KR20150055357A - 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치는 서로 체크 보드 형태로 배치된 다수의 제1 터치 블록들과 제2 터치 블록들을 포함한 터치 스크린; 화상 표시를 위한 다수의 셀들을 포함한 셀 어레이; 및 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에, 상기 제1 터치 블록들에 제1 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하고, 상기 제2 터치 블록들에 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하며, 상기 셀들의 화소전극들에 상기 제1 레벨 및 상기 제2 레벨 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압을 인가하는 검사신호 발생기를 구비한다.

Description

터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법{Inspection Apparatus of Display Panel Intergrated Touch Screen And Inspection method Of The Same}
본 발명은 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
유저 인터페이스(User Interface, UI)는 사람(사용자)과 각종 전기, 전자 기기 등의 통신을 가능하게 하여 사용자가 기기를 쉽게 자신이 원하는 대로 제어할 수 있게 한다. 이러한 유저 인터페이스의 대표적인 예로는 키패드, 키보드, 마우스, 온 스크린 디스플레이(On Screen Display, OSD), 적외선 통신 혹은 고주파(RF) 통신 기능을 갖는 원격 제어기(Remote controller) 등이 있다. 유저 인터페이스 기술은 사용자 감성과 조작 편의성을 높이는 방향으로 발전을 거듭하고 있다. 최근, 유저 인터페이스는 터치 UI, 음성 인식 UI, 3D UI 등으로 진화되고 있으며, 터치 UI는 휴대용 정보기기에 기본적으로 설치되고 있는 추세에 있다. 터치 UI를 구현하기 위하여, 가전기기나 휴대용 정보기기의 표시패널에 터치 스크린이 일체화된다.
정전 용량 방식의 터치 스크린은 기존의 저항막 방식에 비하여 내구성과 선명도가 높고, 멀티 터치 인식과 근접 터치 인식이 가능하여 다양한 어플리케이션에 적용될 수 있는 장점이 있다. 이러한 정전 용량 방식의 터치 스크린은 터치 감지를 위한 다수의 터치 블록들을 포함한다. 터치 스크린 일체형 표시패널이 액정표시패널로 구현될 때 터치 블록들은, 표시패널에 화상을 표시하기 위한 화상 표시 구간에서는 공통전압이 공급되는 공통전극으로 기능하고, 터치 감지를 위한 터치 구간에서는 터치전극으로 기능한다. 화상 표시 구간과 터치 구간은 시간적으로 분리되며, 서로 합하여 1 프레임을 완성한다.
터치 블록들은 투명 전극판을 패터닝하여 형성된다. 이때, 이웃한 터치 블록들 간 거리는 화상 표시 구간에서의 화질저하를 방지하기 위해 가능한 한 최대한 좁게 설정된다. 이로 인해, 패터닝 과정에서 발생되는 언더 노광, 언더 에칭, 전도성 이물의 흡착 등에 의해 이웃한 터치 블록들 중 일부가 서로 쇼트될 위험성이 커진다.
화상 표시 구간에서는 모든 터치 블록들에 동일한 레벨(정극성과 부극성의 중간 레벨, 예컨대 0V)의 공통전압이 인가되므로, 터치 블록들 간의 쇼트가 문제되지 않는다. 하지만, 터치 구간에서는 터치가 이뤄진 좌표 추출을 위해 터치 블록들 간 구분이 필요하므로, 터치 블록들 간 쇼트는 좌표 추출을 불가능하게 만든다.
통상 셀 공정을 거쳐 표시패널이 완성되면 이어서 셀 검사 공정이 수행된다. 그리고, 셀 검사 공정을 통과한 표시패널에 드라이브 IC(Intergrated Circuit) 및 FPC(Flexible Printed Circuit) 등을 합착하기 위한 모듈 조립 공정이 이어진다. 셀 검사 공정에서는 셀 내에 포함된 선 결함 및 점 결함 등의 존재 여부를 확인하기 위해 AP(Auto Probe) 검사장치를 이용한 점등 검사를 수행한다.
이러한 종래의 AP 방식은 셀(화소)을 구성하기 위한 표시패널의 구성 수단들을 검사하는데 최적화되어 있기 때문에, 터치 스크린 일체형 표시패널에서 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출할 수는 없다. 현재, 터치 스크린 일체형 표시패널에서 터치 블록들 간 쇼트 불량 여부는 모듈 조립 공정이 완료된 이후에나 가능하다. 터치 스크린 일체형 표시패널을 모듈화하기 위해서는 화상 표시를 위한 드라이브 IC 및 FPC 이외에 터치 구동을 위한 드라이브 IC 및 FPC까지 추가적 필요하므로, 모듈 조립 완료 이후에나 터치 블록들 간 쇼트를 알 수 있는 지금의 기술로는 모듈 제작 비용에 대한 손실이 커지는 문제가 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출할 수 있도록 한 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치는 서로 체크 보드 형태로 배치된 다수의 제1 터치 블록들과 제2 터치 블록들을 포함한 터치 스크린; 화상 표시를 위한 다수의 셀들을 포함한 셀 어레이; 및 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에, 상기 제1 터치 블록들에 제1 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하고, 상기 제2 터치 블록들에 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하며, 상기 셀들의 화소전극들에 상기 제1 레벨 및 상기 제2 레벨 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압을 인가하는 검사신호 발생기를 구비한다.
상기 제1 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 어느 하나이고, 상기 제2 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 나머지 하나이다.
본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치는 상기 제1 터치 블록들에 상기 제1 레벨의 검사용 공통 전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제1 검사용 스위치들; 상기 제2 터치 블록들에 상기 제2 레벨의 검사용 공통 전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제2 검사용 스위치들; 상기 셀들의 화소전극들에 상기 검사용 데이터전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제3 검사용 스위치들을 더 구비하고; 상기 제1 내지 제3 검사용 스위치들은 화상이 비 표시되는 표시패널의 비 표시영역에 형성된다.
상기 제1 내지 제3 검사용 스위치들은 검사용 데이터 인에이블 신호에 응답하여 동시에 스위칭된다.
상기 터치 스크린과 상기 셀 어레이가 일체화된 표시패널은, 상기 검사용 데이터전압과 상기 검사용 공통 전압 간의 전압차가 클수록 투과율이 높아지는 노멀리 블랙 모드(normally black mode)로 동작한다.
상기 터치 스크린과 상기 셀 어레이가 일체화된 표시패널은, 상기 검사용 데이터전압과 상기 검사용 공통 전압 간의 전압차가 클수록 투과율이 낮아지는 노멀리 화이트 모드(normally white mode)로 동작한다.
본 발명의 실시예에 따라 터치 스크린이 화상 표시를 위한 다수의 셀들을 포함한 셀 어레이에 일체화된 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사방법은, 상기 터치 스크린을 서로 체크 보드 형태로 배치된 다수의 제1 터치 블록들과 제2 터치 블록들로 구분하는 단계; 및 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에, 상기 제1 터치 블록들에 제1 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하고, 상기 제2 터치 블록들에 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하며, 상기 셀들의 화소전극들에 상기 제1 레벨 및 상기 제2 레벨 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압을 인가하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치에 의하면, 이웃한 터치 블록들에서 검사 영상이 격자 패턴 형태로 쉽게 구분되므로, 이웃한 터치 블록들 간 쇼트 불량을 쉽게 검출할 수 있게 된다.
특히, 본 발명은 모듈 조립 공정에 진입하기 전의 셀 검사 공정 즉, 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정에서 터치 블록들의 패턴 불량을 미리 검출할 수 있어, 종래에 비해 모듈 제작 비용에 대한 손실을 크게 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널을 보여주는 도면.
도 2는 터치 스크린과 셀 어레이를 보여주는 도면.
도 3은 1 프레임을 시분할하는 화상 표시 구간과 터치 구간을 보여주는 도면.
도 4는 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 것으로, 터치 블록들과 검사신호 발생기 간의 일 접속 구성을 보여주는 도면.
도 5는 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 것으로, 셀들과 검사신호 발생기 간의 일 접속 구성을 보여주는 도면.
도 6은 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위해 검사신호 발생기에서 인가되는 검사 신호들의 일 전압 레벨을 보여주는 도면.
도 7은 도 6과 같은 검사 신호들에 의해 구현되는, 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 일 검사 화면을 보여주는 도면.
도 8은 터치 블록들 간 쇼트 불량의 일 예를 보여주는 도면.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널을 보여준다. 도 2는 터치 스크린과 셀 어레이를 보여준다. 그리고, 도 3은 1 프레임을 시분할하는 화상 표시 구간과 터치 구간을 보여준다.
본 발명에 적용되는 터치 스크린 일체형 표시패널은 액정표시패널(Liquid Crystal Display Panel)로 구현될 수 있다. 이 터치 스크린 일체형 표시패널에는 정전 용량 센서들(TS)이 설치될 수 있다. 이러한 정전 용량 센서들(TS)을 통해 도 2와 같은 터치 스크린(10)이 구성된다. 터치 스크린(10)의 정전 용량 센서들(TS)은 도 1과 같은 방법으로 표시패널의 셀 어레이에 내장될 수 있다. 한편, 터치 스크린(10)은 표시패널의 상부 편광판(POL1) 상에 접합되거나, 표시패널의 상부 편광판(POL1)과 상부 기판(GLS1) 사이에 형성될 수도 있다. 도 1에서, "PIX"는 셀의 화소전극, "GLS2"는 표시패널의 하부 기판, "POL2"는 하부 편광판을 각각 의미한다.
본 발명의 터치 스크린(10)은 다수의 정전 용량 센서들을 통해 터치(또는 근접) 입력을 감지하는 정전 용량 방식의 터치 스크린으로 구현될 수 있다. 정전 용량 방식의 터치 스크린(10)은 자기(Self) 정전 용량이나 상호(Mutual) 정전 용량으로 나뉘어진다. 자기 정전 용량은 한 방향으로 형성된 단층의 도체 배선을 따라 형성된다. 상호 정전 용량은 직교하는 두 도체 배선들 사이에 형성된다. 본 발명의 실시예에서는 도 2에서와 같이 자기 정전 용량 방식의 터치 스크린(10)이 예시된다.
본 발명에 따른 정전 용량 방식의 터치 스크린(10)은 도 2와 같이 터치 감지를 위한 다수의 터치 블록들(TBLK)을 포함한다. 여기서, 터치 블록들(TBLK) 각각은 하나의 자기 정전 용량 센서(TS)가 된다. 터치 블록들(TBLK) 각각은 셀보다 크고, 다수의 셀들과 중첩되는 투명 전극 패턴들로 셀 어레이(20) 내에 형성될 수 있다. 터치 블록들(TBLK) 각각은 공통전극과 자기 용량 센서의 전극 역할을 겸한다. 다시 말해, 도 3과 같이, 표시패널에 화상을 표시하기 위한 화상 표시 구간(DP)에서 터치 블록들(TBLK)은 공통전압이 공급되는 공통전극으로 기능하고, 터치 감지를 위한 터치 구간(TP)에서 터치 블록들(TBLK)은 자기 용량 센서(TS)의 전극으로 기능한다. 화상 표시 구간(DP)과 터치 구간(TP)은 시간적으로 분리되며, 서로 합하여 1 프레임을 완성한다.
도 4는 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 것으로, 터치 블록들과 검사신호 발생기 간의 일 접속 구성을 보여준다. 도 5는 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 것으로, 셀들과 검사신호 발생기 간의 일 접속 구성을 보여준다. 그리고, 도 6은 AP 방식의 셀 검사 공정 중에 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위해 검사신호 발생기에서 인가되는 검사 신호들의 일 전압 레벨을 보여준다.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치는 터치 스크린(10), 셀 어레이(20), 및 검사신호 발생기(30,40,50)를 포함한다.
터치 스크린(10)를 구성하는 터치 블록들(TBLK)은 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 제2 터치 블록들(TBLK_B)로 분리된다. 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 제2 터치 블록들(TBLK_B)은 서로 이웃하게 배치되어 서로 체크 보드 형태를 이룬다.
셀 어레이(20)는 화상 표시를 위한 다수의 제1 색 셀들(R), 다수의 제2 색 셀들(G), 및 다수의 제3 색 셀들(B)을 포함한다. 제1 내지 제3 색 셀들(R,G,B) 각각은 화상 표시용 데이터전압 또는, 검사용 데이터전압이 인가되는 화소전극을 포함한다.
검사신호 발생기(30,40,50)는 검사용 공통전압 발생부(30), 검사용 데이터전압 발생부(40), 및 검사용 제어신호 발생부(50)를 포함한다.
검사용 공통전압 발생부(30)는, 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에 제1 터치 블록들(TBLK_A)에 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)을 인가하고, 제2 터치 블록들(TBLK_B)에 상기 제1 레벨(VL1)과 다른 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)을 인가한다. 일 예로, 제1 레벨(VL1)은 0V 와 5V 중 어느 하나일 수 있고, 제2 레벨(LV2)은 0V 와 5V 중 나머지 하나일 수 있다.
검사용 데이터전압 발생부(40)는, 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에 제1 내지 제3 색 셀들(R,G,B)의 화소전극들에 제1 레벨(VL1) 및 제2 레벨(VL2) 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)을 인가한다.
검사용 제어신호 발생부(50)는 검사용 데이터 인에이블 신호(DE)를 생성한다. 검사용 데이터 인에이블 신호(DE)는 표시패널의 비 표시영역 상에 형성되는 검사용 스위치들을 스위칭시키는 데 사용된다.
검사용 스위치들에는, 제1 터치 블록들(TBLK_A)에 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제1 검사용 스위치들(TFT1)과, 제2 터치 블록들(TBLK_B)에 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제2 검사용 스위치들(TFT2), 및 제1 내지 제3 색 셀들(R,G,B)의 화소전극들에 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제3 검사용 스위치들(TFT3)이 포함된다.
제1 내지 제3 검사용 스위치들(TFT1,TFT2,TFT3)은, 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에 검사용 데이터 인에이블 신호(DE)에 응답하여 동시에 스위칭될 수 있다.
도 7은 도 6과 같은 검사 신호들에 의해 구현되는, 터치 블록들 간 쇼트 불량을 검출하기 위한 일 검사 화면을 보여준다. 그리고, 도 8은 터치 블록들 간 쇼트 불량의 일 예를 보여준다.
본 발명에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치에서, 제1 터치 블록들(TBLK_A)을 통해 구현되는 검사 영상은 도 7과 같이 화이트 영상 및 블랙 영상 중 어느 하나일 수 있고, 제2 터치 블록들(TBLK_B)을 통해 구현되는 검사 영상은 도 7과 같이 화이트 영상 및 블랙 영상 중 나머지 하나일 수 있다.
이를 위해, 터치 스크린(10)과 셀 어레이(20)가 일체화된 본 발명의 표시패널은, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)과 검사용 공통 전압(Vcom_O 또는 Vcom_E) 간의 전압차가 클수록 투과율이 높아지는 노멀리 블랙 모드(normally black mode)로 동작하도록 구현될 수 있다. 이러한 노멀리 블랙 모드에서, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)을 제1 레벨(VL1)로 입력하는 경우, 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)이 입력되는 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최소값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 블랙으로 표시되고, 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)이 입력되는 제2 터치 블록들(TBLK_B)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최대값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 화이트로 표시되게 된다. 이와 반대로, 노멀리 블랙 모드에서, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)을 제2 레벨(VL2)로 입력하는 경우, 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)이 입력되는 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최대값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 화이트로 표시되고, 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)이 입력되는 제2 터치 블록들(TBLK_B)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최소값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 블랙으로 표시되게 된다.
한편, 터치 스크린(10)과 셀 어레이(20)가 일체화된 본 발명의 표시패널은, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)과 검사용 공통 전압(Vcom_O 또는 Vcom_E) 간의 전압차가 클수록 투과율이 낮아지는 노멀리 화이트 모드(normally black mode)로 동작하도록 구현될 수 있다. 이러한 노멀리 화이트 모드에서, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)을 제1 레벨(VL1)로 입력하는 경우, 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)이 입력되는 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최소값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 화이트로 표시되고, 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)이 입력되는 제2 터치 블록들(TBLK_B)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최대값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 블랙으로 표시되게 된다. 이와 반대로, 노멀리 화이트 모드에서, 검사용 데이터전압(R/G/B DATA)을 제2 레벨(VL2)로 입력하는 경우, 제1 레벨(VL1)의 검사용 공통 전압(Vcom_O)이 입력되는 제1 터치 블록들(TBLK_A)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최대값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 블랙으로 표시되고, 제2 레벨(VL2)의 검사용 공통 전압(Vcom_E)이 입력되는 제2 터치 블록들(TBLK_B)과 셀들의 화소전극 간 전압차는 최소값이 되므로 그에 대응되는 검사 영상이 화이트로 표시되게 된다.
이러한 본 발명에 따른 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치에 의하면, 이웃한 터치 블록들에서 검사 영상이 격자 패턴 형태로 쉽게 구분되므로, 이웃한 터치 블록들 간 쇼트 불량을 쉽게 검출할 수 있게 된다.
특히, 본 발명은 모듈 조립 공정에 진입하기 전의 셀 검사 공정 즉, 오토 프로브 방식의 셀 검사 공정에서 터치 블록들의 패턴 불량을 미리 검출할 수 있어, 종래에 비해 모듈 제작 비용에 대한 손실을 크게 줄일 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
10 : 터치 스크린 20 : 셀 어레이
30,40,50 : 검사신호 발생기

Claims (8)

  1. 서로 체크 보드 형태로 배치된 다수의 제1 터치 블록들과 제2 터치 블록들을 포함한 터치 스크린;
    화상 표시를 위한 다수의 셀들을 포함한 셀 어레이; 및
    오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에, 상기 제1 터치 블록들에 제1 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하고, 상기 제2 터치 블록들에 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하며, 상기 셀들의 화소전극들에 상기 제1 레벨 및 상기 제2 레벨 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압을 인가하는 검사신호 발생기를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 어느 하나이고,
    상기 제2 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 나머지 하나인 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 터치 블록들에 상기 제1 레벨의 검사용 공통 전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제1 검사용 스위치들;
    상기 제2 터치 블록들에 상기 제2 레벨의 검사용 공통 전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제2 검사용 스위치들;
    상기 셀들의 화소전극들에 상기 검사용 데이터전압이 인가되는 것을 스위칭하기 위한 다수의 제3 검사용 스위치들을 더 구비하고;
    상기 제1 내지 제3 검사용 스위치들은 화상이 비 표시되는 표시패널의 비 표시영역에 형성되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 검사용 스위치들은 검사용 데이터 인에이블 신호에 응답하여 동시에 스위칭되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 스크린과 상기 셀 어레이가 일체화된 표시패널은,
    상기 검사용 데이터전압과 상기 검사용 공통 전압 간의 전압차가 클수록 투과율이 높아지는 노멀리 블랙 모드(normally black mode)로 동작하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 스크린과 상기 셀 어레이가 일체화된 표시패널은,
    상기 검사용 데이터전압과 상기 검사용 공통 전압 간의 전압차가 클수록 투과율이 낮아지는 노멀리 화이트 모드(normally white mode)로 동작하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치.
  7. 터치 스크린이 화상 표시를 위한 다수의 셀들을 포함한 셀 어레이에 일체화된 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사방법에 있어서,
    상기 터치 스크린을 서로 체크 보드 형태로 배치된 다수의 제1 터치 블록들과 제2 터치 블록들로 구분하는 단계; 및
    오토 프로브 방식의 셀 검사 공정 중에, 상기 제1 터치 블록들에 제1 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하고, 상기 제2 터치 블록들에 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 검사용 공통 전압을 인가하며, 상기 셀들의 화소전극들에 상기 제1 레벨 및 상기 제2 레벨 중 어느 하나와 동일한 검사용 데이터전압을 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 어느 하나이고,
    상기 제2 터치 블록들을 통해 구현되는 검사 영상은 화이트 영상 및 블랙 영상 중 나머지 하나인 것을 특징으로 하는 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사방법.
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