KR20180001679A - System for testing camera module - Google Patents

System for testing camera module Download PDF

Info

Publication number
KR20180001679A
KR20180001679A KR1020160079953A KR20160079953A KR20180001679A KR 20180001679 A KR20180001679 A KR 20180001679A KR 1020160079953 A KR1020160079953 A KR 1020160079953A KR 20160079953 A KR20160079953 A KR 20160079953A KR 20180001679 A KR20180001679 A KR 20180001679A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
camera module
image
reference value
evaluation item
value
Prior art date
Application number
KR1020160079953A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
박순영
김상목
김경모
강구호
Original Assignee
주식회사 탑 엔지니어링
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 탑 엔지니어링 filed Critical 주식회사 탑 엔지니어링
Priority to KR1020160079953A priority Critical patent/KR20180001679A/en
Publication of KR20180001679A publication Critical patent/KR20180001679A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/1717Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/54Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
    • H04N5/2253
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765Method using an image detector and processing of image signal
    • G01N2021/177Detector of the video camera type

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

The present invention relates to a system to inspect a camera module, calculating a measurement value with respect to at least one evaluation item from an image storing an image photographed by a plurality of camera modules; comparing the measurement value with a reference value predetermined for each evaluation item to determine whether the camera module photographing the corresponding image is a good or bad product; and determining whether to increase or decrease the reference value for each evaluation item when the difference between the determined good product rate and a reference good product rate exceeds an error range; thereby enhancing inspection effectiveness of the camera module. Moreover, a display unit independently outputs an evaluation result before and after the reference value for an arbitrary evaluation item is changed by a control unit; and displays a measurement result for the image photographed by the camera module whose good/bad determination is updated when the good/bad determination is updated in accordance with a change of the reference value; thus, guaranteeing reliability of an update result.

Description

카메라 모듈 검사 시스템{SYSTEM FOR TESTING CAMERA MODULE}SYSTEM FOR TESTING CAMERA MODULE

본 발명은 카메라 모듈 검사 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 최초 검사를 통해 판정된 양품의 비율과 양품 기준 비율의 편차값을 고려하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정함으로써 카메라 모듈에 대한 검사 효용성을 제고하는 것이 가능한 카메라 모듈 검사 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a camera module inspection system and more particularly to a camera module inspection system which determines whether or not a reference value for each evaluation item is increased or decreased in consideration of a ratio of a good product determined through an initial inspection and a deviation value of a good reference ratio, And more particularly, to a camera module inspection system capable of improving efficiency.

스마트 기기의 발전에 따라 소형 카메라 모듈의 사용이 급증하고 있다. 스마트폰, 태블릿 PC 및 노트북과 같은 휴대용 단말기뿐만 아니라 최근에는 자동차나 스마트 TV 등에도 카메라 모듈이 탑재되고 있다.With the development of smart devices, the use of small camera modules is increasing rapidly. In addition to portable terminals such as smart phones, tablet PCs and laptops, camera modules are also being installed in automobiles and smart TVs.

통상적인 카메라 모듈은 하우징, 다수의 렌즈가 적층된 렌즈 배럴, CCD 또는 CMOS의 이미지 센서, 및 이들이 탑재되는 기판과 외부와 전기적 접속을 이루는 커넥터 등을 포함하여 이루어진다.A typical camera module includes a housing, a lens barrel in which a plurality of lenses are stacked, an image sensor of a CCD or a CMOS, and a connector that makes an electrical connection to the outside with a substrate on which the camera barrel is mounted.

카메라 모듈의 제조 공정에서, 조립된 카메라 모듈의 조립이 제대로 이루어졌는지 또는 카메라 모듈의 자동 촛점 기능(Auto Focusing)이 정확히 동작하는지 등에 대한 검사가 수행된다.In the manufacturing process of the camera module, a check is made as to whether the assembled camera module is assembled properly or whether the auto focus function of the camera module operates correctly.

이와 같이 카메라 모듈의 제조 공정의 신뢰도를 제고하기 위한 장치와 관련하여 한국공개특허공보 제2012-0093689호와 같이 다양한 검사 장치가 소개되고 있다.Various inspection apparatuses such as Korean Patent Laid-Open Publication No. 2012-0093689 have been introduced in relation to a device for improving the reliability of the manufacturing process of the camera module.

또한, 종래의 카메라 모듈 검사 장치를 이용한 검사 시스템은 도 1에 도시된 일련의 과정을 통해 카메라 모듈의 양불을 판정하도록 동작한다.In addition, a conventional inspection system using a camera module inspection device operates to determine whether the camera module is fully loaded through a series of processes shown in FIG.

도 1을 참조하면, 종래의 카메라 모듈 검사 시스템은 복수의 카메라 모듈로부터 촬상된 이미지를 저장한 후(S10), 이로부터 개별적인 이미지를 선택하여(S20) 카메라 모듈에 대한 특성 평가를 진행하게 된다(S30).Referring to FIG. 1, a conventional camera module inspection system stores an image captured from a plurality of camera modules (S10), selects an individual image from the images (S20), and carries out a characteristic evaluation on the camera module S30).

검사 대상이 되는 카메라 모듈에는 불량품이 존재할 수 있기 때문에 저장된 이미지 중에는 정상적인 이미지(a1, a3)과 비정상적인 이미지(a2)가 혼재되어 있을 수 있다. 여기서, 비정상적인 이미지(a2)란 육안 또는 기계적으로 검출 가능한 결함 픽셀이 발생하거나 이미지 스테인이 존재하는 이미지일 수 있다.Since defective products may exist in the camera module to be inspected, normal images a1 and a3 and abnormal images a2 may be mixed in the stored images. Here, the abnormal image a2 may be an image in which a defective pixel that can be visually or mechanically detectable occurs or an image stain exists.

종래의 카메라 모듈 검사 시스템은 선택된 이미지(a1, a2, a3)들에 기초하여 다양한 평가 항목에 대한 카메라 모듈의 특성 평가를 진행하며, 그 결과를 토대로 양불 판정을 하게 된다.The conventional camera module inspection system proceeds to evaluate the characteristics of the camera module for various evaluation items based on the selected images a1, a2, and a3, and makes a positive determination based on the results.

양불 판정은 일반적으로 각 평가 항목에 대한 기준값을 설정한 후 선택된 이미지(a1, a2, a3)에 대한 측정치가 기준값을 만족하는지 여부에 기초하여 일률적으로 판단된다.In general, the determination of uniformity is made uniformly based on whether or not the measured values of the selected images a1, a2, and a3 satisfy the reference values after setting the reference values for the respective evaluation items.

특히, 이러한 양불 판정은 알고리즘 등에 의해 자동적으로 수행되기 때문에 판정 오류를 방지하기 위해서 양불 판정의 근거가 되는 기준값은 보수적으로 설정되어야 한다.In particular, since the determination of such a bonus is automatically performed by an algorithm or the like, the reference value on which the bonus determination is based must be set conservatively in order to prevent the determination error.

이 경우, 양불 판정이 모호한 카메라 모듈은 모두 불량으로 판정될 수 밖에 없다는 한계가 있다. 예를 들어, 도 1의 이미지(a3)와 같이 육안상 관찰할 때 오차 범위 내의 결함이 있을 경우, 육안 판정시 양품으로 분류될 수 있으나, 기계적으로 자동 판정시 불량품으로 분류될 수 있다.In this case, all of the camera modules whose ambiguity judgment is ambiguous can not be determined as defective. For example, when there is a defect within an error range when the sample is visually observed as in the image (a3) of FIG. 1, it can be classified as a good product upon visual determination, but it can be classified as a defective product by mechanical determination automatically.

상술한 바와 같이 종래의 카메라 모듈에 대한 자동 검사 시스템의 한계 때문에 자동 판정 후 불량품으로 분류된 카메라 모듈에 대한 재검사가 진행되거나 자동 판정 후 불량품으로 분류된 카메라 모듈을 곧바로 폐기하는 번거로움 및 비경제적인 결과가 수반되어 이를 해결하기 위한 검사 시스템의 개발이 필요한 실정이다.As described above, due to the limitations of the automatic inspection system for the conventional camera module, the camera module classified as defective after the automatic determination is rescheduled or the camera module classified as defective after the automatic determination is immediately discarded, It is necessary to develop an inspection system for solving this problem.

본 발명은 종래의 카메라 모듈에 대한 자동 검사 시스템의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 최초 판정시 양품의 비율에 기초하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 조정을 통해 오차 범위 내의 결함이 있는 양품의 카메라 모듈이 불량품으로 판정되는 것을 방지할 수 있는 카메라 모듈 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.A camera module of a good product having a defect within an error range is adjusted by adjusting a reference value for each evaluation item based on the ratio of good products at the time of initial determination, And it is an object of the present invention to provide a camera module inspection system capable of preventing a determination as a defective product.

또한, 본 발명은 카메라 모듈에 대한 평가 결과를 저장함으로써 다양한 평가 항목에서 요구하는 기준값의 조정 후 카메라 모듈에 대한 재검사없이 양불 판정을 갱신하는 것이 가능함에 따라 검사 효용성이 향상된 카메라 모듈 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, the present invention provides a camera module inspection system with improved inspection efficiency since it is possible to update the judgment of the camera module without re-examining after adjusting the reference value required in various evaluation items by storing the evaluation result on the camera module .

또한, 본 발명은 상술한 일련의 과정에 따라 카메라 모듈에 대한 양불 판정이 갱신될 경우, 양불 판정이 갱신된 카메라 모듈이 촬상한 이미지에 대한 측정 결과를 출력하여 갱신 결과의 신뢰성을 담보하는 것이 가능한 카메라 모듈 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.Further, in the present invention, when the positive judgment on the camera module is updated according to the above-described series of processes, it is possible to secure the reliability of the update result by outputting the measurement result of the image picked up by the camera module in which the positive judgment is updated And a camera module inspection system.

아울러, 본 발명은 요구되는 카메라 모듈의 스펙에 부합하도록 다양한 평가 항목에서 요구하는 기준값을 조정함으로써 납품 가능한 카메라 모듈을 신속하게 분류하는 것이 가능한 카메라 모듈 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a camera module inspection system capable of rapidly classifying deliverable camera modules by adjusting reference values required in various evaluation items to meet specifications of required camera modules.

상술한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 측면에 따르면, 복수의 카메라 모듈로부터 촬상된 이미지가 저장되는 이미지 저장부, 상기 이미지 저장부에 저장된 이미지 중 어느 하나를 선택하는 선택부, 상기 선택부에 의해 선택된 이미지를 이용하여 상기 이미지를 촬상한 카메라 모듈에 대한 평가를 수행하는 평가부 및 상기 평가부에 의한 평가 결과를 출력하는 표시부를 포함하는 카메라 모듈 검사 시스템이 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided an image processing apparatus including an image storage unit for storing an image captured from a plurality of camera modules, a selection unit for selecting any one of images stored in the image storage unit, There is provided a camera module inspection system including an evaluating unit for evaluating a camera module that has picked up the image using an image selected by the evaluating unit, and a display unit for outputting an evaluation result by the evaluating unit.

여기서, 상기 평가부는 상기 이미지로부터 적어도 하나의 평가 항목에 대한 측정치를 산출하는 연산부, 상기 측정치를 저장하는 데이터 저장부, 상기 데이터 저장부에 저장된 측정치와 각 평가 항목에 대한 기설정된 기준값을 비교하여 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 양품 또는 불량품인지 여부를 판정하는 양불 판정부 및 상기 양불 판단부에 결정된 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 사용하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.Here, the evaluation unit may include an operation unit that calculates a measurement value for at least one evaluation item from the image, a data storage unit that stores the measurement value, and a comparison unit that compares the measurement value stored in the data storage unit with a predetermined reference value for each evaluation item, (P1) and a deviation value (? P = P1-P2) of the good reference ratio (P2) determined by the amphibious determination section and a determination result of whether or not the camera module that imaged the image is a good product or a defective product And determining whether to add or subtract a reference value for each evaluation item.

또한, 상기 표시부는 상기 제어부에 의해 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경되기 전과 변경된 후 평가 결과를 독립적으로 출력하는 것을 특징으로 한다.The display unit may be configured to independently output the evaluation results before and after the change of the reference value for an arbitrary evaluation item by the control unit.

일 실시예에 있어서, 상기 평가 항목은 결함 픽셀 유무, 이미지 스테인 유무, 렌즈 균일도 및 광축 정합도로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있으며, 이외의 카메라 모듈의 양불을 판정하기 위한 평가 항목이 더 추가되어도 무방하다.In one embodiment, the evaluation item may be at least one selected from the presence or absence of defective pixels, the presence or absence of image stains, the lens uniformity, and the optical axis matching degree, and even if an evaluation item Do.

상기 제어부는 상기 편차값(ΔP)에 근거하여 기준값을 조정할 평가 항목을 선정하고, 선정된 평가 항목에서의 기준값의 가감 수준을 결정하도록 동작한다.The control unit selects an evaluation item to adjust the reference value based on the deviation value? P, and operates to determine an addition level of the reference value in the selected evaluation item.

예를 들어, 상기 제어부는 상기 편차값(ΔP)이 음수인 경우, 상기 양불 판정부에 의해 불량품으로 판정된 카메라 모듈이 촬상한 이미지에 대한 측정치를 상기 데이터 저장부로부터 불러들여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정할 수 있다.For example, when the deviation value? P is negative, the control unit retrieves, from the data storage unit, a measurement value of an image captured by a camera module determined to be a defective by the bullying determination unit, It is possible to determine whether the reference value is increased or decreased.

이 때, 카메라 모듈에 대한 평가 항목이 복수인 경우, 상기 제어부는 상기 데이터 저장부에 저장된 측정치와 기준값이 소정의 차이 이상인 평가 항목을 기준값을 조정할 평가 항목으로 선정하고, 선정된 평가 항목에서의 기준값의 가감 수준을 결정할 수 있다.In this case, when there are a plurality of evaluation items for the camera module, the control unit selects an evaluation item having a predetermined difference or more between the measurement value stored in the data storage unit and the reference value as an evaluation item for adjusting the reference value, Can be determined.

일 실시예에 있어서, 상기 기준값의 가감 수준은 기설정된 오차 범위 내일 수 있으며, 예를 들어, 기준값의 가감 수준은 기준값이 조정된 후 양품의 비율(P1')과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP')과 기준값이 조정되기 전 편차값(ΔP)의 차이가 기설정된 오차 범위 내에 존재하도록 결정될 수 있다.In one embodiment, the addition level of the reference value may be within a preset error range. For example, the increase / decrease level of the reference value may be a deviation of the good product ratio P1 'and the good product reference ratio P2 after the reference value is adjusted The difference between the value DELTA P 'and the deviation value AP before the reference value is adjusted can be determined to be within a predetermined error range.

일 실시예에 있어서, 상기 표시부는 선택된 이미지로부터 산출된 임의의 평가 항목에 대한 측정치, 상기 평가 항목에 대한 기설정된 기준값 및 전체 이미지로부터 산출된 상기 평가 항목에 대한 측정치의 누적값 또는 평균값을 출력하도록 동작할 수 있다. 표시부에 출력된 정보를 통해 사용자로 하여금 이미지에 대한 불량 발생의 경향성을 예측할 수 있도록 할뿐만 아니라, 임의의 평가 항목에 대하여 기설정된 기준값의 변경 여부 및 변경 수준을 결정하도록 할 수 있따.In one embodiment, the display unit may output a cumulative value or an average value of a measurement value for any evaluation item calculated from the selected image, a predetermined reference value for the evaluation item, and a measurement value for the evaluation item calculated from the entire image Can operate. It is possible not only to allow the user to predict the tendency of the occurrence of defects in the image through the information output on the display unit but also to determine whether or not to change the predetermined reference value and the change level for an arbitrary evaluation item.

또한, 상기 표시부는 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경되기 전 판정된 이미지의 불량 영역과 상기 제어부에 의해 기준값이 변경된 후 판정된 이미지의 불량 영역을 독립적으로 출력함으로써, 상술한 일련의 과정에 따라 카메라 모듈에 대한 양불 판정이 갱신될 경우, 양불 판정이 갱신된 카메라 모듈이 촬상한 이미지의 갱신 여부의 신뢰성을 판단하도록 할 수 있다.The display unit may independently output the defective area of the determined image before the reference value for any evaluation item is changed and the defective area of the image determined after the reference value is changed by the control unit, When the simple determination for the camera module is updated, it is possible to judge the reliability of whether or not the image captured by the camera module with which the simple determination is updated is updated.

본 발명에 따르면, 최초 판정시 양품의 비율에 기초하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 조정을 통해 오차 범위 내의 결함이 있는 양품의 카메라 모듈이 불량품으로 판정되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 양품임에도 불구하고 불량품으로 자동 분류된 카메라 모듈에 대하여 재검사를 진행할 번거로움을 줄일 수 있으며, 특히 양품임에도 불구하고 불량품으로 자동 분류된 카메라 모듈이 폐기되는 문제를 해소하는 것이 가능하다.According to the present invention, it is possible to prevent a camera module of a good product having a defect within an error range from being determined as a defective product by adjusting the reference value for each evaluation item based on the ratio of good products at the initial determination. Accordingly, it is possible to reduce the inconvenience of re-inspection of the camera module automatically classified as a defective product even though it is a good product. In particular, it is possible to solve the problem that the camera module automatically classified as defective product is discarded even though it is a good product.

또한, 본 발명에 따르면, 카메라 모듈에 대한 평가 결과는 내장 메모리에 저장되어 데이터베이스화되기 때문에 다양한 평가 항목에서 요구하는 기준값이 조정될 경우 카메라 모듈에 대한 재검사할 필요 없이 자동적으로 재분류가 가능하다는 이점이 있다.In addition, according to the present invention, the evaluation result of the camera module is stored in the built-in memory and converted into a database. Therefore, when the reference value required by various evaluation items is adjusted, there is an advantage that the camera module can be automatically reclassed without having to re- have.

특히, 본 발명에 따르면, 카메라 모듈에서 요구되는 다양한 스펙에 맞춰 평가 항목의 기준값을 조정하는 것이 가능하며, 이 경우에도 마찬가지로 최초 평가 결과에 기초한 평가 결과로부터 카메라 모듈의 양불 판정의 갱신이 가능하다는 이점이 있다.Particularly, according to the present invention, it is possible to adjust the reference value of the evaluation item in accordance with various specifications required in the camera module, and in this case also, the merit of being able to update the positive judgment of the camera module from the evaluation result based on the initial evaluation result .

또한, 단순히 카메라 모듈의 양불 판정 결과만을 출력하는 종래의 검사 시스템과 달리, 본 발명에 따른 카메라 모듈 검사 시스템은 제어부에 의해 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경되기 전과 변경된 후 평가 결과를 이미지와 해당 이미지로부터 측정된 평가 항목의 모든 측정치를 독립적으로 출력함으로써 양불 판정의 갱신에 대한 신뢰성을 제고할 수 있다는 이점이 있다. In addition, unlike the conventional inspection system which merely outputs only the result of the determination of the camera module, the camera module inspection system according to the present invention is a system for inspecting the camera module before and after the reference value for an arbitrary evaluation item is changed, There is an advantage that it is possible to improve the reliability of update of the positive judgment by independently outputting all the measured values of the measured items measured from the image.

도 1은 종래의 카메라 모듈 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈의 양불 판정 과정의 순서도를 나타낸 것이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈 검사 시스템의 표시부에 출력된 표시 화면의 일 예를 개략적으로 나타낸 것이다.
1 schematically shows a conventional camera module inspection system.
2 is a schematic view of a camera module inspection system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart illustrating a process of determining whether or not a camera module according to an exemplary embodiment of the present invention is in a positive state.
4 and 5 are views schematically showing an example of a display screen output to a display unit of the camera module inspection system according to an embodiment of the present invention.

본 발명을 더 쉽게 이해하기 위해 편의상 특정 용어를 본원에 정의한다. 본원에서 달리 정의하지 않는 한, 본 발명에 사용된 과학 용어 및 기술 용어들은 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 의미를 가질 수 있다. Certain terms are hereby defined for convenience in order to facilitate a better understanding of the present invention. Unless otherwise defined herein, scientific and technical terms used in the present invention may have the meanings commonly understood by one of ordinary skill in the art.

또한, 문맥상 특별히 지정하지 않는 한, 단수 형태의 용어는 그것의 복수 형태도 포함하는 것이며, 복수 형태의 용어는 그것의 단수 형태도 포함할 수 있다.Also, unless the context clearly indicates otherwise, the singular form of the term includes plural forms thereof, and the plural forms of terms may include singular forms thereof.

이하, 본 발명에 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 카메라 모듈 검사 시스템에 대하여 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, a camera module inspection system according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 것이다.2 is a schematic view of a camera module inspection system according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 카메라 모듈 검사 시스템은 복수의 카메라 모듈로부터 촬상된 이미지(a1, a2, a3, …)가 저장되는 이미지 저장부, 이미지 저장부에 저장된 이미지(a1, a2, a3, …) 중 어느 하나를 선택하는 선택부, 선택부에 의해 선택된 이미지를 이용하여 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈에 대한 평가를 수행하는 평가부와 평가부에 의한 평가 결과를 출력하는 표시부를 포함하는 카메라 모듈 검사 시스템이 제공된다.2, the camera module inspection system according to the present invention includes an image storage unit for storing images a1, a2, a3, ... picked up from a plurality of camera modules, an image storage unit for storing images a1, a2, a3, ..., and an evaluation unit for performing an evaluation on the camera module that picks up the image using the image selected by the selection unit, and a display unit for outputting an evaluation result by the evaluation unit A camera module inspection system is provided.

여기서, 이미지 저장부는 복수의 카메라 모듈로부터 촬상된 2차원 이미지(a1, a2, a3, …)를 다양한 포맷으로 저장할 수 있다(S100). 또한, 이미지 저장부는 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈에 대한 정보도 이미지와 함께 저장한다.Here, the image storage unit may store the two-dimensional images (a1, a2, a3, ...) captured from the plurality of camera modules in various formats (S100). The image storage unit also stores information about the camera module that has captured the image, together with the image.

일 실시예에 있어서, 이미지 저장부는 카메라 모듈로부터 촬상된 이미지를 저장함과 동시에 촬상된 이미지로부터 검사용 이미지를 생성할 수 있다.In one embodiment, the image storage may store an image captured from the camera module and at the same time generate an image for inspection from the captured image.

이 때, 이미지 저장부는 촬상된 이미지를 소정의 비율로 축소하여 검사용 이미지를 생성할 수 있다. 예를 들어, 촬상된 이미지가 160*160의 픽셀로 이루어진 경우, 이미지 저장부는 이를 1/16으로 축소하여 10*10의 픽셀로 이루어진 검사용 이미지를 생성할 수 있다.At this time, the image storage unit may reduce the captured image to a predetermined ratio to generate an inspection image. For example, if the captured image consists of 160 * 160 pixels, the image storage unit may reduce it to 1/16 to generate a test image of 10 * 10 pixels.

촬상된 이미지를 소정의 비율로 축소하여 검사용 이미지를 생성함에 따라 촬상된 이미지 대비 검사용 이미지의 명암 대비가 더 커질 수 있으며, 이에 따라 이미지에 대한 보다 정밀한 특성 평가가 가능하다는 이점이 있다.The contrast of the image for inspection relative to the captured image can be increased by reducing the captured image at a predetermined ratio to generate an inspection image, thereby advantageously allowing a more accurate evaluation of the characteristics of the image.

이어서, 이미지 선택부는 이미지 저장부에 저장된 이미지(a1, a2, a3, …) 중 어느 하나를 선택하여 다음 평가부로 전송한다(S200).Then, the image selection unit selects one of the images a1, a2, a3, ... stored in the image storage unit and transmits the selected image to the next evaluation unit (S200).

평가부에서는 전송된 이미지에 대하여 다양한 평가 항목에 대한 특성 평가를 수행함에 따라 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈의 양불 판정을 하게 된다(S300).The evaluating unit evaluates characteristics of the various evaluation items with respect to the transmitted image, and performs a simple determination of the camera module that imaged the image (S300).

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈의 양불 판정 과정의 순서도를 나타낸 것이다.FIG. 3 is a flowchart illustrating a process of determining whether or not a camera module according to an exemplary embodiment of the present invention is in a positive state.

도 3을 참조하면, 우선 선택된 이미지의 각 평가 항목에 대한 측정치를 산출하게 된다(S301).Referring to FIG. 3, a measurement value for each evaluation item of the selected image is calculated (S301).

여기서, 이미지에 대한 평가 항목은 적어도 하나, 바람직하게는 적어도 두 개 이상일 수 있으며, 평가 항목은 결함 픽셀 유무, 이미지 스테인 유무, 렌즈 균일도 및 광축 정합도를 포함할 수 있다. 또한, 상술한 평가 항목 이외에 카메라 모듈의 양불을 판정하기 위한 평가 항목이 더 추가되어도 무방하다.Here, the evaluation items for the image may be at least one, preferably at least two or more, and the evaluation items may include the presence of defective pixels, presence of image stains, lens uniformity, and optical axis matching degree. In addition to the above-mentioned evaluation items, evaluation items for judging whether or not the camera module is ammunition may be further added.

예를 들어, 결함 픽셀 유무는 이미지로부터 소정의 사이즈(m*n 픽셀)의 관심 영역을 설정한 후, 설정된 관심 영역에서의 임의의 픽셀을 선택한 후 선택된 픽셀의 그레이 값이 기설정된 비교값보다 크거나 작은지 여부를 통해 측정될 수 있다.For example, the presence or absence of a defective pixel may be determined by setting a region of interest of a predetermined size (m * n pixels) from the image, and then selecting any pixel in the set region of interest. After the gray value of the selected pixel is larger than a predetermined comparison value Or whether it is small or not.

이 경우, 측정치는 결함 픽셀의 숫자가 되며, 기준값은 카메라 모듈이 양품으로 판정되기 위해 만족되어야 할 결함 픽셀의 최소값이 지정될 수 있다. 이에 따라, 해당 이미지로부터 측정된 결함 픽셀의 수가 기준값 이하일 경우에 한하여 해당 평가 항목(결함 픽셀 유무)에 대한 양품 판정이 날 수 있다. In this case, the measured value is the number of defective pixels, and the reference value can be specified as the minimum value of defective pixels to be satisfied for the camera module to be judged as good. Accordingly, only when the number of defective pixels measured from the image is equal to or smaller than the reference value, it is possible to judge the good product with respect to the evaluation item (presence or absence of defective pixels).

예를 들어, 이미지 스테인 유무는 이미지를 구성하는 각 픽셀의 실제 휘도값과 주변 픽셀의 휘도값의 차이(휘도차)가 기준값보다 크거나 작은지 여부를 통해 측정될 수 있다.For example, the presence or absence of an image stain can be measured by determining whether the difference (luminance difference) between the actual luminance value of each pixel constituting the image and the luminance value of the surrounding pixels is larger or smaller than the reference value.

이 경우, 휘도차가 기준값보다 클 경우 스테인으로 판정될 수 있으며, 해당 이미지 상에 스테인이 없는 경우에 한하여 해당 평가항목(이미지 스테인 유무)에 대한 양품 판정이 날 수 있다.In this case, if the luminance difference is larger than the reference value, it can be judged to be stain, and if there is no stain on the image, a good product judgment on the evaluation item (image stain presence) can be made.

예를 들어, 렌즈 균일도는 선택한 이미지의 중심에서 동심원을 이루는 복수의 필드를 지정한 후 복수의 필드 각각에서의 휘도값을 측정하여 각 필드 별로 측정된 휘도값의 편차가 기준값 이하인지 여부를 통해 측정될 수 있다.For example, the lens uniformity is determined by designating a plurality of concentric circles at the center of the selected image, then measuring the luminance value in each of the plurality of fields, and determining whether the deviation of the luminance value measured for each field is below the reference value .

또한, 광축 정합도는 이미지를 복수의 영역으로 분할한 후 각 영역에서의 휘도가 가장 큰 부분과 휘도가 가장 작은 부분의 차이가 일치하는지 여부를 통해 측정될 수 있다.Further, the degree of optical axis matching can be measured by dividing the image into a plurality of regions and then determining whether or not the difference between the portion with the largest luminance and the portion with the smallest luminance in each region coincides with each other.

상술한 바와 같이, 결함 픽셀 유무는 결함 픽셀의 수 또는 결함 픽셀의 위치, 이미지 스테인 유무는 이미지 스테인의 수 또는 이미지 스테인의 크기, 렌즈 균일도는 필드 별 휘도값의 편차, 광축 정합도는 광축의 틀어짐 정도 등이 기준값으로서 설정될 수 있다.As described above, the presence or absence of defective pixels includes the number of defective pixels, the position of defective pixels, the presence or absence of image stains, the number of image stains or the size of image stains, the uniformity of lenses, And the like can be set as reference values.

이어서, 평가부에서는 해당 이미지에 대하여 결함 픽셀의 수, 이미지 스테인의 수 또는 이미지 스테인의 크기, 필드 별 휘도값의 편차, 광축의 틀어짐 정도 등과 같은 측정치를 얻은 후 이를 이미지 및 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈에 대한 정보와 함께 데이터 저장부 내에 데이터베이스화한다(S302).Then, the evaluating unit obtains measurement values such as the number of defective pixels, the number of image stains or the size of the image stain, the deviation of the luminance value of each field, the degree of deviation of the optical axis, etc. with respect to the image, Together with information on the module, into a database in the data storage unit (S302).

다음으로, 측정이 완료된 후 양불 판정부에서는 데이터 저장부에 저장된 측정치와 각 평가 항목에 대한 기설정된 기준값을 비교하여 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 양품(P)인지 불량품(F)인지 여부를 판정하며, 양품의 비율(P1)을 산출하게 된다(S303).Next, after the measurement is completed, the recharge judgment section compares the measured value stored in the data storage section with a predetermined reference value for each evaluation item, and judges whether the camera module which imaged the image is a good product (P) or a defective product , And calculates the proportion P1 of good products (S303).

이 경우에도 종래의 카메라 모듈 검사 시스템과 마찬가지로 육안상 관찰할 때 오차 범위 내의 결함이 존재하는 것에 불과하여 육안 판정시 양품으로 분류될 수 있으나, 불량품으로 자동 분류된 이미지(a3)가 존재할 수 있다.In this case, as in the conventional camera module inspection system, there is a defect within an error range when it is observed with naked eyes, so that it can be classified as a good product at the time of visual determination, but an image a3 automatically classified as a defective product may exist.

이에 따라, 본 발명에 따르면, 제어부(S400)는 양불 판단부에 결정된 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)에 기초하여 평가 항목에 대한 기준값을 조정함으로써, 오차 범위 내의 결함이 있는 양품의 카메라 모듈이 불량품으로 판정된 경우, 이를 다시 양품으로 판정 결과를 변경하는 것이 가능하다.Thus, according to the present invention, the control unit S400 sets the reference value for the evaluation item on the basis of the ratio P1 of the good product determined in the pricing determination unit and the deviation value? P = P1-P2 between the good reference ratio P2 If the camera module of the defective good having an error within the error range is determined to be a defective product, it is possible to change the determination result to a good product again.

이를 통해, 양품임에도 불구하고 불량품으로 자동 분류된 카메라 모듈에 대하여 재검사를 진행할 번거로움을 줄일 수 있으며, 특히 양품임에도 불구하고 불량품으로 자동 분류된 카메라 모듈이 폐기되는 문제를 해소하는 것이 가능하다.Accordingly, it is possible to reduce the inconvenience of re-inspection of the camera module that is automatically classified as a defective product even though it is a good product, and it is possible to solve the problem that the camera module that is automatically classified as a defective product is discarded.

이 경우, 카메라 모듈에 대한 평가 결과는 데이터 저장부에 데이터베이스화되어 있으므로, 특정 평가 항목에 대한 기준값이 조정되더라도 카메라 모듈에 대한 재검사를 수행할 필요 없이 자동적으로 양품과 불량품 사이에서의 재분류가 가능하다.In this case, since the evaluation result of the camera module is stored in the data storage section, even if the reference value for the specific evaluation item is adjusted, the camera module can be automatically reclassified between the good product and the defective product without re- Do.

따라서, 양품의 비율(P1)이 산출된 경우, 제어부는 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 사용하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하게 된다(S304).Therefore, when the proportion P1 of good parts is calculated, the control part determines whether or not the reference value for each evaluation item is increased or decreased by using the ratio P1 of the good part and the deviation value? P = P1-P2 between the good part ratio P2 (S304).

예를 들어, 양품의 비율(P1)이 양품 기준 비율(P2)을 초과할 경우(즉, 편차값(ΔP)이 양수인 경우), 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 없이 검사를 종료할 수 있다.For example, when the ratio P1 of good products exceeds the good reference ratio P2 (that is, when the deviation value? P is positive), the inspection can be ended without adding or subtracting the reference value for each evaluation item.

다른 예에 따르면, 양품의 비율(P1)이 양품 기준 비율(P2)을 초과하더라도 불량품으로 오판정된 카메라 모듈(예를 들어, 도 2의 이미지 a3)을 탐색하기 위해 기준값의 가감을 통해 양불 판정 결과를 갱신할 수 있다.According to another example, in order to search for a camera module (for example, image a3 in Fig. 2) judged as a defective product even if the proportion P1 of good products exceeds the good reference ratio P2, The result can be updated.

특히, 본 발명의 바람직한 예에 따르면, 양품의 비율(P1)이 양품 기준 비율(P2) 미만인 경우(즉, 편차값(ΔP)이 음수인 경우), 각 평가 항목에 대한 기준값의 조정을 통해 양불 판정 결과를 갱신할 수 있다.Particularly, according to a preferred example of the present invention, when the ratio P1 of good parts is less than the good reference ratio P2 (i.e., when the deviation value? P is negative) The determination result can be updated.

양불 판정 결과의 갱신 절차(S400)는 각 평가 항목에 대한 기준값이 조정이 이루어진 후 조정된 기준값을 토대로 카메라 모듈에 대한 재검사를 수행하는 방식으로 진행되는 것이 아니라 조정된 기준값을 데이터 저장부에 저장된 데이터베이스에 적용하여 양불 판정 결과를 갱신하도록 수행된다.In the update procedure S400 of the determination result of the amendment result, the reference value for each evaluation item is not resampled to the camera module based on the adjusted reference value after the adjustment, but the adjusted reference value is stored in the database And the result of the positive judgment is updated.

일 실시예에 있어서, 양불 판정 결과의 갱신 절차(S400)는 불량품으로 판정된 카메라 모듈이 촬상한 이미지에 대한 측정치를 데이터 저장부로부터 추출함으로써 개시될 수 있다(S401). 즉, 양품으로 판정된 카메라 모듈을 대상으로 삼지 않고 불량품으로 판정된 카메라 모듈 중 양품으로 분류될 수 있는 카메라 모듈을 대상으로 삼는다는 점에서 검사의 효용성을 제고할 수 있다.In one embodiment, the update procedure S400 of the positive determination result may be started by extracting a measurement value for the image captured by the camera module determined to be defective from the data storage unit (S401). That is, it is possible to improve the efficiency of the inspection in that the camera module that is classified as a good product among the camera modules judged to be defective can be used as an object without considering the camera module judged as a good product.

이어서, 복수의 평가 항목 중 데이터 저장부에 저장된 측정치가 기준값을 만족시키거나 측정치가 기준값의 알고리즘적 오차 범위 내에 존재하는 평가 항목은 기준값의 조정 대상에서 제외하고, 측정치와 기준값이 소정의 차이 이상인 평가 항목을 기준값을 조정할 평가 항목으로 선정할 수 있다(S402).Then, among the plurality of evaluation items, the evaluation item in which the measurement value stored in the data storage unit satisfies the reference value or the measurement value is within the algorithmic error range of the reference value is excluded from the adjustment target of the reference value, and the evaluation value The item can be selected as an evaluation item to adjust the reference value (S402).

이 때, 기준값을 조정할 평가 항목으로 선정되기 위해 필요한 측정치와 기준값의 차이의 기준은 알고리즘적 오차 범위를 넘어서나 육안상 허용 가능한 오차 범위 내로 결정될 수 있다. 이에 따라, 기준값이 조정되더라도 육안상 불량품으로 판정 가능한 카메라 모듈이 양품으로 판정되는 것을 방지할 수 있다.At this time, the criterion for the difference between the measured value and the reference value required to be selected as the evaluation item to adjust the reference value may be determined within an allowable error range beyond the algorithmic error range or visually. Thus, even if the reference value is adjusted, it is possible to prevent the camera module which can be judged as a defective product to be determined as a good product.

또한, 양불 판정 결과의 갱신에 대한 신뢰성을 제고하기 위해 복수의 평가 항목 중 육안상 허용 가능한 오차 범위를 넘어선 측정치를 나타낸 평가 항목이 어느 하나라도 존재할 경우, 양불 판정 결과의 갱신 대상에서 미리 제외시킬 수 있다.When there is any one of the plurality of evaluation items that has the measurement value exceeding the allowable error range of the naked eye in order to improve the reliability of the update of the determination result of the positive decision, have.

예를 들어, 결함 픽셀의 수가 1개인 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 10개이고, 결함 픽셀의 수가 2개인 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 10개로서 총 20개의 카메라 모듈이 불량품으로 판정된 경우, 결함 픽셀의 수가 2개 이상인 이미지를 촬상한 카메라 모듈은 양불 판정 결과의 갱신 대상에서 제외시킨 후 결함 픽셀의 수가 1개인 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 10개를 대상으로 기준값의 조정 여부를 결정할 수 있다.For example, if there are 10 camera modules that capture an image having one defective pixel, and 10 camera modules that capture an image having two defective pixels, and a total of 20 camera modules are determined to be defective, The camera module that imaged an image having two or more defective pixels can determine whether or not the reference value is adjusted for ten camera modules that have captured an image having one defective pixel after removing the defective determination result from the update target.

선정된 평가 항목에서의 기준값의 가감 수준은 기설정된 오차 범위(예를 들어, 육안상 허용 가능한 오차 범위) 내로 결정되는 것이 바람직하다(S403). 또한, 기준값의 가감 수준은 예를 들어, 기준값이 조정된 후 양품의 비율(P1')과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP')과 기준값이 조정되기 전 편차값(ΔP)의 차이가 기설정된 오차 범위 내에 존재하도록 결정될 수 있다.It is preferable that the addition level of the reference value in the selected evaluation item is determined within a predetermined error range (for example, an allowable error range visually) (S403). Further, the degree of addition and / or subtraction of the reference value can be determined, for example, by a difference between the deviation of the good product P1 'and the deviation of the good reference ratio P2 after the reference value is adjusted and the deviation value AP before the reference value is adjusted May be determined to be within a predetermined error range.

상술한 바와 같이, 특정 평가 항목에서 기준값이 조정된 경우, 변경된 기준값을 토대로 양불 판정 결과의 갱신 대상인 카메라 모듈에 대한 재검사가 수행되는 것이 아니라 대상 카메라 모듈에 대한 측정치를 데이터 저장부로부터 추출한 후 변경된 기준값을 토대로 양불 판정을 갱신하게 된다(S404).As described above, in the case where the reference value is adjusted in the specific evaluation item, the camera module to be updated is not re-inspected based on the changed reference value, but the measurement value for the target camera module is extracted from the data storage unit, (S404). ≪ / RTI >

이에 따라, 새로운 양품의 비율(P1')이 산출된 경우, 제어부는 양품의 비율(P1')과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1'-P2)을 사용하여 기준값의 재조정없이 검사를 종료할지 또는 기준값의 재조정을 수행할지 여부를 결정하게 된다(S405).Accordingly, when the new good product ratio P1 'is calculated, the control unit can calculate the new good product ratio P1' by using the ratio P1 'of the good product and the deviation value ΔP = P1'-P2 of the good reference ratio P2 without re- It is determined whether to end the inspection or to readjust the reference value (S405).

측정이 완료된 후 양불 판정부에서는 데이터 저장부에 저장된 측정치와 각 평가 항목에 대한 기설정된 기준값을 비교하여 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 양품(P)인지 불량품(F)인지 여부를 판정하며, 양품의 비율(P1)을 산출하게 되거나(S303), 변경된 기준값을 토대로 양불 판정 결과의 갱신 대상인 카메라 모듈에 대한 재검사가 수행되는 것이 아니라 대상 카메라 모듈에 대한 측정치를 데이터 저장부로부터 추출한 후 변경된 기준값을 토대로 양불 판정을 갱신하게 된(S404) 경우, 이러한 결과는 표시부에 출력됨으로써 사용자로 하여금 카메라 모듈에 대한 양불 판정 결과를 확인하도록 한다.After the measurement is completed, the recharge judgment section compares the measured value stored in the data storage section with a predetermined reference value for each evaluation item, and judges whether the camera module which imaged the image is a good article (P) or a defective article (F) (S303). Based on the changed reference value, the camera module to be updated is not re-inspected. Instead, the measured value of the target camera module is extracted from the data storage unit, and based on the changed reference value In the case where the judgment of the simple judgment is made (S404), such a result is output to the display unit, thereby allowing the user to confirm the result of the judgment of the monopoly judgment on the camera module.

이 때, 단순히 카메라 모듈의 양불 판정 결과만을 출력하는 종래의 검사 시스템과 달리, 본 발명에 따른 카메라 모듈 검사 시스템의 표시부는 카메라 모듈에 대한 양불 판정 결과뿐만 아니라, 어떠한 기준에 의해 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 양불 판정을 받았는지에 대한 정보도 독립적으로 출력함으로써 검사 결과에 대한 신뢰성을 제고할 수 있도록 한다.At this time, unlike the conventional inspection system which merely outputs only the determination result of the camera module, the display unit of the camera module inspection system according to the present invention displays not only the result of the determination on the camera module but also the determination of the image The information about whether the camera module has been judged as being ambulatory is also output independently, thereby enhancing the reliability of the test result.

도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 카메라 모듈 검사 시스템의 표시부에 출력된 표시 화면의 일 예를 개략적으로 나타낸 것이다.4 and 5 are views schematically showing an example of a display screen output to a display unit of the camera module inspection system according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 표시부(D)는 선택된 이미지에 대한 측정 결과를 이미지 상에 출력하는 제1 표시부(D1)와 선택된 이미지에 대한 측정치를 그래프 등과 같은 다양한 수단을 통해 출력하는 제2 표시부(D2)를 포함한다.4, the display unit D includes a first display unit D1 for outputting measurement results of the selected image on an image, a second display unit D2 for outputting measurement values of the selected image through various means such as a graph, ).

여기서, 제1 표시부(D1)는 이미지 저장부에 저장된 이미지(I1)와 해당 이미지에 대하여 결함 픽셀의 수, 이미지 스테인의 수 또는 이미지 스테인의 크기, 필드 별 휘도값의 편차 또는 광축의 틀어짐 등을 표시한 이미지(I2, I2')와 이미지 저장부에 저장된 이미지 상에 불량 영역(FA)을 표시한 이미지(I3) 등을 선택적으로 출력할 수 있다.Here, the first display unit D1 displays the number of defective pixels, the number of image stains, the size of the image stain, the deviation of the brightness value of each field, or the deviation of the optical axis, etc., with respect to the image I1 stored in the image storage unit It is possible to selectively output the displayed images I2 and I2 'and the image I3 indicating the defective area FA on the image stored in the image storage unit.

이에 따라, 제1 표시부(D1)에 출력된 다양한 형태의 이미지로부터 사용자는 결함 픽셀의 수, 이미지 스테인의 수 또는 이미지 스테인의 크기, 필드 별 휘도값의 편차 또는 광축의 틀어짐 등을 표시한 이미지(I2, I2')와 불량 영역(FA)이 표시된 이미지(I3)를 비교함으로써 불량 영역(FA)으로 지정된 이미지 상의 결함이 육안으로 관찰이 가능한지 여부, 즉 불량 영역(FA)으로 지정된 이미지 상의 결함이 육안상 허용 가능한 오차 범위 내인지 여부를 확인할 수 있다.Accordingly, from the various types of images output to the first display unit D1, the user can select an image (for example, the number of defective pixels, the number of image stains or the size of the image stain, the deviation of the luminance value for each field, It is determined whether or not the defect on the image designated as the defective area FA can be visually observed by comparing the defective area FA with the image I3 indicated by the defective area FA, It can be confirmed whether or not it is within an allowable error range.

또한, 제1 표시부(D1)와 함께 평가 결과를 출력하는 제2 표시부(D2)는 선택된 이미지에 대한 측정치를 그래프 등과 같은 다양한 수단을 통해 출력하게 되며, 이 때, 제2 표시부(D2)를 통해 출력되는 정보는 선택된 이미지로부터 산출된 임의의 평가 항목에 대한 측정치(예를 들어, 결함 픽셀의 수, 이미지 스테인의 수 또는 이미지 스테인의 크기, 필드 별 휘도값의 편차(밝기차) 또는 광축의 틀어짐 정도), 상기 평가 항목에 대한 기설정된 기준값 및 전체 이미지로부터 산출된 상기 평가 항목에 대한 측정치의 누적값 또는 평균값을 모두 출력한다.The second display unit D2, which outputs the evaluation result together with the first display unit D1, outputs the measured values of the selected image through various means such as a graph or the like. At this time, the second display unit D2 The information to be output may include a measurement (for example, the number of defective pixels, the number of image stains or the size of the image stain, the deviation (luminance difference) of the luminance value per field or the deviation , A predetermined reference value for the evaluation item, and an accumulated value or an average value of the measurement value for the evaluation item calculated from the entire image.

예를 들어, G1은 선택된 이미지로부터 산출된 필드 별 휘도값의 편차 또는 밝기차(a)를 나타낸 그래프이다. G1 내 그래프에는 기설정된 기준값(S)이 표시됨으로써 선택된 이미지로부터 측정된 밝기차(a)가 기설정된 기준값(S)을 충족시키는지 여부를 사용자로 하여금 확인할 수 있도록 한다.For example, G1 is a graph showing the deviation or brightness difference (a) of the luminance value for each field calculated from the selected image. A predetermined reference value S is displayed on the graph in G1 so that the user can confirm whether the measured brightness difference a from the selected image satisfies a preset reference value S. [

또한, 제2 표시부(D2)는 선택된 이미지에 대한 측정치 그래프(G1)와 함께 해당 평가 항목(도 4에서는 밝기차에 해당함)에 대하여 데이터 저장부에 저장된 전체 이미지의 측정치 그래프(G2)를 동시에 출력한다.In addition, the second display unit D2 simultaneously outputs the measured value graph G2 of the entire image stored in the data storage unit for the evaluation item (corresponding to the brightness difference in Fig. 4) along with the measured value graph G1 for the selected image do.

측정치 그래프(G2)에는 전체 이미지에 대한 밝기차(b)의 누적값 또는 평균값이 기록되며, 마찬가지로 밝기차(b)가 기설정된 기준값(S)을 충족시키는지 여부를 확인할 수 있도록 한다. 또한, 측정치 그래프(G2)에는 전체 이미지에 대한 밝기차(b)의 경향성을 나타내므로, 기준값(S)의 변경에 따라 양품 비율이 변화되는 척도를 예측할 수 있는 기준을 제공할 수 있다.The cumulative value or average value of the brightness difference b with respect to the entire image is recorded in the measured value graph G2 so that it is possible to confirm whether or not the brightness difference b satisfies the predetermined reference value S as well. In addition, since the measured value graph G2 shows the tendency of the brightness difference b with respect to the entire image, it is possible to provide a criterion for predicting the scale at which the good product ratio changes according to the change of the reference value S.

추가적으로, 도 5를 참조하면, 표시부(D)는 제어부에 의해 임의의 평가 항목(도 5에서는 밝기차에 해당함)에 대한 기준값이 변경되기 전과 변경된 후 평가 결과를 이미지와 해당 이미지로부터 측정된 평가 항목의 모든 측정치를 독립적으로 출력함으로써 양불 판정의 갱신이 신뢰할 수 있는 수준으로 수행되었는지 여부를 확인할 수 있도록 한다.5, the display unit D displays the evaluation result before and after the reference value for the arbitrary evaluation item (corresponding to the brightness difference in FIG. 5) is changed by the control unit, So that it is possible to confirm whether or not the update of the positive judgment is performed at a reliable level.

예를 들어, 제3 표시부(D3)는 제어부에 의해 밝기차에 대한 기준값(S)이 변경되기 전 불량 영역(FA)이 존재하는지 여부가 표시되는 이미지(I3)와 해당 이미지(I3)로부터 측정된 밝기차(a)와 기설정된 기준값(S)을 확인할 수 있는 그래프(G1)가 제공된다. 여기서, 밝기차의 기준값이 20일 경우, 이미지(I3)에 불량 영역(FA)이 존재하는 것을 확인할 수 있다. For example, the third display unit D3 may display the image I3 indicating whether or not the defective area FA exists before the reference value S for the brightness difference is changed by the control unit, A graph G1 for confirming the brightness difference a and the preset reference value S is provided. Here, when the reference value of the brightness difference is 20, it can be confirmed that the defective area FA exists in the image I3.

제4 표시부(D4)는 제어부에 의해 밝기차에 대한 기준값(S)이 변경된 후 불량 영역(FA)이 존재하는지 여부가 표시되는 이미지(I4)와 해당 이미지(I4)로부터 측정된 밝기차(a)와 변경된 기준값(S)을 확인할 수 있는 그래프(G3)가 제공된다. The fourth display unit D4 displays the image I4 indicating whether or not the defective area FA exists after the reference value S for the brightness difference is changed by the control unit and the brightness difference a And a graph G3 for confirming the changed reference value S are provided.

기준값(S)이 변경됨에 따라 해당 이미지(I4)로부터는 기준값(S)이 변경되기 전 이미지(I3)에 존재하는 불량 영역(FA)은 이미지(I4)로부터 제거된 것을 확인할 수 있다.As the reference value S is changed, it can be confirmed from the image I4 that the defective area FA existing in the image I3 before the reference value S is changed is removed from the image I4.

또한, 제어부에 의해 밝기차에 대한 기준값(S)이 자동으로 변경된다 할지라도 사용자는 제3 표시부(D3) 또는 제4 표시부(D4)에 포함된 컨트롤 박스(CB)를 사용하여 기준값(S)을 임의로 변경할 수 있으며, 기준값(S)의 변경에 따른 불량 영역(FA)의 존재 여부를 확인할 수 있다. 또한, 이를 통해 불량 영역(FA)으로 지정된 이미지 상의 결함이 육안상 허용 가능한 오차 범위 내인지 여부를 기준값(S)의 변경을 통해 확인하는 것이 가능하다. Even if the reference value S for the brightness difference is automatically changed by the control unit, the user can set the reference value S using the control box CB included in the third display unit D3 or the fourth display unit D4, Can be arbitrarily changed, and it is possible to confirm whether or not there is a defective area FA due to the change of the reference value S. It is also possible to confirm whether or not the defect on the image designated as the defective area FA is within the allowable error range through the change of the reference value S through this.

도 4 및 도 5는 하나의 평가 항목에 대한 결과만을 도시하고 있으나, 필요에 따라 선택된 이미지에 대한 전체 평가 항목에 대한 측정치를 모두 출력할 수 있다. 즉, 제어부 또는 사용자에 의해 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경된 후 판정 결과가 불량품에서 양품으로 변경된 카메라 모듈에 의해 촬상된 이미지와 해당 이미지에 대한 전체 평가 항목의 측정 결과를 출력함으로써 상술한 일련의 과정을 통한 양불 판정의 갱신이 신뢰할 수 있는 수준의 것인지 여부를 확인하는 것이 가능하다.FIGS. 4 and 5 show only the results of one evaluation item, but it is possible to output all of the measurements for the entire evaluation items for the selected image as necessary. That is, by outputting the image captured by the camera module whose determination result is changed from the defective product to the good product after the reference value for an arbitrary evaluation item is changed by the control unit or the user and the measurement result of the entire evaluation item for the image, It is possible to ascertain whether the update of the amicable determination through the process is of a reliable level.

또한, 복수의 평가 항목들에 대한 측정치 사이의 관계가 서로 의존적인지 또는 독립적인지 여부를 확인하는 것이 가능하다.It is also possible to ascertain whether the relationships between measurements for a plurality of evaluation items are dependent on each other or independent of each other.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부는 양불 판단부에 결정된 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 사용하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하도록 작동한다.According to an embodiment of the present invention, the control unit calculates the difference (? P = P1-P2) between the good product ratio P1 determined in the pricing determination unit and the deviation value? P = ≪ / RTI >

이 때, 본 발명의 다른 변형예는 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 조정함으로써 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하도록 할 수 있다.At this time, another modification of the present invention can determine whether or not the reference value for each evaluation item is increased or decreased by adjusting the deviation value (? P = P1-P2) between the good product ratio P1 and the good reference ratio P2 have.

이 경우, 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 조정함에 따라 판정 결과가 불량품에서 양품으로 변경된 카메라 모듈에 의해 촬상된 이미지와 해당 이미지에 대한 전체 평가 항목의 측정 결과를 출력함으로써 양불 판정의 갱신이 신뢰할 수 있는 수준의 것인지 여부를 확인하는 것이 가능하다In this case, by adjusting the deviation value (? P = P1-P2) between the good product ratio (P1) and the good reference ratio (P2), the image obtained by the camera module changed from the defective product to the good product, It is possible to check whether or not the update of the positive judgment is of a reliable level by outputting the measurement result of the entire evaluation item

이상, 본 발명의 일 실시예에 대하여 설명하였으나, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서, 구성 요소의 부가, 변경, 삭제 또는 추가 등에 의해 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있을 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위 내에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit of the invention as set forth in the appended claims. The present invention can be variously modified and changed by those skilled in the art, and it is also within the scope of the present invention.

Claims (10)

복수의 카메라 모듈로부터 촬상된 이미지가 저장되는 이미지 저장부;
상기 이미지 저장부에 저장된 이미지 중 어느 하나를 선택하는 선택부;
상기 선택부에 의해 선택된 이미지를 이용하여 상기 이미지를 촬상한 카메라 모듈에 대한 평가를 수행하는 평가부; 및
상기 평가부에 의한 평가 결과를 출력하는 표시부;
를 포함하되,
상기 평가부는,
상기 이미지로부터 적어도 하나의 평가 항목에 대한 측정치를 산출하는 연산부;
상기 측정치를 저장하는 데이터 저장부;
상기 데이터 저장부에 저장된 측정치와 각 평가 항목에 대한 기설정된 기준값을 비교하여 해당 이미지를 촬상한 카메라 모듈이 양품 또는 불량품인지 여부를 판정하는 양불 판정부; 및
상기 양불 판단부에 결정된 양품의 비율(P1)과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP=P1-P2)을 사용하여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하는 제어부;
를 포함하며,
상기 표시부는 상기 제어부에 의해 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경되기 전과 변경된 후 평가 결과를 독립적으로 출력하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
An image storage unit for storing images captured from a plurality of camera modules;
A selection unit for selecting any one of the images stored in the image storage unit;
An evaluating unit for evaluating a camera module that has captured the image using the image selected by the selecting unit; And
A display unit for outputting an evaluation result by the evaluation unit;
, ≪ / RTI &
The evaluating unit,
An operation unit for calculating a measurement value for at least one evaluation item from the image;
A data storage unit for storing the measurement values;
A recharge determination unit for comparing the measured value stored in the data storage unit with a preset reference value for each evaluation item to determine whether the camera module that imaged the image is a good or defective product; And
A control unit for determining whether or not the reference value for each evaluation item is added or subtracted using the ratio (P1) of the good product determined in the monopolizing determination unit and the deviation value (? P = P1-P2) between the good reference ratio (P2)
/ RTI >
Wherein the display unit independently outputs the evaluation result before and after the reference value for an arbitrary evaluation item is changed by the control unit,
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 평가 항목은 결함 픽셀 유무, 이미지 스테인 유무, 렌즈 균일도 및 광축 정합도로부터 선택되는 적어도 하나인,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein the evaluation item is at least one selected from the presence or absence of defective pixels, presence or absence of image stains, lens uniformity,
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 제어부는 상기 편차값(ΔP)에 근거하여 기준값을 조정할 평가 항목을 선정하고, 선정된 평가 항목에서의 기준값의 가감 수준을 결정하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein the control unit selects an evaluation item to adjust the reference value based on the deviation value? P and determines an addition level of the reference value in the selected evaluation item,
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 편차값(ΔP)이 음수인 경우, 상기 양불 판정부에 의해 불량품으로 판정된 카메라 모듈이 촬상한 이미지에 대한 측정치를 상기 데이터 저장부로부터 불러들여 각 평가 항목에 대한 기준값의 가감 여부를 결정하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein,
When the deviation value? P is negative, a measurement value for an image picked up by the camera module judged as a defective product by the monochromic determination unit is fetched from the data storage unit and it is determined whether or not the reference value for each evaluation item is added or subtracted ,
Camera module inspection system.
제4항에 있어서,
상기 평가 항목이 복수인 경우,
상기 제어부는 상기 데이터 저장부에 저장된 측정치와 기준값이 소정의 차이 이상인 평가 항목을 기준값을 조정할 평가 항목으로 선정하고, 선정된 평가 항목에서의 기준값의 가감 수준을 결정하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
5. The method of claim 4,
When there are a plurality of the evaluation items,
Wherein the control unit selects an evaluation item in which the measured value and the reference value stored in the data storage unit are equal to or greater than a predetermined difference as an evaluation item for adjusting the reference value and determines an addition level of the reference value in the selected evaluation item,
Camera module inspection system.
제5항에 있어서,
상기 기준값의 가감 수준은 기설정된 오차 범위 내인,
카메라 모듈 검사 시스템.
6. The method of claim 5,
Wherein the additive level of the reference value is within a predetermined error range,
Camera module inspection system.
제5항에 있어서,
상기 기준값의 가감 수준은 기준값이 조정된 후 양품의 비율(P1')과 양품 기준 비율(P2)의 편차값(ΔP')과 기준값이 조정되기 전 편차값(ΔP)의 차이가 기설정된 오차 범위 내에 존재하도록 결정되는,
카메라 모듈 검사 시스템.
6. The method of claim 5,
The difference value ΔP 'between the good product ratio P1' and the good reference ratio P2 after the reference value is adjusted and the difference value ΔP before the reference value is adjusted is set to a predetermined error range ≪ / RTI >
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 표시부는,
선택된 이미지로부터 산출된 임의의 평가 항목에 대한 측정치;
상기 평가 항목에 대한 기설정된 기준값; 및
전체 이미지로부터 산출된 상기 평가 항목에 대한 측정치의 누적값 또는 평균값;
을 출력하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The display unit includes:
A measure for any evaluation item computed from the selected image;
A predetermined reference value for the evaluation item; And
An accumulated value or an average value of the measurement value for the evaluation item calculated from the entire image;
Lt; / RTI >
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 표시부는,
임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경되기 전 판정된 이미지의 불량 영역과 상기 제어부에 의해 기준값이 변경된 후 판정된 이미지의 불량 영역을 독립적으로 출력하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The display unit includes:
And outputting the defective area of the determined image before the reference value for the arbitrary evaluation item is changed and the defective area of the image determined after the reference value is changed by the control unit,
Camera module inspection system.
제1항에 있어서,
상기 표시부는,
상기 제어부에 의해 임의의 평가 항목에 대한 기준값이 변경된 후 판정 결과가 불량품에서 양품으로 변경된 카메라 모듈에 의해 촬상된 이미지와 상기 이미지에 대한 전체 평가 항목의 측정 결과를 출력하는,
카메라 모듈 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The display unit includes:
And outputting a result of measurement of an image taken by a camera module whose determination result is changed from a defective product to a good product after the reference value for an arbitrary evaluation item is changed by the control unit,
Camera module inspection system.
KR1020160079953A 2016-06-27 2016-06-27 System for testing camera module KR20180001679A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160079953A KR20180001679A (en) 2016-06-27 2016-06-27 System for testing camera module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160079953A KR20180001679A (en) 2016-06-27 2016-06-27 System for testing camera module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20180001679A true KR20180001679A (en) 2018-01-05

Family

ID=61001718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160079953A KR20180001679A (en) 2016-06-27 2016-06-27 System for testing camera module

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20180001679A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110493487A (en) * 2019-08-22 2019-11-22 苏州浪潮智能科技有限公司 A kind of data processing method, device and system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110493487A (en) * 2019-08-22 2019-11-22 苏州浪潮智能科技有限公司 A kind of data processing method, device and system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7974458B2 (en) System and method for detecting defects in camera modules
CN101329281B (en) System and method for testing image sensing wafer stain and
CN107580710B (en) For enhancing the system and method for the inspection sensitivity of the instruments of inspection
JP7005930B2 (en) Sheet inspection equipment and inspection system
KR101036066B1 (en) Wafer containing cassette inspection device and method
CN106254860A (en) The calibration steps of the calibrating installation of photographing unit, camera arrangement and photographing unit
US10514685B2 (en) Automatic recipe stability monitoring and reporting
CN114255233B (en) Speckle pattern quality evaluation method and device, electronic device and storage medium
KR20080003719A (en) Semiconductor substrate defects detection device and method of detection of defects
US20190244336A1 (en) Defect inspection apparatus and defect inspection method
KR20140125262A (en) Crack measuring device
JP2008032491A (en) Inspection system, test method, inspection program, and computer-readable storage medium
JP2006208084A (en) Inspection device for irregularities in cyclic pattern
KR20180000376A (en) System for testing camera module
CN103297799B (en) Testing an optical characteristic of a camera component
CN100470239C (en) Projection test device and method
KR20180001679A (en) System for testing camera module
CN109997028B (en) Method and apparatus for adjusting determination condition of whether or not inspection object is good
KR20180038857A (en) Visual inspection apparatus and method of optical calibration of the same
KR20200081541A (en) Imaging apparatus and driving method of the same
JP4901246B2 (en) Spectral luminance distribution estimation system and method
JP2004144610A (en) Wafer defect inspection apparatus
WO2009107365A1 (en) Test method and test device for compound-eye distance measuring device and chart used therefor
US20230222646A1 (en) Automated visual-inspection system
JP2012185030A (en) Color unevenness determination device, color unevenness determination method and display device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal