KR20180046233A - SSD test apparatus - Google Patents

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KR20180046233A
KR20180046233A KR1020160141239A KR20160141239A KR20180046233A KR 20180046233 A KR20180046233 A KR 20180046233A KR 1020160141239 A KR1020160141239 A KR 1020160141239A KR 20160141239 A KR20160141239 A KR 20160141239A KR 20180046233 A KR20180046233 A KR 20180046233A
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이재환
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사단법인 엑시콘산학공동연구소
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Abstract

The present invention includes an impedance matching part electrically connected between a host controller and a connector and performing impedance matching. The impedance matching part may include a plurality of signal transmission lines provided in parallel and having impedance corresponding to a switching part and the type of an SSD so that the switching part can be selectively switched to the plurality of signal transmission lines and SSDs having different internal impedances can be compatibly impedance-matched and tested. Therefore, it is possible to save test time and cost.

Description

SSD 테스트 장치{SSD test apparatus}[0001] SSD TEST APPARATUS [0002]

본 문서는 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 본 발명은 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행할 수 있는 것을 SSD 테스트 장치에 관련된다. The present invention relates to an SSD testing apparatus, and more particularly, to an SSD testing apparatus capable of performing impedance matching in a compatible manner regardless of the type of SSD.

현재 반도체 메모리 기술의 발전에 따라 더욱 빠른 전송 속도를 요구하게 되어 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)의 기술이 반도체 메모리 테스팅 시스템에 중요한 요소가 되었다. With the recent development of semiconductor memory technology, the demand for faster transmission speed has made the technology of printed circuit board (PCB) important for semiconductor memory testing system.

현재까지 대용량의 디지털 미디어 저장장치로서 가장 일반적으로 사용하고 있는 것은 하드디스크(HDD)이다. 그러나 최근 들어 메모리 기능의 반도체 소자 중에서 작은 크기에도 대용량 데이터를 저장할 수 있는 SSD(Solid State Drive)가 각광을 받고 있다. Until now, hard disk (HDD) is most commonly used as a large-capacity digital media storage device. Recently, solid state drives (SSDs) capable of storing large amounts of data even in a small size of semiconductor devices having memory functions have come into the spotlight.

이러한 SSD의 성능은 SSD 테스트 장치 통해 수행되며 PCIe(PCI Express), SAS, SATA 등의 인터페이스를 통해 SSD와 신호통신이 이루어진다. 현재 SATA/eSATA(serial ATA/external serial ATA) 및 PCIe와 같은 고속 직렬 인터페이스는 가전, 산업 및 의료 애플리케이션에서 데이터를 전달하고 저장하기 위한 사실상의 표준으로 자리잡고 있다. SSD는 적용 인터페이스에 따라 PCIe SSD, SAS SSD, SATA SSD 등으로 나뉠 수 있다.The performance of these SSDs is achieved through an SSD test device, and signal communication with the SSD is performed through interfaces such as PCI Express (PCIe), SAS, and SATA. High-speed serial interfaces such as SATA / external serial ATA (SATA / eSATA) and PCIe are becoming the de facto standard for delivering and storing data in consumer, industrial and medical applications. SSDs can be divided into PCIe SSDs, SAS SSDs, SATA SSDs, etc. depending on the application interface.

도 1은 종래의 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 커넥터(200), 임피던스(R1, R2, R3)를 포함하여 구성될 수 있다. 1 is a view for explaining a conventional SSD test apparatus. As shown in the figure, the SSD testing apparatus 100 may include a host controller 110, a connector 200, and impedances R1, R2, and R3.

SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생시켜 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. SSD 테스트 장치(100)의 임피던스(R1, R2, R3)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 간 전기적인 연결을 위한 신호 전송라인(120)의 저항을 의미할 수 있으며 통상적으로 100Ω으로 설정한다.The SSD test apparatus 100 may be a PCB for performing testing. The host controller 110 may generate various signals to test the performance of the SSD and control the operation of internal components of the SSD testing apparatus. The connector may provide an interface for electrically connecting the SSDs 300, 400, and 500. The impedances R1, R2 and R3 of the SSD test apparatus 100 may refer to the resistance of the signal transmission line 120 for electrical connection between the host controller 110 and the connector 200, do.

SSD는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R1, R2, R3)를 가지고 있다. The SSD can be classified into a SAS SSD 300, a SATA SSD 400, and a PCIe SSD 500 according to the type and has unique internal impedances R1, R2, and R3, respectively.

아래 표 1은 SSD 종류에 따른 일반적인 내부 임피던스를 나타낸 것이다.Table 1 below shows general internal impedance according to SSD type.

SSD 종류에 따른 일반적인 내부 임피던스Typical internal impedance according to SSD type SSD 종류SSD type SASSAS SATASATA PCIePCIe 임피던스impedance 100Ω100Ω 92Ω92Ω 85Ω85Ω

도 1의 (a)에 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)를 테스트할 경우 SSD 테스트 장치(100)의 임피던스(R1, 130)와 SAS SSD의 임피던스(R1, 310)가 매치되어 문제가 없으나, 만일 SSD 테스트 장치(100)가 SATA SSD 또는 PCIe SSD를 테스트할 경우 임피던스 미스 매치가 발생하게 되고 이로 인해 신호의 왜곡 및 반사가 발생하여 테스트 성능이 저하되는 현상이 초래될 수 있다. 따라서 도 1의 (b)와 (c)에 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)가 SATA SSD(400) 또는 PCIe SSD(500)를 테스트할 경우에는 각각의 내부 임피던스(410, 510)에 매치되는 임피던스(140, 150)를 가지는 신호 전송 라인(120)을 별도로 구비하여야 하는 문제로 인해 SSD의 종류에 따라 SSD 테스트 장치(100)가 별개로 구비되어야 하는 문제가 발생하게 된다.1 (a), when the SSD testing apparatus 100 tests the SAS SSD 300, the impedances R1 and 130 of the SSD testing apparatus 100 and the impedances R1 and 310 of the SAS SSD However, if the SSD test apparatus 100 tests a SATA SSD or a PCIe SSD, an impedance mismatch occurs. As a result, the distortion and reflection of the signal occur and the test performance is degraded . Therefore, when the SSD testing apparatus 100 tests the SATA SSD 400 or the PCIe SSD 500, the internal impedance 410 and the internal impedance 410 of the PCIe SSD 500 are There is a problem that the SSD testing apparatus 100 must be separately provided according to the type of the SSD due to the problem that the signal transmission line 120 having the matched impedance 140 and 150 is separately provided.

한국특허공보(공개공보번호: 10-2006-0104392, “변경 가능한 신호 전송 라인 구조를 갖는 반도체 디바이스테스트 장치”)는 반도체 디바이스와 신호 전송라인의 임피던스 특성을 맞추기 위해 단일 전송 라인 구성과 이중 전송 라인 구성이 하나의 테스트 장치 내에서 동시에 구현되는 테스트 장치를 개시하였으나 SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행하는 해결 방법에 관한 테스트 장치에 대하여는 개시되어 있지 않다.A Korean patent publication No. 10-2006-0104392 entitled " Semiconductor Device Test Apparatus Having a Modifiable Signal Transmission Line Structure ") discloses a semiconductor device having a single transmission line configuration and a dual transmission line A test apparatus in which a configuration is simultaneously implemented in one test apparatus is disclosed but a test apparatus related to a solution for performing impedance matching in a compatible manner regardless of the type of SSD is not disclosed.

본 발명은 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행할 수 있는 것을 목적으로 한다.The present invention relates to an SSD testing apparatus, and it is an object of the present invention to perform impedance matching in a compatible manner regardless of the type of SSD.

이러한 목적을 달성하기 위한 일 양상에 따른 SSD 테스트 장치는,According to an aspect of the present invention,

SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치에 있어서,An SSD test apparatus for testing an SSD,

SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러,A host controller for controlling transmission and reception of signals to test the SSD,

SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터,A connector providing an interface for electrically connecting the SSD,

호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부와,An impedance matching unit electrically connected between the host controller and the connector to perform impedance matching,

상기 임피던스 매칭부는 스위칭부와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭되는 SSD 테스트 장치를 구성한다.The impedance matching unit includes a switching unit and a plurality of signal transmission lines having impedances corresponding to the types of the SSDs, and the switching unit selectively switches to a plurality of signal transmission lines.

본 발명은 하나의 SSD 테스트 장치로 내부 임피던스가 서로 다른 SSD를 호환적으로 임피던스 매치하여 테스트를 수행함으로써 테스트 시간 및 비용을 절감할 수 있다.The present invention can reduce test time and cost by performing impedance matching and compatibility testing of SSDs having different internal impedances with one SSD testing apparatus.

도 1은 종래의 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다.
도 3은 또 다른 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 1 is a view for explaining a conventional SSD test apparatus.
2 is a view for explaining an SSD testing apparatus according to an embodiment.
3 is a diagram illustrating an SSD testing apparatus according to another embodiment.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 기술되는 바람직한 실시예를 통하여 본 발명을 당업자가 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 기술하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명 실시예들의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 본 발명 명세서 전반에 걸쳐 사용되는 용어들은 본 발명 실시예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 사용자 또는 운용자의 의도, 관례 등에 따라 충분히 변형될 수 있는 사항이므로, 이 용어들의 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings, wherein like reference numerals refer to the like elements throughout. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The terms used throughout the specification of the present invention have been defined in consideration of the functions of the embodiments of the present invention and can be sufficiently modified according to the intentions and customs of the user or operator. It should be based on the contents of.

또한 전술한, 그리고 추가적인 발명의 양상들은 후술하는 실시예들을 통해 명백해질 것이다. 본 명세서에서 선택적으로 기재된 양상이나 선택적으로 기재된 실시예의 구성들은 비록 도면에서 단일의 통합된 구성으로 도시되었다 하더라도 달리 기재가 없는 한 당업자에게 기술적으로 모순인 것이 명백하지 않다면 상호간에 자유롭게 조합될 수 있는 것으로 이해된다.Also, aspects of the above-described and further inventions will become apparent through the following embodiments. The configurations of the selectively described embodiments or optional embodiments described herein may be combined freely with one another if they are not explicitly contradictory to one skilled in the art, I understand.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings are merely the most preferred embodiments of the present invention and do not represent all the technical ideas of the present invention. Therefore, It is to be understood that equivalents and modifications are possible.

도 2는 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 스위칭부(160), 커넥터(200)를 포함하여 구성될 수 있다. 2 is a view for explaining an SSD testing apparatus according to an embodiment. As shown in the figure, the SSD testing apparatus 100 may include a host controller 110, a switching unit 160, and a connector 200.

일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서,In an SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to an embodiment,

SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러(110);A host controller 110 for controlling transmission and reception of signals to test the SSD;

SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터(200);A connector 200 providing an interface for electrically connecting the SSD;

호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부(160);를 포함하여 구비되고,And an impedance matching unit 160 electrically connected between the host controller and the connector to perform impedance matching,

상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭 될 수 있다.The impedance matching unit 160 includes a switching unit 161 and a plurality of signal transmission lines having impedances corresponding to the types of SSDs in parallel, so that the switching unit can selectively switch to a plurality of signal transmission lines.

SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD 테스트 장치(100) 상에 실장되어 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생하여 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. The SSD test apparatus 100 may be a PCB for performing testing. The host controller 110 may be mounted on the SSD testing apparatus 100 to generate various signals to test the performance of the SSD and to control the operation of internal components of the SSD testing apparatus. The connector may provide an interface for electrically connecting the SSDs 300, 400, and 500.

커넥터(200)는 호스트 컨트롤러(110)와 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. The connector 200 may provide an interface for electrically connecting the host controller 110 and the SSDs 300, 400, and 500.

SSD는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R1, R2, R3)를 가지고 있을 수 있다. The SSD may be classified into a SAS SSD 300, a SATA SSD 400 and a PCIe SSD 500 depending on the type and may have unique internal impedances R1, R2, and R3, respectively.

임피던스 매칭부(160)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행할 수 있다. 상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스(162, 163, 164)를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭될 수 있다. SAS SSD 매치 임피던스(162), SATA SSD 매치 임피던스(163), PCIe SSD 매치 임피던스(164)가 서로 병렬 연결될 수 있다.The impedance matching unit 160 may be electrically connected between the host controller 110 and the connector 200 to perform impedance matching. The impedance matching unit 160 includes a plurality of signal transmission lines having the switching unit 161 and corresponding impedances 162, 163, and 164 according to the types of the SSDs. Lt; / RTI > The SAS SSD match impedance 162, the SATA SSD match impedance 163, and the PCIe SSD match impedance 164 may be connected in parallel with each other.

스위칭부(161)은 테스트 대상 SSD의 종류에 따라 선택적으로 ON/OFF 동작할 수 있다. 즉 SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SAS SSD 매치 임피던스(162)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, SATA SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SATA SSD 매치 임피던스(163)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, PCIe SSD(500)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 PCIe SSD 매치 임피던스(164)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)될 수 있다.The switching unit 161 can selectively turn ON / OFF according to the type of the SSD to be tested. That is, when the SSD testing apparatus 100 tests the SAS SSD 300, the switching unit 161 is electrically connected to the signal transmission line 120 having the SAS SSD match impedance 162, and the SATA SSD 300 The switching unit 161 is electrically connected to the signal transmission line 120 having the SATA SSD match impedance 163. When the PCIe SSD 500 is tested, May be electrically connected to a signal transmission line 120 having a PCIe SSD match impedance 164.

호스트 컨트롤러(110)와 스위칭부(161)를 전기적으로 연결하는 신호 전송 라인(120) 구간은 최대한 길이가 짧게 할수록 이 신호 전송 라인(120)으로 발생하는 임피던스를 무시할 수 있어서 바람직할 수 있다.The shorter the length of the signal transmission line 120 for electrically connecting the host controller 110 and the switching unit 161 to the signal transmission line 120 is, the shorter the length of the signal transmission line 120 is, the less the impedance generated in the signal transmission line 120 can be ignored.

또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서, 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다른 것으로 구성할 수 있다. 즉 복수개의 신호 전송 라인(120)은 별도의 저항소자를 이용하지 않고 직경으로 고유한 임피던스를 설정할 수 있다. 직경이 크면 임피던스가 작고 반대로 직경이 작으면 임피던스가 클 수 있다. 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다르지만 길이는 실질적으로 같을 수 있다.In the SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to another embodiment, the plurality of signal transmission lines 120 may have different diameters. That is, the plurality of signal transmission lines 120 can set a unique impedance with a diameter without using a separate resistance element. If the diameter is large, the impedance is small. Conversely, if the diameter is small, the impedance may be large. The plurality of signal transmission lines 120 may have different diameters but substantially the same length.

도 3은 또 다른 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 스위칭부(160), 커넥터(200) 외에도 제어부(170), 감지부(180)를 더 포함하여 구성될 수 있다. 3 is a diagram illustrating an SSD testing apparatus according to another embodiment. The SSD testing apparatus 100 may further include a control unit 170 and a sensing unit 180 in addition to the host controller 110, the switching unit 160, and the connector 200.

또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서,In an SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to another embodiment,

SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러(110);A host controller 110 for controlling transmission and reception of signals to test the SSD;

SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터(200);A connector 200 providing an interface for electrically connecting the SSD;

호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부(160);를 포함하여 구비되고,And an impedance matching unit 160 electrically connected between the host controller and the connector to perform impedance matching,

상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭 될 수 있다.The impedance matching unit 160 includes a switching unit 161 and a plurality of signal transmission lines having impedances corresponding to the types of SSDs in parallel, so that the switching unit can selectively switch to a plurality of signal transmission lines.

SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD 테스트 장치(100) 상에 실장되어 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생하여 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. The SSD test apparatus 100 may be a PCB for performing testing. The host controller 110 may be mounted on the SSD testing apparatus 100 to generate various signals to test the performance of the SSD and to control the operation of internal components of the SSD testing apparatus. The connector may provide an interface for electrically connecting the SSDs 300, 400, and 500.

커넥터(200)는 호스트 컨트롤러(110)와 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. The connector 200 may provide an interface for electrically connecting the host controller 110 and the SSDs 300, 400, and 500.

SSD(600)는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R, 610)를 가지고 있을 수 있다. R(610)은 R1, R2 또는 R3일 수 있다.The SSD 600 may be classified into a SAS SSD 300, a SATA SSD 400 and a PCIe SSD 500 depending on the type thereof and each may have a unique internal impedance R 610. R (610) may be R1, R2 or R3.

임피던스 매칭부(160)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행할 수 있다. 상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스(162, 163, 164)를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭될 수 있다. SAS SSD 매치 임피던스(162), SATA SSD 매치 임피던스(163), PCIe SSD 매치 임피던스(164)가 서로 병렬 연결될 수 있다.The impedance matching unit 160 may be electrically connected between the host controller 110 and the connector 200 to perform impedance matching. The impedance matching unit 160 includes a plurality of signal transmission lines having the switching unit 161 and corresponding impedances 162, 163, and 164 according to the types of the SSDs. Lt; / RTI > The SAS SSD match impedance 162, the SATA SSD match impedance 163, and the PCIe SSD match impedance 164 may be connected in parallel with each other.

스위칭부(161)은 테스트 대상 SSD의 종류에 따라 선택적으로 ON/OFF 동작할 수 있다. 즉 SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SAS SSD 매치 임피던스(162)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, SATA SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SATA SSD 매치 임피던스(163)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, PCIe SSD(500)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 PCIe SSD 매치 임피던스(164)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)될 수 있다.The switching unit 161 can selectively turn ON / OFF according to the type of the SSD to be tested. That is, when the SSD testing apparatus 100 tests the SAS SSD 300, the switching unit 161 is electrically connected to the signal transmission line 120 having the SAS SSD match impedance 162, and the SATA SSD 300 The switching unit 161 is electrically connected to the signal transmission line 120 having the SATA SSD match impedance 163. When the PCIe SSD 500 is tested, May be electrically connected to a signal transmission line 120 having a PCIe SSD match impedance 164.

또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)는 SSD가 커넥터에 연결될 경우 SSD로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 감지하는 감지부(180)와; 감지부로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 수신하여 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령(Command)를 제공하는 제어부(170)를 더 포함할 수 있다. 이로 인해 SSD(600)의 종류에 따라 SSD 내부 임피던스(610)가 다른 점을 고려하여 자동으로 임피던스 매칭이 수행될 수 있다.The SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to another embodiment includes a sensing unit 180 for sensing identification information for each type of SSD from the SSD when the SSD is connected to the connector; And a controller 170 receiving the identification information for each type of SSD from the sensing unit and providing a switching command to the switching unit of the impedance matching unit. Therefore, the impedance matching can be automatically performed in consideration of the difference of the SSD internal impedance 610 according to the type of the SSD 600.

호스트 컨트롤러(110)와 스위칭부(161)를 전기적으로 연결하는 신호 전송 라인(120) 구간은 최대한 길이가 짧게 할수록 이 신호 전송 라인(120)으로 발생하는 임피던스를 무시할 수 있어서 바람직할 수 있다.The shorter the length of the signal transmission line 120 for electrically connecting the host controller 110 and the switching unit 161 to the signal transmission line 120 is, the shorter the length of the signal transmission line 120 is, the less the impedance generated in the signal transmission line 120 can be ignored.

또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서 상기 커넥터(200)는 복수개의 SSD를 전기적으로 연결하기 위하여 복수개의 슬롯이 구비될 수 있다. 슬롯은 3개가 구비될 수 있어서 SAS SSD, SATA SSD 및 PCIe SSD를 한꺼번에 연결할 수 있다. In the SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to another embodiment, the connector 200 may include a plurality of slots for electrically connecting a plurality of SSDs. Three slots can be provided to connect SAS SSD, SATA SSD and PCIe SSD at once.

이로 인해 제어부(170)는 감지부(180)로부터 복수개의 SSD의 종류별 식별 정보를 수신 받아 임피던스 매칭부(160)의 스위칭부(161)에 스위칭 명령(Command)을 순차적으로 제공할 수 있다. 예를 들어 감지부가 SAS SSD, SATA SSD 및 PCIe SSD의 연결을 모두 감지한 경우 제어부(170)는 SAS SSD, SATA SSD, PCIe SSD의 순서로 테스팅이 수행되도록 스위칭부(161)에 명령을 제공 할 수 있다.Accordingly, the controller 170 may receive a plurality of types of SSD identification information from the sensing unit 180 and sequentially provide a switching command to the switching unit 161 of the impedance matching unit 160. For example, when the sensing unit detects the connection of the SAS SSD, the SATA SSD, and the PCIe SSD, the controller 170 instructs the switching unit 161 to perform the testing in the order of SAS SSD, SATA SSD, and PCIe SSD .

또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서, 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다른 것으로 구성할 수 있다. 즉 복수개의 신호 전송 라인(120)은 별도의 저항소자를 이용하지 않고 직경으로 고유한 임피던스를 설정할 수 있다. 직경이 크면 임피던스가 작고 반대로 직경이 작으면 임피던스가 클 수 있다. 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다르지만 길이는 실질적으로 같을 수 있다.In the SSD testing apparatus 100 for testing an SSD according to another embodiment, the plurality of signal transmission lines 120 may have different diameters. That is, the plurality of signal transmission lines 120 can set a unique impedance with a diameter without using a separate resistance element. If the diameter is large, the impedance is small. Conversely, if the diameter is small, the impedance may be large. The plurality of signal transmission lines 120 may have different diameters but substantially the same length.

100 : SSD 테스트 장치 110 : 호스트 컨트롤러
120 : 신호 전송 라인 130,140,150 : 임피던스
160 : 임피던스 매칭부 161 : 스위칭부
162 : SAS SSD 매치 임피던스 163 : SATA SSD 매치 임피던스
164 : PCIe SSD 매치 임피던스 170 : 제어부
180 : 감지부 200 : 커넥터
300 : SAS SSD 400 : SATA SSD
500 : PCIe SSD 310 : SAS SSD의 내부 임피던스
410 : SATA SSD의 내부 임피던스 510 : PCIe SSD의 내부 임피던스
610 : SSD의 내부 임피던스 100: SSD test apparatus 110: host controller
120: Signal transmission line 130,140,150: Impedance
160: Impedance matching unit 161:
162: SAS SSD Match Impedance 163: SATA SSD Match Impedance
164: PCIe SSD match impedance 170:
180: sensing part 200: connector
300: SAS SSD 400: SATA SSD
500: PCIe SSD 310: Internal impedance of SAS SSD
410: Internal impedance of SATA SSD 510: Internal impedance of PCIe SSD
610: Internal impedance of SSD

Claims (6)

SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치에 있어서,
SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러;
SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터;
호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부와;
상기 임피던스 매칭부는 스위칭부와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭되는 SSD 테스트 장치.
An SSD test apparatus for testing an SSD,
A host controller for controlling transmission and reception of signals to test the SSD;
A connector providing an interface for electrically connecting the SSD;
An impedance matching unit electrically connected between the host controller and the connector to perform impedance matching;
Wherein the impedance matching unit includes a switching unit and a plurality of signal transmission lines having impedances corresponding to the types of the SSDs in parallel and the switching unit is selectively switched to a plurality of signal transmission lines.
제1항에 있어서,
상기 복수개의 신호 전송 라인은 각각 직경이 서로 다른 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the plurality of signal transmission lines have different diameters.
제2항에 있어서,
상기 SSD의 종류는 SAS, SATA, PCIe인 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the type of the SSD is SAS, SATA, or PCIe.
제1항에 있어서,
SSD가 커넥터에 연결될 경우 SSD로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 감지하는 감지부와; 감지부로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 수신하여 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령을 제공하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
The method according to claim 1,
A sensing unit for sensing identification information for each type of SSD from the SSD when the SSD is connected to the connector; Further comprising a control unit for receiving identification information for each type of SSD from the sensing unit and providing a switching command to the switching unit of the impedance matching unit.
제3항에 있어서,
상기 커넥터는 복수개의 SSD를 전기적으로 연결하기 위하여 복수개의 슬롯이 구비된 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
The method of claim 3,
Wherein the connector is provided with a plurality of slots for electrically connecting the plurality of SSDs.
제5항에 있어서,
상기 제어부는 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령을 순차적으로 제공하는 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.6. The method of claim 5,
Wherein the control unit sequentially provides a switching command to the switching unit of the impedance matching unit.
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