KR20120065589A - 저전력을 위한 타일 비닝 장치 및 방법 - Google Patents

저전력을 위한 타일 비닝 장치 및 방법 Download PDF

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삼성전자주식회사
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Abstract

저전력을 위한 타일 비닝 장치 및 방법이 개시된다. 타일 비닝 장치는 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일이 1차원 타일인지 여부에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 오버랩 테스트를 수행할 지 여부를 결정함으로써, 불필요한 연산을 수행하지 않아 전력 소모를 줄일 수 있다.

Description

저전력을 위한 타일 비닝 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TILE BINNING FOR LOW POWER}
본 발명은 저전력을 위한 타일 비닝 장치 및 방법에 관한 것으로, 3차원 렌더링을 위한 삼각형의 바운딩 박스가 오버랩된 타일이 1차원인지 여부에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 과정을 수행할 지 여부를 결정하여 불필요한 전력을 감소시키는 장치 및 방법에 관한 것이다.
3차원 렌더링 기술이 발전하면서 해당 기술이 모바일 멀티미디어 기기에도 적용되고 있다. 모바일 멀티미디어 기기는 제한된 전력에서 여러 가지 어플리케이션을 동작시켜야 하기 때문에, 저전력을 위한 기술이 가장 핵심적인 이슈이다.
특히, 3차원 렌더링 기술은 3차원 객체를 2차원 평면상에 표시하여야 하는 기술로서, 많은 연산을 필요로 한다. 구체적으로, 3차원 렌더링 기술에서 3차원 객체에 대해 기하 처리를 수행한 결과인 삼각형이 2차원 평면의 타일과 겹치는 정보가 중요하다. 이 때, 삼각형이 2차원 평면의 타일과 겹치는 정도가 클수록 필요한 메모리의 읽기 연산은 많아지며, 이로 인해 많은 전력이 소모된다.
그래서, 삼각형이 2차원 평면의 타일과 겹치는 정도인 오버랩 팩터를 감소시키는 작업을 추가적으로 수행함으로써 메모리의 사용으로 인한 전력 소모를 줄일 수 있다. 그러나, 오버랩 팩터를 감소시키는 작업 역시 추가적인 연산을 필요로 하기 때문에, 이러한 작업을 선택적으로 수행할 수 있는 기준이 요구된다.
본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝 장치는 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 제1 오버랩 테스트부; 상기 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 관리하는 전력 관리부; 및 상기 전력 관리부의 동작에 기초하여 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 타일 비닝 장치는 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 1D 타일 판단부; 및 상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 전력 조절부를 포함하고, 상기 제1 오버랩 테스트부는, 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하고, 상기 제2 오버랩 테스트부는, 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝 방법은 제1 오버랩 테스트부가 지오메트리 처리 결과 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 단계; 전력 관리부가 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력한 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 관리하는 단계; 및 상기 제2 오버랩 테스트부가 상기 전력 관리부의 동작에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 타일 비닝 방법은 제1 오버랩 테스트부가 지오메트리 처리 결과 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 단계; 및 전력 관리부가 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력한 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 수행 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 타일 비닝 방법은 1D 타일 판단부가 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계; 및 전력 조절부가 상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 단계를 포함하고, 상기 제1 오버랩 테스트부는, 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하고, 상기 제2 오버랩 테스트부는, 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 삼각형의 바운딩 박스에 오버랩된 타일이 1차원 타일인지 여부에 기초하여 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키기 위한 추가 연산을 수행하는 것을 결정함으로써, 불필요한 전력 소모를 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 3D 렌더링 장치의 전체 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 도 1의 타일 비닝부의 세부 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 도 2의 전력 관리부의 세부 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따라 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원 타일인 경우를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝 방법을 도시한 플로우차트이다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 3D 렌더링 장치의 전체 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 1을 참고하면, 3D 렌더링 장치는 버텍스 쉐이더(101), 지오메트리 처리부(102), 타일 비닝부(103), 장면 버퍼 관리부(104), 프래그먼트 생성부(105), 픽셀 쉐이더(106), 래스터라이저(107) 및 장면 버퍼(108)를 포함할 수 있다.
외부로부터 Ni개의 삼각형이 입력되면, 버텍스 쉐이더(101)는 입력된 삼각형 각각의 꼭지점(vertex)에 대해 쉐이딩할 수 있다. 즉, 버텍스 쉐이더(101)는 현실감있는 물체의 그래픽을 위해 삼각형 각각의 꼭지점에 음영과 색상 패턴을 적용할 수 있다.
지오메트리 처리부(102)는 Ni개의 삼각형에 대해 클리핑 처리를 수행하고, 광원을 계산하며, 투영 기법을 통해 좌표 변환을 수행함으로써 Ng개의 삼각형을 출력할 수 있다. 만약, Ni개의 삼각형이 클리핑 영역에 완전히 존재하지 않는다면, 클리핑 처리로 인해 삼각형의 개수는 증가할 수 있다.
타일 비닝부(103)는 입력된 Ng개의 삼각형이 2차원 평면을 구성하는 복수의 타일 중 어느 타일에 오버랩되는 지 여부를 판단할 수 있다. 우선, 타일 비닝부(103)는 삼각형을 둘러싸는 바운딩 박스를 통해 삼각형이 어떤 타일과 오버랩되는 지 여부를 판단할 수 있다. 타일 비닝부(103)의 결과, 장면 버퍼(108)에서 읽어들이는 삼각형의 개수는 오버랩 팩터(Overlap Factor: OF)와 Ng의 곱이 된다. 여기서, 오버랩 팩터는 삼각형이 타일과 오버랩된 정도를 나타내는 수치로, 오버랩 팩터가 클수록 삼각형과 오버랩된 타일의 영역이 크고, 이로 인해 메모리의 읽기 연산이 증가한다. 결국, 메모리의 읽기 연산이 증가함으로써 전력 소모가 증가한다.
그래서, 본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝부(103)는 메모리의 읽기 연산으로 인한 전력 소모를 줄이기 위해 오버랩 팩터를 감소시키는 연산을 추가적으로 수행할 수 있다. 그러나, 오버랩 팩터를 감소시키는 연산도 전력을 소모하며, 항상 필요한 작업이라고 볼 수 없다. 따라서, 본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝부(103)는 1차적으로 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원 타일인지 여부에 따라 2차적으로 오버랩 팩터를 감소시키는 연산을 수행할 수 있다. 타일 비닝부(103)의 동작에 대해서는 도 2 내지 도 7에서 구체적으로 설명하기로 한다.
장면 버퍼 관리부(104)는 장면 버퍼(108)에 저장된 삼각형 중 OF×Ng개의 삼각형을 로딩할 수 있다.
프래그먼트 생성부(105)는 로딩된 OF×Ng개의 삼각형에 대해 프래그먼트를 생성할 수 있다. 화면 상의 한 점을 픽셀이라고 하면, 프래그먼트는 픽셀의 색을 결정하기 위해 3D 렌더링 장치에서 관리하는 단위를 의미한다.
픽셀 쉐이더(106)는 프래그먼트에 포함된 픽셀에 대해 쉐이딩을 수행할 수 있다. 그리고, 래스터라이저는 쉐이딩된 프래그먼트를 대상으로 래스터 연산을 수행할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 도 1의 타일 비닝부의 세부 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 2를 참고하면, 타일 비닝부(103)는 제1 오버랩 테스트부(201), 전력 관리부(202), 제2 오버랩 테스트부(203) 및 버퍼링부(204)를 포함할 수 있다.
제1 오버랩 테스트부(201)는 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일을 출력할 수 있다. 이 때, 타일은 3차원 객체를 렌더링하기 위한 2차원 평면을 구성하는 타일을 의미한다.
전력 관리부(202)는 제1 오버랩 테스트부(201)의 결과에 기초하여 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부(203)의 전력을 관리할 수 있다. 일례로, 전력 관리부(202)는 제1 오버랩 테스트부(201)의 결과로 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원 타일인지 여부에 따라 제2 오버랩 테스트부(203)의 동작과 관련된 전력을 온/오프할 수 있다. 전력 관리부(202)의 동작에 대해서는 도 3에서 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
제2 오버랩 테스트부(203)는 전력 관리부(202)의 동작에 기초하여 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다. 앞서 설명하였듯이, 오버랩 팩터는 삼각형과 타일이 오버랩되는 정도를 나타내는 수치로, 오버랩 팩터가 클수록 삼각형은 더 많은 타일과 오버랩된다. 결국, 오버랩 팩터가 클수록 삼각형과 오버랩된 타일이 증가함으로써 타일 비닝 정보의 크기가 증가하며, 이로 인해 메모리의 읽기 연산이 증가함으로써 전력 소모도 증가한다.
따라서, 제2 오버랩 테스트부(203)는 오버랩 팩터를 감소시킴으로써 메모리의 읽기 연산을 줄일 수 있다. 그러나, 오버랩 팩터를 감소시키는 작업도 추가적인 연산이 요구되며, 이러한 연산으로 인해 전력 소모가 발생한다.
결국, 전력 관리부(202)는 제1 오버랩 테스트부(201)의 결과에 기초하여 제2 오버랩 테스트부(203)의 동작과 관련된 전력을 관리할 수 있다.
버퍼링부(204)는 삼각형의 데이터와 타일 비닝 정보를 메모리로 출력할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 도 2의 전력 관리부의 세부 구성을 도시한 블록 다이어그램이다.
도 3을 참고하면, 전력 관리부(202)는 1D 타일 판단부(301) 및 전력 조절부(302)를 포함할 수 있다.
1D 타일 판단부(301)는 제1 오버랩 테스트부(201)의 결과에 기초하여 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단할 수 있다. 일례로, 1D 타일 판단부(301)는 타일이 삼각형 전체를 포함하면 타일이 1차원인 것으로 판단할 수 있다. 또한, 1D 타일 판단부(301)는 타일의 X축 최소값이 X축 최대값과 같거나 또는 Y축 최소값이 Y축 최대값과 같으면 타일이 1차원인 것으로 판단할 수 있다.
전력 조절부(302)는 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부에 따라 제2 오버랩 테스트부(203)의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)할 수 있다. 구체적으로, 전력 조절부(302)는 타일이 1차원인 경우 제2 오버랩 테스트부(203)의 전력을 오프하고, 타일이 1차원이 아닌 경우, 제2 오버랩 테스트부(203)의 전력을 온할 수 있다. 즉, 타일이 1차원인 경우, 오버랩 팩터를 줄이기 위해 제2 오버랩 테스트부(203)를 추가적으로 동작시킬 필요가 없다. 따라서, 전력 조절부(302)는 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원 타일인 경우, 제2 오버랩 테스트부(203)를 동작시키지 않도록 전력을 차단할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따라 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원 타일인 경우를 도시한 도면이다.
데이터(401)를 참고하면, 하나의 타일이 삼각형을 완전히 포함하는 경우를 나타낸다. 즉, 데이터(401)는 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 하나인 경우를 나타낸다. 다시 말해서, 타일의 Xmin과 Xmax는 동일하며, 타일의 Ymin과 Ymax는 동일하다.
그리고, 데이터(402)를 참고하면, 삼각형의 바운딩 박스가 4개의 타일에 오버랩된 경우를 나타낸다. 즉, 데이터(402)는 X축 또는 Y축이 한 줄로 구성된 타일인 경우를 나타낸다. 다시 말해서, 타일의 Xmin과 Xmax가 동일하거나 또는 타일의 Ymin이 Ymax와 동일한 경우를 나타낸다.
이러한 경우, 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원이므로, 삼각형의 오버랩 팩터를 줄일 필요가 없다. 따라서, 전력 관리부(202)는 삼각형의 오버랩 팩터를 줄이기 위한 제2 오버랩 테스트부(203)의 전력을 차단하여 제2 오버랩 테스트부(203)가 동작하지 않도록 한다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 5를 참고하면, 삼각형(501)의 바운딩 박스(503)에 오버랩된 타일은 16개를 나타낸다. 그러나, 실제로 삼각형(501)이 오버랩된 타일은 음영이 표시된 타일(502) 0개이다. 결국, 제1 오버랩 테스트부(201)에 의하면, 삼각형(501)의 바운딩 박스(503)에 오버랩된 타일이 출력되고, 제2 오버랩 테스트부(203)에 의하면, 오버랩 팩터가 감소하여 삼각형(501)에 오버랩된 타일(502)이 출력된다.
그러나, 모든 삼각형에 대해 오버랩 팩터를 감소시킬 필요는 없다. 즉, 앞서 살펴보았듯이, 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인 경우, 제1 오버랩 테스트부(201)의 결과나 제2 오버랩 테스트부(203)의 결과는 동일하다. 이 경우, 제1 오버랩 테스트부(201)만 동작시켜 불필요한 제2 오버랩 테스트부(203)의 동작으로 인한 전력 소모를 줄일 수 있다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
도 6을 참고하면, 제2 오버랩 테스트부(203)는 하프 플레인 엣지 함수에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다. 하프 플레인 엣지 함수에 의하면, 직선의 우측에 존재하는 꼭지점의 판별값은 양수를 나타내고, 직선의 좌측에 존재하는 꼭지점의 판별값은 음수를 나타낸다.
꼭지점에 표시되어 있는 세 개의 식별 기호는 타일을 구성하는 꼭지점에 대해 하프 플레인 엣지 함수에 의한 제1 판별 값, 제2 판별 값 및 제3 판별 값을 의미하며, 흰색 식별 기호는 하프 플레인 에지 함수가 양수인 꼭지점을 의미하고, 검은색 식별 기호는 하프 플레인 에지 함수가 음수인 꼭지점을 의미한다.
영역(610)에 대응하는 7개의 타일은 꼭지점의 제1 판별값, 제2 판별값 및 제3 판별값이 모두 동일하지 않으며, 꼭지점의 제1 판별값, 제2 판별값 및 제3 판별 값이 모두 양수가 아니다. 따라서, 영역(710)에 대응하는 7개의 타일은 삼각형의 모서리 중 어느 하나를 포함하고 있는 것이므로, 삼각형의 일부를 포함하는 타일로 판별된다.
영역(620)에 대응하는 타일의 꼭지점에 대해 제1 판별값이 모두 음수이고, 제2 판별값 및 제3 판별값이 모두 양수이므로, 영역(620)에 대응하는 타일은 삼각형의 일부도 포함하지 않는다.
그리고, 영역(630)에 대응하는 타일의 꼭지점에 대해 제1 판별값 및 제3 판별값이 양수이고, 제2 판별값이 음수이므로, 영역(630)에 대응하는 타일은 삼각형의 일부도 포함하지 않는다.
이러한 과정을 통해 제2 오버랩 테스트부(203)는 삼각형에 오버랩된 타일을 정확하게 추출할 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
일례로, 제2 오버랩 테스트부(203)는 삼각형에 오버랩된 타일을 꼭지점 타일, 엣지 타일 및 내부 타일로 구분하여 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다.
도 7을 참고하면, 삼각형(701)의 꼭지점을 포함하는 꼭지점 타일은 3개의 타일(703)이고, 삼각형의 엣지를 포함하는 엣지 타일은 10개의 타일(702)이며, 삼각형의 내부에 포함된 내부 타일은 1개의 타일(704)이다. 그러면, 삼각형에 오버랩된 타일은 꼭지점 타일, 엣지 타일 및 내부 타일이며, 이외의 타일은 삼각형에 오버랩되지 않는 것으로 판단된다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 동작을 설명하는 도면이다.
일례로, 제2 오버랩 테스트부(203)는 삼각형의 바운딩 박스 내에서 삼각형의 엣지와 타일의 경계가 만나는 점에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시킬 수 있다. 구체적으로, 제2 오버랩 테스트부(203)는 삼각형의 바운딩 박스 내에서 삼각형의 엣지와 타일의 경계가 만나는 점을 찾고, 그 값의 min/max에 존재하는 타일은 삼각형과 오버랩되었다고 판단된다.
즉, 도 8을 참고하면, 제2 오버랩 테스트부(203)는 삼각형(801)의 바운딩 박스(802) 내에서 삼각형(801)의 엣지와 타일의 경계가 만나는 점(803)을 찾고, 해당 점의 최소값과 최대값의 범위에 존재하는 타일은 삼각형(801)과 오버랩되었다고 판단된다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 타일 비닝 방법을 도시한 플로우차트이다.
단계(S901)에서, 타일 비닝 장치는 삼각형을 수신할 수 있다. 이 때, 삼각형은 3차원 객체에 대해 지오메트리 처리에 의해 도출된 결과이다. 단계(S902)에서, 타일 비닝 장치는 삼각형의 바운딩 박스를 추출하고, 단계(S903)에서, 타일 비닝 장치는 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 추출할 수 있다.
그리고, 단계(S904) 및 단계(S905)에서, 타일 비닝 장치는 추출된 타일이 1차원 타일인지 여부를 판단할 수 있다. 만약, 추출된 타일이 1차원 타일인 경우, 단계(S908)에서, 타일 비닝 장치는 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 차단할 수 있다. 반대로, 추출된 타일이 1차원 타일이 아닌 경우, 단계(S906)에서, 타일 비닝 장치는 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 연결하고, 단계(S907)에서, 제2 오버랩 테스트부의 동작을 수행할 수 있다.
그런 후, 단계(S909)에서, 타일 비닝 과정이 완료되어, 실제 삼각형에 오버랩된 타일의 정보가 출력된다.
본 발명의 실시 예에 따른 방법들은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
103: 타일 비닝부
201: 제1 오버랩 테스트부
202: 전력 관리부
203: 제2 오버랩 테스트부
204: 버퍼링부

Claims (24)

  1. 지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 제1 오버랩 테스트부;
    상기 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 관리하는 전력 관리부; 및
    상기 전력 관리부의 동작에 기초하여 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부
    를 포함하는 타일 비닝 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 전력 관리부는,
    상기 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 상기 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 1D 타일 판단부; 및
    상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 전력 조절부
    를 포함하는 타일 비닝 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 1D 타일 판단부는,
    상기 타일이 삼각형 전체를 포함하면 상기 타일이 1차원인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 1D 타일 판단부는,
    상기 타일의 X축 최소값이 X축 최대값과 같거나 또는 Y축 최소값이 Y축 최대값과 같으면 상기 타일이 1차원인 것을 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 전력 조절부는,
    상기 타일이 1차원인 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 오프하고,
    상기 타일이 1차원이 아닌 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부는,
    하프 플레인 엣지 함수에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부는,
    상기 삼각형에 오버랩된 타일을 꼭지점 타일, 엣지 타일 및 내부 타일로 구분하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부는,
    상기 삼각형의 바운딩 박스 내에서 삼각형의 엣지와 타일의 경계가 만나는 점에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  9. 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 1D 타일 판단부; 및
    상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 전력 조절부
    를 포함하고,
    상기 제1 오버랩 테스트부는,
    지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하고,
    상기 제2 오버랩 테스트부는,
    상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 1D 타일 판단부는,
    (1) 상기 타일이 삼각형 전체를 포함하거나, (2) 상기 타일의 X축 최소값이 X축 최대값과 같거나 또는 (3) 상기 타일의 Y축 최소값이 Y축 최대값과 같은 경우 중 어느 하나인 경우, 상기 타일이 1차원인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 전력 조절부는,
    상기 타일이 1차원인 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 오프하고,
    상기 타일이 1차원이 아닌 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 장치.
  12. 제1 오버랩 테스트부가 지오메트리 처리 결과 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 단계;
    전력 관리부가 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력한 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 전력을 관리하는 단계; 및
    상기 제2 오버랩 테스트부가 상기 전력 관리부의 동작에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 단계
    를 포함하는 타일 비닝 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 관리하는 단계는,
    1D 타일 판단부가 상기 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 상기 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계; 및
    전력 조절부가 상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 단계
    를 포함하는 타일 비닝 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계는,
    상기 타일이 삼각형 전체를 포함하면 상기 타일이 1차원인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계는,
    상기 타일의 X축 최소값이 X축 최대값과 같거나 또는 Y축 최소값이 Y축 최대값과 같으면 상기 타일이 1차원인 것을 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  16. 제13항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 단계는,
    상기 타일이 1차원인 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 오프하는 단계; 또는
    상기 타일이 1차원이 아닌 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온하는 단계
    를 포함하는 타일 비닝 방법.
  17. 제12항에 있어서,
    상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 단계는,
    하프 플레인 엣지 함수에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  18. 제12항에 있어서,
    상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 단계는,
    상기 삼각형에 오버랩된 타일을 꼭지점 타일, 엣지 타일 및 내부 타일로 구분하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  19. 제12항에 있어서,
    상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 단계는,
    상기 삼각형의 바운딩 박스 내에서 삼각형의 엣지와 타일의 경계가 만나는 점에 기초하여 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  20. 제1 오버랩 테스트부가 지오메트리 처리 결과 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하는 단계; 및
    전력 관리부가 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력한 결과에 기초하여 상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 제2 오버랩 테스트부의 수행 여부를 판단하는 단계
    를 포함하는 타일 비닝 방법.
  21. 1D 타일 판단부가 제1 오버랩 테스트부의 결과에 기초하여 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계; 및
    전력 조절부가 상기 타일이 1차원인지 여부에 따라 상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 단계
    를 포함하고,
    상기 제1 오버랩 테스트부는,
    지오메트리 처리 결과로 도출된 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩되는 타일을 출력하고,
    상기 제2 오버랩 테스트부는,
    상기 삼각형의 오버랩 팩터를 감소시키는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 삼각형의 바운딩 박스와 오버랩된 타일이 1차원인지 여부를 판단하는 단계는,
    (1) 상기 타일이 삼각형 전체를 포함하거나, (2) 상기 타일의 X축 최소값이 X축 최대값과 같거나 또는 (3) 상기 타일의 Y축 최소값이 Y축 최대값과 같은 경우 중 어느 하나인 경우, 상기 타일이 1차원인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 타일 비닝 방법.
  23. 제21항에 있어서,
    상기 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온(On) 또는 오프(Off)하는 단계는,
    상기 타일이 1차원인 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 오프하는 단계; 또는
    상기 타일이 1차원이 아닌 경우, 제2 오버랩 테스트부의 전력을 온하는 단계
    를 포함하는 타일 비닝 방법.
  24. 제9항 내지 제23항 중 어느 한 항의 방법을 실행하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체.
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