KR20150110184A - Electroless tin plating solution and method for electroless tin plating using the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an electroless tin plating solution and to an electroless tin plating method using the same and, more specifically, relates to an electroless tin plating solution and an electroless tin plating method using the same, wherein dam damage between a copper plate and ink mounted thereon is mitigated during the electroless tin plating of a printed circuit board. For this purpose, the electroless tin plating solution in accordance to the present invention comprises: a first tin (Sn^2+); an electrolyte; a complexing agent; a surface active agent; and an antioxidant.

Description

무전해 주석 도금액 및 이를 이용하여 무전해 주석 도금하는 방법{ELECTROLESS TIN PLATING SOLUTION AND METHOD FOR ELECTROLESS TIN PLATING USING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electroless tin plating solution and an electroless tin plating solution using the electroless tin plating solution,

본 발명은 무전해 주석 도금액 및 이를 이용하여 무전해 주석 도금하는 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 인쇄회로기판의 무전해 주석 도금시 동판과 실장된 잉크사이의 댐 데미지(Dam damage) 개선 및 방지를 위한 무전해 주석 도금액 및 이를 이용한 무전해 주석 도금방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electroless tin plating solution and a method of electroless tin plating using the electroless tin plating solution. More particularly, the present invention relates to an improvement of dam damage between a copper plate and a mounted ink during electroless tin plating of a printed circuit board, And an electroless tin plating method using the electroless tin plating solution.

일반적으로, 구리 기판과 같은 금속기판상에 IC칩등을 실장하기 위하여 사용되었던 솔더볼은 기판의 고밀도화 및 박판화 추세와 함께 비용절감을 위하여 정밀한 도금으로 대체되고 있다.In general, solder balls, which have been used for mounting IC chips on metal substrates such as copper substrates, have been replaced by precision plating for the purpose of cost reduction as well as trend toward higher densification and thinning of substrates.

기판에 전해도금을 통하여 주석 도금층을 형성하는데, 전해도금법을 이용하는 경우 전류밀도가 기판상에서 불균일함으로 인하여 도금두께가 불균일한 경우가 있다. 그에 따라 전체 제품의 신뢰성 면에서 불리하게 된다. 따라서 전해도금이 아닌 무전해 도금으로 금속제품에 주석을 도금하는 방법이 사용되고 있다. 무전해 도금의 경우 도금성능이 높아서 도금막이 치밀하고 균일하게 되어 전체 제품의 품질을 향상시킬 수 있다. The tin plating layer is formed on the substrate by electrolytic plating. When the electrolytic plating method is used, the thickness of the plating may be uneven due to the non-uniformity of the current density on the substrate. Which is disadvantageous in terms of reliability of the entire product. Therefore, a method of plating tin on a metal product by electroless plating is used instead of electrolytic plating. In case of electroless plating, the plating performance is high, and the plating film becomes dense and uniform, and the quality of the whole product can be improved.

무전해 도금법에는 도금하고자 하는 기판의 금속원자가 용액내의 주석이온에 전자를 전달하여, 금속이온은 용액으로 용출되고 주석이온이 표면에 전착(도금)되는 원리를 이용하는 무전해 치환도금방법이 있다. In the electroless plating method, there is an electroless substitution plating method in which a metal atom of a substrate to be plated transfers electrons to tin ions in a solution, and metal ions are eluted into a solution and tin ions are electrodeposited (plated) on the surface.

치환도금은 다음식(1)에 따른다Substitution plating is in accordance with the following (1)

Sn2+ + 2Cu → Sn + 2Cu+ (1)Sn 2+ + 2Cu? Sn + 2Cu + (1)

하지만 치환도금은 실장된 잉크와 구리층 경계면에서 치환이 활발히 이루어지면서 댐 데미지(Dam damage)가 발생하며 이는 높은 신뢰성을 요구하는 인쇄회로 기판을 제작하는데 있어서 어려움이 있다. 이러한 문제점의 지적으로 치환도금시 댐 데미지(Dam damage)의 방지를 위한 잉크 및 주석도금액 개발이 요청되고 있다.However, substitution plating causes dam damage due to active substitution at the interface between the ink and the copper layer, which makes it difficult to manufacture a printed circuit board requiring high reliability. To address this problem, it is required to develop ink and tin plating solution for preventing dam damage in displacement plating.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 인쇄회로기판의 무전해 주석 도금시 발생하는 댐 데미지(Dam damage) 개선 및 방지를 위한 무전해 주석 도금액 및 이를 이용한 무전해 주석 도금방법을 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide an electroless tin plating solution for improving and preventing dam damage caused by electroless tin plating of a printed circuit board, Tin plating method.

본 발명의 상기 및 다른 목적과 이점은 바람직한 실시예를 설명한 하기의 설명으로부터 보다 분명해질 것이다.These and other objects and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of a preferred embodiment thereof.

상기 목적은 본 발명인 무전해 주석 도금액에 의해서 달성된다.The above object is achieved by an electroless tin plating solution of the present invention.

여기서, 본 발명인 무전해 주석 도금액 내에는 제1주석(Sn2+), 전해질, 착화제, 계면활성제 및 산화방지제를 포함할 수 있고, 상기 착화제는 카르복실산, 티오요소 및 티오요소 유도체를 포함할 수 있다.The electroless tin plating solution of the present invention may contain a first tin (Sn 2+ ), an electrolyte, a complexing agent, a surfactant, and an antioxidant, and the complexing agent may include a carboxylic acid, a thiourea and a thiourea derivative .

상기 무전해 주석 도금액 전체 1L를 기준으로 상기 제1주석(Sn2+)은 함유량이 7~15g/L일 수 있다.The content of the first tin (Sn 2+ ) may be 7 to 15 g / L based on 1 L of the entire electroless tin plating solution.

상기 전해질의 함유량은 40~200g/L일 수 있다.The content of the electrolyte may be 40 to 200 g / L.

상기 착화제는 티오요소 : 티오요소 유도체의 중량비가 5~7 : 3~5 이고 총 함량이 50~800g/L일 수 있다.The complexing agent may have a weight ratio of thiourea: thiourea derivative of 5 to 7: 3 to 5 and a total content of 50 to 800 g / L.

상기 계면활성제의 함유량은 0.01~50g/L일 수 있다.The content of the surfactant may be 0.01 to 50 g / L.

상기 산화방지제의 함유량은 0.01~20g/L일 수 있다.The content of the antioxidant may be 0.01 to 20 g / L.

상기 제1주석(Sn2+)의 공급원은 메탄 술폰산 주석, 황산주석, 설파민산주석 및 피로인산 주석으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다.The source of the first tin (Sn 2+ ) may be at least one selected from the group consisting of tin methanesulfonate, tin sulfate, tin sulfamic acid and tin pyrophosphate.

상기 전해질은 알칸술폰산으로서 메탄술폰산, 에탄술폰산, 1-프로판술폰산, 2-프로판술폰산 및 1-부탄술폰산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다.The electrolyte may be at least one selected from the group consisting of methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 1-propanesulfonic acid, 2-propanesulfonic acid and 1-butanesulfonic acid as the alkanesulfonic acid.

상기 착화제의 카르복실산은 옥시카르복실산, 폴리카르복실산, 모노카르복실산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있고, 보다 바람직하게는 글루콘산, 시트르산, 글루코헵톤산, 글루코노락톤, 글루코헵트락톤, 포름산, 아세트산, 프로피온산, 부티르산, 아스코르브산, 옥살산, 말론산, 말산, 타르타르산, 디글리콜산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다.The carboxylic acid of the complexing agent may be at least one selected from the group consisting of oxycarboxylic acid, polycarboxylic acid, monocarboxylic acid and salts thereof, more preferably gluconic acid, citric acid, glucoheptonic acid, It may be at least one selected from the group consisting of gluconolactone, glucoheptolactone, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, ascorbic acid, oxalic acid, malonic acid, malic acid, tartaric acid, diglycolic acid and salts thereof.

상기 착화제의 티오요소 유도체는 1,3-디메틸티오요소, 트리메틸티오요소, 디에틸티오요소, N,N-디이소프로필티오요소, 알릴티오요소, 아세틸티오요소, 애틸렌티오요소, 1,3-디페닐티오요소 및 이산화티오요소로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다.The thiourea derivative of the complexing agent may be at least one selected from the group consisting of 1,3-dimethyl thiourea, trimethyl thiourea, diethyl thiourea, N, N-diisopropyl thiourea, allyl thiourea, acetyl thiourea, A 3-diphenylthiourea, and a thiourea dioxide.

상기 계면활성제는 비이온계, 음이온계, 양이온계 및 양쪽성 계면활성제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다. 상기 비이온계 계면활성제는 C1 내지 C20 알카인, C1 내지 C20 알카놀, 페놀, 나프톨, 비스페놀류, C1 내지 C25 알킬페놀, 아릴알킬페놀, C1 내지 C25 알킬나프톨, C1 내지 C25 알콕시 인산(염), 소르비탄 에스테르, 폴리알킬렌글리콜 또는 C1 내지 C22 지방족 아미드에 에틸렌옥사이드 또는 프로필렌옥사이드를 2내지 300몰 정도 축합 반응시킨 것으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다. 상기 음이온계 계면활성제는 알킬 황산염, 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르 황산염, 폴리 옥시에틸렌 알킬페닐에테르 황산염 및 알킬벤젠술폰산염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다. 상기 양이온계 계면활성제는 모노 내지 트리알킬아민염, 디메틸디알킬암모늄염 및 트리메틸알킬암모늄염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다. 상기 양쪽성 계면활성제는 카르복시 베타인, 술포베타인, 이미다졸린 베타인 및 아미카르복실산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다. The surfactant may be at least one selected from the group consisting of nonionic, anionic, cationic and amphoteric surfactants. The nonionic surfactant is selected from the group consisting of C 1 to C 20 alkane, C 1 to C 20 alkanol, phenol, naphthol, bisphenols, C 1 to C 25 alkylphenol, arylalkylphenol, C 1 to C 25 alkylnaphthol, At least one selected from the group consisting of C 2 to C 25 alkoxyphosphoric acid (salts), sorbitan esters, polyalkylene glycols, or C 1 to C 22 aliphatic amide condensed with about 2 to 300 moles of ethylene oxide or propylene oxide Lt; / RTI > The anionic surfactant may be at least one selected from the group consisting of alkyl sulfates, polyoxyethylene alkyl ether sulfates, polyoxyethylene alkylphenyl ether sulfates, and alkylbenzenesulfonates. The cationic surfactant may be at least one selected from the group consisting of mono to trialkylamine salts, dimethyl dialkylammonium salts and trimethylalkylammonium salts. The amphoteric surfactant may be at least one selected from the group consisting of carboxybetaine, sulfobetaine, imidazolinebetaine and amicarboxylic acid.

상기 산화방지제는 히드로퀴논, 카테콜, 레조르신, 프로로글루신, 히드라진, 차아인산, 아스코르브산, 크레졸 술폰산, 페놀술폰산, 카테콜 술폰산, 히드로퀴논 술폰산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나일 수 있다.Wherein the antioxidant is at least one compound selected from the group consisting of hydroquinone, catechol, resorcin, prorolysine, hydrazine, hypophosphorous acid, ascorbic acid, cresol sulfonic acid, phenolsulfonic acid, catechol sulfonic acid, hydroquinone sulfonic acid, .

본 발명의 다른 측면에 따르면, 상기 무전해 주석 도금액을 이용하여 무전해 주석 도금하는 단계를 포함하는 무전해 주석 도금방법이 제공된다.According to another aspect of the present invention, there is provided an electroless tin plating method including electroless tin plating using the electroless tin plating solution.

본 발명에 따르면, 인쇄회로기판을 무전해 도금시 발생하는 댐 데미지(Dam damage)를 개선 및 방지할 수 있는 효과를 가진다. 따라서 인쇄회로기판의 높은 신뢰성을 확보할 수 있다.According to the present invention, dam damage caused by electroless plating of a printed circuit board can be improved and prevented. Therefore, high reliability of the printed circuit board can be ensured.

다만, 본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the effects of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1은 인쇄회로기판의 무전해 치환 도금시 발생하는 댐 데미지(Dam damage) 발생 위치를 나타낸 도면이다.
도 2는 실시예 6의 댐 데미지(Dam damage)가 발생하지 않았음을 나타내는 도면이다.
도 3은 비교예 1의 댐 데미지(Dam damage)가 발생하였음을 나타내는 도면이다.
도 4는 실시예 및 비교예에 따른 도금두께를 도시한 그래프이다. Thickness cut line은 도금업체에서 요구하는 최소 두께로 0.5㎛이다.
FIG. 1 is a view showing a dam damage occurrence position occurring during electroless replacement plating of a printed circuit board. FIG.
Fig. 2 is a diagram showing that dam damage of the sixth embodiment does not occur. Fig.
Fig. 3 is a diagram showing dam damage occurring in Comparative Example 1; Fig.
4 is a graph showing plating thicknesses according to Examples and Comparative Examples. Thickness cut line is 0.5 μm minimum thickness required by plating company.

이하, 본 발명의 실시예와 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위해 예시적으로 제시한 것일 뿐, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 의해 제한되지 않는다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가지는 자에 있어서 자명할 것이다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments and drawings of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that these embodiments are provided by way of illustration only for the purpose of more particularly illustrating the present invention and that the scope of the present invention is not limited by these embodiments .

달리 정의하지 않는 한, 본 명세서에서 사용되는 모든 기술적 및 과학적 용어는 본 발명이 속하는 기술 분야의 숙련자에 의해 통상적으로 이해되는 바와 동일한 의미를 갖는다. 상충되는 경우, 정의를 포함하는 본 명세서가 우선할 것이다.Unless otherwise defined, all technical and scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. In case of conflict, the present specification, including definitions, will control.

본 명세서에서 설명되는 것과 유사하거나 동등한 방법 및 재료가 본 발명의 실시 또는 시험에 사용될 수 있지만, 적합한 방법 및 재료가 본 명세서에 기재된다.
Although methods and materials similar or equivalent to those described herein can be used in the practice or testing of the present invention, suitable methods and materials are described herein.

본 발명인 무전해 주석 도금액 내에는 제1주석(Sn2+), 전해질, 착화제, 계면활성제 및 산화방지제를 포함한다. The electroless tin plating solution of the present invention includes first tin (Sn 2+ ), an electrolyte, a complexing agent, a surfactant, and an antioxidant.

본 발명에 있어서, 상기 제1주석(Sn2+) 공급원으로서 물에 대하여 가용성인 제1주석염이 사용되고, 구체예로서 메탄술폰산 주석, 황산주석, 설파민산주석 및 피로인산 주석으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것이 바람직하다. 또한, 제1주석(Sn2+)의 양이 7g/L~15g/L로 함유되는 것이 바람직하다. 제1주석(Sn2+)의 양이 7g/L 미만이면 도금속도가 낮아져 공업적으로 요구되는 생산성을 만족하지 않게 될 뿐만 아니라 주석 도금층의 평활성, 막후 균일성이 손상된다. 또한 제1주석(Sn2+)의 양이 15g/L를 넘을 경우 도금액내의 주석량이 많아지므로, 주석산화물의 침전 생성을 피할 수 없게 된다. 공업적으로 생산하기 위해서는, 제1주석염을 사용할 때 도금 조건에 따라 일정 수준의 변동이 있는 것이 통상이고, 도금 조건으로 관리할 수 없는 불가피한 변동을 고려하는 것이 보다 안정된 품질의 주석 도금층을 형성할 수 있기 때문이다.
In the present invention, a first tin salt soluble in water is used as the first tin (Sn 2+ ) source, and as a specific example, a tin salt selected from the group consisting of tin methanesulfonate, tin sulfate, tin sulfamate and tin pyrophosphate Is preferable. The amount of the first tin (Sn 2+ ) is preferably 7 g / L to 15 g / L. If the amount of the first tin (Sn 2+ ) is less than 7 g / L, the plating rate is lowered and the industrially required productivity is not satisfied, as well as the smoothness and film uniformity of the tin plating layer are impaired. When the amount of the first tin (Sn 2+ ) is more than 15 g / L, the amount of tin in the plating solution becomes large, so that precipitation of tin oxide can not be avoided. In order to produce industrially, it is usual that there is a certain level of fluctuation depending on the plating conditions when the first tin salt is used, and considering the unavoidable fluctuation that can not be managed by the plating condition forms a tin plating layer of more stable quality It is because.

전해질로 사용되는 알칸술폰산은 메탄술폰산, 에탄술폰산, 1-프로판술폰산, 2-프로판술폰산, 1-부탄술폰산 또는 펜탄술폰산 등을 들 수 있다. 상기 알칸술폰산 중에서 1종 혹은 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있으며, 이중에서도 메탄술폰산이 바람직하다. 상기 알칸술폰산의 첨가량은 40~200g/L로 함유되는 것이 바람직하다. 알칸술폰산의 첨가량이 40g/L 미만이거나, 200g/L 초과인 경우 무전해 주석 도금과정에서 도금 두께가 얇을 뿐만 아니라 도금 두께가 불균일하게 형성되는 현상이 발생하기 때문이다.
Examples of the alkanesulfonic acid used as the electrolyte include methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 1-propanesulfonic acid, 2-propanesulfonic acid, 1-butanesulfonic acid and pentanesulfonic acid. These alkanesulfonic acids may be used alone or in combination of two or more. Among them, methanesulfonic acid is preferable. The amount of the alkanesulfonic acid added is preferably 40 to 200 g / L. When the added amount of the alkanesulfonic acid is less than 40 g / L or more than 200 g / L, not only the thickness of the electroless tin plating is thin but also the thickness of the plating is unevenly formed.

착화제는 주착화제와 보조착화제로 구분할 수 있다. 주착화제는 단독으로 착화제의 역할을 할 수 있으나, 보조착화제는 단독으로 착화제의 역할을 하지는 못한다. 주착화제의 종류로 티오요소, 티오요소 유도체가 있고, 구체적으로 티오요소 유도체는 1,3-디메틸티오요소, 트리메틸티오요소, 디에틸티오요소, N,N-디이소프로필티오요소, 알릴티오요소, 아세틸티오요소, 에틸렌티오요소, 1,3-디페닐티오요소, 이산화티오요소 등이 있다. 보조착화제는 카르복실산으로서 옥시카르복실산, 폴리카르복실산, 모노카르복실산 또는 이들의 염을 사용할 수 있고, 구체예로서는 글루콘산, 시트르산, 글루코헵톤산, 글루코노락톤, 글루코헵트락톤, 포름산, 아세트산, 프로피온산, 부티르산, 아스코르브산, 옥살산, 말론산, 말산, 타르타르산, 디글리콜산 또는 이들의 염 등이 있다. The complexing agent can be classified into a deposition agent and a secondary complexing agent. The adsorbing agent can serve as a complexing agent alone, but the auxiliary complexing agent can not serve as a complexing agent on its own. Examples of the covalent agent include thio urea and thiourea derivatives. Specifically, thiourea derivatives include 1,3-dimethyl thiourea, trimethyl thiourea, diethyl thiourea, N, N-diisopropyl thiourea, , Acetyl thiourea, ethylene thiourea, 1,3-diphenyl thiourea, thiourea dioxide and the like. The auxiliary complexing agent may be an oxycarboxylic acid, a polycarboxylic acid, a monocarboxylic acid or a salt thereof as a carboxylic acid. Specific examples thereof include gluconic acid, citric acid, glucoheptonic acid, gluconolactone, glucoheptolactone, Formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, ascorbic acid, oxalic acid, malonic acid, malic acid, tartaric acid, diglycolic acid or salts thereof.

착화제로 주착화제 단독 또는 보조착화제와 혼합하여 사용할 수 있으나, 주착화제를 단독으로 사용하는 경우 무전해 주석 도금시 댐 데미지(Dam damage)가 발생할 수 있다. 단, 주착화제로 티오요소 및 티오요소 유도체, 보조착화제로 카르복실산을 혼합하여 아래의 함량으로 사용하는 경우 댐 데미지(Dam damage)의 개선효과를 얻을 수 있다. As the complexing agent, it can be used alone or in combination with the auxiliary complexing agent. However, damaging may occur when the electrolessly tin plating is performed by using the deposition agent alone. However, when the thiourea and the thiourea derivative are mixed with the carboxylic acid as the auxiliary complexing agent and the following contents are used, the dam damage can be improved.

상기 착화제의 총 함량은 50~800g/L이고, 티오요소와 티오요소 유도체만의 중량비를 비교하면 티오요소 : 티오요소유도체가 5~7 : 3~5 로 혼합되는 것이 바람직하다. 총 함량 또는 티오요소 및 티오요소유도체의 중량비 범위를 벗어나는 경우 무전해 주석 도금시 댐데미지(Dam damage)가 발생할 수 있다.
The total content of the complexing agent is 50 to 800 g / L, and when the weight ratio of the thiourea and the thiourea derivative alone is compared, it is preferable that the thiourea: thiourea derivative is mixed at 5 to 7: 3 to 5. If the total content or the weight ratio of thiourea and thiourea derivative is out of the range, dam damage may occur during electroless tin plating.

계면활성제는 도금 피막의 외관, 치밀성, 평활성, 밀착성 등의 개선에 기여하는 것이며, 통상의 비이온계, 음이온계, 양이온계 또는 양쪽성 등의 각종 계면활성제를 사용할 수 있다. 비이온계 계면활성제로서는 C1 내지 C20 알카인, C1 내지 C20 알카놀, 페놀, 나프톨, 비스페놀류, C1 내지 C25 알킬페놀, 아릴알킬페놀, C1 내지 C25 알킬나프톨, C1 내지 C25 알콕시 인산(염), 소르비탄 에스테르, 폴리알킬렌글리콜 또는 C1 내지 C22 지방족 아미드 등에 에틸렌옥사이드 또는 프로필렌옥사이드를 2내지 300몰 정도 축합 반응시킨 것 등을 들 수 있다. 음이온계 계면활성제로서는 알킬 황산염, 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르 황산염, 폴리 옥시에틸렌 알킬페닐에테르 황산염 또는 알킬벤젠술폰산염 등을 들 수 있다. 양이온계 계면활성제로는 모노 내지 트리알킬아민염, 디메틸디알킬암모늄염 또는 트리메틸알킬암모늄염 등을 들 수 있다. 양쪽성 계면활성제로는 카르복시 베타인, 술포베타인, 이미다졸린 베타인 또는 아미카르복실산 등을 들 수 있다. 계면활성제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 할 수 있다. 주석 도금액 중의 계면활성제의 농도에 대해서는 특별히 한정적이지는 않지만, 통상 0.01g/L~50g/L 정도로 하는 것이 바람직하다.
The surfactant contributes to the improvement of appearance, denseness, smoothness, adhesion, etc. of the plated film, and various surfactants such as usual nonionic, anionic, cationic or amphoteric surfactants can be used. Examples of the nonionic surfactant include C 1 to C 20 alkane, C 1 to C 20 alkanol, phenol, naphthol, bisphenols, C 1 to C 25 alkylphenol, arylalkylphenol, C 1 to C 25 alkylnaphthol, C 1 to C 25 alkoxyphosphoric acid (salt), sorbitan ester, polyalkylene glycol or C 1 to C 22 aliphatic amide, and condensation reaction of about 2 to 300 moles of ethylene oxide or propylene oxide. Examples of the anionic surfactant include alkylsulfates, polyoxyethylene alkyl ether sulfates, polyoxyethylene alkylphenyl ether sulfates, alkylbenzenesulfonates, and the like. Examples of the cationic surfactant include mono to trialkylamine salts, dimethyl dialkylammonium salts, and trimethylalkylammonium salts. Examples of the amphoteric surfactant include carboxybetaine, sulfobetaine, imidazolinebetaine or amicarboxylic acid. The surfactants may be used alone or in combination of two or more. The concentration of the surfactant in the tin plating solution is not particularly limited, but is preferably about 0.01 g / L to 50 g / L.

산화 방지제는 도금액 중의 Sn2+의 산화방지를 목적으로 하는 것이며, 히드로퀴논, 카테콜, 레조르신, 프로로글루신, 히드라진, 차아인산, 아스코르브산, 크레졸 술폰산, 페놀술폰산, 카테콜 술폰산, 히드로퀴논 술폰산 또는 이들의 염 등을 사용할 수 있다. 산화방지제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다. 주석도금액 중의 산화방지제의 농도에 대해서는 특별히 한정적이지는 않지만, 통상 0.01g/L~20g/L 정도로 하는 것이 바람직하다.
The antioxidant is for the purpose of preventing the oxidation of Sn 2+ in the plating solution, and includes an antioxidant such as hydroquinone, catechol, resorcin, proglycin, hydrazine, hypophosphorous acid, ascorbic acid, cresol sulfonic acid, phenolsulfonic acid, catechol sulfonic acid, Or a salt thereof may be used. The antioxidant may be used alone or in combination of two or more. The concentration of the antioxidant in the tin plating solution is not particularly limited, but is preferably about 0.01 g / L to 20 g / L.

본 발명의 다른 측면으로 상기의 무전해 주석 도금액을 이용하여 무전해 주석 도금 하는 단계를 포함하는 무전해 주석 도금방법에 있어서 도금 온도는 58~60℃가 적당하다. 58℃ 아래에서는 도금의 효율이 떨어지고, 60℃를 넘어서는 경우에는 피도금체에 손상이 발생하기 때문이다.
According to another aspect of the present invention, in the electroless tin plating method including the step of electroless tin plating using the electroless tin plating solution, the plating temperature is suitably from 58 to 60 ° C. The plating efficiency is lowered below 58 ° C, and when the temperature exceeds 60 ° C, damage is caused to the plated body.

이하 실시예와 비교예를 통하여 본 발명의 구성 및 그에 따른 효과를 보다 상세히 설명하고자 한다. 그러나, 본 실시예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것이며, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.
The composition and effect of the present invention will be described in more detail with reference to the following examples and comparative examples. However, this embodiment is intended to explain the present invention more specifically, and the scope of the present invention is not limited to these embodiments.

[실시예][Example]

하기 표 1의 성분 및 함량으로 실시예 1 내지 8의 무전해 주석 도금액을 제조하였다.Electroless tin plating solutions of Examples 1 to 8 were prepared with the components and contents shown in Table 1 below.

[표 1] 무전해 주석 도금액의 성분 및 함량 [Table 1] Components and content of electroless tin plating solution

Figure pat00001
Figure pat00001

[비교예][Comparative Example]

하기 표 2의 성분 및 함량으로 비교예 1 및 2의 무전해 주석 도금액을 제조하였다.Electroless tin plating solutions of Comparative Examples 1 and 2 were prepared with the components and contents shown in Table 2 below.

[표 2] 무전해 주석 도금액의 성분 및 함량 [Table 2] Components and content of electroless tin plating solution

Figure pat00002
Figure pat00002

[실험예][Experimental Example]

상기 실시예 1~8 및 비교예 1~2를 아래의 조건에서 인쇄회로기판에 무전해 주석 도금을 실시하고, 도금두께, 표면조직 및 댐 데미지(Dam damage) 발생여부에 대해 측정 및 관찰하여 표3에 나타내었다. 댐 데미지(Dam damage) 발생여부는 무전해 주석 도금 후 10개의 포인트에서 확인하였다.The above Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2 were subjected to electroless tin plating on a printed circuit board under the following conditions to measure and observe the occurrence of plating thickness, surface texture, and dam damage, Respectively. The occurrence of dam damage was confirmed at 10 points after electroless tin plating.

도금 조건 : 58℃ / 5분Plating condition: 58 占 폚 / 5 minutes

PSR 잉크 : PSB-4000MHF(다이요잉크)PSR Ink: PSB-4000MHF (Taiyo Ink)

도금두께 측정 : 도금두께 측정기(Roentgenanlytik MaXXi 5)Plating thickness measurement: Plating thickness meter (Roentgenanlytik MaXXi 5)

표면조직 및 댐데미지(Dam damage) 발생여부 확인 : 광학현미경(Nikon SMZ800)Check for surface damage and dam damage: Optical microscope (Nikon SMZ800)

[표 3] 착화제 함량 변화에 따른 실험결과 [Table 3] Experimental results according to changes in content of complexing agent

Figure pat00003
Figure pat00003

이 결과로부터 착화제의 함량 변화에 따른 댐 데미지(Dam damage)의 개선 및 방지효과를 관찰할 수 있었고, 이는 도금 두께와도 밀접한 관계가 있음을 확인할 수 있었으며, 도 4에서 실시예 1~8 및 비교예 1~2의 무전해 주석 도금액으로 인쇄회로 기판에 대해 무전해 주석 도금하여 측정한 도금 두께를 나타내었다. From these results, it was observed that dam damage was improved and prevented according to the content of the complexing agent, and this was closely related to the thickness of the plating. Examples 1 to 8 and FIG. The plating thickness measured by electroless tin plating on the printed circuit board with the electroless tin plating solution of Comparative Examples 1 and 2 is shown.

개선효과라고 하는 것은 PSR 잉크 경계면에서 댐 데미지(Dam damage)가 발생하지 않는 경우를 의미하는 것이고, 이는 도 2와 도 3의 비교를 통해서 댐 데미지(Dam damage) 발생유무의 차이를 알 수 있다. 실시예 6을 실험한 도 2의 경우 PSR 잉크 경계면에서 변색이 일어나지 않아 댐 데미지(Dam damage)가 발생하지 않은 것이고, 비교예 1을 실험한 도 3의 경우 PSR 잉크 경계면에서 변색이 일어났는 바, 이는 댐 데미지(Dam damage)가 발생했음을 의미한다. 개선효과는 그 정도에 따라 좋음(○), 중간(△), 나쁨(ⅹ)으로 구분하였는데, 무전해 주석 도금 후 10개의 포인트에서 댐 데미지(Dam damage) 발생 여부 관찰한 결과 10개의 포인트에서 모두 댐 데미지(Dam damage)가 발생하지 않은 경우 좋음(○)으로 평가하고, 10개의 포인트 중에서 댐 데미지(Dam damage)가 4~6개가 발생하는 경우 중간(△)으로 평가했으며, 10개의 포인트 모두에서 댐 데미지(Dam damage)가 발생한 경우 나쁨(ⅹ)으로 평가하였다.The improvement effect means a case in which dam damage does not occur at the PSR ink interface, and it can be seen from the comparison between FIG. 2 and FIG. 3 whether there is dam damage occurring or not. In the case of FIG. 2 in which Example 6 was tested, no damages occurred due to no discoloration at the PSR ink interface. In the case of FIG. 3 in which Comparative Example 1 was tested, discoloration occurred at the PSR ink interface, This means dam damage has occurred. The improvement effect was classified into good (○), middle (△) and poor (x) depending on the degree of improvement. Dam damage was observed at 10 points after electroless tin plating. It was evaluated as good when no dam damage occurred, and it was evaluated as middle (Δ) when 4 to 6 dam damage occurred among 10 points. In all 10 points, Dam damage was evaluated as poor (x).

본 명세서에서는 본 발명자가 수행한 다양한 실시예 가운데 몇 개의 예만을 들어 설명하는 것이나 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고, 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.
It is to be understood that the present invention is not limited to the above-described embodiments, but various modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope of the present invention.

Claims (10)

제 1주석(Sn2+), 전해질, 착화제, 계면활성제 및 산화방지제를 포함하는 무전해 주석 도금액으로서,
상기 착화제는 카르복실산, 티오요소 및 티오요소 유도체를 포함하는 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
1. An electroless tin plating solution comprising a first tin (Sn 2+ ), an electrolyte, a complexing agent, a surfactant and an antioxidant,
Wherein the complexing agent comprises a carboxylic acid, thiourea and thiourea derivative
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 무전해 주석 도금액 전체 1L를 기준으로 상기 제 1주석(Sn2+) 7~15g/L, 상기 전해질 40~200g/L, 상기 착화제는 티오요소 : 티오요소 유도체의 중량비가 5~7 : 3~5 이고 총 함량이 50~800g/L, 상기 계면활성제 0.01~50g/L 및 상기 산화방지제 0.01~20g/L를 포함하는 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
The electroless the stannous (Sn 2+) 7 ~ 15g / L, the electrolyte 40 ~ 200g / L, the complexing agent is thiourea, based on the tin plating the entire 1L: the weight ratio of the thiourea derivative 5-7: 3 to 5 and a total content of 50 to 800 g / L, 0.01 to 50 g / L of said surfactant and 0.01 to 20 g / L of said antioxidant
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 제 1주석(Sn2+)의 공급원은 메탄 술폰산 주석, 황산주석, 설파민산주석 및 피로인산 주석으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
Wherein the source of the first tin (Sn 2+ ) is at least one selected from the group consisting of tin methanesulfonate, tin sulfate, tin sulfamate and tin pyrophosphate.
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 전해질은 알칸술폰산으로서 메탄술폰산, 에탄술폰산, 1-프로판술폰산, 2-프로판술폰산 및 1-부탄술폰산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
Wherein the electrolyte is at least one selected from the group consisting of methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 1-propanesulfonic acid, 2-propanesulfonic acid and 1-butanesulfonic acid as the alkanesulfonic acid
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 착화제의 카르복실산은 옥시카르복실산, 폴리카르복실산, 모노카르복실산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하고,
상기 착화제의 티오요소 유도체는 1,3-디메틸티오요소, 트리메틸티오요소, 디에틸티오요소, N,N-디이소프로필티오요소, 알릴티오요소, 아세틸티오요소, 애틸렌티오요소, 1,3-디페닐티오요소 및 이산화티오요소로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
The carboxylic acid of the complexing agent is at least one selected from the group consisting of oxycarboxylic acid, polycarboxylic acid, monocarboxylic acid, and salts thereof,
The thiourea derivative of the complexing agent may be at least one selected from the group consisting of 1,3-dimethyl thiourea, trimethyl thiourea, diethyl thiourea, N, N-diisopropyl thiourea, allyl thiourea, acetyl thiourea, 3-diphenyl thiourea, and thiourea dioxide.
Electroless tin plating solution.
제 5항에 있어서,
상기 착화제의 카르복실산은 글루콘산, 시트르산, 글루코헵톤산, 글루코노락톤, 글루코헵트락톤, 포름산, 아세트산, 프로피온산, 부티르산, 아스코르브산, 옥살산, 말론산, 말산, 타르타르산, 디글리콜산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
6. The method of claim 5,
The carboxylic acid of the complexing agent is selected from the group consisting of gluconic acid, citric acid, glucoheptonic acid, gluconolactone, glucoheptolactone, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, ascorbic acid, oxalic acid, malonic acid, malic acid, tartaric acid, diglycolic acid, And a salt thereof.
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 계면활성제는 비이온계, 음이온계, 양이온계 및 양쪽성 계면활성제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
Wherein the surfactant is at least one selected from the group consisting of nonionic, anionic, cationic and amphoteric surfactants
Electroless tin plating solution.
제 7항에 있어서,
상기 비이온계 계면활성제는 C1 내지 C20 알카인, C1 내지 C20 알카놀, 페놀, 나프톨, 비스페놀류, C1 내지 C25 알킬페놀, 아릴알킬페놀, C1 내지 C25 알킬나프톨, C1 내지 C25 알콕시 인산(염), 소르비탄 에스테르, 폴리알킬렌글리콜 또는 C1 내지 C22 지방족 아미드에 에틸렌옥사이드 또는 프로필렌옥사이드를 2내지 300몰 정도 축합 반응시킨 것으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하고,
상기 음이온계 계면활성제는 알킬 황산염, 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르 황산염, 폴리 옥시에틸렌 알킬페닐에테르 황산염 및 알킬벤젠술폰산염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하고,
상기 양이온계 계면활성제는 모노 내지 트리알킬아민염, 디메틸디알킬암모늄염 및 트리메틸알킬암모늄염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하고,
상기 양쪽성 계면활성제는 카르복시 베타인, 술포베타인, 이미다졸린 베타인 및 아미카르복실산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
8. The method of claim 7,
The nonionic surfactant is selected from the group consisting of C 1 to C 20 alkane, C 1 to C 20 alkanol, phenol, naphthol, bisphenols, C 1 to C 25 alkylphenol, arylalkylphenol, C 1 to C 25 alkylnaphthol, At least one selected from the group consisting of C 2 to C 25 alkoxyphosphoric acid (salts), sorbitan esters, polyalkylene glycols, or C 1 to C 22 aliphatic amide condensed with about 2 to 300 moles of ethylene oxide or propylene oxide .
Wherein the anionic surfactant is at least one selected from the group consisting of alkyl sulfates, polyoxyethylene alkyl ether sulfates, polyoxyethylene alkylphenyl ether sulfates and alkylbenzenesulfonates,
Wherein the cationic surfactant is at least one selected from the group consisting of mono to trialkylamine salts, dimethyl dialkyl ammonium salts and trimethyl alkyl ammonium salts,
Wherein the amphoteric surfactant is at least one selected from the group consisting of carboxybetaine, sulfobetaine, imidazoline betaine and amicarboxylic acid
Electroless tin plating solution.
제 1항에 있어서,
상기 산화방지제는 히드로퀴논, 카테콜, 레조르신, 프로로글루신, 히드라진, 차아인산, 아스코르브산, 크레졸 술폰산, 페놀술폰산, 카테콜 술폰산, 히드로퀴논 술폰산 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 것을 특징으로 하는
무전해 주석 도금액.
The method according to claim 1,
Wherein the antioxidant is at least one selected from the group consisting of hydroquinone, catechol, resorcin, proroglucine, hydrazine, hypophosphorous acid, ascorbic acid, cresol sulfonic acid, phenolsulfonic acid, catechol sulfonic acid, hydroquinone sulfonic acid, Characterized by
Electroless tin plating solution.
제 1항 내지 제 9항 중 어느 한 항에 따른 무전해 주석 도금액을 이용하여 무전해 주석 도금하는 단계를 포함하는
무전해 주석 도금방법.
10. A method for manufacturing a tin plating bath, comprising the steps of electroless tin plating using the electroless tin plating solution according to any one of claims 1 to 9
Electroless tin plating method.
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