KR20170075392A - Ultrasound probe, ultrasound system, and method of managing usage history information of ultrasound probe - Google Patents
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Abstract
초음파 프로브, 초음파 시스템 및 초음파 프로브의 사용 이력 정보를 관리하는 방법이 개시된다. 초음파 프로브는 복수의 프로브 채널선, 복수의 프로브 테스트선 및 프로브 저항 결합/분배부를 포함한다. 복수의 트랜스듀서 엘리먼트는 전기적 신호와 초음파 신호를 상호 변환하도록 동작한다. 복수의 프로브 채널선은 복수의 트랜스듀서 엘리먼트를 초음파 시스템에 연결한다. 복수의 프로브 테스트선은 복수의 프로브 채널선을 테스트하기 위해 복수의 프로브 채널선의 소정 위치에 연결된다. 프로브 저항 결합/분배부는 복수의 프로브 테스트선에 연결된다. A method for managing use history information of an ultrasonic probe, an ultrasonic system, and an ultrasonic probe is disclosed. The ultrasonic probe includes a plurality of probe channel lines, a plurality of probe test lines, and a probe resistance combining / distributing unit. The plurality of transducer elements are operable to convert between an electrical signal and an ultrasonic signal. A plurality of probe channel lines connect the plurality of transducer elements to the ultrasound system. A plurality of probe test lines are connected to predetermined positions of the plurality of probe channel lines to test a plurality of probe channel lines. The probe resistance combining / distributing unit is connected to a plurality of probe test lines.
Description
본 개시는 초음파 시스템에 관한 것으로, 특히 초음파 프로브, 초음파 시스템 및 초음파 프로브의 사용 시간을 나타내는 사용 이력 정보를 관리하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
초음파 시스템은 대상체 내의 관심객체(interested object)에 관한 정보를 얻기 위해 의료 분야에서 널리 이용되고 있다. 초음파 시스템은 대상체를 직접 절개하는 외과 수술의 필요 없이, 고주파 음파를 사용하여 대상체의 고해상도 영상을 실시간으로 제공할 수 있다. 초음파 시스템은 무침습 및 비파괴 특성을 가지고 있어, 의료 분야에서 널리 사용되고 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION Ultrasonic systems are widely used in the medical field to obtain information about objects of interest within an object. The ultrasound system can provide a high-resolution image of a target object in real time using a high-frequency sound wave without the need for a surgical operation to directly cut the target object. Ultrasonic systems have non-invasive and non-destructive properties and are widely used in the medical field.
일반적으로, 초음파 시스템은 초음파 신호를 대상체에 송신하고 대상체로부터 반사되는 초음파 신호(즉, 초음파 에코신호)를 수신하도록 구성되는 복수의 트랜스듀서 엘리먼트를 포함하는 초음파 프로브와, 초음파 프로브에 연결되고, 초음파 프로브의 복수의 트랜스듀서 엘리먼트에 전기적 신호(즉, 전기적 펄스)를 인가하고 복수의 트랜스듀서 엘리먼트로부터 초음파 에코신호를 수신하고 그 수신된 초음파 에코신호에 대해 신호 처리를 수행하여 대상체의 초음파 영상을 형성하도록 구성되는 시스템 본체를 포함한다.Generally, an ultrasound system includes an ultrasound probe that includes a plurality of transducer elements configured to transmit an ultrasound signal to a target object and receive an ultrasound signal (i.e., an ultrasound echo signal) reflected from the target object, An electric signal (i.e., an electrical pulse) is applied to a plurality of transducer elements of a probe, an ultrasonic echo signal is received from a plurality of transducer elements, and signal processing is performed on the received ultrasonic echo signal to form an ultrasound image of the object And the system body.
시스템 본체는 복수의 트랜스듀서 엘리먼트에 인가되는 전기적 신호(즉, 전기적 펄스)를 형성하고, 복수의 트랜스듀서 엘리먼트로부터 제공되는 초음파 에코신호에 신호 처리를 수행하여 디지털 신호를 형성하도록 구성되는 회로 구성요소를 포함하고 있다. 이러한 회로 구성요소는 프론트 엔드 채널로서 알려져 있다. 한편, 초음파 프로브의 복수의 트랜스듀서 엘리먼트는 채널선을 통해 프론트 엔드 채널에 연결된다.The system body is configured to form electrical signals (i.e., electrical pulses) applied to a plurality of transducer elements, and to perform signal processing on the ultrasonic echo signals provided from the plurality of transducer elements to form a digital signal. . These circuit components are known as front end channels. On the other hand, a plurality of transducer elements of the ultrasonic probe are connected to the front end channel through the channel line.
프론트 엔드 채널의 회로 구성요소 중 일부의 회로 구성요소에 불량이 발생하거나, 초음파 프로브의 복수의 트랜스듀서 엘리먼트를 프론트 엔드 채널에 연결하는 채널선중 일부의 채널선에 불량이 발행하는 경우, 대상체의 초음파 영상의 화질이 저하되는 문제점이 있다. 따라서, 프론트 엔드 채널과 더불어 초음파 프로의 채널선을 검사할 수 있는 초음파 시스템이 요구되고 있다.When a fault occurs in circuit components of some of the circuit elements of the front end channel or when a fault occurs in some of the channel lines connecting the plurality of transducer elements of the ultrasonic probe to the front end channel, The image quality of the ultrasound image is deteriorated. Therefore, there is a demand for an ultrasound system capable of inspecting a channel line of an ultrasonic wave pro- totype along with a front end channel.
한편, 초음파 프로브의 과도한 사용 또는 장기간의 사용으로 인해 초음파 프로브의 케이블 또는 트랜스듀서 엘리먼트에 손상이 발생할 수 있다. 초음파 프로브의 케이블 또는 트랜스듀서 엘리먼트에 손상이 발생하는 경우, 대상체의 초음파 영상의 화질이 저하되는 문제점이 있다. 따라서, 초음파 프로브의 사용 시간을 사용 이력 정보로서 관리할 수 있는 초음파 시스템이 요구되고 있다.On the other hand, excessive use or long-term use of the ultrasonic probe may cause damage to the cable or transducer element of the ultrasonic probe. When the cable or the transducer element of the ultrasonic probe is damaged, the image quality of the ultrasound image of the object is deteriorated. Therefore, there is a demand for an ultrasonic system that can manage the use time of the ultrasonic probe as usage history information.
본 개시는 신호 경로로서 채널선을 검사할 수 있는 초음파 프로브를 제공한다. 또한, 본 개시는 신호 경로로서 시스템 본체의 프론트 엔드 채널과 더불어 초음파 프로브의 채널선을 검사하기 위한 초음파 시스템을 제공한다. 또한, 본 개시는 초음파 프로브의 사용 시간을 카운트하고, 카운트된 사용 시간을 사용 이력 정보로서 관리하는 방법을 제공한다.The present disclosure provides an ultrasonic probe capable of inspecting a channel line as a signal path. The present disclosure also provides an ultrasound system for inspecting a channel line of an ultrasonic probe in addition to a front end channel of a system body as a signal path. The present disclosure also provides a method of counting the use time of the ultrasonic probe and managing the counted use time as use history information.
일 실시예에 있어서, 초음파 시스템의 초음파 프로브는 복수의 트랜스듀서 엘리먼트, 복수의 프로브 채널선, 복수의 프로브 테스트선 및 프로브 저항 결합/분배부를 포함한다. 복수의 트랜스듀서 엘리먼트는 전기적 신호와 초음파 신호를 상호 변환하도록 구성된다. 복수의 프로브 채널선은 복수의 트랜스듀서 엘리먼트를 초음파 시스템에 연결한다. 복수의 프로브 테스트선은 복수의 프로브 채널선을 테스트하기 위해 복수의 프로브 채널선의 소정 위치에 연결된다. 프로브 저항 결합/분배부는 복수의 프로브 테스트선에 연결된다.In one embodiment, the ultrasonic probe of the ultrasound system includes a plurality of transducer elements, a plurality of probe channel lines, a plurality of probe test lines, and a probe resistance combining / distributing unit. The plurality of transducer elements are configured to mutually convert an electrical signal and an ultrasonic signal. A plurality of probe channel lines connect the plurality of transducer elements to the ultrasound system. A plurality of probe test lines are connected to predetermined positions of the plurality of probe channel lines to test a plurality of probe channel lines. The probe resistance combining / distributing unit is connected to a plurality of probe test lines.
다른 실시예에 있어서, 초음파 시스템은 일실시예에 따른 초음파 프로브, 및 초음파 프로브에 연결되는 시스템 본체를 포함한다. 시스템 본체는 초음파 프로브의 복수의 프로브 채널선과 연결되는 복수의 본체 채널선과, 복수의 본체 채널선에 연결되고, 복수의 프로브 채널선 또는 복수의 프로브 채널선을 검사하기 위한 검사 신호를 형성하도록 구성되는 검사 신호 형성부와, 복수의 본체 채널선에 연결되어 검사 신호를 수신하도록 구성되는 수신부와, 수신부에 의해 수신된 검사 신호에 기초하여 복수의 프로브 채널선 또는 복수의 본체 채널선에 대한 양부를 판정하도록 구성되는 신호 처리부를 포함한다.In another embodiment, an ultrasound system includes an ultrasound probe according to one embodiment, and a system body coupled to the ultrasound probe. The system body includes a plurality of body channel lines connected to a plurality of probe channel lines of the ultrasonic probe and a plurality of probe channel lines connected to the plurality of body channel lines and configured to form an inspection signal for inspecting a plurality of probe channel lines or a plurality of probe channel lines A plurality of probe channel lines or a plurality of main channel line based on the inspection signal received by the receiving unit; And a signal processing unit configured to generate a signal.
또 다른 실시예에 있어서, 초음파 프로브의 사용 시간을 나타내는 사용 이력 정보를 관리하는 방법은, 상기 사용 이력 정보에 기초하여 상기 초음파 프로브의 사용 시간 초기값을 설정하는 단계와, 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 개시되면, 상기 사용 시간 초기값에 기초하여 상기 초음파 프로브의 사용 시간을 카운트하는 단계와, 상기 송신신호의 형성이 정지되면, 상기 초음파 프로브의 사용 시간의 카운트를 종료하는 단계와, 상기 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성하는 단계와, 상기 초음파 프로브의 상기 사용 이력 정보를 상기 새로운 사용 이력 정보로 업데이트하는 단계를 포함한다.In still another embodiment, a method of managing use history information indicating a use time of an ultrasonic probe may include: setting an initial use time of the ultrasonic probe based on the use history information; acquiring an ultrasound image of the object; Counting a use time of the ultrasonic probe on the basis of the use time initial value when formation of a transmission signal for starting the ultrasonic probe is started; and terminating counting of the use time of the ultrasonic probe when the formation of the transmission signal is stopped Forming new usage history information based on the counted usage time, and updating the usage history information of the ultrasonic probe with the new usage history information.
본 개시에 의하면, 시스템 본체의 프론트 엔드 채널과 더불어 초음파 프로브의 채널선이 신호 경로로서 검사될 수 있다. 또한, 본 개시에 의하면, 초음파 프로브의 사용 시간이 사용 이력 정보로서 관리될 수 있다. 따라서, 초음파 프로브의 교체 여부 또는 시기가 용이하게 판단될 수 있다.According to the present disclosure, the channel line of the ultrasonic probe together with the front end channel of the system body can be inspected as a signal path. Further, according to the present disclosure, the use time of the ultrasonic probe can be managed as use history information. Therefore, whether or not the ultrasonic probe is replaced can be easily judged.
도 1은 본 개시의 실시예에 따른 초음파 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도.
도 2는 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.
도 3은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도.
도 4는 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체의 신호 송신 경로에 해당하는 제1 본체 신호선 및 제2 본체 신호선을 나타낸 도면.
도 5는 본 개시의 실시예에 따른 수신부의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도.
도 6은 본 개시의 실시예에 따른 제3 본체 신호선 및 본체 저항 결합/분배부의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.
도 7은 본 개시의 실시예에 따른 릴레이부의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.
도 8은 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 릴레이부의 동작을 설명하는 도면.
도 9는 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 릴레이부의 동작을 설명하는 도면.
도 10은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 릴레이부의 동작을 설명하는 도면.
도 11은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 릴레이부의 동작을 설명하는 도면.
도 12는 본 개시의 일실시예에 따라 초음파 프로브의 프로브 파라미터를 업데이트하는 절차를 나타낸 흐름도.
도 13은 본 개시의 다른 실시예에 따라 초음파 프로브의 프로브 파라미터를 업데이트하는 절차를 나타낸 흐름도.1 is a block diagram schematically showing a configuration of an ultrasound system according to an embodiment of the present disclosure;
2 is a schematic view showing the configuration of an ultrasonic probe according to an embodiment of the present disclosure;
3 is a block diagram schematically showing a configuration of a system main body according to an embodiment of the present disclosure;
4 is a diagram illustrating a first main signal line and a second main signal line corresponding to a signal transmission path of the system main body according to the embodiment of the present disclosure;
5 is a block diagram schematically showing a configuration of a receiving unit according to an embodiment of the present disclosure;
Fig. 6 is a schematic view showing a configuration of a third main body signal line and a main body resistance-combining / distributing unit according to the embodiment of the present disclosure; Fig.
7 is a schematic view showing a configuration of a relay unit according to an embodiment of the present disclosure;
8 is a view for explaining an operation of a relay unit for inspecting a signal transmission path of an ultrasonic probe according to an embodiment of the present disclosure;
9 is a view for explaining an operation of a relay part for inspecting a signal receiving path of an ultrasonic probe according to an embodiment of the present disclosure;
10 is a view for explaining the operation of a relay unit for inspecting a signal transmission path of a system body according to an embodiment of the present disclosure;
11 is a view for explaining the operation of a relay part for inspecting a signal receiving path of a system body according to an embodiment of the present disclosure;
12 is a flow diagram illustrating a procedure for updating probe parameters of an ultrasonic probe in accordance with one embodiment of the present disclosure;
13 is a flow diagram illustrating a procedure for updating the probe parameters of an ultrasonic probe according to another embodiment of the present disclosure;
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 개시의 실시예를 설명한다. 본 실시예에서 사용되는 용어 "부"는 소프트웨어, FPGA(field-programmable gate array), ASIC(application specific integrated circuit)과 같은 하드웨어 구성요소를 의미한다. 그러나, "부"는 하드웨어 및 소프트웨어에 한정되는 것은 아니다. "부"는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고, 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일례로서 "부"는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세서, 함수, 속성, 프로시저, 서브루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 어레이 및 변수를 포함한다. 구성요소와 "부" 내에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소 및 "부"로 결합되거나 추가적인 구성요소와 "부"로 더 분리될 수 있다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. The term "part " used in the present embodiment means hardware components such as software, field-programmable gate array (FPGA), and application specific integrated circuit (ASIC). However, "part" is not limited to hardware and software. "Part" may be configured to reside on an addressable storage medium, and may be configured to play back one or more processors. Thus, by way of example, and not limitation, "part, " as used herein, is intended to be broadly interpreted as referring to components such as software components, object-oriented software components, class components and task components, Firmware, microcode, circuitry, data, databases, data structures, tables, arrays, and variables. The functions provided within the component and the "part " may be combined into a smaller number of components and" parts " or further separated into additional components and "parts ".
도 1은 본 개시의 실시예에 따른 초음파 시스템(100)의 구성을 개략적으로 보이는 블록도이다. 초음파 시스템(100)은 컨트롤 패널(110), 초음파 프로브(120), 시스템 본체(130) 및 디스플레이부(140)를 포함한다. 일실시예에 있어서, 시스템 본체(130)는 프로세서(131) 및 저장부(132)를 포함한다. 또한, 프로세서(131)는 컨트롤 패널(110), 초음파 프로브(120), 저장부(132) 및 디스플레이부(140)를 제어한다.1 is a block diagram schematically showing a configuration of an
컨트롤 패널(110)은 사용자로부터 입력 정보를 수신하고, 수신된 입력 정보를 프로세서(130)로 전송한다. 컨트롤 패널(110)은 사용자와 초음파 시스템(100) 간의 인터페이스를 가능하게 하고 사용자가 초음파 시스템(100)을 조작하는 것을 가능하게 하는 입력부(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 입력부는 진단 모드의 선택, 진단 동작의 제어, 진단에 필요한 적절한 명령의 입력, 신호 조작, 출력 제어 등의 조작을 실행하는데 적합한 입력 장치, 예를 들어 트랙볼, 키보드, 버튼 등을 포함할 수 있다.The
초음파 프로브(120)는 전기적 신호를 초음파 신호로 변환하고, 변환된 초음파 신호를 대상체에 송신한다. 대상체는 관심객체(예를 들어, 간, 심장 등)를 포함한다. 또한, 초음파 프로브(120)는 대상체로부터 반사되는 초음파 신호(즉, 초음파 에코신호)를 수신하고, 수신된 초음파 에코신호를 전기적 신호(이하, "수신신호"라 함)로 변환한다.The
프로세서(131)는 컨트롤 패널(110)를 통해 수신된 입력 정보에 응답하여, 초음파 프로브(120)가 초음파 신호를 대상체에 송신하고 대상체로부터 반사되는 초음파 에코신호를 수신하도록 제어할 수 있다. 또한, 프로세서(131)는 초음파 프로브(120)로부터 제공되는 수신신호에 기초하여 대상체의 하나 이상의 초음파 영상(예를 들어, B 모드(brightness mode) 영상 등)을 형성할 수 있다.In response to the input information received through the
저장부(132)는 초음파 프로브(120)에서 형성된 수신신호를 프레임별로 순차적으로 저장한다. 또한, 저장부(132)는 프로세서(131)에서 형성된 하나 이상의 초음파 영상을 순차적으로 저장한다. 또한, 저장부(132)는 초음파 시스템(100)을 동작시키기 위한 인스트럭션을 저장할 수 있다.The
디스플레이부(140)는 프로세서(131)에서 형성된 초음파 영상(예를 들어, B 모드 영상 등)을 표시한다. 또한, 디스플레이부(140)는 초음파 영상 또는 초음파 시스템(100)에 관한 적합한 정보를 표시할 수 있다.The
도 2는 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브(120)의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다. 초음파 프로브(120)는 커넥터(210)를 포함한다. 커넥터(210)는 초음파 프로브(120)를 시스템 본체(130)에 연결한다.FIG. 2 is a view schematically showing the configuration of the
초음파 프로브(120)는 초음파 트랜스듀서(220)를 더 포함한다. 초음파 트랜스듀서(220)는 전기적 신호와 초음파 신호를 상호 변환한다. 일실시예에 있어서, 초음파 트랜스듀서(220)는 복수의 트랜스듀서 엘리먼트(220_1 내지 220_N)를 포함한다.The
초음파 프로브(120)는 제1 프로브 신호선(230)을 더 포함한다. 제1 프로브 신호선(230)은 초음파 트랜스듀서(220)를 커넥터(210)에 연결한다. 제1 프로브 신호선(230)은 복수의 트랜스듀서 엘리먼트(220_1 내지 220_N)를 커넥터(210)에 연결하기 위한 복수의 프로브 채널선(230_1 내지 230_N)을 포함한다. 즉, i번째 프로브 채널선(230_i(1≤i≤N))은 i번째 트랜스듀서 엘리먼트(220_i(1≤i≤N))를 커넥터(210)에 연결한다. 일실시예에 있어서, 제1 프로브 신호선(230)은 초음파 프로브(120)의 신호 경로일 수 있다. 즉, 복수의 프로브 채널선(230_1 내지 230_N)은 초음파 프로브(120)의 신호 송수신 경로일 수 있다.The
초음파 프로브(120)는 제2 프로브 신호선(240), 프로브 저항 결합/분배부(250) 및 제1 프로브 버스선(260)을 더 포함한다. 제2 프로브 신호선(240)은 프로브 저항 결합/분배부(250)를 제1 프로브 신호선(230)에 연결한다. 예를 들면, 제2 프로브 신호선(240)은 제1 프로브 신호선(230)으로부터 전송되는 신호를 프로브 저항 결합/분배부(250)로 전송하고, 프로브 저항 결합/분배부(250)로부터 전송되는 신호를 제1 프로브 신호선(230)으로 전송한다. 일실시예에 있어서, 제2 프로브 신호선(240)은 복수의 프로브 테스트선(240_1 내지 240_N)을 포함한다. 프로브 테스트선(240_1 내지 240_N) 각각의 일단은 프로브 채널선(230_1 내지 230_N) 각각의 소정 위치에 연결되고, 프로브 테스트선(240_1 내지 240_N) 각각의 타단은 프로브 저항 결합/분배부(250)에 연결된다. 즉, i번째 프로브 테스트선(240_i(1≤i≤N))의 일단은 i번째 프로브 채널선(230_i(1≤i≤N))의 소정 위치에 연결되고, i번째 프로브 테스트선(240_i(1≤i≤N))의 타단은 프로브 저항 결합/분배부(250)에 연결된다.The
프로브 저항 결합/분배부(250)는 제2 프로브 신호선(240) 및 제1 프로브 버스선(260)에 연결된다. 일실시예에 있어서, 프로브 저항 결합/분배부(250)는 복수의 프로브 저항(250_1 내지 250_N)을 포함한다. 프로브 저항(250_1 내지 250_N) 각각의 일단은 프로브 테스트선(240_1 내지 240_N) 각각의 타단에 연결된다. 즉, i번째 프로브 저항(250_i(1≤i≤N))의 일단은 i번째 프로브 테스트선(240_i(1≤i≤N))의 타단에 연결된다. 또한, 프로브 저항(250_1 내지 250_N)의 타단은 서로 연결되어, 제1 프로브 버스선(260)에 연결된다. 복수의 프로브 저항(250_1 내지 250_N)은 동일한 또는 상이한 저항값을 가질 수 있다. 일실시예에 있어서, 복수의 프로브 저항(250_1 내지 250_N)은 서로 동일한 저항값을 가진다.The probe resistance coupling /
제1 프로브 버스선(260)은 프로브 저항 결합/분배부(250)를 커넥터(210)에 연결한다. 제1 프로브 버스선(260)은 시스템 본체(130)로부터 커넥터(210)를 통해 전송되는 신호를 프로브 저항 결합/분배부(250)로 전송하고, 프로브 저항 결합/분배부 (250)로부터 제공되는 신호를 커넥터(210)로 전송한다.The first
초음파 프로브(120)는 프로브 메모리(270)를 더 포함한다. 프로브 메모리(270)는 초음파 프로브(120)의 정보에 관한 적어도 하나의 프로브 파라미터를 저장한다. 일실시예에 있어서, 프로브 파라미터는 식별 정보 또는 사용 이력 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 식별 정보는 초음파 프로브(120)를 식별하기 위한 식별 번호를 포함할 수 있으며, 사용 이력 정보는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위해 초음파 프로브(120)를 사용(예를 들면, 초음파 신호의 송신)한 시간을 나타내는 사용 시간을 포함할 수 있다.The
초음파 프로브(120)는 제2 프로브 버스선(280)을 더 포함한다. 제2 프로브 버스선(280)은 프로브 메모리(270)를 커넥터(210)에 연결한다. 제2 프로브 버스선(280)은 프로브 메모리(270)에 저장된 프로브 파라미터를 커넥터(210)를 통해 시스템 본체(130)로 전송한다. 또한, 제2 프로브 버스선(280)은 시스템 본체(130)로부터 커넥터(210)를 통해 전송되는 새로운 사용 이력 정보를 프로브 메모리(270))로 전송한다. 따라서, 새로운 사용 이력 정보가 프로브 파라미터로서 프로브 메모리(270)에 저장될 수 있다.The
도 3은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체(130)의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 시스템 본체(130)는 소켓(310)을 포함한다. 소켓(310)은 초음파 프로브(120)의 커넥터(210)에 연결된다.3 is a block diagram schematically showing the configuration of the
시스템 본체(130)는 송신부(320)를 더 포함한다. 송신부(320)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 전기적 신호(이하, "송신신호"라 함)를 형성한다. 송신신호는 초음파 프로브(120)에 제공된다. 초음파 프로브(120)는 그 송신신호를 초음파 신호로 변환하고, 변환된 초음파 신호를 대상체에 송신한다. 또한, 초음파 프로브(120)는 대상체로부터 반사되는 초음파 에코신호를 수신하고, 수신된 초음파 에코신호를 수신신호로 변환한다.The
또한, 송신부(320)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 신호(이하, "제1 검사 신호"라 함)를 형성한다. 예를 들면, 제1 검사 신호는 사전 설정된 파형을 갖는 펄스 신호일 수 있다. 일실시예에 있어서, 송신부(320)는 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로로서 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)을 검사하기 위한 제1 검사 신호를 형성한다. 예를 들면, 송신부(320)는 초음파 프로브(120)의 프로브 채널선(230_1 내지 230_N) 각각을 검사하기 위한 제1 검사 신호를 형성한다. 다른 실시예에 있어서, 송신부(320)는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로로서 시스템 본체(130)의 본체 신호선을 검사하기 위한 제1 검사 신호를 형성한다.The transmitting
시스템 본체(130)는 송수신 스위치(330), 제1 본체 신호선(341), 제2 본체 신호선(342) 및 수신부(350)를 더 포함한다. 송수신 스위치(330)는 송신부(320)와 수신부(350)를 스위칭해 주는 듀플렉서(duplexer)의 역할을 한다. 예를 들면, 송수신 스위치(330)는 초음파 프로브(120)가 송신 및 수신을 번갈아 가며 수행할 때, 송신부(320) 또는 수신부(350)를 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)에 적절히 스위칭 또는 연결해 주는 역할을 한다.The
또한, 송수신 스위치(330)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 본체 신호선(즉, 신호 송수신 경로)를 검사하기 위해, 송신부(320) 또는 수신부(350)를 시스템 본체(130)의 제2 본체 신호선(342)에 적절히 스위칭 또는 연결해 주는 역할을 한다.The transmission /
일실시예에 있어서, 송수신 스위치(330)는 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로를 검사하기 위해, 송신부(320)를 제2 본체 신호선(342)에 적절히 스위칭 또는 연결한다.In one embodiment, the transmission /
다른 실시예에 있어서, 송수신 스위치(330)는 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로를 검사하기 위해, 수신부(350)를 시스템 본체(130)의 제2 본체 신호선(342)에 적절히 스위칭 또는 연결한다.In another embodiment, the transmission /
또 다른 실시예에 있어서, 송수신 스위치(330)는 시스템 본체(130)의 본체 신호선, 즉 신호 송신 경로를 검사하기 위해, 송신부(320)를 제2 본체 신호선(342)에 적절히 스위칭 또는 연결한다.In another embodiment, the transmission /
또 다른 실시예에 있어서, 송수신 스위치(330)는 시스템 본체(130)의 본체 신호선, 즉 신호 수신 경로를 검사하기 위해, 수신부(350)를 제2 본체 신호선(342)에 적절히 스위칭 또는 연결한다.In another embodiment, the transmission /
제1 본체 신호선(341)은 송신부(320)를 송수신 스위치(330)에 연결한다. 제1 본체 신호선(341)은 송신부(320)로부터 전송되는 송신신호를 송수신 스위치(330)로 전송한다. 또한, 제1 본체 신호선(341)은 송신부(320)로부터 전송되는 제1 검사 신호를 송수신 스위치(330)로 전송한다. The first main
제2 본체 신호선(342)는 송수신 스위치(330)를 소켓(310)에 연결한다. 즉, 제2 본체 신호선(342)은 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)에 연결된다. 제2 본체 신호선(342)은 송신부(320)로부터 송수신 스위치(330)를 통해 전송되는 송신신호를 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)으로 전송하고, 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)으로부터 전송되는 수신신호를 송수신 스위치(330)를 통해 수신부(350)로 전송한다. 또한, 제2 본체 신호선(342)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송수신 경로를 검사하기 위한 검사 신호의 전송을 수행한다.The second main
도 4는 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로에 해당하는 제1 본체 신호선(341) 및 제2 본체 신호선(342)을 나타낸 도면이다. 제1 본체 신호선(341)은 송신부(320)를 송수신 스위치(330)에 연결하기 위한 복수의 제1 본체 채널선(410_1 내지 410_N)을 포함한다.4 is a diagram showing a first
제2 본체 신호선(342)은 송수신 스위치(330)를 소켓(310)에 연결하기 위한 복수의 제2 본체 채널선(420_1 내지 420_N)을 포함한다. 일실시예에 있어서, 복수의 제2 본체 채널선(420_1 내지 420_N)은 송수신 스위치(330)를 통해 복수의 제1 본체 채널선(410_1 내지 410_N)에 연결될 수 있다.The second main
다시 도 3을 참조하면, 수신부(350)는 초음파 프로브(120)로부터 송수신 스위치(330)를 통해 수신되는 수신신호를 증폭하고, 증폭된 수신신호를 디지털 신호(이하, "제1 디지털 신호"라 함)로 변환한다. 또한, 수신부(350)는 송수신 스위치(330)로부터 제공되는 검사 신호를 증폭하고, 검사 신호를 디지털 신호(이하, "제2 디지털 신호"라 함)로 변환한다.3, the receiving
도 5는 본 개시의 실시예에 따른 수신부(350)의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 수신부(350)는 신호 증폭부(510)를 포함한다. 신호 증폭부(510)는 송수신 스위치(330)로부터 제공되는 신호(예를 들면, 수신신호 또는 검사 신호)를 증폭시킨다. 일실시예에 있어서, 신호 증폭부(510)는 복수의 증폭기(510_1 내지 510_N)를 포함한다. 복수의 증폭기(510_1 내지 510_N)는 복수의 제2 본체 채널선(420_1 내지 420_N) 및 복수의 프로브 채널선(230_1 내지 230_N)을 통해 초음파 트랜스듀서(220)의 트랜스듀서 엘리먼트(220_1 내지 220_N)에 연결된다. 즉, i번째 증폭기(510_i(1≤i≤N))는 제2 본체 채널선(420_i(1≤i≤N)) 및 프로브 채널선(230_i(1≤i≤N))을 통해 i번째 트랜스듀서 엘리먼트(220_i(1≤i≤N))에 연결될 수 있다.5 is a block diagram schematically showing the configuration of a receiving
수신부(350)는 신호 변환부(520)를 더 포함한다. 신호 변환부(520)는 신호 증폭부(510)에 연결되어, 신호 증폭부(510)에 의해 증폭된 신호에 대해 아날로그 디지털 변환을 수행하여 디지털 신호를 형성한다. 일실시예에 있어서, 신호 변환부(520)는 복수의 ADC(analog to digital converter)(520_1 내지 520_N)를 포함한다. 복수의 ADC(520_1 내지 520_N)는 복수의 증폭기(510_1 내지 510_N)에 연결된다. 즉, i번째 ADC(520_i(1≤i≤N))는 i번째 증폭기(510_i(1≤i≤N)))에 연결되어, i번째 증폭기(510_i)에 의해 증폭된 신호에 대해 아날로그 디지털 변환을 수행한다.The receiving
수신부(350)는 메모리부(530)를 더 포함한다. 메모리부(530)는 신호 변환부(520)에 연결되어, 신호 변환부(520)에 의해 형성된 디지털 신호를 일시적으로 저장한다. 일실시예에 있어서, 메모리부(530)는 복수의 메모리(530_1 내지 530_N)를 포함한다. 복수의 메모리(530_1 내지 530_N)는 복수의 ADC(520_1 내지 520_N)에 연결된다. 즉, i번째 메모리(530_i(1≤i≤N))는 i번째 ADC(520_i(1≤i≤N))에 연결되어, i번째 ADC(520_i)에 의해 형성된 디지털 신호를 일시적으로 저장한다.The receiving
다시 도 3을 참조하면, 시스템 본체(130)는 제3 본체 신호선(361), 본체 저항 결합/분배부(362), 제1 본체 버스선(363), 신호 형성부(364) 및 릴레이부(365)를 더 포함한다.3, the
제3 본체 신호선(361)은 제2 본체 신호선(342) 및 본체 저항 결합/분배부(362)에 연결된다. 제3 본체 신호선(361)은 제2 본체 신호선(342)으로부터 전송되는 신호를 본체 저항 결합/분배부(362)로 전송하고, 본체 저항 결합/분배부(362)로부터 전송되는 신호를 제2 본체 신호선(342)으로 전송한다.The third main
본체 저항 결합/분배부(362)는 제3 본체 신호선(361) 및 릴레이부(365)에 연결된다. 본체 저항 결합/분배부(362)는 제3 본체 신호선(361)으로부터 전송되는 신호를 릴레이부(365)로 전송하고, 릴레이부(365)로부터 전송되는 신호를 제3 본체 신호선(361)으로 전송한다.The main body resistance coupling /
도 6은 본 개시의 실시예에 따른 제3 본체 신호선(361) 및 본체 저항 결합/분배부(362)의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다. 제3 본체 신호선(361)은 복수의 본체 테스트선(610_1 내지 610_N)을 포함한다. 본체 테스트선(610_1 내지 610_N) 각각의 일단은 제2 본체 채널선(420_1 내지 420_N) 각각의 소정 위치에 연결되고, 본체 테스트선(610_1 내지 610_N) 각각의 타단은 본체 저항 결합/분배부(362)에 연결된다.6 is a diagram schematically showing the configuration of a third main
본체 저항 결합/분배부(362)는 복수의 본체 저항(620_1 내지 620_N)을 포함한다. 본체 저항(620_1 내지 620_N) 각각의 일단은 본체 테스트선(610_1 내지 610_N) 각각의 타단에 연결된다. 즉, i번째 본체 저항(620_i(1≤i≤N))의 일단은 i번째 본체 테스트선(610_i(1≤i≤N))의 타단에 연결된다. 또한, 본체 저항(620_1 내지 620_N)의 타단은 서로 연결되어, 릴레이부(365)에 연결된다. 복수의 본체 저항(620_1 내지 620_N)은 동일한 또는 상이한 저항값을 가질 수 있다. 일실시예에 있어서, 복수의 본체 저항(620_1 내지 620_N)은 서로 동일한 저항값을 가질 수 있다.Body resistance combining / distributing
다시 도 3을 참조하면, 제1 본체 버스선(363)은 릴레이부(365)를 소켓(310)에 연결한다. 즉, 제1 본체 버스선(363)은 소켓(310)을 통해 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 버스선(260)에 연결된다. 일실시예에 있어서, 제1 본체 버스선(363)은 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 버스선(260)으로부터 소켓(310)을 통해 전송되는 신호를 릴레이부(365)로 전송하고, 릴레이부(365)로부터 전송되는 신호를 소켓(310)을 통해 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 버스선(260)으로 전송한다.Referring again to FIG. 3, the first
신호 형성부(364)는 릴레이부(365)에 연결된다. 신호 형성부(364)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 신호(이하, "제2 검사 신호"라 함)를 형성하고, 형성된 제2 검사 신호를 릴레이부(365)로 전송한다. 예를 들면, 제2 검사 신호는 사전 설정된 파형을 갖는 펄스 신호일 수 있다. 일실시예에 있어서, 신호 형성부(364)는 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로로서 초음파 프로브(120)의 제1 프로브 신호선(230)을 검사하기 위한 제2 검사 신호를 형성한다. 다른 실시예에 있어서, 신호 형성부(364)는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로로서 시스템 본체(130)의 제2 본체 신호선(342) 및 수신부(350)를 포함하는 프론트 엔드 채널을 검사하기 위한 제2 검사 신호를 형성한다.The
전술한 실시예에서는 송신부(320)가 제1 검사 신호를 형성하고, 신호 형성부(364)가 제2 검사 신호를 형성하는 것으로 설명하였지만, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 신호 형성부(364)는 제2 본체 신호선(342) 및 릴레이부(365)에 연결되고, 제1 검사 신호 및 제2 검사 신호를 형성하도록 구성되는 검사 신호 형성부로서 동작될 수 있다.In the above-described embodiment, the transmitting
릴레이부(365)는 본체 저항 결합/분배부(362), 제1 본체 버스선(363) 및 수신부(350)에 연결된다. 예를 들면, 릴레이부(365)는 복수의 증폭기(510_1 내지 510_N) 중 적어도 어느 하나에 연결될 수 있다. 릴레이부(365)는 초음파 시스템(100)(즉, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130))의 신호 경로(즉, 신호 송신 경로 또는 신호 수신 경로) 중 검사하고자 하는 신호 경로를 선택한다.The
일실시예에 있어서, 릴레이부(365)는 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 제1 검사 신호가 송신부(320), 제2 본체 신호선(342), 송수신 스위치(330), 제1 본체 신호선(341), 제1 프로브 신호선(230), 제2 프로브 신호선(240), 프로브 저항 결합/분배부(250), 제1 프로브 버스선(260) 및 제1 본체 버스선(363)을 통해 수신부(350)로 전송될 수 있도록, 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로를 선택한다.In one embodiment, the
다른 실시예에 있어서, 릴레이부(365)는 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 제2 검사 신호가 신호 형성부(364), 제1 본체 버스선(363), 제1 프로브 버스선(260), 프로브 저항 결합/분배부(250), 제2 프로브 신호선(240), 제1 프로브 신호선(230), 제1 본체 신호선(341) 및 송수신 스위치(330)를 통해 수신부(350)로 전송될 수 있도록, 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로를 선택한다.The second inspection signal for inspecting the signal receiving path of the
또 다른 실시예에 있어서, 릴레이부(365)는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 제1 검사 신호가 송신부(320), 제2 본체 신호선(342), 송수신 스위치(330), 제1 본체 신호선(341), 제3 본체 신호선(361) 및 본체 저항 결합/분배부(362)를 통해 수신부(350)로 전송될 수 있도록, 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로를 선택한다.The
또 다른 실시예에 있어서, 릴레이부(365)는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 제2 검사 신호가 신호 형성부(364), 본체 저항 결합/분배부(362), 제3 본체 신호선(361), 제1 본체 신호선(341) 및 송수신 스위치(330)를 통해 수신부(350)로 전송될 수 있도록, 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로를 선택한다.In another embodiment, the
도 7은 본 개시의 실시예에 따른 릴레이부(365)의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다. 릴레이부(365)는 제1 릴레이(710), 제2 릴레이(720) 및 제3 릴레이(730)를 포함한다.7 is a diagram schematically showing a configuration of a
제1 릴레이(710)는 제1 본체 버스선(363), 제3 릴레이(730) 및 신호 형성부(364)에 연결된다. 일실시예에 있어서, 제1 릴레이(710)의 일단은 제1 본체 버스선(363)에 연결되고, 제1 릴레이(710)의 타단은 제3 릴레이(730) 및 신호 형성부(364)에 연결된다. 제1 릴레이(710)는 제1 본체 버스선(363)으로부터 전송되는 제1 검사 신호를 제3 릴레이(730)로 전송하고, 신호 형성부(364)로부터 전송되는 제2 검사 신호를 제1 본체 버스선(363)으로 전송한다.The
제2 릴레이(720)는 본체 저항 결합/분배부(362), 제3 릴레이(730) 및 신호 형성부(364)에 연결된다. 일실시예에 있어서, 제2 릴레이(720)의 일단은 본체 저항 결합/분배부(362)에 연결되고, 제2 릴레이(720)의 타단은 제3 릴레이(730) 및 송신부(320)에 연결된다. 제2 릴레이(720)는 본체 저항 결합/분배부(362)로부터 전송되는 제1 검사 신호를 제3 릴레이(730)로 전송하고, 신호 형성부(364)로부터 전송되는 제2 검사 신호를 본체 저항 결합/분배부(362)로 전송한다.The
제3 릴레이(730)는 제1 릴레이(710), 제2 릴레이(720) 및 수신부(350)에 연결된다. 일실시예에 있어서, 제3 릴레이(730)의 일단은 제1 릴레이(710) 및 제2 릴레이(720)에 연결되고, 제3 릴레이(730)의 타단은 수신부(350), 예를 들면 i번째 증폭기(510_i(1≤i≤N))에 연결된다. 제3 릴레이(730)는 제1 릴레이(710) 또는 제2 릴레이(720)로부터 전송되는 제1 검사 신호를 수신부(350)로 전송한다.The
이하, 도 8 내지 도 11을 참조하여, 본 개시의 실시예에 따른 릴레이부(365)의 동작을 설명하기로 한다.Hereinafter, the operation of the
도 8은 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 릴레이부(365)의 동작을 설명하는 도면이다. 초음파 프로브(120)의 신호 송신 경로를 검사하기 위해, 릴레이부(365)의 제1 릴레이(710) 및 제3 릴레이(730)는 연결된다. 따라서, 송신부(320), 제2 본체 신호선(342), 송수신 스위치(330), 제1 본체 신호선(341), 제1 프로브 신호선(230), 제2 프로브 신호선(240), 프로브 저항 결합/분배부(250) 및 제1 프로브 버스선(260)을 통해 제1 본체 버스선(363)으로부터 전송되는 제1 검사 신호는 제1 릴레이(710) 및 제3 릴레이(730)를 통해 수신부(350)로 전송된다.8 is a view for explaining the operation of the
도 9는 본 개시의 실시예에 따른 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 릴레이부(365)의 동작을 설명하는 도면이다. 초음파 프로브(120)의 신호 수신 경로를 검사하기 위해, 릴레이부(365)의 제1 릴레이(710)는 신호 형성부(364)에 연결된다. 따라서, 신호 형성부(364)로부터 전송되는 제2 검사 신호는 제1 릴레이부(710)를 통해 제1 본체 버스선(363)으로 전송된다.9 is a view for explaining the operation of the
도 10은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로를 검사하기 위한 릴레이부(365)의 동작을 설명하는 도면이다. 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로를 검사하기 위해, 릴레이부(365)의 제2 릴레이(720) 및 제3 릴레이(730)는 연결된다. 따라서, 송신부(320), 제2 본체 신호선(342), 송수신 스위치(330), 제1 본체 신호선(341) 및 제3 본체 신호선(361)을 통해 본체 저항 결합/분배부(362)로부터 전송되는 제1 검사 신호는 제2 릴레이(720) 및 제3 릴레이(730)를 통해 수신부(350)로 전송된다.10 is a view for explaining the operation of the
도 11은 본 개시의 실시예에 따른 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로를 검사하기 위한 릴레이부(365)의 동작을 설명하는 도면이다. 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로를 검사하기 위해, 릴레이부(365)의 제2 릴레이(720)는 신호 형성부(364)에 연결된다. 따라서, 신호 형성부(364)로부터 전송되는 제2 검사 신호는 본체 저항 결합/분배부(362)로 전송된다.11 is a view for explaining the operation of the
다시 도 3을 참조하면, 시스템 본체(130)는 신호 처리부(370)를 더 포함한다. 신호 처리부(370)는 수신부(350)에 연결되어, 수신부(350)로부터 제공되는 제1 디지털 신호에 기초하여 초음파 데이터를 형성한다. 또한, 신호 처리부(370)는 수신부(350)로부터 제공되는 제2 디지털 신호에 기초하여, 초음파 시스템(100)의 신호 경로(즉, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송수신 경로)의 양부를 판정한다.Referring again to FIG. 3, the
일실시예에 있어서, 신호 처리부(370)는 수신부(350)로부터 제공되는 제1 디지털 신호에 대해 빔 포밍을 수행하여 수신 집속 신호를 형성한다. 또한, 신호 처리부(370)는 수신 집속 신호에 기초하여 초음파 데이터를 형성한다. 예를 들면, 초음파 데이터는 RF(radio frequency) 데이터 또는 IQ(in-phase/quadrature) 데이터를 포함한다.In one embodiment, the
다른 실시예에 있어서, 신호 처리부(370)는 수신부(350)로부터 제공되는 제2 디지털 신호에 기초하여 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송수신 경로의 양부를 판정한다. 예를 들면, 신호 처리부(370)는 제2 디지털 신호 및 송신부(320)에 의해 형성되는 제1 검사 신호 또는 신호 형성부(364)에 의해 형성되는 제2 검사 신호 간에 상호 상관 처리를 수행하여 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송수신 경로의 양부를 판정한다. 또한, 신호 처리부(370)는 판정에 기초하여 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송수신 경로에 대한 질(즉, 양부)를 나타내는 정보(이하, "신호 경로 판정 정보"라 함)를 형성할 수 있다. 예를 들면, 신호 경로 판정 정보는 디스플레이부(140)에 표시될 수 있다.In another embodiment, the
일례로서, 신호 처리부(370)는 수신부(350)로부터 제공되는 제2 디지털 신호 및 송신부(320)에 의해 형성되는 제1 검사 신호 간에 상호 상관 처리를 수행한다. 신호 처리부(370)는 상호 상관 처리의 결과값을 사전 설정된 임계값과 비교한다. 상호 상관 처리의 결과값이 사전 설정된 임계값 이상이면, 신호 처리부(370)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로가 양호임을 판정하고, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로가 양호임을 나타내는 신호 경로 판정 정보를 형성한다. 한편, 신호 처리부(370)는 상호 상관 처리의 결과값이 사전 설정된 임계값 미만이면, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로가 불량임을 판정하고, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 송신 경로가 불량임을 나타내는 신호 경로 판정 정보를 형성한다. As an example, the
다른 예로서, 신호 처리부(370)는 수신부(350)로부터 제공되는 제2 디지털 신호 및 신호 형성부(364)에 의해 형성되는 제2 검사 신호 간에 상호 상관 처리를 수행한다. 신호 처리부(370)는 상호 상관 처리의 결과값을 사전 설정된 임계값과 비교한다. 상호 상관 처리의 결과값이 사전 설정된 임계값 이상이면, 신호 처리부(370)는 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로가 양호임을 판정하고, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로가 양호임을 나타내는 신호 경로 판정 정보를 형성한다. 한편, 신호 처리부(370)는 상호 상관 처리의 결과값이 사전 설정된 임계값 미만이면, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로가 불량임을 판정하고, 초음파 프로브(120) 또는 시스템 본체(130)의 신호 수신 경로가 불량임을 나타내는 신호 경로 판정 정보를 형성한다.As another example, the
시스템 본체(130)는 영상 형성부(380)를 더 포함한다. 영상 형성부(380)는 신호 처리부(370)에 연결되어, 신호 처리부(370)로부터 제공되는 초음파 데이터에 기초하여 대상체의 초음파 영상을 형성한다.The
시스템 본체(130)는 제2 본체 버스선(391) 및 카운터부(392)를 더 포함한다. 제2 본체 버스선(391)는 카운터부(392)를 소켓(310)에 연결시킨다. 즉, 제2 본체 버스선(391)는 소켓(310)을 통해 초음파 프로브(120)의 제2 프로브 버스선(280)에 연결된다.The
카운터부(392)는 송신부(320) 및 제2 본체 버스선(391)에 연결된다. 카운터부(392)는 제2 본체 버스선(391)을 통해 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)로부터 프로브 파라미터를 판독한다. 또한, 카운터부(392)는 판독된 프로브 파라미터의 사용 이력 정보에 기초하여 초음파 프로브(120)의 사용 시간 초기값을 설정한다. 또한, 카운터부(392)는 송신부(320)에 의해 형성되는 송신신호에 기초하여, 초음파 프로브(120)(즉, 초음파 트랜스듀서(220))의 사용 시간을 카운트하고, 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성한다. 새로운 사용 이력 정보는 프로브 메모리(270)에 업데이트될 수 있다. 또한, 판독된 사용 이력 정보 및 새로운 사용 이력 정보는 디스플레이부(140)에 표시될 수 있다.The
프로세서(131)는 송신부(320), 송수신 스위치(330), 수신부(350), 신호 형성부(364), 신호 처리부(370), 영상 형성부(380) 및 카운터부(392)를 포함할 수 있다.The
도 12는 본 개시의 일실시예에 따라 초음파 프로브(120)의 프로브 파라미터(즉, 사용 이력 정보)를 업데이트하는 절차를 나타낸 흐름도이다. 초음파 프로브(120)가 활성화되면(S1202), 카운터부(392)는 제2 본체 버스선(391) 및 제2 프로브 버스선(280)을 통해, 활성화된 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)로부터 프로브 파라미터를 판독한다(S1204).12 is a flowchart illustrating a procedure for updating the probe parameters (i.e., use history information) of the
카운터부(392)는 판독된 프로브 파라미터의 사용 이력 정보에 기초하여 초음파 프로브(120)의 사용 시간 초기값을 설정한다(S1206). 예를 들면, 카운터부(392)는 판독된 프로브 파라미터의 사용 이력 정보에 해당하는 사용 시간을 초음파 프로브(120)의 사용 시간 초기값으로 설정한다.The
카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 개시되었는지 여부를 판단한다(S1208). 즉, 카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 초음파 신호의 송신이 개시되었는지 여부를 판단한다.The
단계 S1208에서 송신신호의 형성이 개시된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 설정된 사용 시간 초기값에 기초하여 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 카운트한다(S1210).If it is determined in step S1208 that the formation of the transmission signal is started, the
카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 정지되었는지 여부를 판단한다(S1212). 즉, 카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 초음파 신호의 송신이 정지되었는지 여부를 판단한다. 단계 S1212에서 송신신호의 형성이 정지되지 않은 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 계속 카운트한다. 한편, 단계 S1212에서 송신신호의 형성이 정지된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간의 카운트를 종료한다(S1214).The
카운터부(392)는 송신신호의 형성이 재시작되었는지 여부를 판단한다(S1216). 단계 S1216에서 송신신호의 형성이 재시작된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 계속 카운트한다. 한편, 단계 S1216에서 송신신호의 형성이 재시작되지 않은 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)가 비활성화되었는지 여부를 판단한다(S1218).The
단계 S1218에서 초음파 프로브(120)가 비활성화된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성하고(S1220), 판독된 프로브 파라미터의 식별 정보에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)에 업데이트한다(S1222).If it is determined in step S1218 that the
도 13은 본 개시의 다른 실시예에 따라 초음파 프로브(120)의 프로브 파라미터(즉, 사용 시간 정보)를 업데이트하는 절차를 나타낸 흐름도이다. 초음파 프로브(120)가 활성화되면(S1302), 카운터부(392)는 제2 본체 버스선(391) 및 제2 프로브 버스선(280)을 통해, 활성화된 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)로부터 프로브 파라미터를 판독한다(S1304).13 is a flowchart showing a procedure for updating probe parameters (i.e., use time information) of the
카운터부(392)는 판독된 프로브 파라미터의 사용 이력 정보에 기초하여 초음파 프로브(120)의 사용 시간 초기값을 설정한다(S1306). 카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 개시되었는지 여부를 판단한다(S1308).The
단계 S1308에서 송신신호의 형성이 개시된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 설정된 사용 시간 초기값에 기초하여 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 카운트한다(S1310).If it is determined in step S1308 that the formation of the transmission signal is started, the
카운터부(392)는 카운트된 사용 시간이 사전 설정된 시간을 경과하였는지 여부를 판단한다(S1312). 예를 들면, 사전 설정된 시간 단위는 1분, 5분, 10분 등일 수 있다. 단계 S1312에서 카운트된 사용 시간이 사전 설정된 시간 단위를 경과한 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성하고(S1314), 판독된 프로브 파라미터의 식별 정보에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)에 업데이트한다(S1316). 이때, 초음파 프로브(120)의 사용 시간은 계속 카운트된다.The
한편, 단계 S1312에서 카운트된 사용 시간이 사전 설정된 시간 단위를 경과하지 않은 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 정지되었지 여부를 판단한다(S1318). 즉, 카운터부(392)는 대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 초음파 신호의 송신이 정지되었는지 여부를 판단한다. 단계 S1318에서 송신신호의 형성이 정지되지 않은 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 계속 카운트한다. 한편, 단계 S1318에서 송신신호의 형성이 정지된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간의 카운트를 종료한다(S1320).On the other hand, if it is determined that the usage time counted in step S1312 does not exceed the preset time unit, the
카운터부(392)는 송신신호의 형성이 재시작되었는지 여부를 판단한다(S1322). 단계 S1322에서 송신신호의 형성이 재시작된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)의 사용 시간을 계속 카운트한다. 한편, 단계 S1322에서 송신신호의 형성이 재시작되지 않은 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 초음파 프로브(120)가 비활성화되었는지 여부를 판단한다(S1324).The
단계 S1324에서 초음파 프로브(120)가 비활성화된 것으로 판단되면, 카운터부(392)는 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성하고(S1326), 판독된 프로브 파라미터의 식별 정보에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 초음파 프로브(120)의 프로브 메모리(270)에 업데이트한다(S1328).If it is determined in step S1324 that the
특정 실시예들을 설명하였지만, 이러한 실시예들은 예시로서 제시된 것이고 본 개시의 범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 명세서의 새로운 방법 및 장치는 다양한 다른 형태로 구현될 수 있고, 더욱이 본 개시의 정신을 벗어나지 않으면서도 본 명세서에 개시된 실시예들을 다양하게 생략, 치환, 변경하는 것이 가능하다. 본 명세서에 첨부되는 청구범위 및 그 균등물은 본 개시의 범위와 정신에 포함되는 형태 및 변형을 모두 포함하는 것으로 해석되어야 한다.While specific embodiments have been described, these embodiments are provided by way of illustration and should not be construed as limiting the scope of the present disclosure. The novel methods and apparatus of the present disclosure can be implemented in various other forms, and it is possible to variously omit, substitute, and alter the embodiments disclosed herein without departing from the spirit of the present disclosure. It is intended that the appended claims and their equivalents be interpreted as embracing all such forms and modifications as fall within the scope and spirit of this disclosure.
100: 초음파 시스템 110: 컨트롤 패널
120: 초음파 프로브 130: 시스템 본체
131: 프로세서 132: 저장부
140: 디스플레이부 210: 커넥터
220: 초음파 트랜스듀서 220_1 내지 220_N: 트랜스듀서 엘리먼트
230: 제1 프로브 신호선 230_1 내지 230_N: 프로브 채널선
240: 제2 프로브 신호선 240_1 내지 240_N: 프로브 테스트선
250: 프로브 저항 결합/분배부
250_1 내지 250_N: 프로브 저항 260: 제1 프로브 버스선
270: 프로브 메모리 280: 제2 프로브 버스선
310: 소켓 320: 송신부
330: 송수신 스위치 341: 제1 본체 신호선
342: 제2 본체 신호선 350: 수신부
361: 제3 본체 신호선
362: 본체 저항 결합/분배부
363: 제1 본체 버스선 364: 신호 형성부
365: 릴레이부
370: 신호 처리부
380: 영상 형성부 391: 제2 본체 버스선
392: 카운터부
410_1 내지 410_N: 제1 본체 채널선
420_1 내지 420_N: 제2 본체 채널선
510: 신호 증폭부 510_1 내지 510_N: 증폭기
520: 신호 변환부 520_1 내지 520_N: ADC
530: 메모리부 530_1 내지 530_N: 메모리
610_1 내지 610_N: 본체 테스트선 620_1 내지 620_N: 본체 저항
710: 제1 릴레이 720: 제2 릴레이
730: 제3 릴레이100: Ultrasonic system 110: Control panel
120: Ultrasonic probe 130: System body
131: Processor 132:
140: display part 210: connector
220: ultrasonic transducer 220_1 to 220_N: transducer element
230: first probe signal lines 230_1 to 230_N: probe channel lines
240: second probe signal line 240_1 to 240_N: probe test line
250: probe resistor coupling / distribution portion
250_1 to 250_N: probe resistance 260: first probe bus line
270: probe memory 280: second probe bus line
310: Socket 320: Transmitter
330: transmission / reception switch 341: first main signal line
342: second main body signal line 350:
361: Third main body signal line
362: main body resistance coupling / distribution portion
363: first main bus line 364: signal forming section
365: Relay unit 370: Signal processing unit
380: image forming unit 391: second main bus line
392:
410_1 to 410_N: first main body channel line
420_1 to 420_N: the second main body channel line
510: signal amplification units 510_1 to 510_N: amplifier
520: signal conversion units 520_1 to 520_N: ADC
530: memory units 530_1 to 530_N: memory
610_1 to 610_N: main body test lines 620_1 to 620_N:
710: first relay 720: second relay
730: the third relay
Claims (21)
전기적 신호와 초음파 신호를 상호 변환하도록 구성되는 복수의 트랜스듀서 엘리먼트와,
상기 복수의 트랜스듀서 엘리먼트를 상기 초음파 시스템에 연결하기 위한 복수의 프로브 채널선과,
상기 복수의 프로브 채널선을 테스트하기 위해 상기 복수의 프로브 채널선의 소정 위치에 연결되는 복수의 프로브 테스트선과,
상기 복수의 프로브 테스트선에 연결되는 프로브 저항 결합/분배부
를 포함하는 초음파 프로브.An ultrasonic probe for an ultrasound system,
A plurality of transducer elements configured to convert between an electrical signal and an ultrasonic signal,
A plurality of probe channel lines for connecting the plurality of transducer elements to the ultrasound system;
A plurality of probe test lines connected to predetermined positions of the plurality of probe channel lines to test the plurality of probe channel lines,
A probe resistive coupling / distributing portion connected to the plurality of probe test lines,
And an ultrasonic probe.
상기 초음파 프로브의 정보에 관한 적어도 하나의 프로브 파라미터를 저장하기 위한 프로브 메모리
를 더 포함하는 초음파 프로브.The method according to claim 1,
A probe memory for storing at least one probe parameter related to the information of the ultrasonic probe;
And an ultrasonic probe.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 기재된 초음파 프로브와,
상기 초음파 프로브에 연결되는 시스템 본체
를 포함하고,
상기 시스템 본체는,
상기 초음파 프로브의 상기 복수의 프로브 채널선과 연결되는 복수의 본체 채널선과,
상기 복수의 본체 채널선에 연결되고, 상기 복수의 프로브 채널선 또는 상기 복수의 프로브 채널선을 검사하기 위한 검사 신호를 형성하도록 구성되는 신호 형성부와,
상기 복수의 본체 채널선에 연결되어 상기 검사 신호를 수신하도록 구성되는 수신부와,
상기 수신부에 의해 수신된 상기 검사 신호에 기초하여 상기 복수의 프로브 채널선 또는 상기 복수의 본체 채널선에 대한 양부를 판정하도록 구성되는 신호 처리부
를 포함하는 초음파 시스템.As an ultrasound system,
An ultrasound probe comprising: an ultrasonic probe according to any one of claims 1 to 5;
The system body connected to the ultrasonic probe
Lt; / RTI >
The system body includes:
A plurality of body channel lines connected to the plurality of probe channel lines of the ultrasonic probe,
A signal forming unit connected to the plurality of body channel lines and configured to form an inspection signal for inspecting the plurality of probe channel lines or the plurality of probe channel lines;
A receiving unit connected to the plurality of main channel lines and configured to receive the inspection signal;
A signal processing unit configured to judge whether the plurality of probe channel lines or the plurality of main body channel lines are positive or negative based on the inspection signal received by the receiving unit,
.
상기 복수의 프로브 채널선을 상기 초음파 프로브의 신호 송신 경로로서 검사하고, 상기 복수의 본체 채널선을 상기 시스템 본체의 신호 송신 경로로서 검사하기 위한 제1 검사 신호; 및
상기 복수의 프로브 채널선을 상기 초음파 프로브의 신호 수신 경로로서 검사하고, 상기 복수의 본체 채널선 및 상기 수신부를 상기 시스템 본체의 신호 수신 경로로서 검사하기 위한 제2 검사 신호
를 포함하는 초음파 시스템.7. The method of claim 6,
A first inspection signal for inspecting the plurality of probe channel lines as a signal transmission path of the ultrasonic probe and for inspecting the plurality of main channel lines as a signal transmission path of the system body; And
A second inspection signal for inspecting the plurality of probe channel lines as a signal reception path of the ultrasonic probe and for inspecting the plurality of main body channel lines and the reception unit as a signal reception path of the system body,
.
상기 복수의 본체 채널선을 검사하기 위해 상기 복수의 본체 채널선의 소정 위치에 연결되는 복수의 본체 테스트선과,
상기 복수의 본체 테스트선에 연결되는 본체 저항 결합/분배부와,
상기 프로브 저항 결합/분배부, 상기 본체 저항 결합/분배부 및 상기 수신부와 연결되고, 상기 초음파 프로브 및 상기 시스템 본체의 신호 송신 및 수신 경로 중 검사하고자 하는 신호 경로를 선택하도록 구성되는 릴레이부
를 더 포함하는 초음파 시스템.8. The method of claim 7,
A plurality of body test lines connected to predetermined positions of the plurality of body channel lines to inspect the plurality of body channel lines;
A main body resistance coupling / distributing unit connected to the plurality of main body test lines,
And a relay unit connected to the probe resistance coupling / distribution unit, the main body resistance coupling / distribution unit, and the receiving unit, and configured to select a signal path to be inspected among the signal transmission and reception paths of the ultrasonic probe and the system body.
And an ultrasonic system.
상기 프로브 저항 결합/분배부 및 상기 신호 형성부에 연결되는 제1 릴레이와,
상기 본체 저항 결합/분배부 및 상기 신호 형성부에 연결되는 제2 릴레이와,
상기 제1 릴레이, 상기 제2 릴레이 및 상기 수신부에 연결되는 제3 릴레이
를 포함하는 초음파 시스템.9. The relay apparatus according to claim 8,
A first relay connected to the probe resistive coupling / distribution unit and the signal forming unit,
A second resistor connected to the main body resistance combining / distributing unit and the signal forming unit,
The first relay, the second relay, and the third relay connected to the receiver,
.
대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호를 형성하도록 구성되는 송신부에 연결되고, 상기 송신신호에 기초하여 상기 초음파 프로브의 사용 시간을 카운트하고, 상기 카운트된 사용 시간을 업데이트하도록 구성되는 카운터부
를 더 포함하는 초음파 시스템.The method according to claim 6,
A counting unit connected to a transmitting unit configured to form a transmitting signal for obtaining an ultrasonic image of a target object and configured to count the use time of the ultrasonic probe based on the transmission signal and to update the counted use time,
And an ultrasonic system.
상기 사용 이력 정보에 기초하여 상기 초음파 프로브의 사용 시간 초기값을 설정하는 단계와,
대상체의 초음파 영상을 얻기 위한 송신신호의 형성이 개시되면, 상기 사용 시간 초기값에 기초하여 상기 초음파 프로브의 사용 시간을 카운트하는 단계와,
상기 송신신호의 형성이 정지되면, 상기 초음파 프로브의 사용 시간의 카운트를 종료하는 단계와,
상기 카운트된 사용 시간에 기초하여 새로운 사용 이력 정보를 형성하는 단계와,
상기 초음파 프로브의 상기 사용 이력 정보를 상기 새로운 사용 이력 정보로 업데이트하는 단계
를 포함하는 방법.A method for managing use history information indicating a use time of an ultrasonic probe,
Setting an initial value of use time of the ultrasonic probe based on the use history information;
Counting a use time of the ultrasonic probe based on the use time initial value when formation of a transmission signal for obtaining an ultrasonic image of the object is started;
Ending the counting of the use time of the ultrasonic probe when the formation of the transmission signal is stopped;
Forming new usage history information based on the counted usage time,
Updating the use history information of the ultrasonic probe with the new use history information
≪ / RTI >
상기 사용 이력 정보를 상기 초음파 프로브의 메모리에 저장하는 단계
를 더 포함하는 방법.19. The method of claim 18,
Storing the use history information in a memory of the ultrasonic probe
≪ / RTI >
상기 초음파 프로브가 활성화되면, 상기 초음파 프로브의 상기 메모리로부터 상기 사용 이력 정보를 판독하는 단계와,
상기 판독된 사용 이력 정보의 사용 시간을 상기 초음파 프로브의 상기 사용 시간 초기값으로 설정하는 단계
를 포함하는 방법.20. The method of claim 19, wherein setting the initial value of the use time of the ultrasonic probe comprises:
Reading the use history information from the memory of the ultrasonic probe when the ultrasonic probe is activated,
Setting the use time of the read use history information as the use time initial value of the ultrasonic probe
≪ / RTI >
상기 카운트된 사용 시간이 사전 설정된 시간을 경과하였는지 여부를 판단하는 단계와,
상기 카운트된 사용 시간이 사전 설정된 시간을 경과한 것으로 판단되면, 상기 카운트된 사용 시간에 기초하여 상기 새로운 사용 이력 정보를 형성하는 단계와,
상기 초음파 프로브의 상기 사용 이력 정보를 상기 새로운 사용 이력 정보로 업데이트하는 단계
를 더 포함하는 방법.21. The method according to any one of claims 18 to 20,
Determining whether the counted usage time has passed a predetermined time,
Forming the new usage history information based on the counted usage time if it is determined that the counted usage time has passed a predetermined time;
Updating the use history information of the ultrasonic probe with the new use history information
≪ / RTI >
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
KR1020150184997A KR102091048B1 (en) | 2015-12-23 | 2015-12-23 | Ultrasound probe, ultrasound system, and method of managing usage history information of ultrasound probe |
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KR1020150184997A KR102091048B1 (en) | 2015-12-23 | 2015-12-23 | Ultrasound probe, ultrasound system, and method of managing usage history information of ultrasound probe |
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Citations (4)
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JP2004174227A (en) * | 2002-09-30 | 2004-06-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | Ultrasonic search unit and ultrasonic transmitter/receiver using the same |
KR20050058204A (en) * | 2003-12-11 | 2005-06-16 | 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨 | Ultrasonic diagnostic apparatus and driving method therefor |
JP2009061211A (en) | 2007-09-10 | 2009-03-26 | Panasonic Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
JP2010252839A (en) * | 2009-04-21 | 2010-11-11 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Ultrasonic probe and ultrasonic diagnostic apparatus |
-
2015
- 2015-12-23 KR KR1020150184997A patent/KR102091048B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
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