KR20120058044A - Capacitor error determination system of electronic control unit and method of using the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 전자제어장치의 캐패시터의 불량 판독 시스템 및 이의 사용방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 대량으로 양산되는 전자제어장치의 검사 작업 중에 전자제어장치 내의 캐패시터의 오삽/미삽 여부와 불량 여부를 판독하는 시스템 및 이의 사용방법에 관한 것이다.The present invention relates to a failure reading system of a capacitor of the electronic control device and a method of using the same, and more particularly, whether or not the capacitor in the electronic control device in the inspection operation of the mass-produced electronic control device is wrong or not It relates to a system and a method of using the same.
자동차에는 ECU(Electronic Control Unit)가 설치되어 있는데, 이는 엔진, 자동변속기, ABS(Anti-lock Break System) 등의 상태를 컴퓨터로 제어하는 전자제어 장치이다. An automobile is equipped with an electronic control unit (ECU), which is an electronic control device that controls a state of an engine, an automatic transmission, and an anti-lock break system (ABS) by a computer.
ECU는 애초의 개발 목적은 당시에는 점화시기와 연료분사, 공회전, 한계값 설정 등 엔진의 핵심 기능을 정밀하게 제어하는 것이었다. 그러나 차량과 컴퓨터 성능의 발전과 함께 자동변속기 제어를 비롯해 구동계통, 제동계통, 조향계통 등 차량의 모든 부분을 제어하는 역할까지 하고 있다The initial development goal of the ECU was to precisely control the engine's key functions such as ignition timing, fuel injection, idling, and limit setting. However, with the development of vehicle and computer performance, it also plays a role in controlling all parts of the vehicle such as drive system, braking system, steering system as well as automatic transmission control.
엔진제어를 예로 들면, 엔진의 회전수와 흡입 공기량, 흡입 압력, 액셀러레이터 개방 정도 등에 맞추어 미리 정해 놓은 점화시기 MAP(Manifold Absolute Pressure) 값과 연료분사 MAP 값 등을 조회하여 수온센서, 산소센서 등을 보정하고 인젝터의 개폐율을 조정한다. 이렇게 하여 연료의 분사량과 점화시기를 결정한다. 엔진이 망가지지 않도록 각 항목별 수치에 한계값이 설정되어 있다.As an example of engine control, the ignition timing MAP (Manifold Absolute Pressure) value and fuel injection MAP value, which are set in advance according to the engine speed, intake air amount, intake pressure, accelerator opening degree, etc. Calibrate and adjust the opening and closing rate of the injector. In this way, the fuel injection amount and the ignition timing are determined. The limit value is set in the numerical value of each item so that the engine does not break.
종래에는 대량으로 양산되는 전자제어장치의 불량 여부의 검사는 측정 점간에 전압과 저항치를 정적으로 측정하였다.Conventionally, the inspection of the defect of the electronic control apparatus mass-produced in large quantities measured the voltage and resistance value statically between measurement points.
도 1은 종래기술에 따른 전자제어장치(1)의 불량 판독 시스템을 나타내는 도면이다.1 is a view showing a failure reading system of the electronic control apparatus 1 according to the prior art.
도 1을 참조하면, 입력단자(Pin1)에 입력 전압을 가하고 마이크로프로세서(5)는 시간과 상관없이 출력단자(Pin2)에서 출력 전압을 측정한다.Referring to FIG. 1, an input voltage is applied to the input terminal Pin1 and the
그런데, 캐패시터(C1)의 상태와 상관없이 출력단자(Pin2)의 전압값이 측정되어 캐패시터(C1)의 상태를 알 수가 없었다.However, regardless of the state of the capacitor C 1 , the voltage value of the output terminal Pin2 was measured, so that the state of the capacitor C 1 could not be known.
따라서 시간에 따라서 전압과 전류가 달라지는 캐패시터의 특성 불량 여부 및 동적으로 변화하는 검사를 하지 못하는 단점이 있었다.Therefore, there is a disadvantage in that the characteristics of the capacitors whose voltage and current change with time are poor, and the inspection that cannot be changed dynamically is not possible.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 전자제어장치 내의 마이크로프로세서에서 캐패시터의 값을 자동적으로 측정하여 외부 판독장비로 전송하며, 외부 판독장비는 그 값을 판단하여 제품 내 캐패시터의 오삽/미삽 여부와 불량 여부를 자동적으로 판별하여 캐패시터의 불량을 검출할 수 있는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템 및 이의 사용방법을 제공하는데 목적이 있다. The problem to be solved by the present invention is to automatically measure the value of the capacitor in the microprocessor in the electronic control device and to transmit it to the external reading device, the external reading device determines the value of the capacitor in the product, whether or not misplaced or not It is an object of the present invention to provide a capacitor failure reading system of an electronic controller and a method of using the same, which can automatically determine a defect of a capacitor.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명의 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템은 저항(R1), 캐패시터(C1) 및 마이크로프로세서를 포함하는 전자제어장치; 상기 전자제어장치와 입출구단에 배치된 입력단자(Pin1) 및 출력단자(Pin2); 및 상기 전자제어장치와 통신선을 통하여 연결되는 외부 판독장치를 포함하되, 상기 입력단자와 출력단자는 서로 연결되어 있으며, 상기 마이크로프로세서의 출력단을 통하여 일정한 출력단 전압(Vpin1)을 인가하고, 지연시간 내의 경과시간(tMEAS)에 상기 마이크로프로세서의 입력단 전압(Vpin2)을 측정하여, 상기 캐패시터의 정전용량을 추출한다.In order to achieve the above technical problem, a capacitor failure reading system of an electronic control apparatus of the present invention includes an electronic control apparatus including a resistor (R 1 ), a capacitor (C 1 ), and a microprocessor; An input terminal Pin1 and an output terminal Pin2 disposed at the electronic control device and an entry / exit end; And an external reading device connected to the electronic control device through a communication line, wherein the input terminal and the output terminal are connected to each other, apply a constant output terminal voltage Vpin1 through an output terminal of the microprocessor, and pass a delay time. The capacitance of the capacitor is extracted by measuring the input terminal voltage Vpin2 of the microprocessor at time t MEAS .
본 발명에 있어서, 상기 캐패시터의 정전용량은,In the present invention, the capacitance of the capacitor,
(C1: 정전용량, R1: 저항, tMEAS: 경과시간, Vpin: 마이크로프로세서의 출력단 전압, Vpin2: 마이크로프로세서의 입력단 전압)의 수식에 의하여 결정될 수 있다.(C 1 : capacitance, R 1 : resistance, t MEAS : elapsed time, Vpin: output voltage of microprocessor, Vpin2: input voltage of microprocessor).
상기 또 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명의 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템의 사용방법은 저항(R1), 캐패시터(C1), 및 마이크로프로세서를 포함하는 전자제어장치의 출력단과 입력단을 연결하는 단계; 상기 전자제어장치의 마이크로프로세서는 자신의 출력단 전압을 출력하는 단계; 상기 마이크로프로세서는 상승 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 자신의 입력단의 제1 전압값을 검출하는 단계; 상기 마이크로프로세서에서 읽어들인 입력단의 제1 전압값에 의하여 결정된 제1 정전용량 값을 통신선을 통하여 외부 판독장치로 전송하는 단계; 및 상기 외부 판독장치는 캐패시터의 오삽 또는 미삽 여부를 자동적으로 판별하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above another technical problem, a method of using a capacitor failure reading system of an electronic control apparatus of the present invention includes an output terminal and an input terminal of an electronic control apparatus including a resistor (R 1 ), a capacitor (C 1 ), and a microprocessor. Connecting; The microprocessor of the electronic control device outputs its output terminal voltage; The microprocessor detecting a first voltage value of its input terminal at an elapsed time within a delay time after a rising edge; Transmitting a first capacitance value determined by a first voltage value of an input terminal read from the microprocessor to an external reading device through a communication line; And the external reading device automatically determines whether the capacitor is misinserted or not.
본 발명에 있어서, 상기 출력단 전압은 펄스 전압이며, 상기 마이크로프로세서는 펄스의 하강 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 자신의 입력단의 제2 전압값을 검출하는 단계; 및 상기 마이크로프로세서에서 읽어들인 입력단의 제2 전압값에 의하여 결정된 제2 정전용량 값을 통신선을 통하여 상기 외부 판독장치로 전송하는 단계를 더 포함할 수 있다.In the present invention, the output terminal voltage is a pulse voltage, and the microprocessor comprises: detecting a second voltage value of its input terminal at an elapsed time within a delay time after a falling edge of the pulse; And transmitting the second capacitance value determined by the second voltage value of the input terminal read from the microprocessor to the external reading device through a communication line.
본 발명에 있어서, 상기 캐패시터의 제1 정전용량은,In the present invention, the first capacitance of the capacitor,
(C1: 정전용량, R1: 저항, tMEAS: 경과시간, Vpin: 마이크로프로세서의 출력단 전압, Vpin2: 마이크로프로세서의 입력단 전압)의 수식에 의하여 결정될 수 있다.(C 1 : capacitance, R 1 : resistance, t MEAS : elapsed time, Vpin: output voltage of microprocessor, Vpin2: input voltage of microprocessor).
본 발명에 따르면, 전자제어장치 내의 마이크로프로세서에서 캐패시터의 값을 자동적으로 측정하여 외부 판독장치로 전송하며, 외부 판독장치는 그 값을 판단하여 제품 내 캐패시터의 오삽/미삽 여부와 불량 여부를 자동적으로 판별하여 제품 불량을 검출하여, 제품의 양산성을 확보할 수 있다.According to the present invention, a microprocessor in an electronic controller automatically measures the value of a capacitor and transmits it to an external reading device. The external reading device judges the value to automatically determine whether a capacitor in the product is misinserted / uninserted and whether it is defective. By discriminating and detecting a product defect, mass production of a product can be ensured.
또한, 종래기술은 전자제어장치에 사용된 캐패시터의 큰 편차의 불량 및 미삽만을 판별할 수 있었으나, 본 발명은 전자제어장치에 사용된 저항과 캐패시터의 전기적 특성의 이상 여부를 자동적으로 판별하여 제품의 양산성을 높일 수 있다.In addition, the prior art was able to discriminate only the defect and the large insertion of the large deviation of the capacitor used in the electronic control device, the present invention automatically determines whether the abnormality of the electrical characteristics of the resistor and capacitor used in the electronic control device of the product Mass production can be improved.
도 1은 종래기술에 따른 전자제어장치의 불량 판독 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 전자제어장치의 캐패시터의 불량 판독 시스템 나타내는 도면이다.
도 3는 본 발명에 일실시예에 따른 마이크로프로세서의 출력단 전압(입력전압, Vpin1)의 시간에 따른 전압값을 나타낸다.
도 4는 본 발명에 따른 마이크로프로세서의 입력단 전압(출력전압, Vpin2)의 시간에 따른 전압값을 나타낸다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 펄스 전압을 사용한 전자제어장치의 캐패시터의 불량 판독 시스템의 사용방법을 나타내는 순서도이다.1 is a view showing a failure reading system of the electronic control apparatus according to the prior art.
2 is a view showing a failure reading system of a capacitor of the electronic control apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating voltage values with time of an output terminal voltage (input voltage Vpin1) of a microprocessor according to an exemplary embodiment of the present invention.
Figure 4 shows the voltage value over time of the input terminal voltage (output voltage, Vpin2) of the microprocessor according to the present invention.
5 is a flowchart illustrating a method of using a failure reading system of a capacitor of an electronic controller using a pulse voltage according to an embodiment of the present invention.
상술한 목적, 특징들 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일실시예를 상세히 설명한다.The above-mentioned objects, features and advantages will become more apparent from the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 전자제어장치의 캐패시터의 불량 판독 시스템 나타내는 도면이다.2 is a view showing a failure reading system of a capacitor of the electronic control apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 양산되는 전자제어장치(11)의 출력단자(Pin2)는 전자제어장치(11)의 입력단자(Pin1)와 연결되어 있으며, 전자제어장치(11)의 마이크로프로세서(15)는 캔(CAN) 통신(16)을 통하여 외부의 판독장치(17)와 연결되어 있다.Referring to FIG. 2, the output terminal Pin2 of the
마이크로 프로세서(15)의 출력단에 일정한 출력단 전압(Vpin1)을 가하면, 입력 전압(Vpin1)은 출력단자(Pin2)와 연결된 입력단자(Pin1)로 입력되며, 일정 시간(tMEAS) 후에 마이크로프로세스의 입력단 전압(Vpin2)을 측정한다.When a constant output terminal voltage Vpin1 is applied to the output terminal of the
도 3는 본 발명에 따른 마이크로 프로세서의 출력단 전압(입력전압, Vpin1)의 시간에 따른 전압값을 나타내며, 도 4는 본 발명에 따른 마이크로 프로세서의 입력단 전압(출력전압, Vpin2)의 시간에 따른 전압값을 나타낸다.Figure 3 shows the voltage value according to the time of the output terminal voltage (input voltage, Vpin1) of the microprocessor according to the present invention, Figure 4 is the voltage over time of the input terminal voltage (output voltage, Vpin2) of the microprocessor according to the present invention Indicates a value.
도 3 및 도 4를 참조하면, 마이크로프로세서의 출력단 전압(입력전압, Vpin1)은 상승 에지(edge)를 갖는 전압 또는 상승 에지(edge)와 하강 에지(edge)를 갖는 펄스 전압이다. 이에 반하여, 마이크로 프로세서의 입력단 전압(출력전압, Vpin2)은 RC 회로에 의하여, 상승 에지(edge) 후 지연시간을 가지게 된다. 지연시간은 저항값(R1)과 캐패시터의 정전용량(C1)에 의해 결정되며, 저항값(R1)과 정전용량(C1)의 곱과 같은 시간간격이다. 이때, 지연시간 내의 측정시간(tMEAS)에서 마이크로프로세서의 입력단 전압(출력전압, Vpin2)를 측정하여, 캐패시터의 정전용량( C1)을 계산할 수 있다. 3 and 4, the output terminal voltage (input voltage Vpin1) of the microprocessor is a voltage having a rising edge or a pulse voltage having a rising edge and a falling edge. On the contrary, the input terminal voltage (output voltage Vpin2) of the microprocessor has a delay time after the rising edge by the RC circuit. The delay time is determined by the resistance value R1 and the capacitance C 1 of the capacitor, and is a time interval equal to the product of the resistance value R 1 and the capacitance C 1 . In this case, the capacitance C 1 of the capacitor may be calculated by measuring the input terminal voltage (output voltage Vpin2) of the microprocessor at the measurement time t MEAS within the delay time.
측정되는 정전용량(C1)의 값은 아래와 같다.The measured value of capacitance C1 is as follows.
정전용량(C1)의 상태에 따라서 마이크로프로세서의 입력단 전압(출력전압, VPin2)의 변화율이 달라지므로, 마이크로프로세서의 입력단 전압(출력전압, VPin2)을 통하여 캐패시터의 상태를 알 수 있다.Since the rate of change of the input terminal voltage (output voltage VPin2) of the microprocessor varies according to the state of the capacitance C 1 , the state of the capacitor can be known through the input terminal voltage (output voltage VPin2) of the microprocessor.
마이크로프로세서의 출력단의 전압은 펄스(pulse) 전압을 사용할 수 있다. 이는 온(on) 되었을 때에는 상승 에지(edge)를 가지며, 오프(off) 되었을 경우에는 하강 에지(edge)를 갖는다.The voltage at the output of the microprocessor may use a pulse voltage. It has a rising edge when it is on and a falling edge when it is off.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 펄스 전압을 사용한 전자제어장치의 캐패시터의 불량 판독 시스템의 사용방법을 나타내는 순서도이다.5 is a flowchart illustrating a method of using a failure reading system of a capacitor of an electronic controller using a pulse voltage according to an embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 저항, 캐패시터, 및 마이크로프로세서를 포함하는 전자제어장치의 출력단과 입력단을 서로 연결(S1)한다.Referring to FIG. 5, an output terminal and an input terminal of an electronic control apparatus including a resistor, a capacitor, and a microprocessor are connected to each other (S1).
전자제어장치의 마이크로프로세서는 자신의 출력단에 1개의 펄스(pulse) 전압을 출력(S2)한다.The microprocessor of the electronic controller outputs one pulse voltage at its output terminal (S2).
펄스의 상승 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 마이크로프로세서는 자신의 입력단의 제1 전압값을 검출(S3)하고 제1 정전용량 값을 계산한다.At the time elapsed within the delay time after the rising edge of the pulse, the microprocessor detects (S3) the first voltage value of its input terminal and calculates the first capacitance value.
펄스의 하강 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 마이크로프로세서는 자신의 입력단의 제2 전압값을 검출(S4)하고 제2 정전용량 값을 계산한다.At the elapsed time within the delay time after the falling edge of the pulse, the microprocessor detects (S4) the second voltage value of its input terminal and calculates the second capacitance value.
마이크로프로세서에서 읽어들인 상기 두 개의 전압값과 정전용량 값은 통신선을 통하여 외부 판독장비로 전송(S5)한다.The two voltage values and the capacitance values read from the microprocessor are transmitted to the external reading device through the communication line (S5).
외부 판독장비는 캐패시터의 오삽 또는 미삽 여부를 자동적으로 판별(S6)한다. The external reading device automatically determines whether the capacitor is misinserted or not (S6).
1, 11: 전자제어장치 5, 15: 마이크로프로세서
16: 캔(CAN) 통신 17: 판독장치1, 11:
16: CAN communication 17: Reader
Claims (5)
상기 전자제어장치와 입출구단에 배치된 입력단자(Pin1) 및 출력단자(Pin2); 그리고
상기 전자제어장치와 통신선을 통하여 연결되는 외부 판독장치를 포함하되,
상기 입력단자와 출력단자는 서로 연결되어 있으며, 상기 마이크로프로세서의 출력단을 통하여 출력단 전압(Vpin1)을 인가하고, 지연시간 내의 경과시간(tMEAS)에 상기 마이크로프로세서의 입력단 전압(Vpin2)을 측정하여, 상기 캐패시터의 정전용량을 추출하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템.An electronic control device including a resistor R 1 , a capacitor C 1 , and a microprocessor;
An input terminal Pin1 and an output terminal Pin2 disposed at the electronic control device and an entry / exit end; And
An external reading device connected to the electronic control device through a communication line,
The input terminal and the output terminal are connected to each other, the output terminal voltage Vpin1 is applied through the output terminal of the microprocessor, and the input terminal voltage Vpin2 of the microprocessor is measured at the elapsed time t MEAS within a delay time. Capacitor failure reading system of the electronic control device, characterized in that for extracting the capacitance of the capacitor.
상기 캐패시터의 정전용량은,
(C1: 정전용량, R1: 저항, tMEAS: 경과시간, Vpin: 마이크로프로세서의 출력단 전압, Vpin2: 마이크로프로세서의 입력단 전압)
의 수식에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템.The method of claim 1,
The capacitance of the capacitor,
(C 1 : capacitance, R 1 : resistance, t MEAS : elapsed time, Vpin: output voltage of microprocessor, Vpin2: input voltage of microprocessor)
Capacitor failure reading system of the electronic control device, characterized in that determined by the formula of.
상기 전자제어장치의 마이크로프로세서는 자신의 출력단 전압을 출력하는 단계;
상기 마이크로프로세서는 상승 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 자신의 입력단의 제1 전압값을 검출하는 단계;
상기 마이크로프로세서에서 읽어들인 입력단의 제1 전압값에 의하여 결정된 제1 정전용량 값을 통신선을 통하여 외부 판독장치로 전송하는 단계; 및
상기 외부 판독장치는 캐패시터의 오삽 또는 미삽 여부를 자동적으로 판별하는 단계를 포함하는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템의 사용방법.Connecting an output terminal and an input terminal of an electronic control device including a resistor R 1 , a capacitor C 1 , and a microprocessor;
The microprocessor of the electronic control device outputs its output terminal voltage;
The microprocessor detecting a first voltage value of its input terminal at an elapsed time within a delay time after a rising edge;
Transmitting a first capacitance value determined by a first voltage value of an input terminal read from the microprocessor to an external reading device through a communication line; And
And the external reading device automatically determines whether a capacitor is misinserted or not inserted.
상기 출력단 전압은 펄스 전압이며,
상기 마이크로프로세서는 펄스의 하강 에지(edge) 후 지연시간 내의 경과시간에 자신의 입력단의 제2 전압값을 검출하는 단계; 및
상기 마이크로프로세서에서 읽어들인 입력단의 제2 전압값에 의하여 결정된 제2 정전용량 값을 통신선을 통하여 상기 외부 판독장치로 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템의 사용방법.The method of claim 3,
The output terminal voltage is a pulse voltage,
The microprocessor detecting a second voltage value of its input terminal at an elapsed time within a delay time after the falling edge of the pulse; And
And transmitting a second capacitance value determined by the second voltage value of the input terminal read from the microprocessor to the external reading device through a communication line. Way.
상기 캐패시터의 제1 정전용량은,
(C1: 정전용량, R1: 저항, tMEAS: 경과시간, Vpin: 마이크로프로세서의 출력단 전압, Vpin2: 마이크로프로세서의 입력단 전압)
의 수식에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 캐패시터 불량 판독 시스템의 사용방법.The method of claim 3,
The first capacitance of the capacitor,
(C 1 : capacitance, R 1 : resistance, t MEAS : elapsed time, Vpin: output voltage of microprocessor, Vpin2: input voltage of microprocessor)
Method of using a capacitor failure reading system of the electronic control device, characterized in that determined by the formula.
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