KR20180073126A - Touch Device And Method Of Inspecting And Calibrating The Same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a touch device and a method for adjusting inspection of the touch device. The touch device includes: a plurality of transmission wires and a plurality of reception wires provided in an active region; a touch driving unit connected with one ends of the transmission wires and one ends of the reception wires; a plurality of adjustment thin film transistors provided in an inactive region surrounding the active region and connected with at least one of opposite ends of the transmission wires and opposite ends of the reception wires; and a plurality of adjustment capacitors provided in the inactive region and connected with the adjustment thin film transistors. The mutual capacitance and the variation of the mutual capacitance are detected by using the adjustment thin film transistors and the adjustment capacitors connected with one ends of at least one of the transmission wires and the reception wires, thereby inspecting disconnection and short-circuit in a touch state. Accordingly, a yield rate is reduced and manufacturing costs are saved.

Description

터치장치 및 그 검사조정방법 {Touch Device And Method Of Inspecting And Calibrating The Same}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a touch device, and more particularly,

본 발명은 터치장치에 관한 것으로, 특히 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 포함하는 터치장치 및 그 검사조정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a touch device, and more particularly, to a touch device including an adjustment thin film transistor and an adjustment capacitor connected to one end of at least one of a transmission wiring and a reception wiring and a method of adjusting the inspection.

정보화 시대에 발맞추어 디스플레이(display) 분야 또한 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응해서 박형화, 경량화, 저소비전력화 장점을 지닌 평판표시장치(flat panel display device: FPD)로서 액정표시장치(liquid crystal display device: LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel device: PDP), 유기발광다이오드 표시장치(organic light emitting diode display device: OLED), 전계방출표시장치(field emission display device: FED) 등이 소개되어 기존의 브라운관(cathode ray tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다. In view of the information age, the display field has also been rapidly developed. As a flat panel display device (FPD) having the advantages of thinning, light weight, and low power consumption in response to the information age, ), A plasma display panel device (PDP), an organic light emitting diode (OLED) display device, and a field emission display device (FED) cathode ray tube (CRT).

최근에는, 이러한 표시패널(display panel) 상에 터치패널(touch panel)을 부착한 터치 표시장치(또는 터치 스크린)가 각광받고 있다. Recently, a touch display device (or a touch screen) having a touch panel mounted on a display panel has been spotlighted.

터치 표시장치는, 영상을 표시하는 출력수단으로 사용되는 동시에, 표시된 영상의 특정부위를 터치하여 사용자의 명령을 입력 받는 입력수단으로 사용되는 것으로, 터치 표시장치의 터치패널은 위치정보 검출방식에 따라 감압방식, 정전방식, 적외선방식, 초음파방식 등으로 구분될 수 있다. The touch display device is used as an output means for displaying an image and is used as input means for inputting a user's command by touching a specific portion of the displayed image. The touch panel of the touch- A pressure reduction method, an electrostatic method, an infrared method, and an ultrasonic method.

즉, 사용자가 표시패널에 표시되는 영상을 보면서 터치패널을 터치하면, 터치패널은 해당 부위의 위치정보를 검출하고 검출된 위치정보를 영상의 위치정보와 비교하여 사용자의 명령을 인식할 수 있다. That is, when the user touches the touch panel while viewing the image displayed on the display panel, the touch panel can detect the position information of the corresponding part and compare the detected position information with the position information of the image to recognize the user's command.

이러한 터치 표시장치는, 별도의 터치패널을 표시패널에 부착하거나, 터치패널을 표시패널의 기판에 형성하여 일체화하는 형태로 제조될 수 있다. Such a touch display device can be manufactured such that a separate touch panel is attached to the display panel or the touch panel is formed on the substrate of the display panel and integrated.

한편, 정전용량 방식 터치장치는, 송신배선 및 수신배선을 독립적으로 형성하고 터치에 따른 송신배선 및 수신배선 사이의 커패시턴스의 변화를 검출하는 상호정전용량(mutual capacitance) 방식과, 영역별로 독립된 터치전극에 전압을 인가하고 터치에 따른 터치전극의 커패시턴스의 변화를 검출하는 자기정전용량(self capacitance) 방식으로 구분될 수 있다. On the other hand, the capacitive touch device includes a mutual capacitance type in which a transmission wiring and a reception wiring are formed independently and a change in capacitance between a transmission wiring and a reception wiring due to a touch is detected, And a self capacitance type in which a voltage is applied to the touch electrode and a change in capacitance of the touch electrode due to a touch is detected.

이 중에서 상호정전용량 방식 터치장치는 동작전압, 동작온도, 습도변화, 수막 또는 근접 도전체 등의 사용환경에 민감하게 작동하는데, 예를 들어 배터리로만 사용하는 상태, 충전을 하면서 사용하는 상태, 세계 각국의 다양한 전압 및 주파수로 사용하는 상태 등의 사용환경에 따라 잡음(noise)의 정도가 변화하고, 그 결과 최적의 터치감도를 유지하지 못하는 경우가 발생한다. Among them, the mutual capacitive touch device operates sensitively to the operating environment such as operating voltage, operating temperature, humidity change, water film or proximity conductor. For example, it is used only for battery, The degree of noise varies depending on the use environment such as the state of using various voltages and frequencies of each country, and as a result, the optimum touch sensitivity may not be maintained.

이를 방지하고 최적 구동조건을 유지하기 위하여, 터치장치는 주파수 변경에 의한 조정(calibration)을 수행하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. In order to prevent this and to maintain the optimum driving condition, the touch device performs calibration by frequency change, which will be described with reference to the drawings.

도 1은 종래의 터치장치의 조정방법을 설명하기 위한 도면이다. 1 is a view for explaining a conventional method of adjusting a touch device.

도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 터치장치(10)는 기판(20) 상부에 배치되는 송신배선(22) 및 수신배선(26)을 포함하는데, 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 상부에는 각각 제1 및 제2절연층(24, 28)이 배치된다. 1, the conventional touch device 10 includes a transmission wiring 22 and a reception wiring 26 which are disposed on a substrate 20, in which a transmission wiring 22 and a reception wiring 26 are formed, The first and second insulating layers 24 and 28 are disposed on top of the first insulating layer 24, respectively.

이러한 터치장치(10)를 완성한 후 전자기기에 적용하기 전에, 터치장치(10)에 대한 검사단계 및 조정단계를 진행한다.After completing the touch device 10 and before applying the touch device 10 to the electronic device, the inspection and adjustment steps for the touch device 10 are performed.

터치장치(10)에 대한 검사단계에서는, 송신배선(22)에 송신신호를 인가하고, 수신배선(26)의 수신신호를 검출하고, 송신신호 및 수신신호로부터 송신배선(22) 및 수신배선(26) 사이의 상호 커패시턴스를 산출하여, 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사한다.In the inspection step for the touch device 10, a transmission signal is applied to the transmission wiring 22, the reception signal of the reception wiring 26 is detected, and the transmission wiring 22 and the reception wiring 26, and checks the disconnection and short-circuiting of the transmission wiring 22 and the reception wiring 26.

터치장치(10)에 대한 조정단계에서는, 터치장치(10) 상부에 접지된 그라운딩 패드(50)를 배치하고, 송신배선(22)에 송신신호를 인가하고, 수신배선(26)의 수신신호를 검출하고, 송신신호 및 수신신호로부터 송신배선(22) 및 수신배선(26) 사이의 상호 커패시턴스를 산출한다.In the adjustment step for the touch device 10, a grounding pad 50 grounded on the touch device 10 is disposed, a transmission signal is applied to the transmission wiring 22, and a reception signal of the reception wiring 26 is supplied And calculates mutual capacitance between the transmission wiring 22 and the reception wiring 26 from the transmission signal and the reception signal.

그리고, 터치장치(10) 상부에 그라운딩 패드(50)를 배치하지 않은 경우의 상호 커패시턴스와 터치장치(10) 상부에 그라운딩 패드(50)를 배치한 경우의 상호 커패시턴스의 차이를 상호 커패시턴스의 변동량으로 산출하고, 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(10)에 적용하여 터치장치(10)를 조정한다.The mutual capacitance when the grounding pad 50 is not disposed on the touch device 10 and the difference between the mutual capacitances when the grounding pad 50 is disposed on the touch device 10 are represented by the mutual capacitance variation And an adjustment value for calculating the variation amount of the mutual capacitance to be less than the reference variation amount is calculated and the calculated adjustment value is applied to the touch device 10 to adjust the touch device 10. [

이와 같이, 종래의 터치장치(10)의 검사단계 및 조정단계에서는, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉하지 않은 상태에서 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사하고, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉한 상태에서 터치장치(10)를 조정한다.As described above, in the inspection step and adjustment step of the conventional touch device 10, disconnection and short circuit of the transmission wiring 22 and the reception wiring 26 are checked in a state in which the grounding pad 50 is not in contact with the upper part, The touching device 10 is adjusted while the grounding pad 50 is in contact with the upper surface.

그런데, 종래의 터치장치(10)의 검사단계 및 조정단계에서는, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉하지 않은 상태에서 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사하므로, 터치상태에서의 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사할 수 없는 문제가 있다.In the inspection step and the adjustment step of the conventional touch device 10, since the inspection of disconnection and short-circuit of the transmission wiring 22 and the reception wiring 26 in a state in which the grounding pad 50 is not in contact with the upper part, There is a problem that disconnection and short circuit of the transmission wiring 22 and the reception wiring 26 can not be checked.

그리고, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉한 상태에서 터치장치(10)를 조정하므로, 그라운딩 패드(50)의 불량여부에 따라 터치장치(10)의 조정이 부족하여 터치장치(10)의 수율이 감소되고, 그라운딩 패드(50)의 유지 보수에 따라 터치장치(10)의 제조비용이 증가하는 문제가 있다. Since the touching device 10 is adjusted in a state in which the grounding pad 50 is in contact with the upper portion of the touching device 10, the adjustment of the touching device 10 is insufficient depending on whether or not the grounding pad 50 is defective, There is a problem that the manufacturing cost of the touch device 10 increases due to the maintenance of the grounding pad 50.

본 발명은, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 제시된 것으로, 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능한 터치장치 및 그 검사조정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve such a problem, and it is an object of the present invention to provide an apparatus and a method for detecting mutual capacitance and mutual capacitance variation by using an adjustment thin film transistor and an adjustment capacitor connected to one end of at least one of a transmission wiring and a reception wiring, It is another object of the present invention to provide a touch device capable of inspecting a short circuit and a short circuit, and a method of adjusting the inspection.

그리고, 본 발명은, 그라운딩 패드 대신에 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 터치장치 및 그 검사조정방법을 제공하는 것을 다른 목적으로 한다. In the present invention, by detecting the variation amount of the mutual capacitance and the mutual capacitance using the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor connected to one end of at least one of the transmission wiring and the reception wiring instead of the grounding pad, The present invention also provides a touch device and a method for adjusting the inspection.

위와 같은 과제의 해결을 위해, 본 발명은, 활성영역에 배치되는 다수의 송신배선 및 다수의 수신배선과, 상기 다수의 송신배선의 일단과 상기 다수의 수신배선의 일단이 연결되는 터치구동부와, 상기 활성영역을 둘러싸는 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 송신배선의 타단과 상기 다수의 수신배선의 타단 중 적어도 하나에 각각 연결되는 다수의 조정 박막트랜지스터와, 상기 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 각각 연결되는 다수의 조정 커패시터를 포함하는 터치장치를 제공한다. In order to solve the above problems, the present invention provides a display device comprising: a plurality of transmission wirings and a plurality of reception wirings disposed in an active region; a touch driver having one end of the plurality of transmission wirings and one end of the plurality of reception wirings connected, A plurality of tuning thin film transistors arranged in an inactive region surrounding the active region and connected to at least one of the other ends of the plurality of transmission wirings and the other ends of the plurality of reception wirings; And a plurality of tuning capacitors respectively connected to the tuning TFTs.

그리고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.The gates of the plurality of tuning TFTs are respectively connected to the touch driver through adjustment wiring. The drains of the plurality of tuning TFTs are connected to the other ends of the plurality of transmission wirings, May be connected to one end of each of the plurality of regulating capacitors, and the other end of the plurality of regulating capacitors may be grounded.

또한, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.The gates of the plurality of tuning TFTs are connected to the touch driver via adjustment wiring, the drains of the plurality of tuning TFTs are respectively connected to the other ends of the plurality of reception wiring lines, May be connected to one end of each of the plurality of regulating capacitors, and the other end of the plurality of regulating capacitors may be grounded.

그리고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터는 다수의 제1조정 박막트랜지스터와 다수의 제2조정 박막트랜지스터를 포함하고, 상기 다수의 조정 커패시터는 다수의 제1조정 커패시터와 다수의 제2조정 커패시터를 포함하고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제1조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 커패시터의 타단은 접지되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제2조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.The plurality of tuning TFTs includes a plurality of first tuning thin film transistors and a plurality of second tuning thin film transistors, and the plurality of tuning capacitors include a plurality of first tuning capacitors and a plurality of second tuning capacitors Wherein the gates of the plurality of first tuning TFTs are respectively connected to the touch driver through a first tuning wiring and the drains of the first tuning TFTs are respectively connected to the other ends of the plurality of transmission wirings, The sources of the plurality of first tuning TFTs are each connected to one end of a plurality of first tuning capacitors, the other end of the plurality of first tuning capacitors is grounded, and the gates of the plurality of second tuning TFTs are respectively connected to the second And the drain of the plurality of second adjusting thin film transistors is connected to the touch driver through the adjustment wiring, Is connected to the other end of the new line, the source of the plurality of second adjustment thin film transistor is connected to one end of a plurality of second adjusting capacitors, respectively, the other ends of the plurality of second adjustment capacitor may be grounded.

다른 한편, 본 발명은, 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-오프 하여 다수의 송신배선과 다수의 수신배선 중 적어도 하나로부터 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 분리하는 단계와, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제1상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계와, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-온 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 중 적어도 하나에 상기 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 연결하는 단계와, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제2상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계와, 상기 제1 및 제2상호 커패시턴스로부터 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하여 터치장치를 조정하는 단계를 포함하는 터치장치의 검사조정방법을 제공한다.The present invention, on the other hand, comprises the steps of: turning off a plurality of tuning thin film transistors to electrically isolate a plurality of tuning capacitors from at least one of a plurality of transmission lines and a plurality of reception lines; Calculating a first mutual capacitance between the reception wirings of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings to determine a disconnection and a short circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings; And electrically connecting the adjustment capacitors to at least one of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings; calculating a second mutual capacitance between the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings, A step of secondarily determining disconnection and short-circuit of the plurality of receiving wirings; Calculating a variation amount of capacitance when the check provides control method of a touch device including a step of adjusting the touching device.

그리고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계가 수행되고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 터치장치를 조정하는 단계가 수행될 수 있다.Then, for the touch device which has been judged to be good in the step of judging disconnection and short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings, the disconnection and short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings is And a step of adjusting the touch device with respect to the touch device which has been judged to be good in the step of secondary determination of disconnection and short-circuit of the plurality of transmission lines and the plurality of reception lines may be performed have.

또한, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계는, 상기 다수의 송신배선에 제1송신신호를 인가하는 단계와, 상기 다수의 수신배선으로부터 제1수신신호를 검출하는 단계와, 상기 제1수신신호로부터 상기 제1상호 커패시턴스을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계는, 상기 다수의 송신배선에 제2송신신호를 인가하는 단계와, 상기 다수의 수신배선으로부터 제2수신신호를 검출하는 단계와, 상기 제2수신신호로부터 상기 제2상호 커패시턴스을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.The step of firstly determining the disconnection and short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings includes the steps of applying a first transmission signal to the plurality of transmission wirings, A step of detecting a signal and a step of calculating the first mutual capacitance from the first reception signal, wherein the step of secondarily determining a disconnection and a short circuit of the plurality of transmission wiring and the plurality of reception wiring, The method comprising the steps of: applying a second transmission signal to a transmission line of the plurality of reception lines; detecting a second reception signal from the plurality of reception lines; and calculating the second mutual capacitance from the second reception signal.

그리고, 상기 터치장치를 조정하는 단계는, 상기 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하는 단계와, 상기 조정값을 상기 터치장치에 적용하여 조정하는 단계를 포함할 수 있다.The step of adjusting the touch device may include the step of calculating an adjustment value such that the variation amount of the mutual capacitance is less than the reference variation amount, and the step of adjusting the adjustment value by applying the adjustment value to the touch device.

본 발명은, 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능한 효과를 갖는다. The present invention has an effect of detecting disconnection and short circuit in a touch state by detecting the amount of mutual capacitance and mutual capacitance variation using an adjusting thin film transistor and an adjusting capacitor connected to one end of at least one of a transmission wiring and a receiving wiring .

그리고, 본 발명은, 그라운딩 패드 대신에 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 효과를 갖는다. In the present invention, by detecting the variation amount of the mutual capacitance and the mutual capacitance using the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor connected to one end of at least one of the transmission wiring and the reception wiring instead of the grounding pad, .

도 1은 종래의 터치장치의 조정방법을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치의 검사조정방법을 설명하는 흐름도.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.1 is a view for explaining a conventional method of adjusting a touch device.
2 is a view showing a touch device according to a first embodiment of the present invention.
3 is a flow chart for explaining a method of adjusting the inspection of the touch device according to the first embodiment of the present invention.
4 illustrates a touch device according to a second embodiment of the present invention.
5 is a view showing a touch device according to a third embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 터치장치 및 그 검사조정방법을 설명한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a touch device according to the present invention and a method for adjusting a test thereof will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면이다.2 is a view showing a touch device according to a first embodiment of the present invention.

도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치(110)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.2, the touch device 110 according to the first embodiment of the present invention includes an active area AA and an inactive area NAA surrounding the active area AA.

활성영역(AA)에는 다수의 송신배선(TL)과 다수의 수신배선(RL)이 배치되는데, 다수의 송신배선(TL)과 다수의 수신배선(RL)은 서로 전기적으로 절연된 상태로 교차하여 상호 커패시턴스(Cm)를 구성한다. A plurality of transmission wirings TL and a plurality of reception wirings RL are arranged in the active area AA. A plurality of transmission wirings TL and a plurality of reception wirings RL intersect with each other in an electrically insulated state Thereby constituting mutual capacitance Cm.

비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(130)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(132)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(130)와 마주보는 정전방지부(132) 외측에는 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)와 다수의 조정 커패시터(Cc)가 배치된다. The touch driver 130 is disposed on one side of the inactive area NAA and the static electricity prevention part 132 is disposed on the other three sides of the inactive area NAA. A plurality of tuning TFTs Tc and a plurality of tuning capacitors Cc are disposed outside the antistatic portion 132.

이때, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)가 차지하는 면적은 정전방지부(132)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)를 정전방지부(132)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제1실시예의 터치장치(110)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다. At this time, the area occupied by the plurality of adjusting TFTs Tc and the plurality of adjusting capacitors Cc is much smaller than the area occupied by the electrostatic discharge preventing portion 132, so that the number of the adjusting TFTs Tc and the plurality of adjusting capacitors Cc Cc may be disposed in the clearance space of the electrostatic discharge prevention part 132. The inactive area MAA of the touch device 110 of the first embodiment may have the same area as the inactive area of the conventional touch device.

다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(130)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 각각 정전방지부(132)에 연결된다.One ends of the plurality of transmission wirings TL are respectively connected to the touch driver 130 and the other ends of the plurality of transmission wirings TL are connected to the electrostatic discharge prevention part 132, respectively.

그리고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(132)를 통과하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 각각 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)에 연결된다. The other ends of the plurality of transmission wirings TL are connected to the plurality of adjustment TFTs Tc through the electrostatic protection unit 132 and the plurality of adjustment TFTs Tc are connected to the plurality of adjustment capacitors Cc .

다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(134)을 통하여 터치구동부(130)에 연결된다.Both ends of the plurality of reception wirings RL are connected to the touch driver 130 via a plurality of connection wirings 134, respectively.

그리고, 다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 정전방지부(132)에 연결된다. Both ends of the plurality of reception wirings RL are connected to the electrostatic discharge prevention part 132, respectively.

정전방지부(132)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.The electrostatic discharge prevention part 132 may include two diodes connected to each of a plurality of transmission lines TL and a plurality of reception lines RL.

다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 게이트는 각각 조정배선(136)을 통하여 터치구동부(130)에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 드레인은 각각 다수의 송신배선(TL)의 타단에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단에 연결된다.The gates of the plurality of tuning TFTs Tc are respectively connected to the touch driver 130 through the adjustment wiring 136 and the drains of the plurality of tuning TFTs Tc are respectively connected to the other ends of the plurality of transmission wirings TL And the sources of the plurality of tuning TFTs Tc are respectively connected to one ends of the plurality of tuning capacitors Cc.

다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단은 각각 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 연결되고, 다수의 조정 커패시터(Cc)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 조정 커패시터(Cc) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(110)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.One end of each of the plurality of tuning capacitors Cc is connected to each of the plurality of tuning thin film transistors Tc and the other ends of the plurality of tuning capacitors Cc are respectively grounded. The capacitances of the plurality of tuning capacitors Cc are respectively And may correspond to the capacitance of the finger which is in contact with the touch device 110. [

다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 조정신호(CS)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되는데, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(110)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(110)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.Each of the plurality of tuning TFTs Tc is turned off or turned on according to the tuning signal CS. When a plurality of tuning TFTs Tc are turned off, The adjustment capacitor Cc of the adjustment TFT Cc is separated from the plurality of transmission wirings TL and becomes similar to a state in which the grounding pad 50 of Fig. 1 is not brought into contact with the touch device 110, A plurality of tuning capacitors Cc are connected to the plurality of transmission lines TL to bring the grounding pad 50 into contact with the touch device 110. [

이러한 터치장치(110)는, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 및 턴-온 된 상태에서 터치장치(110)를 검사하고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(110)를 조정하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. The touch device 110 may be configured such that the touch device 110 is inspected while the plurality of control TFTs Tc are turned off and turned on and the plurality of control TFTs Tc are turned on The touch device 110 will be described with reference to the drawings.

도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치의 검사조정방법을 설명하는 흐름도로서, 도 2를 함께 참조하여 설명한다.Fig. 3 is a flowchart for explaining a method of adjusting the inspection of the touch device according to the first embodiment of the present invention, and will be described with reference to Fig.

도 3에 도시한 바와 같이, 터치구동부(130)는 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여(st10) 다수의 송신배선(TL)으로부터 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 분리한다.3, the touch driver 130 turns off the plurality of control TFTs Tc through the adjustment signal CS to generate a plurality of adjustment capacitors Cc).

이후, 터치구동부(130)는, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출한다(st12).Then, the touch driver 130 applies the first transmission signal to the plurality of transmission wirings TL and detects the first reception signal from the plurality of reception wirings RL (st12).

이후, 터치구동부(130)는, 제1수신신호로부터 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고(st14), 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다(st16).Thereafter, the touch driver 130 calculates a first mutual capacitance Cm1 from the first reception signal (st14), and calculates a plurality of transmission wirings TL and a plurality of reception wiring lines Cm1 from the calculated first mutual capacitance Cm1 The first line and the short circuit of the load resistor RL are first determined (st16).

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(110)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(110)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 110 judged to be defective may be reworked or discarded, and the second device may be selectively advanced to the touch device 110 judged to be good to improve the yield of the completed touch device 110 can do.

이후, 터치구동부(130)는 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여(st18) 다수의 송신배선(TL)에 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 연결한다.Thereafter, the touch driver 130 turns on the plurality of adjusting TFTs Tc through the adjusting signal CS (st18), and electrically connects the plurality of adjusting capacitors Cc to the plurality of transmitting wirings TL do.

이후, 터치구동부(130)는, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출한다(st20).Then, the touch driver 130 applies the second transmission signal to the plurality of transmission wirings TL and detects the second reception signal from the plurality of reception wirings RL (st20).

이후, 터치구동부(130)는, 제2수신신호로부터 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고(st22), 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다(st24).Thereafter, the touch driver 130 calculates a second mutual capacitance Cm2 from the second received signal (st22), and calculates a plurality of transmission wirings TL and a plurality of reception wirings TL from the calculated second mutual capacitance Cm2, (St24) of the disconnection and short-circuit of the load RL.

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(110)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 조정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(110)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 110 determined to be a defective product may be reworked or discarded, and the adjustment process may be selectively performed on the touch device 110 determined as a good product to improve the yield of the completed touch device 110 have.

이후, 터치구동부(130)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고(st26), 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고(st28), 산출된 조정값을 터치장치(110)에 적용하여 터치장치(110)를 조정한다. Subsequently, the touch driver 130 calculates the mutual capacitance variation Cm from the difference between the first and second mutual capacitances Cm1 and Cm2 (st26), and the calculated mutual capacitance variation Cm is less than the reference variation Cm (St28), and adjusts the touch device 110 by applying the calculated adjustment value to the touch device 110. [0051] FIG.

예를 들어, 터치구동부(130)는 구동주파수를 조정값으로 이용할 수 있는데, 구동주파수를 변경하면서 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출한 후, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만인 구동주파수를 조정값으로 결정하여 터치구동부(130)에 적용시킬 수 있으며, 이에 따라 완성된 터치장치(110)는 조정값으로 결정된 구동주파수로 구동될 수 있다. For example, the touch driver 130 can use the driving frequency as an adjustment value. After calculating the variation amount? Cm of the mutual capacitance while changing the driving frequency, the calculated mutual capacitance variation? Cm is less than the reference variation The driving frequency can be determined as an adjustment value and applied to the touch driver 130. Accordingly, the completed touch device 110 can be driven at a driving frequency determined by the adjustment value.

여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(110)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(110)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(110)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(110)에 적용할 수도 있다.Here, the characteristic of the touch device 110 may be changed after the touch device 110 subjected to the inspection and adjustment steps is applied to the electronic device. In this case, in a state where the touch device 110 is coupled to the electronic device, Step and adjustment steps may be performed to determine disconnection and short circuit of the touch device 110, and a new adjustment value may be calculated and applied to the touch device 110. [

이상과 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치(110) 및 그 검사조정방법에서는, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 조정 커패시터(Cc)를 송신배선(TL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(110)를 검사하고, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 조정 커패시터(Cc)를 송신배선(TL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(110)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.As described above, in the touch device 110 and its inspection adjustment method according to the first embodiment of the present invention, when the adjustment TFT Cc is turned off to separate the adjustment capacitor Cc from the transmission line TL The touch panel 110 is firstly inspected by determining the disconnection and short-circuit of the transmission line TL and the reception line RL by using the first mutual capacitance Cm1 in the state of turn- It is determined that the transmission line TL and the reception line RL are disconnected and short-circuited by using the second mutual capacitance Cm2 in a state where the adjustment capacitor Cc is connected to the transmission line TL, It is possible to inspect the open and short circuits in the touch state as well as the untouched state.

그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(110)에 접촉하는 대신 조정 커패시터(Cc)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(110)를 조정함으로써, 터치장치(110)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다. The touch device 110 may be adjusted by implementing a touch state using an integrated means such as an adjustment capacitor Cc instead of touching the touch device 110 with an external means such as a grounding pad, ) Can be adjusted more accurately to improve the yield, and the manufacturing cost can be reduced by omitting maintenance of the grounding pad.

또한, 터치장치(110)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(110)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다. When the characteristics of the touch device 110 are changed while the touch device 110 is coupled to the electronic device, the touch device 110 is inspected and adjusted in a state of being coupled to the electronic device, The properties are improved and the lifetime is increased.

제1실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선에 연결되는 것을 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 수신배선에 연결될 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. In the first embodiment, the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor are connected to the transmission wiring. However, in another embodiment, the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor may be connected to the reception wiring, which will be described with reference to the drawings.

도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면으로, 제1실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.4 is a view showing a touch device according to a second embodiment of the present invention, and a description of the same parts as those of the first embodiment will be omitted.

도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치(210)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.4, the touch device 210 according to the second embodiment of the present invention includes an active area AA and an inactive area NAA surrounding the active area AA.

비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(230)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(232)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(230)와 마주보는 정전방지부(232) 외측에는 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)와 다수의 조정 커패시터(Cc)가 배치된다. The touch driver 230 is disposed on one side of the inactive area NAA and the antistatic part 232 is disposed on the remaining three sides of the inactive area NAA. A plurality of tuning TFTs Tc and a plurality of tuning capacitors Cc are disposed outside the antistatic portion 232.

이때, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)가 차지하는 면적은 정전방지부(232)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)를 정전방지부(132)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제2실시예의 터치장치(210)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다. At this time, the area occupied by the plurality of adjusting TFTs Tc and the plurality of adjusting capacitors Cc is much smaller than the area occupied by the static eliminating unit 232, so that the number of the adjusting TFTs Tc and the plurality of adjusting capacitors Cc Cc may be disposed in the free space of the static electricity prevention part 132. The inactive area MAA of the touch device 210 of the second embodiment may have the same area as the inactive area of the conventional touch device.

다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(232)에 연결된다.One ends of the plurality of transmission wirings TL are respectively connected to the touch driver 230 and the other ends of the plurality of transmission wirings TL are connected to the anti-static portion 232.

다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(234)을 통하여 터치구동부(230)에 연결된다.Both ends of the plurality of reception wirings RL are connected to the touch driver 230 through a plurality of connection wirings 234, respectively.

그리고, 다수의 수신배선(RL)의 일단은 정전방지부(232)에 연결되고, 다수의 수신배선(RL)의 타단은 정전방지부(232)를 통과하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 각각 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)에 연결된다. One ends of the plurality of receiving wirings RL are connected to the electrostatic discharge preventing portion 232 and the other ends of the plurality of receiving wirings RL are connected to the plurality of adjusting thin film transistors Tc And a plurality of tuning TFTs Tc are connected to a plurality of tuning capacitors Cc, respectively.

정전방지부(232)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.The electrostatic discharge preventing portion 232 may include two diodes connected to each of a plurality of transmission lines TL and a plurality of reception lines RL.

다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 게이트는 각각 조정배선(236)을 통하여 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 드레인은 각각 다수의 수신배선(RL)의 타단에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단에 연결된다.The gates of the plurality of tuning TFTs Tc are respectively connected to the touch driver 230 through the tuning lines 236 and the drains of the tuning TFTs Tc are connected to the other ends of the plurality of receiving lines RL And the sources of the plurality of tuning TFTs Tc are respectively connected to one ends of the plurality of tuning capacitors Cc.

다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단은 각각 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 연결되고, 다수의 조정 커패시터(Cc)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 조정 커패시터(Cc) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(210)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.One end of each of the plurality of tuning capacitors Cc is connected to each of the plurality of tuning thin film transistors Tc and the other ends of the plurality of tuning capacitors Cc are respectively grounded. The capacitances of the plurality of tuning capacitors Cc are respectively And may correspond to the capacitance of a finger which is in contact with the touch device 210. [

다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 조정신호(CS)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되는데, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(210)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(210)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.Each of the plurality of tuning TFTs Tc is turned off or turned on according to the tuning signal CS. When a plurality of tuning TFTs Tc are turned off, The adjustment capacitor Cc of the adjustment TFT Cc is separated from the plurality of transmission wirings TL to become similar to a state in which the grounding pad 50 of Fig. 1 is not in contact with the touch device 210, A plurality of tuning capacitors Cc are connected to the plurality of transmission wirings TL to bring the grounding pad 50 into contact with the touch device 210.

이러한 터치장치(210)는, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 및 턴-오프 된 상태에서 터치장치(210)를 검사하고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(210)를 조정한다.This touch device 210 checks the touch device 210 in a state where the plurality of adjustment TFTs Tc are turned off and turned off and the plurality of adjustment TFTs Tc are turned on The touch device 210 is adjusted.

이를 위하여, 터치구동부(230)는, 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 다수의 수신배선(RL)으로부터 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 분리한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출하여 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고, 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다.To this end, the touch driver 230 turns off the plurality of adjustment TFTs Tc through the adjustment signal CS to electrically disconnect the plurality of adjustment capacitors Cc from the plurality of reception wirings RL A first transmission signal is applied to a plurality of transmission lines TL and a first reception signal is detected from a plurality of reception lines RL to calculate a first mutual capacitance Cm1, The first line and the short circuit of the plurality of transmission lines TL and the plurality of reception lines RL are first determined from the capacitance Cm1.

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(210)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(210)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(210)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 210 judged to be defective may be reworked or discarded, and the second device may be selectively advanced to the touch device 210 judged as good product to improve the yield of the completed touch device 210 can do.

그리고, 터치구동부(230)는, 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 다수의 수신배선(RL)에 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 연결한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출하여 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고, 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다.The touch driver 230 turns on the plurality of adjusting TFTs Tc through the adjusting signal CS and electrically connects the plurality of adjusting capacitors Cc to the plurality of receiving wires RL A second transmission signal is applied to a plurality of transmission lines TL and a second reception signal is detected from a plurality of reception lines RL to calculate a second mutual capacitance Cm2, A plurality of transmission lines (TL) and a plurality of reception lines (RL) are disconnected and short-circuited from the ground line (Cm2).

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(210)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(210)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 210 judged to be defective may be reworked or discarded, and the second determination process may be selectively performed on the touch device 110 judged as good product to improve the yield of the completed touch device 210 can do.

그리고, 터치구동부(230)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(210)에 적용하여 터치장치(210)를 조정한다. The touch driver 230 calculates the mutual capacitance variation Cm from the difference between the first and second mutual capacitances Cm1 and Cm2 so that the calculated mutual capacitance variation Cm is less than the reference variation Calculates the adjustment value, and applies the calculated adjustment value to the touch device 210 to adjust the touch device 210.

여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(210)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(210)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(210)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(210)에 적용할 수도 있다.Here, the characteristics of the touch device 210 may be changed after the touch device 210 having been inspected and adjusted is applied to the electronic device. In this case, in a state where the touch device 210 is coupled to the electronic device, Steps and adjustment steps may be performed to determine disconnection and short circuit of the touch device 210, and a new adjustment value may be calculated and applied to the touch device 210. [

이상과 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치(210) 및 그 검사조정방법에서는, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 조정 커패시터(Cc)를 수신배선(RL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(210)를 검사하고, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 조정 커패시터(Cc)를 수신배선(RL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(210)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.As described above, in the touch device 210 and its inspection adjustment method according to the second embodiment of the present invention, when the adjustment TFT Cc is turned off to separate the adjustment capacitor Cc from the reception wiring RL The first wiring 210 and the receiving wiring RL are disconnected by using the first mutual capacitance Cm1 in the state of being turned on and the first mutual capacitance Cm1 in the state of being turned on, It is determined that the transmission line TL and the reception line RL are disconnected and short-circuited by using the second mutual capacitance Cm2 in a state in which the adjustment capacitor Cc is connected to the reception line RL, It is possible to inspect the short circuit and the short circuit in the touch state as well as the untouched state.

그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(210)에 접촉하는 대신 조정 커패시터(Cc)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(210)를 조정함으로써, 터치장치(210)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다. The touch device 210 may be adjusted by implementing a touch state using integrated means such as an adjustment capacitor Cc instead of touching the touch device 210 with an external means such as a grounding pad, ) Can be adjusted more accurately to improve the yield, and the manufacturing cost can be reduced by omitting maintenance of the grounding pad.

또한, 터치장치(210)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(210)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다. When the characteristics of the touch device 210 are changed while the touch device 210 is coupled to the electronic device, the touch device 210 is inspected and adjusted while being coupled to the electronic device, The properties are improved and the lifetime is increased.

제1 및 제2실시예에서는 각각 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선 및 수신배선에 연결되는 것을 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선 및 수신배선에 연결될 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. In the first and second embodiments, the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor are connected to the transmission wiring and the reception wiring, respectively. In another embodiment, however, the adjustment thin film transistor and the adjustment capacitor may be connected to the transmission wiring and the reception wiring, This will be described with reference to the drawings.

도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면으로, 제1 및 제2실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.5 is a view illustrating a touch device according to a third embodiment of the present invention, and a description of the same parts as those of the first and second embodiments will be omitted.

도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치(310)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.5, the touch device 310 according to the third embodiment of the present invention includes an active area AA and an inactive area NAA surrounding the active area AA.

비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(330)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(332)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(330)와 마주보는 정전방지부(332) 외측에는 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 배치된다. The touch driver 330 is disposed on one side of the inactive area NAA and the electrostatic discharge preventing part 332 is disposed on the remaining three sides of the inactive area NAA. A plurality of first tuning thin film transistors Tc1, a plurality of second tuning thin film transistors Tc2, a plurality of first tuning capacitors Cc1 and a plurality of second tuning capacitors Cc2 are provided outside the antistatic portion 332 .

이때, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 차지하는 면적은 정전방지부(332)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 정전방지부(332)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제3실시예의 터치장치(310)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다. At this time, the area occupied by the plurality of first adjusting TFTs Tc1, the plurality of second adjusting TFTs Tc2, the plurality of first adjusting capacitors Cc1, and the plurality of second adjusting capacitors Cc2, The number of the first adjusting TFTs Tc1 and the number of the second adjusting TFTs Tc2 are different from the number of the first adjusting TFTs Cc1 and the number of the second adjusting capacitors Cc1, The inactive area MAA of the touch device 310 of the third embodiment may have the same area as the inactive area of the conventional touch device.

다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(232)에 연결된다.One ends of the plurality of transmission wirings TL are respectively connected to the touch driver 230 and the other ends of the plurality of transmission wirings TL are connected to the anti-static portion 232.

그리고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(332)를 통과하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)에 각각 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)는 각각 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)에 연결된다.The other ends of the plurality of transmission wirings TL are connected to the plurality of first adjusting TFTs Tc1 through the electrostatic protection 332 and the plurality of first adjusting TFTs Tc1 are connected to a plurality of And is connected to the first adjusting capacitor Cc1.

다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(334)을 통하여 터치구동부(230)에 연결된다.Both ends of the plurality of reception wirings RL are connected to the touch driver 230 through a plurality of connection wirings 334, respectively.

그리고, 다수의 수신배선(RL)의 일단은 정전방지부(332)에 연결되고, 다수의 수신배선(RL)의 타단은 정전방지부(332)를 통과하여 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)에 각각 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)는 각각 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)에 연결된다. One ends of the plurality of reception wiring lines RL are connected to the electrostatic protection unit 332 and the other ends of the plurality of reception wiring lines RL pass through the electrostatic protection unit 332 to form a plurality of second adjustment thin film transistors Tc2 , And a plurality of second adjusting TFTs Tc2 are connected to the plurality of second adjusting capacitors Cc2, respectively.

정전방지부(332)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.The electrostatic protection unit 332 may include two diodes connected to each of the plurality of transmission lines TL and the plurality of reception lines RL.

다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 게이트는 각각 제1조정배선(336)을 통하여 터치구동부(330)에 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 드레인은 각각 다수의 송신배선(TL)의 타단에 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 일단에 연결된다.The gates of the plurality of first adjusting TFTs Tc1 are respectively connected to the touch driver 330 through the first adjusting wiring 336. The drains of the plurality of first adjusting TFTs Tc1 are connected to a plurality of transmission wirings And the sources of the plurality of first adjusting TFTs Tc1 are connected to one ends of the plurality of first adjusting capacitors Cc1, respectively.

다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 게이트는 각각 제2조정배선(338)을 통하여 터치구동부(330)에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 드레인은 각각 다수의 수신배선(RL)의 타단에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 일단에 연결된다.The gates of the plurality of second adjusting TFTs Tc2 are respectively connected to the touch driver 330 through a second adjusting wiring 338. The drains of the plurality of second adjusting TFTs Tc2 are connected to a plurality of receiving wirings And the sources of the plurality of second adjusting TFTs Tc2 are connected to one ends of the plurality of second adjusting capacitors Cc2, respectively.

다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 일단은 각각 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)에 연결되고, 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 타단은 각각 접지되고, 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 일단은 각각 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)에 연결되고, 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)와 다수의 제2조정 커패시터(Cc2) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(310)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.One end of each of the plurality of first tuning capacitors Cc1 is connected to each of the plurality of first tuning thin film transistors Tc1 and the other ends of the plurality of first tuning capacitors Cc1 are grounded respectively and a plurality of second tuning capacitors Cc2 are respectively connected to a plurality of second adjusting TFTs Tc2 and the other ends of the plurality of second adjusting capacitors Cc2 are respectively grounded and a plurality of first adjusting capacitors Cc1 and a plurality of second The capacitance of each of the adjustment capacitors Cc2 may correspond to the capacitances of the fingers that are in contact with the touch device 310, respectively.

다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)는 각각 제1조정신호(CS1)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)는 각각 제2조정신호(CS2)에 따라 턴-오프 또는 턴-온 되는데, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)가 턴-오프 되면 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-오프 되면 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 다수의 수신배선(RL)으로부터 분리되어, 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(310)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 된다. The plurality of first tuning thin film transistors Tc1 are each turned off or turned on according to the first tuning signal CS1 and the plurality of second tuning thin film transistors Tc2 are turned- Off or turn-on according to the second adjustment signal CS2. When the first plurality of adjustment TFTs Tc1 are turned off, the first plurality of adjustment capacitors Cc1 are turned on / TL) and a plurality of second tuning capacitors Cc2 are separated from the plurality of receiving lines RL when the plurality of second adjusting TFTs Tc2 are turned off so that the grounding pad (50 in Fig. 1) Is not brought into contact with the touch device 310.

그리고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)가 턴-온 되면 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-온 되면 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 다수의 수신배선(RL)에 연결되어, 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(310)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.When a plurality of first adjusting TFTs Tc1 are turned on, a plurality of first adjusting capacitors Cc1 are connected to the plurality of transmitting wirings TL, and a plurality of second adjusting TFTs Tc2 are turned on A plurality of second adjusting capacitors Cc2 are connected to the plurality of receiving lines RL to bring the grounding pad 50 into contact with the touch device 310. [

이러한 터치장치(310)는, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)와 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-오프 및 턴-온 된 상태에서 터치장치(310)를 검사하고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(310)를 조정한다.The touch device 310 may be configured to inspect the touch device 310 in a state where a plurality of first tuning TFT Tc1 and a plurality of second tuning TFT Tc2 are turned off and turned on, The first adjusting TFT Tc1 and the second adjusting TFT Tc2 of the touching device 310 are turned on.

이를 위하여, 터치구동부(330)는, 제1 및 제2조정신호(CS1, CS2)를 통하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)를 턴-오프 하여 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)으로부터 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 각각 전기적으로 분리한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출하여 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고, 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다.To this end, the touch driver 330 turns off a plurality of the first adjusting TFT Tc1 and the second adjusting TFT Tc2 through the first and second adjusting signals CS1 and CS2 In a state in which a plurality of first adjustment capacitors Cc1 and a plurality of second adjustment capacitors Cc2 are electrically separated from a plurality of transmission wirings TL and a plurality of reception wirings RL, And the first reception signal is detected from the plurality of reception wirings RL to calculate the first mutual capacitance Cm1 and the first mutual capacitance Cm1 is calculated from the calculated first mutual capacitance Cm1, (TL) and a plurality of reception lines (RL).

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(310)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(310)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 310 determined to be defective may be reworked or discarded, and the second determination process may be selectively performed on the touch device 110 determined to be good, thereby improving the yield of the completed touch device 310 can do.

그리고, 터치구동부(330)는, 제1 및 제2조정신호(CS1, CS2)를 통하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)를 턴-온 하여 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)에 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 각각 전기적으로 연결한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출하여 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고, 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다.The touch driver 330 turns on and off the first and second adjustment TFTs Tc1 and Tc2 through the first and second adjustment signals CS1 and CS2, A plurality of transmission wirings TL are formed in a state in which a plurality of first adjustment capacitors Cc1 and a plurality of second adjustment capacitors Cc2 are electrically connected to the transmission wiring TL and the plurality of reception wirings RL, And a second reception signal is detected from the plurality of reception wirings RL to calculate a second mutual capacitance Cm2 and a plurality of transmission wirings Rm1 to Rm2 are calculated from the calculated second mutual capacitance Cm2, TL and the plurality of reception wirings RL are secondarily determined.

여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(310)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(310)의 수율을 개선할 수 있다.Here, the touch device 310 determined to be defective may be reworked or discarded, and the second determination process may be selectively performed on the touch device 110 determined to be good, thereby improving the yield of the completed touch device 310 can do.

그리고, 터치구동부(330)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(310)에 적용하여 터치장치(310)를 조정한다. The touch driver 330 calculates the mutual capacitance variation Cm from the difference between the first and second mutual capacities Cm1 and Cm2 so that the calculated mutual capacitance variation Cm is less than the reference variation The adjustment value is calculated, and the calculated adjustment value is applied to the touch device 310 to adjust the touch device 310.

여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(310)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(310)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(310)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(310)에 적용할 수도 있다.Here, the characteristics of the touch device 310 may be changed after the touch device 310 having been inspected and adjusted is applied to the electronic device. In this case, in a state where the touch device 310 is coupled to the electronic device, Steps and adjustment steps may be performed to determine whether the touch device 310 is disconnected or short-circuited, and a new adjustment value may be calculated and applied to the touch device 310. [

이상과 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치(310) 및 그 검사조정방법에서는, 제1 및 제2조정 박막트랜지스터(Tc1, Tc2)를 턴-오프 하여 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)를 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(310)를 검사하고, 제1 및 제2조정 박막트랜지스터(Tc1, Tc2)를 턴-온 하여 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)를 수신배선(RL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(310)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.As described above, in the touch device 310 and its test adjustment method according to the third embodiment of the present invention, the first and second adjustment TFTs Tc1 and Tc2 are turned off to turn off the first and second adjustment capacitors It is judged whether the transmission line TL and the reception line RL are disconnected and short-circuited by using the first mutual capacitance Cm1 in a state in which the transmission lines Cc1 and Cc2 are separated from the transmission line TL and the reception line RL The touch device 310 is checked first and the first and second adjusting TFTs Tc1 and Tc2 are turned on to connect the first and second adjusting capacitors Cc1 and Cc2 to the receiving wiring RL By checking the disconnection and short-circuit of the transmission line TL and the reception line RL using the second mutual capacitance Cm2 in the state of being in the touch state and checking the touch device 310 in the second order, Disconnection and short-circuit tests are possible.

그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(310)에 접촉하는 대신 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(310)를 조정함으로써, 터치장치(310)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다. Instead of touching the touch device 310 with an external means such as a grounding pad, the touch device 310 may be realized by implementing a touch state using integrated means such as the first and second adjustment capacitors Cc1 and Cc2 Thus, the yield of the touch device 310 can be improved by adjusting the touch device 310 more accurately, and the manufacturing cost can be reduced by omitting the maintenance of the grounding pad.

또한, 터치장치(310)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(310)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다. When the characteristics of the touch device 310 are changed while the touch device 310 is coupled to the electronic device, the touch device 310 is inspected and adjusted while being coupled to the electronic device, The properties are improved and the lifetime is increased.

제1 내지 제3실시예에서는 터치장치를 예로 들어 설명하였으나, 다른 실시예에서는 터치장치가 표시장치에 일체화 된 인-셀(in-cell) 타입의 터치표시장치에도 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 적용할 수 있으며, 이 경우 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터는 표시장치의 어레이기판에 화소 박막트랜지스터와 동일한 공정을 통하여 형성될 수 있다. In the first to third embodiments, the touch device has been described as an example, but in another embodiment, an adjustment thin film transistor and an adjustment capacitor are also applied to an in-cell type touch display device in which the touch device is integrated with the display device In this case, the adjusting thin film transistor and the adjusting capacitor can be formed on the array substrate of the display device through the same process as the pixel thin film transistor.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It can be understood that

110: 터치장치 130: 터치구동부
132: 정전방지부 Tc: 조정 박막트랜지스터
Cc: 조정 커패시터 CS: 조정신호110: touch device 130: touch driver
132: antistatic portion Tc: adjusting thin film transistor
Cc: Adjustment capacitor CS: Adjustment signal

Claims (8)

활성영역에 배치되는 다수의 송신배선 및 다수의 수신배선과;
상기 다수의 송신배선의 일단과 상기 다수의 수신배선의 일단이 연결되는 터치구동부와;
상기 활성영역을 둘러싸는 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 송신배선의 타단과 상기 다수의 수신배선의 타단 중 적어도 하나에 각각 연결되는 다수의 조정 박막트랜지스터와;
상기 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 각각 연결되는 다수의 조정 커패시터
를 포함하는 터치장치.
A plurality of transmission lines and a plurality of reception lines arranged in the active region;
A touch driver connected to one end of the plurality of transmission lines and one end of the plurality of reception lines;
A plurality of tuning TFTs arranged in an inactive region surrounding the active region and connected to at least one of the other ends of the plurality of transmission wirings and the other ends of the plurality of reception wirings;
A plurality of tuning capacitors arranged in the inactive region and connected to the plurality of tuning thin film transistors,
.
제 1 항에 있어서,
상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
The method according to claim 1,
The gates of the plurality of tuning TFTs are respectively connected to the touch driver through adjustment wiring. The drains of the plurality of tuning TFTs are connected to the other ends of the plurality of transmission wirings, Are respectively connected to one ends of the plurality of adjusting capacitors, and the other ends of the plurality of adjusting capacitors are grounded.
제 1 항에 있어서,
상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
The method according to claim 1,
Wherein the gates of the plurality of tuning TFTs are respectively connected to the touch driver via adjustment wirings, the drains of the plurality of tuning TFTs are connected to the other ends of the plurality of reception wirings, Are respectively connected to one ends of the plurality of adjusting capacitors, and the other ends of the plurality of adjusting capacitors are grounded.
제 1 항에 있어서,
상기 다수의 조정 박막트랜지스터는 다수의 제1조정 박막트랜지스터와 다수의 제2조정 박막트랜지스터를 포함하고,
상기 다수의 조정 커패시터는 다수의 제1조정 커패시터와 다수의 제2조정 커패시터를 포함하고,
상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제1조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 커패시터의 타단은 접지되고,
상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제2조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
The method according to claim 1,
Wherein the plurality of tuning TFTs includes a plurality of first tuning thin film transistors and a plurality of second tuning thin film transistors,
The plurality of tuning capacitors including a plurality of first tuning capacitors and a plurality of second tuning capacitors,
Wherein the gates of the plurality of first tuning TFTs are respectively connected to the touch driver via a first tuning wiring and the drains of the first tuning TFTs are respectively connected to the other ends of the plurality of transmission wirings, The source of the first adjusting thin film transistor of each of the plurality of first adjusting capacitors is connected to one end of each of the plurality of first adjusting capacitors,
Wherein the gates of the plurality of second adjusting TFTs are respectively connected to the touch driver via second adjusting wirings, the drains of the plurality of second adjusting TFTs are respectively connected to the other ends of the plurality of receiving wirings, The source of the second tuning TFT of each of the plurality of second tuning capacitors is connected to one end of each of the plurality of second tuning capacitors and the other end of the second tuning capacitor is grounded.
다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-오프 하여 다수의 송신배선과 다수의 수신배선 중 적어도 하나로부터 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 분리하는 단계와;
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제1상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계와;
상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-온 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 중 적어도 하나에 상기 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 연결하는 단계와;
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제2상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계와;
상기 제1 및 제2상호 커패시턴스로부터 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하여 터치장치를 조정하는 단계
를 포함하는 터치장치의 검사조정방법.Turning off a plurality of tuning thin film transistors to electrically isolate a plurality of tuning capacitors from at least one of a plurality of transmission lines and a plurality of reception lines;
Calculating a first mutual capacitance between the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings to firstly determine disconnection and short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings;
Electrically connecting the plurality of tuning capacitors to at least one of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings by turning on the plurality of tuning thin film transistors;
Calculating a second mutual capacitance between the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings to secondarily determine disconnection and short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings;
Calculating a variation amount of mutual capacitance from the first and second mutual capacities and adjusting the touch device
And a touch panel. 제 5 항에 있어서,
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계가 수행되고,
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 터치장치를 조정하는 단계가 수행되는 터치장치의 검사조정방법.
6. The method of claim 5,
And a second judging step of judging a disconnection and a short circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings with respect to the touch device which has been judged to be good in the first judging of the disconnection and the short-circuit of the plurality of transmission wirings and the plurality of reception wirings Is carried out,
Wherein the step of adjusting the touch device with respect to the touch device which has been judged as a good product in the step of secondary determination of disconnection and short-circuit of the plurality of transmission lines and the plurality of reception lines is performed.
제 5 항에 있어서,
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계는,
상기 다수의 송신배선에 제1송신신호를 인가하는 단계와;
상기 다수의 수신배선으로부터 제1수신신호를 검출하는 단계와;
상기 제1수신신호로부터 상기 제1상호 커패시턴스을 산출하는 단계
를 포함하고,
상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계는,
상기 다수의 송신배선에 제2송신신호를 인가하는 단계와;
상기 다수의 수신배선으로부터 제2수신신호를 검출하는 단계와;
상기 제2수신신호로부터 상기 제2상호 커패시턴스을 산출하는 단계
를 포함하는 터치장치의 검사조정방법.
6. The method of claim 5,
The step of firstly determining the disconnection and short-circuit of the plurality of transmission lines and the plurality of reception lines,
Applying a first transmission signal to the plurality of transmission lines;
Detecting a first reception signal from the plurality of reception wirings;
Calculating the first mutual capacitance from the first received signal
Lt; / RTI >
The step of secondarily determining the disconnection and short-circuit of the plurality of transmission lines and the plurality of reception lines,
Applying a second transmission signal to the plurality of transmission lines;
Detecting a second reception signal from the plurality of reception wirings;
Calculating the second mutual capacitance from the second received signal
And a touch panel.
제 5 항에 있어서,
상기 터치장치를 조정하는 단계는,
상기 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하는 단계와;
상기 조정값을 상기 터치장치에 적용하여 조정하는 단계
를 포함하는 터치장치의 검사조정방법.6. The method of claim 5,
Wherein the step of adjusting the touch device comprises:
Calculating an adjustment value such that the variation amount of the mutual capacitance is less than the reference variation;
Applying the adjustment value to the touch device and adjusting
And a touch panel.
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