KR20170080335A - Organic light emitting display device, and method and apparatus for controlling the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제어 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명에서는 암점의 발생으로 인해 인접 서브 픽셀까지 이상이 발생하게 되어 라인 결함이 발생하는 현상을 방지하기 위하여, 센싱 전압의 측정을 통해 서브 픽셀의 단락 여부를 확인한다. 그리고 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 인접 서브 픽셀들에 대한 센싱 모드를 수행할 때 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킴으로써 인접 서브 픽셀들에 결함이 생기는 것을 방지한다.The present invention relates to an organic light emitting display and a method and apparatus for controlling the same. In the present invention, in order to prevent occurrence of a line defect due to an occurrence of an abnormality up to adjacent sub-pixels due to the occurrence of a dark spot, it is checked whether a sub-pixel is short-circuited by measuring a sensing voltage. If it is determined that a short-circuit occurs in the sub-pixel, when the sensing mode for the adjacent sub-pixels is performed, the potential of the scan line connected to the adjacent sub-pixel and the potential of the reference voltage line remain the same, To prevent it from occurring.

Description

유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제어 방법 및 장치{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and an organic light emitting diode (OLED) display device,

본 발명은 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제어 방법 및 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an organic light emitting display and a method and apparatus for controlling the same.

휴대전화, 태블릿PC, 노트북 등을 포함한 다양한 종류의 전자제품에는 평판 표시 장치(FPD : Flat Panel Display Device)가 이용되고 있다. 평판 표시 장치에는, 액정 표시 장치(LCD : Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(PDP : Plasma Display Panel Device), 유기 발광 표시 장치(OLED : Organic Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기 영동 표시 장치(EPD : Electrophoretic Display Device)도 널리 이용되고 있다.Flat panel display devices (FPDs) are used in various types of electronic products including mobile phones, tablet PCs, and notebook computers. Examples of the flat panel display include a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting display (OLED). Recently, Electrophoretic display devices (EPD) are also widely used.

이중, 유기 발광 표시 장치(OLED)는 유기 발광 표시 장치는 전자와 정공의 재결합을 이용하여 유기 발광 다이오드를 발광시켜 영상을 표시하는 자발광 장치로서, 고속의 응답속도와 낮은 소비전력을 가지고 있으며, 자체 발광 소자를 이용하고 있기 때문에 우수한 시야각을 가지고 있다. 따라서, 유기 발광 표시 장치는 차세대 평판 표시 장치로 주목받고 있다.In the organic light emitting display (OLED), an organic light emitting diode (OLED) displays an image by emitting an organic light emitting diode (OLED) using recombination of electrons and holes. The organic light emitting display has a high response speed and low power consumption, Since it uses a self-luminous element, it has an excellent viewing angle. Therefore, the organic light emitting display device is attracting attention as a next generation flat panel display.

그러나, 종래의 유기 발광 표시 장치는 공정 편차 등의 이유에 의해, 픽셀마다 구동 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)과 전자 이동도(mobility) 등의 특성 편차가 발생한다. 따라서, 각각의 유기 발광 다이오드를 구동하는 전류량이 달라지게 되고 이로 인해 픽셀들 간에 휘도 편차가 발생한다. 이와 같은 휘도 편차를 개선하기 위하여 구동 트랜지스터 또는 유기 발광 다이오드의 특성을 센싱하고 센싱 결과에 따라 입력 전압 또는 입력 전류를 보상하는 외부 보상 방법이 적용되고 있다.However, in the conventional organic light emitting diode display device, a characteristic deviation such as a threshold voltage (Vth) and an electron mobility of the driving transistor occurs for each pixel due to a process deviation or the like. Therefore, the amount of current for driving each organic light emitting diode is changed, thereby causing a luminance deviation between the pixels. In order to improve the luminance deviation, an external compensation method of sensing the characteristics of the driving transistor or the organic light emitting diode and compensating the input voltage or the input current according to the sensing result is applied.

도 1은 유기 발광 표시 장치에 포함되는 픽셀들의 구성을 나타낸 예시도이다.FIG. 1 is a diagram illustrating an exemplary configuration of pixels included in an OLED display. Referring to FIG.

외부 보상 방법을 이용하고 있는 종래의 유기 발광 표시 장치는 도 1에 도시된 바와 같이 행(row)과 열(column)을 이루는 서브 픽셀들(R, W, B, G)을 포함한다. 도 1에서는 하나의 행에 배열되는 4개의 서브 픽셀, 즉 적색 픽셀(R), 백색 픽셀(W), 녹색 픽셀(G), 청색 픽셀(B)이 하나의 픽셀을 구성한다. 그러나 실시예에 따라서는 3개의 서브 픽셀, 즉 적색 픽셀(R), 녹색 픽셀(G), 청색 픽셀(B)이 하나의 픽셀을 구성할 수 있다.A conventional organic light emitting display using an external compensation method includes subpixels R, W, B, and G that form a row and a column as shown in FIG. In FIG. 1, four sub-pixels arranged in one row, that is, a red pixel R, a white pixel W, a green pixel G and a blue pixel B constitute one pixel. However, depending on the embodiment, three sub-pixels may constitute one pixel, that is, a red pixel (R), a green pixel (G), and a blue pixel (B).

각각의 서브 픽셀에는 네 개의 전원 라인들이 연결되며, 상기 네 개의 전원 라인들로는 네 개의 전압들(DATA, ELVDD, ELVSS, VREF)이 공급된다. 특히, 외부 보상 방법을 이용하고 있는 유기 발광 표시 장치에 적용되는 패널에서는, 도 1에 도시된 바와 같이 하나의 픽셀을 형성하는 네 개의 서브 픽셀들(R, W, G, B)이 한 개의 기준 전압 라인을 공유하고 있으며, 이 기준 전압 라인을 통해 기준 전압(Vref)이 공급되고 있다. 또한 도 1에 도시된 바와 같이 동일한 열에 배치된 픽셀들, 즉 (n-1)번째 픽셀, n번째 픽셀, (n+1)번째 픽셀은 동일한 기준 전압 라인에 연결된다.Four power lines are connected to each sub-pixel, and four voltages (DATA, ELVDD, ELVSS, VREF) are supplied to the four power lines. In particular, in a panel applied to an organic light emitting display device using an external compensation method, as shown in FIG. 1, four sub-pixels R, W, G, And the reference voltage Vref is supplied through the reference voltage line. Also, as shown in Fig. 1, the pixels arranged in the same column, i.e., the (n-1) -th pixel, the n-th pixel and the (n + 1) -th pixel are connected to the same reference voltage line.

그런데 종래 기술에 따르면 제조 과정에서의 이물 유입 또는 구동 과정에서의 열화 등으로 인해 도 1과 같이 스캔 라인(SCAN)과 센싱 트랜지스터(SS_TR) 간에 단락(102)이 발생할 수 있다. 이와 같은 단락(102)이 발생한 서브 픽셀, 즉 n번째 픽셀에 포함된 서브 픽셀(B)에서는 광이 출력되지 않는다. 따라서 n번째 픽셀에 포함된 서브 픽셀(B)은 패널에서 검은 점(암점)으로 표현된다.However, according to the related art, a short circuit (102) may occur between the scan line (SCAN) and the sensing transistor (SS_TR) as shown in FIG. 1 due to influx of foreign substances in the manufacturing process or deterioration in the driving process. In the subpixel B having the short circuit 102, that is, the subpixel B included in the nth pixel, no light is output. Therefore, the subpixel (B) contained in the n-th pixel is represented by a black point (dark spot) in the panel.

한편, 전술한 바와 같이 동일한 열에 배치된 픽셀들, 즉 (n-1)번째 픽셀, n번째 픽셀, (n+1)번째 픽셀은 동일한 기준 전압 라인에 연결된다. 이에 따라 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)과 동일한 열에 배치되는 다른 서브 픽셀들, 즉 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)에 대한 외부보상을 위한 센싱 과정 수행 시, 기준 전압 라인은 플로팅(floating) 상태가 된다. 이에 따라 외부 보상이 제대로 이루어지지 않게 되면 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)은 휘도가 지나치게 높아져 휘점이 된다.On the other hand, as described above, the pixels arranged in the same column, that is, the (n-1) -th pixel, the n-th pixel and the (n + 1) -th pixel are connected to the same reference voltage line. (B) of the (n-1) -th pixel and the subpixel (B) of the (n + 1) -th pixel arranged in the same column as the subpixel During the sensing process for external compensation, the reference voltage line is in a floating state. Accordingly, when the external compensation is not properly performed, the subpixel B of the (n-1) -th pixel and the subpixel B of the (n + 1) -th pixel become excessively bright and become bright spots.

결국 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)에 발생된 단락(102)으로 인해 암점 및 휘점이 동반되는 라인 결함(Line Defect)이 발생하게 된다. 따라서 도 1과 같이 임의의 서브 픽셀에 단락으로 인한 암점이 발생하더라도 라인 결함을 방지하기 위해 주변 서브 픽셀의 결함 발생을 방지할 필요가 있다.
As a result, a line defect occurs in which the dark point and the bright point are accompanied by the short 102 generated in the subpixel B of the nth pixel. Therefore, even if a dark point due to a short circuit occurs in any subpixel as shown in FIG. 1, it is necessary to prevent occurrence of defects in peripheral subpixels in order to prevent line defects.

본 발명은 임의의 서브 픽셀에 단락이 발생할 때, 해당 서브 픽셀의 인접 서브 픽셀들에 대한 결함을 방지하여 라인 결함을 최소화할 수 있는 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제어 방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention provides an organic light emitting display device and an organic light emitting display device control method and apparatus capable of minimizing line defects by preventing defects for adjacent subpixels of a subpixel when a short circuit occurs in any subpixel .

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects and advantages of the present invention which are not mentioned can be understood by the following description and more clearly understood by the embodiments of the present invention. It will also be readily apparent that the objects and advantages of the invention may be realized and attained by means of the instrumentalities and combinations particularly pointed out in the appended claims.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 유기 발광 표시 장치의 제어 장치에 있어서, 서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 입력받는 입력부, 상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 판단부, 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 센싱 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for controlling an organic light emitting display, comprising: an input unit for receiving sensing data for a driving transistor included in a subpixel; When a short circuit occurs in the subpixel, when a sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel is performed, the potential of the scan line connected to the adjacent subpixel is equal to the potential of the reference voltage line And a sensing control unit for maintaining the sensing unit.

또한 본 발명은 유기 발광 표시 장치의 제어 방법에 있어서, 서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 입력받는 단계, 상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 단계, 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of controlling an organic light emitting display, comprising: receiving sensing data for a driving transistor included in a subpixel; determining whether the subpixel is short- And maintaining the potential of the scan line connected to the adjacent sub-pixel and the potential of the reference voltage line to be the same when the sensing mode is performed on the adjacent sub-pixel belonging to the same column as the sub-pixel, .

또한 본 발명은 유기 발광 표시 장치에 있어서, 다수의 서브 픽셀을 포함하는 패널, 센싱 모드를 통해 상기 서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 생성하는 데이터 드라이버 및 상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하고, 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 제어부를 포함하는 것을 다른 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided an OLED display including a panel including a plurality of subpixels, a data driver for generating sensing data for a driving transistor included in the subpixel through a sensing mode, And when a short circuit is detected in the subpixel, a potential of a scan line connected to the adjacent subpixel and a reference voltage line when a sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel are performed, And a control unit for maintaining the potential of the first transistor to be the same.

앞서 살펴본 바와 같이, 유기 발광 표시 장치의 구동 중 스캔 라인과 센싱 트랜지스터간의 단락이 발생하게 되면 해당 서브 픽셀은 암점이 된다. 또한 암점 주변의 인접 서브 픽셀들은 단락이 발생하지 않았음에도 불구하고 암점으로 인해 휘점이 된다. 결국 암점의 발생으로 인해 인접 서브 픽셀까지 이상이 발생하게 되어 라인 결함이 발생한다.As described above, when a short circuit occurs between a scan line and a sensing transistor during driving of the organic light emitting display, the corresponding sub pixel becomes a dark spot. The adjacent subpixels around the dark spot also become bright spots due to the dark spot, even though no shorting has occurred. As a result, a defect occurs in the adjacent subpixel due to the occurrence of a dark spot, resulting in a line defect.

본 발명은 이와 같은 현상을 방지하기 위하여 센싱 전압의 측정을 통해 서브 픽셀의 단락 여부를 확인하고, 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 인접 서브 픽셀들에 대한 센싱 모드를 수행할 때 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킴으로써 인접 서브 픽셀들에 결함이 생기는 것을 방지한다.
In order to prevent such a phenomenon, it is checked whether a subpixel is short-circuited by measuring a sensing voltage. When it is determined that a short-circuit has occurred in a subpixel, when performing a sensing mode for adjacent subpixels, By keeping the potential of the connected scan line and the potential of the reference voltage line the same, it is possible to prevent defects in adjacent sub-pixels from occurring.

전술한 바와 같은 본 발명에 의하면, 임의의 서브 픽셀에 단락이 발생할 때, 해당 서브 픽셀의 인접 서브 픽셀들에 대한 결함을 방지하여 라인 결함을 최소화할 수 있는 장점이 있다.
According to the present invention as described above, when a short circuit occurs in an arbitrary subpixel, defects in adjacent subpixels of the subpixel are prevented, thereby minimizing line defects.

도 1은 유기 발광 표시 장치에 포함되는 픽셀들의 구성을 나타낸 예시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에 포함되는 제어 장치의 구성도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 방법의 흐름도이다.FIG. 1 is a diagram illustrating an exemplary configuration of pixels included in an OLED display. Referring to FIG.
2 is a configuration diagram of an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram of a control device included in an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart of an organic light emitting display method according to an embodiment of the present invention.

전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일 또는 유사한 구성요소를 가리키는 것으로 사용된다.The above and other objects, features, and advantages of the present invention will become more apparent by describing in detail exemplary embodiments thereof with reference to the attached drawings, which are not intended to limit the scope of the present invention. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to denote the same or similar elements.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 구성도이다.2 is a configuration diagram of an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 유기 발광 표시 장치는 패널(100), 게이트 드라이버(200), 데이터 드라이버(300), 제어부(400)를 포함한다. 참고로 본 명세서에서 제어부(400)는 제어 장치로도 지칭될 수 있다.Referring to FIG. 2, the OLED display includes a panel 100, a gate driver 200, a data driver 300, and a controller 400. For reference, the control unit 400 herein may also be referred to as a control device.

패널(100)은 유기 발광 다이오드를 포함하는 다수의 서브 픽셀을 포함한다. 도 2에는 다수의 서브 픽셀 중 하나의 서브 픽셀(SP)이 예시적으로 도시되어 있다. 서브 픽셀(SP)은 도 1에 도시된 바와 같이 유기 발광 다이오드(OLED)와 연결되는 구동 트랜지스터(DR_TR), 그리고 구동 트랜지스터(DR_TR)의 특성을 센싱하기 위한 센싱 트랜지스터(SS_TR)를 포함한다.The panel 100 includes a plurality of sub-pixels including an organic light emitting diode. In FIG. 2, one of the plurality of subpixels SP is illustratively shown. The subpixel SP includes a driving transistor DR_TR connected to the organic light emitting diode OLED and a sensing transistor SS_TR for sensing the characteristics of the driving transistor DR_TR as shown in FIG.

서브 픽셀(SP)에는 여러 종류의 구동 신호를 공급하기 위한 신호 라인들이 연결된다. 신호 라인들은 게이트 드라이버(200)와 연결되는 스캔 제어 라인(SCL) 및 센싱 제어 라인(SSCL), 데이터 드라이버(300)와 연결되는 데이터 라인(DL) 및 센싱 라인(SL)을 포함할 수 있다. 또한 신호 라인들은 유기 발광 다이오드(OLED)에 전류를 공급하기 위한 제1 구동 전원 라인(EVDD) 및 제2 구동 전원 라인(EVSS)을 포함한다. 제1 구동 전원 라인(EVDD) 및 제2 구동 전원 라인(EVSS)은 구동 전원 공급부(620)와 연결된다. 또한 신호 라인들은 구동 트랜지스터(DR_TR)의 특성을 센싱하기 위한 센싱 모드에서 사용되는 기준 전압을 공급하기 위한 기준 전압 라인(Vref)을 포함할 수 있다. 기준 전압 라인(Vref)은 기준 전압 공급부(610)와 연결된다.Signal lines for supplying various kinds of driving signals are connected to the sub-pixel SP. The signal lines may include a scan control line SCL and a sensing control line SSCL connected to the gate driver 200 and a data line DL connected to the data driver 300 and a sensing line SL. The signal lines also include a first driving power supply line (EVDD) and a second driving power supply line (EVSS) for supplying current to the organic light emitting diode (OLED). The first driving power supply line (EVDD) and the second driving power supply line (EVSS) are connected to the driving power supply unit (620). The signal lines may also include a reference voltage line Vref for supplying a reference voltage used in a sensing mode for sensing the characteristics of the driving transistor DR_TR. The reference voltage line Vref is connected to the reference voltage supply unit 610.

도 2에 도시된 바와 같이 스캔 제어 라인(SCL)은 패널의 제1 방향, 즉 행 방향으로 일정한 간격을 가지도록 배치된다. 또한 센싱 제어 라인(SSCL)은 스캔 제어 라인(SCL)과 나란하도록 일정한 간격으로 배치된다.As shown in FIG. 2, the scan control lines SCL are arranged so as to be spaced apart from each other in the first direction, i.e., the row direction, of the panel. The sensing control lines SSCL are arranged at regular intervals so as to be parallel to the scan control lines SCL.

또한 데이터 라인(DL)은 스캔 제어 라인(SCL) 및 센싱 제어 라인(SSCL)과 서로 교차하도록 패널(100)의 제2 방향, 즉 열 방향을 따라 일정한 간격을 가지도록 나란하게 배치될 수 있다. 또한 센싱 라인(SL)은 데이터 라인(DL)과 나란하도록 일정한 간격으로 형성될 수 있다.The data lines DL may be arranged to be spaced apart from each other by a predetermined distance along the second direction of the panel 100, that is, the column direction, so as to intersect the scan control line SCL and the sensing control line SSCL. Also, the sensing lines SL may be formed at regular intervals so as to be parallel to the data lines DL.

도 1과 같이 패널(100)에는 다수의 서브 픽셀(SP)이 포함된다. 서브 픽셀(SP)은 행과 열을 이루면서 패널(100) 상에 배치된다. 본 발명의 일 실시예에서는 도 1과 같이 하나의 행에 배열되는 4개의 서브 픽셀, 즉 적색 픽셀(R), 백색 픽셀(W), 녹색 픽셀(G), 청색 픽셀(B)이 하나의 픽셀을 구성한다. 그러나 실시예에 따라서는 3개의 서브 픽셀, 즉 적색 픽셀(R), 녹색 픽셀(G), 청색 픽셀(B)이 하나의 픽셀을 구성할 수 있다.As shown in FIG. 1, the panel 100 includes a plurality of sub-pixels SP. The subpixels SP are arranged on the panel 100 in rows and columns. In one embodiment of the present invention, four sub-pixels arranged in one row, i.e., a red pixel (R), a white pixel (W), a green pixel (G), and a blue pixel . However, depending on the embodiment, three sub-pixels may constitute one pixel, that is, a red pixel (R), a green pixel (G), and a blue pixel (B).

본 발명에서는 도 1과 같은 구조를 갖는 패널(100)에서 임의의 서브 픽셀과 같은 열에 속하면서 가장 가까이 배치되어 있는 서브 픽셀을 인접 서브 픽셀이라고 정의한다. 예를 들어 도 1에서 단락(102)이 발생한 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)의 인접 서브 픽셀은 각각 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)이 된다.In the present invention, in the panel 100 having the structure as shown in FIG. 1, a subpixel located nearest to a row belonging to the same row as any subpixel is defined as an adjacent subpixel. For example, the adjacent subpixels of the subpixel B of the nth pixel where the short 102 occurs in FIG. 1 are subpixels of the subpixels B and n + 1 of the (n-1) Pixel (B).

본 발명에서 제어부(400)는 패널(100)을 센싱 모드로 동작시키거나, 표시 모드로 동작시킬 수 있다. In the present invention, the controller 400 can operate the panel 100 in the sensing mode or in the display mode.

센싱 모드는 사용자에 의해 설정된 주기마다, 또는 영상이 표시되지 않는 블랭크(blank) 기간 마다 수행될 수 있다. 센싱 모드에서는 구동 트랜지스터(DR_TR)의 특성 변화를 보정하기 위하여 센싱 전압이 측정된다. 측정된 센싱 전압은 디지털 값(Sdata)으로 변환되어 제어부(400)에 전달된다.The sensing mode may be performed every period set by the user, or every blank period in which no image is displayed. In the sensing mode, the sensing voltage is measured to correct a change in the characteristics of the driving transistor DR_TR. The measured sensing voltage is converted into a digital value (Sdata) and transmitted to the controller 400.

표시 모드에서는 패널(100)을 통해 영상이 출력된다. 표시 모드에서는 센싱 모드에서 측정된 센싱 전압에 따라 결정되는 외부 보상 레벨을 이용하여 입력 영상 데이터들이 보정된다. 보정된 영상 데이터들은 데이터 전압들로 변경된 후 패널(100)로 출력된다.In the display mode, an image is output through the panel 100. In the display mode, the input image data is corrected using an external compensation level determined according to the sensing voltage measured in the sensing mode. The corrected image data is output to the panel 100 after being changed to data voltages.

제어부(400)는 센싱 데이터(Sdata)에 기초하여 외부 보상 레벨을 산출하며, 외부 보상 레벨을 이용하여 외부 시스템(미도시)으로부터 입력되는 입력 영상 데이터(Ri, Gi, Bi)를 보정해, 외부 보상 영상데이터를 생성한다. 제어부(400)는 외부 보상 영상데이터(DATA)를 데이터 전압으로 변환하여 데이터 드라이버(300)를 통해 해당하는 픽셀(P)에 공급한다.The control unit 400 calculates the external compensation level based on the sensing data Sdata and corrects the input image data Ri, Gi, Bi inputted from the external system (not shown) using the external compensation level, And generates compensated image data. The controller 400 converts the external compensation video data DATA into a data voltage and supplies the data voltage to the corresponding pixel P through the data driver 300.

제어부(400)는 외부 시스템(미도시)으로부터 입력되는 타이밍 동기 신호(TSS)에 기초하여, 게이트 드라이버(200)의 구동을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)와 데이터 드라이버(300)의 구동을 제어하기 위한 데이터 제어 신호(DCS)를 각각 생성하며, 게이트 드라이버(200) 및 데이터 드라이버(300)를 센싱 모드 또는 표시 모드로 제어한다.The control unit 400 controls the driving of the data driver 300 and the gate control signal GCS for controlling the driving of the gate driver 200 based on the timing synchronization signal TSS input from the external system And controls the gate driver 200 and the data driver 300 in a sensing mode or a display mode, respectively.

제어부(400)는 센싱 모드시 데이터 드라이버(300)로부터 제공되는 센싱 데이터(Sdata)를 기반으로 외부 보상 레벨을 산출한다. 또한, 제어부(400)는 데이터 드라이버(300)로부터 제공된 센싱 데이터(Sdata)를 이용하여 패널(100)에 포함된 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단할 수 있다.The controller 400 calculates the external compensation level based on the sensing data (Sdata) provided from the data driver 300 in the sensing mode. In addition, the controller 400 may determine whether a sub-pixel included in the panel 100 is short-circuited by using the sensing data (Sdata) provided from the data driver 300.

또한 제어부(400)는 임의의 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 단락이 발생한 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킬 수 있다.In addition, when it is determined that a short circuit occurs in any sub-pixel, the controller 400 controls the potential of the scan line connected to the adjacent sub-pixel and the voltage of the reference voltage line in the sensing mode for the adjacent sub- So that the potentials can be kept the same.

게이트 드라이버(200)는 제어부(400)로부터 공급되는 게이트 제어신호(GCS)에 응답하여 스캔 제어 라인(SCL)을 통해 스캔 신호를 순차적으로 공급한다. 또한 게이트 드라이버(200)는 게이트 제어신호(GCS)에 응답해 센싱 제어 라인(SSCL)을 통해 센싱 신호를 순차적으로 공급한다.The gate driver 200 sequentially supplies a scan signal through a scan control line SCL in response to a gate control signal GCS supplied from the controller 400. [ The gate driver 200 sequentially supplies a sensing signal through the sensing control line SSCL in response to the gate control signal GCS.

게이트 드라이버(200)는 각 서브 픽셀(SP)의 박막 트랜지스터 형성 공정과 함께 패널(100) 상에 직접 배치되거나, 집적 회로(IC) 형태로 제조되어 스캔 제어 라인(SCL)과 센싱 제어 라인(SSCL)의 일측 및/또는 타측에 연결될 수 있다.The gate driver 200 may be disposed directly on the panel 100 together with the thin film transistor forming process of each subpixel SP or may be manufactured in the form of an integrated circuit and may be connected to the scan control line SCL and the sensing control line SSCL And / or the other side thereof.

데이터 드라이버(300)는 데이터 라인(DL)과 센싱 라인(SL) 각각에 연결된다. 데이터 드라이버(300)는 제어부(400)의 모드 제어에 따라 센싱 모드 또는 표시 모드로 동작한다.The data driver 300 is connected to the data line DL and the sensing line SL, respectively. The data driver 300 operates in a sensing mode or a display mode according to the mode control of the controller 400. [

센싱 모드로 동작 시 데이터 드라이버(300)는 제어부(400)로부터 공급되는 센싱 모드의 데이터 제어 신호(DCS)에 응답하여 각 서브 픽셀(SP)에 포함된 구동 트랜지스터(DR_TR)의 특성 변화를 센싱하여 센싱 데이터(Sdata)를 생성한다. 그리고 나서 데이터 드라이버(300)는 생성된 센싱 데이터(Sdata)를 제어부(400)에 제공한다.The data driver 300 senses a change in the characteristics of the driving transistor DR_TR included in each subpixel SP in response to the data control signal DCS of the sensing mode supplied from the controller 400 And generates sensing data (Sdata). Then, the data driver 300 provides the generated sensing data (Sdata) to the control unit (400).

표시 모드로 동작 시 데이터 드라이버(300)는 제어부(400)로부터 공급되는 표시 모드의 데이터 제어 신호(DCS)에 따라 구동 전원 공급부(620)로부터 공급되는 구동 전압을 이용하여 제어부(400)로부터 수평 라인 단위로 공급되는 영상데이터(DATA)를 데이터 전압으로 변환하여 데이터 라인(DL)에 공급한다.The data driver 300 receives the data control signal DCS from the control unit 400 in response to the data control signal DCS supplied from the control unit 400, Converts the video data (DATA) supplied as a unit into a data voltage and supplies it to the data line (DL).

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에 포함되는 제어 장치의 구성도이다.3 is a block diagram of a control device included in an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에 포함되는 제어부 또는 제어 장치(400)는 입력부(410), 판단부(420), 센싱 제어부(430)를 포함한다.Referring to FIG. 3, the control unit 400 includes an input unit 410, a determination unit 420, and a sensing control unit 430, which are included in the organic light emitting display according to an exemplary embodiment of the present invention.

입력부(410)는 데이터 드라이버(300)로부터 센싱 데이터(Sdata)를 입력받는다. 전술한 바와 같이 데이터 드라이버(300)는 센싱 모드로 동작하여 각 서브 픽셀(SP)에 포함된 구동 트랜지스터(DR_TR)의 특성 변화를 센싱하여 센싱 데이터(Sdata)를 생성한다. 입력부(410)는 이와 같이 생성된 센싱 데이터(Sdata)를 데이터 드라이버(300)로부터 입력받는다.The input unit 410 receives the sensing data Sdata from the data driver 300. As described above, the data driver 300 operates in a sensing mode and senses a characteristic change of the driving transistor DR_TR included in each sub-pixel SP to generate sensing data Sdata. The input unit 410 receives the sensing data Sdata thus generated from the data driver 300.

판단부(420)는 입력부(410)를 통해 입력된 센싱 데이터(Sdata)를 기초로 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단한다. 판단부(420)는 센싱 데이터(Sdata)를 미리 정해진 기준 범위와 비교하고, 센싱 데이터(Sdata)가 기준 범위를 벗어나면 해당 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 임의의 서브 픽셀에 단락이 발생하지 않았다면, 센싱 데이터는 기준 범위를 벗어나지 않을 것이다. 그러나, 단락이 발생한 서브 픽셀에서 검출되는 센싱 데이터는 매우 크거나 매우 작은 값을 갖게 되므로 기준 범위를 초과한다. 판단부(420)는 이와 같은 센싱 데이터를 나타내는 서브 픽셀을 단락이 발생한 것으로 판단한다.The determination unit 420 determines whether a sub-pixel is short-circuited based on the sensing data (Sdata) input through the input unit 410. The determination unit 420 may compare the sensing data Sdata with a predetermined reference range and determine that a short has occurred in the corresponding subpixel if the sensing data Sdata is out of the reference range. If no short has occurred in any subpixel, the sensing data will not deviate from the reference range. However, the sensing data detected in a sub pixel in which a short circuit occurs has a very large or very small value, and thus exceeds the reference range. The determination unit 420 determines that the sub-pixel representing such sensing data has been short-circuited.

판단부(420)의 판단 결과 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면, 센싱 제어부(430)는 단락이 발생한 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드가 수행될 때, 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킨다.If it is determined that the sub-pixel is short-circuited as a result of the determination by the determination unit 420, the sensing control unit 430 determines that a short-circuit occurs in the adjacent sub- The potential of the scan line and the potential of the reference voltage line are kept the same.

예를 들어 도 1에서 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)에 단락이 발생할 경우, n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)과 기준 전압 라인(Vref)을 공유하는 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)은 휘점이 될 수 있다. 이와 같은 라인 결함의 발생을 방지하기 위하여, 센싱 제어부(430)는 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)에 대한 센싱 모드가 수행될 때, (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)의 스캔 라인(SCAN)의 전위를 기준 전압 라인(Vref)의 전위와 동일하게 유지시킨다. 이에 따라 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)이 단락으로 인해 암점이 되더라도 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)은 휘점이 되지 않는다.For example, when a short circuit occurs in the subpixel B of the nth pixel in FIG. 1, the subpixel B of the nth pixel and the subpixel B of the (n-1) th pixel sharing the reference voltage line Vref, (B) of the (n + 1) th pixel and the sub-pixel B of the (n + 1) In order to prevent such a line defect, the sensing control unit 430 performs a sensing mode for the subpixel B of the (n-1) -th pixel and the subpixel B of the (n + 1) The potential of the scan line SCAN of the subpixel B of the (n-1) -th pixel and the subpixel B of the (n + 1) -th pixel is made equal to the potential of the reference voltage line Vref . Accordingly, the subpixel B of the (n-1) -th pixel and the subpixel B of the (n + 1) -th pixel of the (n-1) th pixel do not become bright spots even if the subpixel B of the n- .

본 발명의 일 실시예에서, 센싱 제어부(430)는 단락이 발생한 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드가 수행될 때, 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인을 플로팅시킬 수 있다. 이에 따라 해당 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위가 동일하게 유지될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the sensing controller 430 may float a scan line connected to adjacent subpixels when a sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as a subpixel in which a short circuit occurs is performed. Accordingly, the potential of the scan line and the potential of the reference voltage line can be maintained to be the same.

또한 본 발명의 일 실시예에서, 단락이 발생한 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드가 수행될 때, 센싱 제어부(430)는 게이트 제어 신호(GCS)를 통해 게이트 드라이버(200)를 제어하여 스캔 라인의 전위를 기준 전압 라인의 전위와 동일하게 조절할 수 있다.Also, in one embodiment of the present invention, when a sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as a subpixel in which a short circuit occurs is performed, the sensing controller 430 controls the gate driver 200 through a gate control signal (GCS) So that the potential of the scan line can be adjusted to be equal to the potential of the reference voltage line.

또한 본 발명의 일 실시예에서, 단락이 발생한 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드가 수행될 때, 센싱 제어부(430)는 기준 전압 제어 신호(RCS)를 통해 기준 전압 공급부(610)를 제어하여 기준 전압 라인의 전위를 스캔 전압 라인의 전위와 동일하게 조절할 수 있다.The sensing control unit 430 may control the reference voltage supply unit 610 through the reference voltage control signal RCS when the sensing mode is performed on the adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel in which the short- ) To control the potential of the reference voltage line to be equal to the potential of the scan voltage line.

이와 같이 센싱 제어부(430)가 인접 서브 픽셀, 예컨대 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B)의 스캔 모드 수행 시 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킴으로써 잘못된 기준 전압으로 인한 스캔 동작의 오류를 방지할 수 있다. 또한 이와 같은 스캔 동작의 오류를 방지함으로써 인접 서브 픽셀들에 대한 외부 보상 오류를 방지할 수 있다. 또한 이와 같은 외부 보상 오류를 방지함으로써 인접 서브 픽셀들의 결함(예컨대, 휘점) 발생을 방지할 수 있다.In this way, when the sensing controller 430 determines that the potential of the scan line and the potential of the scan line in the scan mode of the subpixel B of the (n-1) -th pixel and the subpixel B of the (n + By keeping the potentials of the reference voltage lines the same, it is possible to prevent errors in the scan operation due to erroneous reference voltages. In addition, it is possible to prevent errors in external compensation for adjacent sub-pixels by preventing errors in the scan operation. In addition, it is possible to prevent the occurrence of defects (e.g., bright spots) of adjacent sub-pixels by preventing such external compensation errors.

결국 본 발명에 따르면 도 1에서 n번째 픽셀의 서브 픽셀(B)에 단락이 발생하더라도 (n-1)번째 픽셀의 서브 픽셀(B) 및 (n+1)번째 픽셀에는 결함이 발생하지 않게 된다.As a result, according to the present invention, even if a short circuit occurs in the sub-pixel B of the n-th pixel in FIG. 1, the sub-pixel B and the (n + 1) -th pixel of the (n-1) .

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 방법의 흐름도이다.4 is a flowchart of an organic light emitting display method according to an embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 유기 발광 표시 장치의 제어 장치는 먼저 서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 입력받는다(S42). 그리고 나서, 제어 장치는 센싱 데이터를 기초로 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단한다(S44). 본 발명의 일 실시예에서, 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 단계(S44)는 입력된 센싱 데이터가 미리 정해진 기준 범위를 벗어나면 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단할 수 있다.The control device of the organic light emitting display according to the present invention first receives sensing data for a driving transistor included in a subpixel (S42). Then, the control device determines whether a sub-pixel is short-circuited based on the sensing data (S44). In one embodiment of the present invention, the step S44 of determining whether a subpixel is short-circuited may determine that a short-circuit has occurred in the subpixel if the inputted sensing data is out of a predetermined reference range.

다음으로, 제어 장치는 단계(S44)의 판단 결과 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킨다(S46).If it is determined in step S44 that a short circuit has occurred in the sub-pixel, the controller determines that the potential of the scan line connected to the adjacent sub-pixel in the sensing mode for the adjacent sub- The potentials of the lines are kept the same (S46).

본 발명의 일 실시예에서, 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계(S46)는 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인을 플로팅시키는 단계를 포함할 수 있다. 또한 본 발명의 일 실시예에서, 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계(S46)는 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 게이트 드라이버를 제어하여 스캔 라인의 전위를 기준 전압 라인의 전위와 동일하게 유지시키는 단계를 포함할 수 있다. 또한 본 발명의 일 실시예에서, 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계(S46)는 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 기준 전압 공급부를 제어하여 기준 전압 라인의 전위를 스캔 라인의 전위와 동일하게 유지시키는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the step S46 of maintaining the potential of the scan line and the potential of the reference voltage line equal to each other is performed when a short circuit occurs in the subpixel, And floating the connected scan line. Also, in one embodiment of the present invention, the step S46 of maintaining the potential of the scan line and the potential of the reference voltage line equal to each other may be performed by controlling the gate driver, The potential of the line may be maintained equal to the potential of the line. In the step S46 of maintaining the potential of the scan line and the potential of the reference voltage line equal to each other, if it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the potential of the reference voltage line And keeping the potential of the scan line equal to the potential of the scan line.

전술한 바와 같은 본 발명에 의하면, 임의의 서브 픽셀에 단락이 발생할 때, 해당 서브 픽셀의 인접 서브 픽셀들에 대한 결함을 방지하여 라인 결함을 최소화할 수 있는 장점이 있다. 즉, 본 발명에서는 센싱 전압의 측정을 통해 서브 픽셀의 단락 여부를 확인하고, 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 인접 서브 픽셀들에 대한 센싱 모드를 수행할 때 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시킴으로써 인접 서브 픽셀들에 결함이 생기는 것을 방지한다.According to the present invention as described above, when a short circuit occurs in an arbitrary subpixel, defects in adjacent subpixels of the subpixel are prevented, thereby minimizing line defects. In other words, according to the present invention, it is determined whether a sub-pixel is short-circuited by measuring a sensing voltage. If it is determined that a sub-pixel is short-circuited, a scan line connected to adjacent sub- By keeping the potentials of the potential and the reference voltage lines the same, it is possible to prevent defects in adjacent subpixels from occurring.

전술한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, But the present invention is not limited thereto.

Claims (15)

서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 입력받는 입력부;
상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 판단부; 및
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 센싱 제어부를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 장치.
An input unit for receiving sensing data for a driving transistor included in a subpixel;
A determination unit for determining whether a short-circuit of the sub-pixel occurs based on the sensing data; And
When a short circuit occurs in the subpixel, the sensing control unit maintains the potential of the scan line connected to the adjacent subpixel and the potential of the reference voltage line at the same time during the sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel, Containing
A control device for an organic light emitting display device.
제1항에 있어서,
상기 판단부는
상기 센싱 데이터가 미리 정해진 기준 범위를 벗어나면 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단하는
유기 발광 표시 장치의 제어 장치.
The method according to claim 1,
The determination unit
If the sensing data is out of a predetermined reference range, it is determined that a short circuit has occurred in the subpixel
A control device for an organic light emitting display device.
제1항에 있어서,
상기 센싱 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인을 플로팅시키는
유기 발광 표시 장치의 제어 장치.
The method according to claim 1,
The sensing control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the scan line connected to the adjacent sub-pixel is floated during the sensing mode for the adjacent sub-pixel
A control device for an organic light emitting display device.
제1항에 있어서,
상기 센싱 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 게이트 드라이버를 제어하여 상기 스캔 라인의 전위를 기준 전압 라인의 전위와 동일하게 유지시키는
유기 발광 표시 장치의 제어 장치.
The method according to claim 1,
The sensing control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the gate driver is controlled to keep the potential of the scan line equal to the potential of the reference voltage line
A control device for an organic light emitting display device.
제1항에 있어서,
상기 센싱 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 기준 전압 공급부를 제어하여 상기 기준 전압 라인의 전위를 상기 스캔 라인의 전위와 동일하게 유지시키는
유기 발광 표시 장치의 제어 장치.
The method according to claim 1,
The sensing control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the reference voltage supply unit is controlled to maintain the potential of the reference voltage line equal to the potential of the scan line
A control device for an organic light emitting display device.
서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 입력받는 단계;
상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 단계; 및
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 방법.
Receiving sensing data for a driving transistor included in a subpixel;
Determining whether the sub-pixel is short-circuited based on the sensing data; And
If a short circuit occurs in the subpixel, maintaining the potential of the scan line connected to the adjacent subpixel and the potential of the reference voltage line to be the same when performing a sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel, Included
A method of controlling an organic light emitting display device.
제6항에 있어서,
상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하는 단계는
상기 센싱 데이터가 미리 정해진 기준 범위를 벗어나면 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단하는 단계를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 방법.
The method according to claim 6,
The step of determining whether the subpixel is short-circuited
And determining that a short-circuit has occurred in the sub-pixel if the sensing data is out of a predetermined reference range
A method of controlling an organic light emitting display device.
제6항에 있어서,
상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인을 플로팅시키는 단계를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 방법.
The method according to claim 6,
The step of maintaining the potential of the scan line connected to the adjacent sub pixel and the potential of the reference voltage line to be the same
And floating the scan line connected to the adjacent sub-pixel when the sensing mode for the adjacent sub-pixel is performed when it is determined that the sub-pixel is short-circuited
A method of controlling an organic light emitting display device.
제6항에 있어서,
상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 게이트 드라이버를 제어하여 상기 스캔 라인의 전위를 기준 전압 라인의 전위와 동일하게 유지시키는 단계를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 방법.
The method according to claim 6,
The step of maintaining the potential of the scan line connected to the adjacent sub pixel and the potential of the reference voltage line to be the same
And controlling the gate driver to maintain the potential of the scan line equal to the potential of the reference voltage line when it is determined that the sub-pixel is short-circuited
A method of controlling an organic light emitting display device.
제6항에 있어서,
상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 단계는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 기준 전압 공급부를 제어하여 상기 기준 전압 라인의 전위를 상기 스캔 라인의 전위와 동일하게 유지시키는 단계를 포함하는
유기 발광 표시 장치의 제어 방법.
The method according to claim 6,
The step of maintaining the potential of the scan line connected to the adjacent sub pixel and the potential of the reference voltage line to be the same
And controlling the reference voltage supply unit to maintain the potential of the reference voltage line equal to the potential of the scan line when it is determined that a short circuit has occurred in the subpixel
A method of controlling an organic light emitting display device.
다수의 서브 픽셀을 포함하는 패널;
센싱 모드를 통해 상기 서브 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터에 대한 센싱 데이터를 생성하는 데이터 드라이버; 및
상기 센싱 데이터를 기초로 상기 서브 픽셀의 단락 발생 여부를 판단하고, 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 서브 픽셀과 동일한 열에 속하는 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인의 전위와 기준 전압 라인의 전위를 동일하게 유지시키는 제어부를 포함하는
유기 발광 표시 장치.
A panel comprising a plurality of subpixels;
A data driver for generating sensing data for a driving transistor included in the sub pixel through a sensing mode; And
And determines whether a short circuit occurs in the subpixel based on the sensing data. If it is determined that a short circuit has occurred in the subpixel, the adjacent subpixel is connected to the adjacent subpixel in sensing mode for adjacent subpixels belonging to the same column as the subpixel And a control unit for maintaining the potential of the scan line and the potential of the reference voltage line at the same level
Organic light emitting display.
제11항에 있어서,
상기 제어부는
상기 센싱 데이터가 미리 정해진 기준 범위를 벗어나면 상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단하는
유기 발광 표시 장치.
12. The method of claim 11,
The control unit
If the sensing data is out of a predetermined reference range, it is determined that a short circuit has occurred in the subpixel
Organic light emitting display.
제11항에 있어서,
상기 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 상기 인접 서브 픽셀에 대한 센싱 모드 수행 시 상기 인접 서브 픽셀과 연결되는 스캔 라인을 플로팅시키는
유기 발광 표시 장치.
12. The method of claim 11,
The control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the scan line connected to the adjacent sub-pixel is floated during the sensing mode for the adjacent sub-pixel
Organic light emitting display.
제11항에 있어서,
상기 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 게이트 드라이버를 제어하여 상기 스캔 라인의 전위를 기준 전압 라인의 전위와 동일하게 유지시키는
유기 발광 표시 장치.
12. The method of claim 11,
The control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the gate driver is controlled to keep the potential of the scan line equal to the potential of the reference voltage line
Organic light emitting display.
제11항에 있어서,
상기 제어부는
상기 서브 픽셀에 단락이 발생한 것으로 판단되면 기준 전압 공급부를 제어하여 상기 기준 전압 라인의 전위를 상기 스캔 라인의 전위와 동일하게 유지시키는
유기 발광 표시 장치.12. The method of claim 11,
The control unit
If it is determined that the sub-pixel is short-circuited, the reference voltage supply unit is controlled to maintain the potential of the reference voltage line equal to the potential of the scan line
Organic light emitting display.
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