KR20120036855A - 종양의 살아있는 세포 조직을 검출하는 방법 및 기구 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 종양의 살아있는 세포 조직을 인식하는 방법 및 기구에 관한 것이다. 또한 본 발명은 수집된 살아있는 세포 조직 샘플에서 종양 세포 조직을 인식하는 방법 및 기구에 관한 것이다. 방법에서, 전자기 방사선이 방사선원(radiation source)에 의해 세포 조직에 국부적으로 한정하여 방출되고, 방사선원(radiation source)의 불활성화 후, 전자기 방사선에 의해 여기된 세포 조직의 고유 형광 세기의 붕괴 거동을 검출기를 이용하여 적어도 하나의 파장에 있어 공지된 표준 추출 비율(sampling rate)로 시간 분해 및 스펙트럼 분해 방식으로 세포 조직에서 검출된다. 결정된 측정 세기 값을 이용하여 세기 붕괴 거동의 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정하고, 상기 함수로부터 각각 조사된(irradiated) 세포 조직에 있어서 프랙탈차원(fractal dimension) DF가 산출되고 프랙탈차원(fractal dimension) DF의 값은 각각 조사된(irradiated) 세포 조직에서의 종양의 존재에 대하여 분류에 있어 이용된다.
Description
본 발명은 종양의 살아있는 세포 조직을 인식하는 방법 및 기구에 관한 것이다. 또한 본 발명은 수집된 살아있는 세포 조직 샘플에서 종양 세포 조직을 인식하는 방법 및 기구에 관한 것이다.
다른 유형의 암종(carcinoma)에 있어서 외과적으로 종양 세포 조직을 제거하는 것이 관행이다. 이런 점에서 영향받은 세포 조직을 완전히 제거하는 것이 필요하며 그래야 질병의 진행 및 확산을 피할 수 있다. 특히, 전립선 세포 조직에서 필요한 기능(자제(continence), 힘(potency))을 가능한 높이 유지하도록 영향을 받지 않은 세포 조직 부분을 유지하는 것이 바람직하다. 그러므로, 더 선별된 방법으로 영향받은 세포 조직을 후에 외과적으로 제거할 수 있도록 종양 세포 조직의 위치를 알아내는 것이 필요하다.
대체로, 외과적 과정에서 직접 급속 절단(rapid section)을 하여 실험실에서 병리학적으로 시험한다. 병리학자가 검사할 때, 세포 조직 샘플을 급속 냉동하고 병리학자에 의해 평가된 샘플에서 절단(section)이 준비된다. 샘플 준비뿐만 아니라, 문서화 및 이송에 시간이 걸리기 때문에 이 목적을 위하여 많은 시간의 소요가 요구된다. 또한 대기 시간을 피할 수 없다. 이것은 각각 환자에게 많은 스트레스를 일으키며 장기간 동안 수술을 막는다.
급속 절단(rapid section)의 평가 이외에, 또한 종양 진단을 위한 형광 세포검사(fluorescent cytoscopy)의 실행이 공지되어 있다. 이 측면에서, 적당한 화학 물질을 이용하여 종양 세포 조직을 감광성(photosensitivity)으로 만들고 이런 방식으로 준비된 세포에 형광(light fluorescence)을 조사하여 여기시킨다. 이 측면에서, 여기된 빛은 형광과 다른 색을 가진다. 그러나, 이용된 물질은 매우 광독성(phototoxic) 물질이어서 치료된 조직에 괴사가 유발될 수 있다. 그러나, 이것은 또한 발암성 종양(carcinogenic tumors)의 치료에 이용될 수 있다. 그러나, 이 측면에서, 종양 세포 조직의 위치 및 확산에 대한 지식이 요구된다.
종양 세포 조직을 인식하기 위해, 5-아미노레불린산(5-aminolevulinic acid)이 주입되는 소위 5 ALA 유도 검출(5 ALA induced detection)이 이용되거나, 다른 광활성 물질이 이용되고 Hexvix 및 TOOKAD으로서 상업적으로 공지된 방법이 이용된다.
환자가 증가한 감광도로 고통받기 때문에 물질이 각 환자에 직접 고통을 주는 환자의 몸으로 도입되어야 하며, 이어사 장기간 고통을 받는 점에서 불리하다. 환자마다 다를 수 있는 반응 시간을 기다려야 하기 때문에 물질의 주입 후, 바로 검사를 실행할 수 없다.
또한, DE 689 25 586 T2에서 형광 여기(fluorescence excitation)에 의해 각 유형의 세포 조직을 인식하고 형광의 검출된 파장 스펙트럼에서 특정한 독특한 파장을 검출하여 각 유형의 세포 조직에 대해 결론을 내려야 하는, 조직의 레이저 유도 형광을 위한 방법이 공지되어 있다.
그러나, 검사받는 세포의 협력 행동(cooperative behavior)을 무시할 수 없기 때문에, 종양 또는 건강할 수 있는 세포 조직에서 형광성이 되도록 여기가능한 신체 고유의 발색단(chromophore)의 고유 형광은, 형광 빛 스펙트럼에서 발생하는, 한 파장, 또는 선택적으로 복수의 파장의 존재에 대하여 명백하지 않다. 이런 다른 요소 및 분자생물학적 세포 구조가 상당히 영향을 받아서 건강한 또는 종양 세포 조직인지의 연관성(association)이 충분한 안정할 수 없다.
본 발명의 목적은 짧은 시간에 그리고 충분히 안정한 진단 방법으로 종양 세포 조직의 확인을 달성할 수 있는 것이다.
본 발명에 따르면, 이 목적은 청구항 1 또는 청구항 2의 특징을 가지는 방법으로 달성된다. 방법은 청구항 15에 따른 기구를 이용하여 실행될 수 있다. 본 발명의 유리한 구체예 및 다른 개선안은 종속항에서 지정된 특징을 이용하여 달성될 수 있다.
청구항 1에 따르면 본 발명에 따른 방법은 살아있는 세포 조직에 실행된다.
이 측점에서, 청구항 2에 따르면, 방법은 또한 수집된 살아있는 세포 조직 샘플에(생체외에서(in vitro)) 실행될 수 있다.
세포 조직 샘플에 국부적으로 정의된 방법으로 방사선원(radiation source)을 이용하여 검사될 세포 조직에 전자기 방사선(electromagnetic radiation)이 방사되고, 시간 t0에서 방사선원(radiation source)을 불활성화시킨 후 전자기 방사선에 의해 여기된 세포 조직의 고유 형광 세기의 붕괴 거동(decay behavior)을 시간 분해 및 스펙트럼 분해(spectrally resolved) 방식으로 검출한다. 이 측면에서 하나 이상의 공지된 표준 추출 비율(sampling rate)을 이용하여 고유한 형광 세기를 검출하고 적어도 하나의 파장으로 검출한다. 표준 추출 비율(sampling rate)은 바람직하게 검출시 일정하게 유지된다.
식(1) 및 (2)에 따라 그리고 각각 공지된 표준 추출 비율(sampling rate)을 고려하면서 결정된 측정된 세기 값을 이용하여 세기 붕괴 거동의 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정한다.
I(t) = I(t0)-[I(t0) -I(t→∞)] * [1-R(t-t0)] (1)
여기서
R(t-t0) = <△I(t)△I(t0)>t /<△I2>t 및
△I(t) = I(t)-I(t→∞) (2)
여기서, I(t→∞)는 매우 작은 무한 긴 완화(infinitely long relaxation) 후에 여기된 형광의 세기이다. 이 완화 함수(relaxation function) R(t)는 형광 변동(fluorescent fluctuation)의 상관관계 함수(correlation function)에서 유래하며, 여기서, < >t는 평균 시간값(mean time value)을 나타낸다.
함수 C(t)= 2[1 - R(t)]는 다음의 거동이 협력적인 형광 절차로 고려될 수 있는 관련된 차분 상관관계 함수(difference correlation function)를 나타낸다:
C(t) ~ t2H (3).
지수 H 또는 산출될 수 있는 확률적인 세기 변동(stochastic intensity fluctuation)의 프랙탈차원(fractal dimension) DF은 이 측면에서 평가에 있어 고유값이다.
이 측면에서, DF=2-H가 생기고, 건강 세포 조직 및 종양 세포 조직의 검사를 위해 이용된다. 선형 회귀(linear regression)에 의해 지수 H가 결정될 수 있다.
값 DF는 각각 조사된(irradiated) 세포 조직에서의 종양의 존재에 대한 분류(classification)로 이용될 수 있다.
분류(classification)에 있어서 종양에 특이한 임계값(threshold value)으로 비교할 수 있다. 그러나, 또한 분류에서 종양이 존재할 확률이 표시될 수 있다.
주어진 방정식을 고려하면서, 각 조사된(irradiated) 세포 조직에 대해 프랙탈차원(fractal dimension) DF가 산출되고 나서 결정된 프랙탈차원(fractal dimension) DF의 값을 종양에 특이한 임계값과 비교할 수 있다. 이 임계값을 초과하면, 세포 조직 샘플의 조사된(irradiated) 세포 조직을 종양으로 분류한다. 이 임계값에 도달되지 않는 경우, 세포 조직은 건강하다. 임계값은 1과 2 사이의 수치이다.
따라서 건강한 세포 조직 및 존재할 수 있는 종양 세포 조직의 위치를 알아내기 위하여 검사된 세포 조직 또는 복수의 위치의 각 세포 조직 샘플에 방사선 조사, 검출 및 프랙탈차원(fractal dimension) DF의 계산을 실행할 수 있다.
세기 붕괴 거동의 평가에서, 본 발명의 대수 시간 거동(algebraic time behavior)을 통해서 세포 조직의 집단적인 전자 전환(collective electron transition)이 설명된다.
조사된(irradiated) 세포 조직의 고유한 형광 여기(inherent fluorescence excitation)에 있어서 단색 전자기 방사선(monochromatic electromagnetic radiation)을 이용하는 것이 바람직하다. 여기서 200㎚ 내지 650㎚의 파장 범위의 전자기 방사선이 특히 적당하다. 레이저 광원이 방사선원(radiation source)으로 이용될 수 있다. 고유 형광의 여기를 위해 파장이 337㎚인 전자기 방사선이 유리함이 증명되었다.
상술한 것처럼, 검사될 세포 조직의 고유한 형광의 스펙트럼에서 선택된 파장만이 검출되고 나서 본 발명에서 고려될 수 있다. 그러나 서로 다르며 서로에 대하여 더 큰 또는 더 작은 둘 이상의 파장도 고려할 수 있다.
그러나, 여기된 고유한 형광의 파장의 주위의 간격 내에서 측정된 세기 값을 검출하고 파장 간격 내의 다른 파장을 위해 동시에 검출된 형광 세기에서 산출된 평균값의 세기 붕괴 거동 C(t)의 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function)를 결정하며, 이로부터 조사된(irradiated) 세포 조직을 위한 프랙탈차원(fractal dimension) DF를 산출하는 것이 유리하다.
평균값을 형성하기 위해 선택한 파장 간격에서 적어도 30 파장을 고려해야 한다. 이 측면에서 고려된 이 파장 간격으로부터 파장의 간격의 차이가 각 경우에 동일해야 한다. 따라서 예를 들면 421㎚±15㎚의 파장 간격 안에서 검출할 수 있다.
분광계(spectrometer)를 이용하여 검출할 수 있고 약 표준 추출 비율(sampling rate)≤1000 ps, 바람직하게 ≤ 100 ps, 특히 바람직하게 약 50ps에서 검출할 수 있다.
고유한 형광을 여기시키기 위한 전자기 방사선은 적어도 하나의 광섬유를 통해 세포 조직을 향하고 방사선원을 불활성화시킨 후 고유한 형광은 동일한 광섬유를 통해 검출기를 향할 수 있다. 이 측면에서, 검출에 이용되고 세포 조직 샘플의 고유한 형광의 결과 방출된 전자기 방사선이 검출기를 향할 수 있는 빔 스플리터(beam splitter)가 이용될 수 있다. 광학적으로 투명하지 않은 챔버 안을 조사(irradiatio) 및 검출하는 것이 유리하다.
검출 전에 또한 검출 동안 검출할 세포 조직 샘플은 냉각되어야 하고, 그렇게 함으로써 일정한 온도에서 유지되어야 한다. 이 측면에서, 바람직하게 15℃의 온도가 유지되어야 한다. 대등한 조건을 유지할 수 있도록 온도를 제어하는 것이 유리하다. 샘플 운반대 또는 검사가 실행되는 챔버에서 세포 조직 샘플이 냉각될 수 있다. 냉각에 적당한 냉각재(coolant) 또는 성분이 거기에 배열될 수 있다.
복수의 위치의 세포 조직 또는 세포 조직 샘플에서 검사가 실행될 수 있다. 그러나, 이 측면에서, 각 경우 선택된 위치의 세포 조직 또는 선택된 위치의 세포 조직 샘플에서 동일한 방사선 조사가 유지되어야 한다. 따라서 각 동일 크기의 각 지역에 각각 동일한 에너지로 조사되어야 한다. 이러한 목적으로, 조사될(irradiated) 세포 조직의 또는 세포 조직 샘플의 표면에서 하나 이상의 광섬유의 두께는 일정해야 한다. 세포 조직 또는 세포 조직 샘플에서의 각 위치 및 수집된 위치에 대한 지식을 검출하고 문서화되어서 평가를 위해 선택적으로 생체 내에서(in vivo)에서 검사될 또는 세포 조직 샘플을 수집된 환자에 대하여 외과적 치료를 고려하여 나중에 추적될 수 있고, 상기 외과적 치료는 바로 이어서 또는 나중에 실행된다.
복수의 위치에서 연속적으로 또는 동시에 세포 조직 또는 세포 조직 샘플에 검사를 할 수 있다. 예를 들면, 나중에 명명되는 경우, 전자기 방사선은 세포 조직 또는 세포 조직 샘플에 있어서 고유한 형광을 여기시키도록 대응하게 배열된 복수의 광섬유를 통해 다른 위치를 지시할 수 있고, 방사선원(radiation source)을 불활성화시킨 후, 세포 조직의 고유한 형광의 결과로서 거기에서 방출된 전자기 방사선의 세기 I(t)가 광섬유를 통해 검출기로 전도할 수 있다.
본 발명을 이용하여 실시간으로 또한 선택적으로 직접 수술실에서 검사를 실행할 수 있다. 건강한 세포 조직과 종양 세포 조직을 구별할 가능성이 매우 높다. 각각 수집 위치에 대한 지식으로, 본 발명은 세포 조직이 외과적으로 제거되어야 하는지 그리고 얼마나 많은 세포 조직이 외과적으로 제거되어야 하는지에 대한 결정에 있어 좋은 기반을 제공한다.
본 발명에 따른 방법을 실행하는 기구는 살아있는 세포 조직 또는 마운트(mount)에 수집된 살아있는 세포 조직 샘플이 방사선원(radiation source)에 의해 방출된 전자기 방사선에 의하여 국부적으로 정의된 방법으로 작동하고, 각 이전에 조사된(irradiated) 세포 조직의 고유 형광 세기의 시간 분해 및 스펙트럼 분해 검출을 위한 검출기가 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정된 측정된 값에서 결정할 수 있는 전자 평가 유닛(electronic evaluation unit)에 연결되도록 형성된다. 전자 평가 유닛(electronic evaluation unit)을 이용하여 프랙탈차원(fractal dimension) DF를 산출하고 이 프랙탈차원(fractal dimension) DF의 값을 종양에 전형적인 임계값과 비교할 수 있다.
이 측면에서 기구는 고유 형광 세기의 시간 분해 및 스펙트럼 분해 검출용 적어도 하나의 검출기 및 조사될(irradiated) 수 있는 세포 조직이 살아 있는 유기체에 직접 검사할 수 있도록 검사되어야 하는 세포 조직의 장기(organ)로 도입되도록 형성된다.
급속 절단(rapid section)이 필요한 것과 같은 검사될 세포 조직에 시간이 걸리는 준비가 필요 없다. 그로 인하여 상당히 짧은 시간 후에 검사 결과가 존재하기 때문에 외과적 치료에 대한 환자의 긴장이 감소할 것이다. 악성 및 양성(benign) 세포 조직 사이를 아주 쉽게 구별할 수 있다.
처음에 언급한 불리에 있어서, 환자의 몸으로 추가적인 물질을 주입할 필요도 없다.
본 발명은 다음의 예로 더 설명되어야 한다.
도 1은 421㎚의 일정한 파장에서 시간 분해(time resolution)로 검출되는 세기 붕괴 거동의 그래프이다;
도 2는 시간 분해(time resolution)로 검출되고 파장 421의 주위에 파장 간격 내의 복수의 파장의 평균값으로 준비된 세기 붕괴 거동의 그래프이다;
도 3은 세기의 붕괴에 있어서 시간에 대한 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function)의 곡선이다.
도 2는 시간 분해(time resolution)로 검출되고 파장 421의 주위에 파장 간격 내의 복수의 파장의 평균값으로 준비된 세기 붕괴 거동의 그래프이다;
도 3은 세기의 붕괴에 있어서 시간에 대한 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function)의 곡선이다.
검사를 위해 스웨이지(swage) 형상으로 전립선 세포 조직을 환자에게서 수집하였다. 이런 방식으로 얻어진 세포 조직 샘플을 세포 조직 샘플용 마운트(mount)로 표현되는 글로브(groove)에 놓고 세포 조직 샘플의 특정한 미리 정의한 위치로 광섬유를 통해 전자기 방사선을 향하게 하였다. 방사선원(radiation source)으로 질소 레이저가 이용되었다. 세포 조직의 고유한 형광 여기에 이용된 전자기 방사선의 파장은 337㎚이었다.
수집된 세포 샘플을 15℃의 온도로 냉각하고 적어도 검사의 후반 후까지 이 온도를 유지하였다.
t0에서 방사선원(radiation source)을 불활성화시킨 후에, 세포 조직의 고유한 형광의 결과 방출된 전자기 방사선이 동일한 광섬유를 통해 약 300㎚ 내지 약 600㎚의 파장 간격으로 검출할 수 있었던 분광계로 향하였다.
고유한 형광의 세기를 증가시킨 독특한 파장 421㎚이 선택되었다.
검출 시, 50 ps의 표준 추출 비율(sampling rate)이 유지되고 10ns의 시간에 대하여 시간 t0에서 세기를 검출하였다. 측정된 세기값을 이용하여 방정식 (1) 내지 (3)에 따라 평가되었고, 도 3에 도시된 것처럼, 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function)가 결정되었다.
개별 파장의 세기의 붕괴 거동에서 소음이 기록되기 때문에, 형성된 평균값으로 유사한 형태(analog form)로 평가를 반복하였다. 이 측면에서, 421㎚±9.5㎚의 파장 간격 안에서 세기값을 이용하였다. 이렇게 결정된 세기 붕괴 거동을 도 2에 나타내었다. 이 측면에서 0.315㎚ 만큼 차이가 있는 이 파장 간격에서 60 파장으로부터 평균을 냈다.
도 3에 도시된 그래프에서 볼 수 있듯이, (t - t0)2H 및 지수 H의 지식을 가진 상승 직선 및 결정된 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function)를 이용하여 프랙탈 차원(fractal dimension) DF의 값을 결정하였다.
결정된 값 DF는 각각 세포 조직 샘플의 각 시험 위치에 있어서 종양에 특이한 임계값과 비교될 수 있다. 이 임계값은 검사된 전립선 종양에 있어서 1.31 내지 1.32이었다.
DF에 있어서 결정된 값의 차이에 따라서, 독점적으로 좋을 뿐만 아니라, 나쁜 기술(statement)도 얻을 수 있다. 전립선 비대증(benign prostate hyperplasia; BPH) 또는 전립선상피내종양(prostatic intraepithelial neoplasia; PIN)과 같은 더 분화된 세포 조직을 기술하며, 전립선암(prostate carcinoma)의 전구체로서, 구별될 수 있다.
그러나, 결정된 값 DF가 임계값보다 작으면, 검사된 세포 조직이 적어도 검사된 샘플의 위치에서 각 세포 조직 샘플에서 종양 세포가 없는 건강한 세포 조직이라고 추측할 수 있다.
그러나 본 발명은 또한 분광계를 이용하여 검출할 수 있고 서로 더 큰 간격을 가지는 적어도 2개의 파장으로 실행될 수 있다. 예를 들면 일시적인 세기 붕괴 거동이 파장 370㎚ 내지 430㎚에서, 선택적으로 또한 기술한 평균화(averaging)로 실행될 수 있다.
Claims (15)
- 방사선원에 의해 전자기 방사선(electromagnetic radiation)이 세포 조직에 국부적으로 한정하여 방출되고, 상기 방사선원을 불활성화시킨 후, 전자기 방사선에 의해 여기된 세포 조직의 고유 형광 세기(inherent fluorescence intensity)의 붕괴 거동(decay behavior)을 검출기를 이용하여 적어도 하나의 파장에 있어서 공지된 표준 추출 비율(sampling rate)을 이용하여 시간 분해 및 스펙트럼 분해로 검출하며,
결정된 측정 세기 값을 이용하여 세기 붕괴 거동의 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정하고, 각 조사된(irradiated) 세포 조직에 있어서 프렉탈 차원(fractal dimension) DF을 산출하며,
각 조사된(irradiated) 세포 조직에 종양의 존재에 대한 분류(classification)를 위해 상기 프렉탈 차원(fractal dimension)의 값 DF을 이용하는 종양의 살아있는 세포 조직을 인식하는 방법. - 방사선원(radiation source)을 이용하여, 세포 조직으로 국부적으로 한정하여 전자기 방사선(electromagnetic radiation)이 방출되고, 상기 방사선원을 불활성화시킨 후, 전자기 방사선에 의해 여기된 세포 조직의 고유 형광 세기(inherent fluorescence intensity)의 붕괴 거동(decay behavior)을 적어도 하나의 파장에 있어서 공지된 표준 추출 비율(sampling rate)에서 시간 분해 및 스펙트럼 분해 방식으로 검출기로 세포 조직을 검출하며,
결정된 측정 세기 값을 이용하여 세기 붕괴 거동의 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정하고, 각 조사된(irradiated) 세포 조직에 있어서 프렉탈 차원(fractal dimension) DF을 산출하며,
각 조사된(irradiated) 세포 조직에 종양의 존재에 대한 분류(classification)를 위해 상기 프렉탈 차원(fractal dimension)의 값 DF을 이용하는 수집된 살아있는 세포 조직 샘플에서 종양 세포 조직을 인식하는 방법. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
조사된(irradiated) 세포 조직의 고유 형광 여기를 위해 단색 전자기 방사선(monochromatic electromagnetic radiation)을 이용하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
측정된 세기 값을 여기된 고유 형광의 파장 주위의 간격 내에서 검출하고, 파장 간격 내에서 다른 파장에 있어서 동시에 검출된 형광 세기로부터 산출된 평균 값의 세기 붕괴 거동의 차분 자기상관관계 함수 C(t)가 결정되며, 각 조사된(irradiated) 세포 조직에 있어서 프렉탈 차원(fractal dimension) DF이 산출되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
일정한 표준 추출 비율(sampling rate)로 검출되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
분광계(spectrometer)를 이용하여 검출하며, 표준 추출 비율(sampling rate) = 1000 ps에서 검출되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
선택적으로 불투명한(non-transparent) 챔버에서 조사(irradiation) 및 검출이 실행되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
파장이 337㎚인 단색광 방사선(monochromatic radiation)이 고유 형광의 여기를 위해 이용되고, 421.7㎚±15㎚의 파장 간격 내에서 검출하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 파장 간격으로부터 적어도 30 파장이 평균화에서 고려되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
고유 형광의 여기를 위한 전자기 방사선이 적어도 하나의 광섬유를 통해 세포 조직을 향하며, 방사선원이 불활성화된 후 동일한 광섬유를 통해 고유 형광이 검출기를 향하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
검출 전 및 검출하는 동안 검출될 세포 조직 샘플을 냉각하고, 일정한 온도로 유지하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
세포 조직 샘플로서 전립선 세포 조직(prostate cell tissue)이 이용되는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
종양에 특이한 한계값(threshold value)과 비교하여 종양의 존재에 대하여 분류하는 것을 특징으로 하는 방법. - 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
종양의 존재에 대한 가능성을 나타내어 종양의 존재에 대하여 분류하는 것을 특징으로 하는 방법. - 방사선원의 전자기 방사선이 세포 조직에 국부적으로 한정하여 향하고 시간 분해 및 스펙트럼 분해 방식으로 세포 조직의 고유 형광 세기를 검출하는 검출기가 결정된 측정 세기 값에서 차분 자기상관관계 함수(difference autocorrelation function) C(t)를 결정할 수 있는 전자 평가 유닛(electronic evaluation unit)에 연결되며, 그로부터 프렉탈 차원(fractal dimension) DF이 산출될 수 있고 프렉탈 차원(fractal dimension)의 값 DF을 종양에 전형적인 임계값과 비교하는 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 따른 방법을 실행하는 기구.
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