KR20120084549A - Adhesive sheet for semiconductor plating and plating method - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An adhesive sheet for electroplating semiconductor elements and a plating method of the semiconductor using the same are provided to obtain high chemical resistance, reliability, and workability. CONSTITUTION: An adhesive sheet for electroplating semiconductor elements comprises a substrate and an adhesive layer(2) which is formed on one or more sides of the substrate(1). The adhesive layer comprises a thermosetting acrylic adhesive resin and a thermosetting material including a thermosetting agent. A plating method of the semiconductor device lead frame comprises the following steps: compressing the adhesive sheet for the semiconductor device to a lead frame; plating the other side of the lead frame; and exfoliating the adhesive sheet for plating the semiconductor device from the lead frame.

Description

반도체 소자 도금용 점착시트 및 이를 이용한 반도체 도금방법 {ADHESIVE SHEET FOR SEMICONDUCTOR PLATING AND PLATING METHOD} Adhesive Sheet for Semiconductor Device Plating and Semiconductor Plating Method Using The Same {ADHESIVE SHEET FOR SEMICONDUCTOR PLATING AND PLATING METHOD}

본 발명은 반도체 소자 도금용 점착시트 및 이를 이용한 반도체 도금방법에 관한 것이다. The present invention relates to an adhesive sheet for semiconductor device plating and a semiconductor plating method using the same.

QFN(Quad Flat No Lead package) 반도체는 리드단자가 패키지 내부에 장착된 형태의 반도체 패키지의 한 형태로서, 다이어태치, 와이어본딩, 에폭시 몰딩 등의 공정을 거쳐서 제조되는 것이 일반적이다.A quad flat no lead package (QFN) semiconductor is a type of semiconductor package in which a lead terminal is mounted in a package, and is typically manufactured through a process such as die attach, wire bonding, and epoxy molding.

상기 에폭시 몰딩 공정에서는 리드프레임과 에폭시가 결합되는데 이들은 결합력이 낮아서 반도체 소자의 신뢰성 문제가 있었다. In the epoxy molding process, the lead frame and the epoxy are bonded, but they have a low bonding force, thereby causing a reliability problem of the semiconductor device.

본 발명은 상기 종래기술의 문제점을 해결하여 반도체 소자의 신뢰성을 향상시키기 위한 반도체 소자 리드 프레임의 도금방법과 반도체 소자 도금공정시에 우수한 내화학성 및 치수안정성을 가지고, 박리시 부착표면에 잔류물이 남지 않고 박리 가능한 반도체 소자 도금용 점착시트를 제공하는 데에 목적이 있다.The present invention has the excellent chemical resistance and dimensional stability during the plating process of the semiconductor device lead frame and semiconductor device plating process to improve the reliability of the semiconductor device to solve the problems of the prior art, residues on the adhered surface during peeling An object of the present invention is to provide a pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor element plating that can be peeled off without remaining.

본 발명은 기재, 상기 기재의 적어도 한 면에 형성된 점착제층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트를 제공한다. The present invention provides a pressure sensitive adhesive sheet for semiconductor element plating, comprising a pressure sensitive adhesive layer formed on at least one surface of the base material and the base material.

또한, 본 발명은 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드 프레임에 압착하는 단계, 상기 리드 프레임의 다른 한 면을 도금하는 단계, 상기 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드프레임으로부터 박리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 리드 프레임의 도금방법을 제공한다.In addition, the present invention includes the step of pressing the adhesive sheet for semiconductor device plating on the lead frame, the step of plating the other side of the lead frame, characterized in that it comprises the step of peeling the adhesive sheet for semiconductor device plating from the lead frame A plating method of a semiconductor element lead frame is provided.

본 발명에 따른 반도체 소자 도금용 점착시트 및 도금방법은 높은 내화학성을 확보할 수 있고, 부품의 높은 치수안정성을 얻을 수가 있을 뿐만 아니라 박리 시 부착표면에 잔류물을 남기지 않을 수 있으며, 우수한 신뢰성 및 작업성을 나타낸다.The adhesive sheet and plating method for plating a semiconductor device according to the present invention can secure high chemical resistance, obtain high dimensional stability of components, and can leave no residue on the adhered surface during peeling, and have excellent reliability and It shows workability.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 소자 도금용 점착시트의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of an adhesive sheet for semiconductor device plating according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 기재, 상기 기재의 적어도 한 면에 형성된 점착제층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트에 대한 것이다. The present invention relates to an adhesive sheet for semiconductor element plating comprising a substrate, and an adhesive layer formed on at least one side of the substrate.

또한, 본 발명은 상기 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드 프레임에 압착하는 단계, 상기 리드 프레임의 다른 한 면을 도금하는 단계, 상기 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드프레임으로부터 박리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 리드 프레임의 도금방법에 대한 것이다. In addition, the present invention comprises the step of pressing the pressure-sensitive adhesive sheet for plating the semiconductor element on the lead frame, plating the other side of the lead frame, the step of peeling the pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor element plating from the lead frame The present invention relates to a plating method for a semiconductor device lead frame.

상기 점착제층은 열경화성 아크릴계 점착수지 및 열경화제를 포함하는 점착조성물로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트이다.The pressure-sensitive adhesive layer is a pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating, characterized in that the pressure-sensitive adhesive composition comprising a thermosetting acrylic adhesive resin and a thermosetting agent.

상기 점착조성물은 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지와 에너지선 개시제를 추가적으로 포함 할 수도 있다.The pressure-sensitive adhesive composition may further include an energy ray-curable acrylic oligomer resin and an energy ray initiator.

상기 기재는 폴리에스터, 폴리이미드, 폴리아미드, 폴리에테르 술폰, 폴리페닐렌 설파이드, 폴리에테르 케톤, 폴리에테르 에테르케톤, 트리아세틸 셀롤로스, 폴리에테르 이미드, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 폴리프로필렌 및 폴리카보네이트로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 필름일수 있으며, 내열성이 있는 수지가 바람직하다.The substrate is made of polyester, polyimide, polyamide, polyether sulfone, polyphenylene sulfide, polyether ketone, polyether ether ketone, triacetyl cellulose, polyether imide, polyethylene naphthalate, polypropylene and polycarbonate It may be one or more films selected from the group consisting of, a resin having heat resistance is preferred.

상기 열경화성 아크릴계 점착수지는 점착성을 부여하는 기능을 갖는 수지이다. 열경화성 아크릴계 점착수지의 예로는 메틸(메타)아크릴레이트, 에틸(메타)아크릴레이트, 부틸(메타)아크릴레이트, 아이소아밀(메타)아크릴 레이트, n-헥실(메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메타)아크릴레이트, 아이소 옥틸(메타)아크릴레이트, 아이소노닐(메타)아크릴레이트, 데실(메타)아크릴 레이트 및 도데실 (메타)아크릴레이트 등의 알킬(메타)아크릴레이트 등이 있다. 열경화성 아크릴계 점착수지의 중량평균분자량은 40,000 내지 3,000,000이 바람직하며, 700,000 내지 1,200,000이 더욱 바람직하다. 열경화성 아크릴계 점착수지의 중량평균 분자량이 40,000 미만일 경우에는 내화학성이 저하 될 수 있고, 3,000,000을 초과할 경우에는 분자량이 커져서 경화반응에 영향을 줄 수 있다.The thermosetting acrylic adhesive resin is a resin having a function of imparting adhesiveness. Examples of thermosetting acrylic adhesive resins include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, isoamyl (meth) acrylate, n-hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl ( Alkyl (meth) acrylates, such as a meth) acrylate, an iso octyl (meth) acrylate, anononyl (meth) acrylate, a decyl (meth) acrylate, and a dodecyl (meth) acrylate, etc. are mentioned. The weight average molecular weight of the thermosetting acrylic adhesive resin is preferably 40,000 to 3,000,000, more preferably 700,000 to 1,200,000. If the weight average molecular weight of the thermosetting acrylic adhesive resin is less than 40,000, the chemical resistance may be lowered, and if the weight-average molecular weight exceeds 3,000,000, the molecular weight may increase, which may affect the curing reaction.

상기 열경화제는 상기 열경화성 아크릴계 점착수지의 경화반응을 일으킨다. 열경화제의 중량평균분자량은 300 내지 8,000이 바람직하다. 열경화제의 예로는 멜라민계, 이소시아네이트계로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종 혼합물 등이 있다. 열경화제는 상기 열경화성 아크릴계 점착수지 100 중량부를 기준으로 1 내지 20 중량부를 포함하는 것이 바람직하다.The thermosetting agent causes a curing reaction of the thermosetting acrylic adhesive resin. The weight average molecular weight of the thermosetting agent is preferably 300 to 8,000. Examples of the thermosetting agent include single or two kinds of mixtures selected from the group consisting of melamine and isocyanate. The thermosetting agent preferably contains 1 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the thermosetting acrylic adhesive resin.

상기 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지는 상기 열경화성 아크릴계 점착수지와 상호 침투형 가교구조(혼합 가교 구조)를 이룰 수 있다. 상호 침투형 가교구조(혼합 가교 구조)는 서로 다른 2이상의 경화성 수지가 서로 다른 화학적 반응 메커니즘에 의해 독립적으로 가교하는 동안 상호침투에 의해 얽혀져 있는 가교구조이다. 이러한 가교구조는 수지의 응집력 및 내화학성의 특성을 향상 시킬 수 있으며, 실제 '상호침투에 의한 가교구조'의 활용은 에폭시 접착수지 제조방법에서도 활용되고 있는 방법이다(Epoxy Adhesive Formulation; Edward M. Petrie; 151?152p). 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지의 예로는 우레탄계 아크릴레이트, 폴리에테르 및 폴리에스터 아크릴레이트, 에폭시 아크릴레이트, 아크릴릭 아크릴레이트로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종이상의 혼합물 등이 있다. 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지는 상기 열경화성 아크릴계 점착수지 100 중량부를 기준으로 1 내지 20 중량부를 포함하는 것이 바람직하다.The energy ray-curable acrylic oligomer resin may form a cross-penetrating crosslinked structure (mixed crosslinked structure) with the thermosetting acrylic adhesive resin. The interpenetrating crosslinked structure (mixed crosslinked structure) is a crosslinked structure in which two or more different curable resins are entangled by interpenetration while independently crosslinking by different chemical reaction mechanisms. This crosslinked structure can improve the cohesion and chemical resistance characteristics of the resin, and the practical use of the crosslinked structure by cross-penetration is also used in the epoxy adhesive resin manufacturing method (Epoxy Adhesive Formulation; Edward M. Petrie ; 151-152p). Examples of the energy ray-curable acrylic oligomer resin include a single or a mixture of two or more selected from the group consisting of urethane acrylates, polyethers and polyester acrylates, epoxy acrylates, and acrylic acrylates. The energy ray-curable acrylic oligomer resin preferably contains 1 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the thermosetting acrylic adhesive resin.

상기 에너지선 개시제는 점착제층의 코팅 및 건조 온도, 사용하는 에너지선 조사조건에 따라 선택할 수 있다. 에너지선 개시제의 예로는 벤질다이메틸케탈, 하드록시싸이클로헥실 페닐 케톤, 하이드록시 다이메틸 아세토페논, 메틸-[4메틸티오페닐]-2-모포린 프로파논, 4-벤질-4'-메틸다이페닐 설파이드, 아이소프로필티옥산톤, 2-클로로티옥산톤, 에틸-4-다이 메틸아미노벤조에이트, 2-에틸헥실-4-다이메틸아미노벤조에이트, 벤조페논, 4-메틸벤조페논, 메틸-오르쏘-벤조-벤조에이트, 메틸벤조일포메이트, 4-페닐벤조페논, 2,4,6-트라이메틸벤조일-다이페닐 포스핀 및 2-하이드록시-1,2-다이페닐 에타논으로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종이상의 혼합물 등이 있다. 에너지선 개시제는 상기 열경화성 아크릴계 점착수지 100 중량부를 기준으로 1 내지 20 중량부를 포함하는 것이 바람직하다.The energy ray initiator may be selected according to the coating and drying temperature of the pressure-sensitive adhesive layer, the energy ray irradiation conditions to be used. Examples of energy ray initiators include benzyldimethyl ketal, hydroxycyclohexyl phenyl ketone, hydroxy dimethyl acetophenone, methyl- [4methylthiophenyl] -2-morpholine propanone, 4-benzyl-4'-methyldi Phenyl sulfide, isopropyl thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, ethyl-4-dimethylaminobenzoate, 2-ethylhexyl-4-dimethylaminobenzoate, benzophenone, 4-methylbenzophenone, methyl- Ortho-benzo-benzoate, methylbenzoylformate, 4-phenylbenzophenone, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl phosphine and 2-hydroxy-1,2-diphenyl ethanone Or a mixture of two or more selected from. The energy ray initiator preferably contains 1 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the thermosetting acrylic adhesive resin.

본 발명에 따른 반도체 소자 도금용 점착시트의 일 예의 구성방법은 다음과 같다. 열경화성 아크릴계 점착수지, 열경화제, 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 및 에너지선 개시제 성분을 포함하는 점착제 조성물을 제조한다. 점착제 조성물은 용매의 양에 따라 적절한 점도로 제조 될 수 있다. 점착시트를 제조하는 방법으로는 점착제 조성물을 직접 기재에 코팅 및 건조 공정을 통해 점착제층을 형성하는 캐스팅법과 점착제 조성물을 이형필름 위에 코팅 및 건조시켜 점착제층을 형성하여 기재에 라미네이션을 한 뒤, 전사시키는 전사법 등이 있다. 점착제층의 코팅 두께는 5 내지 25㎛가 바람직하며, 6 ㎛ 내지 10 ㎛가 더욱 바람직하다.The construction method of an example of the pressure sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating according to the present invention is as follows. A pressure-sensitive adhesive composition comprising a thermosetting acrylic pressure-sensitive adhesive resin, a thermosetting agent, an energy ray-curable acrylic oligomer resin, and an energy ray initiator component is prepared. The pressure-sensitive adhesive composition may be prepared at an appropriate viscosity depending on the amount of the solvent. As a method of manufacturing the pressure-sensitive adhesive sheet, the pressure-sensitive adhesive composition is directly coated on a substrate and dried to form a pressure-sensitive adhesive layer by coating and drying the pressure-sensitive adhesive composition on a release film. And the transfer method. 5-25 micrometers is preferable and, as for the coating thickness of an adhesive layer, 6 micrometers-10 micrometers are more preferable.

상기의 점착제층은 가시광선, 자외선 및 전자선 등의 에너지선에 의해 경화될 수 있다. 에너지선의 종류는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 자외선을 이용하여 경화시키는 것이 바람직하다. 자외선을 이용하여 경화할 때에는 광량의 조절이 중요하다. 광량이 적을 경우에는 경화반응물 중에 미 반응물이 포함되는 경우가 발생될 수 있으며, 광량이 많을 경우에는 기재나 점착수지의 분해가 일어날 수도 있으며, 수반된 적외선의 열에 의한 부작용이 발생될 수도 있다. 따라서, 광량은 자외선 A영역을 기준으로 10 내지 2000 mJ/㎠이 바람직하며, 400 내지 1000 mJ/㎠가 더욱 바람직하다. 자외선 경화시 사용될 수 있는 자외선 램프는 크게 단파장(자외선 B, C) 영역을 주영역으로 포함하는 수은 램프와 장파장(자외선 A)영역을 주영역으로 포함하는 메탈 할라이드 램프로 나누어 지며, 두 가지 램프를 혼합 또는 단독으로 사용할 수도 있다. 자외선 램프의 광량은 램프 높이나 자외선의 조사시간을 통해 조절할 수 있다. 추가적으로, 상기의 점착제층은 숙성실 또는 오븐에서 열경화될 수 있다. 열경화 온도는 25 내지 80 ℃에서 이루어지는 것이 바람직하며, 40 내지 60 ℃가 더욱 바람직하다. 숙성기간은 5 내지 7일이 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive layer may be cured by energy rays such as visible rays, ultraviolet rays, and electron beams. Although the kind of energy ray is not specifically limited, It is preferable to harden | cure using an ultraviolet-ray. Controlling the amount of light is important when curing using ultraviolet rays. When the amount of light is low, unreacted substances may be included in the curing reaction. When the amount of light is high, decomposition of the substrate or adhesive resin may occur, and side effects may occur due to the accompanying heat of infrared rays. Therefore, the light amount is preferably 10 to 2000 mJ / cm 2, more preferably 400 to 1000 mJ / cm 2 based on the ultraviolet ray A region. UV lamps that can be used for UV curing are largely divided into mercury lamps containing short wavelength (ultraviolet rays B and C) regions and metal halide lamps containing long wavelength (ultraviolet rays A) regions as main regions. It may be used alone or in combination. The amount of light of the ultraviolet lamp can be adjusted by the lamp height or the irradiation time of ultraviolet rays. In addition, the pressure-sensitive adhesive layer may be thermally cured in a aging room or oven. It is preferable that a thermosetting temperature consists of 25-80 degreeC, and 40-60 degreeC is more preferable. The maturation period is preferably 5 to 7 days.

반도체 소자 제조 공정중의 일부 공정인 에폭시 몰딩 공정에서 리드 프레임과 에폭시의 결합력이 낮아서 반도체 소자의 신뢰성 문제가 있었다. 리드 프레임 도금공정은 에폭시 몰딩 공정 전(煎) 단계의 공정이며, 리드 프레임과 에폭시의 결합력을 높일 수 있다. 상기 반도체 소자 도금용 점착시트는 리드 프레임의 한 면을 도금할 때에, 다른 한 면의 리드 프레임을 도금액의 침투로부터 보호하는 역할을 한다. 도금공정의 일 예의 방법은 다음과 같다. 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드 프레임에 압착하는 단계, 상기 리드 프레임의 다른 한 면을 도금하는 단계, 상기 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드프레임으로부터 박리하는 단계를 포함하는 도금방법이다.In the epoxy molding process, which is a part of the semiconductor device manufacturing process, there is a problem of reliability of the semiconductor device due to a low bonding force between the lead frame and the epoxy. The lead frame plating process is a step before the epoxy molding process, and can increase the bonding strength between the lead frame and the epoxy. The adhesive sheet for semiconductor element plating serves to protect the lead frame on the other side from the penetration of the plating liquid when plating one side of the lead frame. An example method of the plating process is as follows. Crimping the pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating on the lead frame, plating the other side of the lead frame, peeling the pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating from the lead frame.

본 발명의 반도체 소자 도금용 점착시트의 일 예의 구조를 도 1에 도시하였다. 기재필름(1) 위에 점착제층(2)이 도포되고, 점착제층을 보호하기 위해 이형필름(3)이 적층 되어 있는 구조이다.
The structure of an example of the pressure sensitive adhesive sheet for semiconductor element plating of the present invention is shown in FIG. 1. The adhesive layer 2 is apply | coated on the base film 1, and in order to protect an adhesive layer, the release film 3 is laminated | stacked.

이하, 실시예 및 비교예를 들어 본 발명을 보다 자세히 설명할 것이다. 그러나 본 발명이 이로써 한정되는 것은 아니다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples. However, the present invention is not limited thereto.

[실시예]
[Example]

<실시예 1> &Lt; Example 1 >

열경화성 아크릴계 점착수지(AT-5910;삼원) 59.81중량, 멜라민계 경화제(SM-20;삼원)는 1.37중량 및 초산 에틸 용매 38.82중량을 사용하여 점착제 조성물을 제조하였다. 상기 점착제 조성물을 내열성 기재인 폴리이미드 필름(LN100;코오롱(Kolon);25 ㎛)에 두께가 6㎛로 되도록 코팅 및 건조하였다. 이후, 50℃에서 숙성하여 점착제층을 경화시켜 점착시트를 제조하였다.
59.81 weight of the thermosetting acrylic adhesive resin (AT-5910; three-way), melamine curing agent (SM-20; three-way) was prepared using the pressure-sensitive adhesive composition using 1.37 weight and 38.82 weight of ethyl acetate solvent. The pressure-sensitive adhesive composition was coated and dried to a thickness of 6 μm on a polyimide film (LN100; Kolon; 25 μm) which is a heat resistant substrate. Thereafter, by aging at 50 ℃ to cure the pressure-sensitive adhesive layer to prepare an adhesive sheet.

<실시예 2> <Example 2>

열경화성 아크릴계 점착수지(AT-311;삼원) 47.1중량, 멜라민계 경화제(SM20;삼원) 1.7중량, 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지인 우레탄계 아크릴레이트(EB280;싸이텍(Cytec)) 3중량, 에너지선(자외선) 개시제 2,4,6-트라이메틸벤조일-다이페닐 포스핀(Darocur TPO; 씨바(Ciba)) 0.05중량, 하이드록시싸이클로헥실 페닐케톤 (Irgacure184; 씨바) 0.05중량 및 초산 에틸 용매 48.1중량을 사용하여 점착제 조성물을 제조하였다. 상기 점착제 조성물을 내열성 기재인 폴리이미드 필름 (25NPI;카네카(Kaneka);25 ㎛)에 두께가 8㎛ 되도록 코팅 및 건조하였다. 이후, 자외선 조사(자외선 조사량 약800 mJ/㎠) 및 50℃에서 숙성하여 점착제층을 경화시켜 점착시트를 제조하였다.
47.1 weight of thermosetting acrylic adhesive resin (AT-311; Samwon), 1.7 weight of melamine curing agent (SM20; Samwon), 3 weight of urethane acrylate (EB280; Cytec), an energy ray curable acrylic oligomer resin, and energy ray ( UV) initiator 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl phosphine (Darocur TPO; Ciba) 0.05 weight, hydroxycyclohexyl phenyl ketone (Irgacure184 (Ciba) 0.05 weight and ethyl acetate 48.1 weight using To prepare an adhesive composition. The pressure-sensitive adhesive composition was coated and dried to a thickness of 8 μm on a polyimide film (25 NPI; Kaneka; 25 μm) which is a heat resistant substrate. Thereafter, the pressure sensitive adhesive layer was cured by ultraviolet irradiation (ultraviolet radiation dose about 800 mJ / ㎠) and 50 ℃ to prepare an adhesive sheet.

<실시예 3> <Example 3>

열경화성 아크릴계 점착수지(AT-5910;삼원) 48.5중량, 이소시네이트계 경화제(CAT45;삼원)는 1.00중량, 멜라민계 경화제(SM20;삼원) 0.62중량, 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지인 우레탄계 아크릴레이트 (EB280;싸이텍(Cytec)) 2.88중량, 에너지선 경화형 올리고머 수지인 페닐 노볼락계 아크릴레이트 (EB9656;싸이텍(Cytec)) 3.7중량, 자외선 개시제인 2,4,6-트라이메틸벤조일-다이페닐 포스핀(Darocur TPO; 씨바(Ciba)) 0.10중량, 하이드록시싸이클로헥실 페닐케톤 (Irgacure184; 씨바) 0.09중량 및 초산 에틸 용매 43.03중량을 사용하여 점착제 조성물을 제조하였다. 상기 점착제 조성물을 내열성기재인 폴리이미드 필름 (LN100;코오롱(Kolon);25 ㎛)에 두께가 6㎛ 되도록 코팅 및 건조하였다. 이후, 자외선 조사(자외선 조사량 약 800 mJ/㎠) 및 50℃에서 숙성하여 점착제층을 경화시켜 점착시트를 제조하였다.
48.5 weight of thermosetting acrylic adhesive resin (AT-5910; three-way), isocyanate-based curing agent (CAT45; three-way) is 1.00 weight, melamine-based curing agent (SM20; three-way) 0.62 weight, urethane acrylate which is energy ray-curable acrylic oligomer resin ( EB280; Cytec) 2.88 weights, phenyl novolac acrylate (EB9656; Cytec), an energy ray-curable oligomer resin, 3.7 weights, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl as an ultraviolet initiator An adhesive composition was prepared using 0.10 weight of phosphine (Darocur TPO; Ciba), 0.09 weight of hydroxycyclohexyl phenyl ketone (Irgacure184; Ciba), and 43.03 weight of ethyl acetate solvent. The pressure-sensitive adhesive composition was coated and dried to a thickness of 6 μm on a polyimide film (LN100; Kolon; 25 μm) which is a heat resistant substrate. Subsequently, the pressure sensitive adhesive layer was cured by ultraviolet irradiation (ultraviolet radiation dose about 800 mJ / cm 2) and aged at 50 ° C. to prepare an adhesive sheet.

이상의 각 실시예에 사용된 점착제 조성물의 성분과 그 함량을 아래 표 1에 나타내었다.
The components of the pressure-sensitive adhesive composition used in each of the above examples and their contents are shown in Table 1 below.

구분division 중량비Weight ratio 실시예1Example 1 실시예2Example 2 실시예3Example 3 열경화성아크릴계 점착수지Thermosetting Acrylic Adhesive AT-5910AT-5910 59.8159.81 -- 48.5848.58 AT-311AT-311 -- 47.147.1 -- 열경화제Thermosetting agent CAT45CAT45 -- -- 1.001.00 SM20SM20 1.371.37 1.71.7 0.620.62 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지Energy-ray cured acrylic oligomer resin EB280EB280 -- 33 2.882.88 EB9656EB9656 -- -- 3.73.7 에너지선 개시제Energy ray initiator Darocur TPODarocur TPO -- 0.050.05 0.100.10 Irgacure 184Irgacure 184 -- 0.050.05 0.090.09 용매menstruum 초산에틸Ethyl acetate 38.8238.82 48.148.1 43.0343.03 자외선 조사량(mJ/cm2)UV dose (mJ / cm 2 ) -- 약800About 800

[실험예]
Experimental Example

<실험예 1: 180° 박리력 측정법 Ⅰ> Experimental Example 1: 180 ° Peeling Force Measurement Method I

상기의 실시예 1 내지 3의 점착시트를 가로 2.54㎝, 세로 15㎝로 준비하고, 피착제로 사용할 동박 (미쯔이; 3EC-HTE-AT) 표면을 메틸에틸케톤이나 아세톤으로 세척한 후, 동박과 점착시트를 고무롤러(약 2㎏)를 사용하여, 2회 문질러 적층 시켰다. 이후 샘플을 130 ℃ 플레이트 위에 올려놓고, 그 위에 실리콘 고무를 얹어 두어 10분 동안 열을 가하였다. 이후 상온에서 30분 동안 보관한 뒤, 샘플을 300㎜/min의 속도로 180° 박리력을 측정하였다.
After preparing the pressure-sensitive adhesive sheet of Examples 1 to 3 in the width 2.54cm, length 15cm, after washing the surface of the copper foil (Mitsui; 3EC-HTE-AT) to be used as an adhesive with methyl ethyl ketone or acetone, the copper foil and adhesive The sheets were rubbed twice using a rubber roller (about 2 kg) to be laminated. The sample was then placed on a 130 [deg.] C. plate, placed on top of silicone rubber and heated for 10 minutes. After storing for 30 minutes at room temperature, the sample was measured 180 ° peel force at a rate of 300 mm / min.

<실험예 2: 180° 박리력 측정법 II>Experimental Example 2: 180 ° Peeling Force Measurement Method II

상기의 실시예 1 내지 3의 점착시트를 가로 2.54㎝, 세로 15㎝로 준비하고, 피착제로 사용할 동박(미쯔이; 3EC-HTE-AT), 스테인리스 스틸판 및 유리판의 표면을 메틸에틸케톤이나 아세톤으로 세척한 후, 피착제들과 점착시트를 고무롤러(약2㎏)를 사용하여, 왕복 1회 문질러 적층시켜 각 피착제에 따른 샘플들을 제작하였다. 이후 상온에서 30분 동안 보관한 뒤, 샘플들을 300㎜/min의 속도로 180° 박리력을 측정하였다.
The adhesive sheets of Examples 1 to 3 were prepared in a width of 2.54 cm and a length of 15 cm, and the surface of copper foil (Mitsui; 3EC-HTE-AT), stainless steel plate, and glass plate to be used as an adhesive was coated with methyl ethyl ketone or acetone. After washing, the adherends and the pressure sensitive adhesive sheet were rubbed and laminated once by reciprocating using a rubber roller (about 2 kg) to prepare samples for each adherend. After storage for 30 minutes at room temperature, the samples were measured for 180 ° peel force at a rate of 300 mm / min.

상기 실험예 1 내지 2의 박리력 측정 결과를 하기 표 2에 나타냈다.
The peeling force measurement results of Experimental Examples 1 and 2 are shown in Table 2 below.

피착제Adhesive 박리력
측정법
Peel force
Measure
180°Peel 강도(g. f/2.54㎝)180 ° Peel Strength (g. F / 2.54cm)
실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 비고Remarks 동박Copper foil I 478.21478.21 373.56373.56 159.43159.43 130℃× 10min130 ℃ × 10min 유리판Glass plate 86.4286.42 56.9856.98 39.3439.34 25℃25 ℃ 스테인리스 스틸판Stainless steel plate 92.4792.47 67.4467.44 40.5640.56 25℃25 ℃ 동박Copper foil 101.10101.10 86.4286.42 52.3252.32 25℃25 ℃

상기 표 2에서 알 수 있는 바와 같이, 상온처리 한 샘플(박리력 측정법 Ⅱ를 사용한 실험예 2의 샘플)들은 피착제 별로 30 내지 110 g?f/2.54㎝정도였지만, 약 130℃에서 10분간 온도를 부과한 샘플(박리력 측정법 Ⅰ을 사용한 실험예 1의 샘플)의 경우에는 150 내지 480 g?f/2.54㎝정도로 점착력이 상승하였다. 상기 표 2에서 실시예 1은 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지를 사용하지 않은 것이고, 실시예 2, 3은 열경화성 아크릴계 점착수지 100 중량부를 기준으로 각각 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지를 약 6.4 중량부(실시예 2), 약 13.5 중량부(실시예 3) 사용한 것이다. 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 함량 비율이 높을수록 점착층의 내부 응집성이 높아져 박리력이 낮아진 것을 알 수 있다.
As can be seen in Table 2, the samples treated at room temperature (samples of Experimental Example 2 using the peel force measuring method II) were about 30 to 110 g? F / 2.54 cm for each adherend, but the temperature was about 130 ° C. for 10 minutes. In the case of the sample (the sample of Experimental Example 1 which used the peeling force measuring method I) which imposed, the adhesive force rose about 150-480 g * f / 2.54 cm. In Table 2, Example 1 is not using the energy ray-curable acrylic oligomer resin, Examples 2 and 3 are about 6.4 parts by weight of the energy ray-curable acrylic oligomer resin based on 100 parts by weight of the thermosetting acrylic adhesive resin (Example 2), about 13.5 parts by weight (Example 3). It can be seen that the higher the energy ray-curable acrylic oligomer resin content ratio, the higher the internal cohesion of the pressure-sensitive adhesive layer and the lower the peeling force.

<실험예 3: 박리성 측정법>Experimental Example 3: Peelability Measurement Method

상기 실험예 1 내지 2의 측정법에 따라 박리력을 측정한 샘플(180° 박리력 측정법Ⅰ과 Ⅱ)들의 피착제인 동박, 스테인리스 스틸판 및 유리판 표면 점착제 잔류물 유무를 시각으로 검사한다. 박리 시, 점착시트의 테두리를 따라 발생된 점착 잔류물을 제외한, 표면에서 발생된 잔류물이 없다면 '정상', 잔류물이 있으면 '비정상' 샘플로 판정하였다.
The presence or absence of adhesive residue on the surface of the copper foil, the stainless steel plate and the glass plate, which are the adherends of the samples (180 ° peeling force measuring methods I and II), measured according to the measuring methods of Experimental Examples 1 and 2, were visually inspected. At the time of peeling, it was judged as 'normal' if there was no residue generated on the surface except for the adhesive residue generated along the edge of the pressure sensitive adhesive sheet and 'abnormal' sample if there was a residue.

상기 실험예 3의 결과를 하기 표 3에 나타냈다. 하기 표 3에서 "○"는 피착제 표면에 점착제 잔류물이 존재하지 않는 '정상' 샘플을 나타낸다.
The results of Experimental Example 3 are shown in Table 3 below. In the following Table 3, "o" indicates a "normal" sample in which no adhesive residue is present on the surface of the adherend.

피착제Adhesive 박리력
측정법
Peel force
Measure
점착잔류물 유?무 (정상:○/비정상:X)Adhesive residue (Normal: ○ / Abnormal: X)
실시예1Example 1 실시예2Example 2 실시예3Example 3 비고Remarks 동박Copper foil I 130℃ × 10min130 ℃ × 10min 유리판Glass plate 25℃25 ℃ 스테인리스 스틸판Stainless steel plate 25℃25 ℃ 동박Copper foil 25℃25 ℃

상기 표 3에서 알 수 있는 바와 같이, 모든 샘플들의 피착제 표면에는 점착제 잔류물이 존재하지 않았다. 이로써, 상기 실시예들의 박리성이 우수하며, 특히, 130℃에서 10분간 온도를 부가한 샘플(박리력 측정법Ⅰ샘플)의 경우에는 내부 응집성을 확인할 수 있었다.
As can be seen in Table 3, there was no adhesive residue on the adherend surface of all the samples. As a result, the peelability of the above embodiments was excellent, and in particular, in the case of a sample (peel force measuring method I sample) added with a temperature at 130 ° C. for 10 minutes, internal cohesion was confirmed.

<실험예 4: 내화학성 측정법>Experimental Example 4: Chemical Resistance Measurement Method

본 실험은 ASTM D4213에 의한 MEK rubbing test로 마강판(steel panel)위에 20㎛ 두께로 실시예 1내지 3의 조성물을 건조하였다. 이후, 자외선 조사(자외선 조사량 약 800 mJ/㎠) 및 50℃에서 숙성하여 점착제층을 경화시켜 제조하였다. 상기와 같이 제조된 경화 시편을 45℃에서 3일간 보관한 뒤, 가제에 MEK를 묻혀 왕복을 1회로 하여 경화된 도막이 MEK에 용해되어 마강판이 보이기 시작하는 횟수를 측정하였다.
In this experiment, the composition of Examples 1 to 3 was dried to a thickness of 20 μm on a steel panel by a MEK rubbing test according to ASTM D4213. Subsequently, it was prepared by curing the pressure-sensitive adhesive layer by aging at ultraviolet irradiation (ultraviolet radiation dose about 800 mJ / ㎠) and 50 ℃. After storing the cured specimens prepared as described above at 45 ° C. for 3 days, the number of times the cured coating film was dissolved in the MEK and the finish plate began to be seen by burying MEK in gauze and reciprocating once.

상기 실험예 4의 결과를 하기 표 4에 나타냈다.The results of Experimental Example 4 are shown in Table 4 below.

내화학성 측정법Chemical resistance measuring method 실시예1Example 1 실시예2Example 2 실시예3Example 3 100회 이상100 times or more 150회 이상More than 150 times 200회 이상200 or more times

상기 표 4에서 알 수 있는 바와 같이, 경화 시편을 균일한 힘으로 문지른 결과 실시예1(100회 이상)에서 실시예3(250회 이상)으로 갈수록 횟수가 증가하였다. 결과적으로 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 함량이 높을수록 점착층의 내부 응집성이 높아져 내화학성이 높아진 것을 알 수 있다.As can be seen in Table 4, as a result of rubbing the hardened specimen with a uniform force, the number of times increased from Example 1 (100 times or more) to Example 3 (250 times or more). As a result, it can be seen that the higher the energy ray-curable acrylic oligomer resin content, the higher the internal cohesion of the adhesive layer and the higher the chemical resistance.

위에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 소자 도금용 점착시트는 열경화성 아크릴계 점착수지 100중량부를 기준으로 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 1 내지 20중량부 사용될 경우에 도금공정 시 높은 내화학성을 확보할 수 있고, 박리 시 부착표면에 잔류물이 점착되지 않고 박리가 가능하며, 신뢰성 및 작업성이 특히 우수한 것을 확인할 수 있다. 특히, 상황에 따른 강한 내화학성 필요시 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 함유량을 높여 상호침투에 의한 가교구조를 더욱 강화시킬 수 있고 이에 따라 응집력 및 내화학성등을 향상시킬 수 있다. As described above, the adhesive sheet for semiconductor device plating according to the present invention can ensure high chemical resistance during the plating process when 1 to 20 parts by weight of the energy ray-curable acrylic oligomer resin based on 100 parts by weight of the thermosetting acrylic adhesive resin. When peeling, it can be confirmed that the residue can be peeled off without sticking to the adhered surface, and the reliability and workability are particularly excellent. In particular, when strong chemical resistance is required according to the situation, the energy ray-curable acrylic oligomer resin content may be increased to further strengthen the crosslinked structure by interpenetration, thereby improving cohesion and chemical resistance.

이상에서 본 발명은 몇몇 실시예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정된 사항은 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the present invention has been described in detail with reference to only a few embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the present invention, and such changes and modifications are within the scope of the appended claims.

1: 기재필름
2: 점착제층
3: 이형필름
1: base film
2: adhesive layer
3: release film

Claims (11)

기재, 상기 기재의 적어도 한 면에 형성된 점착제층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트. An adhesive sheet for semiconductor element plating comprising a substrate, and an adhesive layer formed on at least one side of the substrate. 제1항에 있어서, 상기 점착제층은 열경화성 아크릴계 점착수지 및 열경화제를 포함하는 점착조성물로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The adhesive sheet for semiconductor device plating according to claim 1, wherein the pressure-sensitive adhesive layer is made of a pressure-sensitive adhesive composition comprising a thermosetting acrylic adhesive resin and a thermosetting agent. 제2항에 있어서, 상기 점착조성물은 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지와 에너지선 개시제를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트. The pressure-sensitive adhesive sheet of claim 2, wherein the pressure-sensitive adhesive composition further comprises an energy ray-curable acrylic oligomer resin and an energy ray initiator. 제1항 내지 제3항의 어느 한 항에 있어서, 상기 기재는 폴리에스터, 폴리이미드, 폴리아미드, 폴리에테르 술폰, 폴리페닐렌 설파이드, 폴리에테르 케톤, 폴리에테르 에테르케톤, 트리아세틸 셀롤로스, 폴리에테르 이미드, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 폴리프로필렌 및 폴리카보네이트로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 필름인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The method of claim 1, wherein the substrate is polyester, polyimide, polyamide, polyether sulfone, polyphenylene sulfide, polyether ketone, polyether ether ketone, triacetyl cellulose, polyether Adhesive sheet for semiconductor element plating, characterized in that at least one film selected from the group consisting of imide, polyethylene naphthalate, polypropylene and polycarbonate. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 열경화성 아크릴계 점착수지의 중량평균분자량은 40,000 내지 3,000,000인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating according to claim 2 or 3, wherein the weight average molecular weight of the thermosetting acrylic pressure-sensitive adhesive resin is 40,000 to 3,000,000. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 열경화제는 멜라민계, 이소시아네이트계로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종 혼합물인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The pressure sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating according to claim 2 or 3, wherein the thermosetting agent is a single or a mixture of two selected from the group consisting of melamine and isocyanate. 제3항에 있어서, 상기 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지는 우레탄계 아크릴레이트, 폴리에테르 및 폴리에스터 아크릴레이트, 에폭시 아크릴레이트, 아크릴릭 아크릴레이트로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The method of claim 3, wherein the energy radiation curable acrylic oligomer resin is a urethane-based acrylate, polyether and polyester acrylate, epoxy acrylate, acrylic acrylate selected from the group consisting of a single or two or more kinds, characterized in that Adhesive sheet for semiconductor device plating. 제3항에 있어서, 상기 에너지선 개시제는 벤질다이메틸케탈, 하드록시싸이클로헥실 페닐 케톤, 하이드록시 다이메틸 아세토페논, 메틸-[4메틸티오페닐]-2-모포린 프로파논, 4-벤질-4'-메틸다이페닐 설파이드, 아이소프로필티옥산톤, 2-클로로티옥산톤, 에틸-4-다이 메틸아미노벤조에이트, 2-에틸헥실-4-다이메틸아미노벤조에이트, 벤조페논, 4-메틸벤조페논, 메틸-오르쏘-벤조-벤조에이트, 메틸벤조일포메이트, 4-페닐벤조페논, 2,4,6-트라이메틸벤조일-다이페닐 포스핀 및 2-하이드록시-1,2-다이페닐 에타논으로 이루어진 군에서 선택되는 단독 혹은 2종이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.4. The method of claim 3, wherein the energy ray initiator is benzyl dimethyl ketal, hydroxycyclohexyl phenyl ketone, hydroxy dimethyl acetophenone, methyl- [4 methylthiophenyl] -2- morpholine propanone, 4-benzyl- 4'-methyldiphenyl sulfide, isopropyl thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, ethyl-4-dimethylaminobenzoate, 2-ethylhexyl-4-dimethylaminobenzoate, benzophenone, 4-methyl Benzophenone, methyl-ortho-benzo-benzoate, methylbenzoylformate, 4-phenylbenzophenone, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl phosphine and 2-hydroxy-1,2-diphenyl Adhesive sheet for semiconductor element plating, characterized in that the single or a mixture of two or more selected from the group consisting of ethanone. 제3항에 있어서, 상기 열경화성 아크릴계 점착수지 100 중량 대비 상기 열경화제 1 내지 20 중량부, 상기 에너지선 경화형 아크릴계 올리고머 수지 1 내지 20 중량부, 상기 에너지선 개시제 1 내지 20 중량부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.According to claim 3, 1 to 20 parts by weight of the thermosetting agent, 1 to 20 parts by weight of the energy ray-curable acrylic oligomer resin, 1 to 20 parts by weight of the energy ray initiator based on 100 weight of the thermosetting acrylic adhesive resin Adhesive sheet for semiconductor element plating. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 점착조성물의 유리전이온도는 10 내지 40℃인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 도금용 점착시트.The pressure-sensitive adhesive sheet for semiconductor device plating according to claim 2 or 3, wherein the pressure-sensitive adhesive composition has a glass transition temperature of 10 to 40 ° C. 제1항의 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드 프레임에 압착하는 단계, 상기 리드 프레임의 다른 한 면을 도금하는 단계, 상기 반도체 소자 도금용 점착시트를 리드프레임으로부터 박리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 리드 프레임의 도금방법.Comprising the step of pressing the adhesive sheet for semiconductor element plating on the lead frame, plating the other side of the lead frame, the step of peeling the adhesive sheet for semiconductor element plating from the lead frame Plating method of semiconductor device lead frame.
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