KR20160033506A - Device for collecting the side channel and method of side channel analysis system having the device - Google Patents

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KR20160033506A
KR20160033506A KR1020140124502A KR20140124502A KR20160033506A KR 20160033506 A KR20160033506 A KR 20160033506A KR 1020140124502 A KR1020140124502 A KR 1020140124502A KR 20140124502 A KR20140124502 A KR 20140124502A KR 20160033506 A KR20160033506 A KR 20160033506A
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최용제
최두호
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한국전자통신연구원
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Abstract

Disclosed is a technology for collecting side channel signals of a contactless device. According to an aspect of the present invention, an apparatus for collecting side channel signals includes: a reader which supplies power to the contactless device placed apart from the reader at a certain distance and transmits a carrier signal; a signal extraction unit which extracts a side channel signal from a signal generated to correspond to the carrier signal in the contactless device which operates by receiving the power; and a signal collection unit which synchronizes the extracted side channel signal with a trigger signal generated by the reader and performs sampling of the side channel signal. The signal extraction unit receives the signal, generated in the contactless device, in a predetermined location according to intensity of the carrier signal received from the reader. The purpose of the present invention is to provide a technology which can minimize the carrier signal and efficiently collect the side channel signal of the contactless device.

Description

부채널 신호 수집 장치 및 그것을 포함하는 부채널 분석 시스템의 동작 방법{Device for collecting the side channel and method of side channel analysis system having the device}[0001] The present invention relates to a subchannel signal collecting apparatus and a subchannel analyzing system including the same,

본 발명은 비접촉식 디바이스의 키누출 안전성 검증 기술에 관한 것으로, 특히 비접촉식 디바이스의 부채널 신호를 수집하는 기술에 관한 것이다.
[0001] The present invention relates to a key leakage security verification technique of a non-contact type device, and more particularly to a technique for collecting a sub-channel signal of a non-contact type device.

수학적으로 안전한 암호 알고리즘이라도 연산 과정에서 누설되는 타이밍 정보, 전력소모, 전자파 신호등을 이용하여 암호키와 같은 중요 데이터를 찾아내는 부채널(side channel) 분석 기술은 암호 알고리즘 안전성 분석 기술 중 가장 강력한 분석기법으로 인정받고 있다. 이 중, 전력신호나 전자파 신호를 이용한 부채널 분석 기법은 암호 알고리즘이 수행되는 범용 프로세서나 하드웨어의 연산장치의 정적/동적 전력 소모량이 입력 데이터에 따라 다르다는 특성을 이용한다. Even a mathematically secure cryptographic algorithm, the side channel analysis technique that finds important data such as cryptographic keys using timing information, power consumption, electromagnetic wave, etc. leaked in the calculation process is the most powerful analysis technique of cryptographic algorithm safety analysis It is acknowledged. Among them, the subchannel analysis technique using a power signal or an electromagnetic wave signal uses a characteristic that the static / dynamic power consumption of a general-purpose processor or a hardware processor in which a cryptographic algorithm is performed varies depending on input data.

특히, 스마트 카드(Smart Card)와 같은 보안 디바이스는 키누출 안전성 검증을 위한 부채널 분석이 필수 항목으로 되었다. 이때, 시뮬레이션이 아닌 실제 보안 디바이스에 대한 부채널 분석기법을 적용하기 위해서는 암호 알고리즘 수행 시 발생하는 전력신호나 전자파 신호 등의 부채널 신호의 수집이 선행되어야 한다.In particular, security devices such as smart cards have become a necessity for subchannel analysis to verify key leak safety. In this case, in order to apply the subchannel analysis technique to a real secure device rather than a simulation, a subchannel signal such as a power signal or an electromagnetic wave signal generated during the execution of the encryption algorithm must be collected.

여기서, 비접촉식 디바이스인 스마트 카드는 카드 리더로부터 카드 동작을 위한 전력을 RF로 공급받아 동작하는 카드이다. 이를 위해, 카드 리더는 스마트 카드에서 발생하는 신호보다 상대적으로 신호 세기가 큰 캐리어 신호를 이용하여 스마트 카드와 통신한다. 이때, 스마트 카드에 대한 키누출 안전성 검증의 정확성을 높이기 위해서는 캐리어 신호를 제외하고 스마트 카드에서 발생하는 부채널 신호을 이용하여 통계 처리하여야 한다. 그러나, 카드 리더에서 발생하는 캐리어 신호가 스마트 카드에서 발생하는 부채널 신호의 추출을 어렵게 한다.Here, the smart card, which is a noncontact type device, is a card that operates by receiving power from the card reader for RF operation of the card. For this purpose, the card reader communicates with the smart card using a carrier signal having relatively higher signal strength than the signal generated from the smart card. In this case, in order to improve the accuracy of the key leakage security verification for the smart card, statistical processing should be performed using the sub-channel signal generated from the smart card, except for the carrier signal. However, the carrier signal generated in the card reader makes it difficult to extract the sub-channel signal generated in the smart card.

또한, NFC(Near Field Communication) 디바이스는 스마트 카드와 동일한 인터페이스를 사용한다. NFC 디바이스는 동작 환경에 따라 스마트 카드와 같이 NFC 리더로부터 전원을 공급받아 동작하거나, 내장된 전원을 이용하여 동작한다. 이와 같이, NFC 디바이스의 경우에도 스마트 카드와는 동작환경이 다르더라도, NFC 리더로부터 전송되는 신호는 NFC 디바이스의 키누출 분석을 어렵게 한다.
In addition, Near Field Communication (NFC) devices use the same interface as a smart card. Depending on the operating environment, the NFC device operates by receiving power from an NFC reader, such as a smart card, or by using an internal power supply. As described above, even in the case of the NFC device, the signal transmitted from the NFC reader makes it difficult to analyze the key leak of the NFC device even though the operating environment is different from that of the smart card.

본 발명은 리더로부터 발생하는 캐리어 신호는 최소화하면서 효율적으로 비접촉식 디바이스의 부채널 신호를 수집할 수 있도록 하는 기술적 방안을 제공함을 목적으로 한다.
An object of the present invention is to provide a technical solution for efficiently collecting subchannel signals of a noncontact device while minimizing a carrier signal generated from a reader.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 양상에 따른 부채널 신호 수집 장치는 소정 간격만큼 떨어진 비접촉식 디바이스에 전원을 공급하고, 캐리어 신호를 송신하는 리더, 상기 전원을 공급받아 동작하는 상기 비접촉식 디바이스에서 상기 캐리어 신호에 대응하여 발생하는 신호에서 부채널 신호를 추출하는 신호 추출부, 및 추출된 상기 부채널 신호를 상기 리더에서 생성되는 트리거 신호에 동기화하여 샘플링하는 신호 수집부를 포함하되, 상기 신호 추출부는 상기 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기에 따라 기 설정된 위치에서, 상기 비접촉식 디바이스에서 발생하는 신호를 수신하는 것이다.According to an aspect of the present invention, there is provided a subchannel signal collecting apparatus including a reader for supplying power to a contactless device separated by a predetermined distance, a reader for transmitting a carrier signal, A signal extracting unit for extracting a subchannel signal from a signal generated corresponding to the carrier signal and a signal collecting unit for sampling the extracted subchannel signal in synchronization with a trigger signal generated by the reader, And receives a signal generated at the contactless device at a predetermined position according to the intensity of the carrier signal received from the reader.

한편, 전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 양상에 따른 부채널 신호 수집 장치를 포함하는 부채널 분석 시스템에 의한 부채널 신호 수집 방법은 소정 간격만큼 떨어진 비접촉식 디바이스에 캐리어 신호를 송신하는 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기에 따라, 신호 추출부의 위치를 탐색하는 단계, 및 상기 탐색된 위치의 상기 신호 추출부에서 상기 비접촉식 디바이스로부터 수신되는 부채널 신호를 수집하는 단계를 포함한다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a subchannel signal collecting method using a subchannel analyzing system including a subchannel signal collecting apparatus, the method comprising the steps of: receiving from a reader transmitting a carrier signal to a non- Searching for a position of the signal extracting unit in accordance with the intensity of the carrier signal to be received, and collecting the subchannel signal received from the contactless device at the signal extracting unit of the searched position.

본 발명을 실시예에 따르면, 비접촉식 디바이스와 통신하는 리더에서 발생하는 캐리어 신호는 최소이면서 비접촉식 디바이스에서 발생하는 부채널 신호는 최대인 위치에서 효율적으로 부채널 신호를 수집할 수 있다.
According to an embodiment of the present invention, a subchannel signal can be efficiently collected at a position where a carrier signal generated in a reader communicating with a noncontact device is minimized and a subchannel signal generated in a contactless device is maximized.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치를 포함한 부채널 분석 시스템의 전체 구성도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 리더의 구성을 예시한 도면.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 신호 추출부 및 신호 수집부의 구성을 예시한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 신호 추출부의 측정 코일을 예시한 도면.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 신호 추출부의 필터 회로의 구성을 예시한 도면.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 신호 추출부의 위치를 고정하기 위한 지그부를 예시한 제1 도면.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치의 신호 추출부의 위치를 고정하기 위한 지그부를 예시한 제2 도면.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 분석 시스템에서 부채널 신호 수집 장치의 위치를 탐색하는 방법 흐름도.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 부채널 분석 시스템에서 부채널 신호를 수집하는 방법 흐름도.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an overall configuration diagram of a subchannel analysis system including a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG.
2 is a diagram illustrating a configuration of a reader of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating a configuration of a signal extracting unit and a signal collecting unit of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a view illustrating a measurement coil of a signal extracting unit of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention;
5 is a diagram illustrating a configuration of a filter circuit of a signal extracting unit of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a first diagram illustrating a jig for fixing a position of a signal extracting unit of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG.
7 is a second diagram illustrating a jig for fixing a position of a signal extracting unit of a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 8 is a flowchart illustrating a method of searching for a position of a subchannel signal collecting device in a subchannel analysis system according to an embodiment of the present invention. FIG.
9 is a flow chart of a method for collecting subchannel signals in a subchannel analysis system according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 기재에 의해 정의된다. 한편, 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자 이외의 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and the manner of achieving them, will be apparent from and elucidated with reference to the embodiments described hereinafter in conjunction with the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. And is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the present invention is defined by the claims. It is to be understood that the terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. It is noted that " comprises, " or "comprising," as used herein, means the presence or absence of one or more other components, steps, operations, and / Do not exclude the addition.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가급적 동일한 부호를 부여하고 또한 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, like reference numerals refer to like elements throughout. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements, and in the description of the present invention, In the following description, a detailed description of the present invention will be omitted.

본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 디바이스의 부채널 분석 시스템은 부채널 신호 수집 장치를 이용하여 키누출 안전성 분석을 위한 비접촉식 디바이스의 부채널 신호를 수집한다. 이를 위해, 먼저 부채널 분석 시스템은 비접촉식 디바이스로부터 부채널 신호가 양호하게 수집되는 부채널 신호 수집 장치의 위치를 탐색한다. 이때, 부채널 신호의 파형이 양호하게 수집되는 부채널 신호 수집 장치의 위치는 비접촉식 디바이스와 통신하는 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기에 따라 탐색될 수 있다. 예컨대, 부채널 신호 수집 장치는 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기가 최소가 되는 위치이다.The subchannel analysis system of the noncontact type device according to the embodiment of the present invention collects the subchannel signals of the noncontact type device for the key leakage safety analysis using the subchannel signal collecting device. To this end, the subchannel analysis system first searches for the location of the subchannel signal acquisition device from which subchannel signals are well collected from the contactless device. At this time, the position of the subchannel signal collecting device in which the waveform of the subchannel signal is well collected can be searched according to the strength of the carrier signal received from the reader communicating with the contactless device. For example, the subchannel signal collecting apparatus is a position at which the intensity of the carrier signal received from the reader is minimized.

이후, 부채널 분석 시스템은 탐색된 위치의 부채널 신호 수집 장치에 의해 수집되는 비접촉식 디바이스의 부채널 신호를 수신한다. 이렇게 수신된 부채널 신호는 비접촉식 디바이스의 키누출 안전성 분석을 위해 이용된다.The subchannel analysis system then receives the subchannel signal of the contactless device, which is collected by the subchannel signal acquisition device at the searched location. The received subchannel signal is used for key leak safety analysis of the contactless device.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치를 포함한 부채널 분석 시스템의 전체 구성도이다. 도 1에 예시된 바와 같이, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호 수집 장치(100), 비접촉식 디바이스(200) 및 부채널 신호 분석 장치(300)를 포함한다. 1 is an overall configuration diagram of a subchannel analysis system including a subchannel signal collecting apparatus according to an embodiment of the present invention. 1, the subchannel analysis system 10 includes a subchannel signal acquisition device 100, a noncontact device 200, and a subchannel signal analysis device 300. [

비접촉식 디바이스(200)는 외부 기기(예컨대, 리더(110)등으로부터 입력되는 평문 데이터를 암호문 데이터로 변환하여 저장하거나, 저장된 암호문 데이터를 평문 데이터로 복호화하여 출력시키는 장치이다. 도시되지 않았지만, 비접촉식 디바이스(200)는 데이터를 저장하기 위한 비휘발성 메모리 장치, 마스터 키를 이용하여 암호화된 데이터를 복호화하는 블록 암호화 칩, 마스터 키를 저장하거나 암호화된 데이터를 저장하기 위한 휘발성 메모리 등을 포함할 수 있다. 예컨대, 비접촉식 디바이스(200)는 자바 카드 등과 같은 스마트 카드(Smart Card), NFC 태그 등일 수 있다.The contactless device 200 is a device that converts plain text data input from an external device (e.g., the reader 110 or the like into ciphertext data and stores the ciphertext data or decrypts the stored ciphertext data into plain text data and outputs the decrypted data.) Although not shown, The memory 200 may include a nonvolatile memory device for storing data, a block encryption chip for decrypting the encrypted data using the master key, a volatile memory for storing the master key or for storing the encrypted data, and the like. For example, the contactless device 200 may be a smart card such as a Java card, an NFC tag, or the like.

부채널 신호 분석 장치(300)는 부채널 분석 시스템(10)의 전체적인 동작을 제어하는 것으로서, 컴퓨터(PC)일 수 있다. 예컨대, 부채널 신호 분석 장치(300)는 키누출 안전성 분석을 위해 부채널 신호 수집 장치(100)로 제어 신호를 전송할 수 있다. 여기서, 전송되는 제어 신호는 부채널 신호 수집 장치(100) 및 비접촉식 디바이스(200)의 동작을 위한 신호(명령어)가 포함될 수 있다.The sub-channel signal analysis apparatus 300 controls the overall operation of the sub-channel analysis system 10, and may be a computer (PC). For example, the subchannel signal analyzer 300 may transmit a control signal to the subchannel signal collecting apparatus 100 for key leakage safety analysis. Here, the transmitted control signal may include a signal (command) for operation of the subchannel signal collecting apparatus 100 and the contactless device 200.

또한, 부채널 신호 분석 장치(300)는 부채널 신호 수집 장치(100)를 통해 비접촉식 디바이스(200)의 암호 연산 수행에 따른 응답 데이터와 부채널 신호를 수신할 수 있다. 이렇게 수신된 데이터 및 부채널 신호는 키누출 안정성 분석에 이용된다. 예컨대, 부채널 신호 분석 장치(300)는 비접촉식 디바이스(200)에 동일한 암호 연산을 반복적으로 수행하게 함으로써 발생되는 신호를 획득하고, 획득된 신호들의 미세한 변화를 검출하여 암호 키를 알아낼 수 있다.Also, the sub-channel signal analyzer 300 can receive the response data and the sub-channel signal according to the cryptographic operation of the contactless device 200 through the sub-channel signal collector 100. The received data and subchannel signals are used for key leak stability analysis. For example, the subchannel signal analyzer 300 may obtain the signal generated by repeatedly performing the same cryptographic operation on the noncontact device 200, and detect the fine change of the obtained signals to find the cryptographic key.

부채널 신호 수집 장치(100)는 부채널 신호 분석 장치(300)의 제어 신호에 따라 비접촉식 디바이스(200)에 전원을 공급하며, 비접촉식 디바이스(200)의 암호 연산 수행에 따른 데이터와 부채널 신호를 수집하여 부채널 신호 분석 장치(300)로 전송한다. The subchannel signal collecting apparatus 100 supplies power to the noncontact type device 200 according to a control signal of the subchannel signal analyzing apparatus 300 and transmits data and subchannel signals And transmits it to the subchannel signal analyzing apparatus 300.

본 발명의 실시예에 따른 부채널 신호 수집 장치(100)는 리더(110), 신호 추출부(120) 및 신호 수집부(130)를 포함한다.A subchannel signal collecting apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes a reader 110, a signal extracting unit 120, and a signal collecting unit 130.

리더(110)는 소정 간격만큼 떨어진 비접촉식 디바이스(200)에 전원을 공급하여 데이터를 송수신한다. 예컨대, 리더(110)는 부채널 신호 분석 장치(300)로부터 제어 신호(명령어)를 수신하면, 부채널 신호 분석 장치(300)로부터 수신되는 명령어(예컨대, APDU(Application Protocol Data Unit) 커멘드)를 포함한 캐리어 신호(RF 신호)를 비접촉식 디바이스(200)로 송신한다. 여기서, APDU 커멘드는 응용 계층에서 대등한 응용 실체 간에 주고받는 데이터의 단위로, 응용 프로토콜(어플리케이션) 제어 정보와 응용 계층 사용자 데이터를 포함할 수 있다. The reader 110 supplies power to the noncontact type device 200 spaced apart by a predetermined distance to transmit and receive data. For example, when the reader 110 receives a control signal (command) from the sub-channel signal analysis apparatus 300, it transmits a command (for example, APDU (Application Protocol Data Unit) command) And transmits the carrier signal (RF signal) including the signal to the noncontact type device 200. Here, the APDU command is a unit of data exchanged between application entities in the application layer, and may include application protocol (application) control information and application layer user data.

리더(110)는 캐리어 신호에 포함된 명령어에 대응하여 비접촉식 디바이스(200)에서 송신하는 응답 데이터를 처리하여 부채널 신호 분석 장치(300)로 전달한다. 이를 위해, 리더(110)는 도 2에 도시된 바와 같이 PC 통신 모듈(111), 보드 제어 CPU(112), RF 처리 프로세서(113), 전원 모듈(114), RF 안테나(115), RF 정합회로(116) 및 트리거 신호 측정 모듈(117)을 포함한다.The reader 110 processes the response data transmitted from the non-contact type device 200 in response to a command included in the carrier signal, and transmits the response data to the sub-channel signal analysis apparatus 300. 2, the reader 110 includes a PC communication module 111, a board control CPU 112, an RF processing processor 113, a power module 114, an RF antenna 115, an RF matching Circuitry 116 and a trigger signal measurement module 117. FIG.

전원 모듈(114)은 리더(110)를 구동하는데 필요한 전원을 공급한다.The power module 114 supplies power necessary for driving the reader 110.

PC 통신 모듈(111)은 부채널 신호 분석 장치(300)와의 데이터 송수신을 위한 것으로서, 유선 통신 또는 무선 통신을 제공한다. 리더(110)는 PC 통신 모듈(111)을 통해 부채널 신호 분석 장치(300)로부터 제어 신호(명령어)를 수신할 수 있다. 또한, 리더(110)는 비접촉식 디바이스(200)로부터 수신되는 데이터를 PC 통신 모듈(111)을 통해 부채널 신호 분석 장치(300)로 전달할 수 있다.The PC communication module 111 is for data transmission / reception with the sub-channel signal analysis device 300 and provides wired communication or wireless communication. The reader 110 may receive a control signal (command) from the sub-channel signal analysis apparatus 300 through the PC communication module 111. [ In addition, the reader 110 can transmit data received from the non-contact type device 200 to the sub-channel signal analysis device 300 through the PC communication module 111.

리더(110)는 RF 안테나(115)와 RF 정합회로(116)를 통해 비접촉식 디바이스(200)와 데이터를 송수신할 수 있다.The reader 110 can transmit and receive data to and from the contactless device 200 through the RF antenna 115 and the RF matching circuit 116.

RF 처리 프로세서(113)는 비접촉식 디바이스(200)와의 통신을 위해 데이터를 처리하기 위한 것으로서, 비접촉식 디바이스(200)의 종류에 따라 해당 프로토콜을 이용하여 데이터를 처리할 수 있다. 일 예로서, 비접촉식 디바이스(200)가 자바 카드 등과 같은 스마트 카드인 경우, RF 처리 프로세서(113)는 ISO 7816 프로토콜을 지원할 수 있다. 다른 예로서, 비접촉식 디바이스(200)가 NFC 태그인 경우, RF 처리 프로세서(113)는 ISO 18092 프로토콜을 지원할 수 있다.The RF processor 113 is for processing data for communication with the contactless device 200 and can process data using the protocol according to the type of the contactless device 200. As an example, when the contactless device 200 is a smart card such as a Java card, the RF processing processor 113 may support the ISO 7816 protocol. As another example, if the non-contact device 200 is an NFC tag, the RF processor 113 may support the ISO 18092 protocol.

보드 제어 CPU(112)는 리더(110)의 전반적인 동작을 제어한다. 예컨대, 보드 제어 CPU(112)는 신호 및 데이터를 처리(변조 또는 복조)함으로써, 부채널 신호 분석 장치(300)로부터 수신되는 제어 신호를 비접촉식 디바이스(200)에 전송하거나, 비접촉식 디바이스(200)로부터 수신되는 응답을 부채널 신호 분석 장치(300)에 전송한다. 또한, 보드 제어 CPU(112)는 부채널 신호 수집 장치(100)의 신호 측정 기준 신호를 위한 트리거 신호를 생성한다.The board control CPU 112 controls the overall operation of the reader 110. For example, the board control CPU 112 may transmit control signals received from the subchannel signal analysis apparatus 300 to the contactless device 200 by processing (modulating or demodulating) the signals and data, And transmits the received response to the sub-channel signal analysis apparatus 300. In addition, the board control CPU 112 generates a trigger signal for the signal measurement reference signal of the subchannel signal collecting apparatus 100.

트리거 신호 측정 모듈(117)은 보드 제어 CPU(112)에서 생성된 트리거 신호를 신호 수집부(130)로 출력한다. 이렇게 출력된 트리거 신호는 이후 신호 수집부(130)에서 부채널 신호의 동기화 기준이 된다.The trigger signal measurement module 117 outputs the trigger signal generated by the board control CPU 112 to the signal collector 130. The trigger signal thus outputted becomes a synchronization reference of the subchannel signal in the signal collecting unit 130. [

신호 추출부(120)는 비접촉식 디바이스(200)에서 발생하는 신호에서 부채널 신호를 추출한다. 이를 위해, 신호 추출부(120)는 도 3에 도시된 바와 같이, 측정 코일(121)과 필터 회로(122)를 포함한다.The signal extracting unit 120 extracts a sub-channel signal from a signal generated in the non-contact type device 200. To this end, the signal extracting unit 120 includes a measuring coil 121 and a filter circuit 122, as shown in FIG.

측정 코일(121)은 비접촉식 디바이스(200)의 안테나 패턴에 대응한 형상을 갖는다. 이때, 측정 코일(121)은 비접촉식 디바이스(200)와 최대한 밀착하여 구성된다. The measurement coil 121 has a shape corresponding to the antenna pattern of the noncontact type device 200. At this time, the measurement coil 121 is formed as close as possible to the noncontact type device 200.

일 예로서, 비접촉식 디바이스(200)가 스마트 카드인 경우, 대부분의 스마트 카드의 안태나 패턴은 도 4의 (a)와 같이 스마트 카드의 모양에 따라 둘러진 작은 사각형의 형상이다. 이 경우, 측정 코일(121_1)은 도 4의 (b)와 같이 스마트 카드의 안테나 패턴과 유사한 사각형으로 구현될 수 있다.For example, when the noncontact type device 200 is a smart card, the appearance or pattern of most of the smart cards is a shape of a small square surrounded by the shape of the smart card as shown in FIG. 4 (a). In this case, the measurement coil 121_1 may be implemented as a square similar to the antenna pattern of the smart card as shown in FIG. 4B.

다른 예로서, 비접촉식 디바이스(200)가 NFC 카드인 경우, NFC 카드의 안테나 패턴은 다양하며, 대부분의 NFC 카드의 안테나는 스마트 카드의 안테나 보다 작은 안테나 코일로 구성된다. 이에 따라, 비접촉식 디바이스(200)가 NFC 카드인 경우, 측정 코일(121_2)은 NFC 카드의 신호를 최대한 측정할 수 있도록 도 4의 (c)와 같이 원(또는 사각)의 형상일 수 있다.As another example, when the noncontact type device 200 is an NFC card, the antenna pattern of the NFC card varies, and the antenna of most NFC cards is composed of an antenna coil smaller than the antenna of the smart card. Accordingly, when the noncontact type device 200 is an NFC card, the measurement coil 121_2 may have a circular (or square) shape as shown in FIG. 4C so as to measure the signal of the NFC card as much as possible.

필터 회로(122)는 측정 코일(121)에서 측정된 신호에서 기 설정된 주파수 이하의 신호를 부채널 신호로 추출한다. 예컨대, 필터 회로(122)는 리더(110)에서 발생하는 캐리어 신호를 제거하여, 비접촉식 디바이스(200)에서 발생된 부채널 신호를 추출한다. 이를 위해, 필터 회로(122)는 도 5의 (a)와 같이 정합 회로(122_1), 정류 회로(122_2) 및 저역 필터(Low Pass Filter, LPF) 회로(122_3)를 포함한다.The filter circuit 122 extracts a signal having a predetermined frequency or less from the signal measured by the measuring coil 121 as a sub-channel signal. For example, the filter circuit 122 removes a carrier signal generated by the reader 110 and extracts a sub-channel signal generated in the non-contact type device 200. To this end, the filter circuit 122 includes a matching circuit 122_1, a rectifying circuit 122_2, and a low pass filter (LPF) circuit 122_3 as shown in FIG. 5A.

정합 회로(122_1)는 비접촉식 디바이스(200) 및 리더(110)로부터 수신되는 신호를 임피던스 매칭을 위한 회로이다. 정합 회로(122_1)는 적당한 콘덴서 값이 선택되어 리더(110)와 비접촉식 디바이스(200) 간의 통신을 방해하지 않으면서, 비접촉식 디바이스(200)의 신호가 최대한 측정할 수 있도록 한다. The matching circuit 122_1 is a circuit for impedance matching signals received from the non-contact type device 200 and the reader 110. [ The matching circuit 122_1 selects an appropriate capacitor value so that the signal of the noncontact type device 200 can be measured as much as possible without interfering with the communication between the reader 110 and the noncontact type device 200. [

정류 회로(122_2)는 정합 회로(122_1)에서 전달되는 싸인(sine)파 형태의 신호를 전파 정류하기 위한 회로이다. 이때, 정류 회로(122_2)는 브릿지 정류 회로일 수 있다. 이는, 측정 코일(121)이 비접촉식 디바이스(200)로부터 발생하는 신호를 최대한 수집하기 위해 구성되더라도, 비접촉식 디바이스(200)로부터 발생하는 부채널 신호는 리더(110)로부터 전달되는 싸인파 형태의 캐리어 신호에 묻혀서(섞여서) 측정되기 때문이다.The rectifying circuit 122_2 is a circuit for full-wave rectifying a signal of a sinusoidal waveform transmitted from the matching circuit 122_1. At this time, the rectifying circuit 122_2 may be a bridge rectifying circuit. This is because the sub-channel signal generated from the noncontact type device 200 is transmitted from the reader 110 even when the measurement coil 121 is configured to collect the signal generated from the noncontact type device 200 as much as possible, It is buried in (mixed) with the measurement.

만약, 측정 코일(121)에 의해 측정된 신호가 약한 경우, 도 5의 (b)와 같이, 필터 회로(122)의 정합 회로(122_1)와 정류 회로(122_2) 사이에 증폭 회로(122_4)가 추가되어 구성될 수 있다.If the signal measured by the measuring coil 121 is weak, an amplifying circuit 122_4 is provided between the matching circuit 122_1 and the rectifying circuit 122_2 of the filter circuit 122, as shown in Fig. 5 (b) Can be added and configured.

저역 통과 필터 회로(122_3)는 정류 회로(122_2)에서 정류된 신호를 리더(110)의 캐리어 주파수(예컨대, 13.56MHz) 이하의 주파수 신호만을 통과시키기 위한 것이다. 이때, 저역 통과 필터 회로(122_3)를 통과한 신호는 부채널 신호로 추출될 수 있다.The low-pass filter circuit 122_3 is for passing only the frequency signal of the carrier frequency of the reader 110 (for example, 13.56 MHz) or less, to the signal rectified by the rectifying circuit 122_2. At this time, the signal having passed through the low-pass filter circuit 122_3 can be extracted as a sub-channel signal.

여기서, 정류 회로(122_2)에서 정류된 신호는 저역 통과 필터 회로(122_3)에 포함된 각 소자값에 따라 수십KHz ~ 수KHz 이하로 필터링될 수 있다. 이때, 각 소자값은 비접촉식 디바이스(200)의 RF 특성에 따라 기 설정되어 달리 구성될 수 있다. 이와 같은 과정을 통해, 신호 추출부(120)는 비접촉식 디바이스(200)에서 발생하는 신호에서 부채널 신호를 추출할 수 있다.Here, the signal rectified by the rectifying circuit 122_2 may be filtered to several tens of KHz to several KHz or less depending on the value of each element included in the low-pass filter circuit 122_3. At this time, each device value may be configured differently according to RF characteristics of the noncontact type device 200. Through this process, the signal extracting unit 120 can extract a sub-channel signal from a signal generated in the non-contact type device 200.

한편, 신호 추출부(120)는 리더(110)로부터 수신되는 신호(캐리어 신호)의 세기에 따라 기 설정된 위치에서, 비접촉식 디바이스(200)로부터 신호를 수신한다. 이때, 신호 추출부(120)는 리더(110)로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기가 최소가되는 위치에서, 비접촉식 디바이스(200)로부터 신호를 수신할 수 있다.The signal extracting unit 120 receives a signal from the contactless device 200 at a predetermined position according to the intensity of a signal (carrier signal) received from the reader 110. [ At this time, the signal extracting unit 120 can receive a signal from the contactless device 200 at a position where the strength of the carrier signal received from the reader 110 is minimized.

예컨대, 신호 추출부(120)는 리더(110)와 비접촉식 디바이스(200) 간의 통신 가능 영역의 경계면 주변에서 신호를 수신한다. 이때, 통신 가능 영역은 비접촉식 디바이스(200)의 특성에 따라 위치가 달라지며, 신호가 양호한 지점을 찾기 위해, 신호 추출부(120)와 그에 밀착된 비접촉식 디바이스(200)의 위치는 가변될 수 있다. For example, the signal extracting unit 120 receives a signal around the interface between the reader 110 and the non-contact type device 200. At this time, the communicable area varies depending on the characteristics of the non-contact type device 200, and the position of the signal extraction part 120 and the non-contact type device 200 closely attached thereto can be varied to find a point where the signal is good .

신호 추출부(120)와 리더(110)는 별도의 지그부(140, 140’)에 의해 상대적인 위치가 변동될 수 있다. 지그부(140, 140’)에 의해 신호 추출부(120)에서 수신되는 캐리어 신호가 최소가 되는 위치(신호가 양호한 위치)에 신호 추출부(120)와 리더(110)가 고정될 수 있다. 이때, 지그부(140, 140’)는 RF 통신에 영향을 주지 않는 아크릴과 같은 소재로 구현된다.The relative positions of the signal extracting unit 120 and the reader 110 may be changed by the separate jigs 140 and 140 '. The signal extracting unit 120 and the reader 110 can be fixed at positions where the carrier signals received by the signal extracting unit 120 are minimized by the jigs 140 and 140 '. At this time, the jigs 140 and 140 'are realized by a material such as acrylic which does not affect RF communication.

일 예로서, 지그부(140)는 도 6의 (a)와 같이 육면체(직육면체 또는 정육면체) 형상의 몸체(140_1)의 양측에 신호 추출부(120) 및 비접촉식 디바이스(200)와 리더(110)를 고정하기 위한 다수의 슬롯(140_2)이 층층이 쌓인 형태일 수 있다. 도 6의 (b)와 같이, 지그부(140)의 측면은 다수의 슬롯(140_2)이 적층된 형태일 수 있다.The jig 140 includes a signal extraction unit 120 and a contactless device 200 and a reader 110 on both sides of a body 140_1 having a hexahedron shape or a rectangular parallelepiped shape as shown in FIG. A plurality of slots 140_2 may be stacked. As shown in FIG. 6 (b), the side surface of the jig 140 may have a plurality of slots 140_2 stacked.

도 6의 (c)와 같이, 리더(110)와 신호 추출부(120) 및 비접촉식 디바이스(200)는 지그부(140)의 다수의 슬롯(140_2) 중 어느 하나의 슬롯에 각각 위치할 수 있다. 예컨대, 리더(110)는 지그부(140)의 제1 슬롯(140_3)에 고정되며, 신호 추출부(120)는 지그부(140)의 리더(110)로부터 수신한 캐리어 신호의 세기가 최소가 되는 제2 슬롯(140_4)에 고정된다. 이때, 비접촉식 디바이스(200)는 신호 추출부(120)와 밀착되었기 때문에, 동일한 슬롯(제2 슬롯(140_4))에 고정된다.The reader 110, the signal extracting unit 120 and the contactless device 200 may be located in any one of a plurality of slots 140_2 of the jig 140, as shown in FIG. 6 (c) . For example, the reader 110 is fixed to the first slot 140_3 of the jig 140, and the signal extracting unit 120 extracts a signal having a minimum strength of a carrier signal received from the reader 110 of the jig 140 And is fixed to the second slot 140_4. At this time, since the noncontact type device 200 is in close contact with the signal extraction unit 120, it is fixed to the same slot (second slot 140_4).

도 6의 (a) 및 도 6의 (b)와 같은 형태의 지그부(140)에 의해서, 신호 추출부(120) 및 비접촉식 디바이스(200)는 리더(110)와 슬롯에 따라 수직(z)축으로 상대적인 거리가 멀어지거나 가까워질 수 있다. 또한, 신호 추출부(120)와 리더(110)는 슬롯에 삽입되는 정도에 따라 수평(x)축으로 상대적인 거리가 멀어지거나 가까워질 수 있다. The signal extracting unit 120 and the contactless device 200 are connected to the reader 110 and the vertical (z) direction according to the slot by the jig 140 as shown in FIGS. 6 (a) and 6 (b) The relative distance of the axes may become farther or closer. Also, the relative distance between the signal extracting unit 120 and the reader 110 may be increased or decreased along the horizontal (x) axis depending on the degree of insertion into the slot.

만약, 리더(110)가 슬롯에 맞지 않는 경우(장착되지 않는 경우), 리더(110)의 위에 지그부(140)가 놓일(올려질) 수 있다.If the reader 110 does not fit in the slot (not mounted), the jig 140 may be placed (raised) on the reader 110.

다른 예로서, 지그부(140’)는 도 7에 도시된 바와 같이 몸체(140’_1) 상에 리더(110)를 고정하는 리더 지그(140’_2)와, 리더 지그(140’_2)를 기준으로 3축 방향으로 이동하고, 신호 추출부(120)를 고정하는 신호 추출부 지그(140’_3)을 포함한다. 여기서, 신호 추출부 지그(140’_3)는 신호 추출부(120) 및 비접촉식 디바이스(200)를 올릴 수 있는 고정판, 기둥에 따라 고정판을 상하로 이동시키는 수평 암(arm), 및 기둥을 이동시키는 이동판을 포함할 수 있다. 신호 추출부(120)는 리더(110)을 기준으로 고정판 위에 올려진 위치에 따라서 y축 방향으로 이동될 수 있으며, 수평 암의 수직 이동에 따라 z축 방향으로 이동될 수 있으며, 이동판의 이동에 따라 x축 방향으로 이동될 수 있다. 이를 통해, 신호 추출부(120)는 리더(1110)를 기준으로 3축 방향으로 상대적인 위치가 변경될 수 있다. As another example, the jig 140 'may include a leader jig 140'_2 that fixes the leader 110 on the body 140'_1, a leader jig 140'_2 that fixes the leader jig 140'_2, And a signal extracting unit jig 140'_3 that moves in three axial directions with reference to the signal extracting unit 120 and fixes the signal extracting unit 120. [ The signal extracting unit jig 140'_3 includes a fixing plate for mounting the signal extracting unit 120 and the noncontact type device 200, a horizontal arm for moving the fixing plate up and down along the column, A moving plate. The signal extracting unit 120 can be moved in the y axis direction according to the position on the fixing plate with respect to the reader 110 and can be moved in the z axis direction according to the vertical movement of the horizontal arm, Axis direction, as shown in FIG. Accordingly, the signal extracting unit 120 can change its position relative to the reader 1110 in three axial directions.

신호 수집부(130)는 신호 추출부(120)에서 추출된 부채널 신호를 리더(110)에서 생성되는 트리거 신호에 동기화하여 샘플링한다. 이때, 신호 수집부(130)는 신호 추출부(120)와 물리적으로 이격된 오실로스코프(oscilloscope)일 수 있다. 예컨대, 신호 수집부(130)는 sampling rate와 bandwidth가 수백 MHz의 성능을 가지는 오실로스코프일 수 있다.The signal collecting unit 130 samples the subchannel signal extracted by the signal extracting unit 120 in synchronization with a trigger signal generated by the reader 110. At this time, the signal collecting unit 130 may be an oscilloscope physically separated from the signal extracting unit 120. For example, the signal collecting unit 130 may be an oscilloscope having a sampling rate and a bandwidth of several hundreds of megahertz.

이렇게 샘플링된 신호는 부채널 신호 분석 장치(300)로 전달되어 비접촉식 디바이스(200)의 키누출 안전성 분석을 위해 이용될 수 있다.
The sampled signal is transmitted to the subchannel signal analyzer 300 and can be used for key leak safety analysis of the noncontact device 200.

한편, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호 수집 장치(100)의 위치 탐색 과정과 부채널 신호 수집 과정을 통하여 비접촉식 디바이스(200)의 키누출 안전성 분석을 위한 부채널 신호의 파형을 수집한다. 먼저, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200)에서 암호 연산을 구동하는 중, 부채널 신호 수집 장치(100)에 의해 리더(110)로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기가 최소 측정되는 위치를 탐색한다. 이후, 부채널 분석 시스템(10)은 탐색된 위치의 부채널 신호 수집 장치(100)에 의해 수집되는 부채널 신호를 이용하여 비접촉식 디바이스(200)의 키누출 안전성을 분석한다.Meanwhile, the subchannel analysis system 10 collects waveforms of subchannel signals for key leakage safety analysis of the noncontact device 200 through a position search process of the subchannel signal collecting device 100 and a subchannel signal collecting process . First, the subchannel analysis system 10 calculates a position at which the strength of a carrier signal received from the reader 110 by the subchannel signal collecting apparatus 100 is minimized while the cryptographic operation is being performed in the contactless device 200 Search. The subchannel analysis system 10 then analyzes the key leakage security of the contactless device 200 using the subchannel signals collected by the subchannel signal acquisition device 100 at the searched location.

이하, 도 8의 동작 흐름도를 이용하여 부채널 신호 분석 장치(300)의 위치 탐색 과정을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the position search process of the sub-channel signal analysis apparatus 300 will be described in detail with reference to the operation flow chart of FIG.

단계 S810에서, 부채널 분석 시스템(10)은 리더(110)의 캐리어 신호를 전원 온(ON) 시킨다. 이에 따라, 리더(110)는 부채널 신호 분석 장치(300)에서 출력되는 제어 신호에 의해 활성화되며, 캐리어 신호의 전원을 온 한다. 이때, 리더(110)로부터 캐리어 신호가 비접촉식 디바이스(200)로 전송될 수 있다.In step S810, the subchannel analysis system 10 powers on the carrier signal of the reader 110. Accordingly, the reader 110 is activated by the control signal output from the sub-channel signal analysis apparatus 300, and turns on the power of the carrier signal. At this time, the carrier signal can be transmitted from the reader 110 to the contactless device 200.

단계 S820에서, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200)에서 동작할 어플리케이션을 선택한다. 예컨대, 부채널 신호 분석 장치(300)는 비접촉식 디바이스(200)에서 동작시킬 어플리케이션의 식별자(Application Identifier, AID) 정보를 제어 신호와 함께 리더(110)로 전송하여 어플리케이션을 선택할 수 있다. 여기서, AID는 비접촉식 디바이스(200) 내의 어플리케이션을 식별하는 데이터 요소이다. 이때, 비접촉식 디바이스(200)의 종류에 따라(예컨대, 비접촉식 디바이스(200)가 하나의 어플리케이션만 수행하는 경우) 단계 S820은 생략될 수도 있다.In step S820, the subchannel analysis system 10 selects an application to operate in the contactless device 200. [ For example, the subchannel signal analyzer 300 may transmit an identifier (Application Identifier) of an application to be operated in the contactless device 200 to the reader 110 along with a control signal to select an application. Here, AID is a data element that identifies an application in the contactless device 200. At this time, depending on the type of the noncontact type device 200 (e.g., when the noncontact type device 200 performs only one application), step S820 may be omitted.

단계 S830에서, 부채널 분석 시스템(10)의 비접촉식 디바이스(200)는 캐리어 신호와 함께 리더(110)로부터 수신된 AID 정보에 해당하는 어플리케이션에 대한 암호 연산 동작을 수행한다. 비접촉식 디바이스(200)는 리더(110)로부터 수신된 캐리어 신호에 포함된 명령어(APDU 커맨드)에 따라 암호 연산을 수행하고, 그 결과 값을 리더(110)로 전송할 수 있다. 이때, 비접촉식 디바이스(200)에서는 암호 연산 수행함에 따라, 부채널 신호가 발생할 수 있다. In step S830, the contactless device 200 of the subchannel analysis system 10 performs a cryptographic operation operation for an application corresponding to the AID information received from the reader 110 together with the carrier signal. The contactless device 200 can perform a cryptographic operation in accordance with a command word (APDU command) included in the carrier signal received from the reader 110, and transmit the resultant value to the reader 110. At this time, in the non-contact type device 200, a sub-channel signal may be generated due to the cryptographic operation being performed.

한편, 단계 S820에서의 어플리케이션 선택 과정과 단계 S830에서의 암호 연산 동작을 수행하는 과정을 수행 시 필요한 전원이 다른 경우가 있다. 제공되는 전원이 너무 낮거나 너무 높은 경우, 어플리케이션 선택 과정 및 암호 연산 동작이 정상적으로 동작되지 않는 경우가 발생할 수 있다. 이때, 부채널 분석 시스템(10)은 리더(110)의 RF 프로세서 설정값을 변화시켜 리더(110)의 안테나 전원을 조절할 수 있다.On the other hand, there is a case where a power source required for performing the process of performing an application selection process in step S820 and a cryptographic operation process in step S830 is different. If the supplied power is too low or too high, the application selection process and the cryptographic operation may not operate normally. At this time, the subchannel analysis system 10 can adjust the antenna power of the reader 110 by changing the RF processor set value of the reader 110.

보편적으로, 어플리케이션을 선택하는 과정이 암호 연산 동작을 수행하는 과정보다 상대적으로 더 높은 전원을 요구한다. 이 경우, 부채널 분석 시스템(10)은 단계 S820을 수행하기 전, 리더(110)의 안테나 전원을 높인 후, 어플리케이션 선택 과정을 수행하고, 단계 S830을 수행하기 전, 리더(110)의 안테나 전원을 낮춘 후, 암호 연산 동작을 수행할 수 있다.Generally, the process of selecting an application requires a relatively higher power than the process of performing a cryptographic operation. In this case, the subchannel analysis system 10 increases the antenna power of the reader 110 before performing step S820, and then performs an application selection process. Before performing step S830, The cryptographic computation operation can be performed.

단계 S840에서, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200)와 신호 추출부(120)의 위치를 조정한다. 이때, 비접촉식 디바이스(200)와 신호 추출부(120)는 지그부(140, 140’)에 의해 리더(110)와 비접촉식 디바이스(200)의 통신 가능 영역의 경계면 주변에서 위치가 조정될 수 있다. In step S840, the subchannel analysis system 10 adjusts the positions of the noncontact device 200 and the signal extraction unit 120. [ At this time, the noncontact type device 200 and the signal extraction unit 120 can be adjusted in position around the interface between the reader 110 and the noncontact device 200 by the jig 140 or 140 '.

단계 S850에서, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200)에서 발생하는 신호의 파형을 관찰하여 신호가 양호한지 확인한다. 이때, 신호는 부채널 신호이며, 부채널 신호 수집 장치(100)에 의해 수집된 것이다. 부채널 신호 분석 장치(300)는 어플리케이션에 따라 기 설정된 특정 파형 패턴이 부채널 신호 수집 장치(100)에 의해 수집되면서, 리더(110)로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기는 최소가 되는지를 확인하여 신호의 양호 여부를 확인한다. 이때, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호 수집 장치(100)의 위치를 변화시키면서 양호한 신호가 수집되는 위치를 탐색할 수 있다. 이때, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호 수집 장치(100)의 신호 추출부(120)와 리더(110)의 상대적인 위치를 변동할 수 있다.In step S850, the subchannel analysis system 10 observes the waveform of the signal generated in the noncontact device 200 to confirm that the signal is good. At this time, the signal is a sub-channel signal and is collected by the sub-channel signal collecting apparatus 100. The subchannel signal analyzer 300 determines whether the intensity of the carrier signal received from the reader 110 is minimized while the predetermined waveform pattern predetermined according to the application is collected by the subchannel signal collecting apparatus 100, Is good. At this time, the subchannel analysis system 10 can search for a position where a good signal is collected while changing the position of the subchannel signal collecting apparatus 100. At this time, the subchannel analysis system 10 may change the relative positions of the signal extracting unit 120 and the reader 110 of the subchannel signal collecting apparatus 100.

단계 S850의 확인 결과, 신호가 양호하면, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200) 및 부채널 신호 수집 장치(100)의 설정 정보를 저장한다. 예컨대, 설정 정보에는 리더(110)를 기준으로 비접촉식 디바이스(200)의 위치 정보, 신호 추출부(120)의 위치 정보 및 신호 수집부(130)의 환경(예컨대, 오실로스코프 설정값) 정보 등이 포함될 수 있다.As a result of checking in step S850, if the signal is good, the subchannel analysis system 10 stores the setting information of the noncontact device 200 and the subchannel signal collecting apparatus 100. [ For example, the setting information includes position information of the noncontact device 200, position information of the signal extractor 120, environment of the signal collecting unit 130 (e.g., oscilloscope setting value), and the like based on the reader 110 .

이와 같은 과정을 통해, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호 수집 장치(100)의 위치를 탐색할 수 있다.Through this process, the subchannel analysis system 10 can search for the position of the subchannel signal collecting apparatus 100.

부채널 신호 수집 장치(100)의 위치 탐색 과정이 완료되면, 부채널 분석 시스템(10)은 키누출 안전성 분석을 위한 부채널 신호를 수집하는 과정을 수행할 수 있다.When the position searching process of the subchannel signal collecting apparatus 100 is completed, the subchannel analyzing system 10 may perform a process of collecting subchannel signals for key leakage safety analysis.

이하, 도 9의 동작 흐름도를 이용하여 부채널 신호의 수집 과정을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the subchannel signal collecting process will be described in detail using the operation flowchart of FIG.

단계 S910에서, 부채널 분석 시스템(10)은 수집할 파형의 개수(N개)를 설정한다. 여기서, 수집할 파형의 개수는 어플리케이션에 따라 달리 설정될 수 있으며, 키누출 안전성 분석을 위해 최소한으로 필요한 파형 개수 이상으로 설정될 수 있다.In step S910, the subchannel analysis system 10 sets the number (N) of waveforms to be collected. Here, the number of waveforms to be collected may be set differently according to the application, and may be set to be equal to or greater than the minimum number of waveforms required for key leak safety analysis.

단계 S920에서, 부채널 분석 시스템(10)은 리더(110)의 캐리어 신호의 전원을 온(ON) 시킨다. 예컨대, 부채널 신호 분석 장치(300)는 리더(110)로 제어 신호를 전송하며, 제어 신호를 수신한 리더(11)는 활성화되어 캐리어 신호의 전원을 온 할 수 있다. 이에 따라, 리더(110)로부터 비접촉식 디바이스(200)로 캐리어 신호가 전송될 수 있다. 이때, 부채널 신호 수집 장치(100)는 이전의 위치 탐색 과정에서 탐색된 위치에서 비접촉식 디바이스(200)와 통신한다.In step S920, the subchannel analysis system 10 turns on the power of the carrier signal of the reader 110. [ For example, the sub-channel signal analyzer 300 transmits a control signal to the reader 110, and the reader 11 receiving the control signal is activated to turn on the power of the carrier signal. Accordingly, the carrier signal can be transmitted from the reader 110 to the contactless device 200. [ At this time, the subchannel signal collecting apparatus 100 communicates with the contactless device 200 at the position searched in the previous position search process.

단계 S930에서, 부채널 분석 시스템(10)은 비접촉식 디바이스(200)에서 동작할 어플리케이션을 선택하며, 단계 S940에서, 비접촉식 디바이스(200)는 동작 어플리케이션에 대응하는 암호 연산 과정을 수행한다.In step S930, the subchannel analysis system 10 selects an application to be operated in the contactless device 200, and in step S940, the contactless device 200 performs a cryptographic operation process corresponding to the operation application.

이때, 단계 S930에서의 어플리케이션 선택 과정과 단계 S940에서의 암호 연산 동작을 수행하는 과정을 수행 시 필요한 전원이 다른 경우가 있다. . 이 경우, 부채널 분석 시스템(10)은 단계 S930을 수행하기 전, 리더(110)의 안테나 전원을 높인 후, 어플리케이션 선택 과정을 수행하며, 단계 S940을 수행하기 전, 리더(110)의 안테나 전원을 낮춘 후, 암호 연산 동작을 수행할 수 있다. At this time, there is a case where the power source required for performing the process of performing the cryptographic operation in step S940 and the application selection process in step S930 are different. . In this case, the subchannel analysis system 10 increases the antenna power of the reader 110 before performing step S930, and then performs an application selection process. Before performing step S940, The cryptographic computation operation can be performed.

단계 S950에서, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호의 파형 및 암호 연산에 사용되는 평문, 암호문을 저장한다. 이는, 키누출 안전성을 분석하기 위해서 비접촉식 디바이스(200)로부터 발생하는 부채널 신호는 물론, 비접촉식 디바이스(200)의 암호 연산에 사용되는 평문 및 암호문이 필요하기 때문이다. 이때, 부채널 신호 분석 장치(300)는 부채널 신호 수집 장치(100)의 리더(110)로부터 평문 및 암호문을 수신할 수 있다. 또한, 부채널 신호 분석 장치(300)는 신호 추출부(120)에 의해 추출된 부채널 신호가 리더(110)에서 출력된 트리거 신호에 동기화되어 샘플링된 신호를 신호 수집부(130)를 통해 수신할 수 있다.In step S950, the subchannel analysis system 10 stores the plaintext and the ciphertext used for the waveform and cryptographic operation of the subchannel signal. This is because a sub-channel signal generated from the non-contact type device 200 for analyzing the key leakage security as well as a plain text and a cipher text used for the cryptographic operation of the contactless type device 200 are required. At this time, the sub-channel signal analyzing apparatus 300 can receive the plaintext and the ciphertext from the reader 110 of the subchannel signal collecting apparatus 100. In addition, the sub-channel signal analyzing apparatus 300 receives the sub-channel signal extracted by the signal extracting unit 120 in synchronization with the trigger signal output from the reader 110, and samples the sampled signal through the signal collecting unit 130 can do.

만약, 단계 S950에서, 부채널 신호의 파형 및 평문, 암호문의 수신 및 저장에 오류가 발생하면, 부채널 분석 시스템(10)은 리더(110)의 캐리어 신호의 전원을 오프(OFF)시킨 후, 단계 S920으로 이동하여 캐리어 신호의 전원을 온 시키는 동작부터 다시 수행한다.If an error occurs in receiving and storing the waveform of the subchannel signal and the plaintext and the cipher text in step S950, the subchannel analysis system 10 turns off the power of the carrier signal of the reader 110, The process moves to step S920 to perform again the operation of turning on the power of the carrier signal.

단계 S960에서, 부채널 분석 시스템(10)은 단계 S940 및 단계 S950의 반복 수행을 통해 저장되는 trace(부채널 신호의 파형, 평문 및 암호문)의 개수를 확인한다. In step S960, the subchannel analysis system 10 confirms the number of traces (waveforms, plain text, and ciphertexts) stored through the iterative execution of steps S940 and S950.

단계 S960의 확인 결과, 저장된 trace 개수가 기 설정된 개수(N개)이면, 부채널 분석 시스템(10)은 부채널 신호의 수집 동작을 종료한다.If it is determined in step S960 that the number of stored traces is a predetermined number (N), the subchannel analysis system 10 ends the subchannel signal collecting operation.

이와 같은 과정을 통해, 부채널 분석 시스템(10)은 키누출 안전성 분석을 위한 부채널 신호를 수집할 수 있다.Through this process, the subchannel analysis system 10 can collect subchannel signals for key leakage safety analysis.

이와 같이 본 발명을 실시예에 따르면, 비접촉식 디바이스와 통신하는 리더에서 발생하는 캐리어 신호는 최소이면서 비접촉식 디바이스에서 발생하는 부채널 신호는 최대인 위치에서 효율적으로 부채널 신호를 수집할 수 있다.
As described above, according to the embodiment of the present invention, the subchannel signal generated by the reader communicating with the noncontact device can be efficiently collected at the position where the carrier signal is minimum and the subchannel signal generated in the contactless device is the maximum.

이상, 본 발명의 바람직한 실시예를 통하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 본 명세서에 개시된 내용과는 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is to be understood that the invention may be embodied in other specific forms. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the scope of the claims and their equivalents shall be construed as being included within the scope of the present invention.

110 : 리더 120 : 신호 추출부
130 : 신호 수집부 140, 140’ : 지그부
200 : 비접촉식 디바이스 300 : 부채널 신호 분석 장치
110: reader 120: signal extracting unit
130: signal collecting unit 140, 140 ': jig
200: contactless device 300: subchannel signal analyzer

Claims (13)

소정 간격만큼 떨어진 비접촉식 디바이스에 전원을 공급하고, 캐리어 신호를 송신하는 리더;
상기 전원을 공급받아 동작하는 상기 비접촉식 디바이스에서 상기 캐리어 신호에 대응하여 발생하는 신호에서 부채널 신호를 추출하는 신호 추출부; 및
추출된 상기 부채널 신호를 상기 리더에서 생성되는 트리거 신호에 동기화하여 샘플링하는 신호 수집부를 포함하되,
상기 신호 추출부는 상기 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기에 따라 기 설정된 위치에서, 상기 비접촉식 디바이스에서 발생하는 신호를 수신하는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
A reader for supplying power to the noncontact type device spaced apart by a predetermined distance and transmitting a carrier signal;
A signal extracting unit for extracting a subchannel signal from a signal generated corresponding to the carrier signal in the noncontact type device operating with the power supply; And
And a signal collecting unit for sampling the extracted sub-channel signal in synchronization with a trigger signal generated by the reader,
The signal extracting unit may receive a signal generated at the contactless device at a predetermined position according to the intensity of the carrier signal received from the reader
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
제1항에 있어서, 상기 신호 추출부는,
상기 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기가 최소가 되는 위치에서 상기 비접촉식 디바이스에서 발생하는 신호를 수신하는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
The signal extracting apparatus according to claim 1,
Receiving a signal generated at the non-contact type device at a position where the intensity of the carrier signal received from the reader is minimized
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
제1항에 있어서, 상기 신호 추출부는,
상기 비접촉식 디바이스의 안테나 패턴에 대응한 형상을 갖는 측정 코일; 및
상기 측정 코일을 통해 수신된 신호에서, 기 설정된 주파수 이하의 신호를 부채널 신호로 추출하는 필터 회로를 포함하는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
The signal extracting apparatus according to claim 1,
A measuring coil having a shape corresponding to the antenna pattern of the noncontact type device; And
And a filter circuit for extracting, from the signal received through the measurement coil, a signal having a predetermined frequency or less as a subchannel signal
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
제3항에 있어서, 상기 필터 회로는,
상기 비접촉식 디바이스 및 상기 리더로부터 수신되는 신호를 임피던스 매칭하는 정합 회로;
상기 정합 회로에서 전달되는 사인(sine)파 형태의 신호를 전파 정류하는 정류 회로; 및
상기 캐리어 신호의 주파수 이하로 필터링하여 부채널 신호를 추출하는 저역통과필터(Low Pass Filter, LPF)회로를 포함하는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
The filter circuit according to claim 3,
A matching circuit for impedance matching signals received from the contactless device and the reader;
A rectifying circuit for full-wave rectifying a sine wave signal transmitted from the matching circuit; And
And a low pass filter (LPF) circuit for filtering the frequency of the carrier signal or less to extract a sub-channel signal
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
제1항에 있어서,
상기 신호 추출부와 상기 리더 사이의 상대적인 위치를 변동하고, 상기 신호 추출부 및 상기 리더를 고정하기 위한 지그부
를 더 포함하는 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
The method according to claim 1,
A signal extracting unit for extracting a signal from the signal extracted by the signal extracting unit,
Further comprising: means for generating a signal from the sub-channel signal.
제5항에 있어서, 상기 지그부는,
몸체; 및
상기 몸체의 양측에 형성되고, 상기 신호 추출부 및 상기 리더를 고정하기 위한 다수의 슬롯을 포함하되,
상기 리더는 상기 지그부의 제1 슬롯에 고정되며,
상기 신호 추출부는 상기 리더로부터 수신한 캐리어 신호의 세기가 최소가 되는 제2 슬롯에 고정되는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
6. The apparatus according to claim 5,
Body; And
And a plurality of slots formed on both sides of the body for fixing the signal extractor and the reader,
The reader is fixed to a first slot of the jig,
Wherein the signal extracting unit is fixed in a second slot in which the strength of a carrier signal received from the reader is minimized
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
제5항에 있어서, 상기 지그부는,
몸체;
상기 몸체 상에 상기 리더를 고정하는 리더 지그; 및
상기 리더 지그를 기준으로 3축 방향으로 이동하고, 상기 신호 추출부를 고정하는 신호 추출부 지그를 포함하는 것
인 비접촉식 디바이스의 부채널 신호 수집 장치.
6. The apparatus according to claim 5,
Body;
A reader jig for fixing the reader on the body; And
And a signal extraction unit jig that moves in three axial directions with respect to the reader jig and fixes the signal extraction unit
Channel signal acquisition device of a non-contact device.
부채널 신호 수집 장치를 포함하는 부채널 분석 시스템에 의한 부채널 신호 수집 방법으로서,
소정 간격만큼 떨어진 비접촉식 디바이스에 캐리어 신호를 송신하는 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기에 따라, 신호 추출부의 위치를 탐색하는 단계; 및
상기 탐색된 위치의 상기 신호 추출부에서 상기 비접촉식 디바이스로부터 수신되는 부채널 신호를 수집하는 단계;
를 포함하는 부채널 신호 수집 방법.
A subchannel signal acquisition method by a subchannel analysis system including a subchannel signal acquisition device,
Searching for a position of the signal extracting unit in accordance with the strength of a carrier signal received from a reader that transmits a carrier signal to a contactless device that is separated by a predetermined distance; And
Collecting subchannel signals received from the contactless device at the signal extractor of the searched location;
/ RTI >
제8항에 있어서, 상기 탐색하는 단계는;
상기 비접촉식 디바이스에서 수행할 어플리케이션을 선택하는 단계;
상기 어플리케이션의 수행에 따라 상기 비접촉식 디바이스에서의 암호 연산 동작 중, 상기 비접촉식 디바이스로부터 수신되는 부채널 신호의 파형을 관찰하는 단계; 및
상기 부채널 신호의 파형 패턴이 상기 어플리케이션에 대응하여 기 저장된 특정 파형 패턴이 수신되는 경우, 상기 신호 추출부의 위치의 설정 정보를 저장하는 단계;
를 포함하는 것인 부채널 신호 수집 방법.
9. The method of claim 8, wherein the searching comprises:
Selecting an application to be performed in the contactless device;
Observing a waveform of a subchannel signal received from the noncontact type device during a cryptographic computation operation in the noncontact type device according to execution of the application; And
Storing the setting information of the position of the signal extracting unit when the waveform pattern of the sub-channel signal is received in response to the application;
Channel signal.
제9항에 있어서, 상기 선택하는 단계는,
어플리케이션 식별자(Application Identifier, AID) 정보를 제어 신호와 함께 상기 부채널 신호 수집 장치에 전송하여 상기 비접촉식 디바이스에서 수행할 상기 어플리케이션을 선택하는 것
인 부채널 신호 수집 방법.
10. The method of claim 9,
Transmitting an application identifier (AID) information to the subchannel signal collecting device together with a control signal to select the application to be performed in the contactless device
In subchannel signal acquisition method.
제9항에 있어서, 상기 저장하는 단계는,
상기 리더로부터 수신되는 캐리어 신호의 세기가 최소가 되는 상기 신호 추출부의 위치의 설정 정보를 저장하는 것
인 부채널 신호 수집 방법.
10. The method of claim 9,
Storing the setting information of the position of the signal extracting unit in which the intensity of the carrier signal received from the reader is minimized
In subchannel signal acquisition method.
제8항에 있어서, 상기 수집하는 단계는,
상기 비접촉식 디바이스에 전송되는 캐리어 신호의 전원을 온(ON) 시키는 단계;
상기 비접촉식 디바이스에서 수행할 어플리케이션을 선택하는 단계;
상기 어플리케이션의 수행에 따라 상기 비접촉식 디바이스에서의 암호 연산 동작 중 발생하는 부채널 신호의 파형과, 상기 암호 연산에 이용된 평문 데이터 및 암호문 데이터를 저장하는 단계; 및
저장된 상기 부채널 신호의 파형, 상기 평문 데이터 및 상기 암호문 데이터가 기 설정된 개수만큼 저장되면, 부채널 신호를 수집하는 동작을 종료하는 단계;
를 포함하는 것인 부채널 신호 수집 방법.
9. The method of claim 8,
Turning on a power of a carrier signal transmitted to the noncontact type device;
Selecting an application to be performed in the contactless device;
Storing a waveform of a subchannel signal generated during a cryptographic computation operation in the contactless device and plain text data and ciphertext data used in the cryptographic computation according to execution of the application; And
Terminating the operation of collecting the subchannel signal when the waveform of the stored subchannel signal, the plaintext data, and the ciphertext data are stored by a predetermined number;
Channel signal.
제12항에 있어서, 상기 수집하는 단계는,
상기 부채널 신호의 파형과, 상기 평문 데이터 및 상기 암호문 데이터를 저장하는 중 오류가 발생하면, 상기 비접촉식 디바이스에 전송되는 캐리어 신호의 전원을 오프(OFF)시킨 후, 다시 상기 캐리어 신호의 전원은 온 시키는 단계;
를 더 포함하는 것인 부채널 신호 수집 방법.
13. The method of claim 12,
When a failure occurs in storing the waveform of the sub-channel signal, the plaintext data and the ciphertext data, the power of the carrier signal transmitted to the non-contact type device is turned off, ;
Wherein the subchannel signal further includes a subchannel signal.
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