KR20180078112A - Apparatus and method for lifetime prediction of storage device - Google Patents

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재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단
단국대학교 산학협력단
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Abstract

The present invention relates to a method and a device for predicting a lifecycle of a storage device. More specifically, the present invention is as follows: measuring a used write traffic value (A) considering a write amplification factor (WAF), which represents a degree to which a write traffic value of a storage device is abnormally amplified, and predicting a lifecycle of the storage device; monitoring a read latency value of the storage device, and predicting a lifecycle of the storage device from the read latency value (B); and determining whether the predicted lifecycle is consistent with a predetermined condition, and if the predicted lifecycle is consistent with a predetermined condition, informing the predicted lifecycle to a user. Accordingly, the present invention considers an available capacity of the storage device and precisely predicts a lifecycle. Furthermore, the present invention protects important data through the lifecycle prediction in advance, and prevents problems that data is not saved in an unexpected situation.

Description

저장 장치의 수명 예측 장치 및 방법{Apparatus and method for lifetime prediction of storage device}[0001] Apparatus and method for lifetime prediction of storage [

본 발명은 저장 장치의 수명 예측 장치 및 방법에 관한 것으로, 별도의 하드웨어 변경 없이 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값과 읽기 지연시간(Read latency) 값을 기초로 수명을 예측하는 기술이다. 특히 본 발명은 쓰기 트래픽(Write traffic)이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)를 고려하여 저장 장치의 수명을 예측하는 특징을 가진다.The present invention relates to an apparatus and method for predicting the lifetime of a storage device, and is a technology for predicting lifetime based on a write traffic value and a read latency value of a storage device without any hardware change. In particular, the present invention has a feature of predicting the lifetime of a storage device in consideration of a write amplification factor (WAF) indicating the degree of abnormally amplified write traffic.

에스디카드(SD card)는 사물인터넷 디바이스에서 가장 적합한 저장 장치 중 하나이다. 크기가 작고 제거가 편해, 사물인터넷 디바이스가 적용되는 다양한 환경에서의 사용이 용이하다. 폭 넓은 동작 온도와 웨어레벨링(Wear leveling) 기술은 사물인터넷 디바이스에서 사용하는 에스디카드(SD card)의 신뢰성을 향상시킨다. 이러한 에스디카드(SD card)를 사물인터넷 디바이스에 적용할 때의 문제점으로, 수명 예측의 어려움을 들 수 있다. 사물인터넷 디바이스의 한 종류인 블랙박스의 경우, 스트리밍(Streaming) 형태의 데이터를 에스디카드(SD card)에 저장하는데, 에스디카드(SD card)의 수명 특성 때문에 블랙박스에 데이터가 저장되지 않는 문제가 발생할 수 있다.SD card is one of the most suitable storage devices for things Internet devices. Small in size and easy to remove, it is easy to use in a variety of environments where an object Internet device is applied. Wide operating temperature and wear leveling techniques improve the reliability of SD cards used in Internet devices. The problem of applying such SD card to object internet devices is difficult to predict life. In the case of a black box, which is a type of Internet device, it stores streaming data in an SD card. The problem that the data is not stored in the black box due to the life characteristic of the SD card Lt; / RTI >

에스디카드(SD card)의 수명을 예측하는 대표적인 종래 기술로 에스.엠.에이.알.티(S.M.A.R.T : Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)와 입출력 트래픽(I/O traffic) 또는 입출력 지연시간(I/O latency)을 고려하는 방법이 있다. 주로 에스에스디(SSD : Solid state drive)에서 사용되는 에스.엠.에이.알.티(S.M.A.R.T : Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)는 신뢰성 검사를 통해 잠재적인 실패 가능성을 진단, 보고하는 감시 체계이다. 에스디카드(SD card)에서도, 수명을 모니터링하기 위해 에스.엠.에이.알.티(S.M.A.R.T : Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)와 유사한 기능을 하드웨어에 적용할 수 있다. 이 모니터링 툴을 이용하면 비교적 정확하면서, 가시적으로 에스디카드(SD card)의 수명을 확인할 수 있다. 하지만 기존 에스디카드(SD card)에 비해 비싼 가격과 하드웨어 변경이 필요하다는 점 때문에 일반적인 에스디카드(SD card)에서는 사용할 수 없는 문제가 있다.(SMART) and I / O traffic or I / O delay time (SMART), which is a representative conventional technique for predicting the life of a SD card, I / O latency). SMART (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology), which is mainly used in SSD (Solid State Drive), is a system that monitors and reports potential failures through a reliability check. to be. In SD card, a function similar to S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) can be applied to the hardware to monitor the life span. With this monitoring tool, you can see the SD card's life span relatively accurately and visually. However, there is a problem that can not be used with a general SD card because it is expensive and requires hardware changes compared to an SD card.

에스디카드(SD card)의 하드웨어를 변경하지 않고, 수명을 예측하는 방법은 두 가지가 있다. 첫 번째 방법은 에스디카드(SD card)에 쓰여진 데이터 양을 고려하는 방법이다. 플래시 메모리로 구성되어있는 에스디카드(SD card)는 엔듀렌스(Endurance) 특성 때문에 최대 쓰기 횟수가 제한되어있다. 제한된 전체 쓰기 횟수와 현재 쓰여진 데이터 양을 고려하면 수명을 예측할 수 있다. 다만 다음 수식

Figure pat00001
처럼 플래시 메모리 특성상 가비지 컬렉션(Garbage collection)이 발생하게 되어, 와프(WAF : Write Amplification Factor) 때문에 실제 쓰여진 데이터 양보다 쓰여진 횟수가 증폭이 되는 것을 고려해야한다. 결국 입출력 트래픽(I/O traffic) 측면에서 수명예측을 할 때 가장 중요한 것은 와프(WAF : Write Amplification Factor)를 정확하게 예측하는 것이다. There are two ways to predict the life span of a SD card without changing its hardware. The first way is to consider the amount of data written to the SD card. The SD card, which consists of a flash memory, has a limited number of write cycles because of its endurance characteristics. The lifetime can be predicted by considering the limited total write count and the amount of data currently written. However,
Figure pat00001
, Garbage collection occurs due to the characteristics of the flash memory. Therefore, it is necessary to consider that the number of times of writing is amplified by the write amplification factor (WAF) rather than the amount of data actually written. As a result, it is important to accurately predict the write amplification factor (WAF) when predicting lifetime in terms of input / output traffic (I / O traffic).

도 1은 순차적으로 데이터가 쓰여질 때와 랜덤으로 데이터가 쓰여질 때의 와프(WAF : Write Amplification Factor) 특성을 보여주는 도면이다. 와프(WAF : Write Amplification Factor)는 메모리의 이용률과 메모리의 수명이 반비례하는 특성을 가진다. 즉 메모리를 꽉 채울수록(메모리의 이용률 증가) 메모리의 수명은 줄어든다. 블랙박스와 같은 사물인터넷 디바이스의 경우 순차적으로 데이터가 쓰여진다. 이는 도1 내의 가장 오른쪽 막대그래프(Sequential)와 같이 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 거의 1에 수렴하는 것을 확인할 수 있다. 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 1에 수렴한다는 것은 쓰기 요청에 랜덤한 부분이 거의 없이 순차적(Sequential)으로 진행되면 쓰기 증폭이 거의 없게 된다는 것이다. 반면, 쓰기 요청에서 랜덤한 부분이 증가하면(도 1에서 왼쪽 막대기로 갈수록 랜덤 비율이 증가하고 있음), 와프(WAF : Write Amplification Factor)도 증가하는 것을 볼 수 있다. 결국 쓰기 요청에서 랜덤한 부분의 비율을 기반으로 와프(WAF : Write Amplification Factor)를 예측할 수 있는 것이다.FIG. 1 is a diagram showing a WAF (Write Amplification Factor) characteristic when data is sequentially written and when data is randomly written. Write Amplification Factor (WAF) has the property that memory utilization is inversely proportional to memory lifetime. In other words, the more memory it fills up (the more memory it uses), the less memory is available. In the case of Internet devices such as black boxes, data is written sequentially. It can be seen that the WAF (Write Amplification Factor) converges to almost 1 like the rightmost bar graph in FIG. 1. The fact that the WAF (Write Amplification Factor) converges to 1 means that there is almost no write amplification if the write request is in a sequential order with almost no random part. On the other hand, if the random portion increases in the write request (the random ratio increases toward the left stick in FIG. 1), the WAF (Write Amplification Factor) also increases. As a result, the write amplification factor (WAF) can be predicted based on the ratio of the random part in the write request.

두 번째 방법은 입출력 지연시간(I/O latency)를 고려하는 방법이다. 정상적인 메모리의 경우 도2 내지 도3과 같이 읽기 지연시간(Read latency)이 대부분 2ms 이하이다. 다만 이러한 정상적인 메모리를 많이 사용하게 되면 마모가 많이 되어 죽기 전 상태가 된다. 이러한 상태는 RBER(Raw Bit Err/or Rate)이 급격히 늘고, ECC(Error correction cole) 보정을 하기 위한 파일오류 재처리(Read retry) 횟수가 증가하여 읽기 지연시간(Read latency)이 크게 증가되는 현상으로 나타난다. 즉, 메모리의 수명은 한계에 다다르면 삭제(Erase)나 읽기(Read)와 같은 연산을 수행할 때 성능이 확실하게 나빠지는 한계점이 있다.The second method is to consider I / O latency. In the case of a normal memory, as shown in FIGS. 2 to 3, the read latency is usually less than 2 ms. However, if you use a lot of such normal memory, it becomes a state before wear due to heavy wear. This state is a phenomenon in which the RBT (Raw Bit Err / Rate) increases sharply and the read latency increases significantly due to an increase in the number of file retry operations (Error Retrieval) for ECC . That is, when the lifetime of the memory reaches its limit, there is a limitation that performance is surely deteriorated when operations such as erase and read are performed.

한국공개특허공보 제2016-0054933호Korean Patent Laid-Open Publication No. 2016-0054933 한국공개특허공보 제2015-0017263호Korean Patent Laid-Open Publication No. 2015-0017263 한국등록특허공보 제1190742호Korean Patent Registration No. 1190742 일본공개특허공보 제2014-203467호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2014-203467

이에 본 발명은 상기와 같은 제반 사항을 고려하여 제안된 것으로, 저장 장치의 수명 예측 요소로 쓰기 트래픽량, 읽기 지연시간 그리고 저장 장치의 가용용량을 고려한 수명예측 방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. It is an object of the present invention to provide a method and apparatus for predicting the lifetime of a storage device considering a write traffic volume, a read delay time and an available capacity of a storage device, .

또한 본 발명은 스트리밍 데이터를 많이 사용하는 사물인터넷 디바이스에 있어서 향상된 성능을 제공하는 것을 목적으로 한다. 특히 대표적인 사물인터넷 디바이스인 블랙박스의 경우, 에스디카드(SD card)의 수명 예측이 확실하게 되지 않아, 중요한 데이터가 저장되지 않는 문제를 해결할 수 있는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an improved performance of an object Internet device using a lot of streaming data. In particular, in the case of a black box, which is a representative object Internet device, it is intended to solve the problem that the life prediction of the SD card is not sure and the important data is not stored.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해할 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 기술적 사상에 의한 저장 장치의 수명 예측 장치는 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측부, 상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제2수명예측부, 상기 제1수명예측부 및 상기 제2수명예측부로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단부, 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림부를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a device for predicting the lifetime of a storage device, the device comprising: A first life predicting unit for predicting a lifetime of the storage device by measuring a write traffic value A of the storage device by monitoring a read latency value of the storage device, A second life predicting unit for predicting a life of the storage device from a read latency value B, a second life predicting unit for determining whether a life expectancy predicted from the first and second life predicting units corresponds to a predetermined condition And a notification unit for informing the user of the predicted life span when the predicted life span corresponds to a predetermined condition.

이 때 상기 제1수명예측부는 저장 장치의 상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출하는 최대쓰기트래픽값산출부, 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출하는 와프값산출부, 상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출하는 사용한쓰기트래픽값산출부, 상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출하는 남은수명비율값산출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The first life predicting unit may include a maximum write traffic value calculating unit for calculating a maximum write traffic value by measuring a capacity value and a program / erase cycle of the storage device of the storage device, A waftage value calculation unit for calculating a write amplification factor (WAF) value by measuring a used write value and a random write value of the storage device; A write traffic value calculation unit for calculating a write traffic value A using the calculated write traffic value A and a maximum write traffic value And a remaining life ratio value calculating unit for calculating a remaining life ratio value of the apparatus.

이 때 상기 최대쓰기트래픽값산출부는 수학식 1로 표현되는 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값인 것을 특징으로 한다.In this case, the maximum write traffic value calculator is a value obtained by multiplying a capacity value of the storage device represented by Equation (1) by a P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device.

<수학식 1>&Quot; (1) &quot;

Figure pat00002
Figure pat00002

상기 와프값산출부는 수학식 2로 표현되는 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로서, 이를 상기 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)의 가중치로 적용하는 것을 특징으로 한다.The warp value calculating unit may calculate a value obtained by dividing a value calculated by dividing a write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device represented by Equation (2) As a weight of write traffic (A).

<수학식 2>&Quot; (2) &quot;

Figure pat00003
Figure pat00003

상기 사용한쓰기트래픽값산출부는 수학식 3으로 표현되는 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값인 것을 특징으로 한다.The used write traffic value calculating unit is a value obtained by multiplying the used write value (A) expressed by Equation (3) by a value of a write amplification factor (WAF) derived from Equation (2).

<수학식 3>&Quot; (3) &quot;

Figure pat00004
Figure pat00004

상기 남은수명비율값산출부는 수학식 4로 표현되는 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값인 남은 수명 비율 값을 도출하는 것을 특징으로 한다.The remaining lifetime ratio value calculator calculates a remaining lifetime ratio value, which is a value obtained by dividing a write traffic value (A) used in the storage device by the maximum write traffic value (Write traffic) represented by Equation (4) Is derived.

<수학식 4>&Quot; (4) &quot;

Figure pat00005
Figure pat00005

상기 판단부의 기 설정된 조건은 <조건 1>과 <조건 2>로 표현되며, 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우 상기 알림부를 실행하는 것을 특징으로 한다. 반면 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우 상기 제1수명예측부 내지 상기 제2수명예측부를 실행하는 것을 특징으로 한다.The predetermined condition of the determination unit is expressed by <condition 1> and <condition 2>. When the used write traffic A satisfies <condition 1> or the read latency value B, And executes the notification unit when it satisfies the < condition 2 >. On the other hand, if the used write traffic (A) does not satisfy <condition 1> and the read latency value (B) does not satisfy <condition 2> And the second life predicting unit is executed.

<조건 1><Condition 1>

(사용한 쓰기 트래픽 값 A)

Figure pat00006
(한계 값 P)(Used write traffic value A)
Figure pat00006
(Limit value P)

<조건 2><Condition 2>

(최근 읽기 지연시간 값 B를 모니터링 한 횟수 M 중 {(읽기 지연시간 값 B) (2ms X Q)}를 만족하는 읽기 지연시간 값 B가 나타난 횟수 값)

Figure pat00007
N(The value of the number of times the read delay time value B satisfying {(read delay time value B) (2 ms XQ) among the number of times M monitoring the latest read delay time value B)
Figure pat00007
N

(P, Q, N, M은 기 설정된 값)(P, Q, N, and M are predetermined values)

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 기술적 사상에 의한 저장 장치의 수명 예측 방법은 제1수명예측부가 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측단계, 제2수명예측부가 상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제2수명예측단계, 판단부가 상기 제1수명예측단계 및 상기 제2수명예측단계로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단단계, 알림부가 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of predicting the lifetime of a storage device, the method comprising: predicting a life expectancy of a storage device based on a WAF A first life predicting step of predicting a life time of the storage device by measuring a used write traffic value A considering an amplification factor of the storage device, Estimating a lifetime of the storage device from the read latency value (B) by monitoring a value of the read latency value (B) from the first lifetime prediction step A determination step of determining whether or not a predicted life span corresponds to a preset condition; and a determination step of determining whether the predicted life span corresponds to a predetermined condition, And a notification step of notifying the user.

이 때 상기 제1수명예측단계는 최대쓰기트래픽값산출부가 상기 저장 장치의 상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출하는 최대쓰기트래픽값산출단계, 와프값산출부가 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출하는 와프값산출단계, 사용한쓰기트래픽값산출부가 상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출하는 사용한쓰기트래픽값산출단계, 남은수명비율값산출부가 상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출하는 남은수명비율값산출단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.At this time, in the first life predicting step, the maximum write traffic value calculating unit measures a capacity value and a P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device of the storage device to calculate a maximum write traffic value Calculating a maximum write traffic value and a wafue value calculation unit calculating a waf (WAF) value by measuring a write value and a random write value used in the storage, Calculating a used write traffic value (A) of the storage device from the calculated write amplification factor (WAF), calculating a used write traffic value (A) Calculating a remaining lifetime ratio value of the storage device using the write traffic value A and the calculated maximum write traffic value ; And

상기 최대쓰기트래픽값산출단계는 수학식 1로 표현되는 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값인 것을 특징으로 한다.The maximum write traffic value calculating step is a value obtained by multiplying a capacity value of the storage device represented by Equation (1) by a program / erase cycle of the storage device.

<수학식 1>&Quot; (1) &quot;

Figure pat00008
Figure pat00008

상기 와프값산출단계는 수학식 2로 표현되는 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로서, 이를 상기 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)의 가중치로 적용하는 것을 특징으로 한다.The warp value calculation step is a value obtained by dividing a value calculated by dividing by a write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device represented by Equation (2) Is applied as the weight of the write traffic (A).

<수학식 2>&Quot; (2) &quot;

Figure pat00009
Figure pat00009

상기 사용한쓰기트래픽값산출단계는 수학식 3으로 표현되는 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값인 것을 특징으로 한다.The used write traffic value calculating step is a value obtained by multiplying the used write value (A) expressed by Equation (3) by a write amplification factor (WAF) derived from Equation (2).

<수학식 3>&Quot; (3) &quot;

Figure pat00010
Figure pat00010

상기 남은수명비율값산출단계는 수학식 4로 표현되는 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값인 남은 수명 비율 값을 도출하는 것을 특징으로 한다.The remaining lifetime ratio value calculation step calculates the remaining lifetime ratio value by multiplying the write traffic (A) used in the storage device by the maximum write traffic value (write traffic) represented by Equation (4) And deriving a ratio value.

<수학식 4>&Quot; (4) &quot;

Figure pat00011
Figure pat00011

상기 판단단계의 기 설정된 조건은 <조건 1>과 <조건 2>로 표현되며 알림부가 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우 상기 알림단계를 실행하는 것을 특징으로 한다. 반면 제1수명예측부 내지 제2수명예측부가 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우 상기 제1수명예측단계 내지 상기 제2수명예측단계를 실행하는 것을 특징으로 한다.The predetermined condition of the determination step is expressed as <condition 1> and <condition 2>, and the write traffic (A) used by the notification part satisfies <condition 1> or the read latency value B) satisfies < Condition 2 >, the notifying step is executed. On the other hand, if the write traffic (A) used by the first and second life predicting units does not satisfy <condition 1> and the read latency value B satisfies <condition 2> The first life predicting step and the second life predicting step are executed.

<조건 1><Condition 1>

(사용한 쓰기 트래픽 값 A)

Figure pat00012
(한계 값 P)(Used write traffic value A)
Figure pat00012
(Limit value P)

<조건 2><Condition 2>

(최근 읽기 지연시간 값 B를 모니터링 한 횟수 M 중 {(읽기 지연시간 값 B) (2ms X Q)}를 만족하는 읽기 지연시간 값 B가 나타난 횟수 값)

Figure pat00013
N(The value of the number of times the read delay time value B satisfying {(read delay time value B) (2 ms XQ) among the number of times M monitoring the latest read delay time value B)
Figure pat00013
N

(P, Q, N, M은 기 설정된 값)(P, Q, N, and M are predetermined values)

이상에서 설명한 바와 같은 저장 장치의 수명 예측 장치 및 방법에 따르면,According to the apparatus and method for predicting the life of the storage device as described above,

첫째, 저장 장치의 수명 예측 요소로 쓰기 트래픽량, 읽기 지연시간 그리고 저장 장치의 가용용량을 고려하여 더욱 정확하게 수명을 예측할 수 있는 효과를 가진다.First, the life expectancy factor of the storage device can be more accurately predicted considering the write traffic volume, the read delay time, and the available capacity of the storage device.

둘째, 스트리밍 데이터를 많이 사용하는 사물인터넷 디바이스에 있어서 향상된 성능을 가지는 효과가 있다.Second, there is an effect of improving the performance of the object Internet device using a lot of streaming data.

셋째, 대표적인 사물인터넷 디바이스인 블랙박스의 경우, 에스디카드(SD card)의 수명 예측이 가능하여 중요한 데이터를 저장할 수 있는 효과를 가진다.Third, in the case of black box, which is a typical object Internet device, it is possible to predict the life of the SD card, and thus it is possible to store important data.

넷째, 하드웨어의 변경 없이 수명 예측이 가능한 효과를 가진다.Fourth, it has the effect of predicting the life without changing the hardware.

다섯째, 사용자가 수신하고자 하는 저장 장치의 예측된 수명 시점을 별도로 설정 가능(P, Q, N, M은 기 설정된 값)할 수 있기 때문에 예상치 못한 상황에서 데이터가 저장되지 않는 문제를 예방할 수 있는 효과를 가진다.Fifth, since the predicted life time point of the storage device to be received by the user can be separately set (P, Q, N, and M are predetermined values), it is possible to prevent the problem that data is not stored in an unexpected situation .

도 1은 순차적으로 데이터가 쓰여질 때와 랜덤으로 데이터가 쓰여질 때의 와프(WAF : Write Amplification Factor) 특성을 보여주는 도면.
도 2는 커맨드(Command) 100개에 따른 읽기 지연시간(Read latency)을 측정한 결과를 나타낸 도면.
도 3은 커맨드(Command) 1000개에 따른 읽기 지연시간(Read latency)을 측정한 결과를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 저장 장치의 수명 예측 장치를 나타낸 구성도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 저장 장치의 수명 예측 방법을 나타낸 순서도.
도 6은 도 5에서 제1수명예측단계를 설명하기 위한 순서도.
FIG. 1 is a diagram showing a WAF (Write Amplification Factor) characteristic when data is sequentially written and when data is randomly written. FIG.
FIG. 2 is a diagram showing a result of measuring a read latency according to 100 commands; FIG.
FIG. 3 is a diagram showing a result of measuring a read latency according to 1000 commands; FIG.
4 is a block diagram illustrating a device for predicting the life of a storage device according to an embodiment of the present invention.
5 is a flowchart illustrating a method of predicting the service life of a storage device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a flowchart for explaining the first life prediction step in FIG. 5; FIG.

첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 의한 저장 장치의 수명 예측 장치 및 방법에 대하여 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하거나, 개략적인 구성을 이해하기 위하여 실제보다 축소하여 도시한 것이다. 또한, 제1 및 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An apparatus and method for estimating the service life of a storage device according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It is to be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but on the contrary, is intended to cover all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are enlarged to illustrate the present invention, and are actually shown in a smaller scale than the actual dimensions in order to understand the schematic structure. Also, the terms first and second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component. On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 저장 장치의 수명 예측 장치를 나타낸 구성도이다.FIG. 4 is a block diagram illustrating an apparatus for predicting the life of a storage device according to an embodiment of the present invention.

도 4에서 도시하고 있는 것과 같이 저장 장치의 수명 예측 장치는 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측부(100), 상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제2수명예측부(200), 상기 제1수명예측부(100) 및 상기 제2수명예측부(200)로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단부(300), 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림부(400)로 구성된다. 한편 상기 제1수명예측부(100)는 상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출하는 최대쓰기트래픽값산출부(110), 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출하는 와프값산출부(120), 상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출하는 사용한쓰기트래픽값산출부(130), 상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출하는 남은수명비율값산출부(140)로 구성된다.As shown in FIG. 4, the device for predicting the service life of a storage device includes a write traffic (write traffic) considering a write amplification factor (WAF) indicating a degree of abnormally amplifying a write traffic value of a storage device, A first latency predicting unit 100 for predicting a lifetime of the storage device by measuring a value A of the storage device and a read latency value of the storage device, A second life predicting unit 200 for predicting the life of the storage device from the value B, a predicted life expectancy from the first and second life predicting units 100 and 200, And a notification unit 400 for informing the user of the predicted life span when the estimated life span corresponds to a predetermined condition. The first service life predicting unit 100 includes a maximum write traffic value calculator 110 for calculating a maximum write traffic value by measuring a capacity value and a P / E cycle (program / erase cycle) A warp value calculation unit 120 for calculating a write amplification factor (WAF) by measuring a write value and a random write value used in the storage device, and a wobble value calculation unit 120 for calculating a write amplification factor A used write traffic value calculating unit 130 for calculating a write traffic value A used in the storage device and a write traffic value calculating unit 130 for calculating a write traffic value A calculated using the calculated maximum write traffic value A, And a remaining life ratio value calculation unit 140 for calculating a remaining life ratio value of the storage device using a write traffic value.

상기 최대쓰기트래픽값산출부(110)는 수학식 1로 표현되는 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값으로 상기 저장 장치의 최대 쓰기 트래픽 값을 산출한다.The maximum write traffic value calculation unit 110 calculates a maximum write traffic value of the storage device by multiplying a capacity value of the storage device expressed by Equation (1) by a P / E cycle (program / erase cycle) .

<수학식 1>&Quot; (1) &quot;

Figure pat00014
Figure pat00014

상기 와프값산출부(120)는 수학식 2로 표현되는 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로 상기 저장 장치의 와프 값을 산출한다.The warp value calculator 120 calculates a warp value by adding a value calculated by dividing a write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device represented by Equation (2) Is calculated.

<수학식 2>&Quot; (2) &quot;

Figure pat00015
Figure pat00015

상기 사용한쓰기트래픽값산출부(130)는 수학식 3으로 표현되는 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값으로 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값을 산출한다.The used write traffic value calculator 130 multiplies the used write value A expressed by Equation 3 by a write amplification factor WAF derived from Equation 2, Calculate the used write traffic value of the device.

<수학식 3>&Quot; (3) &quot;

Figure pat00016
Figure pat00016

이를 통해 상기 남은수명비율값산출부(140)는 수학식 4로 표현되는 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값으로 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출한다. 이 때 상기 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)은 상기 최대쓰기트래픽값산출부(110)로부터 산출된 값이며, 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)은 상기 사용한쓰기트래픽값산출부(130)로부터 산출된 값이다.Accordingly, the remaining lifetime ratio calculation unit 140 calculates a value obtained by dividing the write traffic (A) used in the storage device expressed by Equation (4) by the maximum write traffic value (Write traffic) The remaining life ratio value of the storage device is calculated. In this case, the maximum write traffic value is a value calculated from the maximum write traffic value calculating unit 110, and the write traffic value (A) used by the storage device is the write traffic value (130). &Lt; / RTI &gt;

<수학식 4>&Quot; (4) &quot;

Figure pat00017
Figure pat00017

이를 통해 상기 판단부(300)에서는 상기 제1수명예측부(100)와 상기 제2수명예측부(200)로부터 예측된 각각의 상기 저장 장치의 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단한다. 상기 판단부(300)의 기 설정된 조건은 <조건 1>과 <조건 2>로 표현된다. 상기 판단부(300)는 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>과 상응하는지 여부를 판단하며, 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)은 <조건 2>와 상응하는지 여부를 판단한다.Accordingly, the determination unit 300 determines whether the lifetime of each of the storage devices predicted by the first and second life predicting units 100 and 200 corresponds to predetermined conditions. The predetermined condition of the determination unit 300 is expressed by < Condition 1 > and < Condition 2 >. The determination unit 300 determines whether the used write traffic A corresponds to the <condition 1>, and the read latency value B corresponds to <condition 2> .

<조건 1><Condition 1>

(사용한 쓰기 트래픽 값 A)

Figure pat00018
(한계 값 P)(Used write traffic value A)
Figure pat00018
(Limit value P)

<조건 2><Condition 2>

(최근 읽기 지연시간 값 B를 모니터링 한 횟수 M 중 {(읽기 지연시간 값 B) (2ms X Q)}를 만족하는 읽기 지연시간 값 B가 나타난 횟수 값)

Figure pat00019
N(The value of the number of times the read delay time value B satisfying {(read delay time value B) (2 ms XQ) among the number of times M monitoring the latest read delay time value B)
Figure pat00019
N

(P, Q, N, M은 기 설정된 값)(P, Q, N, and M are predetermined values)

상기 알림부(400)는 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우(<조건 1> 또는 <조건 2> 중 어느 하나라도 만족하면), 알림을 실행한다. When the used write traffic A satisfies <condition 1> or the read latency value B satisfies <condition 2> (<condition 1>), Or < Condition 2 > is satisfied), the notification is executed.

반면 상기 제1수명예측부(100) 내지 상기 제2수명예측부(200)는 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우(<조건 1>과 <조건 2>를 모두 만족하지 않으면), 제1수명예측과 제2수명예측을 실행한다.In contrast, the first and second lifetime predicting units 100 and 200 may determine that the write traffic A used does not satisfy the <condition 1> and the read latency value B) does not satisfy <condition 2> (when both <condition 1> and <condition 2> are not satisfied), the first life prediction and the second life prediction are executed.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 저장 장치의 수명 예측 방법을 나타낸 순서도이다.5 is a flowchart illustrating a method of predicting the service life of a storage device according to an embodiment of the present invention.

도 5에서 도시하고 있는 것과 같이 저장 장치의 수명 예측 방법은 제1수명예측부(100)가 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측한다(S100). 제2수명예측부(200)가 상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측한다(S200). 판단부(300)가 상기 S100단계 및 상기 S200 단계로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단한다(S300). 알림부(400)가 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려준다(S400).As shown in FIG. 5, the method of predicting the lifetime of a storage device may be a method of predicting the lifetime of a storage device, such as a WAF (write amplification factor) indicating a degree of abnormally amplifying a write traffic value of a storage device, And estimates the life of the storage device by measuring the used write traffic value A in step S100. The second life predicting unit 200 monitors the read latency value of the storage device and predicts the lifetime of the storage device from the read latency value B ). The determination unit 300 determines whether the life expectancy predicted from the steps S100 and S200 corresponds to a predetermined condition (S300). If the predicted life span corresponds to the predetermined condition, the notification unit 400 informs the user of the predicted life span (S400).

도 6은 도 5에서 S100 단계를 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 6 is a flowchart for explaining the step S100 in FIG.

도 6에서 도시하고 있는 것과 같이, 상기 최대쓰기트래픽값산출부(110)가 상기 저장 장치의 상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출한다(S100). 와프값산출부(120)가 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출한다(S120). 사용한쓰기트래픽값산출부(130)가 상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출한다(S130). 남은수명비율값산출부(140)가 상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출한다(S140).6, the maximum write traffic value calculator 110 measures a capacity value and a P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device of the storage device to determine a maximum write traffic (S100). The warp value calculating unit 120 measures a write value used in the storage device and a random write value to calculate a write amplification factor (WAF) (S120). The used write traffic value calculating unit 130 calculates the write traffic value A used by the storage device from the calculated write amplification factor WAF at step S130. The remaining lifetime ratio value calculating unit 140 calculates the remaining life ratio value of the storage device using the calculated write traffic value A and the calculated maximum write traffic value (S140).

상기와 같은 방법을 통해 상기 S100 단계에서 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 과정은 다음과 같다.The process for predicting the service life of the storage device in step S100 is as follows.

상기 S110 단계는 상기 기재한 바와 같이 수학식 1을 이용하여 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값으로 상기 저장 장치의 최대 쓰기 트래픽 값을 산출한다.In step S110, the maximum write traffic value of the storage device is calculated by multiplying the capacity value of the storage device by the P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device using Equation (1) do.

상기 S120 단계는 상기 기재한 바와 같이 수학식 2를 이용하여 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로 상기 저장 장치의 와프 값을 산출한다.In step S120, the value calculated by dividing the write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device by 1 is added to the value stored in the storage device using Equation (2) Is calculated.

상기 S130 단계는 상기 기재한 바와 같이 수학식 3을 이용하여 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값으로 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값을 산출한다.In step S130, as described above, the value of the write (A) used in the above equation (3) is multiplied by the value of a write amplification factor (WAF) derived from the equation (2) And calculates the used write traffic value.

이를 통해 상기 S140 단계는 상기 기재한 바와 같이 수학식 4를 이용하여 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값으로 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출한다.As a result, in step S140, the value calculated by dividing the write traffic (A) used in the storage device by the maximum write traffic value (Write traffic) is subtracted from 1 by using Equation (4) The remaining life ratio value of the storage device is calculated.

예를 들어 8GB 크기의 저장 장치의 쓰고 지울 수 있는 P/E 사이클(Program/erase cycle) 횟수가 10,000번이라면, 상기 기재한 수학식 1을 이용하였을 때 최대 쓰기 트래픽 값은 8 X 10,000인 80,000이 되는 것이다. For example, if the number of P / E cycles (program / erase cycles) that can be written to and erased from a storage device of 8 GB is 10,000, the maximum write traffic value of 80,000, which is 8 X 10,000, .

이 때 사용자가 저장 장치를 실제로 사용한 쓰기 값이 20,000GB이고, 이 중에서 저장 장치의 랜덤한 쓰기 값이 4,000GB이라고 측정되었다면, 상기 기재한 수학식 2를 이용하였을 때 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값은 1+(4,000/20,000)인 1.2가 된다. In this case, if the user actually uses the storage device with a write value of 20,000 GB, and if the random write value of the storage device is 4,000 GB, the write amplification factor (WAF) The value is 1.2, which is 1+ (4,000 / 20,000).

그리고 상기 산출한 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값 1.2를 저장 장치가 실제로 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)의 가중치로 적용한다. 따라서 저장 장치의 실제로 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)은 상기 기재한 수학식 3을 이용하였을 때 20,000 X 1.2인 24,000이 된다. Then, the calculated Write Amplification Factor (WAF) value 1.2 is applied as the weight of the write traffic value (A) actually used by the storage device. Therefore, the write traffic (A) actually used in the storage device becomes 24,000, which is 20,000 X 1.2 when the above Equation (3) is used.

이를 통해 상기 기재한 수학식 4를 이용하여 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 구하면 1-(24,000/80,000)인 0.7, 즉 70%가 되는 것이다. If the remaining life ratio value of the storage device is obtained by using Equation (4) described above, the value becomes 0.7 (70%) which is 1- (24,000 / 80,000).

상기 S300 단계에서는 상기 판단부(300)가 상기 S100 단계와 상기 S200 단계로부터 예측된 각각의 상기 저장 장치의 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단한다. 상기 S300 단계의 기 설정된 조건은 상기 기재한 바와 같이 <조건 1>과 <조건 2>로 표현된다. 상기 S300 단계는 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>과 상응하는지 여부를 판단하며, 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)은 <조건 2>와 상응하는지 여부를 판단한다.In step S300, the determination unit 300 determines whether the lifetime of each storage device predicted from steps S100 and S200 corresponds to a predetermined condition. The predetermined condition of step S300 is expressed by < Condition 1 > and < Condition 2 > as described above. In step S300, it is determined whether or not the used write traffic value A corresponds to the <condition 1>. If the read latency value B corresponds to the <condition 2> do.

만약 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우(<조건 1> 또는 <조건 2> 중 어느 하나라도 만족하면), 상기 알람부(400)는 상기 S400 단계를 실행한다. 이 때 상기 S400 단계는 일 실시예로서 상기 저장 장치의 수명 권고가 해당될 수 있으며, TCP/IP(Transport Control Protocol/Internet Protocol) 또는 블루투스 통신을 통해 사용자에게 수명 권고를 한다. 나아가 본 발명의 일 실시예로서의 수명 권고 및 알림은 LED를 통해 시각적으로 사용자에게 알리거나, 스피커를 통해 음성으로 사용자에게 알리는 등 사용자가 자각할 수 있는 다양한 형태로서 실시할 수 있다.If the used write traffic (A) satisfies <condition 1> or the read latency value (B) satisfies <condition 2> (<condition 1> or <condition 2> If any one of them is satisfied, the alarm unit 400 executes step S400. In operation S400, the lifetime recommendation of the storage device may be applied as one embodiment, and a lifetime recommendation is provided to the user through TCP / IP (Transport Control Protocol / Internet Protocol) or Bluetooth communication. Further, the lifetime recommendation and notification as an embodiment of the present invention can be implemented in various forms that the user can visually recognize through the LED or inform the user through the speaker through voice.

반면 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우(<조건 1>과 <조건 2>를 모두 만족하지 않으면), 상기 제1수명예측부(100) 내지 상기 제2수명예측부(200)는 상기 S100 단계 내지 상기 S200 단계를 실행한다.On the other hand, when the used write traffic (A) does not satisfy <condition 1> and the read latency value (B) does not satisfy <condition 2> (<condition 1> and <condition 2> are not satisfied), the first life predicting unit 100 to the second life predicting unit 200 execute steps S100 to S200.

예를 들면 <조건 1>의 경우, 한계 값 P를 높게 설정할수록 알림을 받는 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)은 높다. 반대로 한계 값 P를 낮게 설정할수록 알림을 받는 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)은 낮다. For example, in the case of <condition 1>, as the threshold value P is set higher, the write traffic value (A) used by the storage device receiving the notification is higher. Conversely, the lower the threshold value P is set, the lower the write traffic value (A) used by the storage device which receives the notification is.

예를 들면 <조건 2>의 경우, M=20, Q=5, N=15라고 설정하면 최근 모니터링 한 20번 중에서 10ms(정상적인 저장 장치의 읽기 지연시간(2ms) X 5) 이상의 읽기 지연시간(Read latency)이 걸리는 횟수 값이 15번 이상이면 <조건 2>를 만족한다고 판단하여 사용자에게 저장 장치의 예측한 수명을 알린다. For example, if <Condition 2> is set to M = 20, Q = 5 and N = 15, the read delay time of 10 ms (the read delay time of normal storage device (2 ms) Read latency) is 15 or more, it is determined that the condition <2> is satisfied, and the user is informed of the expected lifetime of the storage device.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였으나, 본 발명은 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있다. 본 발명은 상기 실시예를 적절히 변형하여 동일하게 응용할 수 있음이 명확하다. 따라서 상기 기재 내용은 하기 특허청구범위의 한계에 의해 정해지는 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It is clear that the present invention can be suitably modified and applied in the same manner. Therefore, the above description does not limit the scope of the present invention, which is defined by the limitations of the following claims.

Claims (16)

저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측부;
상기 제1수명예측부로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단부; 및
상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
The used write traffic value (A), which considers a write amplification factor (WAF) indicating the degree to which the write traffic value of the storage device is abnormally amplified, is measured to predict the life of the storage device A first life predicting unit;
A determination unit for determining whether the life expectancy predicted from the first life predicting unit corresponds to a predetermined condition; And
And a notification unit for informing the user of the predicted life span when the predicted life span corresponds to a preset condition.
저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측부;
상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제2수명예측부;
상기 제1수명예측부 및 상기 제2수명예측부로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단부; 및
상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
The used write traffic value (A), which considers a write amplification factor (WAF) indicating the degree to which the write traffic value of the storage device is abnormally amplified, is measured to predict the life of the storage device A first life predicting unit;
A second life predicting unit monitoring the read latency value of the storage device to predict the life of the storage device from the read latency value B;
A determination unit for determining whether a life expectancy predicted from the first and second life predicting units corresponds to a predetermined condition; And
And a notification unit for informing the user of the predicted life span when the predicted life span corresponds to a preset condition.
제 1항 또는 제 2항에 있어서,
상기 제1수명예측부는,
상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출하는 최대쓰기트래픽값산출부;
상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출하는 와프값산출부;
상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출하는 사용한쓰기트래픽값산출부; 및
상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출하는 남은수명비율값산출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
The first life predicting unit predicts,
A maximum write traffic value calculation unit for calculating a maximum write traffic value by measuring a capacity value and a P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device;
A waf value calculation unit for calculating a write amplification factor (WAF) by measuring a used write value and a random write value of the storage device;
A used write traffic value calculating unit for calculating a write traffic value A used in the storage device from the calculated write amplification factor (WAF); And
And a remaining life ratio value calculating unit for calculating a remaining life ratio value of the storage device by using the calculated write traffic value A and the calculated maximum write traffic value, Wherein the lifetime prediction unit estimates the lifetime of the storage device.
제 3항에 있어서,
상기 최대쓰기트래픽값산출부는,
수학식 1로 표현되는 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값인 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
<수학식 1>
Figure pat00020
The method of claim 3,
The maximum write traffic value calculation unit may calculate,
(1) is a value obtained by multiplying a capacity value of the storage device expressed by Equation (1) by a P / E cycle (program / erase cycle) of the storage device.
&Quot; (1) &quot;
Figure pat00020
제 3항에 있어서,
상기 와프값산출부는,
수학식 2로 표현되는 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로서, 이를 상기 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)의 가중치로 적용하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
<수학식 2>
Figure pat00021
The method of claim 3,
The warp value calculating unit calculates,
Is a value obtained by dividing a value calculated by dividing a write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device represented by Equation (2) by 1 and adding the value to the write traffic value A) is a weight of the storage device.
&Quot; (2) &quot;
Figure pat00021
제 3항에 있어서,
상기 사용한쓰기트래픽값산출부는,
수학식 3으로 표현되는 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값인 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
<수학식 3>
Figure pat00022
The method of claim 3,
The used write traffic value calculator calculates,
Is a value obtained by multiplying the used write value (A) expressed by Equation (3) by a WAF (Write Amplification Factor) value derived from Equation (2).
&Quot; (3) &quot;
Figure pat00022
제 3항에 있어서,
상기 남은수명비율값산출부는,
수학식 4로 표현되는 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값인 남은 수명 비율 값을 도출하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
<수학식 4>
Figure pat00023
The method of claim 3,
The remaining lifetime ratio value calculation unit calculates,
The remaining lifetime ratio value that is a value obtained by dividing a value obtained by dividing the used write traffic (A) used in the storage device expressed by Equation (4) by the maximum write traffic value (Write traffic) is deduced. Wherein the storage device is a storage device.
&Quot; (4) &quot;
Figure pat00023
제 1항 또는 제 2항에 있어서,
상기 판단부의 기 설정된 조건은 <조건 1>과 <조건 2>로 표현되며,
사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우 상기 알림부를 실행하며,
사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우 상기 제1수명예측부 내지 상기 제2수명예측부를 실행하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 장치.
<조건 1>
(사용한 쓰기 트래픽 값 A)
Figure pat00024
(한계 값 P)
<조건 2>
(최근 읽기 지연시간 값 B를 모니터링 한 횟수 M 중 {(읽기 지연시간 값 B) (2ms X Q)}를 만족하는 읽기 지연시간 값 B가 나타난 횟수 값)
Figure pat00025
N
(P, Q, N, M은 기 설정된 값)
3. The method according to claim 1 or 2,
The predetermined condition of the determination unit is represented by < Condition 1 > and < Condition 2 &
Executes the notification unit when the used write traffic value A satisfies <condition 1> or the read latency value B satisfies <condition 2>
When the used write traffic value A does not satisfy the condition 1 and the read latency value B does not satisfy the condition 2, And a second life predicting unit is executed.
<Condition 1>
(Used write traffic value A)
Figure pat00024
(Limit value P)
<Condition 2>
(The value of the number of times the read delay time value B satisfying {(read delay time value B) (2 ms XQ) among the number of times M monitoring the latest read delay time value B)
Figure pat00025
N
(P, Q, N, and M are predetermined values)
제1수명예측부가 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측단계;
판단부가 상기 제1수명예측단계로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단단계; 및
알림부가 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
The first life predicting unit measures a used write traffic value A considering a write amplification factor (WAF) indicating an extent of abnormally amplifying a write traffic value of the storage device, A first life prediction step of predicting the life of the device;
A judgment step of judging whether or not the life expectancy predicted from the first life prediction step corresponds to a predetermined condition; And
And a notification step of informing the user of the predicted life span when the notifying unit corresponds to the predicted life span of the predetermined condition.
제1수명예측부가 저장 장치의 쓰기 트래픽(Write traffic) 값이 비정상적으로 증폭되는 정도를 나타내는 와프(WAF : Write Amplification Factor)가 고려된 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 측정하여 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제1수명예측단계;
제2수명예측부가 상기 저장 장치의 읽기 지연시간(Read latency) 값을 모니터링(Monitoring)하여 상기 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)으로부터 상기 저장 장치의 수명을 예측하는 제2수명예측단계;
판단부가 상기 제1수명예측단계 및 상기 제2수명예측단계로부터 예측된 수명이 기 설정된 조건과 상응하는지 여부를 판단하는 판단단계; 및
알림부가 상기 예측된 수명이 기 설정된 조건에 상응하는 경우, 상기 예측된 수명을 사용자에게 알려주는 알림단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
The first life predicting unit measures a used write traffic value A considering a write amplification factor (WAF) indicating an extent of abnormally amplifying a write traffic value of the storage device, A first life prediction step of predicting the life of the device;
A second life predicting step of predicting a lifetime of the storage device from the read latency value (B) by monitoring a read latency value of the storage device;
A judgment step of judging whether or not the life expectancy predicted from the first life expectancy step and the second life expectancy step corresponds to a predetermined condition; And
And a notification step of informing the user of the predicted life span when the notifying unit corresponds to the predicted life span of the predetermined condition.
제 9항 또는 제 10항에 있어서,
상기 제1수명예측단계는,
최대쓰기트래픽값산출부가 상기 저장 장치의 용량 값과 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 측정하여 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 산출하는 최대쓰기트래픽값산출단계;
와프값산출부가 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 값과 랜덤한 쓰기 값을 측정하여 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 산출하는 와프값산출단계;
사용한쓰기트래픽값산출부가 상기 산출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값으로부터 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)을 산출하는 사용한쓰기트래픽값산출단계; 및
남은수명비율값산출부가 상기 산출한 사용한 쓰기 트래픽(Write traffic) 값(A)과 상기 산출한 최대 쓰기 트래픽(Write traffic) 값을 이용하여 상기 저장 장치의 남은 수명 비율 값을 산출하는 남은수명비율값산출단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
11. The method according to claim 9 or 10,
Wherein the first life prediction step comprises:
A maximum write traffic value calculating step of calculating a maximum write traffic value by measuring a capacity value and a program / erase cycle of the storage device;
Calculating a warp value (WAF) by measuring a write value used in the storage device and a random write value;
A used write traffic value calculating unit calculates a write traffic value A used by the storage device from the calculated write amplification factor (WAF); And
The remaining lifetime ratio value calculating unit calculates a remaining lifetime ratio value (A) for calculating the remaining lifetime ratio value of the storage device using the calculated write traffic value (A) and the calculated maximum write traffic value And calculating the lifetime of the storage device.
제 11항에 있어서,
상기 최대쓰기트래픽값산출단계는,
수학식 1로 표현되는 상기 저장 장치의 용량 값과 상기 저장 장치의 P/E 사이클(Program/erase cycle)을 곱한 값인 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
<수학식 1>
Figure pat00026
12. The method of claim 11,
Wherein the maximum write traffic value calculation step comprises:
(1) is a value obtained by multiplying a capacity value of the storage device expressed by Equation (1) by a P / E cycle (Program / erase cycle) of the storage device.
&Quot; (1) &quot;
Figure pat00026
제 11항에 있어서,
상기 와프값산출단계는,
수학식 2로 표현되는 상기 저장 장치의 랜덤(Random)한 쓰기 값(Write)을 사용한 쓰기 값(Write)으로 나누어 계산한 값을 1과 더한 값으로서, 이를 상기 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)의 가중치로 적용하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
<수학식 2>
Figure pat00027
12. The method of claim 11,
The warp value calculating step may include:
Is a value obtained by dividing a value calculated by dividing a write value (Write) using a random write value (Write) of the storage device represented by Equation (2) by 1 and adding the value to the write traffic value A) is a weight of the storage device.
&Quot; (2) &quot;
Figure pat00027
제 11항에 있어서,
상기 사용한쓰기트래픽값산출단계는,
수학식 3으로 표현되는 상기 사용한 쓰기 값(Write)(A)과 상기 수학식 2로부터 도출된 와프(WAF : Write Amplification Factor) 값을 곱한 값인 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
<수학식 3>
Figure pat00028
12. The method of claim 11,
The used write traffic value calculating step may include:
Is a value obtained by multiplying the used write value (A) expressed by Equation (3) by a value of Write Amplification Factor (WAF) derived from Equation (2).
&Quot; (3) &quot;
Figure pat00028
제 11항에 있어서,
상기 남은수명비율값산출단계는,
수학식 4로 표현되는 상기 저장 장치의 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)을 최대 쓰기 트래픽 값(Write traffic)으로 나누어 계산한 값을 1에서 뺀 값인 남은 수명 비율 값을 도출하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
<수학식 4>
Figure pat00029
12. The method of claim 11,
The remaining lifetime ratio value calculating step may include:
The remaining lifetime ratio value that is a value obtained by dividing a value obtained by dividing the used write traffic (A) used in the storage device expressed by Equation (4) by the maximum write traffic value (Write traffic) is deduced. Of the storage device.
&Quot; (4) &quot;
Figure pat00029
제 9항 또는 제 10항에 있어서,
상기 판단단계의 기 설정된 조건은 <조건 1>과 <조건 2>로 표현되며,
알림부가 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하거나 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족할 경우 상기 알림단계를 실행하며,
제1수명예측부 내지 제2수명예측부가 사용한 쓰기 트래픽 값(Write traffic)(A)이 <조건 1>을 만족하지 않고 읽기 지연시간(Read latency) 값(B)이 <조건 2>를 만족하지 않는 경우 상기 제1수명예측단계 내지 상기 제2수명예측단계를 실행하는 것을 특징으로 하는 저장 장치의 수명 예측 방법.
<조건 1>
(사용한 쓰기 트래픽 값 A)
Figure pat00030
(한계 값 P)
<조건 2>
(최근 읽기 지연시간 값 B를 모니터링 한 횟수 M 중 {(읽기 지연시간 값 B) (2ms X Q)}를 만족하는 읽기 지연시간 값 B가 나타난 횟수 값)
Figure pat00031
N
(P, Q, N, M은 기 설정된 값)
11. The method according to claim 9 or 10,
The predetermined condition of the judgment step is represented by < Condition 1 > and < Condition 2 &
The notification step is executed when the write traffic value A used by the notification unit satisfies <condition 1> or the read latency value B satisfies <condition 2>
If the write traffic A used by the first and second life predicting units does not satisfy <condition 1> and the read latency value B does not satisfy <condition 2> The first life prediction step to the second life estimation step is executed.
<Condition 1>
(Used write traffic value A)
Figure pat00030
(Limit value P)
<Condition 2>
(The value of the number of times the read delay time value B satisfying {(read delay time value B) (2 ms XQ) among the number of times M monitoring the latest read delay time value B)
Figure pat00031
N
(P, Q, N, and M are predetermined values)
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