KR20170039913A - System for testing performance of frequency synthesizer and method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 주파수 합성기의 성능 시험 장비에 관한 것으로서, 특히, 온도 변화에 따라 주파수 합성기 내부의 감쇄값 제어가 가능한 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a performance testing apparatus for a frequency synthesizer, and more particularly, to a system and a method for testing performance of a frequency synthesizer capable of controlling a damping value in a frequency synthesizer according to a temperature change.
주파수 합성기는 일반적으로 레이더나 통신 장비와 같은 주파수 신호를 사용하는 장치에 장착되어 각 장치의 요구에 적합한 다양한 주파수의 신호를 생성하고 합성한다. 이러한 주파수 합성기는 각 장치에서 요구되는 주파수 대역의 신호를 지정된 출력 레벨로 정확하게 생성할 수 있어야 하며, 요구되는 주파수 대역이 가변되는 경우에 신속하게 신속하게 주파수를 가변할 수 있어야 한다. 또한 잡음과 같은 불요파가 포함되지 않는 깨끗한 파형의 신호를 출력할 수 있어야 한다.The frequency synthesizer is generally mounted on a device using a frequency signal such as a radar or a communication device to generate and synthesize signals of various frequencies suited to the requirements of each device. Such a frequency synthesizer should be able to accurately generate a signal of the frequency band required by each device at a specified output level and quickly and quickly change the frequency when the required frequency band is variable. It should also be able to output a clean waveform signal that does not contain unwanted waves, such as noise.
특히, 군사용으로 사용되는 레이더나 통신 장비 등에 적용되는 주파수 합성기는 다양한 운용 환경에서도 안정적인 주파수 신호를 출력할 수 있도록 구성되어야 한다.In particular, frequency synthesizers applied to military radar and communication equipment should be configured to output stable frequency signals in various operating environments.
이에 현장 운용 시의 신뢰도를 높이기 위해, 주파수 합성 장치는 생산 시에 온도 변화에 따른 불요파 변화 발생 및 출력 레벨 변화를 테스트하여 측정하고, 측정된 결과를 기초로 온도 변화에 대한 성능 최적화 작업을 수행한다.In order to increase the reliability of the operation in the field, the frequency synthesizer tests and measures the occurrence of spurious wave change and output level change according to the temperature change during production, and performs a performance optimization operation on the temperature change based on the measured result do.
기존의 주파수 합성기의 테스트는 온도 챔버 내에 주파수 합성기가 장착된 장치(예를 들면 레이더 송신기)를 배치하고, 온도 챔버의 온도를 가변하면서 장치를 구동하여 온도 변화에 따라 주파수 합성기에서 출력되는 주파수 신호의 파형과 출력 레벨을 감지한다. 온도 변화에 대한 주파수 합성기의 성능 변화가 크지 않아 수정의 필요성이 발생하지 않는 경우에는 별도의 성능 최적화를 수행할 필요가 없어 문제가 되지 않는다.In the conventional frequency synthesizer test, a device (for example, a radar transmitter) equipped with a frequency synthesizer is disposed in a temperature chamber, and the device is driven while varying the temperature of the temperature chamber. Detect waveform and output level. If the performance of the frequency synthesizer does not change significantly due to the temperature change, there is no need to perform a separate performance optimization.
그러나 온도에 따른 성능 최적화를 수행해야 하는 경우, 기존의 주파수 합성기는 출력 레벨 및 불요파 발생을 조절하기 위한 감쇄기가 고정된 감쇄값을 갖는 π형 감쇄기로 구현되어 장착되었기 때문에 테스트 도중 회로를 수정 작업을 수행할 수 없었다. 따라서 온도 챔버에서 장치를 인출한 후, 상온에서 주파수 합성기의 π형 감쇄기를 교체하여 장착함으로써, 출력 레벨을 조절하고 불요파 발생을 억제한다. 즉, 온도 성능 테스트 중 주파수 합성기의 감쇄값을 즉각적으로 가변하지 못하여, 상온에서 감쇄값을 조절한다. 이는 온도 챔버의 온도 조절 시간을 요구하게 되어 테스트 시간이 길어지는 문제가 있다.또한 상온에서 감쇄값을 조절하므로, 목표로 하는 온도에서의 정확한 감쇄값을 확인하기 어렵다는 문제가 있어, 감쇄값의 반복적 테스트를 통한 재조정이 필요한 경우가 발생한다.However, if performance optimization based on temperature is to be performed, the conventional frequency synthesizer is implemented with a π-type attenuator having a fixed attenuation value for adjusting the output level and spurious generation, Could not be done. Therefore, after the device is taken out from the temperature chamber, the π-type attenuator of the frequency synthesizer is replaced at room temperature, thereby adjusting the output level and suppressing generation of spurious waves. That is, since the attenuation value of the frequency synthesizer can not be changed instantly during the temperature performance test, the attenuation value is adjusted at room temperature. In addition, since the attenuation value is adjusted at room temperature, there is a problem that it is difficult to confirm the accurate attenuation value at the target temperature, Sometimes it is necessary to recalibrate through testing.
그리고 π형 감쇄기를 작업자가 직접 기판 상에 납땜하여 교체하는 방식으로 진행되어 숙련된 작업자가 아니면, 작업하기 어렵고, 회로에 손상이 발생할 가능성이 있다.In addition, the π-type attenuator is soldered directly to the substrate by a worker to replace it, so that it is difficult to work and there is a possibility that the circuit is damaged if it is not a skilled worker.
이렇게 기존의 테스트 시스템은 주파수 합성기의 감쇄값을 온도 챔버 내에서 즉각적으로 조절할 수 없음에 따라 정확한 테스트가 불가능하고, 반복적인 테스트를 수행하게 되어 비효율적이라는 문제가 있다.Thus, the existing test system can not accurately adjust the attenuation value of the frequency synthesizer in the temperature chamber, so that it is impossible to accurately test it, and the repeated test is performed, which is inefficient.
뿐만 아니라, 주파수 합성기는 주파수 합성기의 출력 레벨에 따라 점등되어, 운용시 고장 발생을 신속하게 확인할 수 있도록 하는 고장 표시 램프를 구비하였으나, 출력 레벨을 감지하는 전력 측정기의 온도 특성에 따라 정상 동작 중에도 고장 표시 램프가 점등되는 경우가 발생하여 불필요한 검사를 수행하게 되는 경우도 발생한다.In addition, the frequency synthesizer is provided with a failure indicator lamp which is turned on in accordance with the output level of the frequency synthesizer so that the occurrence of a failure can be checked quickly during operation. However, depending on the temperature characteristics of the power meter for detecting the output level, There is a case where the display lamp is turned on and unnecessary inspection is performed.
따라서 이러한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 주파수 합성기의 성능 시험 시에 주파수에 따라 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨과 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made keeping in mind the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide a frequency synthesizer which measures an output level and a spurious level of a frequency synthesizer according to a frequency, And to control the attenuation value of the corresponding attenuator in the frequency synthesizer according to the present invention.
그러나 본 발명의 목적은 상기에 언급된 사항으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the objects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상기 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 한 관점에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템은 주파수에 따른 주파수 합성기의 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 전력 측정기; 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 신호 분석기; 측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정하는 제어 단말; 및 결정된 상기 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 시험 장비를 포함할 수 있다.In order to achieve the above objects, a system for testing the performance of a frequency synthesizer according to an aspect of the present invention includes: a power meter for measuring an output level from an output signal of a frequency synthesizer according to a frequency; A signal analyzer for measuring a spurious level from an output signal of the frequency synthesizer; A control terminal for receiving the measured output level and the spurious level and determining a correction value for controlling the attenuation value of the corresponding attenuator according to the provided output level and the spurious level; And a test equipment for inputting the determined correction value to a corresponding attenuator in the frequency synthesizer.
바람직하게, 상기 제어 단말은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하는 경우, 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각을 튜닝하는 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the control terminal determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator for tuning the output level and the spurious level, respectively, when the output level and the spurious level do not satisfy the target value .
바람직하게, 상기 제어 단말은 상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고, 상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 한다.Preferably, when the output level does not satisfy the first target value, the control terminal determines that the output level is a defective state. When the spurious level does not satisfy the second target value, the control terminal determines that the spurious level is in a defective state .
바람직하게, 상기 제어 단말은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수의 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.Preferably, if the output level and the spurious level do not satisfy the target value, the control terminal may use the conversion table storing the voltage level of the output signal of the synthesizer of the frequency and the corresponding attenuation value, And a correction value for increasing or decreasing the attenuation value is determined.
또한 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템은 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위한 램프의 광을 감지하는 광 센서를 더 포함할 수 있다.The system for testing the performance of the frequency synthesizer according to the present invention may further include an optical sensor for sensing the light of the lamp for indicating a failure state of the frequency synthesizer.
바람직하게, 상기 제어 단말은 감지된 상기 램프의 광에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the control terminal determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator according to the detected light of the lamp.
본 발명의 다른 한 관점에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법은 전력 측정기로 주파수에 따른 주파수 합성기의 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 단계; 신호 분석기로 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 단계; 측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정하는 단계; 및 결정된 상기 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 단계를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method for testing the performance of a frequency synthesizer, including: measuring an output level from an output signal of a frequency synthesizer according to a frequency with a power meter; Measuring a spurious level from an output signal of the frequency synthesizer with a signal analyzer; Determining a correction value for controlling the attenuation value of the corresponding attenuator according to each of the measured output level and the unnecessary wave level; And inputting the determined correction value to a corresponding attenuator in the frequency synthesizer.
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 상기 출력 레벨이 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하는 경우, 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각을 튜닝하는 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the estimating step includes a step of calculating a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator tuning each of the output level and the spurious level, when the output level does not satisfy the target value at each of the spurious levels .
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고, 상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the estimating step determines that the output level is a defective state when the output level does not satisfy the first target value, and when the spurious wave level does not satisfy the second target value, . ≪ / RTI >
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수의 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.If the output level and the spurious level do not satisfy the target value, the estimating step may calculate the attenuation value corresponding to the voltage level of the output signal of the synthesizer of the frequency, And a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the output signal.
또한, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법은 광 센서로 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위한 램프의 광을 감지하는 단계를 더 포함할 수 있다.In addition, the method for testing the performance of the frequency synthesizer according to the present invention may further include the step of sensing light of a lamp for indicating a failure state of the frequency synthesizer with an optical sensor.
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 감지된 상기 램프의 광에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the calculating step determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator according to the detected light of the lamp.
이를 통해, 본 발명은 주파수 합성기의 성능 시험 시에 온도 변화에 따른 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨과 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 함으로써, 온도 시험 중에도 최적의 감쇄값을 인지할 수 있고 그 최적의 감쇄값을 장비에 적용할 수 있는 효과가 있다.Accordingly, in the performance test of the frequency synthesizer, the output level and the spurious level of the frequency synthesizer are measured according to the temperature change, and the attenuation value of the corresponding attenuator in the frequency synthesizer is determined according to the measured output level and the spurious level. The optimum attenuation value can be recognized even during the temperature test, and the optimum attenuation value can be applied to the equipment.
또한 본 발명은 외부 장입 장치에서 최적의 감쇄값을 장입하는 것이 가능하기 때문에 온도 특성에도 항상 안정적으로 동작할 수 있는 제품을 생산할 수 있는 효과가 있다.Further, since the present invention can charge an optimum attenuation value in an external charging apparatus, it is possible to produce a product which can always operate stably even in temperature characteristics.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 구현 예를 보여주는 도면이다.
도 3은 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 방법을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 감쇄값을 제어하기 위한 방법을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a performance testing system of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram illustrating an embodiment of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram for explaining the principle of correcting the output level of the frequency synthesizer.
4 is a diagram for explaining the principle of correcting the unnecessary wave level of the frequency synthesizer.
5 is a diagram for explaining the principle of correcting the lamp operation of the frequency synthesizer.
6 is a diagram illustrating a method for testing the performance of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
7 is a diagram illustrating a method for controlling a damping value according to an embodiment of the present invention.
이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법을 첨부한 도면을 참조하여 설명한다. 본 발명에 따른 동작 및 작용을 이해하는 데 필요한 부분을 중심으로 상세히 설명한다.Hereinafter, a system and method for testing the performance of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The present invention will be described in detail with reference to the portions necessary for understanding the operation and operation according to the present invention.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 동일한 명칭의 구성 요소에 대하여 도면에 따라 다른 참조부호를 부여할 수도 있으며, 서로 다른 도면임에도 불구하고 동일한 참조부호를 부여할 수도 있다. 그러나, 이와 같은 경우라 하더라도 해당 구성 요소가 실시예에 따라 서로 다른 기능을 갖는다는 것을 의미하거나, 서로 다른 실시예에서 동일한 기능을 갖는다는 것을 의미하는 것은 아니며, 각각의 구성 요소의 기능은 해당 실시예에서의 각각의 구성 요소에 대한 설명에 기초하여 판단하여야 할 것이다.In describing the constituent elements of the present invention, the same reference numerals may be given to constituent elements having the same name, and the same reference numerals may be given thereto even though they are different from each other. However, even in such a case, it does not mean that the corresponding component has different functions according to the embodiment, or does not mean that the different components have the same function. It should be judged based on the description of each component in the example.
특히, 본 발명에서는 주파수 합성기의 성능 시험 시에 주파수에 따라 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨와 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 하는 새로운 방안을 제안한다.Particularly, in the present invention, the output level and the spurious level of the frequency synthesizer are measured according to the frequency in the performance test of the frequency synthesizer, and the attenuation value of the corresponding attenuator in the frequency synthesizer is controlled according to the measured output level and the spurious level We propose a new scheme.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a performance testing system of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템은 제1 신호 발생기(110), 제2 신호 발생기(120), 주파수 합성기(130), 전력 측정기(140), 신호 분석기(150), 광 센서(160), 제어 단말(170), 시험 장비(180)를 포함할 수 있다.1, a performance testing system of a frequency synthesizer according to the present invention includes a
제1 신호 발생기(110)는 주파수 합성을 위한 제1 주파수 신호를 발생할 수 있다.The
제2 신호 발생기(120)는 주파수 합성을 위한 제2 주파수 신호를 발생할 수 있다.The
주파수 합성기(130)는 제1 주파수 신호 또는 제2 주파수 신호를 입력 받아 그 입력 받은 제1 주파수 신호 또는 제2 주파수 신호를 기준으로 원하는 주파수 신호를 생성할 수 있다.The
이러한 주파수 합성기(130)는 상온, 고온, 저온 환경에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 상태 등의 성능을 시험하기 위해서 온도챔버(점선) 내에 위치할 수 있다.The
전력 측정기(140)는 주파수 합성기의 출력단에 연결되어, 주파수 합성기(130)의 출력 신호를 제공 받아 그 제공 받은 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정할 수 있다.The
신호 분석기(150)는 주파수 합성기의 출력단에 연결되어, 주파수 합성기(130)의 출력 신호를 제공 받아 그 제공 받은 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정할 수 있다.The
광 센서(160)는 주파수 합성기(130)의 고장 상태를 식별하기 위한 램프(LP)로부터 소정 거리만큼 이격되어 장착되어, 그 램프로부터 발광되는 광을 감지할 수 있다.The
제어 단말(170)은 전력 측정기(140)로부터 측정된 출력 레벨과 신호 분석기(150)로부터 측정된 불요파를 제공받아 제공받은 출력 레벨과 불요파 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다.The
그 일예로, 제어 단말(170)은 측정된 출력 레벨이 기 설정된 제1 목표치를 만족하면 측정된 출력 레벨이 정상 상태라고 판단하고 제1 목표치를 벗어나면 출력 레벨이 불량 상태라고 판단한다.For example, when the measured output level satisfies the predetermined first target value, the
이때, 제어 단말(170)은 일치하지 않는 경우 출력 레벨을 튜닝하는 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다. 즉, 제어 단말(170)은 출력 레벨이 제1 목표치보다 크면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 감소시키기 위한 보정값을 결정하고, 출력 레벨이 제1 목표치보다 작으면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가시키기 위한 보정값을 결정한다.At this time, the
여기서, 제어 단말(170)은 주파수 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 미리 저장된 변환 테이블을 이용하여 보정값을 결정할 수 있다.Here, the
다른 예로, 제어 단말(170)은 측정된 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하면 측정된 불요파 레벨이 정상 상태라고 판단하고 제2 목표치를 벗어나면 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단한다.As another example, when the measured spurious level satisfies the second target value, the
이때, 제어 단말(170)은 일치하지 않는 경우 불요파 레벨을 튜닝하는 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다. 즉, 제어 단말(170)은 불요파 레벨이 제2 목표치보다 크면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하여 불요파 레벨이 제2 목표치보다 작아질 때까지 불요파를 감소시키는 감쇄기의 보정값을 결정한다.At this time, the
제어 단말(170)은 또한 광 센서(160)로부터 측정된 램프의 발광 여부에 따라 그 램프가 정상적으로 동작하는지의 여부를 판단하고 그 판단한 결과에 따라 주파수 합성기(130) 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정할 수 있다.The
제어 단말(170)은 이렇게 주파수 합성기의 출력 레벨, 불요파, 램프 상태에 따라 산정된 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 시험 장비(180)에 제공할 수 있다.The
시험 장비(180)는 제어 단말(170)로부터 주파수 합성기의 출력 레벨, 불요파, 램프 상태에 따라 산정된 보정값을 제공 받아 제공 받은 보정값을 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력함으로써 그 입력된 보정값으로 감쇄값을 제어할 수 있다.The
시험 장비(180)는 제어 단말(170)로부터 주파수 합성기의 주파수를 제어하기 위한 제어 신호를 제공 받아 그 제공 받은 제어 신호를 주파수 합성기에 입력할 수 있다.The
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 구현 예를 보여주는 도면이다.2 is a diagram illustrating an embodiment of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기는 3개의 감쇄기가 적용되어 있는데, 예컨대, 제1 감쇄기는 출력 레벨을 튜닝하는 가변 감쇄기이고, 제2 감쇄기는 불요파 레벨을 튜닝하는 가변 감쇄기이며, 제3 감쇄기는 램프 불량시 튜닝하는 가변 감쇄기이다.As shown in FIG. 2, in the frequency synthesizer according to the present invention, three attenuators are applied. For example, the first attenuator is a variable attenuator for tuning an output level, and the second attenuator is a variable attenuator And the third attenuator is a variable attenuator that tunes when the lamp fails.
여기서는 주파수 합성기 내에 3개의 감쇄기를 적용하는 경우를 일 예로 설명하고 있지만 반드시 이에 한정되지 않고 필요에 따라 다양한 개수의 감쇄기가 적용될 수 있다.Here, the case where three attenuators are applied in the frequency synthesizer is described as an example, but the present invention is not limited thereto and various numbers of attenuators may be applied as needed.
도 3은 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.3 is a diagram for explaining the principle of correcting the output level of the frequency synthesizer.
도 3에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 주파수 합성기의 출력 레벨이 정상이라고 판단하는 목표치는 13~17dBm이기 때문에 이 목표치를 벗어나는 경우 제2 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하게 된다.As shown in FIG. 3, the output level of the frequency synthesizer is corrected. That is, since the target value for determining that the output level of the frequency synthesizer is normal is 13 to 17 dBm, the output level of the frequency synthesizer is corrected by controlling the attenuation ratio or the attenuation value of the second attenuator when the target value is deviated.
예를 들면, case1인 경우, 고온에서 측정된 출력 레벨이 12dBm이기 때문에 고온에서 불량 상태라고 판단하여 제2 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 0.75dB로 제어하게 되고, 이로 인해 출력 레벨이 13.25dBm가 되어 양호 상태로 판단할 수 있다.For example, in Case 1, since the output level measured at a high temperature is 12 dBm, it is determined that the attenuation value of the second attenuator is in a bad state at a high temperature, and the attenuation value of the second attenuator is controlled from 2 dB to 0.75 dB. As a result, the output level becomes 13.25 dBm It can be judged as a good state.
다른 예로, case2인 경우, 저온에서 측정된 출력 레벨이 19dBm이기 때문에 저온에서 불량 상태라고 판단하여 제2 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 4.25dB로 제어하게 되고, 이로 인해 출력 레벨이 16.75dBm가 되어 양호 상태로 판단할 수 있다.In the
도 4는 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.4 is a diagram for explaining the principle of correcting the unnecessary wave level of the frequency synthesizer.
도 4에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 주파수 합성기의 불요파 레벨이 정상이라고 판단하는 목표치는 65dB 이하이기 때문에 이 목표치를 벗어나는 경우 제1 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하게 된다.As shown in Fig. 4, the case of correcting the spurious level of the frequency synthesizer is shown. That is, since the target value for judging that the spurious level of the frequency synthesizer is normal is less than 65 dB, the unnecessary wave level of the frequency synthesizer is corrected by controlling the attenuation ratio or attenuation value of the first attenuator when the target value deviates from the target value.
예를 들면, case1인 경우, 측정된 불요파 레벨이 -60dBc이기 때문에 불량 상태라고 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 3dB로 1차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -62dBc로 측정된다.For example, in case 1, since the measured spurious level is -60 dBc, it is judged as a defective state and the attenuation value of the first attenuator is firstly controlled at 3 dB at 2 dB. As a result, the unnecessary wave level is measured at -62 dBc do.
상기 측정된 불요파 레벨이 -62dBc이기 때문에 여전히 불량 상태로 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 3dB에서 4dB로 2차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -64dBc로 측정된다.Since the measured spurious level is -62 dBc, it is still determined to be in a defective state, and the attenuation value of the first attenuator is secondarily controlled at 4 dB from 3 dB, thereby measuring the spurious level at -64 dBc.
상기 측정된 불요파 레벨이 -64dBc이기 때문에 여전히 불량 상태로 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 4dB에서 5dB로 3차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -66dBc로 측정되기 때문에 양호 상태로 판단되어 추가적인 보정은 하지 않게 된다.The measured attenuation value of the first attenuator is thirdly controlled from 4 dB to 5 dB because the measured level of the unnecessary wave is -64 dBc, so that it is determined that the unnecessary wave level is -66 dBc. So that no further correction is made.
여기서, 불요파특성은 낮은 값 일수록 좋은 성능을 의미하므로 사용자가 추가적인 낮은 불요파 특성을 원할 경우는 목표값을 낮게 설정하여 목표 불요값을 달성할 수 있다.Here, the lower the value of the spurious wave characteristic is, the better the performance is. Therefore, when the user desires the additional low spurious characteristic, the target value can be achieved by setting the target value low.
도 5는 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram for explaining the principle of correcting the lamp operation of the frequency synthesizer.
도 5에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 램프 상태가 불량이라고 판단하는 경우 제3 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수합성기의 램프 상태를 보정하게 된다.As shown in Fig. 5, the case of correcting the lamp operation of the frequency synthesizer is shown. That is, if it is determined that the lamp state is bad, the lamp state of the frequency synthesizer is corrected by controlling the attenuation ratio or the attenuation value of the third attenuator.
예를 들면, case1인 경우, 측정된 램프 상태가 고장 상태로 점등되면 사전에 부착한 광 센서가 고장램프의 점등상태를 감지하고, 신호분석기에 출력되는 출력신호레벨을 비교하여 정상레벨(13 ~ 17dBm)이라고 판단되는 경우 제3 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 3dB로 제어하게 되고, 이로 인해 램프 상태가 정상 상태가 되면 시험을 종료하고, 계속해서 고장램프가 점등되는 경우 3dB에서 4dB로 제어하는 방법으로 램프가 정상상태가 될 때까지 감쇄레벨을 보정하게 된다.For example, in the case 1, when the measured lamp state is turned on in a fault state, the optical sensor attached in advance senses the lighting state of the fault lamp, compares the output signal level outputted to the signal analyzer, 17dBm), the attenuation value of the third attenuator is controlled to be 3 dB at 2 dB, thereby terminating the test when the lamp state is in a normal state, and controlling the attenuation value at 4 dB at 3 dB when the failure lamp is continuously turned on , The attenuation level is corrected until the lamp reaches a steady state.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 방법을 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating a method for testing the performance of a frequency synthesizer according to an embodiment of the present invention.
도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템(이하, 성능시험시스템이라고 한다)은 사용자의 메뉴 또는 키 조작에 따라 주파수 합성기의 성능 시험이 선택되면, 상온 조건에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S610).6, when the performance test of the frequency synthesizer is selected according to the menu or key operation of the user, the performance test system (hereinafter, referred to as the performance test system) of the frequency synthesizer according to the present invention, An output level, an unnecessary wave level, and a lamp operation state can be sequentially tested (S610).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S620).Next, the performance test system can store the test result when the test is completed (S620).
다음으로, 성능시험 시스템은 고온에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S630).Next, the performance test system can sequentially test the output level, the spurious level, and the lamp operation state for each frequency at a high temperature (S630).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S640).Next, the performance test system can store the test result when the test is completed (S640).
다음으로, 성능시험 시스템은 저온에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S650).Next, the performance test system can sequentially test the output level, the spurious level, and the lamp operation state for each frequency at a low temperature (S650).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S660).Next, the performance test system can store the test result when the test is completed (S660).
다음으로, 성능시험 시스템은 모든 시험이 완료되면, 시험 결과로서 산출된 감쇄값을 주파수 합성기 내 해당 감쇄기에 각각 설정하고 성능 시험을 종료할 수 있다(S670).Next, the performance test system may set the attenuation value calculated as the test result to the attenuator in the frequency synthesizer, and terminate the performance test, when all the tests are completed (S670).
도 7은본 발명의 일 실시예에 따른 감쇄값을 제어하기 위한 방법을 나타내는 도면이다.7 is a diagram illustrating a method for controlling an attenuation value according to an embodiment of the present invention.
도 7에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템(이하, 성능시험 시스템이라고 한다)은 상온 또는 고온 또는 저온에서 성능 시험이 시작되면, 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 측정할 수 있다(S710).As shown in FIG. 7, when a performance test system (hereinafter referred to as a performance test system) of the frequency synthesizer according to the present invention starts performance test at normal temperature, high temperature or low temperature, output level, The operating state can be measured (S710).
다음으로, 성능시험 시스템은 측정된 주파수 합성기의 출력 레벨이 기 설정된 제1 목표치를 만족하는지를 확인할 수 있다(S711).Next, the performance test system can confirm whether the output level of the measured frequency synthesizer satisfies a predetermined first target value (S711).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 제1 목표치를 만족하지 못하면, 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S712).Next, if the performance test system does not satisfy the first target value as a result of the verification, a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator may be determined and the attenuation value of the attenuator may be controlled using the determined correction value ( S712).
반면, 성능시험 시스템은 제1 목표치를 만족하는 경우, 측정된 주파수 합성기의 불요파 레벨이 기 설정된 제2 목표치를 만족하는지를 확인할 수 있다(S713).On the other hand, if the performance test system satisfies the first target value, it can be confirmed whether the spurious level of the measured frequency synthesizer satisfies a predetermined second target value (S713).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 제2 목표치를 만족하지 못하면 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S714).Next, the performance test system determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator, if the second target value is not satisfied as a result of the determination, and controls the attenuation value of the attenuator using the determined correction value (S714 ).
반면, 성능시험 시스템은 제2 목표치를 만족하는 경우. 측정된 주파수 합성기의 램프 상태가 정상적으로 동작하는 정상 상태인지를 확인할 수 있다(S715).On the other hand, the performance test system satisfies the second target value. It can be determined whether the measured frequency state of the frequency synthesizer is normal (S715).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 불량 상태이면, 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S716).Next, the performance test system determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator, and controls the attenuation value of the attenuator using the determined correction value, if the result of the determination is a bad condition (S716).
반면, 성능시험 시스템은 정상 상태이면, 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태에 따라 결정된 보정값에 따른 최종 감쇄값을 산출하여 산출된 감쇄값을 해당 감쇄기에 각각 설정할 수 있다(S717).On the other hand, if the performance test system is in a normal state, the final attenuation value according to the correction value determined according to the output level, the unnecessary wave level, and the lamp operation state for each frequency may be calculated and the calculated attenuation value may be set to the attenuator respectively (S717) .
다음으로, 성능시험 시스템은 성능 시험이 n회 반복 수행되었는지를 확인하여(S718) 그 확인한 결과로 n회 반복 수행되었으면 감쇄값을 저장하고 성능 시험을 종료할 수 있다(S719).Next, the performance test system checks whether the performance test is repeated n times (S718). If the performance test is repeated n times as a result of the check, the damping value is stored and the performance test can be terminated (S719).
이때, 본 발명에 따른 성능시험 시스템에서는 성능 시험을 1회 반복 수행되었는지를 확인하지만 반드시 이에 한정되지 않고 필요에 따라 변경될 수 있다.At this time, in the performance test system according to the present invention, although it is confirmed whether the performance test is repeated once, it is not necessarily limited to this but it can be changed as needed.
한편, 이상에서 설명한 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성 요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 기재되어 있다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성 요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다. 또한, 그 모든 구성 요소들이 각각 하나의 독립적인 하드웨어로 구현될 수 있지만, 각 구성 요소들의 그 일부 또는 전부가 선택적으로 조합되어 하나 또는 복수 개의 하드웨어에서 조합된 일부 또는 전부의 기능을 수행하는 프로그램 모듈을 갖는 컴퓨터 프로그램으로서 구현될 수도 있다. 또한, 이와 같은 컴퓨터 프로그램은 USB 메모리, CD 디스크, 플래쉬 메모리 등과 같은 컴퓨터가 읽을 수 있는 저장매체(Computer Readable Media)에 저장되어 컴퓨터에 의하여 읽혀지고 실행됨으로써, 본 발명의 실시예를 구현할 수 있다. 컴퓨터 프로그램의 저장매체로서는 자기 기록매체, 광 기록매체, 캐리어 웨이브 매체 등이 포함될 수 있다.It is to be understood that the present invention is not limited to these embodiments, and all of the elements constituting the embodiments of the present invention described above may be combined or operated in one operation. That is, within the scope of the present invention, all of the components may be selectively coupled to one or more of them. In addition, although all of the components may be implemented as one independent hardware, some or all of the components may be selectively combined to perform a part or all of the functions in one or a plurality of hardware. As shown in FIG. In addition, such a computer program may be stored in a computer-readable medium such as a USB memory, a CD disk, a flash memory, etc., and read and executed by a computer to implement embodiments of the present invention. As the storage medium of the computer program, a magnetic recording medium, an optical recording medium, a carrier wave medium, or the like may be included.
이상에서 설명한 실시예들은 그 일 예로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or essential characteristics thereof. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.
110: 제1 신호 발생기
120: 제2 신호 발생기
130: 주파수 합성기
140: 전력 측정기
150: 신호 분석기
160: 광 센서
170: 제어 단말
180: 시험 장비110: first signal generator
120: second signal generator
130: Frequency synthesizer
140: Power meter
150: Signal Analyzer
160: Light sensor
170: control terminal
180: Test equipment
Claims (12)
상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 신호 분석기;
측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정하는 제어 단말; 및
결정된 상기 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 시험 장비;
를 포함하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.A power meter for measuring an output level from an output signal of the frequency synthesizer according to a frequency;
A signal analyzer for measuring a spurious level from an output signal of the frequency synthesizer;
A control terminal for receiving the measured output level and the spurious level and determining a correction value for controlling the attenuation value of the corresponding attenuator according to the provided output level and the spurious level; And
A test equipment for inputting the determined correction value to a corresponding attenuator in the frequency synthesizer;
Wherein the frequency synthesizer comprises a frequency synthesizer.
상기 제어 단말은,
상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하는 경우, 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각을 튜닝하는 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.The method according to claim 1,
The control terminal,
And determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator tuning each of the output level and the spurious wave level when the output level and the spurious wave level do not satisfy the target value, A system for testing the performance of a system.
상기 제어 단말은,
상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고,
상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.3. The method of claim 2,
The control terminal,
Determines that the output level is in a bad state when the output level does not satisfy the first target value,
And determines that the spurious level is in a bad state when the spurious level does not satisfy the second target value.
상기 제어 단말은,
상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수의 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.3. The method of claim 2,
The control terminal,
And a correction unit configured to adjust the attenuation value of the corresponding attenuator by using a conversion table in which the voltage level of the output signal of the synthesizer of the frequency and the corresponding attenuation value are stored, Value of the frequency synthesizer.
상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위한 램프의 광을 감지하는 광 센서;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.The method according to claim 1,
An optical sensor for sensing light of a lamp for indicating a failure state of the frequency synthesizer;
Wherein the frequency synthesizer further comprises:
상기 제어 단말은,
감지된 상기 램프의 광에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.6. The method of claim 5,
The control terminal,
And determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator according to the sensed light of the lamp.
신호 분석기로 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 단계;
측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정하는 단계; 및
결정된 상기 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 단계;
를 포함하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.Measuring an output level from an output signal of the frequency synthesizer according to a frequency with a power meter;
Measuring a spurious level from an output signal of the frequency synthesizer with a signal analyzer;
Determining a correction value for controlling the attenuation value of the corresponding attenuator according to each of the measured output level and the unnecessary wave level; And
Inputting the determined correction value to a corresponding attenuator in the frequency synthesizer;
≪ / RTI >
상기 산정하는 단계는,
상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하는 경우, 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각을 튜닝하는 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.8. The method of claim 7,
The method of claim 1,
And determines a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator tuning each of the output level and the spurious wave level when the output level and the spurious wave level do not satisfy the target value, Lt; / RTI >
상기 산정하는 단계는,
상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고,
상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.9. The method of claim 8,
The method of claim 1,
Determines that the output level is in a bad state when the output level does not satisfy the first target value,
And determines that the spurious level is in a bad state when the spurious level does not satisfy the second target value.
상기 산정하는 단계는,
상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수의 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.9. The method of claim 8,
The method of claim 1,
And a correction unit configured to adjust the attenuation value of the corresponding attenuator by using a conversion table in which the voltage level of the output signal of the synthesizer of the frequency and the corresponding attenuation value are stored, ≪ / RTI > of the frequency synthesizer.
광 센서로 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위한 램프의 광을 감지하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.8. The method of claim 7,
Sensing light of a lamp for indicating a fault state of the frequency synthesizer with an optical sensor;
≪ / RTI > further comprising the steps of:
상기 산정하는 단계는,
감지된 상기 램프의 광에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가 또는 감소시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.12. The method of claim 11,
The method of claim 1,
And determining a correction value for increasing or decreasing the attenuation value of the attenuator according to the sensed light of the lamp.
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101894833B1 (en) * | 2017-08-10 | 2018-09-04 | 엘아이지넥스원 주식회사 | Performance Testing System for Frequency Synthesis Apparatus |
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