KR20140051002A - Apparatus for inspecting display panel and method thereof - Google Patents

Apparatus for inspecting display panel and method thereof Download PDF

Info

Publication number
KR20140051002A
KR20140051002A KR1020120117534A KR20120117534A KR20140051002A KR 20140051002 A KR20140051002 A KR 20140051002A KR 1020120117534 A KR1020120117534 A KR 1020120117534A KR 20120117534 A KR20120117534 A KR 20120117534A KR 20140051002 A KR20140051002 A KR 20140051002A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connection
connector
voltage
display panel
connection part
Prior art date
Application number
KR1020120117534A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102037069B1 (en
Inventor
임상민
김현웅
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120117534A priority Critical patent/KR102037069B1/en
Publication of KR20140051002A publication Critical patent/KR20140051002A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102037069B1 publication Critical patent/KR102037069B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837—Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/22—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-emitting devices, e.g. LED, optocouplers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • G—PHYSICS
    • G08—SIGNALLING
    • G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B21/00—Alarms responsive to a single specified undesired or abnormal condition and not otherwise provided for
    • G08B21/18—Status alarms
    • G08B21/185—Electrical failure alarms
    • G—PHYSICS
    • G08—SIGNALLING
    • G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B5/00—Visible signalling systems, e.g. personal calling systems, remote indication of seats occupied
    • G08B5/22—Visible signalling systems, e.g. personal calling systems, remote indication of seats occupied using electric transmission; using electromagnetic transmission
    • G08B5/36—Visible signalling systems, e.g. personal calling systems, remote indication of seats occupied using electric transmission; using electromagnetic transmission using visible light sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • Emergency Management (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

The present invention relates to apparatus for inspecting a display panel and a method thereof, including a first connecting part and a second connecting part accessed to a connector of the display panel and electrically connected with each other through the connector; a DC-DC converter having an output stage which is connected to the first connecting part and outputting voltage to the output stage; and a comparing part detecting access failure of the connector by comparing the voltage of the second connecting part and reference voltage. According to the present invention, provided is the apparatus for inspecting the display panel and the method thereof capable of reducing the defect rate of the inspection process by detecting the connection failure of the display panel and the inspection apparatus in advance.

Description

표시 패널의 검사 장치 및 그 방법{APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL AND METHOD THEREOF}[0001] APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL AND METHOD THEREOF [0002]

본 발명은 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사 장치와 표시 패널의 접속 불량을 사전 검출함으로써, 검사 공정의 불량율을 낮출 수 있는 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and method for a display panel, and more particularly to an inspection apparatus and method for a display panel capable of reducing a defect rate of an inspection process by previously detecting connection failure between an inspection apparatus and a display panel will be.

표시 패널은 기판 상에 매트릭스 형태로 복수의 화소를 배치하여 표시영역으로 하고, 각 화소에 주사선과 데이터선을 연결하여 화소에 데이터신호를 선택적으로 인가함으로써 화상을 표시할 수 있다. 표시 패널은 화소의 구동방식에 따라 패시브(Passive) 매트릭스형 발광 표시 패널과 액티브(Active) 매트릭스형 발광 표시 패널로 구분된다. 이 중 해상도, 콘트라스트, 동작속도의 관점에서 단위 화소 마다 선택하여 점등하는 액티브 매트릭스형이 주류가 되고 있다.The display panel can display an image by disposing a plurality of pixels in a matrix form on a substrate to form a display area, and connecting data lines and scanning lines to each pixel to selectively apply data signals to the pixels. The display panel is divided into a passive matrix type light emitting display panel and an active matrix type light emitting display panel according to a driving method of a pixel. Among these, an active matrix type which is selected and turned on for each unit pixel in view of resolution, contrast, and operation speed has become mainstream.

이러한 표시 패널은 각종 전자기기에 널리 사용되고 있으며, 이와 관련하여 액정 표시장치(Liquid Crystal Display: LCD), 전계방출 표시장치(Field Emission Display: FED), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel: PDP) 및 유기전계발광 표시장치(Organic Light Emitting Display: OLED) 등이 알려져 있다. 이 중 유기전계발광 표시장치는 전자와 정공의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 것으로, 이는 빠른 응답속도를 가짐과 동시에 낮은 소비전력으로 구동되는 장점이 있다.Such a display panel is widely used in various electronic apparatuses. In connection with this, a display panel such as a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP) An organic light emitting display (OLED) and the like are known. The organic light emitting display device displays an image using an organic light emitting diode that generates light by recombination of electrons and holes. This is advantageous in that it has a fast response speed and is driven with low power consumption.

한편, 표시 패널의 품질 향상을 위한 요소 중 하나로 감마 설정을 들 수 있다. 감마 설정은 표시 휘도와 계조 데이터의 상관 관계로서, 표시 휘도와 계조 데이터의 상관 관계는 감마 곡선(Gamma Curve)에 따라 정의된다. 표시패널이 안정된 표시 품질을 유지하기 위해서는 매우 정확한 감마 설정이 필요하다. 감마 설정에 오차가 발생하면, 실제 표시 휘도와 계조 데이터에 따르는 표시 휘도간의 편차가 발생한다. 이러한 편차를 최소화하기 위해 기준 감마 전압을 실시간으로 프로그래밍하는 다 시점 프로그래밍(multi time programming, 이하 MTP라고 함)을 수행한다. 기준 감마 전압이란, 표시 휘도를 결정하는 데이터 신호를 생성하는 구동 회로에 입력되는 전압이다. 계조 데이터에 따라 구동 회로는 기준 감마 전압을 이용해 데이터 신호를 생성하고, 발광 소자는 데이터 신호에 따라 발광한다. 따라서 기준 감마 전압이 변동하면, 표시 패널의 표시 휘도가 변동된다.On the other hand, gamma setting is one of the factors for improving the quality of the display panel. The gamma setting is a correlation between the display luminance and the grayscale data, and the correlation between the display luminance and the grayscale data is defined according to a gamma curve (Gamma Curve). A very accurate gamma setting is required for the display panel to maintain a stable display quality. When an error occurs in the gamma setting, a deviation occurs between the actual display luminance and the display luminance corresponding to the gray-scale data. In order to minimize such deviation, multi-time programming (hereinafter referred to as MTP) is performed in which the reference gamma voltage is programmed in real time. The reference gamma voltage is a voltage input to a drive circuit that generates a data signal that determines display brightness. The driving circuit generates a data signal using the reference gamma voltage in accordance with the gray-scale data, and the light-emitting element emits light in accordance with the data signal. Therefore, when the reference gamma voltage fluctuates, the display brightness of the display panel changes.

그러나, MTP 수행을 위하여 전원을 공급하는 검사 장치와 표시 패널의 접속 불량이 존재하는 경우, 전원의 전압 강하가 발생되고, 이에 따라 MTP 불량이 야기되는 문제점이 있었다. However, when there is a connection failure between the inspection apparatus for supplying power for performing MTP and the display panel, a voltage drop of the power source occurs, thereby causing a problem of MTP failure.

상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 발명의 목적은 검사 장치와 표시 패널의 접속 불량을 사전 검출함으로써, 검사 공정의 불량율을 낮출 수 있는 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and method for a display panel capable of reducing a defect rate of an inspection process by previously detecting connection failure between an inspection apparatus and a display panel.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 본 발명의 표시 패널의 검사 장치는, 표시 패널의 커넥터에 접속되고, 상기 커넥터를 통해 상호간 전기적으로 연결되는 제1 연결부와 제2 연결부, 상기 제1 연결부와 연결되는 출력단을 구비하여, 상기 출력단으로 전압을 출력하는 DC-DC 컨버터 및 상기 제2 연결부의 전압과 기준 전압을 비교하여, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 비교부를 포함한다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, an inspection apparatus for a display panel of the present invention includes: a first connection part connected to a connector of a display panel and electrically connected to each other through the connector; A DC-DC converter having an output connected to the first connection unit and outputting a voltage to the output terminal, and a comparison unit comparing the voltage of the second connection unit with a reference voltage to detect connection failure of the connector .

또한, 상기 비교부는, 상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 상기 커넥터의 접속을 불량으로 판단하고, 상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 상기 커넥터의 접속을 정상으로 판단하는 것을 특징으로 한다.When the difference between the voltage of the second connection part and the reference voltage is equal to or greater than a preset reference value, the comparison part determines that the connection of the connector is defective, and if the difference between the voltage of the second connection part and the reference voltage is preset And judges that the connection of the connector is normal when it is smaller than the reference value.

또한, 상기 커넥터의 접속이 불량으로 판단된 경우에 점등되는 제1 LED 및 상기 커넥터의 접속이 정상으로 판단된 경우에 점등되는 제2 LED를 더 포함한다.The apparatus further includes a first LED that is turned on when the connection of the connector is determined to be bad, and a second LED that is turned on when the connection of the connector is determined to be normal.

또한, 상기 출력단과 상기 비교부 사이에 접속되는 제1 스위치 및 상기 제2 연결부와 상기 비교부 사이에 접속되는 제2 스위치를 더 포함한다.The apparatus further includes a first switch connected between the output terminal and the comparator, and a second switch connected between the second connector and the comparator.

또한, 상기 제1 연결부 및 상기 제2 연결부는, 포고핀인 것을 특징으로 한다.The first connecting portion and the second connecting portion are pogo pins.

또한, 상기 기준 전압은, 상기 DC-DC 컨버터의 출력단으로부터 전달되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 한다.Also, the reference voltage is set to a voltage that is transmitted from the output terminal of the DC-DC converter.

또한, 상기 제1 스위치와 상기 비교부 사이에 연결되는 저항을 더 포함한다.The apparatus further includes a resistor connected between the first switch and the comparator.

본 발명의 표시 패널의 검사 방법은, 표시 패널의 커넥터에 제1 연결부와 제2 연결부를 접속시키는 단계, DC-DC 컨버터를 통해 상기 제1 연결부로 전압을 공급하는 단계 및 상기 제2 연결부의 전압과 기준 전압을 비교하여, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 단계를 포함한다.A method of inspecting a display panel of the present invention includes the steps of connecting a first connecting portion and a second connecting portion to a connector of a display panel, supplying a voltage to the first connecting portion through a DC-DC converter, And comparing the reference voltage with a reference voltage to detect a connection failure of the connector.

또한, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 단계는, 상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 상기 커넥터의 접속을 불량으로 판단하고, 상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 상기 커넥터의 접속을 정상으로 판단하는 것을 특징으로 한다.The detecting of the connection failure of the connector may include determining that the connection of the connector is defective when the difference between the voltage of the second connection portion and the reference voltage is equal to or greater than a preset reference value, When the difference between the reference voltages is smaller than a preset reference value, the connection of the connector is determined to be normal.

또한, 상기 커넥터의 접속이 불량으로 판단된 경우에는 제1 LED를 점등하고, 상기 커넥터의 접속이 정상으로 판단된 경우에는 제2 LED를 점등하는 단계를 더 포함한다.The method may further include lighting the first LED when the connection of the connector is determined to be defective, and lighting the second LED when the connection of the connector is determined to be normal.

또한, 상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부는, 포고핀인 것을 특징으로 한다.The first connecting portion and the second connecting portion are pogo pins.

또한, 상기 제1 연결부 및 상기 제2 연결부는, 상기 커넥터를 통해 상호간 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 한다.The first connection part and the second connection part may be electrically connected to each other through the connector.

또한, 상기 기준 전압은, 상기 DC-DC 컨버터의 출력단으로부터 전달되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 한다.Also, the reference voltage is set to a voltage that is transmitted from the output terminal of the DC-DC converter.

이상 살펴본 바와 같은 본 발명에 따르면, 검사 장치와 표시 패널의 접속 불량을 사전 검출함으로써, 검사 공정의 불량율을 낮출 수 있는 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention as described above, it is possible to provide an inspection apparatus and method for a display panel capable of reducing the defective rate of the inspection process by previously detecting connection failure between the inspection apparatus and the display panel.

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 터치 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이다. 1 is a view showing an apparatus for inspecting a display panel according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart illustrating an inspection method of a touch panel according to an embodiment of the present invention.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 이하의 설명에서 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 도면에서 본 발명과 관계없는 부분은 본 발명의 설명을 명확하게 하기 위하여 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in various forms. In the following description, it is assumed that a part is connected to another part, But also includes a case in which other elements are electrically connected to each other in the middle thereof. In the drawings, parts not relating to the present invention are omitted for clarity of description, and like parts are denoted by the same reference numerals throughout the specification.

이하, 본 발명의 실시예들 및 이를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법에 대해 설명하도록 한다.Hereinafter, an apparatus and method for testing a display panel according to an embodiment of the present invention will be described with reference to embodiments of the present invention and drawings for describing the same.

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다.1 is a view showing an apparatus for inspecting a display panel according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치(1)는 제1 연결부(31), 제2 연결부(32), DC-DC 컨버터(40) 및 비교부(50)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1, a display panel inspection apparatus 1 according to an embodiment of the present invention includes a first connection unit 31, a second connection unit 32, a DC-DC converter 40, and a comparison unit 50 .

표시 패널의 검사 장치(1)는 표시 패널(10)의 검사를 위하여 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)를 통해 표시 패널(10)에 존재하는 커넥터(20)에 연결될 수 있다. The inspection apparatus 1 of the display panel can be connected to the connector 20 existing on the display panel 10 through the first connection portion 31 and the second connection portion 32 for inspection of the display panel 10. [

이 때, 표시 패널(10)에 장착된 커넥터(20)는 통상의 B2B 커넥터(Board To Board Connector)로 구현될 수 있다. At this time, the connector 20 mounted on the display panel 10 can be implemented with a usual B2B connector (Board To Board Connector).

또한, 커넥터(20)에는 제1 연결부(31) 및 제2 연결부(32)와 각각 접촉되는 제1 패드(21) 및 제2 패드(22)가 포함될 수 있다. The connector 20 may include a first pad 21 and a second pad 22 that are in contact with the first connection part 31 and the second connection part 32, respectively.

그리고, 커넥터(20) 내의 제1 패드(21)와 제2 패드(22)는 상호간 전기적으로 연결되는 것이 바람직하다. The first pad 21 and the second pad 22 in the connector 20 are preferably electrically connected to each other.

커넥터(20)와 접속되는 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 포고핀(POGO Pin)으로 구현될 수 있다. The first connection part 31 and the second connection part 32 connected to the connector 20 may be implemented with a pogo pin.

제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 커넥터(20)에 접속됨으로써, 검사 장치(1)를 표시 패널(10)과 연결시키는 역할을 수행한다. The first connection part 31 and the second connection part 32 are connected to the connector 20 to connect the inspection device 1 with the display panel 10.

제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 커넥터(20)를 통하여 상호간 전기적으로 연결될 수 있다. The first connection part 31 and the second connection part 32 may be electrically connected to each other through the connector 20.

예를 들어, 제1 연결부(31) 및 제2 연결부(32)가 커넥터(20) 내부의 제1 패드(21) 및 제2 패드(22)에 각각 접촉되는 경우, 상호간 전기적으로 연결되는 제1 패드(21) 및 제2 패드(22)를 통해 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 전기적으로 연결될 수 있다. For example, when the first connecting portion 31 and the second connecting portion 32 are in contact with the first pad 21 and the second pad 22 in the connector 20, respectively, The first connection part 31 and the second connection part 32 may be electrically connected through the pad 21 and the second pad 22. [

DC-DC 컨버터(40)는 외부 전압(Vin)을 이용하여 표시 패널(10)의 구동을 위한 전압(ELVDD)을 생성하고, 생성된 전압(ELVDD)을 표시 패널(10)로 공급할 수 있다. The DC-DC converter 40 can generate the voltage ELVDD for driving the display panel 10 using the external voltage Vin and supply the generated voltage ELVDD to the display panel 10. [

이를 위하여, DC-DC 컨버터(40)의 출력단(41)은 제1 연결부(31)와 연결될 수 있다. To this end, the output stage 41 of the DC-DC converter 40 may be connected to the first connection 31.

따라서, DC-DC 컨버터(40)로부터 출력된 전압(ELVDD)은 제1 연결부(31)를 통해 커넥터(20)의 제1 패드(21)로 전달될 수 있으며, 결국 표시 패널(10) 내 구동 회로로 공급될 수 있다. Accordingly, the voltage ELVDD output from the DC-DC converter 40 can be transmitted to the first pad 21 of the connector 20 through the first connection portion 31, Circuit.

비교부(50)는 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref)을 비교하여, 커넥터(20)의 접속 불량 여부를 검출할 수 있다. The comparator 50 can compare the voltage Vcon of the second connection part 32 with the reference voltage Vref to detect whether or not the connection of the connector 20 is faulty.

즉, DC-DC 컨버터(40)로부터 출력된 전압(ELVDD)은 제1 연결부(31)와 제1 패드(21) 사이의 접촉 저항(contact resistance)에 의해 전압 강하(voltage drop) 되고, 상기 전압 강하된 전압은 제1 패드(21)와 전기적으로 연결된 제2 패드(22)를 통해 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)으로서 검출될 수 있다. That is, the voltage ELVDD output from the DC-DC converter 40 is voltage-dropped by the contact resistance between the first connection part 31 and the first pad 21, The lowered voltage can be detected as the voltage Vcon of the second connection portion 32 through the second pad 22 electrically connected to the first pad 21.

따라서, 전압 강하 정도가 이상 범위에 속하는 경우에는 커넥터(20)와 연결부(31, 32) 간의 접속이 불량하여 과도한 접촉 저항이 발생한 경우로 판단할 수 있다. Therefore, when the degree of the voltage drop falls within the abnormal range, it can be determined that the connection between the connector 20 and the connecting portions 31 and 32 is poor and excessive contact resistance has occurred.

구체적으로, 비교부(50)는 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref) 간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 커넥터(20)의 접속을 불량으로 판단하고, 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref) 간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 커넥터(20)의 접속을 정상으로 판단할 수 있다. Specifically, when the difference between the voltage Vcon of the second connection portion 32 and the reference voltage Vref is equal to or greater than a predetermined reference value, the comparison section 50 determines that the connection of the connector 20 is defective, The connection of the connector 20 can be judged to be normal when the difference between the voltage Vcon of the connector 32 and the reference voltage Vref is smaller than a preset reference value.

이 때, 비교부(50)에 입력되는 기준 전압(Vref)은 DC-DC 컨버터(40)의 출력단(41)으로부터 전달되는 전압으로 설정될 수 있다. At this time, the reference voltage Vref input to the comparator 50 may be set to a voltage that is transmitted from the output terminal 41 of the DC-DC converter 40.

즉, 비교부(50)는 상기 기준 전압(Vref)으로서 DC-DC 컨버터(40)의 출력 전압(ELVDD)을 이용할 수 있다. That is, the comparator 50 can use the output voltage ELVDD of the DC-DC converter 40 as the reference voltage Vref.

한편, 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치(1)는 양불 여부를 표시하기 위한 제1 LED(61)와 제2 LED(62)를 더 포함할 수 있다. Meanwhile, the inspection apparatus 1 of the display panel according to the embodiment of the present invention may further include a first LED 61 and a second LED 62 for indicating whether the display panel is bulky or not.

즉, 제1 LED(61)는 비교부(50)에 의해 커넥터(20)의 접속이 불량으로 판단된 경우에 점등될 수 있으며, 제2 LED(62)는 비교부(50)에 의해 커넥터(20)의 접속이 정상으로 판단된 경우에 점등될 수 있다. That is, the first LED 61 may be turned on when the connection of the connector 20 is determined to be bad by the comparison unit 50, and the second LED 62 may be turned on by the comparison unit 50 20 is determined to be normal.

사용자의 빠른 인식을 위하여, 제1 LED(61)와 제2 LED(62)의 발광 색상은 서로 상이하게 설정되는 것이 바람직하다. It is preferable that the light emission colors of the first LED 61 and the second LED 62 are set to be different from each other for quick recognition of the user.

제1 LED(61)와 제2 LED(62)의 제어는 비교부(50)에 의해 이루어질 수 있다.The control of the first LED 61 and the second LED 62 may be performed by the comparator 50. [

그러므로, 검사자는 불량을 나타내는 제1 LED(61)가 점등된 경우, 커넥터(20)의 접속 불량을 인식하여 추후 검사 공정을 수행하지 않고 커넥터(20)의 결합을 해제한 뒤, 다시 커넥터(20)와 연결부(31, 32)의 재결합을 수행할 수 있다. Therefore, when the first LED 61 indicating the failure is turned on, the inspector recognizes the connection failure of the connector 20, disconnects the connector 20 without performing the inspection process later, ) And the connection portions 31 and 32. In this case,

또한, 검사자는 정상을 나타낸 제2 LED(62)가 점등된 경우에는 커넥터(20)가 정상적으로 연결부(31, 32)와 결합된 것으로 판단하고, 후속 검사 공정을 진행할 수 있다. In addition, when the second LED 62 indicating normal status is turned on, the inspector can determine that the connector 20 is normally coupled with the connectors 31 and 32, and proceed to the subsequent inspection process.

또한, 본 발명의 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치(1)는 제1 스위치(SW1)와 제2 스위치(SW2)를 더 포함할 수 있다. In addition, the inspection apparatus 1 for a display panel according to the embodiment of the present invention may further include a first switch SW1 and a second switch SW2.

제1 스위치(SW1)는 DC-DC 컨버터(40)의 출력단(41)과 비교부(50) 사이에 접속될 수 있다. The first switch SW1 may be connected between the output terminal 41 of the DC-DC converter 40 and the comparator 50.

제2 스위치(SW2)는 제2 연결부(32)와 비교부(50) 사이에 접속될 수 있다. And the second switch SW2 may be connected between the second connection portion 32 and the comparison portion 50. [

제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)는 연결부(31, 32)가 커넥터(20)에 결합된 다음에 턴-온되어, 기준 전압(Vref)으로 작용하는 출력단(41)의 전압과 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)을 비교부(50)로 전달할 수 있다. The first switch SW1 and the second switch SW2 are turned on after the connection portions 31 and 32 are coupled to the connector 20 so that the voltage of the output terminal 41 acting as the reference voltage Vref The voltage Vcon of the second connection unit 32 can be transmitted to the comparison unit 50.

비교부(50)에 의해 커넥터(20)의 접속이 정상으로 판단된 경우, 제1 스위치(SW1)와 제2 스위치(SW2)는 턴-오프될 수 있다.When the comparison unit 50 determines that the connection of the connector 20 is normal, the first switch SW1 and the second switch SW2 may be turned off.

이 때, 제1 스위치(SW1)와 비교부(50) 사이에는 전압 스케일링 등을 위한 저항(R)이 설치될 수 있다.
At this time, a resistor R for voltage scaling or the like may be provided between the first switch SW1 and the comparator 50. [

도 2는 본 발명의 실시예에 의한 터치 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이다. 2 is a flowchart illustrating an inspection method of a touch panel according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 터치 패널의 검사 방법은 커넥터 접속 단계(S100), 전압 공급 단계(S200) 및 불량 검출 단계(S300)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 2, a method of inspecting a touch panel according to an exemplary embodiment of the present invention may include a connector connecting step S100, a voltage supplying step S200, and a defect detecting step S300.

커넥터 접속 단계(S100)에서는 검사 대상인 표시 패널(10)과 검사 장치(1)를 연결한다. In the connector connection step (S100), the display panel 10 to be inspected is connected to the inspection apparatus 1.

구체적으로, 표시 패널(10)의 커넥터(20)와 검사 장치(1)의 연결부(31, 32)를 접속시킬 수 있다. Concretely, the connector 20 of the display panel 10 and the connecting portions 31 and 32 of the inspection apparatus 1 can be connected.

이에 따라, 검사 장치(1)의 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)를 커넥터(20)에 접속될 수 있다.Accordingly, the first connection portion 31 and the second connection portion 32 of the inspection apparatus 1 can be connected to the connector 20.

전압 공급 단계(S200)에서는 표시 패널(10)의 구동을 위한 전압(ELVDD)을 제1 연결부(31)를 통해 표시 패널(10)로 공급한다. In the voltage supply step S200, the voltage ELVDD for driving the display panel 10 is supplied to the display panel 10 through the first connection part 31. [

즉, DC-DC 컨버터(40)에서 출력된 전압(ELVDD)은 제1 연결부(31) 및 커넥터(20)를 통해 표시 패널(10)로 전달될 수 있다. That is, the voltage ELVDD output from the DC-DC converter 40 can be transmitted to the display panel 10 through the first connection part 31 and the connector 20.

이 때, 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 커넥터(20)를 통하여 상호간 전기적으로 연결될 수 있다. At this time, the first connection part 31 and the second connection part 32 can be electrically connected to each other through the connector 20. [

예를 들어, 제1 연결부(31) 및 제2 연결부(32)가 커넥터(20) 내부의 제1 패드(21) 및 제2 패드(22)에 각각 접촉되는 경우, 상호간 전기적으로 연결되는 제1 패드(21) 및 제2 패드(22)를 통해 제1 연결부(31)와 제2 연결부(32)는 전기적으로 연결될 수 있다. For example, when the first connecting portion 31 and the second connecting portion 32 are in contact with the first pad 21 and the second pad 22 in the connector 20, respectively, The first connection part 31 and the second connection part 32 may be electrically connected through the pad 21 and the second pad 22. [

불량 검출 단계(S300)에서는 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref)을 비교하여, 커넥터(20)의 접속 불량 여부를 검출한다. In the failure detection step S300, the voltage Vcon of the second connection portion 32 is compared with the reference voltage Vref to detect whether or not the connection of the connector 20 is faulty.

구체적으로, 불량 검출 단계(S300)에서는 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref) 간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 커넥터(20)의 접속을 불량으로 판단하고, 제2 연결부(32)의 전압(Vcon)과 기준 전압(Vref) 간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 커넥터(20)의 접속을 정상으로 판단할 수 있다. Specifically, in the failure detection step S300, when the difference between the voltage Vcon of the second connection part 32 and the reference voltage Vref is equal to or greater than a preset reference value, the connection of the connector 20 is judged to be defective, When the difference between the voltage Vcon of the connecting portion 32 and the reference voltage Vref is smaller than a preset reference value, the connection of the connector 20 can be judged as normal.

이 때, 비교부(50)에 입력되는 기준 전압(Vref)은 DC-DC 컨버터(40)의 출력단(41)으로부터 전달되는 전압으로 설정될 수 있다. At this time, the reference voltage Vref input to the comparator 50 may be set to a voltage that is transmitted from the output terminal 41 of the DC-DC converter 40.

즉, 불량 검출 단계(S300)에서는 상기 기준 전압(Vref)으로서 DC-DC 컨버터(40)의 출력 전압(ELVDD)을 이용할 수 있다. That is, in the failure detection step S300, the output voltage ELVDD of the DC-DC converter 40 can be used as the reference voltage Vref.

상기와 같은 불량 검출 단계(S300)의 진행 후, LED 점등 단계(S400)를 진행할 수 있다. After proceeding to the defect detection step S300, the LED lighting step S400 may be performed.

LED 점등 단계(S400)에서는 커넥터(20)의 접속이 불량으로 판단된 경우에 제1 LED(61)를 점등시키고, 커넥터(20)의 접속이 정상으로 판단된 경우에 제2 LED(62)를 점등시킬 수 있다. In the LED lighting step S400, when the connection of the connector 20 is determined to be defective, the first LED 61 is turned on, and when the connection of the connector 20 is determined to be normal, the second LED 62 is turned on It can be turned on.

따라서, 검사자는 제1 LED(61)와 제2 LED(62)를 통해 커넥터(20) 접속의 양불 여부를 신속히 파악할 수 있게 된다. Accordingly, the inspector can quickly ascertain whether the connection of the connector 20 is open or closed through the first LED 61 and the second LED 62.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the foregoing detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and the equivalents thereof are included in the scope of the present invention Should be interpreted.

1: 표시 패널의 검사 장치
10: 표시 패널
20: 커넥터
31: 제1 연결부
32: 제2 연결부
40: DC-DC 컨버터
41; 출력단
50: 비교기
61: 제1 LED
62: 제2 LED1: Inspection device of display panel
10: Display panel
20: Connector
31: first connection portion
32: second connection portion
40: DC-DC converter
41; Output stage
50: comparator
61: first LED
62: Second LED

Claims (13)

표시 패널의 커넥터에 접속되고, 상기 커넥터를 통해 상호간 전기적으로 연결되는 제1 연결부와 제2 연결부;
상기 제1 연결부와 연결되는 출력단을 구비하여, 상기 출력단으로 전압을 출력하는 DC-DC 컨버터; 및
상기 제2 연결부의 전압과 기준 전압을 비교하여, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 비교부; 를 포함하는 표시 패널의 검사 장치. A first connection part and a second connection part connected to the connector of the display panel and electrically connected to each other through the connector;
A DC-DC converter having an output terminal connected to the first connection unit and outputting a voltage to the output terminal; And
A comparison unit comparing the voltage of the second connection unit with a reference voltage to detect connection failure of the connector; And a display panel. 제1항에 있어서, 상기 비교부는,
상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 상기 커넥터의 접속을 불량으로 판단하고,
상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 상기 커넥터의 접속을 정상으로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치. The apparatus according to claim 1,
When the difference between the voltage of the second connection portion and the reference voltage is equal to or greater than a preset reference value,
And determines that the connection of the connector is normal when the difference between the voltage of the second connection part and the reference voltage is smaller than a preset reference value. 제2항에 있어서,
상기 커넥터의 접속이 불량으로 판단된 경우에 점등되는 제1 LED; 및
상기 커넥터의 접속이 정상으로 판단된 경우에 점등되는 제2 LED; 를 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치. 3. The method of claim 2,
A first LED that is turned on when the connection of the connector is determined to be bad; And
A second LED that is turned on when the connection of the connector is determined to be normal; Further comprising: a display panel; 제1항에 있어서,
상기 출력단과 상기 비교부 사이에 접속되는 제1 스위치; 및
상기 제2 연결부와 상기 비교부 사이에 접속되는 제2 스위치; 를 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치.The method according to claim 1,
A first switch connected between the output terminal and the comparator; And
A second switch connected between the second connection unit and the comparison unit; Further comprising: a display panel; 제1항에 있어서, 상기 제1 연결부 및 상기 제2 연결부는,
포고핀인 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.[2] The apparatus of claim 1, wherein the first connection part and the second connection part comprise:
Wherein the display panel is a pogo pin. 제1항에 있어서, 상기 기준 전압은,
상기 DC-DC 컨버터의 출력단으로부터 전달되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치. 2. The method of claim 1,
And the voltage is set to a voltage that is transmitted from the output terminal of the DC-DC converter. 제4항에 있어서,
상기 제1 스위치와 상기 비교부 사이에 연결되는 저항; 을 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치. 5. The method of claim 4,
A resistor connected between the first switch and the comparator; Further comprising: a display panel; 표시 패널의 커넥터에 제1 연결부와 제2 연결부를 접속시키는 단계;
DC-DC 컨버터를 통해 상기 제1 연결부로 전압을 공급하는 단계; 및
상기 제2 연결부의 전압과 기준 전압을 비교하여, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 단계; 를 포함하는 표시 패널의 검사 방법. Connecting the first connection portion and the second connection portion to the connector of the display panel;
Supplying a voltage to the first connection through a DC-DC converter; And
Comparing a voltage of the second connection unit with a reference voltage to detect connection failure of the connector; The method comprising the steps of: 제8항에 있어서, 상기 커넥터의 접속 불량을 검출하는 단계는,
상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 이상인 경우, 상기 커넥터의 접속을 불량으로 판단하고,
상기 제2 연결부의 전압과 상기 기준 전압간 차이가 기설정된 기준값 보다 작은 경우, 상기 커넥터의 접속을 정상으로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법. 9. The method of claim 8, wherein detecting the connection failure of the connector comprises:
When the difference between the voltage of the second connection portion and the reference voltage is equal to or greater than a preset reference value,
And determining that the connection of the connector is normal when the difference between the voltage of the second connection portion and the reference voltage is smaller than a preset reference value. 제9항에 있어서,
상기 커넥터의 접속이 불량으로 판단된 경우에는 제1 LED를 점등하고, 상기 커넥터의 접속이 정상으로 판단된 경우에는 제2 LED를 점등하는 단계; 를 더 포함하는 표시 패널의 검사 방법. 10. The method of claim 9,
Lighting the first LED when the connection of the connector is determined to be defective, and lighting the second LED when the connection of the connector is determined to be normal; The method comprising the steps of: 제8항에 있어서, 상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부는,
포고핀인 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법. [10] The apparatus of claim 8, wherein the first connection part and the second connection part comprise:
Wherein the display panel is a pogo pin. 제8항에 있어서, 상기 제1 연결부 및 상기 제2 연결부는,
상기 커넥터를 통해 상호간 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법. [9] The apparatus of claim 8, wherein the first connection part and the second connection part comprise:
And electrically connected to each other through the connector. 제8항에 있어서, 상기 기준 전압은,
상기 DC-DC 컨버터의 출력단으로부터 전달되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법. 9. The method of claim 8,
Wherein the voltage is set to a voltage that is transmitted from an output terminal of the DC-DC converter.
KR1020120117534A 2012-10-22 2012-10-22 Apparatus for inspecting display panel and method thereof KR102037069B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120117534A KR102037069B1 (en) 2012-10-22 2012-10-22 Apparatus for inspecting display panel and method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120117534A KR102037069B1 (en) 2012-10-22 2012-10-22 Apparatus for inspecting display panel and method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140051002A true KR20140051002A (en) 2014-04-30
KR102037069B1 KR102037069B1 (en) 2019-10-30

Family

ID=50655907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120117534A KR102037069B1 (en) 2012-10-22 2012-10-22 Apparatus for inspecting display panel and method thereof

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102037069B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220115730A (en) 2021-02-10 2022-08-18 삼성디스플레이 주식회사 Inspection apparatus for display module

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030095906A (en) * 2002-06-15 2003-12-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Apparatus of probing lighting for liquid crystal display
US20120105085A1 (en) * 2010-10-28 2012-05-03 Au Optronics Corporation Display device and system for inspecting bonding resistance and inspecting method thereof

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030095906A (en) * 2002-06-15 2003-12-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Apparatus of probing lighting for liquid crystal display
US20120105085A1 (en) * 2010-10-28 2012-05-03 Au Optronics Corporation Display device and system for inspecting bonding resistance and inspecting method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR102037069B1 (en) 2019-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106920496B (en) Detection method and detection device for display panel
US10373538B2 (en) Judging method of array test reliability, testing method and device of organic light emitting backplane
US20080100561A1 (en) System and Method for Managing LED Backlight Performance in a Display
KR102482034B1 (en) Organic light emitting display device and reparing method thereof
KR102549004B1 (en) Lighting test device, lighting test method and lighting test system
US20090027313A1 (en) Imaging device
CN101118713A (en) Display panel inspection apparatus and method
KR20190110167A (en) Display device and crack detection method thereof
US10777106B2 (en) Display quality monitoring and calibration
WO2023092694A1 (en) Compensation method and compensation device for display panel
KR101815495B1 (en) LCD/OLED Display Panel Inspection method and System
KR102450337B1 (en) Display device and method of inspecting the same
JP4358018B2 (en) Method and apparatus for inspecting AMOLED drive circuit
KR102103840B1 (en) System and method of testing organic light emitting display device capable of testing automatically contact between probe and pad
KR20090067627A (en) Inspecting apparatus for liquid crystal display and control method thereof
KR20140096621A (en) Display Device Included Touch Screen and Method for Inspect The Touch Screen
KR100662994B1 (en) Organic light emitting display and mother board of the same and testing method using the same
KR100840875B1 (en) Flat display panel inspection system
KR102037069B1 (en) Apparatus for inspecting display panel and method thereof
US11622447B2 (en) Display device and driving method thereof
US20040189559A1 (en) Method and system for testing driver circuits of amoled
CN115938255A (en) Display detection device, detection method and detection system
JP2011169992A (en) Light emitting device, electronic device, device and method for inspecting light emitting panel, and method for canceling voltage drop of the light emitting device
KR20160150237A (en) Driving voltage determining device and driving voltage determining method
CN107818748B (en) Display panel detection method and device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant