KR20160079643A - Testing station with upgrading function - Google Patents

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Abstract

Disclosed is a testing device having an upgrade function. The testing device comprises an upgrade rotation panel and a device body. The upgrade rotation panel includes: a rotation panel; and an assembly set module comprising a test base connected to the rotation panel to fix the rotation panel. The device body provides an accommodation space to install the upgrade rotation panel therein so as to allow the test device to test a test object having the different number of ring-shaped test pins. The present invention provides the testing device having an upgrade function to appropriately improve the manufacturing efficiency and a product lifespan of the existing testing device.

Description

업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기{TESTING STATION WITH UPGRADING FUNCTION}[0001] TESTING STATION WITH UPGRADING FUNCTION [0002]

본 발명은 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기에 관한 것으로, 특히 업그레이드 회전판을 이용하여 상이한 링 핀 개수의 테스트 대상물의 테스트 조작을 진행하는 테스트 기기에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus having an upgrade function, and more particularly, to a test apparatus that performs a test operation of a test object having a different number of ring pins using an upgrade rotary plate.

일반적인 전자제품의 혁신에 따라, 항상 새로운 기능의 연구와 더 최적화된 시스템 설계가 동반되므로 일반 전자제품의 하드웨어 사양이 이에 상응되게 향상되고 고급화된다. 따라서, 일반적인 전자제품의 업그레이드 후의 하드웨어 사양에 적응하기 위해, 제조업체는 생산 및 테스트를 진행하기 위한 대응 기기에 대해 관련 업데이트 작업을 진행하거나, 기타 기기를 별도로 구매하여 업그레이드 된 하드웨어 사양에 부합하도록 한다. 따라서 대응하는 생산 비용과 연구 개발 훈련 비용이 대폭 증가할 수 있다.With the innovation of general electronics, the hardware specifications of common electronic products are correspondingly upgraded and upgraded, as they are always accompanied by new functional studies and more optimized system designs. Therefore, in order to adapt to the hardware specifications after upgrading general electronic products, the manufacturer performs related update work for the corresponding equipment for production and testing, or purchases other equipment separately to meet the upgraded hardware specifications. Therefore, corresponding production cost and R & D training cost can be greatly increased.

이 경우, 만약 일반 웨이퍼 제조업체가 관련 개선 방법 또는 대응하게 업그레이드 가능한 부품 모듈을 기존의 생산 및 테스트 기기에 대응하게 추가하고, 기존의 생산 및 테스트 기기를 모두 변경하지 않아도 되는 경우, 이는 기존의 생산 또는 테스트 기기의 사용 수명과 생산 효율을 향상시킬 수 있는 한편, 원래 증가될 수도 있었던 운영비용 또는 소모재 비용도 효과적으로 감면되거나 유예될 수 있다. 이에 따라, 제조업체는 절약된 원가/비용을 다시 고급화 생산 연구 개발 계획에 투자함으로써 시장경쟁력을 향상시키고 생산과 연구 개발 순환 과정을 양성화할 수 있다.In this case, if the general wafer manufacturer adds a corresponding improvement or correspondingly upgradeable part module to the existing production and testing equipment and does not need to change all of the existing production and testing equipment, The service life and production efficiency of the test apparatus can be improved while the operation cost or consumable cost, which could be originally increased, can be effectively reduced or deferred. As a result, manufacturers can reinforce market competitiveness and reinforce production and R & D cycles by investing the saved costs / costs back into the advanced production R & D plan.

따라서, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기 및 그 업그레이드 방법을 제공하여 기존의 생산 또는 테스트 기기를 변경할 필요가 없고 동시에 사용 수명과 생산 효과를 향상시키는 것은 본 분야의 중요한 과제가 되었다.Therefore, there is no need to change existing production or test equipment by providing a test apparatus having an upgrading function and an upgrading method thereof, and at the same time, improving the service life and production effect has become an important issue in the field.

따라서, 본 발명의 주요 목적은 기존의 생산 또는 테스트 기기의 사용 수명과 생산 효율을 적절하게 향상시킨 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기를 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is a primary object of the present invention to provide a test apparatus having an upgrading function that appropriately improves the service life and productivity of an existing production or testing apparatus.

본 발명은 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기에 관한 것으로서, 상기 테스트 기기는, 업그레이드 회전판 및 기기 본체를 포함하고, 상기 업그레이드 회전판은, 회전판; 및 상기 회전판에 연결되어 이를 고정하는 테스트 베이스(POGO Tower)를 포함하는 조립 세트 모듈을 포함하고, 상기 기기 본체는, 상기 업그레이드 회전판이 설치되는 수용 공간을 제공하여 테스트 기기가 링 형상 테스트 핀 개수가 상이한 테스트 대상물의 테스트 조작을 진행하도록 한다.The present invention relates to a test apparatus having an upgrade function, wherein the test apparatus includes an upgrade turntable and an apparatus main body, wherein the upgrade turntable comprises: a rotary plate; And an assembly set module including a test base (POGO Tower) connected to and fixed to the rotating plate, wherein the apparatus main body provides a receiving space in which the upgrade rotating plate is installed so that the number of test pins Let the test operation of the different test objects proceed.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 기기의 개략도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 업그레이트 회전판의 분해 개략도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 업그레이드 회전판과 조립 세트 모듈의 분해 개략도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 업그레이드 회전판과 조립 세트 모듈의 측단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 업그레이드 회전판과 조립 세트 모듈의 조립완성도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 헤드 시트 모듈의 단면 개략도이다.1 is a schematic diagram of a test instrument according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded schematic view of an upsetting rotary plate according to an embodiment of the present invention.
3 is an exploded schematic view of an upgrade turntable and an assembly set module according to an embodiment of the present invention.
4 is a side cross-sectional view of an upgrade spindle and an assembly set module according to an embodiment of the present invention.
5 is an assembly view of an upgrade rotary plate and an assembly set module according to an embodiment of the present invention.
6 is a schematic cross-sectional view of a test head sheet module according to an embodiment of the present invention.

명세서 및 후술되는 특허청구범위에서는 일부 용어를 사용하여 특정소자를 지칭했다. 해당 분야의 통상의 기술자라면, 제조업체가 상이한 명사를 사용하여 동일한 소자를 지칭할 수 있음을 이해할 수 있다. 본 명세서 및 후술되는 특허청구범위에서는 명칭의 차이로서 소자를 구분하지 않고, 소자의 기능상의 차이를 구별 기준으로 한다. 전반 명세서 및 후술되는 청구항에서 언급된 "포함"은 개방식 용어이므로, "포함하지만, 이에 한정되지 않는다"로 해석되어야 한다.In the specification and claims that follow, certain terms have been used to refer to particular elements. It will be appreciated by those of ordinary skill in the art that a manufacturer may refer to the same element using different nouns. In this specification and the claims that follow, the difference in the names is used as a distinction criterion, without distinguishing the elements from each other. The "comprises" referred to in the description and the claims below is to be interpreted as " including, but not limited to, "

도 1을 참고하면, 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 기기(1)의 개략도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 기기(1)는 업그레이드 회전판(10) 및 기기 본체(12)를 포함하되, 업그레이드 회전판(10)은 회전판(100) 및 조립 세트 모듈(102)을 포함하고, 기기 본체(12)는 베이스(120) 및 테스트 헤드 시트 모듈(122)을 포함한다. 이에 따라, 테스트 대상물(OB)은 베이스(120)의 수용 공간(SD)에 배치되어 테스트 대상물(OB)의 테스트 조작을 대응하게 진행할 수 있다. 본 실시예의 테스트 대상물(OB)은 평판 디스플레이의 드라이버일 수 있고 상이한 핀 개수를 대응하게 포함한다. 그리고 테스트 기기(1)가 대응적으로 진행하는 작업 사양은 ND1(핀 개수 1280을 포함), ND2(핀 개수 1536을 포함) 또는 ND3(핀 개수 2304를 포함)일 수 있고, 관련 작업은 다음 단락에서 상세하게 설명한다.Referring to FIG. 1, FIG. 1 is a schematic diagram of a test apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. 1, the test apparatus 1 includes an upgrade turntable 10 and an apparatus main body 12, wherein the upgrade turntable 10 includes a turntable 100 and an assembly set module 102, The device body 12 includes a base 120 and a test head sheet module 122. Thus, the test object OB can be disposed in the accommodating space SD of the base 120 to correspondingly conduct the test operation of the test object OB. The test object OB of the present embodiment may be a driver of a flat panel display and correspondingly includes a different number of pins. The work specifications that the test equipment (1) is responsive to can be ND1 (including 1280 pins), ND2 (including 1536 pins) or ND3 (including 2303 pins) Will be described in detail.

계속하여 도 2를 참고하면, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 업그레이드 회전판(20)의 분해 개략도이다. 바람직하게는, 도 1에 도시된 바와 같이, 본 실시예의 업그레이드 회전판(20)은 회전판(100), 조립 세트 모듈(102) 및 베이스 저부(1024)를 포함하고, 동시에 도 2를 참고하면, 본 실시예의 조립 세트 모듈(102)은 테스트 베이스(POGO Tower)(1020)와 보강 링 유닛(1022)을 더 포함한다. 여기서 보강 링 유닛(1022)은 업그레이드 회전판(20)의 상단면에 연결되어, 회전판(100)이 보강 링 유닛(1022)의 긴밀한 구조 설치 방식을 통해 보강 링 유닛(1022)과 테스트 베이스(1020) 사이에 고정되도록 함으로써, 회전판(100)이 사용 또는 테스트 과정에서 외력으로 인해 변형되는 것을 방지한다. 그리고 베이스 저부(1024)는 회전판(100)과 보강 링 유닛(1022)을 탑재한다.2 is an exploded schematic view of an upgrade rotary plate 20 according to an embodiment of the present invention. Preferably, as shown in Fig. 1, the upgrade rotary plate 20 of this embodiment includes a rotary plate 100, an assembly set module 102 and a base bottom portion 1024, The assembly set module 102 of the embodiment further includes a test base (POGO Tower) 1020 and a reinforcing ring unit 1022. The reinforcing ring unit 1022 is connected to the upper end surface of the upgrade rotary plate 20 so that the rotary plate 100 is supported by the reinforcing ring unit 1022 and the test base 1020 through a close- Thereby preventing the rotating plate 100 from being deformed due to external force during use or testing. The base bottom part 1024 mounts the rotary plate 100 and the reinforcing ring unit 1022.

도 3을 참고하면, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 업그레이드 회전판(20)과, 다른 조립 세트 모듈(30)의 분해 개략도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 실시예의 조립 세트 모듈(30)은 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)을 더 포함하고, 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)은 대응적으로, 링형으로 설계된 복수개의 세트 조립체일 수 있다. 즉 본 실시예에서 상부 고정 세트 모듈(300)은 상부 부품 유닛(3000~3010)을 더 포함하고, 하부 고정 세트 모듈(302)은 하부 부품 유닛(3020~3022)을 더 포함하고, 상부 부품 유닛(3000~3010)과 하부 부품 유닛(3020~3022)은 차례로 적층 설치되어 업그레이드 회전판(20)에 연결된다. 이하에서는 본 실시예 중 상부 부품 유닛(3000~3010)과 하부 부품 유닛(3020~3022)에 대응하는 상이한 명칭 및 그 관련 설치순서를 자세히 설명한다.Referring to FIG. 3, FIG. 3 is an exploded schematic view of an upgrade rotary plate 20 and another assembly set module 30 according to an embodiment of the present invention. 3, the assembly set module 30 of the present embodiment further includes an upper fixed set module 300 and a lower fixed set module 302, and the upper fixed set module 300 and the lower fixed set module 300, (302) may correspondingly be a plurality of set assemblies designed in a ring shape. That is, in the present embodiment, the upper fixed set module 300 further includes upper part units 3000 to 3010, and the lower fixed set module 302 further includes lower part parts 3020 to 3022, (3000 to 3010) and the lower component units (3020 to 3022) are sequentially stacked and connected to the upgrade rotary plate (20). Hereinafter, the different names corresponding to the upper part units 3000 to 3010 and the lower part units 3020 to 3022 in the present embodiment, and the related installation sequence will be described in detail.

먼저, 상부 고정 세트 모듈(300)에 있어서, 상부 부품 유닛(3000)은 클램프 받침대 커버판으로서 업그레이드 회전판(20) 위에 설치되고, 상부 부품 유닛(3001)은 클램프 받침대 고정링으로서 상부 부품 유닛(3000)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3002)은 받침대 회전시트 베어링으로서 상부 부품 유닛(3001)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3003)은 받침대 회전시트로서 상부 부품 유닛(3002)을 포함하고, 상부 부품 유닛(3004)은 클램프 받침대 커버판 베어링으로서 상부 부품 유닛(3000)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3005)은 받침대 회전시트 손잡이로서 상부 부품 유닛(3003)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3006)은 위치 고정 블록으로서 상부 부품 유닛(3000)에 설치되어 고정 방식을 형성하고, 상부 부품 유닛(3007)은 테스트 베이스 가이드 볼트로서 상부 부품 유닛(3000)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3008)은 센서 차단시트로서 상부 부품 유닛(3003)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3009)은 클램프 받침대 커버판 베어링으로서 상부 부품 유닛(3000)에 설치되고, 상부 부품 유닛(3010)은 센서 커버로서 상부 부품 유닛(3008)에 대응되게 설치된다. 다시 하부 고정 세트 모듈(302)에 있어서, 하부 부품 유닛(3022)은 클램프 받침대 시트로서 업그레이드 회전판(20) 아래에 설치되고, 하부 부품 유닛(3021)은 업그레이드 회전판 전속받침대로서 하부 부품 유닛(3022) 아래에 설치되고, 하부 부품 유닛(3020)은 바텀 섀시로서 하부 부품 유닛(3021) 아래에 설치된다.First, in the upper fixed set module 300, the upper part unit 3000 is mounted on the upgrade rotary plate 20 as a clamp pedestal cover plate, and the upper part unit 3001 is mounted on the upper part unit 3000 The upper part unit 3002 is mounted on the upper part unit 3001 as a pedestal rotary seat bearing and the upper part unit 3003 includes an upper part unit 3002 as a pedestal rotation sheet, The unit 3004 is installed in the upper part unit 3000 as the clamp pedestal cover plate bearing and the upper part unit 3005 is installed in the upper part unit 3003 as the pedestal rotation seat handle and the upper part unit 3006 The upper part unit 3007 is installed in the upper part unit 3000 as a test base guide bolt, The parts unit 3008 is installed in the upper part unit 3003 as a sensor blocking sheet and the upper part unit 3009 is installed in the upper part unit 3000 as a clamp pedestal cover plate bearing, And is provided so as to correspond to the upper component unit 3008 as a sensor cover. The lower component unit 3022 is installed under the upgrade rotary plate 20 as a clamping pedestal sheet and the lower component unit 3021 is mounted on the lower component unit 3022 as the upgrade rotary table full- And the lower component unit 3020 is installed under the lower component unit 3021 as a bottom chassis.

이 경우, 본 실시예의 클램프 받침대 고정링[즉, 상부 부품 유닛(3000)]과 업그레이드 회전판 전속받침대[즉, 하부 부품 유닛(3021)]의 링형 설계는 상하 구조적으로 업그레이드 회전판(20)을 록킹하거나 또는 링 형태로 고정할 수 있다. 또한 센서 차단시트[즉, 상부 부품 유닛(3008)]는, 테스트 기기(1)가 테스트 대상물(OB)의 테스트 조작을 대응적으로 진행할 수 있도록, 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)이 업그레이드 회전판(20)의 록킹을 위한 대응 조작을 완료했는지를 검증할 수 있다. 다시 말하면, 본 실시예에서 사용자는 상부 부품 유닛(3000~3010)과 하부 부품 유닛(3020~3022)의 링형 구조 설계를 이용하여, 순차적으로 업그레이드 회전판(20)에 설치 및 연결 고정하는 것만으로, 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)의 조립 조작을 완료할 수 있다. 상부 부품 유닛(3000~3010)과 하부 부품 유닛(3020~3022) 사이의 록킹 관계는, 예를 들어 통상의 기구 부품 조립과 암나사, 수나사의 긴밀한 맞물림을 이용할 수 있으나, 본 발명의 범위는 이에 한정되지 않는다.In this case, the ring type design of the clamp pedestal retaining ring (that is, the upper component unit 3000) and the upgrade rotary table full-speed pedestal (i.e., the lower component unit 3021) of the present embodiment is such that the upgrade rotary plate 20 is locked Or in the form of a ring. The sensor block sheet (that is, the upper component unit 3008) is provided with an upper fixed set module 300 and a lower fixed set module 3008 so that the test apparatus 1 can respond to the test operation of the test object OB correspondingly. It can be verified whether or not the rotor 302 has completed the corresponding operation for locking the upgrade rotary plate 20. [ In other words, in this embodiment, the user simply installs and fixes to the upgrade rotary plate 20 sequentially by using the ring structure design of the upper component units 3000 to 3010 and the lower component units 3020 to 3022, The assembling operation of the upper fixed set module 300 and the lower fixed set module 302 can be completed. The locking relationship between the upper component units 3000 to 3010 and the lower component units 3020 to 3022 can be achieved by using, for example, conventional mechanical component assembly and tight engagement of a female screw and a male screw. However, It does not.

바람직하게는, 본 실시예에서 상부 부품 유닛(3005)은 받침대 회전시트 손잡이를 형성하고, 사용자가 힘을 인가하는 지레대 지점을 대응적으로 제공할 수 있다. 또한 상부 고정 부품 모듈(300)과 하부 고정 부품 모듈(302)의 링형 설계를 결합하여 사용자는 상부 부품 유닛(3005)을 직접 밀고 당길 수 있어, 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)이 시계 방향 회전 조작을 하거나 시계 반대 방향 회전 조작을 하도록 하여 상부 고정 세트 모듈(300)이 회전하여 업그레이드 회전판(20)의 상단면에 연결되거나 또는 상기 상단면으로부터 이탈하도록 하며, 또는 하부 고정 세트 모듈(302)이 회전하여 업그레이드 회전판(20)의 하단면에 연결되거나 또는 상기 하단면으로부터 이탈하도록 하여, 상부 고정 세트 모듈(300)과 하부 고정 세트 모듈(302)이 상하로 록킹되어 업그레이드 회전판(20)를 감싸도록 한다. 이에 따라, 사용자는 상이한 테스트 대상물의 제품 사양에 따라 회전판의 업그레이드 조작을 적절히 진행할 수 있어 제품의 조작 편의성과 실용 확충성을 향상시킬 수 있다.Preferably, in this embodiment, the upper component unit 3005 forms a pedestal pivoting seat handle and correspondingly provides a leash point at which the user applies force. The user can also push and pull the upper part unit 3005 directly by combining the ring type design of the upper fixed part module 300 and the lower fixed part module 302 so that the upper fixed set module 300 and the lower fixed set module 300 302 to rotate clockwise or counterclockwise to cause the upper fixed set module 300 to rotate and to be connected to the upper end surface of the upgrade rotary plate 20 or to be detached from the upper end surface, The upper fixed set module 300 and the lower fixed set module 302 are locked up and down so that the set module 302 rotates to be connected to the lower end surface of the upgrade rotary plate 20 or to be detached from the lower end surface, (20). Accordingly, the user can appropriately perform the upgrade operation of the rotary plate in accordance with the product specifications of the different test objects, thereby making it possible to improve the operational convenience and practical extension of the product.

또한, 본 실시예에서 업그레이드 회전판(20)과 조립 세트 모듈(30)의 측단면도에 대한 관련 설명은 도 4에서 보여준 내용을 더 참고할 수 있다. 도 5에서 보여준 조립 완성 도면은, 본 실시예에서 조립 완성된 업그레이드 회전판(20)과 조립 세트 모듈(30)의 개략도이다. 따라서, 조립 완성된 업그레이드 회전판(20)과 조립 세트 모듈(30)은 테스트 헤드 시트 모듈(122)에 적절하게 록킹되어 기존의 회전판 모듈을 대체함으로써, 링 형상 테스트 핀 개수가 상이한 테스트 대상물의 테스트 조작이 가능해진다. Further, in the present embodiment, a description related to the side sectional view of the upgrade rotary plate 20 and the assembly set module 30 can be further referred to the contents shown in FIG. 5 is a schematic view of an assembled set upgrade rotary plate 20 and an assembly set module 30 in the present embodiment. Thus, the assembled set upgrade spindle 20 and the assembly set module 30 are appropriately locked to the test head seat module 122 to replace the existing spindle module so that the test operation of the test object with the different ring test pin counts Lt; / RTI >

그 밖에, 도 6을 참고하면, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 헤드 시트 모듈(122)의 단면 개략도이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 테스트 헤드 시트 모듈(122)은 복수개의 프로브를 포함하며, 내측 링 형상 원판에 설치되고 동심으로 배열된 링 형상 테스트 핀(OP)은 업그레이드 전의 초기 테스트 영역이고, 외측 링 형상 원판에 설치되고 동심으로 배열된 링 형상 핀(AP)은 업그레이드 후 새로 증가되는 테스트 영역이다. 따라서, 본 실시예는 업그레이드 회전판(20)만 별도로 설치하여 조립 세트 모듈(30)과 조립하면 테스트 기기(1)가 링 형상 테스트 핀 개수가 상이한 평판 디스플레이 드라이버의 테스트 조작을 진행하도록 할 수 있다. 예를 들어 본 실시예의 업그레이드 회전판(20)은 테스트 기기(1)가 사양이 ND1, ND2 또는 ND3 등인 상이한 프로브 개수에 적용되도록 할 수 있다. 종래 기술과 비교할 때, 본 실시예는 평판디스플레이 드라이버의 테스트에 대응하는 테스트 기기의 프로브 개수를 크게 증가시킬 수 있었고, 기존에 사용한 테스트 기기를 도태시킬 필요가 없고 사용 수명과 생산 효율을 향상시킬 수 있다. 6, there is shown a schematic cross-sectional view of a test head sheet module 122 according to an embodiment of the present invention. 6, the test head sheet module 122 includes a plurality of probes. A ring-shaped test pin OP arranged on the inner ring-shaped disk and arranged concentrically is an initial test area before the upgrade, A concentric ring-shaped pin (AP) installed on the ring-shaped disk is a newly increased test area after the upgrade. Therefore, in the present embodiment, when only the upgrading rotary plate 20 is separately installed and assembled with the assembly set module 30, the test apparatus 1 can proceed with the test operation of the flat panel display driver having the different number of ring test pins. For example, the upgrade rotary plate 20 of the present embodiment can be adapted so that the test instrument 1 is applied to different probe numbers such as ND1, ND2 or ND3. Compared with the prior art, this embodiment can greatly increase the number of probes of the test equipment corresponding to the test of the flat panel display driver, eliminate the need for scaling the existing test equipment, improve the service life and production efficiency have.

다시 도 1을 참고하면, 사용자가 테스트 대상물(OB)의 테스트 조작을 진행하고자 할 때, 사용자는 베이스(120)의 수용 공간(SD)에 테스트 대상물(OB)을 설치한다. 여기서 테스트 대상물(OB)은 복수개의 대응 핀홀을 포함하는 웨이퍼 유닛이다. 추가로, 본 실시예에서 기기 본체(12)는 컨트롤러를 더 포함하고, 사용자가 컨트롤러를 통해 제어 명령을 생성하여 베이스(120)에 대해 수직 변위 조작을 진행하면, 수용 공간(SD) 내부에 설치된 테스트 대상물(OB)은 베이스(120)의 수직 변위 조작에 따라 테스트 헤드 시트 모듈(122)의 복수개 프로브에 전기적으로 대응 연결되고, 복수개 프로브는 웨이퍼 유닛 중의 복수개 대응 핀홀에 적절하게 삽입되어 테스트 대상물의 테스트 조작을 진행하여, 테스트 대상물의 회로 점검과 제품 특성 등 관련 결과 보고를 얻는다.Referring again to FIG. 1, when the user intends to proceed with the test operation of the test object OB, the user installs the test object OB in the accommodating space SD of the base 120. Here, the test object OB is a wafer unit including a plurality of corresponding pinholes. In addition, in the present embodiment, the apparatus main body 12 further includes a controller. When the user generates a control command through the controller and performs a vertical displacement operation on the base 120, The test object OB is electrically connected to a plurality of probes of the test head sheet module 122 in accordance with a vertical displacement operation of the base 120 and a plurality of probes are appropriately inserted into a plurality of corresponding pinholes of the wafer unit, Proceed with the test operation to obtain the relevant result report including the circuit inspection of the test object and the product characteristics.

정리하면, 본 발명의 실시예는 업그레이드 회전판과 관련 부품 모듈의 조립 조작을 통해 업그레이드 전의 초기 테스트 영역에 새로운 테스트 영역을 대응하게 증설하여, 링형 핀 개수가 상이한 테스트 대상물의 테스트 조작에 사용됨으로써, 관련 제조업체 또는 장비업체가 기존의 테스트 기기를 도태시키지 않고도, 상이한 하드웨어 사양의 제품을 점검할 수 있고 동시에 테스트 기기의 사용 수명과 생산 효율을 향상시킬 수 있는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기를 제공한다.In summary, the embodiment of the present invention increases the number of new test areas in the initial test area before the upgrade through the assembling operation of the upgrade spindle and the related part module, and is used in the test operation of the test object having a different number of ring- Provides a test instrument with an upgrade function that allows a manufacturer or equipment manufacturer to check products of different hardware specifications without sacrificing existing test equipment while at the same time improving the service life and production efficiency of the test equipment.

이상은 본 발명의 바람직한 실시예이고, 본 발명의 특허청구범위에 따른 균등변화와 수정은 모두 본 발명의 범위에 포함된다.The foregoing is a preferred embodiment of the present invention, and all of the equivalent changes and modifications are included in the scope of the present invention.

1: 테스트 기기
10, 20: 업그레이드 회전판
100: 회전판
30, 102: 조립 세트 모듈
1020: 테스트 베이스
1022: 보강 링 유닛
1024: 베이스 저부
12: 기기 본체
120: 베이스
122: 테스트 헤드 시트 모듈
300: 상부 고정 세트 모듈
3000~3010: 상부 부품 유닛
302: 하부 고정 세트 모듈
3020~3022: 하부 부품 유닛
SD: 수용 공간
OB: 테스트 대상물
AP, OP: 링 형상 테스트 핀1: Test equipment
10, 20: Upgrade spindle
100:
30, 102: Assembly set module
1020: Test base
1022: reinforcing ring unit
1024: base bottom
12:
120: Base
122: Test Head Seat Module
300: upper fixed set module
3000 ~ 3010: Upper part unit
302: Lower fixed set module
3020 to 3022: Lower part unit
SD: reception space
OB: Test object
AP, OP: ring shape test pin

Claims (9)

업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기에 있어서,
업그레이드 회전판 및 기기 본체를 포함하고,
상기 업그레이드 회전판은,
회전판; 및
상기 회전판에 연결되어 이를 고정하는 테스트 베이스(POGO Tower)를 포함하는 조립 세트 모듈을 포함하고,
상기 기기 본체는, 상기 업그레이드 회전판이 설치되는 수용 공간을 제공하여, 상기 테스트 기기가 링 형상 테스트 핀 개수가 상이한 테스트 대상물의 테스트 조작을 진행하도록 하는,
업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.In a test apparatus having an upgrade function,
An upgrading rotary plate, and an apparatus main body,
The upgrading rotary plate includes:
A rotating plate; And
And an assembly set module including a test base (POGO Tower) connected to and fixing the rotating plate,
Wherein the apparatus main body is provided with an accommodation space in which the upgrade rotary plate is installed to allow the test apparatus to proceed with a test operation of a test object having a different number of ring-
Test equipment with upgrade function. 제1항에 있어서,
상기 조립 세트 모듈은 상기 업그레이드 회전판의 상단면에 연결되어 상기 회전판을 상기 테스트 베이스와의 사이에 고정함으로써 상기 회전판의 변형을 방지하는 보강 링 유닛을 더 포함하는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.The method according to claim 1,
Wherein the assembly set module further comprises a reinforcing ring unit connected to an upper surface of the upgrade rotary plate to prevent deformation of the rotary plate by fixing the rotary plate between the upper surface and the test base. 제1항에 있어서,
상기 조립 세트 모듈은 상부 고정 세트 모듈과 하부 고정 세트 모듈을 포함하고, 상기 상부 고정 세트 모듈과 상기 하부 고정 세트 모듈은 모두 링형 설계에 대응하는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.The method according to claim 1,
Wherein the assembly set module includes an upper fixed set module and a lower fixed set module, wherein the upper fixed set module and the lower fixed set module both correspond to a ring type design. 제3항에 있어서,
상기 상부 고정 세트 모듈은 클램프 받침대 고정링을 포함하고, 상기 하부 고정 세트 모듈은 업그레이드 회전판 전속받침대를 포함하고, 상기 클램프 받침대 고정링과 상기 업그레이드 회전판 전속받침대에 대응하는 상기 링형 설계는 상기 업그레이드 회전판을 상하 구조적으로 록킹하도록 사용되는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.The method of claim 3,
Wherein the upper fixed set module includes a clamp pedestal retaining ring and the lower fixed set module includes an upgraded rotary table full speed support, wherein the ring type design corresponding to the clamp pedestal retaining ring and the upgrade rotary table full- Test equipment with upgrade function, used to lock up and down. 제3항에 있어서,
상기 상부 고정 세트 모듈은, 상기 상부 고정 세트 모듈과 상기 하부 고정 세트 모듈의 시계 방향 회전 조작 또는 시계 반대 방향 회전 조작을 진행하기 위한 받침대 회전시트 손잡이를 더 포함하는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.The method of claim 3,
Wherein the upper fixed set module further comprises a pedestal rotary seat knob for proceeding with a clockwise rotation operation or a counterclockwise rotation operation of the upper fixed set module and the lower fixed set module. 제5항에 있어서,
상기 시계 방향 회전 조작 또는 상기 시계 반대 방향 회전 조작은 상기 상부 고정 세트 모듈을 회전시켜 상기 업그레이드 회전판의 상단면에 연결하거나 또는 상기 하부 고정 세트 모듈을 회전시켜 상기 업그레이드 회전판의 하단면에 연결함으로써, 상기 상부 고정 세트 모듈과 상기 하부 고정 세트 모듈이 상기 업그레이드 회전판을 상하로 록킹하여 감싸도록 하는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.6. The method of claim 5,
The clockwise rotation operation or the counterclockwise rotation operation is performed by rotating the upper fixed set module and connecting the upper fixed set module to the upper end surface of the upgrade rotary plate or rotating the lower fixed set module to the lower end surface of the upgrade rotary plate, Wherein the upper fixed set module and the lower fixed set module lock the upgraded rotary plate up and down to wrap the upgraded rotary plate. 제3항에 있어서,
상기 상부 고정 세트 모듈은, 상기 상부 고정 세트 모듈과 상기 하부 고정 세트 모듈이 상기 업그레이드 회전판 록킹을 위한 대응 조작을 완료했는지를 점검하는 센서 차단시트를 더 포함하는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기. The method of claim 3,
Wherein the upper fixed set module further comprises a sensor blocking sheet for checking whether the upper fixed set module and the lower fixed set module have completed a corresponding operation for locking the upgrade rotary plate. 제1항에 있어서,
상기 기기 본체는 베이스 및 테스트 헤드 시트 모듈을 더 포함하고,
상기 업그레이드 회전판은 상기 테스트 헤드 시트 모듈에 록킹되고, 상기 테스트 헤드 시트 모듈은 복수개의 프로브를 포함하고, 상기 베이스는 상기 테스트 대상물을 배치하는 상기 수용 공간을 포함하여, 상기 베이스가 수직 변위 조작을 진행할 때, 상기 테스트 대상물이 상기 테스트 헤드 시트 모듈의 상기 복수개 프로브에 전기적으로 연결되어 상기 테스트 조작이 진행되는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기.The method according to claim 1,
The device body further includes a base and a test head sheet module,
Wherein the upgrade spindle is locked to the test head seat module, the test head seat module includes a plurality of probes, and the base includes the receiving space in which the test object is placed, Wherein the test object is electrically connected to the plurality of probes of the test head sheet module to perform the test operation. 제1항에 있어서,
상기 업그레이드 회전판은 평판 디스플레이 드라이버의 테스트에 대응하는 상기 테스트 기기의 프로브 개수를 증가시키는, 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기. The method according to claim 1,
Wherein the upgrade rotary plate increases the number of probes of the test apparatus corresponding to the test of the flat panel display driver.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101754175B1 (en) * 2014-12-27 2017-07-05 싱크-테크 시스템 코포레이션 Testing station with upgrading function
JP7371885B2 (en) * 2019-07-08 2023-10-31 ヤマハファインテック株式会社 Electrical inspection equipment and holding unit

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5489852A (en) * 1992-11-06 1996-02-06 Advanced Micro Devices, Inc. System for interfacing wafer sort prober apparatus and packaged IC handler apparatus to a common test computer
US5546405A (en) * 1995-07-17 1996-08-13 Advanced Micro Devices, Inc. Debug apparatus for an automated semiconductor testing system
JP2005265658A (en) * 2004-03-19 2005-09-29 Tokyo Electron Ltd Probe device adaptable to a plurality of types of testers
TWI269399B (en) * 2005-11-24 2006-12-21 Powerchip Semiconductor Corp Probe apparatus and system
JP4823667B2 (en) 2005-12-05 2011-11-24 日本発條株式会社 Probe card
KR101242004B1 (en) * 2007-03-19 2013-03-11 (주) 미코티엔 Probe card
TWI454708B (en) * 2010-08-31 2014-10-01 Can be adapted to different specifications of the test machine probe card structure
KR101754175B1 (en) * 2014-12-27 2017-07-05 싱크-테크 시스템 코포레이션 Testing station with upgrading function

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