KR20140057980A - Method and apparatus for inspecting defect of touch panel - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 검사할 수 있는 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a defect inspection method and an inspection apparatus of a touch panel capable of inspecting whether or not a touch panel is short-circuited.
유저 인터페이스(User Interface, UI)는 사람(사용자)과 각종 전기, 전자 기기 등의 통신을 가능하게 하여 사용자가 기기를 쉽게 자신이 원하는 대로 제어할 수 있게 한다. 이러한 유저 인터페이스의 대표적인 예로는 키패드, 키보드, 마우스, 온스크린 디스플레이(On Screen Display, OSD), 적외선 통신 혹은 고주파(RF) 통신 기능을 갖는 원격 제어기(Remote controller) 등이 있다. 유저 인터페이스 기술은 사용자 감성과 조작 편의성을 높이는 방향으로 발전을 거듭하고 있다. 최근, 유저 인터페이스는 터치 UI, 음성 인식 UI, 3D UI 등으로 진화되고 있다.A user interface (UI) enables communication between a person (user) and various electric or electronic devices, allowing a user to easily control the device as desired. Representative examples of such a user interface include a keypad, a keyboard, a mouse, an on screen display (OSD), a remote controller having infrared communication or radio frequency (RF) communication function, and the like. User interface technology has been developed to enhance the user's sensibility and ease of operation. Recently, the user interface has evolved into a touch UI, a voice recognition UI, a 3D UI, and the like.
터치 UI는 휴대용 정보기기에 필수적으로 채택되고 있는 추세에 있으며, 가전 제품에도 확대 적용되고 있다. 터치 UI를 구현하기 위한 터치 스크린 장치의 일 예로서, 터치뿐 아니라 근접 여부도 센싱하고 멀티 터치(또는 근접) 각각을 인식할 수 있는 상호 용량(mutual capacitance) 방식의 터치 스크린 장치가 각광받고 있다.Touch UI is becoming a necessity for portable information devices and is being applied to household appliances. As an example of a touch screen device for implementing a touch UI, a mutual capacitance type touch screen device capable of sensing proximity or sensing multi-touch (or proximity) as well as a touch is attracting attention.
상호 용량 방식의 터치 스크린 장치는 Tx 라인들, Tx 라인들과 교차되는 Rx 라인들, 및 Tx 라인들과 Rx 라인들의 교차부에 형성된 센서 노드들을 구비한 터치 패널을 포함한다. 센서 노드들 각각은 상호 용량을 갖는다. 터치 스크린 장치는 터치(또는 근접) 전후의 센서 노드들에 충전된 전압의 변화를 감지하여 전도성 물질의 접촉(또는 근접) 여부와 그 위치를 판단한다. 터치 스크린 장치는 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터인 터치 로우 데이터로 변환하고, 터치 콘트롤러를 통해 터치 로우 데이터를 분석하여 터치 좌표를 산출하게 된다.The mutual capacitive touch screen device includes a touch panel having Tx lines, Rx lines intersecting Tx lines, and sensor nodes formed at intersections of Tx lines and Rx lines. Each of the sensor nodes has mutual capacity. The touch screen device senses a change in the voltage charged in the sensor nodes before and after the touch (or proximity) to determine whether or not the conductive material is in contact (or proximity) and its position. The touch screen device supplies drive pulses to the Tx lines of the touch panel, converts the outputs of the sensor nodes received through the Rx lines into touch row data, which is digital data, and analyzes the touch row data through the touch controller, Respectively.
한편, 터치 패널의 Tx 라인들 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 커지게 되는 문제가 있다. 또한, 터치 패널의 Rx 라인들 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같아지는 문제가 있다. 즉, 터치 패널의 Tx 라인들 간의 합선 또는 Rx 라인들 간의 합선이 발생하는 경우, 터치 스크린 장치는 정상적으로 동작할 수 없다. 하지만, 터치 패널의 Tx 라인들 간의 합선 여부나 Rx 라인들 간의 합선 여부는 제품 완성 후 테스트하기 전에는 찾아내기 어려운 단점이 있다.
On the other hand, when a short circuit occurs between the Tx lines of the touch panel, since short-circuited Tx lines are connected to more sensor nodes than other Tx lines, the output of the sensor nodes received through the Rx lines in the shortened Tx lines There is a problem in that it becomes large. Also, when a short circuit occurs between the Rx lines of the touch panel, there is a problem that the outputs of the sensor nodes received through the short-circuited Rx lines become equal to each other. That is, when a short circuit occurs between the Tx lines of the touch panel or between the Rx lines, the touch screen device can not operate normally. However, there is a disadvantage that it is difficult to detect short-circuit between the Tx lines of the touch panel and short-circuit between the Rx lines before the product is completed and tested.
본 발명은 터치 패널의 불량 여부를 검사할 수 있는 터치 패널의 불량 검사 방법과 검사 장치를 제공한다.
The present invention provides a defect inspection method and an inspection apparatus for a touch panel capable of inspecting a defect of a touch panel.
본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법은 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계; 상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출하는 단계; 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계; 및 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a method of inspecting a touch panel defect, comprising: supplying driving pulses to Tx lines of a touch panel; converting output of sensor nodes received through Rx lines to digital data to obtain touch row data; Calculating filter data by applying a first filter to the touch row data; Calculating a representative value of the number of filter data having a value larger than a first threshold value for each Tx line; And determining that the touch panel is a defective product if the case where the representative value has a value larger than the second threshold value is calculated.
본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법은 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 획득하는 단계; i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출하는 단계; N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계; 및 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함한다.A method for inspecting a touch panel defect according to another embodiment of the present invention includes supplying driving pulses to Tx lines of a touch panel and converting outputs of sensor nodes received through Rx lines to digital data to obtain touch row data step; calculating sum of the touch row data for each Rx line by summing the touch row data of i (i is a natural number) frame period for each Rx line; Calculating a number of cases in which the sum of the touch row data of one Rx line is equal to the sum of the touch row data of the neighboring Rx lines during the N frame period as a representative value of the one Rx line; And determining that the touch panel is a defective product when a case where the sum of the representative values of the Rx lines is equal to or greater than a third threshold value is calculated.
본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 상기 터치 패널이 안착되는 스테이지; 상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및 상기 터치 로우 데이터를 분석하여 상기 터치 패널의 합선 여부를 검사하는 양품 판단부를 포함한다.
A touch panel failure inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a stage on which the touch panel is seated; A touch panel driving circuit for supplying drive pulses to the Tx lines of the touch panel, converting the outputs of the sensor nodes received through the Rx lines to digital data and outputting touch row data; And a good part determiner for analyzing the touch row data and checking whether the touch panel is short-circuited.
본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 또한, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제2 필터를 적용하여 미분 값 데이터를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다. 이로 인해, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부에 대한 전수 검사하거나 샘플링 검사의 개수를 늘릴 수 있으므로, 불량 터치 패널의 출하를 줄일 수 있다.
The present invention applies a first filter including a differential filter to the touch row data to calculate filter data and then determines whether the number of filter data having a value larger than the first threshold value is greater than a second threshold value , And whether or not the touch panel is short-circuited. Further, the present invention is characterized in that the second filter including the differential filter is applied to the touch row data to calculate the differential value data, and then the number of differential value data having a value of "0 & It is possible to check whether or not the touch panel is short-circuited by determining whether the value is greater than the third threshold value. That is, according to the present invention, whether or not the touch panel is short-circuited can be inspected with an easy method, and the defect of the touch panel can be inspected. Therefore, according to the present invention, it is possible to increase the number of sampling inspections or the total number of inspections of whether or not the touch panel is short-circuited, thereby reducing shipment of the bad touch panel.
도 1은 터치 스크린 장치를 개략적으로 보여주는 일 예시도면.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도.
도 3a는 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 3b는 필터 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도.
도 5a는 Rx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 5b는 미분 값 데이터를 보여주는 일 예시도면.
도 5c는 미분 값 데이터가 "0"인 경우를 보여주는 그래프.
도 5d는 복수의 프레임 기간 동안 미분 값 데이터가 "0"인 경우의 개수를 보여주는 히스토그램.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치를 보여주는 블록도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Figure 1 is an exemplary schematic illustration of a touch screen device.
2 is a flowchart showing a touch panel defect inspection method according to a first embodiment of the present invention.
3A is an exemplary illustration showing touch row data when a short line occurs between Tx lines;
Figure 3b is an example showing filter data.
4 is a flowchart showing a touch panel defect inspection method according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 5A is an exemplary view showing touch row data when a short line occurs between Rx lines; FIG.
5B is an exemplary view showing differential value data;
5C is a graph showing the case where the differential value data is "0 ".
FIG. 5D is a histogram showing the number of times when the differential value data is "0" during a plurality of frame periods. FIG.
6 is a block diagram showing a touch panel defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to the preferred embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. Like reference numerals throughout the specification denote substantially identical components. In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.
도 1은 터치 스크린 장치를 개략적으로 보여주는 일 예시도면이다. 도 1을 참조하면, 터치 스크린 장치는 터치 패널(10), 터치 패널 구동회로(20), 및 터치 콘트롤러(30)를 포함한다.1 is an exemplary schematic diagram of a touch screen device. Referring to FIG. 1, the touch screen device includes a
터치 패널(10)은 Tx 라인들(T1~Tn, n은 2 이상의 자연수), Tx 라인들(T1~Tn)과 교차하는 Rx 라인들(R1~Rm, m은 2 이상의 자연수), 및 Tx 라인들(T1~Tn)과 Rx 라인들(R1~Rm)의 교차부들에 형성된 m×n 개의 센서 노드들을 포함한다. 센서 노드들 각각은 등가 회로적으로 상호 용량(mutual capacitance)로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.The
터치 스크린 장치가 디스플레이 장치와 결합하는 경우, 터치 패널(10)은 디스플레이 장치의 표시패널의 상부에 접합될 수 있다. 특히, 디스플레이 장치가 액정표시장치로 구현되는 경우, 터치 패널(10)은 액정표시장치의 표시패널의 상부 편광판 상에 접합되거나, 상부 편광판과 표시패널의 상부기판 사이에 접합될 수 있다. 또한, 터치 패널(10)의 센서 노드들은 액정표시장치의 표시패널 내에서 픽셀 어레이와 함께 하부기판에 형성(인셀(In-cell) 타입)될 수 있다.When the touch screen device is combined with the display device, the
터치 패널 구동회로(20)는 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고 구동펄스에 동기하여 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 센서 노드 전압을 센싱한다. 터치 패널 구동회로(20)는 Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)를 포함한다. Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)는 하나의 ROIC(Read-out IC) 내에 집적될 수 있다.The touch
Tx 구동회로(21)는 터치 콘트롤러(30)의 제어 하에 구동펄스를 출력할 Tx 채널을 선택하고, 선택된 Tx 채널과 연결된 Tx 라인들에 구동펄스를 공급한다. Rx 구동회로(22)는 터치 콘트롤러(30)의 제어 하에 센서 노드들의 전압을 수신할 Rx 채널을 선택하고, 선택된 Rx 채널과 연결된 Rx 라인들을 통해 센서 노드들의 전압을 수신한다. Rx 구동회로(22)는 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신된 센서 노드의 전압을 샘플링하여 적분기에 누적한다. Rx 구동회로(22)는 적분기에 누적된 전압을 아날로그-디지털 변환기(Analog to Digital Converter, ADC)에 입력하여 디지털 데이터인 터치 로우 데이터(touch raw data, TRD)로 변환하여 출력한다.The
터치 콘트롤러(30)는 Tx 구동회로(21)에서 구동펄스가 출력될 Tx 채널을 설정하기 위한 Tx 셋업 신호와, Rx 구동회로(22)에서 센서 노드 전압을 수신할 Rx 채널을 설정하기 위한 Rx 셋업 신호를 발생한다. 또한, 터치 콘트롤러(30)는 Tx 구동회로(21)와 Rx 구동회로(22)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.The
터치 콘트롤러(30)는 터치 좌표 산출부를 포함한다. 터치 좌표 산출부는 Rx 구동회로(22)로부터 입력되는 터치 로우 데이터(TRD)를 소정의 문턱 값과 비교하고, 소정의 문턱 값 이상의 터치 로우 데이터(TRD)를 터치(또는 근접) 입력 데이터로서 판단하는 반면, 소정의 문턱 값보다 낮은 터치 로우 데이터(TRD)를 터치(또는 근접) 입력이 없는 데이터로 판단한다. 터치 좌표 산출부는 미리 설정된 터치 좌표 산출 알고리즘을 실행하여 터치(또는 근접) 입력 데이터로 판단된 터치 로우 데이터(TRD)들 각각에 대한 좌표를 산출하고, 좌표 정보를 포함한 터치 인식 결과 데이터(HIDxy)를 출력한다. 터치 좌표 산출 알고리즘은 공지의 어떠한 알고리즘으로도 구현가능하다. 터치 좌표 산출부는 MCU(Micro Controller Unit, MCU)로 구현될 수 있다.The
한편, 터치 스크린 장치의 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 커지게 되는 문제가 있다. 또한, 터치 패널의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같아지는 문제가 있다. 즉, 터치 패널의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하거나 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 터치 스크린 장치가 터치 좌표를 오산출하는 문제가 발생한다. 즉, 터치 스크린 장치가 정상적으로 동작할 수 없는 문제가 발생한다. 이하에서, 도 2, 도 3a, 도 3b, 도 4, 도 5a 내지 도 5d를 결부하여 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있는 검사 방법에 대하여 상세히 설명한다.
On the other hand, when a short circuit occurs between the Tx lines T1 to Tn of the
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도이다. 도 2에는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생한 경우, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단하는 터치 패널 불량 검사 방법이 나타나 있다. 도 2를 참조하면, 터치 패널 불량 검사 방법은 제1 내지 제4 단계(S101~S106)를 포함한다.2 is a flowchart illustrating a touch panel defect inspection method according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 shows a method of inspecting a touch panel defect, which determines that the
첫 번째로, 제1 단계(S101)는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터(TRD)를 획득한다.First, a first step S101 is to supply drive pulses to the Tx lines T1 to Tn of the
도 3a는 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 3a에는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 터치 로우 데이터(TRD)의 크기를 나타낸다. 도 3a에 표시된 "A"를 참조하면, Tx 라인들(T1~Tn)은 x 축 방향으로 배열되어 있으므로, 합선된 Tx 라인들의 위치에서 터치 로우 데이터(TRD)가 다른 위치에서보다 크게 나타나는 것을 볼 수 있다. 이는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Tx 라인들은 다른 Tx 라인에 비해 더 많은 센서 노드들에 접속되므로, 합선된 Tx 라인들에서 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력이 커지기 때문이다. (S101)FIG. 3A is an exemplary diagram showing touch row data when a short line occurs between Tx lines. FIG. FIG. 3A shows the touch row data TRD for one frame period. The x-axis represents the position of the Rx line, the y-axis represents the position of the Tx line, and the z-axis represents the size of the touch row data TRD. Referring to "A" shown in FIG. 3A, since the Tx lines (T1 to Tn) are arranged in the x-axis direction, it is possible to see that the touch row data (TRD) . This is because, when a short circuit occurs between the Tx lines T1 to Tn of the
두 번째로, 제2 단계(S102)는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)에 제1 필터(F1)를 적용하여 필터 데이터를 산출한다. 도 3a에서 Tx 라인들 간에 합선이 발생한 경우, 합선된 Tx 라인들의 위치인 y 축의 한 지점에서 터치 로우 데이터(TRD)가 크게 나타난다. 제1 필터(F1)는 y 축 방향으로 적용되는 미분 필터(differential filter)로 구현될 수 있다. 미분 필터는 샤프니스 필터(sharpness)로도 알려져 있다. 제1 필터(F1)는 미분 필터로 구현되는 경우, 어느 한 터치 로우 데이터와 y 축 방향으로 이웃하는 터치 로우 데이터의 차이를 증폭 상수(α)만큼 증폭하여 필터 데이터를 산출하므로, 합선된 Tx 라인들의 위치에서 필터 데이터(FD)는 도 3b의 "B"와 같이 큰 값으로 산출된다. 도 3b는 필터 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 3b에는 1 프레임 기간의 필터 데이터(FD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 필터 데이터(FD)의 크기를 나타낸다.Secondly, in the second step S102, the first filter F1 is applied to the touch row data TRD of one frame period to calculate filter data. In Fig. 3A, when a short circuit occurs between the Tx lines, the touch row data TRD appears at a point on the y-axis, which is the position of the short-circuited Tx lines. The first filter F1 may be implemented as a differential filter applied in the y-axis direction. The differential filter is also known as a sharpness filter. When the first filter F1 is implemented as a differential filter, since the filter data is calculated by amplifying the difference between any touch row data and neighboring touch row data in the y-axis direction by an amplification constant, Quot; B "in Fig. 3B. 3B is an exemplary diagram showing filter data. In FIG. 3B, filter data FD of one frame period is shown. The x-axis represents the position of the Rx line, the y-axis represents the position of the Tx line, and the z-axis represents the size of the filter data FD.
한편, 제1 필터(F1)는 수학식 1과 같이 정의될 수 있다.On the other hand, the first filter F1 can be defined as Equation (1).
또는, 제1 필터(F1)는 수학식 2와 같이 정의될 수 있다.Alternatively, the first filter F1 may be defined as Equation (2).
또한, 제1 필터(F1)는 y 축 방향으로 적용되는 미분 필터뿐만 아니라, x 축 방향으로 적용되는 평균 필터(mean filter)를 포함할 수 있다. 평균 필터는 스무딩 필터로도 알려져 있다. 구체적으로, 제1 필터(F1)는 수학식 3과 같이 정의될 수 있다.The first filter F1 may include not only a differential filter applied in the y-axis direction but also an average filter applied in the x-axis direction. The average filter is also known as a smoothing filter. Specifically, the first filter F1 can be defined as Equation (3).
또는, 제1 필터(F1)는 수학식 4와 같이 정의될 수 있다.Alternatively, the first filter F1 may be defined as shown in Equation (4).
수학식 1 내지 4에서, α는 증폭 상수를 의미한다.In Equations (1) to (4),? Means an amplification constant.
제1 필터(F1)가 수학식 3과 수학식 4와 같이 평균 필터를 포함하는 경우, 어느 한 터치 로우 데이터와 x 축 방향으로 이웃하는 터치 로우 데이터를 평균하여 필터 데이터(FD)를 산출하므로, 필터 데이터(FD)는 x 축 방향으로 평탄화되어 표현된다.When the first filter F1 includes an average filter as shown in Equation 3 and Equation 4, the filter data FD is calculated by averaging any touch row data and touch row data neighboring in the x-axis direction, The filter data FD is expressed by being flattened in the x-axis direction.
한편, 제2 단계(S102)에서 제1 필터(F1)의 미분 필터가 y 축 방향으로 적용되고, 평균 필터가 x 축 방향으로 적용되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 필요에 따라, 제1 필터(F1)의 미분 필터는 x 축 방향으로 적용될 수 있으며, 평균 필터는 y 축 방향으로 적용될 수도 있다. 또한, 제2 단계(S102)에서 제1 필터(F1)의 미분 필터를 x 축 방향과 y 축 방향으로 모두 적용하고, 평균 필터를 x 축 방향과 y 축 방향으로 모두 적용할 수도 있다. (S102)Meanwhile, in the second step S102, the differential filter of the first filter F1 is applied in the y-axis direction and the average filter is applied in the x-axis direction. However, it should be noted that the present invention is not limited thereto. That is, if necessary, the differential filter of the first filter F1 may be applied in the x-axis direction and the averaging filter may be applied in the y-axis direction. In the second step S102, the differential filter of the first filter F1 may be applied to both the x-axis direction and the y-axis direction, and the average filter may be applied to both the x-axis direction and the y-axis direction. (S102)
세 번째로, 제3 단계(S103)는 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터(FD)의 개수인 대표값을 산출한다. 구체적으로 수학식 5를 참조하여 설명하면, 제3 단계(S103)는 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터(FD(j,k))가 제1 문턱 값(TH1)보다 큰 값을 갖는 경우, (j,k) 좌표에서의 비교값(C(j,k))으로 "1"을 할당한다. 제3 단계(S103)는 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터(FD(j,k))가 제1 문턱 값(TH1) 이하인 큰 값을 갖는 경우, (j,k) 좌표에서의 비교값(C(j,k))으로 "0"을 할당한다. 제1 문턱 값(TH1)은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다.Thirdly, in a third step S103, a representative value, which is the number of filter data FD having a value larger than the first threshold value for each Tx line, is calculated. Specifically, referring to Equation (5), the third step (S103) is performed when the filter data FD (j, k) at the coordinates (j, k) has a value larger than the first
그리고 나서, 제3 단계(S103)는 수학식 6과 같이 제k(k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수) Tx 라인의 대표값(Inspection(k))으로 제k Tx 라인의 비교값(C(j,k))(j는 1≤j≤m을 만족하는 자연수)들의 총합을 할당한다. j는 x 좌표 값, k는 y 좌표값을 의미한다.Then, in the third step S103, a comparison value (k) of the kth Tx line is calculated as a representative value Inspection (k) of the line Tx (k is a natural number satisfying 1? K? N) C (j, k)) (j is a natural number satisfying 1? J? M). j denotes an x coordinate value, and k denotes a y coordinate value.
제4 단계(S104, S105, S106)는 Tx 라인별로 산출된 대표값들 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 구체적으로, 제4 단계(S104, S105, S106)는 제1 내지 제n Tx 라인들의 대표값들(Inspection(1)~Inspection(n)) 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 제4 단계(S104, S105, S106)는 제1 내지 제n Tx 라인들의 대표값들(Inspection(1)~Inspection(n)) 중에서 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재하지 않는다면, 터치 패널(10)을 양품으로 판단한다. 제2 문턱 값은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다. (S104, S105, S106)In the fourth step S104, S105, and S106, if there is a representative value having a value larger than the second threshold value among the representative values calculated for each Tx line, the
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터(TRD)에 미분 필터를 포함한 제1 필터(F1)를 적용하여 필터 데이터(FD)를 산출한 후, 제1 문턱 값(TH1)보다 큰 값을 갖는 필터 데이터(FD)의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다.
As described above, according to the present invention, the first filter F1 including the differential filter is applied to the touch row data TRD to calculate the filter data FD, and then the value is larger than the first threshold value TH1 It is possible to check whether or not the touch panel is short-circuited by judging whether or not the number of filter data FD possessed by the touch panel is larger than the second threshold value. That is, according to the present invention, whether or not the touch panel is short-circuited can be inspected with an easy method, and the defect of the touch panel can be inspected.
도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 보여주는 흐름도이다. 도 4에는 터치 패널(10)의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생한 경우, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단하는 터치 패널 불량 검사 방법이 나타나 있다. 도 4를 참조하면, 터치 패널 불량 검사 방법은 제1 내지 제4 단계를 포함한다.4 is a flowchart illustrating a touch panel defect inspection method according to a second embodiment of the present invention. FIG. 4 shows a method of inspecting the
첫 번째로, 제1 단계(S201)는 터치 패널(10)의 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터(TRD)를 획득한다.First, the first step S201 is to supply drive pulses to the Tx lines T1 to Tn of the
도 5a는 Rx 라인들 간에 합선이 발생한 경우 터치 로우 데이터를 보여주는 일 예시도면이다. 도 5a에는 1 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRD)가 나타나 있으며, x 축은 Rx 라인의 위치, y 축은 Tx 라인의 위치, z 축은 터치 로우 데이터(TRD)의 크기를 나타낸다. 터치 패널의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생하는 경우, 합선된 Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력은 서로 같다. (S201)FIG. 5A is an exemplary diagram showing touch row data when a short line occurs between Rx lines. FIG. 5A shows the touch row data TRD for one frame period. The x-axis represents the position of the Rx line, the y-axis represents the position of the Tx line, and the z-axis represents the size of the touch row data TRD. When a short circuit occurs between the Rx lines R1 to Rm of the touch panel, the outputs of the sensor nodes received through the shorted Rx lines are equal to each other. (S201)
두 번째로, 제2 단계(S202)는 제i(i는 자연수) 프레임 기간의 터치 로우 데이터(TRDi)를 Rx 라인별로 합산하여 Rx 라인별로 터치 로우 데이터의 총합을 산출한다. 구체적으로, 제2 단계(S202)는 수학식 7과 같이 제j 수직 라인의 터치 로우 데이터들을 총합하여 제j 라인의 터치 로우 데이터 총합(RSi(j))을 산출한다.Second, in the second step S202, the touch row data TRDi of the i-th (i is a natural number) frame period is summed for each Rx line to calculate the sum of the touch row data for each Rx line. Specifically, the second step S202 calculates the touch row data sum RSi (j) of the jth line by summing the touch row data of the jth vertical line as shown in Equation (7).
세 번째로, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출한다. 구체적으로, 제3 단계(S203)는 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터(F2)를 적용하여 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출한다. 제2 필터(F2)는 미분 필터로 구현될 수 있다. 따라서, 제2 필터(F2)는 수학식 1 또는 수학식 2와 같이 정의될 수 있다. 즉, 제3 단계(S203)는 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합을 미분하여 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출할 수 있다. 제3 단계(S203)는 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))을 미분하여 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))를 산출할 수 있다.Thirdly, in the third step S203, the number of cases in which the sum of the touch row data of one Rx line is equal to the sum of the touch row data of the neighboring Rx lines during the N frame period is set to a representative value . Specifically, in the third step S203, the second filter F2 is applied to the sum of the touch row data calculated for each Rx line to calculate the differential value data for each Rx line. The second filter F2 may be implemented as a differential filter. Accordingly, the second filter F2 can be defined as Equation (1) or Equation (2). That is, in the third step S203, the sum of the touch row data calculated for each Rx line is differentiated to calculate the differential value data for each Rx line. The third step S203 may calculate the differential value data Ti (j) of the jth Rx line by differentiating the sum RSi (j) of the touch row data of the jth Rx line.
도 5b는 미분 값 데이터들을 보여주는 일 예시도면이다. 도 5b를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 지시하고, y 축은 미분 값 데이터를 지시한다. 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))는 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))의 기울기 값을 의미한다. 따라서, 제j Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합(RSi(j))이 제j Rx 라인에 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 같은 경우, 제j Rx 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))는 "0"으로 산출된다.5B is an exemplary diagram showing differential value data. Referring to FIG. 5B, the x-axis indicates the position (j) of the Rx line, and the y-axis indicates the differential value data. The differential value data Ti (j) of the jth Rx line means the slope value of the sum (RSi (j)) of the touch row data of the jth Rx line. Therefore, when the sum (RSi (j)) of the touch row data of the jth Rx line is equal to the sum of the touch row data of the Rx line neighboring the jj Rx line, the differential value data Ti ) Is calculated as "0 ".
그리고 나서, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출한다. 구체적으로, 제3 단계(S203)는 수학식 9와 같이 제j 라인의 미분 값 데이터(Ti(j))가 "0" 값을 갖는 경우 제j 라인의 개수 데이터(Ti'(j))를 "1"로 할당하고, 그렇지 않은 경우 제j 라인의 개수 데이터(Ti'(j))를 "0"으로 할당한다.Then, the third step S203 calculates the number of differential value data having a value of "0" for each Rx line as a representative value during the N frame period. Specifically, in the third step S203, when the differential value data Ti (j) of the j-th line has a value of 0 as in Equation (9), the number data Ti ' Quot; 1 ", otherwise, the number data Ti '(j) of the j-th line is assigned as "0 ".
도 5c는 개수 데이터들을 보여주는 그래프이다. 도 5c를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 의미하고, y 축은 개수 데이터의 값을 의미한다. 도 5c와 같이 제i 프레임 기간 동안 제1 내지 제m 개수 데이터(Ti'(1)~Ti'(m))는 "0" 또는 "1" 값을 갖는다.5C is a graph showing the number data. Referring to FIG. 5C, the x-axis represents the position (j) of the Rx line, and the y-axis represents the value of the number data. As shown in FIG. 5C, the first to m-th pieces of data Ti '(1) to Ti' (m) during the i-th frame period have a value of "0" or "1".
제3 단계(S203)는 수학식 10과 같이 N 프레임 기간 동안 제j 라인의 개수 데이터의 총합을 제j Rx 라인의 대표값(RxShort(j))으로 산출한다.In the third step S203, the sum of the number data of the j-th line is calculated as a representative value (RxShort (j)) of the j-th Rx line during the N frame period as shown in Equation (10).
도 5d는 N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수(대표값)를 보여주는 히스토그램이다. 도 5d를 참조하면, x 축은 Rx 라인의 위치(j)를 의미하고, y 축은 대표값을 의미한다. FIG. 5D is a histogram showing the number (representative value) of differential value data having a value of "0 " during the N frame period. Referring to FIG. 5D, the x-axis denotes the position (j) of the Rx line, and the y-axis denotes the representative value.
한편, 제3 단계(S203)는 N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수의 평균을 대표값으로 산출할 수도 있다. (S203)On the other hand, in the third step S203, an average of the number of differential data having a value of "0" during the N frame period may be calculated as a representative value. (S203)
네 번째로, 제4 단계(S204, S205, S206)는 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 터치 패널(10)을 불량으로 판단한다. 구체적으로, 제4 단계(S204, S205, S206)는 제1 내지 제m Rx 라인들의 대표값들(RxShort(1)~Rxshort(m)) 중에서 제3 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재한다면, 터치 패널(10)을 불량품으로 판단한다. 제4 단계(S204, S205, S206)는 제1 내지 제m Rx 라인들의 대표값들(RxShort(1)~Rxshort(m)) 중에서 제3 문턱 값보다 큰 값을 갖는 대표값이 존재하지 않는다면, 터치 패널(10)을 양품으로 판단한다. 제3 문턱 값은 사전 실험을 통해 적절한 값으로 미리 설정될 수 있다. (S104, S105, S106)Fourth (S204, S205, and S206), the fourth step S204, S205, and S206 determine that the
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터(TRD)에 미분 필터를 포함한 제2 필터(F2)를 적용하여 미분 값 데이터(T)를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다.
As described above, according to the present invention, the second filter (F2) including the differential filter is applied to the touch row data (TRD) to calculate the differential value data (T) It is possible to check whether or not the touch panel is short-circuited by calculating the number of differential value data as a representative value and judging whether the representative value is larger than the third threshold value. That is, according to the present invention, whether or not the touch panel is short-circuited can be inspected with an easy method, and the defect of the touch panel can be inspected.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치를 보여주는 블록도이다. 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 장치는 스테이지(100), 터치 패널 구동회로(200), 터치 콘트롤러(300), 양품 판단부(400), 디스플레이 장치(500) 등을 구비한다.6 is a block diagram showing a touch panel failure inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 6, a touch panel defect inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention includes a
스테이지(100)에는 합선 여부를 검사받고자 하는 터치 패널(110)이 로딩(loading)되어 안착된다. 터치 패널 불량 검사 장치는 터치 패널(110)을 스테이지(100) 상에 로딩 또는 언로딩(unloading)시키는 로딩 장치를 더 구비할 수도 있다. 즉, 터치 패널(110)은 로딩 장치에 의해 스테이지(100) 상에 로딩된 후, 검사가 완료되면 로딩 장치에 의해 언로딩될 수 있다.In the
터치 패널(110)이 스테이지(100)에 안착된 후에, 터치 패널 구동회로(200)가 터치 패널(110)에 접속된다. 터치 패널 구동회로(200)는 Tx 라인들(T1~Tn)에 구동펄스를 공급하고 구동펄스에 동기하여 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 센서 노드 전압을 센싱한다. 터치 패널 구동회로(200)는 Tx 구동회로(210)와 Rx 구동회로(220)를 포함한다.After the
Tx 구동회로(210)는 터치 콘트롤러(300)의 제어 하에 구동펄스를 출력할 Tx 채널을 선택하고, 선택된 Tx 채널과 연결된 Tx 라인들에 구동펄스를 공급한다. Rx 구동회로(220)는 터치 콘트롤러(300)의 제어 하에 센서 노드들의 전압을 수신할 Rx 채널을 선택하고, 선택된 Rx 채널과 연결된 Rx 라인들을 통해 센서 노드들의 전압을 수신한다. Rx 구동회로(220)는 Rx 라인들(R1~Rm)을 통해 수신된 센서 노드의 전압을 샘플링하여 적분기에 누적한다. Rx 구동회로(220)는 적분기에 누적된 전압을 아날로그-디지털 변환기(ADC)에 입력하여 디지털 데이터인 터치 로우 데이터(TRD)로 변환하여 출력한다.The
터치 콘트롤러(300)는 Tx 구동회로(210)에서 구동펄스가 출력될 Tx 채널을 설정하기 위한 Tx 셋업 신호와, Rx 구동회로(220)에서 센서 노드 전압을 수신할 Rx 채널을 설정하기 위한 Rx 셋업 신호를 발생한다. 또한, 터치 콘트롤러(300)는 Tx 구동회로(210)와 Rx 구동회로(220)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.The
양품 판단부(400)는 Rx 구동회로(220)로부터 터치 로우 데이터(TRD)를 입력받는다. 양품 판단부(400)는 도 2를 결부하여 설명한 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법에 기초하여 터치 패널(110)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생했는지를 판단할 수 있다. 또한, 양품 판단부(400)는 도 4를 결부하여 설명한 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법에 기초하여 터치 패널(110)의 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생했는지를 판단할 수 있다. 또한, 양품 판단부(400)는 도 2를 결부하여 설명한 본 발명의 제1 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법과 도 4를 결부하여 설명한 본 발명의 제2 실시 예에 따른 터치 패널 불량 검사 방법을 동시에 적용하여 터치 패널(110)의 Tx 라인들(T1~Tn) 간에 합선이 발생했는지와 Rx 라인들(R1~Rm) 간에 합선이 발생했는지를 한 번에 판단할 수 있다.The good
양품 판단부(400)는 터치 패널 불량 검사 결과를 지시하는 양품 판단 신호(Si)를 디스플레이 장치(500)에 출력한다. 양품 판단부(400)는 터치 패널(110)이 불량품이라고 판단된 경우, 불량품을 지시하는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)를 출력한다. 또한, 양품 판단부(400)는 터치 패널(110)이 양품이라고 판단된 경우, 양품을 지시하는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)를 출력한다.The good product determination unit (400) outputs the good product determination signal (Si) indicating the touch panel failure inspection result to the display device (500). When the
디스플레이 장치(500)는 양품 판단부(400)로부터의 양품 판단 신호(Si)에 따라 터치 패널 합선 결과를 디스플레이해준다. 예를 들어, 디스플레이 장치(500)는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)가 입력되는 경우, "양품"이라는 글자 또는 초록색을 디스플레이할 수 있다. 디스플레이 장치(500)는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호(Si)가 입력되는 경우, "불량품"이라는 글자 또는 빨간색을 디스플레이할 수 있다.
The
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수가 제2 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 또한, 본 발명은 터치 로우 데이터에 미분 필터를 포함한 제2 필터를 적용하여 미분 값 데이터를 산출한 후, N 프레임 기간 동안 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하고, 대표값이 제3 문턱 값보다 큰 경우가 있는지를 판단함으로써, 터치 패널 합선 여부를 검사할 수 있다. 즉, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부를 손쉬운 방법으로 검사함으로써, 터치 패널의 불량을 검사할 수 있다. 이로 인해, 본 발명은 터치 패널의 합선 여부에 대한 전수 검사하거나 샘플링 검사의 개수를 늘릴 수 있으므로, 불량 터치 패널의 출하를 줄일 수 있다.As described above, according to the present invention, a first filter including a differential filter is applied to touch row data to calculate filter data, and then the number of filter data having a value larger than the first threshold value is larger than a second threshold value It is possible to check whether or not the touch panel is short-circuited. Further, the present invention is characterized in that the second filter including the differential filter is applied to the touch row data to calculate the differential value data, and then the number of differential value data having a value of "0 & It is possible to check whether or not the touch panel is short-circuited by determining whether the value is greater than the third threshold value. That is, according to the present invention, whether or not the touch panel is short-circuited can be inspected with an easy method, and the defect of the touch panel can be inspected. Therefore, according to the present invention, it is possible to increase the number of sampling inspections or the total number of inspections of whether or not the touch panel is short-circuited, thereby reducing shipment of the bad touch panel.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.
10, 110: 터치 패널 20, 200: 터치 패널 구동회로
21, 210: Tx 구동회로 22, 220: Rx 구동회로
30, 300: 터치 콘트롤러 100: 스테이지
400: 양품 판단부 500: 디스플레이 장치10, 110:
21, 210:
30, 300: touch controller 100: stage
400: Good judgment part 500: Display device
Claims (17)
상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출하는 단계;
상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계; 및
상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함하는 터치 패널 불량 검사 방법.Supplying driving pulses to the Tx lines of the touch panel and converting the outputs of the sensor nodes received through the Rx lines to digital data to obtain touch row data;
Calculating filter data by applying a first filter to the touch row data;
Calculating a representative value of the number of filter data having a value larger than a first threshold value for each Tx line; And
And determining that the touch panel is a defective product when the case where the representative value has a value larger than the second threshold value is calculated.
상기 제1 필터는,
Rx 라인 방향으로 적용되는 미분 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the first filter comprises:
And a differential filter applied in the Rx line direction.
상기 제1 필터는,
Tx 라인 방향으로 적용되는 평균 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.3. The method of claim 2,
Wherein the first filter comprises:
Further comprising an average filter applied in the Tx line direction.
상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하는 단계는,
(j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "1"을 할당하는 단계;
상기 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값 이하인 큰 값을 갖는 경우 상기 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "0"을 할당하는 단계; 및
제k Tx 라인의 대표값으로 제k Tx 라인의 비교값들의 총합을 할당하는 단계를 포함하고,
j는 1≤k≤m을 만족하는 자연수이고, k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수이며, m은 상기 Rx 라인들의 개수, n은 상기 Tx 라인들의 개수를 의미하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the step of calculating, as a representative value, the number of filter data having a value larger than the first threshold value for each Tx line,
assigning "1" to the comparison value in the (j, k) coordinate when the filter data in the (j, k) coordinate has a value larger than the first threshold value;
Assigning "0" to the comparison value in the (j, k) coordinate when the filter data at the (j, k) coordinate has a large value less than or equal to the first threshold value; And
Assigning a sum of comparison values of a kth Tx line as a representative value of a kth Tx line,
j is a natural number satisfying 1? k? m, k is a natural number satisfying 1? k? n, m is the number of Rx lines and n is the number of Tx lines. Defective inspection method.
i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출하는 단계;
N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계; 및
상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 단계를 포함하는 터치 패널 불량 검사 방법.Supplying driving pulses to the Tx lines of the touch panel and converting the outputs of the sensor nodes received through the Rx lines to digital data to obtain touch row data;
calculating sum of the touch row data for each Rx line by summing the touch row data of i (i is a natural number) frame period for each Rx line;
Calculating a number of cases in which the sum of the touch row data of one Rx line is equal to the sum of the touch row data of the neighboring Rx lines during the N frame period as a representative value of the one Rx line; And
And determining that the touch panel is a defective product when a case where the sum of representative values of any one of the Rx lines is equal to or greater than a third threshold value is calculated.
상기 N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하는 단계는,
상기 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터를 적용하여 상기 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출하는 단계; 및
상기 N 프레임 기간 동안 상기 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.6. The method of claim 5,
Calculating the number of cases in which the sum of the touch row data of one Rx line is equal to the sum of the touch row data of the neighboring Rx lines during the N frame period as a representative value of the one Rx line,
Calculating differential value data for each Rx line by applying a second filter to the sum of touch row data calculated for each Rx line; And
And calculating a representative value of the number of differential data having a value of "0" for each of the Rx lines during the N frame period.
상기 제2 필터는 미분 필터인 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 방법.The method according to claim 6,
And the second filter is a differential filter.
상기 터치 패널의 Tx 라인들에 구동펄스를 공급하고, Rx 라인들을 통해 수신되는 센서 노드들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 터치 로우 데이터를 출력하는 터치 패널 구동회로; 및
상기 터치 로우 데이터를 분석하여 상기 터치 패널의 합선 여부를 검사하는 양품 판단부를 포함하는 터치 패널 불량 검사 장치.A stage on which the touch panel is seated;
A touch panel driving circuit for supplying drive pulses to the Tx lines of the touch panel, converting the outputs of the sensor nodes received through the Rx lines to digital data and outputting touch row data; And
And a good quality determination unit for analyzing the touch row data to check whether the touch panel is short-circuited.
상기 양품 판단부는,
상기 터치 로우 데이터에 제1 필터를 적용하여 필터 데이터를 산출한 후, 상기 Tx 라인별로 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 필터 데이터의 개수를 대표값으로 산출하고, 상기 대표값이 제2 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우가 산출되면 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.9. The method of claim 8,
The good-
Calculating filter data by applying a first filter to the touch row data, calculating a number of filter data having a value larger than a first threshold value for each Tx line as a representative value, Wherein the controller determines that the touch panel is a defective product when a case having a larger value is calculated.
상기 제1 필터는,
Rx 라인 방향으로 적용되는 미분 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.10. The method of claim 9,
Wherein the first filter comprises:
And a differential filter applied in the Rx line direction.
상기 제1 필터는,
Tx 라인 방향으로 적용되는 평균 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.11. The method of claim 10,
Wherein the first filter comprises:
Further comprising an average filter applied in the Tx line direction.
상기 양품 판단부는,
(j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값보다 큰 값을 갖는 경우 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "1"을 할당하고, 상기 (j,k) 좌표에서의 필터 데이터가 상기 제1 문턱 값 이하인 큰 값을 갖는 경우 상기 (j,k) 좌표에서의 비교값에 "0"을 할당하며, 제k Tx 라인의 대표값으로 제k Tx 라인의 비교값들의 총합을 할당하고, j는 1≤k≤m을 만족하는 자연수이고, k는 1≤k≤n을 만족하는 자연수이며, m은 상기 Rx 라인들의 개수, n은 상기 Tx 라인들의 개수를 의미하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.10. The method of claim 9,
The good-
1 "is assigned to the comparison value in the coordinate (j, k) when the filter data in the (j, k) coordinate has a value larger than the first threshold value, Quot; 0 "is assigned to the comparison value in the (j, k) coordinate when the data has a large value less than or equal to the first threshold value, and the sum of the comparison values of the k & Wherein j is a natural number satisfying 1? K? M, k is a natural number satisfying 1? K? N, m is the number of Rx lines, and n is the number of Tx lines A touch panel defect inspection device.
상기 양품 판단부는,
i(i는 자연수) 프레임 기간의 상기 터치 로우 데이터를 상기 Rx 라인별로 합산하여 상기 Rx 라인별로 상기 터치 로우 데이터의 총합을 산출한 후, N 프레임 기간 동안 어느 한 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합이 이웃하는 Rx 라인의 터치 로우 데이터의 총합과 동일한 경우의 개수를 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값으로 산출하고, 상기 어느 한 Rx 라인의 대표값의 합계가 제3 문턱값 이상인 경우가 산출되면, 상기 터치 패널을 불량품으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.9. The method of claim 8,
The good-
(i is a natural number) frame period for each of the Rx lines to calculate a total sum of the touch row data for each Rx line. Then, the total sum of the touch row data of one Rx line during the N frame period is calculated The number of cases in which the sum of the touch row data of the adjacent Rx lines is equal to the sum of the touch row data of the neighboring Rx lines is calculated as a representative value of any one of the Rx lines and if the sum of the representative values of any one of the Rx lines is equal to or greater than the third threshold value, And judges that the touch panel is a defective product.
상기 양품 판단부는,
상기 Rx 라인별로 산출된 터치 로우 데이터의 총합에 제2 필터를 적용하여 상기 Rx 라인별로 미분 값 데이터를 산출하고, 상기 N 프레임 기간 동안 상기 Rx 라인별로 "0" 값을 갖는 미분 값 데이터들의 개수를 대표값으로 산출하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.14. The method of claim 13,
The good-
Calculating a differential value data for each Rx line by applying a second filter to the sum of the touch row data calculated for each Rx line and calculating the number of differential value data having a value of "0" And calculates a representative value of the touch panel.
상기 제2 필터는 미분 필터인 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.15. The method of claim 14,
And the second filter is a differential filter.
상기 양품 판단부는,
상기 터치 패널이 불량품이라고 판단된 경우, 상기 불량품을 지시하는 제1 로직 레벨의 양품 판단 신호를 출력하고, 상기 터치 패널이 양품이라고 판단된 경우, 양품을 지시하는 제2 로직 레벨의 양품 판단 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 불량 검사 장치.9. The method of claim 8,
The good-
Outputting a goodness-of-good determination signal of a first logic level indicating the defective product when it is determined that the touch panel is a defective product, and outputting a good-quality determination signal of a second logic level And outputs the detected result.
상기 양품 판단부로부터 양품 판단 신호를 입력받고, 상기 터치 패널의 합선 결과를 디스플레이하는 디스플레이 장치를 더 포함하는 터치 패널 불량 검사 장치.17. The method of claim 16,
And a display device for receiving a good product signal from the good quality determination unit and displaying a short circuit result of the touch panel.
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- 2012-11-05 KR KR1020120124399A patent/KR101959048B1/en active IP Right Grant
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