KR20120114756A - Spectral domain optical coherence tomograpy including of high resolution spectromiter and the method - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An optical coherence tomography system including a high resolution spectroscope and a method thereof are provided to improve the quality of a final output image by obtaining accurate information about a pixel to wavelength region. CONSTITUTION: An optical coupler(120) divides light from a light source into reference light and measurement light and outputs the reference light and the measurement light to each light path. A reference unit(130) outputs the reflected reference light to the optical coupler. A sample unit(140) outputs the reflected measurement light to the optical coupler. A spectroscope(150) detects pixel and wavelength information by inputting and reflecting the synthesized light of the reference light and the measurement light according to the movement of a mirror. An image processing unit generates an image by processing the pixel information and the wavelength information. [Reference numerals] (110) Optical source; (120) Optical coupler; (130) Reference unit; (140) Sample unit; (150) Spectroscope

Description

고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템 및 그 방법{SPECTRAL DOMAIN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPY INCLUDING OF HIGH RESOLUTION SPECTROMITER AND THE METHOD}Optical tomography system with high resolution spectroscopy and its method {SPECTRAL DOMAIN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPY INCLUDING OF HIGH RESOLUTION SPECTROMITER AND THE METHOD}

본 발명은 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 분광기를 이용하는 광생체 단층촬영 시스템에서 픽셀 대 파장 영역에 대한 정확한 정보를 획득함으로써 최종 출력 영상의 품질을 향상시킬 수 있는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical tomography system and method thereof having a high-resolution spectrometer, and in particular, to obtain an accurate information on a pixel-to-wavelength region in an optical tomography system using a spectrometer, the quality of a final output image can be improved. An optical tomography system having a high resolution spectrometer and a method thereof.

최근에는 컴퓨터 단층촬영기나 자기공명 영상 촬영기보다 구조가 간단하면서 초음파 영상 촬영기보다 높은 해상도를 제공할 수 있는 광간섭성 단층 촬영장치(OCT;Optical Coherence Tonograpy)의 개발이 진행되고 있다.Recently, the development of an optical coherence tomography apparatus (OCT), which has a simpler structure than a computed tomography machine or a magnetic resonance imaging machine and which can provide a higher resolution than an ultrasonic imaging machine, has been developed.

광간섭성 단츨 촬영장치는 자연광에 가까운 저 코히어런스(low coherence) 광을 생체와 같은 다중 산란 물질에 조사하고, 물질로부터 반사된 광을 검출하여 생체에 대한 단층 화상을 얻는 장치이다.BACKGROUND OF THE INVENTION An optical coherence single photographing apparatus is a device that obtains a tomographic image of a living body by irradiating low coherence light close to natural light to a multi-scattering material such as a living body and detecting light reflected from the material.

이러한 종래의 광 단층 촬영장치들은 각각의 파장 특성에 맞는 샘플들에 맞게 특성화되어 제작되어 동일한 샘플에 대하여 각기 다른 시스템을 이용하여 단층 촬영하였다.Such conventional optical tomography apparatuses are characterized and manufactured according to samples corresponding to respective wavelength characteristics, and tomography is performed using different systems on the same sample.

즉, 중심파장이 840 ㎚인 SD-OCT는 물과 같은 물질에 흡수가 잘 되어 안과 중 망막의 중심와에서의 질병진단에 많이 응용되고 있으며 중심파장이 1050 ㎚ 인 SS-OCT는 840 ㎚대역에 비해 파장대가 길어 혈관 조직의 질병진단에 많이 응용되고 있다. In other words, SD-OCT with a central wavelength of 840 ㎚ is absorbed by substances such as water, and is widely applied to diagnosis of diseases in the central fovea of the eye. Due to the long wavelength range, it is widely applied to disease diagnosis of blood vessel tissue.

이러한 광 단층 촬영장치는 최종 단층 이미지를 정확하게 획득하기 위해 분광기를 시스템에 삽입하거나 별도로 추가하여 픽셀 대 파장영역에 대한 정보를 얻어 광학계의 성능을 분석하게 된다.The optical tomography apparatus analyzes the performance of the optical system by obtaining information on the pixel-to-wavelength region by inserting or separately adding a spectroscope to the system in order to accurately obtain the final tomographic image.

그러나, 이는 새로운 장치의 추가로 인해 분광 성능 분석에 측정 오류가 발생할 위험이 있고 원하는 사양의 성능이 아닌 경우 수정 후 다시 성능을 분석해야 하는 한계가 있다.
However, there is a risk of measurement error in spectroscopic performance analysis due to the addition of new devices, and there is a limit that the performance must be analyzed again after modification if it is not the desired specification.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 분광기를 이용하는 광생체 단층촬영 시스템에서 미러의 이동하여 픽셀 대 파장 영역에 대한 정확한 정보를 획득함으로써 최종 출력 영상의 품질을 향상시킬 수 있는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템 및 그 방법을 제공하는 것이다.The technical problem to be solved by the present invention is an optical tomography having a high-resolution spectrometer that can improve the quality of the final output image by obtaining accurate information about the pixel-to-wavelength region by moving the mirror in the optical biotomography system using a spectroscope A photographing system and a method thereof are provided.

본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not restrictive of the invention, unless further departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be possible.

상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템은, 광원과, 상기 광원에서 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력하는 광 커플러와, 상기 광 커플러에서 출력된 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 상기 광 커플러로 출력하는 레퍼런스부와, 상기 광 커플러에서 출력된 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 상기 광 커플러로 출력하는 샘플부와, 상기 광 커플러에서 기준광과 측정광의 합성된 광을 입력받아 미러를 이용하여 픽셀 정보 및 파장 정보를 검출하는 분광기와, 상기 분광기에서 출력된 전기적 신호를 데이터 처리하여 영상을 생성하는 영상처리부를 포함하되, 상기 분광기는 상기 미러의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하여 이동하고, 이동된 미러의 위치에서 상기 합성된 광의 입사 및 반사에 의해 픽셀 강도 어레이 및 파장 어레이를 획득하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 점에 그 특징이 있다. An optical tomography system having a high-resolution spectrometer according to the present invention for solving the above technical problem, the optical coupler for dividing the light emitted from the light source into a reference light and a measurement light and outputs to each light path; A reference unit which receives the reference light output from the optical coupler and outputs the reference light reflected through the reflection path back to the optical coupler, and receives the measurement light output from the optical coupler and radiates the reflected measurement light reflected on the subject A sample unit for outputting to the optical coupler, a spectrometer for receiving the synthesized light of the reference light and the measurement light from the optical coupler, a spectroscope for detecting pixel information and wavelength information using a mirror, and an electrical signal output from the spectroscope And an image processor configured to generate an image, wherein the spectroscope measures the movement displacement and the movement direction of the mirror. It is characterized in that the pixel intensity array and the wavelength array are obtained by setting and moving and obtaining the pixel intensity array and the wavelength array by the incident and reflection of the synthesized light at the position of the moved mirror.

여기서, 상기 분광기는, 상기 합성한 빔을 입력받아 평행광으로 변환하는 콜리메이터와, 상기 콜리메이터에서 변환된 평행광을 입력받아 각 파장 대역으로 분리하는 회절 격자부와, 상기 회절 격자부에서 분리된 각 광을 집광하는 포커싱 렌즈와, 상기 포커싱 렌즈를 투과한 각 광을 입력받아 전기적 신호로 변환하는 라인 스캔 카메라와, 상기 포커싱 렌즈와 상기 라인 스캔 카메라 사이에 마련되며, 설정된 방향으로 이동하여 상기 라인 스캔 카메라의 픽셀에 입력되는 광을 이동되는 위치에 따라 반사시키는 미러와, 상기 미러를 설정된 방향으로 이동시키는 미러 구동부를 포함하는 점에 그 특징이 있다. The spectrometer may include a collimator for receiving the synthesized beam and converting the parallel beam into parallel light, a diffraction grating portion for receiving the parallel light converted by the collimator and separating the light into respective wavelength bands, and the angles separated from the diffraction grating portion. A focusing lens for condensing light, a line scan camera for receiving each light passing through the focusing lens and converting the light into an electrical signal, and a line scan camera provided between the focusing lens and the line scan camera and moving in a set direction to scan the line. It is characterized in that it comprises a mirror for reflecting the light input to the pixel of the camera according to the moving position, and a mirror driving unit for moving the mirror in a set direction.

여기서, 상기 미러를 장착하여 설정된 방향으로 이동하는 미러 구동부를 더 포함하는 점에 그 특징이 있다. Here, it is characterized in that it further comprises a mirror drive unit for mounting the mirror to move in the set direction.

여기서, 상기 미러 구동부는 모터, 레일 등을 이용하여 이송되는 구조를 갖는 점에 그 특징이 있다. Here, the mirror driving unit is characterized in that it has a structure that is transferred using a motor, a rail or the like.

여기서, 상기 미러는 ㎛ 단위 이하로 이동되는 점에 그 특징이 있다. Here, the mirror is characterized in that it is moved in the unit of μm or less.

여기서, 상기 레퍼런스부는 상기 광 커플러에서 출력된 광을 평행광으로 변환하는 콜리메이터와; 상기 콜리메이터에서 출력된 평행광을 집광하는 렌즈와; 상기 렌즈에서 집광된 광을 반사시키는 미러를 포함하는 점에 그 특징이 있다. The reference unit may include a collimator for converting light output from the optical coupler into parallel light; A lens for condensing parallel light output from the collimator; It is characterized in that it comprises a mirror for reflecting the light collected from the lens.

여기서, 상기 샘플부는 상기 광 커플러에서 출력된 광을 평행광으로 변환하는 콜리메이터와; 상기 콜리메이터에서 출력된 평행광을 방사 방향으로 조절하여, 피사체의 X축 방향 스캔 및 Y축 방향으로 스캔하는 스캐너와; 상기 스캐너에서 방사 방향이 조절된 광을 피사체에 집광하도록 하는 스캔 렌즈를 포함하는 점에 그 특징이 있다. Here, the sample unit and a collimator for converting the light output from the optical coupler to parallel light; A scanner which scans the X-axis direction and the Y-axis direction of the subject by adjusting the parallel light output from the collimator in the radial direction; The scanner is characterized in that it comprises a scan lens for condensing the light whose radiation direction is adjusted to the subject.

여기서, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따르면 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법은, 광원으로부터 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력하는 단계와; 상기 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 입력받고, 상기 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 입력받아 결합하여 합성광을 출력하는 단계와; 상기 합성광을 이동되는 미러의 위치에 따라 카메라 픽셀에 입사 또는 반사시키고, 상기 카메라 픽셀에 입사된 광을 검출하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 단계와; 상기 획득한 픽셀 정보 및 상기 파장 정보를 이용하여 각 단위 픽셀에 초점이 맞도록 광학계를 제어하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다.According to a preferred embodiment of the present invention, an optical tomography method having a high-resolution spectrometer includes: dividing light emitted from a light source into reference light and measurement light and outputting the light into respective light traveling paths; Receiving the reference light again to receive the reference light reflected through a reflection path, receiving the measurement light, radiating the reflected light to a subject, and inputting and combining the measured light to output composite light; Injecting or reflecting the synthesized light into a camera pixel according to a position of a mirror to be moved, and detecting light incident on the camera pixel to obtain each pixel information and wavelength information corresponding to each pixel; And controlling the optical system to focus on each unit pixel by using the acquired pixel information and the wavelength information.

여기서, 상기 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 단계는 상기 미러의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하는 단계와; 상기 미러의 현 위치에 대한 제 1 픽셀 강도 어레이 정보 및 제 1 파장 어레이 정보를 획득하는 단계와; 상기 이동 방향이 설정된 미러를 이동하는 단계와; 상기 미러가 이동된 후 위치에 대한 제 2 픽셀 강도 어레이 정보 및 제 2 파장 어레이 정보를 획득하는 단계와; 상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 계산하여 소정 픽셀 정보값을 획득하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값과 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 계산하여 파장 정보값을 획득하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다. The acquiring of the pixel information and the wavelength information corresponding to each pixel may include setting a movement displacement and a movement direction of the mirror; Obtaining first pixel intensity array information and first wavelength array information for the current position of the mirror; Moving the mirror in which the movement direction is set; Obtaining second pixel intensity array information and second wavelength array information for a location after the mirror is moved; The predetermined pixel information value is obtained by calculating the first pixel intensity array information value and the second pixel intensity array information value, and the wavelength information value is calculated by calculating the first wavelength array information value and the second wavelength array information value. Its feature is that it includes the step of acquiring.

여기서, 상기 소정 픽셀 정보값과 상기 파장 정보값은 획득하는 단계에서 상기 미러의 이동 변위가 + 방향이면 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 계산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값에서 상기 제 1 파장 어레이 정보값을 계산하는 점에 그 특징이 있다. The second pixel intensity array information value may be calculated from a first pixel intensity array information value when the moving displacement of the mirror is in the + direction in the obtaining of the predetermined pixel information value and the wavelength information value. The characteristic is that the first wavelength array information value is calculated from the array information value.

여기서, 상기 소정 픽셀 정보값과 상기 파장 정보값은 획득하는 단계에서 상기 미러의 이동 변위가 - 방향이면 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값을 계산하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값에서 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 계산하는 점에 그 특징이 있다. Herein, in the obtaining of the predetermined pixel information value and the wavelength information value, when the displacement of the mirror is in the − direction, the first pixel intensity array information value is calculated from a second pixel intensity array information value, and the first wavelength is calculated. The characteristic is that the second wavelength array information value is calculated from the array information value.

여기서, 상기 계산하는 과정에서 상기 미러를 + 또는 - 변위로 연속적으로 이동하여 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값과 상기 제 1 파장 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하는 점에 그 특징이 있다.Here, in the calculating process, the mirror is continuously moved with + or − displacement to calculate until the first pixel intensity array information value and the second pixel intensity array information value are the same, and the second wavelength array information value The characteristic is that it calculates until and the first wavelength array information value are equal.

여기서, 상기 미러를 이동하는 단계에서 상기 미러는 ㎛ 단위 이하로 이동되는 점에 그 특징이 있다.
Here, in the step of moving the mirror is characterized in that the mirror is moved to the unit of μm or less.

본 발명에 따르면 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템 및 그 방법은, 분광기를 이용하는 광생체 단층촬영 시스템에서 미러의 이동하여 픽셀 대 파장 영역에 대한 정확한 정보를 획득함으로써 최종 출력 영상의 품질을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, an optical tomography system having a high-resolution spectrometer and a method thereof can improve the quality of a final output image by obtaining accurate information about a pixel-to-wavelength region by moving a mirror in an optical tomography system using a spectrometer. Can be.

도 1은 본 발명의 본 발명에 따른 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 분광기의 구성을 개략적으로 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법에 대한 흐름도.
도 4는 본 발명의 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 방법에 대한 흐름도.
도 5는 본 발명의 미러의 이동에 따른 픽셀 대 광 강도를 관계를 나타내는 도면
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a diagram schematically showing the configuration of an optical tomography system having a high resolution spectrometer according to the present invention.
2 is a view schematically showing the configuration of a spectrometer according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a flow diagram for an optical tomography method having a high resolution spectrometer according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart of a method of obtaining pixel information and wavelength information corresponding to each pixel of the present invention;
5 is a diagram showing a relationship of pixel-to-light intensity according to the movement of the mirror of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, in describing in detail the operating principle of the preferred embodiment of the present invention, if it is determined that the detailed description of the related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 도면 전체에 걸쳐 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다.The same reference numerals are used for portions having similar functions and functions throughout the drawings.

덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 구성 요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
In addition, in the entire specification, when a part is referred to as being 'connected' to another part, it may be referred to as 'indirectly connected' not only with 'directly connected' . Also, to include an element does not exclude other elements unless specifically stated otherwise, but may also include other elements.

이하 본 발명의 일 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 본 발명에 따른 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 광원(110), 광 커플러(120), 레퍼런스부(130), 샘플부(140), 분광기(150) 및 영상처리부(미도시)를 포함하여 구성된다. 1 is a view schematically showing the configuration of an optical tomography system having a high resolution spectrometer according to the present invention. As shown in FIG. 1, the light source 110 includes an optical coupler 120, a reference unit 130, a sample unit 140, a spectrometer 150, and an image processor (not shown).

상기 광 커플러(120)는 광원(110)에서 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력한다.The optical coupler 120 divides the light emitted from the light source 110 into reference light and measurement light and outputs the light to each light path.

상기 레퍼런스부(130)는 상기 광 커플러(120)에서 출력된 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 상기 광 커플러(120)로 출력한다.The reference unit 130 receives the reference light output from the optical coupler 120 and outputs the reference light reflected through the reflection path back to the optical coupler 120.

보다 상세하게는, 상기 레퍼런스부(130)는 콜리메이터(131)에서 상기 광 커플러(120)에서 출력된 광을 평행광으로 변환하고, 렌즈(132)에서 평행광을 집광하여 미러(133)에서 반사시켜 기준광을 출력하게 된다. 이때, 미러(133)에서 반사된 기준광은 다시 상기 광 커플러(130)에 입사하게 된다. More specifically, the reference unit 130 converts the light output from the optical coupler 120 from the collimator 131 into parallel light, and collects the parallel light from the lens 132 and reflects it from the mirror 133. To output the reference light. In this case, the reference light reflected by the mirror 133 is incident on the optical coupler 130 again.

상기 샘플부(140)는 상기 광 커플러(120)에서 출력된 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 상기 광 커플러(120)로 출력한다.The sample unit 140 receives the measurement light output from the optical coupler 120 and emits the reflected measurement light reflected on the subject to the optical coupler 120.

더 구체적으로는, 상기 샘플부(140)는 콜리메이터(141)에서 상기 광 커플러(120)에서 출력된 광을 평행광으로 변환하여 스캐너(142a,142b) 및 스캔 렌즈(143)를 통해 집광된 빔을 피사체(144)에 방사하게 된다. 그리고, 상기 피사체(144)의 산란체에 의해 후방산란된 반사광은 다시 스캔 렌즈(143), 스캐너(142a,142b) 및 콜리메이터(141)를 거쳐 상기 광 커플러(120)로 입사하게 된다. 여기서, 상기 스캐너(142a,142b)는 X축방향 및 Y축 방향에 대한 광 신호의 방사 방향을 조절하여, 피사체(144)의 X축 방향(가로 방향) 스캔 및 Y축 방향(세로 방향) 스캔을 수행한다. More specifically, the sample unit 140 converts the light output from the optical coupler 120 from the collimator 141 into parallel light and collects the beams through the scanners 142a and 142b and the scanning lens 143. To the subject 144. In addition, the reflected light back scattered by the scatterer of the subject 144 is incident to the optical coupler 120 through the scan lenses 143, the scanners 142a and 142b, and the collimator 141. Here, the scanners 142a and 142b adjust the radiation direction of the optical signal in the X-axis direction and the Y-axis direction to scan the X-axis direction (horizontal direction) and the Y-axis direction (vertical direction) of the subject 144. Do this.

상기 분광기(150)는 상기 광 커플러(120)에서 기준광과 측정광의 합성된 광을 입력받아 미러(154)를 이용하여 픽셀 정보 및 파장 정보를 검출하게 된다. 즉, 상기 분광기(150)는 상기 미러(154)의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하여 이동하고, 이동된 미러의 위치에서 상기 합성된 광의 입사 및 반사에 의해 픽셀 강도 어레이 및 파장 어레이를 획득하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하게 된다. The spectroscope 150 receives the synthesized light of the reference light and the measurement light from the optical coupler 120 to detect pixel information and wavelength information using the mirror 154. That is, the spectroscope 150 moves by setting the movement displacement and the movement direction of the mirror 154, and acquires the pixel intensity array and the wavelength array by the incident and reflection of the synthesized light at the position of the mirror. Pixel information and wavelength information corresponding to each pixel are obtained.

상기 분광기에 대해 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.The spectrometer will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 분광기의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 분광기는(150)는 콜리메이터(151)와, 회절 격자부(152)와, 포커싱 렌즈(153)와, 라인 스캔 카메라(155)와, 미러(154) 및 미러 구동부(미도시)를 포함하여 구성한다.2 is a view schematically showing the configuration of a spectrometer according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2, the spectrometer 150 includes a collimator 151, a diffraction grating 152, a focusing lens 153, a line scan camera 155, a mirror 154, and a mirror. It comprises a drive unit (not shown).

상기 콜리메이터(151)는 상기 광 커플러(120)로부터 합성한 빔을 입력받아 평행광으로 변환하고, 상기 회절 격자부(152)는 상기 콜리메이터(151)에서 변환된 평행광을 입력받아 각 파장마다 분리한다.The collimator 151 receives the beam synthesized from the optical coupler 120 and converts the beam into parallel light, and the diffraction grating unit 152 receives the parallel light converted by the collimator 151 and separates each wavelength. do.

상기 포커싱 렌즈(153)는 상기 회절 격자부(152)에서 각 파장마다 분리된 각 광을 집광한다. The focusing lens 153 collects each light separated by each wavelength in the diffraction grating 152.

상기 라인 스캔 카메라(155)는 상기 포커싱 렌즈(153)에서 집광된 광을 라인 스캔 카메라(155)의 픽셀과 대응되는 위치에 마련된 미러(154)의 위치에 따라 광 강도가 다르게 입력받는다. 즉, 상기 미러는 설정된 변위 및 설정된 방향에 의해 이동하게 되고, 미러의 + 변위 또는 - 변위에 따라 상기 라인 스캔 카메라의 픽셀에 입력되는 광을 입사 또는 반사시키게 된다. The line scan camera 155 receives the light intensity condensed by the focusing lens 153 differently according to the position of the mirror 154 provided at a position corresponding to the pixel of the line scan camera 155. That is, the mirror is moved by the set displacement and the set direction, and incident or reflected light input to the pixel of the line scan camera according to the + displacement or-displacement of the mirror.

그리고, 라인 스캔 카메라(155)는 광전변환소자 어레이인 라인 센서를 사용하여 각 위치(파장)마다 광 강도를 전압으로 변환한다. The line scan camera 155 converts the light intensity into voltage at each position (wavelength) using a line sensor that is an array of photoelectric conversion elements.

상기 미러(154)는 상기 미러 구동부(미도시)에 의해 설정된 방향으로 ㎛ 단위 이하로 이동하게 되며, 미러 구동부는 모터, 레일 등을 이용하여 이송되는 구조를 갖는다.The mirror 154 moves in a direction set by the mirror driver (not shown) or less in a micrometer unit, and the mirror driver has a structure in which it is transferred using a motor, a rail, or the like.

상기 영상 처리부(미도시)는 상기 분광기(150)에서 출력된 전기적 신호를 데이터 처리하여 픽셀 정보와 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하게 된다.
The image processor (not shown) obtains pixel information and wavelength information corresponding to each pixel by data processing the electrical signal output from the spectroscope 150.

또한, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법에 대한 흐름도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법은, 광원으로부터 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력하는 단계가 수행된다(S31). 3 is a flowchart of an optical tomography method having a high resolution spectrometer according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, in the optical tomography method having the high-resolution spectrometer, the light emitted from the light source is divided into reference light and measurement light and output to each light propagation path (S31).

그리고, 상기 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 입력받고, 상기 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 입력받아 결합하여 합성광을 출력하는 단계가 수행된다(S32). In addition, the step of receiving the reference light again receives the reference light reflected through the reflection path, receives the measurement light and radiates the reflected measurement light reflected back to the subject, combines and outputs the composite light (S32). ).

보다 상세하게는, 상기 기준광은 평행광으로 변환하고, 평행광을 집광하여 미러를 통해 반사된 빔을 다시 출력하게 된다. In more detail, the reference light is converted into parallel light, and the parallel light is collected to output the beam reflected through the mirror again.

상기 측정광은 평행광으로 변환하고, 평행광을 X축방향 및 Y축 방향에 대한 광 신호의 방사 방향을 조절하여 피사체에 방사하면 피사체의 산란체에 의해 후방산란된 반사된 빔을 다시 출력하게 된다. The measurement light is converted into parallel light, and when the parallel light is emitted to the subject by adjusting the radiation direction of the optical signal in the X-axis direction and the Y-axis direction, the reflected light is outputted back scattered by the scattering body of the subject. do.

그리고, 다시 출력된 기준광과 측정광을 결합한 합성광을 다른 광 진행 경로를 통해 출력하게 된다. The synthesized light, which combines the output reference light and the measurement light again, is output through another light traveling path.

그 다음, 상기 입력되는 합성광을 이동되는 미러의 위치에 따라 카메라 픽셀에 입사 또는 반사시키고, 상기 카메라 픽셀에 입사된 광을 검출하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 단계가 수행된다(S33). Then, the incident composite light is incident or reflected on the camera pixel according to the position of the mirror to be moved, and the light incident on the camera pixel is detected to obtain each pixel information and wavelength information corresponding to each pixel. It is performed (S33).

마지막으로, 상기 획득한 픽셀 정보 및 상기 파장 정보를 이용하여 각 단위 픽셀에 초점이 맞도록 광학계를 제어하는 단계가 수행된다(S34).Finally, the step of controlling the optical system to focus on each unit pixel using the obtained pixel information and the wavelength information (S34).

한편, 도 4는 본 발명의 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 방법에 대한 흐름도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 방법은 상기 미러의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하게 된다(S41). 즉, 카메라 픽셀에 대응하여 미러가 이동되는 변위 및 이동되는 방향을 설정하게 된다. 4 is a flowchart illustrating a method of obtaining pixel information and wavelength information corresponding to each pixel of the present invention. As shown in FIG. 4, the method of obtaining the pixel information and the wavelength information corresponding to each pixel sets the movement displacement and the movement direction of the mirror (S41). That is, the displacement and the direction in which the mirror is moved are set corresponding to the camera pixels.

이어서, 상기 미러의 현 위치에 대한 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값(PIA 1) 및 제 1 파장 어레이 정보값(WA 1)를 획득하게 된다(S42). 즉, 픽셀에 입사되는 광에 의해 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값(PIA 1) 및 제 1 파장 어레이 정보값(WA 1)를 얻게 된다.Subsequently, a first pixel intensity array information value PIA 1 and a first wavelength array information value WA 1 for the current position of the mirror are obtained (S42). That is, the first pixel intensity array information value PIA 1 and the first wavelength array information value WA 1 are obtained by the light incident on the pixel.

그 다음, 상기 이동 방향이 설정된 미러를 설정된 변위만큼 이동하게 된다(S43). 여기서, 상기 미러는 ㎛ 단위 이하로 이동되는 것이 바람직하다. Next, the mirror in which the movement direction is set is moved by the set displacement (S43). Here, the mirror is preferably moved in the unit of μm or less.

보다 구체적으로, 상기 미러의 이동 변위가 + 방향(S44a) 또는 - 방향(S44b)으로 이동된 위치에 대한 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값(PIA 2) 및 제 2 파장 어레이 정보값(WA 2)를 각각 획득하게 된다(S45a,S45b). More specifically, the second pixel intensity array information value PIA 2 and the second wavelength array information value WA 2 for the position at which the movement displacement of the mirror is moved in the + direction S44a or the − direction S44b are determined. Each is obtained (S45a, S45b).

그리고, 상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 계산하여 소정 픽셀 정보값을 획득하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값과 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 계산하여 파장 정보값을 획득하게 된다(S46a,S46b).The first pixel intensity array information value and the second pixel intensity array information value are calculated to obtain a predetermined pixel information value, the first wavelength array information value and the second wavelength array information value are calculated, and the wavelength information is calculated. A value is obtained (S46a, S46b).

보다 상세하게는, 상기 소정 픽셀 정보값(pixel(i))과 상기 파장 정보값(Wavelength(i))은 상기 미러의 이동 변위가 + 방향이면 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 감산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값에서 상기 제 1 파장 어레이 정보값을 감산하게 된다. 이때, 각 계산된 차의 값은 0 이상의 값을 갖게 된다(S46a).More specifically, the predetermined pixel information value pixel (i) and the wavelength information value Wavelength (i) are the second pixel intensity in the first pixel intensity array information value when the movement displacement of the mirror is in the + direction. An array information value is subtracted and the first wavelength array information value is subtracted from the second wavelength array information value. At this time, the value of each calculated difference has a value of 0 or more (S46a).

또한, 상기 미러의 이동 변위가 - 방향이면 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값을 감산하여 소정 픽셀 정보값(pixel(i))을 획득하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값에서 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 감산하여 상기 파장 정보값(Wavelength(i))을 획득하게 된다(S46b). 이때, 각 계산된 차의 값은 0 이상의 값을 갖게 된다(S46a).In addition, when the displacement of the mirror is in the − direction, the first pixel intensity array information value is subtracted from the second pixel intensity array information value to obtain a predetermined pixel information value pixel (i), and the first wavelength array information is obtained. The wavelength information value Wavelength (i) is obtained by subtracting the second wavelength array information value from the value (S46b). At this time, the value of each calculated difference has a value of 0 or more (S46a).

그리고, 상기 계산하는 과정에서 상기 미러를 + 또는 - 변위로 연속적으로 이동하여 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값과 상기 제 1 파장 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하게 된다(S47).In the calculating process, the mirror is continuously moved with a + or − displacement to calculate the first pixel intensity array information value until the first pixel intensity array information value is the same, and the second wavelength array information value is calculated. Computation is performed until the first wavelength array information value is the same (S47).

도 5는 본 발명의 미러의 이동에 따른 픽셀 대 광 강도를 관계를 나타내는 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 도 2의 미러가 움직이는 방향에 따른 픽셀의 강도를 보여주고 있다. 여기서, 미러가 이동됨에 따라 픽셀에 입력되는 강도가 달라지게 되는 것을 알 수 있다. 즉, 미러의 이동에 따른 픽셀의 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 정확하게 획득함으로써 단위 픽셀에 초점이 맞도록 광학계를 제어할 수 있게 되어 분광 성능을 향상시키게 된다.
5 is a view showing a relationship between pixel and light intensity according to the movement of the mirror of the present invention. As shown in FIG. 5, the intensity of the pixel is shown along the direction in which the mirror of FIG. 2 moves. Here, it can be seen that the intensity input to the pixel changes as the mirror is moved. That is, the optical system can be controlled to focus on the unit pixel by accurately acquiring pixel information and wavelength information corresponding to each pixel according to the movement of the mirror, thereby improving spectral performance.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 따라서 본 발명의 권리 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며, 후술하는 청구범위뿐만 아니라, 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, Of course, this is possible. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined by the equivalents as well as the claims that follow.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
110 --- 광원 120 --- 광 커플러
130 --- 레퍼런스부 140 --- 샘플부
150 --- 분광기 154 --- 미러
155 --- 라인 스캔 카메라
Description of the Related Art
110 --- light source 120 --- optocoupler
130 --- Reference section 140 --- Sample section
150 --- Spectroscope 154 --- Mirror
155 --- line scan camera

Claims (12)

광원과;
상기 광원에서 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력하는 광 커플러와;
상기 광 커플러에서 출력된 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 상기 광 커플러로 출력하는 레퍼런스부와;
상기 광 커플러에서 출력된 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 상기 광 커플러로 출력하는 샘플부와;
상기 광 커플러에서 기준광과 측정광의 합성된 광을 미러의 이동 위치에 따라 입사 및 반사하여 픽셀 정보 및 파장 정보를 검출하는 분광기와;
상기 분광기에서 출력된 픽셀 정보 및 파장 정보를 처리하여 영상을 생성하는 영상처리부를 포함하되,
상기 분광기는 상기 미러의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하여 이동하고, 이동된 미러의 위치에서 상기 합성된 광의 입사 및 반사에 의해 픽셀 강도 어레이 및 파장 어레이를 획득하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
A light source;
An optical coupler for dividing the light emitted from the light source into reference light and measurement light and outputting the light to each light path;
A reference unit which receives the reference light output from the optical coupler and outputs the reference light reflected through the reflection path back to the optical coupler;
A sample unit receiving the measurement light output from the optical coupler and radiating the reflected light to a subject and outputting the reflected measurement light back to the optical coupler;
A spectroscope configured to detect pixel information and wavelength information by incident and reflecting the synthesized light of the reference light and the measurement light according to the moving position of the mirror in the optical coupler;
Including an image processor for generating an image by processing the pixel information and wavelength information output from the spectroscope,
The spectroscope moves by setting a movement displacement and a movement direction of the mirror, and acquires a pixel intensity array and a wavelength array by incidence and reflection of the synthesized light at a position of the mirror to correspond to each pixel information and each pixel. An optical tomography system having a high resolution spectrometer, characterized in that obtaining wavelength information.
제 1 항에 있어서,
상기 분광기는,
상기 합성한 빔을 입력받아 평행광으로 변환하는 콜리메이터와;
상기 콜리메이터에서 변환된 평행광을 입력받아 각 파장 대역으로 분리하는 회절 격자부와;
상기 회절 격자부에서 분리된 각 광을 집광하는 포커싱 렌즈와;
상기 포커싱 렌즈를 투과한 각 광을 입력받아 전기적 신호로 변환하는 라인 스캔 카메라와;
상기 포커싱 렌즈와 상기 라인 스캔 카메라 사이에 마련되며, 설정된 방향으로 이동하여 상기 라인 스캔 카메라의 픽셀에 입력되는 광을 이동되는 위치에 따라 반사시키는 미러와;
상기 미러를 설정된 방향으로 이동시키는 미러 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
The method of claim 1,
The spectroscope,
A collimator for receiving the synthesized beam and converting the beam into parallel light;
A diffraction grating unit for receiving the parallel light converted by the collimator and separating the light into each wavelength band;
A focusing lens for condensing each light separated by the diffraction grating portion;
A line scan camera which receives each light transmitted through the focusing lens and converts the light into an electrical signal;
A mirror provided between the focusing lens and the line scan camera and configured to move in a predetermined direction to reflect light input to a pixel of the line scan camera according to a moved position;
And a mirror driving unit for moving the mirror in a predetermined direction.
제 2항에 있어서,
상기 미러 구동부는 모터, 레일 등을 이용하여 이송되는 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
The method of claim 2,
And the mirror driving unit has a structure in which the mirror driving unit is transferred using a motor, a rail, or the like.
제 1항에 있어서,
상기 미러는 ㎛ 단위 이하로 이동되는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
The method of claim 1,
The optical tomography system having a high-resolution spectrometer, characterized in that the mirror is moved in less than a unit.
제 1항에 있어서,
상기 레퍼런스부는
상기 광 커플러에서 출력된 광을 평행광으로 변환하는 콜리메이터와;
상기 콜리메이터에서 출력된 평행광을 집광하는 렌즈와;
상기 렌즈에서 집광된 광을 반사시키는 미러를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
The method of claim 1,
The reference unit
A collimator for converting the light output from the optical coupler into parallel light;
A lens for condensing parallel light output from the collimator;
And a mirror for reflecting the light collected by the lens.
제 1항에 있어서,
상기 샘플부는
상기 광 커플러에서 출력된 광을 평행광으로 변환하는 콜리메이터와;
상기 콜리메이터에서 출력된 평행광을 방사 방향으로 조절하여, 피사체의 X축 방향 스캔 및 Y축 방향으로 스캔하는 스캐너와;
상기 스캐너에서 방사 방향이 조절된 광을 피사체에 집광하도록 하는 스캔 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 시스템.
The method of claim 1,
The sample unit
A collimator for converting the light output from the optical coupler into parallel light;
A scanner which scans the X-axis direction and the Y-axis direction of the subject by adjusting the parallel light output from the collimator in the radial direction;
And a scan lens configured to focus the radiation direction-controlled light on the subject in the scanner.
광원으로부터 출사된 광을 기준광과 측정광으로 분할하여 각 광 진행 경로로 출력하는 단계와;
상기 기준광을 입력받아 반사 경로를 통하여 반사된 기준광을 다시 입력받고, 상기 측정광을 입력받아 피사체에 방사하여 반사된 측정광을 다시 입력받아 결합하여 합성광을 출력하는 단계와;
상기 합성광을 이동되는 미러의 위치에 따라 카메라 픽셀에 입사 또는 반사시키고, 상기 카메라 픽셀에 입사된 광을 검출하여 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 단계와;
상기 획득한 픽셀 정보 및 상기 파장 정보를 이용하여 각 단위 픽셀에 초점이 맞도록 광학계를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법.
Dividing the light emitted from the light source into reference light and measurement light and outputting the light to each light path;
Receiving the reference light again to receive the reference light reflected through a reflection path, receiving the measurement light, radiating the reflected light to a subject, and inputting and combining the measured light to output composite light;
Injecting or reflecting the synthesized light into a camera pixel according to a position of a mirror to be moved, and detecting light incident on the camera pixel to obtain each pixel information and wavelength information corresponding to each pixel;
And controlling the optical system to focus on each unit pixel by using the acquired pixel information and the wavelength information.
제 7항에 있어서,
상기 각 픽셀 정보 및 각 픽셀에 대응하는 파장 정보를 획득하는 단계는
상기 미러의 이동 변위 및 이동 방향을 설정하는 단계와;
상기 미러의 현 위치에 대한 제 1 픽셀 강도 어레이 정보 및 제 1 파장 어레이 정보를 획득하는 단계와;
상기 이동 방향이 설정된 미러를 이동하는 단계와;
상기 미러가 이동된 후 위치에 대한 제 2 픽셀 강도 어레이 정보 및 제 2 파장 어레이 정보를 획득하는 단계와;
상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 계산하여 소정 픽셀 정보값을 획득하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값과 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 계산하여 파장 정보값을 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법.
8. The method of claim 7,
Acquiring the pixel information and the wavelength information corresponding to each pixel
Setting a movement displacement and a movement direction of the mirror;
Obtaining first pixel intensity array information and first wavelength array information for the current position of the mirror;
Moving the mirror in which the movement direction is set;
Obtaining second pixel intensity array information and second wavelength array information for a location after the mirror is moved;
The predetermined pixel information value is obtained by calculating the first pixel intensity array information value and the second pixel intensity array information value, and the wavelength information value is calculated by calculating the first wavelength array information value and the second wavelength array information value. Optical tomography method comprising a high resolution spectrometer, characterized in that it comprises the step of obtaining.
제 8항에 있어서,
상기 소정 픽셀 정보값과 상기 파장 정보값은 획득하는 단계에서
상기 미러의 이동 변위가 + 방향이면 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값을 감산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값에서 상기 제 1 파장 어레이 정보값을 감산하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법.
The method of claim 8,
In the obtaining of the predetermined pixel information value and the wavelength information value,
Subtracting the second pixel intensity array information value from the first pixel intensity array information value and subtracting the first wavelength array information value from the second wavelength array information value when the shift of the mirror is in the + direction. An optical tomography method provided with a high resolution spectrometer.
제 8항에 있어서,
상기 소정 픽셀 정보값과 상기 파장 정보값은 획득하는 단계에서
상기 미러의 이동 변위가 - 방향이면 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값에서 상기 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값을 감산하고, 상기 제 1 파장 어레이 정보값에서 상기 제 2 파장 어레이 정보값을 감산하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법.
The method of claim 8,
In the obtaining of the predetermined pixel information value and the wavelength information value,
And subtracting the first pixel intensity array information value from the second pixel intensity array information value and subtracting the second wavelength array information value from the first wavelength array information value when the shift of the mirror is in the-direction. An optical tomography method provided with a high resolution spectrometer.
제 9항 또는 10항에 있어서,
상기 계산하는 과정에서
상기 미러를 + 또는 - 변위로 연속적으로 이동하여 제 1 픽셀 강도 어레이 정보값과 상기 제 2 픽셀 강도 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하고, 상기 제 2 파장 어레이 정보값과 상기 제 1 파장 어레이 정보값이 같아질 때까지 계산하는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 강 단층촬영 방법.
The method of claim 9 or 10,
In the process of calculating
The mirror is continuously moved with a + or − displacement to calculate until the first pixel intensity array information value is equal to the second pixel intensity array information value, and the second wavelength array information value and the first wavelength array information are calculated. A strong tomography method with a high resolution spectrometer, characterized in that until the value is equal.
제 8항에 있어서,
상기 미러를 이동하는 단계에서
상기 미러는 ㎛ 단위 이하로 이동되는 것을 특징으로 하는 고해상도 분광기를 구비한 광 단층촬영 방법.
The method of claim 8,
In the step of moving the mirror
The optical tomography method of claim 1, wherein the mirror is moved in a micrometer unit or less.
KR1020110032480A 2011-04-08 2011-04-08 Spectral domain optical coherence tomograpy including of high resolution spectromiter and the method KR101226442B1 (en)

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