KR20150130971A - Fingerprint-resistant anti-reflection film - Google Patents

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KR20150130971A
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Abstract

투명 기재 필름의 일방면에, 하드 코트층과, 고굴절률층과, 저굴절률층이 이 순서로 적층되어 있는 내지문성 반사 방지 필름이다. 고굴절률층의 굴절률은 1.50 ∼ 1.65, 막 두께는 130 ∼ 180 ㎚ 이다. 저굴절률층의 굴절률은 1.36 ∼ 1.42, 막 두께는 70 ∼ 100 ㎚ 이다. 파장 350 ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 최소 반사율 파장 λ (최소) 이 파장 350 ∼ 530 ㎚ 에 있고, 파장 350 ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 절곡점에 있어서의 파장 λ (꺾임) 가, λ (최소) < λ (꺾임) 의 관계이다. 또한, 내지문성 반사 방지 필름의 시감도 반사율은 2.0 % 이하이고, 반사 채도 C 는 6.0 미만이며, 피지 오염이 부착되기 전후의 반사 색차 ΔE 가 7.0 미만으로 되어 있다.Reflection film in which a hard coat layer, a high refractive index layer and a low refractive index layer are laminated in this order on one side of a transparent base film. The refractive index of the high refractive index layer is 1.50 to 1.65 and the film thickness is 130 to 180 nm. The refractive index of the low refractive index layer is 1.36 to 1.42, and the film thickness is 70 to 100 nm. (Minimum) is in the range of 350 to 530 nm and the wavelength? (Bending) at the bending point is in the range of 350 to 850 nm in the wavelength range of 350 to 850 nm, ≪? (Bending). The visual sensitivity reflectance of the antiglare antireflection film is 2.0% or less, the reflectance chromaticity C is less than 6.0, and the reflection color difference ΔE before and after adhesion of sebum contamination is less than 7.0.

Description

내지문성 반사 방지 필름{FINGERPRINT-RESISTANT ANTI-REFLECTION FILM}FINGERPRINT-RESISTANT ANTI-REFLECTION FILM [0002]

본 개시는, 터치 패널식의 디스플레이나, 건재 (建材), 탑승물, 또는 미술 분야 등에서 사용되는 유리 등의 표면에 첩착 (貼着) 되는 내지문성 반사 방지 필름에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present disclosure relates to an antiglare film which is attached to a surface of a touch panel type display, a construction material, a boarding passenger or a glass used in the art field.

텔레비전이나 PC, 스마트폰 등으로 대표되는 디스플레이 제품에는, 화질을 향상시키기 위해서 외광의 반사를 저감 내지 방지하는 반사 방지 필름이 탑재되어 있는 것이 일반적이다. 그런데, 최근에는 이와 같은 디스플레이 제품의 터치 패널화가 진행되고 있어, 반사 방지 필름을 탑재한 경우에도 반사 방지 필름 표면에 지문 등의 피지 오염이 부착됨으로써, 화질이 저하되는 것이 문제가 되고 있다. 또, 건재나 탑승물, 미술 분야 등에 있어서도, 시인성 향상을 위해 창이나 유리 케이스에 반사 방지성 필름을 첩부할 기회가 있는데, 이 경우도 반사 방지 필름의 표면에 지문 등의 피지 오염이 부착됨으로써, 시인성이 저하되어 버린다는 문제가 발생한다.Display products such as televisions, PCs, and smart phones are generally equipped with anti-reflection films for reducing or preventing reflection of external light to improve image quality. However, in recent years, such a display product has been made into a touch panel, and even when an antireflection film is mounted on the surface of the antireflection film, fingerprint contamination such as a fingerprint adheres to the surface of the antireflection film. In addition, there is a chance to attach an antireflection film to a window or a glass case in order to improve visibility even in the case of construction materials, boarding passengers, arts and the like. In this case also, the surface of the antireflection film is contaminated with sebum such as fingerprints, There is a problem that the visibility is deteriorated.

반사 방지 필름의 지문 등의 피지 오염에 대한 대책으로는, 필름 표면에 불소나 실리콘계의 방오제를 처리한 방오 처리가 일반적이다. 이 방오 처리에 의해 지문 등의 피지 오염을 잘 부착되지 않게 하고, 또한 만일 피지 오염이 부착되어도 닦아내기 쉽게 할 수 있다.Antifouling treatment of fluorine or silicon based antifouling agent is generally applied to the surface of the film in order to counter the contamination of the antifouling film such as the fingerprint of the antireflection film. This anti-fouling treatment makes it possible to prevent sebum contamination such as fingerprints from being adhered well and to wipe off even if sebum contamination is attached.

이와 같은 기술로서, 예를 들어 일본 공개특허공보 2011-69995호에는, 반사 방지층의 표면에 불소 화합물을 포함하는 방오층을 형성하는 수법이 개시되어 있다. 이 수법에 의해 어느 정도의 내지문 효과가 얻어지는데, 피지 오염의 부착을 완전하게 방지하는 것이 아니고, 추가로 방오층을 형성하는 공정을 필요로 하여, 비용이 든다는 문제가 있었다.As such a technique, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1996-69995 discloses a method of forming an antifouling layer containing a fluorine compound on the surface of an antireflection layer. In this method, a certain degree of fingerprint effect can be obtained. In this method, adhesion of sebum contamination is not completely prevented, and further a step of forming an antifouling layer is required, which is costly.

또, 일본 공개특허공보 2011-48359호에는, 반사 방지층에 함불소 화합물을 포함하는 방오제를 함유시키는 수법이 개시되어 있다. 이 수법에 의해, 공정 수를 늘리지 않고 어느 정도의 내지문 효과가 얻어지는데, 이 경우도 완전하게 피지 오염의 부착을 방지하는 것은 아니다.Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2011-48359 discloses a technique of containing an antifouling agent containing a fluorinated compound in an antireflection layer. According to this method, a certain degree of fingerprint effect can be obtained without increasing the number of processes. In this case as well, adhesion of sebum contamination is not completely prevented.

이와 같이, 종래의 내지문성 필름에서는, 지문이 잘 부착되지 않게 하는 것에 주력하고 있었는데, 이것으로는 제조 공정이 증가하는 문제가 있거나, 애초에 지문을 완전히 부착시키지 않는 것은 거의 불가능하였다. 그래서, 본원의 발명자들은 발상을 전환하여, 만일 지문이 부착되었다고 해도 그 존재를 시인할 수 없으면 문제없게 되는 것을 지견하고, 예의 검토한 결과, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.As described above, in the conventional tofu film, the focus is on preventing the fingerprints from adhering to the film. This causes a problem that the manufacturing process is increased, and it is almost impossible to completely adhere the fingerprints in the beginning. Thus, the inventors of the present application have found that, if the fingerprint is attached, the fingerprint can not be recognized if it can not be recognized, and the present inventors have found that the present invention has been completed.

즉, 본 발명은 상기 과제를 해결하는 것으로서, 그 목적으로 하는 바는, 충분한 반사 방지성이 얻어짐과 함께, 지문 등의 피지 오염의 부착을 완전하게 방지하는 것은 아니지만, 피지 오염의 부착 전후에서 외관 변화가 작고, 또한 피지 오염을 닦아낼 때의 닦이지 않고 남은 것이 잘 보이지 않는 내지문성 반사 방지 필름을 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to solve the problems described above, and its object is to provide an antireflection film which is excellent in antireflection property and which does not completely prevent adhesion of sebum contamination such as fingerprints, Which is small in appearance change and which is not wiped off when wiping off sebum contamination.

즉, 본 개시의 내지문성 반사 방지 필름은 다음의 것이다.That is, the antiglare film of the present disclosure is as follows.

(1) 투명 기재 필름의 일방면에, 하드 코트층과, 고굴절률층과, 저굴절률층이 이 순서로 적층되어 있는 내지문성 반사 방지 필름으로서,(1) An antiglare film comprising a transparent substrate film and a hard coat layer, a high refractive index layer and a low refractive index layer stacked in this order on one side of the transparent substrate film,

상기 고굴절률층의 굴절률이 1.50 ∼ 1.65, 막 두께가 130 ∼ 180 ㎚ 이고,Wherein the high refractive index layer has a refractive index of 1.50 to 1.65 and a film thickness of 130 to 180 nm,

상기 저굴절률층의 굴절률이 1.36 ∼ 1.42, 막 두께가 70 ∼ 100 ㎚ 이고,The low refractive index layer has a refractive index of 1.36 to 1.42 and a film thickness of 70 to 100 nm,

파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 최소 반사율 파장 λ (최소) 이 파장 350 ∼ 530 ㎚ 에 있고,The minimum reflectance wavelength? (Minimum) is in the wavelength range of 350 to 530 nm in the wavelength range of 350 nm to 850 nm,

파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 절곡점에 있어서의 파장 λ (꺾임) 가, λ (최소) < λ (꺾임) 의 관계이고,The wavelength? (Bending) at the bending point is in the range of? (Minimum) <? (Bending) in the wavelength range of 350 nm to 850 nm,

시감도 반사율이 2.0 % 이하이고,The visibility reflectance is 2.0% or less,

반사 채도 C 가 6.0 미만이며,The reflection chroma C is less than 6.0,

피지 오염이 부착되기 전의 반사 색도와 굴절률이 1.49 이고 두께가 10 ㎚ 인 피지 오염이 부착된 후의 반사 색도의 반사 색차 ΔE 가 7.0 미만이다. 또한, 본 개시에 있어서의 절곡점이란, 도 1 에 나타내는 바와 같이 반사 스펙트럼 에 있어서의 최소 반사율 파장보다 장파장측에 있어서의 기울기가 갑자기 변화하는 점을 나타낸다.The reflection chromaticity before the sebum contamination is adhered is 1.49 and the reflection color difference? E of the reflection chromaticity after the sebum contamination with the thickness of 10 nm is attached is less than 7.0. The bending point in the present disclosure indicates a point where the slope on the long wavelength side changes abruptly as compared with the minimum reflectance wavelength in the reflection spectrum as shown in Fig.

(2) 상기 λ (최소) 에 있어서의 반사율 R (최소) [%] 과 λ (꺾임) 에 있어서의 반사율 R (꺾임) [%] 의 관계가, R (꺾임) - R (최소) ≤ 0.7 [%] 인 (1) 에 기재된 내지문성 반사 방지 필름.(2) The relationship between the reflectance R (minimum) [%] at λ (minimum) and the reflectance R (break) at λ (bending) The antiglare antireflection film according to (1), wherein the antireflection film is [%].

(3) 상기 저굴절률층에 방오제가 함유되어 있는, (2) 에 기재된 내지문성 반사 방지 필름.(3) The anti-reflective film according to (2), wherein the low refractive index layer contains an antifouling agent.

(4) 상기 투명 기재 필름의 타방면에 점착층이 형성되어 있는, (1) 내지 (3) 중 어느 하나에 기재된 내지문성 반사 방지 필름.(4) The antiglare film according to any one of (1) to (3), wherein an adhesive layer is formed on the other side of the transparent base film.

또한, 본 개시에 있어서 수치 범위를 나타내는 「○○ ∼ ××」란, 특별히 명시하지 않는 한 「○○ 이상 ×× 이하」를 의미한다.In the present disclosure, " xx to xx " representing the numerical range means " xx or more xx or less " unless otherwise specified.

본원의 발명자들은, 반사 방지 필름에 부착된 지문 등의 피지 오염에 주목하고, 피지 오염의 부착 전후의 반사 스펙트럼을 측정하여, 그 차로부터 피지 오염의 막 두께는 10 ㎚, 굴절률이 1.49 부근인 것을 지견하였다. 이것을 기초로, 반사율 2.0 % 이하를 전제로 한 반사 방지 필름에 피지 오염을 부착시켜, 외관의 변화와 피지 오염의 닦임성에 대해 예의 검토한 결과, 지문이 부착되기 전의 반사 스펙트럼을 특정한 형상으로 한 다음, 반사 채도 C < 6.0 또한, 피지 오염이 부착되기 전과 후의 반사 색차 ΔE < 7.0 일 때에, 방오층을 형성하지 않고도 피지 오염이 부착되기 전후의 외관 변화가 작고, 또한 피지 오염을 닦아낼 때의 닦이지 않고 남은 것이 잘 보이지 않게 되는 것을 알아내었다.The inventors of the present application paid attention to the contamination of sebum such as fingerprints adhered to the antireflection film and measured the reflection spectrum before and after attachment of the sebum contamination and found that the sebum contamination film thickness was 10 nm and the refractive index was around 1.49 Respectively. Based on this fact, sebum contamination was attached to the antireflection film based on the assumption that the reflectance was 2.0% or less, and as a result of examining the change of the appearance and the scrubbing of sebum contamination, the reflection spectrum before the fingerprint was attached was made into a specific shape Next, the reflectance saturation C < 6.0. Also, when the reflection color difference DELTA E < 7.0 before and after the sebum contamination is adhered, the change in the appearance before and after the sebum contamination adheres is small without formation of the stainproof layer, I found out that I could not see what was left without cleaning.

즉, 본 개시에 의하면, 충분한 반사 방지성을 가지면서, 필름 표면에 일부러 방오층을 형성하지 않고도 피지 오염이 부착되기 전과 후에서 외관 변화가 작고, 또한 피지 오염을 닦아내고 남은 것이 잘 보이지 않는 내지문성 반사 방지 필름을 제공할 수 있다. 요컨대 본 개시는, 종래와 같이 피지 오염을 잘 부착되지 않게 하는 것이 아니라, 만일 피지 오염이 부착되어도 그 존재를 잘 시인할 수 없게 할 수 있는 점에 있어서, 종래와는 완전히 상이한 효과를 얻을 수 있다. 또, 저굴절률층이 방오제를 함유하고 있으면, 피지 오염의 부착량을 더욱 저감할 수 있어, 그 닦임성도 향상시킬 수 있다.In other words, according to the present disclosure, it is possible to provide an antireflection film which has sufficient antireflection properties and which has a small change in appearance before and after adhesion of sebum contamination without forming an antifouling layer on the surface of the film, An antireflection film can be provided. In other words, the present disclosure can achieve a completely different effect from the conventional one in that it can prevent the sebum contamination from being adhered well as in the conventional method, . Further, if the low refractive index layer contains an antifouling agent, the adhered amount of sebum contamination can be further reduced, and the degree of scrubbing can also be improved.

도 1 은, 실시예 2 ∼ 4 의 내지문성 반사 방지 필름의 반사 스펙트럼을 나타내는 그래프이다.BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a graph showing the reflection spectra of the antiglare antireflection films of Examples 2 to 4; FIG.

본 개시의 내지문성 반사 방지 필름은, 적어도 투명 기재 필름의 일방면에, 하드 코트층과, 고굴절률층과, 내지문성을 갖는 저굴절률층이 이 순서로 적층되어 있다.The antiglare antireflection film of the present disclosure has at least a hard coat layer, a high refractive index layer and a low refractive index layer laminated in this order on one side of a transparent substrate film.

≪투명 기재 필름≫&Quot; Transparent substrate film &

내지문성 반사 방지 필름에 사용되는 투명 기재 필름은, 투명성을 가지고 있는 한 특별히 제한되지 않는다. 그러한 투명 기재 필름을 형성하는 재료로는, 예를 들어 폴리메타크릴산아크릴레이트 (PMMA) 나 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 등의 폴리에스테르 이외에, 폴리아릴레이트, 트리아세틸셀룰로오스 (TAC), 또는 폴리에테르술폰 등을 들 수 있다. 이들 중, 취급성과 굴절률의 관점에서 TAC 가 바람직하다.The transparent substrate film used in the antiglare film is not particularly limited as long as it has transparency. Examples of the material for forming such a transparent base film include polyarylate, triacetylcellulose (TAC), or polyether (meth) acrylate in addition to polyesters such as polymethacrylic acid acrylate (PMMA) and polyethylene terephthalate Sulfone, and the like. Of these, TAC is preferable from the viewpoints of handling and refractive index.

투명 기재 필름의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 일반적으로는 25 ∼ 400 ㎛ 이고, 바람직하게는 50 ∼ 200 ㎛ 이다. 투명 기재 필름의 두께가 25 ㎛ 보다 얇은 경우나 400 ㎛ 보다 두꺼운 경우에는, 내지문성 반사 방지 필름의 제조시 및 사용시에 있어서의 취급성이 저하되어 버린다. 또한, 투명 기재 필름에는, 각종의 첨가제가 함유되어 있어도 된다. 그러한 첨가제로는, 예를 들어 자외선 흡수제, 대전 방지제, 안정제, 가소제, 활제, 난연제 등을 들 수 있다.The thickness of the transparent base film is not particularly limited, but is generally 25 to 400 占 퐉, preferably 50 to 200 占 퐉. When the thickness of the transparent base film is thinner than 25 占 퐉 or thicker than 400 占 퐉, the handling properties during production and use of the antiglare antireflection film are deteriorated. The transparent base film may contain various additives. Such additives include, for example, ultraviolet absorbers, antistatic agents, stabilizers, plasticizers, lubricants and flame retardants.

≪하드 코트층≫«Hard coat layer»

하드 코트층은, 내지문성 반사 방지 필름의 표면 강도를 담보하기 위한 층이다. 본 개시의 내지문성 효과는, 주로 고굴절률층과 저굴절률층의 굴절률차나 막 두께의 밸런스에 의해 얻어지기 때문에, 내지문성의 관점에서는 하드 코트층의 굴절률이나 막 두께는 특별히 한정되지 않지만, 그 밖의 관점에서는, 하드 코트층의 굴절률은 1.46 ∼ 1.53 으로 하는 것이 바람직하다. 하드 코트층의 굴절률이 1.46 미만인 경우, 혹은 1.53 을 초과하는 경우에는, 다른 층과 하드 코트층의 굴절률차로부터 발생하는 간섭에 의해, 간섭 편차가 현저하게 나타나기 때문에 바람직하지 않다. 또, 하드 코트층의 막 두께는, 1 ∼ 20 ㎛ 로 하는 것이 바람직하다. 하드 코트층의 막 두께가 1 ㎛ 미만인 경우에는, 충분한 표면 강도가 얻어지지 않기 때문에 바람직하지 않다. 한편, 막 두께가 20 ㎛ 를 초과하는 경우에는, 내굴곡성의 저하 등의 문제가 발생하기 때문에 바람직하지 않다.The hard coat layer is a layer for securing the surface strength of the antiglare film. The refractive index and the film thickness of the hard coat layer are not particularly limited from the viewpoint of transparency because the difference in refractive index between the high refractive index layer and the low refractive index layer and the film thickness balance are obtained mainly. The refractive index of the hard coat layer is preferably 1.46 to 1.53. When the refractive index of the hard coat layer is less than 1.46 or more than 1.53, interference deviations are remarkable due to the interference caused by the difference in refractive index between the other layer and the hard coat layer. It is preferable that the hard coat layer has a thickness of 1 to 20 mu m. When the film thickness of the hard coat layer is less than 1 탆, a sufficient surface strength can not be obtained, which is not preferable. On the other hand, when the film thickness is more than 20 占 퐉, problems such as lowering of bending resistance occur, which is not preferable.

하드 코트층은 자외선 경화성 수지를 포함하는 조성물로 이루어지는 하드 코트층 도포액을 투명 기재 필름에 직접 도포한 후에 경화시킴으로써 형성된다.The hard coat layer is formed by applying a hard coat layer coating liquid composed of a composition containing an ultraviolet ray hardening resin directly to a transparent substrate film, followed by curing.

<자외선 경화성 수지>≪ Ultraviolet ray curable resin &

하드 코트층을 형성하는 자외선 경화형 수지로는, 이 종류의 내지문성 필름이나 반사 방지 필름에 있어서 종래부터 일반적으로 사용되고 있는, 자외선을 조사 함으로써 경화 반응을 일으키는 공지된 수지이면 그 종류는 특별히 제한되지 않는다. 그러한 수지로서, 예를 들어 단관능 (메트)아크릴레이트, 다관능 (메트)아크릴레이트, 에폭시 수지, 우레탄 수지, 실리콘 수지 등을 들 수 있다. 또한, 본 명세서에 있어서 (메트)아크릴레이트란, 아크릴레이트와 메타크릴레이트의 쌍방을 포함하는 총칭을 의미한다. 또, (메트)아크릴산, (메트)아크릴계, 및 (메트)아크릴로일의 기재도 마찬가지이다.The type of ultraviolet curable resin forming the hard coat layer is not particularly limited as long as it is a known resin which is generally used conventionally in this kind of transparent film or antireflection film and causes a curing reaction by irradiation of ultraviolet rays . Examples of such a resin include monofunctional (meth) acrylate, polyfunctional (meth) acrylate, epoxy resin, urethane resin, silicone resin and the like. In the present specification, (meth) acrylate means a generic term including both acrylate and methacrylate. The same applies to the description of (meth) acrylic acid, (meth) acrylic, and (meth) acryloyl.

하드 코트층 도포액에는, 그 밖의 성분으로서 각종 첨가제를 함유시킬 수도 있다. 당해 첨가제로는, 예를 들어, 무기 또는 유기의 미립자상 충전제, 무기 또는 유기의 미립자상 안료, 및 그 이외의 무기 또는 유기 미립자, 중합체, 중합 개시제, 중합 금지제, 산화 방지제, 분산제, 계면활성제, 광 안정제 및 레벨링제 등의 첨가제를 들 수 있다. 또, 웨트 코팅법에 있어서 성막 후 건조시키는 한은, 임의의 양의 용매를 첨가할 수 있다.The hard coat layer coating liquid may contain various additives as other components. Examples of the additives include inorganic or organic fine particle fillers, inorganic or organic fine particle pigments, and other inorganic or organic fine particles, polymers, polymerization initiators, polymerization inhibitors, antioxidants, dispersants, surfactants , A light stabilizer and a leveling agent. In addition, any amount of a solvent may be added as long as it is dried after forming the film in the wet coating method.

≪고굴절률층≫&Quot; High refractive index layer &

다음으로, 고굴절률층에 대해 설명한다. 고굴절률층은, 하드 코트층 및 후술하는 저굴절률층보다 굴절률이 높은 층으로서, 저굴절률층과의 유의적인 굴절률차에 의해 반사 방지 효과를 발현시키는, 저굴절률층과 함께 반사 방지층을 구성하는 층이다. 고굴절률층의 굴절률은, 1.50 ∼ 1.65 이다. 고굴절률층의 굴절률이 1.50 미만인 경우에는, 저굴절률층과의 굴절률차가 지나치게 작아 고굴절률층과 저굴절률층의 계면에서의 반사가 약해져, 반사 방지 성능이 충분히 발휘되지 않는 경우가 있다. 또, 고굴절률층의 굴절률이 1.65 를 초과하는 경우에는, 고굴절률층과 저굴절률층의 계면에서의 반사가 강해져, 반사광의 착색이 강해진다. 또, 고굴절률층의 막 두께는, 130 ∼ 180 ㎚ 이다. 고굴절률층의 막 두께가 130 ㎚ 미만인 경우나 180 ㎚ 를 초과하는 경우에는, 다른 층과의 간섭 밸런스가 무너져, 반사율, 반사 채도 C, 및 피지 오염이 부착되었을 때의 반사 색차 ΔE 의 상승을 일으켜 버려, 충분한 반사 방지성이나 내지문성이 얻어지지 않게 된다.Next, the high refractive index layer will be described. The high refractive index layer is a layer having a refractive index higher than that of the hard coat layer and a low refractive index layer which will be described later. The low refractive index layer and the layer constituting the antireflection layer together with the low refractive index layer, to be. The refractive index of the high refractive index layer is 1.50 to 1.65. When the refractive index of the high refractive index layer is less than 1.50, the difference in refractive index between the low refractive index layer and the low refractive index layer is too small, and reflection at the interface between the high refractive index layer and the low refractive index layer is weakened. When the refractive index of the high refractive index layer exceeds 1.65, the reflection at the interface between the high refractive index layer and the low refractive index layer becomes strong, and the coloration of the reflected light becomes strong. The film thickness of the high refractive index layer is 130 to 180 nm. When the film thickness of the high refractive index layer is less than 130 nm or exceeds 180 nm, the interference balance with the other layer is broken, and the reflectance, the reflection chroma C, and the reflection color difference? So that sufficient antireflection property and / or transparency can not be obtained.

<고굴절률층 형성용 조성물>≪ Composition for forming a high refractive index layer &

고굴절률층은, 활성 에너지선 경화성 수지 및 금속 산화물 미립자를 포함하는 고굴절률층 형성용 조성물로 이루어지는 고굴절률층 도포액을, 하드 코트층 상에 도포한 후에 경화시킴으로써 형성된다.The high refractive index layer is formed by applying a high refractive index layer coating liquid comprising a composition for forming a high refractive index layer containing an active energy ray curable resin and metal oxide fine particles onto a hard coat layer and then curing.

(활성 에너지선 경화성 수지)(Active energy ray curable resin)

활성 에너지선 경화성 수지로는, 자외선이나 전자선과 같은 활성 에너지선을 조사함으로써 경화 반응을 일으키는 다관능 (메트)아크릴레이트이면, 그 종류는 특별히 제한되지 않는다. 이 다관능 (메트)아크릴레이트로는, 예를 들어 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메트)아크릴레이트, 1,6-비스(3-(메트)아크릴로일옥시-2-하이드록시프로필옥시)헥산 등의 다관능 알코올 (메트)아크릴 유도체나, 폴리에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 폴리우레탄(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.The active energy ray-curable resin is not particularly limited as long as it is a polyfunctional (meth) acrylate which causes a curing reaction by irradiating an active energy ray such as ultraviolet rays or electron beams. Examples of the polyfunctional (meth) acrylate include dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, tetramethylol methane tri (meth) acrylate, trimethylol propane Polyfunctional alcohols such as tri (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate and 1,6-bis (3- (meth) acryloyloxy-2-hydroxypropyloxy) (Meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, and polyurethane (meth) acrylate.

(금속 산화물 미립자)(Metal oxide fine particles)

금속 산화물 미립자는, 고굴절률층의 굴절률을 조정하기 위해서 첨가되는 것이다. 당해 금속 산화물 미립자로는, 예를 들어 안티몬산아연, 산화아연, 산화티탄, 산화세륨, 산화알루미늄, 산화탄탈, 산화이트륨, 산화이테르븀, 산화지르코늄, 산화인듐주석, 산화규소, 안티몬 함유 산화주석 등의 미립자를 들 수 있다. 특히, 안티몬산아연, 산화인듐주석, 안티몬 함유 산화주석 등의 도전성 미립자를 사용한 경우에는 표면 저항률을 낮출 수 있고, 나아가 대전 방지능도 부여할 수 있는 점에서 바람직하다. 또, 산화티탄은 고굴절률층을 보다 고굴절률로 조정할 수 있는 점에서 이쪽도 바람직하다. 한편, 산화규소는 고굴절률층의 굴절률을 저하시키는 재료로서 바람직하다.The metal oxide fine particles are added to adjust the refractive index of the high refractive index layer. Examples of the metal oxide fine particles include zinc antimonate, zinc oxide, titanium oxide, cerium oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, yttrium oxide, ytterbium oxide, zirconium oxide, indium tin oxide, silicon oxide, ≪ / RTI > Particularly, when conductive fine particles such as zinc antimonate, indium tin oxide and antimony-containing tin oxide are used, it is preferable in that the surface resistivity can be lowered and further the antistatic ability can be imparted. The titanium oxide is also preferable in that the high refractive index layer can be adjusted to a higher refractive index. On the other hand, silicon oxide is preferable as a material for lowering the refractive index of the high refractive index layer.

금속 산화물 미립자의 함유량은, 90 질량% 이하가 바람직하다. 금속 산화물 미립자의 함유량이 90 질량% 를 초과하면 고굴절률층의 베이스가 되는 활성 에너지선 경화형 수지의 함유량이 상대적으로 적어지므로, 고굴절률층이 약해진다.The content of the metal oxide fine particles is preferably 90% by mass or less. When the content of the metal oxide fine particles exceeds 90 mass%, the content of the active energy ray-curable resin serving as the base of the high refractive index layer becomes relatively small, so that the high refractive index layer becomes weak.

≪저굴절률층≫&Quot; Low refractive index layer &

다음으로, 저굴절률층에 대해 설명한다. 저굴절률층은, 하드 코트층 및 고굴절률층보다 굴절률이 낮은 층으로서, 고굴절률층과의 유의적인 굴절률차에 의해 반사 방지 효과를 발현시키는, 고굴절률층과 함께 반사 방지층을 구성하는 층이다. 저굴절률층의 굴절률은, 1.36 ∼ 1.42 의 범위이다. 그 굴절률이 1.36 미만인 경우에는 충분히 단단한 층을 형성하는 것이 곤란하고, 한편, 굴절률이 1.42 를 초과하는 경우에는 고굴절률층과의 굴절률차가 지나치게 작아 고굴절률층과 저굴절률층의 계면에서의 반사가 약해져, 반사 방지 성능이 충분히 발휘되지 않는 경우가 있다.Next, the low refractive index layer will be described. The low refractive index layer is a layer having a refractive index lower than that of the hard coat layer and the high refractive index layer and is a layer constituting the antireflection layer together with the high refractive index layer which exhibits an antireflection effect by a difference in refractive index with respect to the high refractive index layer. The refractive index of the low refractive index layer is in the range of 1.36 to 1.42. When the refractive index is less than 1.36, it is difficult to form a sufficiently hard layer. On the other hand, when the refractive index exceeds 1.42, the difference in refractive index between the high refractive index layer and the high refractive index layer becomes too small and reflection at the interface between the high refractive index layer and the low refractive index layer becomes weak , The antireflection performance may not be sufficiently exhibited.

또, 저굴절률층의 막 두께는 70 ∼ 100 ㎚ 이다. 저굴절률층의 막 두께가 70 ㎚ 미만인 경우나 100 ㎚ 를 초과하는 경우에는 다른 층과의 간섭 밸런스가 무너져, 반사율, 반사 채도 C, 및 피지 오염이 부착되었을 때의 반사 색차 ΔE 의 상승을 일으켜 버려, 충분한 반사 방지성이나 내지문성이 얻어지지 않게 된다.The film thickness of the low refractive index layer is 70 to 100 nm. When the film thickness of the low refractive index layer is less than 70 nm or exceeds 100 nm, the interference balance with the other layers is broken, and the reflectance, the reflection chromaticity C, and the reflection color difference? , Sufficient antireflection properties and / or transparency can not be obtained.

<저굴절률층 형성용 조성물>≪ Composition for forming a low refractive index layer &

저굴절률층은, 저굴절률층 형성용 조성물로 이루어지는 저굴절률층 도포액을, 고굴절률층 상에 도포한 후에 경화시킴으로써 형성된다. 저굴절률층 형성용 조성물은, 활성 에너지선 경화형 수지와 중공 실리카 미립자를 함유한다.The low refractive index layer is formed by applying a low refractive index layer coating liquid composed of a composition for forming a low refractive index layer onto the high refractive index layer and then curing. The composition for forming a low refractive index layer contains an active energy ray curable resin and hollow silica fine particles.

(활성 에너지선 경화형 수지)(Active energy ray-curable resin)

저굴절률층을 형성하는 활성 에너지선 경화형 수지로는, 자외선이나 전자선과 같은 활성 에너지선을 조사함으로써 경화 반응을 일으키는 다관능 (메트)아크릴레이트이면, 그 종류는 특별히 제한되지 않는다. 이 종류의 필름에 있어서 저굴절률층을 형성하는 수지로는, 일반적으로는 다관능 (메트)아크릴레이트 외에 γ-아크릴옥시프로필트리메톡시실란 등의 반응성 규소 화합물 등을 출발 원료로 하는 것도 사용되지만, 생산성 및 경도를 양립시키는 관점에서, 활성 에너지선 경화성의 다관능 (메트)아크릴레이트를 주성분으로서 함유하는 조성물이 바람직하다.The active energy ray-curable resin forming the low refractive index layer is not particularly limited as long as it is a polyfunctional (meth) acrylate which causes a curing reaction by irradiating an active energy ray such as ultraviolet rays or electron rays. As the resin for forming the low refractive index layer in this kind of film, generally, a reactive silicon compound such as? -Acryloxypropyltrimethoxysilane or the like is used as a starting material in addition to polyfunctional (meth) acrylate , A composition containing an active energy ray-curable polyfunctional (meth) acrylate as a main component is preferable from the standpoint of achieving both productivity and hardness.

활성 에너지선 경화성 다관능 (메트)아크릴레이트로는 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메트)아크릴레이트, 1,6-비스(3-(메트)아크릴로일옥시-2-하이드록시프로필옥시)헥산 등의 다관능 알코올의 (메트)아크릴 유도체나, 폴리에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트 및 폴리우레탄(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.The active energy ray-curable polyfunctional (meth) acrylate is not particularly restricted but includes, for example, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, tetramethylol methane tri (Meth) acryloyloxy-2-hydroxypropyloxy) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (Meth) acrylic derivatives of polyfunctional alcohols such as hexane, and polyethylene glycol di (meth) acrylate and polyurethane (meth) acrylate.

또, 활성 에너지선 경화성 다관능 (메트)아크릴레이트는, 함불소 모노머여도 된다. 불소 원자가 불화메틸렌기 또는 불화메틴기로서 분자 중에 도입된 구조를 갖는 함불소 모노머는, 불소 원자의 거의 전체량이 불화메틸렌기 또는 불화메틴기로서 분자 중에 도입된 모노머이고, 다관능 모노머인 한, 공지된 모든 모노머가 사용 가능하다. 즉, 2 개 이상 (다관능) 의 모노머의 어느 것이어도 되고, 그것들의 혼합물이어도 된다. 이들의 함불소 화합물은, 경화 피막의 강도 및 경도를 높일 수 있고, 경화 피막 표면의 내찰상성 및 내마모성을 향상시킬 수 있다. 함불소 화합물 중에서는, 가교 구조를 형성할 수 있고, 경화 피막의 강도나 경도가 높은 점에서, 함불소 다관능 (메트)아크릴레이트가 바람직하다.The active energy ray-curable polyfunctional (meth) acrylate may be a fluorinated monomer. A fluorine monomer having a structure in which a fluorine atom is introduced into a molecule as a methylene fluoride group or a fluorinated methine group is a monomer in which almost all of the fluorine atoms are introduced into the molecule as a methylene fluoride group or a fluorinated methine group, All monomers available are available. That is, any of two or more (multifunctional) monomers may be used, or a mixture thereof may be used. These fluorinated compounds can increase the strength and hardness of the cured coating and improve the scratch resistance and wear resistance of the surface of the cured coating. Of the fluorinated compounds, fluorinated polyfunctional (meth) acrylates are preferable because they can form a crosslinked structure and have high strength and hardness of the cured coating.

중공 실리카 미립자는, 당해 중공 실리카 미립자에 있어서의 중공부의 공극률은, 40 ∼ 45 % 가 바람직하다. 중공 실리카 미립자의 공극률이 40 % 미만에서는, 당해 중공 실리카 미립자 자체의 굴절률이 높아져, 저굴절률층의 굴절률을 유의적으로 낮출 수 없거나, 중공 실리카 미립자의 함유량을 많게 해야만 하게 됨으로써, 저굴절률층이 약해진다. 한편, 공극률이 45 % 를 초과하면, 중공 실리카 미립자 자체가 약해진다. 또, 중공 실리카 미립자의 평균 입자경은 저굴절률층의 막 두께 이하로 하는 것이 바람직하고, 구체적으로는 10 ∼ 100 ㎚ 가 바람직하다. 또, 중공 실리카 미립자는, 필요에 따라 중합성 이중 결합을 갖는 실란 커플링제로 변성하는 것도 바람직하다. 이로써, 활성 에너지선 경화형 수지에 대한 분산성이 향상된다.In the hollow silica fine particles, the porosity of the hollow portion in the hollow silica fine particles is preferably 40 to 45%. If the porosity of the hollow silica fine particles is less than 40%, the refractive index of the hollow silica fine particles themselves becomes high and the refractive index of the low refractive index layer can not be significantly lowered or the content of the hollow silica fine particles must be increased, It becomes. On the other hand, when the porosity exceeds 45%, the hollow silica fine particles themselves become weak. The average particle diameter of the hollow silica fine particles is preferably not more than the film thickness of the low refractive index layer, and specifically, it is preferably 10 to 100 nm. It is also preferable that the hollow silica fine particles are modified with a silane coupling agent having a polymerizable double bond, if necessary. This improves the dispersibility of the active energy ray-curable resin.

(중공 실리카 미립자)(Hollow silica fine particles)

중공 실리카 미립자는, 실리카 (이산화규소, SiO2) 가 거의 구상으로 형성되고, 그 외각 내에 중공부을 갖는 미립자이다. 그 평균 입자경은 10 ∼ 100 ㎚, 외각의 두께는 1 ∼ 60 ㎚ 정도, 중공부의 공극률은 40 ∼ 45 % 이고, 굴절률은 1.20 ∼ 1.29 라는 낮은 굴절률이다. 중공부에 굴절률이 1.0 의 공기를 함유하고 있기 때문에, 다관능 (메트)아크릴레이트의 경화에 의해 형성되는 경화 피막에 대해 저굴절률화 및 저반사율화를 도모할 수 있음과 함께, 실리카 미립자라는 무기 미립자에 의해 경화 피막의 내찰상성 및 내마모성을 향상시킬 수 있다. 중공부의 공극률이 40 % 미만인 경우에는, 중공부의 공기량이 적어져, 경화 피막의 저굴절률화 및 저반사율화를 도모할 수 없게 된다. 한편, 중공부의 공극률이 45 % 를 초과하는 경우에는, 공극률을 크게 하기 위해서 외각을 얇게 할 필요가 있어, 그 제조가 곤란해진다.The hollow silica fine particles are fine particles in which silica (silicon dioxide, SiO 2 ) is formed in a nearly spherical shape and hollow portions are formed in the outer periphery thereof. The average particle diameter is 10 to 100 nm, the thickness of the external angle is 1 to 60 nm, the porosity of the hollow portion is 40 to 45%, and the refractive index is a low refractive index of 1.20 to 1.29. Since the hollow portion contains air having a refractive index of 1.0, it is possible to achieve a low refractive index and a low reflectance with respect to a cured coating formed by curing of a polyfunctional (meth) acrylate, The scratch resistance and abrasion resistance of the cured coating can be improved by the fine particles. When the porosity of the hollow portion is less than 40%, the amount of air in the hollow portion becomes small, so that the low refractive index and low reflectance of the cured coating can not be achieved. On the other hand, when the porosity of the hollow portion exceeds 45%, it is necessary to make the outer angle thin in order to increase the porosity, making it difficult to manufacture.

또, 중공 실리카 미립자는, 필요에 따라 실란 커플링제에 의해 변성하는 것이 바람직하다. 이로써, 종래의 일반적인 (비변성의) 실리카 미립자 또는 중공 실리카 미립자에는 없는 우수한 효과, 즉 다관능 (메트)아크릴레이트와의 상용성이 우수하다는 효과를 발현할 수 있다. 이 때문에, 변성 중공 실리카 미립자를 다관능 (메트)아크릴레이트와 혼합한 경우, 변성 중공 실리카 미립자의 응집을 억제할 수 있고, 백화가 없고, 투명성이 우수한 경화 피막을 얻을 수 있다. 또한, 경화 피막 중에서는, 실란 커플링제의 중합성 이중 결합과 다관능 (메트)아크릴레이트의 중합성 이중 결합이 공중합 (화학 결합) 하여 강고한 경화 피막이 되기 때문에, 경화 피막의 내찰상성 및 내마모성을 비약적으로 향상시킬 수 있다.The hollow silica fine particles are preferably modified by a silane coupling agent if necessary. As a result, it is possible to exhibit an excellent effect which is not found in conventional general (unmodified) fine silica particles or hollow silica fine particles, that is, excellent compatibility with polyfunctional (meth) acrylate. Therefore, when the modified hollow silica fine particles are mixed with the polyfunctional (meth) acrylate, coagulation of the modified hollow silica fine particles can be suppressed, and a cured coating excellent in transparency can be obtained without whitening. In addition, in the cured coating, since the polymerizable double bond of the silane coupling agent and the polymerizable double bond of the polyfunctional (meth) acrylate are copolymerized (chemically bonded) to form a hardened coating, the scratch resistance and abrasion resistance of the cured coating It can dramatically improve.

이 경우, 변성에 의한 효과를 높이기 위해, 중공 실리카 미립자는 하기의 화학식 (1) 로 나타내는 중합성 이중 결합을 갖는 실란 커플링제에 의해 변성하는 것이 보다 바람직하다.In this case, in order to enhance the effect of denaturation, the hollow silica fine particles are more preferably modified by a silane coupling agent having a polymerizable double bond represented by the following formula (1).

Z-R1-Si(OR2)3 … (1)Z-R1-Si (OR2) 3 ... (One)

[식 중, Z 는 (메트)아크릴로일옥시기이고, R1 은 탄소수 1 ∼ 4 의 알킬렌기이고, R2 는 수소 원자, 메틸기 또는 에틸기이다.]Wherein Z is a (meth) acryloyloxy group, R 1 is an alkylene group having 1 to 4 carbon atoms, and R 2 is a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group.

변성 중공 실리카 미립자에 대해 추가로 설명하면, 변성 중공 실리카 미립자는, 평균 입자경 5 ∼ 100 ㎚, 비표면적 50 ∼ 1000 ㎡/g 인 중공 실리카 미립자의 표면을 실란 커플링제에 의해 표면 처리함으로써 제조된다. 구체적으로는, 중공 실리카 미립자 표면의 실란올기와 실란 커플링제의 가수분해 반응에 의해, 중공 실리카 미립자 표면에 오르가노실릴기 (모노오르가노실릴기, 디오르가노시릴기 또는 트리오르가노실릴기) 가 결합함과 함께, 그 표면에 다수의 규소 원자에 직접 결합한 유기기를 갖는다.The modified hollow silica fine particles are produced by subjecting the surface of hollow silica fine particles having an average particle size of 5 to 100 nm and a specific surface area of 50 to 1000 m 2 / g with a silane coupling agent to further describe the modified hollow silica fine particles. Specifically, an organosilyl group (a monoorganosilyl group, a diorganosilyl group, or a triorganosilyl group) is bonded to the surface of the hollow silica fine particles by the hydrolysis reaction between the silanol group and the silane coupling agent on the surface of the hollow silica fine particles And has an organic group directly bonded to a plurality of silicon atoms on its surface.

저굴절률층의 굴절률은, 베이스 수지인 활성 에너지선 경화형 수지와 중공 실리카 미립자의 배합 비율을 적절히 조정함으로써 설정할 수 있다. 구체적으로는, 중공 실리카 미립자의 함유량은, 활성 에너지선 경화형 수지와의 합계량 (100 질량%) 중에, 바람직하게는 30 ∼ 80 질량% 이고, 더욱 바람직하게는 50 ∼ 70 질량% 이다. 이 함유량이 30 질량% 를 하회하는 경우에는, 중공 실리카 미립자의 함유량이 적어, 얻어지는 경화 피막의 저굴절률화 및 저반사율화를 도모할 수 없게 된다. 한편, 80 질량% 를 상회하는 경우에는, 과잉된 중공 실리카 미립자가 활성 에너지선 경화형 수지와 반응하지 못하여, 중공 실리카 미립자가 잔존하고, 오히려 경화 피막 표면의 내찰상성 및 내마모성이 부족하다. 변성 중공 실리카 미립자를 사용하는 경우, 당해 변성 중공 실리카 미립자의 실란 커플링제에 함유되는 (메트)아크릴로일옥시기와, 다관능 (메트)아크릴레이트의 중합성 이중 결합이 공중합하여 결합되는 결과, 변성 중공 실리카 미립자의 기능과 다관능 (메트)아크릴레이트의 기능이 상승적이며 지속적으로 발현된다.The refractive index of the low refractive index layer can be set by appropriately adjusting the blending ratio of the active energy ray-curable resin as the base resin and the hollow silica fine particles. Specifically, the content of the hollow silica fine particles is preferably 30 to 80 mass%, and more preferably 50 to 70 mass%, based on the total amount (100 mass%) of the active energy ray-curable resin. When the content is less than 30% by mass, the content of the hollow silica fine particles is small, and the resulting cured film can not be made low in refractive index and low in reflectance. On the other hand, when the amount exceeds 80% by mass, the excess hollow silica fine particles do not react with the active energy ray-curable resin, and hollow silica fine particles remain, and the hardness and abrasion resistance of the surface of the cured coating are insufficient. In the case of using the modified hollow silica fine particles, the (meth) acryloyloxy group contained in the silane coupling agent of the modified hollow silica fine particles and the polymerizable double bond of the polyfunctional (meth) acrylate are copolymerized and bonded, The function of hollow silica fine particles and the function of polyfunctional (meth) acrylate are synergistically and continuously expressed.

저굴절률층은, 저굴절률층용 도포액을 전자선 등의 고에너지선에 의해 중합 경화하거나, 열분해형 중합 개시제나 광중합 개시제의 존재 하에 중합 경화하거나 함으로써 얻어진다. 이들 중에서는, 광중합 개시제를 배합한 저굴절률층용 도포액을 고굴절률층의 표면에 도포한 후, 불활성 가스 분위기 하에서 자외선을 조사하여 중합 경화시키는 방법이 간편하여 바람직하다.The low refractive index layer is obtained by polymerizing a coating liquid for a low refractive index layer with a high energy beam such as an electron beam or by polymerizing and curing in the presence of a thermal decomposition type polymerization initiator or a photopolymerization initiator. Among these, a method of applying a coating liquid for a low refractive index layer containing a photopolymerization initiator to the surface of the high refractive index layer and irradiating ultraviolet rays under an inert gas atmosphere to polymerize and cure it is preferable.

광중합 개시제로는, 자외선 조사에 의한 중합 개시능을 갖는 것이면 어느 것이어도 된다. 예를 들어, 1-하이드록시시클로헥실페닐케톤, 2-하이드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르페리노프로판-1-온, 1-[4-(2-하이드록시에톡시)페닐]-2-하이드록시-2-메틸-1-프로판-1-온 등의 아세토페논계 중합 개시제, 벤조인, 2,2-디메톡시1,2-디페닐에탄-1-온 등의 벤조인계 중합 개시제, 벤조페논, [4-(메틸페닐티오)페닐]페닐메타논, 4-하이드록시벤조페논, 4-페닐벤조페논, 3,3',4,4'-테트라(t-부틸퍼옥시카르보닐)벤조페논 등의 벤조페논계 중합 개시제, 2-클로로티오크산톤, 2,4-디에틸티오크산톤 등의 티오크산톤계 중합 개시제 등을 들 수 있다. 이들 광중합 개시제는 단독 또는 혼합물로서 사용할 수 있다.As the photopolymerization initiator, any photopolymerization initiator may be used as long as it has polymerization initiating ability by ultraviolet irradiation. Methyl-1 - [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinocyclohexyl phenyl ketone, 2-hydroxy- An acetophenone-based polymerization initiator such as perinopropane-1-one and 1- [4- (2-hydroxyethoxy) phenyl] -2-hydroxy- Benzophenone, [4- (methylphenylthio) phenyl] phenylmethanone, 4-hydroxybenzophenone, 4-hydroxybenzophenone, 4- Benzophenone-based polymerization initiators such as phenylbenzophenone and 3,3 ', 4,4'-tetra (t-butylperoxycarbonyl) benzophenone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone Based polymerization initiator, and the like. These photopolymerization initiators may be used alone or as a mixture.

광중합 개시제의 함유량은, 저굴절률층용 도포액 중의 고형분에 대해, 0.1 ∼ 20 질량% 인 것이 바람직하다. 광중합 개시제의 함유량이 0.1 질량% 미만인 경우에는 저굴절률층용 도포액의 중합 경화가 불충분해지고, 20 질량% 를 초과하는 경우에는 중합 경화 후의 경화 피막의 굴절률이 상승되기 때문에 바람직하지 않다. 자외선 조사에 사용되는 자외선등의 종류는, 일반적으로 사용되고 있는 것이면 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 저압 수은등, 고압 수은등, 초고압 수은등, 메탈할라이드 램프, 제논 램프 등이 사용된다.The content of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 to 20% by mass with respect to the solid content in the coating liquid for a low refractive index layer. When the content of the photopolymerization initiator is less than 0.1% by mass, the polymerization curing of the coating liquid for the low refractive index layer becomes insufficient, and when it exceeds 20% by mass, the refractive index of the cured coating after polymerization curing is increased. The kind of ultraviolet rays used for ultraviolet irradiation is not particularly limited as long as it is generally used, and for example, low pressure mercury lamp, high pressure mercury lamp, ultra high pressure mercury lamp, metal halide lamp, xenon lamp and the like are used.

자외선 조사의 조건으로서, 조사량은 10 mJ 이상이 바람직하고, 100 mJ 이상이 더욱 바람직하다. 조사량의 상한은, 이 종류의 자외선 조사에 있어서의 통상적인 방법에 따라 결정된다. 조사선량이 10 mJ 보다 적은 경우에는, 중합 경화 후에 형성되는 경화 피막에 충분한 경도가 얻어지지 않는다. 또, 중합 경화 후에, 추가로 자외선 조사에 의한 후경화를 실시해도 된다. 자외선 조사시의 산소 농도는, 중합 경화시 및 후경화시 모두, 질소, 아르곤 등의 불활성 가스를 주입하거나 함으로써 1000 ppm 이하로 억제하는 것이 양호한 중합 경화성을 얻기 위해서 바람직하다.As a condition of ultraviolet irradiation, the dose is preferably 10 mJ or more, more preferably 100 mJ or more. The upper limit of the irradiation amount is determined according to a conventional method in this kind of ultraviolet irradiation. When the irradiation dose is less than 10 mJ, sufficient hardness can not be obtained for the cured coating formed after the polymerization curing. After polymerization and curing, post curing may be further performed by ultraviolet irradiation. The oxygen concentration at the time of ultraviolet irradiation is preferably 1000 ppm or less by injecting an inert gas such as nitrogen or argon both during polymerization curing and after curing in order to obtain good polymerization curability.

또, 저굴절률층에는, 그 기능을 저해시키지 않는 한 그 밖의 기능을 가지고 있어도 되고, 첨가제 등을 첨가하여 대전 방지성이나 방오성, 미끄러짐성, 자외선 흡수 등의 기능을 1 종 또는 2 종 이상 부여할 수 있다. 특히, 방오성을 발현하는 첨가제는 그 효과에 의해 내지문성을 향상시킬 수 있다.The low refractive index layer may have other functions as long as it does not impair its function. The low refractive index layer may be provided with one or more functions such as antistatic properties, antifouling properties, slipperiness and ultraviolet absorption by adding an additive or the like . In particular, an additive that exhibits antifouling property can improve mobility by its effect.

(방오제)(Antifouling agent)

또한, 저굴절률층에는 내지문성을 향상시킬 목적에서, 공지된 폴리실록산계 혹은 불소계의 방오제를 적절히 첨가하는 것이 바람직하다. 폴리실록산계 화합물의 바람직한 예로는, 예를 들어 아크릴기를 갖는 폴리에테르 변성 폴리디메틸실록산, 폴리에테르 변성 디메틸실록산, 아크릴기를 갖는 폴리에스테르 변성 디메틸실록산, 폴리에테르 변성 폴리디메틸실록산, 폴리에스테르 변성 폴리디메틸실록산, 아르알킬 변성 폴리메틸알킬실록산 등을 들 수 있다.It is preferable to appropriately add a known polysiloxane-based or fluorine-based antifouling agent to the low refractive index layer for the purpose of improving transparency. Preferable examples of the polysiloxane-based compound include polyether-modified polydimethylsiloxane having an acryl group, polyether-modified dimethylsiloxane, polyester-modified dimethylsiloxane having an acryl group, polyether-modified polydimethylsiloxane, polyester-modified polydimethylsiloxane, Aralkyl-modified polymethylalkylsiloxane, and the like.

한편, 방오제로서 사용되는 불소계 화합물은, 저굴절률층과의 결합 형성 혹은 상용성에 기여하는 치환기를 가지고 있는 것이 바람직하다. 그 치환기는 동일해도 되고 상이해도 되며, 복수 개 있어도 된다. 바람직한 치환기의 예로는 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 비닐기, 아릴기, 신나모일기, 에폭시기, 옥세타닐기, 수산기, 폴리옥시알킬렌기, 카르복실기, 아미노기 등을 들 수 있다. 불소계 화합물은, 불소 원자를 함유하지 않는 화합물과의 폴리머여도 되고 올리고머여도 되며, 분자량에 특별히 제한은 없다.On the other hand, the fluorine-based compound used as an antifouling agent preferably has a substituent which contributes to bond formation or compatibility with the low refractive index layer. The substituents may be the same or different, or plural substituents may be present. Preferred examples of the substituent include an acryloyl group, a methacryloyl group, a vinyl group, an aryl group, a cinnamoyl group, an epoxy group, an oxetanyl group, a hydroxyl group, a polyoxyalkylene group, a carboxyl group and an amino group. The fluorine-based compound may be a polymer with a compound containing no fluorine atom, or may be an oligomer, and the molecular weight is not particularly limited.

≪점착층≫«Adhesive layer»

투명 기재 필름의 타방면에는, 내지문성 반사 방지 필름에 첩착성을 부여하기 위해서, 점착층이 형성된다. 점착층을 형성하는 재료는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 예를 들어 아크릴계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제 등의 점착제를 들 수 있다. 그 중에서도, 점착력의 관점에서 아크릴계 점착제가 바람직하고, 재박리성의 관점에서 실리콘계 점착제가 바람직하다.On the other side of the transparent base film, an adhesive layer is formed in order to impart adhesiveness to the anti-reflective film. The material for forming the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited, and examples thereof include pressure-sensitive adhesives such as acrylic pressure-sensitive adhesives, silicone pressure-sensitive adhesives, and urethane pressure-sensitive adhesives. Above all, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable from the viewpoint of adhesive force, and a silicone pressure-sensitive adhesive is preferable from the viewpoint of re-releasability.

점착층을 형성하는 방법은 특별히 한정되지 않지만, 웨트 코팅법에 의해 도포막을 형성한 후, 열 경화, 자외선 경화, 전자선 경화 등에 의해 경화막을 얻는 종래 공지된 방법을 이용할 수 있다. 또, 이 접착층에는, 그 기능을 저해시키지 않는 한 그 밖의 기능을 가지고 있어도 된다. 예를 들어, 자외선 흡수제나 색소나 첨가제 등을 첨가하고, 특정 파장역의 광의 차단, 콘트라스트의 향상, 색조의 보정, 내구성 부여 등의 기능을 1 종 또는 2 종 이상 부여할 수 있다.The method of forming the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited, but a conventionally known method of obtaining a cured film by heat curing, ultraviolet curing, electron beam curing or the like after forming a coating film by a wet coating method can be used. The adhesive layer may have other functions as long as the function is not impaired. For example, it is possible to add one or more functions such as blocking of light in a specific wavelength range, improvement of contrast, correction of color tone, and durability by adding an ultraviolet absorber, a dye or an additive.

≪내지문성 반사 방지 필름≫«Anti-reflective film»

얻어지는 내지문성 반사 방지 필름은, 파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 최소 반사율 파장 λ (최소) 이 파장 350 ∼ 530 ㎚ 에 있고, 파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 절곡점에 있어서의 파장 λ (꺾임) 가, λ (최소) < λ (꺾임) 의 관계이다. 또, 시감도 반사율이 2.0 % 이하이고, 반사 채도 C 가 6.0 미만이고, 피지 오염이 부착되기 전의 반사 색도와 굴절률이 1.49 이며 두께가 10 ㎚ 인 피지 오염이 부착된 후의 반사 색도의 반사 색차 ΔE 가 7.0 미만이다. 또한, λ (최소) 에 있어서의 반사율 R (최소) [%] 과 λ (꺾임) 에 있어서의 반사율 R (꺾임) [%] 의 관계가, R (꺾임) - R (최소) ≤ 0.7 [%] 인 것이 바람직하다. λ (최소) 가 350 ∼ 530 ㎚ 를 벗어나는 경우나 λ (최소) < λ (꺾임) 의 관계를 만족하지 않는 경우에는, 반사율, 반사 채도 C, 및 피지 오염이 부착되었을 때의 반사 색차 ΔE 의 상승을 일으켜 버려, 충분한 반사 방지성이나 내지문성이 얻어지지 않게 된다. 또, 시감도 반사율이 2.0 % 를 초과하는 경우에는 충분한 반사 방지성이 얻어지지 않게 된다. 또한, 반사 채도 C 가 6.0 이상인 경우나 피지 오염이 부착되기 전후의 반사 색차 ΔE 가 7.0 이상이 되는 경우에는 충분한 내지문성이 얻어지지 않게 된다.The antiglare antireflection film to be obtained has a minimum reflectance wavelength? (Minimum) at a wavelength of 350 to 530 nm and a wavelength at a bending point of 350 nm to 850 nm in a wavelength range of 350 nm to 850 nm. lambda (bending), and lambda (minimum) &lt; lambda (bending). The reflectance chromaticity and refractive index before the sebum contamination were 1.49 and the reflection chromaticity difference E of the reflectance chromaticity after the sebum contamination with the thickness of 10 nm was 7.0 . The relationship between the reflectance R (minimum) [%] at lambda (minimum) and the reflectance R (elongation) [%] at lambda ]. If the relationship of λ (minimum) is out of 350 to 530 nm or the relation of λ (minimum) <λ (bending) is not satisfied, the reflectance, the reflection saturation C and the rise of the reflection color difference ΔE So that sufficient antireflection property and / or transparency can not be obtained. In addition, when the visibility reflectance exceeds 2.0%, sufficient antireflection properties can not be obtained. Further, when the reflection chroma C is 6.0 or more, or when the reflection chrominance DELTA E before and after adhesion of sebum contamination is 7.0 or more, the sufficient transparency can not be obtained.

실시예Example

이하, 제조예, 실시예 및 비교예를 들어 본 개시의 내지문성 반사 방지 필름을 더욱 구체적으로 설명한다. 또한, 제조예에서 조제한 하드 코트층, 고굴절률층 및 저굴절률층을 형성하는 각 도포액의 경화물의 굴절률은, 이하와 같이 측정하였다.Hereinafter, the antiglare film of the present disclosure will be described in more detail with reference to Production Examples, Examples and Comparative Examples. The refractive indices of the cured products of the respective coating liquids forming the hard coat layer, the high refractive index layer and the low refractive index layer prepared in Production Example were measured as follows.

[각 층의 굴절률][Refractive index of each layer]

(1) 굴절률 1.49 의 아크릴 수지판 (「데라글라스 A」, 아사히 화성 케미컬즈 (주) 제조) 상에, 딥 코터 ((주) 스기야마겐 의리기 제조) 에 의해, 각 도포액을 각각 건조 막 두께로 광학 막 두께가 550 ㎚ 정도가 되도록 층의 두께를 조정하여 도포하였다.(1) Each coating liquid was applied to each of the dried films by a dip coater (manufactured by Sugiyama Kogyo Co., Ltd.) on an acrylic resin plate having refractive index of 1.49 ("Terra glass A", manufactured by Asahi Chemical Industry Co., Ltd.) And the thickness of the layer was adjusted so that the optical film thickness was about 550 nm.

(2) 용매 건조 후, 필요에 따라 자외선 조사 장치 (이와사키 전기 (주) 제조) 에 의해 질소 분위기 하에서 120 W 고압 수은등을 사용하여, 400 mJ 의 자외선을 조사하여 각 도포액을 경화시켰다.(2) After drying the solvent, 400 mJ of ultraviolet ray was irradiated using a 120 W high-pressure mercury lamp under an atmosphere of nitrogen by an ultraviolet irradiation apparatus (manufactured by Iwasaki Electric Co., Ltd.) as necessary to cure each coating liquid.

(3) 아크릴 수지판 이면을 샌드 페이퍼로 거칠게 하고, 흑색 도료로 전부 칠한 것을 분광 광도계 (「U-Best V560」, 닛폰 분광 (주) 제조) 에 의해, 광의 파장 400 ∼ 650 ㎚ 에 있어서의 5 °, -5 °정반사율을 측정하고, 그 반사율의 극소값 또는 극대값을 판독하였다.(3) The back of the acrylic resin plate was roughened with a sand paper, and the surface of the acrylic resin plate was coated with a black paint to obtain a 5 (5) layer having a wavelength of 400 to 650 nm by a spectrophotometer ("U- Best V560" ° and -5 °, and the minimum or maximum value of the reflectance was read.

(4) 반사율의 극값으로부터 이하의 식을 이용하여 굴절률을 계산하였다.(4) The refractive index was calculated from the extreme value of the reflectance using the following formula.

[수학식 1][Equation 1]

Figure pct00001
Figure pct00001

또, 얻어진 내지문성 반사 방지 필름의 특성을 이하의 방법으로 평가하였다.The properties of the obtained antiglare antireflection film were evaluated by the following methods.

[시감도 반사율][Visibility Reflectance]

측정면의 이면 반사를 제거하기 위해서, 이면을 샌드 페이퍼로 거칠게 하고, 흑색 도료로 전부 칠한 것을 분광 광도계 (오오츠카 전자 (주) 제조, 상품명:FE3000) 에 의해, 광의 파장 380 ㎚ ∼ 780 ㎚ 의 5 °, -5 ° 정반사 스펙트럼을 측정하였다. 얻어지는 380 ㎚ ∼ 780 ㎚ 의 분광 반사율과, CIE 표준 일루미넌트 D65 의 상대 분광 분포를 이용하여, JIS Z 8701 에서 상정되어 있는 XYZ 표색계에 있어서의, 반사에 의한 물체색의 3 자극값 Y 를 시감도 반사율 (%) 로 하였다.The back surface of the measurement surface was roughened with a sand paper and the surface was completely coated with black paint by a spectrophotometer (FE3000, trade name, manufactured by OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.) To a wavelength of 380 nm to 780 nm °, -5 ° specular spectra were measured. Using the obtained spectral reflectance of 380 nm to 780 nm and the relative spectral distribution of the CIE standard Illuminant D65, the tristimulus value Y of the object color due to reflection in the XYZ color system assumed in JIS Z 8701 is used as the visibility reflectance %).

[반사 채도 C][Reflectance Saturation C]

시감도 반사율로 측정한 광의 파장 380 ∼ 780 ㎚ 의 분광 반사율과, CIE 표준 일루미넌트 D65 의 상대 분광 분포를 이용하여, JIS Z 8729 에 규정되는 색공간 CIE1976L*a*b* 표색계를 계산하고, 구한 a*, b* 값으로부터 Cab* = {(a*)2 + (b*)2}1/2 를 계산하였다.The color space CIE1976L * a * b * color space defined in JIS Z 8729 is calculated using the spectral reflectance at a wavelength of 380 to 780 nm and the relative spectral distribution of the CIE standard Illuminant D65 measured by the visibility reflectance, * and b * values, Cab * = {(a *) 2 + (b *) 2} 1/2 was calculated.

[반사 색차 ΔE][Reflection color difference? E]

시감도 반사율로 측정한 광의 파장 380 ∼ 780 ㎚ 의 분광 반사율과, CIE 표준 일루미넌트 D65 의 상대 분광 분포를 이용하여, JIS Z 8729 에 규정되는 색공간 CIE1976L*a*b* 표색계를 계산하고, JIS Z 8730 에 규정되는 ΔE*a* b* = { (ΔL*)2 + (Δa*)2 + (Δb*)2}1/2 를 계산하였다.The color space CIE1976L * a * b * color space defined in JIS Z 8729 was calculated using the spectral reflectance at a wavelength of 380 to 780 nm and the relative spectral distribution of the CIE standard Illuminant D65 measured by the visibility reflectance, ? * A * b * = {(? L *) 2 + (? A *) 2 + (? B *) 2} 1/2 defined in Eq.

[최소 반사율 파장 λ (최소) 및 λ (최소) 에 있어서의 반사율 R (최소)][Reflectance R (minimum) at minimum reflectance wavelengths? (Minimum) and? (Minimum)] [

측정면의 이면 반사를 제거하기 위해서, 이면을 샌드 페이퍼로 거칠게 하고, 흑색 도료로 전부 칠한 것을 분광 광도계 (오오츠카 전자 (주) 제조, 상품명:FE3000) 에 의해, 광의 파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 5 °, -5 ° 정반사 스펙트럼을 측정하였다. 얻어진 반사율 데이터로부터 최소값을 판독하고, 그 파장을 λ (최소) 로 하고, 그 때의 반사율을 R (최소) 로 하였다.The back surface of the measurement surface was roughened with a sand paper and the surface was completely coated with black paint by a spectrophotometer (FE3000, trade name, manufactured by OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.) To a wavelength of 350 nm to 850 nm °, -5 ° specular spectra were measured. The minimum value was read from the obtained reflectance data, the wavelength thereof was set to? (Minimum), and the reflectance at that time was set to R (minimum).

[절곡점에 있어서의 파장 λ (꺾임) 및 λ (꺾임) 에 있어서의 반사율 R (꺾임)][Reflectance R (Refraction) at Wavelength? (Bending) and? (Bending) at the bending point]

측정면의 이면 반사를 제거하기 위해서, 이면을 샌드 페이퍼로 거칠게 하고, 흑색 도료로 전부 칠한 것을 분광 광도계 (오오츠카 전자 (주) 제조, 상품명:FE3000) 에 의해, 광의 파장 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 5 °, -5 ° 정반사 스펙트럼을 측정하였다. 얻어진 350 ㎚ ∼ 850 ㎚ 의 분광 반사율을 스펙트럼도에 나타내고, 최소 반사율 파장보다 장파장측에 있어서 반사율이 거의 일정하거나 또는 완만하게 증가하고 있는 영역에서 상기 영역보다 반사율의 증가가 커지는 영역으로의 변화점을 특정하고, 그 파장을 λ (꺾임) 로 하고, 그 때의 반사율을 R (꺾임) 로 하였다.The back surface of the measurement surface was roughened with a sand paper and the surface was completely coated with black paint by a spectrophotometer (FE3000, trade name, manufactured by OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.) To a wavelength of 350 nm to 850 nm °, -5 ° specular spectra were measured. A spectral diagram of the obtained spectral reflectance of 350 nm to 850 nm is shown in the spectrum diagram. In a region where the reflectance is substantially constant or gently increases on the longer wavelength side than the minimum reflectance wavelength, And the wavelength thereof is defined as? (Bending), and the reflectance at that time is defined as R (bending).

[반사 방지성][Antireflection property]

지문이 부착되기 전의 시감도 반사율의 값이 2.0 이하인 것을 ○, 2.1 이상인 것을 × 로 하였다.The value of the visual sensitivity reflectance before adhesion of the fingerprints was 2.0 or less, and the value of 2.1 or more was x.

[지문이 보이는 상태][Fingerprints visible]

내지문성 반사 방지 필름에 굴절률 1.49 의 지문을 10 ㎚ 로 적층시켜, 성분 부착 전후의 외관 변화를 평가하였다. 비교 대상으로서 유리판 (니혼 이타 가라스 (주) 제조 FL2.0) 을 사용하고, 유리판에 지문이 부착된 경우보다, 지문이 잘 보이지 않는 것을 ○, ○ 보다 더 지문이 잘 보이지 않는 것을 ◎, 유리판과 동일한 정도인 것을 × 로 하였다.A fingerprint having a refractive index of 1.49 was laminated on the antiglare antireflection film at 10 nm to evaluate changes in appearance before and after attachment of the component. A glass plate (FL2.0 manufactured by Nihon Itagaras Co., Ltd.) was used as a comparison object. The fingerprints were less visible than when the fingerprints were attached to the glass plate, Was evaluated as &quot; x &quot;.

[지문 닦임성][Fingerprints]

시험편에 지문이 보이는 상태 시험과 동일한 지문을 부착시켜, 플란넬 천 (흰색 플란넬·금괴 그레이드) 을 사용하여 500 gf/㎠ 하중으로 30 왕복 마찰시켜 지문을 닦아내었다. 그 후, 지문이 보이지 않았던 것을 ○, 지문이 보였던 것을 × 로 하였다. 또, 20 왕복 마찰시켜 지문을 닦아낸 경우에 지문이 보이지 않았던 것을 ◎ 로 하였다.The fingerprints were wiped off by using a flannel cloth (white flannel and gold grade) with 30 rubbing at 500 gf / cm2 load by attaching the same fingerprints as those of the test where the fingerprints were visible on the test piece. After that, the fingerprint was not seen, and the fingerprint was x. Further, when the fingerprint was wiped out by rubbing 20 round trips, the fingerprint was not seen.

다음으로, 제조예, 실시예 및 비교예를 든다. 또한, 각 예에 있어서의 부는 질량부, % 는 질량% 를 나타낸다.Next, Production Examples, Examples and Comparative Examples will be described. In the examples, parts are parts by mass, and% is% by mass.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-1 의 조제)(Preparation of composition H-1 for forming high refractive index layer)

안티몬산아연 미립자 분산액 (닛산 화학 공업 (주) 제조, 세르낙스 CX-603M-F2) 을 고형분 환산으로 50 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 45 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함안티몬산아연 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-1 의 굴절률은 1.56 이었다.(CEREXUS CX-603M-F2, manufactured by NISSAN CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD.) As a solid component in an amount of 50 parts by mass, a urethane acrylate (having a molecular weight of 1400 and a viscosity of 2500 to 4500 Pa 占 퐏 (Manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd., Nikko UV7600B), 5 parts by mass of a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.) and 500 parts by mass of isopropyl alcohol , A composition for forming a high refractive index layer (zinc antimonate fine particle curing coating liquid) was obtained. The refractive index of H-1 was 1.56.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-2 의 조제)(Preparation of composition H-2 for forming a high refractive index layer)

우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 95 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물을 얻었다. H-2 의 굴절률은 1.50 이었다., 95 parts by mass of a urethane acrylate (molecular weight 1400, viscosity of 2500 to 4500 Pa 占 퐏 at 60 占 폚, Zagyuan UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.), 10 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., , Irgacure 184), and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer. The refractive index of H-2 was 1.50.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-3 의 조제)(Preparation of composition H-3 for forming a high refractive index layer)

안티몬산아연 미립자 분산액 (닛산 화학 공업 (주) 제조, 세르낙스 CX-603M-F2) 을 고형분 환산으로 30 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 65 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함안티몬산아연 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-3 의 굴절률은 1.53 이었다.(CEREXUS CX-603M-F2 manufactured by NISSAN CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD.) As a solid matter dispersion, 30 parts by mass of urethane acrylate (viscosity at 2500 to 4500 Pa 占 퐏 , 5 parts by mass of a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.), and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed , A composition for forming a high refractive index layer (zinc antimonate fine particle curing coating liquid) was obtained. The refractive index of H-3 was 1.53.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-4 의 조제)(Preparation of composition H-4 for forming a high refractive index layer)

안티몬산아연 미립자 분산액 (닛산 화학 공업 (주) 제조, 세르낙스 CX-603M-F2) 을 고형분 환산으로 70 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 25 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함안티몬산아연 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-4 의 굴절률은 1.58 이었다.(CEREXUS CX-603M-F2 manufactured by NISSAN CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD.) Dispersion in a solid content of 70 parts by mass, urethane acrylate (viscosity at 25 ° C to 4500 Pa · s , 5 parts by mass of a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.) and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed , A composition for forming a high refractive index layer (zinc antimonate fine particle curing coating liquid) was obtained. The refractive index of H-4 was 1.58.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-5 의 조제)(Preparation of composition H-5 for forming a high refractive index layer)

산화티탄 미립자 20 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 75 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함산화티탄 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-5 의 굴절률은 1.60 이었다., 20 parts by mass of titanium oxide fine particles, 75 parts by mass of urethane acrylate (having a molecular weight of 1400 and a viscosity of 2500 to 4500 Pa · s at 60 ° C, Zagyuan UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.), a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chemicals, Inc.), and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer (titanium dioxide fine particle curing coating solution). The refractive index of H-5 was 1.60.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-6 의 조제)(Preparation of composition H-6 for forming a high refractive index layer)

산화티탄 미립자 37 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 58 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함산화티탄 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-6 의 굴절률은 1.65 였다., 37 parts by mass of titanium oxide fine particles, 58 parts by mass of urethane acrylate (having a molecular weight of 1400 and a viscosity of 2500 to 4500 Pa · s at 60 占 폚, Zagyuan UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.), a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chemicals, Inc.), and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer (titanium dioxide fine particle curing coating solution). The refractive index of H-6 was 1.65.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-7 의 조제)(Preparation of composition H-7 for forming high refractive index layer)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 15 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 80 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. H-7 의 굴절률은 1.48 이었다., 15 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle size of 60 nm, 80 parts by mass of urethane acrylate (molecular weight 1400, viscosity of 2500 to 4500 Pa s at 60 캜, Magnetite UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.) , 5 parts by mass of an initiator (Irgacure 184, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.) and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer (humic silica curable coating liquid). The refractive index of H-7 was 1.48.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-8 의 조제)(Preparation of composition H-8 for forming a high refractive index layer)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 10 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 85 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. H-8 의 굴절률은 1.49 였다.10 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 85 parts by mass of urethane acrylate (molecular weight 1400, viscosity of 2500 to 4500 Pa 占 퐏 at 60 占 폚, Zagyuan UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.) , 5 parts by mass of an initiator (Irgacure 184, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.) and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer (humic silica curable coating liquid). The refractive index of H-8 was 1.49.

(고굴절률층 형성용 조성물 H-9 의 조제)(Preparation of composition H-9 for forming high refractive index layer)

산화티탄 미립자 40 질량부, 우레탄아크릴레이트 (분자량 1400, 60 ℃ 에 있어서의 점도가 2500 ∼ 4500 Pa·s, 니혼 합성 화학 공업 (주) 제조, 자광 UV7600B) 55 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 184) 를 5 질량부, 및 이소프로필알코올 500 질량부를 혼합하고, 고굴절률층 형성용 조성물 (함산화티탄 미립자 경화성 도포액) 을 얻었다. H-9 의 굴절률은 1.66 이었다.40 parts by mass of titanium oxide fine particles, 55 parts by mass of urethane acrylate (having a molecular weight of 1400 and a viscosity of 2500 to 4500 Pa · s at 60 占 폚, Zagyuan UV7600B manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.), a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Chemicals, Inc.), and 500 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for forming a high refractive index layer (titanium dioxide fine particle curing coating solution). The refractive index of H-9 was 1.66.

(저굴절률층용 조성물 L-1 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-1)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 40 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 60 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-1 의 굴절률은 1.39 였다., 40 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 60 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name "DPHA", manufactured by Nippon Yakuza Co., Ltd.), 60 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.5 part by mass of NANOBYKUV-3601, manufactured by KEMI Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humor silica curing coating liquid). The refractive index of L-1 was 1.39.

(저굴절률층용 조성물 L-2 의 조제)(Preparation of Composition L-2 for Low-refractive-index Layer)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 60 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 40 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-2 의 굴절률은 1.36 이었다., 60 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 40 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name: &quot; DPHA &quot;, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 40 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.5 part by mass of NANOBYKUV-3601, manufactured by KEMI Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humor silica curing coating liquid). The refractive index of L-2 was 1.36.

(저굴절률층용 조성물 L-3 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-3)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 50 질량부, OD2H2A (1,10-디아크릴로일옥시-2,9-디하이드록시-4,4,5,5,6,6,7,7,-옥타플루오로데칸) 50 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-3 의 굴절률은 1.37 이었다.50 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 50 parts by mass of OD2H2A (1,10-diacryloyloxy-2,9-dihydroxy-4,4,5,5,6,6,7,7-octa , 5 parts by mass of a photopolymerization initiator (Irgacure 907, manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.), 8 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, , 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), 0.5 parts by mass of an alumina additive (NANOBYKUV-3601 manufactured by Big Chem Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol, To obtain a composition for a layer (silica-silica-curable coating liquid). The refractive index of L-3 was 1.37.

(저굴절률층용 조성물 L-4 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-4)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 30 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 70 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-4 의 굴절률은 1.42 였다., 30 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 70 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name: &quot; DPHA &quot;, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 80 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.5 part by mass of NANOBYKUV-3601, manufactured by KEMI Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humor silica curing coating liquid). The refractive index of L-4 was 1.42.

(저굴절률층용 조성물 L-5 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-5)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 70 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 30 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-5 의 굴절률은 1.34 였다., 30 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name &quot; DPHA &quot;, manufactured by Nippon Yakuza), 30 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.5 part by mass of NANOBYKUV-3601, manufactured by KEMI Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humor silica curing coating liquid). The refractive index of L-5 was 1.34.

(저굴절률층용 조성물 L-6 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-6)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 65 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 35 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-6 의 굴절률은 1.35 였다., 65 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle size of 60 nm, 35 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name "DPHA", trade name, manufactured by Nippon Yakuza Co., Ltd.) 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.5 part by mass of NANOBYKUV-3601, manufactured by KEMI Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humor silica curing coating liquid). The refractive index of L-6 was 1.35.

(저굴절률층용 조성물 L-7 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-7)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 25 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 75 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 실리콘 첨가제 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, TIC2457) 5 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부를 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-7 의 굴절률은 1.43 이었다., 25 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 75 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name "DPHA", manufactured by Nippon Yakuza Co., Ltd.), 75 parts by mass of a photopolymerization initiator (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by BICKEM Japan Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (TIC2457 available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (NANOBYKUV-3601, manufactured by Chemie Japan K.K.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a low refractive index layer composition (humic silica curable coating liquid). The refractive index of L-7 was 1.43.

(저굴절률층용 조성물 L-8 의 조제)(Preparation of low refractive index layer composition L-8)

입자경이 60 ㎚ 인 중공 실리카 미립자 55 질량부, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (니혼 화약 (주) 제조, 상품명 「DPHA」) 45 질량부, 광중합 개시제 (치바·스페셜티·케미컬즈 (주) 제조, 이르가큐어 907) 5 질량부, 실리콘 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, BYKUV-3570) 8 질량부, 함불소아크릴 화합물 (신에츠 화학 공업 (주) 제조, KY1203) 10 질량부, 알루미나 첨가제 (빅케미·재팬 (주) 제조, NANOBYKUV-3601) 0.5 질량부, 및 이소프로필알코올 2000 질량부를 혼합하고, 저굴절률층용 조성물 (함실리카 경화성 도포액) 을 얻었다. L-8 의 굴절률은 1.39 였다., 55 parts by mass of hollow silica fine particles having a particle diameter of 60 nm, 45 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (trade name: "DPHA", trade name, manufactured by Nippon Yakuza), a photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., , 10 parts by mass of a fluorine-containing acrylic compound (KY1203, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), 5 parts by mass of a silicone additive (BYKUV-3570, manufactured by Big Chemical Co., (NANOBYKUV-3601, manufactured by Big Chem Japan Co., Ltd.) and 2000 parts by mass of isopropyl alcohol were mixed to obtain a composition for a low refractive index layer (humus silica curable coating liquid). The refractive index of L-8 was 1.39.

[점착층 도포액 P-1 의 조제][Preparation of pressure-sensitive adhesive layer coating liquid P-1]

n-부틸아크릴레이트 94.6 질량부, 아크릴산 4.4 질량부, 2-하이드록시에틸 메타크릴레이트 1 질량부, 아조비스이소부티로니트릴 0.4 질량부, 아세트산에틸 90 질량부, 및 톨루엔 60 질량부를 혼합하고, 질소 분위기 하에서 혼합물을 65 ℃ 로 가온하여 10 시간 중합 반응을 실시하고, 아크릴 수지 조성물을 조제하였다. 이 아크릴 수지 조성물 99 질량부에 콜로네이트 L (닛폰 폴리우레탄 (주) 제조 폴리이소시아네이트) 1 질량부 및 고형분 농도가 20 질량% 가 되도록 아세트산에틸을 첨가함으로써, 점착 수지 조성물의 고형분 농도가 20 질량% 인 점착층 도포액을 조제하였다.94.6 parts by mass of n-butyl acrylate, 4.4 parts by mass of acrylic acid, 1 part by mass of 2-hydroxyethyl methacrylate, 0.4 part by mass of azobisisobutyronitrile, 90 parts by mass of ethyl acetate, and 60 parts by mass of toluene, The mixture was heated to 65 占 폚 in a nitrogen atmosphere and polymerization reaction was carried out for 10 hours to prepare an acrylic resin composition. 1 part by mass of Colonate L (polyisocyanate manufactured by Nippon Polyurethane Industry Co., Ltd.) and 99 parts by mass of ethyl acetate were added to 99 parts by mass of the acrylic resin composition so that the solid content concentration of the adhesive resin composition was 20% Was prepared.

<실시예 1-1>&Lt; Example 1-1 &gt;

두께 80 ㎛ 의 트리아세틸셀룰로오스 (TAC) 필름으로 이루어지는 투명 기재 필름 위에, 하드 코트층 형성용 조성물 (토요 잉크 제조 (주) 제조, 리오듀라스 LAS1303NL) 을 롤 코터에 의해 건조 막 두께가 4.3 ㎛ 가 되도록 도포하고, 80 ℃ 에서 2 분간 건조시켰다. 그 후, 질소 분위기 하에서 120 W 고압 수은등 (니혼 전지 (주) 제조) 에 의해 자외선을 조사하고 (적산 광량 300 mJ/㎠), 하드 코트층 형성용 조성물을 경화시켜 하드 코트층을 형성하였다. 이 하드 코트층의 굴절률은 1.53 이었다.A composition for forming a hard coat layer (Rio Dylas LAS1303NL, manufactured by Toyoke Ink Co., Ltd.) was coated on a transparent base film made of a triacetylcellulose (TAC) film having a thickness of 80 탆 by a roll coater to a dry film thickness of 4.3 탆 And dried at 80 DEG C for 2 minutes. Thereafter, the composition for forming a hard coat layer was cured by irradiating ultraviolet rays (total light amount: 300 mJ / cm 2) with a 120 W high pressure mercury lamp (manufactured by Nihon Battery Co., Ltd.) in a nitrogen atmosphere to form a hard coat layer. The refractive index of the hard coat layer was 1.53.

이어서, 이 하드 코트층 상에 고굴절률층 형성용 조성물 H-1 을, 건조시의 두께가 155 ㎚ 가 되도록 도포한 후, 질소 분위기 하에서 자외선 조사 장치 (아이그래픽스사 제조, 120 W 고압 수은등) 를 사용하여 300 mJ 의 자외선을 조사하고, 고굴절률층 형성용 조성물을 경화시켜 고굴절률층을 형성하였다.Subsequently, a composition H-1 for forming a high refractive index layer was applied on the hard coat layer so as to have a thickness of 155 nm at the time of drying. Then, an ultraviolet ray irradiator (120 W high pressure mercury lamp manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) And the composition for forming a high refractive index layer was cured by irradiation with ultraviolet rays of 300 mJ to form a high refractive index layer.

마지막으로, 이 고굴절률층 상에 상기 저굴절률층용 조성물 L-1 을 건조시의 두께가 70 ㎚ 가 되도록 도포한 후, 질소 분위기 하에서 자외선 조사 장치 (아이그래픽스사 제조, 120 W 고압 수은등) 를 사용하여 300 mJ 의 자외선을 조사하고, 저굴절률층용 조성물을 경화시켜 저굴절률층을 형성하고, 실시예 1-1 의 필름을 제조하였다.Finally, the composition for low-refractive index layer L-1 was coated on the high refractive index layer so that the thickness of the low refractive index layer was 70 nm at the time of drying, and then an ultraviolet ray irradiator (120 W high pressure mercury lamp manufactured by Eye Graphics Co., And the composition for a low refractive index layer was cured to form a low refractive index layer. Thus, a film of Example 1-1 was prepared.

<실시예 1-2>&Lt; Example 1-2 &gt;

고굴절률층 형성용 조성물 H-2 를 사용하고, 고굴절률층의 막 두께를 150 ㎚ 로 하는 것과, 저굴절률층의 막 두께를 100 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 실시예 1-2 의 필름을 제조하였다.Except that the composition for forming a high refractive index layer H-2 was used and the film thickness of the high refractive index layer was set to 150 nm and the film thickness of the low refractive index layer was set to 100 nm, A film of Example 1-2 was prepared.

<실시예 1-3>&Lt; Example 1-3 &gt;

고굴절률층의 막 두께를 155 ㎚ 로 하고, 저굴절률층의 막 두께를 80 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-2 와 동일한 방법으로 실시예 1-3 의 필름을 제조하였다.The film of Example 1-3 was produced in the same manner as in Example 1-2 except that the thickness of the high refractive index layer was 155 nm and the film thickness of the low refractive index layer was 80 nm.

<실시예 1-4>&Lt; Example 1-4 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 90 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-2 와 동일한 방법으로 실시예 1-4 의 필름을 제조하였다.A film of Example 1-4 was produced in the same manner as in Example 1-2 except that the thickness of the low refractive index layer was changed to 90 nm.

<실시예 1-5>&Lt; Example 1-5 &gt;

고굴절률층 형성용 조성물 H-3 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 1-3 과 동일한 방법으로 실시예 1-5 의 필름을 제조하였다.A film of Example 1-5 was prepared in the same manner as in Example 1-3 except that the composition for high refractive index layer H-3 was used.

<실시예 1-6>&Lt; Example 1-6 &gt;

고굴절률층 형성용 조성물 H-1 을 사용하고, 고굴절률층의 막 두께를 180 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-3 과 동일한 방법으로 실시예 1-6 의 필름을 제조하였다.The film of Example 1-6 was produced in the same manner as in Example 1-3 except that the composition for high refractive index layer formation H-1 was used and the film thickness of the high refractive index layer was 180 nm.

<실시예 2-1>&Lt; Example 2-1 &gt;

고굴절률 형성용 조성물 H-4 를 사용하고, 고굴절률층의 막 두께를 130 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 실시예 2-1 의 필름을 제조하였다.The film of Example 2-1 was produced in the same manner as in Example 1-1 except that the composition for high refractive index H-4 was used and the film thickness of the high refractive index layer was 130 nm.

<실시예 2-2>&Lt; Example 2-2 &gt;

고굴절률층의 막 두께를 150 ㎚ 로 하는 것 이외에는 실시예 2-1 과 동일한 방법으로 실시예 2-2 의 필름을 제조하였다.The film of Example 2-2 was produced in the same manner as in Example 2-1 except that the thickness of the high refractive index layer was changed to 150 nm.

<실시예 2-3>&Lt; Example 2-3 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 75 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 실시예 2-3 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-3 was prepared in the same manner as in Example 1-1 except that the thickness of the low refractive index layer was changed to 75 nm.

<실시예 2-4><Example 2-4>

저굴절률층의 막 두께를 80 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 실시예 2-4 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-4 was produced in the same manner as in Example 1-1 except that the film thickness of the low refractive index layer was 80 nm.

<실시예 2-5><Example 2-5>

저굴절률층의 막 두께를 80 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-2 와 동일한 방법으로 실시예 2-5 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-5 was produced in the same manner as in Example 2-2 except that the film thickness of the low refractive index layer was 80 nm.

<실시예 2-6><Example 2-6>

저굴절률층의 막 두께를 85 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 실시예 2-6 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-6 was produced in the same manner as in Example 1-1 except that the film thickness of the low refractive index layer was changed to 85 nm.

<실시예 2-7><Example 2-7>

고굴절률층의 막 두께를 135 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-6 과 동일한 방법으로 실시예 2-7 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-7 was produced in the same manner as in Example 1-6 except that the thickness of the high refractive index layer was changed to 135 nm.

<실시예 2-8><Example 2-8>

고굴절률층의 막 두께를 175 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-6 과 동일한 방법으로 실시예 2-8 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-8 was produced in the same manner as in Example 1-6 except that the high refractive index layer had a thickness of 175 nm.

<실시예 2-9><Example 2-9>

고굴절률층의 막 두께를 155 ㎚ 로 하는 것과, 저굴절률층 형성용 조성물 L-2 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-5 와 동일한 방법으로 실시예 2-9 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-9 was produced in the same manner as in Example 2-5 except that the film thickness of the high refractive index layer was 155 nm and the composition for low refractive index layer L-2 was used.

<실시예 2-10><Example 2-10>

저굴절률층 형성용 조성물 L-3 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-4 와 동일한 방법으로 실시예 2-10 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-10 was produced in the same manner as in Example 2-4 except that the composition for forming a low refractive index layer L-3 was used.

<실시예 2-11>&Lt; Example 2-11 &gt;

저굴절률층 형성용 조성물 L-4 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-10 과 동일한 방법으로 실시예 2-11 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-11 was produced in the same manner as in Example 2-10, except that the composition L-4 for forming a low refractive index layer was used.

<실시예 2-12>&Lt; Example 2-12 &gt;

고굴절률 형성용 조성물 H-5 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 1-3 과 동일한 방법으로 실시예 2-12 의 필름을 제조하였다.The film of Example 2-12 was produced in the same manner as in Example 1-3 except that the composition for high refractive index H-5 was used.

<실시예 2-13>&Lt; Examples 2-13 &gt;

고굴절률 형성용 조성물 H-6 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 1-3 과 동일한 방법으로 실시예 2-13 의 필름을 제조하였다.A film of Example 2-13 was prepared in the same manner as in Example 1-3 except that the composition for high refractive index H-6 was used.

<실시예 3>&Lt; Example 3 &gt;

저굴절률층용 조성물 L-8 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-4 와 동일한 방법으로 실시예 3 의 필름을 제조하였다.A film of Example 3 was produced in the same manner as in Example 2-4, except that the composition for low-refractive-index layer L-8 was used.

<실시예 4><Example 4>

점착층 도포액을 PET 제조의 세퍼레이트 필름 위에 건조 후의 두께가 25 ㎛ 가 되도록 오토어플리케이터를 사용하여 도포하고, 90 ℃ 에서 2 분간 건조 후, 실시예 3-1 에서 제조한 필름의 하드 코트층과는 반대의 면에 첩부하고, 30 ℃ 에서 5 일간 보존하여 실시예 4 의 적층 필름을 제조하였다.The pressure-sensitive adhesive layer coating liquid was applied on a separator film produced by PET using an auto-applicator so that the thickness after drying was 25 占 퐉 and dried at 90 占 폚 for 2 minutes. The hard coat layer of the film produced in Example 3-1 And the laminate was attached to the opposite side and stored at 30 ° C for 5 days to produce a laminated film of Example 4.

<비교예 1-1>&Lt; Comparative Example 1-1 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 60 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-2 와 동일한 방법으로 비교예 1-1 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-1 was produced in the same manner as in Example 2-2 except that the thickness of the low refractive index layer was changed to 60 nm.

<비교예 1-2>&Lt; Comparative Example 1-2 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 60 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 비교예 1-2 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-2 was prepared in the same manner as in Example 1-1, except that the low refractive index layer had a thickness of 60 nm.

<비교예 1-3>&Lt; Comparative Example 1-3 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 105 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일한 방법으로 비교예 1-3 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-3 was produced in the same manner as in Example 1-1 except that the thickness of the low refractive index layer was changed to 105 nm.

<비교예 1-4>&Lt; Comparative Example 1-4 &gt;

저굴절률층의 막 두께를 110 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-2 와 동일한 방법으로 비교예 1-4 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-4 was produced in the same manner as in Example 2-2 except that the film thickness of the low refractive index layer was changed to 110 nm.

<비교예 1-5>&Lt; Comparative Example 1-5 &gt;

고굴절률층의 막 두께를 110 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-4 와 동일한 방법으로 비교예 1-5 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-5 was prepared in the same manner as in Example 2-4 except that the thickness of the high refractive index layer was changed to 110 nm.

<비교예 1-6>&Lt; Comparative Example 1-6 &gt;

고굴절률층의 막 두께를 120 ㎚ 로 하고, 저굴절률층의 막 두께를 90 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일한 방법으로 비교예 1-6 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-6 was produced in the same manner as in Example 2-1 except that the film thickness of the high refractive index layer was 120 nm and the film thickness of the low refractive index layer was 90 nm.

<비교예 1-7>&Lt; Comparative Example 1-7 &

고굴절률층의 막 두께를 190 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 비교예 1-6 과 동일한 방법으로 비교예 1-7 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-7 was produced in the same manner as in Comparative Example 1-6 except that the thickness of the high refractive index layer was 190 nm.

<비교예 1-8>&Lt; Comparative Example 1-8 &

고굴절률층의 막 두께를 200 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 비교예 1-5 와 동일한 방법으로 비교예 1-8 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-8 was prepared in the same manner as in Comparative Example 1-5 except that the thickness of the high refractive index layer was changed to 200 nm.

<비교예 1-9>&Lt; Comparative Example 1-9 &

저굴절률층용 조성물 L-5 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-9 와 동일한 방법으로 비교예 1-9 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-9 was produced in the same manner as in Example 2-9 except that the composition for low-refractive-index layer L-5 was used.

<비교예 1-10>&Lt; Comparative Example 1-10 &

저굴절률층용 조성물 L-6 을 사용하고, 저굴절률층의 막 두께를 90 ㎚ 로 하는 것 이외에는, 실시예 2-2 와 동일한 방법으로 비교예 1-10 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-10 was produced in the same manner as in Example 2-2 except that the composition for a low refractive index layer L-6 was used and the film thickness of the low refractive index layer was changed to 90 nm.

<비교예 1-11>&Lt; Comparative Example 1-11 &

저굴절률층용 조성물 L-7 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-4 와 동일한 방법으로 비교예 1-11 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-11 was produced in the same manner as in Example 2-4, except that the composition for low-refractive-index layer L-7 was used.

<비교예 1-12>&Lt; Comparative Example 1-12 &

저굴절률층용 조성물 L-7 을 사용하는 것 이외에는, 비교예 1-10 과 동일한 방법으로 비교예 1-12 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-12 was produced in the same manner as in Comparative Example 1-10 except that the composition for low refractive index layer L-7 was used.

<비교예 1-13>&Lt; Comparative Example 1-13 &

고굴절률층용 조성물 H-7 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 2-4 와 동일한 방법으로 비교예 1-13 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-13 was produced in the same manner as in Example 2-4 except that the composition for high refractive index layer H-7 was used.

<비교예 1-14>&Lt; Comparative Example 1-14 &

고굴절률층용 조성물 H-8 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 1-4 와 동일한 방법으로 비교예 1-14 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-14 was produced in the same manner as in Example 1-4 except that the composition for high refractive index layer H-8 was used.

<비교예 1-15>&Lt; Comparative Example 1-15 &

고굴절률층용 조성물 H-9 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 1-4 와 동일한 방법으로 비교예 1-15 의 필름을 제조하였다.A film of Comparative Example 1-15 was produced in the same manner as in Example 1-4 except that the composition for high refractive index layer H-9 was used.

제조한 각 내지문성 반사 방지 필름에 대하여, 각종 물성을 상기 서술한 방법으로 평가를 실시하였다. 그 결과를, 각 실시예 및 비교예의 구성과 함께, 표 1 내지 표 4 에 나타낸다. 또한, 표 1 내지 표 4 에 있어서 「L 층」은 저굴절률층을 의미하고, 「H 층」은 고굴절률층을 의미하며, 「HC 층」은 하드 코트층을 의미한다.The various antiglare films thus prepared were evaluated for various physical properties by the above-mentioned method. The results are shown in Tables 1 to 4 together with the structures of the respective Examples and Comparative Examples. In Table 1 to Table 4, "L layer" means a low refractive index layer, "H layer" means a high refractive index layer, and "HC layer" means a hard coat layer.

Figure pct00002
Figure pct00002

Figure pct00003
Figure pct00003

Figure pct00004
Figure pct00004

Figure pct00005
Figure pct00005

실시예 1-1 ∼ 1-6 에서는 충분한 반사 방지 기능이 얻어지고, 또한 지문이 잘 보이지 않고, 지문의 닦임성이 양호하였다. 또한 실시예 2-1 ∼ 2-13 에서는 실시예 1 시리즈의 필름보다 지문이 잘 보이지 않는 것이 양호하였다. 또한, 실시예 3 에서는 지문 부착량이 적어지는 경향이 있고, 또한 실시예 2 시리즈의 필름보다 지문 닦임성이 양호하였다. 투명 기재 필름의 이면에 점착층을 형성한 실시예 4 에서도 충분한 반사 방지 기능이 얻어지고, 또한 지문이 잘 보이지 않고, 지문의 닦임성이 양호하였다.In Examples 1-1 to 1-6, sufficient antireflection function was obtained, fingerprints were not visible, and fingerprints were good. In Examples 2-1 to 2-13, it was better that the fingerprints were less visible than the film of Example 1 series. Further, in Example 3, the amount of fingerprint adhesion tended to be smaller and the fingerprint cleaning property was better than that of the film of Example 2 series. In Example 4 in which the adhesive layer was formed on the back surface of the transparent base film, sufficient antireflection function was obtained, fingerprints were not visible, and fingerprints were good.

이것에 대해 비교예 1-1, 1-2, 1-11, 1-12, 및 1-13 에서는 반사율이 높아져 버렸다. 또 비교예 1-3, 1-4, 1-6, 1-13, 1-15 에서는 지문 부착 지점이 착색되어 지문이 눈에 띄어 버리는 결과가 되었다. 또, 비교예 1-5, 1-7, 1-8, 1-9, 1-10, 1-14 에서는 지문 닦임성 시험 후에도 지문이 보이는 결과가 되었다.On the other hand, in Comparative Examples 1-1, 1-2, 1-11, 1-12, and 1-13, the reflectance increased. In Comparative Examples 1-3, 1-4, 1-6, 1-13, and 1-15, the fingerprint attachment points were colored and the fingerprints were visible. Also, in Comparative Examples 1-5, 1-7, 1-8, 1-9, 1-10, and 1-14, fingerprints were visible even after the fingerprint cleaning test.

Claims (4)

투명 기재 필름의 일방면에,
하드 코트층과, 고굴절률층과, 저굴절률층이 이 순서로 적층되어 있는 내지문성 반사 방지 필름으로서,
상기 고굴절률층의 굴절률이 1.50 ∼ 1.65, 막 두께가 130 ∼ 180 ㎚ 이고,
상기 저굴절률층의 굴절률이 1.36 ∼ 1.42, 막 두께가 70 ∼ 100 ㎚ 이고,
파장 350 ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 최소 반사율 파장 λ (최소) 이 파장 350 ∼ 530 ㎚ 에 있고,
파장 350 ∼ 850 ㎚ 의 범위에 있어서 절곡점에 있어서의 파장 λ (꺾임) 가, λ (최소) < λ (꺾임) 의 관계이고,
시감도 반사율이 2.0 % 이하이고,
반사 채도 C 가 6.0 미만이며,
피지 오염이 부착되기 전의 반사 색도와 굴절률이 1.49 이고 두께가 10 ㎚ 인 피지 오염이 부착된 후의 반사 색도의 반사 색차 ΔE 가 7.0 미만인, 내지문성 반사 방지 필름.
On one side of the transparent base film,
A hard coat layer, a high refractive index layer and a low refractive index layer laminated in this order,
Wherein the high refractive index layer has a refractive index of 1.50 to 1.65 and a film thickness of 130 to 180 nm,
The low refractive index layer has a refractive index of 1.36 to 1.42 and a film thickness of 70 to 100 nm,
The minimum reflectance wavelength? (Minimum) is in a wavelength range of 350 to 530 nm in a wavelength range of 350 to 850 nm,
The wavelength? (Bending) at the bending point in the wavelength range of 350 to 850 nm is a relation of? (Minimum) &lt;? (Bending)
The visibility reflectance is 2.0% or less,
The reflection chroma C is less than 6.0,
Wherein the reflection chromaticity before the sebum contamination is adhered is 1.49 and the reflection color difference? E of the reflection chromaticity after adhesion of the sebum contamination with the thickness of 10 nm is less than 7.0.
제 1 항에 있어서,
상기 λ (최소) 에 있어서의 반사율 R (최소) [%] 과 상기 λ (꺾임) 에 있어서의 반사율 R (꺾임) [%] 의 관계가,
R (꺾임) - R (최소) ≤ 0.7 [%] 인, 내지문성 반사 방지 필름.
The method according to claim 1,
The relationship between the reflectance R (minimum) [%] at the above-mentioned? (Minimum) and the reflectance R (elongation) [%] at the above-
R (bending) - R (minimum) ≤ 0.7 [%].
제 2 항에 있어서,
상기 저굴절률층에 방오제가 함유되어 있는, 내지문성 반사 방지 필름.
3. The method of claim 2,
Wherein the low refractive index layer contains an antifouling agent.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 투명 기재 필름의 타방면에 점착층이 형성되어 있는, 내지문성 반사 방지 필름.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein an adhesive layer is formed on the other side of the transparent base film.
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