KR20130009687A - Poly-urethane resin and poly-urethane absorbing pad using the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A polyurethane resin composition capable of providing supporting pads with high compression ratio and compression recovery rate and a polyurethane adsorption pad using the same are provided to minimize surface defect, roughness, and waviness. CONSTITUTION: A polyurethane resin composition comprises first and second polyurethane resins which include a soft part which includes residue of polyol including ethylene glycol and 1,4- butanediol at the molar ratio of 2:8-8:2 and residue of polycarboxylic acid and a hard part which includes the residue of polyisocyanate compound and residue of chain extender, an organic solvent includes one or more selected from dimethylformaldehyde and methylethylketone.

Description

폴리우레탄 수지 조성물 및 이를 이용한 폴리우레탄 흡착 패드{POLY-URETHANE RESIN AND POLY-URETHANE ABSORBING PAD USING THE SAME}Polyurethane resin composition and polyurethane adsorption pad using the same {POLY-URETHANE RESIN AND POLY-URETHANE ABSORBING PAD USING THE SAME}

본 발명은 폴리우레탄 수지 조성물 및 폴리우레탄 지지 패드에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 함유하고 높은 압축율 및 압축 회복율을 나타내며 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 또는 유리 등의 연마 공정에 사용되어 표면 결함 및 거칠기, waviness를 최소화할 수 있는 지지 패드를 제공할 수 있는 폴리우레탄 수지 조성물과 이러한 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리우레탄 지지 패드에 관한 것이다. The present invention relates to a polyurethane resin composition and a polyurethane support pad. More specifically, the present invention relates to a polyurethane resin composition and a polyurethane support pad. More specifically, the present invention relates to a substrate or glass used in a semiconductor device or a display device. A polyurethane resin composition that can be used in a polishing process to provide a support pad that can minimize surface defects, roughness, and waviness, and a polyurethane support pad obtained from such a resin composition.

고집적도를 요구하는 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용 되는 기판은 미세하고 정밀한 표면이 요구되기 때문에 다양한 평탄화 방법이 적용되고 있다. 특히, 반도체 소자 또는 디스플레이 장치의 고집적화 및 고성능화 추세에 따라, 연마 패드와 피연마체 사이에 연마 입자 및 다양한 화학 성분을 포함하는 슬러리 조성물을 공급하면서, 연마 패드와 피연마체를 상대적으로 이동시켜 연마 하는 방법이 일반적을 사용되고 있다. 이러한 연마 방법에서는 보다 정밀한 연마를 위해서 연마 또는 가공 과정에서 일정한 위치와 자세를 유지할 수 있도록 상기 피연마체를 지지 패드 상에 고정시키고 있다. Since a substrate used in a semiconductor device or a display device requiring high integration requires a fine and precise surface, various planarization methods have been applied. In particular, according to a trend toward higher integration and higher performance of semiconductor devices or display devices, a method of relatively moving the polishing pad and the polished body while supplying a slurry composition including the abrasive particles and various chemical components between the polishing pad and the polished body is performed. This general is being used. In such a polishing method, the polished body is fixed on the support pad to maintain a constant position and posture during polishing or processing for more accurate polishing.

한편, 일본특허공개 제2006-334745에는 폴리올류, 폴리이소시아네이트류, 발포제, 촉매 및 발수성 부여제를 반응 및 경화시켜 얻어지는 폴리우레탄 발포체 및 이를 이용하여 얻어지는 연마용 지지 패드에 관하여 나타나 있다. 그러나, 상기 폴리우레탄 발포체는 물, 메틸렌 클로라이드 또는 탄산 가스 등의 발포제를 사용하여 얻어지는 것으로서, 이러한 발포체는 상대적으로 높은 경도를 갖거나, 내부에 길고 큰 기공을 균일하게 형성시키기가 어렵고, 낮은 경도 영역에서 높은 압출율 및 압출 탄성율을 확보하는 것은 용이하지 않았다. On the other hand, Japanese Patent Laid-Open No. 2006-334745 discloses a polyurethane foam obtained by reacting and curing polyols, polyisocyanates, blowing agents, catalysts, and water repellent imparting agents, and a polishing support pad obtained using the same. However, the polyurethane foam is obtained by using a blowing agent such as water, methylene chloride or carbon dioxide gas, such foam has a relatively high hardness, or difficult to uniformly form long and large pores therein, low hardness region It was not easy to ensure high extrusion rate and extrusion elastic modulus at.

그리고, 이전의 지지 패드는 내부에 기공이 서로 다른 크기를 가지며 불규칙적으로 분포하여 피연마체에 대한 쿠션 성능과 흡착력이 좋지 않았으며, 또한 연마 과정에서 피연마체가 지지 패드상에 견고히 고정되지 못하여 정밀한 연마가 이루어질 수 없는 문제가 있었다. 또한, 이전의 지지 패드는 내부에 형성된 기포가 불균일한 크기 및 분포를 나타내어 압출율 및 압출 탄성율 등의 물성도 좋지 않았을 뿐만 아니라, 발수 기능도 충분하지 못하여 피연마체가 연마 또는 가공 과정에서 쉽게 이탈하는 문제점을 가지고 있었다. In addition, the previous support pads have different sizes of pores therein and are irregularly distributed, so that the cushion performance and adsorption force on the polished body was not good, and the polishing body was not firmly fixed on the support pad during the polishing process. There was a problem that could not be achieved. In addition, the previous support pad has a non-uniform size and distribution of the bubbles formed therein, not only poor physical properties such as extrusion rate and extrusion modulus, but also insufficient water repellency so that the abrasive can easily be removed during polishing or processing. Had a problem.

이에 따라, 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판을 보다 정밀하고 효율적인 연마를 가능하게 하는 새로운 지지 패드의 개발이 필요한 실정이다. Accordingly, there is a need for the development of new support pads that enable more accurate and efficient polishing of substrates used in semiconductor devices or display devices.

일본특허공개 제2006-334745Japanese Patent Publication No. 2006-334745

본 발명은, 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 함유하고 높은 압축율 및 압축 회복율을 나타내며 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 또는 유리 등의 연마 공정에 사용되어 표면 결함 및 거칠기, waviness를 최소화할 수 있는 지지 패드를 제공할 수 있는 폴리우레탄 수지 조성물을 제공하기 위한 것이다. The present invention has a long and large pores uniformly therein, exhibits a high compression rate and compression recovery rate and can be used in a polishing process such as a substrate or glass used in a semiconductor device or a display device to minimize surface defects, roughness, and waviness It is to provide a polyurethane resin composition capable of providing a support pad.

또한, 본 발명은 상기 폴리우레탄 수지 조성물로부터 형성되는 폴리우레탄 지지 패드를 제공하기 위한 것이다. In addition, the present invention is to provide a polyurethane support pad formed from the polyurethane resin composition.

본 발명은, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제1폴리우레탄 수지; 상기 제1폴리우레탄 수지와 다른 조성을 가지며, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제2폴리우레탄 수지; 디메틸포름아미드(DMF) 및 메틸에틸케톤(MEK)으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는 유기 용매; 및 계면 활성제를 포함하고, 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각이 상기 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기 20 내지 32중량%를 포함하는, 폴리우레탄 수지 조성물을 제공한다. The present invention provides a soft portion including residues of polyol and residues of polycarboxylic acid containing 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, and residues and chains of polyisocyanate compounds. A first polyurethane resin comprising a hard part including residues of an extender; A soft portion having a composition different from that of the first polyurethane resin and comprising a residue of a polyol and a residue of a polycarboxylic acid containing 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, A second polyurethane resin comprising a hard part including a residue of a polyisocyanate compound and a residue of a chain extender; An organic solvent comprising at least one member selected from the group consisting of dimethylformamide (DMF) and methyl ethyl ketone (MEK); And a surfactant, wherein each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin comprises 20 to 32 wt% of the residue of the polyisocyanate compound.

또한, 본 발명은 상기 폴리우레탄 수지 조성물의 습식 응고물을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드를 제공한다. The present invention also provides a polyurethane support pad comprising the wet coagulated product of the polyurethane resin composition.

이하 발명의 구체적인 구현예에 따른 폴리우레탄 수지 조성물 및 폴리우레탄 지지 패드에 관해서 보다 상세하게 설명하기로 한다.
Hereinafter, a polyurethane resin composition and a polyurethane support pad according to specific embodiments of the present invention will be described in more detail.

본 명세서에서 '지지 패드'는 반도체 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 제조 과정 중, 연마 공정에서 연마 대상막을 캐리어에 밀착 또는 고정시켜주는 역할을 하는 패드를 의미한다.As used herein, the term “support pad” refers to a pad that serves to closely adhere or fix the polishing target film to a carrier in a polishing process during a substrate manufacturing process used in a semiconductor or display device.

또한, 본 명세서에서, ‘잔기’는 특정한 화합물이 화학 반응에 참여하였을 때, 그 화학 반응의 결과물에 포함되고 상기 특정 화합물로부터 유래한 일정한 부분 또는 단위를 의미한다. 예를 들어, 상기 '폴리올 성분의 잔기'는 반응 결과물 중에서 폴리올 성분으로부터 유래한 부분을 의미한다.
In addition, in the present specification, 'residue' means a certain part or unit included in the result of the chemical reaction and derived from the specific compound when the specific compound participates in the chemical reaction. For example, the 'residue of the polyol component' means a portion derived from the polyol component in the reaction product.

발명의 일 구현예에 따르면, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율(molar ratio)로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제1폴리우레탄 수지; 상기 제1폴리우레탄 수지와 다른 조성을 가지며, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율(molar ratio)로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제2폴리우레탄 수지; 디메틸포름아미드(DMF) 및 메틸에틸케톤(MEK)으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는 유기 용매; 및 계면 활성제를 포함하고, 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각이 상기 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기 20 내지 32중량%를 포함하는, 폴리우레탄 수지 조성물이 제공될 수 있다. According to one embodiment of the invention, the soft portion including the residue of the polyol and the residue of the polyol containing 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8 and A first polyurethane resin comprising a hard part including a residue of a polyisocyanate compound and a residue of a chain extender; It has a composition different from that of the first polyurethane resin, and includes a residue of a polyol and a residue of a polycarboxylic acid containing 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8. A second polyurethane resin comprising a soft part and a hard part including a residue of a polyisocyanate compound and a residue of a chain extender; An organic solvent comprising at least one member selected from the group consisting of dimethylformamide (DMF) and methyl ethyl ketone (MEK); And a surfactant, wherein each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin includes 20 to 32 wt% of the residue of the polyisocyanate compound.

본 발명자들의 연구 결과, 서로 상이한 화학 구조를 갖는 상기 2이상의 폴리우레탄 수지를 혼합하여 얻어진 수지 조성물을 사용하면, 단일한 폴리우레탄 수지를 사용하였을 때보다 우수한 효과, 예를 들어 길고 큰 기공이 내부에 균일하게 형성되고 우수한 압축율 및 높은 압축 회복율을 나타낼 수 있는 폴리우레탄 흡착 패드가 제공되는 효과가 구현된다는 점이 확인되었다. As a result of the researches of the present inventors, using the resin composition obtained by mixing the two or more polyurethane resins having different chemical structures with each other, a better effect than when using a single polyurethane resin, for example, long and large pores inside It has been found that the effect of providing a polyurethane adsorption pad which is uniformly formed and can exhibit good compression and high compression recovery is realized.

또한, 상기 상이한 폴리우레탄 수지 각각은, 폴리우레탄 수지의 연질부 및 경질부를 이루는 구체적인 성분 및 이들의 구성비가 특정 범위로 조절되어 있는 수지일 수 있으며, 이에 따라 상기 폴리우레탄 수지는 서로 다른 화학 구조를 가질 수 있다. In addition, each of the different polyurethane resins may be resins in which specific components constituting the soft and hard portions of the polyurethane resin and their composition ratios are controlled in a specific range, and thus the polyurethane resin may have different chemical structures. Can have

구체적으로, 상기 폴리우레탄 수지 조성물에 포함되는 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각은 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율(molar ratio)로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함할 수 있다. Specifically, each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin included in the polyurethane resin composition includes 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8. The soft part including the residue of the polyol and the residue of the polycarboxylic acid, and the hard part including the residue of the polyisocyanate compound and the residue of the chain extender.

그리고, 이러한 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지는 서로 다른 조성, 즉 수지 내부에 포함되는 특정 화합물 유래 잔기들 또는 이들의 함량이 서로 다를 수 있다. In addition, the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may have different compositions, that is, residues derived from a specific compound included in the resin, or contents thereof.

구체적으로, 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 각각에 포함된 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량이 서로 다를 수 있다. 또한, 상기 제1폴리우레탄 수지의 폴리올의 잔기와 제2폴리우레탄 수지의 폴리올의 잔기가 각각 포함하는 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜의 잔기의 몰비는 서로 다를 수 있다. 그리고, 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 각각의 연질부를 이루는 화합물의 잔기, 예를 들어 상기 연질부가 폴리에스테르 폴리올로부터 유래하는 경우에는 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 각각에 포함되는 폴리에스테르 폴리올의 중량평균분자량이 상이할 수 있다. Specifically, the content of the residues of the polyisocyanate compound included in each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may be different. In addition, the molar ratios of the residues of the polyols of the first polyurethane resin and the residues of 1,4-butane diol and ethylene glycol included in the residues of the polyols of the second polyurethane resin may be different. In addition, when the residue of the compound forming the soft portion of each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin, for example, the soft portion is derived from a polyester polyol, the first polyurethane resin and the second polyurethane resin, respectively The weight average molecular weight of the polyester polyol contained in may be different.

후술하는 실시예에서 확인되는 바와 같이, 본 발명자들은 상술한 구체적인 성분 및 함량을 범위 내에서 서로 다른 조성 또는 구성을 갖는 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지를 사용하는 경우, 이들 각각을 사용한 경우 우수한 물성 및 풀질을 갖는 지지 패드를 제조할 수 있다는 점을 실험을 통하여 확인하였다. As can be seen in the examples below, the present inventors used the first polyurethane resin and the second polyurethane resin having different compositions or configurations within the ranges of the specific components and contents described above, respectively. In the case it was confirmed through the experiment that the support pad having excellent physical properties and quality can be prepared.

즉, 본 발명자들은 서로 다른 조성 또는 구성을 갖는 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지를 혼합하여 사용함으로서, 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 함유하고 높은 압축율 및 압축 회복율을 나타내며 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 또는 유리 등의 연마 공정에 사용되어 표면 결함 및 거칠기, waviness를 최소화할 수 있는 지지 패드를 제조하였다. That is, the present inventors use a mixture of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin having different compositions or configurations to uniformly contain long and large pores therein and exhibit high compression ratio and compression recovery ratio. It was used in a polishing process such as a substrate or glass used in the device to produce a support pad that can minimize surface defects, roughness, waviness.

한편, 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 각각은 연질부와 경질부를 포함할 수 있으며, 상기 연질부는 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율(molar ratio)로, 또는 6:4 내지 4:6의 몰비율로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함할 수 있으며, 상기 경질부는 상기 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함할 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지는 상기 연질부와 경질부를 포함함에 따라서 일정한 탄성을 가질 수 있다.Meanwhile, each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may include a soft portion and a hard portion, and the soft portion may contain 1,4-butane diol and ethylene glycol at a molar ratio of 8: 2 to 2: 8 ( molar ratio), or a moiety ratio of 6: 4 to 4: 6, and a moiety of polyol and a moiety of a polycarboxylic acid, wherein the hard part is a moiety of the polyisocyanate compound and a moiety of a chain extender. It may include. The polyurethane resin may have a constant elasticity as the soft portion and the hard portion are included.

상기 연질부는 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율, 바람직하게는 6:4 내지 4:6의 몰비율로 포함하는 폴리올과 폴리카르복실산 간의 반응물을 포함할 수 있으며, 이러한 반응물은 폴리에스테르 폴리올일 수 있다. 이에 따라, 상기 연질부는 상기 특정의 폴리에스테르 폴리올의 잔기를 포함할 수 있다. 상기 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜의 몰비율은 8:2 내지 2:8의 범위일 수 있으며, 예를 들어 8:2, 7:3, 6:4, 5:5, 4:6, 3:7, 2:8 또는 이들 사이의 비율일 수 있다. The soft part comprises a reactant between a polyol and a polycarboxylic acid comprising 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, preferably in a molar ratio of 6: 4 to 4: 6. The reactant may be a polyester polyol. Accordingly, the soft portion may include residues of the specific polyester polyol. The molar ratio of the 1,4-butane diol and ethylene glycol may range from 8: 2 to 2: 8, for example 8: 2, 7: 3, 6: 4, 5: 5, 4: 6, 3: 7, 2: 8 or a ratio between them.

그리고, 제1폴리우레탄 수지에서의 1,4-부탄 디올:에틸렌 글리콜의 몰비와 제2폴리우레탄 수지에서의 1,4-부탄 디올:에틸렌 글리콜의 몰비의 평균값은 7:3 내지 3:7, 또는 6:4 내지 4:6일 수 있다. 즉, 상기 제1 및 제2 폴리우레탄 수지 각각의 연질부는 8:2 내지 2:8의 몰비율로 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 포함할 수 있으며, 이러한 몰비를 산술적으로 평균한 값이 7:3 내지 3:7, 또는 6:4 내지 4:6이면 상기 폴리우레탄 수지 조성물로부터 보다 바람직한 물성 및 품질을 갖는 지지 패드가 제공될 수 있다. The average value of the molar ratio of 1,4-butane diol: ethylene glycol in the first polyurethane resin and the molar ratio of 1,4-butane diol: ethylene glycol in the second polyurethane resin is 7: 3 to 3: 7, Or 6: 4 to 4: 6. That is, the soft part of each of the first and second polyurethane resins may include 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, and the arithmetical average of these molar ratios is If it is 7: 3-3: 7, or 6: 4-4: 6, the support pad which has more preferable physical property and quality from the said polyurethane resin composition can be provided.

상기 폴리에스테르 폴리올은 1000 내지 4,000의 중량평균분자량을 가질 수 있다. 이러한 폴리에스테르 폴리올의 분자량은 폴리우레탄 수지 내부에서 연질부가 차지하는 비율에 영향을 미칠 수 있으며, 지지 패드의 압축율, 압축회복율 또는 기공의 형태 및 크기에 영향을 미칠 수 있다. The polyester polyol may have a weight average molecular weight of 1000 to 4,000. The molecular weight of such polyester polyols can affect the proportion of soft parts in the polyurethane resin, and can affect the compression rate, compression recovery rate or the shape and size of the pores of the support pad.

상술한 바와 같이, 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각에 포함되는 폴리에스테르 폴리올의 중량평균분자량은 서로 같거나 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 혼합 시에, 상기 제1폴리우레탄 수지의 연질부 및 상기 제2폴리우레탄 수지의 연질부 각각에 포함되는 폴리에스테르 폴리올은 1,000 내지 4,000의 중량평균 분자량을 가질 수 있다. 바람직하게는, 상기 제1폴리우레탄 수지의 연질부 및 상기 제2폴리우레탄 수지의 연질부 각각에 포함되는 폴리에스테르 폴리올의 중량 평균분자량의 평균값(각각의 중량평균분자량 수치의 평균)이 1,200 내지 2,400일 수 있다. As described above, the weight average molecular weight of the polyester polyol included in each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may be the same or different. For example, when the first polyurethane resin and the second polyurethane resin are mixed, the polyester polyol included in each of the soft part of the first polyurethane resin and the soft part of the second polyurethane resin may be 1,000 to 4,000. It may have a weight average molecular weight of. Preferably, the average value (average of each weight average molecular weight value) of the weight average molecular weight of the polyester polyol contained in each of the soft portion of the first polyurethane resin and the soft portion of the second polyurethane resin is 1,200 to 2,400. Can be.

한편, 상기 폴리카르복실산은 탄소수 4 내지 8의 디카르복실산을 포함할 수 있으며, 바람직하게는 아디프산(adipic acid)일 수 있다. On the other hand, the polycarboxylic acid may include a dicarboxylic acid having 4 to 8 carbon atoms, preferably adipic acid (adipic acid).

상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지의 경질부는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함할 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기 20 내지 32중량%, 바람직하게는 21 내지 30중량%를 포함할 수 있다. The hard part of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may include a residue of a polyisocyanate compound and a residue of a chain extender. The polyurethane resin may comprise 20 to 32% by weight, preferably 21 to 30% by weight of the residue of the polyisocyanate compound.

상술한 바와 같이, 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각의 경질부에 포함되는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량은 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 혼합 시에, 상기 제1폴리우레탄 수지의 경질부에 포함되는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량은 20 내지 25중량%일 수 있고, 상기 제2폴리우레탄 수지의 경질부에 포함되는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량은 25 내지 32중량%일 수 있다. 바람직하게는, 상기 제1폴리우레탄 수지 및 상기 제2폴리우레탄 수지 각각의 경질부에 포함되는 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량의 평균값(각각의 함량 수치의 평균)이 23 내지 30중량%일 수 있다. As described above, the content of the residue of the polyisocyanate compound included in the hard part of each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may be different. For example, when the first polyurethane resin and the second polyurethane resin are mixed, the content of the residue of the polyisocyanate compound included in the hard part of the first polyurethane resin may be 20 to 25% by weight. The content of the residue of the polyisocyanate compound included in the hard part of the second polyurethane resin may be 25 to 32% by weight. Preferably, the average value of the content of the residues of the polyisocyanate compound included in the hard part of each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may be 23 to 30% by weight. .

상기 폴리이소시아네트 화합물의 잔기는 제조되는 지지 패드의 모듈러스 특성에 영향을 미치는 부분이다. 상기 폴리우레탄 수지에서 폴리이소시아네트 화합물로부터 유래하는 부분의 함량이 너무 작으면, 폴리우레탄 지지 패드의 경질부 함량이 너무 작아지거나, 제조되는 패드가 충분한 경도나 두께를 갖기 어려울 수 있으며, 패드의 내부에 기공이 충분히 형성되지 않거나 형성되는 기공의 형태가 크기가 적절하지 않을 수 있다. 또한, 상기 폴리우레탄 수지에서 폴리이소시아네트 화합물로부터 유래하는 부분의 함량이 너무 크면, 제조되는 지지 패드의 경도가 과도하게 커지거나 이의 압축율 또는 압축 회복율이 크게 저하될 수 있다. Residues of the polyisocyanate compounds are those that affect the modulus properties of the support pads produced. If the content of the portion derived from the polyisocyanate compound in the polyurethane resin is too small, the hard portion content of the polyurethane support pad may be too small, or the pad to be manufactured may not have sufficient hardness or thickness, the inside of the pad The pores may not be sufficiently formed or the shape of the pores formed may not be appropriate in size. In addition, when the content of the portion derived from the polyisocyanate compound in the polyurethane resin is too large, the hardness of the support pad to be produced may be excessively large or its compression rate or compression recovery rate may be greatly reduced.

상기 폴리이소시아네이트계 화합물은 이소시아네이트기(isocyanate)기를 복수로 가지는 화합물을 의미한다. 이러한 폴리이소시아네이트계 화합물은 지방족, 지환족, 아르지방족, 방향족 및 헤테로고리형 작용기를 포함하는 폴리이소시아네이트일 수 있으며, 화학식 Q(NCO)n으로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 n은 2 내지 4의 정수이고, Q는 C 원자를 2 내지 18개, 바람직하게는 6 내지 10개 함유하는 지방족, 지환족, 방향족 또는 아르지방족 탄화수소 작용기일 수 있다. 이러한 폴리이소시아네이트계 화합물의 구체적인 예로는, 에틸렌 디이소시아네이트, 1,4-테트라메틸렌 디이소시아네이트, 1,6-헥사메틸렌 디이소시아네이트(HDI), 1,12-도데칸 디이소시아네이트, 시클로부탄-1,3-디이소시아네이트, 시클로헥산-1,3- 디이소시아네이트, 시클로헥산-1,4-디이소시아네이트, 1-이소시아네이토-3,3,5-트리메틸-5-이소시아네이토메틸-시클로헥산, 2,4- 헥사히드로톨루엔 디이소시아네이트, 2,6-헥사히드로톨루엔 디이소시아네이트, 헥사히드로-1,3- 페닐렌 디이소시아네이트, 헥사히드로-1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 퍼히드로-2,4'- 디페닐메탄 디이소시아네이트, 퍼히드로-4,4'-디페닐메탄 디이소시아네이트, 1,3- 페닐렌 디이소시아네이트, 1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 디머릴 디이소시아네이트(dimeryl diisocyanate, DDI), 4,4'-스틸벤 디이소시아네이트, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐렌 디이소시아네이트(TODI), 톨루엔 2,4-디이소시아네이트, 톨루엔 2,6-디이소시아네이트(TDI), 디페닐메탄-2,4'- 디이소시아네이트(MDI), 2,2'-디페닐메탄 디이소시아네이트(MDI), 디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트(MDI), 나프틸렌-1,5-이소시아네이트(NDI) 또는 이들의 2이상의 혼합물 등이 있다.The polyisocyanate compound means a compound having a plurality of isocyanate groups. Such polyisocyanate-based compounds may be polyisocyanates containing aliphatic, cycloaliphatic, araliphatic, aromatic and heterocyclic functional groups, and may be represented by the formula Q (NCO) n. In this case, n is an integer of 2 to 4, Q may be an aliphatic, alicyclic, aromatic or araliphatic hydrocarbon functional group containing 2 to 18, preferably 6 to 10 C atoms. Specific examples of such polyisocyanate compounds include ethylene diisocyanate, 1,4-tetramethylene diisocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate (HDI), 1,12-dodecane diisocyanate, cyclobutane-1,3 -Diisocyanate, cyclohexane-1,3- diisocyanate, cyclohexane-1,4-diisocyanate, 1-isocyanato-3,3,5-trimethyl-5-isocyanatomethyl-cyclohexane, 2,4-hexahydrotoluene diisocyanate, 2,6-hexahydrotoluene diisocyanate, hexahydro-1,3-phenylene diisocyanate, hexahydro-1,4-phenylene diisocyanate, perhydro-2,4 '-Diphenylmethane diisocyanate, perhydro-4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 1,3-phenylene diisocyanate, 1,4-phenylene diisocyanate, dimeryl diisocyanate (DDI) , 4,4'-Stilbene Diisocy Anate, 3,3'-dimethyl-4,4'-biphenylene diisocyanate (TODI), toluene 2,4-diisocyanate, toluene 2,6-diisocyanate (TDI), diphenylmethane-2,4 '-Diisocyanate (MDI), 2,2'-diphenylmethane diisocyanate (MDI), diphenylmethane-4,4'-diisocyanate (MDI), naphthylene-1,5-isocyanate (NDI) or these And mixtures of two or more thereof.

상기 사슬 연장제는 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 포함할 수 있으며, 바람직하게는 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 1:9 내지 9:1의 몰 비율, 보다 바람직하게는 5:5 내지 9:1의 몰비로 포함할 수 있다. 상기 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 사슬 연장제로 사용함에 따라, 특히 상기 몰 비율로 사용함에 따라서, 상기 폴리우레탄 수지 및 이를 이용한 지지 패드가 적정한 밀도 또는 경도를 가질 수 있고 일정 두께 이상으로 제조할 수 있으며, 최종 제품에서 요구되는 압축율, 탄성율 그리고 밀도 및 경도 등을 확보할 수 있다. The chain extender may comprise ethylene glycol and 1,4-butanediol, preferably ethylene glycol and 1,4-butanediol in a molar ratio of 1: 9 to 9: 1, more preferably 5: 5 to It may be included in a molar ratio of 9: 1. When ethylene glycol and 1,4-butanediol are used as a chain extender, the polyurethane resin and the support pad using the polyurethane resin can have an appropriate density or hardness, And the compressibility, elastic modulus, density and hardness required in the final product can be secured.

상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각은 100,000 내지 900,000, 바람직하게는 200,000 내지 600,000의 중량평균분자량를 가질 수 있다. 이러한 폴리우레탄 수지의 중량평균분자량은 30%의 고형분 수준을 기준으로 한 것일 수 있다. 상기 범위의 분자량을 갖는 폴리우레탄 수지를 사용하면 다수의 기공이 균일한 크기와 균일한 분포로 형성될 수 있다. Each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin may have a weight average molecular weight of 100,000 to 900,000, preferably 200,000 to 600,000. The weight average molecular weight of the polyurethane resin may be based on a solid level of 30%. When using a polyurethane resin having a molecular weight in the above range, a plurality of pores can be formed in a uniform size and uniform distribution.

한편, 상기 수지 조성물을 사용하여 지지 패드를 제조하는 과정에서는 끓은 점이 높은 용매를 사용하는 것이 바람직하며, 구체적으로 상기 폴리우레탄 수지 조성물은 디메틸포름아미드(DMF), 메틸에틸케톤(MEK), 또는 이들의 혼합물을 포함하는 유기 용매를 포함할 수 있으며, 바람직하게는 디메틸포름아미드를 포함할 수 있다. 이와 같이, 디메틸포름아미드(DMF), 메틸에틸케톤(MEK), 또는 이들의 혼합물을 포함하는 유기 용매는 상대적으로 끓은점이 높아서 폴리우레탄 수지 고형분의 물성을 그대로 유지할 수 있다. 또한, 상기 유기 용매는 높은 친수성을 가져서, 패드 제조 과정의 응고 과정에서 수용액과 용이하게 치환할 수 있고, 이에 따라 지지 패드 내부에 길고 큰 기공을 균일하게 형성될 수 있게 한다. Meanwhile, in the process of preparing the support pad using the resin composition, it is preferable to use a solvent having a high boiling point. Specifically, the polyurethane resin composition may include dimethylformamide (DMF), methyl ethyl ketone (MEK), or these. It may comprise an organic solvent comprising a mixture of, preferably may include dimethylformamide. As such, the organic solvent including dimethylformamide (DMF), methyl ethyl ketone (MEK), or a mixture thereof may have a relatively high boiling point to maintain the physical properties of the polyurethane resin solid. In addition, the organic solvent has a high hydrophilicity, so that it can be easily replaced with an aqueous solution during the solidification process of the pad manufacturing process, thereby allowing long and large pores to be uniformly formed inside the support pad.

이러한 유기 용매는 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지를 합한 100중량부에 대하여 100 내지 600중량부로 포함될 수 있다. Such an organic solvent may be included in an amount of 100 to 600 parts by weight based on 100 parts by weight of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin.

상기 폴리우레탄 수지 조성물은 응고 과정을 통하여 내부에 기공이 형성된 폴리우레탄 지지 패드를 형성할 수 있는데, 이러한 기공 형성은 폴리우레탄 수지, 물 및 유기 용매의 상분리 현상에 의한다. 구체적으로, 상기 디메틸포름아미드(DMF), 메틸에틸케톤(MEK), 또는 이들의 혼합물을 포함하는 유기 용매에 용해된 폴리우레탄 수지가 일정한 수용액이 채워진 응고조에 침지되면, 상기 폴리우레탄 수지와 상기 유기 용매가 상분리되며, 상분리 상태의 유기 용매는 수용액 또는 물과 교체되면서 기공을 형성하게 된다. 이와 같이 기공이 형성된 이후에 수세 과정 및 건조 과정으로 통하여 잔류하는 유기 용매 등을 제거함으로서, 연마 장치의 지지 패드 제조에 사용될 수 있는 폴리우레탄 수지 패드가 제조될 수 있다. The polyurethane resin composition may form a polyurethane support pad having pores therein through a solidification process, which is formed by phase separation of the polyurethane resin, water, and an organic solvent. Specifically, when the polyurethane resin dissolved in an organic solvent including the dimethylformamide (DMF), methyl ethyl ketone (MEK), or a mixture thereof is immersed in a coagulation bath filled with a certain aqueous solution, the polyurethane resin and the organic The solvent is phase-separated, and the organic solvent in the phase-separated state forms pores while being replaced with an aqueous solution or water. Thus, by removing the organic solvent and the like remaining through the washing and drying process after the pores are formed, a polyurethane resin pad that can be used to manufacture the support pad of the polishing apparatus can be produced.

한편, 상기 폴리우레탄 수지 조성물은 계면활성제를 포함할 수 있는데, 상기 계면활성제는 폴리우레탄 수지에 사용될 수 있는 것으로 알려진 비이온성 계면활성제, 음이온성 계면활성제 또는 이들의 혼합물을 포함한다. On the other hand, the polyurethane resin composition may comprise a surfactant, the surfactant comprises a nonionic surfactant, anionic surfactant or mixtures thereof known to be used in the polyurethane resin.

상기 음이온성 계면활성제는 응고되는 조성물의 전 영역에 걸쳐 물이 균일하게 침투할 수 있게 하며, 폴리우레탄 수지, 물 및 유기 용매의 상분리가 일정 부분에 집중되지 않게 할 수 있어서, 지지 패드 내부에 기공이 매우 균일하게 형성될 수 있게 한다. 이러한 음이온성 계면활성제는 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지를 합한 100중량부에 대하여 0.1 내지 10 중량부, 바람직하게는 0.5 내지 5중량부로 포함할 수 있다. 상기 음이온성 계면활성제의 함량이 너무 작으면 기공이 너무 작게 형성되거나 기공의 형태가 길어지지 않을 수 있으며, 상기 함량이 너무 크면 기공이 너무 크게 형성되거나 기공의 분포가 균일하지 못 할 수 있다. 이러한 음이온성 계면활성제의 예로는 호박산, 탄소수 9 내지 15의 알킬 벤젠 설폰산 또는 이의 염 등이 있다. The anionic surfactants allow the water to penetrate uniformly over the entire area of the composition to be solidified and prevent the phase separation of the polyurethane resin, water, and the organic solvent from being concentrated in a certain portion, thereby allowing pores inside the support pad. This makes it possible to form very uniformly. Such anionic surfactant may include 0.1 to 10 parts by weight, preferably 0.5 to 5 parts by weight, based on 100 parts by weight of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin. If the content of the anionic surfactant is too small, the pores may be formed too small or the form of the pores may not be long. If the content is too large, the pores may be formed too large or the distribution of pores may not be uniform. Examples of such anionic surfactants include succinic acid, alkyl benzene sulfonic acids having 9 to 15 carbon atoms or salts thereof.

또한, 상기 비이온성 계면활성제는 상기 폴리우레탄 수지 조성물의 응고 속도를 높이거나 기공 형상을 균일하게 할 수 있다. 이러한 비온성 계면활성제는 상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지를 합한 100중량부에 대하여 0.1 내지 10, 바람직하게는 0.5 내지 5중량부로 포함될 수 있다. 상기 비이온성 계면활성제의 함량이 높으면 기공 형상이 불균일해 질 수 있으며, 너무 낮으면 응고 속도가 너무 작을 수 있다. 이러한 비이온성 계면활성제의 예로는 실리콘계 고분자, 실리콘 오일, 글리세롤계열 고분자 또는 탄화수소 계열 고분자 등을 들 수 있다.In addition, the nonionic surfactant may increase the solidification rate of the polyurethane resin composition or make the pore shape uniform. Such a nonionic surfactant may be included in an amount of 0.1 to 10, preferably 0.5 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the sum of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin. If the content of the nonionic surfactant is high, the pore shape may become uneven, and if it is too low, the solidification rate may be too small. Examples of such nonionic surfactants include silicone-based polymers, silicone oils, glycerol-based polymers, or hydrocarbon-based polymers.

상기 폴리우레탄 수지 조성물은 지지 패드의 흡착력을 높이거나 패드의 표면을 평탄하게 만들기 위해서 실리콘계 고분자를 더 포함할 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지 조성물은 발수제, 충진제, 발수제, 기공 크기 조절제 및 안료로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 첨가제를 더 포함할 수 있다.The polyurethane resin composition may further include a silicone-based polymer in order to increase the adsorption force of the support pad or to make the surface of the pad flat. The polyurethane resin composition may further include at least one additive selected from the group consisting of a water repellent, a filler, a water repellent, a pore size regulator, and a pigment.

한편, 상기 폴리우레탄 수지의 합성에서는, 상술한 폴리에스테르 폴리올, 사슬 연장제 및 폴리이소시아네이트계 화합물 간의 반응에서 일정한 촉매를 선택적으로 사용할 수 있으며, 예를 들어 아민계 촉매, 유기 티탄 화합물, 유기 주석 화합물계 촉매 또는 이들의 혼합물 등을 사용할 수 있다. 이때 사용되는 촉매의 양은 폴리우레탄 수지 전체 중 0.01wt% 내지 5wt%일 수 있다. 상기 촉매의 바람직한 예로는 유기 주석 화합물계 촉매를 들 수 있으며, 구체적으로 주석(II) 아세테이트, 주석(II) 옥토에이트, 주석(II) 에틸헥소에이트 또는 주석(II) 라우레이트 등의 카르복실산의 주석(II)염과, 디부틸틴 옥사이드, 디부틸틴 디클로라이드, 디부틸틴 디아세테이트, 디부틸틴 디라우레이트, 디부틸틴 말레이트 또는 디옥틸틴 디아세테이트 등의 주석(IV) 화합물을 들 수 있다.
On the other hand, in the synthesis of the polyurethane resin, a constant catalyst can be selectively used in the reaction between the polyester polyol, the chain extender and the polyisocyanate compound described above, for example, an amine catalyst, an organic titanium compound, an organic tin compound. System catalysts or mixtures thereof. The amount of catalyst used may be 0.01wt% to 5wt% of the total polyurethane resin. Preferred examples of the catalyst include an organic tin compound catalyst, and specifically, a carboxylic acid such as tin (II) acetate, tin (II) octoate, tin (II) ethylhexate or tin (II) laurate Tin (II) salts and tin (IV) compounds such as dibutyltin oxide, dibutyltin dichloride, dibutyltin diacetate, dibutyltin dilaurate, dibutyltin maleate or dioctyltin diacetate Can be mentioned.

한편, 발명의 다른 일 구현예에 따르면, 상기 폴리우레탄 수지 조성물의 습식 응고물을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드가 제공될 수 있다. Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, a polyurethane support pad including a wet coagulated product of the polyurethane resin composition may be provided.

상술한 바와 같이, 상기 폴리우레탄 흡착 패드는 서로 상이한 구조를 갖는 2이상의 폴리우레탄 수지, 예를 들어 상술한 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지를 포함할 수 있으며, 이에 따라 단일한 폴리우레탄 수지를 포함한 흡착 패드에 비하여 더 나은 효과를 구현할 수 있다. As described above, the polyurethane adsorption pad may include two or more polyurethane resins having different structures from each other, for example, the first polyurethane resin and the second polyurethane resin described above, and thus a single polyurethane Better effects can be achieved compared to adsorption pads containing resins.

또한, 상기 폴리우레탄 흡착 패드는, 서로 상이한 구조를 갖는 2이상의 폴리우레탄 수지를 포함할 뿐만 아니라, 각각의 폴리우레탄 수지의 경질 세그먼트와 연질 세그먼트의 구체적인 구성 성분 및 이들의 비율을 특정 범위로 조절함으로서, 이전에 알려진 흡착 패드에 비하여 더 나은 효과를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 폴리우레탄 흡착 패드는, 길고 큰 기공이 내부에 균일하게 형성되어 있으며, 우수한 압축율 및 높은 압축 회복율을 나타낼 수 있고, 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 또는 유리 등의 연마 공정의 흡착 패드로 사용되어 표면 결함 및 거칠기, waviness를 최소화할 수 있다.In addition, the polyurethane adsorption pad not only includes two or more polyurethane resins having different structures from each other, but also controls specific components and ratios of the hard and soft segments of each polyurethane resin to a specific range. It can have a better effect than the previously known adsorption pads. Specifically, the polyurethane adsorption pad has long and large pores uniformly formed therein, and may exhibit excellent compression ratio and high compression recovery ratio, and may be adsorbed on a polishing process such as a substrate or glass used in a semiconductor device or a display device. It can be used as a pad to minimize surface defects, roughness and waviness.

또한, 상기 폴리우레탄 수지 조성물로부터 제조되는 폴리우레탄 지지 패드는 내부에 길고 큰 기공을 균일하게 형성되어서 낮은 경도, 우수한 압출율 및 높은 압출 탄성율을 가질 수 있다. 또한, 상기 폴리우레탄 지지 패드는 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 형성되어 있어서, 연마 대상막와의 사이에 생성된 공기를 용이하게 내부로 전달받을 수 있고 전 영역으로 균일하게 분산시킬 수 있기 때문에, 연마시 발생할 수 있는 불량을 최소화시킬 수 있다.In addition, the polyurethane support pad prepared from the polyurethane resin composition may have a long and large pores uniformly formed therein to have a low hardness, excellent extrusion rate and high extrusion elastic modulus. In addition, since the polyurethane support pad has long and large pores uniformly formed therein, the air generated between the film and the polishing target film can be easily transferred to the inside and uniformly dispersed throughout the entire area. Minimize defects that may occur during

상기 폴리우레탄 지지 패드는 상기 폴리우레탄 수지 조성물이 응고되어 형성될 수 있다. 구체적으로, 상기 폴리우레탄 지지 패드는 상기 폴리우레탄 수지 조성물을 형성하는 단계; 상기 폴리우레판 수지 조성물을 일정한 기재나 틀에 도포 또는 투입하여 코팅층을 형성하는 단계; 상기 코팅층을 응고하는 단계; 및 상기 조성물의 응고물을 수세, 탈수 및 건조하는 단계를 통하여 제조될 수 있다. The polyurethane support pad may be formed by solidifying the polyurethane resin composition. Specifically, the polyurethane support pad to form the polyurethane resin composition; Forming or coating the polyurea resin composition on a predetermined substrate or frame; Solidifying the coating layer; And it can be prepared through the step of washing, dehydrating and drying the coagulum of the composition.

상기 코팅층을 응고하는 단계에서는 상기 코팅층이 형성된 기재나 틀을 디메틸포름아미드(DMF) 수용액, 메틸에틸케톤(MEK) 수용액 또는 이들의 혼합물이 채워져 있는 응고조, 예를 들어 1 내지 20%의 DMF수용액이 채워져 있는 응고조에 투입하여 이루어질 수 있다. 상기 응고 과정에서는 폴리우레탄 수지 내부의 유기 용매(예를 들어, 디메틸포름아미드 또는 메틸에틸케톤)가 물과 교체되면서 폴리우레탄 수지가 서서히 응고되고 이에 따라 다수의 기공이 형성될 수 있다. 상기 응고조 내의 유기 용매의 농도를 조절함으로서 응고 시간이나 제조되는 지지 패드 내의 기공 크기를 조절할 수 있다. In the step of solidifying the coating layer, the substrate or frame on which the coating layer is formed is filled with a dimethylformamide (DMF) aqueous solution, methyl ethyl ketone (MEK) aqueous solution, or a mixture thereof, for example, 1 to 20% aqueous DMF solution. This can be done by putting in a filled coagulation bath. In the solidification process, as the organic solvent (eg, dimethylformamide or methyl ethyl ketone) inside the polyurethane resin is replaced with water, the polyurethane resin may be gradually solidified and thus a plurality of pores may be formed. By adjusting the concentration of the organic solvent in the coagulation bath it is possible to control the coagulation time or the pore size in the support pad to be produced.

상기 폴리우레탄 지지 패드는 0.5 내지 3mm, 바람직하게는 1 내지 2.5mm의 두께를 가질 수 있으며, 0.10 내지 0.50g/㎤, 바람직하게는 0.15 내지 0.30 g/㎤의 밀도를 가질 수 있다. The polyurethane support pad may have a thickness of 0.5 to 3 mm, preferably 1 to 2.5 mm, and may have a density of 0.10 to 0.50 g / cm 3, preferably 0.15 to 0.30 g / cm 3.

또한, 상기 폴리우레탄 지지 패드는 상술한 특정의 폴리우레탄 수지 조성물을 사용하여 제조됨에 따라서, 20 내지 25의 Asker C 경도, 바람직하게는 21 내지 23의 Asker C 경도를 가질 수 있다. In addition, the polyurethane support pad may be manufactured using the specific polyurethane resin composition described above, and may have Asker C hardness of 20 to 25, preferably Asker C hardness of 21 to 23.

상기 폴리우레탄 지지 패드는 35% 이상의 압축율 및 92%이상의 압축 탄성율을 가질 수 있다. The polyurethane support pad can have a compression ratio of at least 35% and a compression modulus of at least 92%.

상기 폴리우레탄 지지 패드는 100㎛ 내지 500㎛의 최장 직경을 갖는 기공을 포함할 수 있다. 그리고, 상기 기공들 중 서로 이웃하는 기공의 근접한 최외각부의 거리가 10㎛ 내지 50㎛ 일 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지 조성물의 응고물을 포함하는 폴리우레탄 수지 내에는 긴 타원형 유사한 형태의 기공들이 균일하게 분포할 수 있다.The polyurethane support pad may include pores having a longest diameter of 100 μm to 500 μm. The distance between adjacent outermost portions of the pores adjacent to each other may be 10 μm to 50 μm. In the polyurethane resin including the coagulum of the polyurethane resin composition, pores having a long elliptical similar shape may be uniformly distributed.

본 발명에 따르면, 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 함유하고 높은 압축율 및 압축 회복율을 나타내며 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 또는 유리 등의 연마 공정에 사용되어 표면 결함 및 거칠기, waviness를 최소화할 수 있는 지지 패드가 제공될 수 있다.According to the present invention, long and large pores are uniformly contained therein, exhibit high compressibility and compression recovery rate, and can be used in polishing processes such as substrates or glass used in semiconductor devices or display devices to minimize surface defects, roughness and waviness. Support pads may be provided.

도1은 실시예 1의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
도2은 실시예 2의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
도3은 실시예 3의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
도4은 실시예 4의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
도5는 비교예1의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
도6는 비교예2의 폴리우레탄 수지 조성물로부터 얻어진 지지 패드의 단면 광학 현미경 사진을 나타낸 것이다.
1 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Example 1. FIG.
FIG. 2 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Example 2. FIG.
3 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Example 3. FIG.
4 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Example 4. FIG.
5 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Comparative Example 1. FIG.
6 shows a cross-sectional optical micrograph of a support pad obtained from the polyurethane resin composition of Comparative Example 2. FIG.

이하, 발명의 구체적인 실시예를 통해, 발명의 작용 및 효과를 보다 상술하기로 한다. 다만, 이러한 실시예는 발명의 예시로 제시된 것에 불과하며, 이에 의해 발명의 권리범위가 정해지는 것은 아니다.
Hereinafter, the operation and effects of the invention will be described in more detail with reference to specific examples of the invention. It is to be understood, however, that these embodiments are merely illustrative of the invention and are not intended to limit the scope of the invention.

<< 실시예Example  And 비교예Comparative example : 폴리우레탄 수지 및 디스플레이용 유리연마 : Polyurethane resin and glass polishing for display 지지패드의Of support pad 제조> Manufacturing>

[[ 실시예Example ]]

1. 폴리우레탄 수지의 제조 1. Preparation of Polyurethane Resin

아디프산, 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 200℃의 온도, 500 내지 760mmHg의 감압 조건 및 진공 대기 조건에서 반응시켜 폴리에스테르 폴리올을 합성하였다. 이때, 에틸렌 글리콜:1,4-부탄디올의 몰비와 합성된 폴리에스테르 폴리올의 중량평균분자량은 하기 표2에 기재된 바와 같았다. Adipic acid, ethylene glycol and 1,4-butanediol were reacted at a temperature of 200 ° C., under reduced pressure of 500 to 760 mmHg, and under vacuum atmospheric conditions to synthesize polyester polyols. At this time, the molar ratio of ethylene glycol: 1,4-butanediol and the weight average molecular weight of the synthesized polyester polyol were as shown in Table 2 below.

상압(1atm) 및 상온(RT)하에서, 디부틸틴 디라우레이트의 존재 하에, 상기 합성된 폴리에스테르 폴리올, 사슬 연장제(에틸렌 글리콜) 및 DMF를 반응기에 넣고 80℃까지 승온하였다. 반응 온도인 80℃까지 승온한 시점에서, 디페닐메탄 디이소시아네이트(MDI)를 투입하고 2시간 동안 교반하면서 반응 용액의 점도를 조절하여 폴리우레탄 수지를 제조하였다.
At atmospheric pressure (1 atm) and at room temperature (RT), in the presence of dibutyltin dilaurate, the synthesized polyester polyol, chain extender (ethylene glycol) and DMF were placed in a reactor and heated to 80 ° C. When the temperature was raised to the reaction temperature of 80 ℃, diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added and stirred for 2 hours to adjust the viscosity of the reaction solution to prepare a polyurethane resin.

2. 폴리우레탄 수지 조성물 및 지지 패드의 제조2. Preparation of Polyurethane Resin Composition and Support Pad

하기 표1에 기재된 양으로 상기 제조된 2종의 폴리우레탄 수지, DMF용액, 및 첨가제를 혼합하고, 페인트 쉐이커로 10분간 고속 교반한 후, 3000rpm에서 10분간 원심분리하여 슬러리(slurry)상인 폴리우레탄 수지 조성물을 얻었다. The two polyurethane resins, the DMF solution, and the additives prepared in the amounts shown in Table 1 were mixed, stirred at high speed with a paint shaker for 10 minutes, and then centrifuged at 3000 rpm for 10 minutes to form a slurry. The resin composition was obtained.

상기 얻어진 폴리우레탄 수지 조성물을 PET필름 상에 2.00mm의 두께로 코팅한 후, 4 Brix% 농도의 응고조에서 응고 과정을 진행하였다. 이후, 얻어진 응고물을 수세, 탈수, 건조하여 폴리우레탄 지지 패드를 제조하였다.After coating the obtained polyurethane resin composition to a thickness of 2.00mm on a PET film, the coagulation process was performed in a coagulation bath of 4 Brix% concentration. Thereafter, the obtained coagulum was washed with water, dehydrated and dried to prepare a polyurethane support pad.

구체적인 응고, 수세 및 탈수 조건은 다름과 같았다. Specific coagulation, washing and dehydration conditions were as follows.

* Coating 공정 set* Coating process set

- 응고 time(min)/temp.(℃) : 30~35/35~37     -Solidification time (min) / temp. (℃): 30 ~ 35/35 ~ 37

- 수세 time(회)/temp.(℃) : 12/65      -Washing time (time) / temp. (℃): 12/65

- coating dam 두께 : 2mm
-coating dam thickness: 2mm

[ [ 비교예Comparative example ]]

1. 폴리우레탄 수지의 제조 1. Preparation of Polyurethane Resin

아디프산, 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 200℃의 온도, 500 내지 760mmHg의 감압 조건 및 진공 대기 조건에서 반응시켜 폴리에스테르 폴리올을 합성하였다. 이때, 에틸렌 글리콜:1,4-부탄디올의 몰비와 합성된 폴리에스테르 폴리올의 중량평균분자량은 하기 표2의 실시예3의 PU2수지(비교예1) 및 실시예4의 PU2수지(비교예2)와 같았다. Adipic acid, ethylene glycol and 1,4-butanediol were reacted at a temperature of 200 ° C., under reduced pressure of 500 to 760 mmHg, and under vacuum atmospheric conditions to synthesize polyester polyols. At this time, the molar ratio of ethylene glycol: 1,4-butanediol and the weight average molecular weight of the synthesized polyester polyol are the PU2 resin (Comparative Example 1) and the PU2 resin (Comparative Example 2) of Example 3 in Table 2 below. It was like

상압(1atm) 및 상온(RT)하에서, 디부틸틴 디라우레이트의 존재 하에, 상기 합성된 폴리에스테르 폴리올, 사슬 연장제(에틸렌 글리콜) 및 DMF를 반응기에 넣고 80℃까지 승온하였다. 반응 온도인 80℃까지 승온한 시점에서, 디페닐메탄 디이소시아네이트(MDI)를 투입하고 2시간 동안 교반하면서 반응 용액의 점도를 조절하여 폴리우레탄 수지를 제조하였다.
At atmospheric pressure (1 atm) and at room temperature (RT), in the presence of dibutyltin dilaurate, the synthesized polyester polyol, chain extender (ethylene glycol) and DMF were placed in a reactor and heated to 80 ° C. When the temperature was raised to the reaction temperature of 80 ℃, diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added and stirred for 2 hours to adjust the viscosity of the reaction solution to prepare a polyurethane resin.

2. 폴리우레탄 수지 조성물 및 지지 패드의 제조2. Preparation of Polyurethane Resin Composition and Support Pad

상기 제조된 폴리우레탄 수지 단독으로 사용한 점을 제외하고 실시예와 동일한 방법으로 폴리우레탄 지지 패드를 제조하였다.
A polyurethane support pad was prepared in the same manner as in Example, except that the polyurethane resin was used alone.

첨가제 투입량Additive dosage PU
수지
PU
Suzy
SD
-7
SD
-7
SD
-11
SD
-11
8I8I 607607 CBCB DMFDMF 발수제
PS
Water repellent agent
PS
FAT
-7
FAT
-7
DBSADBSA PEG
200
PEG
200
질량 (g)Mass (g) 5050 0.750.75 22 0.250.25 0.150.15 3.53.5 3030 1One 0.750.75 0.250.25 1One

1) SD-7, SD-11: 비이온성 계면활성제(펜타켐)1) SD-7, SD-11: Nonionic Surfactant (Pentachem)

2) 8I, 607, CB: 첨가제2) 8I, 607, CB: additive

3) FAT-7: 충진제(펜타켐)FAT-7: Filler (Pentachem)

4) DBSA: 파라-도데실벤젠설폰산4) DBSA: para-dodecylbenzenesulfonic acid

5) PEG200: 중량평균분자량 200의 폴리에틸렌글리콜
5) PEG200: polyethylene glycol with a weight average molecular weight of 200

실시예의 폴리우레탄 수지의 조성 및 지지 패드의 압축률/압축회복률 측정 결과The composition of the polyurethane resin of the Example and the measurement result of the compression rate / compression recovery rate of the support pad 실시예Example 구분division 폴리올Polyol MDI함량
(%)
MDI Content
(%)
혼합비Mixing ratio 압축률
(%)
Compression ratio
(%)
압축회복률
(%)
Compression Recovery Rate
(%)
BD:EGBD: EG 분자량Molecular Weight 1One PU수지1PU resin 1 5:55: 5 20002000 2121 0.50.5 4040 9292 PU수지2PU resin 2 5:55: 5 20002000 3030 0.50.5 22 PU수지1PU resin 1 8:28: 2 20002000 3030 0.50.5 4040 9292 PU수지2PU resin 2 5:55: 5 20002000 3030 0.50.5 33 PU수지1PU resin 1 5:55: 5 10001000 2121 0.50.5 4040 9292 PU수지2PU resin 2 5:55: 5 20002000 3030 0.50.5 44 PU수지1PU resin 1 5:55: 5 20002000 2121 0.50.5 4040 9292 PU수지2PU resin 2 5:55: 5 20002000 2525 0.50.5

상기 표2에 나타난 바와 같이, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 특정 비율로 포함한 폴리올과 특정 함량의 폴리이소시아네이트 화합물을 사용하여 제조되는 폴리우레탄 수지를 2종으로 사용하면, 높은 압축율 및 압축 회복율, 예를 들어 35%이상의 압축율과 92%이상의 압축 회복율을 갖는 지지패드가 제조될 수 있다는 점이 확인되었다.As shown in Table 2, when two kinds of polyurethane resins prepared using a polyol containing 1,4-butanediol and ethylene glycol in a specific ratio and a polyisocyanate compound in a specific content are used, a high compression ratio and a compression recovery rate For example, it has been confirmed that a support pad having a compression ratio of 35% or more and a compression recovery rate of 92% or more can be manufactured.

그리고, 하기 도 1 내지 4에 나타난 바와 같이, 상기 실시예의 폴리우레탄 지지 패드 내부에는 100㎛ 내지 500㎛의 최장 직경을 갖는 기공이 균일하게 분포하고 있다는 점을 확인할 수 있었다. And, as shown in Figures 1 to 4, it was confirmed that the pores having the longest diameter of 100 ㎛ to 500 ㎛ in the polyurethane support pad of the embodiment was uniformly distributed.

이에 반하여, 하기 도 5 및 6에 나타난 바와 같이, 상기 비교예의 폴리우레탄 지지 패드 내부에 형성되는 기공이 실시예에서 보여지는 기공에 비하여 길이가 짧거나 그 숫자가 작을 뿐만 아니라, 그 분포 균일도도 실시예에 비하여 떨어진다는 점이 확인되었다. 즉, 이러한 비교예의 폴리우레탄 수지는 실제 연마 공정에 적용될 수 있는 품질을 확보하기 어렵다는 점이 확인되었다. On the contrary, as shown in FIGS. 5 and 6, pores formed in the polyurethane support pad of the comparative example are shorter in length or smaller in number than the pores shown in the examples, and also uniform in their distribution. It was confirmed that the fall compared to the example. That is, it was confirmed that the polyurethane resin of this comparative example is difficult to secure the quality that can be applied to the actual polishing process.

Claims (17)

1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제1폴리우레탄 수지;
상기 제1폴리우레탄 수지와 다른 조성을 가지며, 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜을 8:2 내지 2:8의 몰비율로 포함하는 폴리올의 잔기와 폴리카르복실산의 잔기를 포함한 연질부와, 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기와 사슬 연장제의 잔기를 포함한 경질부를 포함하는 제2폴리우레탄 수지;
디메틸포름아미드(DMF) 및 메틸에틸케톤(MEK)으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는 유기 용매; 및 계면 활성제를 포함하고,
상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각이 상기 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기 20 내지 32중량%를 포함하는, 폴리우레탄 수지 조성물.
Soft moieties comprising residues of polyols and residues of polycarboxylic acids comprising 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, residues of polyisocyanate compounds and residues of chain extenders A first polyurethane resin comprising a hard portion including;
A soft portion having a composition different from that of the first polyurethane resin and comprising a residue of a polyol and a residue of a polycarboxylic acid containing 1,4-butane diol and ethylene glycol in a molar ratio of 8: 2 to 2: 8, A second polyurethane resin comprising a hard part including a residue of a polyisocyanate compound and a residue of a chain extender;
An organic solvent comprising at least one member selected from the group consisting of dimethylformamide (DMF) and methyl ethyl ketone (MEK); And surfactants,
The polyurethane resin composition, wherein each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin comprises 20 to 32 wt% of the residue of the polyisocyanate compound.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지와 제2폴리우레탄 수지 각각에 포함된 폴리이소시아네이트 화합물의 잔기의 함량이 서로 다른 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
Polyurethane resin composition having a different content of the residues of the polyisocyanate compound contained in each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지의 폴리올의 잔기와 제2폴리우레탄 수지의 폴리올의 잔기가 서로 상이한 1,4-부탄 디올 및 에틸렌 글리콜의 몰비를 갖는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
A polyurethane resin composition having a molar ratio of 1,4-butane diol and ethylene glycol, wherein the residue of the polyol of the first polyurethane resin and the residue of the polyol of the second polyurethane resin are different from each other.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지에서의 1,4-부탄 디올:에틸렌 글리콜의 몰비와 상기 제2폴리우레탄 수지에서의 1,4-부탄 디올:에틸렌 글리콜의 몰비의 평균값은 7:3 내지 3:7인, 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The average value of the molar ratio of 1,4-butane diol: ethylene glycol in the first polyurethane resin and the molar ratio of 1,4-butane diol: ethylene glycol in the second polyurethane resin is 7: 3 to 3: 7. , Polyurethane resin composition.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각의 연질부가 1000 내지 4,000의 중량평균분자량을 갖는 폴리에스테르 폴리올의 잔기를 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
A polyurethane resin composition comprising a residue of a polyester polyol having a weight average molecular weight of 1000 to 4,000 of the soft portion of each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin.
제5항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각에 포함되는 폴리에스테르 폴리올의 중량평균분자량이 상이한, 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 5,
The polyurethane resin composition which differs in the weight average molecular weight of the polyester polyol contained in each of the said 1st polyurethane resin and the 2nd polyurethane resin.
제1항에 있어서,
상기 폴리카르복실산은 탄소수 4 내지 8의 디카르복실산을 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The polycarboxylic acid is a polyurethane resin composition containing a dicarboxylic acid having 4 to 8 carbon atoms.
제1항에 있어서,
상기 폴리이소시아네이트 화합물은 디이소시아네이트, 1,4-테트라메틸렌 디이소시아네이트, 1,6-헥사메틸렌 디이소시아네이트(HDI), 1,12-도데칸 디이소시아네이트, 시클로부탄-1,3-디이소시아네이트, 시클로헥산-1,3- 디이소시아네이트, 시클로헥산-1,4-디이소시아네이트, 1-이소시아네이토-3,3,5-트리메틸-5-이소시아네이토메틸-시클로헥산, 2,4- 헥사히드로톨루엔 디이소시아네이트, 2,6-헥사히드로톨루엔 디이소시아네이트, 헥사히드로-1,3- 페닐렌 디이소시아네이트, 헥사히드로-1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 퍼히드로-2,4'- 디페닐메탄 디이소시아네이트, 퍼히드로-4,4'-디페닐메탄 디이소시아네이트, 1,3- 페닐렌 디이소시아네이트, 1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 디머릴 디이소시아네이트(dimeryl diisocyanate, DDI), 4,4'-스틸벤 디이소시아네이트, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐렌 디이소시아네이트(TODI), 톨루엔 2,4-디이소시아네이트, 톨루엔 2,6-디이소시아네이트(TDI), 디페닐메탄-2,4'- 디이소시아네이트(MDI), 2,2'-디페닐메탄 디이소시아네이트(MDI), 디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트(MDI) 및 나프틸렌-1,5-이소시아네이트(NDI)으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The polyisocyanate compound is diisocyanate, 1,4-tetramethylene diisocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate (HDI), 1,12-dodecane diisocyanate, cyclobutane-1,3-diisocyanate, cyclohexane -1,3- diisocyanate, cyclohexane-1,4-diisocyanate, 1-isocyanato-3,3,5-trimethyl-5-isocyanatomethyl-cyclohexane, 2,4-hexahydro Toluene diisocyanate, 2,6-hexahydrotoluene diisocyanate, hexahydro-1,3-phenylene diisocyanate, hexahydro-1,4-phenylene diisocyanate, perhydro-2,4'-diphenylmethane di Isocyanate, perhydro-4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 1,3-phenylene diisocyanate, 1,4-phenylene diisocyanate, dimeryl diisocyanate (DDI), 4,4'- Stilbene diisocyanate, 3,3'-dimethyl-4,4'-bipe Nylene diisocyanate (TODI), toluene 2,4-diisocyanate, toluene 2,6-diisocyanate (TDI), diphenylmethane-2,4'- diisocyanate (MDI), 2,2'-diphenylmethane di Polyurethane resin composition comprising at least one member selected from the group consisting of isocyanate (MDI), diphenylmethane-4,4'-diisocyanate (MDI) and naphthylene-1,5-isocyanate (NDI).
제1항에 있어서,
상기 사슬 연장제는 에틸렌 글리콜 및 1,4-부탄디올을 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The chain extender is a polyurethane resin composition comprising ethylene glycol and 1,4-butanediol.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리우레탄 수지 및 제2폴리우레탄 수지 각각이 50,000 내지 500,000의 중량평균분자량을 갖는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
Polyurethane resin composition wherein each of the first polyurethane resin and the second polyurethane resin has a weight average molecular weight of 50,000 to 500,000.
제1항에 있어서,
상기 계면 활성제가 음이온성 계면활성제 또는 비이온성 계면활성제를 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
Polyurethane resin composition wherein the surfactant comprises an anionic surfactant or a nonionic surfactant.
제1항에 있어서,
충진제, 발수제, 기공 크기 조절제 및 안료로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 첨가제를 더 포함하는 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
Polyurethane resin composition further comprising at least one additive selected from the group consisting of fillers, water repellents, pore size regulators and pigments.
제1항에 있어서,
연마 장치의 지지 패드 제조를 위한 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
Polyurethane resin composition for producing a support pad of the polishing apparatus.
제1항의 폴리우레탄 수지 조성물의 습식 응고물을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드.
A polyurethane support pad comprising the wet coagulum of the polyurethane resin composition of claim 1.
제14항에 있어서,
30%이상의 압축율 및 92%이상의 압축 탄성율을 갖는 폴리우레탄 지지 패드.
15. The method of claim 14,
Polyurethane support pads having a compression ratio of at least 30% and a compression modulus of at least 92%.
제14항에 있어서,
100㎛ 내지 500㎛의 최장 직경을 갖는 기공들을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드.
15. The method of claim 14,
A polyurethane support pad comprising pores having a longest diameter of 100 μm to 500 μm.
제14항에 있어서,
상기 기공들 중 서로 이웃하는 기공의 근접한 최외각부의 거리가 10㎛ 내지 50㎛인 폴리우레탄 지지 패드.
15. The method of claim 14,
A polyurethane support pad having a distance of 10 μm to 50 μm between adjacent outermost portions of the pores adjacent to each other among the pores.
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