KR20160062482A - Analysis apparatus and method of surface roughness - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an apparatus and a method for analyzing surface roughness. The technical subject to be solved in the present invention is to enable a user to change process conditions immediately when an abnormality occurs for easily improving surface brightness because the user can check frequency analysis with the surface roughness in real time, and analyze the surface roughness rapidly and easily and check an error or degradation of the roughness in real time as the user inputs data by a cursor via an input device in place of a tedious calculation process using a scale ruler. To this end, the present invention provides the apparatus and the method for analyzing the surface roughness, wherein the apparatus comprises: a measurement device measuring the roughness of a surface processed via a processing device; a display device electrically connected to the measurement device to display information on the surface roughness, measured by the measurement device, with periodic wave forms; and the input device electrically connected to the display device to input peak to peak values of the wave forms for the information on the surface roughness, displayed by the display device, via click operations, and the display device calculates frequency with respect to the peak to peak values input by the input device and displays the frequency.

Description

표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법{Analysis apparatus and method of surface roughness}Technical Field [0001] The present invention relates to a surface roughness analyzing apparatus,

본 발명은 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법에 관한 것이다.The present invention relates to a surface roughness analysis apparatus and an analysis method.

일반적으로 가공면의 표면 거칠기를 측정하면, 표면 거칠기 값에 대한 파형(wave profile)을 표시하고, 표시된 파형을 분석자가 분석하여 이상이 발생된 원인이 되는 주파수를 산출할 수 있다. Generally, by measuring the surface roughness of the machined surface, the wave profile of the surface roughness value is displayed, and the analyzer can analyze the displayed waveform to calculate the frequency that causes the anomaly.

이와 같은 주파수 산출은 표면 거칠기에 대한 파형을 출력한 출력물과 스케일자로 비례적으로 계산할 수 있으나, 일반 스케일자를 이용하므로 오차가 발생할 확률이 높고, 일일이 산출해야하는 번거로움이 발생된다.Such a frequency calculation can be performed in proportion to the output of the waveform of the surface roughness and the scale factor, but since the scale factor is used, the probability of occurrence of the error is high, and it is troublesome to calculate it one by one.

본 발명은 상술한 종래의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 표면 거칠기에 대해 주파수 분석을 실시간으로 확인할 수 있고, 번거롭게 스케일자를 이용하여 계산하는 과정을 입력 장치를 통해 커서로 입력함에 따라, 표면 거칠기에 대해 신속하고 손쉽게 분석할 수 있는 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to overcome the above-mentioned problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for analyzing a frequency of a surface roughness in real time, And to provide a surface roughness analyzer and analysis method capable of quickly and easily analyzing surface roughness.

또한, 본 발명의 다른 목적은 실시간으로 거칠기의 오류 또는 저하 발생이 확인할 수 있으므로, 이상 발생시 가공 공정 조건을 바로 변경하여 면조도 개선이 용이할 수 있는 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법를 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a surface roughness analyzer and an analysis method which can easily check the roughness of the roughness or the degradation in real time, thereby easily changing the processing conditions and correcting the surface roughness.

상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법는 가공 장치를 통해 가공된 표면의 거칠기를 측정하는 측정 장치와, 상기 측정 장치와 전기적으로 연결되어, 상기 측정 장치에서 측정된 표면 거칠기 정보를 주기적인 파형으로 표시하는 표시 장치 및, 상기 표시 장치와 전기적으로 연결되어, 상기 표시 장치에 표시된 표면 거칠기 정보에 대한 파형의 피크투피크를 클릭을 통해 입력하는 입력 장치를 포함하며, 상기 표시 장치는 상기 입력장치를 통해 입력된 피크투피크값에 대한 주파수를 산출하여 표시할 수 있다. In order to accomplish the above object, a surface roughness analyzer and an analyzing method according to the present invention includes a measuring device for measuring a roughness of a surface processed through a processing device, and a surface roughness analyzing device electrically connected to the measuring device, A display device that displays roughness information in a periodic waveform and an input device that is electrically connected to the display device and that inputs a peak-to-peak of a waveform of surface roughness information displayed on the display device by clicking, The apparatus can calculate and display the frequency of the peak to peak value input through the input device.

상기 입력 장치는 가공 장치의 주축 회전수와, 가공 장치의 이송 속도 정보를 상기 표시 장치로 더 입력할 수 있다.The input device may further input the rotational speed of the main shaft of the machining device and the feed rate information of the machining device to the display device.

또한 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법는 가공 장치를 통해 가공된 표면의 거칠기를 측정장치를 통해 측정하고, 측정된 표면 거칠기 정보를 표시 장치를 통해 주기적 파형으로 표시하는 단계와, 상기 표시 장치에 상기 가공 장치의 주축 회전수와, 가공 장치의 이송 속도 정보를 입력하는 단계와, 상기 표시장치에 표시된 상기 표면 거칠기 정보에 대한 파형에서, 피크투피크값을 입력하는 단계 및, 상기 표시장치에서는 상기 가공 정보 및 상기 피크투피크값을 통해 주파수를 산출하는 단계를 포함할 수 있다.In order to achieve the above object, the surface roughness analyzing apparatus and the analyzing method according to the present invention are characterized in that the roughness of the surface processed through the processing apparatus is measured by a measuring apparatus, and the measured surface roughness information is displayed in a periodic waveform A step of inputting a main spindle revolution number of the machining apparatus and a feed rate information of a machining apparatus to the display device; and a step of inputting a peak toe value in a waveform of the surface roughness information displayed on the display device And the display device may include calculating the frequency through the processing information and the peak to peak value.

본 발명에 의한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법는 표면 거칠기에 대해 주파수 분석을 실시간으로 확인할 수 있고, 번거롭게 스케일자를 이용하여 계산하는 과정을 입력 장치를 통해 커서로 입력함에 따라, 표면 거칠기에 대해 신속하고 손쉽게 분석할 수 있게 된다.The surface roughness analyzing apparatus and the analyzing method according to the present invention can confirm the frequency analysis on the surface roughness in real time and input the cursor to the calculation process using the scaler by the input device so that the surface roughness can be quickly and easily Analysis.

또한 본 발명에 의한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법는 실시간으로 거칠기의 오류 또는 저하 발생이 확인할 수 있으므로, 이상 발생시 가공 공정 조건을 바로 변경하여 면조도 개선이 용이할 수 있게 된다.In addition, since the surface roughness analyzing apparatus and the analyzing method according to the present invention can confirm the occurrence of errors or degradation of roughness in real time, it is possible to easily change the processing conditions and to improve the surface roughness when an error occurs.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 표면 거칠기 분석 장치 구성을 도시한 블록도이다.
도 2는 도 1의 표면 거칠기 분석 장치의 분석방법을 도시한 순서도이다. 1 is a block diagram showing a configuration of a surface roughness analyzer according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart showing an analysis method of the surface roughness analyzer of FIG.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 당업자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments of the present invention are described in order to more fully explain the present invention to those skilled in the art, and the following embodiments may be modified into various other forms, It is not limited to the embodiment. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be more faithful and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art.

또한, 이하의 도면에서 각 층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장된 것이며, 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. 본 명세서에서 사용된 바와 같이, 용어 "및/또는"은 해당 열거된 항목 중 어느 하나 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.In the following drawings, thickness and size of each layer are exaggerated for convenience and clarity of description, and the same reference numerals denote the same elements in the drawings. As used herein, the term "and / or" includes any and all combinations of one or more of the listed items.

본 명세서에서 사용된 용어는 특정 실시예를 설명하기 위하여 사용되며, 본 발명을 제한하기 위한 것이 아니다. 본 명세서에서 사용된 바와 같이, 단수 형태는 문맥상 다른 경우를 분명히 지적하는 것이 아니라면, 복수의 형태를 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 경우 "포함한다(comprise)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급한 형상들, 숫자, 단계, 동작, 부재, 요소 및/또는 이들 그룹의 존재를 특정하는 것이며, 하나 이상의 다른 형상, 숫자, 동작, 부재, 요소 및 /또는 그룹들의 존재 또는 부가를 배제하는 것이 아니다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. As used herein, the singular forms "a," "an," and "the" include singular forms unless the context clearly dictates otherwise. Also, " comprise "and / or" comprising "when used herein should be interpreted as specifying the presence of stated shapes, numbers, steps, operations, elements, elements, and / And does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, operations, elements, elements, and / or groups.

본 명세서에서 제1, 제2 등의 용어가 다양한 부재, 부품, 영역, 층들 및/또는 부분들을 설명하기 위하여 사용되지만, 이들 부재, 부품, 영역, 층들 및/또는 부분들은 이들 용어에 의해 한정되어서는 안 됨은 자명하다. 이들 용어는 하나의 부재, 부품, 영역, 층 또는 부분을 다른 영역, 층 또는 부분과 구별하기 위하여만 사용된다. 따라서, 이하 상술할 제1부재, 부품, 영역, 층 또는 부분은 본 발명의 가르침으로부터 벗어나지 않고서도 제2부재, 부품, 영역, 층 또는 부분을 지칭할 수 있다.Although the terms first, second, etc. are used herein to describe various elements, components, regions, layers and / or portions, these members, components, regions, layers and / It is obvious that no. These terms are only used to distinguish one member, component, region, layer or section from another region, layer or section. Thus, a first member, component, region, layer or section described below may refer to a second member, component, region, layer or section without departing from the teachings of the present invention.

도 1을 참조하면 본 발명의 일실시예에 따른 표면 거칠기 이상 분석 장치 구성을 도시한 블록도가 도시되어 있다. 또한 도 2를 참조하면 도 1의 표면 거칠기 이상 분석 장치의 분석방법을 도시한 순서도가 도시되어 있다. Referring to FIG. 1, there is shown a block diagram illustrating a configuration of a surface roughness abnormality analyzing apparatus according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2, there is shown a flowchart illustrating an analysis method of the surface roughness abnormality analyzing apparatus of FIG.

이하에서는, 도 1 및 도 2를 참조하여 표면 거칠기의 이상유무를 분석하는 방법을 설명하고자 한다. 우선, 도 1에서 도시된 바와 같이 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법(100)는 측정 장치(110), 표시 장치(120) 및 입력 장치(130)을 포함한다. Hereinafter, a method for analyzing the abnormality of the surface roughness will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. First, as shown in FIG. 1, the surface roughness analyzing apparatus and the analysis method 100 include a measuring apparatus 110, a display apparatus 120, and an input apparatus 130.

상기 측정 장치(110)는 가공 후, 가공된 표면의 거칠기를 측정한다. 상기 측정 장치(110)는 표시 장치(120)와 전기적으로 연결되며, 측정 결과를 표시 장치(120)를 통해 표시할 수 있다. 즉, 상기 측정 장치(110)에서 측정된 가공 표면의 거칠기 정보는 주기적인 파형(Wave profile) 형태로, 표시 장치(120)를 통해 표시(S1)될 수 있다. The measuring device 110 measures the roughness of the machined surface after machining. The measurement device 110 is electrically connected to the display device 120, and the measurement result can be displayed through the display device 120. That is, roughness information of the processed surface measured by the measuring apparatus 110 may be displayed (S1) through the display device 120 in the form of a periodic wave profile.

상기 표시 장치(120)는 상기 측정 장치(110) 및 상기 입력 장치(130)와 전기적으로 연결된다. 상기 표시 장치(120)는 상기 측정 장치(110)에서 측정된 거칠기 정보를 표시함과 동시에 입력 장치(130)를 통해 가공 조건을 입력(S2) 받을 수 있다. 상기 가공 조건은 가공 장치의 주축 회전수(rpm)와 가공 장치의 이송 속도(mm/sec)일 수 있다. 즉, 표시 장치(120)는 가공 장치의 가공 정보를 입력 장치(130)를 통해 입력 받을 수 있다. 상기 표시 장치(120)는 별도의 입력 필드를 표시할 수 있으며, 입력 필드에 입력되는 가공 정보를 입력 받을 수 있다. The display device 120 is electrically connected to the measurement device 110 and the input device 130. The display device 120 may display the roughness information measured by the measuring device 110 and input the processing conditions through the input device 130 (S2). The machining conditions may be a spindle revolution (rpm) of the machining apparatus and a feed rate (mm / sec) of the machining apparatus. That is, the display device 120 can receive the machining information of the machining device through the input device 130. The display device 120 may display a separate input field and receive input of processing information input in the input field.

또한 입력 장치(130)는 표시 장치(120)와 전기적으로 연결되어, 커서를 통해 이동 가능하며, 클릭을 통해 피크투피크(peak to peak)를 입력(S3)할 수 있다. 즉, 입력 장치(130)는 표시 장치(120)에 표시된 파형 정보에서, 인접한 2개의 최대값 또는 최소값을 커서 형태로 이동하여 클릭을 통해 입력할 수 있다. 상기 입력 장치(130)는 표시 장치(120)에서 표시된 주기적 파형 정보에 대한 피크투피크값을 주기적으로 반복하여 입력할 수 있다. 이와 같은 입력 장치(130)는 표시 장치(120)와 별도로 구비되는 터치 패드 또는 마우스 타입이거나, 표시 장치(120)와 일체형인 터치 패널로 구비될 수 있으며, 본 발명에서 이를 한정하는 것은 아니다. Also, the input device 130 is electrically connected to the display device 120, is movable through a cursor, and can input a peak-to-peak (S3) through a click. That is, the input device 130 can move the two maximum or minimum values adjacent to each other in the form of a cursor in the waveform information displayed on the display device 120, and input the information through clicking. The input device 130 may periodically and repeatedly input a peak to peak value for the periodic waveform information displayed on the display device 120. [ The input device 130 may be a touch pad or a mouse provided separately from the display device 120 or may be a touch panel integrated with the display device 120. However, the present invention is not limited thereto.

상기 표시 장치(120)는 입력 장치(130)를 통해 입력된 각각의 피크투피크(peak to peak)와, 가공 정보를 통해 피크값 사이를 이동하는데 소요되는 시간(sec)을 각각 산출할 수 있다. 또한 표시 장치(120)는 산출된 각각의 시간을 통해 피크투피크 사이의 주파수(hz)를 산출할 수 있다. 상기 표시 장치(120)는 입력 장치(130)에서 입력된 정보를 통해 측정된 표면 거칠기에 대한 주파수를 표시(S4)한다. The display device 120 can calculate the peak to peak inputted through the input device 130 and the time (sec) required to move between the peak values through the processing information. Further, the display device 120 can calculate the frequency hz between the peak-to-peak through each calculated time. The display device 120 displays the frequency of the surface roughness measured through the information input from the input device 130 (S4).

상기 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법(100)는 표면 거칠기에 대해 주파수 분석을 실시간으로 확인할 수 있고, 번거롭게 스케일자를 이용하여 계산하는 과정을 입력 장치를 통해 커서로 입력함에 따라, 표면 거칠기에 대해 신속하고 손쉽게 분석할 수 있다. The surface roughness analyzer and the analysis method 100 can confirm the frequency analysis on the surface roughness in real time and input the process of calculation using the scaler by a cursor through the input device, It can be easily analyzed.

또한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법(100)는 실시간으로 거칠기의 오류 또는 저하 발생이 확인될 경우, 가공 공정 조건을 바로 변경하여 면조도 개선이 용이할 수 있다.Also, when the surface roughness analyzing apparatus and the analysis method 100 confirm that roughness error or deterioration occurs in real time, the surface roughness can be easily improved by changing the processing condition immediately.

이상에서 설명한 것은 본 발명에 의한 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 바와 같이 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, but rather may be applied to various types of surface roughness analyzers and analysis methods according to the present invention It will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention.

100; 표면 거칠기 분석 장치
110; 측정 장치 120; 표시 장치
130; 입력 장치100; Surface roughness analyzer
110; Measuring device 120; Display device
130; Input device

Claims (3)

가공 장치를 통해 가공된 표면의 거칠기를 측정하는 측정 장치;
상기 측정 장치와 전기적으로 연결되어, 상기 측정 장치에서 측정된 표면 거칠기 정보를 주기적인 파형으로 표시하는 표시 장치; 및
상기 표시 장치와 전기적으로 연결되어, 상기 표시 장치에 표시된 표면 거칠기 정보에 대한 파형의 피크투피크를 클릭을 통해 입력하는 입력 장치를 포함하며,
상기 표시 장치는 상기 입력 장치를 통해 입력된 피크투피크값에 대한 주파수를 산출하여 표시하는 것을 특징으로 하는 표면 거칠기 분석 장치.A measuring device for measuring the roughness of the surface machined by the machining device;
A display device electrically connected to the measuring device and displaying surface roughness information measured by the measuring device in a periodic waveform; And
And an input device that is electrically connected to the display device and inputs a peak-to-peak of the waveform of the surface roughness information displayed on the display device by clicking,
Wherein the display device calculates and displays a frequency with respect to a peak to peak value input through the input device. 청구항 1에 있어서,
상기 입력 장치는 가공 장치의 주축 회전수와, 가공 장치의 이송 속도 정보를 상기 표시 장치로 더 입력하는 것을 특징으로 하는 표면 거칠기 분석 장치.The method according to claim 1,
Wherein the input device further inputs the number of rotation of the main shaft of the machining device and the feed rate information of the machining device to the display device. 가공 장치를 통해 가공된 표면의 거칠기를 측정 장치를 통해 측정하고, 측정된 표면 거칠기 정보를 표시 장치를 통해 주기적 파형으로 표시하는 단계;
상기 표시 장치에 상기 가공 장치의 주축 회전수와, 가공 장치의 이송 속도 정보를 입력하는 단계;
상기 표시 장치에 표시된 상기 표면 거칠기 정보에 대한 파형에서, 피크투피크값을 입력하는 단계; 및
상기 표시 장치에서는 상기 가공 정보 및 상기 피크투피크값을 통해 주파수를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 거칠기 분석 장치의 분석 방법.Measuring the roughness of the surface processed through the processing device through a measuring device and displaying the measured surface roughness information through a display device in a periodic waveform;
Inputting the main shaft revolution number of the machining device and the feed rate information of the machining device to the display device;
Inputting a peak to peak value in a waveform for the surface roughness information displayed on the display device; And
Wherein the display device includes a step of calculating a frequency through the processing information and the peak to peak value.
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