KR20190002249U - Calibration device of large micrometer - Google Patents

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Abstract

대형 마이크로미터(Micrometer, 길이 300mm 이상인 대형 측정물의 길이 측정에 사용되는 마이크로미터)의 눈금 보정을 위한 교정 장치로서, 본 고안에 따른 대형 마이크로미터 교정 장치는, 길이가 다른 복수의 표준 막대를 벽면 또는 바닥면에 거치시키기 위한 거치대 및 마이크로미터의 앤빌(Anvil) 측에 결속되고 표준 막대의 한 쪽 끝의 일부가 접하도록 고정되는 홀딩 면 또는 홈이 형성된 홀딩용 지그를 포함하여 구성되는 것을 요지로 하며, 이와 같은 구성에 의하면, 길이가 1000mm 이상인 표준 막대를 이용하여 눈금 보정을 실시 할 경우 1인 작업이 가능하며, 눈금 보정을 위한 장비 셋팅에 소요되는 시간을 현저히 줄일 수 있어 생산성 향상에도 기여할 수 있다. A calibration device for calibrating a large micrometer (micrometer used for measuring the length of a large workpiece of 300 mm or more in length), and the large micrometer calibration device according to the present invention includes a plurality of standard bars having different lengths on a wall or It is intended to include a holder for mounting on the floor, and a holding surface or a grooved holding jig, which is fixed to the anvil side of the micrometer and fixed to contact a part of one end of the standard rod. According to this configuration, when performing calibration using a standard bar having a length of 1000 mm or more, it is possible to work with one person, and it can significantly reduce the time required for setting the equipment for calibration and contribute to productivity improvement. .

Description

대형 마이크로미터 교정 장치{Calibration device of large micrometer}Calibration device of large micrometer

본 고안은 마이크로미터의 눈금 보정을 위한 교정 장치에 관한 것으로, 특히 길이 300mm 이상인 대형 측정물의 길이 측정에 사용되는 마이크로미터의 눈금 보정을 위한 교정 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a calibration device for calibration of the micrometer, and more particularly to a calibration device for calibration of the micrometer used for measuring the length of a large workpiece of 300mm or more in length.

물체의 외경, 두께, 내경 깊이 등을 마이크로미터(㎛) 단위까지 정확하게 측정할 수 있는 기구가 마이크로미터(micrometer) 이다. 마이크로미터는 정확한 피치를 가진 나사를 이용한 길이 측정기로서, 앤빌(Anvil)과 스핀들(Spindle) 사이에 측정물을 끼우고 심블(Thimble)을 통해 스핀들을 축방향으로 이동시켜 측정물의 길이를 측정한다.A micrometer is a device that can accurately measure the outer diameter, thickness, and inner diameter depth of an object to a micrometer (μm) unit. The micrometer is a thread length measuring instrument with an accurate pitch. It measures the length of the workpiece by inserting the workpiece between the anvil and the spindle and moving the spindle axially through the thimble.

일반적으로 사용되고 있는 마이크로미터는 나사의 피치가 0.5mm이며, 스핀들의 측정범위는 0~25mm, 25~50mm와 같이 25mm 간격으로 되어 있다. 마이크로미터에는 바깥지름 마이크로미터, 안지름 마이크로미터, 깊이를 측정하는 깊이 마이크로미터, 나사ㅇ의 이[齒] 두께, 나사의 유효지름 등을 측정하는 수나사 및 암나사용의 각 나사 마이크로미터 등이 있다.Micrometers generally used have a screw pitch of 0.5mm and the spindle's measuring range is 25mm intervals, such as 0-25mm and 25-50mm. The micrometer includes an outer diameter micrometer, an inner diameter micrometer, a depth micrometer for measuring depth, a male thread for measuring the tooth thickness of the screw, and an effective diameter of the screw, and each screw micrometer for female threads.

이 외에도 길이 대형 측정물(통상적으로 길이가 300mm 이상인 측정물)의 길이 측정에 사용되는 대형 심블 마이크로미터(Large thimble micrometer, 이하 '대형 마이크로미터'라 함)가 있다. 대형 마이크로미터는 미소한 길이를 측정하는 소형의 일반적인 마이크로미터와 기본적인 원리나 구성은 같고, 전체적인 크기만 다를 뿐이다. In addition, there is a large thimble micrometer (hereinafter referred to as a `` large micrometer '') used to measure the length of a large measuring object (typically a measuring object of 300 mm or more in length). Large micrometers have the same basic principle and construction as small, general micrometers that measure small lengths, and differ only in overall size.

소형 마이크로미터뿐 아니라 대형 마이크로미터 역시 측정 값을 정확도를 높이기 위하여 사용 전 눈금을 보정하는 작업을 실시한다. 이를 보통 교정(Calibration) 작업이라 하며, 교정 작업에 다양한 길이의 표준 막대(Standard bar)가 사용된다. 바람직하게는, 앤빌과 슬리브 사이에 원하는 길이의 표준 막대를 끼운 뒤 표준 막대 길이에 맞춰 눈금을 교정한다. Large micrometers, as well as small micrometers, calibrate the scale before use to increase the accuracy of the measured values. This is commonly referred to as calibration, and standard bars of varying lengths are used for calibration. Preferably, a standard rod of the desired length is sandwiched between the anvil and the sleeve and the scale is calibrated to the standard rod length.

도 1은 표준 막대를 이용한 종래 일반적인 대형 마이크로미터의 눈금 교정 작업을 개략 도시한 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating a calibration operation of a conventional general large micrometer using a standard bar.

도 1을 참조하면, 표준 막대를 이용한 교정 작업은 앞서도 언급한 바와 같이, 앤빌(110)과 스핀들(120) 사이에 원하는 길이의 표준 막대(200)를 끼우고, 표준 막대(200) 한 쪽 끝에 접하도록 심블(Thimble, 130)을 통해 스핀들(120)을 축방향으로 이동시켜 해당 표준 막대(200) 길이에 맞춰 슬리브(부호 생략)와 심블(130) 사이의 눈금을 세팅하는 방식으로 진행된다.Referring to FIG. 1, the calibration operation using a standard rod is performed by inserting a standard rod 200 having a desired length between the anvil 110 and the spindle 120, and at one end of the standard rod 200, as mentioned above. The spindle 120 is moved axially through the thimble 130 so as to be in contact with the thimble 130 to set a scale between the sleeve (not shown) and the thimble 130 in accordance with the length of the standard bar 200.

길이 300mm 이상인 표준 막대의 경우 작업자 혼자서는 교정 작업을 수행하기가 어려워 대게 2인 1조로 작업을 한다. 표준 막대의 길이가 길어 표준 막대(200)가 앤빌(110)과 스핀들(120) 사이에 위치하도록 잡아주는 인력과 심블(130)을 조작하는 인력이 필요하기 때문이며, 이에 따라 대형 마이크로미터의 눈금 교정 작업에는 최소 2명의 인력이 필요하다. Standard rods longer than 300 mm are difficult to carry out the calibration alone, usually working in pairs of two. This is because the length of the standard rod is long, and it requires a manpower to hold the standard rod 200 between the anvil 110 and the spindle 120, and a manipulator to manipulate the thimble 130. Accordingly, calibration of a large micrometer is performed. The work requires at least two people.

그러나 대형 마이크로미터의 경우 자체 무게와 길이 때문에 위치나 방향 조절이 쉽지 않고, 작업자의 숙련도에 따라 작업에 많은 차이가 발생하며, 더욱이 도 1의 부분 확대도와 같이 작업 시 앤빌(110)에 대한 표준 막대(200)의 동축도가 틀어져 오차가 발생하거나, 표준 막대(200)에 대한 홀딩이 불안정해 작업 도중 표준 막대(200)가 이탈해버리는 문제가 있다. However, in the case of a large micrometer, its position and orientation are not easy to adjust due to its own weight and length, and there are many differences in the work according to the skill of the operator. There is a problem in that the coaxiality of the (200) is misaligned, or an error occurs, or the holding of the standard bar 200 is unstable and the standard bar 200 is dislodged during the operation.

한국등록특허 제10-0554757호(등록일 2006. 02. 16)Korea Patent Registration No. 10-0554757 (Registration Date 2006. 02. 16)

본 고안이 해결하고자 하는 과제는, 1인 교정 작업을 가능하게 하여 작업 인력의 감축을 도모할 수 있는 대형 마이크로미터 교정 장치를 제공하고자 하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is to provide a large-scale micrometer calibration device capable of reducing the work force by enabling a single person calibration work.

본 고안이 해결하고자 하는 다른 과제는, 작업자의 숙련도에 크게 구애됨이 없이 정확한 교정 작업을 수행할 수 있고, 교정 작업에 소요되는 시간 또한 크게 단축시킬 수 있는 대형 마이크로 미터 교정 장치를 제공하고자 하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a large-scale micrometer calibration apparatus capable of performing accurate calibration work without greatly depending on the skill of the operator and greatly reducing the time required for calibration work. .

본 고안이 해결하고자 하는 다른 과제는, 마이크로미터의 앤빌에 지지되는 표준 막대의 홀딩 불안정성을 해소할 수 있는 대형 마이크로미터 교정 장치를 제공하고자 하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a large micrometer calibration apparatus that can solve the holding instability of the standard rod supported on the micrometer anvil.

과제의 해결 수단으로서 본 고안의 바람직한 실시 예에 따르면, According to a preferred embodiment of the present invention as a means of solving the problem,

대형 마이크로미터(Micrometer)의 눈금 보정을 위한 교정 장치로서,Calibration device for calibration of large micrometers,

길이가 다른 길이가 다른 복수의 표준 막대를 벽면 또는 바닥면에 거치시키기 위한 거치대; 및A cradle for mounting a plurality of standard rods having different lengths on different walls or floors; And

상기 마이크로미터의 앤빌(Anvil) 측에 결속되고, 표준 막대의 한 쪽 끝의 일부가 접하도록 고정되는 홀딩 면 또는 홈이 형성된 홀딩용 지그;를 포함하는 대형 마이크로미터 교정 장치를 제공한다.It provides a large-scale micrometer calibration apparatus including a holding jig, which is coupled to the anvil side of the micrometer and is formed with a holding surface or a groove which is fixed to contact a part of one end of a standard bar.

일례로, 상기 표준 막대는 자성체일 수 있으며, 이 경우 상기 거치대에는 자성체인 상기 표준 막대 고정을 위한 자석을 포함할 수 있다.For example, the standard bar may be a magnetic material, and in this case, the holder may include a magnet for fixing the standard bar that is a magnetic material.

다른 예로서, 상기 거치대는, 벽면 또는 바닥면에 고정되며 상기 벽면 또는 바닥면과 접하는 면 반대편 면에 슬롯이 길게 형성된 베이스와, 상기 슬롯에 양 끝이 슬롯 길이 방향으로 탄동 가능하게 결착되고, 각각은 상기 베이스의 길이방향을 따라 서로 연접하도록 배열되는 복수의 마제형 탄성 홀더로 이루어진 구성일 수 있다. As another example, the cradle is fixed to the wall or the bottom surface and the base formed with a long slot on the surface opposite the surface or contacting the bottom surface, and both ends of the slot is elastically fixed in the slot length direction, respectively May be composed of a plurality of horseshoe-shaped elastic holders arranged to be in contact with each other along the longitudinal direction of the base.

바람직하게는, 상기 거치대는 평행하며 서로 대칭인 둘 이상 복수로 구비될 수 있다.Preferably, the cradle may be provided in plurality of two or more parallel and symmetric to each other.

본 고안에 적용된 상기 홀딩용 지그는, 상기 표준 막대의 외경에 대응되는 크기로 일 측면에서부터 소정의 깊이로 홀딩 홈이 형성되고, 타 측면에서부터 상기 홀딩 홈의 하단에 걸쳐 상기 앤빌(Anvil)의 외경에 대응되는 크기로 결속구멍이 형성된 단차형 중공부를 갖는 중공축 구조일 수 있다.The holding jig applied to the present invention has a size corresponding to the outer diameter of the standard rod, the holding groove is formed from one side to a predetermined depth, the outer diameter of the anvil from the other side to the lower end of the holding groove It may be a hollow shaft structure having a stepped hollow portion formed with a binding hole in a size corresponding to the.

본 고안에 적용된 상기 홀딩용 지그는 또한, 상기 앤빌(Anvil)의 외경에 대응되는 크기로 중심부에 결속구멍이 형성되고, 상기 앤빌과 대향되는 반대편 면에 클로(Claw)가 형성된 중공축 구조일 수도 있다.The holding jig applied to the present invention may also have a hollow shaft structure in which a binding hole is formed in the center of a size corresponding to the outer diameter of the anvil, and a claw is formed on the opposite side facing the anvil. have.

본 고안의 실시 예에 따른 대형 마이크로미터 교정 장치에 의하면, 길이가 다른 복수의 표준 막대를 벽면 또는 바닥면에 거치시켜 주는 거치대와, 마이크로미터의 앤빌(Anvil) 측에 결속되고 표준 막대의 한 쪽 끝을 안정적으로 홀딩시켜 주는 홀딩용 지그로 인하여, 작업자 한 사람만으로도 교정 작업이 가능하며, 따라서 작업 인력의 감축을 도모할 수 있다.According to the large-scale micrometer calibration apparatus according to the embodiment of the present invention, a cradle for mounting a plurality of standard rods of different lengths on a wall or a bottom surface, and one side of the standard rod, which is bound to the anvil side of the micrometer Due to the holding jig for holding the end stably, only one worker can correct the work, thereby reducing the workforce.

또한, 표준 막대의 안정적인 거치 및 홀딩을 통해, 작업자 숙련도에 크게 구애됨이 없이 정확한 교정 작업이 가능하여, 궁극적으로는 교정 작업에 소요되는 시간 또한 크게 단축시킬 수 있고 생산성 향상을 도모할 수 있으며, 표준 막대에 대한 홀딩이 불안정해 작업 도중 표준 막대가 이탈해버리는 종래 문제점 또한 명확하게 해소할 수 있다.In addition, the stable mounting and holding of standard rods enables accurate calibration work without much concern for operator skill, ultimately reducing the time required for calibration work and improving productivity. The conventional problem of unstable holding of the standard rods and the deviation of the standard rods during operation can also be clearly solved.

도 1은 표준 막대를 이용한 종래 일반적인 대형 마이크로미터의 눈금 교정 작업을 개략 도시한 도면.
도 2는 본 고안에 따른 대형 마이크로미터 교정 장치의 분해 사시도.
도 3은 도 2에 도시된 대형 마이크로미터 교정 장치의 사용 상태를 도시한 사시도.
도 4는 도 3의 'A'부분을 확대 도시한 본 고안의 요부 확대도.
도 5는 본 고안에 적용된 홀딩용 지그의 바람직한 실시 예를 도시한 사시도.
도 6은 홀딩용 지그의 바람직한 다른 실시 예를 도시한 도면.1 is a diagram schematically illustrating a calibration operation of a conventional general large micrometer using a standard bar.
Figure 2 is an exploded perspective view of a large micrometer calibration apparatus according to the present invention.
3 is a perspective view showing a state of use of the large-scale micrometer calibration apparatus shown in FIG.
Figure 4 is an enlarged view of the main part of the present invention showing an enlarged portion 'A' of FIG.
5 is a perspective view showing a preferred embodiment of the holding jig applied to the present invention.
6 is a view showing another preferred embodiment of the holding jig.

이하, 본 고안의 바람직한 실시 예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 고안을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서 "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. The terms "comprise" or "have" herein are intended to indicate that there is a feature, number, step, action, component, part, or combination thereof described on the specification, and that one or more other features It should be understood that it does not exclude in advance the possibility of the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts or combinations thereof.

또한, 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.In addition, terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

더하여, 명세서에 기재된 "…부", "…유닛", "…모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.In addition, the terms “… unit”, “… unit”, “… module”, etc. described in the specification mean a unit that processes at least one function or operation, which may be implemented by hardware or software or a combination of hardware and software. Can be.

첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일한 구성 요소에 대해서는 동일도면 참조부호를 부여하기로 하며 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 그리고 본 고안을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.In the description with reference to the accompanying drawings, the same reference numerals are assigned to the same components, and duplicate description thereof will be omitted. And in describing the present invention, if it is determined that the detailed description of the related known technology may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 2는 본 고안에 따른 대형 마이크로미터 교정 장치의 분해 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 대형 마이크로미터 교정 장치의 사용 상태를 도시한 사시도이다. 그리고 도 4는 도 3의 'A'부분을 확대 도시한 본 고안의 요부 확대도이다.Figure 2 is an exploded perspective view of a large micrometer calibration apparatus according to the present invention, Figure 3 is a perspective view showing a state of use of the large micrometer calibration apparatus shown in FIG. 4 is an enlarged view illustrating main parts of the present invention, in which the portion 'A' of FIG. 3 is enlarged.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 고안은 길이 300mm 이상인 대형 측정물의 길이 측정에 사용되는 대형 마이크로미터(Micrometer)의 눈금 보정을 위한 교정 장치(1)로서, 거치대(10)와 마이크로미터(2)의 앤빌(20) 측에 결속되는 홀딩용 지그(16)를 포함한다.2 to 4, the present invention is a calibration device (1) for calibration of a large micrometer (scale) used for measuring the length of a large workpiece of 300mm or more in length, the holder 10 and the micrometer (2) It includes a holding jig (16) that is bound to the anvil 20 side.

거치대(10)는 길이가 서로 다른 표준 막대(3) 여러 개를 동시에 벽면(또는 바닥면)에 안정적으로 고정시켜주는 역할을 한다. 도시하지는 않았으나, 거치대(10)에 자석을 설치하고 표준 막대(3)를 자성체로 구성함으로써, 표준 막대(3)와 자석 사이의 자력으로 표준 막대(3)를 거치대(10)에 거치시키는 구성이 고려될 수 있다.The cradle 10 serves to stably secure several standard bars 3 having different lengths to the wall (or bottom) at the same time. Although not shown, by installing a magnet on the holder (10) and by configuring the standard rod (3) as a magnetic material, the configuration to mount the standard rod (3) to the holder (10) by the magnetic force between the standard rod (3) and the magnet Can be considered.

바람직한 다른 예로서, 도 2 내지 도 3과 같이 베이스(11)와 베이스(11)에 탄성 설치되는 복수의 탄성 홀더(14)로 거치대(10)를 구성할 수도 있다. 이 경우 베이스(11)는 벽면(또는 바닥면)에 고정되며 상기 벽면(또는 바닥면)과 접하는 면 반대편 면에 내확장형 슬롯(12, 도 3의 부분 확대도 참조)이 길이방향으로 길게 형성된 구성일 수 있다.As another preferred example, the holder 10 may be configured by the base 11 and the plurality of elastic holders 14 elastically installed on the base 11 as shown in FIGS. In this case, the base 11 is fixed to the wall (or bottom), the inner expansion slot (12, partial enlarged view of Figure 3) on the opposite side of the surface in contact with the wall (or bottom) is formed long in the longitudinal direction Can be.

베이스(11)의 재질은 특정 재질에 구애됨이 없이 다양한 재질 선택이 가능하며, 탄성 홀더(14)는 상기 슬롯(12)에 양 끝이 탄동 가능하게 결착되어 슬롯(12)의 길이 방향에 대해 제한된 범위 내에서 탄동 가능하며, 각각은 상기 베이스(11)의 길이방향을 따라 서로 연접하도록 배열될 수 있다.The material of the base 11 can be selected a variety of materials without regard to a specific material, the elastic holder 14 is elastically bonded to both ends of the slot 12 to the longitudinal direction of the slot 12 It is flexible within a limited range, and each can be arranged to be in contact with each other along the longitudinal direction of the base 11.

탄성 홀더(14)는 바람직하게, 도면(도 2 또는 도 3)의 예시와 평면상의 형상이 U 자 또는 마제형으로 구성될 수 있으며, 이 경우 이웃하는 두 탄성 홀더(14) 사이로 표준 막대(3)를 밀어 넣으면, 도 3의 부분 확대도에서와 같이 표준 막대(3)의 외면 일부와 접하는 부분이 뒤로 밀려나 그 사이에 표준 막대(3)가 안정적으로 고정될 수 있다.The elastic holder 14 may preferably be configured in the example of the drawing (FIG. 2 or 3) and in planar shape with a U or a horseshoe, in which case a standard rod 3 between two neighboring elastic holders 14. When pushed in, as shown in the partial enlarged view of FIG. 3, the part in contact with the outer part of the standard bar 3 is pushed back, and the standard bar 3 can be stably fixed therebetween.

즉 이웃하는 두 탄성 홀더(14) 사이로 표준 막대(3)를 밀어 넣으면, 표준 막대(3)의 외면 일부와 접하는 부분이 뒤로 살짝 밀려나며, 동시에 자체 탄성 복원력에 의해 표준 막대(3)와 접하는 부분이 표준 막대(3)의 양 측면 일부를 압박하게 됨으로써 표준 막대(3)는 탄성 홀더(14)의 사이에 안정적으로 고정될 수 있는 것이다.That is, when the standard rod 3 is pushed in between two neighboring elastic holders 14, the portion of the standard rod 3 that contacts the outer surface of the standard rod 3 is pushed back slightly, and at the same time, the portion that contacts the standard rod 3 by its elastic restoring force. By pressing part of both sides of the standard rod 3, the standard rod 3 can be stably fixed between the elastic holders 14.

거치대(10)는 바람직하게, 도면의 예시와 같이 평행하며 서로 대칭인 둘 이상 복수로 구비될 수 있으나 이에 국한되는 것은 아니며, 거치대(10)를 구성하는 베이스(11)의 길이나 베이스(11)에 설치되는 탄성 홀더(14)의 개수 역시 특정 길이나 개수로 국한되는 것은 아니다.Preferably, the holder 10 may be provided with two or more in parallel and symmetrical to each other as shown in the drawings, but the present invention is not limited thereto, and the length or base 11 of the base 11 constituting the holder 10 may be provided. The number of elastic holders 14 installed in the is also not limited to a specific length or number.

경우에 따라서는, 도면에서 아래 위로 평행하게 배치된 두 거치대(10) 사이에 짧은 표준 막대(3') 길이에 맞춰 거치대(10')를 하나 이상 더 추가하여, 짧은 표준 막대(3)부터 길이 긴 표준 막대(3)를 한꺼번에 거치시킬 수 있도록 구성할 수도 있다.In some cases, one or more additional cradles 10 'may be added between the two cradles 10 arranged in parallel in the drawing up and down to match the shorter standard rods 3' lengths, so as to extend the length from the shorter standard rods 3 to the other. It can also be configured to mount the long standard bar (3) at once.

홀딩용 지그(16)는 마이크로미터(2)의 앤빌(Anvil, 20) 측에 결속되며 표준 막대(3)의 한 쪽 끝을 안정적으로 잡아주어 마이크로미터(2)에 대한 표준 막대(3)의 이탈을 억제한다. 이를 위해 홀딩용 지그(16)에는 표준 막대(3)의 한 쪽 끝의 일부가 접하도록 고정되는 홀딩 면 또는 홈이 형성될 수 있다.The holding jig 16 is bound to the anvil 20 side of the micrometer 2 and securely holds one end of the standard bar 3 so that the holding rod 16 of the standard bar 3 to the micrometer 2 Suppress departures. To this end, the holding jig 16 may be formed with a holding surface or a groove to which a part of one end of the standard bar 3 is fixed to contact.

도 5는 본 고안에 적용된 홀딩용 지그의 바람직한 실시 예를 도시한 도면이다.5 is a view showing a preferred embodiment of the holding jig applied to the present invention.

도 5의 (a)와 같이, 홀딩용 지그(16a)는, 표준 막대(3)의 외경에 대응되는 크기로 일 측면에서부터 소정의 깊이로 홀딩 홈(160)이 형성되고, 타 측면에서부터 상기 홀딩 홈(160)의 하단에 걸쳐 상기 앤빌(20)의 외경에 대응되는 크기로 결속구멍(162)이 형성된 단차형 중공부를 갖는 중공축 구조일 수 있다.As shown in (a) of FIG. 5, the holding jig 16a has a size corresponding to the outer diameter of the standard rod 3, and a holding groove 160 is formed at a predetermined depth from one side and the holding from the other side. The hollow shaft structure may have a stepped hollow portion in which a binding hole 162 is formed in a size corresponding to the outer diameter of the anvil 20 over the lower end of the groove 160.

이 경우, 상기 결속구멍(162)을 통해 앤빌(20) 측에 홀딩용 지그(16)를 고정하고, 눈금 교정 작업 시 상기 표준 막대(3)의 한 쪽 끝의 일부를 홀딩 홈(160)에 끼우면, 표준 막대(3)의 일단이 홀딩용 지그(16)에 안정적으로 홀딩됨에 따라, 표준 막대(3)의 이탈이 억제되어 보다 정확한 눈금 교정이 행해질 수 있다.In this case, the holding jig 16 is fixed to the anvil 20 through the binding hole 162, and a portion of one end of the standard bar 3 is fixed to the holding groove 160 during the calibration operation. When fitted, as one end of the standard bar 3 is stably held to the holding jig 16, the deviation of the standard bar 3 can be suppressed and more accurate calibration can be performed.

다른 예로서, 도 5의 (b)와 같이 홀딩용 지그(16b)는, 마이크로미터(2)의 상기 앤빌(20)의 외경에 대응되는 크기로 중심부를 따라 결속구멍(163)이 형성되고, 상기 앤빌(20)과 대향되는 반대편 면에 클로(Claw, 164)가 소정의 높이로 일체 형성된 중공축 구조일 수 있다.As another example, as shown in (b) of FIG. 5, the holding jig 16b has a binding hole 163 formed along a central portion of a size corresponding to the outer diameter of the anvil 20 of the micrometer 2. A hollow shaft structure in which a claw 164 is integrally formed at a predetermined height on an opposite surface facing the anvil 20 may be formed.

이 경우에는, 홀딩용 지그(16b)의 상기 클로(164)와 맞물릴 수 있도록, 상기 홀딩용 지그(16) 측에 홀딩되는 표준 막대(3)의 한 쪽 끝에 상기 클로에 대응되는 클로(도시 생략)를 형성함으로써, 대향되는 두 클로가 서로 맞물려 표준 막대(3)의 이탈은 물론 회전이 억제되도록 한다.In this case, a claw corresponding to the claw at one end of the standard rod 3 held on the holding jig 16 side so as to be engaged with the claw 164 of the holding jig 16b (not shown) ), The two opposing claws mesh with each other so that the deviation of the standard rods 3 as well as the rotation are suppressed.

도 6은 홀딩용 지그의 바람직한 다른 실시 예로서, 전술한 홀딩용 지그(16)에는 상기 앤빌(20) 측과의 결속력을 증대시키는 결속 수단이 마련될 수 있다. 결속 수단은 바람직하게, 도 6의 (a)와 같은 조절 볼트(166)를 이용한 스크류 타입 또는 도 6의 (b)와 같은 볼 플런져(168) 타입일 수 있다. 6 is another preferred embodiment of the holding jig, the holding jig 16 described above may be provided with a binding means for increasing the binding force with the anvil 20 side. The binding means may preferably be of the screw type using the adjusting bolt 166 as shown in FIG. 6 (a) or the ball plunger 168 type as shown in FIG. 6 (b).

이상의 본 고안의 실시 예에 따른 대형 마이크로미터 교정 장치에 의하면, 길이가 다른 복수의 표준 막대를 벽면 또는 바닥면에 거치시켜 주는 거치대와, 마이크로미터의 앤빌(Anvil) 측에 결속되고 표준 막대의 한 쪽 끝을 안정적으로 홀딩시켜 주는 홀딩용 지그로 인하여, 작업자 한 사람만으로도 교정 작업이 가능하며, 따라서 작업 인력의 감축을 도모할 수 있다.According to the large-scale micrometer calibration apparatus according to the embodiment of the present invention, a cradle for mounting a plurality of standard rods of different lengths on the wall or the bottom surface, and bound to the anvil side of the micrometer, Due to the holding jig for stably holding the end, only a single worker can calibrate the work, thereby reducing the workforce.

또한, 표준 막대의 안정적인 거치 및 홀딩을 통해, 작업자 숙련도에 크게 구애됨이 없이 정확한 교정 작업이 가능하여, 궁극적으로는 교정 작업에 소요되는 시간 또한 크게 단축시킬 수 있고 생산성 향상을 도모할 수 있으며, 표준 막대에 대한 홀딩이 불안정해 작업 도중 표준 막대가 이탈해버리는 종래 문제점 또한 명확하게 해소할 수 있다.In addition, the stable mounting and holding of standard rods enables accurate calibration work without much concern for operator skill, ultimately reducing the time required for calibration work and improving productivity. The conventional problem of unstable holding of the standard rods and the deviation of the standard rods during operation can also be clearly solved.

이상의 본 고안의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시 예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 고안은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 고안의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.In the above detailed description of the present invention, only specific embodiments thereof have been described. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the description, but rather includes all modifications, equivalents, and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Should be.

1 : 교정 장치 2 : 마이크로미터
3 : 표준 막대 10 : 거치대
11 : 베이스 12 : 슬롯
14 : 탄성 홀더 16 : 홀딩용 지그
20 : 앤빌 160 : 홀딩 홈
162, 163 : 결속 구멍 164 : 클로
166 : 조절 볼트 168 : 볼 플런져1: calibration device 2: micrometer
3: standard rod 10: holder
11: base 12: slot
14 elastic holder 16 holding jig
20: Anvil 160: Holding Home
162, 163: binding hole 164: claw
166: adjustment bolt 168: ball plunger

Claims (6)

대형 마이크로미터(Micrometer, 2)의 눈금 보정을 위한 교정 장치로서,
길이가 다른 복수의 표준 막대(3)를 벽면 또는 바닥면에 거치시키기 위한 거치대(10); 및
상기 마이크로미터(2)의 앤빌(Anvil, 20) 측에 결속되고, 상기 표준 막대(3)의 한 쪽 끝의 일부가 접하도록 고정되는 홀딩 면 또는 홈이 형성된 홀딩용 지그(16);를 포함하는 대형 마이크로미터 교정 장치.
Calibration device for calibration of large micrometers (2),
A cradle 10 for mounting a plurality of standard rods 3 of different lengths on a wall surface or a bottom surface thereof; And
A holding jig (16) formed on the side of the anvil (20) of the micrometer (2) and having a holding surface or a groove formed at which a part of one end of the standard rod (3) is in contact with the micrometer (2); Large micrometer calibration unit.
제 1 항에 있어서,
상기 표준 막대(3)는 자성체이고,
상기 거치대(10)에는 자성체인 상기 표준 막대(3) 고정을 위한 자석을 포함하는 것을 특징으로 하는 대형 마이크로미터 교정 장치.
The method of claim 1,
The standard bar (3) is a magnetic material,
The cradle 10 is a large micrometer calibration device, characterized in that it comprises a magnet for fixing the standard bar (3) that is a magnetic material.
제 1 항에 있어서,
상기 거치대(10)는,
벽면 또는 바닥면에 고정되며 상기 벽면 또는 바닥면과 접하는 면 반대편 면에 슬롯(12)이 길게 형성된 베이스(11)와;
상기 슬롯(12)에 양 끝이 슬롯(12) 길이 방향으로 탄동 가능하게 결착되고, 각각은 상기 베이스(11)의 길이방향을 따라 서로 연접하도록 배열되는 복수의 마제형 탄성 홀더(14);로 구성되는 것을 특징으로 하는 대형 마이크로미터 교정 장치.
The method of claim 1,
The cradle 10,
A base 11 fixed to a wall surface or a bottom surface and having a slot 12 elongated on a surface opposite to a surface contacting the wall surface or the bottom surface;
Both ends of the slot 12 is elastically fastened in the longitudinal direction of the slot 12, each of the plurality of horse-shaped elastic holder 14 is arranged to be in contact with each other along the longitudinal direction of the base (11); Large micrometer calibration device, characterized in that.
제 3 항에 있어서,
상기 거치대(10)는 평행하며 서로 대칭인 둘 이상 복수로 구비되는 것을 특징으로 하는 대형 마이크로미터 교정 장치.
The method of claim 3, wherein
The cradle 10 is a large micrometer calibration device, characterized in that provided with a plurality of parallel and symmetric to each other.
제 1 항에 있어서,
상기 홀딩용 지그(16)는,
상기 표준 막대(3)의 외경에 대응되는 크기로 일 측면에서부터 소정의 깊이로 홀딩 홈(160)이 형성되고, 타 측면에서부터 상기 홀딩 홈(160)의 하단에 걸쳐 상기 앤빌(Anvil, 20)의 외경에 대응되는 크기로 결속구멍(162)이 형성된 단차형 중공부를 갖는 중공축 구조로 구성됨 특징으로 하는 대형 마이크로미터 교정 장치.
The method of claim 1,
The holding jig 16,
A holding groove 160 is formed from one side to a predetermined depth in a size corresponding to the outer diameter of the standard rod 3, and the other side of the anvil 20 is formed from the other side to the bottom of the holding groove 160. Large-sized micrometer calibration device, characterized in that the hollow shaft structure having a stepped hollow formed with a binding hole (162) having a size corresponding to the outer diameter.
제 1 항에 있어서,
상기 홀딩용 지그(16)는,
상기 앤빌(Anvil, 20)의 외경에 대응되는 크기로 중심부에 결속구멍(163)이 형성되고, 상기 앤빌(20)과 대향되는 반대편 면에 클로(Claw, 164)가 형성된 중공축 구조로 구성됨 특징으로 하는 대형 마이크로미터 교정 장치.The method of claim 1,
The holding jig 16,
A binding hole 163 is formed in the center of a size corresponding to the outer diameter of the anvil 20, and a hollow shaft structure in which a claw 164 is formed on an opposite surface facing the anvil 20 is characterized in that it is formed. Large micrometer calibration device.
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KR100554757B1 (en) 2003-07-16 2006-02-24 주식회사 포스코 An apparatus for correcting a large micrometer
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