KR20160013211A - 베젤 에지 터치 검출 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 개시 내용의 예시들에 따라 타원을 맞추기 위하여 경계 노드들을 외삽하는 예시적인 방법을 도시한다.
도 3은 개시 내용의 예들에 따라 접촉의 장축 대 거리 터치 감지 표면의 에지로부터의 거리의 그래프를 도시한다.
도 4는 개시 내용의 예들에 따라 접촉을 엄지로서 식별하는 예시적인 방법을 도시한다.
도 5는 예시적인 API 아키텍쳐를 도시하는 블록 다이어그램이고, 이는 개시 내용의 일부 실시예들에서 사용될 수 있다.
도 6은 개시 내용의 예들에 따른 API의 예시적인 소프트웨어 스택을 도시한다.
도 7은 개시 내용의 예들에 따른 디바이스의 터치 스크린과 다른 컴포넌트들 간의 예시적인 상호작용을 도시하는 블록 다이어그램이다.
도 8은 개시 내용의 예들에 따라 임의의 휴대용 또는 비휴대용 디바이스 내에 구현될 수 있는 시스템 아키텍쳐의 예를 도시하는 블록 다이어그램이다.
Claims (33)
- 터치 감지 표면을 포함하는 컴퓨팅 디바이스의 방법으로서,
상기 터치 감지 표면으로부터 근접 이미지를 획득하는 단계;
상기 근접 이미지의 에지 열에 있는 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 적어도 제1 패치를 식별하기 위하여 상기 근접 이미지를 분할하는 단계;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드의 에지 중심을 결정하는 단계;
인접 열에 있는 상기 제1 패치의 하나 이상의 터치 노드의 인접 중심을 결정하는 단계 - 상기 인접 열은 상기 에지 열에 인접함 -;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 상기 근접 이미지의 경계 열로 복사하는 단계 - 상기 단계는 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 외삽(extrapolation)에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보충(offsetting)하는 단계를 포함함 -; 및
상기 경계 열에 있는 상기 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 상기 제1 패치에 타원을 맞추는 단계
를 포함하는, 방법. - 제1항에 있어서, 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 상기 외삽에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 보충하는 단계는 상기 경계 중심에서 상기 인접 중심을 차감하여 변경값을 획득하는 단계 및 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계를 포함하는, 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 변경값은 비정수 값이고 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계는 상기 변경값에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보간하는 단계를 포함하는, 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 에지 합을 획득하는 단계;
상기 인접 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 인접 합을 획득하는 단계; 및
상기 에지 합과 상기 인접 합의 외삽에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 터치 노드들을 스케일링하는 단계를 추가로 포함하는, 방법. - 제4항에 있어서, 상기 에지 합과 상기 인접 합의 상기 외삽은 선형적 외삽과 로지스틱 외삽 중 하나를 포함하는, 방법.
- 터치 감지 표면을 포함하는 컴퓨팅 디바이스의 방법으로서,
상기 터치 감지 표면 상의 또는 그 근처의 접촉의 장축(major axis)을 획득하는 단계;
상기 터치 감지 표면의 에지로부터 상기 접촉의 거리를 획득하는 단계;
엄지 윤곽에 기초하여, 상기 획득한 거리에서 엄지 접촉의 기준 장축을 결정하는 단계; 및
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계
를 포함하는, 방법. - 제6항에 있어서, 상기 접촉의 상기 장축에서 상기 기준 장축을 차감하여 축 차이를 획득하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 방법. - 제7항에 있어서, 이전 시간 단계들의 축 차이들의 합에 상기 축 차이를 더하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 방법. - 제8항에 있어서, 상기 축 차이들의 합이 양수임을 결정하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합이 양수라는 상기 결정에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 방법. - 제6항에 있어서, 상기 접촉의 착지부터 측정된 시간 임계치를 초과한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 접촉이 상기 터치 감지 표면의 상기 에지로부터 거리 임계치에 도달한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 방법.
- 실행시, 터치 감지 표면을 포함하는 컴퓨팅 디바이스의 방법을 수행하는 명령어들을 포함하는 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체로서, 상기 방법은,
상기 터치 감지 표면으로부터 근접 이미지를 획득하는 단계;
상기 근접 이미지의 에지 열에 있는 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 적어도 제1 패치를 식별하기 위하여 상기 근접 이미지를 분할하는 단계;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드의 에지 중심을 결정하는 단계;
인접 열에 있는 상기 제1 패치의 하나 이상의 터치 노드의 인접 중심을 결정하는 단계 - 상기 인접 열은 상기 에지 열에 인접함 -;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 상기 근접 이미지의 경계 열로 복사하는 단계 - 상기 단계는 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 외삽에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보충하는 단계를 포함함 -; 및
상기 경계 열에 있는 상기 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 상기 제1 패치에 타원을 맞추는 단계
를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제12항에 있어서, 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 상기 외삽에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 보충하는 단계는 상기 경계 중심에서 상기 인접 중심을 차감하여 변경값을 획득하는 단계 및 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체.
- 제13항에 있어서, 상기 변경값은 비정수 값이고 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계는 상기 변경값에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보간하는 단계를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체.
- 제12항에 있어서, 상기 방법은,
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 에지 합을 획득하는 단계;
상기 인접 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 인접 합을 획득하는 단계; 및
상기 에지 합과 상기 인접 합의 외삽에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 터치 노드들을 스케일링하는 단계를 추가로 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제15항에 있어서, 상기 에지 합과 상기 인접 합의 상기 외삽은 선형적 외삽과 로지스틱 외삽 중 하나를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체.
- 실행시, 터치 감지 표면을 포함하는 컴퓨팅 디바이스의 방법을 수행하는 명령어들을 포함하는 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체로서, 상기 방법은,
상기 터치 감지 표면 상의 또는 그 근처의 접촉의 장축을 획득하는 단계;
상기 터치 감지 표면의 에지로부터 상기 접촉의 거리를 획득하는 단계;
엄지 윤곽에 기초하여, 상기 획득한 거리에서 엄지 접촉의 기준 장축을 결정하는 단계; 및
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계
를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제17항에 있어서, 상기 방법은 상기 접촉의 상기 장축에서 상기 기준 장축을 차감하여 축 차이를 획득하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제18항에 있어서, 상기 방법은 이전 시간 단계들의 축 차이들의 합에 상기 축 차이를 더하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제19항에 있어서, 상기 방법은 상기 축 차이들의 합이 양수임을 결정하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합이 양수라는 상기 결정에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체. - 제17항에 있어서, 상기 접촉의 착지부터 측정된 시간 임계치를 초과한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체.
- 제17항에 있어서, 상기 접촉이 상기 터치 감지 표면의 상기 에지로부터 거리 임계치에 도달한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 비일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체.
- 전자 디바이스로서,
터치 감지 표면;
명령어들을 실행하기 위한 프로세서; 및
상기 프로세서에 연결된, 명령어들을 저장하기 위한 메모리를 포함하고, 상기 명령어들은 상기 프로세서에 의해 실행시, 상기 프로세서로 하여금 API(application programming interface)-호출 컴포넌트가 상기 전자 디바이스의 방법을 수행하게 하는 API를 생성하는 동작들을 수행하게 하며, 상기 방법은,
상기 터치 감지 표면으로부터 근접 이미지를 획득하는 단계;
상기 근접 이미지의 에지 열에 있는 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 적어도 제1 패치를 식별하기 위하여 상기 근접 이미지를 분할하는 단계;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드의 에지 중심을 결정하는 단계;
인접 열에 있는 상기 제1 패치의 하나 이상의 터치 노드의 인접 중심을 결정하는 단계 - 상기 인접 열은 상기 에지 열에 인접함 -;
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 상기 근접 이미지의 경계 열로 복사하는 단계 - 상기 단계는 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 외삽에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보충하는 단계를 포함함 -; 및
상기 경계 열에 있는 상기 하나 이상의 터치 노드를 포함하는 상기 제1 패치에 타원을 맞추는 단계
를 포함하는, 전자 디바이스. - 제23항에 있어서, 상기 인접 중심과 상기 에지 중심의 상기 외삽에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 보충하는 단계는 상기 경계 중심에서 상기 인접 중심을 차감하여 변경값을 획득하는 단계 및 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스.
- 제24항에 있어서, 상기 변경값은 비정수 값이고 상기 변경값에 기초하여 상기 복사된 터치 노드들을 변경하는 단계는 상기 변경값에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 복사된 터치 노드들을 보간하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스.
- 제23항에 있어서, 상기 방법은,
상기 에지 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 에지 합을 획득하는 단계;
상기 인접 열에 있는 상기 제1 패치의 상기 하나 이상의 터치 노드를 합산하여 인접 합을 획득하는 단계; 및
상기 에지 합과 상기 인접 합의 외삽에 기초하여 상기 경계 열에 있는 상기 터치 노드들을 스케일링하는 단계를 추가로 포함하는, 전자 디바이스. - 제26항에 있어서, 상기 에지 합과 상기 인접 합의 상기 외삽은 선형적 외삽과 로지스틱 외삽 중 하나를 포함하는, 전자 디바이스.
- 전자 디바이스로서,
터치 감지 표면;
명령어들을 실행하기 위한 프로세서; 및
상기 프로세서에 연결된, 명령어들을 저장하기 위한 메모리를 포함하고, 상기 명령어들은 상기 프로세서에 의해 실행시, 상기 프로세서로 하여금 API-호출 컴포넌트가 상기 전자 디바이스의 방법을 수행하게 하는 API를 생성하는 동작들을 수행하게 하며, 상기 방법은,
상기 터치 감지 표면 상의 또는 그 근처의 접촉의 장축을 획득하는 단계;
상기 터치 감지 표면의 에지로부터 상기 접촉의 거리를 획득하는 단계;
엄지 윤곽에 기초하여, 상기 획득한 거리에서 엄지 접촉의 기준 장축을 결정하는 단계; 및
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계
를 포함하는, 전자 디바이스. - 제28항에 있어서, 상기 방법은 상기 접촉의 상기 장축에서 상기 기준 장축을 차감하여 축 차이를 획득하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 기준 장축 및 상기 접촉의 상기 장축에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스. - 제29항에 있어서, 상기 방법은 이전 시간 단계들의 축 차이들의 합에 상기 축 차이를 더하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스. - 제30항에 있어서, 상기 방법은 상기 축 차이들의 합이 양수임을 결정하는 단계를 추가로 포함하고;
상기 축 차이들의 합에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계는 상기 축 차이들의 합이 양수라는 상기 결정에 기초하여 상기 접촉을 엄지로서 식별하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스. - 제28항에 있어서, 상기 접촉의 착지부터 측정된 시간 임계치를 초과한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 전자 디바이스.
- 제28항에 있어서, 상기 접촉이 상기 터치 감지 표면의 상기 에지로부터 거리 임계치에 도달한 이후에 상기 접촉이 엄지로서 식별되는, 전자 디바이스.
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