KR20150078838A - Mura compensation method and display device using the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a mura compensation method and a display device using the same. It includes a step of generating the compensation data of pixel sampled in an N×N block including N×N pixels (N is a positive integer of three or more) existing in a stain region; a step of generating micro stain-related compensation data for compensating the micro stain which is smaller than the N×N block, a step of generating compensation data for compensating micro stain and stain region based on the micro stain-related compensation data and the compensation data of the sampling pixels, modulates the pixel data of the input image with compensation data, and compensates the stain region and micro stain at the same time.

Description

얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치{MURA COMPENSATION METHOD AND DISPLAY DEVICE USING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a smear compensating method,

본 발명은 블록 보간 방법을 이용하여 화면의 얼룩을 보상하기 위한 보상값을 생성하는 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a smoothing compensation method for generating a compensation value for compensating a screen smear using a block interpolation method, and a display using the smoothing compensation method.

평판 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display, OLED Display)와 같은 전계발광 표시장치(Electroluminescence Display, ELD), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display, EPD) 등이 있다. The flat panel display may be an electroluminescence display (ELD) such as a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting diode (OLED) display, a field emission display Display, FED, plasma display panel (PDP), electrophoresis display (EPD), and the like.

이러한 표시장치의 화면에는 제조 방법과 공정 편차 등으로 인하여 얼룩(mura) 영역이 존재할 수 있다. 얼룩 영역의 픽셀들은 픽셀 데이터의 계조 값이 같더라도 다른 정상적인 픽셀들에 비하여 다른 휘도로 보인다. On the screen of such a display device, a mura region may exist due to a manufacturing method, a process variation, and the like. The pixels of the smear region appear to have different brightnesses compared to other normal pixels even if the gray level of the pixel data is the same.

액정표시장치의 경우에, 포토리소그래피 공정을 포함한 반도체 공정으로 TFT(Thin Film Transistor) 어레이 기판을 제작하게 된다. 포토리소그래피 공정은 일련의 노광, 현상, 식각 공정을 포함하게 된다.In the case of a liquid crystal display device, a TFT (Thin Film Transistor) array substrate is manufactured by a semiconductor process including a photolithography process. The photolithography process will include a series of exposure, development, and etching processes.

포토리소그래피 공정에서 노광양의 불균일 등으로 인하여, 완성된 기판의 표시상태를 검사하는 검사공정에서 다양한 형태의 얼룩이 발견될 수 있다. 얼룩은 표시패널에서 같은 계조의 데이터들을 표시하고 그 표시패널의 화면에서 휘도를 측정한 결과를 바탕으로 측정될 수 있다. 이러한 얼룩은 다른 정상적인 픽셀들에 비하여 휘도나 색도가 다르게 보이게 된다. 얼룩들이 발생되는 원인은 포토리소그래프 공정에서 노광양의 차이로 인하여 TFT의 게이트-드레인 간의 중첩면적, 스페이서의 높이, 신호배선들 간의 기생용량, 신호배선과 화소전극 간의 기생용량 등이 얼룩이 보이는 픽셀 위치에서 다른 정상적인 표시면의 픽셀들과 달라지는 데에서 기인한다. Various types of speckles can be found in an inspection process for inspecting the display state of the completed substrate due to unevenness of the exposed areas in the photolithography process. The smear can be measured based on the result of measuring the brightness in the display panel of the display panel by displaying data of the same gray level on the display panel. This smear looks different in luminance or chromaticity compared to other normal pixels. The cause of the stains is that due to the difference in the amount of light in the photolithographic process, the area of overlap between the gate and the drain of the TFT, the height of the spacer, the parasitic capacitance between the signal lines and the parasitic capacitance between the signal line and the pixel electrode Gt; pixels < / RTI > in the other normal display plane at the location.

공정 기술의 개선이나 리페어(Repair) 공정으로 얼룩을 개선할 수 있으나 한계가 있다. 최근에는 공정 기술 개선 만으로는 제거하기 위한 얼룩을 보상하기 위하여, 보상 회로를 이용하여 얼룩 위치의 픽셀들에 표시될 데이터에 미리 설정된 보상값을 가감하여 표시 영상에서 얼룩을 제거하는 방법을 적용하여 불량 수준을 줄이는 기술이 적용되고 있다. 이러한 얼룩 보상 방법에서 하드웨어 리소스(Hardware Resource)를 줄이기 위하여 블록 보간 방법이 적용될 수 있다. Improvement of process technology and repair process can improve the stain, but there is a limit. In recent years, in order to compensate for the smear to be eliminated by only the improvement of the process technology, a method of removing the smear from the display image by adding or subtracting a preset compensation value to the data to be displayed on the pixels at the smear position using the compensation circuit, Is applied. In this smear compensation method, a block interpolation method may be applied to reduce hardware resources.

블록 보간 방법은 얼룩 영역을 다수의 블록들로 분할하고 그 블록들 내에서 샘플링된 일부 픽셀들에 한하여 휘도를 측정하여 감마 특성을 보상하기 위한 보상값들을 생성한다. 블록들 각각은 다수의 픽셀들을 포함하는 크기로 설정된다. 블록 보간 방법은 블록들 각각에서 샘플링된 픽셀들 이외의 나머지 픽셀들의 보상값을 샘플링된 픽셀의 보상값들을 이용한 선형 보간 방법으로 계산한다. 그런데, 이 블록 보간 방법은 블록에서 샘플링되지 않는 픽셀들에 선(line) 결함 형태의 얼룩 또는 점(point) 형태의 얼룩, 미세한 크기의 부정형 얼룩 등이 있다면 그 얼룩에 대한 정보를 알 수 없다. 따라서, 종래이 블록 보간 방법은 블록 크기 보다 작은 선폭 또는 크기의 얼룩이 샘플링되지 않은 픽셀들에 존재한다면 그 얼룩들을 보상할 수 없었다.
The block interpolation method divides a blob area into a plurality of blocks, and generates compensation values for compensating gamma characteristics by measuring luminance of only some pixels sampled in the blocks. Each of the blocks is set to a size including a plurality of pixels. The block interpolation method calculates a compensation value of pixels other than the pixels sampled in each of the blocks by a linear interpolation method using compensation values of the sampled pixels. However, this block interpolation method can not know the information about the unevenness in the pixels that are not sampled in the block if there is a line defect type spot, a point type spot, or a minute size irregular spot. Conventionally, therefore, the block interpolation method can not compensate for the speckles of line width or size smaller than the block size if the pixels exist in the un sampled pixels.

본 발명은 블록 보간 방법에서 블록 크기 보다 작은 미세 얼룩을 보상할 있는 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치를 제공한다.
The present invention provides a smear compensating method for compensating fine specks smaller than a block size in a block interpolation method, and a display using the method.

본 발명의 얼룩 보상 방법은 얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함하는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함한다. The smear compensation method of the present invention includes: generating compensation data of pixels sampled in an NxN block including N (N is a positive integer equal to or greater than 3) N pixels existing in a smear region; And generating fine-smear-related compensation data for compensating fine speckles smaller than the N × N block size; And generating compensation data for compensating the smear region and the fine smear based on the compensation data of the sampling pixels and the fine smear correction data, modulating the pixel data of the input image with the compensation data, And simultaneously compensating for the area and the fine stain.

본 발명의 표시장치는 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 표시패널; N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함한 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와, 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 메모리로부터 읽어 들이고, 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 보상 회로; 및 상기 보상 회로로부터 출력된 데이터를 상기 표시패널의 픽셀들에 기입하는 구동부를 포함한다.
A display device of the present invention includes: a display panel in which pixels are arranged in a matrix; Compensation data for compensating for compensation data of pixels sampled in an N × N block including N (N is a positive integer of 3 or more) × N pixels and fine smudges of a size smaller than the N × N block size From the memory, generates compensation data for compensating the smear region and the fine smear based on the compensation data of the sampling pixels and the fine smear-related compensation data, A compensation circuit for simultaneously compensating the smear region and the fine smear; And a driver for writing data output from the compensation circuit to pixels of the display panel.

본 발명은 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 함께 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 블록 보간 방법을 실시한다. 그 결과, 본 발명은 블록 보간 방법에서 얼룩 영역과 그 얼룩 영역 내의 미세 얼룩을 동시에 제거할 수 있다.
The present invention implements a block interpolation method based on fine-smear-related compensation data together with compensation data of sampled pixels. As a result, the present invention can simultaneously remove the stain area and the fine stain in the stain area in the block interpolation method.

도 1은 얼룩 측정 방법과 그 결과를 바탕으로 얼룩을 보상하는 방법을 보여 주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 얼룩 측정 시스템과 보상 회로를 보여 주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 4는 미세 얼룩의 보상값을 이용한 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 5는 블록 내에 존재하는 선 결함, 점 결함, 작은 부정형 얼룩 등의 미세 얼룩과 그 블록의 글로벌 데이터와 선 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다.
도 6은 도 5와 같은 선 결함의 광 프로파일을 보여 주는 도면이다.
도 7은 블록 내에 존재하는 점 결함(또는 작은 부정형 얼룩)과 그 블록의 글로벌 데이터와 점 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다.
도 8은 미세 얼룩을 보상하기 위항 블록을 더 작은 크기의 서브 블록들로 분할한 예를 보여 주는 도면이다.
도 9는 미세 얼룩 관련 보상 데이터 포맷의 일 예를 보여 주는 도면이다.
도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다. 1 is a view showing a method of measuring a smear and a method of compensating for smear based on the result.
2 is a view showing a stain measurement system and a compensation circuit according to an embodiment of the present invention.
3 is a block interpolation method according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram showing a block interpolation method using the compensation value of fine stain.
5 is a diagram showing fine specks such as line defects, point defects, and small irregular defects existing in a block, and global data and error data of line defects in the block.
FIG. 6 is a view showing the optical profile of a line defect as shown in FIG. 5. FIG.
FIG. 7 is a diagram showing a point defect (or a small irregular block) existing in a block, global data of the block, and error data of a point defect.
8 is a diagram showing an example in which a block for compensating for fine speckles is divided into sub-blocks of a smaller size.
9 is a diagram showing an example of a fine smear-related compensation data format.
10 and 11 are block diagrams showing a display device according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것일 수 있는 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to the preferred embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. Like reference numerals throughout the specification denote substantially identical components. In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The component name used in the following description may be selected in consideration of easiness of specification, and may be different from the actual product name.

본 발명의 표시장치는 액정표시장치(LCD), 전계 방출 표시장치(FED), 유기발광 다이오드 표시장치(OLED Display), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display, EPD) 등 어떠한 평판 표시장치에도 적용 가능하다. The display device of the present invention can be applied to any display device such as a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), an organic light emitting diode display (OLED) display, a plasma display panel (PDP), an electrophoresis display The present invention is also applicable to a flat panel display device.

도 1 및 도 2는 표시패널의 얼룩을 측정하고 그 얼룩을 보상하기 위한 보상값을 보여 주는 도면들이다. FIGS. 1 and 2 are views showing a compensation value for measuring a stain on a display panel and compensating for the stain.

도 1 내지 도 2를 참조하면, 얼룩 측정 시스템(300)은 표시패널(display panel)의 모든 픽셀들에 같은 계조의 데이터를 기입하고 그 때의 휘도를 카메라로 촬상한 다음, 카메라의 이미지를 분석하여 픽셀들의 휘도를 측정한다. 이어서, 얼룩 측정 시스템은 카메라에 의해 촬상된 이미지를 분석하여 미리 각 픽셀마다 표시패널의 화면 중앙(center) 대비 휘도 차이를 측정하여 그 결과를 바탕으로 얼룩의 휘도 특성과 형태를 판정한다. 1 and 2, the stain measurement system 300 writes the same gradation data to all the pixels of a display panel, captures the luminance at that time with a camera, and then analyzes the image of the camera Thereby measuring the luminance of the pixels. Then, the smear measuring system analyzes the image picked up by the camera, measures the difference in luminance with respect to the center of the screen of the display panel for each pixel in advance, and determines the luminance characteristic and shape of the smear based on the result.

얼룩 측정 시스템(300)은 얼룩 부분에서 샘플링된 픽셀들 각각의 휘도를 표시패널의 화면 중앙 픽셀과 같은 감마 특성을 갖도록 얼룩 위치의 픽셀의 휘도를 조정하기 위한 보상값을 계산한다.(S21) 이 픽셀 보상은 픽셀들 각각에 보상값을 계산하므로 블록 크기가 최소인 1×1(=픽셀) 보상 방법이라 할 수 있다. 보상값은 수학식 1과 같이 나타낼 수 있다. 얼룩 측정 시스템(300)은 계조를 변화시키면서 휘도 측정과 보상값을 계산한다.The smear measuring system 300 calculates a compensation value for adjusting the luminance of the pixel at the smear position so that the luminance of each of the pixels sampled at the smear portion has the same gamma characteristic as the screen center pixel of the display panel. Pixel compensation is a 1 × 1 (= pixel) compensation method with a minimum block size because it calculates compensation values for each of the pixels. The compensation value can be expressed by Equation (1). The stain measurement system 300 calculates the luminance measurement and the compensation value while changing the gradation.

Figure pat00001
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여기서, C는 n(n은 양의 정수) 번째 픽셀의 보상값(compensation value)이다. Lpn은 n 번째 픽셀의 휘도이고, Lpc는 화면의 중앙 픽셀의 휘도이다. gainp는 픽셀별 감마 특성 편차를 반영한 게인이다.Here, C is a compensation value of n (n is a positive integer) pixel. L pn is the luminance of the n-th pixel, and L pc is the luminance of the center pixel of the screen. gain p is the gain reflecting the gamma characteristic deviation per pixel.

얼룩 측정 시스템(300)은 하드웨어 리소스를 줄이기 위하여 S21 단계에서 계산된 픽셀들 각각의 보상값들 중에서 도 2와 같이 화면의 얼룩 영역을 다수의 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 블록들로 구획한다. N×N 블록 각각에는 N×N 개의 픽셀들을 포함한다. 얼룩 측정 시스템(300)은 N×N 블록에서 샘플링된 일부 픽셀들의 보상값을 생성한다.(S22) 여기서, 샘플링된 픽셀들은 N×N 블록의 4 꼭지점 위치(X1, Y1)의 픽셀들(이하, "꼭지점 픽셀"이라 함)과, N×N 블록의 4 변 중 하나 이상의 변에 존재하는 픽셀들(이하, "경계 픽셀"이라 함)을 포함한다. The smear measuring system 300 may include a plurality of N (N is a positive integer equal to or greater than 3) N blocks, as shown in FIG. 2, among the compensation values of the pixels calculated in step S21, . Each of the N x N blocks includes N x N pixels. The smear measuring system 300 generates a compensation value of some pixels sampled in the NxN block. (S22) Here, the sampled pixels are pixels (hereinafter referred to as " pixels " , "Vertex pixels") and pixels (hereinafter, referred to as "boundary pixels") existing on one or more sides of the four sides of the N × N block.

얼룩 측정 시스템(300)은 S21 단계에서 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩이 검출되면 그 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성한다.(S231) 미세 얼룩 관련 보상 데이터는 미세 얼룩의 위치 정보, 형태, 보상값 등의 정보를 포함한다.In step S221, the speckle measuring system 300 generates fine speckle-related compensation data when a fine speckle smaller than the size of the NxN block is detected (S231). The fine speckle compensation data includes position information of the fine speckle, Compensation value, and the like.

얼룩 측정 시스템(300)은 블록 단위로 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 표시장치의 메모리에 저장한다.(S232) 보상 데이터는 전술한 바와 같이 블록 보간을 위해 필요한 기준 데이터들(꼭지점 픽셀의 보상 데이터)와 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 포함한다. The smear measuring system 300 stores compensation data of pixels sampled on a block basis in a memory of a display device (S232). Compensation data includes reference data (compensation data of vertex pixels) necessary for block interpolation, And fine stain-related compensation data.

보상 회로(200)는 블록 단위로 샘플링된 꼭지점 픽셀들의 보상 데이터와, 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 분리한다.(S40) 보상 회로(200)는 블록 보간 방법을 실시하여 꼭지점 픽셀들의 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 블록 내의 모든 픽셀들 각각의 보상 데이터를 생성한다.(S41) The compensation circuit 200 separates compensation data of the vertex pixels sampled on a block-by-block basis and fine-smear-related compensation data. (S40) The compensation circuit 200 performs a block interpolation method, And generates compensation data of each pixel in the block by the interpolation method (S41)

보상 회로(200)는 메모리로부터 읽어 들인 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터(도 4 및 도 6, Global data)를 생성하고, 미세 얼룩의 보상값과 글로벌 데이터의 차를 글로벌 데이터에 가산하여 최종 보상 데이터를 생성한다. 최종 보상 데이터는 얼룩 영역과, 그 얼룩 영역 내의 미세 얼룩을 픽셀 단위로 보상할 수 있는 픽셀별 보상 데이터이다. 보상 회로(200)는 픽셀들 각각의 최종 보상 데이터로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 얼룩 영역과 미세 얼룩을 동시에 보상한다. The compensation circuit 200 receives compensation data of the sampled pixels read from the memory and generates global data (FIG. 4 and FIG. 6, global data) including compensation data of all pixels in the N × N block by a linear interpolation method , And adds the difference between the compensation value of fine stain and the global data to the global data to generate the final compensation data. The final compensation data is pixel-by-pixel compensation data that can compensate for a smear region and fine smear in the smear region on a pixel-by-pixel basis. The compensation circuit 200 modulates the pixel data of the input image with the final compensation data of each of the pixels to simultaneously compensate the smear region and the fine smear.

보상 회로(200)는 도 8과 같이 미세 얼룩의 중심을 기준으로 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하고, 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성할 수도 이다. 그리고 보상 회로(200)는 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 이용하여 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조함으로써 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상할 수 있다. 8, the compensation circuit 200 divides the N × N block into a plurality of sub-blocks on the basis of the center of the fine speckle, and compensates for all the pixels in the sub-blocks in the linear interpolation method in each of the sub- Data may be generated. The compensation circuit 200 may simultaneously compensate the smear region and the fine smear by modifying the pixel data of the input image using compensation data for all the pixels in the sub-blocks.

도 4 및 도 6에서, 글로벌 데이터(Global data)는 N×N 블록에 대한 블록 보간 방법으로 계산된 보상 데이터로서, 기준 데이터들을 입력 받아 선형 보간 방법으로 생성된 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한다. 블록 보간 방법은 수학식 2와 같은 이중 선형 보간 방법(Bilinear Interpolation)을 적용할 수 이다. 에러 데이터(Error data)는 기존 블록 보간 방법에서 제거할 수 없는 미세 얼룩을 나타낸다. 보상 회로(200)는 글로벌 데이터와 에러 데이터를 이용하여 픽셀별로 얼룩을 보상한다. 4 and 6, global data is compensation data calculated by a block interpolation method for an N × N block, and receives compensation data of all pixels in an N × N block generated by a linear interpolation method, Data. A bilinear interpolation method such as Equation (2) can be applied to the block interpolation method. Error data indicates fine speckles that can not be removed by existing block interpolation methods. The compensation circuit 200 compensates for pixel-by-pixel speckles using global data and error data.

도 3은 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다. Figure 3 is a block interpolation method.

도 3을 참조하면, N×N 블록에서 샘플링된 꼭지점 픽셀들의 보상값을 P1, P2, P3, P4라 할 때, 블록 보간 방법은 수직 방향(y)을 따라 샘플링된 픽셀들의 보상값들을 이용하여 그 사이의 픽셀에 적용될 보상값을 선형 보간 방법으로 계산한다. 도 3에서 (x1,y1), (x2,y1), (x1,y2), (x2,y2)는 꼭지점 픽셀들의 위치이다. 블록 보간 방법은 수평 방향(x)을 따라 샘플링된 픽셀들의 보상값들을 이용하여 그 사이의 보상값을 선형 보간 방법으로 계산한다. C 위치의 픽셀의 보상값은 P1과 P3의 중간값으로 생성되고, D 위치의 보상값은 P2과 P4의 중간값으로 생성될 수 있다. A 위치의 픽셀에 적용될 보상값은 P1과 P2의 중간값으로 생성되고, B 위치의 픽셀에 적용될 보상값은 P3과 P4의 중간값으로 생성될 수 있다. 블록 내의 중심에 위치한 P(x, y) 위치의 보상값은 A 및 B의 중간값 또는 C 및 D의 중간값으로 생성될 수 있다. Referring to FIG. 3, when the compensation values of the vertex pixels sampled in the N × N block are P1, P2, P3, and P4, the block interpolation method uses the compensation values of the pixels sampled along the vertical direction (y) And calculates a compensation value to be applied to the pixels therebetween by a linear interpolation method. In FIG. 3, (x 1 , y 1 ), (x 2 , y 1 ), (x 1 , y 2 ), and (x 2 , y 2 ) are positions of vertex pixels. The block interpolation method uses compensation values of pixels sampled along the horizontal direction (x), and calculates a compensation value therebetween by a linear interpolation method. The compensation value of the pixel at the C position is generated as an intermediate value between P1 and P3, and the compensation value at the D position can be generated as an intermediate value between P2 and P4. A compensation value to be applied to the pixel at the A position is generated with an intermediate value between P1 and P2 and a compensation value to be applied to the pixel at the B position can be generated with an intermediate value between P3 and P4. The compensation value at the P (x, y) position located in the center of the block may be generated with an intermediate value of A and B or an intermediate value of C and D. [

블록 보간 방법은 수학식 2와 같은 이중 선형 보간 방법(Bilinear Interpolation)을 적용할 수 있다. 수학식 2는 N×N 블록의 중앙(x,y)에 위치하는 픽셀의 보상값 P를 계산한 경우이다. A bilinear interpolation method such as Equation (2) can be applied to the block interpolation method. Equation (2) is a case where the compensation value P of the pixel located at the center (x, y) of the NxN block is calculated.

Figure pat00002
Figure pat00002

이러한 블록 보간 방법은 블록 크기 보다 작은 미세 얼룩이 블록 내에 존재하는 경우에 그 미세 얼룩을 제거할 수 없다. 예를 들어, A를 지나는 강한 미세 얼룩이 있다면 P1과 P2의 중간값으로 A의 보상값으로 생성하면 A 위치의 미세 얼룩을 제거할 수 없을 뿐 아니라 오히려 잘못된 보상값 선정으로 인하여 그 얼룩을 더 강하게 보이게 할 수 있다. Such a block interpolation method can not remove fine speckles when fine speckles smaller than the block size exist in the block. For example, if there is a strong fine stain passing through A, it is not possible to remove fine stain at position A if it is created with a compensation value of A between P1 and P2, but rather, the stain is made stronger due to wrong compensation value selection can do.

본 발명의 블록 보간 방법은 도 3에서 A, B, C, D 위치의 보상 데이터를 이용하여 미세 얼룩들을 제거할 수 있다. 본 발명의 블록 보간 방법은 선형 보간 방법으로 생성된 글로벌 데이터에, 미세 얼룩의 보상값에 글로벌 데이터의 차이를 더하여 블록 크기 보다 작은 어떠한 형태의 미세 얼룩도 제거할 수 있다. The block interpolation method of the present invention can remove fine stains using compensation data at positions A, B, C, and D in FIG. In the block interpolation method of the present invention, global data generated by the linear interpolation method can be added to the compensation value of fine specks to remove global specks of any kind smaller than the block size.

도 4는 미세 얼룩의 보상값을 이용한 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다. 4 is a diagram showing a block interpolation method using the compensation value of fine stain.

도 4를 참조하면, 본 발명의 블록 보간 방법은 A와 B를 가로 지르는 선 결함 (line defect) 형태의 미세 얼룩이 존재할 때, A 위치의 보상 데이터와 B 위치의 보상 데이터를 선형 보간 방법으로 선 결함의 미세 얼룩을 제거할 수 있다. A 위치의 보상 데이터와 B 위치의 보상 데이터는 미세 얼룩의 보상값을 포함한다. Referring to FIG. 4, in the block interpolation method of the present invention, when fine line speckles existing in the form of a line defect across A and B are present, the compensation data of the A position and the compensation data of the B position are linearly interpolated, It is possible to remove fine stains on the substrate. The compensation data at the A position and the compensation data at the B position include the compensation value of the fine stain.

본 발명의 블록 보간 방법은 블록 내에 점 결함(point defect) 형태의 미세 얼룩이 존재할 때 그 점 결함을 지나는 A-B, 및 C-D 위치의 보상 데이터들을 균등하게 나누는 선형 보간 방법으로 점 결함의 미세 얼룩을 제거할 수 있다. The block interpolation method of the present invention is a linear interpolation method that evenly divides the compensation data of AB and CD positions passing through a point defect when fine defects in the form of point defects exist in the block, .

본 발명의 블록 보간 방법은 기존의 블록 보간 방법으로 생성된 글로벌 데이터에, 미세 얼룩의 보상값과 글로벌 데이터의 차이를 더하여 1×1 보상 효과를 얻을 수 있다. In the block interpolation method of the present invention, the 1 × 1 compensation effect can be obtained by adding the difference between the compensation value of fine stain and the global data to the global data generated by the existing block interpolation method.

도 5는 블록 내에 존재하는 선 결함(line defect), 점 결함(point defect), 작은 부정형 얼룩 등의 미세 얼룩과 그 블록의 글로벌 데이터와 선 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다. 도 6은 도 5와 같은 선 결함의 광 프로파일을 보여 주는 도면이다. 5 is a diagram showing fine specks such as line defects, point defects, and small irregular defects existing in a block, and global data and error data of line defects in the block. FIG. 6 is a view showing the optical profile of a line defect as shown in FIG. 5. FIG.

도 5 및 도 6을 참조하면, A와 B를 가로 지르는 선 결함에서 피크 휘도를 제거하기 위하여 그 선 결함의 데이터는 선 결함 위치의 보상 데이터에 글로벌 데이터(보간 데이터)의 차이를 글로벌 데이터에 더해 주어야 한다. Referring to FIGS. 5 and 6, in order to eliminate the peak luminance in the line defect across A and B, the data of the line defect is added to the compensation data of the line defect position to the global data (interpolation data) You must give.

A와 B를 가로 지르는 선 결함을 보상하기 위해서 A 위치의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Pa라 하고, B 위치의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Pb라 할 때, 본 발명의 블록 보간 방법은 수학식 3과 같이 글로벌 데이터에 미세 얼룩의 보상값을 더하여 (x,y) 위치의 보상 데이터 P를 생성한다. 가로 방향의 선 결함을 제거하기 위한 보상 데이터도 위와 같은 방법으로 생성할 수 있다. 수학식 3에서

Figure pat00003
는 세로 선 결함 A-B 의 휘도와 글로벌 데이터의 휘도 차이를 나타낸다. When the difference between the compensation data at the A position and the global data is P a and the difference between the compensation data at the B position and the global data is P b to compensate for the line defect across A and B, The method generates compensation data P at position (x, y) by adding a compensation value of fine speckle to global data as shown in Equation (3). The compensation data for removing the line defect in the horizontal direction can also be generated by the above method. In Equation 3,
Figure pat00003
Represents the luminance of the vertical line defect AB and the luminance difference of the global data.

Figure pat00004
Figure pat00004

도 7은 블록 내에 존재하는 점 결함(또는 작은 부정형 얼룩)과 그 블록의 글로벌 데이터와 점 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다. FIG. 7 is a diagram showing a point defect (or a small irregular block) existing in a block, global data of the block, and error data of a point defect.

도 7을 참조하면, N×N 블록에서 점 결함 (x,y)의 얼룩을 제외한 다른 얼룩은 수학식 2와 같은 글로벌 데이터를 보상 데이터로 제거할 수 있다. 점 결함 (x,y)의 보상값 P는 점 결함의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Ppeak라 할 때 수학식 4와 같은 선형 보간 방법으로 계산될 수 있다. Referring to FIG. 7, other blobs in the N × N block except for the spot defects (x, y) may remove global data as shown in Equation (2) as compensation data. The compensation value P of the point defect (x, y) can be calculated by the linear interpolation method as shown in Equation (4) when the difference between the compensation data of the point defect and the global data is P peak .

Figure pat00005
Figure pat00005

본 발명의 블록 보간 방법은 미세 얼룩의 크기나 형상 등을 고려하여 도 8과 같이 N×N 블록을 그 보다 작은 크기의 서브 블록들(SB1~SB4)로 분할하여 서브 블록 단위로 블록 보간 방법을 적용할 수 있다. The block interpolation method of the present invention divides an N × N block into sub-blocks (SB1 to SB4) of a smaller size as shown in FIG. 8 in consideration of the size and shape of fine specks, Can be applied.

도 8을 참조하면, 본 발명의 블록 보간 방법은 미세한 크기의 부정형 얼룩이 이 존재하는 N×N 블록에서 그 부정형 얼룩의 중심좌표 기준으로 N×N 블록을 4 분할하여 4 개의 서브 블록들(SB1~SB4)로 분할한다. 8, in the block interpolation method of the present invention, an N × N block is divided into four subblocks SB1 to SB4 in an N × N block in which an irregularly sized irregularity exists, SB4).

블록 분할 방법은 서브 블록들(SB1~SB4) 각각에서 샘플링된 꼭지점 픽셀의 보상 데이터를 이용한 블록 보간 방법을 실시한다. 이 블록 분할 방법은 미세 얼룩의 보상 데이터를 이용할 수 있고 또한, 서브 블록들을 세분화할수록 다양한 형태의 미세 얼룩을 제거할 수 있으므로 미세 얼룩의 보상 데이터 없이 미세 얼룩을 제거할 수도 있다. The block division method performs a block interpolation method using compensation data of vertex pixels sampled in each of the sub-blocks SB1 to SB4. In this block segmentation method, compensation data of fine speckles can be used. Further, as the sub-blocks are subdivided, various types of fine speckles can be removed, so that fine speckles can be eliminated without compensation data of fine speckles.

도 9는 미세 얼룩 관련 보상 데이터 포맷의 일 예를 보여 주는 도면이다. 9 is a diagram showing an example of a fine smear-related compensation data format.

도 9를 참조하면, 미세 얼룩 관련 보상 데이터는 시작 블록의 위치 정보, 얼룩의 형태, 얼룩 추가 정보 등을 포함한다. 시작 블록의 위치 정보는 미세 얼룩이 포함된 N×N 블록의 시작점 정보, 미세 얼룩의 위치 정보 등을 포함하여 9~10 bit 데이터로 코딩될 수 있다. 미세 얼룩의 형태를 정의하며 1~2 bit 데이터로나타내 코딩될 수 있다. 얼룩 추가 정보는 미세 얼룩의 감마 특성을 보상하기 위한 보상값과, 그 밖의 미세 얼룩의 보상에 필요한 정보를 포함하며 60~70 bit 데이터로 코딩될 수 있다. Referring to FIG. 9, the fine smear-related compensation data includes position information of a start block, type of smear, additional information on smear, and the like. The position information of the start block may be coded into 9 to 10 bit data including the start point information of the NxN block including the fine blob, the position information of the fine blob, and the like. It defines the shape of fine speckles and can be represented by 1 to 2 bit data. The smear additive information may include a compensation value for compensating the gamma characteristic of the fine smear, and information necessary for compensation of other fine smear, and may be coded with 60 to 70 bit data.

미세 얼룩 관련 데이터는 기존의 샘플링된 픽셀의 보상 데이터와 함께 표시장치의 메모리(도 11, 120)에 저장된다. 미세 얼룩 관련 데이터는 도 4 내지 도 7과 같이 샘플링된 픽셀들 중에서 경계 픽셀의 보상 데이터 형태로 생성될 수 있다.Fine speckle-related data is stored in the memory (Fig. 11, 120) of the display device together with the compensation data of the existing sampled pixels. The fine-smear-related data may be generated as compensation data of the boundary pixels among the sampled pixels as shown in FIGS.

미세 얼룩 관련 데이터는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터들의 최하위 비트(Least Significant Bit, LSB)에 분산 코딩될 있다. 이 경우에 미세 얼룩 관련 보상 데이터가 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터에 분산되므로 미세 얼룩 관련 보상 데이터 저장을 위하여 메모리 용량이 추가될 필요가 없다. Fine speckle-related data may be variably coded to the Least Significant Bit (LSB) of the compensation data of the pixels sampled in the NxN block. In this case, since the fine-smear-related compensation data is distributed to the compensation data of the sampled pixels, the memory capacity does not need to be added for storing fine smear-related compensation data.

도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다. 10 and 11 are block diagrams showing a display device according to an embodiment of the present invention.

도 10 및 도 11을 참조하면, 본 발명의 표시장치는 보상 회로(200), 구동부(110), 및 표시패널(100)을 포함한다. 10 and 11, the display apparatus of the present invention includes a compensation circuit 200, a driving unit 110, and a display panel 100. [

표시패널(100)은 입력 영상이 표시되는 픽셀 어레이를 포함한다. 픽셀 어레이는 데이터 전압이 공급되는 데이터 라인들(DL), 데이터 라인들(DL)과 직교되고 게이트 펄스(또는 스캔펄스)가 공급되는 게이트 라인들(또는 스캔 라인들, GL), 및 데이터 라인들(DL)과 게이트 라인들(GL)의 교차에 의해 정의된 매트릭스 형태로 배치되는 픽셀들을 포함한다. 픽셀들 각각은 하나 이상의 TFT와 커패시터를 포함할 수 있다. The display panel 100 includes a pixel array in which an input image is displayed. The pixel array includes data lines DL to which a data voltage is supplied, gate lines (or scan lines, GL) that are orthogonal to the data lines DL and supplied with gate pulses (or scan pulses) And pixels arranged in a matrix form defined by the intersection of the gate lines GL and the drain line DL. Each of the pixels may include one or more TFTs and a capacitor.

보상 회로(200)에는 표시장치에 전원이 공급되면 ROM(Read Only Memory)(120)로부터 샘플링된 픽셀들 보상 데이터들이 입력된다. 보상 데이터들은 블록 보간 방법에서 글로벌 데이터를 얻기 위하여 필요한 보상 데이터와, 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 포함한다. 보상 회로(200)는 블록 보간 방법으로 얼룩 영역의 픽셀들 각각의 보상값을 생성한다. 그리고 보상 회로(200)는 보상값(C)을 픽셀 데이터에 가감하여 픽셀 데이터를 변조함으로써 무라 영역의 감마 특성을 이상적인 비선형 감마 커브로 구현한다.When power is supplied to the display device, the compensating circuit 200 receives the pixels compensated data sampled from the ROM (Read Only Memory) 120. The compensation data includes compensation data necessary for obtaining global data in the block interpolation method and compensation data related to fine speckle. The compensation circuit 200 generates a compensation value of each of the pixels in the smear region by a block interpolation method. The compensation circuit 200 implements the gamma characteristic of the mura region as an ideal nonlinear gamma curve by modulating the pixel data by adding the compensation value C to the pixel data.

구동부(110)는 보상 회로(200)에 의해 변조된 데이터(RGB')를 표시패널(100)의 픽셀들(PIX)에 기입한다. 구동부(110)는 데이터 구동부(101), 게이트 구동부(또는 스캔 구동부)(102), 및 타이밍 콘트롤러(103)를 포함한다. 보상 회로(200)는 타이밍 콘트롤러(103)에 내장될 수 있다. The driving unit 110 writes the data RGB 'modulated by the compensation circuit 200 to the pixels PIX of the display panel 100. [ The driving unit 110 includes a data driver 101, a gate driver (or a scan driver) 102, and a timing controller 103. The compensation circuit 200 may be embedded in the timing controller 103.

데이터 구동부(101)는 타이밍 콘트롤러(103)로부터 입력되는 입력 영상의 픽셀 데이터(RGB')를 아날로그 감마 보상 전압으로 변환하여 데이터 전압을 발생하고, 그 데이터 전압을 데이터 라인들(DL)에 공급한다. 데이터 구동부(101)에 수신되는 픽셀 데이터는 디지털 비디오 데이터이다. 게이트 구동부(102)는 데이터 전압에 동기되는 게이트 펄스를 발생하고, 그 게이트 펄스를 시프트시키면서 게이트 라인들(GL)에 순차적으로 공급한다. The data driver 101 converts the pixel data RGB 'of the input image input from the timing controller 103 into an analog gamma compensation voltage to generate a data voltage and supplies the data voltage to the data lines DL . The pixel data received by the data driver 101 is digital video data. The gate driver 102 generates a gate pulse synchronized with the data voltage and sequentially supplies the gate pulse to the gate lines GL while shifting the gate pulse.

타이밍 콘트롤러(103)는 도시하지 않은 호스트 시스템으로부터 입력 영상의 픽셀 데이터(RGB)를 입력 받고, 또한 수직/수평 동기 신호(Vsync, Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE), 메인 클럭(DCLK) 등의 타이밍 신호들을 입력 받는다. 타이밍 콘트롤러(103)는 보상 회로(200)에 의해 변조된 픽셀 데이터(RGB')를 데이터 구동부(101)로 전송한다. 그리고 타이밍 콘트롤러(103)는 타이밍 신호들(Vsync, Hsync, DE, CLK)을 이용하여 데이터 구동부(101)와 게이트 구동부의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들(DDC, GDC)를 생성한다. The timing controller 103 receives pixel data (RGB) of an input image from a host system (not shown) and receives vertical and horizontal synchronizing signals Vsync and Hsync, a data enable signal DE, a main clock DCLK, As shown in FIG. The timing controller 103 transmits the pixel data RGB 'modulated by the compensation circuit 200 to the data driver 101. The timing controller 103 generates timing control signals DDC and GDC for controlling the operation timings of the data driver 101 and the gate driver using the timing signals Vsync, Hsync, DE and CLK.

호스트 시스템은 텔레비젼 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, DVD 플레이어, 블루레이 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 폰 시스템(Phone system) 중 어느 하나일 수 있다. The host system can be any one of a television system, a set-top box, a navigation system, a DVD player, a Blu-ray player, a personal computer (PC), a home theater system, and a phone system.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명은 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the present invention should not be limited to the details described in the detailed description, but should be defined by the claims.

100 : 표시패널 110 : 구동부
200 : 보상 회로100: display panel 110:
200: compensation circuit

Claims (13)

얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함하는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 생성하는 단계; 및
상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. Generating compensation data of pixels sampled in an NxN block including N (N is a positive integer equal to or greater than 3) N pixels existing in the smear region; And
Generating fine-smear-related compensation data for compensating fine speckles smaller than the N × N block size; And generating compensation data for compensating the smear region and the fine smear based on the compensation data of the sampling pixels and the fine smear correction data, modulating the pixel data of the input image with the compensation data, And compensating for the area and the fine stain at the same time. 제 1 항에 있어서,
상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계는,
상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 최종 보상 데이터을 생성하는 단계; 및
상기 최종 보상 데이터들로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. The method according to claim 1,
The step of simultaneously compensating for the smear region and the fine smear,
Generating final compensation data for compensating the smear region and the fine smear with a linear interpolation method using the compensation data of the sampled pixels and the fine smear-related compensation data; And
And modulating the pixel data of the input image with the final compensation data to simultaneously compensate for the smear region and the fine smear. 제 2 항에 있어서,
상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터는,
상기 미세 얼룩의 위치 정보, 상기 미세 얼룩의 형태, 및 상기 미세 얼룩의 보상값을 포함한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. 3. The method of claim 2,
The fine-smear-
And generating fine-smear-related compensation data including positional information of the fine smudges, the shape of the fine smudges, and the compensation value of the fine smudges. 제 3 항에 있어서,
상기 최종 보상 데이터들을 생성하는 단계는,
상기 샘플링된 일부 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터를 생성하는 단계; 및
상기 미세 얼룩의 보상값과 상기 글로벌 데이터의 차를 상기 글로벌 데이터에 가산하여 상기 최종 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. The method of claim 3,
Wherein generating the final compensation data comprises:
Receiving compensation data of the sampled pixels and generating global data including compensation data of all pixels in an N × N block by a linear interpolation method; And
And adding the difference between the compensation value of the fine stain and the global data to the global data to generate the final compensation data. 제 2 항에 있어서,
상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터는
최하위 비트(LSB)에 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. 3. The method of claim 2,
The compensation data of the sampled pixels is
And information on the fine-smear-related compensation data is included in the least significant bit (LSB). 제 1 항에 있어서,
상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계는,
상기 미세 얼룩의 중심을 기준으로 상기 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하는 단계;
상기 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성하는 단계; 및
상기 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. The method according to claim 1,
The step of simultaneously compensating for the smear region and the fine smear,
Dividing the NxN block into a plurality of subblocks based on the center of the fine smudges;
Generating compensation data for all the pixels in the subblocks by a linear interpolation method in each of the subblocks; And
And modulating the pixel data of the input image with the compensation data for all pixels in the sub-blocks to simultaneously compensate for the smear region and the fine smear. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 미세 얼룩은 선 결함, 점 결함, 부정형 얼룩 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법. 7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the fine stain includes at least one of line defect, point defect, and irregular pattern. 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 표시패널;
N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함한 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와, 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 메모리로부터 읽어 들이고, 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 보상 회로; 및
상기 보상 회로로부터 출력된 데이터를 상기 표시패널의 픽셀들에 기입하는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치. A display panel in which pixels are arranged in a matrix form;
Compensation data for compensating for compensation data of pixels sampled in an N × N block including N (N is a positive integer of 3 or more) × N pixels and fine smudges of a size smaller than the N × N block size From the memory, generates compensation data for compensating the smear region and the fine smear based on the compensation data of the sampling pixels and the fine smear-related compensation data, A compensation circuit for simultaneously compensating the smear region and the fine smear; And
And a driver for writing the data output from the compensation circuit to the pixels of the display panel. 제 8 항에 있어서,
상기 보상 회로는,
상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 최종 보상 데이터들을 생성하고, 상기 최종 보상 데이터보상 데이터들을 이용하여 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하는 것을 특징으로 하는 표시장치. 9. The method of claim 8,
Wherein the compensation circuit comprises:
And generates the final compensation data by a linear interpolation method using the compensation data of the sampled pixels and the fine-smear-related compensation data, and modulates the pixel data of the input image using the final compensation data compensation data. . 제 9 항에 있어서,
상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터는,
상기 미세 얼룩의 위치 정보, 상기 미세 얼룩의 형태, 및 상기 미세 얼룩의 보상값을 포함한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치. 10. The method of claim 9,
The fine-smear-
And generating fine-smear-related compensation data including positional information of the fine smudges, the shape of the fine smudges, and the compensation value of the fine smudges. 제 10 항에 있어서,
상기 보상 회로는,
상기 샘플링된 일부 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터를 생성하고,
상기 미세 얼룩의 보상값과 상기 글로벌 데이터의 차를 상기 글로벌 데이터에 가산하여 상기 최종 보상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시장치. 11. The method of claim 10,
Wherein the compensation circuit comprises:
Generating global data including compensation data of all the pixels in the NxN block by using a linear interpolation method, receiving the compensation data of the sampled pixels,
And adds the difference between the compensation value of the fine smear and the global data to the global data to generate the final compensation data. 제 9 항에 있어서,
상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터는,
최하위 비트(LSB)에 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치. 10. The method of claim 9,
The compensated data of the sampled pixels may include:
And information on the fine-smear-related compensation data is included in the least significant bit (LSB). 제 8 항에 있어서,
상기 보상 회로는,
상기 미세 얼룩의 중심을 기준으로 상기 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하고, 상기 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하는 것을 특징으로 하는 표시장치. 9. The method of claim 8,
Wherein the compensation circuit comprises:
The N × N block is divided into a plurality of sub-blocks based on the center of the fine speckle, and compensation data for all the pixels in the sub-blocks are generated by the linear interpolation method in each of the sub-blocks, And modulates the pixel data of the input image with compensation data for all pixels in the blocks.
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