KR20140141289A - Finding method of welding error for parallel-tap - Google Patents

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KR20140141289A
KR20140141289A KR1020130062887A KR20130062887A KR20140141289A KR 20140141289 A KR20140141289 A KR 20140141289A KR 1020130062887 A KR1020130062887 A KR 1020130062887A KR 20130062887 A KR20130062887 A KR 20130062887A KR 20140141289 A KR20140141289 A KR 20140141289A
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권현철
도성관
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주식회사 엘지화학
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Abstract

The present invention relates to a method for sorting a welding error for the electrode tab of a cell, the method comprising a manufacturing step of manufacturing a cell by welding an electrode tab to the bottom of a can; a primary charge step of primarily charging the manufactured cell not to be charged fully; a measurement step of measuring the open circuit voltage (OCV) of the primarily charged cell; and a sorting step of sorting a welding error for an electrode tab by comparing the measured value of voltage with a predetermined value of voltage.

Description

셀의 전극탭 용접불량 선별방법{Finding method of welding error for parallel-tap}Technical Field [0001] The present invention relates to an electrode tap for a cell,

본 발명은 셀의 전극탭 용접불량 선별방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 초기 충전된 셀의 전압 차이를 이용하여 전극탭의 용접 불량을 선별하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a method of selecting an electrode tab weld defect in a cell, and more particularly, to a method of selecting an electrode tab weld defect in a cell for selecting a weld defect of an electrode tab using a voltage difference of an initially charged cell.

일반적으로 이차전지는 단위셀의 형태로 사용되고, 다수의 단위셀은 전기적으로 연결한 전지모듈의 형태로 사용된다. 예를 들어, 휴대폰과 같은 소형 디바이스는 단위셀 1개의 출력과 용량으로 소정의 시간 동안 작동 가능한 반면, 노트북 컴퓨터, 휴대용 DVD(Portable DVD), 소형PC(Personal Computer), 전기자동차, 하이브리드 전기자동차 등과 같은 중형 또는 대형 디바이스는 출력 및 용량의 문제로 다수의 단위셀들을 포함하는 전지모듈의 사용이 요구된다.Generally, a secondary battery is used in the form of a unit cell, and a plurality of unit cells are used in the form of an electrically connected battery module. For example, a small device such as a cellular phone can be operated for a predetermined time with the output and capacity of one unit cell, while a portable device such as a notebook computer, a portable DVD, a small personal computer (PC), an electric vehicle, The same medium or large devices require the use of a battery module that includes a large number of unit cells due to output and capacity issues.

이러한 이차전지는 주로 양극 활물질로 리튬계 산화물, 음극 활물질로는 탄소재를 사용하고 있다. 또한, 리튬이차전지는 여러 가지 형상으로 제조되고 있는데, 대표적 형상으로는 원통형, 각형 및 파우치형으로 마련된다.Such a secondary battery mainly uses a lithium-based oxide as a cathode active material and a carbonaceous material as an anode active material. In addition, lithium secondary batteries are manufactured in various shapes. Typical shapes include a cylindrical shape, a square shape, and a pouch shape.

상기 이차전지에 대한 자세한 내용은 특허등록번호 제10-0659841호 "이차전지"에 개시되어 있다.The details of the secondary battery are disclosed in "Secondary Battery" in Patent Registration No. 10-0659841.

즉, 종래기술에 따른 이차전지의 셀은 도 1에 도시한 바와 같이, 전극조립체(10), 전극조립체(10)를 수용하는 캔(20), 캔(20)의 개방된 상부에 결합되는 캡(미도시)을 포함하며, 전극조립체(10)의 한 전극에서 인출된 전극탭(30)은 캔(20)의 바닥면에 용접한다.1, the conventional secondary battery cell includes an electrode assembly 10, a can 20 that accommodates the electrode assembly 10, a cap 20 that is coupled to an open upper portion of the can 20, (Not shown), and the electrode tab 30 drawn out from one electrode of the electrode assembly 10 is welded to the bottom surface of the can 20.

그러나 종래기술에 따른 이차전지의 셀은 전극탭(30)과 캔(20)의 용접상태를 확인하기 어려우며, 이에 전극탭의 용접 불량이 발생한 상태로 이차전지를 사용할 경우 완충이 이루어지지 않아 상품성을 떨어뜨리는 문제가 있다.
However, it is difficult to confirm the weld state of the electrode tab 30 and the can 20 in the cell of the secondary battery according to the related art. When the secondary battery is used in a state where the welding failure of the electrode tab occurs, There is a problem of dropping.

한국등록특허 제10-0659841호Korean Patent No. 10-0659841

전술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 셀의 전압값과 미리 설정된 셀의 전압값의 차이를 비교하여 전극탭의 용접불량을 선별하며, 더욱이 초기 충전된 셀의 전압값으로도 전극탭의 용접 불량 선별이 가능한 셀의 전극탭 용접불량 선별방법을 제공하기 위한 것이다.
According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a plasma display panel, comprising the steps of: comparing a voltage value of a cell with a voltage value of a predetermined cell, The present invention relates to a method for selecting an electrode tap failure in a cell capable of selecting a faulty electrode tab.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 수단으로서, 본 발명의 셀의 전극탭 용접불량 선별방법은 전극탭을 캔의 바닥에 용접하여 셀을 제작하는 제작 단계; 제작된 셀을 완전 충전되지 않게 1차 충전하는 1차 충전 단계; 1차 충전된 셀의 OCV(open circuit voltage)를 측정하는 측정 단계; 및 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값을 비교하여 전극탭의 용접불량을 선별하는 선별 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method for selecting an electrode tap defect in a cell, comprising: fabricating a cell by welding an electrode tab to a bottom of a can; A primary charging step of charging the fabricated cell so as not to be completely charged; A measurement step of measuring an OCV (open circuit voltage) of the primary charged cell; And a selection step of selecting a welding defect of the electrode tab by comparing the measured voltage value with a preset voltage value.

상기 1차 충전 단계는 제작된 셀을 1~2% 또는 1~5분간 충전하는 것을 특징으로 한다.The primary charging step is characterized by filling the fabricated cell with 1 to 2% or 1 to 5 minutes.

상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 3~10분간 대기시킨 후, OCV(open circuit voltage)를 측정하는 것을 특징으로 한다.In the measuring step, an OCV (open circuit voltage) is measured after waiting for a primary charged cell for 3 to 10 minutes.

상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 5분간 대기시킨 후, OCV(open circuit voltage)를 측정하는 것을 특징으로 한다.In the measuring step, an OCV (open circuit voltage) is measured after waiting for a primary charged cell for 5 minutes.

상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 상온에서 대기시키는 것을 특징으로 한다.The measuring step is characterized by waiting the primary charged cell at room temperature.

상기 선별 단계는 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값 사이의 차이가 소정값 이상이면 전극탭의 용접불량으로 판단하는 것을 특징으로 한다.And the selecting step determines that the welding failure of the electrode tab is determined when the difference between the measured voltage value and the predetermined voltage value is equal to or greater than a predetermined value.

상기 소정값은 0.2~0.5V인 것을 특징으로 하며, 바람직하게는 상기 소정값은 0.3 V인 것을 특징으로 한다.The predetermined value is 0.2 to 0.5 V, and preferably the predetermined value is 0.3 V.

상기 선별 단계에서 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값 사이의 차이가 소정값 이하이면 1차 충전된 셀의 나머지 충전량을 충전하는 2차 충전 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
And a secondary charging step of charging the remaining charged amount of the primary charged cell when the difference between the voltage value measured in the selecting step and the preset voltage value is less than a predetermined value.

본 발명에 따르면, 초기 충전된 셀의 전압값과 미리 설정된 셀의 전압값 차이를 통해 전극탭의 용접불량을 초기에 선별할 수 있으며, 이에 셀의 불량률을 크게 줄일 수 있고, 불필요한 충전을 미연에 방지하여 비용절감의 효과가 있다.
According to the present invention, it is possible to initially select the welding defect of the electrode tab through the difference between the voltage value of the initially charged cell and the voltage value of the predetermined cell, thereby significantly reducing the defect rate of the cell, Thereby reducing the cost.

도 1은 종래기술에 따른 이차전지의 셀을 도시한 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 셀의 전극탭 용접불량 선별방법을 나타낸 순서도.
도 3은 본 발명에 따른 셀의 전극탭 용접불량 선별방법에서 셀을 제작하는 상태를 도시한 단면도.
도 4는 본 발명에 따른 셀의 전극탭 용접불량 선별방법에서 충전 상태를 나타낸 그래프.
도 5는 본 발명에 따른 셀의 전극탭 용접불량 선별방법에서 전압상태를 나타낸 그래프.1 is a perspective view showing a cell of a secondary battery according to a related art.
2 is a flowchart showing a method of selecting an electrode tab welding defect of a cell according to the present invention.
3 is a cross-sectional view showing a state in which a cell is manufactured in a method of selecting an electrode tab weld defect in a cell according to the present invention.
FIG. 4 is a graph showing a state of charge in a method of selecting an electrode tab welding defect of a cell according to the present invention. FIG.
5 is a graph showing a voltage state in a method of selecting an electrode tab weld defect in a cell according to the present invention.

본 발명인 셀의 전극탭의 용접불량 선별방법은 캔과 전극탭을 용접한 후 셀을 1~2% 또는 1~5분간 충전한 상태로 셀의 OCV(open circuit voltage)를 측정하고, 정상 셀의 OCV와 비교하여 전압차이가 발생하면 전극탭의 용접이 불량하다는 것을 확인할 수 있는 선별방법이다.The OCV (open circuit voltage) of the cell is measured in the state where the cell is filled with 1 to 2% or 1 to 5 minutes after the can and the electrode tab are welded, Compared with OCV, this is a screening method that confirms that the welding of the electrode tab is bad if a voltage difference occurs.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In order to clearly illustrate the present invention, parts not related to the description are omitted, and similar parts are denoted by like reference characters throughout the specification.

본 발명에 따른 셀의 전극탭의 용접불량 선별방법은 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 전극탭(110)을 캔(120)의 바닥에 용접하여 셀(100)을 제작하는 제작 단계(S10), 제작된 셀(100)을 완전 충전되지 않게 1차 충전하는 1차 충전 단계(S20), 1차 충전된 셀(100)의 OCV(open circuit voltage)를 측정하는 측정 단계(S30), 및 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값을 비교하여 전극탭(110)의 용접불량을 선별하는 선별 단계(S40)를 수행한다. 여기서 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값을 비교하여 차이가 발생하지 않으면 1차 충전된 셀(100)을 2차 충전하여 완충하는 2차 충전 단계(S50)를 수행한다.2 and 3, a method of selecting a welding defect of an electrode tab of a cell according to the present invention includes a manufacturing step of manufacturing the cell 100 by welding the electrode tab 110 to the bottom of the can 120 A first charging step S20 for charging the fabricated cell 100 so as not to be completely charged, a measurement step S30 for measuring an OCV (open circuit voltage) of the primary charged cell 100, And a selection step (S40) of selecting a welding defect of the electrode tab 110 by comparing the measured voltage value with a preset voltage value. If the measured voltage value is compared with a preset voltage value, a secondary charging step (S50) is performed to charge and charge the primary charged cell (100) by secondary charging.

이하, 본 발명에 따른 셀의 전극탭의 용접불량 선별방법을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, a method for selecting a welding defect of an electrode tab of a cell according to the present invention will be described in more detail.

셀 제작 단계(S10)는 전극조립체(미도시)와, 캔(120)과, 캡조립체(미도시)를 포함하여 셀(100)을 제작한다.The cell fabrication step S10 includes fabricating the cell 100 including an electrode assembly (not shown), a can 120, and a cap assembly (not shown).

즉, 셀 제작 단계(S10)는 전극조립체를 캔(120)에 수용한 다음, 캔(120)의 개방된 상면에 캡조립체를 결합하여 셀(100)을 제작한다. 여기서 전극조립체에는 도 3을 참조하면 각 전극과 연결된 전극탭(110)이 구비되며, 전극탭(110)의 하부는 캔(120)의 바닥면에 지지된 상태로 용접한다.That is, in the cell making step S10, the electrode assembly is housed in the can 120, and then the cap assembly is coupled to the opened upper surface of the can 120 to fabricate the cell 100. Referring to FIG. 3, the electrode assembly includes an electrode tab 110 connected to each electrode, and a lower portion of the electrode tab 110 is welded while being supported on a bottom surface of the can 120.

셀 제작 단계(S10)가 완료되면, 제작된 셀(100)을 1차 충전하는 1차 충전 단계(S20)를 수행한다.When the cell fabrication step S10 is completed, the fabricated cell 100 is firstly charged (S20).

1차 충전 단계(S20)는 도 4에 도시한 바와 같이, 제작된 셀(100)을 충전장치(미도시)에 삽입하여 완전 충전되지 않게 1~2% 또는 1~5분간 1차 충전하며, 바람직하게는 1.3% 또는 3~5분간 1차 충전한다.4, the manufactured cell 100 is inserted into a charging device (not shown) to charge the battery 100 for 1 to 2% or 1 to 5 minutes so as not to be completely charged, Preferably 1.3% or 3 to 5 minutes.

즉, 1차 충전 단계(S20)는 제작된 셀(100)을 1.3% 이하 또는 3분 이하로 충전할 경우 도 5에 표시한 (a)구간과 같이, 충전량이 적기 때문에 전극탭의 용접 불량시 측정된 전압값과 전극탭의 용접 정상시 측정된 전압값의 차이가 없거나 또는 크지 않으며, 이에 전극탭 용접불량 선별이 어렵다.That is, when the manufactured cell 100 is charged at 1.3% or less or 3 minutes or less, the charging amount is small as in the period (a) shown in FIG. 5, There is no difference between the measured voltage value and the voltage value measured at the time of welding of the electrode tab.

또한, 제작된 셀(100)을 1.3% 이상 또는 5분 이상으로 충전할 경우 도 5에 표시한 (b)구간과 같이, 충전량이 많기 때문에 전극탭의 용접 불량시 측정된 전압값과 전극탭의 용접 정상시 측정된 전압값의 차이가 크게 발생하여 전극탭 용접 불량 선별이 용이하나, 1.3% 이상 또는 5분 이상 충전부터는 전극탭의 용접 불량시 측정된 전압값과 전극탭의 용접 정상시 측정된 전압값의 차이에 큰 변화가 없으며, 이에 작업성이 크게 떨어진다.When the prepared cell 100 is charged to 1.3% or more or 5 minutes or more, as shown in the section (b) of FIG. 5, since the charged amount is large, Welding defect of electrode tab is easy to select due to a large difference in measured voltage value at the time of normal welding. However, when the electrode tab is welded more than 1.3% or more than 5 minutes, There is no large change in the difference in voltage value, and the workability is greatly reduced.

따라서 1차 충전 단계(S20)는 도 5에 표시한 (c)구간과 같이, 제작된 셀(100)을 1.3% 또는 3~5분간 1차 충전하며, 이에 전극탭 용접불량 선별성과 함께 작업성을 향상시킨다.Accordingly, in the first charging step S20, the manufactured cell 100 is first charged for 1.3 to 3 minutes or for 3 to 5 minutes as in the period (c) shown in FIG. 5, .

S1차 충전 단계(S20)가 완료되면, 1차 충전된 셀(100)의 전압을 측정하는 셀의 전압 측정단계(S30)를 수행한다.When the S1 charge step S20 is completed, a voltage measurement step S30 of the cell for measuring the voltage of the primary charged cell 100 is performed.

전압 측정단계(S30)는 1차 충전된 셀(100)의 OCV(open circuit voltage)를 측정하며, 이때, 1차 충전된 셀(100)을 상온에서 3~10분간 방치, 바람직하게는 5분간 방치한 다음, OCV(open circuit voltage)를 측정한다.The voltage measuring step S30 measures OCV (open circuit voltage) of the primary charged cell 100. At this time, the primary charged cell 100 is left at room temperature for 3 to 10 minutes, preferably for 5 minutes And then the OCV (open circuit voltage) is measured.

즉, 1차 충전된 셀(100)은 전극탭(110)의 용접 불량이 있을 경우 대기시간에 따라 전압값의 소멸이 발생하며, 이에 전극탭이 용접 불량인 셀과 전극탭이 용접 정상인 셀의 전압값의 차이가 커지고, 이에 용접 불량의 선별력을 증대시킨다.In other words, in the primary charged cell 100, when the welding failure of the electrode tab 110 occurs, the voltage value disappears according to the waiting time, and the electrode tab is welded to the cell The difference in the voltage value becomes larger, thereby increasing the selectivity of the welding defect.

다시 말해, 셀(100)은 도 4에 도시한 바와 같이, 1차 충전구간(d), 방치구간(e), 및 2차 충전구간(f)으로 구분되며, 이때 전극탭이 용접 불량인 셀은 방치구간(e)인 상온에서 일정량의 전압 소멸이 발생함을 확인할 수 있다.In other words, as shown in FIG. 4, the cell 100 is divided into a first charging period d, a second charging period e, and a second charging period f. In this case, It can be confirmed that a certain amount of voltage disappearance occurs at room temperature, which is the settling interval (e).

즉, 하기 표 1에서와 같이 대기 시간에 따라 전압차가 크게 발생함을 확인할 수 있으며, 이에 전극탭 용접불량 선별력을 높이기 위해 최소한 3분 대기 후 전압을 측정하는 것이 바람직하다. 한편, 대기시간이 10분을 넘을 경우 용접 불량 셀과 정상 셀간의 전압차이는 더 크게 발생하지만, 기다리는 시간이 크기 때문에 작업성이 떨어진다.That is, as shown in the following Table 1, it can be seen that the voltage difference is largely generated according to the waiting time, and it is preferable to measure the voltage after waiting for at least 3 minutes in order to increase the selectivity of the electrode tap failure. On the other hand, when the waiting time exceeds 10 minutes, the voltage difference between the welding defect cell and the normal cell is larger, but the workability is lowered because the waiting time is large.

한편, OCV(Open Circuit Voltage)는 축전지의 부하에 전류가 흐르지 않는 상태에서의 단자 간의 전압을 말한다.On the other hand, OCV (Open Circuit Voltage) refers to a voltage between terminals in a state in which no current flows in the load of the battery.

전압 측정단계(S30)가 완료되면, 전극탭(110)의 용접 불량을 선별하는 선별 단계(S40)를 수행한다.When the voltage measuring step S30 is completed, a sorting step S40 for sorting the welding defects of the electrode tabs 110 is performed.

선별 단계(S40)는 전압 측정단계(S30)에서 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값(전극탭의 용접이 정상인 셀에서 측정된 전압값)을 비교하여 전극탭(110)이 용접불량을 선별한다.The selection step S40 compares the voltage value measured in the voltage measuring step S30 with a predetermined voltage value (voltage value measured in a cell whose welding is normal in the electrode tab), and the electrode tab 110 selects the welding failure .

즉, 선별 단계(S40)는 도 5에 도시한 바와 같이, 전압 측정단계(S30)에서 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값의 차이가 소정값 이하이면, 전극탭의 용접이 정상임을 선별할 수 있으며, 소정값 이상이면 전극탭의 용접이 불량임을 선별할 수 있다. 여기서 상기 소정값은 0.2~0.5 V이며, 바람직하게는 상기 소정값은 0.3 V이다That is, as shown in FIG. 5, if the difference between the voltage measured in the voltage measurement step S30 and the preset voltage value is less than a predetermined value, the selection step S40 can select If it is more than the predetermined value, it can be discriminated that the welding of the electrode tab is defective. The predetermined value is 0.2 to 0.5 V, and preferably the predetermined value is 0.3 V

일 예로, 전극탭이 용접 정상인 셀을 1분~5분 대기한 후 전압값을 측정하면, 2.4~2.6V의 전압값이 측정되고, 전극탭이 용접 불량인 셀을 1분~5분 대기한 후 전압값을 측정하면, 2.0~2.2V의 전압값이 측정된다.For example, if the voltage value is measured after waiting for 1 minute to 5 minutes for a cell having an electrode tap welded, a voltage value of 2.4 to 2.6 V is measured. If the electrode tab is in a state of waiting for 1 minute to 5 minutes When the back voltage value is measured, a voltage value of 2.0 to 2.2 V is measured.

그리고 전극탭이 용접 정상인 셀과 전극탭이 용접 불량인 셀을 1분간, 2분간, 3분간, 4분간 및 5분간 대기 후 측정된 전압값의 차이를 비교하면 하기 표 1과 같다.Table 1 shows the comparison of the measured voltage values after 1 minute, 2 minutes, 3 minutes, 4 minutes, and 5 minutes of waiting for the cells where the electrode tabs were welded and the electrode tabs were welded defective.

[표 1][Table 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

즉, 전극탭이 용접 정상인 셀과 전극탭이 용접 불량인 셀을 5분간 방치한 후 전압값을 각각 측정하고 전압값을 비교하면 0.3V의 전압차이가 발생하며, 이 전압차이를 통해 용접 불량여부를 판단한다.That is, when a cell having an electrode tab is welded and a cell having an electrode tab having a bad weld is left for 5 minutes, a voltage difference of 0.3 V is generated when the voltage value is measured and the voltage value is measured. .

한편, 본 발명은 전술한 바와 같은 방법으로 전극탭이 용접 정상인 셀과 전극탭이 용접 불량인 셀을 10분간 방치한 후 전압값을 각각 측정하고 전압값을 비교하면 0.5V의 전압차이가 발생한다.In the meantime, according to the present invention, when a cell having an electrode tab welded correctly and a cell having an electrode tab weld defect are left for 10 minutes, the voltage value is measured and a voltage difference of 0.5 V occurs when the voltage value is compared .

이와 같이 전극탭(110)의 용접불량이 선별되면 재 용접을 실시하거나 또는 재 용접이 불가능할 경우 폐기하여 전기의 소비를 최소화한다.If the welding failure of the electrode tab 110 is selected as described above, re-welding is performed, or when the re-welding is not possible, the power consumption is minimized.

한편, 선별 단계(S40)에서 전압 측정단계(S30)를 통해 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값의 차이가 발생하지 않거나 크지 않을 경우 1차 충전된 셀(100)을 완충하는 2차 충전 단계(S50)를 수행한다.On the other hand, if the difference between the voltage value measured through the voltage measuring step S30 and the predetermined voltage value does not occur or is not large in the selecting step S40, the secondary charging step S50).

2차 충전 단계(S50)는 전극탭(110)이 정상 용접 상태임이 확인됨에 따라 셀(100)을 완충하기 위한 2차 충전을 한다.In the second charging step S50, the electrode tab 110 is confirmed to be in the normal welding state, and the secondary charging for buffering the cell 100 is performed.

즉, 2차 충전 단계(S50)는 도 4의 (f)구간과 같이, 1차 충전한 셀(100)을 충전장치(미도시)에 넣고 1차 충전 잔여량을 충전하여 완전 충전된 셀을 완성한다.That is, in the secondary charging step S50, as shown in the section (f) of FIG. 4, the primary charged cell 100 is charged into the charging device (not shown) do.

이와 같이 본 발명에 따른 셀의 전극탭 용접불량 선별방법은 초기에 전극탭의 용접 불량을 선별할 수 있으며, 이에 셀의 불량률을 크게 줄일 수 있고, 불필요한 충전을 미연에 방지하여 비용을 절감할 수 있다.As described above, according to the method of the present invention, it is possible to select the welding defect of the electrode tab at an early stage, thereby significantly reducing the defective rate of the cell and preventing unnecessary charging to reduce the cost have.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents are to be construed as being included within the scope of the present invention do.

100: 셀 110: 전극탭
120: 캔100: Cell 110: Electrode tab
120: cans

Claims (9)

전극탭을 캔의 바닥에 용접하여 셀을 제작하는 제작 단계;
제작된 셀을 완전 충전되지 않게 1차 충전하는 1차 충전 단계;
1차 충전된 셀의 OCV(open circuit voltage)를 측정하는 측정 단계; 및
측정된 전압값과 미리 설정된 전압값을 비교하여 전극탭의 용접불량을 선별하는 선별 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.A manufacturing step of manufacturing a cell by welding the electrode tab to the bottom of the can;
A primary charging step of charging the fabricated cell so as not to be completely charged;
A measurement step of measuring an OCV (open circuit voltage) of the primary charged cell; And
And a selection step of selecting a welding defect of the electrode tab by comparing the measured voltage value with a preset voltage value. 청구항 1에 있어서,
상기 1차 충전 단계는 제작된 셀을 1~2% 또는 1~5분간 충전하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method according to claim 1,
Wherein the first charging step charges the fabricated cell at 1 to 2% or for 1 to 5 minutes. 청구항 2에 있어서,
상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 3분~10분간 대기시킨 후, OCV(open circuit voltage)를 측정하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method of claim 2,
Wherein the measuring step includes measuring the OCV (open circuit voltage) after waiting for the first charged cell for 3 minutes to 10 minutes. 청구항 2에 있어서,
상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 5분간 대기시킨 후, OCV(open circuit voltage)를 측정하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.

The method of claim 2,
Wherein the measuring step includes measuring an open circuit voltage (OCV) after waiting for five minutes for a primary charged cell.

청구항 3에 있어서,
상기 측정 단계는 1차 충전된 셀을 상온에서 대기시키는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method of claim 3,
Wherein the measuring step comprises waiting the primary charged cell at room temperature. 청구항 1에 있어서,
상기 선별 단계는 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값 사이의 차이가 소정값 이상이면 전극탭의 용접불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method according to claim 1,
Wherein the selecting step determines that the welding failure of the electrode tab is determined if the difference between the measured voltage value and the predetermined voltage value is equal to or greater than a predetermined value. 청구항 6에 있어서,
상기 소정값은 0.2~0.5V인 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method of claim 6,
Wherein the predetermined value is 0.2 to 0.5V. 청구항 6에 있어서,
상기 소정값은 0.3 V인 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method of claim 6,
Wherein the predetermined value is 0.3 V. 청구항 6에 있어서,
상기 선별 단계에서 측정된 전압값과 미리 설정된 전압값 사이의 차이가 소정값 이하이면 1차 충전된 셀의 나머지 충전량을 충전하는 2차 충전 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 셀의 전극탭 용접불량 선별방법.The method of claim 6,
Further comprising a secondary charging step of charging the remaining charged amount of the primary charged cell when the difference between the voltage value measured in the selecting step and a preset voltage value is less than a predetermined value, Selection method.
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