KR20150106579A - Testing system of the device with free-form surface or 3 dimensional form and operating method for the testing system - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 검사시스템에 관한 것으로, 특히, 자유곡면 또는 3차원 형상을 가지는 검사대상물에 대해 적응적으로 사용될 수 있도록 각각 복수의 카메라가 직렬로 장착된 복수의 프레임을 2차원으로 배열한 다중 이미지획득모듈을 사용하는 검사시스템 및 상기 검사시스템을 운영하는 운영방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an inspection system, and more particularly, to an inspection system that can be used adaptively to an object to be inspected having a free-form surface or a three-dimensional shape, comprising: a plurality of frames, Module and an operating method for operating the inspection system.
자유곡면 또는 3차원 형상을 가지는 제품의 생산 자동화를 위해서, 카메라, 렌즈 및 조명 등을 구비하는 광학계가 도입된 검사 자동화 시스템(이하 검사시스템)이 사용된다. 여기서 자유곡면은 간단한 수식으로 표현하기가 곤란하고 일정한 연속성의 조건을 만족하도록 접속한 곡면분의 모임으로서 표현되는 곡면을 의미한다. In order to automate the production of a product having a free-form surface or a three-dimensional shape, an inspection automation system (hereinafter referred to as an inspection system) into which an optical system including a camera, a lens and an illumination is introduced is used. Here, a free-form surface is a surface that is expressed as a group of connected surfaces that are difficult to express with a simple expression and meet a condition of constant continuity.
검사시스템에 사용되는 광학계는 일반적으로 선정된 사양(Specification)에 의해 특정한 이미지획득영역(FOV; Field Of View)과 촛점깊이(DOF; Depth Of Field)를 가지고 있다. The optical system used in the inspection system generally has a specific image acquisition area (FOV) and a depth of focus (DOF) according to a predetermined specification.
도 1은 광학계의 이미지획득영역 및 촛점깊이에 대해 설명한다. Figure 1 illustrates the image acquisition area and focal depth of the optical system.
도 1을 참조하면, 카메라(110)가 촬영할 수 있는 제한된 영역 즉 광학계의 이미지획득영역(FOV)과 촛점깊이(DOF)의 의미를 알 수 있다. 도 1(a) 및 도 (b)의 차이는 검사 대상물(120) 표면의 곡률차이에 따른 것이다. Referring to FIG. 1, the meaning of the limited area that can be captured by the
광학계와 검사 대상물(120) 사이의 거리(WD)는 광학계에 포함되는 카메라(110)가 촬영할 수 있는 제한된 영역과 렌즈의 포커스가 확보되는 심도 이내에서 결정되며, 실제의 검사를 수행하기 위해서는 광학계가 고정되거나 검사대상물이 고정되어야 하며, 검사대상물 전체 또는 검사대상물의 복수의 영역을 검사하기 위해서는 광학계 또는 검사대상물을 연속적으로 또는 불연속적으로 이동하면서 검사 대상물의 이미지를 획득하고 검사한다. The distance WD between the optical system and the object to be inspected 120 is determined within a limited area that can be captured by the
일반적인 제품의 생산라인은 다양한 형상의 단일 제품 또는 여러 종류의 제품을 동시에 생산하며, 검사시스템의 제한된 검사 조건, 즉 검사동작 자유도의 한계 및 검사대상물의 모델 변경에 대한 유연성의 한계로 인해, 육안으로 검사하는 사람을 검사 자동화시스템 즉 검사시스템으로 1:1로 대체하는 것은 거의 불가능하다. The production line of a general product simultaneously produces a single product of various shapes or a plurality of kinds of products at the same time. Due to the limited inspection condition of the inspection system, that is, the limit of the degree of freedom of inspection operation and the limit of the flexibility of changing the model of the object to be inspected, It is almost impossible to replace the inspector with a 1: 1 inspection automation system or inspection system.
특히, 자유곡면 또는 3차원 형상을 가지는 제품을 검사하는 경우, 사람의 눈이 실시간으로 포커싱할 수 있는 능력에 비해 검사시스템에 포함된 광학계의 이미지 포커싱 능력이 열악하기 때문에, 다양한 위치에서 촬영한 다수의 이미지를 획득하여야 하므로 검사에 소요되는 시간이 증가하게 되어, 자동화를 도입하는데 커다란 부담이 된다. Particularly, when inspecting a product having a free-form surface or a three-dimensional shape, since the image focusing ability of the optical system included in the inspection system is poor compared to the ability of the human eye to focus in real time, The time required for the inspection increases, which is a great burden to introduce automation.
검사시스템에 사용되는 산업용 광학계는 특수한 사용 목적에 의해 디지털 카메라와 같은 대중적인 카메라에 비해 부피나 중량이 큰 카메라를 사용하기 때문에 검사시스템을 설치하는데 필요한 공간과 이들이 동작하는데 필요한 공간을 확보하여야 하므로, 공장 설비 레이아웃을 최소로 하는데 커다란 제약이 된다. Industrial optical systems used in the inspection system require a bulky or heavy camera in comparison with popular cameras such as digital cameras due to their specific use purpose, This is a large limitation in minimizing the plant layout.
일반적으로 검사대상물 전체를 검사하기 위해서는 아래의 2가지 방식이 주로 사용된다. In general, the following two methods are mainly used for inspecting the entire inspection object.
첫 째, 검사대상물 전체 영역에 다수의 카메라를 고정하여 촬영하는 방식이다. 이 방식은 검사시간이 짧다는 장점이 있으나 검사대상물이 달라 질 때마다 유연하게 대응할 수 없다는 단점이 있다. First, a plurality of cameras are fixedly mounted on the entire area of the object to be inspected. This method is advantageous in that the inspection time is short, but there is a disadvantage in that it can not flexibly cope with each inspection object.
둘 째, 검사대상물의 변경에 유연하게 대응할 수 있도록, 검사장비에 로봇 또는 스테이지와 같은 구동부를 구비하여 다양한 위치에서 촬영을 할 수 있도록 하는 방식이다. 이 방식은 검사대상물의 변경에 유연하게 대응할 수는 있지만 검사시간이 많이 소요된다는 단점이 있다. Secondly, a driving unit such as a robot or a stage is provided in the inspection equipment so that the inspection equipment can flexibly cope with the change of the inspection object, thereby enabling the photographing at various positions. This method has a disadvantage in that it can take a long time for inspection although it can flexibly cope with the change of the inspection object.
상술한 바와 같이, 검사 대상물이 자유곡면 또는 3차원 형상을 가지는 제품의 검사를 하고자 하는 경우, 검사의 자동화를 위해서는 상술한 바와 같은 유연한 검사 자유도를 가지면서도 빠르게 검사할 수 있는 검사시스템이 요구된다.
As described above, when an object to be inspected is intended to be inspected for a product having a free-form surface or a three-dimensional shape, an inspection system capable of quickly inspecting the object while having flexible inspection freedom as described above is required for automating inspection.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는, 각각 복수의 카메라가 직렬로 장착된 복수의 프레임을 2차원으로 배열한 다중 이미지획득모듈을 구비하여, 자유곡면 또는 3차원 형상을 가지는 검사대상물의 검사를 짧은 검사시간 내에 유연한 검사 자유도로 검사할 수 있는 검사시스템을 제공하는 데 있다.
An object of the present invention is to provide a multiple image acquisition module in which a plurality of frames each having a plurality of cameras mounted in series are arranged two-dimensionally, so that inspection of a test object having a free-form surface or a three- And to provide an inspection system capable of inspecting flexible inspection freely within the inspection time.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는, 상기 검사시스템의 운영방법을 제공하는 것에 있다.
It is another object of the present invention to provide a method of operating the inspection system.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 검사시스템은, 다중이미지획득모듈, 구동부, 신호처리부 및 프로세서를 포함한다. 상기 다중이미지획득모듈은 복수의 카메라가 2차원으로 배열된 적어도 하나의 패널 또는 복수의 카메라가 직렬로 장착된 복수의 프레임을 2차원으로 배열한다. 상기 구동부는 위치제어신호에 응답하여, 상기 패널 또는 상기 복수의 프레임들 각각의 곡률을 조절한다. 상기 신호처리부는 상기 복수의 카메라로부터 촬영된 영상신호를 수신하여 처리한다. 상기 프로세서는 상기 위치제어신호를 생성하며, 상기 신호처리부의 동작을 제어한다.
According to an aspect of the present invention, there is provided an inspection system including a multi-image acquisition module, a driver, a signal processor, and a processor. The multiple image acquisition module arranges a plurality of frames in two dimensions, in which at least one panel in which a plurality of cameras are arranged in two dimensions or a plurality of cameras in which a plurality of cameras are mounted in series. The driving unit controls the curvature of each of the plurality of frames or the panel in response to the position control signal. The signal processing unit receives and processes a video signal photographed by the plurality of cameras. The processor generates the position control signal and controls the operation of the signal processing unit.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 검사시스템 운영방법은, 도 2 및 청구항 제1항에 기재된 검사시스템을 운영하는 방법으로, 검사조건 설정단계, 기초이미지획득단계, 최종이미지지획득단계 및 검사단계를 수행한다. 상기 검사조건 설정단계에서는 상기 프로세서가 수행하며 상기 검사 대상물의 곡면특성에 따라 상기 패널 또는 복수의 프레임의 곡률을 사전 설정한다. 상기 기초이미지획득단계에서는 상기 다중이미지획득모듈에 장착된 카메라를 이용하여 상기 시험 대상물을 촬영하여 기초이미지를 획득한다. 상기 최종이미지지획득단계에서는 상기 다중이미지획득모듈이 상기 기초이미지를 상기 신호처리부에 전송하고, 상기 신호처리부는 상기 복수의 기초이미지에 포함된 중첩된 영역을 제거한 후 결합하여 최종이미지를 생성한다. 상기 검사단계에서는 상기 프로세서는 상기 최종이미지에서 관심영역이미지를 추출하고, 상기 관심영역이미지에서의 불량을 검사한다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of operating an inspection system according to the present invention, comprising the steps of: setting inspection conditions, acquiring a basic image, And an inspection step. In the inspection condition setting step, the processor performs the preset curvatures of the panel or the plurality of frames according to the curved surface characteristics of the inspection object. In the basic image acquisition step, the test object is captured using a camera mounted on the multiple image acquisition module to acquire a basic image. In the final image acquisition step, the multiple image acquisition module transmits the base image to the signal processing unit, and the signal processing unit removes the overlapping regions included in the plurality of base images and combines them to generate a final image. In the inspecting step, the processor extracts a region of interest image from the final image, and examines a defect in the region of interest image.
본 발명에 따른 검사시스템을 이용하여 검사대상물의 검사를 수행하는 경우, 검사대상물이 다양한 형태로 변경되더라도 짧은 시간 내에 검사시스템을 셋팅할 수 있고, 검사에 소요되는 시간도 단축할 수 있으며, 검사시스템의 소형화가 가능하기 때문에, 검사시스템의 설치공간을 최소한으로 할 수 있는 장점이 있다.
When the inspection object is inspected using the inspection system according to the present invention, the inspection system can be set within a short time even if the object to be inspected is changed into various forms, the time required for the inspection can be shortened, It is possible to minimize the installation space of the inspection system.
도 1은 광학계의 이미지획득영역 및 촛점깊이에 대해 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 검사시스템의 블록도이다.
도 3은 패널 형태의 다중 이미지획득모듈의 실시 예를 나타낸다.
도 4는 절점 프레임 형태의 다중배열 모듈의 실시 예를 나타낸다.
도 5는 연속 프레임 형태의 다중배열 모듈의 실시 예를 나타낸다.
도 6은 본 발명에 따른 다중이미지획득모듈의 사용 예를 나타낸다.
도 7은 본 발명에 따른 검사시스템의 운영방법을 나타낸다. Figure 1 illustrates the image acquisition area and focal depth of the optical system.
2 is a block diagram of an inspection system according to the present invention.
Figure 3 shows an embodiment of a multiple image acquisition module in the form of a panel.
Figure 4 shows an embodiment of a multiple array module in the form of a nodal frame.
Figure 5 shows an embodiment of a multiple array module in the form of a continuous frame.
Figure 6 illustrates an example of the use of a multiple image acquisition module in accordance with the present invention.
7 illustrates a method of operating an inspection system according to the present invention.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 예시적인 실시 예를 설명하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다. In order to fully understand the present invention and the operational advantages of the present invention and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings, which are provided for explaining exemplary embodiments of the present invention, and the contents of the accompanying drawings.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference symbols in the drawings denote like elements.
도 2는 본 발명에 따른 검사시스템의 블록도이다. 2 is a block diagram of an inspection system according to the present invention.
도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 검사시스템(200)은, 다중이미지획득모듈(210), 구동부(220), 신호처리부(230) 및 프로세서(240)를 구비한다. 2, the inspection system 200 includes a multiple
다중이미지획득모듈(210)은 복수의 카메라가 2차원으로 배열된 적어도 하나의 패널 또는 복수의 카메라가 직렬로 장착된 복수의 프레임을 2차원으로 배열한다. 구동부(220)는 위치제어신호(C_PO)에 응답하여, 패널 또는 복수의 프레임들 각각의 곡률을 조절한다. 신호처리부(230)는 복수의 카메라로부터 촬영된 영상신호를 수신하여 처리한다. 프로세서(240)는 위치제어신호(C_PO)를 생성하며, 신호처리부(230)의 동작을 제어한다. The multiple
이하에서는 각각의 구성요소에 대해 자세하게 설명한다. Each component will be described in detail below.
먼저 다중 이미지획득모듈에 대해 설명한다. First, the multi-image acquisition module will be described.
도 3은 패널 형태의 다중이미지획득모듈의 실시 예를 나타낸다. Figure 3 shows an embodiment of a multiple image acquisition module in the form of a panel.
도 4는 절점 프레임 형태의 다중이미지획득모듈의 실시 예를 나타낸다. Figure 4 shows an embodiment of a multiple image acquisition module in the form of a nodal frame.
도 5는 연속 프레임 형태의 다중이미지획득모듈의 실시 예를 나타낸다. Figure 5 shows an embodiment of a multiple image acquisition module in the form of a continuous frame.
도 3에 도시된 하나의 패널(210)에는 점선 원으로 표시된 복수의 카메라(211)가 설치되어 있고, 도 4 및 도 5에 도시된 프레임들 각각에도 복수의 카메라(211)가 설치되어 있다. 카메라의 설치 위치 및 대수는 시험대상물의 곡면의 형태 및 시험의 종류에 따라 결정되어야 할 것이다. 카메라(211)에 도시된 점선은 카메라(211)의 촬영 방향을 각각 의미한다. A plurality of
도 3 내지 도 5에 도시된 실시 예를 비교하기 편하도록 하기 위하여, 도 3에는 하나의 패널에 수직방향 및 수평방향으로 3개씩 배열된 총 9개의 카메라를 병렬로 연속하여 배열시키는 예를, 그리고 도 4 및 도 5에는 수평방향으로 위치하는 하나의 프레임에 3개의 카메라가 설치되고, 수직 방향으로 3개의 프레임이 병렬로 배열되도록 설치하는 예에 대해서 설명하였다. In order to make it easier to compare the embodiments shown in FIGS. 3 to 5, FIG. 3 shows an example in which a total of nine cameras arranged in parallel in a vertical direction and in a horizontal direction, Figs. 4 and 5 illustrate examples in which three cameras are installed in one frame positioned in the horizontal direction and three frames are arranged in parallel in the vertical direction.
상술한 바와 같이, 패널 및 각각의 프레임의 곡율은 검사대상물(250)의 형태에 따라 결정된다. As described above, the curvature of the panel and each frame is determined according to the shape of the
검사대상물(250)의 곡면특성은, 검사대상물(250)을 다중이미지획득모듈(210)의 하부에 설치한 후 다중이미지획득모듈(210)에 설치된 카메라(211)에서 촬영한 영상을 이용하여 프로세서(240)에서 인식하거나, 검사를 시작하기 이전에 검사대상물의 곡면특성을 조사한 후 프로세서(240)에 입력시켜 놓는 방식 중 어떤 것을 선택할 수 있을 것이다. The curved surface characteristic of the object to be inspected 250 is obtained by installing the object to be inspected 250 under the multiple
도 3에 도시된 패널은 특정방향으로 탄성력을 가지는 재질을 선택하여 사용하고, 이 때 구동부(220)는 패널의 양쪽 종단부의 위치를 상·하·좌·우 방향으로 조절함으로써 프레임의 곡률을 조정할 수 있다. The panel shown in FIG. 3 selects and uses a material having an elastic force in a specific direction. At this time, the
도 4에 도시된 프레임 각각은 복수의 연결체(512)가 중간에 형성된 복수의 절점(511)에 일정한 각도로 연결된 결합구조로 이루어지며, 이 경우 구동부(220)는 복수의 연결체(512)가 복수의 절점(511)에 연결되는 각도를 조절함으로써 해당 프레임들의 곡률을 조정할 수 있다. Each of the frames shown in FIG. 4 has a coupling structure in which a plurality of connectors 512 are connected at a predetermined angle to a plurality of nodes 511 formed at an intermediate portion. In this case, the
도 5에 도시된 프레임 각각은 특정방향으로 탄성력을 가지는 하나의 일체형 연결구조로 이루어지며, 이 때 구동부(220)는 각각의 프레임의 양쪽 종단부의 위치를 상·하·좌·우 방향으로 조절함으로써 프레임의 곡률을 조정할 수 있다.
Each of the frames shown in FIG. 5 has one integral connection structure having an elastic force in a specific direction. At this time, the driving
도 6은 본 발명에 따른 다중이미지획득모듈의 사용 예를 나타낸다. Figure 6 illustrates an example of the use of a multiple image acquisition module in accordance with the present invention.
도 6(a)는 설명의 편의를 위해 기준이 되는 형태를 나타낸 것으로, 이 때 패널(210) 또는 프레임(210)의 가장자리의 위치를 2차원 좌표로 (x1, y1) 및 (x2, y2)라고 가정한다. 6 (a) shows a reference form for convenience of explanation. In this case, the position of the edge of the
도 6(b)는 패널(210) 또는 프레임(210)의 왼쪽 가장자리의 위치를 x방향으로는 a1만큼 이동시키고 y방향으로는 -b1만큼 이동시키며, 오른쪽 가장자리의 위치를 x방향으로는 -a1만큼 이동시키고 y방향으로는 -b1만큼 이동시킨 후의 상태를 나타낸다. 6 (b) shows the position of the left edge of the
도 6(c)는 패널(210) 또는 프레임(210)의 왼쪽 가장자리의 위치를 x방향으로는 -a2만큼 이동시키고 y방향으로는 b2만큼 이동시키며, 오른쪽 가장자리의 위치를 x방향으로는 a2만큼 이동시키고 y방향으로는 b2만큼 이동시킨 후의 상태를 나타낸다. 6 (c) shows the position of the left edge of the
도 6(a) 내지 도 6(c)를 참조하면, 도 6(a)를 기준으로 할 때, 도 6(b)는 도 6(a)에 비해 곡률이 크고, 도 6(c)는 도 6(a)에 비해 곡률이 적다는 것을 알 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 다중배열모듈(210)의 경우 패널(210) 또는 프레임(210)의 양단자의 위치를 조절함으로써 검사대상물의 곡률에 따라 적응적으로 검사에 활용할 수 있다는 것을 알 수 있다.
6 (a), 6 (b), 6 (b), 6 (c), 6 (c) 6 (a), it can be seen that the curvature is small. Accordingly, it can be seen that the
도 7은 본 발명에 따른 검사시스템의 운영방법을 나타낸다. 7 illustrates a method of operating an inspection system according to the present invention.
도 7을 참조하면, 본 발명에 따른 검사시스템의 운영방법(700)은 도 2에 도시된 검사시스템(200)을 운영하는 방법으로, 검사조건 설정단계(710), 기초이미지획득단계(720), 최종이미지지획득단계(730), 검사단계(740), 이미지합성단계(750) 및 검사결과이미지생성단계(760)를 수행한다. Referring to FIG. 7, an
검사조건 설정단계(710)는 프로세서(240)가 수행하며 검사대상물(250)의 곡면특성에 따라 패널 또는 복수의 프레임의 곡률을 사전 설정한다. 기초이미지획득단계(720)는 다중이미지획득모듈(210)에 장착된 카메라(211)를 이용하여 시험대상물을 촬영하여 기초이미지를 획득한다. 최종이미지획득단계(730)에서는 다중이미지획득모듈(210)이 기초이미지를 신호처리부(230)에 전송하고, 신호처리부(230)는 복수의 기초이미지에 포함된 중첩된 영역을 제거한 후 결합하여 최종이미지를 생성한다. 검사단계(740)에서는 프로세서(240)가 최종이미지에서 관심영역이미지를 추출하고, 관심영역이미지에서의 불량을 검사한다. 이미지합성단계(750)에서는 프로세서(240)가 복수의 관심영역이미지를 하나의 통합관심영역이미지로 합성한다. 검사결과이미지생성단계(760)에서는 프로세서(240)가 검사단계(740)에서 수행하여 얻은 검사결과를 하나의 이미지로 합성하여 검사결과이미지를 생성한다. The inspection
여기서, 검사대상물의 곡면특성은, 검사대상물을 다중이미지획득모듈의 하부에 설치한 후 다중이미지획득모듈에 설치된 카메라에서 촬영한 영상을 이용하여 프로세서에서 인식하거나, 검사조건 설정단계(710) 이전에 검사대상물의 곡면특성을 조사한 후 프로세서(240)에 입력시켜 놓는다.
Here, the curved surface characteristics of the object to be inspected may be recognized by the processor using the image captured by the camera installed in the multiple image acquisition module after the object to be inspected is installed in the lower part of the multiple image acquisition module, or before the inspection condition setting step The surface characteristics of the object to be inspected are examined and input to the
이상에서는 본 발명에 대한 기술사상을 첨부 도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 이라면 누구나 본 발명의 기술적 사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방 가능함은 명백한 사실이다.
While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be the most practical and preferred embodiment, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the present invention.
210: 다중이미지획득모듈
211: 카메라
220: 구동부
230: 신호처리부
240: 프로세서210: Multiple image acquisition module
211: camera
220:
230: Signal processor
240: Processor
Claims (10)
위치제어신호에 응답하여, 상기 패널 또는 상기 복수의 프레임들 각각의 곡률을 조절하는 구동부;
상기 복수의 카메라로부터 촬영된 영상신호를 수신하여 처리하는 신호처리부; 및
상기 위치제어신호를 생성하며, 상기 신호처리부의 동작을 제어하는 프로세서;를
포함하는 것을 특징으로 하는 검사시스템. At least one panel in which a plurality of cameras are arranged in two dimensions or a multiple image acquiring module in which a plurality of frames in which a plurality of cameras are mounted in series are arranged two-dimensionally;
A driver for adjusting the curvature of each of the plurality of frames or the panel in response to the position control signal;
A signal processing unit for receiving and processing a video signal photographed by the plurality of cameras; And
A processor for generating the position control signal and controlling an operation of the signal processing unit;
The inspection system comprising:
상기 각각의 프레임에는 3개의 카메라가 일정한 간격으로 직렬로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 검사시스템. 2. The apparatus of claim 1, wherein the multi-
Wherein three cameras are connected in series at regular intervals in each frame.
상기 패널 및 상기 각각의 프레임의 곡율은 검사대상물의 형태에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 검사시스템. 3. The method of claim 2,
Wherein the curvature of the panel and each frame is determined according to the shape of the object to be inspected.
상기 패널은 특정방향으로 탄성력을 가지며,
상기 구동부는 상기 패널의 양쪽 종단부의 위치를 상·하·좌·우 방향으로 조절하여 해당 프레임의 곡률을 조정하는 것을 특징으로 하는 검사시스템. The method of claim 3,
The panel has an elastic force in a specific direction,
Wherein the driving unit adjusts the positions of both end portions of the panel in the up, down, left, and right directions to adjust the curvature of the frame.
상기 프레임 각각은 특정방향으로 탄성력을 가지는 하나의 일체형 연결구조로 이루어지며,
상기 구동부는 상기 각각의 프레임의 양쪽 종단부의 위치를 상·하·좌·우 방향으로 조절하여 해당 프레임의 곡률을 조정하는 것을 특징으로 하는 검사시스템. The method of claim 3,
Wherein each of the frames has an integral connection structure having an elastic force in a specific direction,
Wherein the driving unit adjusts the positions of both end portions of the respective frames in the up, down, left, and right directions to adjust the curvature of the frame.
상기 프레임 각각은 복수의 연결체가 중간에 형성된 복수의 절점에 일정한 각도로 연결된 결합구조로 이루어지며,
상기 구동부는 상기 복수의 연결체가 상기 복수의 절점에 연결되는 각도를 조절함으로써 해당 프레임들의 곡률을 조정하는 것을 특징으로 하는 검사시스템.
The method of claim 3,
Wherein each of the frames has a coupling structure in which a plurality of connectors are connected at a predetermined angle to a plurality of nodes formed in the middle,
Wherein the driving unit adjusts the curvature of the frames by adjusting the angle at which the plurality of connectors are connected to the plurality of nodes.
상기 프로세서가 수행하며 상기 검사 대상물의 곡면특성에 따라 상기 패널 또는 복수의 프레임의 곡률을 사전 설정하는 검사조건 설정단계;
상기 다중이미지획득모듈에 장착된 카메라를 이용하여 상기 시험 대상물을 촬영하여 기초이미지를 획득하는 기초이미지획득단계;
상기 다중이미지획득모듈이 상기 기초이미지를 상기 신호처리부에 전송하고, 상기 신호처리부는 상기 복수의 기초이미지에 포함된 중첩된 영역을 제거한 후 결합하여 최종이미지를 생성하는 최종이미지지획득단계; 및
상기 프로세서는 상기 최종이미지에서 관심영역이미지를 추출하고, 상기 관심영역이미지에서의 불량을 검사하는 검사단계;를
수행하는 것을 특징으로 하는 검사시스템 운영방법. A method for operating an inspection system according to claim 1,
A test condition setting step of presetting a curvature of the panel or the plurality of frames according to curved surface characteristics of the inspection object performed by the processor;
A basic image acquiring step of acquiring a basic image by photographing the test object using a camera mounted on the multiple image acquiring module;
Wherein the multi-image acquisition module transmits the base image to the signal processing unit, the signal processing unit includes a final image acquisition step of removing a superimposed area included in the plurality of base images and combining the combined images to generate a final image; And
The processor extracting a region of interest image from the final image and examining a defect in the region of interest image;
The inspection system comprising:
상기 프로세서는 복수의 관심영역이미지를 하나의 통합관심영역이미지로 합성하는 이미지합성단계;를 더 수행하는 것을 특징으로 하는 검사시스템 운영방법. 8. The method of claim 7,
Wherein the processor further performs an image synthesis step of synthesizing a plurality of ROI images into one ROI image.
상기 프로세서는 상기 검사단계에서 수행하여 얻은 검사결과를 하나의 이미지로 합성하여 검사결과이미지를 생성하는 검사결과이미지생성단계;를 더 수행하는 것을 특징으로 하는 검사시스템 운영방법. 9. The method of claim 8,
Wherein the processor further performs a test result image generation step of generating a test result image by combining the test results obtained in the test step with one image.
상기 검사 대상물을 상기 다중이미지획득모듈의 하부에 설치한 후 상기 다중이미지획득모듈에 설치된 카메라에서 촬영한 영상을 이용하여 상기 프로세서에서 인식하거나,
상기 검사조건 설정단계 이전에 상기 검사 대상물의 곡면특성을 조사한 후 상기 프로세서에 입력시켜 놓는 것을 특징으로하는 검사시스템 운영방법. 8. The method of claim 7,
Wherein the inspection object is installed in a lower portion of the multi-image acquiring module and is recognized by the processor using an image taken by a camera installed in the multi-image acquiring module,
Wherein the surface characteristic of the inspection object is inspected before the inspection condition setting step and then inputted to the processor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140028803A KR101583016B1 (en) | 2014-03-12 | 2014-03-12 | Testing system of the device with free-form surface or 3 dimensional form and operating method for the testing system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140028803A KR101583016B1 (en) | 2014-03-12 | 2014-03-12 | Testing system of the device with free-form surface or 3 dimensional form and operating method for the testing system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150106579A true KR20150106579A (en) | 2015-09-22 |
KR101583016B1 KR101583016B1 (en) | 2016-01-19 |
Family
ID=54245348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140028803A KR101583016B1 (en) | 2014-03-12 | 2014-03-12 | Testing system of the device with free-form surface or 3 dimensional form and operating method for the testing system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101583016B1 (en) |
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---|---|
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