KR20150051856A - Method for measuring wavelength tuning time of tunable devices in an optical network and the apparatus thereof - Google Patents

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KR20150051856A
KR20150051856A KR1020140027409A KR20140027409A KR20150051856A KR 20150051856 A KR20150051856 A KR 20150051856A KR 1020140027409 A KR1020140027409 A KR 1020140027409A KR 20140027409 A KR20140027409 A KR 20140027409A KR 20150051856 A KR20150051856 A KR 20150051856A
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이지현
이한협
이상수
이정찬
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한국전자통신연구원
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/50Transmitters
    • H04B10/572Wavelength control
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04JMULTIPLEX COMMUNICATION
    • H04J14/00Optical multiplex systems
    • H04J14/02Wavelength-division multiplex systems

Abstract

The present invention relates to a method for classifying a class of a tunable device through measuring wavelength channel tuning time in a passive optical network (PON) system, and to an apparatus thereof. More specifically, the present invention provides a method and an apparatus thereof, wherein the method enables to measure wavelength channel tuning time of the tunable device when a wavelength channel tuning including a wavelength channel setting, change, initialization, activation, link setting, change, or combination thereof is required with respect to each tunable device for configuring OLT and ONU of a PON, and to classify a class of each tunable device based on the measured tuning time. Accordingly, OLT and ONU are configured with a selective combination of the tunable device of a specific class, thereby having effects of implementing a PON system (1) desired to satisfy an optimal configuration and installation costs, operation and maintenance costs, scalability, power saving, or a combination thereof.

Description

광통신 네트워크에서 사용되는 튜너블 디바이스의 파장 가변 시간 측정 방법 및 그 장치{METHOD FOR MEASURING WAVELENGTH TUNING TIME OF TUNABLE DEVICES IN AN OPTICAL NETWORK AND THE APPARATUS THEREOF}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wavelength tunable time measurement method and apparatus for tunable devices used in an optical communication network,

본 발명은 파장분할 다중화 방식과 시분할 다중화 방식이 혼용되어 사용되는 광통신 네트워크에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 파장 가변 광송수신기를 사용하는 광통신 네트워크에서 파장 가변 광송수신기의 튜너블 디바이스에 대한 튜닝 시간을 측정하고, 이에 따라 파장 가변 광송수신기를 분류하는 방법 및 이를 위한 장치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical communication network in which a wavelength division multiplexing method and a time division multiplexing method are used in combination. More specifically, in the optical communication network using a wavelength variable optical transceiver, a tuning time for a tunable device of a wavelength tunable optical transceiver is measured To a method for classifying wavelength tunable optical transceivers, and to an apparatus therefor.

스마트 폰(smart phone)이나 테블릿 컴퓨터(tablet computer)와 같은 모바일 아이피(IP) 단말의 확산, 아이피티브이(IPTV) 서비스의 상용화, 인터넷을 통한 멀티미디어 방송/스트리밍 서비스의 확산 등에 따른 폭발적인 트래픽 증가에 대처하기 위해서는 한정된 망 자원을 가지고 보다 많은 가입자들에게 효율적으로 서비스를 제공할 필요가 있다.The proliferation of mobile IP terminals such as smart phones and tablet computers, the commercialization of IPTV services, and the proliferation of multimedia broadcasting / streaming services over the Internet have led to explosive traffic growth. To cope with this problem, it is necessary to efficiently provide services to a larger number of subscribers with limited network resources.

이러한 필요에 따라, 국사 또는 중앙 기지국(Central Office, CO)과 가입자를 광섬유로 직접 연결하는 FTTH(Fiber To The Home), FTTO(Fiber To The Office)와 같은 광대역 광가입자 망의 도입이 일반화되었다. 이를 위한 방법으로 시간분할다중(Time Division Multiplexing, TDM) 기법, 파장분할다중(Wavelength Division Multiplexing, WDM) 기법, 직교주파수분할다중(Orthogonal Frequency Division Multiplexing, OFDM) 기법들뿐만 아니라 이 기법들의 혼용하는 하이브리드 기법들이 광가입자망 기술에 적용되고 있다.The introduction of broadband optical subscriber networks such as Fiber To The Home (FTTH) and FTTO (Fiber To The Office), which directly connects the central office (CO) and subscribers to optical fiber, has become common. As a method for this, a time division multiplexing (TDM) scheme, a Wavelength Division Multiplexing (WDM) scheme, an Orthogonal Frequency Division Multiplexing (OFDM) scheme, Techniques have been applied to optical network technology.

특히 WDM 방식을 활용한 다중 파장 수동형 광통신 네트워크(Multi-Wavelength Passive Optical Network, MW PON)가 큰 관심을 얻고 있다.Particularly, a multi-wavelength passive optical network (MW PON) using a WDM method is attracting much attention.

다중 파장 수동형 광통신 네트워크, 예컨대 파장 다중화 방식을 사용하는 WDM PON이나 하이브리드 PON에서는 다양한 파장의 WDM 광송수신기의 필요성이 대두된다. WDM 광송수신기는 다양한 방법으로 구현 가능하다. 여러 구현 방법들 가운데서 파장 가변이 가능한, WDM 광송수신기를 사용할 경우, 파장별로 광송수신기를 제작, 설치 또는 보관하지 않아도 됨에 따라 비품관리 측면의 효율성이 높아질 뿐 뿐 아니라, 파장 자원을 효율적으로 운용할 수 있는 장점이 더해진다.In a WDM PON or a hybrid PON using a multi-wavelength passive optical communication network, for example, a wavelength multiplexing method, a need exists for a WDM optical transceiver of various wavelengths. The WDM optical transceiver can be implemented in various ways. Among the various implementations, when using a WDM optical transceiver capable of wavelength tuning, it is not necessary to manufacture, install or store an optical transceiver for each wavelength, thereby improving the efficiency of the equipment management and efficiently operating wavelength resources The advantage is added.

그러나 파장 가변 WDM 광송수신기를 ONU에 사용할 경우, WDM 광송수신기의 출력 또는 수신가능한 WDM 파장을 설정해주어야 한다. 이러한 파장 설정은 WDM 광송수신기가 포함된 ONU를 가입자 측에 설치하는 과정에서 파장 가변 ONU의 초기 사용 파장을 설정할 수도 있고, 또는 OLT와 ONU 사이의 프로토콜을 이용하여 파장 가변 ONU의 초기 파장을 설정 할 수도 있다.However, when using a tunable WDM optical transceiver in an ONU, the output of the WDM optical transceiver or the WDM wavelength that can be received must be set. This wavelength setting may be performed by setting an initial wavelength of the tunable ONU in the process of installing the ONU including the WDM optical transceiver on the subscriber side or by setting the initial wavelength of the wavelength tunable ONU using a protocol between the OLT and the ONU It is possible.

파장 가변 ONU의 파장 설정을 하는 경우는, 위에서 설명한 바와 같이 초기화 과정 (initialization 또는 activation)에서 이루어지거나 서비스 중간에 파장 가변 ONU의 사용 파장을 새로이 설정할 필요가 있을 때 PLOAM 메시지를 통하여 이루어질 수 있다. 좀 더 상세하게는 통신 중에 있던 OLT-포트가 시스템의 절전을 위하여 슬립 모드로 들어가는 경우, 또는 해당 OLT-포트에 문제가 발생하게 되는 경우, 또는 특정 OLT-포트로 트래픽이 과도하게 몰리는 경우, 해당 OLT-포트와 통신 중이던 파장 가변 ONU는 다른 OLT-포트로 재배정되어야 하기 때문에 사용 중이던 파장을 변경하여 새로운 파장으로 재설정할 필요가 있게 된다. 더 나아가 파장 자원의 신축적이고 효율적인 활용을 위해 파장 자원을 다이나믹하게 할당하는 경우에도 파장 재설정이 이루어지게 된다.The wavelength setting of the wavelength tunable ONU can be performed through initialization or activation as described above, or when PLOAM message is needed to newly set the wavelength of the tunable ONU in the middle of the service. More specifically, when the OLT-port that was in communication enters the sleep mode for power saving of the system, or when the problem occurs in the corresponding OLT-port, or when the traffic is overloaded to a specific OLT-port, The wavelength tunable ONU that was in communication with the OLT-port needs to be reassigned to another OLT-port, so that it is necessary to change the wavelength being used and reset to a new wavelength. Furthermore, wavelength allocation is performed even when wavelength resources are dynamically allocated for flexible and efficient utilization of wavelength resources.

즉, 파장 재설정 관련된 PLOAM 메시지가 파장 가변 ONU에 전달된 후 파장 가변 ONU의 사용 파장이 재설정되어 새로이 배정된 OLT-포트와 통신이 이루어지게 된다. 이 때 파장 가변 ONU의 사용 파장이 재설정 또는 변경되는 데 소요되는 시간은 파장 가변 ONU의 세부 기술에 따라 다르기 때문에, 파장 가변 ONU의 파장 가변에 소요되는 시간을 클래스화하는 것이 시스템 운용 측면에서 타이머 설정 등을 하기 용이하다. That is, after the PLOAM message related to the wavelength resetting is transmitted to the wavelength variable ONU, the wavelength used in the wavelength variable ONU is reset and communication with the newly allocated OLT-port is performed. Since the time required for re-setting or changing the wavelength of the wavelength-tunable ONU depends on the detailed description of the wavelength-tunable ONU, the time required for wavelength tuning of the wavelength tunable ONU is classified into a timer setting And so on.

즉, OLT 입장에서는 설정된 타이머 이후에 파장 가변 ONU측에서 신호가 올라오는지를 체크함으로써 파장 가변 ONU가 제대로 동작하는지를 확인할 수 있고, 파장 가변 ONU에서도 설정된 timer 이후에는 재설정된 파장 채널로 출력 파장이 가변되어 있다고 생각하여 새로 설정된 OLT-포트로 상향 신호를 송신하게 된다. That is, in the OLT, it is possible to check whether a wavelength variable ONU operates properly by checking whether a signal is on the wavelength variable ONU side after a predetermined timer. After the timer set in the wavelength variable ONU, the output wavelength is changed to the reset wavelength channel And transmits the upstream signal to the newly set OLT-port.

만약 ODN에 파장별 분배기가 아닌 광세기 분배기가 구비되어 있는 시스템의 경우, 파장 가변 ONU에서 파장 재설정이 완료되지도 않았는데, 광송신기를 키게 될 경우 다른 파장 채널로 상향 신호가 송신되어 다른 OLT-포트에 악영향을 끼칠 우려가 있다. In the case of a system in which an optical intensity distributor other than a wavelength-dependent distributor is provided in the ODN, the wavelength resetting is not completed in the wavelength tunable ONU. If the optical transmitter is switched on, an upstream signal is transmitted to another wavelength channel, There is a fear that it may have an adverse effect.

이러한 이유로 파장 가변 ONU의 파장 재설정 메시지에 따른 파장 가변에 소요되는 시간을 측정하고 이에 따라 파장 가변 ONU를 클래스화 하는 작업이 필요하다.For this reason, it is necessary to measure the time required for wavelength tuning according to the wavelength reset message of the wavelength tunable ONU, and classify the tunable tunable ONU accordingly.

즉, 파장 가변 ONU는 자신의 파장 가변 클래스를 OLT에 보고함으로써, 파장 재설정 관련된 특정 요구 조건(초기화, 프로텍션, 로드 밸런싱, 파장동적할당) 을 수행할 수 있는지를 OLT가 알 수 있도록 할 수 있으며, 시스템(혹은 네트워크) 운용자는 시스템을 구축할 때 특정 클래스의 파장 가변 ONU를 선별적으로 납품받아 시스템을 꾸릴 수 있게 된다.
That is, the wavelength tunable ONU can report its variable wavelength class to the OLT so that the OLT can know whether it can perform the specific requirements related to wavelength reset (initialization, protection, load balancing, wavelength dynamic allocation) A system (or network) operator can selectively deliver wavelength-tunable ONUs of a specific class to build a system when building the system.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서 본 발명은 광통신 네트워크에서 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 방법 및 그 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for classifying tunable devices by measuring wavelength tuning time in an optical communication network.

또한 본 발명은 광통신 네트워크의 각 튜너블 디바이스에 대해서 파장 채널 설정, 변경, 초기화, 활성화, 링크 설정, 변경 또는 이들의 조합을 포함한 파장 채널 튜닝이 필요한 경우, 상기 튜너블 디바이스의 파장 채널 튜닝 시간을 측정하는 방법과 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention also provides a method of tuning wavelength tuning time of a tunable device in a case where wavelength tuning including wavelength channel setting, changing, initializing, activating, link setting, changing, or a combination thereof is required for each tunable device of the optical communication network And to provide a method and an apparatus for measurement.

또한 본 발명은 상기 측정된 튜닝 시간을 바탕으로 각 튜너블 디바이스의 클래스를 구분하는 방법과 그 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for classifying each tunable device based on the measured tuning time.

또한 본 발명은 상기 방법과 장치를 통해서 특정 클래스의 튜너블 디바이스에 대한 선택적인 조합으로 광통신 네트워크를 구성할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to configure an optical communication network in a selective combination of tunable devices of a specific class through the above method and apparatus.

또한 본 발명은 상기 클래스로 구분된 각종 튜너블 디바이스를 사용하여 해당 클래스에 맞는 타이머 설정을 통해서 광통신 네트워크의 운용을 효율적으로 하기 위한 방법 및 이를 위한 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for efficiently operating an optical communication network through setting a timer suitable for a class using various tunable devices classified into the class.

상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 광튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치는 튜너블 디바이스가 송신기인지 수신기인지에 따라 구성이 달라질 수 있다. 튜너블 디바이스가 송신기인 경우, 적어도 하나 이상의 파장 채널 튜닝 시간 측정 대상 광튜너블 디바이스; 파장 변화를 광 출력 세기 변화로 변환시켜 줄 수 있는 광 필터 조합; 상기 튜너블 디바이스의 출력을 전기적인 신호로 변환하는 적어도 하나 이상의 광전 변환기; 및 전기적인 신호로 변환된 신호의 파형을 모니터링하는 파형 모니터를 포함한다. 그리고 튜너블 광송신기는 상기 광튜너블 디바이스에게 파장 채널 변경 명령을 내리는 제어부;를 더 포함할 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for classifying an optical tunable device by measuring a wavelength channel tuning time according to an embodiment of the present invention may be configured according to whether a tunable device is a transmitter or a receiver. At least one wavelength channel tuning time measurement target optical tunable device, when the tunable device is a transmitter; A combination of optical filters capable of converting a wavelength change into a change in light output intensity; At least one photoelectric converter for converting an output of the tunable device into an electrical signal; And a waveform monitor for monitoring the waveform of the electrical signal converted signal. The tunable optical transmitter may further include a control unit for issuing a wavelength channel change command to the optical tunable device.

상기 실시예의 일 측면에 의하면, 상기 광튜너블 디바이스는 항온 기능을 구비할 수 있다. 일례로, 상기 광튜너블 디바이스는 항온 챔버에 배치될 수 있다. 이와 같이, 광튜너블 디바이스가 항온 기능을 구비하면, 측정이 항상 일정한 온도에서 이루어질 수 있기 때문에 신뢰도가 향상될 수 있다. According to an aspect of the embodiment, the optical tunable device may have a constant temperature function. In one example, the optically tunable device can be placed in a thermostatic chamber. As such, if the optical tunable device has a constant temperature function, the reliability can be improved because the measurement can always be made at a constant temperature.

상기 제어부는 상기 광튜너블 디바이스의 출력 파장이 변경될 수 있도록 직접 전류 또는 전압을 인가할 수 있는 펄스 생성기(pulse generator)이거나, 전류 또는 전압을 인가하도록 하는 스텝 신호(step signal)를 인가하는 장치이거나, 또는 RS232, I2C, dual port RAM 또는 GPIB 등으로 출력 파장 변경 명령을 내리는 장치일 수 있다. The controller may be a pulse generator capable of applying a direct current or a voltage so that the output wavelength of the optical tunable device can be changed or a step signal Or may be a device for issuing an output wavelength change command to RS232, I2C, dual port RAM, GPIB or the like.

상기 광튜너블 디바이스의 파장 가변 시간은 파장 변경 명령이 내려진 시점에서부터, 변경하고자 하는 목표 파장, 즉 타겟 파장분할다중(target WDM) 채널에 안정적으로 머무르기 시작하는 시점까지의 시간으로 정의될 수 있다. 일례로, 파장 변화를 광전 변환하여, 광 세기로 파장을 측정한다고 할 경우에, 파장 변경 명령이 내려진 시점에서부터 타겟 파장분할다중(target WDM) 채널에서 측정 가능한 광 세기가 점차 증가하다가 일정하게 유지되기 시작하는 시점까지의 시간이 파장 가변 시간일 수 있다(Wavelength channel tuning time: maximum time taken for the optical power from the tunable device to begin to decrease in the original wavelength channel (after a wavelength change signal), to the time when the optical power from the tunable device appears and remains stable within the desired wavelength channel). The wavelength tunable time of the optical tunable device can be defined as a time from a time when a wavelength change command is issued to a time when a target wavelength to be changed, that is, a start time to stably stay in a target wavelength division multiplexing (target WDM) channel. For example, when a wavelength change is photoelectrically converted and a wavelength is measured by an optical intensity, a light intensity measurable in a target WDM channel gradually increases from a point at which a wavelength change command is issued, The time to start may be a wavelength tunable time. (Wavelength channel tuning time: a maximum time taken for the optical power from the tunable device to begin to decrease in the original wavelength channel, where the optical power appears from the tunable device and remains stable within the desired wavelength channel.

파장 변화와 타겟이 되는 파장분할다중 채널에서의 측정 가능한 광 세기의 관계는 도 8a 및 도 8b에 도시되어 있다. 도 8a는 시간에 따른 파장의 변화를 도시한 것이고, 도 8b는 시간에 따른 광 파워(optical power)의 변화를 도시한 것이다. 다만, 광 필터 조합에 따라 도 8b의 도면은 도 8c와 같을 수 있다. The relationship between the wavelength change and the measurable light intensity in the target wavelength division multiple channel is shown in Figs. 8A and 8B. FIG. 8A shows a change in wavelength with time, and FIG. 8B shows a change in optical power with time. However, depending on the combination of optical filters, the view of FIG. 8B may be the same as FIG. 8C.

도 8c에서, 초기 파워(initial power)와 타겟 목표(target power)는 측정 셋업에 사용된 광 필터 세트(optical filter set)의 파중분할다중 채널별 삽입 손실(insertion loss)이 정규화(normalized)되어 동일할 수도 있으며, 그렇지 않을 수도 있다. 만일, 그렇지 않을 경우라면 도 8d에 도시된 것과 같이 측정 될 수도 있다. 도 8c 및 도 8d에서 X%와 Y%는 동일할 수 있다. 그리고 도 8b, 도 8c, 및 도 8d에서 X와 Y값은 파중분할다중 채널 폭 및 광 필터 세트에 사용된 필터의 투과 파형과 관계가 있다. In FIG. 8C, the initial power and the target power are obtained by normalizing the insertion loss per wavelength division multiplexing of the optical filter set used in the measurement setup, Or not. If not, it may be measured as shown in FIG. 8D. 8C and 8D, X% and Y% may be the same. 8B, 8C, and 8D, the X and Y values are related to the wavelength division multiple channel width and the transmission waveform of the filter used in the optical filter set.

파장 가변 시간을 파형 모니터에서 측정 가능한 시간 지표로 표현하면 다음의 수학식 1과 같다.The wavelength tunable time can be expressed as a time index measurable in a waveform monitor as shown in Equation 1 below.

[수학식 1] [Equation 1]

(Tl or Tp) + Tr + Tc(Tl or Tp) + Tr + Tc

이 때, (Tl or Tp)는 튜너블 디바이스의 출력 파장이 변경되도록 제어하는 장치 및 방법에 의해 걸리는 지연(latency) 시간 또는 처리(processing) 시간에 해당되는 시간으로, 튜너블 디바이스에게 파장 변경 명령이 내려지기 시작한 시점부터, 이전 (파장 변경 명령이 내려지기 전) 파장분할다중(WDM) 채널에서의 측정 가능한 광 세기의 변화가 X% 일어나기 시작한 시점까지의 시간이며, Tc는 변경코자 하는 파중분할다중(WDM) 채널에서의 측정 가능한 광 세기의 변화가 최종 광 세기의 Y% 이내로 안정화되기 시작하는 데 걸리는 시간이며, Tr은 튜너블 디바이스의 출력 파장이 움직이는 시간으로 (Tl or Tp)에서부터 Tc까지의 시간이다.In this case, (Tl or Tp) is a time corresponding to a latency time or a processing time taken by the apparatus and method for controlling the output wavelength of the tunable device to change, (Before the wavelength change command is issued) to the point at which the change in the measurable light intensity in the wavelength division multiplexed (WDM) channel begins to occur at X%, and Tc is the wavelength division Tr is the time at which the output wavelength of the tunable device travels (Tl or Tp) to Tc, or the time it takes for the change in measurable light intensity in the multiple (WDM) channel to stabilize within Y% Time.

튜너블 디바이스의 튜닝 시간 측정 장치에 사용되는, 상기 광전 변환기는 측정하고자 하는 광 튜너블 디바이스의 파장 가변 시간 중 파장이 채널간 이동하는 시간을 Tr이라고 할 때 DC에서부터 10*(1/Tr) Hz에 해당하는 대역폭을 지니고 있어야 한다. The photoelectric transducer used in the tunable time measuring device of the tunable device can measure 10 * (1 / Tr) Hz from DC when the wavelength shifts between channels during the variable tuning time of the optical tunable device to be measured, Of the total bandwidth.

상기 파형 모니터는 다채널의 순간 신호 포착이 가능하여, 한 화면 상에서 동시에 2개의 채널을 분리하여 디스플레이가 가능하다. 상기 파형 모니터는 전기 신호로 변환된 신호의 파형과 함께 제어부에서 파장 채널 변경 명령을 인가하는 신호의 파형을 트리거 신호로 활용함과 동시에 상기 파형 모니터에 디스플레이함으로써, 상기 튜너블 디바이스의 파장 채널 변경 시간의 분석을 용이하게 한다. 또한 사용자가 원하는 측정 전압 범위와 시간축 범위를 임의 선정 가능하며, 사용자가 원하는 범위에 신호가 놓이지 않을 경우 사용자에게 해당 튜너블 디바이스가 이를 만족했는지 여부를 알려줄 수 있도록 한다. 또한, 이런 측정 환경을 비휘발성 메모리에 저장하였다가 측정시 필요에 따라 이를 불러와 사용하는 것이 가능하게 함으로써 매번 수동 조작할 필요가 없도록 한다. 시간에 따른 파장 채널의 전력 변화에 대한 상기 전기적인 신호를 상기 클래스에 따라 미리 정해진 파장 가변 마스크와 비교함으로써 상기 튜너블 디바이스의 클래스가 구분되는 것을 특징으로 한다.The waveform monitor is capable of capturing multi-channel instantaneous signals, so that two channels can be separated and displayed simultaneously on one screen. Wherein the waveform monitor uses a waveform of a signal converted into an electrical signal and a waveform of a signal for applying a wavelength channel change command in a control unit as a trigger signal and displays the waveform channel change time on the waveform monitor, Lt; / RTI > Also, it is possible to arbitrarily select a desired measurement voltage range and a time axis range, and if a signal is not placed in a desired range, the user can be informed whether or not the tunable device satisfies the requirement. In addition, this measurement environment is stored in a nonvolatile memory, and it is possible to use the measurement environment as needed during measurement so that it is not necessary to perform manual operation every time. And the class of the tunable device is distinguished by comparing the electrical signal with respect to the power change of the wavelength channel with time with the wavelength variable mask predetermined according to the class.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 튜너블 디바이스는 수동형 광통신 네트워크 시스템의 OLT 또는 ONU를 구성하는데 필요한 튜너블 디바이스인 것을 특징으로 한다.In addition, in the tuner device class discriminator through wavelength channel tuning time measurement, the tunable device is a tunable device necessary for configuring an OLT or ONU of a passive optical network system.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 전기적인 신호는 파장 채널이 변화하기 전과 파장 채널이 변화한 후의 전력 변화에 대한 값이고, 상기 모니터링되는 신호는 상기 전력 변화에 해당되는 값으로 튜닝 시간을 측정 가능하도록 한다. 전력 변환된 값은 정규화하여 사용할 수도 있다. In addition, in the class discrimination apparatus of the tunable device through the wavelength channel tuning time measurement, the electrical signal is a value for the power change before the wavelength channel changes and after the wavelength channel changes, The tuning time can be measured by the corresponding value. The power converted value may be normalized and used.

또한 튜너블 디바이스가 수신기일 경우, 상기 장치는 측정 대상에 해당되는 광튜너블 디바이스와 입력이 될 수 있는 하나 이상의 레퍼런스 송신기, 그리고 광신호를 전기 신호로 변환하는 적어도 하나 이상의 광전 변환기; 및 전기적인 신호로 변환된 신호의 파형을 모니터링하는 파형 모니터;를 포함하며, 상기 모니터링 결과를 미리 정해진 파장 가변 마스크와 비교함으로써 상기 튜너블 수신기의 클래스를 구분할 수 있다. 그리고 튜너블 광수신기는 상기 광튜너블 디바이스에게 파장 채널 변경 명령을 내리는 제어부;를 더 포함할 수 있다. 그리고 튜너블 광수신기는 튜너블 광송신기와 관련하여 전술한 내용이 동일하게 적용될 수 있으며, 이하에서는 이에 대한 구체적인 기재는 생략한다. In addition, when the tunable device is a receiver, the apparatus includes at least one photoelectric converter that converts an optical signal into an electric signal, at least one reference transmitter that can be an input and an optical tunable device corresponding to an object to be measured; And a waveform monitor for monitoring a waveform of a signal converted into an electrical signal, wherein the class of the tunable receiver can be identified by comparing the monitoring result with a predetermined wavelength variable mask. The tunable optical receiver may further include a control unit for issuing a wavelength channel change command to the optical tunable device. In addition, the tunable optical receiver can be applied to the tunable optical transmitter in the same manner, and detailed description thereof will be omitted.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 클래스는 튜닝 시간에 따라 클래스1(Short: < 10 μs), 클래스2(Medium: 10 μs to 25ms) 및 클래스3(Medium: 25ms to 1s)로 구분되는 것을 특징으로 한다.Further, in the class discriminator of the tunable device through the measurement of the wavelength channel tuning time, the class is classified into Class 1 (Short: <10 μs), Class 2 (Medium: 10 μs to 25 ms) 25ms to 1s).

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 클래스는 파장에 무관하게 동작하는 ONU 또는 절전을 포함하는 유지보수비용을 줄이기 위한 기능, PON 보호, 부하 균등, 가변적인 대역 할당을 포함하는 파장 재할당 기능 또는 이들의 조합에 대한 기능을 수행하는데 요구되는 튜닝 시간에 따라 분류되는 것을 특징으로 한다.In addition, in the class classification device of a tunable device by measuring a wavelength channel tuning time, the class includes a function for reducing the maintenance cost including ONUs that operate independently of wavelength or power saving, PON protection, load balancing, And a tuning time required for performing a function for a combination of the wavelength reallocation function and the wavelength reallocation function.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스는, 튜너블 트랜스미터, 튜너블 리시버 또는 광필터 중 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, in the tunable device class discrimination apparatus through wavelength channel tuning time measurement, the tunable time measurement target tunable device includes one of a tunable transmitter, a tunable receiver, and an optical filter.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스가 튜너블 트랜스미터인 경우, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스의 입력단 혹은 출력단에서 테스트 셋업을 위해 추가되는 적어도 하나 이상의 튜너블 디바이스는, 상기 적어도 하나 이상의 광필터, 감쇠기 또는 이들의 조합을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, in the class classifier of the tunable device through the measurement of the wavelength channel tuning time, when the tunable time measurement target tunable device is a tunable transmitter, an additional input for test setup at the input or output terminal of the tunable device to be measured Wherein the at least one tunable device comprises at least one or more optical filters, an attenuator, or a combination thereof.

또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스가 튜너블 트랜스미터인 경우, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스의 입력단 혹은 출력단에서 테스트 셋업을 위해 추가되는 적어도 하나 이상의 튜너블 디바이스는, 두 개의 AWG를 서로 대응되도록 연결하여 선택적으로 테스트할 수 있는 것을 특징으로 한다.In addition, in the class classifier of the tunable device through the measurement of the wavelength channel tuning time, when the tunable time measurement target tunable device is a tunable transmitter, an additional input for test setup at the input or output terminal of the tunable device to be measured The at least one tunable device can be selectively tested by connecting two AWGs so as to correspond to each other.

또한 또한 파장 채널 튜닝 시간 측정을 통한 튜너블 디바이스의 클래스 구분 장치에서, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스가 튜너블 트랜스미터인 경우, 상기 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스의 입력단 혹은 출력단에서 테스트 셋업을 위해 추가되는 적어도 하나 이상의 튜너블 디바이스는, 적어도 하나 이상의 광에탈론 필터인 것을 특징으로 한다.In addition, in the class classifying apparatus of the tunable device through the wavelength channel tuning time measurement, when the tunable time measuring target tunable device is a tunable transmitter, the test set-up is performed at the input end or the output end of the tunable- The added at least one tunable device is characterized by being at least one or more optical etalon filters.

아울러, 파장 채널 튜닝 시간 측정 장치는, 적어도 하나 이상의 파장 채널 튜닝 시간 측정 대상 튜너블 디바이스; 상기 튜너블 디바이스의 출력을 전기적인 신호로 변환하는 적어도 하나 이상의 광전 변환기; 및 전기적인 신호로 변환된 신호를 모니터링하는 파형 모니터;를 포함하며, 상기 모니터링은 시간에 따른 파장 채널의 전력 변화에 대한 상기 전기적인 신호를 상기 클래스에 따라 미리 정해진 파장 튜닝 마스크 패턴(wavelength tuning mask pattern)과 비교함으로써 상기 튜너블 디바이스의 클래스가 구분되는 것을 특징으로 한다.
In addition, the wavelength channel tuning time measuring apparatus includes at least one wavelength tuning time measurement target tunable device; At least one photoelectric converter for converting an output of the tunable device into an electrical signal; And a waveform monitor for monitoring a signal converted into an electrical signal, wherein the monitoring is performed based on a predetermined tuning mask pattern according to the class of the electrical signal for a power variation of the wavelength channel over time, and the class of the tunable device is distinguished by comparing with the pattern.

본 발명은 광통신 네트워크에서 튜너블 디바이스의 클래스 분류 방법 및 이를 위한 장치에 관한 것으로, 광통신 네트워크를 구성하는 각 튜너블 디바이스에 대해서 파장 채널 설정, 변경, 초기화, 활성화, 링크 설정, 변경 또는 이들의 조합을 포함한 파장 채널 튜닝이 필요한 경우, 상기 튜너블 디바이스의 파장 채널 튜닝 시간을 측정하여, 상기 측정된 튜닝 시간을 바탕으로 각 튜너블 디바이스의 클래스를 구분하는 방법과 장치를 통해서, 상기 광통신 네트워크의 타이머 설정을 상기 클래스에 알맞도록 함으로써, 효율적으로 운용할 수 있도록 하는 효과가 있다.
The present invention relates to a method of classifying a tunable device in an optical communication network and an apparatus therefor. More particularly, the present invention relates to a method for classifying and classifying tunable devices in an optical communication network by setting, changing, initializing, activating, A tuning device for tuning a wavelength channel of the tunable device and a tuning device for tuning a wavelength of the tunable device based on the measured tuning time, The setting is made suitable for the above-mentioned class, so that it is possible to operate efficiently.

도 1은 파장 가변 광원을 포함하는 다중 파장 수동형 광통신 네트워크 시스템의 (a) 일례와 (b) 또 다른 일례를 보여 주는 블록도.
도 2는 파장 채널 튜닝 프로세스(절차)에서 파장 튜닝 시간에 대한 개념을 설명하기 위한 흐름도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 파장의 튜닝 마스크에 대한 파형도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 파장 튜닝 시간에 대한 클래스 분류의 예시도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 파잔 튜닝 시간 측정에 사용되는 광송신기의 테스트-셋업을 나타낸 예시도.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 파잔 튜닝 시간 측정에 사용되는 광수신기의 테스트 셋업을 도시한 블록도.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 파장 채널 튜닝 시간을 측정하기 위한 파장의 변경에 대한 파워의 측정 결과를 나타낸 예시도.
도 8a 내지 도 8c는 각각 파장 변화와 타겟이 되는 파장분할다중 채널에서의 측정 가능한 광 세기의 관계를 보여주는 그래프.
도 9a는 pulse generator를 이용하여 직접 전압 또는 전류로 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우의 측정 셋업의 블록도.
도 9b는 도 9a의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프. 도 9c는 RS232, GPIB, I2C 등을 통해 command를 이용하여 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우의 측정 셋업의 블록도.
도 9d는 도 9c의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프.
도 9e는 전압 또는 전류를 변화시킬 수 있는 step signal을 이용하여 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우의 측정 셋업의 블록도.
도 9f는 도 9e의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an example (a) and another example (b) of a multi-wavelength passive optical network system including a wavelength variable light source.
2 is a flow chart for explaining the concept of wavelength tuning time in a wavelength channel tuning process (procedure);
3 is a waveform diagram for a tuning mask of wavelengths according to an embodiment of the present invention.
4 is an illustration of a class classification for wavelength tuning time according to an embodiment of the present invention;
5 illustrates an exemplary test-setup of an optical transmitter used in the PASCAL tuning time measurement according to an embodiment of the present invention.
6 is a block diagram illustrating a test setup of an optical receiver used in the fuzzy tuning time measurement according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a diagram illustrating a measurement result of a power with respect to a wavelength change for measuring a wavelength channel tuning time according to an embodiment of the present invention; FIG.
8A to 8C are graphs showing the relationship between the wavelength change and the measurable light intensity in the target wavelength division multiple channel, respectively.
9A is a block diagram of a measurement setup when a control method of changing the output wavelength of a tunable device with a direct voltage or current using a pulse generator is used.
FIG. 9B is a graph showing information for measuring wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from a starting point of a control signal in the measurement setup of FIG. 9A; FIG. 9C is a block diagram of a measurement setup when a control method of changing the output wavelength of a tunable device using a command via RS232, GPIB, I2C, etc. is used.
FIG. 9D is a graph showing information for measuring wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from a starting point of a control signal in the measurement setup of FIG. 9C; FIG.
FIG. 9E is a block diagram of a measurement setup when a control method of changing the output wavelength of a tunable device using a step signal capable of changing voltage or current is used.
FIG. 9F is a graph showing information for measuring wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from a starting point of a control signal in the measurement setup of FIG. 9E; FIG.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다. 사용되는 용어들은 실시예에서의 기능을 고려하여 선택된 용어들로서, 그 용어의 의미는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 후술하는 실시예들에서 사용된 용어의 의미는, 본 명세서에 구체적으로 정의된 경우에는 그 정의에 따르며, 구체적인 정의가 없는 경우는 당업자들이 일반적으로 인식하는 의미로 해석되어야 할 것이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The terms used are terms selected in consideration of the functions in the embodiments, and the meaning of the terms may vary depending on the user, the intention or custom of the operator, and the like. Therefore, the meaning of the terms used in the following embodiments is defined according to the definition when specifically defined in this specification, and unless otherwise defined, it should be interpreted in a sense generally recognized by those skilled in the art.

후술하는 본 발명의 실시예에 따른 파장 튜닝 시간 측정 장치 또는 방법은 다중 파장을 포함한 수동형 광통신 네트워크 시스템에 사용되는 파장 가변 광원의 파장 가변 시간 또는 파장 튜닝 시간을 측정하는데 적용될 수 있다. 파장 가변 광원이란 서로 다른 파장의 광을 발생시킬 수 있는 광원으로서, 파장 분할 다중화 수동형 광통신 네트워크(WDM PON) 시스템은 물론 TDM 기법과 WDM 기법이 결합된 하이브리드 PON, 예컨대 TWDM PON 또는 OFDM PON 시스템 등에도 사용될 수 있다. 이러한 PON 시스템에서의 파장 튜닝 시간이란 파장 가변 광원이 기존에 발생하는 광의 파장을 변경하여 다른 파장의 광을 발생하기 시작할 경우에, 파장 가변 광원에서 발생되어 조사된 광이 안정화되어 원하는 범위 내의 파장이 되는데 소요되는 시간을 의미한다.An apparatus or method for measuring wavelength tuning time according to an embodiment of the present invention to be described later can be applied to measuring a variable tuning time or a wavelength tuning time of a wavelength variable light source used in a passive optical communication network system including multiple wavelengths. The wavelength tunable light source is a light source capable of generating light of different wavelengths, such as a wavelength division multiplexing passive optical communication network (WDM PON) system, a hybrid PON combining a TDM scheme and a WDM scheme, for example, a TWDM PON or an OFDM PON system Can be used. The wavelength tuning time in such a PON system is such that when the wavelength variable light source changes the wavelength of light that has already been generated and starts generating light of another wavelength, the light emitted from the wavelength variable light source is stabilized, This means the time required to become.

MW PON 시스템에서 파장 가변 광원의 파장을 변경하는 것은 여러 가지 경우에 요구될 수 있다. 예를 들어, MW PON 시스템의 ONU(30)를 활성화(activation)하는 과정의 중간이나 그 이후에 새롭게 할당받은 파장 채널로 옮겨가는 경우에 파장 가변 광원의 파장 변경이 필요할 수 있다. 다른 예로, 복수의 OLT가 포함되어 있는 MW PON 시스템에서 일부 OLT를 파워 세이브 모드로 동작시키기 위하여 그 동작을 중지시키고 이와 연결되어 있는 ONU(30)들을 동작 중인 다른 OLT와 통신 가능하도록 파장 채널을 옮겨가는 경우에 파장 가변 광원의 파장 변경이 필요할 수 있다. 또 다른 예로, MW PON 시스템에서 파장 자원을 동적으로 할당하고자 하는 경우나 또는 파장 가변 광원의 출력 파장이 드리프트(drift)되거나 정해진 그리드 이내에 잘 유지되는지 등 성능을 파악하고자 하는 경우 등에도 파장 가변 광원의 파장 변경이 필요할 수 있다.Changing the wavelength of a tunable light source in an MW PON system may be required in many cases. For example, it may be necessary to change the wavelength of the tunable light source when moving to a newly allocated wavelength channel in the middle or after the activation of the ONU 30 of the MW PON system. As another example, in order to operate some OLTs in a power save mode in an MW PON system including a plurality of OLTs, the operation is suspended and the ONUs 30 connected thereto are moved to a wavelength channel The wavelength of the variable wavelength light source may need to be changed. As another example, when the wavelength resource is dynamically allocated in the MW PON system, or when the output wavelength of the tunable light source drifts or is held well within a predetermined grid, the wavelength tunable light source A wavelength change may be required.

MW PON 시스템에서의 파장 가변 과정은 다음과 같은 과정으로 세분화될 수 있다. 예를 들어, ONU(30)의 파장 가변 광원이 OLT로부터 PLOAM 또는 OMCI 채널을 이용하여 파장 가변 명령을 받는 과정, 파장 변경이 이루어지는 과정, 파장 변경이 완료된 이후에 예정된 후속 절차가 진행되는 과정을 포함할 수 있다.The wavelength tuning process in the MW PON system can be subdivided into the following processes. For example, the wavelength tunable light source of the ONU 30 receives a wavelength variable command from the OLT using a PLOAM or OMCI channel, a wavelength change process, and a subsequent process scheduled after the wavelength change process is completed can do.

파장 가변 광원의 파장 튜닝 동작은, 비록 다중 파장 수동형 광통신 네트워크(MW PON)의 종류나 구성에 따라서 달라질 수 있지만, 여러 가지 경우에 일어날 수 있다. 예컨대, ONU(30)의 액티베이션(activation) 과정에서 새롭게 액티베이트되는 ONU(30)(보다 구체적으로는 이 ONU(30)에 구비되는 파장 가변 광원)는 할당된 소정의 파장으로의 파장 튜닝이 필요할 수 있다. 그리고 ONU(30)가 액티베이트된 이후에도 할당된 기존 파장이 다른 파장으로 변경되는 경우에도, ONU(30)는 새롭게 할당된 파장으로의 파장 튜닝이 필요할 수 있다. 할당된 파장이 변경되는 것은 네트워크 시스템의 관리자가 파장 자원을 관리하기 위한 목적으로 수행되거나 또는 네트워크 시스템의 부하 균형(load balancing)을 통한 성능 향상의 목적으로 수행될 수 있는데, 여기에만 한정되는 것은 아니다.The wavelength tuning operation of the wavelength tunable light source may vary depending on the type and configuration of the multi-wavelength passive optical network (MW PON), but may occur in various cases. For example, in the activation process of the ONU 30, the newly activated ONU 30 (more specifically, the wavelength variable light source included in the ONU 30) needs wavelength tuning to the allocated predetermined wavelength . Even after the ONU 30 is activated, the ONU 30 may need to tune wavelengths to newly allocated wavelengths, even if the allocated wavelengths are changed to different wavelengths. The change of the allocated wavelength may be performed by an administrator of the network system for the purpose of managing wavelength resources or may be performed for the purpose of improving performance by load balancing of the network system .

도 1의 (a) 및 (b)에 도시된 것과 같은 MW PON 시스템에서 하나 또는 그 이상의 OLT(10)와 다수의 ONU(30) 각각 사이에 데이터를 주고받기 위해서는 OLT(10)와 각 ONU(30) 사이에 링크를 설정하는 과정이 필요하다. 링크를 설정하는 과정은 PLOAM 또는 OMCI 채널을 이용할 수 있으며, 링크를 설정하는 과정을 세분화하면, 각 ONU(30)가 자신이 사용할 파장을 초기화하는 과정, OLT(10)의 입장에서 다시 말하면 각 ONU(30)가 사용할 파장을 할당하는 과정 등으로 구분될 수 있다. 그리고 파장 가변 광원이 포함된 MW PON 시스템(1)에서의 링크 설정 과정에는 파장 가변 광원의 파장 튜닝 과정(이에 따라 소요되는 시간)도 포함된다.In order to send and receive data between one or more OLT 10 and each of a plurality of ONUs 30 in the MW PON system as shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), the OLT 10 and each ONU 30) is required. In the process of setting a link, a PLOAM or an OMCI channel can be used. If the process of setting up a link is subdivided, in the process of initializing a wavelength to be used by each ONU 30, And a process of allocating a wavelength to be used by the optical fiber 30. In the link establishment process in the MW PON system 1 including the tunable light source, the wavelength tuning process of the tunable light source (the time required therefor) is also included.

스플리터 기반의 ODN(20)을 포함하는 MW PON 시스템(1)에서, 새롭게 시스템에 설치되는 ONU(30), 예컨대 ONU(30)는 초기 파장(initial wavelength)을 할당 받아야만 동작을 할 수 있다. 초기 파장은 다운스트림을 위한 파장과 업스트림을 위한 파장을 포함할 수 있다. 이러한 초기 파장의 할당 절차, 즉 파장 초기화 절차는 각 ONU(30)의 활성화(activation)에 필수적이라고 할 수 있다. 새로운 ONU(30)가 ODN(20)에 설치될 경우에, 초기 다운스트림 파장과 업스트림 파장(initial downstream and upstream wavelength)은 OLT(10)와 새로운 ONU(30) 사이에서 자동적으로 그리고 일정한 간격을 두고서 할당되어야 한다. 그리고 이러한 파장 할당 과정은 새로운 ONU(30)의 액티베이션의 일부로서 실행될 수 있다.In the MW PON system 1 including the splitter-based ODN 20, the ONU 30, for example, the ONU 30 newly installed in the system can operate only after being assigned an initial wavelength. The initial wavelength may include the wavelength for the downstream and the wavelength for the upstream. This initial wavelength allocation procedure, i.e., wavelength initialization procedure, is essential for activation of each ONU 30. When the new ONU 30 is installed in the ODN 20, the initial downstream wavelength and upstream wavelength are automatically and constantly spaced between the OLT 10 and the new ONU 30 Should be assigned. This wavelength allocation process can be performed as part of the activation of the new ONU 30.

새로운 ONU(30)가 OLT(10)와 적절하게 통신을 하기 위하여, 이 새로운 ONU(30)를 위한 다운스트림 파장과 업스트림 파장은 가능한 빨리 지정되어야 하며, 활성화된 동안에는 파장 튜닝이 필요할 수도 있다. AWG(Arrayed Waveguide Gating) 기반의 ODN(20)을 포함하는 MW PON 시스템(1)에서, OLT(10)로부터 ONU(30)로 또는 ONU(30)로부터 OLT(10)로 ODN(20)에서는 단지 하나의 파장만이 통과할 수 있다. 이 경우에, 파장 할당은 물리적인 설치 과정(physical installation process) 동안에 행해질 수도 있다.In order for the new ONU 30 to properly communicate with the OLT 10, the downstream wavelength and the upstream wavelength for this new ONU 30 should be specified as soon as possible and wavelength tuning may be required during the activation. In the MW PON system 1 including the ODN 20 based on the AWG (Arrayed Waveguide Gating), only the ODN 20 from the OLT 10 to the ONU 30 or from the ONU 30 to the OLT 10 Only one wavelength can pass. In this case, the wavelength assignment may be done during the physical installation process.

만약 MW PON 시스템(1)에서 일부 파장은 트래픽이 적거나 심한 경우에는 유휴 상태에 있고 다른 파장은 막중한 로드가 가해지는 경우라면, 로드가 가해진 파장을 할당 받은 ONU(30)들의 전부 또는 일부의 ONU(30)를 유휴 상태의 파장으로 가변하는 부하균형을 도모하는 것이 ONU(30)에 할당된 파장을 변경하는 것의 하나의 예가 될 수 있을 것이다. 이에 의하면, 가용한 파장들 사이에 트래픽에 균형을 잡고 PON 동작의 안정한 상태로 유지할 수 있다. 또는, MW PON 시스템(1)에서 대부분의 파장이 사용되고 있지만 각각의 파장에서 트래픽이 적은 경우라면, 사용되는 파장을 줄여서 MW PON 시스템(1)을 효율적으로 운용할 수도 있다. 이 경우, OLT(10)의 임의의 포트를 끄고 ONU(30)를 가용한 파장의 부분 집합으로 가변함으로 OLT(10)의 파워를 절약하는 효과를 얻을 수도 있다.If a certain wavelength in the MW PON system 1 is in an idle state in the case of low or heavy traffic, and a heavy load is applied to other wavelengths, all or a part of the ONUs 30 to which the load- Providing a load balance that varies the ONU 30 to an idle wavelength may be an example of changing the wavelength assigned to the ONU 30. [ According to this, traffic can be balanced between available wavelengths and the PON operation can be maintained in a stable state. Alternatively, if most of the wavelengths are used in the MW PON system 1, but the traffic is small at each wavelength, the MW PON system 1 can be efficiently operated by reducing the wavelength used. In this case, an effect of saving the power of the OLT 10 can be obtained by turning off any port of the OLT 10 and varying the ONU 30 into a subset of available wavelengths.

이러한 MW PON 시스템(1)에서의 링크 설정 또는 재설정 과정은 파장 가변 광원을 구비하는 OLT(10) 또는 ONU(30)가 광을 발생시켜서 할당된 소정의 파장으로 안정적으로 광을 발진하기까지의 과정인 파장 튜닝 과정을 포함한다. 파장 가변 광원의 파장 튜닝 또는 파장 가변이란 MW PON 시스템(1)에서 링크 설정 과정에서 ONU(30)에 할당된 파장의 광을 발진하는 것은 물론 새롭게 할당된 파장으로 발진되는 광의 파장을 변경하는 것을 포함한다. 이를 위하여, MW PON 시스템(1)의 ONU(30) 및/또는 OLT(10)에는 파장 가변 광원 또는 파장 가변 광송수신기가 장착 될 수 있다.The process of setting or resetting the link in the MW PON system 1 includes a process from when the OLT 10 or the ONU 30 having a tunable light source generates light to stably generate light at a predetermined wavelength allocated thereto In wavelength tuning process. The wavelength tuning or wavelength tuning of the wavelength tunable light source involves oscillating the light of the wavelength assigned to the ONU 30 in the link setting process in the MW PON system 1 as well as changing the wavelength of the light oscillated to the newly allocated wavelength do. For this purpose, a tunable light source or wavelength variable optical transceiver may be installed in the ONU 30 and / or the OLT 10 of the MW PON system 1. [

그런데, 파장 튜닝 과정에서는 파장 가변 광원의 종류나 특성, 등급 등에 파장 튜닝 시간이 다를 수 있다. 따라서 OLT(10)와 ONU(30) 사이의 링크 설정 과정에는 해당 MW PON 시스템(1)에 구비되어 있는 파장 가변 광원의 파장 튜닝 시간이 고려되어야 한다. 즉, 파장 동적 할당 등으로 파장 가변이 수시로 이루어지는 MW PON 시스템(1)에서 사용될 파장 가변 레이저는 파장 튜닝 시간이 매우 중요한 성능 파라미터가 될 수 있다. 예를 들어, MW PON 시스템(1)에서는 파장 튜닝 속도 또는 파장 튜닝 시간에 따라서 복수의 등급으로 구분될 수도 있다. 파장 튜닝 시간은 측정하는 방법에 따라서 그 시간이 달라질 수 있으므로, 파장 가변 광원을 위하여 파장 튜닝 시간을 측정할 통일적인 방법 및 이를 구현한 장치가 요구된다. 그리고 파장 가변 광원의 파장 튜닝 시간은 MW PON 시스템(1)이 요구하는 시간을 충족시켜야 한다.However, in the wavelength tuning process, the wavelength tuning time may be different in the kind, characteristic, grade, etc. of the wavelength variable light source. Therefore, the wavelength tuning time of the wavelength variable light source provided in the MW PON system 1 must be considered in the link establishment process between the OLT 10 and the ONU 30. That is, the wavelength tunable laser to be used in the MW PON system 1 in which the tuning is frequently performed due to the dynamic allocation of the wavelength or the like can be a performance parameter in which the wavelength tuning time is very important. For example, the MW PON system 1 may be divided into a plurality of classes according to a wavelength tuning speed or a wavelength tuning time. Since the wavelength tuning time may vary depending on the method of measurement, a uniform method of measuring the wavelength tuning time for the variable wavelength light source and a device implementing the same are required. And the wavelength tuning time of the tunable light source must meet the time required by the MW PON system (1).

이러한 파장 채얼 튜닝의 과정에 대해서, 튜닝 시간을 명확하게 정의하는 것이 필요하다. 이하에서는 파장 채널 튜닝 시간을 명확하게 정의하는 방법에 대해서 설명하고자 한다.For this wavelength tuning process, it is necessary to clearly define the tuning time. Hereinafter, a method for clearly defining the wavelength channel tuning time will be described.

도 2는 파장 채널 튜닝 프로세스(절차)에서 파장 튜닝 시간에 대한 개념을 설명하기 위한 흐름도이다. 먼저 OLT(10)에서 ONU(30)로 파장 채널 변경 명령이 송신되면, ONU(30)는 파장 채널 튜닝 절차를 수행하게 되고, 그 결과에 대해서 OLT(10)로 응답을 보내데 된다. 즉, ONU(30)의 튜너블 송신기에 대해서 파장 채널 튜닝 절차를 자세히 살펴보면, 다음과 같은 단계에 따라서 파장 채널 튜닝이 이루어진다.2 is a flow chart for explaining the concept of wavelength tuning time in the wavelength channel tuning process (procedure). First, when a wavelength channel change command is transmitted from the OLT 10 to the ONU 30, the ONU 30 performs a wavelength channel tuning procedure and sends a response to the OLT 10 with respect to the wavelength channel tuning procedure. That is, the wavelength channel tuning procedure for the tunable transmitter of the ONU 30 will be described in detail. The wavelength channel tuning is performed according to the following steps.

단계 1: OLT(10)로부터 명령을 수신 받는다.Step 1: Receive a command from the OLT 10.

단계 2: 튜너블 송신기를 오프(off)한다. Step 2: Turn off the tunable transmitter.

단계 3: 새로운 파장 채널에 튜닝 또는 슬루잉한다. 이때 출발 부분은 현재 파장 채널의 통과대역을 벗어나는 부분이며, 메인 부분은 새로운 파장 채널에 슬루잉하는 부분이고, 마지막 부분은 새로운 파장 채널 내에 멈추고자 하는(새로운 파장 채널에 잠기는) 부분이다. Step 3: Tuning or slewing to a new wavelength channel. In this case, the starting part is the part beyond the pass band of the current wavelength channel, the main part is the part which is slewing to the new wavelength channel, and the last part is the part which is going to stop in the new wavelength channel.

단계 4: 새로운 파장 채널 내에 머무르게 된다.Step 4: Stay within the new wavelength channel.

단계 5: OLT(10)로부터 하향 스트림 프레이밍을 재확립한다. Step 5: Re-establish the downstream framing from the OLT 10.

단계 6: 튜너블 송신기를 온(ON)하고 OLT(10)와 통신을 개시한다.Step 6: Turn on the tunable transmitter and start communication with the OLT 10.

단계 7: 정밀한 튜닝(혹은 재교정)을 수행한다.Step 7: Perform fine tuning (or recalibration).

여기서 단계 3에서 걸린 시간이 동일한 매커니즘(열, 기계적, 전류 주입 등)을 사용하는 튜너블 디바이스에서 걸린 시간과 동일하다. 그리고 이 시간은 천이시간(transition time) 혹은 튜닝 시간(tuning time)로 불리며, 이는 튜닝 거리(tuning distance) 및 튜닝 속도(tuning speed)에서 유래한 것이다. 단계 4에 걸리는 시간은 디바이스 마다 서로 다른 제어 기법을 사용하기 때문에 디바이스 마다 서로 다르다. 비록 구현 이슈는 벤더들과 관련이 있지만, 표준 규격은 어떤 튜너블 디바이스가 어떤 튜닝 클래스에 속하는지 가이드하기에 충분할 정도로 명확해야 한다. 따라서 "튜닝 시간"을 더욱 정확하게는 "파장 채널 튜닝 시간"으로 명명하는 것이 필요하다. Here, the time taken in step 3 is the same as the time taken by the tunable device using the same mechanism (thermal, mechanical, current injection, etc.). This time is referred to as a transition time or a tuning time, which is derived from the tuning distance and the tuning speed. The time taken in step 4 is different for each device because it uses different control techniques for each device. Though implementation issues are relevant to vendors, standards should be clear enough to guide which tunable devices belong to which tuning classes. Therefore, it is necessary to name the "tuning time" more precisely as "wavelength channel tuning time ".

본 발명에서는 단계 1에서 단계 4에 이르는 시간을 측정하는 방법과 측정 셋업에 대해서 제시하고자 한다. 이 때 단계 2에 걸린 시간은 수~수십 ns 정도로 단계 3 및 단계 4에 걸린 시간과 비교하여 무시할 만하기 때문에 튜너블 디바이스의 튜닝 시간을 측정하는 장치의 경우, 단계 2 의 튜너블 디바이스의 송신부를 끄는 단계 없이 튜너블 디바이스의 송신부를 켜둔 채 측정하도록 한다.In the present invention, a method of measuring the time from step 1 to step 4 and a measurement setup are described. In this case, since the time taken in step 2 is negligible compared to the time spent in steps 3 and 4, which is several tens to several tens of ns, in the case of the apparatus for measuring the tuning time of the tunable device, Make sure that the transmitter of the tunable device is turned on without turning off the power.

따라서 본 발명에서는 파장 채널 튜닝 시간을 "튜너블 레이저의 광 파워가 파장 채널 변경 신호를 받은 후, 원 파장 채널에서 벗어나서 튜너블 디바이스가 요구되는 파장 채널에 튜닝하여 요구된 파장 채널 내에 안정적으로 남게 되는 때까지의 시간동안 걸리는 최대 허용시간(Maximum allowed time taken from a optical power of the tunable laser disappear in the original wavelength channel (after a wavelength change signal), to a time when the tunable device tunes to the desired wavelength channel and stably remains within the desired wavelength channel)"을 말한다.Therefore, in the present invention, the wavelength tuning time is defined as "the optical power of the tunable laser is tuned to the desired wavelength channel after deviating from the original wavelength channel after receiving the wavelength channel changing signal and stably remains in the required wavelength channel (The maximum allowed time taken for the time to reach the wavelength of the optical fiber), the optical wavelength of the tunable laser, stably remains within the desired wavelength channel. "

상기와 같은 파장 채널 튜닝 시간에 대한 정의에 따라 파장 채널 시간을 실제로 측정하기 위해서는 다음과 같은 관계를 유도할 수 있다.In order to actually measure the wavelength channel time according to the definition of the wavelength channel tuning time, the following relation can be derived.

즉, 파장 채널 튜닝 시간 = 불확실한 시간 + (N*CS - 2*MSE) + 최종 구간 시간이 되고, 여기서 불확실한 시간은 출발부분과 약간의 전기적 지연시간을 포함하며, (N*CS - 2*MSE)에 대한 시간은 대부분 튜닝 매커니즘에 따른 물리적으로 고정된 값이 될 것이며, 최종 구간 시간은 튜너블 디바이스에 대한 제어 회로에 의존할 것이다.That is, the wavelength channel tuning time = uncertain time + (N * CS - 2 * MSE) + final interval time, where the uncertain time includes the starting portion and some electrical delay time, ) Will most likely be a physically fixed value according to the tuning mechanism, and the final interval time will depend on the control circuitry for the tunable device.

대부분의 NG-PON2 접급 방식 중 공통적인 특징은 송신기, 수신기 혹은 이들 모두를 튜닝하는 기능이다. OLT에서 ONU로의 다운스트림 방향에서, 튜너블 ONU 수신기는 적당한 채널을 선택할 필요가 있다. ONU에서 OLT로의 상향에서는 ONU 송신기가 필요한 채널을 출력하도록 튜닝된다. OLT 수신기 채널 선택 능력은 NG-PON2 접근 방법에 따라 달라질 수 있다. 중심 주파수, 중심 주파수 분산, 채널 간격, 튜닝 특성에 대해서 정의되며, 송신기와 수신기의 튜닝 시간은 3개의 클래스로 분류되며, 이러한 클래스는 각 경우마다 서로 다른 적용 경우를 가진다.A common feature among most NG-PON2 receptions is the ability to tune the transmitter, the receiver, or both. In the downstream direction from the OLT to the ONU, the tunable ONU receiver needs to select an appropriate channel. In the upward direction from the ONU to the OLT, the ONU transmitter is tuned to output the required channel. The OLT receiver channel selection capability may vary depending on the NG-PON2 approach. Center frequency, center frequency dispersion, channel spacing, and tuning characteristics, and the tuning times of the transmitter and the receiver are classified into three classes. These classes have different application cases in each case.

도 3에 도시된 바와 같이, NG-PON2 ONU의 일반적인 튜닝 마스크는 다양한 튜너블 송신기나 수신기를 서로 다른 튜닝 클래스로 분류하는데 사용될 수 있으며, 도 4에 3개의 구간으로 분류되어 있다. 파장 튜닝 마스크를 이용한 튜닝 시간의 측정을 위한 광송신기의 테스트 셋업은 도 5와 같다.As shown in FIG. 3, the general tuning mask of the NG-PON2 ONU can be used to classify various tunable transmitters or receivers into different tuning classes, which are classified into three sections in FIG. The test setup of the optical transmitter for measuring the tuning time using the wavelength tuning mask is shown in Fig.

튜닝 마스크를 이용하고자 하는 이유는, 기존 광송신기의 성능 지표를 판단하기 위해 아이(eye) 마스크를 이용한 점과 마찬가지로, 튜너블 디바이스의 파장 가변 클래스를 손쉽게 판별하기 위함이다. The purpose of using the tuning mask is to easily discriminate the wavelength variable class of the tunable device as in the case of using the eye mask to determine the performance index of the existing optical transmitter.

파형 모니터에서 얻은 도 3과 같은 튜닝 마스크에서 파장 튜닝 이전에 유지되오던 최대값을 파장 튜닝 이전의 1 레벨(301)로, 파장 튜닝 이후에 유지되는 최대값을 파장 튜닝 이후의 1 레벨(302)로 정의할 경우, 파장 가변 명령이 튜너블 디바이스에 내려진 시점에서부터 파장 튜닝 이후의 1레벨의 Y%에 해당되는 레벨 (304)의 시간 차이를 파장 채널 튜닝 시간이라 할 수 있다. 3, the maximum value held before the wavelength tuning is set to a level 301 before the tuning, and the maximum value maintained after the tuning is set to the first level 302 after the tuning, , The time difference of the level 304 corresponding to Y% of one level after the wavelength tuning from the time when the tunable command is applied to the tunable device can be referred to as a wavelength channel tuning time.

파장 튜닝 이후의 1레벨은 수평 히스토그램으로 분석하여 찾아낼 수도 있다. Y에 해당되는 값은 0에서 1 사이의 값으로, 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 WDM 파장 채널 폭을 고려하여, 측정 셋업에서 사용된 광 필터 세트의 투과 대역폭과 투과 스펙트럼에 따라 달라질 수 있다.One level after wavelength tuning can be found by analyzing with a horizontal histogram. The value corresponding to Y is a value between 0 and 1, which may vary depending on the transmission bandwidth and transmission spectrum of the optical filter set used in the measurement setup, taking into account the WDM wavelength channel width of the system in which the tunable device is to be used.

즉 사용자가 측정 대상인, 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 정보를 입력하면, Y값이 자동 계산되고, 이를 이용하여 측정값으로부터 튜닝 시간이 자동 계산될 수 있다. 또한 이런 과정을 파장 튜닝 마스크를 이용하여, 미리 정의된 상기 클래스의 구분에 따른 튜닝 시간의 마스크를 파장 튜닝 패턴과 비교하여 그 결과를 통해 해당 튜너블 디바이스가 어느 클래스에 해당하며, margin이 어느 정도인지 측정할 수 있다. 본 발명에서 상기 파장 튜닝 마스크에 의한 튜닝 시간의 측정에 대한 것은 하나의 예시에 불과한 것이므로, 튜닝 시간을 측정할 때, 상승 모서리의 몇 %일 때를 끝 지점으로 설정할 지는 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 spectral excursion 등 WDM 파장 사양에 관련되어 있다. That is, when the user inputs the information of the system in which the tunable device to be measured is to be used, the Y value is automatically calculated, and the tuning time can be automatically calculated from the measured value. Also, this process is compared with the tuning pattern of the tuning time according to the class of the predefined class, using the wavelength tuning mask, and the result shows that the corresponding tunable device corresponds to which class, Can be measured. In the present invention, the measurement of the tuning time by the wavelength tuning mask is merely an example. Therefore, when the tuning time is measured, the end point of the rising edge is set to be the end point, spectral excursion, and so on.

도 4의 클래스에 정해진 파장 튜닝 시간 값은 클래스를 3개로 나누어 각 클래스에 해당하는 튜닝 시간을 제시하였으나, 이는 하나의 예시에 불과한 것으로, 통상의 기술자기 이를 통해 상기 클래스를 더 세밀하게 정의하여 사용하는 것도 가능하다. 즉, 본 발명에 의한 장치를 통해서 사용자가 특정 클래스에 대한 기준을 설정한 후 튜닝 시간을 측정하면, 측정된 튜닝 시간에 따라 해당 클래스가 출력되며, 따라서 사용자는 측정한 튜너블 디바이스가 어떤 클래스에 해당하는지 확인할 수 있다. 이러한 클래스의 확인은 구체적으로 인증기관의 확인과 검증을 통해서 클래스가 튜너블 디바이스의 제품에 명시될 수도 있다. 이러한 과정을 통해서 각 ONU에서는 해당 튜너블 디바이스를 사용하여 구성하였을 경우, OLT로 해당 클래스 정보를 통보하여 가가 ONU에 대한 클래스 정보를 수집하는 것도 가능할 것이며, 이를 통해 OLT에서는 ONU의 클래스 정보에 따라 파장 채널 변경이나 초기화 및 활성화를 위한 타이머를 설정할 수 있도, 이는 네트워크 시스템의 효율적인 윤용을 위해서 대단히 중요한 역할을 한다.The wavelength tuning time value set in the class of FIG. 4 is divided into three classes, and the tuning time corresponding to each class is presented. However, this is only one example, and the class is defined more finely It is also possible to do. That is, when a user sets a criterion for a specific class through a device according to the present invention and measures the tuning time, the class is output according to the measured tuning time, You can check if it is applicable. The verification of these classes may be specified in the product of the tunable device, specifically through the verification and validation of the certification authority. In this way, when each ONU is configured using the corresponding tunable device, it is also possible to notify the OLT of the corresponding class information and collect the class information of the ONU. Thus, according to the OLT, Timers can be set for channel change, initialization, and activation, which plays a very important role in the efficient use of network systems.

이하 상기에서 설명한 튜닝 시간을 구체적으로 어떻게 정의할 수 있는지 설명하고자 한다. 본 발명의 일 실시예에 의한 파장 채널 튜닝 시간은 N*CS+2*MSE에서 N*CS-2*MSE까지의 범위에 해당된다. 여기서 N은 채널수(channel count)이고, CS는 GHz 단위의 채널 간격(channel space)을 나타내고, MSE(maximum spectra excursion)는 GHz 단위의 최대 스펙트라 익스커젼이다. 이러한 범위는 단순하게 N*CS-2*MSE나 N*CS+2*MSE와 같이 단순한 수식으로 표현하기 곤란하다. 상기 파장 튜닝 시간은 튜닝 튜너블 디바이스에게 관련 단계에서 튜닝하도록 허용된 최대허용시간을 의미한다. 상기 기재된 튜닝 시간은 특정 주위온도에서 각 파장에 대한 최대 튜닝된 스팩트랄 익스커젼내에서 어떤 파장에서 다른 어떤 파장으로 튜닝하는데 각 장치에 대해 필요한 시간이다. 튜닝 시간은 레인징(ranging), 파장 변경 및 파장 정밀(fine) 튜닝동안 사용에 따라 다른 특성을 가질 것이다. ONU 튜닝 시간은 이하 기재되는 절차와 테스트 셋업을 사용하여 측정될 수 있다. 테스트 셋업의 목적은 모호함이 없이 튜닝 시간을 측정하는 것이다. 물론 측정은 긴 파장에서 짧은 파장까지에 대해서도 이루어진다.Hereinafter, how the tuning time described above can be specifically defined will be described. The wavelength channel tuning time according to an embodiment of the present invention corresponds to a range from N * CS + 2 * MSE to N * CS-2 * MSE. Where N is the channel count, CS is the channel spacing in GHz, and MSE is the maximum spectral excitation in GHz. This range is simply difficult to express as a simple expression such as N * CS-2 * MSE or N * CS + 2 * MSE. The wavelength tuning time means the maximum allowed time allowed for the tuning tunable device to tune in the relevant step. The tuning time described above is the time required for each device to tune from any wavelength to any other wavelength within the maximum tuned spectral excursions for each wavelength at a particular ambient temperature. The tuning time will have different characteristics depending on the use during ranging, wavelength change and fine tuning of the wavelength. The ONU tuning time can be measured using the procedure and test setup described below. The purpose of the test setup is to measure the tuning time without ambiguity. Of course, measurements are made for long wavelengths to short wavelengths.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 파장 채널 튜닝 시간을 측정하기 위한 ONU 송신기의 튜닝 시간에 대한 테스트 셋업을 도시한 블록도이다. 5 is a block diagram illustrating a test setup for tuning time of an ONU transmitter for measuring a wavelength channel tuning time according to an embodiment of the present invention.

이하 본 발명에 따른 파장 채널 튜닝 시간에 대한 측정 방법에 대해서 설명하고자 한다. 도 5는 파장 채널 튜닝 시간을 측정할 필요가 있는 다양한 튜너블 디바이스의 예를 보인 것으로, 도 5의 경우는 튜너블 송신기가 (511, 521, 531, 541)가 DUT인 경우이다. 즉, DUT의 튜닝 시간 측정을 위해서 다양한 네트워크 환경을 구성하여 해당 DUT를 측정하는 것이 필요하다. 도 5에서 attenuator(502)는 optical filter(504, 507)와 O/E converter(505, 508) 사이에 배치될 수도 있다.Hereinafter, a method for measuring a tuning time of a wavelength channel according to the present invention will be described. FIG. 5 shows an example of various tunable devices that need to measure the wavelength channel tuning time. In the case of FIG. 5, the tunable transmitter 511, 521, 531, and 541 are DUTs. In other words, it is necessary to configure various network environments to measure DUT tuning time and to measure corresponding DUT. 5, the attenuator 502 may be disposed between the optical filters 504 and 507 and the O / E converters 505 and 508.

도 5의 (a)는 튜너블 광송신기(501)를 DUT로 하여 두 개의 광필터(505, 508)를 사용하는 케이스를 예시한 것이다. 이 경우에 두 개의 파장에 대한 파워를 합치게(510) 되는데, 이 경우에도 본 발명에 의한 파장 튜닝 다이어그램을 사용하여 튜닝 시간을 측정하면 용이하게 클래스를 분류할 수 있다.FIG. 5A illustrates a case in which two optical filters 505 and 508 are used as a DUT with the tunable optical transmitter 501. FIG. In this case, the power for the two wavelengths is combined 510. In this case, the tuning time can be easily classified by classifying the tuning time using the wavelength tuning diagram of the present invention.

도 5의 (b)는 단일 광송신기(511)와 광필터(513)을 포함한 튜너블 광송신기를 DUT로 한 테스트 셋업이다. 이 경우에도 본 발명에 의한 파장 튜닝 다이어그램을 사용하여 튜닝 시간을 측정하면 용이하게 클래스를 분류할 수 있다.5 (b) is a test setup with a tunable optical transmitter including a single optical transmitter 511 and optical filter 513 as a DUT. In this case, the tuning time can be easily measured by using the wavelength tuning diagram according to the present invention.

다음으로 튜너블 광송신기(Tunable Tx)의 파장 채널 튜닝 시간을 측정함에 있어서, 다양한 광필터의 구성에 대해서 도 5의 (c) 내지 (e)에 구체적으로 그 구성예에 대해서 도시하였다. 도 5의 (c)는 필터 1, 2(526, 527) 및 컴바이너(528)를 삽입한 경우와 다양한 경로손실을 만들기 위해서 가변 감쇠기(523)를 두고 있으며, 이러한 다양한 경로에 대한 튜닝 시간을 오실로스코프(525, 530)로 측정할 수 있다. 여기서 필터 1(526), 필터 2(527) 및 감쇠기(523)를 연결한 구조를 보였으나, 광필터의 개수와 감쇠기의 개수 및 감쇠 정도는 다양하게 설정하여 구성하는 것이 가능하다. 또한 광필더 1과 광필터 2의 중심 파장은 튜너블할 수 있으며, 이는 측정하고자 하는 조건에 맞추어 세팅 가능하다. 또한 광전변환기(524, 529)들의 응답성(responsibility)도 동일하여야 한다. 이 테스트 셋업의 장점은 파장 필터를 통과하지 않는 튜너블 레이저의 일부를 이용하여 정규화하기에 원활하다. 예를 들어 튜너블 레이저의 파장이 바뀐 후에 출력 광세기의 변동이 있더라도 보정이 가능하다. 그러나 튜너블 레이저의 파장에 따른 출력 광세기 변화량을 미리 알 수 있다면, 이렇게 측정할 필요가 없다.Next, in the measurement of the wavelength channel tuning time of the tunable optical transmitter (tunable Tx), various configurations of the optical filters are shown in Figs. 5 (c) to 5 (e). 5C shows a case where the filters 1 and 2 526 and 527 and the combiner 528 are inserted and a variable attenuator 523 is provided to generate various path loss. Can be measured by the oscilloscopes 525 and 530. Here, the filter 1 526, the filter 2 527, and the attenuator 523 are connected to each other. However, the number of the optical filters, the number of the attenuators, and the degree of attenuation can be variously set. In addition, the center wavelengths of the optical filter 1 and the optical filter 2 can be tunable, which can be set according to the conditions to be measured. Also, the responsibilities of the photoelectric converters 524 and 529 should be the same. The advantage of this test setup is that it is normal to normalize using some of the tunable lasers that do not pass through the wavelength filter. For example, it is possible to calibrate a tunable laser even if the wavelength of the tunable laser changes. However, if the amount of change of the output light intensity according to the wavelength of the tunable laser can be known in advance, it is not necessary to measure it.

도 5의 (d)는 AWG를 2단(532, 533)으로 연결한 구조로서, 여기서 AWG는 1:N의 연결을 설정할 수 있으므로, 측정하고자 하는 채널만 연결하여 선택적으로 측정할 수 있는 장점이 있다. 즉, 다양한 AWG의 연결 관계를 형성한 다음 튜너블 광송신기(531)의 튜닝 시간을 측정하는 것이 가능하다.5 (d) shows a structure in which the AWG is connected in a second stage (532, 533). In this case, since the AWG can establish a 1: N connection, have. That is, it is possible to measure the tuning time of the tunable optical transmitter 531 after forming connection relationships of various AWGs.

도 5의 (e)는 애탈론(Etalon) 필터(542)를 사용하여 테스트-셋업을 구성한 것으로, 다양한 에탈론 필터의 투과 특성에 따라 튜너블 광송신기의 파장 채널 튜닝 시간을 측정하여 튜너블 광송신기(541)의 튜닝 시간에 대한 클래스를 구분할 수 있다.5E illustrates a test-setup using an Etalon filter 542, which measures the tunable wavelength tuning time of the tunable optical transmitter according to the transmission characteristics of various etalon filters, The class for the tuning time of the transmitter 541 can be distinguished.

도 6은 광수신기의 경우에 테스트 셋업을 보여준 것으로, DUT가 광 필터인 경우이고, 이 경우에는 튜너블 트랜스미터의 구성을 다양하게 변형하면서 ONU의 테스트-셋업이 구성될 수 있다.FIG. 6 shows a test setup in the case of an optical receiver, where the DUT is an optical filter, in which case the test-setup of the ONU can be configured while varying the configuration of the tunable transmitter.

튜너블 필터의 파장 채널 튜닝 시간을 측정하기 위해서는 도 6과 같이 참조(referencing)(601)를 위한 레이저 세트와 시간을 측정하기 위한 오실로스코프(605)가 필요하다. 여기서도 감쇠기(602)가 필요하면 사용될 수 있으며, 다양한 종류의 광송신기(601)에 대한 출력을 입력으로 받아서 측정하고자 하는 광필터(603)의 출력을 광전변환한(604) 후 해당 출력 신호의 파형 변화를 측정함으로써(605), 광필터(603)의 파장 채널 변환에 따른 튜닝 시간을 측정할 수 있다. 본 실시예는 다른 실시예와 달리 튜너블 필터를 DUT로 하는 경우로서, 광 송신기가 다양한 레이저 세트로 구성되거나, target WDM 채널의 중심 파장의 광 출력을 갖는 광송신기로 구성될 수 있다. In order to measure the wavelength channel tuning time of the tunable filter, a laser set for referencing 601 and an oscilloscope 605 for measuring time are required as shown in FIG. Here, the attenuator 602 may be used. If the attenuator 602 is required, the output of the optical filter 603 to be measured is photoelectrically converted (604) by receiving an output of various kinds of optical transmitters 601, By measuring the change (605), the tuning time according to the wavelength channel conversion of the optical filter 603 can be measured. This embodiment is different from the other embodiments in that the tunable filter is a DUT, and the optical transmitter may be constituted by various laser sets or may be constituted by an optical transmitter having a light output of a central wavelength of a target WDM channel.

결국, 도 5와 도 6에서 예시한 DUT는 튜너블 광송신기, 광송신기, 튜너블 광필터, 광필터, 광 멀티플렉서, 광 디멀티플렉서 또는 이들의 조합을 포함하는 것이 될 수 있으며, 도 5 및 도 6에서 예시한 실시예는 튜닝 시간을 측정하기 위한 각종 광 디바이스의 예시에 불과한 것이고, 본원 발명의 튜닝 시간 측정 방법을 이용하는 것이라면, 다양한 광 디바이스에 대해서 상기 측정된 튜닝 시간을 클래스로 분류하는 것은 당연히 본 발명의 권리 범위에 속하는 것이라고 볼 수 있을 것이다.5 and 6 may include a tunable optical transmitter, an optical transmitter, a tunable optical filter, an optical filter, an optical multiplexer, an optical demultiplexer, or a combination thereof, and FIGS. 5 and 6 It is only an example of various optical devices for measuring the tuning time. If the method of measuring the tuning time of the present invention is used, the classifying of the measured tuning time into classes for various optical devices is, of course, It is to be understood that the invention is not limited thereto.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 파장 채널 튜닝 시간을 측정하기 위한 파장의 변경에 대한 파워의 측정 결과를 나타낸 예시도로서, TEC 제어된 DFB-레이저를 사용한 실험을 통해서, 상기 레이저의 파형을 본 발명에 의한 튜닝 시간을 측정한 파형의 예를 보인 것이다.FIG. 7 is a diagram illustrating a result of measurement of power with respect to a wavelength change for measuring a wavelength channel tuning time according to an embodiment of the present invention. In an experiment using a TEC-controlled DFB-laser, Shows an example of a waveform obtained by measuring the tuning time according to the present invention.

도 7은 파장 튜닝 이전의 1 레벨과 파장 튜닝 이후의 1레벨이 서로 일치하지 않는 경우의 파장 튜닝 마스크이다. 광튜너블한 디바이스의 경우, 파장 튜닝에 따른 광출력 세기 또는 삽입 손실이 다를 수 있다. 그런 경우 도 3과 다르게 파장 튜닝 전과 후의 1 레벨이 다르게 표현될 수 있다. 이 경우 파장 튜닝 전과 후의 1 레벨을 정규화하여 맞춘 이후에 파장 가변 시간을 측정할 수도 있으나, 정규화하지 않고도 파장 명령이 튜너블 디바이스에 인가된 시점을 시작점으로 잡고, 튜너블 디바이스가 측정 셋업을 거쳐 파형 모니터에 측정된 값이 최종 목표 값의 Y값에 해당되는 시점을 끝점으로 잡아, 이 둘의 차이를 튜닝 시간으로 표기할 수도 있다.7 is a wavelength tuning mask in the case where one level before wavelength tuning and one level after wavelength tuning do not coincide with each other. For optical tunable devices, the optical power intensity or insertion loss due to wavelength tuning may be different. In this case, unlike FIG. 3, one level before and after wavelength tuning can be expressed differently. In this case, although the wavelength tunable time can be measured after normalizing and matching one level before and after the tuning of the wavelength, it is also possible to hold the wavelength command as the start point without applying the normalization to the tunable device, It is also possible to mark the difference between the two as the tuning time by taking the point at which the measured value on the monitor corresponds to the Y value of the final target value as the end point.

Y 값은 상기 튜닝 장치에 사용된 광 필터 셋의 투과 대역폭과 투과 스펙트럼의 형상에 따라 변화할 수 있는 값이다. 즉, 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 WDM 채널의 spectral excursion 등이 정해지면, spectral excursion 지점에서의 광 필터의 삽입 손실 값을 미리 측정함으로써, 이를 튜닝 시간을 판단할 때 사용되는 Y 값으로 활용할 수 있다. The Y value is a value that can be changed according to the transmission bandwidth and the shape of the transmission spectrum of the optical filter set used in the tuning apparatus. That is, if the spectral excitation of the WDM channel of the system in which the tunable device is to be used is determined, the insertion loss value of the optical filter at the spectral excursion point may be measured in advance and utilized as the Y value used for determining the tuning time .

파장 튜닝 시간 측정 장치에 사용된 optical filter set이 튜너블 디바이스의 초기 파장도 투과하고, 최종 파장도 투과하도록 구성되어 있을 경우, 시간에 따른 파장 가변으로 발생하는, 광 세기 변화는 도 3 또는 도 7과 같다. When the optical filter set used in the wavelength tuning time measuring device transmits the initial wavelength of the tunable device and is also configured to transmit the final wavelength, a change in the optical intensity, which occurs due to the wavelength variation with time, Respectively.

파장에 대한 파워 변화를 정규화(normalized)한 도 3과는 달리, 도 7의 경우는 정규화되지 않았다. 이러한 결과는 측정 장치에 사용된 광 필터 셋의 파장에 따른 삽입 손실의 차이가 있거나, 튜너블 디바이스가 파장에 따른 출력 세기 변화가 있을 경우 도 7과 같이 측정 결과가 얻어질 수 있다. 더 자세히 말해, 파장 채널을 가변시키기 위하여 DFB 레이저에 광 출력 세기 보상 (APC: auto power control) 기능을 사용하지 않은 채 DFB 레이저의 온도를 높이거나 낮출 경우 이러한 측정 결과가 얻어질 수 있다. Unlike FIG. 3, which normalizes the power change over the wavelength, the case of FIG. 7 is not normalized. This result can be obtained as shown in FIG. 7 when there is a difference in insertion loss according to the wavelength of the optical filter set used in the measuring apparatus or when the tunable device changes the output intensity according to the wavelength. More specifically, these measurements can be obtained by increasing or decreasing the temperature of the DFB laser without using the auto power control (APC) function in the DFB laser to vary the wavelength channel.

본 발명은 광통신 네트워크에서 튜너블 디바이스에 대한 파장 채널 변경에 따른 튜닝 시간을 측정하여 소정의 클래스로 나눈 다음, 해당 튜너블 디바이스가 어떤 클래스에 속하는지 구분할 수 있도록 하는 방법과 이 방법을 사용한 장치를 제시한 것이다.The present invention relates to a method for measuring a tuning time according to a wavelength channel change for a tunable device in an optical communication network and dividing the tuning time into a predetermined class and then identifying a class to which the tunable device belongs and a device using the method It is suggested.

상기 클래스로 나누어진 각 튜너블 디바이스는 광통신 네트워크에서 링크 설정과 초기화 및 링크 활성화 과정에서 필요한 타이머 값을 설정하는데 필요하며, 상기 튜닝 디바이스의 튜닝 시간에 따른 타이머 설정으로 효율적인 네트워크 운용이 가능하다.Each of the tunable devices divided into the above classes is required to set a timer value required in link establishment, initialization and link activation in the optical communication network, and efficient network operation is possible by setting a timer according to the tuning time of the tuning device.

본 발명의 실시예에 따른 튜닝 시간 측정 절차는 다음과 같다.The tuning time measurement procedure according to an embodiment of the present invention is as follows.

먼저 튜너블 디바이스의 제어 방법을 결정한다.First, the control method of the tunable device is determined.

만약 pulse generator를 이용하여 직접 전압 또는 전류로 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우 도 9a와 같은 측정 셋업을 준비한다. 도 9b는 도 9a의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프이다.If you want to use a control method that changes the output wavelength of the tunable device with a direct voltage or current using a pulse generator, prepare the measurement setup as shown in Figure 9a. FIG. 9B is a graph showing information for measuring the wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from the starting point of the control signal in the measurement setup of FIG. 9A. FIG.

도 9a 및 도 9b를 참조하면, 튜너블 디바이스를 비롯하여 상기 측정 셋업의 장치들은 미리 켜둠으로써 예열을 시켜 안정화를 시킨다. Referring to FIGS. 9A and 9B, the devices of the measurement setup, including the tunable device, are preheated by pre-turning on to stabilize.

튜너블 디바이스의 출력 광 세기가 너무 클 경우, 광 세기 감쇄기 (variable optical attenuator)를 optical filter set 앞 단 또는 O/E converter 앞 단에 위치시켜서 O/E converter가 overload되지 않도록 주의한다. If the output light intensity of the tunable device is too high, place a variable optical attenuator at the front of the optical filter set or at the front of the O / E converter so that the O / E converter is not overloaded.

튜닝 시간을 측정하고자 하는 시작 (initial) 파장과 target 파장을 지정한다. 측정 셋업의 optical filter set의 투과 파장들을 확인하여, target 파장이 투과 가능 파장인지 한번 더 확인한다.Specify the initial wavelength and target wavelength to measure the tuning time. Check the transmission wavelengths of the optical filter set of the measurement setup and confirm once more whether the target wavelength is the transmissible wavelength.

intial 파장에서 target 파장으로 움직이기 위해 튜너블 디바이스에 어느 정도의 전압 또는 전류를 인가하여야 하는지를 파악한 후 pulse generator에서 해당 전압 또는 전류를 인가할 수 있도록 셋팅해둔다.Determine how much voltage or current should be applied to the tunable device to move from the intial wavelength to the target wavelength, and then set the pulse generator to apply the corresponding voltage or current.

셋팅된 전압 또는 전류가 튜너블 디바이스에 인가될 수 있도록 pulse generator를 구동한다.The pulse generator is driven so that the set voltage or current can be applied to the tunable device.

파형 모니터에서 파형 변화를 확인한 후 튜닝 시간(Tt)을 계산한다. 이때 사용되는 Y값은 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 WDM 채널 폭과 상기 측정장치에 사용된 광 필터의 투과 폭 및 투과 스펙트럼에 따라 변화할 수 있으며, 사용자가 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 사양을 선택함으로써 자동 계산되도록 셋팅되어져있을 수 있다. Check the waveform change on the waveform monitor and calculate the tuning time (Tt). The Y value may vary depending on the WDM channel width of the system in which the tunable device is to be used, the transmission width and the transmission spectrum of the optical filter used in the measurement apparatus, and the user may select the specification of the system in which the tunable device is to be used And may be set to be automatically calculated.

필요할 경우 상기 과정을 2번 이상 수행하여 평균 값을 취한다. If necessary, perform the above procedure two or more times to take an average value.

평균 튜닝 시간으로 튜너블 디바이스의 튜닝 클래스를 확인한다.Check tuning class of tunable device with average tuning time.

필요에 따라 측정한 튜너블 디바이스의 튜닝 시간이 해당 튜닝 클래스로 유지되기 위한 튜닝 시간 마진을 같이 표기해줄 수도 있도록 미리 프로그램 되어져 있을 수도 있다.
The tuning time of the tunable device measured according to necessity may be preliminarily programmed so that the tuning time margin for keeping the tuning class is indicated.

만약 RS232, GPIB, I2C 등을 통해 command를 이용하여 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우 도 9c와 같은 측정 셋업을 준비한다. 도 9d는 도 9c의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프이다.If you want to use a control method that changes the output wavelength of the tunable device using command via RS232, GPIB, I2C, etc., prepare the measurement setup as shown in Fig. 9c. FIG. 9D is a graph showing information for measuring wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from a starting point of a control signal in the measurement setup of FIG. 9C. FIG.

도 9c 및 도 9d를 참조하면, 튜너블 디바이스를 비롯하여 상기 측정 셋업의 장치들은 미리 켜둠으로써 예열을 시켜 안정화를 시킨다. Referring to Figures 9c and 9d, the devices of the measurement setup, including the tunable device, are preheated by pre-warming to stabilize.

튜너블 디바이스의 출력 광 세기가 너무 클 경우, 광 세기 감쇄기 (variable optical attenuator)를 optical filter set 앞 단 또는 O/E converter 앞 단에 위치시켜서 O/E converter가 overload되지 않도록 주의한다. If the output light intensity of the tunable device is too high, place a variable optical attenuator at the front of the optical filter set or at the front of the O / E converter so that the O / E converter is not overloaded.

튜닝 시간을 측정하고자 하는 시작 (initial) 파장과 target 파장을 지정한다. 측정 셋업의 optical filter set의 투과 파장들을 확인하여, target 파장이 투과 가능 파장인지 한번 더 확인한다.Specify the initial wavelength and target wavelength to measure the tuning time. Check the transmission wavelengths of the optical filter set of the measurement setup and confirm once more whether the target wavelength is the transmissible wavelength.

intial 파장에서 target 파장으로 움직이기 위해 튜너블 디바이스에 보내야 할 명령어를 파악한 후 명령어를 내려보낸다.To determine the command to be sent to the tunable device to move from the intial wavelength to the target wavelength, the command is sent down.

파형 모니터에서 파형 변화를 확인한 후 튜닝 시간(Tt)을 계산한다. 이 때 튜닝 시간 중 일부분에 해당되는 프로세싱 타임(Tp)의 계산을 위해 command sending flag 또는 command completer flag를 사용할 수 있다. 이때 사용되는 Y값은 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 WDM 채널 폭과 상기 측정장치에 사용된 광 필터의 투과 폭 및 투과 스펙트럼에 따라 변화할 수 있으며, 사용자가 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 사양을 선택함으로써 자동 계산되도록 셋팅되어져있을 수 있다. Check the waveform change on the waveform monitor and calculate the tuning time (Tt). At this time, a command sending flag or a command completer flag can be used to calculate the processing time (Tp) corresponding to a part of the tuning time. The Y value may vary depending on the WDM channel width of the system in which the tunable device is to be used, the transmission width and the transmission spectrum of the optical filter used in the measurement apparatus, and the user may select the specification of the system in which the tunable device is to be used And may be set to be automatically calculated.

필요할 경우 상기 과정을 2번 이상 수행하여 평균 값을 취한다. If necessary, perform the above procedure two or more times to take an average value.

평균 튜닝 시간으로 튜너블 디바이스의 튜닝 클래스를 확인한다.Check tuning class of tunable device with average tuning time.

필요에 따라 측정한 튜너블 디바이스의 튜닝 시간이 해당 튜닝 클래스로 유지되기 위한 튜닝 시간 마진을 같이 표기해줄 수도 있도록 미리 프로그램 되어져 있을 수도 있다.
The tuning time of the tunable device measured according to necessity may be preliminarily programmed so that the tuning time margin for keeping the tuning class is indicated.

만약 전압 또는 전류를 변화시킬 수 있는 step signal을 이용하여 튜너블 디바이스의 출력 파장을 변경하는 제어 방법을 사용하고자 할 경우 도 9e와 같은 측정 셋업을 준비한다. 도 9f는 도 9e의 측정 셋업에서의 제어 신호의 시작 시점(starting point)으로부터 임의의 출력 파장에 대한 파장 튜닝 시간을 측정하기 위한 정보들을 보여 주는 그래프이다.If you want to use a control method that changes the output wavelength of the tunable device using a step signal that can change the voltage or current, prepare the measurement setup as shown in Figure 9e. FIG. 9F is a graph showing information for measuring the wavelength tuning time for an arbitrary output wavelength from the starting point of the control signal in the measurement setup of FIG. 9E. FIG.

도 9e 및 도 9f를 참조하면, 튜너블 디바이스를 비롯하여 상기 측정 셋업의 장치들은 미리 켜둠으로써 예열을 시켜 안정화를 시킨다. Referring to Figures 9E and 9F, the devices of the measurement setup, including the tunable device, are preheated by pre-warming to stabilize.

튜너블 디바이스의 출력 광 세기가 너무 클 경우, 광 세기 감쇄기 (variable optical attenuator)를 optical filter set 앞 단 또는 O/E converter 앞 단에 위치시켜서 O/E converter가 overload되지 않도록 주의한다. If the output light intensity of the tunable device is too high, place a variable optical attenuator at the front of the optical filter set or at the front of the O / E converter so that the O / E converter is not overloaded.

튜닝 시간을 측정하고자 하는 시작 (initial) 파장과 target 파장을 지정한다. 측정 셋업의 optical filter set의 투과 파장들을 확인하여, target 파장이 투과 가능 파장인지 한번 더 확인한다.Specify the initial wavelength and target wavelength to measure the tuning time. Check the transmission wavelengths of the optical filter set of the measurement setup and confirm once more whether the target wavelength is the transmissible wavelength.

intial 파장에서 target 파장으로 움직이기 위해 튜너블 디바이스에 보내야 할 신호의 크기를 파악한 후 이를 인가한다.Determine the size of the signal to be sent to the tunable device to move from the intial wavelength to the target wavelength and apply it.

파형 모니터에서 파형 변화를 확인한 후 튜닝 시간(Tt)을 계산한다. 이때 사용되는 Y값은 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 WDM 채널 폭과 상기 측정장치에 사용된 광 필터의 투과 폭 및 투과 스펙트럼에 따라 변화할 수 있으며, 사용자가 튜너블 디바이스가 사용될 시스템의 사양을 선택함으로써 자동 계산되도록 셋팅되어져있을 수 있다. Check the waveform change on the waveform monitor and calculate the tuning time (Tt). The Y value may vary depending on the WDM channel width of the system in which the tunable device is to be used, the transmission width and the transmission spectrum of the optical filter used in the measurement apparatus, and the user may select the specification of the system in which the tunable device is to be used And may be set to be automatically calculated.

필요할 경우 상기 과정을 2번 이상 수행하여 평균 값을 취한다. If necessary, perform the above procedure two or more times to take an average value.

평균 튜닝 시간으로 튜너블 디바이스의 튜닝 클래스를 확인한다.Check tuning class of tunable device with average tuning time.

필요에 따라 측정한 튜너블 디바이스의 튜닝 시간이 해당 튜닝 클래스로 유지되기 위한 튜닝 시간 마진을 같이 표기해줄 수도 있도록 미리 프로그램 되어져 있을 수도 있다.
The tuning time of the tunable device measured according to necessity may be preliminarily programmed so that the tuning time margin for keeping the tuning class is indicated.

이상의 설명은 본 발명의 실시예에 불과할 뿐, 이 실시예에 의하여 본 발명의 기술적 사상이 한정되는 것으로 해석되어서는 안된다. 본 발명의 기술적 사상은 특허청구범위에 기재된 발명에 의해서만 특정되어야 한다. 따라서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 전술한 실시예는 다양한 형태로 변형되어 구현될 수 있다는 것은 본 발명이 속하는 통상의 기술자에게 자명하다.
The above description is only an example of the present invention, and the technical idea of the present invention should not be construed as being limited by these embodiments. The technical idea of the present invention should be specified only by the invention described in the claims. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention.

1: 수동형 광통신 네트워크 시스템
10: OLT 20: ODN 30: ONU
501, 511, 521, 531, 541: 광 송신기
502, 512, 522: 감쇠기
504, 507, 513, 526, 527, 542: 광 필터
505, 508, 514, 524, 529, 534, 543: 광전 변환기
506, 509, 515, 525, 530, 535, 544: 파형 모니터(오실로스코프, 스코프)
1: Passive optical network system
10: OLT 20: ODN 30: ONU
501, 511, 521, 531, 541: Optical transmitter
502, 512, 522: attenuator
504, 507, 513, 526, 527, 542: optical filter
505, 508, 514, 524, 529, 534, 543:
506, 509, 515, 525, 530, 535, 544: Waveform monitor (oscilloscope, scope)

Claims (1)

적어도 하나 이상의 파장 채널 튜닝 시간 측정 대상 광튜너블 디바이스;
파장 변화를 광 출력 세기 변화로 변환시켜 줄 수 있는 광 필터 조합;
상기 튜너블 디바이스의 출력을 전기적인 신호로 변환하는 적어도 하나 이상의 광전 변환기;
전기적인 신호로 변환된 신호의 파형을 모니터링하는 파형 모니터; 및
상기 광튜너블 디바이스에게 파장 채널 변경 명령을 내리는 제어부;를 포함하는 파장 가변 송신기.
At least one wavelength channel tuning time measurement object optical tunable device;
A combination of optical filters capable of converting a wavelength change into a change in light output intensity;
At least one photoelectric converter for converting an output of the tunable device into an electrical signal;
A waveform monitor for monitoring a waveform of a signal converted to an electrical signal; And
And a control unit for issuing a wavelength channel change command to the optical tunable device.
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