KR20120056178A

KR20120056178A - 단말기의 성능 테스트 방법 및 장치

Info

Publication number: KR20120056178A
Application number: KR1020100117767A
Authority: KR
Inventors: 박대근
Original assignee: 삼성전기주식회사
Priority date: 2010-11-24
Filing date: 2010-11-24
Publication date: 2012-06-01

Abstract

단말기의 성능 테스트 방법 및 장치가 개시된다. 단말기의 성능 테스트 장치는 단말기로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 단말기의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈로 전송하는 성능 검출 모듈과, 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 성능에 기초하여, 단말기의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 단말기로 전송하는 제어 모듈을 포함함으로써, 단말기의 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있으며, Tx 파워를 단말기의 성능 한계까지 높일 수 있어 제품의 성능을 극대화할 수 있는 효과가 있다.

Description

단말기의 성능 테스트 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PERFORMANCE OF TERMINAL}

본 발명은 통신 분야, 더욱 상세하게는 단말기의 성능을 테스트하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.

일반적으로 단말기의 성능을 테스트하기 위해서는 별도의 Tx 파워의 교정(calibration) 절차가 요구된다. 구체적으로, 단말기와 테스트 장치를 셋업 한 이후 우선 Tx 채널별로 Tx 파워를 단계별로 증가시키면서 단말기의 Tx 파워를 검출하여 교정 절차를 수행한다. 이후 교정된 Tx 파워를 기초로 단말기의 성능이 소정의 스펙을 만족하는지를 확인하게 된다.

상술한 종래 기술에 의하면, 별도의 Tx 파워의 교정 절차에 드는 시간 때문에 상당한 테스트 시간이 소요된다는 문제점이 있다. 또한, 단말기의 테스트 기준을 성능이 아닌 Tx 파워를 기준으로 하기 때문에 제품의 성능을 극대화할 수 없다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 단말기의 테스트 시간을 획기적으로 줄임과 동시에, 제품의 성능을 극대화할 수 있는 단말기의 성능 테스트 장치 및 방법을 제공하는데 있다.

상기한 본 발명의 과제를 해결하기 위한 본 발명의 제1 기술적인 측면은, 단말기로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 단말기의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈로 전송하는 성능 검출 모듈과, 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 성능에 기초하여, 단말기의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 단말기로 전송하는 제어 모듈을 포함하는 단말기의 성능 테스트 장치를 제안하는 것이다.

또한, 성능 검출 모듈은 Tx 테스트 신호의 Tx 파워값을 검출하고, 검출된 Tx 파워값을 제어 모듈로 전송하며, 제어 모듈은 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 파워값에 기초하여 조절된 Tx 커맨드를 단말기로 전송할 수 있다.

또한, Tx 성능은 EVM(Error Vector Magnitude) 또는 스펙트럼 마스크(spectrum mask)에 기초하여 결정될 수 있다.

상기한 본 발명의 과제를 해결하기 위한 본 발명의 제2 기술적인 측면은, (a) 성능 검출 모듈에서 단말기로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 단말기의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈로 전송하는 단계와, (b) 제어 모듈에서 수신된 Tx 성능에 기초하여, 단말기의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 단말기로 전송하는 단계를 포함하는 단말기의 성능 테스트 방법을 제안하는 것이다.

또한, 성능 테스트 방법은 성능 검출 모듈에서 Tx 테스트 신호의 Tx 파워값을 검출하고, 검출된 Tx 파워값을 제어 모듈로 전송하며, 제어 모듈에서 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 파워값에 기초하여 조절된 Tx 커맨드를 단말기로 전송하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, Tx 성능을 기준으로 Tx 파워를 조절하기 때문에 별도의 Tx 파워 교정(calibration) 절차를 필요로 하는 종래 테스트 절차에 비해 단말기의 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있으며, Tx 파워를 단말기의 성능 한계까지 높일 수 있어 제품의 성능을 극대화할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 단말기의 성능 테스트 장치의 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 단말기의 성능 테스트 방법을 도시한 흐름도이다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 단말기의 성능 테스트 장치의 전체 구성도로, 단말기(120)로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 단말기(120)의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈(130)로 전송하는 성능 검출 모듈(110)과, 성능 검출 모듈(110)로부터 전달받은 Tx 성능에 기초하여, 단말기(120)의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 단말기(120)로 전송하는 제어 모듈(130)을 포함할 수 있다.

도 1을 참조하면, 제어 대상(Device Under Test: DUT)인 단말기(120)는 무선 통신 가능한 이동 통신 단말기이다. 이러한 단말기(120)는 제어 모듈(130)로부터 Tx 커맨드를 전달받으며, 전달받은 Tx 커맨드에 포함된 Tx 파워에 따라 Tx 테스트 신호를 성능 검출 모듈(110)로 전송한다.

성능 검출 모듈(110)은 RF 케이블을 통해 단말기(120)로부터 Tx 테스트 신호를 수신한다. 이후 수신된 Tx 테스트 신호로부터 단말기(120)의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈(130)로 전송한다. 또한, Tx 테스트 신호의 Tx 파워값을 검출하고, 검출된 Tx 파워값을 제어 모듈(130)로 전송할 수 있다. 여기서, Tx 성능은 예를 들면, EVM(Error Vector Magnitude) 또는 스펙트럼 마스크(spectrum mask)에 기초하여 결정될 수 있다.

한편, 제어 모듈(130)은 성능 검출 모듈(110)로부터 전달받은 Tx 성능에 기초하여, 단말기(120)의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 단말기(120)로 전송한다. 구체적으로 제어 모듈(130)은 성능 검출 모듈(110)로부터 Tx 성능 및 Tx 파워값을 전달받을 수 있으며, Tx 성능이 미리 설정된 소정의 스펙을 만족하는지를 확인하고, 확인 결과 소정의 스펙을 만족하지 못하는 경우에는 단말기(120)의 전달받은 Tx 파워값을 조절한 Tx 커맨드를 단말기(120)로 전송한다. 이후 단말기(120)는 Tx 커맨드에 포함된 Tx 파워값에 따라 Tx 테스트 신호를 성능 검출 모듈(110)로 전송하게 된다.

이와 같이 본 발명의 실시 형태에 따르면, Tx 성능을 기준으로 Tx 파워를 조절하기 때문에 별도의 Tx 파워 교정(calibration) 절차를 필요로 하는 종래 테스트 절차에 비해 단말기(120)의 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있으며, Tx 파워를 단말기(120)의 성능 한계까지 높일 수 있어 제품의 성능을 극대화할 수 있는 효과가 있다.

한편, 단말기(120)와 성능 검출 모듈(110)과는 RF 케이블로, 단말기(120)와 제어 모듈(130)과는 직렬 통신 루트, 예를 들면 RS232C로, 제어 모듈(130)과 성능 검출 모듈(110)은 GPIB(General Purpose Interface Bus)로 연결될 수 있다, 여기서, RF 케이블은 성능 검출 모듈(110)과 단말기(120) 사이에 RF 무선 파워를 전송하는 선로이다. 한편, 단말기(120)와 제어 모듈(130)은 RS232C를 도시하고 있으나, 이는 예시에 불과할 뿐 기타 데이터 전송이 가능한 케이블을 포함할 수 있다. 또한, 제어 모듈(130)과 성능 검출 모듈(110)간의 연결은 상술한 GPIB 외에도 LAN(Local Area Network)이나 USB(Universal Serial Bus)와 같은 연결을 포함할 수 있다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 단말기의 성능 테스트 방법을 도시한 흐름도이다.

도 2를 참조하면, 단계 200에서, 제어 모듈(130)은 Tx 파워를 포함하는 Tx 커맨드를 단말기(120)로 전송한다.

단계 201에서, 제어 모듈(130)로부터 Tx 커맨드를 전달받은 단말기(120)는 Tx 커맨드에 포함된 Tx 파워에 따라 Tx 테스트 신호를 성능 검출 모듈(110)로 전송한다.

단계 202에서, 성능 검출 모듈(110)은 단말기(120)로부터 수신한 Tx 테스트 신호로부터 단말기(120)의 Tx 성능과 Tx 파워값을 검출한다.

이후 단계 203에서, 성능 검출 모듈(110)은 검출한 Tx 파워값과 Tx 성능을 제어 모듈(130)로 전송한다. 여기서, Tx 성능은 예를 들면, EVM(Error Vector Magnitude) 또는 스펙트럼 마스크(spectrum mask)에 기초하여 결정될 수 있다.

단계 204에서, 제어 모듈(130)은 성능 검출 모듈(110)로부터 전달받은 Tx 성능이 미리 설정된 소정의 스펙을 만족하는지를 확인하고, 소정의 스펙을 만족하는 경우는 단계를 종료하게 된다. 하지만, 미리 설정된 스펙을 만족하지 못하는 경우에는 단계 205로 진행한다.

단계 205에서, 성능 검출 모듈(110)로부터 전달받은 Tx 성능이 미리 설정된 소정의 스펙을 만족하지 못하는 경우, 제어 모듈(130)은 성능 검출 모듈(110)로부터 전달받은 Tx 파워값을 조절한 Tx 커맨드를 생성한다.

이후 단계 206에서, 제어 모듈(130)은 생성한 Tx 커맨드를 단말기(120)로 전송하게 되며, Tx 성능이 소정의 스펙을 만족할 때까지 단계 201 내지 단계 204의 과정들을 반복적으로 수행하게 된다.

이상 도면과 명세서에서 최적 실시예들이 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

110: 성능 검출 모듈
120: 단말기
130: 제어 모듈

Claims

단말기로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 상기 단말기의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈로 전송하는 성능 검출 모듈; 및
상기 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 성능에 기초하여, 상기 단말기의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 상기 단말기로 전송하는 제어 모듈
을 포함하는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 장치.
제1항에 있어서,
상기 성능 검출 모듈은,
상기 Tx 테스트 신호의 Tx 파워값을 검출하고, 검출된 Tx 파워값을 상기 제어 모듈로 전송하며,
상기 제어 모듈은,
상기 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 파워값에 기초하여 조절된 Tx 커맨드를 상기 단말기로 전송하는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 장치.
제1항에 있어서,
상기 Tx 성능은,
EVM(Error Vector Magnitude) 또는 스펙트럼 마스크(spectrum mask)에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 장치.
(a) 성능 검출 모듈에서, 단말기로부터 수신된 Tx 테스트 신호로부터 상기 단말기의 Tx 성능을 검출하고, 검출된 Tx 성능을 제어 모듈로 전송하는 단계; 및
(b) 상기 제어 모듈에서, 상기 수신된 Tx 성능에 기초하여, 상기 단말기의 Tx 파워를 조절하기 위한 Tx 커맨드를 상기 단말기로 전송하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 방법.
제4항에 있어서,
상기 성능 테스트 방법은,
상기 성능 검출 모듈에서, 상기 Tx 테스트 신호의 Tx 파워값을 검출하고, 검출된 Tx 파워값을 상기 제어 모듈로 전송하며,
상기 제어 모듈에서, 상기 성능 검출 모듈로부터 전달받은 Tx 파워값에 기초하여 조절된 Tx 커맨드를 상기 단말기로 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 방법.
제4항에 있어서,
상기 Tx 성능은,
EVM(Error Vector Magnitude) 또는 스펙트럼 마스크(spectrum mask)에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 단말기의 성능 테스트 방법.