KR20190000052A - 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈 - Google Patents

광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈 Download PDF

Info

Publication number
KR20190000052A
KR20190000052A KR1020170078898A KR20170078898A KR20190000052A KR 20190000052 A KR20190000052 A KR 20190000052A KR 1020170078898 A KR1020170078898 A KR 1020170078898A KR 20170078898 A KR20170078898 A KR 20170078898A KR 20190000052 A KR20190000052 A KR 20190000052A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
pattern
unit
angle
light source
Prior art date
Application number
KR1020170078898A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102472217B1 (ko
Inventor
강이임
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020170078898A priority Critical patent/KR102472217B1/ko
Publication of KR20190000052A publication Critical patent/KR20190000052A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102472217B1 publication Critical patent/KR102472217B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4814—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00—Simple or compound lenses
    • G02B3/0006—Arrays
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00—Simple or compound lenses
    • G02B3/02—Simple or compound lenses with non-spherical faces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

TOF 모듈 및 그 광 송출장치가 개시된다. 본 발명에 따른 TOF 모듈은, TOF(Time Of Flight) 방식으로 거리 및 깊이 정보를 측정하는 TOF 모듈에 있어서, 적외선 광을 출력하는 복수의 에미터를 포함하는 광원과 에미터로부터 출력된 광을 복제하여 출력하는 패턴 복제부를 포함하는 광 송신부; 광 송신부로부터 출력되어 피사체에 반사되는 빛을 수신하는 광 수신부;를 포함하고, 광원은 에미터를 구동하여 복수의 광 패턴을 출력한다.

Description

광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈{LIGHT TRANSMISSION APPARATUS AND TOF MODULE USING THE SAME}
본 발명은 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 TOF(Time Of Flight) 방식으로 피사체에 대한 거리 및 깊이 정보를 측정하면서도 해상도를 높이며, 필요한 전자회로의 수를 최소화하여 부피 및 비용을 저감시킬 수 있는 TOF 모듈 및 그 광 송출장치에 관한 것이다.
피사체에 대한 거리 정보 및 깊이 정보를 얻는 방법으로는 스테레오 방법, 구조광 방법, TOF(Time Of Flight) 방법 등이 있다.
스테레오 방법은 두 대의 카메라를 이용하여 거리 및 깊이 정보를 얻는 방법으로써, 거리를 찾는데 많은 연산을 필요로 하기 때문에 거리 및 깊이 정보의 획득 속도가 느리다는 문제점이 있다.
또한, 구조광 방법은 가시광 레이저 혹은 적외선 레이저와 같이 주변 조명과 구분되는 구조광을 물체에 조사하고, 반사된 빛을 카메라 영상으로 획득하여 물체거리에 따른 왜곡을 분석함으로써 거리를 계산하는 방법이다. 그런데, 구조광 방법에 따른 영상은 햇빛이나 형광등의 밝기 등 주변 조명의 영향을 많이 받기 때문에, 결과적으로 얻어지는 물체거리 및 깊이 정보가 조명 잡음에 민감하다는 문제점이 있다.
한편, TOF 방법은 초음파나 전자기파와 같은 파동을 피사체에 발사하고, 반사되어 돌아오기까지의 시간을 측정하여 거리 및 깊이 정보를 얻는 방법이다.
그런데 TOF에 기초하여 거리 및 깊이 정보를 측정하는 장치는 픽셀마다 커패시터와 같은 정밀한 전자회로를 필요로 하기 때문에 일반 RGB 이미지센서 대비 사이즈가 크기 때문에 동일 사이즈의 일반 RGB 이미지 센서 대비 해상도가 떨어지는 문제점이 있다.
또한, TOF에 기초하여 거리 및 깊이 정보를 측정하는 장치는 픽셀마다 전자회로를 필요로 하기 때문에 부피가 크며, 비용이 비싸다는 문제점이 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결 및 개선하기 위하여 창안된 것으로서, TOF 방식으로 피사체에 대한 거리 및 깊이 정보를 측정하면서도 해상도를 높이며, 필요한 전자회로의 수를 최소화하여 부피 및 비용을 저감시킬 수 있는 TOF 모듈 및 그 광 송출장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 TOF 모듈은, TOF(Time Of Flight) 방식으로 거리 및 깊이 정보를 측정하는 TOF 모듈에 있어서, 적외선 광을 출력하는 복수의 에미터를 포함하는 광원과 상기 에미터로부터 출력된 광을 복제하여 출력하는 패턴 복제부를 포함하는 광 송신부; 상기 광 송신부로부터 출력되어 피사체에 반사되는 빛을 수신하는 광 수신부;를 포함하고, 상기 광원은 상기 에미터를 구동하여 복수의 광 패턴을 출력한다.
여기서, 상기 광원은, 서로 다른 패턴의 광을 순차적으로 방출한다.
또한, 상기 서로 다른 패턴을 출력하기 위해 구동되는 상기 에미터들은 서로 중첩되지 않는다.
상기 패턴 복제부는, 복수의 마이크로 렌즈로 이루어진 렌즈 어레이를 포함하며, 상기 광원으로부터 방출되는 광 패턴을 상기 마이크로 렌즈를 통해 복제한다.
상기 광 송신부는, 상기 광원에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대하는 발산각 확대부를 더 포함하며, 상기 패턴 복제부는 상기 발산각 확대부에 의해 발산 각이 확대된 광 패턴을 복제한다.
상기 광 송신부는, 상기 패턴 복제부에 의해 복제된 광 패턴들의 화각을 확대하는 화각 확대부를 더 포함한다.
상기 광원은 스팟(spot), 스트라이프(stripe) 중의 적어도 하나를 포함하는 패턴무늬로 상기 에미터를 구동할 수 있다.
전술한 목적을 달성하기 위한 광 송출장치는, TOF 모듈에 장착되며, 피사체로 광을 송출하는 광 송출장치에 있어서, 적어도 하나의 에미터를 구동하여 복수의 패턴으로 광을 방출하는 광원; 각각의 상기 패턴을 복제하는 패턴 복제부; 및 상기 패턴 복제부에 의해 각각의 상기 패턴이 복제된 광을 상기 피사체로 출력하는 광 출력부를 포함한다.
전술한 광 송출장치는, 상기 광원에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대하는 발산각 확대부; 및 상기 패턴 복제부에 의해 복제된 광 패턴들의 화각을 확대하는 화각 확대부;를 더 포함하며, 상기 패턴 복제부는 상기 발산각 확대부에 의해 발산 각이 확대된 광 패턴을 복제할 수 있다.
본 발명에 따르면, TOF에 기초하여 거리 및 깊이 정보를 측정하면서도 복수의 패턴으로 광을 방출하며, 방출되는 각각의 광 패턴을 복제하여 패턴의 수만큼 피사체에 송신함으로써 해상도를 높일 수 있게 된다.
또한, 본 발명에 따르면, 광원으로부터 방출되는 광 패턴을 복제하여 송신함으로써 다수의 픽셀을 구성하기 때문에, 결과적으로 전자회로의 수를 최소화하여 TOF 모듈의 부피 및 비용을 저감시킬 수 있게 된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 TOF 모듈의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1에 나타낸 광원의 에미터의 구성 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 각각 서로 다른 패턴의 광을 순차적으로 방출하기 위한 에미터의 구동 예를 나타낸 도면이다.
도 4는 광 패턴의 복제된 예를 나타낸 도면이다.
도 5는 (a) 광원에 의해 방출되는 각의 발산 각과 (b) 발산각 확대부에 의해 확되된 발산 각의 예를 나타낸 도면이다.
도 6은 광 패턴의 화각을 확대하는 화각 확대부의 예를 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 기재함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호로 표시한다. 또한, 본 발명의 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 결합 또는 접속될 수 있지만, 그 구성 요소와 그 다른 구성요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 TOF 모듈의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 TOF 모듈(100)은 광 송신부(110), 광 수신부(120) 및 신호 처리부(130)를 포함한다.
광 송신부(110)는 TOF(Time Of Flight) 방식에 따라 거리 정보 및 깊이 정보를 측정하기 위하여, 피사체에 광을 송출한다. 송출되는 광은 적외선 파장 영역의 광일 수 있다. 이때, 본 발명의 실시예에 따른 TOF 모듈(100)의 광 송신부(110)는 광원(112), 패턴 복제부(114), 발산각 확대부(116) 및 화각 확대부(118)를 포함한다.
광원(112)은 광을 방출하는 적어도 하나의 에미터(emitter)를 포함하며, 각각의 에미터를 구동하여 다양한 패턴으로 광을 방출할 수 있다. 에미터는 광원(122)에 고정되어 배치될 수 있다. 예를 들어, 광원(112)은 도 2에 도시한 바와 같이, 좌측 상단의 에미터(이하, '제1에미터'라고 한다) (112-1), 우측 상단의 에미터(이하, '제2에미터'라고 한다)(112-2), 좌측 하단의 에미터(이하, '제3에미터'라고 한다)(112-3), 및 우측 하단의 에미터(이하, '제4에미터'라고 한다)(112-4)를 포함할 수 있으며, 각각의 에미터 중 적어도 어느 하나의 에미터를 선택적으로 구동하여 다양한 패턴으로 광을 방출할 수 있다. 각각의 에미터는 하나의 에미터 또는 복수의 에미터 묶음을 포함할 수 있다.
한편, 광원(112)은 에미터의 구동에 따른 각각의 서로 다른 광 패턴을 순차적으로 방출한다. 예를 들어, 광원(112)이 제1에미터(112-1), 제2에미터(112-2), 제3에미터(112-3) 및 제4에미터(112-4) 중의 어느 하나의 에미터만을 구동하여 4개의 광 패턴으로 광을 방출하는 경우, 광원(112)은 도 3에 도시한 바와 같이 제1에미터(112-1) -> 제2에미터(112-2) -> 제3에미터(112-3) -> 제4에미터(112-4)의 순서로 각각의 에미터를 구동하여 서로 다른 광 패턴을 순차적으로 방출할 수 있다. 이때, 각각의 에미터의 구동순서는 기 설정되는 것이 바람직하다. 또한, 각각의 광 패턴은 동일한 면 광원으로 방출될 수 있지만, 구동되는 에미터에 따라 각각의 광 패턴를 구분할 수 있다. 이와 같은 광원(112)으로 LED(Light Emitting Diode), EEL(Edge Emitting Laser), VCSEL(Vertical-Cavity Surface Emitting Laser) 등이 이용될 수 있다.
여기서는, 광원(112)이 에미터를 스팟(stop) 형태의 패턴무늬로 구동하는 것으로 도시하고 설명하였지만, 광원(112)은 스트라이프(stripe) 형태의 패턴무늬로 에미터를 구동하거나, 다른 형태의 패턴무늬로 구동할 수도 있다. 즉, 광원(112)에 포함되는 에미터의 형태는 구현하고자 하는 패턴무늬의 형태에 따라 다양한 형태를 이룰 수 있으며 각 패턴간 발광 영역이 중첩되지 않도록 패턴무늬가 구현될 수 있다. 즉, 서로 다른 패턴을 출력하기 위해 구동되는 에미터들은 패턴간 서로 중첩되지 않을 수 있다. 패턴은 순차적으로 출력되고 반복되어 출력될 수 있다. 광원을 구성하는 에미터들을 동시에 동작시키지 않고, 패턴을 갖고 순차적으로 출력하여 ToF모듈의 해상력을 높일 수 있다.
패턴 복제부(114)는 광원(112)에 의해 방출되는 각각의 광 패턴을 복제한다. 예를 들어, 광원(112)이 도 3에 도시한 바와 같은 순서로 각각의 에미터를 구동하는 경우, 패턴 복제부(114)는 도 4에 도시한 바와 같이 각각의 광 패턴을 3x3으로 복제할 수 있다. 여기서, 패턴 복제부(114)가 각각의 광 패턴을 3x3의 크기로 복제하는 것은 이해를 돕기 위한 예시일 뿐이며, 도 4 및 기재 내용에 한정되는 것은 아니다.
여기서, 패턴 복제부(114)는 MLA(Micro Lens Array), DOE(Diffractive Optical Element) 등의 광학계를 이용할 수 있다. 예를 들어, 패턴 복제부(114)로 MLA를 이용하는 경우, 패턴 복제부(114)는 복수의 마이크로 렌즈를 포함하는 렌즈 어레이로 이루어지게 되며, 패턴 복제부(114)는 마이크로 렌즈의 수만큼 각각의 광 패턴을 복제할 수도 있다.
발산각 확대부(116)는 광원(112)에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대한다. 일반적으로, 광원(112)에 의해 방출되는 광은 도 5의 (a)에 도시한 바와 같이, 직진성을 갖는다. 이 경우, 발산각 확대부(116)는 도 5의 (b)에 도시한 바와 같이, 광원(112)에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대한다. 여기서, 도 5의 (b)에 개시된 발산 각의 확대 범위는 그 예를 설명하기 위한 것일 뿐이며, 이에 한정되는 것은 아니다. 이 경우, 패턴 복제부(114)는 발산각 확대부(116)에 의해 발산 각이 확대된 광 패턴을 복제함으로써, 광원(112)에 의해 형성되는 면 광원의 면적을 확대할 수 있다. 따라서 발산각 확대부(166)가 존재하지 않을 때 보다 넓은 면적에 대한 거리를 측정할 수 있다.
화각 확대부(118)는 패턴 복제부(114)에 의해 복제된 광 패턴들의 화각을 확대한다. 예를 들어, 패턴 복제부(114)가 도 4에 도시한 바와 같이, 3x3으로 각각의 광 패턴을 복제하는 경우, 화각 확대부(118)는 복제된 각각의 광 패턴들의 화각을 확대한다. 이를 위해, 화각 확대부(118)는 도 6에 도시한 바와 같은 형상의 렌즈로 구현될 수 있다. 예를들어 화각 확대부(118)는 매니스커스 형상일 수 있다. 화각 확대부(118)은 광원측으로 오목하고 피사체 측으로 볼록한 양면을 가질 수 있다. 그러나, 화각 확대부(118)의 형상은 도시한 형태에 한정되는 것은 아니며, 양면이 볼록한 렌즈, 일면은 볼록하며 다른 일면은 오목한 렌즈 등의 다양한 형태의 렌즈로 구현될 수도 있다.
광 수신부(120)는 피사체에서 반사된 광을 수신한다. 즉, 광 송신부(110)가 피사체를 향하여 광을 송출하면 일부의 광은 피사체에 의해 반사되는데, 광 수신부(120)는 피사체에 의해 반사되어 되돌아오는 광을 수신한다. 광 수신부(120)에서는 광원에서 출력하는 펄스 형태의 적외선이 피사체에 반사되어 오는 광을 받아들여 거리를 측정할 수 있는 센서를 포함할 수 있다. 이때, 광 수신부(120)의 기능 및 구성은 공지된 기술에 따른 광 수신부(120)의 기능 및 구성과 동일하므로, 여기서는 그 상세한 설명을 생략한다.
신호 처리부(130)는 광 송신부(110)에 의해 송신된 광 및 광 수신부(120)에 의해 수신된 광을 신호 처리하여 거리 정보 및 깊이 정보를 산출한다. 이때, 신호 처리부(130)가 거리 정보 및 깊이 정보를 산출하는 방식은 공지된 ToF를 이용한 거리 측정 기술의 방식과 동일하므로, 여기서는 그 상세한 설명을 생략한다.
다만, 본 발명의 실시예에 따른 TOF 모듈은 광원이 다양한 패턴으로 피사체에 광을 송출하며, 패턴 복제부가 광 패턴을 복제하여 광을 송출함으로써 종래의 기술에 따른 TOF 모듈에 비하여 확대된 영상정보를 획득할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 TOF 모듈은 종래의 TOF 모듈의 해상도 센서보다 더욱 낮은 해상도 센서를 이용하여 종래의 TOF 모듈과 동일한 해상도에 대응하는 영상정보를 얻을 수 있으므로, TOF 모듈의 제조 원가를 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 전자회로의 수를 줄일 수 있기 때문에 전체적인 부피도 줄일 수 있다.
이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 보호 범위는 다음의 특허청구범위뿐만 아니라 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: TOF 모듈 110: 광 송신부(광 송출장치)
112: 광원 114: 패턴 복제부
116: 발산각 확대부 118: 화각 확대부
120: 광 수신부 130: 신호 처리부

Claims (9)

  1. TOF(Time Of Flight) 방식으로 거리 및 깊이 정보를 측정하는 TOF 모듈에 있어서,
    적외선 광을 출력하는 복수의 에미터를 포함하는 광원과
    상기 에미터로부터 출력된 광을 복제하여 출력하는 패턴 복제부를 포함하는 광 송신부;
    상기 광 송신부로부터 출력되어 피사체에 반사되는 빛을 수신하는 광 수신부;를 포함하고
    상기 광원은 상기 에미터를 구동하여 복수의 광 패턴을 출력하는 ToF 모듈.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광원은,
    서로 다른 패턴의 광을 순차적으로 방출하는 TOF 모듈.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 서로 다른 패턴을 출력하기 위해 구동되는 상기 에미터들은 서로 중첩되지 않는 TOF 모듈.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 패턴 복제부는,
    복수의 마이크로 렌즈로 이루어진 렌즈 어레이를 포함하며,
    상기 광원으로부터 방출되는 광 패턴을 상기 마이크로 렌즈를 통해 복제하는 TOF 모듈.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 광 송신부는,
    상기 광원에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대하는 발산각 확대부를 더 포함하며,
    상기 패턴 복제부는 상기 발산각 확대부에 의해 발산 각이 확대된 광 패턴을 복제하는 TOF 모듈.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 광 송신부는,
    상기 패턴 복제부에 의해 복제된 광 패턴들의 화각을 확대하는 화각 확대부를 더 포함하는 TOF 모듈.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 광원은 스팟(spot), 스트라이프(stripe) 중의 적어도 하나를 포함하는 패턴무늬로 상기 에미터를 구동하는 TOF 모듈.
  8. TOF 모듈에 장착되며, 피사체로 광을 송출하는 광 송출장치에 있어서,
    적어도 하나의 에미터를 구동하여 복수의 패턴으로 광을 방출하는 광원;
    각각의 상기 패턴을 복제하는 패턴 복제부; 및
    상기 패턴 복제부에 의해 각각의 상기 패턴이 복제된 광을 상기 피사체로 출력하는 광 출력부를 포함하는 광 송출장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 광원에 의해 방출되는 광의 발산 각을 확대하는 발산각 확대부;및
    상기 패턴 복제부에 의해 복제된 광 패턴들의 화각을 확대하는 화각 확대부;를 더 포함하며,
    상기 패턴 복제부는 상기 발산각 확대부에 의해 발산 각이 확대된 광 패턴을 복제하는 광 송출장치.

KR1020170078898A 2017-06-22 2017-06-22 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈 KR102472217B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170078898A KR102472217B1 (ko) 2017-06-22 2017-06-22 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170078898A KR102472217B1 (ko) 2017-06-22 2017-06-22 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190000052A true KR20190000052A (ko) 2019-01-02
KR102472217B1 KR102472217B1 (ko) 2022-11-30

Family

ID=65021597

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170078898A KR102472217B1 (ko) 2017-06-22 2017-06-22 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102472217B1 (ko)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110595735A (zh) * 2019-09-29 2019-12-20 歌尔股份有限公司 一种tof模组测试装置、测试系统和测试方法
WO2020242223A1 (ko) * 2019-05-29 2020-12-03 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
WO2021040476A1 (ko) * 2019-08-30 2021-03-04 엘지이노텍 주식회사 Tof 카메라
US11558569B2 (en) 2020-06-11 2023-01-17 Apple Inc. Global-shutter image sensor with time-of-flight sensing capability
US11763472B1 (en) 2020-04-02 2023-09-19 Apple Inc. Depth mapping with MPI mitigation using reference illumination pattern
US11906628B2 (en) 2019-08-15 2024-02-20 Apple Inc. Depth mapping using spatial multiplexing of illumination phase

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012163986A (ja) * 2006-08-28 2012-08-30 Seiko Epson Corp スクリーン、及びプロジェクタ
JP2013003076A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Seiko Epson Corp 光源装置、光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システム
KR20140028536A (ko) * 2012-08-29 2014-03-10 엘지전자 주식회사 깊이 영상 생성 장치 및 방법
KR20150087612A (ko) * 2014-01-22 2015-07-30 엘지전자 주식회사 구조광 생성 장치 및 방법
KR20150089673A (ko) * 2014-01-28 2015-08-05 엘지이노텍 주식회사 카메라 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012163986A (ja) * 2006-08-28 2012-08-30 Seiko Epson Corp スクリーン、及びプロジェクタ
JP2013003076A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Seiko Epson Corp 光源装置、光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システム
KR20140028536A (ko) * 2012-08-29 2014-03-10 엘지전자 주식회사 깊이 영상 생성 장치 및 방법
KR20150087612A (ko) * 2014-01-22 2015-07-30 엘지전자 주식회사 구조광 생성 장치 및 방법
KR20150089673A (ko) * 2014-01-28 2015-08-05 엘지이노텍 주식회사 카메라 장치

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020242223A1 (ko) * 2019-05-29 2020-12-03 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
US20220236052A1 (en) * 2019-05-29 2022-07-28 Lg Innotek Co., Ltd. Camera module
US11994378B2 (en) 2019-05-29 2024-05-28 Lg Innotek Co., Ltd. Camera module
US11906628B2 (en) 2019-08-15 2024-02-20 Apple Inc. Depth mapping using spatial multiplexing of illumination phase
WO2021040476A1 (ko) * 2019-08-30 2021-03-04 엘지이노텍 주식회사 Tof 카메라
US11882263B2 (en) 2019-08-30 2024-01-23 Lg Innotek Co., Ltd. ToF camera
CN110595735A (zh) * 2019-09-29 2019-12-20 歌尔股份有限公司 一种tof模组测试装置、测试系统和测试方法
CN110595735B (zh) * 2019-09-29 2022-05-20 歌尔光学科技有限公司 一种tof模组测试装置、测试系统和测试方法
US11763472B1 (en) 2020-04-02 2023-09-19 Apple Inc. Depth mapping with MPI mitigation using reference illumination pattern
US11558569B2 (en) 2020-06-11 2023-01-17 Apple Inc. Global-shutter image sensor with time-of-flight sensing capability

Also Published As

Publication number Publication date
KR102472217B1 (ko) 2022-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102472217B1 (ko) 광 송출장치 및 이를 이용한 ToF(Time of Flight)모듈
KR102483462B1 (ko) ToF 모듈
US10739607B2 (en) Light source module, sensing device and method for generating superposition structured patterns
CN110824490B (zh) 一种动态距离测量系统及方法
RU2608690C2 (ru) Световой проектор и видеосистема для определения расстояния
KR20010014970A (ko) 물체 검출용 광학유닛 및 이를 이용한 위치좌표 입력장치
WO1997006406A1 (fr) Appareils de mesure de la distance et de la forme
WO2013035553A1 (ja) ユーザインタフェース表示装置
US20200355494A1 (en) Structured light projection
CN110716190A (zh) 一种发射器及距离测量系统
CN111473747B (zh) 标定装置、标定系统、电子设备及标定方法
WO2023207756A1 (zh) 图像重建方法和装置及设备
US11076145B2 (en) Depth map generator
US20240133679A1 (en) Projector for diffuse illumination and structured light
EP3596425B1 (en) Optoelectronic devices for collecting three-dimensional data
JP2002188903A (ja) 並列処理光学距離計
US10877285B2 (en) Wavelength-based spatial multiplexing scheme
TW201939064A (zh) 光測距感測器
CN102063228B (zh) 光学侦测系统及应用该光学侦测系统的触摸屏
JP6626552B1 (ja) マルチ画像プロジェクタ及びマルチ画像プロジェクタを有する電子デバイス
JP2004053532A (ja) 光学的形状測定装置
EP3637044B1 (en) Multi-image projector and electronic device having the multi-image projector
CN110954917A (zh) 一种深度测量装置和深度测量方法
WO2023286542A1 (ja) 物体検知装置および物体検知方法
TW202014790A (zh) 投影機、具有投影機的電子裝置、以及用來取得影像資料之深度資訊的方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)