KR20160061473A - Organic Light Emitting Display Device - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an organic light emitting display device including a substrate, a protective film, a barrier film, an adhesive member, and a crack preventing line. The protective film protects devices located on the substrate. The barrier film is located on the substrate and bonded to the substrate by the adhesive member. The crack preventing line is located at an outer edge part of the substrate. The durability, reliability, and productivity of the device can be improved, and a process margin can be obtained while a post-process is performed.

Description

유기전계발광표시장치{Organic Light Emitting Display Device}[0001] The present invention relates to an organic light emitting display device,

본 발명은 유기전계발광표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to an organic light emitting display.

유기전계발광표시장치에 사용되는 유기전계발광소자는 두 개의 전극 사이에 발광층이 형성된 자발광소자이다. 유기전계발광소자는 전자(election) 주입전극(cathode)과 정공(hole) 주입전극(anode)으로부터 각각 전자와 정공을 발광층 내부로 주입시켜, 주입된 전자와 정공이 결합한 엑시톤(exciton)이 여기 상태로부터 기저상태로 떨어질 때 발광하는 소자이다.An organic electroluminescent device used in an organic electroluminescent display device is a self-luminous device in which a light emitting layer is formed between two electrodes. An organic electroluminescent device is a device in which electrons and holes are injected into the light emitting layer from an electron injection cathode and an anode, respectively, and excitons, in which injected electrons and holes are combined, And emits light when it is dropped to the ground state.

유기전계발광표시장치는 유기전계발광소자를 이용하여 표시 패널을 형성한다. 표시 패널은 빛이 방출되는 방향에 따라 상부발광(Top-Emission) 방식, 하부발광(Bottom-Emission) 방식 및 양면발광(Dual-Emission) 등으로 구현될 수 있고, 구동방식에 따라 수동매트릭스형(Passive Matrix)과 능동매트릭스형(Active Matrix) 등으로 구현될 수 있다.An organic electroluminescent display device uses a organic electroluminescent device to form a display panel. The display panel may be implemented by top emission, bottom emission or dual emission depending on the direction in which the light is emitted, and may be implemented by a passive matrix type Passive Matrix) and active matrix (Active Matrix).

유기전계발광표시장치는 연성을 부여하여 곡면을 갖게 하거나 인위적으로 또는 기계적으로 구부러지게 하는 등 다양한 형태로 구현되고 있다. 이러한 유기전계발광표시장치를 제작하는 방법에는 연성(예컨대; 플라스틱)의 마더기판 상에 표시 패널을 셀별로 다수 형성하고, 스크라이빙 라인을 따라 표시 패널을 셀별로 구분하여 잘라내는 절단 공정이 포함된다.Organic electroluminescent display devices have been implemented in various forms, such as providing curved surfaces, artificially or mechanically bending them. A method of fabricating such an organic light emitting display device includes a step of forming a plurality of display panels on a mother substrate of a flexible (e.g., plastic) cell, and dividing the display panel by cells along the scribing line do.

그런데, 종래 구조에 절단 공정을 진행하면 표시 패널의 외곽 엣지부의 균열(또는 손상)로 인하여 습기 등의 외기가 표시영역까지 침투하게 되고, 그 결과 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성이 저하하는 문제가 있어 이의 개선이 요구된다.However, when the cutting process is performed on the conventional structure, the outside air such as moisture penetrates into the display area due to the crack (or damage) of the edge portion of the display panel, and as a result, the lifetime, reliability and fairness of the device are deteriorated And improvement thereof is required.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상하고, 후공정 진행 시 공정 마진을 확보할 수 있는 유기전계발광표시장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention for solving the problems of the background art described above is to provide an organic electroluminescent display device capable of improving lifetime, reliability and processability of a device and securing a process margin in a post process.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명은 기판, 보호막, 베리어필름, 접착부재 및 균열 방지 라인을 포함하는 유기전계발광표시장치에 관한 것이다. 보호막은 기판 상에 위치하는 소자들을 보호한다. 베리어필름은 기판 상에 위치하고, 접착부재에 의해 기판과 합착된다. 균열 방지 라인은 기판의 외곽 엣지부에 위치한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an organic light emitting display including a substrate, a protective film, a barrier film, an adhesive member, and a crack prevention line. The passivation layer protects the devices located on the substrate. The barrier film is placed on the substrate and is adhered to the substrate by an adhesive member. The crack prevention line is located at the edge of the outer edge of the substrate.

균열 방지 라인은 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하거나 적어도 하나의 보호막보다 하부에 위치할 수 있다.The anti-crack line may be located on the surface of at least one protective film or may be located below the at least one protective film.

균열 방지 라인은 박막 제조공정에서 사용되는 재료 중 하나 이상으로 선택될 수 있다.The anti-crack line may be selected from one or more of the materials used in the thin film manufacturing process.

균열 방지 라인은 접착부재의 끝단에 대응하여 위치하는 제1균열 방지 라인을 포함할 수 있다.The crack preventing line may include a first crack preventing line located corresponding to an end of the bonding member.

균열 방지 라인은 접착부재의 끝단보다 더 외측에 위치하는 제2균열 방지 라인을 포함할 수 있다.The crack preventing line may include a second crack preventing line located further outward than the end of the bonding member.

균열 방지 라인은 접착부재의 끝단보다 더 내측에 위치하는 제3균열 방지 라인을 포함할 수 있다.The crack preventing line may include a third crack preventing line located further inside than the end of the bonding member.

균열 방지 라인은 접착부재의 끝단에 대응하여 위치하고, 적어도 하나의 보호막보다 하부에 위치하는 제1균열 방지 라인, 접착부재의 끝단보다 더 외측에 위치하고, 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하는 제2균열 방지 라인, 접착부재의 끝단보다 더 내측에 위치하고, 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하는 제3균열 방지 라인 중 하나 또는 그 이상을 포함할 수 있다.The crack preventing line is located at a position corresponding to an end of the adhesive member and is located below the at least one protective film. The first crack preventing line is located outside the end of the adhesive member. A crack prevention line, and a third crack prevention line located on the inner side of the end of the adhesive member and on the surface of the at least one protective film.

본 발명은 표시 패널의 외곽 균열이 표시영역의 내부로 전파되는 문제를 방지 및 개선하여 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 표시 패널의 제조공정에 사용되는 재료를 이용하여 균열을 방지할 수 있는 라인을 설치하므로 후공정 진행 시 공정 마진을 확보할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of preventing and improving the problem that outer cracks of the display panel are propagated to the inside of the display area, thereby improving lifetime, reliability and fairness of the device. In addition, the present invention provides a line that can prevent cracking by using a material used in a manufacturing process of a display panel, so that a process margin can be secured in a post-process.

도 1은 유기전계발광표시장치의 개략적인 블록도.
도 2는 서브 픽셀의 회로 구성 예시도.
도 3은 마더기판 상에 셀별로 형성된 표시 패널을 잘라내는 공정에서 발생하는 문제를 보여주기 위한 평면도.
도 4는 도 3의 균열 발생부분을 나타낸 사진.
도 5는 도 3의 절단 공정에서 정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부를 나타낸 단면도.
도 6은 도 3의 절단 공정에서 비정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부를 나타낸 단면도.
도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도.
도 8은 도 7에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도.
도 9는 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도.
도 10은 도 9에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도.
도 11은 본 발명의 제3실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도.
도 12는 도 10에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도.
도 13은 본 발명의 실시예들의 제1변형예에 따른 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도.
도 14는 본 발명의 실시예들의 제2변형예에 따른 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면의 예시도.
1 is a schematic block diagram of an organic light emitting display device.
Fig. 2 is an exemplary circuit configuration of a subpixel. Fig.
3 is a plan view showing a problem occurring in a process of cutting a display panel formed on a mother substrate on a cell-by-cell basis.
Fig. 4 is a photograph showing the crack occurrence portion of Fig. 3; Fig.
5 is a cross-sectional view showing an outer edge portion of a cell normally cut in the cutting process of FIG. 3;
6 is a cross-sectional view showing an outer edge portion of a cell that is abnormally cut in the cutting process of FIG. 3;
7 is a plan view of a cell of a display panel according to a first embodiment of the present invention.
8 is a cross-sectional exemplary view showing the outer edge portion of the display panel shown in Fig.
9 is a plan view illustrating a cell of a display panel according to a second embodiment of the present invention.
10 is an exemplary cross-sectional view showing an outer edge portion of the display panel shown in Fig.
11 is a plan view of a cell of a display panel according to a third embodiment of the present invention.
Fig. 12 is a cross-sectional exemplary view showing an outer edge portion of the display panel shown in Fig. 10; Fig.
13 is a cross-sectional exemplary view showing an outer edge portion of a display panel according to a first modification of the embodiments of the present invention.
14 is an exemplary view showing a cross-section of an edge portion of a display panel according to a second modification of the embodiments of the present invention.

이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

<제1실시예>&Lt; Embodiment 1 >

도 1은 유기전계발광표시장치의 개략적인 블록도이고, 도 2는 서브 픽셀의 회로 구성 예시도 이다.FIG. 1 is a schematic block diagram of an organic light emitting display device, and FIG. 2 is an exemplary circuit configuration of a subpixel.

도 1에 도시된 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계발광표시장치에는 영상 처리부(110), 타이밍 제어부(120), 데이터 구동부(130), 게이트 구동부(140) 및 표시 패널(150)이 포함된다.1, the organic light emitting display includes an image processor 110, a timing controller 120, a data driver 130, a gate driver 140, and a display panel 150, .

영상 처리부(110)는 외부로부터 공급된 데이터신호(DATA)와 더불어 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 출력한다. 영상 처리부(110)는 데이터 인에이블 신호(DE) 외에도 수직 동기신호, 수평 동기신호 및 클럭신호 중 하나 이상을 출력할 수 있으나 이 신호들은 설명의 편의상 생략 도시한다.The image processing unit 110 outputs a data enable signal DE together with a data signal DATA supplied from the outside. The image processing unit 110 may output at least one of a vertical synchronizing signal, a horizontal synchronizing signal, and a clock signal in addition to the data enable signal DE, but these signals are omitted for convenience of explanation.

타이밍 제어부(120)는 영상 처리부(110)로부터 데이터 인에이블 신호(DE) 또는 수직 동기신호, 수평 동기신호 및 클럭신호 등을 포함하는 구동신호와 더불어 데이터신호(DATA)를 공급받는다. 타이밍 제어부(120)는 구동신호에 기초하여 게이트 구동부(140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC)와 데이터 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC)를 출력한다.The timing controller 120 receives a data signal DATA from a video processor 110 in addition to a data enable signal DE or a driving signal including a vertical synchronizing signal, a horizontal synchronizing signal, and a clock signal. The timing controller 120 includes a gate timing control signal GDC for controlling the operation timing of the gate driver 140 and a data timing control signal DDC for controlling the operation timing of the data driver 130, .

데이터 구동부(130)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 타이밍 제어부(120)로부터 공급되는 데이터신호(DATA)를 샘플링하고 래치하여 감마 기준전압으로 변환하여 출력한다. 데이터 구동부(130)는 데이터라인들(DL1 ~ DLn)을 통해 데이터신호(DATA)를 출력한다. 데이터 구동부(130)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성된다.The data driver 130 samples and latches the data signal DATA supplied from the timing controller 120 in response to the data timing control signal DDC supplied from the timing controller 120 and converts the sampled data signal into a gamma reference voltage . The data driver 130 outputs the data signal DATA through the data lines DL1 to DLn. The data driver 130 is formed in the form of an IC (Integrated Circuit).

게이트 구동부(140)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 게이트 타이밍 제어신호(GDC)에 응답하여 게이트전압의 레벨을 시프트시키면서 게이트신호를 출력한다. 게이트 구동부(140)는 게이트라인들(GL1 ~ GLm)을 통해 게이트신호를 출력한다. 게이트 구동부(140)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성되거나 표시 패널(150)에 게이트인패널(Gate In Panel) 방식으로 형성된다.The gate driver 140 outputs the gate signal while shifting the level of the gate voltage in response to the gate timing control signal GDC supplied from the timing controller 120. The gate driver 140 outputs a gate signal through the gate lines GL1 to GLm. The gate driver 140 may be formed in the form of an IC (Integrated Circuit) or a gate in panel structure in the display panel 150.

표시 패널(150)은 데이터 구동부(130) 및 게이트 구동부(140)로부터 공급된 데이터신호(DATA) 및 게이트신호에 대응하여 영상을 표시한다. 표시 패널(150)은 영상을 표시하는 서브 픽셀들(SP)을 포함한다.The display panel 150 displays an image corresponding to the data signal DATA and the gate signal supplied from the data driver 130 and the gate driver 140. The display panel 150 includes sub-pixels SP for displaying an image.

서브 픽셀은 구조에 따라 전면발광(Top-Emission) 방식, 배면발광(Bottom-Emission) 방식 또는 양면발광(Dual-Emission) 방식으로 형성된다. 서브 픽셀들(SP)은 적색 서브 픽셀, 녹색 서브 픽셀 및 청색 서브 픽셀을 포함하거나 백색 서브 픽셀, 적색 서브 픽셀, 녹색 서브 픽셀 및 청색 서브 픽셀을 포함한다. 서브 픽셀들(SP)은 발광 특성에 따라 하나 이상 다른 발광 면적을 가질 수 있다.The subpixels are formed in a top emission mode, a bottom emission mode, or a dual emission mode depending on the structure. The subpixels SP include a red subpixel, a green subpixel, and a blue subpixel or a white subpixel, a red subpixel, a green subpixel, and a blue subpixel. The subpixels SP may have one or more different emission areas depending on the emission characteristics.

도 2에 도시된 바와 같이 하나의 서브 픽셀에는 스위칭 트랜지스터(SW), 구동 트랜지스터(DR), 커패시터(Cst), 보상회로(CC) 및 유기 발광다이오드(OLED)가 포함된다. 유기 발광다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(DR)에 의해 형성된 구동 전류에 따라 빛을 발광하도록 동작한다.As shown in FIG. 2, one sub-pixel includes a switching transistor SW, a driving transistor DR, a capacitor Cst, a compensation circuit CC, and an organic light emitting diode OLED. The organic light emitting diode OLED operates to emit light in accordance with the driving current generated by the driving transistor DR.

스위칭 트랜지스터(SW)는 제1게이트라인(GL1)을 통해 공급된 게이트신호에 응답하여 제1데이터라인(DL1)을 통해 공급되는 데이터신호가 커패시터(Cst)에 데이터전압으로 저장되도록 스위칭 동작한다. 구동 트랜지스터(DR)는 커패시터(Cst)에 저장된 데이터전압에 따라 제1전원배선(VDD)과 제2전원배선(VSS) 사이로 구동 전류가 흐르도록 동작한다. 보상회로(CC)는 구동 트랜지스터(DR)의 문턱전압 등을 보상하기 위한 회로이다.The switching transistor SW operates in response to a gate signal supplied through the first gate line GL1 so that a data signal supplied through the first data line DL1 is stored as a data voltage in the capacitor Cst. The driving transistor DR operates so that a driving current flows between the first power supply line VDD and the second power supply line VSS in accordance with the data voltage stored in the capacitor Cst. The compensation circuit CC is a circuit for compensating the threshold voltage and the like of the driving transistor DR.

보상회로(CC)는 하나 이상의 박막 트랜지스터와 커패시터로 구성된다. 보상회로(CC)의 구성은 보상 방법에 따라 매우 다양한바 이에 대한 구체적인 예시 및 설명은 생략한다. 박막 트랜지스터는 저온 폴리실리콘(LTPS), 아몰포스 실리콘(a-Si), 산화물(Oxide) 또는 유기물(Organic) 반도체층을 기반으로 구현된다.The compensation circuit CC consists of one or more thin film transistors and a capacitor. The configuration of the compensation circuit (CC) is very various according to the compensation method, and a detailed illustration and description thereof are omitted. The thin film transistor is implemented based on low temperature polysilicon (LTPS), amorphous silicon (a-Si), oxide or organic semiconductor layers.

도 2에서는 하나의 서브 픽셀에 보상회로(CC)가 포함된 것을 일례로 하였다. 하지만, 보상의 주체가 데이터구동부(130) 등과 같이 서브 픽셀의 외부에 위치하는 경우 보상회로(CC)는 생략될 수도 있다. 즉, 하나의 서브 픽셀은 기본적으로 스위칭 트랜지스터(SW), 구동 트랜지스터(DR), 커패시터(Cst) 및 유기 발광다이오드(OLED)를 포함하는 2T(Transistor)1C(Capacitor) 구조로 구성되지만, 보상회로(CC)가 추가된 경우 3T1C, 4T2C, 5T2C 등으로 구성될 수도 있다.In FIG. 2, one compensator CC is included in one subpixel. However, the compensation circuit CC may be omitted when the subject of compensation is located outside the sub-pixel such as the data driver 130 or the like. That is, one subpixel is basically composed of a 2T (Transistor) 1C (Capacitor) structure including a switching transistor SW, a driving transistor DR, a capacitor Cst and an organic light emitting diode (OLED) (CC) is added, it may be composed of 3T1C, 4T2C, 5T2C, and the like.

앞서 설명된 유기전계발광표시장치는 전면발광(Top-Emission) 방식, 배면발광(Bottom-Emission) 방식 또는 양면발광(Dual-Emission) 방식으로 구현된다. 또한, 앞서 설명된 유기전계발광표시장치는 연성을 부여하여 곡면을 갖게 하거나 인위적으로 또는 기계적으로 구부러지게 하는 등 다양한 형태로 구현된다.The organic light emitting display device described above may be implemented as a top emission type, a bottom emission type, or a dual emission type. In addition, the organic light emitting display device described above may be implemented in various forms, such as providing curved surfaces, artificially or mechanically bending.

도 3은 마더기판 상에 셀별로 형성된 표시 패널을 잘라내는 공정에서 발생하는 문제를 보여주기 위한 평면도이고, 도 4는 도 3의 균열 발생부분을 나타낸 사진이며, 도 5는 도 3의 절단 공정에서 정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부를 나타낸 단면도이고, 도 6은 도 3의 절단 공정에서 비정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부를 나타낸 단면도이다.FIG. 3 is a plan view showing a problem occurring in a process of cutting a display panel formed on a mother substrate on a mother substrate, FIG. 4 is a photograph showing a crack generating portion in FIG. 3, Fig. 6 is a cross-sectional view showing the outer edge portion of the cell abnormally cut in the cutting process of Fig. 3; Fig.

도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 연성을 갖는 유기전계발광표시장치를 제조하기 위해서는 마더기판(MG) 상에 표시 패널(150)을 셀별로 다수 형성하고, 스크라이빙 라인(SLx, SLy)을 따라 표시 패널(150)을 셀별로 구분하여 잘라내는 절단 공정을 진행해야 한다.3 and 4, in order to manufacture an organic light emitting display device having flexibility, a plurality of display panels 150 are formed on a mother substrate MG for each cell, and scribing lines SLx, SLy The display panel 150 is divided into cells and cut out.

그런데, 종래 구조에 절단 공정을 진행하면 도 3의 확대된 부분과 도 4의 사진을 통해 알 수 있듯이 표시 패널의 외곽 엣지부(150_e)에 균열(Crack)(또는 손상)이 발생하는 것이 발견되었다.However, when the cutting process is performed on the conventional structure, it is found that a crack (or damage) occurs in the edge portion 150_e of the outer side of the display panel as seen from the enlarged portion of FIG. 3 and the picture of FIG. .

구체적으로, 도 5의 정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부(150_e)와 도 6의 비정상적으로 절단된 셀의 외곽 엣지부(150_e)를 비교해 보면, 절단 공정에서 비정상적으로 절단된 셀은 균열(Crack)로 인하여 보호막들(159, 161)이 뜯긴 상태를 보인다.Specifically, when the outer edge portion 150_e of the normally cut cell of FIG. 5 is compared with the outer edge portion 150_e of the abnormally cut cell of FIG. 6, the cells that are abnormally cut in the cutting process are cracked, The protective films 159 and 161 are torn.

균열(Crack)로 인하여 뜯긴 보호막들(159, 161)은 기판(150a) 상에 형성된 하부 구조물들(153b, 152)과의 접착력이 저하(나빠짐)된다. 앞서 생성된 균열(Crack)은 후공정에서 가해진 물리적 충적 등에 의해 표시영역까지 전파되어 통로를 형성한다. 그리고, 이 통로를 통해 습기 등의 외기는 표시영역까지 침투하게 되고, 그 결과 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 저하하게 되므로 이의 개선이 요구된다.The peeled protective films 159 and 161 are deteriorated in adhesion to the lower structures 153b and 152 formed on the substrate 150a due to cracks. The cracks generated before are propagated to the display area by the physical inclusion or the like applied in a post-process to form a passage. The outside air such as moisture permeates through the passages to the display area, and as a result, the lifetime, reliability and fairness of the device are deteriorated, and improvement thereof is required.

도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도이고, 도 8은 도 7에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도이다.FIG. 7 is a plan view illustrating a cell of a display panel according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating an edge portion of the display panel shown in FIG.

도 7에 도시된 바와 같이, 표시 패널(150)의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에는 제1균열 방지 라인(170)이 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 외곽 엣지부(150_e)에 발생된 균열이 표시영역(AA)의 내부로 전파되는 것을 방지하는 균열 전파 방지막 역할을 한다.7, the first crack prevention line 170 is formed at the outer edge 150_e located outside the display area (or the active area) AA of the cell of the display panel 150. As shown in FIG. The first crack prevention line 170 serves as a crack propagation preventing film for preventing a crack generated in the outer edge part 150_e from propagating to the inside of the display area AA.

균열 전파 방지막 역할을 수행하는 제1균열 방지 라인(170)은 기판 상에 형성된 보호막의 내부에 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 표시 패널(150)의 박막 제조공정에서 사용되는 재료 중 하나 이상으로 선택될 수 있다.A first anti-crack line 170 serving as a crack propagation preventing film is formed inside the protective film formed on the substrate. The first anti-crack line 170 may be selected from one or more of the materials used in the thin film manufacturing process of the display panel 150.

예컨대, 제1균열 방지 라인(170)은 평탄화막이나 뱅크층을 구성하는 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 유기물은 무기물 대비 소프트한 성질을 갖고 있기 때문에 물리적 충격에 의한 영향을 완화할 수 있다. 제1균열 방지 라인(170)은 외곽 엣지부(150_e)를 따라 사각형 형상으로 형성될 수 있다.For example, the first anti-cracking line 170 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, photoacrylate, etc. forming a planarizing film or a bank layer &Lt; / RTI &gt; Organic materials have a soft nature in comparison with inorganic materials, which can alleviate the effects of physical impact. The first crack prevention line 170 may be formed in a rectangular shape along the outer edge portion 150_e.

이때, 제1균열 방지 라인(170)은 도시된 바와 같이 폐곡선 형태의 사각형 형상을 갖거나 특정 영역이 개방된 형태의 사각형 형상을 가질 수 있다. 또한, 제1균열 방지 라인(170)은 절단 공정시 물리적 충격이 집중되는 모퉁이의 형상에 대응하여 기역(ㄱ)자 형상을 가질 수도 있다.At this time, the first crack prevention line 170 may have a rectangular shape in the form of a closed curve or a rectangular shape in which a specific region is opened as shown in the figure. The first anti-cracking line 170 may have a shape of a circle corresponding to the shape of a corner where a physical impact is concentrated during the cutting process.

도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 기판(150a) 상에는 하부구조물(151a, 151b)이 형성된다. 기판(150a)은 폴리이미드 (polyimide; PI), 폴리에테르술폰 (polyethersulfone; PES), 폴리에틸렌 테레프탈레이트 (Polyethylene terephthalate; PET), 폴리카보네이트 (Polycarbonates; PC), 폴리에틸렌 나프탈레이트 (Polyethylene Naphthalate; PEN), 아크릴로니트릴 부타디엔 스티렌 (Acrylonitrile butadiene styrene; ABS) 등의 플라스틱으로 선택된다.As shown in FIGS. 7 and 8, lower structures 151a and 151b are formed on the substrate 150a. The substrate 150a may be formed of a material such as polyimide (PI), polyethersulfone (PES), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polyethylene naphthalate (PEN) And acrylonitrile butadiene styrene (ABS).

제1하부구조물(151a)은 게이트인패널 방식의 게이트 구동부를 구성하는 게이트전극으로 정의될 수 있고, 제2하부구조물(151b)은 게이트전극과 연결된 게이트라인 등으로 정의될 수 있다.The first substructure 151a may be defined as a gate electrode constituting a gate-in panel type gate driving unit and the second substructure 151b may be defined as a gate line connected with a gate electrode.

하부구조물(151a, 151b) 상에는 제1절연막(152)이 형성된다. 제1절연막(152)은 실리콘 산화막(SiOx) 또는 실리콘 질화막(SiNx)의 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 제1절연막(152)은 하부구조물(151a, 151b)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first insulating layer 152 is formed on the lower structures 151a and 151b. The first insulating layer 152 may be a single layer or multiple layers of a silicon oxide layer (SiOx) or a silicon nitride layer (SiNx). The first insulating film 152 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the lower structures 151a and 151b.

제1절연막(152) 상에는 상부구조물(153a, 153b)이 형성된다. 제1상부구조물(153a)은 박막 트랜지스터의 전극을 구성하는 소오스 및 드레인전극으로 정의될 수 있고, 제2상부구조물(153b)은 소오스 및 드레인 전극과 연결된 데이터라인 등으로 정의될 수 있다.On the first insulating film 152, upper structures 153a and 153b are formed. The first upper structure 153a may be defined as a source and a drain electrode constituting the electrodes of the thin film transistor and the second upper structure 153b may be defined as a data line connected to the source and drain electrodes.

제1절연막(152) 상에는 제2절연막(155)이 형성된다. 제2절연막(155)은 표면을 평탄화하는 평탄화막으로 정의될 수 있다. 제2절연막(155)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 제2절연막(155)은 제1상부구조물(153a)을 모두 덮고 제2상부구조물(153b)의 일부를 덮도록 형성된다.A second insulating layer 155 is formed on the first insulating layer 152. The second insulating film 155 may be defined as a planarization film for planarizing the surface. The second insulating layer 155 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate. The second insulating film 155 covers the entire first upper structure 153a and covers a part of the second upper structure 153b.

제2절연막(155) 상에는 하부전극층(156)이 형성된다. 하부전극층(156)은 유기 발광다이오드의 제1전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 하부전극층(156) 중에는 유기 발광다이오드의 제1전극층(예: 애노드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.A lower electrode layer 156 is formed on the second insulating layer 155. The lower electrode layer 156 may be formed of the same material and the same process as the first electrode layer of the organic light emitting diode. In the lower electrode layer 156, there is a region to be a first electrode layer (for example, an anode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

하부전극층(156) 상에는 뱅크층(157)이 형성된다. 뱅크층(157)은 표시영역에 형성된 유기 발광다이오드의 발광영역(또는 개구영역)을 정의하는 층이다. 뱅크층(157)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다.On the lower electrode layer 156, a bank layer 157 is formed. The bank layer 157 is a layer defining a light emitting region (or an opening region) of the organic light emitting diode formed in the display region. The bank layer 157 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate.

뱅크층(157) 상에는 상부전극층(158)이 형성된다. 상부전극층(158)은 유기 발광다이오드의 제2전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 상부전극층(158)은 하부전극층(156)을 통해 제2상부구조물(153b)에 연결되는 영역이 존재할 수 있다. 상부전극층(158) 중에는 유기 발광다이오드의 제2전극층(예: 캐소드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.An upper electrode layer 158 is formed on the bank layer 157. The upper electrode layer 158 may be formed of the same material and the same process as the second electrode layer of the organic light emitting diode. The upper electrode layer 158 may have a region connected to the second upper structure 153b through the lower electrode layer 156. [ In the upper electrode layer 158, there is a region to be a second electrode layer (for example, a cathode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

제1절연막(152)과 제2상부구조물(153b) 상에는 제1균열 방지 라인(170)이 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 제2절연막(155) 또는 뱅크층(157)에 의해 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 제2절연막(155) 또는 뱅크층(157)과 같은 유기물로 이루어지므로, 다른 절연막 대비 두껍게 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 투광성 접착부재(165)의 끝단에 대응하여 위치할 수 있다.A first crack prevention line 170 is formed on the first insulating layer 152 and the second upper structure 153b. The first anti-cracking line 170 is formed by the second insulating film 155 or the bank layer 157. The first anti-cracking line 170 is formed of an organic material such as the second insulating film 155 or the bank layer 157, and thus is formed thicker than the other insulating film. The first anti-crack line 170 may be positioned corresponding to the end of the translucent bonding member 165.

제1균열 방지 라인(170)의 선폭은 10 ~ 100 ㎛로 선택될 수 있다. 제1균열 방지 라인(170)의 선폭이 10 ㎛ 이상이 되면 자신의 하부 및 상부에 형성되는 막과 최소 접착력을 유지할 수 있고 또한 균열 전파 방지막으로서의 역할을 어느 정도 수행할 수 있게 된다. 그러나, 제1균열 방지 라인(170)의 선폭이 10 ㎛ 이하가 되면 접착력이 저하되어 균열 전파 방지막으로서의 역할을 수행하기 어려워진다.The line width of the first crack prevention line 170 may be selected to be 10 to 100 mu m. When the line width of the first crack prevention line 170 is 10 m or more, it is possible to maintain a minimum adhesive force with the film formed on the lower and upper portions of the first crack prevention line 170, and to perform a role as a crack propagation preventing film to some extent. However, when the line width of the first crack prevention line 170 is less than 10 mu m, the adhesive force is lowered and it becomes difficult to perform a role as a crack propagation preventing film.

제1균열 방지 라인(170)의 선폭이 100 ㎛ 이하가 되면 자신의 하부 및 상부에 형성되는 막과 우수한 접착력을 유지할 수 있고 균열 전파 방지막으로서의 역할을 효율적으로 수행할 수 있게 된다. 아울러, 외기가 내부로 전파되는 경로의 차단력을 높일 수 있게 된다. 그러나, 제1균열 방지 라인(170)의 선폭이 100 ㎛ 이상이 되면 균열 전파 방지막으로서의 역할이 더 좋아질 수 있으나 베젤 영역의 증가와 더불어 하부 및 상부에 형성되는 막의 엣지부 접착력이 저하될 수 있다.When the line width of the first crack prevention line 170 is 100 탆 or less, it is possible to maintain a good adhesive force with a film formed on the lower and upper portions of the first crack prevention line 170 and to effectively perform a role as a crack propagation preventing film. In addition, it is possible to increase the blocking power of the path through which the outside air is propagated to the inside. However, if the line width of the first anti-crack line 170 is 100 mu m or more, the anti-crack propagation film may have a better role. However, the bezel area may increase, and the adhesive strength of the edge portions of the film formed at the lower and upper portions may be lowered.

제1균열 방지 라인(170)의 두께는 0.1 ~ 10 ㎛로 선택될 수 있다. 제1균열 방지 라인(170)의 두께가 0.1 ㎛ 이상이 되면 물리적 충격으로부터 하부 및 상부에 형성되는 막을 보호할 수 있는 최소 능력을 가질 수 있다. 그러나, 제1균열 방지 라인(170)의 두께가 0.1 ㎛ 이하가 되면 물리적 충격으로부터 하부 및 상부에 형성되는 막을 보호할 수 있는 능력을 갖기 어려워진다.The thickness of the first crack prevention line 170 may be selected to be 0.1 to 10 mu m. If the thickness of the first anti-crack line 170 is 0.1 mu m or more, it may have a minimum ability to protect the film formed on the upper and lower portions from physical impact. However, when the thickness of the first crack prevention line 170 is 0.1 mu m or less, it becomes difficult to have the ability to protect the film formed on the upper and lower portions from physical impact.

제1균열 방지 라인(170)의 두께가 10 ㎛ 이하가 되면 물리적 충격으로부터 하부 및 상부에 형성되는 막을 보호할 수 있는 우수한 능력을 유지할 수 있다. 그러나, 제1균열 방지 라인(170)의 두께가 10 ㎛ 이상이 되면 물리적 충격으로부터 하부 및 상부에 형성되는 막을 보호할 수 있는 능력이 더 좋아질 수 있으나 공정 택트 타임을 증가시킬 수 있다. When the thickness of the first anti-cracking line 170 is 10 μm or less, it is possible to maintain excellent ability to protect the film formed on the upper and lower portions from physical impact. However, if the thickness of the first anti-cracking line 170 is 10 μm or more, the ability to protect the film formed on the upper and lower portions from the physical impact may be improved, but the process tack time can be increased.

상부전극층(158) 상에는 제1보호막(159)이 형성된다. 제1보호막(159)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제1보호막(159)은 뱅크층(157), 상부전극층(158) 및 제1균열 방지 라인(170)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first protective film 159 is formed on the upper electrode layer 158. The first protective film 159 protects elements (e.g., thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The first protective film 159 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the bank layer 157, the upper electrode layer 158 and the first anti-cracking line 170. [

제1보호막(159) 상에는 파티클보호층(160)이 형성된다. 파티클보호층(160)은 표시영역을 덮도록 형성된다. 파티클보호층(160)은 무기막층, 유기막층 및 무기막층의 적층 구조로 이루어진다. 파티클보호층(160)은 기판(150a)에 형성된 박막 트랜지스터들과 박막 트랜지스터들 상에 형성된 유기 발광다이오드들을 보호하여 파티클과 같은 입자에 의해 이들 소자가 손상(쇼트 등)되는 것을 방지하는 역할을 한다.The particle protective layer 160 is formed on the first protective layer 159. The particle protection layer 160 is formed to cover the display area. The particle protection layer 160 has a laminated structure of an inorganic film layer, an organic film layer, and an inorganic film layer. The particle protection layer 160 protects the organic light emitting diodes formed on the thin film transistors and the thin film transistors formed on the substrate 150a and prevents the elements from being damaged (shot, etc.) by particles such as particles .

파티클보호층(160) 상에는 제2보호막(161)이 형성된다. 제2보호막(161)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제2보호막(159)은 제1보호막(159) 및 파티클보호층(160)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A second protective film 161 is formed on the particle protective layer 160. The second protective film 161 protects elements (for example, thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The second protective film 159 is formed to cover the entire area of the substrate 150a together with the first protective film 159 and the particle protection layer 160. [

제2보호막(161) 상에는 투광성 접착부재(165)가 형성된다. 투광성 접착부재(165)는 PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film)이나 OCA (Optical Clear Adhesive Film) 등으로 선택될 수 있다. 투광성 접착부재(165)는 기판(150a) 상에 형성된 구조물(예: 제2보호막)과 베리어필름(150b)을 부착하는 역할을 한다.On the second protective film 161, a light-transmitting adhesive member 165 is formed. The light transmitting adhesive member 165 may be selected from PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film) or OCA (Optical Clear Adhesive Film). The translucent adhesive member 165 serves to adhere the structure (for example, the second protective film) formed on the substrate 150a and the barrier film 150b.

위의 설명을 통해 알 수 있듯이, 제1균열 방지 라인(170)은 절단 공정시 기판(150a)의 외곽 엣지(150_e)에 가해지는 충격을 완충하여 보호막들(159, 161)에 균열이 발생하는 문제는 개선되고, 그 결과 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상할 수 있다.As can be seen from the above description, the first crack prevention line 170 cushions the impact applied to the outer edge 150_e of the substrate 150a during the cutting process to cause cracks in the protective films 159 and 161 The problem is improved, and as a result, the lifetime, reliability and fairness of the device can be improved.

<제2실시예>&Lt; Embodiment 2 >

도 9는 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도이고, 도 10은 도 9에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도이다.FIG. 9 is a plan view illustrating a cell of a display panel according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an edge portion of the display panel shown in FIG.

도 9에 도시된 바와 같이, 표시 패널(150)의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에는 제2균열 방지 라인(175)이 형성된다. 제2균열 방지 라인(175)은 외곽 엣지부(150_e)에 발생된 균열이 표시영역(AA)의 내부로 전파되는 것을 방지하는 균열 전파 방지막 역할을 한다.9, the second crack prevention line 175 is formed in the outer edge portion 150_e located outside the display region (or the active region) AA of the cell of the display panel 150. As shown in FIG. The second crack prevention line 175 serves as a crack propagation preventing film for preventing a crack generated in the outer edge part 150_e from propagating to the inside of the display area AA.

균열 전파 방지막 역할을 수행하는 제2균열 방지 라인(175)은 기판 상에 형성된 보호막의 외부(표면)에 형성된다. 제2균열 방지 라인(175)은 표시 패널(150)의 박막 제조공정에서 사용되는 재료 중 하나 이상으로 선택될 수 있다.A second anti-crack line 175 serving as a crack propagation preventing film is formed on the outside (surface) of the protective film formed on the substrate. The second anti-crack line 175 may be selected from one or more of the materials used in the thin film manufacturing process of the display panel 150.

예컨대, 제2균열 방지 라인(175)은 평탄화막이나 뱅크층을 구성하는 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 유기물은 무기물 대비 소프트한 성질을 갖고 있기 때문에 물리적 충격에 의한 영향을 완화할 수 있다. 제2균열 방지 라인(175)은 외곽 엣지부(150_e)를 따라 사각형 형상으로 형성될 수 있다.For example, the second anti-cracking line 175 may be formed of an organic material such as a polyimide, a benzocyclobutene series resin, an acrylate, a photoacrylate, etc. constituting a planarizing film or a bank layer &Lt; / RTI &gt; Organic materials have a soft nature in comparison with inorganic materials, which can alleviate the effects of physical impact. The second crack prevention line 175 may be formed in a rectangular shape along the outer edge portion 150_e.

이때, 제2균열 방지 라인(175)은 도시된 바와 같이 폐곡선 형태의 사각형 형상을 갖거나 특정 영역이 개방된 형태의 사각형 형상을 가질 수 있다. 또한, 제2균열 방지 라인(175)은 절단 공정시 물리적 충격이 집중되는 모퉁이의 형상에 대응하여 기역(ㄱ)자 형상을 가질 수도 있다.At this time, the second crack prevention line 175 may have a rectangular shape in the form of a closed curve or a rectangular shape in which a specific region is opened as shown in the figure. In addition, the second anti-crack line 175 may have a root shape corresponding to a shape of a corner where a physical impact is concentrated during the cutting process.

도 9 및 도 10에 도시된 바와 같이, 기판(150a) 상에는 하부구조물(151a, 151b)이 형성된다. 기판(150a)은 폴리이미드 (polyimide; PI), 폴리에테르술폰 (polyethersulfone; PES), 폴리에틸렌 테레프탈레이트 (Polyethylene terephthalate; PET), 폴리카보네이트 (Polycarbonates; PC), 폴리에틸렌 나프탈레이트 (Polyethylene Naphthalate; PEN), 아크릴로니트릴 부타디엔 스티렌 (Acrylonitrile butadiene styrene; ABS) 등의 플라스틱으로 선택된다.As shown in FIGS. 9 and 10, lower structures 151a and 151b are formed on a substrate 150a. The substrate 150a may be formed of a material such as polyimide (PI), polyethersulfone (PES), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polyethylene naphthalate (PEN) And acrylonitrile butadiene styrene (ABS).

제1하부구조물(151a)은 게이트인패널 방식의 게이트 구동부를 구성하는 게이트전극으로 정의될 수 있고, 제2하부구조물(151b)은 게이트전극과 연결된 게이트라인 등으로 정의될 수 있다.The first substructure 151a may be defined as a gate electrode constituting a gate-in panel type gate driving unit and the second substructure 151b may be defined as a gate line connected with a gate electrode.

하부구조물(151a, 151b) 상에는 제1절연막(152)이 형성된다. 제1절연막(152)은 실리콘 산화막(SiOx) 또는 실리콘 질화막(SiNx)의 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 제1절연막(152)은 하부구조물(151a, 151b)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first insulating layer 152 is formed on the lower structures 151a and 151b. The first insulating layer 152 may be a single layer or multiple layers of a silicon oxide layer (SiOx) or a silicon nitride layer (SiNx). The first insulating film 152 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the lower structures 151a and 151b.

제1절연막(152) 상에는 상부구조물(153a, 153b)이 형성된다. 제1상부구조물(153a)은 박막 트랜지스터의 전극을 구성하는 소오스 및 드레인전극으로 정의될 수 있고, 제2상부구조물(153b)은 소오스 및 드레인 전극과 연결된 데이터라인 등으로 정의될 수 있다.On the first insulating film 152, upper structures 153a and 153b are formed. The first upper structure 153a may be defined as a source and a drain electrode constituting the electrodes of the thin film transistor and the second upper structure 153b may be defined as a data line connected to the source and drain electrodes.

제1절연막(152) 상에는 층간절연막(154)이 형성된다. 층간절연막(154)은 실리콘 산화막(SiOx) 또는 실리콘 질화막(SiNx)의 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 층간절연막(154)은 상부구조물(153a, 153b)을 덮도록 형성된다. 층간절연막(154)은 접착력, 투습성 및 신뢰성을 높이기 위해 사용되나 이는 삭제(또는 생략)될 수도 있다.An interlayer insulating film 154 is formed on the first insulating film 152. The interlayer insulating film 154 may be formed of a single layer or multiple layers of a silicon oxide film (SiOx) or a silicon nitride film (SiNx). The interlayer insulating film 154 is formed so as to cover the upper structures 153a and 153b. The interlayer insulating film 154 is used to improve adhesion, moisture permeability, and reliability, but it may be omitted (or omitted).

층간절연막(154) 상에는 제2절연막(155)이 형성된다. 제2절연막(155)은 표면을 평탄화하는 평탄화막으로 정의될 수 있다. 제2절연막(155)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 제2절연막(155)은 제1상부구조물(153a)을 모두 덮고 제2상부구조물(153b)의 일부를 덮도록 형성된다.A second insulating film 155 is formed on the interlayer insulating film 154. The second insulating film 155 may be defined as a planarization film for planarizing the surface. The second insulating layer 155 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate. The second insulating film 155 covers the entire first upper structure 153a and covers a part of the second upper structure 153b.

제2절연막(155) 상에는 하부전극층(156)이 형성된다. 하부전극층(156)은 유기 발광다이오드의 제1전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 하부전극층(156) 중에는 유기 발광다이오드의 제1전극층(예: 애노드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.A lower electrode layer 156 is formed on the second insulating layer 155. The lower electrode layer 156 may be formed of the same material and the same process as the first electrode layer of the organic light emitting diode. In the lower electrode layer 156, there is a region to be a first electrode layer (for example, an anode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

하부전극층(156) 상에는 뱅크층(157)이 형성된다. 뱅크층(157)은 표시영역에 형성된 유기 발광다이오드의 발광영역(또는 개구영역)을 정의하는 층이다. 뱅크층(157)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다.On the lower electrode layer 156, a bank layer 157 is formed. The bank layer 157 is a layer defining a light emitting region (or an opening region) of the organic light emitting diode formed in the display region. The bank layer 157 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate.

뱅크층(157) 상에는 상부전극층(158)이 형성된다. 상부전극층(158)은 유기 발광다이오드의 제2전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 상부전극층(158)은 하부전극층(156)을 통해 제2상부구조물(153b)에 연결되는 영역이 존재할 수 있다. 상부전극층(158) 중에는 유기 발광다이오드의 제2전극층(예: 캐소드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.An upper electrode layer 158 is formed on the bank layer 157. The upper electrode layer 158 may be formed of the same material and the same process as the second electrode layer of the organic light emitting diode. The upper electrode layer 158 may have a region connected to the second upper structure 153b through the lower electrode layer 156. [ In the upper electrode layer 158, there is a region to be a second electrode layer (for example, a cathode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

상부전극층(158) 상에는 제1보호막(159)이 형성된다. 제1보호막(159)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제1보호막(159)은 뱅크층(157), 상부전극층(158) 및 제1균열 방지 라인(170)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first protective film 159 is formed on the upper electrode layer 158. The first protective film 159 protects elements (e.g., thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The first protective film 159 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the bank layer 157, the upper electrode layer 158 and the first anti-cracking line 170. [

제1보호막(159) 상에는 파티클보호층(160)이 형성된다. 파티클보호층(160)은 표시영역을 덮도록 형성된다. 파티클보호층(160)은 무기막층, 유기막층 및 무기막층의 적층 구조로 이루어진다. 파티클보호층(160)은 기판(150a)에 형성된 박막 트랜지스터들과 박막 트랜지스터들 상에 형성된 유기 발광다이오드들을 보호하여 파티클과 같은 입자에 의해 이들 소자가 손상(쇼트 등)되는 것을 방지하는 역할을 한다.The particle protective layer 160 is formed on the first protective layer 159. The particle protection layer 160 is formed to cover the display area. The particle protection layer 160 has a laminated structure of an inorganic film layer, an organic film layer, and an inorganic film layer. The particle protection layer 160 protects the organic light emitting diodes formed on the thin film transistors and the thin film transistors formed on the substrate 150a and prevents the elements from being damaged (shot, etc.) by particles such as particles .

파티클보호층(160) 상에는 제2보호막(161)이 형성된다. 제2보호막(161)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제2보호막(159)은 제1보호막(159)과 파티클보호층(160)을 덮도록 형성된다.A second protective film 161 is formed on the particle protective layer 160. The second protective film 161 protects elements (for example, thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The second protective film 159 is formed to cover the first protective film 159 and the particle protection layer 160.

제2보호막(161) 상에는 제2균열 방지 라인(175)이 형성된다. 제2균열 방지 라인(175)은 유기막, 무기막 또는 유무기 복합막으로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 제2균열 방지 라인(175)의 선폭은 10 ~ 100 ㎛로 선택될 수 있고, 제2균열 방지 라인(175)의 두께는 0.1 ~ 10 ㎛로 선택될 수 있다. 제2균열 방지 라인(175)의 선폭과 두께와 관련된 설명은 제1실시예와 유사 또는 동일하므로 이를 참조한다. 제2균열 방지 라인(175)은 투광성 접착부재(165)의 끝단보다 외측에 위치한다.On the second protective film 161, a second crack prevention line 175 is formed. The second anti-cracking line 175 may be formed of an organic film, an inorganic film, or an inorganic or organic composite film, but is not limited thereto. The line width of the second anti-crack line 175 may be selected to be 10 to 100 mu m, and the thickness of the second anti-crack line 175 may be selected to be 0.1 to 10 mu m. The description related to the line width and thickness of the second crack prevention line 175 is similar to or the same as the first embodiment, and therefore, it is referred to. The second anti-crack line 175 is located outside the end of the translucent bonding member 165.

제2보호막(161) 상에는 투광성 접착부재(165)가 형성된다. 투광성 접착부재(165)는 PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film)이나 OCA (Optical Clear Adhesive Film) 등으로 선택될 수 있다. 투광성 접착부재(165)는 기판(150a) 상에 형성된 구조물(예: 제2보호막)과 베리어필름(150b)을 부착하는 역할을 한다.On the second protective film 161, a light-transmitting adhesive member 165 is formed. The light transmitting adhesive member 165 may be selected from PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film) or OCA (Optical Clear Adhesive Film). The translucent adhesive member 165 serves to adhere the structure (for example, the second protective film) formed on the substrate 150a and the barrier film 150b.

위의 설명을 통해 알 수 있듯이, 제2균열 방지 라인(175)은 절단 공정시 기판(150a)의 외곽 엣지(150_e)에 가해지는 충격을 완충하여 보호막들(159, 161)에 균열이 발생하는 문제는 개선되고, 그 결과 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상할 수 있다.As can be seen from the above description, the second crack prevention line 175 cushions the impact applied to the outer edge 150_e of the substrate 150a during the cutting process to cause cracks in the protective films 159 and 161 The problem is improved, and as a result, the lifetime, reliability and fairness of the device can be improved.

<제3실시예>&Lt; Third Embodiment >

도 11은 본 발명의 제3실시예에 따른 표시 패널의 셀을 나타낸 평면 예시도이고, 도 12는 도 10에 도시된 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도이다.FIG. 11 is a plan view illustrating a cell of a display panel according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating an edge portion of the display panel shown in FIG.

도 11에 도시된 바와 같이, 표시 패널(150)의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에는 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)이 형성된다. 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 외곽 엣지부(150_e)에 발생된 균열이 표시영역(AA)의 내부로 전파되는 것을 방지하는 균열 전파 방지막 역할을 한다.11, the first and third anti-crack lines 170 and 178 are formed in the outer edge portion 150_e located outside the display region (or the active region) AA of the cell of the display panel 150, Is formed. The first and third crack prevention lines 170 and 178 serve as a crack propagation preventing film for preventing a crack generated in the outer edge part 150_e from propagating to the inside of the display area AA.

균열 전파 방지막 역할을 수행하는 제1균열 방지 라인(170)은 기판 상에 형성된 보호막의 내부에 형성되고, 제3균열 방지 라인(178)은 보호막의 외부(표면)에 형성된다. 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 외곽 엣지부(150_e)를 따라 사각형 형상으로 형성될 수 있다. 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 표시 패널(150)의 박막 제조공정에서 사용되는 재료 중 하나 이상으로 선택될 수 있다.A first anti-crack line 170 serving as a crack propagation preventing film is formed inside the protective film formed on the substrate, and a third anti-cracking line 178 is formed on the outer surface (surface) of the protective film. The first and third crack prevention lines 170 and 178 may be formed in a rectangular shape along the outer edge portion 150_e. The first and third anti-crack lines 170 and 178 may be selected from one or more of the materials used in the thin film manufacturing process of the display panel 150.

예컨대, 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 평탄화막이나 뱅크층을 구성하는 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 유기물은 무기물 대비 소프트한 성질을 갖고 있기 때문에 물리적 충격에 의한 영향을 완화할 수 있다.For example, the first and third anti-crack lines 170 and 178 may be formed of a polyimide, a benzocyclobutene series resin, an acrylate, a photoacid And a photocatalyst). Organic materials have a soft nature in comparison with inorganic materials, which can alleviate the effects of physical impact.

제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 도시된 바와 같이 폐곡선 형태의 사각형 형상을 갖거나 특정 영역이 개방된 형태의 사각형 형상을 가질 수 있다. 또한, 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 절단 공정시 물리적 충격이 집중되는 모퉁이의 형상에 대응하여 기역(ㄱ)자 형상을 가질 수도 있다. 또한, 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)은 그 형상이 다를(예컨대, 제1균열 방지 라인은 모퉁이에 위치하는 기역자 형상이고, 제3균열 방지 라인은 사각형 형상) 수도 있다.The first and third crack prevention lines 170 and 178 may have a quadrangular shape in the form of a closed curve as shown or a rectangular shape in which a specific region is open. In addition, the first and third anti-crack lines 170 and 178 may have a root shape corresponding to the shape of a corner where a physical impact is concentrated during the cutting process. In addition, the first and third anti-crack lines 170 and 178 may have different shapes (e.g., the first anti-crack line may be a translator shape located at a corner and the third anti-crack line may be rectangular).

도 11 및 도 12에 도시된 바와 같이, 기판(150a) 상에는 하부구조물(151a, 151b)이 형성된다. 기판(150a)은 폴리이미드 (polyimide; PI), 폴리에테르술폰 (polyethersulfone; PES), 폴리에틸렌 테레프탈레이트 (Polyethylene terephthalate; PET), 폴리카보네이트 (Polycarbonates; PC), 폴리에틸렌 나프탈레이트 (Polyethylene Naphthalate; PEN), 아크릴로니트릴 부타디엔 스티렌 (Acrylonitrile butadiene styrene; ABS) 등의 플라스틱으로 선택된다.As shown in FIGS. 11 and 12, lower structures 151a and 151b are formed on the substrate 150a. The substrate 150a may be formed of a material such as polyimide (PI), polyethersulfone (PES), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polyethylene naphthalate (PEN) And acrylonitrile butadiene styrene (ABS).

제1하부구조물(151a)은 게이트인패널 방식의 게이트 구동부를 구성하는 게이트전극으로 정의될 수 있고, 제2하부구조물(151b)은 게이트전극과 연결된 게이트라인 등으로 정의될 수 있다.The first substructure 151a may be defined as a gate electrode constituting a gate-in panel type gate driving unit and the second substructure 151b may be defined as a gate line connected with a gate electrode.

하부구조물(151a, 151b) 상에는 제1절연막(152)이 형성된다. 제1절연막(152)은 실리콘 산화막(SiOx) 또는 실리콘 질화막(SiNx)의 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 제1절연막(152)은 하부구조물(151a, 151b)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first insulating layer 152 is formed on the lower structures 151a and 151b. The first insulating layer 152 may be a single layer or multiple layers of a silicon oxide layer (SiOx) or a silicon nitride layer (SiNx). The first insulating film 152 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the lower structures 151a and 151b.

제1절연막(152) 상에는 상부구조물(153a, 153b)이 형성된다. 제1상부구조물(153a)은 박막 트랜지스터의 전극을 구성하는 소오스 및 드레인전극으로 정의될 수 있고, 제2상부구조물(153b)은 소오스 및 드레인 전극과 연결된 데이터라인 등으로 정의될 수 있다.On the first insulating film 152, upper structures 153a and 153b are formed. The first upper structure 153a may be defined as a source and a drain electrode constituting the electrodes of the thin film transistor and the second upper structure 153b may be defined as a data line connected to the source and drain electrodes.

제1절연막(152) 상에는 층간절연막(154)이 형성된다. 층간절연막(154)은 실리콘 산화막(SiOx) 또는 실리콘 질화막(SiNx)의 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 층간절연막(154)은 상부구조물(153a, 153b)을 덮도록 형성된다. 층간절연막(154)은 접착력, 투습성 및 신뢰성을 높이기 위해 사용되나 이는 삭제(또는 생략)될 수도 있다.An interlayer insulating film 154 is formed on the first insulating film 152. The interlayer insulating film 154 may be formed of a single layer or multiple layers of a silicon oxide film (SiOx) or a silicon nitride film (SiNx). The interlayer insulating film 154 is formed so as to cover the upper structures 153a and 153b. The interlayer insulating film 154 is used to improve adhesion, moisture permeability, and reliability, but it may be omitted (or omitted).

층간절연막(154) 상에는 제2절연막(155)이 형성된다. 제2절연막(155)은 표면을 평탄화하는 평탄화막으로 정의될 수 있다. 제2절연막(155)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 제2절연막(155)은 제1상부구조물(153a)을 모두 덮고 제2상부구조물(153b)의 일부를 덮도록 형성된다.A second insulating film 155 is formed on the interlayer insulating film 154. The second insulating film 155 may be defined as a planarization film for planarizing the surface. The second insulating layer 155 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate. The second insulating film 155 covers the entire first upper structure 153a and covers a part of the second upper structure 153b.

제2절연막(155) 상에는 하부전극층(156)이 형성된다. 하부전극층(156)은 유기 발광다이오드의 제1전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 하부전극층(156) 중에는 유기 발광다이오드의 제1전극층(예: 애노드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.A lower electrode layer 156 is formed on the second insulating layer 155. The lower electrode layer 156 may be formed of the same material and the same process as the first electrode layer of the organic light emitting diode. In the lower electrode layer 156, there is a region to be a first electrode layer (for example, an anode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

하부전극층(156) 상에는 뱅크층(157)이 형성된다. 뱅크층(157)은 표시영역에 형성된 유기 발광다이오드의 발광영역(또는 개구영역)을 정의하는 층이다. 뱅크층(157)은 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate), 포토아크릴(Photoacrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다.On the lower electrode layer 156, a bank layer 157 is formed. The bank layer 157 is a layer defining a light emitting region (or an opening region) of the organic light emitting diode formed in the display region. The bank layer 157 may be formed of an organic material such as polyimide, benzocyclobutene series resin, acrylate, and photoacrylate.

뱅크층(157) 상에는 상부전극층(158)이 형성된다. 상부전극층(158)은 유기 발광다이오드의 제2전극층과 동일한 재료 및 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 상부전극층(158)은 하부전극층(156)을 통해 제2상부구조물(153b)에 연결되는 영역이 존재할 수 있다. 상부전극층(158) 중에는 유기 발광다이오드의 제2전극층(예: 캐소드전극층)이 되는 영역이 존재하며, 이는 도시되어 있진 않지만 표시영역의 내부에 위치한다.An upper electrode layer 158 is formed on the bank layer 157. The upper electrode layer 158 may be formed of the same material and the same process as the second electrode layer of the organic light emitting diode. The upper electrode layer 158 may have a region connected to the second upper structure 153b through the lower electrode layer 156. [ In the upper electrode layer 158, there is a region to be a second electrode layer (for example, a cathode electrode layer) of the organic light emitting diode, which is not shown but is located inside the display region.

제1절연막(152)과 제2상부구조물(153b) 상에는 제1균열 방지 라인(170)이 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 제2절연막(155) 또는 뱅크층(157)에 의해 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)은 제2절연막(155) 또는 뱅크층(157)과 같은 유기물로 이루어지므로, 다른 절연막 대비 두껍게 형성된다. 제1균열 방지 라인(170)의 선폭은 10 ~ 100 ㎛로 선택될 수 있고, 제1균열 방지 라인(170)의 두께는 0.1 ~ 10 ㎛로 선택될 수 있다. 제1균열 방지 라인(170)의 선폭과 두께와 관련된 설명은 제1실시예와 유사 또는 동일하므로 이를 참조한다.A first crack prevention line 170 is formed on the first insulating layer 152 and the second upper structure 153b. The first anti-cracking line 170 is formed by the second insulating film 155 or the bank layer 157. The first anti-cracking line 170 is formed of an organic material such as the second insulating film 155 or the bank layer 157, and thus is formed thicker than the other insulating film. The line width of the first anti-crack line 170 may be selected to be 10 to 100 mu m, and the thickness of the first anti-crack line 170 may be selected to be 0.1 to 10 mu m. The description related to the line width and thickness of the first crack prevention line 170 is similar to or the same as the first embodiment, and therefore, it is referred to.

상부전극층(158) 상에는 제1보호막(159)이 형성된다. 제1보호막(159)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제1보호막(159)은 뱅크층(157), 상부전극층(158) 및 제1균열 방지 라인(170)과 더불어 기판(150a)의 모든 영역을 덮도록 형성된다.A first protective film 159 is formed on the upper electrode layer 158. The first protective film 159 protects elements (e.g., thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The first protective film 159 is formed to cover all the regions of the substrate 150a together with the bank layer 157, the upper electrode layer 158 and the first anti-cracking line 170. [

제1보호막(159) 상에는 파티클보호층(160)이 형성된다. 파티클보호층(160)은 표시영역을 덮도록 형성된다. 파티클보호층(160)은 무기막층, 유기막층 및 무기막층의 적층 구조로 이루어진다. 파티클보호층(160)은 기판(150a)에 형성된 박막 트랜지스터들과 박막 트랜지스터들 상에 형성된 유기 발광다이오드들을 보호하여 파티클과 같은 입자에 의해 이들 소자가 손상(쇼트 등)되는 것을 방지하는 역할을 한다.The particle protective layer 160 is formed on the first protective layer 159. The particle protection layer 160 is formed to cover the display area. The particle protection layer 160 has a laminated structure of an inorganic film layer, an organic film layer, and an inorganic film layer. The particle protection layer 160 protects the organic light emitting diodes formed on the thin film transistors and the thin film transistors formed on the substrate 150a and prevents the elements from being damaged (shot, etc.) by particles such as particles .

파티클보호층(160) 상에는 제2보호막(161)이 형성된다. 제2보호막(161)은 기판(150a) 상에 형성된 소자들(예: 박막 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드)을 외기(산소나 습기 등)로부터 보호하는 역할을 한다. 제2보호막(159)은 제1보호막(159)과 파티클보호층(160)을 덮도록 형성된다.A second protective film 161 is formed on the particle protective layer 160. The second protective film 161 protects elements (for example, thin film transistors, capacitors, organic light emitting diodes) formed on the substrate 150a from outside air (oxygen, moisture, etc.). The second protective film 159 is formed to cover the first protective film 159 and the particle protection layer 160.

제2보호막(161) 상에는 제3균열 방지 라인(178)이 형성된다. 제3균열 방지 라인(178)은 제1균열 방지 라인(170)과 인접하는 영역에 형성되되, 제1균열 방지 라인(170)보다 내측에 형성된다. 제3균열 방지 라인(178)은 절연막이나 뱅크층에 의해 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 제3균열 방지 라인(178)은 유기물로 이루어지므로, 다른 절연막 대비 두껍게 형성된다. 제3균열 방지 라인(178)의 선폭은 10 ~ 100 ㎛로 선택될 수 있고, 제3균열 방지 라인(178)의 두께는 0.1 ~ 10 ㎛로 선택될 수 있다. 제3균열 방지 라인(178)의 선폭과 두께와 관련된 설명은 제1실시예와 유사 또는 동일하므로 이를 참조한다.On the second protective film 161, a third anti-crack line 178 is formed. The third anti-crack line 178 is formed in the area adjacent to the first anti-crack line 170 and is formed inside the first anti-crack line 170. The third anti-crack line 178 may be formed by an insulating film or a bank layer, but is not limited thereto. Since the third anti-crack line 178 is made of an organic material, it is formed thicker than the other insulating film. The line width of the third anti-crack line 178 may be selected to be 10 to 100 mu m, and the thickness of the third anti-crack line 178 may be selected to be 0.1 to 10 mu m. The description related to the line width and thickness of the third anti-crack line 178 is similar to or the same as the first embodiment, and therefore, it is referred to.

한편, 제1균열 방지 라인(170)과 제3균열 방지 라인(178)은 메인균열 방지 라인과 서브균열 방지 라인의 관계를 가질 수 있다. 그러므로, 메인균열 방지 라인으로 선택된 라인의 경우 서브균열 방지 라인으로 선택된 라인보다 더 큰 선폭과 더 두꺼운 두께를 가질 수도 있다. 즉, 제1균열 방지 라인(170)과 제3균열 방지 라인(178)의 선폭과 두께는 목적 및 효과에 따라 다를 수도 있다. 제3균열 방지 라인(178)은 투광성 접착부재(165)의 내부에 위치하고 또한 제2보호막(161) 상에 위치하므로 균열에 의해 제2보호막(161)이 들뜨는 문제를 저지함은 물론 내부로 투습되는 문제를 저지할 수 있다.On the other hand, the first crack prevention line 170 and the third crack prevention line 178 may have a relationship of a main crack prevention line and a sub crack prevention line. Therefore, for a line selected as the main crack prevention line, it may have a larger line width and a thicker thickness than the line selected as the sub-crack prevention line. In other words, the linewidth and thickness of the first anti-crack line 170 and the third anti-crack line 178 may differ depending on purposes and effects. Since the third crack prevention line 178 is located inside the light transmitting adhesive member 165 and is located on the second protective film 161, the third crack preventing line 178 prevents the second protective film 161 from being lifted by the crack, Can be prevented.

제2보호막(161) 상에는 투광성 접착부재(165)가 형성된다. 투광성 접착부재(165)는 PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film)이나 OCA (Optical Clear Adhesive Film) 등으로 선택될 수 있다. 투광성 접착부재(165)는 기판(150a) 상에 형성된 구조물(예: 제2보호막, 제3균열 방지 라인)과 베리어필름(150b)을 부착하는 역할을 한다. 투광성 접착부재(165)는 제3균열 방지 라인(178)을 덮도록 형성된다.On the second protective film 161, a light-transmitting adhesive member 165 is formed. The light transmitting adhesive member 165 may be selected from PSA (Pressure Sensitive Adhesive Film) or OCA (Optical Clear Adhesive Film). The translucent adhesive member 165 serves to adhere the structure (for example, the second protective film, the third crack prevention line) formed on the substrate 150a and the barrier film 150b. The light-transmitting adhesive member 165 is formed so as to cover the third crack prevention line 178. [

한편, 위의 설명에서는 표시 패널(150)의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에 제1 및 제3균열 방지 라인(170, 178)이 형성된 것을 일례로 설명하였다. 그러나, 이는 하나의 예시일 뿐, 제3균열 방지 라인(178)만 형성될 수도 있다.In the above description, the first and third crack prevention lines 170 and 178 are formed on the outer edge portion 150_e located outside the display region (or the active region) AA of the cell of the display panel 150 And thus formed is explained as an example. However, this is only one example, and only the third anti-crack line 178 may be formed.

아울러, 균열 방지 라인은 하기와 같이 다양한 위치에 형성될 수 있고 또한 하나 이상의 균열 방지 라인이 더 위치할 수 있다.In addition, the anti-crack line can be formed at various positions as follows, and one or more anti-crack lines can be further positioned.

<변형예들><Modifications>

본 발명은 앞서 설명된 제1 내지 제3실시예를 조합하여 다음과 같은 형태로 변형될 수 있다.The present invention can be modified into the following form by combining the first to third embodiments described above.

도 13은 본 발명의 실시예들의 제1변형예에 따른 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면 예시도이고, 도 14는 본 발명의 실시예들의 제2변형예에 따른 표시 패널의 외곽 엣지부를 나타낸 단면의 예시도이다.FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating an outer edge portion of a display panel according to a first modified example of the embodiments of the present invention, FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating an outer edge portion of the display panel according to the second modified example of the embodiments of the present invention Fig.

도 13에 도시된 바와 같이, 표시 패널의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에는 제1 및 제2균열 방지 라인(170, 175)이 형성될 수도 있다. 제2균열 방지 라인(175)은 투광성 접착부재(165)의 외부에 형성된다. 제2균열 방지 라인(175)은 제1균열 방지 라인(170)보다 외측에 형성된다.13, the first and second crack prevention lines 170 and 175 are formed in the outer edge portion 150_e located outside the display region (or the active region) AA of the cell of the display panel . The second crack prevention line 175 is formed on the outside of the light-transmitting adhesive member 165. The second anti-crack line 175 is formed outside the first anti-crack line 170.

이때, 제1 및 제2균열 방지 라인(170, 175)은 폐곡선 형태의 사각형 형상을 갖거나 특정 영역이 개방된 형태의 사각형 형상을 가질 수 있다. 또한, 제1 및 제2균열 방지 라인(170, 175)은 절단 공정시 물리적 충격이 집중되는 모퉁이의 형상에 대응하여 기역(ㄱ)자 형상을 가질 수도 있다. 또한, 제1 및 제2균열 방지 라인(170, 175)은 그 형상이 다를(예컨대, 제1균열 방지 라인은 기역자 형상이고, 제2균열 방지 라인은 사각형 형상) 수도 있다.At this time, the first and second crack prevention lines 170 and 175 may have a rectangular shape in the form of a closed curve or a rectangular shape in which a specific region is opened. In addition, the first and second crack prevention lines 170 and 175 may have a base shape corresponding to a shape of a corner where a physical impact is concentrated during the cutting process. In addition, the first and second anti-crack lines 170 and 175 may have different shapes (e.g., the first anti-crack line may be a navigator shape and the second anti-crack line may be rectangular).

제1균열 방지 라인(170)과 제2균열 방지 라인(175)은 메인균열 방지 라인과 서브균열 방지 라인의 관계를 가질 수 있다. 그러므로, 메인균열 방지 라인으로 선택된 라인의 경우 서브균열 방지 라인으로 선택된 라인보다 더 큰 선폭과 더 두꺼운 두께를 가질 수도 있다. 즉, 제1균열 방지 라인(170)과 제2균열 방지 라인(175)의 선폭과 두께는 목적 및 효과에 따라 다를 수도 있다.The first crack preventing line 170 and the second crack preventing line 175 may have a relationship of a main crack preventing line and a sub crack preventing line. Therefore, for a line selected as the main crack prevention line, it may have a larger line width and a thicker thickness than the line selected as the sub-crack prevention line. In other words, the linewidth and thickness of the first anti-crack line 170 and the second anti-crack line 175 may differ depending on purposes and effects.

도 14에 도시된 바와 같이, 표시 패널의 셀의 표시영역(또는 액티브영역)(AA)의 외곽에 위치하는 외곽 엣지부(150_e)에는 제1 내지 제3균열 방지 라인(170, 175, 178)이 형성될 수도 있다.As shown in FIG. 14, the first to third crack prevention lines 170, 175, and 178 are formed in the outline edge portion 150_e located outside the display region (or active region) AA of the cell of the display panel. May be formed.

제2균열 방지 라인(175)은 제1균열 방지 라인(170)보다 외측에 형성되고, 제3균열 방지 라인(178)은 제1균열 방지 라인(170)보다 내측에 형성된다. 제2균열 방지 라인(175)은 투광성 접착부재(165)의 외부에 형성되고, 제3균열 방지 라인(178)은 투광성 접착부재(165)의 내부에 형성된다.The second crack prevention line 175 is formed on the outer side of the first crack preventing line 170 and the third crack preventing line 178 is formed on the inner side of the first crack preventing line 170. The second crack prevention line 175 is formed on the outside of the light transmitting adhesive member 165 and the third crack preventing line 178 is formed on the inside of the light transmitting adhesive member 165.

제1균열 방지 라인(170)은 제2균열 방지 라인(175)과 제3균열 방지 라인(178) 사이에서 외곽 엣지부(150_e)에 발생된 균열이 표시영역(AA)의 내부로 전파되는 것을 방지할 수 있다. 제2균열 방지 라인(175)은 균열 방지 라인들 중 가장 외곽에 위치하므로 절단 공정시 가해지는 물리적 충격이 제2보호막(161) 등에 가해지는 집중 현상을 완화할 수 있다. 제3균열 방지 라인(178)은 투광성 접착부재(165)의 내부에 위치하는 제2보호막(161) 상에 형성되므로 균열에 의해 제2보호막(161)이 들뜨는 문제를 저지함은 물론 내부로 수분 등이 투습되는 문제를 저지할 수 있다.The first crack prevention line 170 prevents cracks generated in the outer edge portion 150_e between the second crack prevention line 175 and the third crack prevention line 178 from propagating to the inside of the display region AA . Since the second crack prevention line 175 is located at the outermost one of the crack preventing lines, it is possible to mitigate the concentration phenomenon in which the physical impact applied during the cutting process is applied to the second protective film 161 or the like. Since the third crack prevention line 178 is formed on the second protective film 161 located inside the translucent adhesive member 165, it is possible to prevent the second protective film 161 from being lifted by the crack, And the like can be prevented.

제1 내지 제3균열 방지 라인(170 ~ 178)은 폐곡선 형태의 사각형 형상을 갖거나 특정 영역이 개방된 형태의 사각형 형상을 가질 수 있다. 또한, 제1 내지 제3균열 방지 라인(170 ~ 178)은 절단 공정시 물리적 충격이 집중되는 모퉁이의 형상에 대응하여 기역(ㄱ)자 형상을 가질 수도 있다. 또한, 제1 내지 제3균열 방지 라인(170 ~ 178)은 그 형상이 다를(예컨대, 제1균열 방지 라인은 사각형 형상이고, 제2균열 방지 라인은 모퉁이에 위치하는 기역자 형상이고, 제3균열 방지 라인은 포인트 형상) 수도 있다.The first to third crack preventing lines 170 to 178 may have a rectangular shape in the form of a closed curve or a rectangular shape in which a specific region is opened. In addition, the first to third anti-crack lines 170 to 178 may have a root shape corresponding to the shape of a corner where a physical impact is concentrated during the cutting process. The first to third anti-crack lines 170 to 178 have different shapes (for example, the first anti-crack line is a rectangular shape, the second anti-crack line is a translator shape located at a corner, The prevention line may be point-shaped).

제1균열 방지 라인(170) 내지 제3균열 방지 라인(178)은 메인균열 방지 라인과 제1 및 제2서브균열 방지 라인의 관계를 가질 수 있다. 그러므로, 메인균열 방지 라인으로 선택된 라인의 경우 제1 및 제2서브균열 방지 라인으로 선택된 라인보다 더 큰 선폭과 더 두꺼운 두께를 가질 수도 있다. 즉, 제1균열 방지 라인(170) 내지 제3균열 방지 라인(178)의 선폭과 두께는 목적 및 효과에 따라 다를 수도 있다.The first to third crack prevention lines 170 to 178 may have the relationship of the main crack prevention line and the first and second sub crack prevention lines. Therefore, for a line selected as the main crack prevention line, it may have a larger line width and a thicker thickness than the line selected as the first and second sub crack prevention lines. In other words, the linewidth and thickness of the first to third anti-crack lines 170 to 178 may differ depending on purposes and effects.

위의 설명을 통해 알 수 있듯이, 제1 내지 제3균열 방지 라인(170 ~ 178)은 절단 공정시 기판(150a)의 외곽 엣지(150_e)에 가해지는 충격을 완충하여 보호막들(159, 161)에 균열이 발생하는 문제는 개선되고, 그 결과 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상할 수 있다.The first to third crack prevention lines 170 to 178 buffer the impact applied to the outer edge 150_e of the substrate 150a during the cutting process to form the protective films 159 and 161, The problem of generating cracks in the device is improved, and as a result, the lifetime, reliability, and processability of the device can be improved.

이상 본 발명에 따르면 기판 상에 균열 방지 라인이 형성되므로, 최외곽에 존재하는 균열 방지 라인의 외측으로 스크라이빙 라인을 설정하고, 그 스크라이빙 라인을 따라 절단 공정을 진행하면 표시 패널을 셀별로 구분하여 잘라낼 수 있게 된다.As described above, according to the present invention, since the crack prevention line is formed on the substrate, the scribing line is set outside the outermost crack preventing line, and when the cutting process is performed along the scribing line, So that it can be cut out separately.

이상 본 발명은 표시 패널의 외곽 균열이 표시영역의 내부로 전파되는 문제를 방지 및 개선하여 소자의 수명, 신뢰성 및 공정성을 향상할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 표시 패널의 제조공정에 사용되는 재료를 이용하여 균열을 방지할 수 있는 라인을 설치하므로 후공정 진행 시 공정 마진을 확보할 수 있는 효과가 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention has the effect of preventing and improving the problem that the outer crack of the display panel is propagated to the inside of the display area, thereby improving the lifetime, reliability and fairness of the device. In addition, the present invention provides a line that can prevent cracking by using a material used in a manufacturing process of a display panel, so that a process margin can be secured in a post-process.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood that the invention may be practiced. It is therefore to be understood that the embodiments described above are to be considered in all respects only as illustrative and not restrictive. In addition, the scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the detailed description. Also, all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included within the scope of the present invention.

110: 영상 처리부 120: 타이밍 제어부
130: 데이터 구동부 140: 게이트 구동부
150: 표시 패널 159: 제1보호막
160: 파티클보호층 161: 제2보호막
170: 제1균열 방지 라인 175: 제2균열 방지 라인
178: 제3균열 방지 라인
110: image processor 120: timing controller
130: Data driver 140: Gate driver
150: display panel 159: first protective film
160: particle protection layer 161: second protective film
170: first crack prevention line 175: second crack prevention line
178: third crack prevention line

Claims (7)

기판;
상기 기판 상에 위치하는 소자들을 보호하는 적어도 하나의 보호막;
상기 기판 상의 베리어필름;
상기 기판과 상기 베리어필름을 합착하는 접착부재; 및
상기 기판의 외곽 엣지부에 위치하는 적어도 하나의 균열 방지 라인을 포함하는 유기전계발광표시장치.
Board;
At least one protective film for protecting elements located on the substrate;
A barrier film on said substrate;
An adhesive member for adhering the substrate and the barrier film together; And
And at least one anti-crack line located at an outer edge of the substrate.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
상기 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하거나 상기 적어도 하나의 보호막보다 하부에 위치하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
Wherein the at least one passivation layer is located on the surface of the at least one passivation layer or below the at least one passivation layer.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
박막 제조공정에서 사용되는 재료 중 하나 이상으로 선택되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
Wherein the organic electroluminescent display device is selected from one or more materials used in a thin film manufacturing process.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
상기 접착부재의 끝단에 대응하여 위치하는 제1균열 방지 라인을 포함하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
And a first crack prevention line located corresponding to an end of the adhesive member.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
상기 접착부재의 끝단보다 더 외측에 위치하는 제2균열 방지 라인을 포함하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
And a second crack prevention line located further outward than an end of the adhesive member.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
상기 접착부재의 끝단보다 더 내측에 위치하는 제3균열 방지 라인을 포함하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
And a third anti-crack line located further inside than the end of the adhesive member.
제1항에 있어서,
상기 균열 방지 라인은
상기 접착부재의 끝단에 대응하여 위치하고, 상기 적어도 하나의 보호막보다 하부에 위치하는 제1균열 방지 라인,
상기 접착부재의 끝단보다 더 외측에 위치하고, 상기 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하는 제2균열 방지 라인,
상기 접착부재의 끝단보다 더 내측에 위치하고, 상기 적어도 하나의 보호막의 표면 상에 위치하는 제3균열 방지 라인 중 하나 또는 그 이상을 포함하는 유기전계발광표시장치.
The method according to claim 1,
The anti-
A first crack preventing line located corresponding to an end of the adhesive member and located below the at least one protective film,
A second crack prevention line located further outward than an end of the adhesive member and positioned on a surface of the at least one protective film,
And a third anti-crack line located further inside than the end of the adhesive member and positioned on a surface of the at least one protective film.
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