KR20150036941A - 하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치 - Google Patents

하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치를 제공한다. 물질 분석 장치는 둘 이상의 전자기장을 생성하는 생성부, 상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출부 및 상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.

Description

하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING MATERIALS BY USING PATTERN ANALYSIS OF HARMONIC PEAKS}
본 발명의 실시예들은 자기장(magnetic field) 내에서 자성체(magnetic material)의 행동(behavior)을 분석하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
상자성(paramagnetic)이란 외부에 자기장이 존재하면 자기적 성질을 가지게 되지만, 외부의 자기장이 사라지면 다시 자기적 성질을 잃는 현상을 말한다. 따라서, 상자성 물질은 주변에 자기장이 존재하면 그 방향으로 약하게 자화(magnetization)된다.
현재, 생체 물질의 연구나 질병 탐사 등에는 주로 상자성 물질의 분석이 이용되고 있다. 그러나, 지금까지 대부분의 상자성 물질의 분석은 그 물질의 존재를 확인하는 정도에 그치고 있다. 상자성 물질의 분석에 있어서 그 종류를 파악하는 것은 매우 중요한 일이다. 하지만, 이러한 분석에는 대부분 EPR(Electro paramagnetic resonance) 또는 ESR(Electro Spin Resonance)이라는 불리는 장비가 이용되고 있다.
ESR을 이용한 물질 분석에 관한 일 예로, 한국공개특허공보 제10-2010-0015625호(공개일 2010년 2월 12일) "양자 이론-기반 연속 정밀 핵 스핀 자기 공명 분광/핵 스핀 자기 공명 영상 방법 및 장치"에는 타겟이 MRI(핵 자기 공명 영상) 및 ESR 조사 또는 NMR(핵 자기 공명 분광법) 및 MRI 조사를 받게 하고, 각각의 MRI 및 ESR 또는 NMR 및 MRI 조사로부터 스핀 공명 방출 노이즈 신호들을 짝짓기한 후 신호들을 상관시켜 노이즈를 제거하고 신호 데이터를 수집하는 것이 개시되어 있다.
그러나, 이와 같은 ESR을 이용한 분석 또는 EPR을 이용한 분석은 매우 강력한 전자석을 이용해야만 하고, 고주파나 자력을 스위핑(sweeping)해야 하므로 실제 분석에는 많은 제약이 따르고 있다.
본 발명의 기술적 과제는 ESR(Electro Spin Resonance), SQUID(Superconducting QUantum Interference Device), GMR(Great Magneto Resistive) 등과 같이 매우 복잡하고 자원 소모가 많은 방법을 이용하지 않고도 간단하게 상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질의 종류를 구별할 수 있는 물질 분석 방법 및 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 기술적 과제는 제품의 양이나 농도를 측정하는 것 이외에도 2차원 또는 3차원적으로 분포하는 대상 물질을 분석할 수 있는 물질 분석 방법 및 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 물질 분석 장치는 둘 이상의 전자기장을 생성하는 생성부, 상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출부 및 상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.
일 실시예로서, 상기 전자기장은 서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 생성될 수 있다.
다른 실시예로서, 상기 측정 대상 물질은 상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질일 수 있다.
또 다른 실시예로서, 상기 검출부는 권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 상기 자화 신호를 검출할 수 있다.
또 다른 실시예로서, 상기 분석부는 푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득할 수 있다.
또 다른 실시예로서, 상기 분석부는 상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석할 수 있다.
본 발명의 다른 양태에 따르면, 물질 분석 장치는 서로 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 발생시키는 둘 이상의 발생기, 상기 교류 전류를 각각 입력 받아 전자기장을 생성하는 둘 이상의 여기 코일, 상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출 코일 및 상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석기를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 양태에 따르면, 물질 분석 장치가 측정 대상 물질을 분석하는 방법은 둘 이상의 전자기장을 생성하는 단계, 상기 전자기장을 측정 대상 물질에 인가하는 단계, 상기 전자기장이 상기 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 단계 및 상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 단계를 포함할 수 있다.
EPR(Electro paramagnetic resonance) 또는 ESR(Electro Spin Resonance) 처럼 공명을 이용하지 않고 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 이용하므로 구조가 매우 간단하며, 강력한 전자석이나 고주파를 사용하지 않고도 물질의 종류를 분석할 수 있다.
스위핑 타임(Sweeping time)이 필요하지 않기 때문에 분석 시간이 매우 단축되며 하나의 스팟(spot)에서 일어난 화학 반응이나 자성 입자의 군집을 실시간으로 측정할 수 있다.
하모닉 패턴을 분석함으로써 정량 분석과 정성 분석을 동시에 수행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 초상자성 물질의 자화 곡선을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치를 나타내는 회로도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치가 2개의 전자기장을 생성하는 경우를 나타내는 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 방법을 나타내는 흐름도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "~부" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 물질 분석 장치(100)는 생성부(110), 검출부(120) 및 분석부(130)를 포함한다.
생성부(110)는 측정 대상 물질에 인가할 전자기장을 생성하는 것으로, 둘 이상의 전자기장을 생성한다. 이를 위하여 생성부(110)는 일 예로, 서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 둘 이상의 전자기장을 생성할 수 있다.
검출부(120)는 생성부(110)에서 생성된 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출한다. 일 예로, 검출부(120)는 권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 측정 대상 물질에서 발생되는 자화(magnetization) 신호를 검출할 수 있다. 여기서, 측정 대상 물질은 외부에 자기장이 존재하면 자기적 성질을 가지게 되는 물질로, 일 예로 상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질일 수 있다.
분석부(130)는 검출부(120)에서 검출된 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 측정 대상 물질의 종류를 분석한다. 분석부(130)는 푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득할 수 있다. 그리고, 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 측정 대상 물질의 종류를 분석할 수 있다. 이하, 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명에 따른 물질 분석 장치를 보다 상세히 설명한다.
도 2는 초상자성 물질의 자화 곡선을 나타내는 도면이다.
초상자성 물질은 외부의 전자기장에 의해 도 2와 같은 자성 특성을 가지게 된다. 도 2에서 H는 자기장, M은 자화를 각각 나타낸다. 이는 폴 라주뱅(Paul Langevin)이 제안한 다음의 수학식 1과 같은 확률론적인 미분 방적식에 의해 설명될 수 있다.
Figure pat00001
여기서, 라주뱅 함수
Figure pat00002
이고, x는 무차원(dimensionless) 자기장을 나타낸다. μ0는 진공 투자율(vacuum permeability) 4πⅹ10-7Vs/AM이고, m0는 마그네틱 모멘트(magnetic moment)이다.
따라서, 두 개의 상이한 주파수를 동시에 여기(excitation)할 경우, 초상자성 물질에는 다음의 수학식 2와 같은 자화(magnetization)의 변화가 있다.
Figure pat00003
그리고, 컨덕터(conductor)에는 다음의 수학식 3과 같은 패러데이의 유도 법칙(Faraday's low of induction)에 따라 자화에 의해 유도된 신호가 확보된다.
Figure pat00004
그렇다면, 검출 코일 안에서는 기본적으로 1) 여기된 주파수 f1, 2) 여기된 주파수 f2, 3) 페러데이의 유도 법칙에 따라 자화에 의해 유도된 신호 및 4) 자화가 전자기장을 변조(modulation)할 때 발생되는 하모닉 피크들이 발생한다. 실제로는 매우 복잡한 형태의 신호가 발생지만 시간 도메인(time domain)이 아닌 주파수 도메인으로 확보된 데이터를 변환하면 다양한 종류의 피크들이 나오게 된다.
즉, 2가지의 다른 주파수를 가진 전자기장을 상자성, 초상자성 물질 등에 조사하면 다음의 수학식 4와 같이 비선형적인 자화 신호가 발생한다.
Figure pat00005
이를 푸리에 변환하면 하모닉 피크가 발생하는데, 발생되는 하모닉 피크는 상자성 또는 초상자성 물질의 고유한 물리적 특성이라 할 수 있는 Ms(Magnetic Saturation)와 mO(magnetic moment) 값에 따라 패턴이 달라진다. 따라서, 본 발명에 따른 물질 분석 장치는 하모닉 피크의 패턴을 분석함으로써 자성 구슬(magnetic bead)을 분석하거나, 상자성 물질 또는 초상자성 물질의 종류를 분석하고 측정할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치를 나타내는 회로도이다.
도 3을 참조하면, 물질 분석 장치는 교류 전류를 발생시키는 발생기(310), 발생기(310)에서 발생된 교류 전류를 증폭시키는 전류 증폭기(320: current amplifier), 증폭된 교류 전류를 입력 받아 전자기장을 생성하는 여기 코일(330: Excitation Coil), 여기 코일(330)에서 생성된 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출 코일(340: Detection Coil) 및 검출 코일(340)에서 검출된 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴을 기초로 측정 대상 물질의 종류를 분석하기 위한 스펙트럼 분석기(360: Spectrum analyzer)를 포함한다.
발생기(310)는 일 예로, 펑션 제너레이터(function generator)일 수 있다. 발생기(310)는 납땜을 통해 여기 코일(330)과 연결될 수 있다. 그러나, 신호가 작을 경우에는 도 3에 도시된 것과 같이 전류 증폭기(320)를 연결하여 사용할 수도 있다.
여기 코일(330)은 측정 대상 물질에 상기 전자기장을 인가할 수 있는 1차 코일 또는 반송파(carrier) 신호를 생성하기 위한 2차 코일일 수 있다. 검출 코일(340)은 솔레노이드 코일(Solenoid Coil)과 유사하지만, 권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태일 수 있다. 도 3에서 여기 코일(330) 및 검출 코일(340)에 표시된 "+" 및 "-"는 권선 방향을 나타낸다.
스펙트럼 분석기(360)는 푸리에 변환을 이용하여 자화 신호로부터 실제 이산화된(discretization) 주파수 데이터인 하모닉 피크의 패턴을 확보할 수 있다. 그리고, 상기 하모닉 피크의 패턴을 통해 확보한 실효값(RMS value: Root-Mean-Square value) 또는 상기 하모닉 피크의 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 측정 대상 물질의 종류를 분석할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 장치가 2개의 전자기장을 생성하는 경우를 나타내는 회로도이다.
이 경우, 본 발명에 따른 물질 분석 장치는 서로 다른 주파수(f1 및 f2)를 가지는 서로 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 발생시키는 둘 이상의 발생기(411, 412)를 포함할 수 있다. 각 발생기(411, 412)는 신호 증폭을 위하여 도 4에 도시된 것과 같이 각각 전류 증폭기(421, 422)에 연결될 수 있다. 각 발생기(411, 412)에서 발생된 교류 전류는 전자기장을 생성하기 위한 여기 코일(430)로 각각 입력될 수 있다.
검출 코일(440)은 여기 코일(430)에 의해 생성된 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출한다. 검출 코일(440)에서 검출된 자화 신호는 전류 증폭기(450)에 의해 증폭되고 스펙트럼 분석기(460)는 자화 신호로부터 하모닉 패턴을 획득할 수 있다. 획득된 하모닉 패턴은 네트워크나 DB(DataBase) 등에 축척될 수 있고, 이후 지식 기반 서비스 제공 시 이용될 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 있어서, 물질 분석 방법을 나타내는 흐름도이다.
본 발명에 따른 물질 분석 장치는 상자성 또는 초상자성 물질의 분석을 위하여 먼저 둘 이상의 전자기장을 생성한다(510). 이를 위하여 물질 분석 장치는 서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 교류 전자기장을 생성할 수 있다. 여기서, 여기 코일은 측정 대상 물질에 전자기장을 인가할 수 있는 1차 코일 또는 반송파 신호를 생성하기 위한 2차 코일일 수 있다.
측정 대상 물질이 측정 위치에 놓이게 되면, 물질 분석 장치는 전자기장을 측정 대상 물질에 인가하고(520), 검출 코일을 이용하여 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출한다(530). 이 때, 검출 코일은 권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태일 수 있다. 검출된 자화 신호는 전류 증폭기에 의해 증폭될 수 있다.
이후, 물질 분석 장치는 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석할 수 있다(540). 일 예로, 물질 분석 장치는 FFT(Fast Fourier Transform)를 통해 자화 신호로부터 하모닉 피크들을 획득하고, 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 측정 대상 물질의 종류를 분석할 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
411, 412: 전류 발생기
421: 422, 450: 전류 증폭기
430: 여기 코일
440: 검출 코일
460: 스펙트럼 분석기

Claims (20)

  1. 둘 이상의 전자기장을 생성하는 생성부;
    상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출부; 및
    상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석부
    를 포함하는 물질 분석 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 전자기장은,
    서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 생성되는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 측정 대상 물질은,
    상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 검출부는,
    권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 상기 자화 신호를 검출하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 분석부는,
    푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 분석부는,
    상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  7. 서로 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 발생시키는 둘 이상의 발생기;
    상기 교류 전류를 각각 입력 받아 전자기장을 생성하는 둘 이상의 여기 코일;
    상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출 코일; 및
    상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석기
    를 포함하는 것을 특징으로 물질 분석 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 측정 대상 물질은,
    상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 교류 전류 및 상기 자화 신호 중 적어도 하나를 증폭시키는 증폭기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 여기 코일은,
    상기 측정 대상 물질에 상기 전자기장을 인가하는 1차 코일 또는 반송파 신호를 생성하는 2차 코일인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  11. 제7항에 있어서,
    상기 검출 코일은,
    권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  12. 제7항에 있어서,
    상기 분석기는,
    푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  13. 제7항에 있어서,
    상기 분석기는,
    상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치.
  14. 물질 분석 장치가 측정 대상 물질을 분석하는 방법에 있어서,
    둘 이상의 전자기장을 생성하는 단계;
    상기 전자기장을 측정 대상 물질에 인가하는 단계;
    상기 전자기장이 상기 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 단계; 및
    상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 단계
    를 포함하는 물질 분석 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 전자기장은,
    서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 생성되는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 여기 코일은,
    상기 측정 대상 물질에 상기 전자기장을 인가하는 1차 코일 또는 반송파 신호를 생성하는 2차 코일인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 측정 대상 물질은,
    상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 검출하는 단계는,
    권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 상기 자화 신호를 검출하는 단계인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
  19. 제14항에 있어서,
    상기 분석하는 단계는,
    푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 단계; 및
    상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
  20. 제14항에 있어서,
    상기 검출하는 단계 이후에,
    상기 자화 신호를 증폭시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법.
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