KR20190057698A - Vision inspection equipment platform to check the quality of endmill - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a vision inspection device platform including a control device and a vision inspection device. The control device includes: a user input unit to receive commands of a user and the vision inspection device; a memory unit to store a program; a control unit to execute the program read from the memory unit, and control the program in accordance with commands of the user inputted from the user input unit; and a display unit to display the program executed by the control unit. The program includes commands to execute: a step of controlling movements of a camera unit, a pallet unit, a gripper, and a spindle; a step of processing an end mill image photographed by the camera unit; and a step of inspecting whether an end mill is chipped from the processed end mill image.

Description

엔드밀 치핑을 검사하는 비전검사장치 플랫폼{Vision inspection equipment platform to check the quality of endmill}[0001] Vision inspection equipment platform for inspection of end mill chipping [0002]

본 발명은 엔드밀 치핑을 검사하는 비전검사장치 플랫폼에 관한 발명이다.The present invention relates to a vision inspection device platform for inspecting end mill chipping.

엔드밀(endmill)은 엔드밀링 커터라고 하며, 겉 모양은 드릴과 비슷하지만, 드릴과는 달리 상면과 옆면이 날로 구성되어 공작물의 평면 및 옆면을 가공할 수 있다. 엔드밀은 공작기계에 부착되어 회전하면서 금속을 깎고 매끈하게 다듬는 공구로, 주로 금형을 깎아 만드는데 사용한다.Endmill is an end-milling cutter, similar in appearance to a drill, but unlike a drill, the top and sides are blunt to allow the workpiece to be machined flat and side-by-side. An end mill is a tool that attaches to a machine tool and turns and smoothes the metal while rotating, and is mainly used to cut a mold.

엔드밀의 종류는 날의 생김새의 따라 여러가지가 있다. 대표적으로 스퀘어형 엔드밀과 볼형 엔드밀이 있다. 스퀘어형 엔드밀은 나선형의 측면 날 및 측면 날에서 연장형성되고, 상면에서 보았을 때 십자 형상인 스퀘어 날로 구성된다. 볼형 엔드밀은 나선형의 측면 날 및 측면 날에서 연장형성되고, 구 형상인 볼 날로 구성된다. 다양한 종류의 엔드밀은 목적에 따라 선택적으로 공작기계에 결합된다.There are various kinds of end mill according to the appearance of the blade. Typically, there are a square type end mill and a ball type end mill. The square-shaped end mill is formed by a square blade extending from the side edge and the side edge of the helical shape and having a cross shape when viewed from the top. The ball-type end mill is formed by a ball-shaped ball shaped to extend from the side and side edges of the spiral. Various types of end mills are selectively coupled to the machine tool depending on the purpose.

다만, 엔드밀이 공정에 의해 생산되는 과정에서 불량이 발생할 수 있고, 특히, 엔드밀의 치핑이 문제된다. 치핑(chipping)이란, 사전적 의미로는 금속.콘크리트.돌 등과 같은 물체의 표면을 깎아서 불필요한 부분을 제거하거나 구멍을 뚫는 것이나, 공구에서 치핑이라 함은, 표면 혹은 날의 특정 지점에 불규칙적인 홈이 형성된 것을 말한다. 치핑이 발생한 공구는 불량이므로, 시중에 판매하기 전 반드시 엔드밀 치핑 검사가 필요하다.However, defects may occur in the process of producing the end mill by the process, and in particular, chipping of the end mill is a problem. Chipping refers to the removal of unnecessary parts by drilling the surface of an object such as metal, concrete, stone, etc., in a lexical sense, or chipping in a tool, . Since the tool with chipping is defective, it is necessary to inspect the end mill chipping before it is sold on the market.

엔드밀의 치핑, 특히 치핑을 검사하는 종래의 방법으로는, 작업자가 하나씩 수작업으로 치핑을 검사하거나, 또는 소형 기계에 삽입하여 이를 관찰하는 방법이 있다. 그러나, 위와 같은 종래의 방식은 작업시간이 증가하여 생산성이 떨어지며, 정확도가 떨어져 엔드밀 제품의 신뢰도가 하락하는 문제점이 있었다.Conventional methods for inspecting chipping, particularly chipping, of endmills include a method of manually inspecting the chipping by hand or inserting it into a small machine to observe it. However, in the conventional method as described above, the productivity is decreased due to an increase in the working time, the accuracy is lowered, and the reliability of the end mill product is lowered.

본 발명은 엔드밀 치핑을 검사하는 비전검사장치 플랫폼에 관한 것을 제시한다.The present invention relates to a vision inspection device platform for inspecting end mill chipping.

일 실시예에 따른 제어장치와 비전검사장치를 포함하는 비전검사장치 플랫폼에 있어서,In a vision inspection device platform including a control device and a vision inspection device according to an embodiment,

상기 비전검사장치는,The vision inspection apparatus includes:

검사 대상 엔드밀이 삽입되는 제 1 팔레트를 포함하는 팔레트부;A pallet portion including a first pallet into which an end mill to be inspected is inserted;

검사 대상 엔드밀의 치핑을 검사하는 카메라부;A camera unit for inspecting the chipping of the end mill to be inspected;

상기 제 1 팔레트로부터 검사 대상 엔드밀을 꺼내 이동시키는 그리퍼; 및A gripper for pulling and moving the end mill to be tested from the first pallet; And

상기 그리퍼로부터 검사 대상 엔드밀을 전달받아 상기 카메라부로 이동시키는 스핀들;을 포함하고,And a spindle for receiving the end mill to be inspected from the gripper and moving the end mill to the camera unit,

상기 제어장치는,The control device includes:

사용자의 명령이 입력될 수 있는 사용자 입력부;A user input unit through which a user's command can be input;

프로그램이 저장되는 메모리부; 및A memory unit for storing a program; And

상기 메모리부로부터 읽어들인 상기 프로그램을 실행하고, 상기 사용자 입력부로부터 입력된 사용자의 명령에 따라 상기 프로그램을 제어하는 제어부; 및A control unit that executes the program read from the memory unit and controls the program according to a user command input from the user input unit; And

상기 제어부에서 실행되는 상기 프로그램이 표시되는 디스플레이부;를 포함하고,And a display unit for displaying the program executed by the control unit,

상기 프로그램은,The program includes:

상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계;Controlling movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle;

상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계; 및Processing an end millimeter image photographed by the camera unit; And

처리된 엔드밀 영상으로부터 엔드밀의 치핑여부를 검사하는 단계;를 실행하는 명령어들을 포함한다.And checking whether the end mill is chipped from the processed end millimages.

상기 프로그램은,The program includes:

상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 위치 정보를 실시간으로 상기 비전검사장치로부터 전달받는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함 할 수 있다.And receiving the position information of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle in real time from the vision inspection apparatus.

상기 프로그램은 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 위치 정보를 상기 디스플레이에 표시하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And displaying the position information of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle on the display.

상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,

상기 사용자 입력부로부터 입력된 사용자의 명령에 따라 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어할 수 있다.The movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle can be controlled according to a user command inputted from the user input unit.

상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계는, Wherein the processing of the end millimeter image photographed by the camera unit comprises:

상기 메모리부에 미리 저장된 이미지 처리 알고리즘 중 어느 하나를 선택하는 단계; Selecting any one of the image processing algorithms previously stored in the memory unit;

선택된 이미지 처리 알고리즘에 따라 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계; 및Processing the photographed endmill image according to the selected image processing algorithm; And

처리된 엔드밀 영상에서 검사 파라미터에 대응되는 수치를 도출하는 단계;를 포함할 수 있다.And deriving a numerical value corresponding to the inspection parameter in the processed endmill image.

상기 처리된 엔드밀 영상으로부터 엔드밀의 치핑여부를 검사하는 단계는,The step of checking whether or not chipping of the end mill is performed from the processed end-

상기 검사 파라미터에 대응되는 수치와 기설정된 수치를 비교하는 단계;를 포함할 수 있다.And comparing the numerical value corresponding to the inspection parameter with a predetermined numerical value.

상기 팔레트부는 정상 상태의 엔드밀이 삽입되는 제 2 팔레트부와 비정상 상태의 엔드밀이 삽입되는 제 3 팔레트부를 더 포함하고,Wherein the pallet portion further includes a second pallet portion into which the end mill is inserted in a steady state and a third pallet portion into which the end mill in an abnormal state is inserted,

상기 프로그램은,The program includes:

상기 기설정된 검사 파라미터에 대응되는 수치가 기설정된 수치와 비교하여 정상으로 판단되는 경우에는 검사 대상 엔드밀을 제 2 팔레트부에 삽입하는 단계; 및Inserting an end mill to be tested into a second pallet portion when the numerical value corresponding to the predetermined inspection parameter is determined to be normal compared with a preset numerical value; And

상기 기설정된 검사 파라미터에 대응되는 수치가 기설정된 수치와 비교하여 비정상으로 판단되는 경우에는 검사 대상 엔드밀을 제 3 팔레트부에 삽입하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And inserting the end mill to be inspected into the third palette unit when the numerical value corresponding to the preset inspection parameter is determined to be abnormal compared with the preset numerical value.

상기 프로그램은,The program includes:

상기 제 2 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수 및 상기 제 3 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수를 각각 계수하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And counting the number of end mills inserted into the second palette and the number of end mills inserted into the third pallet, respectively.

상기 카메라부는, 스퀘어형 엔드밀의 스퀘어 날의 치핑을 검사하는 제1 카메라, 볼형 엔드밀의 볼 날의 치핑을 검사하는 제2 카메라를 포함하고,Wherein the camera section includes a first camera for inspecting chipping of a square blade of a square end mill, and a second camera for inspecting chucking of a ball blade of the ball-type end mill,

상기 프로그램은, 상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인지 볼형 엔드밀인지 판단하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하고,Determining whether the end mill inserted in the first pallet is a square endmill or a ball-type endmill, the program further comprising:

상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,

상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인 경우에는 상기 제1 카메라에서 엔드밀의 치핑을 검사하고, When the end mill inserted into the first pallet is a square end mill, the chucking of the end mill is checked in the first camera,

상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 볼형 엔드밀인 경우에는 상기 제2 카메라에서 엔드밀의 치핑을 검사할 수 있다.When the end mill inserted into the first pallet is a ball-type end mill, it is possible to check the chippings of the end mill in the second camera.

상기 메모리부는 제어 파라미터와 검사 파라미터를 저장할 수 있다.The memory unit may store control parameters and inspection parameters.

상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,

상기 메모리부에서 읽어들인 상기 제어 파라미터에 따라 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어할 수 있다.The movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle can be controlled according to the control parameter read from the memory unit.

상기 제어 파라미터는, 검사 관리 파라미터, 포지션 캘리브레이션 파라미터, 장비 운용 파라미터, 통신 파라미터, 검사 파라미터, 카메라 파라미터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The control parameter may include at least one of an inspection management parameter, a position calibration parameter, a device operation parameter, a communication parameter, an inspection parameter, and a camera parameter.

상기 검사 파라미터는, 상부 검사 파라미터, 볼 검사 파라미터, 스캔검사 파라미터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The inspection parameter may include at least one of an upper inspection parameter, a ball inspection parameter, and a scan inspection parameter.

상기 카메라부는, 검사 대상 엔드밀의 전장길이를 검사하는 제3 카메라를 더 포함하고,The camera unit may further include a third camera for inspecting the length of the end mill to be inspected,

상기 프로그램은,The program includes:

상기 제3 카메라에서 촬영된 엔드밀 영상에서 전장길이 수치를 도출하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And deriving a full-length length value from the end-millimage taken by the third camera.

상기 카메라부는, 검사 대상 엔드밀의 외경을 검사하는 마이크로미터를 더 포함하고,The camera unit may further include a micrometer for examining an outer diameter of the end mill to be inspected,

상기 프로그램은,The program includes:

상기 마이크로미터에서 측정된 검사 대상 엔드밀의 외경 수치를 도출하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And deriving an outer diameter value of the end mill to be inspected measured by the micrometer.

상기 프로그램은,The program includes:

상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 상기 디스플레이부에 표시하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함할 수 있다.And displaying the end millimeter image photographed by the camera unit on the display unit.

본 발명에 따르면, 비전검사장치의 작동을 제어하는 제어장치를 포함하는 플랫폼을 제공하여 엔드밀의 치핑 여부를 용이하게 검사할 수 있다.According to the present invention, it is possible to easily check whether or not the end mill is chipped by providing a platform including a control device for controlling the operation of the vision inspection apparatus.

도 1은 본 발명에 따른 비전검사장치 플랫폼의 블록도이다.
도 2는 본 발명에 따른 비전검사장치의 외관을 도시한 도면이다
도 3은 본 발명에 따른 비전검사장치의 덮개부 및 다리부를 제거한 모습을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 컨베이어부를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 레일부 및 픽업부를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명에 따른 이송부를 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명에 따른 검사부를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명에 따른 비전검사장치 플랫폼의 작동을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명에 따른 엔드밀 정상여부판별 방법을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 10 내지 도 17은 본 발명에 따른 비전검사장치 플랫폼의 디스플레이부에 도시된 화면을 나타낸 도면이다.1 is a block diagram of a vision inspection device platform in accordance with the present invention.
2 is a view showing the appearance of the vision inspection apparatus according to the present invention
3 is a view showing a state in which the lid and legs of the vision inspection apparatus according to the present invention are removed.
4 is a view showing a conveyor unit according to the present invention.
5 is a view showing a rail part and a pickup part according to the present invention.
6 is a view showing a conveyance unit according to the present invention.
7 is a diagram showing an inspection unit according to the present invention.
8 is a view schematically showing the operation of the vision inspection apparatus platform according to the present invention.
9 is a view schematically showing a method of discriminating whether an end mill is normal according to the present invention.
10 to 17 are views showing screens on a display unit of the vision inspection apparatus platform according to the present invention.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 도면에서 구성요소의 크기는 설명의 편의를 위해 의도적으로 확대되거나 축소될 수 있으며, 도면 상의 구성요소의 크기가 발명의 내용을 구속하는 것은 아니다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. In the drawings, the size of components may be intentionally enlarged or reduced for convenience of explanation, and the size of components in the drawings does not limit the scope of the invention.

도 1은 일 실시예에 따른 비전검사장치 플랫폼(100)의 블록도이다. 도 1을 참조하면, 비전검사장치 플랫폼(100)은 제어장치(C100)와 비전검사장치(I1)을 포함할 수 있다.1 is a block diagram of a vision inspection device platform 100 according to one embodiment. Referring to FIG. 1, the vision inspection apparatus platform 100 may include a control apparatus C100 and a vision inspection apparatus I1.

도 1에 도시된 바와 같이, 일 실시예에 따른 제어장치(C100)는, 사용자 입력부(C110), 디스플레이부(C120), 제어부(C130), 및 메모리부(C140)를 포함할 수 있다. 그러나, 도 1에 도시된 구성 요소 모두가 제어장치(C100)의 필수 구성 요소인 것은 아니다. 도 1에 도시된 구성 요소보다 많은 구성 요소에 의해 제어장치(C100)가 구현될 수도 있고, 도 1에 도시된 구성 요소보다 적은 구성 요소에 의해 제어장치(C100)가 구현될 수도 있다. 예를 들어, 일부 실시예에 따른 제어장치(C100)는, 통신부(미도시)를 더 포함할 수도 있다.1, the control apparatus C100 according to an exemplary embodiment may include a user input unit C 110, a display unit C 120, a control unit C 130, and a memory unit C 140. However, not all the components shown in Fig. 1 are essential components of the control device C100. The controller C100 may be implemented by more components than the components shown in Fig. 1, and the controller C100 may be implemented by fewer components than those shown in Fig. For example, the control device C100 according to some embodiments may further include a communication unit (not shown).

사용자 입력부(C110)는, 사용자가 제어장치(C100)를 제어하기 위한 데이터를 입력하는 수단을 의미한다. 예를 들어, 사용자 입력부(C110)에는 키보드(keyboard), 마우스(mouse), 키 패드(key pad), 돔 스위치 (dome switch), 터치 패드(접촉식 정전 용량 방식, 압력식 저항막 방식, 적외선 감지 방식, 표면 초음파 전도 방식, 적분식 장력 측정 방식, 피에조 효과 방식 등), 조그 휠, 조그 스위치 등이 있을 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The user input unit C110 means a means for the user to input data for controlling the control device C100. For example, the user input unit C 110 may include a keyboard, a mouse, a key pad, a dome switch, a touch pad (a contact type capacitance type, a pressure type resistive type, A sensing method, a surface ultrasonic wave propagation method, an integral type tension measuring method, a piezo effect method, etc.), a jog wheel, a jog switch, and the like.

디스플레이부(C120)는 제어장치(C100)에서 처리되는 정보를 표시한다. 예를 들어, 디스플레이부(C120)는, 사용자 입력부(C110)에 의해 입력된 사용자의 명령어들을 디스플레이 할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이부(C120)는 사용자의 명령어들에 따른 제어부(C130)의 비전검사장치(D100)의 제어상태를 디스플레이 할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이부(C120)는 비전검사장치(D100)의 제어상태를 실시간으로 디스플레이 할 수 있다.The display unit C120 displays information processed in the control device C100. For example, the display unit C120 can display the user's commands input by the user input unit C110. For example, the display unit C 120 may display the control status of the vision inspection apparatus D 100 of the control unit C 130 according to the user's commands. For example, the display unit C 120 can display the control state of the vision inspection apparatus D 100 in real time.

한편, 디스플레이부(C120)와 터치패드가 레이어 구조를 이루어 터치 스크린으로 구성되는 경우, 디스플레이부(C120)는 출력 장치 이외에 입력 장치로도 사용될 수 있다. 디스플레이부(C120)는 액정 디스플레이(liquid crystal display), 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display), 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode), 플렉시블 디스플레이(flexible display), 3차원 디스플레이(3D display), 전기영동 디스플레이(electrophoretic display) 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.Meanwhile, when the display unit C 120 and the touch pad have a layer structure and are configured as a touch screen, the display unit C 120 may be used as an input device in addition to the output device. The display unit C 120 may be a liquid crystal display, a thin film transistor-liquid crystal display, an organic light-emitting diode, a flexible display, a three-dimensional display A 3D display, and an electrophoretic display.

제어부(C130)는 제어장치(C100)의 전반적인 동작을 제어한다. 예를 들어, 제어부(C130)는, 메모리부(C140)에 저장된 프로그램들을 실행함으로써, 사용자 입력부(C110), 디스플레이부(C120) 및 비전검사장치(D100) 등을 전반적으로 제어할 수 있다.The control unit C130 controls the overall operation of the control device C100. For example, the control unit C 130 can generally control the user input unit C 110, the display unit C 120, and the vision inspection apparatus D 100 by executing the programs stored in the memory unit C 140.

메모리부(C140)는, 제어부(C130)의 처리 및 제어를 위한 프로그램을 저장할 수 있고, 제어장치(C100)로 입력되거나 제어장치(C100)로부터 출력되는 데이터를 저장할 수도 있다. The memory unit C140 may store a program for processing and control of the control unit C130 and may store data input to or output from the control unit C100.

메모리부(C140)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD 또는 XD 메모리 등), 램(RAM, Random Access Memory) SRAM(Static Random Access Memory), 롬(ROM, Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다. The memory unit C140 may be a flash memory type, a hard disk type, a multimedia card micro type, a card type memory (for example, SD or XD memory) (Random Access Memory) SRAM (Static Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM (Programmable Read-Only Memory) A disk, and / or an optical disk.

비전검사장치(I1)는 컨베이어부(I100), 검사부(I200), 이송부(I300), 레일부(I400), 픽업부(I500), 및 팔레트부(I600)로 구성된다. 컨베이어부(I100)는 팔레트부(I600)의 위치를 정해진 방향으로 이동하도록 한다. 검사부(I200)는 제1 카메라부(I210), 제2 카메라부(I220), 제3 카메라부(I230), 및 제4 카메라부(I240)를 포함할 수 있다. 이송부는 가이드 레일(I310), 지지부(I320), 스핀들(I330), 척(I340) 및 모터부(I350)를 포함한다. 레일부(I400)는 X축 레일(I410), Y축 레일(I420) 및 Z축 레일(I430)을 포함한다. 픽업부(I500)는 기둥부(I510), 픽업부 본체(I520), 그리퍼(I530) 및 그리퍼 지지부(I540)를 포함한다. 팔레트부(I600)는 검사 대상인 엔드밀(1)이 삽입되거나 탈착되는 제1 팔레트(I610), 제2 팔레트(I620), 제3 팔레트(I630)를 포함할 수 있다. The vision inspection apparatus I1 comprises a conveyor section I100, an inspection section I200, a conveyance section I300, a rail section I400, a pickup section I500, and a pallet section I600. The conveyor section I100 moves the position of the pallet section I600 in a predetermined direction. The inspection unit I200 may include a first camera unit I210, a second camera unit I220, a third camera unit I230, and a fourth camera unit I240. The transfer portion includes a guide rail I310, a support portion I320, a spindle I330, a chuck I340 and a motor portion I350. The rail section I400 includes an X-axis rail I410, a Y-axis rail I420, and a Z-axis rail I430. The pick-up section I500 includes a column section I510, a pick-up section body I520, a gripper I530 and a gripper support section I540. The pallet portion I600 may include a first pallet I610, a second pallet I620, and a third pallet I630 through which the end mill 1 to be inspected is inserted or detached.

도 2는 본 발명에 따른 비전검사장치(I1)의 외관을 도시한 도면이다. 2 is a diagram showing the appearance of the vision inspection device I1 according to the present invention.

일정한 두께와 높이를 지니는 바닥부(I30)를 기준으로 바닥부(I30)의 상부에 비전검사장치의 주요부품들이 설치된다. 본 발명에서의 비전검사장치의 주요부품이라 하면, 컨베이어부, 검사부, 이송부 등 엔드밀의 치핑을 검사하는데 필요한 주요 구성요소를 말한다. 바닥부(I30)의 상부에는 덮개부(I10)가 결합된다. 덮개부(I10)는 비전검사장치의 주요부품들을 덮어 이들을 보호하는 역할을 한다. 또한, 덮개부(I10)의 측면에는 경칩(I12)을 통해 개폐가 가능한 제1 도어(I11)가 결합되어 비전검사장치의 주요부품들을 작업자가 손쉽게 검사할 수 있다. 또한, 후술하겠지만, 검사 후 비정상 상태의 엔드밀(1)이 삽입된 제3 팔레트(I630)를 비전검사장치의 외부로 빼내는 공간이 된다.The main components of the vision inspection apparatus are installed on the top of the bottom portion I30 with respect to the bottom portion I30 having a constant thickness and height. The main components of the vision inspection apparatus according to the present invention refer to main components necessary for inspecting chipping of the end mill such as a conveyor, an inspection unit, and a transfer unit. The lid part I10 is coupled to the upper part of the bottom part I30. The lid I10 covers and protects the main components of the vision inspection apparatus. A first door I11, which can be opened and closed via a light chip I12, is coupled to a side surface of the lid I10 so that an operator can easily inspect major components of the vision inspection apparatus. Further, as will be described later, the third pallet I630 in which the end mill 1 in an abnormal state after the inspection is inserted is taken out to the outside of the vision inspection apparatus.

덮개부(I10)의 측면의 일 지점에는 컨베이어부(I100)가 관통되는 홈(I13)이 형성된다. 컨베이어부(I100)의 양 단부는 덮개부(I10)의 홈(I13)을 기준으로 홈(I13)으로부터 돌출된다. 작업자가 검사 전 엔드밀(1)이 삽입된 제1 팔레트(I610)를 컨베이어부(I100)의 돌출된 일단부에 올려놓게 되고 이후 컨베이어부(I100)의 컨베이어 벨트의 이동에 따라 제1 팔레트(I610)가 덮개부(I10) 내부로 인입된다. 돌출된 타단부에는 검사 후 정상상태의 엔드밀(1)이 삽입된 제2 팔레트(I620)가 놓이게 된다. A groove I13 through which the conveyor section I100 passes is formed at one side of the side surface of the cover section I10. Both ends of the conveyor section I100 protrude from the groove I13 with respect to the groove I13 of the cover section I10. The worker puts the first pallet I610 having the end mill 1 inserted therein on one projected end of the conveyor part I100 before the inspection and then the first pallet I610 is moved in accordance with the movement of the conveyor belt of the conveyor part I100 I610 are drawn into the lid I10. And a second pallet I620 inserted with the end mill 1 in a steady state after inspection is placed on the other end protruded.

덮개부(I10)의 하부에는 다리부(I20), 제2 도어(I21) 및 바퀴부(I22)가 연결된다. 다리부(I20)는 비전검사장치의 주요부품을 바닥부(I30)의 하부에서 지지하는 역할을 하며, 바퀴부(I22)는 비전검사장치를 이동가능하게 하여 편의성을 극대화하였다. 또한, 제2 도어(I21)는 다리부(I20)와 바닥부(I30) 하부에 공간을 형성하여, 공간에 전선, 컴퓨터 등의 비전검사장치를 구동하는데 필요한 전기장치들을 수납할 수 있다.A leg portion I20, a second door I21 and a wheel portion I22 are connected to the lower portion of the lid I10. The leg portion I20 serves to support the main components of the vision inspection device at the bottom of the bottom portion I30 and the wheel portion I22 allows the vision inspection device to move to maximize convenience. The second door I21 may have a space formed in the lower portion of the leg portion I20 and the bottom portion I30 to accommodate the electric devices necessary for driving the vision inspection device such as electric wires and computers in the space.

도 3은 본 발명에 따른 비전검사장치의 덮개부(I10) 및 바닥부(I30) 하부를 제거한 모습을 도시한 도면이다. 도 3을 참조하여 덮개부(I10) 내부의 비전검사장치의 주요부품들을 설명하도록 한다.FIG. 3 is a view showing a state in which the cover portion I10 and the bottom portion I30 of the vision inspection device according to the present invention are removed. The main components of the vision inspection apparatus inside the lid I10 will be described with reference to Fig.

비전검사장치의 주요부품은 컨베이어부(I100), 검사부(I200), 이송부(I300), 레일부(I400), 픽업부(I500)로 구성된다.The main components of the vision inspection apparatus include a conveyor section I100, an inspection section I200, a conveyance section I300, a rail section I400, and a pickup section I500.

먼저, 컨베이어부(I100)의 구성요소를 설명하기 위해 도 4를 함께 참조하도록 한다. 컨베이어부(I100)는 바닥부(I30)의 상면에 설치된 것으로, Y축방향으로 연장형성된 것이 바람직하다.First, FIG. 4 will be referred to together to explain the components of the conveyor section I100. The conveyor section I100 is provided on the upper surface of the bottom section I30, and is preferably formed to extend in the Y-axis direction.

컨베이어부(I100)는 본체부(I110) 및 구동부(I120)를 포함한다. 컨베이어부(I100)는 팔레트부(I600)의 위치를 정해진 방향으로 이동하도록 한다. 예를 들어, 제1 팔레트(I610) 및 제2 팔레트(I620)는 본체부(I110)를 따라 Y축방향으로 이동한다. 제1 팔레트(I610)는 검사 전 엔드밀(1)이 삽입된 팔레트이며, 제2 팔레트(I620)는 검사 후 엔드밀(1)이 삽입된 팔레트이다. The conveyor section I100 includes a main body section I110 and a driving section I120. The conveyor section I100 moves the position of the pallet section I600 in a predetermined direction. For example, the first pallet I610 and the second pallet I620 move in the Y-axis direction along the main body I110. The first pallet I610 is a pallet into which the end mill 1 is inserted before inspection and the second pallet I620 is a pallet into which the end mill 1 is inserted after inspection.

이때, 본체부(I110)에 결합되어 Y축방향으로 연장된 벨트 지지부(I111)가 형성된다. 도 3에서 미도시하였지만, 벨트 지지부(I111)에는 타원형상의 링 모양의 컨베이어 벨트가 벨트 지지부(I111)를 따라 결합되고, 제1 팔레트(I610) 및 제2 팔레트(I620)는 컨베이어 벨트(미도시)의 상면을 따라서 Y축방향으로 이동하게 된다.At this time, a belt supporting portion I111 coupled to the main body I110 and extending in the Y-axis direction is formed. 3, an elliptical ring-shaped conveyor belt is coupled to the belt support I111 along the belt support I111, and the first pallet I610 and the second pallet I620 are connected to a conveyor belt (not shown) Axis direction along the Y-axis direction.

또한, 벨트 지지부(I111)의 양측부에는 Y축방향으로 연장형성된 한 쌍의 가이드부(I112)가 결합된다. 가이드부(I112)는 제1 팔레트(I610) 및 제2 팔레트(I620)의 Y축방향으로의 이동을 안내하게 된다. 이러한 구조로 인해 제1 팔레트(I610) 및 제2 팔레트(I620)의 본체부(I110)로부터의 이탈을 방지할 수 있다.In addition, a pair of guide portions I112 extending in the Y-axis direction are coupled to both side portions of the belt supporting portion I111. The guide portion I112 guides the movement of the first pallet I610 and the second pallet I620 in the Y-axis direction. This structure can prevent the first pallet I610 and the second pallet I620 from departing from the main body I110.

본체부(I110)의 양단부에는 구동부(I120)가 결합된다. 구동부(I120)는 컨베이어 벨트(미도시)를 Y축방향으로 구동하는 역할을 한다. 구동부(I120)는 기어부 모터(I121), 구동부 덮개(I122) 및 기어부(I123)를 포함한다. 기어부(I123)는 중심축을 기준으로 회전하며, 기어부(I123)의 회전 동력은 기어부 모터(I121)로부터 얻게 된다. 기어부(I123)는 구동부 덮개(I122)에 의해 덮혀 보호된다. 컨베이어 벨트(미도시)의 일단부는 본체부(I110)의 일단부에 결합된 기어부(I123)의 외측면을 따라 감기게 되고, 컨베이어 벨트(미도시)의 타단부는 본체부(I110)의 타단부에 결합된 기어부(I123)의 외측면을 따라 감기게 된다. 이러한 구조로 타원형 링 형상의 컨베이어 벨트(미도시)는 벨트 지지부(I111)를 따라 무한궤도식 회전을 하게 된다.The driving unit I120 is coupled to both ends of the main body I110. The driving unit I120 serves to drive the conveyor belt (not shown) in the Y-axis direction. The driving portion I120 includes a gear portion motor I121, a driving portion cover I122, and a gear portion I123. The gear portion I123 rotates with respect to the center axis and the rotational power of the gear portion I123 is obtained from the gear portion motor I121. The gear portion I123 is covered and protected by the driving portion lid I122. One end of the conveyor belt (not shown) is wound along the outer surface of the gear portion I123 coupled to one end of the main body I110 and the other end of the conveyor belt And is wound along the outer surface of the gear portion I123 coupled to the other end portion. With this structure, the elliptical ring-shaped conveyor belt (not shown) makes an endless track rotation along the belt support I111.

치핑 검사 전 제1 팔레트(I610)는 최초에 덮개부(I10)로부터 돌출된 본체부(I110)의 일단부에 놓여지게 된다. 이때, 도 3을 기준으로 좌측이 일단부이며, 우측이 타단부이다. 이후, 제1 팔레트(I610)는 컨베이어 벨트(미도시)를 따라 Y축방향으로 이동하되, 본체부(I110)의 타단부를 향하여 이동한다. 제1 팔레트(I610)는 특정 위치에 정지하고, 후술할 픽업부(I500)에 의해 제1 팔레트(I610)에 삽입된 엔드밀(1)이 이송부(I300)로 운반된다. 이송부(I300)에 의해 운반되어 치핑 검사가 완료된 정상 상태의 엔드밀(1)은 픽업부(I500)에 의해 컨베이어 벨트(미도시)의 일 지점에 위치된 제2 팔레트(I620)에 운반된다. 이후, 제2 팔레트(I620)는 본체부(I110)의 타단부를 향하여 이동하게 되어 덮개부(I10)의 외부로 배출된다.The first pallet I610 before the chipping inspection is placed at one end of the main body I110 protruding from the lid portion I10 for the first time. 3, the left side is one end and the right side is the other end. Then, the first pallet I610 moves in the Y-axis direction along the conveyor belt (not shown), but moves toward the other end of the main body I110. The first pallet I610 stops at a specific position and the end mill 1 inserted into the first pallet I610 by a pickup section I500 to be described later is carried to the conveyance section I300. The end mill 1 conveyed by the conveying section I300 and having undergone chipping inspection is conveyed to the second pallet I620 located at one point of the conveyor belt (not shown) by the pick-up section I500. Then, the second pallet I620 moves toward the other end of the main body I110 and is discharged to the outside of the lid I10.

도 5는 본 발명에 따른 레일부(I400) 및 픽업부(I500)를 도시한 도면이다. 이하, 도 5를 참조하여 레일부(I400) 및 픽업부(I500)의 구성요소에 대하여 상세하게 설명하도록 한다.5 is a diagram showing a rail part I400 and a pickup part I500 according to the present invention. Hereinafter, the components of the rail part I400 and the pickup part I500 will be described in detail with reference to FIG.

레일부(I400)는 X축 레일(I410), Y축 레일(I420) 및 Z축 레일(I430)을 포함한다. X축 레일(I410)은 X축방향으로 연장형성되고, Y축 레일(I420)은 Y축방향으로 연장형성되며, Z축 레일(I430)은 Z축 방향으로 연장형성된다.The rail section I400 includes an X-axis rail I410, a Y-axis rail I420, and a Z-axis rail I430. The X-axis rail I410 extends in the X-axis direction, the Y-axis rail I420 extends in the Y-axis direction, and the Z-axis rail I430 extends in the Z-axis direction.

X축 레일(I410)은 바닥부(I30)에서 바닥부(I30)의 상부로 돌출되는 레일 지지대(I401)와 결합되고, 이러한 구조로 인해 레일부(I400)는 바닥부(I30)로부터 일정한 간격을 두고 Z축 방향으로 이격되어 있다. 레일부(I400)의 X,Y,Z축 방향으로의 이동의 편의성을 증가시키기 위함이다.The X-axis rail I410 is coupled with a rail support I401 that protrudes from the bottom I30 to the top of the bottom I30. Due to this structure, the rail I400 is spaced from the bottom I30 In the Z-axis direction. Thereby increasing the convenience of movement of the rail part I400 in the X, Y and Z axis directions.

X축 레일(I410), Y축 레일(I420) 및 Z축 레일(I430)의 결합관계는 다음과 같다. X축 레일(I410)은 레일 지지대(I401)에 고정되고, Y축 레일(I420)이 X축 레일(I410)과 수직되게 결합되어, X축 레일(I410)을 따라 X축 방향으로 이동이 가능하다. 또한, Z축 레일(I430)은 Y축 레일(I420)과 수직되게 결합되어, Y축 레일(I420)을 따라 Y축 방향으로 이동이 가능하다. 또한, 픽업부(I500)의 기둥부(I510)는 Z축 레일(I430)에 결합되어 Z축방향으로 이동이 가능하다. 상기와 같은 결합구조로 픽업부(I500)는 레일부(I400)를 따라 이동하면서 X,Y,Z축의 3축 이동이 가능하며, 엔드밀(1) 운반의 자유도가 증가하는 장점이 있다. 또한, 작업의 시간이 감축되어 작업 효율성이 증가하는 장점이 있다.The coupling relationship of the X-axis rail I410, the Y-axis rail I420, and the Z-axis rail I430 is as follows. The X-axis rail I410 is fixed to the rail support I401 and the Y-axis rail I420 is vertically coupled to the X-axis rail I410 and is movable along the X-axis rail I410 in the X- Do. The Z-axis rail I430 is vertically coupled to the Y-axis rail I420, and is movable in the Y-axis direction along the Y-axis rail I420. Further, the column portion I510 of the pick-up portion I500 is coupled to the Z-axis rail I430 and is movable in the Z-axis direction. With the above-described coupling structure, the pick-up part I500 can move along the rail part I400 in three axes of the X, Y and Z axes, and the end mill 1 can be freely transported. In addition, there is an advantage that work time is reduced and work efficiency is increased.

픽업부(I500)는 기둥부(I510), 픽업부 본체(I520), 그리퍼(I530) 및 그리퍼 지지부(I540)를 포함한다. 기둥부(I510)는 Z축 방향으로 연장형성된 원통형 기둥 형상이나, 반드시 도 4의 형상에 국한되는 것은 아니다. 기둥부(I510)는 픽업부 본체(I520) 및 그리퍼 지지부(I540)와 순차적으로 연결된다. 그리퍼 지지부(I540)에는 그리퍼(I530)가 결합된다. 그리퍼(I530)는 엔드밀(1)을 착탈할 수 있는 부품이다. 그리퍼(I530)는 제1 팔레트(I610)로부터 엔드밀(1)을 추출할 때 엔드밀(1)을 집어 들어올리는 역할을 하고, 검사 후의 엔드밀(1)을 제2 팔레트(I620)에 운반할 때는 제2 팔레트(I620)에 형성된 엔드밀 홈에 검사 후의 엔드밀(1)을 삽입하는 역할을 한다. 이때, 그리퍼(I530)는 X,Y평면방향으로 회전 가능한 것이 바람직하며, 적어도 하나 이상인 것이 바람직하다(I531, 532). 그리퍼의 회전 및 적어도 하나 이상의 구성에 관하여는 후술하도록 한다.The pick-up section I500 includes a column section I510, a pick-up section body I520, a gripper I530 and a gripper support section I540. The column portion I510 is in the form of a cylindrical column extending in the Z-axis direction, but it is not necessarily limited to the shape shown in Fig. The column portion I510 is sequentially connected to the pickup main body I520 and the gripper supporting portion I540. A gripper I530 is coupled to the gripper support I540. The gripper I530 is a part capable of attaching and detaching the end mill 1. The gripper I530 serves to pick up the end mill 1 when extracting the end mill 1 from the first pallet I610 and to convey the end mill 1 after inspection to the second pallet I620 The end mill 1 after inspecting is inserted into the end mill groove formed in the second pallet I620. At this time, the gripper I530 is preferably rotatable in the X and Y plane directions, and it is preferable that the gripper I530 is at least one (I531, 532). The rotation of the gripper and at least one or more configurations will be described later.

도 6은 본 발명에 따른 이송부(I300)를 도시한 도면이다. 이하 도 6을 참조하여 이송부(I300)의 구성요소에 대하여 설명하도록 한다.FIG. 6 is a view showing a transfer section I300 according to the present invention. Hereinafter, the components of the transfer unit I300 will be described with reference to FIG.

이송부는 가이드 레일(I310), 지지부(I320), 스핀들(I330), 척(I340) 및 모터부(I350)를 포함한다. 가이드 레일(I310)은 도 5를 기준으로 Y축방향으로 연장형성되어 고정된 레일로, 지지부(I320)는 가이드 레일(I310)에 결합되어 가이드 레일(I310)을 따라 Y축 방향으로 왕복 이동이 가능하다. 이때, 지지부(I320)를 이동시키는 부품의 일 예로, 미도시 하였지만, 케이블 베어가 사용되는 것이 바람직하며, 가이드 레일(I310)의 측면에 케이블 베어가 결합되는 것이 바람직하다. 일반적으로 케이블 베어(Icableveyor)는 반도체 장비, 크린 룸 설비, 각종 공작기계, 로봇, 각종 중단거리 산업기계 등에 설치되어 움직이는 작동체에 접속된 케이블이나 유체를 이송시키는 호스 등을 손상 및 오염으로부터 보호하면서 이송시키는 역할을 한다. 이러한 케이블 베어는 소정 각도로 구부러지면서 이동되더라도 케이블 베어의 내부에 수용된 케이블이나 호스 등이 손상되거나 꼬이는 것을 방지할 수 있다. 이와 같은 케이블 베어는 케이블 또는 유공압 호스의 전체길이에 대해서 체인과 같은 작동을 하도록 다수개의 링크부재로 연결되어 있다.The transfer portion includes a guide rail I310, a support portion I320, a spindle I330, a chuck I340 and a motor portion I350. 5, the support portion I320 is coupled to the guide rail I310 and is reciprocally moved in the Y-axis direction along the guide rail I310. The guide rail I310 is a rail that is extended and fixed in the Y- It is possible. At this time, as an example of a component for moving the support part I320, it is preferable that a cable bear is used, though not shown, and a cable bear is preferably coupled to a side surface of the guide rail I310. In general, the cable bearer (Icableveyor) is installed in semiconductor equipment, clean room equipment, various machine tools, robots, various kinds of industrial machines to be stopped, and protects cables and fluid hoses that are connected to moving bodies from damage and pollution It is also responsible for transferring. Even if the cable bear is bent and moved at a predetermined angle, it is possible to prevent a cable or a hose accommodated in the cable bear from being damaged or twisted. Such cable bearings are connected by a plurality of link members for operation like a chain with respect to the overall length of the cable or pneumatic hose.

지지부(I320)에는 스핀들(I330) 및 모터부(I350)가 결합되는 것이 바람직하다. 이때, 스핀들(I330) 및 모터부(I350)는 Y축 방향으로 평행하게 위치되는 것이 바람직하다. 미도시하였지만, 모터부(I350)는 스핀들(I330)과 타이밍 벨트로 연결되는 것이 바람직하다. 타이밍 벨트는 기어 간 회전 동력을 전달하는 역할을 한다. 따라서, 중심축을 기준으로 회전하는 모터부(I350)의 동력을 스핀들(I330)이 전달받게 되고, 모터부(I350)의 회전 방향에 따라 스핀들(I330)은 회전할 수 있게 된다. 스핀들(I330)의 상부에는 엔드밀(1)을 고정하는 척이 결합되는 것이 바람직하다. 3개의 클로가 연동하여 동시에 움직여 엔드밀(1)을 물게되어 고정하는데 시간이 단축되므로, 작업능률이 향상되는 장점이 있다.The supporting portion I320 is preferably coupled to the spindle I330 and the motor portion I350. At this time, it is preferable that the spindle I330 and the motor portion I350 are positioned in parallel in the Y-axis direction. It is preferable that the motor unit I350 is connected to the spindle I330 by a timing belt. The timing belt serves to transmit rotational power between the gears. Accordingly, the spindle I330 receives the power of the motor portion I350 rotating about the central axis, and the spindle I330 rotates in accordance with the rotation direction of the motor portion I350. It is preferable that a chuck for fixing the end mill 1 is coupled to the upper portion of the spindle I330. Since the time required for the end mill 1 to be fixed and fixed by moving the three claws together and moving at the same time is shortened, the working efficiency is improved.

가이드 레일(I310)을 따라 Y축방향으로 지지부(I320)는 왕복이동이 가능하고, 지지부(I320)가 Y축방향으로 왕복이동함과 동시에 스핀들(I330) 및 척(I340)은 중심축을 기준으로 회전할 수 있게 된다. 엔드밀(1)이 물린 스핀들(I330)이 검사부(I200)를 통과할 때, 회전을 하게 되면, 고정된 위치가 아닌 여러 위치에서의 치핑 검사가 수행되므로 치핑 검사가 정밀해지는 장점이 있다.The supporting portion I320 can reciprocate in the Y axis direction along the guide rail I310 and the supporting portion I320 reciprocates in the Y axis direction while the spindle I330 and the chuck I340 are moved with respect to the center axis It becomes possible to rotate. When the spindle I330 held by the end mill 1 passes through the inspection unit I200, if the rotation is performed, the chipping inspection is performed at various positions other than the fixed position, which is advantageous in that the chipping inspection is precise.

도 7은 본 발명에 따른 검사부(I200)를 도시한 도면이다. 이하 도 7을 참조하여 검사부(I200)의 구성요소에 대하여 설명하도록 한다.FIG. 7 is a diagram showing an inspection unit I200 according to the present invention. Hereinafter, the components of the inspection unit I200 will be described with reference to FIG.

검사부(I200)는 제1 카메라부(I210), 제2 카메라부(I220) 및 제3 카메라부(I230)를 포함한다. 또한, 이송부(I300)는 검사부(I200)를 통과하여 이송부(I300)에 결합된 엔드밀의 치핑 검사가 실시된다.The inspection unit I200 includes a first camera unit I210, a second camera unit I220, and a third camera unit I230. The transfer unit I300 passes through the inspection unit I200 and is subjected to chipping inspection of the end mill coupled to the transfer unit I300.

제1 카메라부(I210)는 스핀들(I330)에 결합된 엔드밀(1)을 상면에서 수직되게 바라보도록 위치되고, 스퀘어형 엔드밀의 스퀘어날의 치핑을 검사하는 제1 카메라(I211), 제1 카메라(I211)와 결합된 제1 연결부(I212) 및 Z축 방향으로 연장형성된 제1 지지대(I213)를 포함한다. 제1 연결부(I212)는 제1 지지대(I213)에 결합되어 제1 지지대(I213)를 따라 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 제1 연결부(I212)의 이동에 대응하여 이와 결합된 제1 카메라(I211) 또한 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 이러한 구조로 인해, 검사 대상인 스퀘어형 엔드밀의 Z축 방향으로의 길이에 대응하여 제1 카메라(I211)의 위치를 이동할 수 있고, 다양한 크기의 엔드밀에 맞춤식으로 검사를 수행할 수 있는 장점이 있다. 또한, 제1 카메라(I211) 내부에는 X,Y 평면으로 평행한 라이트(Ilight)를 포함하는 것이 바람직하다. 명암 대비를 이용하여 치핑을 더욱 견고하게 검사할 수 있기 때문이다.The first camera unit I210 includes a first camera I211 positioned so as to vertically face the end mill 1 coupled to the spindle I330 and inspecting the square end chipping of the square end mill, A first connection part I212 coupled with the camera I211, and a first support part I213 extending in the Z-axis direction. The first connection part I212 is coupled to the first support part I213 and is capable of reciprocating in the Z-axis direction along the first support part I213. The first camera I211 coupled with the movement of the first connection part I212 is also capable of reciprocating in the Z-axis direction. With this structure, the position of the first camera I211 can be moved corresponding to the length in the Z-axis direction of the square-shaped end mill to be inspected, and it is possible to carry out the inspection on the end mills of various sizes . In addition, it is preferable that the first camera I211 includes a light (Ilight) parallel to the X, Y plane. This is because the contrast can be used to more firmly inspect the chipping.

제2 카메라부(I220)는 제1 카메라부(I210)의 측면에 위치되는 것이 바람직하다. 제2 카메라부(I220)는 스핀들(I330)에 결합된 엔드밀(1)을 측면에서 바라보도록 위치되고, 제1 카메라(I211)와는 달리 볼형 엔드밀의 볼 날의 치핑을 검사하는 제2 카메라(I221), 제2 카메라(I221)와 결합된 제2 연결부(I222) 및 Z축 방향으로 연장형성된 제2 지지대(I223)를 포함한다. 제2 연결부(I222)는 제2 지지대(I223)에 결합되어 제2 지지대(I223)를 따라 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 제2 연결부(I222)의 이동에 대응하여 이와 결합된 제2 카메라(I221) 또한 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 이러한 구조로 인해, 검사 대상인 볼형 엔드밀의 볼 크기에 대응하여 제2 카메라(I221)의 위치를 이동할 수 있고, 다양한 크기의 볼형 엔드밀에 맞춤식으로 검사를 수행할 수 있는 장점이 있다.The second camera unit I220 is preferably located on the side of the first camera unit I210. The second camera part I220 is disposed to face the end mill 1 coupled to the spindle I330 and is provided with a second camera I211 which is different from the first camera I211 and checks the chucking of the ball- A second connection part I222 coupled with the second camera I221, and a second support part I223 extending in the Z-axis direction. The second connection portion I222 is coupled to the second support I223 and is capable of reciprocating in the Z-axis direction along the second support I223. The second camera I221 coupled to the second connection I222 can also reciprocate in the Z-axis direction. Due to this structure, the position of the second camera I221 can be moved corresponding to the ball size of the ball-type end mill to be inspected, and the ball-type end mill of various sizes can be suitably inspected.

이때, 바닥부(I30)에는 제2 카메라(I221)와 X축 방향으로 일정한 간격을 두고 서로 마주보도록 라이트 바(I224, 도 2 참조)가 결합되는 것이 바람직하다. 제1 카메라(I211)와는 달리 제1 카메라(I211) 내부가 아닌 외부에 빛을 발하는 부품이 결합된다. 이는 볼형 엔드밀의 볼 날의 경우에는 상면이 아닌 외주면 전부를 검사하여야 하므로, 빛을 발하는 라이트 바(I224)가 제2 카메라(I221)를 기준으로 볼형 엔드밀의 뒤쪽에 위치되는 것이 바람직하다.At this time, it is preferable that a light bar I224 (see FIG. 2) is coupled to the bottom part I30 so as to face the second camera I221 with a predetermined gap in the X axis direction. Unlike the first camera I211, a light emitting component is coupled to the outside of the first camera I211. In the case of the ball end of the ball-type end mill, it is preferable that the light bar 1224 emitting light is located behind the ball end mill with respect to the second camera I221, as it is necessary to inspect all the outer circumferential surfaces, not the upper surface.

위와 같은 구조로 인해, 최초에 스퀘어형 엔드밀이 이송부(I300)를 통해 이송되면, 제1 카메라부(I210)는 이를 인식하여 스퀘어 날의 치핑을 검사하고, 제2 카메라부(I220)는 스킵하게 된다. 이와 반대로, 최초에 볼형 엔드밀이 이송부(I300)를 통해 이송되면, 제1 카메라부(I210)는 스킵하고 제2 카메라부(I220)를 통해 볼 날의 치핑을 검사하게 되어 선택적 검사를 수행할 수 있다. 이러한 선택적 검사는 검사 속도를 향상시킬 수 있는 장점이 있다.Due to the above structure, when the square-shaped endmill is first conveyed through the conveyance unit I300, the first camera unit I210 recognizes it and checks the chipping of the square blade, and the second camera unit I220 skips . On the other hand, when the ball end mill is first conveyed through the conveying unit I300, the first camera unit I210 skips and checks the chipping of the ball through the second camera unit I220, . These selective tests have the advantage of improving the inspection speed.

제2 카메라부(I220)의 측면에는 제3 카메라부(I230)가 위치되는 것이 바람직하다. 제3 카메라부(I230)는 스핀들(I330)에 결합된 엔드밀(1)을 측면에서 바라보도록 위치되고, 스퀘어형 엔드밀 또는 볼형 엔드밀의 측면 날의 치핑을 검사하는 제3 카메라(I231), 제3 카메라(I231)와 결합된 제3 연결부(I232) 및 Z축 방향으로 연장형성된 제3 지지대(I233)를 포함한다. 제3 연결부(I232)는 제3 지지대(I233)에 결합되어 제3 지지대(I233)를 따라 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 제3 연결부(I232)의 이동에 대응하여 이와 결합된 제3 카메라(I231) 또한 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 이러한 구조로 인해, 검사 대상인 스퀘어형 엔드밀 또는 볼형 엔드밀 Z축 방향으로의 길이에 대응하여 제3 카메라(I231)의 위치를 이동할 수 있고, 다양한 크기의 엔드밀에 맞춤식으로 검사를 수행할 수 있는 장점이 있다. 또한, 제3 카메라(I231)는 측면 날의 치핑 뿐만 아니라 전장 길이를 검사할 수 있다. 엔드밀(1)을 측면에서 바라보기 때문에 전장길이를 검사할 수 있다. 또한, 제3 카메라(I231) 내부에는 X,Y 평면으로 평행한 라이트(Ilight)를 포함하는 것이 바람직하다. 명암 대비를 이용하여 치핑을 더욱 견고하게 검사할 수 있기 때문이다.It is preferable that the third camera unit I230 is disposed on a side surface of the second camera unit I220. The third camera portion I230 is disposed to face the end mill 1 coupled to the spindle I330 and includes a third camera I231 for checking the chipping of the side edges of the square end mill or the ball end mill, A third connection part I232 coupled with the third camera I231, and a third support part I233 extending in the Z-axis direction. The third connection part I232 is coupled to the third support part I233 and is capable of reciprocating in the Z-axis direction along the third support part I233. The third camera I231 coupled to the third connection part I232 in response to the movement of the third connection part I232 is also capable of reciprocating in the Z-axis direction. Due to this structure, it is possible to move the position of the third camera I231 in correspondence with the length in the Z-axis direction of the square-shaped end mill or the ball-shaped end mill to be inspected, There is an advantage. Also, the third camera I231 can inspect the length of the body as well as chipping of the side edge. Since the end mill 1 is viewed from the side, the length of the end mill 1 can be inspected. In addition, it is preferable that the third camera I231 includes a light (Ilight) parallel to the X, Y plane. This is because the contrast can be used to more firmly inspect the chipping.

제3 카메라부(I230)는 제1 카메라부(I210) 또는 제2 카메라부(I220)와는 달리 스퀘어형 엔드밀, 볼형 엔드밀을 구분하지 말고 모두 검사할 수 있다. 측면 날 및 전장 길이는 스퀘어형 엔드밀, 볼형 엔드밀 모두에 공통적인 검사대상이기 때문이다.Unlike the first camera unit I210 or the second camera unit I220, the third camera unit I230 can inspect both the square end mill and the ball end mill without discriminating them. The side blades and overall lengths are common objects for both square end mills and ball end mills.

이때, 검사부(I200)는 제4 카메라부(I240)를 더 포함할 수 있다. 제4 카메라부(I240)는 스퀘어형 엔드밀 또는 볼형 엔드밀의 외경을 정밀하게 측정하기 위한 기기이다. 제4 카메라부(I240)는 스핀들(I330)에 결합된 엔드밀(1)을 Y축방향으로 바라보도록 위치되고, 스퀘어형 엔드밀 또는 볼형 엔드밀의 외경을 정밀 검사하는 제4 카메라(I241), 제4 카메라(I241)와 결합된 제4 연결부(I242) 및 Z축 방향으로 연장형성된 제4 지지대(I243)를 포함한다. 제4 연결부(I242)는 제1 지지대(I243)에 결합되어 제4 지지대(I243)를 따라 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 제4 연결부(I242)의 이동에 대응하여 이와 결합된 제4 카메라(I241) 또한 Z축 방향으로 왕복이동이 가능하다. 이러한 구조로 인해, 검사 대상인 엔드밀의 Z축 방향으로의 길이에 대응하여 제4 카메라(I241)의 위치를 이동할 수 있고, 다양한 크기의 엔드밀에 맞춤식으로 검사를 수행할 수 있는 장점이 있다.At this time, the checking unit I200 may further include a fourth camera unit I240. The fourth camera unit I240 is a device for precisely measuring the outer diameter of the square end mill or the ball end mill. The fourth camera unit I240 includes a fourth camera I241 positioned so as to face the end mill 1 coupled to the spindle I330 in the Y axis direction and closely examining the outer diameter of the square end mill or the ball end mill, A fourth connection I242 coupled with the fourth camera I241, and a fourth support I243 extending in the Z axis direction. The fourth connection I242 is coupled to the first support I243 and is capable of reciprocating in the Z-axis direction along the fourth support I243. The fourth camera I241 coupled to the fourth connection I242 can also reciprocate in the Z-axis direction. With this structure, the position of the fourth camera I241 can be moved in correspondence with the length in the Z-axis direction of the end mill to be inspected, and it is possible to carry out the inspection on the end mills of various sizes in a customized manner.

스핀들(I330)은 가이드 레일(I310)을 따라 Y축 방향으로 이동하되, 제1 카메라부(I210) 내지 제4 카메라부(I240)를 순차적으로 통과한다. 제4 카메라부(I240)까지 이동하여 치핑 검사가 완료되면, 스핀들(I330)은 다시 최초의 위치로 돌아오게 된다.The spindle I330 moves in the Y-axis direction along the guide rail I310, and sequentially passes through the first camera section I210 to the fourth camera section I240. When the chipping inspection is completed by moving to the fourth camera unit I240, the spindle I330 returns to the initial position.

이하 제어부(C130)의 비전검사장치(I1)의 동작 제어를 도 8 내지 도 17을 참조하여 기술한다.Hereinafter, the operation control of the vision inspection apparatus I1 of the control unit C130 will be described with reference to Figs. 8 to 17. Fig.

도 8은 본 발명에 따른 비전검사장치 플랫폼의 작동을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 9는 본 발명에 따른 엔드밀 정상여부판별 방법을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 10 내지 도 17은 본 발명에 따른 비전검사장치 플랫폼의 디스플레이부에 도시된 화면을 나타낸 도면이다.8 is a view schematically showing the operation of the vision inspection apparatus platform according to the present invention. 9 is a view schematically showing a method of discriminating whether an end mill is normal according to the present invention. 10 to 17 are views showing screens on a display unit of the vision inspection apparatus platform according to the present invention.

도 8을 참조하면, 제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 제어할 수 있다. 비전검사장치(I1)에서 엔드밀(1)의 검사를 위해 주로 가동되는 유닛을 가동 유닛(movable element)이라하며, 제어부(C130)는 가동 유닛을 조절하여 엔드밀(1)의 검사를 수행한다. 이러한 가동 유닛은 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)을 포함한다.Referring to FIG. 8, the controller C130 can control the movements of the camera units I210, I220, I230 and I240, the palette units I610, I620 and I630, the gripper I530 and the spindle I330. A unit that is mainly operated for inspection of the end mill 1 in the vision inspection apparatus I1 is referred to as a movable element and the control unit C130 performs inspection of the end mill 1 by adjusting the movable unit . These movable units include camera sections I 210, I 220, I 230 and I 240, pallet sections I 610, I 620 and I 630, grippers I 530 and spindles I 330.

전술한 바와 같이 검사 대상인 엔드밀(1)은 팔레트부(I600)에서부터 그리퍼(I530)를 통해 집어올려지며, 스핀들(I330)은 그리퍼(I530)로부터 엔드밀(1)을 삽입하여 카메라부(I210, I220, I230, I240)로 이동시키고, 카메라부(I210, I220, I230, I240)는 엔드밀(1)의 치핑 검사를 수행한다. 제어부(C130)는 각 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 제어함으로써 엔드밀(1)의 치핑 검사를 용이하게 수행하도록 제어 할 수 있다.As described above, the end mill 1 to be inspected is picked up from the pallet portion I600 through the gripper I530, and the spindle I330 inserts the end mill 1 from the gripper I530, I220, I230, and I240, and the camera units I210, I220, I230, and I240 perform chipping inspection of the end mill 1. The controller C130 controls the motion of the camera units I210, I220, I230 and I240, the pallet units I610, I620 and I630, the gripper I530 and the spindle I330, Can be controlled easily.

엔드밀(1)은 스퀘어형 정상 엔드밀(1-1), 스퀘어형 비정상 엔드밀(1-2), 볼형 정상 엔드밀(1-3), 볼형 비정상 엔드밀(1-4)을 포함할 수 있다. 엔드밀(1)의 비정상 여부는 검사 파라미터 중 적어도 하나 이상의 파라미터가 수치범위 외에 속하는 경우 비정상으로 판별될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 사용자는 정상, 비정상 여부에 대한 다양한 기준을 설정할 수 있으며, 이를 메모리부(C140)에 미리 저장하여, 제어부(C130)로 하여금 엔드밀(1)의 정상여부 판별에 이용하도록 할 수 있다.The end mill 1 includes a square type end mill 1 - 1, a square type end mill 1 - 2, a ball type end mill 1 - 3, and a ball type abnormal end mill 1 - 4 . The abnormality of the end mill 1 may be determined to be abnormal if at least one of the inspection parameters belongs to a value outside the numerical range, but is not limited thereto. The user can set various criteria for whether the end mill 1 is normal or abnormal and may store it in the memory unit C140 in advance and use the control unit C130 for determining whether the end mill 1 is normal or not.

도 8을 참조하면, 제어부(C130)는 제1 팔레트부(I610)에 삽입된 엔드밀(1)의 종류를 판별할 수 있다. 예를 들어, 스퀘어형 엔드밀(1-1, 1-2)과 볼형 엔드밀(1-3, 1-4)의 두 가지 분류로 판별할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 제어부(C130)는 스핀들(I330)과 그리퍼(I530)를 제어하여 스퀘어형 엔드밀(1-1, 1-2)은 제1 카메라부(I210)로 이송하고, 볼형 엔드밀(1-3, 1-4)는 제2 카메라부(I220)로 이송하여 상부 치핑 여부를 검사할 수 있다. 제어부(C130)는 스핀들(I330)과 그리퍼(I530)를 제어하여 엔드밀(1)의 직경을 제3 카메라부(I230)로 검사하고, 엔드밀(1)의 직경을 제4 카메라부(I240)로 검사할 수 있다. 제어부(C130)는 검사부(I200)의 엔드밀(1)의 촬영 영상으로부터 엔드밀(1)의 정상 여부를 판별할 수 있다. 정상 스퀘어형 엔드밀(1-1), 정상 볼형 엔드밀(1-3)은 제2 팔레트부(I620)에 삽입되고, 비정상 스퀘어형 엔드밀(1-2), 비정상 볼형 엔드밀(1-4)은 제3 팔레트부(I630)에 삽입될 수 있다. 제어부(C130)는 정상형 엔드밀의 개수를 계수하여 디스플레이부(C120)에 표시하고, 비정상형 엔드밀의 개수를 계수하여 디스플레이부(C120)에 표시할 수 있다. 제어부(C130)는 검사 대상인 엔드밀의 전체 개수를 계수하여 디스플레이부(C120)에 표시할 수 있다.Referring to FIG. 8, the controller C130 can determine the type of the end mill 1 inserted into the first pallet I610. For example, it can be discriminated by two types of the square type end mills 1-1 and 1-2 and the ball type end mills 1-3 and 1-4, but the present invention is not limited thereto. The controller C130 controls the spindle I330 and the gripper I530 to transfer the square end mills 1-1 and 1-2 to the first camera unit I210 and the ball end mills 1-3, 1-4 may be transferred to the second camera unit I220 to check whether or not the upper chipping is performed. The control unit C130 controls the spindle I330 and the gripper I530 to check the diameter of the end mill 1 with the third camera unit I230 and adjust the diameter of the end mill 1 to the fourth camera unit I240 ). The control unit C130 can determine whether the end mill 1 is normal from the photographed image of the end mill 1 of the inspection unit I200. The normal square type end mill 1-1 and the normal ball type end mill 1-3 are inserted into the second pallet part I620 and inserted into the unbalanced square end mill 1-2, 4 may be inserted into the third pallet portion I630. The control unit C 130 counts the number of the stationary end mills and displays them on the display unit C 120 and counts the number of abnormal end mills and displays them on the display unit C 120. The control unit C 130 can count the total number of end mills to be inspected and display them on the display unit C 120.

제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240)에 의해 촬영된 엔드밀 영상을 치핑 여부를 결정하기 용이하도록 처리할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 엔드밀 영상을 처리하여 데이터로 변환할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 촬영된 영상의 엔드밀과 배경부분을 분리하여, 외곽선 부분을 추출할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 외곽선을 함수로 근사하거나, 데이터화 시킬 수 있다. 제어부(C130)는 엔드밀 영상을 처리하는 일체의 방법을 이용할 수 있으며 상술한 예시에 한정되는 것은 아니다.The control unit C 130 may process the end millimeter image photographed by the camera units I 210, I 220, I 230, and I 240 to facilitate determination of whether or not chipping is to be performed. For example, the control unit C 130 can process the end millimeter image and convert it into data. For example, the control unit C 130 can extract the end mill and the background portion of the photographed image, and extract the outline portion. For example, the control unit C130 can approximate or convert the outline into a function or data. The control unit C130 may use any method for processing the end millimage image, and is not limited to the above-described example.

제어부(C130)는 처리된 엔드밀 영상으로부터 엔드밀(1)의 치핑여부를 검사할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 엔드밀 영상을 처리하여 얻어낸 검사 파라미터와 이에 대응한 수치를 비교하여 치핑여부를 검사할 수 있다.The control unit C 130 can check whether the end mill 1 is chipped or not from the processed end millimages. For example, the control unit C 130 may check the chipping by comparing the inspection parameter obtained by processing the end millimeter image and the corresponding numerical value.

제어부(C130)는 이러한 제어 및 처리를 위한 일체의 프로그램 및 명령어를 실행할 수 있으며, 이러한 명령어 및 프로그램은 메모리부(I120)에서부터 읽어들일 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 가동 유닛의 용이한 제어를 위해 가동 유닛의 기설정된 가동 실시예를 디스플레이부(C120)에 도시할 수 있다. 도 10을 참조하면, 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330), 카메라부(I210, I220, I230, I240)의 가동 실시예가 GUI로 디스플레이부(C120)에 도시되며, 사용자는 해당 아이콘을 선택함으로써, 가동 유닛을 효율적으로 제어할 수 있다. 제어부(C130) 및 메모리부(C140)는 이러한 GUI를 제공하기 위한 일체의 프로그램 및 명령어를 실행하고 불러올 수 있다.The control unit C130 can execute all programs and commands for such control and processing, and these commands and programs can be read from the memory unit I120. For example, the control unit C 130 may display a predetermined operation example of the movable unit on the display unit C 120 for easy control of the movable unit. 10, a movable embodiment of pallet portions I610, I620, I630, gripper I530, spindle I330, camera portions I210, I220, I230, I240 is displayed on the display portion C120 as a GUI And the user can efficiently control the movable unit by selecting the corresponding icon. The control unit C130 and the memory unit C140 can execute and invoke all programs and commands for providing such a GUI.

제어부(C130)는 비전검사장치(10)로부터 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 실시간으로 전달받을 수 있다. 제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 정밀하게 제어할 수 있다. 예를 들어, 도 16을 참조하면, 제어부(C130)는 실시간으로 전달받은 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 디스플레이부(C140)에 표시할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 전달받은 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 가상의 시뮬레이션 화면으로 디스플레이부(C140)에 표시할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 제어부(C130)는 별도의 촬영 장치(미도시)를 이용하여 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 디스플레이부(C140)에 표시할 수 있다.The control unit C 130 receives the movement of the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240, the pallet units I 610, I 620 and I 630, the gripper I 530 and the spindle I 330 from the vision inspection apparatus 10 in real time . The controller C130 can precisely control the movements of the camera units I210, I220, I230 and I240, the palette units I610, I620 and I630, the gripper I530 and the spindle I330. For example, referring to FIG. 16, the controller C130 may include a camera unit I210, I220, I230, I240, palette units I610, I620, I630, a gripper I530, a spindle I330, Can be displayed on the display unit C140. For example, the control unit C 130 displays the motion of the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240, the palette units I 610, I 620, I 630, the gripper I 530 and the spindle I 330 in a virtual simulation screen But the present invention is not limited thereto. For example, the control unit C130 may control the camera units I210, I220, I230, I240, pallet units I610, I620, I630, gripper I530, Can be displayed on the display unit C140.

제어부(C130)는 비전검사장치(10)로부터 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 위치 정보를 실시간으로 전달 받을 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 위치 정보를 x,y,z 좌표계로 환산한 위치 데이터를 비전검사장치(10)로부터 전달받을 수 있다. 도 15를 참조하면, 제어부(C130)는 이러한 위치 정보를 디스플레이부(C140)에 표시할 수 있다. The control unit C 130 transmits the position information of the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240, the pallet units I 610, I 620 and I 630, the gripper I 530 and the spindle I 330 from the vision inspection apparatus 10 in real time Can receive. For example, the control unit C 130 stores position information of the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240, pallet units I 610, I 620, I 630, gripper I 530 and spindle I 330 in the x, y, Can be received from the vision inspection apparatus 10. Referring to FIG. 15, the controller C130 may display the position information on the display unit C140.

사용자는 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)과 같은 가동 유닛의 움직임과 위치를 디스플레이부(C140)를 통해 확인함으로써 플랫폼의 작동을 직관적으로 확인할 수 있다. 사용자가 플랫폼의 작동을 실시간으로 직관적으로 확인할 수 있음으로써, 사용자는 특정 가동 유닛의 작동을 사용자 입력부(C110)를 통해 직접 제어 할 수 있다. 이로 인해, 플랫폼의 구동이 보다 사용자 친화적으로 이루어질 수 있다. 제어부(C130)는 사용자 입력부(C110)로부터 입력된 사용자의 명령에 따라, 카메라부(I210, I220, I230, I240), 팔레트부(I610, I620, I630), 그리퍼(I530), 스핀들(I330)의 움직임을 제어할 수 있다. 도 8을 참조하면, 제어부(C130)는 가동 유닛의 작동을 직관적으로 제어할 수 있는 GUI(graphic user interface)를 디스플레이부(C140)에 출력시킬 수 있다.The user confirms the movement and position of the movable unit such as the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240, the pallet units I 610, I 620 and I 630, the gripper I 530 and the spindle I 330 through the display unit C 140 So that the operation of the platform can be intuitively confirmed. The user can intuitively confirm the operation of the platform in real time, so that the user can directly control the operation of the specific movable unit through the user input unit C110. As a result, the operation of the platform can be made more user-friendly. The control unit C130 controls the camera units I210, I220, I230 and I240, the pallet units I610, I620 and I630, the gripper I530 and the spindle I330 according to the user's command inputted from the user input unit C110. Can be controlled. Referring to FIG. 8, the control unit C 130 may output a graphic user interface (GUI) to the display unit C 140 to intuitively control the operation of the movable unit.

도 11 내지 14를 참조하면, 제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240)에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 화면을 디스플레이부(C140)에 출력시킬 수 있다. 제어부(C130)는 카메라부(I210, I220, I230, I240)에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하기 위해 메모리부(C120)에 미리 저장된 이미지 처리 알고리즘 중 어느 하나를 선택할 수 있다. 사용자는 사용자 입력부(C110)를 통해 이미지 처리 알고리즘을 선택할 수 있다. 예를 들어, 도 11 및 14를 참조하면 사용자는 제 1 카메라부(I210)에서 촬영된 엔드밀(1) 영상의 처리를 위한 이미지 처리 알고리즘을 선택할 수 있다. 예를 들어, 도 13를 참조하면 사용자는 제 2 카메라부(I220)에서 촬영된 엔드밀(1) 영상의 처리를 위한 이미지 처리 알고리즘을 선택할 수 있다. 예를 들어, 도 14를 참조하면 사용자는 제 3 카메라부(I230)에서 촬영된 엔드밀(1) 영상의 처리를 위한 이미지 처리 알고리즘을 선택할 수 있다. 제어부(C110)는 선택된 이미지 처리 알고리즘에 따라 촬영된 엔드밀 영상을 처리할 수 있다. 제어부(C110)는 처리된 엔드밀 영상에서 검사 파라미터에 대응되는 수치를 도출할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C110)는 추출된 검사 파라미터에 대응되는 수치와 기설정된 수치를 비교하여 엔드밀의 치핑여부를 검사할 수 있다.Referring to FIGS. 11 to 14, the control unit C 130 may output a screen for processing the end millimeter image photographed by the camera units I 210, I 220, I 230 and I 240 to the display unit C 140. The control unit C 130 can select any one of the image processing algorithms stored in advance in the memory unit C 120 in order to process the end millimeter images captured by the camera units I 210, I 220, I 230, and I 240. The user can select an image processing algorithm through the user input unit C110. For example, referring to FIGS. 11 and 14, the user can select an image processing algorithm for processing the end mill 1 image photographed at the first camera section I 210. For example, referring to FIG. 13, the user can select an image processing algorithm for processing the end mill 1 image photographed at the second camera section I 220. For example, referring to FIG. 14, the user can select an image processing algorithm for processing the end mill 1 image photographed by the third camera unit I 230. The control unit C 110 may process the photographed end millimage image according to the selected image processing algorithm. The control unit C 110 can derive a numerical value corresponding to the inspection parameter in the processed end millimeter image. For example, the control unit C 110 may check whether the end mill is chipped by comparing the numerical value corresponding to the extracted inspection parameter with a preset numerical value.

기설정된 수치는 정상상태인 엔드밀의 특성을 나타내는 파라미터 수치를 포함할 수 있다. 예를 들어, 엔드밀의 상면 치핑, 상면 직경 검사, 라운드 치핑, 측면 치핑, 전장, 직경 검사, 직경 상하 각도의 적정 최소 범위부터 적정 최대 범위가 기설정되어 메모리부(C120)에 저장될 수 있다. 제어부(C110)는 처리된 엔드밀 영상에서 추출한 검사 파라미터가 상기 기설정된 수치 범위를 벗어나는 경우에는 해당 엔드밀이 불량인 것으로 판단할 수 있다. 도 10을 참조하면, 기설정 검사 파라미터의 각 항복이 최소값(MIN값)과 최대값(MAX)의 범위로 설정될 수 있으며, 엔드밀(1)의 영상 처리를 통해 추출된 추출 파라미터와 비교하여 엔드밀(1)의 정상여부를 판별할 수 있다. 제어부(C130)는 기설정 파라미터와 추출 파라미터의 대응되는 수치를 비교하여, 추출수치가 기설정 수치 범위와 동일하거나 이내에 속하는 경우에는 엔드밀(1)을 정상으로 판별하며, 범위 외에 속하는 경우는 비정상으로 판별할 수 있다.The predetermined value may include a parameter value indicating the characteristics of the end mill in a steady state. For example, the optimum maximum range from the optimum minimum range to the maximum and minimum diameters of the diameter of the end mill can be stored in the memory unit C 120, such as top chipping, top diameter checking, round chipping, side chipping, When the inspection parameter extracted from the processed end millimeter image is out of the predetermined numerical value range, the controller C110 may determine that the end mill is defective. Referring to FIG. 10, each yield of a preset inspection parameter may be set in a range of a minimum value (MIN value) and a maximum value (MAX), and is compared with an extraction parameter extracted through image processing of the end mill 1 It is possible to determine whether or not the end mill 1 is normal. The control unit C130 compares the numerical values of the pre-set parameter and the extracted parameter. If the extracted numerical value is within the same or within the pre-set numerical value range, the end mill 1 is determined to be normal. .

도 16을 참조하면, 검사 파라미터는 상부검사 파라미터, 볼검사 파라미터, 스캔검사 파라미터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 카메라(I211)가 스퀘어형 엔드밀을 상부방향에서 촬영한 영상은 상부검사 파라미터와 대응할 수 있다. 예를 들어, 상부검사 파라미터는 정렬 매칭스코어, 칩핑 정렬 범위, 칩핑 스코어, 칩핑 스케일 최소, 칩핑 스케일 최대, 날 서치 영역, 날 검출 강도, 날 치핑 깊이, 날 치핑 폭, 날 검출 최소 그레이, 디펙 검출 수치, 디펙 최소 크기, 에지노이즈 제거, 크기 스케일, 스펙 마진, 좌우반전 판단 등의 파라미터를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 16, an inspection parameter may include an upper inspection parameter, a ball inspection parameter, and a scan inspection parameter. For example, an image of the first camera I211 taken in the upper direction of the square end mill may correspond to the upper inspection parameter. For example, the upper inspection parameter may include at least one of a sort matching score, a chipping sort range, a chipping score, a chipping scale minimum, a chipping scale maximum, a search range, a blade detection strength, a blade chipping depth, And may include parameters such as a numerical value, a minimum profile size, an edge noise removal, a size scale, a specification margin, and a left / right reversal judgment.

정렬 매칭 스코어 파라미터는 정렬 ROI내 기준이미지와 매칭기준값을 설정하는 파라미터로 엔드밀 투입방향을 일정하게 맞추기 위한 기준이미지와의 매칭율(최대:100)을 판단하는 파라미터이다. 매칭율이 수치 이하인 경우 엔드밀이 혼입된 것으로 판단할 수 있다. 칩핑 정렬 범위 파라미터는 칩핑 ROI의 정렬(서치) 범위의 값을 설정하는 파라미터이다. 칩핑 영역만 별도로 정렬하여 매칭 후 검사시 사용되는 탐색 영역 범위를 설정한다. 치핑 스코어 파라미터는 칩핑 ROI의 기준 대비 매칭율을 가늠하는 기준 설정 파라미터이다. 치핑 스케일 최소 파라미터와 치핑 스케일 최대 파라미터는 치핑 ROI의 스케일값 설정의 수치 범위를 설정할 수 있다. 이는 엔드밀의 편차 발생시 사용하기 위하여 이용될 수 있다. 날 서치 영역 파라미터는 날치핑 ROI의 기준 이미지 대비 서치할 범위를 픽셀단위로 설정할 수 있다. 검사 엔드밀의 에지면을 검출하기 위한 탐색영역을 설정할 수 있다. 날 치핑 깊이는 날 치핑 최소 깊이 검출 사이즈를 나타낸다. 에지의 치핑 판단을 위한 기준에지로부터의 거리를 나타내며, 픽셀단위를 초과할 경우에는 치핑이 발생한 영역으로 판단할 수 있다. 날 치핑 폭은 날 치핑의 최소 폭을 검출하는 사이즈를 나타낸다. 에치의 치핑을 판단하기 위한 치핑 영역의 연속 거리를 픽셀 단위로 나타낸다. 날 검출 최소 그레이는 날의 결점을 검출하는 디펙디텍션의 검출에 요구되는 그레이 설정 값(1 내지 255)을 의미한다. 엔드밀 촬영 영상으로부터 날을 검출하는 경우에 영상의 주변 부에 일정 이상의 밝기 영역이 존재하면 유효영역으로 판단할 수 있다. 노이즈를 감소시키는 파라미터이다. 디펙 검출 임계치는 디펙 검출의 사이즈를 나타낸다. 치핑 후보군으로 판단하기 위한 기준영상대비의 편차영역에 대한 최소크기를 나타낸다. 에지노이즈 제거는 에지 부분의 주변 노이즈 제거율을 설정한다. 크기 스케일은 이미지 크기와 실제 제품과의 스케일 차이를 조정한다. 스펙 마진은 설정된 치핑 최소크기에서 마진값을 설정한다. 좌우반전 판단은 정렬시 좌우 반전에 대한 대상값을 나타낸다.The alignment matching score parameter is a parameter for setting the reference image in the alignment ROI and the matching reference value, and is a parameter for determining the matching rate (maximum: 100) with the reference image for uniformly aligning the end mill insertion direction. If the matching rate is less than the numerical value, it can be judged that the end mill is mixed. The chipping alignment range parameter is a parameter for setting the value of the alignment (search) range of the chipping ROI. Only the chipping areas are sorted separately to set the search area range used in the inspection after matching. The chipping score parameter is a reference setting parameter for determining a matching ratio with respect to a reference of a chipping ROI. The chipping scale minimum parameter and the chipping scale maximum parameter can set the numerical range of the scale value setting of the chipping ROI. This can be used for use in the event of a deviation in the end mill. The search range parameter can set a search range in pixels for the reference image of the chopping ROI. A search area for detecting the edge face of the inspection end mill can be set. The blade chipping depth represents the blade chipping minimum depth detection size. Represents the distance from the reference edge for determining the chipping of the edge, and if it exceeds the pixel unit, it can be judged to be the area where the chipping occurs. The blade chipping width represents a size for detecting the minimum width of the blade chipping. The continuous distance of the chipping area for determining the chipping of the etch is expressed in pixel units. The edge detection minimum gray means the gray setting value (1 to 255) required for detection of defects to detect defects of the edge. When the edge is detected from the end-millimeter photographing image, it can be judged that the effective region exists when a certain brightness region exists in the peripheral portion of the image. It is a parameter to reduce noise. The defective detection threshold indicates the size of defective detection. And the minimum size of the deviation area with respect to the reference image for judging the chipping candidate. The edge noise removal sets the peripheral noise removal rate of the edge portion. Size Scale adjusts the scale difference between the image size and the actual product. The spec margin sets the margin value at the set minimum chipping size. The left-right reversal judgment indicates a target value for the left-right reversal at the time of sorting.

예를 들어, 제2 카메라(I221)가 볼형 엔드밀을 상부방향에서 촬영한 영상은 볼검사 파라미터와 대응할 수 있다. 예를 들어, 볼검사 파라미터는 정렬 매칭스코어, 칩핑 정렬 범위, 칩핑 스코어, 칩핑 스케일 최소, 칩핑 스케일 최대, 날 서치 영역, 날 검출 강도, 날 치핑 깊이, 날 치핑 폭, 날 검출 최소 그레이, 디펙 검출 수치, 디펙 최소 크기, 에지노이즈 제거, 크기 스케일, 스펙 마진, 좌우반전 판단 등의 파라미터를 포함할 수 있다. 상부검사 파라미터와 볼검사 파라미터는 실질적으로 동일하므로 중복되는 설명은 생략한다.For example, an image of the second camera I221 taken in the upper direction of the ball-type end mill can correspond to the ball inspection parameter. For example, the ball inspection parameters may include a sort matching score, a chipping sort range, a chipping score, a chipping scale minimum, a chipping scale maximum, a search range, a blade detection strength, a blade chipping depth, And may include parameters such as a numerical value, a minimum profile size, an edge noise removal, a size scale, a specification margin, and a left / right reversal judgment. Since the upper inspection parameter and the ball inspection parameter are substantially the same, redundant description is omitted.

예를 들어, 제3 카메라(I231)이 스퀘어형 엔드밀 또는 볼형 엔드밀을 측면방향에서 촬영한 영상은 스캔검사 파라미터와 대응될 수 있다. 예를 들어, 스캔검사 파라미터는 정렬범위(H), 정렬범위(V), 정렬 매칭스코어, 정렬 치핑범위, 치핑 스코어, 치핑 스케일 최소, 치핑 스케일 최대, 날 서치 영역, 날 검출 강도, 날 칩핑 깊이, 날 칩핑 폭, 날 검출 최소 그레이, 에지 검출 방향, 기준 길이, 기준 좌표, 분해능, 크기 스케일, 스펙 마진 등의 파라미터를 포함할 수 있다.For example, an image of the third camera I231 taken in the lateral direction of the square end mill or the ball end mill may correspond to the scan inspection parameter. For example, the scan inspection parameters may include a sorting range (H), a sorting range (V), a sorting match score, an alignment chipping range, a chipping score, a chipping scale minimum, a chipping scale maximum, , Edge chipping width, edge detection minimum gray, edge detection direction, reference length, reference coordinates, resolution, size scale, spec margin, and the like.

정렬범위(H)는 라인 스켄 이미지 사이즈가 일정 픽셀 범주 내에서 정렬 ROI가 서치될 수 있도록 범위를 설정하는 가로 방향 영역을 의미한다. 정렬범위(V)는 라인 스켄 이미지 사이즈가 일정 픽셀 범주 내에서 정렬 ROI가 서치될 수 있도록 범위를 설정하는 가로 방향 영역을 의미한다. 에지 검출 방향은 날 "?藪? 따른 방향 설정 수치를 나타낸다. 예를 들어, 에지 검출 방향이 1이면 우측 의미하고, -1이면 좌측을 의미할 수 있다. 이는 예시에 불과하며 한정되지 않는다. 기준 길이는 전장 길이를 나타내고, 기준 좌표는 실제 이미지상 엣지까지의 픽셀의 개수를 나타낸다. 분해능은 서로 다른 샘플의 수치 차이를 이미지상의 좌표로 나눈 값을 나타낸다. 크기 스케일은 이미지 크기와 실제 제품의 스케일 차이를 조정하는 수치를 나타낸다. 스펙 마진은 설정된 치핑 최소 크기에서의 마진값을 설정하는 파라미터이다. 정렬 매칭스코어, 정렬 치핑범위, 치핑 스코어, 치핑 스케일 최소, 치핑 스케일 최대, 날 서치 영역, 날 검출 강도, 날 칩핑 깊이, 날 칩핑 폭, 날 검출 최소 그레이는 상부검사 파라미터에서 이미 기술한 바 있으므로 중복되는 설명은 생략한다.The alignment range H means a horizontal area in which the line scan image size sets the range so that the alignment ROI can be searched within a certain pixel category. The alignment range V means a horizontal area in which the line scan image size sets the range so that the alignment ROI can be searched within certain pixel categories. For example, if the edge detection direction is 1, it means the right side, and if the edge detection direction is 1, it means the left side, which is an example only. The resolution represents the numerical difference of different samples divided by the coordinates on the image. The scale of the scale represents the scale of the image and the scale of the actual product, and the reference scale represents the number of pixels to the edge of the actual image. The specification margin is a parameter for setting the margin value at the set minimum chipping size. The alignment matching score, the alignment chipping range, the chipping score, the chipping scale minimum, the chipping scale maximum, Strength, chipping depth, chipping width, edge detection The minimum gray has already been described in the upper inspection parameters, Names omitted.

제어부(C130)는 검사 대상 엔드밀이 삽입된 제 1 팔레트부로부터 검사 대상 엔드밀의 불량 여부를 검사하고, 엔드밀이 정상인 경우에는 엔드밀을 제 2 팔레트부에 삽입하고, 엔드밀이 불량인 경우에는 엔드밀을 제 3 팔레트부에 삽입하도록 팔레트부, 검사부, 스핀들, 그리퍼를 제어할 수 있다. 예를 들어, 검사 대상 엔드밀에서 추출된 수치와 대응되는 기설정된 검사 파라미터를 비교할 때 추출된 수치가 기설정된 수치 범위의 경계 및 내부에 존재하는 경우에는 해당 검사 대상 엔드밀은 정상이므로 해당 엔드밀을 제 2 팔레트부에 삽입할 수 있다. 예를 들어, 검사 대상 엔드밀에서 추출된 수치와 대응되는 기설정된 검사 파라미터를 비교할 때 추출된 수치가 기설정된 수치 범위 외부에 존재하는 경우에는 해당 검사 대상 엔드밀은 비정상이므로 해당 엔드밀을 제 3 팔레트부에 삽입할 수 있다.The control unit C 130 checks whether the end mill to be inspected is defective or not from the first palette unit into which the end mill to be inspected is inserted. If the end mill is normal, the end mill is inserted into the second pallet unit. , The pallet part, the inspection part, the spindle, and the gripper can be controlled to insert the end mill into the third pallet part. For example, when the numerical value extracted from the end mill to be tested is compared with the corresponding predetermined inspection parameter, if the extracted numerical value exists in the boundary of the predetermined numerical range and inside, the end mill is normal, Can be inserted into the second pallet portion. For example, when the numerical value extracted from the end mill to be inspected is compared with the corresponding predetermined inspection parameter, if the extracted numerical value exists outside the predetermined numerical range, the end mill to be inspected is abnormal, It can be inserted into the pallet part.

제어부(C130)는 제 2 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수 및 제 3 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수를 각각 계수할 수 있다. 제어부(C130)는 제 2 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수 및 제 3 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수를 디스플레이부에 출력할 수 있다.The controller C130 can count the number of end mills to be inspected inserted into the second pallet and the number of end mills to be inspected inserted into the third pallet. The controller C130 may output the number of end mills to be inspected inserted into the second pallet and the number of end mills to be inspected inserted into the third pallet to the display unit.

제어부(C130)는 제 1 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인지 볼형 엔드밀인지를 판단할 수 있다. 예를 들어, 사용자는 사용자 입력부를 통해 제 1 팔레트부에 삽입된 엔드밀의 종류를 직접 입력 할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 별도의 카메라부(미도시)를 통해 제 1 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀을 촬영하고, 영상 처리를 통해 검사 대상 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인지 볼형 엔드밀인지 판단할 수 있다. 전술한 판단 방법은 예시에 불과하며 한정되지 않는다.The control unit C 130 can determine whether the inspection object end mill inserted into the first pallet is a square end mill or a ball end mill. For example, the user can directly input the type of the end mill inserted into the first pallet through the user input unit. For example, the controller C130 photographs the end mill inserted in the first pallet through a separate camera unit (not shown), and through the image processing, the end mill to be inspected is a square end mill or a ball end Whether it is wheat can be judged. The above-described determination method is merely an example and is not limited.

제어부(C130)는 제 1 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인 경우에는 제 1 카메라부에서 엔드밀의 치핑을 검사한다. 제어부(C130)는 제 1 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀이 볼형 엔드밀인 경우에는 제 2 카메라부에서 엔드밀의 치핑을 검사한다. When the end mill to be inspected inserted into the first pallet is a square end mill, the control unit C130 checks the chipping of the end mill in the first camera unit. If the end mill to be inspected inserted into the first pallet part is a ball-type end mill, the control part C 130 checks the chipping of the end mill in the second camera part.

제어부(C130)는 제 3 카메라를 제어하여 검사 대상 엔드밀의 전장 길이를 검사할 수 있다. 제어부(C130)는 제 3 카메라로 검사 대상 엔드밀의 측면 영상을 촬영하고, 촬영된 측면 영상을 처리하여 전장길이 수치를 도출할 수 있다. 제어부(C130)는 볼형 엔드밀 및 스퀘어형 엔드밀의 전장길이 수치를 도출할 수 있다. 제어부(C130)는 도출된 전장길이가 기설정된 전장길이의 수치범위의 외부에 위치하는 경우에는 해당 엔드밀이 불량인 것으로 판단할 수 있다.The controller C130 can control the third camera to inspect the overall length of the end mill to be inspected. The control unit C130 can photograph the side image of the end mill to be inspected with the third camera and process the photographed side image to derive the total length value. The control unit C 130 can derive the total length values of the ball end mill and the square end mill. The controller C130 can determine that the end mill is defective when the derived overall length is outside the numerical range of the predetermined total length.

제어부(C130)는 제 4 카메라를 이용하여 검사 대상 엔드밀의 외경을 검사할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C130)는 볼형 엔드밀 및 스퀘어형 엔드밀의 외경을 마이크로미터를 제어하여 외경 수치를 측정할 수 있다. 제어부(C130)는 도출된 엔드밀의 외경이 기설정된 외경의 수치범위의 외부에 위치하는 경우에는 해당 엔드밀이 불량인 것으로 판단할 수 있다.The controller C130 can check the outer diameter of the end mill to be inspected using the fourth camera. For example, the controller C130 can measure the outer diameter of the ball end mill and the square end mill by controlling the micrometer. The control unit C130 can determine that the end mill is defective when the outer diameter of the end mill is outside the numerical range of the predetermined outer diameter.

도 17을 참조하면, 제어부(C130)는 제어 파라미터에 따라 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어할 수 있다. 예를 들어, 제어 파라미터는 사용자 입력부를 통해 입력되거나 또는 메모리부에 미리 저장되어 있을 수 있다. 제어 파라미터는 가동 유닛의 움직임을 제어하는 데 요구되는 각종 파라미터를 포함할 수 있으며 특정 실시예에 제한되지 않는다. 제어 파라미터는 예를 들어, 검사 관리 파라미터, 포지션 캘리브레이션 파라미터, 장비 운용 파라미터, 통신 파라미터, 검사 파라미터, 카메라 정보 파라미터를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 17, the control unit C 130 can control the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle according to the control parameters. For example, the control parameters may be entered via the user input or pre-stored in the memory. The control parameter may include various parameters required to control the movement of the movable unit and is not limited to a specific embodiment. The control parameters may include, for example, inspection management parameters, position calibration parameters, equipment operation parameters, communication parameters, inspection parameters, and camera information parameters.

검사 관리 파라미터는 가동 유닛들의 로딩/언로딩 위치, 상부검사 위치, 볼 검사위치, 측면스캔 검사위치, 직경 검사위치, 구동 속도 등의 파라미터를 포함할 수 있다. 포지션 캘리브레이션 파라미터는 트레이 길이, 트레이 오프셋 등의 파라미터를 포함할 수 있다. 장비 운용 파라미터는 장비 운용 관련 시퀀스를 컨트롤하는 파라미터를 포함할 수 있다. 통신 파라미터는 통신에 소요되는 시간 및 통신포트를 관리하는 파라미터를 포함할 수 있다. 전장 파라미터는 기준 길이, 좌표, 분해능 파라미터를 포함할 수 있다. 카메라 정보는, 제 1 카메라, 제 2 카메라, 제 3 카메라의 픽셀 위치를 나타내는 파라미터를 포함할 수 있다.The inspection management parameter may include parameters such as a loading / unloading position of the movable units, an upper inspection position, a ball inspection position, a side scan inspection position, a diameter inspection position, and a driving speed. The position calibration parameters may include parameters such as tray length, tray offset, and the like. The instrument operation parameters may include parameters that control the sequence related to the instrument operation. The communication parameter may include a time required for communication and a parameter for managing the communication port. The overall length parameter may include a reference length, a coordinate, and a resolution parameter. The camera information may include a parameter indicating pixel positions of the first camera, the second camera, and the third camera.

이상에서 다양한 실시예를 들어 본 발명을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described with reference to the particular embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims.

C100 : 제어장치
C110 : 사용자 입력부
C120 : 디스플레이부
C130 : 제어부
C140 : 메모리부
I1 : 비전검사장치
I100 : 컨베이어부
I200 : 검사부
I300 : 이송부
I400 : 레일부
I500 : 픽업부
I600 : 팔레트부C100: Control device
C110: User input
C120:
C130:
C140:
I1: vision inspection device
I100: Conveyor section
I200: Inspector
I300:
I400: Le Mans
I500: Pickup section
I600: pallet part

Claims (16)

제어장치와 비전검사장치를 포함하는 비전검사장치 플랫폼에 있어서,
상기 비전검사장치는,
검사 대상 엔드밀이 삽입되는 제 1 팔레트를 포함하는 팔레트부;
검사 대상 엔드밀의 치핑을 검사하는 카메라부;
상기 제 1 팔레트로부터 검사 대상 엔드밀을 꺼내 이동시키는 그리퍼; 및
상기 그리퍼로부터 검사 대상 엔드밀을 전달받아 상기 카메라부로 이동시키는 스핀들;을 포함하고,
상기 제어장치는,
사용자의 명령이 입력될 수 있는 사용자 입력부;
프로그램이 저장되는 메모리부; 및
상기 메모리부로부터 읽어들인 상기 프로그램을 실행하고, 상기 사용자 입력부로부터 입력된 사용자의 명령에 따라 상기 프로그램을 제어하는 제어부; 및
상기 제어부에서 실행되는 상기 프로그램이 표시되는 디스플레이부;를 포함하고,
상기 프로그램은,
상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계;
상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계; 및
처리된 엔드밀 영상으로부터 엔드밀의 치핑여부를 검사하는 단계;를 실행하는 명령어들을 포함하는 비전검사장치 플랫폼.A vision inspection device platform comprising a control device and a vision inspection device,
The vision inspection apparatus includes:
A pallet portion including a first pallet into which an end mill to be inspected is inserted;
A camera unit for inspecting the chipping of the end mill to be inspected;
A gripper for pulling and moving the end mill to be tested from the first pallet; And
And a spindle for receiving the end mill to be inspected from the gripper and moving the end mill to the camera unit,
The control device includes:
A user input unit through which a user's command can be input;
A memory unit for storing a program; And
A control unit that executes the program read from the memory unit and controls the program according to a user command input from the user input unit; And
And a display unit for displaying the program executed by the control unit,
The program includes:
Controlling movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle;
Processing an end millimeter image photographed by the camera unit; And
And inspecting whether the end mill is chipped from the processed end millimages. 제 1 항에 있어서,
상기 프로그램은,
상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 위치 정보를 실시간으로 상기 비전검사장치로부터 전달받는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
The program includes:
And receiving the positional information of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle in real time from the vision inspection apparatus. 제 2 항에 있어서,
상기 프로그램은 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 위치 정보를 상기 디스플레이에 표시하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.3. The method of claim 2,
And displaying the position information of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle on the display. 제 1 항에 있어서,
상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,
상기 사용자 입력부로부터 입력된 사용자의 명령에 따라 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,
Wherein the control unit controls movement of the camera unit, the palette unit, the gripper, and the spindle according to a user command input from the user input unit. 제 1 항에 있어서,
상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계는,
상기 메모리부에 미리 저장된 이미지 처리 알고리즘 중 어느 하나를 선택하는 단계;
선택된 이미지 처리 알고리즘에 따라 촬영된 엔드밀 영상을 처리하는 단계; 및
처리된 엔드밀 영상에서 검사 파라미터에 대응되는 수치를 도출하는 단계;를 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
Wherein the processing of the end millimeter image photographed by the camera unit comprises:
Selecting any one of the image processing algorithms previously stored in the memory unit;
Processing the photographed endmill image according to the selected image processing algorithm; And
And deriving a numerical value corresponding to the inspection parameter in the processed end millimeter image. 제 5 항에 있어서,
상기 처리된 엔드밀 영상으로부터 엔드밀의 치핑여부를 검사하는 단계는,
상기 검사 파라미터에 대응되는 수치와 기설정된 수치를 비교하는 단계;를 포함하는 비전검사장치 플랫폼.6. The method of claim 5,
The step of checking whether or not chipping of the end mill is performed from the processed end-
And comparing the numerical value corresponding to the inspection parameter with a preset numerical value. 제 6 항에 있어서,
상기 팔레트부는 정상 상태의 엔드밀이 삽입되는 제 2 팔레트부와 비정상 상태의 엔드밀이 삽입되는 제 3 팔레트부를 더 포함하고,
상기 프로그램은,
상기 기설정된 검사 파라미터에 대응되는 수치가 기설정된 수치와 비교하여 정상으로 판단되는 경우에는 검사 대상 엔드밀을 제 2 팔레트부에 삽입하는 단계; 및
상기 기설정된 검사 파라미터에 대응되는 수치가 기설정된 수치와 비교하여 비정상으로 판단되는 경우에는 검사 대상 엔드밀을 제 3 팔레트부에 삽입하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 6,
Wherein the pallet portion further includes a second pallet portion into which the end mill is inserted in a steady state and a third pallet portion into which the end mill in an abnormal state is inserted,
The program includes:
Inserting an end mill to be tested into a second pallet portion when the numerical value corresponding to the predetermined inspection parameter is determined to be normal compared with a preset numerical value; And
Inserting an end mill to be inspected into the third palette unit when a value corresponding to the predetermined inspection parameter is determined to be abnormal compared with a predetermined value. 제 7 항에 있어서,
상기 프로그램은,
상기 제 2 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수 및 상기 제 3 팔레트부에 삽입된 검사 대상 엔드밀의 개수를 각각 계수하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.8. The method of claim 7,
The program includes:
And counting the number of end mills inserted into the second pallet part and the number of end mills inserted into the third pallet part, respectively. 제 1 항에 있어서,
상기 카메라부는, 스퀘어형 엔드밀의 스퀘어 날의 치핑을 검사하는 제1 카메라, 볼형 엔드밀의 볼 날의 치핑을 검사하는 제2 카메라를 포함하고,
상기 프로그램은, 상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인지 볼형 엔드밀인지 판단하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하고,
상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,
상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 스퀘어형 엔드밀인 경우에는 상기 제1 카메라에서 엔드밀의 치핑을 검사하고,
상기 제 1 팔레트에 삽입된 엔드밀이 볼형 엔드밀인 경우에는 상기 제2 카메라에서 엔드밀의 치핑을 검사하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
Wherein the camera section includes a first camera for inspecting chipping of a square blade of a square end mill, and a second camera for inspecting chucking of a ball blade of the ball-type end mill,
Determining whether the end mill inserted in the first pallet is a square endmill or a ball-type endmill, the program further comprising:
The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,
When the end mill inserted into the first pallet is a square end mill, the chucking of the end mill is checked in the first camera,
And inspecting chippings of the end mill in the second camera when the end mill inserted in the first pallet is a ball-type end mill. 제 1 항에 있어서,
상기 메모리부는 제어 파라미터와 검사 파라미터를 저장하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
Wherein the memory unit stores control parameters and inspection parameters. 제 10 항에 있어서,
상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 단계는,
상기 메모리부에서 읽어들인 상기 제어 파라미터에 따라 상기 카메라부, 팔레트부, 그리퍼, 스핀들의 움직임을 제어하는 비전검사장치 플랫폼.11. The method of claim 10,
The step of controlling the movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper,
And controls movement of the camera unit, the pallet unit, the gripper, and the spindle according to the control parameter read from the memory unit. 제 11 항에 있어서,
상기 제어 파라미터는, 검사 관리 파라미터, 포지션 캘리브레이션 파라미터, 장비 운용 파라미터, 통신 파라미터, 검사 파라미터, 카메라 파라미터 중 적어도 하나를 포함하는 비전검사장치 플랫폼.12. The method of claim 11,
Wherein the control parameter includes at least one of an inspection management parameter, a position calibration parameter, a device operation parameter, a communication parameter, an inspection parameter, and a camera parameter. 제 11 항에 있어서,
상기 검사 파라미터는, 상부 검사 파라미터, 볼 검사 파라미터, 스캔검사 파라미터 중 적어도 하나를 포함하는 비전검사장치 플랫폼.12. The method of claim 11,
Wherein the inspection parameters include at least one of an upper inspection parameter, a ball inspection parameter, and a scan inspection parameter. 제 1 항에 있어서,
상기 카메라부는, 검사 대상 엔드밀의 전장길이를 검사하는 제3 카메라를 더 포함하고,
상기 프로그램은,
상기 제3 카메라에서 촬영된 엔드밀 영상에서 전장길이 수치를 도출하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
The camera unit may further include a third camera for inspecting the length of the end mill to be inspected,
The program includes:
And deriving a full-length length value from the end-millimage taken by the third camera. 제 1 항에 있어서,
상기 카메라부는, 검사 대상 엔드밀의 외경을 검사하는 마이크로미터를 더 포함하고,
상기 프로그램은,
상기 마이크로미터에서 측정된 검사 대상 엔드밀의 외경 수치를 도출하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
The camera unit may further include a micrometer for examining an outer diameter of the end mill to be inspected,
The program includes:
And deriving an outer diameter value of the end mill to be inspected measured by the micrometer. 제 1 항에 있어서,
상기 프로그램은,
상기 카메라부에서 촬영된 엔드밀 영상을 상기 디스플레이부에 표시하는 단계;를 실행하는 명령어들을 더 포함하는 비전검사장치 플랫폼.The method according to claim 1,
The program includes:
And displaying the end millimeter image photographed by the camera unit on the display unit.
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