KR20150068305A - Glass sheet, apparatus for producing glass sheet and method for producing glass sheet - Google Patents

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Abstract

The present invention provides: a glass plate having increased separation properties with respect to a vacuum suction stage; an apparatus for manufacturing the same; and a method for manufacturing the same. The apparatus includes: a lower end nozzle (16) which supplies slurry (14) on a lower side (G1) of the glass plate (G); and a grinding tool (12) which presses the lower side of the glass plate (G) and rotates around a rotation axis, perpendicular to the lower side (G1) of the glass plate (G). The apparatus supplies the slurry (14) through the lower nozzle (16) to the lower side (G1) of the glass plate (G), and grinds the lower side (G1) with the grinding tool (12) to process the lower side (G1) so that the maximum groove depth Rv (JIS B 0601·2013) of the lower side (G1) is to be 3.0-5.0 nm.

Description

유리판, 유리판의 제조 장치 및 유리판의 제조 방법 {GLASS SHEET, APPARATUS FOR PRODUCING GLASS SHEET AND METHOD FOR PRODUCING GLASS SHEET}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a glass plate, a manufacturing apparatus for the glass plate, and a manufacturing method of the glass plate.

본 발명은 유리판, 유리판의 제조 장치 및 유리판의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a glass plate, a glass plate manufacturing apparatus, and a glass plate manufacturing method.

액정 디스플레이, 플라즈마 디스플레이, 유기 EL 디스플레이 등의 FPD(Flat Panel Display)에 사용되는 유리판은, 유리판에 투명 전극, 반도체 소자가 형성된다. 예를 들어 액정 디스플레이에서는, 유리판에 투명 전극, TFT(Thin Film Transistor), CF(Color Filter) 등의 전자 부재가 형성된다.BACKGROUND ART A glass plate used in a FPD (Flat Panel Display) such as a liquid crystal display, a plasma display, and an organic EL display is formed with a transparent electrode and a semiconductor element on a glass plate. For example, in a liquid crystal display, electronic members such as a transparent electrode, a TFT (Thin Film Transistor), and a CF (Color Filter) are formed on a glass plate.

유리판에의 전자 부재의 형성은, 유리판의 제1 표면을 흡착 스테이지에 진공 흡착에 의하여 고정한 상태에서 제2 표면에 대하여 행해진다. 그러나 유리판의 제1 표면은 평활하기 때문에 유리판이 흡착 스테이지에 강하게 부착되어 버려, 무리하게 박리하고자 하면 유리판이 파손된다는 문제가 있었다. 또한 유리판은 대전되기 쉽기 때문에 유리판을 흡착 스테이지로부터 박리할 때, 유리판이 대전되어 박리 대전이 발생하고, 전자 부재에 정전 파괴가 일어난다는 문제도 있었다.The formation of the electronic member on the glass plate is performed with respect to the second surface in a state in which the first surface of the glass plate is fixed to the absorption stage by vacuum suction. However, since the first surface of the glass plate is smooth, the glass plate is strongly adhered to the adsorption stage, and if it is forcibly peeled off, the glass plate is damaged. Further, since the glass plate is liable to be charged, there is a problem that when the glass plate is peeled off from the adsorption stage, the glass plate is electrified to cause peeling electrification and electrostatic destruction occurs in the electron member.

따라서 흡착 스테이지에 부착되는 유리판의 제1 표면을 조면화 처리하여 유리판과 흡착 스테이지의 접촉 면적을 작게 하여, 유리판이 흡착 스테이지에 강하게 부착되는 것 및 유리판에 박리 대전이 발생하는 것을 방지한 유리판이 특허문헌 1, 2에 개시되어 있다.Therefore, the first surface of the glass plate adhered to the adsorption stage is roughened to reduce the contact area between the glass plate and the adsorption stage, thereby preventing the glass plate from adhering strongly to the adsorption stage and the glass plate from being peeled off. It is disclosed in documents 1 and 2.

특허문헌 1에서는, 유리판의 제1 표면의 평균 표면 조도 Ra(JIS B 0601·2001)를 0.8 내지 2.0㎚로 규정하는 것이 개시되어 있고, 특허문헌 2에서는 유리판의 제1 표면의 평균 표면 조도 Ra를 0.3 내지 1.5㎚로 규정하는 것이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses that the average surface roughness Ra (JIS B 0601 占 2001 i) of the first surface of the glass plate is defined to be 0.8 to 2.0 nm. In Patent Document 2, the average surface roughness Ra of the first surface of the glass plate is 0.3 to 1.5 nm.

특허문헌 1의 유리판은, 0.3 내지 0.5㎫로 설정된 압축 공기와 함께 액체에 연마 지립(산화세륨)을 함유시킨 슬러리를 노즐로부터 유리판의 제1 표면에 분사하여 조면화 처리하는 것에 의하여 제조된다.The glass plate of Patent Document 1 is prepared by spraying a slurry containing abrasive grains (cerium oxide) in a liquid with compressed air set at 0.3 to 0.5 MPa to the first surface of the glass plate from the nozzle and roughening the surface.

한편, 특허문헌 2의 유리판은, HF를 0.05 내지 5질량% 함유하는 약액, 또는 NH4F를 20질량% 이상 함유하는 약액에 의하여 화학 처리하는 것에 의하여 제조된다.On the other hand, the glass plate of Patent Document 2 is produced by chemical treatment with a chemical solution containing HF at 0.05 to 5 mass% or a chemical solution containing NH 4 F at 20 mass% or more.

그런데 FPD용 유리판은 복수의 공정을 거침으로써 제조된다.However, the glass plate for FPD is manufactured by a plurality of processes.

예를 들어 플로트법에 의한 FPD용 유리판의 제조 공정은, 크게 구별하여 유리판 성형 공정, 연마 공정, 세정 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 포함한다. 또한 세정 공정에는 샤워 세정 공정, 디스크 브러시를 사용한 슬러리 세정 공정, 샤워 린스 공정 등이 설정되어 있다.For example, the manufacturing process of the glass plate for FPD by the float method is roughly classified into a glass plate forming process, a polishing process, a cleaning process, a drying process and an inspection process. In the cleaning process, a shower cleaning process, a slurry cleaning process using a disc brush, a shower rinse process, and the like are set.

일본 특허 공개 제2008-120638호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-120638 일본 특허 공개 제2010-275167호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-275167

특허문헌 1, 2에 개시된 유리판에 있어서도, 유리판이 흡착 스테이지에 강하게 부착되는 것 및 유리판에 박리 대전이 발생하는 것을 방지할 수 있지만, 평균 표면 조도 Ra의 최댓값이 2.0㎚이기 때문에, 흡착 스테이지의 흡착력이 큰 경우에는 유리판이 흡착 스테이지에 강하게 부착되거나, 유리판에 박리 대전이 발생하거나 하는 경우가 있었다.Even in the case of the glass plates disclosed in Patent Documents 1 and 2, it is possible to prevent the glass plate from being strongly adhered to the adsorption stage and the peeling electrification from occurring on the glass plate, but since the maximum value of the average surface roughness Ra is 2.0 nm, There is a case where the glass plate is strongly adhered to the adsorption stage or peeling electrification occurs on the glass plate in some cases.

또한 특허문헌 1, 2의 유리판 제법으로는, 상술한 유리판의 제조 공정 중에서 제조할 수 없으며, 제조 공정으로부터 유리판을 발취하여 조면화 처리할 필요가 있으므로, 유리판의 생산성이 악화된다는 문제도 있었다.In addition, the glass plate manufacturing method disclosed in Patent Documents 1 and 2 can not be manufactured in the manufacturing process of the above-described glass plate, and it is necessary to take out the glass plate from the manufacturing process and perform the roughening treatment.

본 발명은 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것이며, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 향상시킨 유리판, 유리판의 제조 장치 및 유리판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a glass plate, a manufacturing apparatus for a glass plate, and a manufacturing method for a glass plate which are improved in peelability to an adsorption stage.

본 발명의 일 실시 형태는 상기 목적을 달성하기 위하여, 제1 표면, 및 당해 제1 표면에 대면하는 제2 표면을 갖는 유리판에 있어서, 제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚인 것을 특징으로 하는 유리판을 제공한다.In order to achieve the above object, according to one embodiment of the present invention, there is provided a glass plate having a first surface and a second surface facing the first surface, wherein a maximum valley depth Rv (JIS B 0601 · 2013) Is 3.0 nm < Rv < 5.0 nm.

본 발명의 일 실시 형태는, 상기 제1 표면은 흡착 스테이지에 접하는 측으로 되는 면이며, 상기 제2 표면은 전자 부재가 형성되는 면인 것이 바람직하다.In an embodiment of the present invention, it is preferable that the first surface is a surface which is in contact with the adsorption stage, and the second surface is a surface in which the electron member is formed.

본 발명의 일 실시 형태는 디스플레이용 유리판으로서 사용되는 것이 바람직하다.An embodiment of the present invention is preferably used as a glass plate for display.

본 발명의 일 실시 형태는, 상기 제2 표면의 해상도가 가로 1920×세로 1080 이상인 것이 바람직하다.In an embodiment of the present invention, the resolution of the second surface is preferably 1920 x 1080 or more.

디스플레이용 유리판 중 제2 표면의 해상도가 가로 1920×세로 1080 이상인 고정밀 디스플레이용 유리판은, 고정밀이기 때문에 정전 파괴 불량이 다발하고 있었지만, 본 발명의 유리판은 제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚이므로, 상기 흡착 스테이지에 대한 박리성이 향상되고, 정전 파괴 불량의 발생률을 저감시킬 수 있다. 따라서 본 발명의 일 실시 형태는 상기 고정밀 디스플레이용 유리판에 유효하다.Although the glass plate for high-precision display having the resolution of the second surface of the glass plate for display of 1920 × 1080 or more is high in accuracy, the glass plate of the present invention has the maximum thickness of the first surface Rv (JIS B 0601 2013) is 3.0 nm < Rv < 5.0 nm, the peeling property to the adsorption stage is improved, and the occurrence rate of the electrostatic breakdown failure can be reduced. Therefore, an embodiment of the present invention is effective for the high-precision display glass plate.

본 발명의 일 실시 형태는 상기 목적을 달성하기 위하여, 유리판의 서로 대향하는 2개의 면 중 제1 표면에 연마재를 공급하는 연마재 공급 수단과, 상기 유리판의 상기 제1 표면에 가압됨과 함께, 상기 유리판의 면에 직교하는 축을 중심으로 회전되는 연마구를 구비하고, 상기 유리판의 제1 표면에 상기 연마재 공급 수단으로부터 연마재를 공급하면서 상기 연마구에 의하여 상기 제1 표면을 연삭함으로써, 상기 제1 표면에 있어서의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 상기 제1 표면을 가공하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an abrasive material supply apparatus comprising abrasive supply means for supplying abrasives to a first one of two mutually opposing surfaces of a glass plate, Wherein the abrasive material is supplied to the first surface of the glass plate from the abrasive material supply means while grinding the first surface with the abrasive material to form the abrasive material on the first surface of the glass plate, Wherein the first surface is processed such that the maximum valley depth Rv (JIS B 0601 201 2013) of 3.0 nm < Rv < 5.0 nm is obtained.

또한 본 발명의 일 실시 형태는 상기 목적을 달성하기 위하여, 유리판의 서로 대향하는 2개의 면 중 제1 표면에 연마재를 공급하는 연마재 공급 수단과, 상기 유리판의 상기 제1 표면에 가압됨과 함께, 상기 유리판의 면에 직교하는 축을 중심으로 회전되는 연마구를 구비하는 유리판의 제조 장치를 사용하여, 상기 유리판의 제1 표면에 상기 연마재 공급 수단으로부터 연마재를 공급하면서 상기 연마구에 의하여 상기 제1 표면을 연삭함으로써, 상기 제1 표면에 있어서의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 상기 제1 표면을 가공하는 것을 포함하는 유리판의 제조 방법을 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided an abrasive according to one aspect of the present invention, comprising: abrasive supply means for supplying abrasives to a first one of two mutually opposing surfaces of a glass plate; Wherein the abrasive material is supplied from the abrasive material supply means to the first surface of the glass sheet while the abrasive material is being supplied to the first surface of the glass sheet by the abrasive grains, And processing the first surface so that the maximum valley depth Rv (JIS B 0601 · 2013) on the first surface is 3.0 nm <Rv <5.0 nm by grinding.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 유리판의 제1 표면에 연마재 공급 수단으로부터 연마재를 공급하면서 연마구에 의하여 제1 표면을 연삭함으로써, 제1 표면에 있어서의 최대 골 깊이 Rv가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되는 유리판을 제조한다.According to one embodiment of the present invention, by grinding the first surface by the abrasive while supplying the abrasive from the abrasive supply means to the first surface of the glass plate, the maximum bony depth Rv on the first surface is 3.0 nm < Rv & To prepare a glass plate having a thickness of 5.0 nm.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 유리판의 표면 조도를 최대 골 깊이 Rv로 규정하고, 최대 골 깊이 Rv의 범위는 이하의 이유에 따라 규정하였다. 즉, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 보증하기 위해서는, 최대 골 깊이 Rv의 최솟값이 3.0㎚을 초과할 필요가 있음을 실험으로 확인하였다. 또한 최대 골 깊이 Rv가 5.0㎚ 미만이면 유리판의 면내 강도를 보증할 수 있음을 실험으로 확인하였다. 이러한 이유에 기초하여 본 발명에서는 3.0㎚<Rv<5.0㎚라고 규정하였다.According to one embodiment of the present invention, the surface roughness of the glass plate is defined as the maximum bone depth Rv, and the range of the maximum bone depth Rv is defined for the following reason. That is, in order to assure the peelability to the adsorption stage, it has been experimentally confirmed that the minimum value of the maximum valley depth Rv needs to exceed 3.0 nm. In addition, it was confirmed by experiments that the maximum depth of the ribs Rv is less than 5.0 nm, which can guarantee the in-plane strength of the glass plate. Based on these reasons, the present invention defines 3.0 nm <Rv <5.0 nm.

이에 따라 본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 향상시킨 유리판이며, 면내 강도를 보증한 유리판을 제공할 수 있다.Thus, according to one embodiment of the present invention, it is possible to provide a glass plate improved in peelability to a suction stage, and capable of guaranteeing in-plane strength.

본 발명의 일 실시 형태는, 상기 연마구는, 쿠션 부재의 표면에 연마 패드가 구비되어 구성되는 것이 바람직하다.In an embodiment of the present invention, it is preferable that the polishing pad has a polishing pad provided on the surface of the cushioning member.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 예를 들어 발포 폴리우레탄제의 연마 패드를 유리판의 제1 표면에 가압하여 제1 표면을 조면화 처리한다. 이때 연마 패드는, 예를 들어 스펀지제의 쿠션 부재의 표면에 구비되어 있으므로, 제1 표면의 굴곡에 추종하면서 제1 표면을 연마한다. 이에 따라 유리판의 제1 표면을 균일한 조도로 가공할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, for example, a polishing pad made of foamed polyurethane is pressed against a first surface of a glass plate to roughen the first surface. At this time, since the polishing pad is provided on the surface of the cushion member made of, for example, a sponge, the first surface is polished following the curvature of the first surface. Thus, the first surface of the glass plate can be processed with uniform illuminance.

본 발명의 일 실시 형태는, 상기 연마 패드의 표면에는 복수의 홈이 구비되어 있는 것이 바람직하다.In an embodiment of the present invention, it is preferable that a plurality of grooves are provided on the surface of the polishing pad.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 연마 패드의 회전수를 제어함으로써, 연마 패드의 홈에 의하여 형성되는 유리판의 제1 표면의 모양 형상을 원하는 모양 형상으로 제어할 수 있다. 또한 연마재는 연마 패드의 홈에 보유 지지되므로 연마 시에 의한 번인(burn-in) 등의 문제가 방지되어, 제1 표면의 면 품질을 유지할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the shape of the first surface of the glass plate formed by the grooves of the polishing pad can be controlled to a desired shape by controlling the number of revolutions of the polishing pad. Further, since the abrasive is held in the groove of the polishing pad, problems such as burn-in due to polishing are prevented, and the surface quality of the first surface can be maintained.

본 발명의 일 실시 형태는, 상기 유리판의 제2 표면에 가압되어 상기 제2 표면을 세정하는 세정 부재가 구비되어 있는 것이 바람직하다.An embodiment of the present invention is preferably provided with a cleaning member pressed against the second surface of the glass plate to clean the second surface.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 연마 패드에 의한 제1 표면의 조면화 처리와, 예를 들어 디스크 브러시 등의 세정 부재에 의한 다른 쪽 면의 세정 처리를 동시에 실시할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the roughening treatment of the first surface by the polishing pad and the cleaning treatment of the other surface by the cleaning member such as a disc brush can be performed at the same time.

이상 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 유리판, 유리판의 제조 장치 및 유리판의 제조 방법에 의하면, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 향상시킨 유리판을 얻을 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, according to the glass plate, the glass plate manufacturing apparatus, and the glass plate manufacturing method according to the present invention, it is possible to obtain a glass plate improved in peelability to the absorption stage.

도 1은 실시 형태의 유리판의 제조 장치의 전체 구성을 도시한 사시도.
도 2는 도 1에 도시한 제조 장치의 정면도.
도 3은 도 1에 도시한 제조 장치의 저면도.
도 4는 도 1의 제조 장치에 사용된 연마 패드의 사시도.
도 5는 FPD용 유리판의 제조 공정의 각 공정을 블록으로 도시한 설명도.
1 is a perspective view showing an overall structure of a manufacturing apparatus of a glass plate according to an embodiment.
Fig. 2 is a front view of the manufacturing apparatus shown in Fig. 1; Fig.
3 is a bottom view of the manufacturing apparatus shown in Fig.
Fig. 4 is a perspective view of a polishing pad used in the manufacturing apparatus of Fig. 1; Fig.
5 is an explanatory view showing each step of the manufacturing process of the glass plate for FPD as a block.

이하, 첨부 도면에 따라 본 발명에 따른 유리판, 유리판의 제조 장치 및 유리판의 제조 방법 바람직한 실시 형태에 대하여 설명한다.DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a glass plate, a glass plate manufacturing apparatus and a glass plate manufacturing method according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

〔유리판의 제조 공정〕[Production process of glass plate]

우선 유리판의 제조 공정에 대하여 도 5를 사용하여 설명한다. 도 5는 FPD용 유리판의 제조 공정(100)의 각 공정을 블록으로 도시한 설명도이다.First, the manufacturing process of the glass plate will be described with reference to FIG. Fig. 5 is an explanatory diagram showing each step of the manufacturing process 100 of the glass plate for FPD as a block.

플로트법에 의한 FPD용 유리판의 제조 방법에 있어서의 제조 공정(100)은, 유리판 성형 공정(102), 연마 공정(연마 장치)(104), 샤워 세정 공정(106), 슬러리 세정 공정(108), 제1 고압 샤워 세정 공정(110), 세제 세정 공정(112), 제2 고압 샤워 세정 공정(114), 순수 세정 공정(116), 제3 고압 샤워 세정 공정(118), 순수 샤워 린스 공정(120), 최종 린스 공정(122), 건조 공정(건조 장치)(124) 및 검사 공정(126)을 포함한다. 또한 유리판의 제조 방법은 플로트법에 한정되지 않으며, 퓨전법 및 리드로우법 등의 다른 제조 방법이어도 된다.The manufacturing process 100 in the method of manufacturing an FPD glass plate by the float method includes a glass plate forming step 102, a polishing step (polishing apparatus) 104, a shower washing step 106, a slurry washing step 108, The first high pressure shower washing step 110, the detergent washing step 112, the second high pressure shower washing step 114, the pure water washing step 116, the third high pressure shower washing step 118, the pure shower rinsing step 120, a final rinse process 122, a drying process (drying device) 124, and an inspection process 126. The production method of the glass plate is not limited to the float method, and other manufacturing methods such as the fusion method and the reedrow method may be used.

유리판 성형 공정(102)은, 용융 유리로부터 띠형 판유리를 성형하는 공정과, 띠형 판유리를 소정의 직사각형 크기의 유리판으로 절단하는 공정을 포함한다. 유리판은 연마 공정(104)에서 연마 종료 후 검사 공정(126)에 이르기까지, 롤러 컨베이어에 의하여 수평 방향으로 연속 반송되면서 각 공정에서 소정의 처리가 실시된다. 그리고 최종 공정의 검사 공정(126)을 거친 유리판은 팔레트에 곤포되어 출하된다.The glass sheet forming step 102 includes a step of forming a strip-shaped plate glass from the molten glass and a step of cutting the strip-shaped plate glass into a glass plate of a predetermined rectangular size. The glass plate is continuously transported in the horizontal direction by the roller conveyor, from the polishing step 104 to the inspection step 126 after polishing, and predetermined processing is performed in each step. The glass plate having undergone the inspection process 126 of the final process is packed in a pallet and shipped.

본 발명의 제조 방법에 있어서의, 유리판의 제1 표면을 조면화 처리하여 제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 가공하는 공정은, 슬러리 세정 공정(108)에서 행해진다. 즉, 슬러리 세정 공정(108)에 실시 형태의 유리판의 제조 장치가 배치된다. 이 제조 장치에 의하여, 유리판의 제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 유리판의 제1 표면이 조면화된다.In the manufacturing method of the present invention, the step of roughening the first surface of the glass plate so that the maximum depth Rv (JIS B 0601 · 2013) of the first surface is 3.0 nm <Rv <5.0 nm, Cleaning process 108 is performed. In other words, the apparatus for manufacturing a glass plate according to the embodiment is disposed in the slurry cleaning step 108. By this manufacturing apparatus, the first surface of the glass plate is roughened so that the maximum valley depth Rv (JIS B 0601 · 2013) of the first surface of the glass plate becomes 3.0 nm <Rv <5.0 nm.

유리판(G)의 일례로서 이하의 조성을 갖는 유리를 들 수 있다.As an example of the glass plate G, glass having the following composition can be mentioned.

산화물 기준의 질량 백분율 표시로As a percentage of mass based on oxide

SiO2: 50 내지 73%SiO 2 : 50 to 73%

Al203: 10 내지 27%Al 2 O 3 : 10 to 27%

B203: 0 내지 12%B 2 0 3 : 0 to 12%

MgO: 0 내지 10%MgO: 0 to 10%

CaO: 0 내지 15%CaO: 0 to 15%

SrO: 0 내지 24%SrO: 0 to 24%

BaO: 0 내지 15%BaO: 0 to 15%

MgO+CaO+SrO+BaO: 8 내지 29.5%MgO + CaO + SrO + BaO: 8 to 29.5%

ZrO2: 0 내지 5%ZrO 2 : 0 to 5%

를 함유하는 무알칼리 유리.Alkali-free glass.

유리판(G)의 두께는 특별히 한정되지 않으며, 0.7㎜ 이하가 바람직하고, 0.5㎜ 이하가 보다 바람직하며, 0.3㎜ 이하가 더욱 바람직하다.The thickness of the glass plate G is not particularly limited and is preferably 0.7 mm or less, more preferably 0.5 mm or less, and further preferably 0.3 mm or less.

〔제조 장치(10)의 구성〕[Configuration of Manufacturing Apparatus 10]

도 1은 실시 형태의 제조 장치(10)의 전체 구성을 도시한 사시도이다. 도 2는 도 1에 도시한 제조 장치(10)의 정면도, 도 3은 도 1에 도시한 제조 장치(10)의 저면도이다.Fig. 1 is a perspective view showing the entire structure of a manufacturing apparatus 10 according to the embodiment. Fig. Fig. 2 is a front view of the manufacturing apparatus 10 shown in Fig. 1, and Fig. 3 is a bottom view of the manufacturing apparatus 10 shown in Fig.

제조 장치(10)는, 도 2, 도 3과 같이 유리판(G)의 하면(G1)(제1 표면)에 가압 접촉되는 복수의 연마구(12)와, 도 2와 같이 연마재인 산화세륨 수용액(슬러리)(14)을 하면(G1)에 공급하는 하단 노즐(연마재 공급 수단)(16)을 구비하여 구성된다.The manufacturing apparatus 10 includes a plurality of polishing ports 12 which are in press contact with the lower surface G1 (first surface) of the glass plate G as shown in Figs. 2 and 3, (Abrasive material supply means) 16 for supplying a slurry (slurry) 14 to the lower surface G1.

또한 제조 장치(10)에는, 도 1과 같이 유리판(G)의 하면(G1)(도 2 참조)이 접촉되는 하단 롤러 군(18)과, 하단 롤러 군(18)의 상방에 배치되고 또한 유리판(G)의 하면(G1)에 대면하는 상면(G2)(제2 표면)에 접촉되어 하단 롤러 군(18) 사이에서 유리판(G)을 두께 방향으로 끼워 넣는 상단 핀치 롤러 군(20)을 구비한다. 유리판(G)은 하단 롤러 군(18)의 화살표 B로 나타내는 방향의 회전에 의하여, 화살표 A로 나타내는 방향으로 수평 상태로 반송된다.The manufacturing apparatus 10 is also provided with a lower roller group 18 in contact with the lower surface G1 of the glass plate G as shown in Fig. 1 and a lower roller group 18 disposed above the lower roller group 18, And a top pinch roller group 20 that contacts the top surface G2 (second surface) facing the bottom G1 of the sheet G and sandwiches the glass sheet G in the thickness direction between the bottom roller groups 18 do. The glass plate G is conveyed in a horizontal state in the direction indicated by the arrow A by the rotation of the lower roller group 18 in the direction indicated by the arrow B.

하단 롤러 군(18)을 구성하는 복수의 롤러(22)는 직선 막대형이며 원기둥형으로 구성된다. 또한 복수의 롤러(22)는 반송 방향을 따라 소정의 간격을 두고 병설된다. 한편, 상단 핀치 롤러 군(20)을 구성하는 복수의 롤러(24)도 마찬가지로 직선 막대형이며 원기둥형으로 구성된다. 또한 롤러(24)도 롤러(22)와 마찬가지로 반송 방향을 따라 소정의 간격을 두고 병설된다.The plurality of rollers 22 constituting the lower roller group 18 are linear bar-shaped and have a cylindrical shape. The plurality of rollers 22 are juxtaposed at predetermined intervals along the transport direction. On the other hand, the plurality of rollers 24 constituting the upper pinch roller group 20 are likewise linear-bar-shaped and have a cylindrical shape. The rollers 24 are also juxtaposed at predetermined intervals along the transport direction like the rollers 22.

인접하는 롤러(24)와 롤러(24) 사이에는 복수의 디스크 브러시(26)가 반송 방향에 직교하는 방향으로 배열되어 있다. 디스크 브러시(26)는 유리판(G)의 상면(G2)에 접촉되고, 또한 유리판(G)의 상면(G2)에 직교하는 연직 방향의 회전축(26A)을 중심으로 회전된다.Between adjacent rollers 24 and 24, a plurality of disc brushes 26 are arranged in a direction perpendicular to the carrying direction. The disc brush 26 is brought into contact with the upper surface G2 of the glass plate G and is also rotated about the vertical rotation axis 26A orthogonal to the upper surface G2 of the glass plate G. [

디스크 브러시(26)의 상방에는 도 2와 같이 상단 노즐(28)이 배치되고, 이 상단 노즐(28)로부터 유리판(G)의 상면(G2)에 슬러리(30)가 공급된다.An upper nozzle 28 is disposed above the disc brush 26 as shown in Fig. 2 and the slurry 30 is supplied to the upper surface G2 of the glass plate G from the upper nozzle 28. [

슬러리 세정 공정(108)에서는, 유리판(G)의 상면(G2)에 슬러리(30)를 공급하면서 디스크 브러시(26)로 상면(G2)을 연마함으로써, 상면(G2)에 남아있는 슬러리 잔사를 제거한다. 또한 유리판(G)의 하면(G1)에 슬러리(14)를 공급하면서 연마구(12)로 연마함으로써, 하면(G1)에 남아있는 프레임형 슬러리를 제거하고, 또한 하면(G1)을 연마구(12)에 의하여 조면화(0.3㎚<Rv<0.5㎚)한다.In the slurry cleaning step 108, the slurry 30 is supplied to the upper surface G2 of the glass plate G, and the upper surface G2 is polished with the disk brush 26 while the slurry residue remaining on the upper surface G2 is removed do. The slurry 14 is supplied to the lower surface G1 of the glass plate G and is polished with the polishing tool 12 to remove the frame slurry remaining on the lower surface G1 and the lower surface G1 to the polishing pad 12 (0.3 nm < Rv < 0.5 nm).

또한 디스크 브러시(26)는 PVA(폴리비닐알코올)의 스펀지제이며 외경 70 내지 100㎜의 원기둥형이다. 디스크 브러시(26)의 회전(자전) 속도는 100 내지 500rpm이다. 또한 이들의 값은 어디까지나 일례이다.The disk brush 26 is made of PVA (polyvinyl alcohol) sponge and has a cylindrical shape with an outer diameter of 70 to 100 mm. The rotating speed of the disk brush 26 is 100 to 500 rpm. These values are only examples.

제조 장치(10)의 복수의 연마구(12)는, 도 3과 같이 하단 롤러 군(18)의 인접하는 2개의 롤러(22, 22) 사이에, 유리판(G)의 반송 방향에 직교하는 방향으로 소정의 간격을 두고 배열된다. 연마구(12)는 유리판(G)의 하면(G1)에 가압 접촉되고, 또한 유리판(G)의 하면(G1)에 직교하는 연직 방향의 회전축(12A)(도 2 참조)을 중심으로 회전된다. 따라서 유리판(G)의 하면(G1)은 슬러리 세정 공정(108)(도 5 참조)을 통과 중에, 슬러리(14)와 회전하는 복수의 연마구(12)에 의하여 조면화(0.3㎚<Rv<0.5㎚)된다.The plurality of polishing ports 12 of the manufacturing apparatus 10 are arranged between the adjacent two rollers 22 and 22 of the lower roller group 18 as shown in Fig. 3, in a direction perpendicular to the conveying direction of the glass plate G As shown in Fig. The abrasive grains 12 are pressed against the lower surface G1 of the glass plate G and are also rotated about the vertical rotation axis 12A (see Fig. 2) orthogonal to the lower surface G1 of the glass plate G . The lower surface G1 of the glass plate G is roughened (0.3 nm < Rv < 1) by the plurality of polishing ports 12 rotating with the slurry 14 while passing through the slurry cleaning process 108 0.5 nm).

도 4는 연마구(12)의 구성을 도시한 확대 사시도이다.Fig. 4 is an enlarged perspective view showing the configuration of the polishing tool 12. Fig.

연마구(12)는, 도시하지 않은 회전 구동원으로부터의 회전력이 전달되는 원기둥형 베이스 부재(32)와, 베이스 부재(32)의 단부(도 2에서는 상단부)에 설치된 스펀지(쿠션 부재)(34)와, 스펀지(34)의 단부(도 2에서는 상단부)에 부착된 발포 폴리우레탄제의 연마 패드(36)로 구성되며, 연마 패드(36)가 유리판(G)의 하면(G1)에 도 2와 같이 가압 접촉된다. 또한 도 4와 같이 연마 패드(36)의 표면에는 복수의 홈(38)이 교차하여 구비되어 있다. 이들 홈(38)과 홈(38)을 제외한 평탄부(40)에 의하여 연마 패드(36)의 랜드(L)가 형성된다. 또한 연마 패드(36)의 D 경도는 50 이상이 바람직하고, 스펀지(34)의 A 경도는 약 20이다. 또한 홈(38)의 개수, 폭, 간격을 변경함으로써, 연마 패드(36)의 랜드(L)의 형상을 임의로 변경할 수 있다.The polishing tool 12 includes a cylindrical base member 32 to which rotational force from a rotation drive source (not shown) is transmitted, a sponge (cushion member) 34 provided at an end portion And a polishing pad 36 made of foamed polyurethane attached to an end portion (upper end in FIG. 2) of the sponge 34. The polishing pad 36 is attached to the lower face G1 of the glass plate G as shown in FIGS. Pressure contact. 4, a plurality of grooves 38 are provided on the surface of the polishing pad 36 so as to cross each other. The lands L of the polishing pad 36 are formed by the flat portions 40 excluding the grooves 38 and the grooves 38. The D hardness of the polishing pad 36 is preferably 50 or more, and the A hardness of the sponge 34 is about 20. Further, the shape of the land L of the polishing pad 36 can be arbitrarily changed by changing the number, the width, and the interval of the grooves 38. [

〔제조 장치(10)의 작용〕[Operation of Manufacturing Apparatus 10]

유리판(G)의 하면(G1)에 대한 연마구(12)의 압입량을 0.6㎜ 내지 1.0㎜로 설정하고, 또한 연마구(12)의 회전수를 분속 30회전으로 설정한다. 그 후, 하면(G1)에 있어서의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 유리판(G)의 하면(G1)에 하단 노즐(16)로부터 슬러리(14)를 공급하면서 연마구(12)에 의하여 하면(G1)을 연삭한다. 또한 상기 압입량 및 회전수는 어디까지나 일례이며, 압입량, 회전수, 연마 패드(36)의 재질은 유리판(G)의 두께, 유리판의 경도, 반송 속도 등의 다른 요인을 고려하여 결정된다.The amount of indentation of the polishing tool 12 to the lower surface G1 of the glass plate G is set to 0.6 mm to 1.0 mm and the number of revolutions of the polishing tool 12 is set to 30 revolutions per minute. Thereafter, the lower surface of the glass plate G is coated with the slurry 14 (14) from the lower end nozzle 16 to the lower surface G1 of the glass plate G so that the maximum trough depth Rv (JIS B 0601 · 2013) on the lower surface G1 becomes 3.0 nm < And the lower surface G1 is ground by the polishing tool 12. The press-in amount and the number of revolutions are merely examples. The press-in amount, the number of revolutions, and the material of the polishing pad 36 are determined in consideration of other factors such as the thickness of the glass plate G, the hardness of the glass plate,

실시 형태에서는, 유리판(G)의 표면의 조도를 평균 표면 조도 Ra가 아니라 최대 골 깊이 Rv로 규정하였다. 즉, 투명 전극, 반도체 소자 등의 전자 부재의 형성 공정에 있어서 흡착 스테이지에 대한 유리판(G)의 박리성은, 최대 골 깊이 Rv가 커짐에 따라 향상되는 것을 실험으로 확인하였다. 또한 특허문헌 1, 2와 같이 평균 표면 조도 Ra만을 규정한 유리판에서는 박제성이 높은 유리판을 안정되게 얻을 수 없으며, 흡착 스테이지의 흡착력이 높은 경우에는 흡착 스테이지에 강하게 부착되어 버리는 유리판이 존재한 것도 실험으로 확인하였다.In the embodiment, the roughness of the surface of the glass plate G is defined as the maximum valley depth Rv, not the average surface roughness Ra. That is, it has been experimentally confirmed that the peelability of the glass plate G with respect to the adsorption stage in the process of forming the electronic member such as the transparent electrode or the semiconductor element is improved as the maximum valley depth Rv increases. Also, in the case of a glass plate in which only an average surface roughness Ra is defined as in Patent Documents 1 and 2, a glass plate having a high stickiness can not be stably obtained, and a glass plate strongly adhered to the adsorption stage exists when the adsorption force of the adsorption stage is high Respectively.

한편, 최대 골 깊이 Rv의 범위는 이하의 이유에 따라 규정하였다. 즉, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 보증하기 위해서는, 최대 골 깊이 Rv의 최솟값이 3.0㎚을 초과할 필요가 있는 것을 실험으로 확인하였다. 또한 최대 골 깊이 Rv가 5.0㎚ 미만이면 유리판(G)의 면내 강도를 보증할 수 있음을 실험으로 확인하였다. 이러한 이유에 기초하여 최대 골 깊이 Rv를 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 규정하였다.On the other hand, the range of the maximum bone depth Rv was specified for the following reason. That is, it has been experimentally confirmed that the minimum value of the maximum valley depth Rv needs to exceed 3.0 nm in order to ensure the peelability to the adsorption stage. In addition, it has been experimentally confirmed that the in-plane strength of the glass plate (G) can be guaranteed when the maximum depth of the ridges Rv is less than 5.0 nm. Based on this reason, the maximum bone depth Rv is defined as 3.0 nm < Rv < 5.0 nm.

이에 따라 실시 형태의 제조 장치(10)에 의하면, 흡착 스테이지에 대한 박리성을 향상시킨 유리판(G)이며, 면내 강도를 보증한 유리판(G)을 제조할 수 있다.As a result, according to the manufacturing apparatus 10 of the embodiment, it is possible to manufacture a glass plate (G) which is improved in peelability to the adsorption stage and ensures the in-plane strength.

또한 실시 형태의 연마구(12)는, 스펀지(34)의 표면에 연마 패드(36)가 구비되어 구성된다. 이 연마구(12)에 의하면, 발포 폴리우레탄제의 연마 패드(36)를 유리판(G)의 하면(G1)에 가압하여 하면(G1)을 조면화 처리한다. 이때 연마 패드(36)는 스펀지(34)의 표면에 구비되어 있으므로, 하면(G1)의 굴곡에 추종하면서 하면(G1)을 연마한다. 이에 따라 유리판(G)의 하면(G1)을 균일한 조도로 가공할 수 있다.In addition, the polishing tool 12 of the embodiment is constituted by providing the polishing pad 36 on the surface of the sponge 34. According to this swarf 12, the polishing pad 36 made of foamed polyurethane is pressed against the lower surface G1 of the glass plate G to roughen the lower surface G1. At this time, since the polishing pad 36 is provided on the surface of the sponge 34, the lower surface G1 is polished while following the curvature of the lower surface G1. Thus, the lower surface G1 of the glass plate G can be processed with uniform illumination.

또한 연마 패드(36)의 표면에는 복수의 홈(38)이 구비되어 있으므로, 연마 패드(36)의 회전수를 제어함으로써, 홈(38)에 의하여 형성되는 유리판(G)의 하면(G1)의 모양 형상을 원하는 모양 형상으로 제어할 수 있다. 또한 슬러리(14)는 홈(38)에 보유 지지되므로 연마 시에 의한 번인 등의 문제가 방지되어, 하면(G1)의 면 품질을 유지할 수 있다.Since the plurality of grooves 38 are provided on the surface of the polishing pad 36, the number of revolutions of the polishing pad 36 is controlled so that the depth of the lower surface G1 of the glass plate G formed by the grooves 38 The shape can be controlled to a desired shape. Further, since the slurry 14 is held in the groove 38, problems such as burn-in due to polishing can be prevented, and the surface quality of the lower surface G1 can be maintained.

더욱이 제조 장치(10)에 의하면, 연마 패드(36)에 의한 하면(G1)의 조면화 처리와, 디스크 브러시(26)에 의한 상면(G2)의 세정 처리를 동시에 실시할 수 있다.Furthermore, according to the manufacturing apparatus 10, the roughening treatment of the lower surface G1 by the polishing pad 36 and the cleaning treatment of the upper surface G2 by the disc brush 26 can be performed at the same time.

더욱이 실시 형태의 제조 장치(10)는, 디스플레이용 유리판 중 제2 표면의 해상도가 가로 1920×세로 1080 이상인 고정밀 디스플레이용 유리판에 유효하다. 고정밀 디스플레이용 유리판은, 고정밀이기 때문에 정전 파괴 불량이 다발하고 있었지만, 실시 형태의 유리판(G)은, 제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚이므로, 흡착 스테이지에 대한 박리성이 향상되고, 정전 파괴 불량의 발생률을 저감시킬 수 있기 때문이다.Furthermore, the manufacturing apparatus 10 of the embodiment is effective for a high-precision display glass plate in which the resolution of the second surface of the display glass plate is 1920 x 1080 or more. The glass plate G of the embodiment has a maximum valley depth Rv (JIS B 0601 · 2013) of 3.0 nm <Rv <5.0 nm on the first surface because of the high precision of the glass plate for high precision display , The peeling property to the adsorption stage is improved, and the occurrence rate of the electrostatic breakdown failure can be reduced.

또한 실시 형태에서는, 유리판(G)의 제조 공정의 슬러리 세정 공정(108)에 제조 장치(10)를 도입한 예를 설명했지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 즉, 유리판(G)을 연속 반송하지 않고 고정한 상태에서 조면화 처리하는 제조 장치여도 된다. 즉, 유리판(G)을 낱장 처리하는 제조 장치이어도 된다.In the embodiment, the example in which the manufacturing apparatus 10 is introduced to the slurry cleaning step 108 in the manufacturing process of the glass plate G is described, but the present invention is not limited thereto. That is, it may be a manufacturing apparatus that performs the roughening treatment while fixing the glass plate G without continuously carrying it. That is, it may be a manufacturing apparatus that processes the glass sheet G in a single sheet.

또한 슬러리(14, 30)의 공급 수단은 노즐에 한정되지 않으며, 종래의 연마 패드와 같이 연마 패드를 관통하는 구멍으로부터 공급해도 된다. 또한 연마 패드(36)에 의한 조면화 처리는, 슬러리 세정과 동시에 실시하는 것에 한정되지 않으며, 조면화 처리를 단독으로 실시해도 된다. 또한 도 2에서는, 인접하는 2개의 디스크 브러시(26) 사이의 바로 아래에 연마구(12)를 배치했지만, 디스크 브러시(26)의 바로 아래에 연마구(12)를 배치해도 된다.The supply means of the slurry 14, 30 is not limited to the nozzle, and may be supplied from a hole passing through the polishing pad like a conventional polishing pad. The roughening treatment by the polishing pad 36 is not limited to the simultaneous with the slurry cleaning, and the roughening treatment may be performed alone. 2, the abrasive grains 12 are disposed immediately below between the adjacent two disk brushes 26. However, the abrasive grains 12 may be disposed immediately below the disk brushes 26. [

<유리판(G)의 표면 조도의 측정 방법의 일례>&Lt; Example of Method of Measuring Surface Roughness of Glass Sheet (G)

측정 장치로서, 광 간섭을 사용한 비접촉 표면 형상 계측 장치를 사용하였다. 비접촉 표면 형상 계측 장치란, 유리판(G)의 표면 조도를 저코히런스 간섭의 원리를 이용하여 비접촉으로 정밀하게 측정하는 장치이다. 비접촉 표면 형상 계측 장치에 의한 측정 방법은, 스펙트럼 파장이 넓은 백색광원, 소위 저코히런스 광원으로부터 방사되는 백색광을 측정 광과 참조 광으로 분할하여 측정광을 유리판(G)의 표면에 조사하고, 유리판(G)의 표면에서 반사된 측정 광과 참조 광을 간섭시킴으로써, 측정 광을 조사한 유리판(G)의 표면에 있어서의 조도를 측정하는 것이다.As the measuring apparatus, a non-contact surface shape measuring apparatus using optical interference was used. The non-contact surface shape measuring apparatus is an apparatus for precisely measuring the surface roughness of the glass plate G in a noncontact manner using the principle of low coherence interference. A non-contact surface shape measuring apparatus is a method of measuring a surface of a glass plate G by dividing white light emitted from a white light source having a broad spectral wavelength or a so-called low coherence light source into measurement light and reference light, The measurement light reflected from the surface of the glass plate G is interfered with the reference light to measure the illuminance on the surface of the glass plate G irradiating the measurement light.

측정 개소는, 적어도 하나의 임의의 영역, 바람직하게는 둘 이상의 임의의 영역으로 하였다. 측정 영역의 형상을, 짧은 변이 70㎛이고 긴 변이 100㎛인 직사각형으로 하였다. 측정 영역이 1점인 경우에는 그의 측정값을 대표값으로 하고, 2점 이상인 경우에는 그의 평균값을 대표값으로 하였다.The measurement points were at least one arbitrary region, preferably two or more arbitrary regions. The shape of the measurement region was a rectangle having a short side of 70 mu m and a long side of 100 mu m. When the measurement area is one point, its measured value is taken as a representative value, and when it is two or more points, its average value is taken as a representative value.

하기 표 1의 N0. 1 내지 N0. 3은 유리판의 최대 골 깊이 Rv, 대전성 및 면내 강도의 측정 결과를 나타내고 있다. 유리판은 두께 0.7㎜의 무알칼리 유리(아사히 가라스 가부시키가이샤 제조, AN100(상품명))이다.N0. 1 to N0. 3 shows the results of measurement of maximum bone depth Rv, chargeability and in-plane strength of the glass plate. The glass plate is a non-alkali glass having a thickness of 0.7 mm (AN100 (trade name), manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.)).

대전성의 측정은, 흡착 스테이지에 흡착되어 있는 유리판을 흡착 스테이지로부터 박리했을 때의 유리판의 대전량을 측정하였다. 유리판 표면의 최대 대전량의 절댓값이 작은 순으로 「A」, 「B」, 「C」로 표시된다.The electrification property of the glass plate when the glass plate adsorbed on the adsorption stage was peeled from the adsorption stage was measured. Quot; A &quot;, &quot; B &quot;, and &quot; C &quot; in the order of smaller absolute value of the maximum charge amount on the surface of the glass plate.

면내 강도의 측정은 볼온링법에 의하여 측정하였다. 유리판은 하면(G1)을 하향으로 하여 원환형 링에 얹고, 링의 중심선 상에 중심이 배치되는 볼로 상방으로부터 유리판을 가압하였다. 또한 링의 상단부 테두리의 직경은 30㎜, 볼의 직경은 10㎜로 하였다. 유리판의 면내 강도가 큰 순으로 「A」, 「B」로 표시된다.The in-plane strength was measured by the ball-ring method. The glass plate was placed on the annular ring with the lower surface G1 facing downward, and the glass plate was pressed from above by a ball centered on the center line of the ring. The diameter of the top edge of the ring was 30 mm, and the diameter of the ball was 10 mm. Quot; A &quot; and &quot; B &quot; in the order of increasing in-plane strength of the glass plate.

N0. 1은 조면화 처리되어 있지 않은 유리판이고, N0. 2 및 N0. 3은 연마 패드가 구비된 연마구에 의하여 하면(G1)이 조면화 처리된 유리판이며, N0. 2 및 N0. 3의 차이는 연마 패드의 D 경도이다. N0. 4는 N0. 1 내지 N0. 3의 측정 결과에 기초하여, 면내 강도가 디스플레이용 유리판의 원하는 강도를 만족시키지 않을 때의 대전성 및 최대 골 깊이 Rv를 산출한 결과이다.N0. 1 is a glass plate not subjected to roughening treatment, and N0. 2 and N0. Reference numeral 3 denotes a glass plate on which a lower surface G1 is roughened by an abrasive pad provided with a polishing pad, and N0. 2 and N0. 3 is the D hardness of the polishing pad. N0. 4 is N0. 1 to N0. 3 is a result of calculating the chargeability and the maximum valley depth Rv when the in-plane strength does not satisfy the desired strength of the display glass plate.

N0. 1 내지 N0. 3에 있어서의 평균 표면 조도 Ra는 0.3 내지 1.5㎚였지만, 표 1에 나타난 바와 같이 N0. 1, N0. 2 및 N0. 4의 최대 골 깊이 Rv는 3.0㎚<Rv<5.0㎚의 범위에 없었다. 표 1에 나타난 바와 같이 낮은 대전성 및 높은 면내 강도의 것은 N0. 3이며, 최대 골 깊이 Rv가 3.0㎚<Rv<5.0㎚였다.N0. 1 to N0. 3 had an average surface roughness Ra of 0.3 to 1.5 nm. 1, N0. 2 and N0. 4 was not in the range of 3.0 nm < Rv < 5.0 nm. As shown in Table 1, those with low chargeability and high in-plane strength were N0. 3, and the maximum valley depth Rv was 3.0 nm < Rv < 5.0 nm.

Figure pat00001
Figure pat00001

본 발명을 상세하게 또한 특정한 실시 형태를 참조하여 설명했지만, 본 발명의 정신과 범위를 일탈하지 않고 여러 변형이나 수정을 가할 수 있음은 당업자에게 있어 명확하다.While the present invention has been described in detail with reference to specific embodiments thereof, it is evident to those skilled in the art that various changes and modifications can be made without departing from the spirit and scope of the present invention.

본 출원은 2013년 12월 11일 출원된 일본 특허 출원 제2013-255802호 및 2014년 10월 9일 출원된 일본 특허 출원 제2014-207780호에 기초하는 것이며, 그의 내용은 여기에 참조로서 포함된다.The present application is based on Japanese Patent Application No. 2013-255802 filed on December 11, 2013, and Japanese Patent Application No. 2014-207780 filed on October 9, 2014, the content of which is incorporated herein by reference .

G: 유리판
10: 제조 장치
12: 연마구
14: 슬러리
16: 하단 노즐
18: 하단 롤러 군
20: 상단 핀치 롤러 군
22: 롤러
24: 롤러
26: 디스크 브러시
28: 상단 노즐
30: 슬러리
32: 베이스 부재
34: 스펀지
36: 연마 패드
38: 홈
40: 평탄부
100: 제조 공정
102: 유리판 성형 공정
104: 연마 공정
106: 샤워 세정 공정
108: 슬러리 세정 공정
110: 제1 고압 샤워 세정 공정
112: 세제 세정 공정
114: 제2 고압 샤워 세정 공정
116: 순수 세정 공정
118: 제3 고압 샤워 세정 공정
120: 순수 샤워 린스 공정
122: 최종 린스 공정
124: 건조 공정
126: 검사 공정
G: Glass plate
10: Manufacturing apparatus
12: Opening harness
14: Slurry
16: Lower nozzle
18: Lower roller group
20: upper pinch roller group
22: Rollers
24: Roller
26: Disc brush
28: Top nozzle
30: Slurry
32: Base member
34: Sponge
36: Polishing pad
38: home
40: flat part
100: Manufacturing process
102: glass sheet forming process
104: Polishing process
106: shower cleaning process
108: Slurry cleaning process
110: First High Pressure Shower Cleaning Process
112: Detergent cleaning process
114: Second High Pressure Shower Cleaning Process
116: Pure cleaning process
118: Third High Pressure Shower Cleaning Process
120: pure shower rinse process
122: final rinse process
124: Drying process
126: Inspection process

Claims (9)

제1 표면, 및 당해 제1 표면에 대면하는 제2 표면을 갖는 유리판에 있어서,
제1 표면의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚인 것을 특징으로 하는 유리판.
A glass plate having a first surface and a second surface facing the first surface,
Wherein a maximum valley depth Rv (JIS B 0601 · 2013) of the first surface is 3.0 nm <Rv <5.0 nm.
제1항에 있어서, 상기 제1 표면은 흡착 스테이지에 접하는 측으로 되는 면이고,
상기 제2 표면은 전자 부재가 형성되는 면인 유리판.
The adsorption apparatus according to claim 1, wherein the first surface is a surface facing the adsorption stage,
Wherein the second surface is a surface on which the electron member is formed.
제2항에 있어서, 디스플레이용 유리판으로서 사용되는 유리판.The glass plate according to claim 2, used as a glass plate for display. 제3항에 있어서, 상기 제2 표면의 해상도가 가로 1920×세로 1080 이상인 유리판.The glass sheet according to claim 3, wherein the resolution of the second surface is 1920 x 1080 or more. 유리판의 서로 대향하는 2개의 면 중 제1 표면에 연마재를 공급하는 연마재 공급 수단과,
상기 유리판의 상기 제1 표면에 가압됨과 함께, 상기 유리판의 면에 직교하는 축을 중심으로 회전되는 연마구
를 구비하고,
상기 유리판의 제1 표면에 상기 연마재 공급 수단으로부터 연마재를 공급하면서 상기 연마구에 의하여 상기 제1 표면을 연삭함으로써, 상기 제1 표면에 있어서의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 상기 제1 표면을 가공하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 장치.
Abrasive material supply means for supplying abrasives to the first surface of the two surfaces of the glass plate facing each other,
And is pressed against the first surface of the glass plate and is rotated about an axis orthogonal to the surface of the glass plate,
And,
Wherein abrasive material is supplied from the abrasive supply means to the first surface of the glass plate, and the first surface is ground by the abrasive grain while the maximum abrasion depth Rv (JIS B 0601 · 2013) on the first surface is 3.0 nm &Lt; Rv < 5.0 nm.
제5항에 있어서, 상기 연마구는, 쿠션 부재의 표면에 연마 패드가 구비되어 구성되는 유리판의 제조 장치.6. The apparatus for manufacturing a glass plate according to claim 5, wherein the polishing pad is provided with a polishing pad on the surface of the cushion member. 제6항에 있어서, 상기 연마 패드의 표면에는 복수의 홈이 구비되어 있는 유리판의 제조 장치.The apparatus for manufacturing a glass plate according to claim 6, wherein a plurality of grooves are provided on a surface of the polishing pad. 제5항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유리판의 제2 표면에 가압되어 상기 제2 표면을 세정하는 세정 부재가 구비되어 있는 유리판의 제조 장치.The apparatus for manufacturing a glass plate according to any one of claims 5 to 7, further comprising a cleaning member pressed against the second surface of the glass plate to clean the second surface. 유리판의 서로 대향하는 2개의 면 중 제1 표면에 연마재를 공급하는 연마재 공급 수단과,
상기 유리판의 상기 제1 표면에 가압됨과 함께, 상기 유리판의 면에 직교하는 축을 중심으로 회전되는 연마구
를 구비하는 유리판의 제조 장치를 사용하여,
상기 유리판의 제1 표면에 상기 연마재 공급 수단으로부터 연마재를 공급하면서 상기 연마구에 의하여 상기 제1 표면을 연삭함으로써, 상기 제1 표면에 있어서의 최대 골 깊이 Rv(JIS B 0601·2013)가 3.0㎚<Rv<5.0㎚로 되도록 상기 제1 표면을 가공하는 것을 포함하는 유리판의 제조 방법.
Abrasive material supply means for supplying abrasives to the first surface of the two surfaces of the glass plate facing each other,
And is pressed against the first surface of the glass plate and is rotated about an axis orthogonal to the surface of the glass plate,
A glass plate manufacturing apparatus comprising:
Wherein abrasive material is supplied from the abrasive supply means to the first surface of the glass plate, and the first surface is ground by the abrasive grain while the maximum abrasion depth Rv (JIS B 0601 · 2013) on the first surface is 3.0 nm &Lt; Rv < 5.0 nm.
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