「PG-100」,「CG-500」; 미쯔비시케미칼사 제조의「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Specific examples of the solid epoxy resin include &quot; N-690 &quot; (cresol novolak type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolak type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "HP-7200", "HP-7200HH" and "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; EPPN-502H &quot; (trisphenol type epoxy resin) manufactured by Nihon Kayakusa; NC7000L &quot; (naphthol novolak type epoxy resin) manufactured by Nihon Kayakusa; "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Nihon Kayakusa; "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd.; "ESN485" (naphthol novolak type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd.; "YX4000H", "YX4000", and "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; &Quot; YX4000HK &quot; (biquileneol type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; &Quot; YX8800 &quot; (anthracene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "PG-100" and "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd.; "YL7760" (Bisphenol AF type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "YL7800" (fluorene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; &Quot; jER1010 &quot; (solid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; And &quot; jER1031S &quot; (tetraphenyl ethane type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. These may be used singly or in combination of two or more.

(C) 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용하는 경우, 이들의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 바람직하게는 1:1 내지 1:20, 보다 바람직하게는 1:1 내지 1:15, 특히 바람직하게는 1:1 내지 1:10이다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비가 이러한 범위에 있음으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻을 수 있다. 또한, 통상적으로는, 수지 시트 형태로 사용하는 경우에, 적당한 점착성이 초래된다. 또한, 통상적으로는, 수지 시트 형태로 사용하는 경우에 충분한 가요성이 얻어져, 취급성이 향상된다. 또한, 통상적으로는, 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.(C) When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as an epoxy resin, the ratio of these amounts (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably 1: 1 to 1:20, more preferably 1: 1 to 1:15, particularly preferably 1: 1 to 1:10. The amount ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin falls within this range, and the desired effect of the present invention can be obtained remarkably. Further, usually, when used in the form of a resin sheet, appropriate tackiness is caused. Further, in general, when used in the form of a resin sheet, sufficient flexibility is obtained and handling is improved. Usually, a cured product having sufficient breaking strength can be obtained.

(C) 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 5,000g/eq., 보다 바람직하게는 50 내지 3,000g/eq., 더욱 바람직하게는 80 내지 2,000g/eq., 보다 더 바람직하게는 110 내지 1,000g/eq.이다. 이러한 범위가 됨으로써, 수지 조성물층의 경화물의 가교 밀도가 충분해져, 표면 거칠기가 작은 절연층을 초래할 수 있다. 에폭시 당량은, 1당량의 에폭시기를 포함하는 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있다.The epoxy equivalent of the epoxy resin (C) is preferably 50 to 5,000 g / eq., More preferably 50 to 3,000 g / eq., Further preferably 80 to 2,000 g / eq. 110 to 1,000 g / eq. With such a range, the cross-linking density of the cured product of the resin composition layer becomes sufficient, and an insulating layer having a small surface roughness may be caused. The epoxy equivalent is the mass of the resin containing one equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.

(C) 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 100 내지 5,000, 보다 바람직하게는 250 내지 3,000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1,500이다.The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin (C) is preferably 100 to 5,000, more preferably 250 to 3,000, and still more preferably 400 to 1,500 from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention.

수지의 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해, 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.The weight average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by a gel permeation chromatography (GPC) method.

수지 조성물이 (C) 에폭시 수지를 함유하는 경우, (C) 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 특히 바람직하게는 20질량% 이하이다.In the case where the resin composition contains the epoxy resin (C), the content of the epoxy resin (C) is preferably in the range of 100 mass% or less in terms of the nonvolatile component in the resin composition from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability , Preferably not less than 1% by mass, more preferably not less than 3% by mass, and further preferably not less than 5% by mass. The upper limit of the content of the epoxy resin is preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, particularly preferably 20% by mass or less from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention remarkably.

<(D) 무기 충전재><(D) Inorganic filler>

수지 조성물은 (D) 무기 충전재를 함유할 수 있다. 무기 충전재의 재료로서는 무기 화합물을 사용한다. 무기 충전재의 재료의 예로서는, 실리카, 알루미나, 유리, 코디어라이트, 실리콘 산화물, 황산바륨, 탄산바륨, 활석, 클레이, 운모 분말, 산화아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무스, 산화티탄, 산화지르코늄, 티탄산바륨, 티탄산지르콘산바륨, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산텅스텐산지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는, 구상 실리카가 바람직하다. (D) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition may contain (D) an inorganic filler. An inorganic compound is used as a material of the inorganic filler. Examples of the material of the inorganic filler include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, Calcium carbonate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium titanate zirconate, zirconium titanate, zirconium titanate, zirconium oxide, zirconium oxide, Barium oxide, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Of these, silica is particularly suitable. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica and the like. As the silica, spherical silica is preferable. The inorganic filler (D) may be used singly or in combination of two or more kinds.

(D) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 신닛테츠스미킨마테리알즈사 제조의「SP60-05」,「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의「YC100C」,「YA050C」,「YA050C-MJE」,「YA010C」; 덴카사 제조의「UFP-30」; 토쿠야마사 제조의「실필NSS-3N」,「실필NSS-4N」,「실필NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의「SC2500SQ」,「SO-C4」,「SO-C2」,「SO-C1」 등을 들 수 있다.Examples of the commercially available inorganic filler (D) include "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Materials Co., Ltd.; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE" and "YA010C" manufactured by Adomatex Co., "UFP-30" manufactured by Denka Corporation; "Silphil NSS-3N", "Silphil NSS-4N" and "Silpil NSS-5N" manufactured by Tokuyama Corporation; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2" and "SO-C1" manufactured by Adomatex Co., Ltd.

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.1㎛ 이상이며, 바람직하게는 5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 2㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1㎛ 이하이다.The average particle diameter of the inorganic filler (D) is preferably at least 0.01 탆, more preferably at least 0.05 탆, particularly preferably at least 0.1 탆, from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention remarkably, 5 mu m or less, more preferably 2 mu m or less, and further preferably 1 mu m or less.

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 이의 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100㎎, 분산제(산노프코사 제조「SN9228」) 0.1g, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 측정하여 넣고, 초음파로 20분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치(시마즈세사쿠쇼사 제조「SALD-2200」)를 사용하여, 회분 셀 방식으로 입자 직경 분포를 측정하고, 메디안 직경으로서 평균 입자 직경을 산출하였다.The average particle diameter of the inorganic filler (D) can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle diameter distribution of the inorganic filler can be measured by using a laser diffraction scattering particle diameter distribution measuring apparatus, and the median diameter of the inorganic filler is determined based on the volume, and the average particle diameter can be measured. As a measurement sample, 100 mg of inorganic filler, 0.1 g of dispersant ("SN9228" manufactured by Sanofuco) and 10 g of methyl ethyl ketone were placed in a vial bottle and dispersed by ultrasonic wave for 20 minutes. The measurement sample was measured for particle diameter distribution in a batch cell system using a laser diffraction particle diameter distribution analyzer (&quot; SALD-2200 &quot; manufactured by Shimadzu Corporation), and the average particle diameter as a median diameter was calculated.

(D) 무기 충전재의 비표면적은, 비아홀 형상의 컨트롤을 용이하게 하여 양호한 형상을 실현하는 관점에서, 바람직하게는 1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 2㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 5㎡/g 이상이다. 상한은 특별한 제한은 없지만, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 50㎡/g 이하 또는 40㎡/g 이하이다. 무기 충전재의 비표면적은, BET법에 의해 측정할 수 있다.The specific surface area of the inorganic filler (D) is preferably 1 m 2 / g or more, more preferably 2 m 2 / g or more, particularly preferably 5 m 2 / g or more, from the viewpoint of facilitating the control of the via- Lt; 2 &gt; / g or more. The upper limit is not particularly limited, but is preferably 60 m 2 / g or less, 50 m 2 / g or less, or 40 m 2 / g or less. The specific surface area of the inorganic filler can be measured by the BET method.

(D) 무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들면, 불소 함유 실란커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.The inorganic filler (D) is preferably treated with a surface treatment agent from the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. Examples of the surface treatment agent include a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, an epoxy silane coupling agent, a mercaptosilane coupling agent, a silane coupling agent, an alkoxysilane, an organosilazane compound, LINGER, and the like. The surface treatment agent may be used singly or in combination of two or more kinds.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교사 제조「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠가가쿠고교사 제조「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.Examples of commercial products of surface treatment agents include KBM403 (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM803 (3-mercaptopropyltrimethoxy silane manufactured by Shin- Silane), KBE903 (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM573 (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin- KBM103 "(phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.," KBM-4803 "manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (long-chain epoxy silane couple , KBM-7103 (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and the like.

표면 처리제에 의한 표면 처리 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량부는, 0.2 내지 5질량부의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하며, 0.2 내지 3질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하며, 0.3 내지 2질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다.The degree of surface treatment by the surface treatment agent is preferably within a predetermined range from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. Specifically, 100 parts by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with 0.2 to 5 parts by mass of the surface-treating agent, preferably 0.2 to 3 parts by mass, preferably 0.3 to 2 parts by mass Do.

표면 처리제에 의한 표면 처리 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02㎎/㎡ 이상이 바람직하며, 0.1㎎/㎡ 이상이 보다 바람직하며, 0.2㎎/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니쉬의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1㎎/㎡ 이하가 바람직하며, 0.8㎎/㎡ 이하가 보다 바람직하며, 0.5㎎/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably at least 0.02 mg / m 2, more preferably at least 0.1 mg / m 2, and most preferably at least 0.2 mg / m 2 from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. On the other hand, it is preferably 1 mg / m 2 or less, more preferably 0.8 mg / m 2 or less, still more preferably 0.5 mg / m 2 or less from the viewpoint of suppressing the increase of the melt viscosity and the melt viscosity in the sheet form of the resin varnish .

무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 가하고, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바세사쿠쇼사 제조「EMIA-320V」등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent and ultrasonically cleaned at 25 占 폚 for 5 minutes. After the supernatant is removed and the solid content is dried, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd. and the like can be used.

수지 조성물이 (D) 무기 충전재를 함유하는 경우, (D) 무기 충전재의 함유량은, 절연층의 유전 정접을 낮게 하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 더욱 바람직하게는 65질량% 이상이며, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 85질량% 이하, 더욱 바람직하게는 80질량% 이하이다.When the resin composition (D) contains an inorganic filler, the content of the inorganic filler (D) is preferably 50 mass% or more, more preferably 50 mass% or less, More preferably 60 mass% or more, further preferably 65 mass% or more, preferably 90 mass% or less, more preferably 85 mass% or less, further preferably 80 mass% or less.

<(E) 경화제><(E) Curing agent>

수지 조성물은 (E) 경화제를 함유할 수 있다. 단, (B) 활성 에스테르계 경화제는 (E) 경화제에 포함시키지 않는다. (E) 경화제로서는, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 절연 신뢰성을 향상시키는 관점에서, (E) 경화제는, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 중 어느 1종 이상인 것이 바람직하며, 페놀계 경화제를 함유하는 것이 보다 바람직하다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.The resin composition may contain (E) a curing agent. However, the active ester-based curing agent (B) is not included in the curing agent (E). Examples of the curing agent (E) include a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent, and a carbodiimide-based curing agent. Among them, from the viewpoint of improving the insulation reliability, the (E) curing agent is preferably at least one of a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent, and a carbodiimide-based curing agent, Or more. The curing agent may be used singly or in combination of two or more kinds.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하며, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다.As the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoints of heat resistance and water resistance. From the viewpoint of adhesion with the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a phenazine-based curing agent containing a triazine skeleton is more preferable.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 쇼와가세이사 제조의「MEH-7700」,「MEH-7810」,「MEH-7851」, 니혼가야쿠사 제조의「NHN」,「CBN」,「GPH」, 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「SN170」,「SN180」,「SN190」,「SN475」,「SN485」,「SN495」,「SN-495V」,「SN375」,「SN395」, DIC사 제조의「TD-2090」,「LA-7052」,「LA-7054」,「LA-1356」,「LA-3018-50P」,「EXB-9500」등을 들 수 있다.Specific examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Showa Kasei Co., Ltd., "NHN" SN375 "," SN495 "," SN-495V "," SN375 "," SN395 "," SN375 "," TD-2090 "," LA-7052 "," LA-7054 "," LA-1356 "," LA-3018-50P "and" EXB-9500 "manufactured by DIC Corporation.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와코훈시사 제조의「HFB2006M」, 시코쿠가세이고교사 제조의「P-d」,「F-a」를 들 수 있다.Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa Kokohoshi Co., Ltd., "P-d" manufactured by Shikoku Chemicals, and "F-a".

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프레폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자재팬사 제조의「PT30」및「PT60」(페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지),「ULL-950S」(다관능 시아네이트에스테르 수지),「BA230」,「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프레폴리머) 등을 들 수 있다. Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'- Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1- Cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis Bifunctional cyanate resins derived from phenolic novolacs and cresol novolacs such as bis (4-cyanophenyl) thioether and bis (4-cyanate phenyl) ether, and polyfunctional cyanate resins derived from these cyanate resins, And prepolymers. Specific examples of the cyanate ester curing agent include "PT30" and "PT60" (phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin), "ULL-950S" (multifunctional cyanate ester resin), "BA230 , &Quot; BA230S75 &quot; (a prepolymer obtained by trimerizing a part or all of bisphenol A dicyanate to form a trimer), and the like.

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛세이보케미칼사 제조의「V-03」,「V-07」등을 들 수 있다.Specific examples of the carbodiimide-based curing agent include "V-03" and "V-07" manufactured by Nissui Chemical Industries, Ltd.

수지 조성물이, (E) 경화제를 함유하는 경우, (A) 및 (C) 성분과 (E) 경화제의 양비는, [(A) 및 (C) 성분의 에폭시기의 합계 수]:[경화제의 반응기의 합계 수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:2의 범위가 바람직하며, 1:0.01 내지 1:1이 보다 바람직하며, 1:0.03 내지 1:0.5가 더욱 바람직하다. 여기서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기 등이며, 경화제의 종류에 따라 상이하다. 경화제의 반응기의 합계 수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 관해서 합계한 값이다. (A) 및 (C) 성분과 경화제의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.When the resin composition contains (E) a curing agent, the ratio of the amounts of the components (A) and (C) and the curing agent (E) is such that the total number of epoxy groups of the components (A) and Is preferably in the range of 1: 0.01 to 1: 2, more preferably 1: 0.01 to 1: 1, further preferably 1: 0.03 to 1: 0.5. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group or the like, which differs depending on the kind of the curing agent. The total number of reactors of the curing agent, and the value obtained by dividing the solid content of each curing agent by the equivalent of the reactor, in terms of all the curing agents. By setting the ratio of the components (A) and (C) to the curing agent within this range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

수지 조성물이, (B) 활성 에스테르계 경화제 및 (E) 경화제를 함유하는 경우, (A) 및 (C) 성분과 (B) 활성 에스테르계 경화제 및 (E) 경화제의 양비는, [(A) 및 (C) 성분의 에폭시기의 합계 수]:[(B) 및 (E) 성분의 반응기의 합계 수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:5의 범위가 바람직하며, 1:0.05 내지 1:2가 보다 바람직하며, 1:0.1 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 이들 양비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.When the resin composition contains (B) the active ester type curing agent and (E) the curing agent, the ratio of the amounts of the components (A) and (C), (B) the active ester type curing agent, and (E) Is preferably in the range of 1: 0.01 to 1: 5, more preferably in the range of 1: 0.05 to 1: 5 in terms of the ratio of [the total number of epoxy groups of the component (B) and the component (E) 2, more preferably from 1: 0.1 to 1: 1. By setting these proportions to such a range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

수지 조성물이, (E) 경화제를 함유하는 경우, (E) 경화제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.3질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 3질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1질량% 이하이다. (E) 경화제의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.When the resin composition contains (E) a curing agent, the content of the (E) curing agent is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.3% by mass or more, Or more, and more preferably 0.5 mass% or more. The upper limit is preferably 5 mass% or less, more preferably 3 mass% or less, further preferably 1 mass% or less. When the content of the (E) curing agent is within this range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

<(F) 열가소성 수지>&Lt; (F) Thermoplastic resin >

수지 조성물은 (F) 열가소성 수지를 함유할 수 있다. (F) 성분으로서의 열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점, 및 표면 거칠기가 작고 도체층과의 밀착성이 특히 우수한 절연층을 얻는 관점에서, 페녹시 수지가 바람직하다. 또한, 열가소성 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition may contain (F) a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin as the component (F) include phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, polyolefin resins, polybutadiene resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyetherimide resins, polysulfone resins, Resins, polyphenylene ether resins, polycarbonate resins, polyether ether ketone resins, and polyester resins. Of these, a phenoxy resin is preferable from the standpoint of obtaining a desired effect of the present invention remarkably and from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a small surface roughness and excellent adhesion to a conductor layer. The thermoplastic resin may be used singly or in combination of two or more kinds.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 골격, 비스페놀 F 골격, 비스페놀 S 골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종류 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다.Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, A phenoxy resin having at least one skeleton selected from the group consisting of a skeleton, an anthracene skeleton, an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a trimethyl cyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group.

페녹시 수지의 구체예로서는, 미쯔비시케미칼사 제조의「1256」및「4250」(어느 것이라도 비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지임); 미쯔비시케미칼사 제조의「YX8100」(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지); 미쯔비시케미칼사 제조의「YX6954」(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지); 신닛테츠스미킨가가쿠사 제조의「FX280」및「FX293」; 미쯔비시케미칼사 제조의「YL7500BH30」,「YX6954BH30」,「YX7553」,「YX7553BH30」,「YL7769BH30」,「YL6794」,「YL7213」,「YL7290」및「YL7482」 등을 들 수 있다.Specific examples of the phenoxy resin include &quot; 1256 &quot; and &quot; 4250 &quot; (both of which are bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX8100" (phenoxy resin containing bisphenol S skeleton) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX6954" (a phenoxy resin containing a bisphenol acetophenone skeleton) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; FX280 &quot; and &quot; FX293 &quot; manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku; YL7500BH30 "," YX6954BH30 "," YX7553 "," YX7553BH30 "," YL7769BH30 "," YL6794 "," YL7213 "," YL7290 ", and" YL7482 "manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

폴리비닐아세탈 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐포르말 수지, 폴리비닐부티랄 수지를 들 수 있으며, 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키가가쿠고교사 제조의「덴카부티랄 4000-2」,「덴카부티랄 5000-A」,「덴카부티랄 6000-C」,「덴카부티랄 6000-EP」; 세키스이가가쿠고교사 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈(예를 들면 BX-5Z), KS 시리즈(예를 들면 KS-1), BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다.Examples of the polyvinyl acetal resin include a polyvinyl formal resin and a polyvinyl butyral resin, and a polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include "Denkabutilal 4000-2", "Denkabutilal 5000-A", "Denkabutilal 6000-C" and "Denkabutilal 6000-EP" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., ; (For example, BX-5Z), KS series (for example, KS-1), BL series, and BM series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신니혼리카사 제조의「리카코트 SN20」및「리카코트 PN20」을 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는 또한, 2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 선상 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호에 기재된 폴리이미드), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2000-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재된 폴리이미드) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다.Specific examples of the polyimide resin include "Rika coat SN20" and "Rika coat PN20" manufactured by Shin-Nihon Rika Co., Ltd. Specific examples of the polyimide resin include a linear polyimide (polyimide described in JP-A 2006-37083) obtained by reacting a bifunctional hydroxyl-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride, a polysiloxane And modified polyimides such as skeleton-containing polyimide (Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2000-12667 and Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-319386, etc.).

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보사 제조의「바이로맥스 HR11NN」및「바이로맥스 HR16NN」을 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는 또한, 히타치가세이사 제조의「KS9100」,「KS9300」(폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드) 등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다.Specific examples of the polyamide-imide resin include "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamide-imide resin include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" (polysiloxane skeleton-containing polyamideimide) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

폴리에테르설폰 수지의 구체예로서는, 스미토모가가쿠사 제조의「PES5003P」등을 들 수 있다.Specific examples of the polyethersulfone resin include "PES 5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., and the like.

폴리페닐렌에테르 수지의 구체예로서는, 미쯔비시가스가가쿠사 제조의 올리고페닐렌에테르·스티렌 수지「OPE-2St 1200」등을 들 수 있다.Specific examples of the polyphenylene ether resin include an oligophenylene ether styrene resin "OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., and the like.

폴리설폰 수지의 구체예로서는, 솔베이어드밴스트폴리머즈사 제조의 폴리설폰「P1700」,「P3500」등을 들 수 있다.Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

(F) 열가소성 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 8,000 이상, 보다 바람직하게는 10,000 이상, 특히 바람직하게는 20,000 이상이며, 바람직하게는 70,000 이하, 보다 바람직하게는 60,000 이하, 특히 바람직하게는 50,000 이하이다.The weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin (F) is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention remarkably, Preferably 70,000 or less, more preferably 60,000 or less, particularly preferably 50,000 or less.

수지 조성물이 (F) 열가소성 수지를 함유하는 경우, (F) 열가소성 수지의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.2질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.3질량% 이상이며, 바람직하게는 1.5질량% 이하, 보다 바람직하게는 1질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이하이다.In the case where the resin composition contains (F) a thermoplastic resin, the content of the thermoplastic resin (F) is preferably in the range of from 100% by mass to 100% by mass in the resin composition from the viewpoint of obtaining the desired effect of the present invention Is preferably 0.1 mass% or more, more preferably 0.2 mass% or more, further preferably 0.3 mass% or more, preferably 1.5 mass% or less, more preferably 1 mass% or less, further preferably 0.5 mass% to be.

<(G) 경화 촉진제><(G) Curing accelerator>

수지 조성물은 (G) 경화 촉진제를 함유할 수 있다. (G) 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하며, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition may contain (G) a curing accelerator. Examples of the (G) curing accelerator include phosphorus hardening accelerator, amine hardening accelerator, imidazole hardening accelerator, guanidine hardening accelerator, metal hardening accelerator and the like. Among them, a phosphorus hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are preferable, and an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are more preferable. The curing accelerator may be used singly or in combination of two or more kinds.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있으며, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of phosphorus hardening accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate, and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자바이사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있으며, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자바이사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) -Diazabicyclo (5,4,0) undecene, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferred.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리메리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리메리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피로로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있으며, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl- Benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl- 4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- Trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] -ethyl-s-triazine, 2,4- diamino-6- [ Imidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl- , 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3- Dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and 2-phenylimidazoline An imidazole compound, and an adduct of an imidazole compound and an epoxy resin, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 미쯔비시케미칼사 제조의「P200-H50」등을 들 수 있다.As the imidazole-based curing accelerator, commercially available products may be used, and for example, "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. and the like can be mentioned.

구이니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있으며, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, Guanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0 ] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1 , 1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide and 1- (o-tolyl) , 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 동, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산아연, 옥틸산주석, 나프텐산아연, 나프텐산코발트, 스테아르산주석, 스테아르산아연 등을 들 수 있다.Examples of the metal-based curing accelerator include organic metal complexes or organic metal salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin. Specific examples of the organometallic complexes include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, zinc An organic iron complex such as an organic zinc complex and iron (III) acetylacetonate, an organic nickel complex such as nickel (II) acetylacetonate, and an organic manganese complex such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate and zinc stearate.

수지 조성물이 (G) 경화 촉진제를 함유하는 경우, (G) 경화 촉진제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.05질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이상이며, 바람직하게는 3질량% 이하, 보다 바람직하게는 2질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1.5질량% 이하이다.When the resin composition contains a curing accelerator (G), the content of the curing accelerator (G) is preferably from 100% by mass to 100% by mass, Is preferably 0.01 mass% or more, more preferably 0.05 mass% or more, further preferably 0.1 mass% or more, preferably 3 mass% or less, more preferably 2 mass% or less, further preferably 1.5 mass% to be.

<(H) 임의의 첨가제>&Lt; (H) Optional additives >

수지 조성물은, 상기한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 임의의 첨가제를 추가로 함유하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들면, 유기 충전재; 유기 동 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물; 난연제, 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 착색제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다. 이들 첨가제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition may further contain, as optional components, optional additives in addition to the above components. Such additives include, for example, organic fillers; Organic metal compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds and organic cobalt compounds; A flame retardant, a thickener, a defoaming agent, a leveling agent, an adhesion promoter, and a colorant. These additives may be used singly or in combination of two or more kinds.

<수지 조성물의 물성, 용도>&Lt; Physical properties and uses of resin composition >

수지 조성물을 100℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화물은, 통상, 스미어 제거성이 우수하다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물에 비아홀을 형성해도, 비아홀 저부의 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만인 절연층을 초래한다. 스미어 제거성은, 후술하는 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermosetting the resin composition at 100 占 폚 for 30 minutes and then at 170 占 폚 for 30 minutes generally exhibits excellent smear removal properties. Therefore, even when a via hole is formed in the cured product, the maximum smear length of the via hole bottom portion is less than 5 탆. The smear removability can be measured by the method described in the following examples.

수지 조성물을 200℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 유전 정접이 낮다는 특성을 나타낸다. 따라서, 유전 정접이 낮은 절연층을 초래한다. 유전 정접으로서는, 바람직하게는 0.01 이하, 보다 바람직하게는 0.008 이하, 더욱 바람직하게는 0.005 이하이다. 하한은 특별히 한정되지 않지만, 0.0001 이상 등으로 할 수 있다. 유전 정접은, 후술하는 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermosetting the resin composition at 200 캜 for 90 minutes exhibits a low dielectric tangent. Thus, dielectric tangent results in an insulating layer with low electrical conductivity. The dielectric loss tangent is preferably 0.01 or less, more preferably 0.008 or less, and still more preferably 0.005 or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 0.0001 or more. The dielectric loss tangent can be measured by the method described in the following Examples.

본 발명의 수지 조성물은, 유전 정접이 낮으며, 스미어 제거성이 우수한 절연층을 초래할 수 있다. 따라서, 본 발명의 수지 조성물은, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있으며, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층용 수지 조성물)로서 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 초래하기 때문에, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention may result in an insulating layer having a low dielectric tangent and an excellent smear removal property. Therefore, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition (a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed circuit board) for forming an insulating layer of a multilayered printed circuit board, and a resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (A resin composition for an interlaminar insulating layer of a printed wiring board). Further, the resin composition of the present invention can be suitably used even in the case where the printed wiring board is a component built-in circuit board, because it results in an insulating layer having a good part filling property.

특히, 본 발명의 수지 조성물은, 유전 정접이 낮으며, 스미어 제거성이 우수한 절연층을 초래할 수 있기 때문에, 비아홀의 직경이 작은 절연층을 형성하는 것이 가능해진다. 따라서, 상기 수지 조성물은, 비아홀을 갖는 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하며, 이 중에서도, 톱 직경 35㎛ 이하의 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물, 절연층의 두께(㎛)와 톱 직경(㎛)의 종횡비(절연층의 두께/톱 직경)가 0.5 이상인 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물로서 특히 적합하다. 여기서, 용어「톱 직경」이란, 기판 위의 절연층에 비아홀을 형성했을 때, 비아홀의 기판과는 반대측에 형성된 개구의 최대 직경을 나타내며,「절연층의 두께」란, 절연층 전체의 두께, 즉, 비아의 깊이를 나타낸다.Particularly, since the resin composition of the present invention has a low dielectric tangent and can lead to an insulating layer excellent in smear removal property, it becomes possible to form an insulating layer having a small diameter of a via hole. Therefore, the resin composition is suitable as a resin composition (a resin composition for forming an insulating layer having a via hole) for forming an insulating layer having via holes, and among these, a resin for forming an insulating layer having a via- A composition, a resin composition for forming an insulating layer having a via hole having a thickness (mu m) of an insulating layer and an aspect ratio (thickness of an insulating layer / top diameter) of a top diameter (mu m) of 0.5 or more. Here, the term &quot; top diameter &quot; refers to the maximum diameter of the opening formed on the opposite side of the via hole to the substrate when a via hole is formed in the insulating layer on the substrate, and the &quot; thickness of the insulating layer &quot; That is, the depth of the via.

절연층의 두께(㎛)와 톱 직경(㎛)의 종횡비(절연층의 두께/톱 직경)로서는, 전자 기기의 소형화, 고성능화의 관점에서, 바람직하게는 0.5 이상, 보다 바람직하게는 0.6 이상, 더욱 바람직하게는 0.7 이상이며, 바람직하게는 3 이하, 보다 바람직하게는 2 이하, 더욱 바람직하게는 1 이하이다.The aspect ratio (insulating layer thickness / top diameter) of the insulating layer thickness (占 퐉) and the top diameter (占 퐉) is preferably 0.5 or more, more preferably 0.6 or more, Preferably 0.7 or more, preferably 3 or less, more preferably 2 or less, further preferably 1 or less.

[수지 시트][Resin sheet]

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 상기 지지체 위에 제공된, 본 발명의 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함한다.The resin sheet of the present invention comprises a support and a resin composition layer formed on the support and formed from the resin composition of the present invention.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 40㎛ 이하, 보다 바람직하게는 35㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 25㎛ 이하, 20㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 3㎛ 이상, 5㎛ 이상, 7㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 40 占 퐉 or less, more preferably 35 占 퐉 or less, further preferably 25 占 퐉 or less from the viewpoint of thinning the printed wiring board and providing a cured product having excellent insulating properties even in the form of a thin film , And 20 μm or less. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but may be usually 3 占 퐉 or more, 5 占 퐉 or more, 7 占 퐉 or more, or the like.

지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있으며, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박이 바람직하다.As the support, for example, a film made of a plastic material, a metal foil and a release paper can be mentioned, and a film or a metal foil made of a plastic material is preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어지는 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하,「PET」라고 약칭하는 경우가 있다), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하,「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있다) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하,「PC」라고 약칭하는 경우가 있다), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하며, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter may be abbreviated as "PET"), polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as "PEN" (Hereinafter may be abbreviated as "PC") and polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide PES), polyether ketone, polyimide, and the like. Of these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있으며, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 동의 단금속으로 이루어지는 박을 사용해도 좋고, 동와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티탄 등)과의 합금으로 이루어지는 박을 사용해도 좋다.In the case of using a metal foil as a support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a copper metal may be used, or a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리가 가해져 있어도 좋다.The support may be subjected to a matte treatment, a corona treatment, or an antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름이다. 린텍사 제조의「SK-1」,「AL-5」,「AL-7」, 토레사 제조의「루미라 T60」, 테이진사 제조의「퓨렉스」, 유니티카사 제조의「유니필」등을 들 수 있다.As the support, a support having a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer may be used. Examples of the release agent used for the release layer of the release layer-adhered support include at least one release agent selected from the group consisting of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin. The release layer-adhered support may be a commercially available product, and is, for example, a PET film having a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. SK-1 &quot;, &quot; AL-5 &quot;, &quot; AL-7 &quot;, Lumirra T60 manufactured by Toray Industries, Inc., Purex manufactured by Teijin Co., .

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5 내지 75㎛의 범위가 바람직하며, 10 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 to 75 탆, more preferably in the range of 10 to 60 탆. When a release layer-adhered support is used, it is preferable that the thickness of the entirety of the release layer-adhered support is in the above range.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는 필요에 따라, 기타 층을 추가로 포함하고 있어도 좋다. 이러한 기타 층으로서는, 예를 들면, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 설치된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면에 대한 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further include other layers as required. Examples of the other layer include a protective film based on a support provided on a surface of the resin composition layer not bonded to a support (that is, a surface opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 to 40 탆. By laminating a protective film, adhesion and scratches of dust or the like to the surface of the resin composition layer can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 조제하고, 이 수지 바니쉬를, 다이코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 다시 건조시켜 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.The resin sheet can be produced, for example, by preparing a resin varnish obtained by dissolving a resin composition in an organic solvent, coating the resin varnish on a support using a die coater or the like, and drying the resin varnish again to form a resin composition layer .

유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥산온 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류; 셀로솔브 및 부틸카르비톨 등의 카르비톨류; 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone; Acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; Carbitol such as cellosolve and butyl carbitol; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; And amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. The organic solvent may be used singly or in combination of two or more kinds.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시하면 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니쉬 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예를 들면 30 내지 60질량%의 유기 용제를 함유하는 수지 바니쉬를 사용하는 경우, 50 내지 150℃에서 3 내지 10분간 건조시킴으로써 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Drying may be carried out by a known method such as heating, hot air blowing, or the like. The drying conditions are not particularly limited, but the drying is carried out so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10 mass% or less, preferably 5 mass% or less. When a resin varnish containing, for example, 30 to 60% by mass of an organic solvent is used, it is dried at 50 to 150 ° C for 3 to 10 minutes to form a resin composition layer, depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish can do.

수지 시트는 롤상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 박리함으로써 사용 가능해진다.The resin sheet can be rolled up and stored. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling the protective film.

[프린트 배선판][Printed circuit board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함한다.The printed wiring board of the present invention includes an insulating layer formed by a cured product of the resin composition of the present invention.

프린트 배선판은, 예를 들면, 상기 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.The printed wiring board can be produced, for example, by a method including the steps (I) and (II) using the above resin sheet.

(I) 내층 기판 위에, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) a step of laminating a resin composition layer of a resin sheet to be laminated on an inner layer substrate on an inner layer substrate

(II) 수지 조성물층을 열경화시켜 절연층을 형성하는 공정(II) a step of thermally curing the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들면, 유리 에폭시기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 상기 기판은, 그 편면 또는 양면에 도체층을 가지고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 편면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은「내층 회로 기판」이라고 하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 하는 중간 제조물도 본 발명에서 말하는「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The &quot; inner layer substrate &quot; used in the step (I) is a member which becomes a substrate of a printed wiring board, and examples thereof include glass epoxy substrate, metal substrate, polyester substrate, polyimide substrate, BT resin substrate, Ether substrates and the like. Further, the substrate may have a conductor layer on one side or both sides thereof, and the conductor layer may be patterned. An inner layer substrate on which a conductor layer (circuit) is formed on one side or both sides of the substrate is sometimes referred to as an &quot; inner layer circuit substrate &quot;. Further, in manufacturing a printed wiring board, an intermediate product in which an insulating layer and / or a conductor layer is to be further formed is also included in the &quot; inner layer substrate &quot; When the printed wiring board is a component built-in circuit board, an inner-layer board containing components can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들면, 지지체측에서 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하,「가열 압착 부재」라고도 한다)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하지 않고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.The lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by thermocompression bonding the resin sheet to the inner layer substrate on the support side. Examples of the member for heating and pressing the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter, also referred to as &quot; hot pressing member &quot;) include a heated metal plate (SUS hard plate) or a metal roll (SUS roll). It is also preferable to press the heat-press member through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the resin sheet can sufficiently follow the surface unevenness of the inner layer substrate without directly pressing the heat-press member to the resin sheet.

내층 기판과 수지 시트의 적층은 진공 라미네이트법에 의해 실시하면 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80 내지 140℃의 범위이며, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29 내지 1.47MPa의 범위이며, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건하에서 실시한다.The lamination of the inner layer substrate and the resin sheet may be carried out by a vacuum lamination method. In the vacuum laminating method, the heat pressing temperature is preferably in the range of 60 to 160 占 폚, more preferably 80 to 140 占 폚, and the heat pressing pressure is preferably 0.098 to 1.77 MPa, 1.47 MPa, and the heat pressing time is preferably in the range of 20 to 400 seconds, and more preferably 30 to 300 seconds. The lamination is preferably performed under a reduced pressure of 26.7 hPa or less.

적층은 시판 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코·마테리알즈사 제조의 배큠 어플리케이터, 뱃치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.The lamination can be performed by a commercial vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, for example, a vacuum pressurized laminator manufactured by Meikisha Sakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko MATERIALS Co., Ltd., and a batch vacuum pressure laminator are listed.

적층 후에, 상압하(대기압하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측으로부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행해도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 같은 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는, 상기 시판 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행해도 좋다.After lamination, the laminated resin sheet may be subjected to smoothing treatment under atmospheric pressure (at atmospheric pressure), for example, by pressing the hot press member from the support side. The pressing condition of the smoothing treatment can be set to the same conditions as the hot pressing conditions of the lamination. The smoothing process can be performed by a commercial laminator. The lamination and smoothing process may be performed continuously using the commercial vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between the step (I) and the step (II), or may be removed after the step (II).

공정 (II)에 있어서, 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성한다.In the step (II), the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer.

수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않으며, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용하면 좋다.The thermosetting conditions of the resin composition layer are not particularly limited, and conditions that are generally employed when forming the insulating layer of the printed wiring board may be used.

예를 들면, 수지 조성물층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 상이하지만, 경화 온도는 바람직하게는 120 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170 내지 200℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15 내지 90분간으로 할 수 있다.For example, the thermosetting condition of the resin composition layer varies depending on the kind of the resin composition and the like, but the curing temperature is preferably 120 to 240 캜, more preferably 150 to 220 캜, still more preferably 170 to 200 / RTI &gt; The curing time is preferably 5 to 120 minutes, more preferably 10 to 100 minutes, and further preferably 15 to 90 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 115℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 110℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상(바람직하게는 5 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15 내지 100분간) 예비 가열해도 좋다.The resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature before thermosetting the resin composition layer. For example, before the resin composition layer is thermally cured, the resin composition layer is heated at a temperature of 50 ° C or more and less than 120 ° C (preferably 60 ° C or more and 115 ° C or less, more preferably 70 ° C or more and 110 ° C or less) It may be preheated for 5 minutes or more (preferably 5 to 150 minutes, more preferably 15 to 120 minutes, further preferably 15 to 100 minutes).

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지된 각종 방법에 따라 실시하면 좋다. 또한, 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 상기 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이, 또는 공정 (IV)와 공정 (V) 사이에 실시하면 좋다. 또한, 필요에 따라, 공정 (II) 및 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복하여 실시하여, 다층 프린트 배선판을 형성해도 좋다.In the production of a printed wiring board, (III) a step of piercing the insulating layer, (IV) a step of roughening the insulating layer, and (V) a step of forming a conductor layer may be further performed. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art, which are used in the production of printed wiring boards. When the support is removed after the step (II), the removal of the support is carried out between the step (II) and the step (III), between the step (III) and the step (IV) ). If necessary, the multilayer printed wiring board may be formed by repeating the formation of the insulating layer and the conductor layer in the process (II) and the process (V).

공정 (III)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이것에 의해 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시하면 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절히 결정하면 좋다.The step (III) is a step of perforating the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. The step (III) may be carried out using, for example, a drill, a laser or a plasma, depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer. The dimensions and shape of the holes may be suitably determined in accordance with the design of the printed wiring board.

비아홀의 톱 직경으로서는, 전자 기기의 소형화, 고성능화의 관점에서, 바람직하게는 70㎛ 이하, 보다 바람직하게는 60㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 55㎛ 이하, 또는 35㎛ 이하이다. 하한은 특별히 제한은 없지만, 10㎛ 이상 등으로 할 수 있다. 비아홀의 톱 직경은, 예를 들면 SEM을 사용하여 측정할 수 있다.The top diameter of the via hole is preferably 70 占 퐉 or less, more preferably 60 占 퐉 or less, further preferably 55 占 퐉 or less, or 35 占 퐉 or less, from the viewpoint of miniaturization and high performance of electronic equipment. The lower limit is not particularly limited, but may be 10 탆 or more. The top diameter of the via hole can be measured by using, for example, SEM.

공정 (IV)는 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에서 스미어의 제거도 행해진다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않으며, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이러한 순으로 실시하여 절연층을 조화 처리할 수 있다. 조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있으며, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 상기 알칼리 용액으로서는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬사 제조의「스웰링·딥·세큐리간스 P」,「스웰링·딥·세큐리간스 SBU」등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알칼리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10 내지 30분간 침지시켜 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에 있어서의 과망간산염의 농도는 5 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍재팬사 제조의「콘센트레이트·콤팩트 CP」,「도징솔류션·세큐리간스 P」등의 알칼리성 과망간산 용액 등을 들 수 있다. 또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성 수용액이 바람직하며, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬사 제조의「리덕션솔류션·세큐리간트 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30 내지 80℃의 중화액에 5 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을, 40 내지 70℃의 중화액에 5 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Step (IV) is a step of roughening the insulating layer. Usually, smear removal is also performed in this step (IV). The procedure and condition of the roughening treatment are not particularly limited, and a well-known procedure and conditions usually used in forming the insulating layer of the printed wiring board can be adopted. For example, swelling treatment with a swelling liquid, coarsening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid can be carried out in this order to roughen the insulating layer. The swelling liquid to be used for the harmonic treatment is not particularly limited, but examples thereof include an alkaline solution and a surfactant solution, preferably an alkaline solution. More preferably, the alkaline solution is a sodium hydroxide solution or a potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Sicergans P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., Swelling Dip Sekurigans SBU, and the like. The swelling treatment with the swelling liquid is not particularly limited, and can be performed, for example, by immersing the insulating layer in a swelling liquid at 30 to 90 캜 for 1 to 20 minutes. From the standpoint of suppressing the swelling of the resin in the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in the swelling liquid at 40 to 80 DEG C for 5 to 15 minutes. The oxidizing agent used for the harmonic treatment is not particularly limited, and for example, an alkaline permanganic acid solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide may be mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably carried out by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60 to 80 캜 for 10 to 30 minutes. The concentration of the permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5 to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as "Concentrate Compact CP" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., "Dozing Solution · Sicuregan P", and the like. An acidic aqueous solution is preferable as a neutralizing solution used for harmonization, and a commercially available product includes, for example, "Reduction Solution · Sucuregent P" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. The treatment with the neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in a neutralizing solution at 30 to 80 캜 for 5 to 30 minutes. From the standpoint of workability and the like, it is preferable to immerse the object subjected to the roughening treatment with an oxidizing agent in a neutralizing solution at 40 to 70 캜 for 5 to 20 minutes.

일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 바람직하게는 400㎚ 이하, 보다 바람직하게는 350㎚ 이하, 더욱 바람직하게는 300㎚ 이하이다. 하한에 관해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5㎚ 이상, 보다 바람직하게는 1㎚ 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 조화 처리 후의 절연층 표면의 이승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 바람직하게는 400㎚ 이하, 보다 바람직하게는 350㎚ 이하, 더욱 바람직하게는 300㎚ 이하이다. 하한에 관해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5㎚ 이상, 보다 바람직하게는 1㎚ 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 이승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 비접촉형 표면 거칠기계를 사용하여 측정할 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, and further preferably 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but preferably 0.5 nm or more, and more preferably 1 nm or more. The root mean square roughness (Rq) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, and further preferably 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but preferably 0.5 nm or more, and more preferably 1 nm or more. The arithmetic mean roughness (Ra) and the root mean square roughness (Rq) of the insulating layer surface can be measured using a non-contact surface roughness machine.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 위에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 동, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 함유한다. 도체층은 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 동·니켈 합금 및 동·티탄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 이 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 동의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 동·니켈 합금, 동·티탄 합금의 합금층이 바람직하며, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 동의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하며, 동의 단금속층이 더욱 바람직하다.Step (V) is a step of forming a conductor layer, and a conductor layer is formed on the insulating layer. The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer contains at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer. Examples of the alloy layer include alloys of two or more metals (for example, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy and copper-titanium alloy) May be used. Among them, chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper single metal layer or nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, An alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable and an alloy layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper alloy layer or nickel-chromium alloy is more preferable, Do.

도체층은, 단층 구조라도, 상이한 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single-metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are stacked. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따라 다르지만, 일반적으로 3 내지 35㎛, 바람직하게는 5 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer varies depending on the design of a desired printed wiring board, but is generally 3 to 35 占 퐉, preferably 5 to 30 占 퐉.

일 실시형태에 있어서, 도체층은 도금에 의해 형성하면 좋다. 예를 들면, 세미어디티브법, 풀어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있으며, 제조의 간편성의 관점에서, 세미어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of an insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-custom method or a pull-on-fill method. In view of simplicity of manufacture, It is preferable to form it by a customary method. Hereinafter, an example in which the conductor layer is formed by the semi-

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Subsequently, a mask pattern is formed on the formed plating seed layer to expose a part of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. A metal layer is formed on the exposed plating seed layer by electrolytic plating, and then the mask pattern is removed. Thereafter, an unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like, and a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed.

본 발명의 수지 시트는, 부품 매립성도 양호한 절연층을 초래하기 때문에, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다. 부품 내장 회로판은 공지의 제조방법에 의해 제작할 수 있다.The resin sheet of the present invention can be suitably used even in the case where the printed wiring board is a component built-in circuit board, because the resin sheet results in an insulating layer with good part embedding property. The component built-in circuit board can be manufactured by a known manufacturing method.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 제조되는 프린트 배선판은, 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물인 절연층과, 절연층에 매립된 매립형 배선층을 구비하는 형태라도 좋다.The printed wiring board manufactured using the resin sheet of the present invention may be provided with an insulating layer which is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet and a buried wiring layer embedded in the insulating layer.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured by using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장치로서는, 상기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비젼 등) 및 탈것(예를 들면, 자동이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided in the above products (such as a computer, a mobile phone, a digital camera and a television) and a vehicle (such as a motorcycle, a car, a train, a ship and an aircraft) have.

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에, 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란,「프린트 배선판에 있어서의 상기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도, 매립된 개소라도 어느 것이라도 상관없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 상기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of the present invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) to a conductive portion of a printed wiring board. The &quot; conduction point &quot; is a &quot; point at which the signal is transmitted to the printed wiring board &quot;, and may be a surface or a buried point. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is the above-described circuit element made of a semiconductor material.

반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립칩 실장 방법, 범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등을 들 수 있다. 여기서,「범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란,「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하고, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」을 말한다.The method of mounting the semiconductor chip at the time of manufacturing the semiconductor device is not particularly limited as long as the semiconductor chip can function effectively. Specifically, the method can be applied to a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, a bumpless buildup layer (BBUL) A mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF). Here, the "mounting method using the bumpless buildup layer (BBUL)" refers to a "mounting method in which a semiconductor chip is directly buried in a concave portion of a printed wiring board to connect the semiconductor chip and the wiring on the printed wiring board".

[실시예][Example]

이하, 본 발명에 관해서, 실시예를 나타내어 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이하의 실시예로 한정되는 것은 아니다. 이하의 설명에 있어서, 양을 나타내는「부」및「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각「질량부」및「질량%」를 의미한다. 또한, 이하에 설명하는 조작은, 별도 명시가 없는 한, 상온 상압의 환경에서 행하였다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to the following examples. In the following description, &quot; part &quot; and &quot;% &quot; representing the amount means &quot; part by mass &quot; and &quot;% by mass &quot;, respectively, unless otherwise specified. In addition, the operations described below were performed under an ambient temperature and normal pressure condition unless otherwise specified.

[실시예 1][Example 1]

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품, 에폭시 당량 169) 10부, 및 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 30부를, 솔벤트나프타 40부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 이것을 실온으로까지 냉각시켜, 에폭시 수지(X)의 용해 조성물을 조제하였다.10 parts of a bisphenol-type epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., a 1: 1 mixture of bisphenol A and bisphenol F type, epoxy equivalent 169) and 10 parts of a naphthol type epoxy resin &Quot; ESN475V &quot;, epoxy equivalent of about 330) was dissolved by heating in 40 parts of solvent naphtha with stirring. This was cooled to room temperature to prepare a dissolution composition of the epoxy resin (X).

또한, 하기에 구조를 나타낸 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 10부를, MEK 10부에 교반하면서 가열 용해시키고, 다시 이것을 실온으로까지 냉각시켜 방향족 탄화수소 수지(Y)의 용액을 조제하였다.Further, 10 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375", manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 171) having the structure shown below was dissolved by heating in 10 parts of MEK while stirring and further cooled to room temperature to obtain an aromatic hydrocarbon resin (Y) was prepared.

Figure pat00012
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(n은 1 내지 10의 정수이다)(n is an integer of 1 to 10)

이 에폭시 수지(X)의 용해 조성물에, 페녹시 수지(미쯔비시케미칼사 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 5부, 트리아진 골격 및 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제(DIC사 제조「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 5부, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 50부, 경화 촉진제(1-벤질-2-페닐이미다졸(1B2PZ), 고형분 10질량%의 MEK 용액) 5부, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」) 220부, 및 방향족 탄화수소 수지(Y)의 용액 20부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 바니쉬를 제작하였다.5 parts of a phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., a 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone in a solid content of 30 mass%), a triazine skeleton and a novolak structure were added to the solution composition of the epoxy resin , 5 parts of a phenol-based curing agent ("LA-3018-50P" manufactured by DIC Corporation, active agent equivalent weight of about 151, 50% solids content of a 2-methoxypropanol solution), an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" 5 parts of a curing accelerator (1-benzyl-2-phenylimidazole (1B2PZ), 10% by mass of solid content of MEK solution), 50 parts of an amine alkoxysilane compound , 220 parts of spherical silica (average particle diameter 0.77 mu m, &quot; SO-C2 &quot; manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with a surfactant (KBM573, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and 20 parts of a solution of an aromatic hydrocarbon resin And uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조「AL5」, 두께 38㎛, PET 필름)을 준비하였다. 이 지지체의 이형층 위에, 상기 수지 바니쉬를, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 15㎛가 되도록 균일하게 도포하였다. 그 후, 수지 바니쉬를 80 내지 100℃(평균 90℃)에서 3분간 건조시켜, 지지체 및 수지 조성물층을 포함하는 수지 시트를 제작하였다.As a support, a polyethylene terephthalate film ("AL5" manufactured by Lintec Corp., thickness 38 μm, PET film) having a release layer was prepared. On the release layer of the support, the resin varnish was uniformly applied so that the thickness of the resin composition layer after drying was 15 占 퐉. Thereafter, the resin varnish was dried at 80 to 100 캜 (average 90 캜) for 3 minutes to prepare a resin sheet including a support and a resin composition layer.

[실시예 2][Example 2]

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 50부를, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「EXB8000L-65TM」, 활성기 당량 220, 고형분 65%의 톨루엔·MEK 혼합 용액) 50부로 변경하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.50 parts of an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active equivalent weight of about 223, and a solid content of 65% by mass) in Example 1 was mixed with an active ester type curing agent ("EXB8000L-65TM , An activating group equivalent of 220, and a solid content of 65% toluene-MEK mixed solution). A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

[실시예 3][Example 3]

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 50부를, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「EXB8150-60T」, 활성기 당량 230, 고형분 60%의 톨루엔 용액) 55부로 변경하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.50 parts of an active ester type curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active equivalent weight of about 223 and a solid content of 65% by weight) in Example 1 was mixed with an active ester type curing agent ("EXB8150-60T Quot ;, active agent equivalent 230, 60% solids in toluene solution). A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

[실시예 4][Example 4]

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품, 에폭시 당량 169) 10부, 및 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 20부를, 솔벤트나프타 40부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 이것을 실온으로까지 냉각시키고, 에폭시 수지(X2)의 용해 조성물을 조제하였다.10 parts of a bisphenol-type epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., a 1: 1 mixture of bisphenol A and bisphenol F type, epoxy equivalent 169) and 10 parts of a naphthol type epoxy resin &Quot; ESN475V &quot;, epoxy equivalent of about 330) were dissolved by heating in 40 parts of solvent naphtha with stirring. This was cooled to room temperature to prepare a dissolution composition of the epoxy resin (X2).

또한, 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 20부를, MEK 20부에 교반하면서 가열 용해시키고, 다시 이것을 실온으로까지 냉각시켜 방향족 탄화수소 수지(Y2)의 용액을 조제하였다.Further, 20 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 171) was dissolved by heating in 20 parts of MEK while stirring, and then cooled to room temperature to obtain a solution of the aromatic hydrocarbon resin Was prepared.

이 에폭시 수지(X2)의 용해 조성물에, 페녹시 수지(미쯔비시케미칼사 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 5부, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「EXB8150-60T」, 활성기 당량 230, 고형분 60%의 톨루엔 용액) 80부, 경화 촉진제(1-벤질-2-페닐이미다졸(1B2PZ), 고형분 10질량%의 MEK 용액) 5부, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」) 250부, 및 방향족 탄화수소 수지(Y2)의 용액 40부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 바니쉬를 제작하였다. 또한 실시예 1과 같이 하여 수지 시트를 제작하였다.5 parts of a phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., a 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone in a solid content of 30 mass%), an active ester type curing agent (manufactured by DIC Corporation) , 5 parts of a curing accelerator (1-benzyl-2-phenylimidazole (1B2PZ), 10% by mass of solid content of a MEK solution), 80 parts of an amine-based , 250 parts of spherical silica (average particle diameter of 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with an alkoxysilane compound (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and a solution of an aromatic hydrocarbon resin Were mixed and uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. A resin sheet was prepared in the same manner as in Example 1.

[실시예 5][Example 5]

실시예 3에 있어서,In Example 3,

1) 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 20부의 양을 20부에서 5부로 변경하고,1) The amount of 20 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 171) was changed from 20 parts to 5 parts,

2) 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330)의 양을 30부에서 40부로 변경하고,2) The amount of naphthol-type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 330) was changed from 30 parts to 40 parts,

3) 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」)의 양을 220부에서 230부로 변경하였다.3) The amount of spherical silica (average particle diameter 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with an amine alkoxysilane compound (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 220 parts to 230 parts Change.

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

[실시예 6][Example 6]

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품, 에폭시 당량 169) 10부, 및 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 50부를, 솔벤트나프타 40부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 이것을 실온으로까지 냉각시켜 에폭시 수지(X3)의 용해 조성물을 조제하였다.10 parts of a bisphenol-type epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., a 1: 1 mixture of bisphenol A and bisphenol F type, epoxy equivalent 169) and 10 parts of a naphthol type epoxy resin &Quot; ESN475V &quot;, epoxy equivalent: about 330) were dissolved by heating in 40 parts of solvent naphtha with stirring. This was cooled to room temperature to prepare a dissolution composition of the epoxy resin (X3).

또한, 하기에 구조를 나타낸 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「SN395-50M」, 활성기 당량 107, 고형분 50%의 MEK 용액으로서 사용) 3부, 및 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 171) 5부를, MEK 10부에 교반하면서 가열 용해시키고, 다시 이것을 실온으로까지 냉각시켜 방향족 탄화수소 수지(Y3)의 용액을 제작하였다.Further, 3 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("SN395-50M" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., active group equivalent 107, used as a solution of MEK having a solid content of 50%) shown below and 3 parts of an aromatic hydrocarbon resin (Shinnitetsu Sumikin Kaga 5 parts of epoxy resin ("ESN375" manufactured by Kusa Co., Ltd., epoxy equivalent: 171) were dissolved by heating in 10 parts of MEK with stirring, and then cooled to room temperature to prepare a solution of aromatic hydrocarbon resin (Y3).

Figure pat00013
Figure pat00013

(n은 1 내지 10의 정수이다)(n is an integer of 1 to 10)

이 에폭시 수지(X3)의 용해 조성물에, 페녹시 수지(미쯔비시케미칼사 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥산온의 1:1 용액) 5부, 7트리아진 골격 및 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제(DIC사 제조「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 2부, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조「EXB8150-60T」, 활성기 당량 230, 고형분 60%의 톨루엔 용액) 55부, 경화 촉진제(1-벤질-2-페닐이미다졸(1B2PZ), 고형분 10질량%의 MEK 용액) 5부, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」) 240부, 및 방향족 탄화수소 수지(Y3)의 용액 13부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 바니쉬를 제작하였다. 또한 실시예 1과 같이 하여 수지 시트를 제작하였다.5 parts of a phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., a 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone in a solid content of 30 mass%), a 7-triazine skeleton and a novolak structure , 2 parts of a phenolic curing agent ("LA-3018-50P" manufactured by DIC Corporation, active agent equivalent weight of about 151, 50% of solid content of 2-methoxypropanol solution) 5 parts of a curing accelerator (1-benzyl-2-phenylimidazole (1B2PZ), 10% by mass of solid content of MEK solution), 5 parts of an amine alkoxysilane compound 240 parts of spherical silica (average particle diameter of 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with a surfactant ("KBM573" manufactured by Kakugo Corporation) and 13 parts of a solution of an aromatic hydrocarbon resin (Y3) And uniformly dispersed with a rotary mixer to prepare a resin varnish. A resin sheet was prepared in the same manner as in Example 1.

[비교예 1][Comparative Example 1]

실시예 1에 있어서,In Example 1,

1) 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」)의 양을 220부에서 240부로 변경하고,1) The amount of spherical silica (average particle diameter 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with an amine alkoxysilane compound (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 220 parts to 240 parts Change,

2) 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330)의 양을 40부에서 50부로 변경하고,2) The amount of naphthol-type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 330) was changed from 40 parts to 50 parts,

3) 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 10부를 사용하지 않았다.3) 10 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 171) was not used.

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

[비교예 2][Comparative Example 2]

실시예 2에 있어서,In Example 2,

1) 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」)의 양을 220부에서 240부로 변경하고,1) The amount of spherical silica (average particle diameter 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with an amine alkoxysilane compound (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 220 parts to 240 parts Change,

2) 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330)의 양을 40부에서 50부로 변경하고,2) The amount of naphthol-type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 330) was changed from 40 parts to 50 parts,

3) 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 10부를 사용하지 않았다.3) 10 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 171) was not used.

이상의 사항 이외에는 실시예 2와 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 2 except for the above.

[비교예 3][Comparative Example 3]

실시예 3에 있어서,In Example 3,

1) 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠가가쿠고교사 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조「SO-C2」)의 양을 220부에서 240부로 변경하고,1) The amount of spherical silica (average particle diameter 0.77 mu m, "SO-C2" manufactured by Adomex Co., Ltd.) surface-treated with an amine alkoxysilane compound (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 220 parts to 240 parts Change,

2) 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330)의 양을 40부에서 50부로 변경하고,2) The amount of naphthol-type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 330) was changed from 40 parts to 50 parts,

3) 방향족 탄화수소 수지(신닛테츠스미킨가가쿠사 제조「ESN375」, 에폭시 당량 약 171) 10부를 사용하지 않았다.3) 10 parts of an aromatic hydrocarbon resin ("ESN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 171) was not used.

이상의 사항 이외에는 실시예 3과 같이 하여 수지 바니쉬, 수지 시트를 제작하였다.A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 3 except for the above.

<스미어 제거성의 평가><Evaluation of Smear Removability>

(1) 내장 기판의 하지(下地) 처리(1) Under-processing of the built-in board

내층 기판으로서, 표면에 동박을 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.8㎜, 파나소닉사 제조「R1515A」)을 준비하였다. 이 내층 기판의 표면의 동박을, 마이크로에칭제(멕사 제조「CZ8101」)를 사용하여, 동 에칭량 1㎛로 에칭하여, 조화 처리를 행하였다. 그 후, 190℃에서 30분간 건조를 행하였다.A glass cloth base epoxy resin double-sided copper clad laminate (thickness of copper foil of 18 mu m, thickness of the substrate: 0.8 mm, "R1515A" manufactured by Panasonic Corporation) having a copper foil on its surface was prepared as the inner layer board. The copper foil on the surface of the inner layer substrate was etched with a copper etching amount of 1 mu m using a microetching agent (&quot; CZ8101 &quot; Thereafter, drying was carried out at 190 캜 for 30 minutes.

(2) 수지 시트의 적층·경화(2) Lamination and curing of resin sheet

상기한 실시예 및 비교예에서 얻은 수지 시트를, 뱃치식 진공 가압 라미네이터(닛코·마테리알즈사 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물층이 상기 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 이 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착함으로써, 실시하였다.The resin sheets obtained in the above-described Examples and Comparative Examples were laminated by using a batch type vacuum press laminator (CVP700, 2 stage build-up laminator manufactured by Nikko Corporation) to bond the resin composition layer to the inner layer substrate, Both sides of the substrate were laminated. The laminate was subjected to pressure reduction for 30 seconds to bring the air pressure to 13 hPa or lower, followed by compression at a temperature of 100 deg. C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

이어서, 라미네이트된 수지 시트를, 대기압하, 100℃, 압력 0.5MPa로 60초간 열프레스하여 평활화하였다. 또한 이것을, 100℃의 오븐에 투입하여 30분간 가열하고, 이어서 170℃의 오븐으로 옮기고 30분간 가열하여 절연층을 형성하였다.Subsequently, the laminated resin sheet was subjected to heat pressing under atmospheric pressure at 100 DEG C and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds to be smoothed. This was put in an oven at 100 캜, heated for 30 minutes, transferred to an oven at 170 캜, and heated for 30 minutes to form an insulating layer.

(3) 비아홀 형성(3) Formation of via holes

비아메카닉스사 제조 CO2 레이저 가공기(LK-2K212/2C)를 사용하고, 주파수 2,000Hz로 펄스폭 6μ초, 출력 0.24mJ, 쇼트수 3의 조건으로 절연층을 가공하고, 절연층 표면에 있어서의 톱 직경(직경)이 25㎛, 절연층 저면에 있어서의 직경이 19㎛인 비아홀을 형성하였다. 또한 그 후 지지체의 PET 필름을 박리하였다.An insulation layer was processed under the conditions of a frequency 2,000 Hz, a pulse width of 6 microseconds, an output of 0.24 mJ and a number of shots of 3 using a CO 2 laser processing machine (LK-2K212 / 2C) manufactured by VIA MECHANICS Co., A top diameter (diameter) of 25 mu m, and a diameter at the bottom of the insulating layer of 19 mu m. The PET film of the support was then peeled off.

(4) 조화 처리(4) Harmonization processing

내층 기판을, 팽윤액인 아토텍재팬사 제조의 스웰링딥·세큐리간트 P에 60℃에서 5분간 침지하였다. 다음에, 조화액인 아토텍재팬사 제조의 콘센트레이트·콤팩트 P(KMnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지하였다. 마지막으로, 중화액인 아토텍재팬사 제조의 리덕션솔류션·세큐리간트 P에 40℃에서 5분간 침지하였다.The inner layer substrate was immersed in Swelling Dip · Sekrygant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., which is a swelling liquid, at 60 ° C for 5 minutes. Subsequently, the resultant was immersed in a Concentrate Compact P (KMnO 4 : 60 g / L, manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., aqueous solution of NaOH: 40 g / L) for 20 minutes at 80 캜. Finally, the solution was immersed in a Reduction Solution · Sucry Gant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. for 5 minutes at 40 ° C.

(5) 비아홀 저부의 잔사 평가(5) Residual evaluation of the via hole bottom

비아홀의 저부 주위를 주사 전자 현미경(SEM)으로 관찰하고, 얻어진 화상으로부터 비아홀 저부의 벽면으로부터의 최대 스미어 직경을 측정하고, 이하의 기준으로 평가하였다.The vicinity of the bottom of the via hole was observed with a scanning electron microscope (SEM), and the maximum smear diameter from the wall surface of the via hole bottom was measured from the obtained image and evaluated according to the following criteria.

○: 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만?: Maximum smear length is less than 5 占 퐉

×: 최대 스미어 길이가 5㎛ 이상×: maximum smear length of 5 μm or more

<유전 정접의 측정>&Lt; Measurement of dielectric loss tangent &

각 실시예 및 각 비교예에서 얻어진 수지 시트를 200℃에서 90분간 열경화시켜, PET 필름을 박리하여 시트상 경화물을 얻었다. 그 경화물을, 폭 2㎜, 길이 80㎜의 시험편으로 절단하고, 칸토오요덴시카이하츠사 제조의 공동 공진기 섭동법 유전율 측정 장치「CP521」, 및 아질렌트테크놀로지사 제조「네트워크애널라이저 E8362B」를 사용하여, 공동 공진법으로 측정 주파수 5.8GHz에서 유전 정접(tanδ)의 측정을 행하였다. 2개의 시험편에 관해서 측정을 행하여, 평균값을 산출하였다.The resin sheet obtained in each of the Examples and Comparative Examples was thermally cured at 200 캜 for 90 minutes, and the PET film was peeled off to obtain a sheet-like cured product. The cured product was cut into test pieces having a width of 2 mm and a length of 80 mm. The CP521 and the network analyzer E8362B manufactured by Kanto Yodenshi Kaihatsu Co., Ltd. and the nitrogen analyzer manufactured by Agilent Technologies Co., Ltd. , Dielectric tangent (tan delta) was measured at a measurement frequency of 5.8 GHz by a cavity resonance method. Two test pieces were measured, and the average value was calculated.

Figure pat00014
Figure pat00014

표 중, 「(A) 성분의 함유량(질량%)」은, (A) 성분 및 (C) 성분의 합계 함유량을 100질량부로 한 경우의 (A) 성분의 함유량을 나타내고, 「(D) 성분의 함유량(질량%)」은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우의 (D) 성분의 함유량을 나타낸다.The content (mass%) of the component (A) represents the content of the component (A) when the total content of the component (A) and the component (C) is 100 mass% (% By mass) "represents the content of the component (D) when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

실시예 1 내지 6에 있어서, (C) 성분 내지 (G) 성분을 함유하지 않는 경우라도, 정도에 차이는 있지만, 상기 실시예와 같은 결과로 귀착되는 것을 확인시켜 준다.Even if the components (C) to (G) are not contained in Examples 1 to 6, it is confirmed that the results are the same as those of the above-mentioned Examples although there are differences in the degree.

Claims (18)

(A) 단환(單環) 또는 축합환으로서의 방향환을 함유하고, 상기 방향환 1개당, 상기 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기를 2개 이상 갖는 방향환 탄화수소 수지, 및
(B) 활성 에스테르계 경화제를 함유하는, 수지 조성물.
(A) an aromatic ring hydrocarbon resin containing an aromatic ring as a single ring or condensed ring and having two or more groups containing oxygen atoms bonded to the aromatic ring per one aromatic ring, and
(B) an active ester-based curing agent.
제1항에 있어서, (A) 성분이 하기 화학식 1로 표시되는 구조를 갖는, 수지 조성물.
[화학식 1]
Figure pat00015

상기 화학식 1에 있어서,
R11은 각각 독립적으로 1가의 기이다.
The resin composition according to claim 1, wherein the component (A) has a structure represented by the following formula (1).
[Chemical Formula 1]
Figure pat00015

In Formula 1,
R 11 each independently represents a monovalent group.
제1항에 있어서, (A) 성분이 하기 화학식 2로 표시되는 구조를 갖는, 수지 조성물.
[화학식 2]
Figure pat00016

상기 화학식 2에 있어서,
R21은 각각 독립적으로 1가의 기이다.
The resin composition according to claim 1, wherein the component (A) has a structure represented by the following formula (2).
(2)
Figure pat00016

In Formula 2,
R 21 each independently represents a monovalent group.
제1항에 있어서, (A) 성분이 하기 화학식 3으로 표시되는, 수지 조성물.
[화학식 3]
Figure pat00017

상기 화학식 3에 있어서,
R31은 각각 독립적으로 1가의 기이고,
R32는 각각 독립적으로 2가의 탄화수소기이고,
n3은 0 내지 10의 정수이다.
The resin composition according to claim 1, wherein the component (A) is represented by the following formula (3).
(3)
Figure pat00017

In Formula 3,
R 31 each independently represents a monovalent group,
R 32 each independently represents a divalent hydrocarbon group,
n3 is an integer of 0 to 10;
제1항에 있어서, (A) 성분이 하기 화학식 6으로 표시되는, 수지 조성물.
[화학식 6]
Figure pat00018

상기 화학식 6에 있어서,
R61은 각각 독립적으로 1가의 기이고,
n6은 0 내지 10의 정수이다.
The resin composition according to claim 1, wherein the component (A) is represented by the following formula (6).
[Chemical Formula 6]
Figure pat00018

In Formula 6,
R 61 each independently represents a monovalent group,
n6 is an integer of 0 to 10;
제1항에 있어서, 방향환에 결합하는 산소 원자를 함유하는 기가, 에폭시알킬렌옥시기, 알콕시기, 또는 수산기인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the group containing an oxygen atom bonded to the aromatic ring is an epoxyalkyleneoxy group, an alkoxy group, or a hydroxyl group. 제1항에 있어서, (C) 에폭시 수지를 추가로 함유하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, further comprising (C) an epoxy resin. 제7항에 있어서, (A) 성분의 함유량이, (A) 성분 및 (C) 성분의 합계 함유량을 100질량%로 한 경우, 5질량% 이상 50질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 7, wherein the content of the component (A) is 5% by mass or more and 50% by mass or less when the total content of the component (A) and the component (C) is 100% by mass. 제1항에 있어서, (B) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 1질량% 이상 30질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the content of the component (B) is 1% by mass or more and 30% by mass or less when the content of the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, (D) 무기 충전재를 추가로 함유하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, further comprising (D) an inorganic filler. 제10항에 있어서, (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 50질량% 이상인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 10, wherein the content of the component (D) is 50% by mass or more when the content of the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is a resin composition for forming an insulating layer of a multilayered printed circuit board. 제1항에 있어서, 톱 직경이 35㎛ 이하인 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is a resin composition for forming an insulating layer having a via hole having a top diameter of 35 탆 or less. 제1항에 있어서, 절연층의 두께(㎛)와 톱 직경(㎛)의 종횡비(절연층의 두께/톱 직경)가 0.5 이상인 비아홀을 갖는 절연층 형성용 수지 조성물인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is a resin composition for forming an insulating layer, having a via hole having a thickness (탆) of an insulating layer and an aspect ratio (thickness of an insulating layer / top diameter) of a top diameter (탆) of 0.5 or more. 지지체와, 상기 지지체 위에 제공된, 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.A resin sheet comprising a support and a resin composition layer comprising the resin composition according to any one of claims 1 to 14 provided on the support. 제15항에 있어서, 수지 조성물층의 두께가 20㎛ 이하인, 수지 시트.The resin sheet according to claim 15, wherein the thickness of the resin composition layer is 20 占 퐉 or less. 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.A printed wiring board comprising an insulating layer formed by a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 14. 제17항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 17.
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