KR20170000348U

KR20170000348U - 마그네트 키(Magnet Key)와 회로시험기를 내장한 일체형 발파기

Info

Publication number: KR20170000348U
Application number: KR2020150004797U
Authority: KR
Inventors: 김희진
Original assignee: 김희진
Priority date: 2015-07-15
Filing date: 2015-07-15
Publication date: 2017-01-25

Abstract

이상의 본 고안을 도면에 의하여 요약하면 대표도는 본 고안의 실시 예이며 특히 마그네트 키(200)는 회로 시험기를 내장하고 있다.
마그네트 키 일체형 회로시험기(200)은 전원스위치가 없는 구조로 도 2에 의하여 설명하면 외부 측정대상인 뇌관의 고유 저항과 전압 분할 용 저항(R1)에 의하여 전압이 분할 되고 이 전압은 FET(Q1) 및 트랜지스터 (Q2)를 구동하여 전원을 비교용 IC(U1)및 표시용 발광다이오드(LED1), 부저(BUZZER)를 구동하는데 이용 된다. 측정대상인 뇌관을 측정단자에서 제거 하는 경우 자동으로 회로의 전원이 차단 된다. 이렇게 함으로서 회로시험기는 대단히 간단한 구조로 되어 휴대가 용이 하며 특히 전원스위치를 차단하는 것을 잊어서 배터리가 소모되는 불편함이 제거되는 편리한 제품이 된다.

Description

마그네트 키(Magnet Key)와 회로시험기를 내장한 일체형 발파기 {Blasting Machine}

전자식 발파기 및 회로 시험기

본 고안은 안전을 위해 리드 스위치(Reed Switch)를 구비한 전자식 발파기 및 회로 시험기에 관한 것이다. 전자식 발파기는 일반적으로 안전을 위해 발파기 내부에 리드 스위치(Reed Switch)를 내장하여 작동시 외부에서 마그네트 키(Magnet key)를 접근시켜야 발파가 가능하도록 하고있다. 또한 발파하기 전 뇌관 고유의 저항 값을 갖고 있는 뇌관이 정상적으로 결선이 되어 있는지 검증하기 위한 회로시험기를 별도로 휴대하여 측정한 후 이상이 없는 경우에만 발파를 시행하도록 하고있다.

본 고안은 발파현장에서 사용하는 필수 장비인 마그네트 키(Magnet Key)와 회로시험기를 휴대하기 쉽게 일체화한 것에 관한 것으로 일반적으로 전자식 발파기는 안전을 위하여 발파기의 잠금장치인 리드 스위치(Reed Switch)를 구비하여 발파요원이 마그네트 키와 회로시험기를 별도 휴대하여야 하는 번거로움이있다.

발파 현장에서 발파요원은 휴대하여야 할 장비가 늘어날수록 분실의 위험이 많아 지고 관리가 어렵다는 문제점이있다.

본 고안은 이러한 문제점을 해결하고자 필수 안전장치인 마그네트 키와 회로 시험기를 일체화하여 휴대 장비 수를 줄이고자 하는 것이다. 또 한 회로 시험기는 사용의 편의성을 더하기 위하여 전원스위치를 없애는 기술을 겸비하여 구조를 간소화하여 휴대 및 사용의 편의성을 증대 시키고자 하는 것이다.

본 고안은 위에 전술한 불편을 해결하기 위하여 별도 휴대하여야 하는 마그네트 키와 회로 시험기를 일체화하였다. 특히 회로 시험기는 충격에 강하기 위하여 전자 회로만으로 구성하였으며 소형 간편화를 위하여 전원 스위치를 생략하는 구조로 하였다.

본 고안으로 현장 발파 요원은 휴대 및 관리하여야 할 기본 장비의 수가 간략화 되는 이점이 있고 분실의 위험이 적어진다. 또 한 마그네트 키를 구비한 회로 시험기는 별도의 전원스위치 및 가동코일형 메터를 제거한 회로만으로 구동되므로 고장이 적고 내구성이 높아 휴대가 용이하게 되는 것이다.

대표 도는 본 고안을 실시한 예의 외형도이다.
도 1은 마그네트 키를 구비한 전자식 안정기의 기본 구성을 보인다.
도 2는 본 고안 중 회로시험기의 실시 예이다.

전술한 내용을 각 도면에 의하여 상세하게 기술하면 대표 도에 보였듯이 발파기(100)와 마그네트 키일체형 회로 시험기(200)으로 구성 되어 진다.

일반적으로 전자식 발파기는 안전을 위하여 자기장에 의하여 구동되는 리드스위치(Reed Switch)(101)를 내장하고 있다. 즉, 발파안전 요원이 발파기에 자석을 리드스위치(Reed Switch)(101)의 위치에 대고 발파 버튼을 눌러야 기폭이 이루어지는 구조로 되어 있다.

본 고안은 이 마그네트 키를 회로시험기에 일체화시켰다. 대표 도에 마그네트 키 일체형 회로시험기(200)를 표시하였다.

도 2에 본 고안의 실시 예인 마그네트 키 일체형 회로 시험기(200)를 구체적으로 설명하면 배터리와 측정단자를 구비하고 있고 저항(R1)은 외부에서 뇌관을 연결하면 배터리의 전원이 일정 저항값을 갖는 뇌관을 통하여 전압 분할을 하게 된다. 전압분할 된 전압은 FET(Q1)의 게이트에 인가되어 FET(Q1)을 도통하게 되고 드레인에 연결 된 저항기(R7)을 통하여 트랜지스터(Q2)를 도통 시키게 되고 회로에 전원을 공급시키게 된다. 공급되는 전원은 전압 비교용IC(U1)를 구동하고 플러스 입력 단자에 저항(R3) 및 (R4)에 의하여 비교용 전압을 공급하고 만약 외부 뇌관의 저항 값이 발파를 위한 필요 충분한 값으로 낮다면 저항기(R1)에 강하되는 전압이 전압 비교용IC((U1)의 플러스입력단자의 기준 전압보다 낮아지므로 전압 비교IC용(U1)의 출력은 "L"상태가 되어 발광다이오드(LED1)이 점등되고 부저(BUZZER)를 구동하게 된다. 만약 외부 뇌관의 결선이 잘 못 되었거나 필요 충분 저항값보다 높아서 저항기(R1)에 강하되는 전압이 높은 경우 전압 비교용IC(U1)의 출력은 "H"로 유지 되어 발광다이오드(LED1) 및 부저(BUZZER)는 구동되지 않는다.

외부의 뇌관을 측정용 단자로부터 제거시키면 저항기(R1)의 전압은 0V로 되어 FET(Q1) 및 트랜지스터(Q2)는 OFF 되고 회로의 전원은 차단되어 동작을 자동으로 멈춘다.

본 고안은 전술한 바와 같이 현장에서 간편하게 사용할 수 있으며 발파요원의 관리하여야 할 장비 수를 줄이는 효과가 있고 휴대가 용이한 이점이 있다. 특히 마그네트 키와 일체화한 회로시험기는 기존의 회로 시험기와 달리 기구적으로 구동되는 부분이 전혀 없고 간단하며 내구성이 높아 실용 도가 대단히 높은 장치가 된다.

100 : 본 고안의 자석 스위치를 구비한 전자식 안정기이다.
101 : 본 고안의 리드 스위치(Reed Switch)이다.
200 : 회로시험기를 일체화한 자석 키(Magnet Key)이다.
201 : 자석 키(Magnet key)

Claims

안전용 리드 스위치(Reed Switch)를 구비한 전자식 발파기에서 마그네트 키(Magnet Key)와 회로시험기를 일체화 한 장치.
청구항 1에서 저항기(R1), FET(Q1), 트랜지스터(Q2)를 이용하여 외부의 측정대상 뇌관의 저항값에 의하여 자동으로 전원을 스위칭하는 것을 특징으로 하는 회로시험기.