KR20180067134A - Apparatus and method for monitoring Microcontroller Unit - Google Patents

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Abstract

According to the present invention, an apparatus for monitoring a microcontroller unit comprises: a driving semiconductor including a first communication unit, a first counting unit, and a comparison unit; and a microcontroller unit including a second communication unit, a second counting unit, and a reset unit. The second counting unit counts an instruction to be transmitted when the second communication unit transmits the instruction to the first communication unit. The first counting unit receives an instruction from the second communication unit and counts the received instruction. The comparison unit may be configured to compare the number of times counted by the second counting unit or a reference number of times with the number of times counted by the first counting unit to output a reset instruction to the reset unit if the difference is higher than or equal to a threshold. Therefore, according to the present invention, whether a microcontroller unit operates normally can be monitored by a novel method. Accordingly, components in accordance with the present invention can be added to an existing watchdog to improve function safety diagnosis coverage.

Description

마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치 및 방법{Apparatus and method for monitoring Microcontroller Unit}[0001] Apparatus and method for monitoring microcontroller unit [

본 발명은 마이크로컨트롤러 유닛(Micro-Controller Unit, MCU)의 동작 감시에 관한 것으로, 보다 상세하게는 마이크로컨트롤러 유닛이 정상적으로 동작하는지를 감시하는 장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an operation monitoring of a micro-controller unit (MCU), and more particularly, to an apparatus and a method for monitoring whether a micro-controller unit operates normally.

최근 자동차는 마이크로컨트롤러 유닛을 내장한 많은 전자 제어 장치들을 사용하고 있으며, 그 사용이 점차 증가하고 있는 추세이다. 차량 내 마이크로컨트롤러 유닛은 자동차의 각 장치들을 제어하는 기능을 중요한 역할을 수행한다.Recently, automobiles use many electronic control devices with microcontroller unit, and their use is increasing. The in-vehicle microcontroller unit plays an important role in controlling the functions of each device of the vehicle.

그러나, 마이크로컨트롤러 유닛은 가끔 오작동 또는 이상 신호 발생으로 인한 기능 정지가 발생하는 경우들이 있다. 마이크로컨트롤러 유닛의 오작동은 승차한 사람들의 안전에 심각한 영향을 미칠 수 있으므로, 항상 정상적인 작동을 해야 한다. 따라서, 마이크로컨트롤러 유닛이 계속 정상 작동하고 있는지 주기적으로 체크할 필요가 있다.However, there are cases in which the microcontroller unit occasionally malfunctions or malfunctions due to abnormal signal generation. A malfunction of the microcontroller unit can seriously affect the safety of the rider, so it must always operate normally. Therefore, it is necessary to periodically check whether the microcontroller unit is operating normally.

일반적으로, 마이크로컨트롤러 유닛의 이상 유무를 감시하기 위하여, 와치 독을 이용한다. 예를 들면, 주기적으로 트리거 신호를 확인하는 피리어드(Period) 워치독, 트리거 신호의 시간 윈도우를 갖는 윈도우 와치 독, 주어진 질문에 답변을 진행하는 Q & A 와치 독 등이 있다.Generally, a watchdog is used to monitor the abnormality of the microcontroller unit. For example, there is a period watchdog to periodically check the trigger signal, a window watchdog with a time window of the trigger signal, and a Q & A watchdog to answer a given question.

한편, 차량에 구현되어 있는 다양한 제어기들, 예컨대, 변속기 등의 구동 반도체 등은 안전을 위한 사전 보호, 진단 등 다수의 기능을 이미 포함하고 있다. 그러나 자동차의 전자 제어 장치의 기술분야에서는 최근 차량의 안정성을 더욱 강조하고 있는 추세이므로, 기존 와치 독 외 차량의 안전성을 증가시킬 수 있는 추가적인 감시 기법들이 계속하여 개발되고 있다.On the other hand, various controllers implemented in a vehicle, such as a driving semiconductor such as a transmission, already include a number of functions such as safety protection, diagnosis, and the like. However, in the technical field of automobile electronic control devices, since the stability of the vehicle has recently been emphasized, additional monitoring techniques for increasing the safety of vehicles other than the conventional watchdog are continuously being developed.

본 발명은 상기와 같은 요구에 부응하기 위하여 안출된 것으로, 자동차 내부의 각종 제어기 예컨대, 변속기 등의 구동 반도체에서의 마이크로컨트롤러 유닛의 정상 동작을 감시할 수 있는 신규한 감시 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. Disclosure of Invention Technical Problem [8] Accordingly, the present invention has been made keeping in mind the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide a novel monitoring apparatus and method for monitoring normal operation of a microcontroller unit in a driving semiconductor such as a transmission, There is a purpose.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치는, 제 1 통신부, 제 1 카운팅부 및 비교부를 포함하는 구동 반도체; 및 제 2 통신부, 제 2 카운팅부 및 리셋부를 마이크로컨트롤러 유닛을 포함하며, 상기 제 2 카운팅부는 상기 제 2 통신부가 상기 제 1 통신부에 명령을 송신할 때에 상기 송신할 명령을 카운팅하고, 상기 제 1 카운팅부는 제 2 통신부로부터 명령을 수신하고, 상기 수신한 명령을 카운팅하며, 상기 비교부는 상기 제 2 카운팅부에서 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 제 1 카운팅부에서 카운팅된 회수를 비교하여 임계치 이상의 오차를 가지는 경우에 상기 리셋부에 리셋 명령을 출력하도록 구성될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a microcontroller unit monitoring apparatus comprising: a driving semiconductor including a first communication unit, a first counting unit, and a comparison unit; And a second communication unit, a second counting unit, and a reset unit, wherein the second counting unit counts the instruction to be transmitted when the second communication unit transmits a command to the first communication unit, The counting unit receives an instruction from the second communication unit and counts the received instruction, and the comparing unit compares the number of times counted in the second counting unit or the number of times of counting in the second counting unit with the counted number in the first counting unit, And to output a reset command to the reset unit when the reset unit has the reset signal.

이 경우, 상기 구동 반도체는 비교 제어 모듈을 포함하는 감시 제어부를 더 포함하며, 상기 제 2 카운팅부는 카운팅된 회수가 기준 회수에 도달하면 비교 명령을 출력하고, 상기 비교 제어 모듈은 상기 비교 명령을 수신하여 상기 비교부로 하여금 상기 제 2 카운팅부에서 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 제 1 카운팅부에서 카운팅된 회수를 비교하도록 제어할 수 있다.In this case, the driving semiconductor further includes a monitoring control unit including a comparison control module, and the second counting unit outputs a comparison instruction when the counted number of times reaches the reference number of times, and the comparison control module receives The control unit may control the comparing unit to compare the number of times counted in the second counting unit or the number of times of counting in the first counting unit.

또한, 상기 감시 제어부는 읽기 및 쓰기 제어 모듈을 더 포함하며, 상기 제 1 카운팅부는 읽기 카운팅부 및 쓰기 카운팅부를 포함하며, 상기 읽기 쓰기 제어 모듈은 상기 수신한 명령을 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류하고, 상기 읽기 명령은 상기 읽기 카운팅부에 의하여 카운팅되고, 상기 쓰기 명령은 상기 쓰기 카운팅부에 의하여 카운팅될 수 있다. Also, the monitoring control unit may further include a read and write control module, wherein the first counting unit includes a read counting unit and a write counting unit, and the read / write control module classifies the received command as a read command or a write command , The read command may be counted by the read counting unit, and the write command may be counted by the write counting unit.

또한, 상기 읽기 및 쓰기 제어 모듈은 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈을 포함하며, 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈은 상기 수신한 명령의 읽기 및 쓰기 플래그를 판독하여 상기 수신한 명령을 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류할 수 있다. The read and write flag reading module reads the read and write flags of the received command and outputs the received command as a read command or a write command Can be classified.

또한, 상기 읽기 및 쓰기 제어 모듈은 모드 필터링 모듈을 포함하며, 상기 구동 반도체의 복수의 모드 중 어느 하나의 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링하여 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈에 출력할 수 있다.The read and write control module may include a mode filtering module and may filter the read and write flag to count only instructions in any one of a plurality of modes of the drive semiconductor and output the result to the read and write flag read module.

또한, 상기 구동 반도체의 복수의 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드를 포함하며, 상기 모드 필터링 모듈은 상기 구동 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링하여 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈에 출력할 수 있다.In addition, the plurality of modes of the drive semiconductor may include a drive preparation mode, a drive mode, and a diagnostic mode, and the mode filtering module may filter the read and write flag reading module to count only the command of the drive mode .

또한, 상기 구동 반도체는 로그 저장부를 더 포함하며, 상기 감시 제어부는 상기 수신한 명령에 오류가 있는 경우에 상기 로그 저장부에 상기 수신한 명령을 저장할 수 있다.The driving semiconductor further includes a log storage unit, and the monitoring control unit may store the received command in the log storage unit when the received command has an error.

또한, 상기 구동 반도체는 변속기 구동 반도체일 수 있다.Further, the driving semiconductor may be a transmission driving semiconductor.

한편, 본 발명에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법은, 마이크로컨트롤러 유닛 및 구동 반도체를 포함하는 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치에서, 상기 마이크로컨트롤러 유닛로부터 상기 구동 반도체에 명령 신호를 송신하고 상기 명령 신호를 카운팅하는 단계; 상기 구동 반도체에서 상기 명령 신호를 수신하고, 상기 수신한 명령 신호를 카운팅하는 단계; 상기 송신한 명령 신호의 카운팅 회수 또는 기준 회수와 상기 수신한 명령 신호의 카운팅 회수를 비교하는 단계; 및 상기 비교하는 단계의 비교 결과에 기초하여 상기 마이크로컨트롤러 유닛을 리셋하는 단계를 포함할 수 있다.Meanwhile, a microcontroller unit monitoring method according to the present invention is a microcontroller unit monitoring apparatus including a microcontroller unit and a driving semiconductor, the method comprising: transmitting a command signal to the driving semiconductor from the microcontroller unit and counting the command signal ; Receiving the command signal from the driving semiconductor and counting the received command signal; Comparing the counted number of times or the reference count of the transmitted command signal with the counted number of times of the received command signal; And resetting the microcontroller unit based on a comparison result of the comparing step.

또한, 상기 마이크로컨트롤러 유닛에서 상기 송신한 명령의 카운팅된 회수가 기준 회수에 도달하면 비교 명령을 출력하고, 상기 구동 반도체에서 상기 송신한 명령 신호의 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 수신한 명령 신호의 카운팅된 회수를 비교하도록 제어할 수 있다.The microcomputer unit outputs a comparison command when the counted number of times of the transmitted instruction reaches the reference number of times, and the counted number of times or the reference number of the transmitted command signal in the driving semiconductor, And to compare the counted number of times.

또한, 상기 수신한 명령 신호는 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류되고, 상기 읽기 명령 및 상기 쓰기 명령은 각각 카운팅될 수 있다.Also, the received command signal is classified into a read command or a write command, and the read command and the write command can be counted, respectively.

또한, 상기 읽기 명령 및 상기 쓰기 명령은 상기 수신한 명령 신호의 읽기 및 쓰기 플래그를 판독하여 분류될 수 있다.The read command and the write command may be classified by reading the read and write flags of the received command signal.

또한, 상기 수신한 명령 신호는 상기 구동 반도체의 복수의 모드 중 어느 하나의 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링될 수 있다.In addition, the received command signal may be filtered to count only a command of any one of a plurality of modes of the driving semiconductor.

또한, 상기 구동 반도체의 복수의 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드를 포함하며, 상기 수신한 명령 신호는 상기 구동 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링될 수 있다.In addition, the plurality of modes of the drive semiconductor may include a drive preparation mode, a drive mode, and a diagnostic mode, and the received command signal may be filtered to count only the commands of the drive mode.

또한, 상기 수신한 명령 신호에 오류가 있는 경우에 상기 수신한 명령을 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include storing the received command if there is an error in the received command signal.

또한, 상기 구동 반도체는 변속기 구동 반도체일 수 있다.Further, the driving semiconductor may be a transmission driving semiconductor.

본 발명에 따르면, 신규한 방법으로 마이크로컨트롤러 유닛의 정상 동작 여부를 감시할 수 있다. 이를 통해 기존 이용되는 워치독에 본 발명에 따른 구성을 추가하여 기능 안전 진단 커버리지를 향상시킬 수 있다.According to the present invention, it is possible to monitor whether the microcontroller unit operates normally or not by a novel method. Accordingly, the functional safety diagnosis coverage can be improved by adding the configuration according to the present invention to the existing watchdog.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치의 구성을 나타낸 블럭도이다.1 is a block diagram showing a configuration of a microcontroller unit monitoring apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있는 것으로, 이하의 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 또한, 설명의 편의를 위하여 도면에서는 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, Is provided to fully inform the user. In addition, for convenience of explanation, components may be exaggerated or reduced in size.

그러나, 이하의 실시예는 이 기술분야에서 통상적인 지식을 가진 자에게 본 발명이 충분히 이해되도록 제공되는 것으로서 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다.However, it should be understood that the following embodiments are provided so that those skilled in the art will be able to fully understand the present invention, and that various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. It is not.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치의 구성을 나타낸 블럭도이다.1 is a block diagram showing a configuration of a microcontroller unit monitoring apparatus according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치는 마이크로컨트롤러 유닛(100) 및 구동 반도체(200)을 포함한다. A microcontroller unit monitoring apparatus according to an embodiment of the present invention includes a microcontroller unit 100 and a driving semiconductor 200.

구동 반도체(200)는 제 1 통신부(210), 제어부(220), 로그 저장부(230), 제 1 카운팅부(240), 및 비교부(250)를 포함한다. 그리고, 구동 반도체(200)는 마이크로컨트롤러 유닛(100)과 연결된다. 이 경우, 구동 반도체(200)는 예컨대, 변속기 제어기의 솔레노이드 구동 IC 일 수 있다. 또는 구동 반도체(200)는 기타 차량 내의 구동 IC일 수 있다.The drive semiconductor 200 includes a first communication unit 210, a control unit 220, a log storage unit 230, a first counting unit 240, and a comparison unit 250. The driving semiconductor 200 is connected to the microcontroller unit 100. In this case, the driving semiconductor 200 may be, for example, a solenoid driving IC of the transmission controller. Or the driving semiconductor 200 may be a driving IC in another vehicle.

한편, 마이크로컨트롤러 유닛(100)은 구동 반도체(200)의 마이크로컨트롤러 유닛 감시 관련 부분에 대응하여 제 2 통신부(110), 제 2 카운팅부(120) 및 리셋부(140)를 포함한다.The microcontroller unit 100 includes a second communication unit 110, a second counting unit 120, and a reset unit 140 corresponding to the microcontroller unit monitoring related portion of the driving semiconductor 200.

제 1 통신부(210)는 마이크로컨트롤러 유닛(100)으로부터 예를 들어, 변속기 솔레노이드의 전류 변경과 같은 구동 명령을 수신할 수 있다. 이 경우, 제 1 통신부(210)는 예를 들어, SPI(Serial Peripheral Interface) 통신으로 구현될 수 있다. 일반적으로, SPI 통신은 마스터와 슬레이브로 구현되는데, 마스터가 클럭을 공급해주고, 슬레이브에 인에이블(Enable) 신호(칩 셀렉트(Chip select) 신호)를 제공하여 인에이블 신호가 인가된 상태에서 마스터와 슬레이브간 통신이 진행된다. 마스터 1개에는 복수의 슬레이브가 접속될 수 있으며, 전체적인 통신 및 슬레이브 선택은 마스터가 담당한다. The first communication unit 210 may receive a drive command from the microcontroller unit 100, for example, a current change of the transmission solenoid. In this case, the first communication unit 210 may be implemented by, for example, SPI (Serial Peripheral Interface) communication. In general, the SPI communication is implemented as a master and a slave. The master supplies a clock and provides an enable signal (a chip select signal) to the slave. When the enable signal is applied, Communication between slaves proceeds. A master can be connected to multiple slaves, and the master is responsible for the overall communication and slave selection.

본 실시예의 경우, 마스터의 역할은 마이크로프로세서 유닛(100)의 제 2 통신부(110)가 담당하며, 구동 반도체(200)의 제 1 통신부(210)는 슬레이브의 역할을 수행한다. In this embodiment, the role of the master is performed by the second communication unit 110 of the microprocessor unit 100, and the first communication unit 210 of the driving semiconductor 200 performs the role of a slave.

한편, 감시 제어부(220)는 제 1 통신부(210)와 제 2 통신부(110) 사이의 통신 라인을 공유하는 공유 통신 라인(215)를 통하여 제 1 통신부(210)과 제 2 통신부(110) 사이의 통신을 모니터링 할 수 있다. The supervisory control unit 220 is connected between the first communication unit 210 and the second communication unit 110 through a shared communication line 215 that shares a communication line between the first communication unit 210 and the second communication unit 110, Can be monitored.

이하에서는 도 2를 참조하여 감시 제어부(220)의 상세 동작을 설명한다.Hereinafter, detailed operation of the monitoring control unit 220 will be described with reference to FIG.

도 2를 참조하면, 감시 제어부(220)는 수신부(222), 읽기/쓰기 제어 모듈(225) 및 비교 제어 모듈(229)를 포함할 수 있다.2, the monitoring control unit 220 may include a receiving unit 222, a read / write control module 225, and a comparison control module 229.

수신부(222)는 제 1 통신부(210)와 제 2 통신부(110) 사이의 통신을 공유 통신 라인(215)를 통하여 수신하고, 읽기/쓰기 제어 모듈(225) 및 비교 제어 모듈(229)로 출력한다. 또한, 수신부(222)는 통신에 오류가 있는 경우, 예를 들어, CRC 체크 등을 통하여 통신의 오류가 확인된 경우에는 로그 저장부(230)에 저장할 수 있다.The receiving unit 222 receives the communication between the first communication unit 210 and the second communication unit 110 via the shared communication line 215 and outputs the communication to the read / write control module 225 and the comparison control module 229 do. If there is an error in the communication, for example, a communication error is confirmed through a CRC check or the like, the receiving unit 222 can store the error in the log storage unit 230.

한편 읽기/쓰기 제어 모듈(225)은 모드 필터링 모듈(226) 및 읽기/쓰기 플래그 판독 모듈(227)을 포함한다. 모드 필터링 모듈(226)은 상기 출력된 통신의 모드를 판독하여 특정 모드(예컨대, 구동 모드)의 읽기/쓰기 데이터 만을 카운팅하도록 필터링할 수 있다.On the other hand, the read / write control module 225 includes a mode filtering module 226 and a read / write flag read module 227. The mode filtering module 226 may read the mode of the output communication and filter it to count only read / write data of a specific mode (e.g., drive mode).

예를 들어, 구동 반도체(200)는 3가지 모드로 구동될 수 있다. 예컨대, 상기 3가지 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드이다. 통신 수단이 SPI 통신인 경우, 예컨대, 30 비트의 데이터를 읽고 쓸 수 있다. 이 때, 예를 들어, 구동 준비 모드는 0x00번지부터 0x10번지에서 명령을 읽고 쓰며, 구동 모드는 0x11번지부터 0x27번지까지, 진단 모드는 0x28번지부터 0x30번지까지 데이터를 읽고 쓸 수 있다.For example, the driving semiconductor 200 can be driven in three modes. For example, the three modes are a drive preparation mode, a drive mode and a diagnostic mode. If the communication means is SPI communication, for example, 30 bits of data can be read and written. In this case, for example, the drive preparation mode reads and writes the command from address 0x00 to address 0x10, the drive mode reads address 0x11 to address 0x27, and the diagnostic mode reads data from address 0x28 to address 0x30.

이 때, 모드 필터링 모듈(226)은 구동 모드의 읽기/쓰기 데이터만을 카운팅하도록 필터링하여 읽기/쓰기 플래그 판독 모듈(227)에 출력할 수 있다.At this time, the mode filtering module 226 may filter the read / write data in the drive mode so as to count and output the read / write flag to the read / write flag reading module 227.

읽기/쓰기 플래그 판독 모듈(227)은 SPI의 통신 패킷 중 읽기/쓰기를 나타내는 플래그를 판독하고, 상기 플래그에 기초하여 쓰기 카운팅부(242) 또는 읽기 카운팅부(244)에 수신한 명령을 분류하여 출력할 수 있다. 예를 들어, 읽기/쓰기 플래그 판독 모듈(227)는 통신 패킷에 있는 읽기/쓰기 플래그 값에 따라 읽기 명령의 경우에는 제 1 카운팅부(240)의 읽기 카운팅부(244)로 출력하고, 쓰기 명령의 경우에는 제 1 카운팅부(240)의 쓰기 카운팅부(242)로 출력한다. The read / write flag reading module 227 reads a flag indicating read / write in the communication packet of the SPI and classifies the received command into the write counting section 242 or the read counting section 244 based on the flag Can be output. For example, the read / write flag reading module 227 outputs the read / write flag to the read counting unit 244 of the first counting unit 240 in the case of a read command in accordance with the read / write flag value in the communication packet, To the write counting unit 242 of the first counting unit 240.

그 후, 쓰기 카운팅부(242)는 쓰기 명령의 수를 카운팅하고 읽기 카운팅부(244)는 읽기 명령의 수를 카운팅할 수 있다. 이러한 카운팅 회수는 비교부(250)로 출력된다.Thereafter, the write counting section 242 counts the number of write commands, and the read counting section 244 counts the number of read commands. This counting number is output to the comparing unit 250. [

한편, 도 1을 다시 참조하면, 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 제 2 통신부(110)가 제 1 통신부(210)로 명령을 전송하는 경우에 제 2 카운팅부(120)는 전송하려고 하는 명령의 플래그에 따라 쓰기 명령인 경우에는 쓰기 카운팅 모듈(122)을 통하여, 읽기 명령인 경우에는 읽기 카운팅 모듈(124)를 통하여 카운팅을 수행한다.1, when the second communication unit 110 of the microcontroller unit 100 transmits a command to the first communication unit 210, the second counting unit 120 outputs a flag of a command to be transmitted The write counting module 122 in the case of a write command and the read counting module 124 in the case of a read command.

이 경우, 쓰기 카운팅 모듈(122) 및 읽기 카운팅 모듈(124)에서 쓰기 또는 읽기 명령 회수가 일정 기준 회수에 도달하게 되면, 쓰기 카운팅 모듈(122) 및 읽기 카운팅 모듈(124)은 제 2 통신부(110)를 통하여 비교 명령 신호를 구동 반도체(200)에 출력하게 된다.In this case, when the write counting module 122 and the read counting module 124 reach the predetermined number of times of the write or read command count, the write counting module 122 and the read counting module 124 count the number of times that the second communication unit 110 And outputs the comparison command signal to the driving semiconductor 200. [

구동 반도체(200)의 비교 제어 모듈(229)는 수신부(222)를 통하여 비교 명령 신호를 수신하고, 비교부(250)에 비교 제어 명령을 출력하게 된다. 이 경우, 비교 제어 명령은 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 읽기 명령의 회수를 비교할 것인지 또는 쓰기 명령의 회수를 비교할 것인지에 대한 읽기/쓰기 지정 명령을 포함할 수 있다.The comparison control module 229 of the driving semiconductor 200 receives the comparison command signal through the receiving part 222 and outputs the comparison control command to the comparing part 250. [ In this case, the comparison control command may include a read / write designation instruction as to whether to compare the number of read commands of the microcontroller unit 100 or the number of write commands.

이 경우, 비교부(250)는 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수와, 마이크로컨트롤러 유닛에서 카운팅한 읽기 또는 쓰기 명령 회수 또는 상술한 기준 회수와 비교하여 차이가 있는지 여부를 판정한다. In this case, the comparison unit 250 compares the number of times counted by the read counting unit 244 or the write counting unit 242 with the number of times of reading or writing commands counted by the microcontroller unit or the above-described reference count ≪ / RTI >

이 경우, 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수와 마이크로컨트롤러 유닛(100)으로부터 송신된 회수의 오차가 임계치 이상인 경우에는 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 리셋부(130)에 리셋 명령을 전송할 수 있다. 이 때, 동일하지 않은 경우 리셋 명령이 전송되도록 상기 임계치를 0으로 설정할 수도 있다. In this case, when the error between the counted number by the read counting unit 244 or the write counting unit 242 and the error count from the microcontroller unit 100 is equal to or larger than the threshold value, the reset unit 130 of the microcontroller unit 100, A reset command can be transmitted to the memory device. At this time, the threshold value may be set to 0 so that a reset command is transmitted if they are not the same.

또는, 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수를 미리 정해진 기준 회수와 비교하여 오차가 임계치 이상인 경우에 리셋 명령을 송신할 수도 있다. 이 때, 동일하지 않은 경우 리셋 명령이 전송되도록 상기 임계치를 0으로 설정할 수도 있다.Alternatively, the number of counts counted by the read counting section 244 or the write counting section 242 may be compared with a predetermined reference count, and the reset command may be transmitted when the error is equal to or greater than the threshold value. At this time, the threshold value may be set to 0 so that a reset command is transmitted if they are not the same.

따라서, 본 발명에 따르면, 통신 명령의 송 수신 회수를 비교하여 통신 명령의 유효성을 기초로 마이크로컨트롤러 유닛의 정상 동작 여부를 감시할 수 있다. 이를 통해 기존 이용되는 워치독에 본 발명에 따른 구성을 추가하여 기능 안전 진단 커버리지를 향상시킬 수 있다.Therefore, according to the present invention, it is possible to compare the number of times of transmission and reception of communication commands and monitor whether the microcontroller unit operates normally based on the validity of the communication command. Accordingly, the functional safety diagnosis coverage can be improved by adding the configuration according to the present invention to the existing watchdog.

이하에서는 도 3에 기초하여, 본 발명에 따른 마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법을 상세히 설명한다.Hereinafter, a microcontroller unit monitoring method according to the present invention will be described in detail with reference to FIG.

최초에 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 감시 모드가 시작된 후(S310), 마이크로 컨트롤러 유닛(100)에서 명령 신호 송신을 카운팅하고 신호를 구동 반도체(200)로 송신한다. 이 때, 읽기 명령은 읽기 명령대로, 쓰기 명령은 쓰기 명령대로 별도로 카운팅할 수 있다.After the microcontroller unit 100 first starts the monitoring mode (S310), the microcontroller unit 100 counts the command signal transmission and transmits a signal to the driving semiconductor 200. [ At this time, the read command can be counted as a read command and the write command can be counted separately as a write command.

이 때, 구동 반도체(200)는 수신한 신호의 오류 여부를 판별할 수 있다(S330). 이 경우, 예컨대, 오류 여부는 CRC (Cyclic Redundancy Check) 등의 오류 체크 방법 등을 통하여 확인할 수 있다. 이 경우, 오류가 있는 경우에는 로그 저장부(230)에 오류 신호를 저장할 수 있다(S340).At this time, the driving semiconductor 200 can determine whether the received signal is erroneous or not (S330). In this case, for example, whether or not an error has occurred can be confirmed through an error checking method such as a CRC (Cyclic Redundancy Check). In this case, if there is an error, the error signal may be stored in the log storage unit 230 (S340).

한편, 오류가 없는 경우에는 모드 필터링을 거치고 수신신호의 카운팅과정을 단계를 수행할 수 있다(S350).On the other hand, if there is no error, the process of counting the received signal can be performed through the mode filtering (S350).

보다 구체적으로, 예를 들어, 구동 반도체(200)는 3가지 모드를 구비할 수 있다. 상기 3가지 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드일 수 있다. More specifically, for example, the driving semiconductor 200 may have three modes. The three modes may be a drive preparation mode, a drive mode, and a diagnostic mode.

이 경우, 예를 들면, 모드 필터링 모듈(226)은 구동 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링할 수 있다. In this case, for example, the mode filtering module 226 may filter to count only commands in the driving mode.

그리고, 필터링된 명령 데이터 중에서 읽기/쓰기를 나타내는 플래그를 판독하여, 읽기 명령인지, 쓰기 명령인지 분류한 후, 읽기 명령은 읽기 카운팅부(244)로, 쓰기 명령은 쓰기 카운팅부(242)로 출력한다. 이 후, 읽기 카운팅부(244) 및 쓰기 카운팅부(242)에서 읽기 명령 및 쓰기 명령에 대한 카운팅이 수행된다.The read command is classified by the read counting unit 244, the write command is output by the write counting unit 242, do. Thereafter, the read counting unit 244 and the write counting unit 242 count the read command and the write command.

한편, 마이크로컨트롤러 유닛(100)은 읽기 명령 또는 쓰기 명령의 카운팅 값이 기준 회수에 도달했는지를 확인한다(S360). 기준 회수(설정 값)에 도달하면, 마이크로컨트롤러 유닛(100)는 비교 명령 신호를 구동 반도체(200)에 출력한다(S370).On the other hand, the microcontroller unit 100 confirms whether the count value of the read command or the write command has reached the reference count (S360). When the reference number of times (set value) is reached, the microcontroller unit 100 outputs a comparison command signal to the driving semiconductor 200 (S370).

이 경우, 쓰기 카운팅 모듈(122) 및 읽기 카운팅 모듈(124)에서 쓰기 또는 읽기 명령 회수가 일정 회수에 도달하게 되면, 쓰기 카운팅 모듈(122) 및 읽기 카운팅 모듈(124)은 제 2 통신부(110)를 통하여 비교 명령 신호를 구동 반도체(200)에 출력하게 된다.In this case, when the write counting module 122 and the read counting module 124 have reached the predetermined number of times, the write counting module 122 and the read counting module 124 may notify the second communication unit 110 And outputs a comparison command signal to the driving semiconductor 200 through the control signal line.

구동 반도체(200)의 비교 제어 모듈(229)는 수신부(222)를 통하여 비교 명령 신호를 수신하고, 비교부(250)에 비교 제어 명령을 출력하게 된다. 이 경우, 비교 제어 명령은 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 읽기 명령의 회수를 비교할 것인지 또는 쓰기 명령의 회수를 비교할 것인지에 대한 읽기/쓰기 지정 명령을 포함할 수 있다.The comparison control module 229 of the driving semiconductor 200 receives the comparison command signal through the receiving part 222 and outputs the comparison control command to the comparing part 250. [ In this case, the comparison control command may include a read / write designation instruction as to whether to compare the number of read commands of the microcontroller unit 100 or the number of write commands.

한편, 비교 제어 모듈(229)는 상기 비교 명령 신호를 비교부(250)에 전달하여 읽기 또는 쓰기 명령 값의 비교를 수행한다(S380).Meanwhile, the comparison control module 229 transfers the comparison command signal to the comparison unit 250 to compare the read or write command values (S380).

이 경우, 비교부(250)는 비교 제어 모듈에서 지정한 읽기 또는 쓰기 명령 회수를 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수와 비교하여 회수의 차이가 있는지 여부를 판정한다. In this case, the comparison unit 250 compares the number of read or write commands specified by the comparison control module with the number of times counted by the read counting unit 244 or the write counting unit 242 to determine whether there is a difference in the number of times.

마지막으로, 비교 연산 결과, 동일하거나, 또는 임계치 내의 오차를 가지는 경우에는 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 동작이 정상이므로, 다시 단계(S320)에서 단계(S370)을 반복한다.Finally, if the result of the comparison operation is the same or has an error within the threshold value, the operation of the microcontroller unit 100 is normal, and the process is repeated again from the step S320 to the step S370.

그러나, 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수와 마이크로컨트롤러 유닛(100)으로부터 송신된 회수가 동일하지 않거나, 임계치 이상의 오차를 가지는 경우에는 마이크로컨트롤러 유닛(100)의 리셋부(130)에 리셋 명령을 전송할 수 있다. However, if the number of counts counted by the read counting unit 244 or the write counting unit 242 is not equal to the number of counts transmitted from the microcontroller unit 100, A reset command can be transmitted to the controller 130.

또는, 읽기 카운팅부(244) 또는 쓰기 카운팅부(242)에서 카운팅한 회수를 미리 정해진 회수와 비교하여 동일하지 않거나, 임계치 이상의 오차를 가지는 경우에 리셋 명령을 송신할 수도 있다.Alternatively, the number of counts counted by the read counting unit 244 or the write counting unit 242 may be compared with a predetermined number of times, and a reset command may be transmitted when the count is not equal or has an error of a threshold value or more.

리셋부(130)는 비교부(250)로부터 리셋 신호를 수신하면, 상기 리셋 신호에 기초하여 마이크로컨트롤러 유닛(100)을 리셋시킬 수 있다. 이 경우, 마이크로컨트롤러 유닛(100)은 리셋 신호를 수신하여 인터럽트를 발생시켜서 리셋 동작을 수행할 수도 있으나, 바람직하게는 바로 리셋 신호에 응답하여 리셋을 수행하도록 구성될 수 있다. Upon receiving the reset signal from the comparator 250, the reset unit 130 can reset the microcontroller unit 100 based on the reset signal. In this case, the microcontroller unit 100 may receive a reset signal and generate an interrupt to perform a reset operation, but may be configured to perform a reset in response to the reset signal.

이하에서는 변속기 구동 반도체의 예를 들어서 본 발명의 실시예를 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니다. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail by way of example of a transmission drive semiconductor. However, the present invention is not limited thereto.

변속기 구동 반도체의 SPI 통신 가능한 주소 영역이 0x00~0x30 번지이고, 구동 반도체가 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드를 가지는 경우를 예시로 상술한 비교의 예시를 설명한다. 이 경우, 구동 준비 모드에서는 0x00~0x10번지를 이용하여 초기 구동을 위한 설정을 하고, 구동 모드에서는 0x11~0x27번지를 이용하여 구동 명령을 송수신하고, 진단 모드에서는 0x28~0x30번지를 이용해 구동 반도체의 상태를 진단할 수 있다고 가정한다.An example of the comparison described above will be described by exemplifying the case where the SPI communicable address area of the transmission drive semiconductor is address 0x00 to 0x30 and the drive semiconductor has the drive preparation mode, drive mode and diagnostic mode. In this case, in the drive preparation mode, the setting is made for the initial drive by using addresses 0x00 to 0x10. In the drive mode, drive commands are transmitted and received using addresses 0x11 to 0x27. In the diagnostic mode, It is assumed that the condition can be diagnosed.

이 경우, 모드 필터링 모듈(226)은 구동 모드 즉, 명령이 0x11~0x27번지를 통하여 송수신되는 경우를 필터링한다.In this case, the mode filtering module 226 filters the driving mode, that is, the case where the command is transmitted / received through the address 0x11 to 0x27.

이 때, 마이크로컨트롤러 유닛(100)은 기준 회수, 예를 들어 10회만큼 구동 반도체에 SPI 통신으로 구동 모드의 쓰기 명령을 수행한 후, 비교 명령 신호를 구동 반도체(200)에 송신 할 수 있다.At this time, the microcontroller unit 100 can send the comparison command signal to the driving semiconductor 200 after performing the writing command of the driving mode by SPI communication to the driving semiconductor for the reference number of times, for example, 10 times.

이 경우, 구동 반도체(200)에서 10번 중 9번을 0x11~0x27번지를 통하여 쓰기 명령을 수신하고, 1번을 어떤 오류 등으로 인하여 0x00~0x10번지를 통하여 수신하였다고 하면, 구동 반도체(200)의 쓰기 카운팅부(242)는 모드 필터링 모듈(226)에 의하여 9번만 쓰기 명령을 받은 것으로 카운팅할 수 있다.In this case, if the drive semiconductor 200 receives the write command at address 0x11 through 0x27 of address 10 and address 0x00 through address 0x10 due to some error, The write counting unit 242 of the mode filtering module 226 may count the write command received only by the mode filtering module 226 nine times.

이 때, 비교부(250)는 예를 들어, 쓰기 카운팅부(242)의 카운팅한 회수와 기준 회수와 동일하지 않기 때문에 리셋부(130)에 리셋 신호를 출력할 수 있다.At this time, the comparison unit 250 can output a reset signal to the reset unit 130 because it is not the same as the number of counts and the reference count of the write counting unit 242, for example.

예를 들어, 변속기 솔레노이드의 오프셋(Offset) 전류를 측정하는 동작은 구동 준비 모드에 실행되어야 하는데, 어떤 오류로 인하여 0x11~0x27번지를 통하여 명령이 수신된 경우, 카운트 숫자의 차이가 발생하게 되어 리셋 신호가 출력될 수 있다.For example, the offset current measurement of the transmission solenoid must be executed in the drive ready mode. When an instruction is received through address 0x11 ~ 0x27 due to some error, a count number difference occurs, A signal can be output.

또 다른 예로, 변속기 솔레노이드 전류량 변화는 구동 모드일 때 실행되어야 하는데, 어떤 오류로 인하여 0x00~0x10번지를 통하여 수신된 경우에는 명령이 카운팅되지 않아서 카운팅 숫자의 차이가 발생하게 되어 리셋 신호가 출력될 수 있다.As another example, the change of the transmission solenoid current amount should be executed in the drive mode. When the error is received through the address 0x00 ~ 0x10 due to some error, the command is not counted and a difference of the counting number occurs, have.

따라서, 본 발명에 따르면, 통신의 유효성을 확인하면서 마이크로컨트롤러 유닛의 정상 동작 여부를 감시할 수 있다. 이를 통해 기존 이용되는 워치독에 본 발명에 따른 구성을 추가하여 기능 안전 진단 커버리지를 향상시킬 수 있다.Therefore, according to the present invention, it is possible to monitor whether the microcontroller unit is operating normally while confirming the validity of the communication. Accordingly, the functional safety diagnosis coverage can be improved by adding the configuration according to the present invention to the existing watchdog.

한편, 본 발명의 상세한 설명 및 첨부도면에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명은 개시된 실시예에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다. 따라서, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and similarities. Accordingly, the scope of the present invention should be construed as being limited to the embodiments described, and it is intended that the scope of the present invention encompasses not only the following claims, but also equivalents thereto.

100: 마이크로컨트롤러 유닛
110: 제 2 통신부
120: 제 2 카운팅부
130: 리셋부
200: 구동 반도체
210: 제 1 통신부
220: 감시 제어부
230: 로그 저장부
240: 제 1 카운팅부
250: 비교부
100: Microcontroller unit
110: second communication section
120: second counting section
130:
200: Driving semiconductor
210: first communication section
220:
230: log storage unit
240: first counting unit
250:

Claims (16)

제 1 통신부, 제 1 카운팅부 및 비교부를 포함하는 구동 반도체; 및
제 2 통신부, 제 2 카운팅부 및 리셋부를 마이크로컨트롤러 유닛을 포함하며,
상기 제 2 카운팅부는 상기 제 2 통신부가 상기 제 1 통신부에 명령을 송신할 때에 상기 송신할 명령을 카운팅하고,
상기 제 1 카운팅부는 제 2 통신부로부터 명령을 수신하고, 상기 수신한 명령을 카운팅하며,
상기 비교부는 상기 제 2 카운팅부에서 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 제 1 카운팅부에서 카운팅된 회수를 비교하여 임계치 이상의 오차를 가지는 경우에 상기 리셋부에 리셋 명령을 출력하도록 구성되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
A driving semiconductor including a first communication section, a first counting section, and a comparing section; And
A second communication unit, a second counting unit, and a reset unit as a microcontroller unit,
The second counting unit counts a command to be transmitted when the second communication unit transmits a command to the first communication unit,
The first counting unit receives an instruction from the second communication unit, counts the received instruction,
Wherein the comparison unit compares the number of times or the reference count counted by the second counting unit with the counted number of times counted by the first counting unit and outputs a reset command to the reset unit when the count has an error of more than a threshold value,
Microcontroller unit monitoring device.
제 1 항에 있어서,
상기 구동 반도체는 비교 제어 모듈을 포함하는 감시 제어부를 더 포함하며,
상기 제 2 카운팅부는 카운팅된 회수가 기준 회수에 도달하면 비교 명령을 출력하고, 상기 비교 제어 모듈은 상기 비교 명령을 수신하여 상기 비교부로 하여금 상기 제 2 카운팅부에서 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 제 1 카운팅부에서 카운팅된 회수를 비교하도록 제어하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the driving semiconductor further comprises a monitoring control section including a comparison control module,
Wherein the second counting unit outputs a comparison instruction when the counted number of times reaches the reference count, and the comparison control module receives the comparison instruction and causes the comparison unit to compare the number of times or the reference count counted by the second counting unit, 1 < / RTI > counting unit < RTI ID = 0.0 >
Microcontroller unit monitoring device.
제 2 항에 있어서,
상기 감시 제어부는 읽기 및 쓰기 제어 모듈을 더 포함하며,
상기 제 1 카운팅부는 읽기 카운팅부 및 쓰기 카운팅부를 포함하며,
상기 읽기 쓰기 제어 모듈은 상기 수신한 명령을 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류하고, 상기 읽기 명령은 상기 읽기 카운팅부에 의하여 카운팅되고, 상기 쓰기 명령은 상기 쓰기 카운팅부에 의하여 카운팅되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
3. The method of claim 2,
The monitoring control unit may further include a read and write control module,
Wherein the first counting unit includes a read counting unit and a write counting unit,
Wherein the read / write control module classifies the received command as a read command or a write command, the read command is counted by the read counting unit, and the write command is counted by the write counting unit,
Microcontroller unit monitoring device.
제 3 항에 있어서,
상기 읽기 및 쓰기 제어 모듈은 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈을 포함하며, 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈은 상기 수신한 명령의 읽기 및 쓰기 플래그를 판독하여 상기 수신한 명령을 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
The method of claim 3,
Wherein the read and write control module includes a read and write flag reading module, the read and write flag reading module reads the read and write flags of the received command and classifies the received command as a read command or a write command ,
Microcontroller unit monitoring device.
제 4 항에 있어서,
상기 읽기 및 쓰기 제어 모듈은 모드 필터링 모듈을 포함하며, 상기 구동 반도체의 복수의 모드 중 어느 하나의 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링하여 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈에 출력하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
5. The method of claim 4,
Wherein the read and write control module includes a mode filtering module and outputs the filtered read and write flag to the read and write flag read module so as to count only a command of any one of a plurality of modes of the drive semiconductor,
Microcontroller unit monitoring device.
제 5 항에 있어서,
상기 구동 반도체의 복수의 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드를 포함하며,
상기 모드 필터링 모듈은 상기 구동 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링하여 상기 읽기 및 쓰기 플래그 판독 모듈에 출력하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the plurality of modes of the drive semiconductor includes a drive preparation mode, a drive mode and a diagnostic mode,
Wherein the mode filtering module outputs the read and write flag to the read and write flag reading module,
Microcontroller unit monitoring device.
제 2 항에 있어서,
상기 구동 반도체는 로그 저장부를 더 포함하며,
상기 감시 제어부는 상기 수신한 명령에 오류가 있는 경우에 상기 로그 저장부에 상기 수신한 명령을 저장하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
3. The method of claim 2,
The driving semiconductor further includes a log storage unit,
Wherein the monitoring control unit stores the received command in the log storage unit when there is an error in the received command,
Microcontroller unit monitoring device.
제 1 항에 있어서,
상기 구동 반도체는 변속기 구동 반도체인,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the drive semiconductor is a transmission drive semiconductor,
Microcontroller unit monitoring device.
마이크로컨트롤러 유닛 및 구동 반도체를 포함하는 마이크로컨트롤러 유닛 감시 장치에서,
상기 마이크로컨트롤러 유닛로부터 상기 구동 반도체에 명령 신호를 송신하고 상기 명령 신호를 카운팅하는 단계;
상기 구동 반도체에서 상기 명령 신호를 수신하고, 상기 수신한 명령 신호를 카운팅하는 단계;
상기 송신한 명령 신호의 카운팅 회수 또는 기준 회수와 상기 수신한 명령 신호의 카운팅 회수를 비교하는 단계; 및
상기 비교하는 단계의 비교 결과에 기초하여 상기 마이크로컨트롤러 유닛을 리셋하는 단계를 포함하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
In a microcontroller unit monitoring apparatus including a microcontroller unit and a driving semiconductor,
Transmitting a command signal from the microcontroller unit to the drive semiconductor and counting the command signal;
Receiving the command signal from the driving semiconductor and counting the received command signal;
Comparing the counted number of times or the reference count of the transmitted command signal with the counted number of times of the received command signal; And
And resetting the microcontroller unit based on the comparison result of the comparing step.
Microcontroller unit monitoring method.
제 9 항에 있어서,
상기 마이크로컨트롤러 유닛에서 상기 송신한 명령의 카운팅된 회수가 기준 회수에 도달하면 비교 명령을 출력하고, 상기 구동 반도체에서 상기 송신한 명령 신호의 카운팅된 회수 또는 기준 회수와 상기 수신한 명령 신호의 카운팅된 회수를 비교하도록 제어하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
10. The method of claim 9,
And outputting a comparison command when the counted number of times of the transmitted instruction reaches the reference number of times in the microcontroller unit, and counting the counted number of times or the reference number of the transmitted instruction signal in the driving semiconductor, To control the number of times to compare,
Microcontroller unit monitoring method.
제 10 항에 있어서,
상기 수신한 명령 신호는 읽기 명령 또는 쓰기 명령으로 분류되고, 상기 읽기 명령 및 상기 쓰기 명령은 각각 카운팅되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
11. The method of claim 10,
Wherein the received command signal is classified as a read command or a write command and the read command and the write command are counted,
Microcontroller unit monitoring method.
제 11 항에 있어서,
상기 읽기 명령 및 상기 쓰기 명령은 상기 수신한 명령 신호의 읽기 및 쓰기 플래그를 판독하여 분류되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
12. The method of claim 11,
Wherein the read command and the write command are read by reading the read and write flags of the received command signal,
Microcontroller unit monitoring method.
제 12 항에 있어서,
상기 수신한 명령 신호는 상기 구동 반도체의 복수의 모드 중 어느 하나의 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
13. The method of claim 12,
Wherein the received command signal is filtered to count only a command of any one of a plurality of modes of the driving semiconductor,
Microcontroller unit monitoring method.
제 13 항에 있어서,
상기 구동 반도체의 복수의 모드는 구동 준비 모드, 구동 모드 및 진단 모드를 포함하며,
상기 수신한 명령 신호는 상기 구동 모드의 명령만을 카운팅하도록 필터링되는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
14. The method of claim 13,
Wherein the plurality of modes of the drive semiconductor includes a drive preparation mode, a drive mode and a diagnostic mode,
Wherein the received command signal is filtered to count only commands in the driving mode,
Microcontroller unit monitoring method.
제 10 항에 있어서,
상기 수신한 명령 신호에 오류가 있는 경우에 상기 수신한 명령을 저장하는 단계를 더 포함하는,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
11. The method of claim 10,
Further comprising the step of storing the received command if there is an error in the received command signal.
Microcontroller unit monitoring method.
제 9 항에 있어서,
상기 구동 반도체는 변속기 구동 반도체인,
마이크로컨트롤러 유닛 감시 방법.
10. The method of claim 9,
Wherein the drive semiconductor is a transmission drive semiconductor,
Microcontroller unit monitoring method.
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